KR100564606B1 - 연산 증폭기의 오프셋 제거 장치 - Google Patents
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Abstract
Description
Claims (22)
- 반전 단자에 연결되는 제1 저항 및 음의 궤환 루프를 형성하는 제2 저항을 구비하고, 상기 제1 저항과 상기 제2 저항의 저항 비율에 의해 결정되는 양의 고정 이득을 가지는 연산 증폭기의 오프셋 제거 장치에 있어서,오프셋 조절 제어 신호에 응답하여 상기 연산 증폭기의 출력 전압으로부터 기준 전압을 발생하고, 상기 기준 전압과 상기 연산 증폭기의 입력 전압을 비교하고, 그 비교 결과에 따라 저항 변경 제어 신호를 출력하는 오프셋 제어부(offset control unit); 및상기 제1 저항에 연결되고, 상기 저항 변경 제어 신호에 응답하여 상기 연산 증폭기의 상기 양의 고정 이득을 변경시키는 오프셋 조절부(offset adjustment unit)를 구비하고,상기 오프셋 조절부는,상기 제1 저항과 그라운드 전압 사이에서 상호 직렬 연결되고 서로 다른 저항 값들을 가지는 제3 저항들; 및상기 제3 저항들 각각의 양단에 연결되고, 상기 저항 변경 제어 신호의 N(N은 정수)개의 비트들의 값에 각각 응답하여 턴 온되거나 또는 턴 오프되는 스위칭 회로들을 구비하는 것을 특징으로 하는 연산 증폭기의 오프셋 제거 장치.
- 제1항에 있어서, 상기 오프셋 제어부는,상기 오프셋 조절 제어 신호에 응답하여 상기 출력 전압을 분배하여 상기 기준 전압을 발생하는 전압 분배기;상기 입력 전압과 상기 기준 전압을 비교하고, 그 비교 결과로서 비교 결과 신호를 출력하는 전압 비교기; 및상기 오프셋 조절 제어 신호에 응답하여 인에이블되거나 또는 디세이블되고, 인에이블될 때 클럭 신호와 상기 비교 결과 신호에 응답하여 업 카운팅하거나 또는 다운 카운팅하여 그 카운팅 값을 누적시키고, 누적된 카운팅 값을 상기 저항 변경 제어 신호로서 출력하는 업/다운 카운터를 구비하는 것을 특징으로 하는 연산 증폭기의 오프셋 제거 장치.
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- 제1항에 있어서,상기 제1 저항에 연결되는 상기 제3 저항들의 합성 저항 값이 변경될 때, 상기 저항 비율이 변경되어 상기 양의 고정 이득이 변경되는 것을 특징으로 하는 연산 증폭기의 오프셋 제거 장치.
- 제1항에 있어서,상기 제3 저항들은 연결 순서에서 어느 한 쪽 방향으로 순차적으로 증가되는 저항 값들을 가지는 것을 특징으로 하는 연산 증폭기의 오프셋 제거 장치.
- 제1항에 있어서, 상기 오프셋 제어부는,상기 오프셋 조절 제어 신호에 응답하여 상기 출력 전압을 분배하여 상기 기준 전압을 발생하는 전압 분배기;제1 비교 제어 신호와 제2 비교 제어 신호에 응답하여 상기 입력 전압과 상기 기준 전압을 비교하고, 그 비교 결과로서 비교 결과 신호를 출력하는 전압 비교기;상기 오프셋 조절 제어 신호에 응답하여 인에이블되거나 또는 디세이블되고, 인에이블될 때 클럭 신호와 상기 비교 결과 신호에 응답하여 업 카운팅하거나 또는 다운 카운팅하여 그 카운팅 값을 누적시키고, 누적된 카운팅 값을 출력하는 업/다운 카운터;상기 제1 비교 제어 신호에 응답하여 상기 누적된 카운팅 값을 래치하고, 래치된 상기 누적된 카운팅 값을 제1 카운팅 신호로서 출력하는 제1 래치부;상기 제2 비교 제어 신호에 응답하여 상기 누적된 카운팅 값을 래치하고, 래치된 상기 누적된 카운팅 값을 제2 카운팅 신호로서 출력하는 제2 래치부;상기 제1 카운팅 신호와 상기 제2 카운팅 신호에 기초하여 제3 카운팅 신호를 발생하는 가산기; 및반전된 상기 오프셋 조절 제어 신호, 상기 제1 비교 제어 신호, 및 상기 제2 비교 제어 신호에 응답하여, 상기 제1 내지 상기 제3 카운팅 신호 중 어느 하나를 선택하여 상기 저항 변경 제어 신호로서 출력하는 선택부를 구비하는 것을 특징으로 하는 연산 증폭기의 오프셋 제거 장치.
