KR100605587B1 - 내부적으로 출력 드라이버의 구동력을 조절할 수 있는반도체메모리소자 - Google Patents
내부적으로 출력 드라이버의 구동력을 조절할 수 있는반도체메모리소자 Download PDFInfo
- Publication number
- KR100605587B1 KR100605587B1 KR1020050027384A KR20050027384A KR100605587B1 KR 100605587 B1 KR100605587 B1 KR 100605587B1 KR 1020050027384 A KR1020050027384 A KR 1020050027384A KR 20050027384 A KR20050027384 A KR 20050027384A KR 100605587 B1 KR100605587 B1 KR 100605587B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- signal
- driving force
- internal
- sampling
- voltage
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/10—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K17/00—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
- H03K17/16—Modifications for eliminating interference voltages or currents
- H03K17/161—Modifications for eliminating interference voltages or currents in field-effect transistor switches
- H03K17/162—Modifications for eliminating interference voltages or currents in field-effect transistor switches without feedback from the output circuit to the control circuit
- H03K17/163—Soft switching
- H03K17/164—Soft switching using parallel switching arrangements
Landscapes
- Dram (AREA)
Abstract
Description
Claims (12)
- EMRS와 어드레스 입력을 디코딩하여 복수의 외부 구동력-제어신호 또는 내부-구동신호를 생성하기 위한 OCD 제어신호 생성수단;상기 내부-구동신호에 응답하여 구동전압의 레벨을 감지하여 복수의 내부 구동력-제어신호를 생성하기 위한 셀프 제어신호 생성수단;상기 외부 구동력-제어신호 또는 상기 내부 구동력-제어신호에 응답하여 드라이버의 구동력을 조절하기 위한 구동력-조절신호를 생성하기 위한 조절신호 생성수단; 및상기 구동력-조절신호에 따라 자신의 구동력을 조정하여 데이터를 외부로 출력하는 데이터 출력 드라이버를 구비하는 반도체메모리소자.
- 제1항에 있어서,상기 셀프 제어신호 생성부는,상기 구동전압의 레벨을 감지하기 위한 레벨 감지부와,상기 내부-구동신호에 응답하여 상기 레벨 감지부의 복수의 감지신호를 샘플링하기 위한 샘플링부와,상기 샘플링부의 샘플링-감지신호를 펄스형태의 구동력-증가신호 및 구동력- 감쇠신호로 출력하기 위한 펄스 생성부를 구비하는 것을 특징으로 하는 반도체메모리소자.
- 제2항에 있어서,상기 레벨 감지부는직렬 연결된 저항을 통해 상기 구동전압을 다양한 레벨의 전압으로 디바이딩하여 출력하기 위한 전압 분배부와,상기 구동전압의 기준이 되는 기준전압을 생성하기 위한 기준전압 생성부와,상기 전압 분배부의 각 출력과 상기 기준전압의 전압레벨 차이를 증폭하여 상기 해당 감지신호로 출력하기 위한 신호 증폭부를 구비하는 것을 특징으로 하는 반도체메모리소자.
- 제3항에 있어서,상기 신호 증폭부는 상기 전압 분배부의 출력과 상기 기준전압을 각각 차동 입력으로 갖는 복수의 차동증폭기로 구현되는 것을 특징으로 하는 반도체메모리소자.
- 제4항에 있어서,상기 샘플링부는,상기 내부-구동신호를 인가받아 샘플링-개시신호를 생성하기 위한 신호 생성부와,상기 샘플링-개시신호에 응답하여 상기 감지신호를 전달하기 위한 복수의 트랜스퍼게이트와,리셋신호에 응답하여 상기 샘플링-감지신호를 리셋시키거나 상기 해당 트랜스퍼 게이트의 출력신호를 래치하여 상기 샘플링-감지신호로 출력하기 위한 복수의 래치를 구비하는 것을 특징으로 하는 반도체메모리소자.
- EMRS와 어드레스의 입력에 따라 드라이버의 구동력을 조절하기 위한 제1 구동력-조절신호를 생성하는 외부 구동력 조절수단;내부-구동신호에 응답하여 구동전압의 레벨을 자체적으로 감지 및 판별하여 드라이버의 구동력을 조절하기 위한 제2 구동력-조절신호를 생성하는 내부 구동력 조절수단; 및상기 제1 및 제2 구동력-조절신호에 따라 자신의 구동력을 조정하여 데이터를 외부로 출력하는 데이터 출력 드라이버를 구비하는 반도체메모리소자.
- 제6항에 있어서,상기 내부 구동력 조절수단은,상기 내부-구동신호에 응답하여 상기 구동전압의 레벨을 감지하여 복수의 내부 구동력-제어신호를 생성하기 위한 셀프 제어신호 생성부와,상기 내부 구동력-제어신호에 따라 상기 데이터 출력 드라이버의 구동력을 조절하기 위한 상기 제2 구동력-조절신호를 생성하기 위한 제1 조절신호 생성부를 구비하는 것을 특징으로 하는 반도체메모리소자.