- 제7항에 있어서,상기 제1 내지 상기 제3 카운팅 신호들 각각은 N(N은 정수)개의 비트들을 포함하고,상기 가산기는 상기 제1 카운팅 신호와 상기 제2 카운팅 신호의 각 비트들을 가산하고, 그 가산 결과에서 최하위 비트를 제외한 나머지 비트들을 포함하는 상기 제3 카운팅 신호를 출력하는 것을 특징으로 하는 연산 증폭기의 오프셋 제거 장치.
- 제7항에 있어서,상기 제1 비교 제어 신호가 인에이블될 때 상기 제1 래치부가 동작하고, 상기 제2 비교 제어 신호가 인에이블될 때 상기 제2 래치부가 동작하며, 상기 제1 비교 제어 신호가 인에이블될 때 상기 제2 비교 제어 신호는 디세이블되는 것을 특징으로 하는 연산 증폭기의 오프셋 제거 장치.
- 제9항에 있어서, 상기 전압 비교기는,제1 입력 노드와 제2 입력 노드를 구비하고, 상기 제1 및 제2 노드들을 통하여 수신되는 상기 입력 전압과 상기 기준 전압을 비교하고, 그 비교 결과로서 제1 출력 노드에 제1 비교 신호를 출력하고, 제2 출력 노드에 제2 비교 신호를 출력하는 차동 증폭기;상기 제1 비교 제어 신호가 인에이블될 때 상기 입력 전압을 상기 제1 입력 노드에, 상기 기준 전압을 상기 제2 입력 노드에 각각 인가하고, 상기 제2 비교 제어 신호가 인에이블될 때 상기 기준 전압을 상기 제1 노드에, 상기 입력 전압을 상기 제2 노드에 각각 인가하는 제1 스위칭부;상기 제1 비교 제어 신호가 인에이블될 때 상기 제1 비교 신호를 제3 출력 노드에 출력하고, 상기 제2 비교 제어 신호가 인에이블될 때 상기 제2 비교 신호를 상기 제3 출력 노드에 출력하는 제2 스위칭부; 및상기 제3 출력 노드로부터 수신되는 상기 제1 비교 신호와 상기 제2 비교 신호 중 어느 하나에 응답하여, 상기 비교 결과 신호를 출력하는 출력부를 구비하는 것을 특징으로 하는 연산 증폭기의 오프셋 제거 장치.
- 제10항에 있어서, 상기 차동 증폭기는,상기 제1 입력 노드와 상기 제2 입력 노드에 각각 게이트들이 연결되는 연결되고, 상기 제1 출력 노드와 상기 제2 출력 노드에 각각 드레인들이 연결되고, 상기 게이트들에 입력되는 신호들에 각각 응답하여 상기 제1 출력 노드와 상기 제2 출력 노드에 각각 상기 제1 비교 신호와 상기 제2 비교 신호를 출력하는 엔모스 트랜지스터들;상기 엔모스 트랜지스터들의 소스들에 연결되고, 바이어스 전압에 응답하여 소정의 소스 전류를 흘리는 전류원 회로;내부 전압에 소스들이 연결되고, 상기 제1 출력 노드와 상기 제2 출력 노드에 각각 드레인이 연결되고, 전류 미러를 형성하는 피모스 트랜지스터들; 및상기 제1 비교 제어 신호가 인에이블될 때 상기 피모스 트랜지스터들의 게이트들을 상기 제2 출력 노드에 연결하고, 상기 제2 비교 신호가 인에이블될 때 상기 피모스 트랜지스터들의 게이트들을 상기 제1 출력 노드에 연결하는 제3 스위칭부를 구비하는 것을 특징으로 하는 연산 증폭기의 오프셋 제거 장치.