- 제7항에 있어서,상기 외부 구동력 조절수단은,상기 EMRS와 어드레스 입력을 디코딩하여 상기 외부 구동력-제어신호 또는 상기 내부-구동신호를 생성하기 위한 제1 제어신호 생성부와,상기 외부 구동력-제어신호에 따라 상기 데이터 출력 드라이버의 구동력을 조절하기 위한 상기 제1 구동력-조절신호를 생성하기 위한 제2 조절신호 생성부를 구비하는 것을 특징으로 하는 반도체메모리소자.
- 제8항에 있어서,상기 셀프 제어신호 생성부는,상기 구동전압의 레벨을 감지하기 위한 레벨 감지부와,상기 내부-구동신호에 응답하여 상기 레벨 감지부의 복수의 감지신호를 샘플링하기 위한 샘플링부와,상기 샘플링부의 샘플링-감지신호를 펄스형태의 구동력-증가신호 및 구동력-감쇠신호로 출력하기 위한 펄스 생성부를 구비하는 것을 특징으로 하는 반도체메모리소자.
- 제9항에 있어서,상기 레벨 감지부는직렬 연결된 저항을 통해 상기 구동전압을 다양한 레벨의 전압으로 디바이딩하여 출력하기 위한 전압 분배부와,상기 구동전압의 기준이 되는 기준전압을 생성하기 위한 기준전압 생성부와,상기 전압 분배부의 각 출력과 상기 기준전압의 전압레벨 차이를 증폭하여 상기 해당 감지신호로 출력하기 위한 신호 증폭부를 구비하는 것을 특징으로 하는 반도체메모리소자.
- 제10항에 있어서,상기 신호 증폭부는 상기 전압 분배부의 출력과 상기 기준전압을 각각 차동 입력으로 갖는 복수의 차동증폭기로 구현되는 것을 특징으로 하는 반도체메모리소자.
- 제11항에 있어서,상기 샘플링부는,상기 내부-구동신호를 인가받아 샘플링-개시신호를 생성하기 위한 신호 생성부와,상기 샘플링-개시신호에 응답하여 상기 감지신호를 전달하기 위한 복수의 트랜스퍼게이트와,리셋신호에 응답하여 상기 샘플링-감지신호를 리셋시키거나 상기 해당 트랜스퍼 게이트의 출력신호를 래치하여 상기 샘플링-감지신호로 출력하기 위한 복수의 래치를 구비하는 것을 특징으로 하는 반도체메모리소자.
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020050027384A KR100605587B1 (ko) | 2005-03-31 | 2005-03-31 | 내부적으로 출력 드라이버의 구동력을 조절할 수 있는반도체메모리소자 |
US11/176,394 US7355448B2 (en) | 2005-03-31 | 2005-07-08 | Semiconductor memory device for internally controlling strength of output driver |
US12/071,838 US7463053B2 (en) | 2005-03-31 | 2008-02-27 | Semiconductor memory device for internally controlling strength of output driver |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020050027384A KR100605587B1 (ko) | 2005-03-31 | 2005-03-31 | 내부적으로 출력 드라이버의 구동력을 조절할 수 있는반도체메모리소자 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR100605587B1 true KR100605587B1 (ko) | 2006-07-28 |
Family
ID=37069614
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020050027384A KR100605587B1 (ko) | 2005-03-31 | 2005-03-31 | 내부적으로 출력 드라이버의 구동력을 조절할 수 있는반도체메모리소자 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US7355448B2 (ko) |
KR (1) | KR100605587B1 (ko) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101053481B1 (ko) * | 2009-12-31 | 2011-08-03 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 장치의 출력회로 |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009231891A (ja) * | 2008-03-19 | 2009-10-08 | Nec Electronics Corp | 半導体装置 |
KR100942955B1 (ko) * | 2008-07-14 | 2010-02-17 | 주식회사 하이닉스반도체 | 터미네이션 저항회로 |
KR101113332B1 (ko) * | 2010-09-10 | 2012-03-13 | 주식회사 하이닉스반도체 | 출력드라이버 |
JP6175805B2 (ja) * | 2013-03-01 | 2017-08-09 | 富士通株式会社 | 受信装置 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002094366A (ja) | 2000-09-18 | 2002-03-29 | Toshiba Corp | 半導体装置 |
KR20040089434A (ko) * | 2003-04-14 | 2004-10-21 | 가부시끼가이샤 르네사스 테크놀로지 | 구동 능력을 조정할 수 있는 반도체 장치의 출력 회로 |
KR20050022163A (ko) * | 2003-08-25 | 2005-03-07 | 주식회사 하이닉스반도체 | 데이터 출력드라이버의 임피던스를 조정할 수 있는 반도체메모리 장치 |
KR20050105587A (ko) * | 2004-04-30 | 2005-11-04 | 주식회사 하이닉스반도체 | 오버드라이버의 구동력을 조절하는 반도체 메모리 소자 |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05244766A (ja) | 1992-02-27 | 1993-09-21 | Texas Instr Japan Ltd | チャージポンプ回路 |
DE4416299A1 (de) | 1994-05-09 | 1995-11-16 | Abb Management Ag | Elektrische Maschine mit einem Axialventilator |
US6549036B1 (en) * | 2000-05-31 | 2003-04-15 | Micron Technology, Inc. | Simple output buffer drive strength calibration |
US6667633B2 (en) | 2002-03-07 | 2003-12-23 | International Business Machines Corporation | Multiple finger off chip driver (OCD) with single level translator |
KR100533383B1 (ko) * | 2004-03-12 | 2005-12-06 | 주식회사 하이닉스반도체 | 출력 드라이버 회로 |
KR100605590B1 (ko) * | 2004-05-10 | 2006-07-31 | 주식회사 하이닉스반도체 | 데이터 출력드라이버의 임피던스를 조정할 수 있는 반도체메모리 장치 |
US7151362B1 (en) * | 2005-06-03 | 2006-12-19 | The Aerospace Corporation | Uniform converter output voltage distribution power system |
-
2005
- 2005-03-31 KR KR1020050027384A patent/KR100605587B1/ko active IP Right Grant
- 2005-07-08 US US11/176,394 patent/US7355448B2/en active Active
-
2008
- 2008-02-27 US US12/071,838 patent/US7463053B2/en active Active
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002094366A (ja) | 2000-09-18 | 2002-03-29 | Toshiba Corp | 半導体装置 |
KR20040089434A (ko) * | 2003-04-14 | 2004-10-21 | 가부시끼가이샤 르네사스 테크놀로지 | 구동 능력을 조정할 수 있는 반도체 장치의 출력 회로 |
KR20050022163A (ko) * | 2003-08-25 | 2005-03-07 | 주식회사 하이닉스반도체 | 데이터 출력드라이버의 임피던스를 조정할 수 있는 반도체메모리 장치 |
KR20050105587A (ko) * | 2004-04-30 | 2005-11-04 | 주식회사 하이닉스반도체 | 오버드라이버의 구동력을 조절하는 반도체 메모리 소자 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101053481B1 (ko) * | 2009-12-31 | 2011-08-03 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 장치의 출력회로 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US7355448B2 (en) | 2008-04-08 |
US20060220683A1 (en) | 2006-10-05 |
US20080150582A1 (en) | 2008-06-26 |
US7463053B2 (en) | 2008-12-09 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN110417380B (zh) | 自主占空比校准 | |
JP4795032B2 (ja) | タイミング調整回路及び半導体装置 | |
KR100930415B1 (ko) | 클럭 제어 회로 및 이를 포함하는 반도체 메모리 장치 | |
CN111512553A (zh) | 用于时钟信号的占空比错误校正的设备和方法 | |
JP2005210716A (ja) | 遅延信号発生回路及びこれを含んだメモリシステム | |
KR100605587B1 (ko) | 내부적으로 출력 드라이버의 구동력을 조절할 수 있는반도체메모리소자 | |
US7633822B2 (en) | Circuit and method for controlling sense amplifier of a semiconductor memory apparatus | |
CN112908378B (zh) | 多相位时钟分割 | |
KR20090020996A (ko) | 데이터 스트로브 버퍼 및 이를 포함하는 메모리 시스템 | |
KR102668197B1 (ko) | 반도체 장치 | |
JP2007134034A (ja) | 半導体メモリのコラム選択信号制御装置及び方法 | |
US8923077B2 (en) | Semiconductor device operates on external and internal power supply voltages and data processing system including the same | |
US6784709B2 (en) | Clock generator to control a pules width according to input voltage level in semiconductor memory device | |
US20110249521A1 (en) | Semiconductor device | |
KR100668755B1 (ko) | 반도체 장치 | |
KR102416938B1 (ko) | 데이터 레이트를 선택할 수 있는 내부 스트로브 신호 생성 회로 및 이를 이용하는 반도체 장치 | |
US7821847B2 (en) | Circuit and method for controlling slew rate of data output circuit in semiconductor memory device | |
KR100794996B1 (ko) | 반도체 메모리의 펄스 생성 장치 | |
US7733727B2 (en) | Receiver circuit of semiconductor memory apparatus | |
US10367492B2 (en) | Internal clock generation circuits | |
KR100772711B1 (ko) | 내부전원 생성장치 | |
KR20150006305A (ko) | 반도체 메모리 장치 및 반도체 시스템 | |
KR100555521B1 (ko) | 두 번 이상 샘플링하는 감지 증폭기를 구비하는 반도체 장치 및 반도체 장치의 데이터 판독 방법 | |
US11854651B2 (en) | Systems and methods for improved dual-tail latch with wide input common mode range | |
US11428718B2 (en) | Semiconductor device |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20130624 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20140623 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20150623 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20160621 Year of fee payment: 11 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20170620 Year of fee payment: 12 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20180625 Year of fee payment: 13 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20190625 Year of fee payment: 14 |