- 반전 단자에 연결되는 제1 저항 및 음의 궤환 루프를 형성하는 제2 저항을 구비하고, 상기 제1 저항과 상기 제2 저항의 저항 비율에 의해 결정되는 음의 고정 이득을 가지는 연산 증폭기의 오프셋 제거 장치에 있어서,오프셋 조절 제어 신호에 응답하여 상기 연산 증폭기의 출력 전압으로부터 기준 전압을 발생하고, 상기 기준 전압과 상기 연산 증폭기의 입력 전압을 비교하고, 그 비교 결과에 따라 저항 변경 제어 신호를 출력하는 오프셋 제어부; 및상기 제1 저항에 연결되고, 상기 저항 변경 제어 신호에 응답하여 상기 연산 증폭기의 상기 음의 고정 이득을 변경시키는 오프셋 조절부를 구비하고,상기 오프셋 조절부는,상기 제1 저항과 상기 입력 전압 사이에서 상호 직렬 연결되고 서로 다른 저항 값들을 가지는 제3 저항들; 및상기 제3 저항들 각각의 양단에 연결되고, 상기 저항 변경 제어 신호의 상기 N개의 비트들의 값들에 각각 응답하여 턴 온되거나 또는 턴 오프되는 스위칭 회로들을 구비하는 것을 특징으로 하는 연산 증폭기의 오프셋 제거 장치.
- 제12항에 있어서, 상기 오프셋 제어부는,상기 오프셋 조절 제어 신호에 응답하여 상기 출력 전압을 분배하여 상기 기준 전압을 발생하는 전압 분배기;상기 입력 전압과 상기 기준 전압을 비교하고, 그 비교 결과로서 비교 결과 신호를 출력하는 전압 비교기; 및상기 오프셋 조절 제어 신호에 응답하여 인에이블되거나 또는 디세이블되고, 인에이블될 때 클럭 신호와 상기 비교 결과 신호에 응답하여 업 카운팅하거나 또는 다운 카운팅하여 그 카운팅 값을 누적시키고, 누적된 카운팅 값을 상기 저항 변경 제어 신호로서 출력하는 업/다운 카운터를 구비하는 것을 특징으로 하는 연산 증폭기의 오프셋 제거 장치.
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- 제12항에 있어서,상기 제1 저항에 연결되는 상기 제3 저항들의 합성 저항 값이 변경될 때, 상기 저항 비율이 변경되어 상기 음의 고정 이득이 변경되는 것을 특징으로 하는 연산 증폭기의 오프셋 제거 장치.
- 제12항에 있어서,상기 제3 저항들은 연결 순서에서 어느 한 쪽 방향으로 순차적으로 증가되는 저항 값들을 가지는 것을 특징으로 하는 연산 증폭기의 오프셋 제거 장치.
- 제13항에 있어서, 상기 오프셋 제어부는,상기 오프셋 조절 제어 신호에 응답하여 상기 출력 전압을 분배하여 상기 기준 전압을 발생하는 전압 분배기;제1 비교 제어 신호와 제2 비교 제어 신호에 응답하여 상기 입력 전압과 상기 기준 전압을 비교하고, 그 비교 결과로서 비교 결과 신호를 출력하는 전압 비교기;상기 오프셋 조절 제어 신호에 응답하여 인에이블되거나 또는 디세이블되고, 인에이블될 때 클럭 신호와 상기 비교 결과 신호에 응답하여 업 카운팅하거나 또는 다운 카운팅하여 그 카운팅 값을 누적시키고, 누적된 카운팅 값을 출력하는 업/다운 카운터;상기 제1 비교 제어 신호에 응답하여 상기 누적된 카운팅 값을 래치하고, 래치된 상기 누적된 카운팅 값을 제1 카운팅 신호로서 출력하는 제1 래치부;상기 제2 비교 제어 신호에 응답하여 상기 누적된 카운팅 값을 래치하고, 래치된 상기 누적된 카운팅 값을 제2 카운팅 신호로서 출력하는 제2 래치부;상기 제1 카운팅 신호와 상기 제2 카운팅 신호에 기초하여 제3 카운팅 신호를 발생하는 가산기; 및반전된 상기 오프셋 조절 제어 신호, 상기 제1 비교 제어 신호, 및 상기 제2 비교 제어 신호에 응답하여, 상기 제1 내지 상기 제3 카운팅 신호 중 어느 하나를 선택하여 상기 저항 변경 제어 신호로서 출력하는 선택부를 구비하는 것을 특징으로 하는 연산 증폭기의 오프셋 제거 장치.
- 제17항에 있어서,상기 제1 내지 상기 제3 카운팅 신호들 각각은 상기 N개의 비트들을 포함하고,상기 가산기는 상기 제1 카운팅 신호와 상기 제2 카운팅 신호의 각 비트들을 가산하고, 그 가산 결과에서 최하위 비트를 제외한 나머지 비트들을 포함하는 상기 제3 카운팅 신호를 출력하는 것을 특징으로 하는 연산 증폭기의 오프셋 제거 장치.
- 제17항에 있어서,상기 제1 비교 제어 신호가 인에이블될 때 상기 제1 래치부가 동작하고, 상기 제2 비교 제어 신호가 인에이블될 때 상기 제2 래치부가 동작하며, 상기 제1 비교 제어 신호가 인에이블될 때 상기 제2 비교 제어 신호는 디세이블되는 것을 특징으로 하는 연산 증폭기의 오프셋 제거 장치.
- 제19항에 있어서, 상기 전압 비교기는,제1 입력 노드와 제2 입력 노드를 구비하고, 상기 제1 및 제2 노드들을 통하여 수신되는 상기 입력 전압과 상기 기준 전압을 비교하고, 그 비교 결과로서 제1 출력 노드에 제1 비교 신호를 출력하고, 제2 출력 노드에 제2 비교 신호를 출력하는 차동 증폭기;상기 제1 비교 제어 신호가 인에이블될 때 상기 입력 전압을 상기 제1 입력 노드에, 상기 기준 전압을 상기 제2 입력 노드에 각각 인가하고, 상기 제2 비교 제어 신호가 인에이블될 때 상기 기준 전압을 상기 제1 노드에, 상기 입력 전압을 상기 제2 노드에 각각 인가하는 제1 스위칭부;상기 제1 비교 제어 신호가 인에이블될 때 상기 제1 비교 신호를 제3 출력 노드에 출력하고, 상기 제2 비교 제어 신호가 인에이블될 때 상기 제2 비교 신호를 상기 제3 출력 노드에 출력하는 제2 스위칭부; 및상기 제3 출력 노드로부터 수신되는 상기 제1 비교 신호와 상기 제2 비교 신호 중 어느 하나에 응답하여, 상기 비교 결과 신호를 출력하는 출력부를 구비하는 것을 특징으로 하는 연산 증폭기의 오프셋 제거 장치.
- 제20항에 있어서, 상기 차동 증폭기는,상기 제1 입력 노드와 상기 제2 입력 노드에 각각 게이트들이 연결되는 연결되고, 상기 제1 출력 노드와 상기 제2 출력 노드에 각각 드레인들이 연결되고, 상기 게이트들에 입력되는 신호들에 각각 응답하여 상기 제1 출력 노드와 상기 제2 출력 노드에 각각 상기 제1 비교 신호와 상기 제2 비교 신호를 출력하는 엔모스 트랜지스터들;상기 엔모스 트랜지스터들의 소스들에 연결되고, 바이어스 전압에 응답하여 소정의 소스 전류를 흘리는 전류원 회로;내부 전압에 소스들이 연결되고, 상기 제1 출력 노드와 상기 제2 출력 노드에 각각 드레인이 연결되고, 전류 미러를 형성하는 피모스 트랜지스터들; 및상기 제1 비교 제어 신호가 인에이블될 때 상기 피모스 트랜지스터들의 게이트들을 상기 제2 출력 노드에 연결하고, 상기 제2 비교 신호가 인에이블될 때 상기 피모스 트랜지스터들의 게이트들을 상기 제1 출력 노드에 연결하는 제3 스위칭부를 구비하는 것을 특징으로 하는 연산 증폭기의 오프셋 제거 장치.
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020040005642A KR100564606B1 (ko) | 2004-01-29 | 2004-01-29 | 연산 증폭기의 오프셋 제거 장치 |
US10/853,421 US7023266B2 (en) | 2004-01-29 | 2004-05-25 | Device and method for nullifying offset voltages in operational amplifiers |
JP2005022007A JP2005218115A (ja) | 2004-01-29 | 2005-01-28 | 演算増幅器のオフセット電圧を無効化する装置及び方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020040005642A KR100564606B1 (ko) | 2004-01-29 | 2004-01-29 | 연산 증폭기의 오프셋 제거 장치 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20050078266A KR20050078266A (ko) | 2005-08-05 |
KR100564606B1 true KR100564606B1 (ko) | 2006-03-28 |
Family
ID=34806014
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020040005642A KR100564606B1 (ko) | 2004-01-29 | 2004-01-29 | 연산 증폭기의 오프셋 제거 장치 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7023266B2 (ko) |
KR (1) | KR100564606B1 (ko) |
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-
2004
- 2004-01-29 KR KR1020040005642A patent/KR100564606B1/ko active IP Right Grant
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