KR100459812B1 - 커패시터의 양부 판정 방법 - Google Patents
커패시터의 양부 판정 방법 Download PDFInfo
- Publication number
- KR100459812B1 KR100459812B1 KR10-2002-0063503A KR20020063503A KR100459812B1 KR 100459812 B1 KR100459812 B1 KR 100459812B1 KR 20020063503 A KR20020063503 A KR 20020063503A KR 100459812 B1 KR100459812 B1 KR 100459812B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- determination
- capacitor
- current
- time
- component
- Prior art date
Links
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 title claims abstract description 133
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 26
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 24
- 230000002123 temporal effect Effects 0.000 claims description 2
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 claims 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 abstract description 7
- 238000007689 inspection Methods 0.000 abstract description 4
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 14
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 10
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 9
- 238000004088 simulation Methods 0.000 description 9
- 239000003985 ceramic capacitor Substances 0.000 description 5
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 5
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 4
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 3
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 3
- 238000004904 shortening Methods 0.000 description 3
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 1
- 238000004590 computer program Methods 0.000 description 1
- 230000001276 controlling effect Effects 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 238000009795 derivation Methods 0.000 description 1
- 238000005457 optimization Methods 0.000 description 1
- 230000002035 prolonged effect Effects 0.000 description 1
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/01—Subjecting similar articles in turn to test, e.g. "go/no-go" tests in mass production; Testing objects at points as they pass through a testing station
- G01R31/013—Testing passive components
- G01R31/016—Testing of capacitors
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R27/00—Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
- G01R27/02—Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
- H01G13/00—Apparatus specially adapted for manufacturing capacitors; Processes specially adapted for manufacturing capacitors not provided for in groups H01G4/00 - H01G11/00
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Testing Relating To Insulation (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Abstract
Description
Claims (7)
- 충전시의 커패시터에 발생하는 전기 특성을, 시간 경과에 따른 특성 변화가 서로 다른 복수의 특성 성분으로 분리한 후에, 각 특성 성분의 시간 변화를 나타내는 근사식(近似式;approximate expression)을 작성하는 근사식 작성 스텝과;커패시터의 양부 판정의 기준이 되는 판정 기준 특성 성분을 상기 복수의 특성 성분으로부터 추출하고, 그 판정 기준 특성 성분의 양부 판정 조건을 상기 근사식에 기초하여 설정하는 양부 판정 조건 설정 스텝과;측정에 의해 얻은 판정 대상 커패시터의 충전시 전기 특성중에 포함되는 판정 기준 특성 성분을 상기 양부 판정 조건에 조합함으로써, 판정 대상 커패시터의 양부를 판정하는 판정 스텝;을 포함하는 것을 특징으로 하는 커패시터의 양부 판정 방법.
- 제 1 항에 있어서, 상기 전기 특성으로서 전류를 사용하는 것을 특징으로 하는 커패시터의 양부 판정 방법.
- 제 1 항에 있어서, 상기 양부 판정 조건 설정 스텝은 상기 판정 기준 특성 성분의 판정 문턱값(threshold value)을 상기 양부 판정 조건으로서 설정하는 스텝이고,상기 판정 스텝은 상기 판정 대상 커패시터의 측정에 의해 얻어지는 상기 전기 특성으로부터 추출하는 판정 기준 특성 성분과 상기 판정 문턱값의 비교에 기초하여, 판정 대상 커패시터의 양부를 판정하는 스텝인 것을 특징으로 하는 커패시터의 양부 판정 방법.
- 제 3 항에 있어서, 상기 근사식 작성 스텝은 충전시의 커패시터에 발생하는 충전시 전류를, 시간 경과에 따른 전류 변화가 서로 다르며, 또한 그 하나로서 커패시터의 누설 전류 성분을 포함하는 복수의 전류 성분으로 분리한 후에, 각 전류 성분의 시간 변화를 나타내는 근사식을 작성하는 스텝이고,상기 양부 판정 조건 설정 스텝은 상기 판정 기준 특성 성분으로서 상기 누설 전류 성분을 추출한 후에, 상기 누설 전류 성분의 상기 판정 문턱값을 상기 근사식에 기초하여 설정하는 스텝이며,상기 판정 스텝은 측정에 의해 얻은 판정 대상 커패시터의 충전시 전류중에 포함되는 누설 전류 성분과 상기 판정 문턱값의 비교에 기초하여, 판정 대상 커패시터의 양부를 판정하는 스텝인 것을 특징으로 하는 커패시터의 양부 판정 방법.
- 제 3 항에 있어서, 상기 근사식 작성 스텝은 충전시의 커패시터에 발생하는 충전시 전류를, 시간 경과에 따른 전류 변화가 서로 다르며, 또한 그 하나로서 커패시터의 누설 전류 성분을 포함하는 복수의 전류 성분으로 분리한 후에, 각 전류 성분의 시간 변화를 나타내는 근사식을 작성하는 스텝이고,상기 양부 판정 조건 설정 스텝은 상기 판정 기준 특성 성분으로서, 커패시터의 제품 양부에 기인하여 발생하는 상기 누설 전류 성분의 변동의 영향을 받아 그 값이 변화하는 충전 전류를 추정한 후에, 이 충전 전류의 추정값의 상기 판정 문턱값을 상기 근사식에 기초하여 설정하는 스텝이며,상기 판정 스텝은 측정에 의해 얻는 판정 대상 커패시터의 충전 전류와 상기 판정 문턱값의 비교에 기초하여, 판정 대상 커패시터의 양부를 판정하는 스텝인 것을 특징으로 하는 커패시터의 양부 판정 방법.
- 제 1 항 내지 제 5 항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 근사식 작성 스텝은 양부 판정 시간을 가급적으로 단축할 수 있는 조건에 있어서의 상기 근사식을 작성하는 스텝이고,상기 양부 판정 조건 설정 스텝은 양부 판정 시간을 가급적으로 단축할 수 있는 조건에 있어서의 상기 판정 기준 특성 성분의 양부 판정 조건을 설정하는 스텝이며,상기 판정 스텝은 양부 판정 시간을 가급적으로 단축할 수 있는 조건에 있어서 측정 대상 커패시터의 전기 특성을 측정하는 스텝인 것을 특징으로 하는 커패시터의 양부 판정 방법.
- 제 1 항 내지 제 5 항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 근사식 작성 스텝은 측정 대상 커패시터에 인가 가능한 실질적인 최대 전압을 인가한 상태에 있어서의 상기 근사식을 작성하는 스텝이고,상기 양부 판정 조건 설정 스텝은 측정 대상 커패시터에 상기 실질적인 최대 전압을 인가한 상태에 있어서의 상기 판정 기준 특성 성분의 양부 판정 조건을 설정하는 스텝이며,상기 판정 스텝은 측정 대상 커패시터에 상기 실질적인 최대 전압을 인가한 상태에서 그 전기 특성을 측정하는 스텝인 것을 특징으로 하는 커패시터의 양부 판정 방법.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JPJP-P-2001-00320603 | 2001-10-18 | ||
JP2001320603A JP3890951B2 (ja) | 2001-10-18 | 2001-10-18 | コンデンサの良否判定方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20030032874A KR20030032874A (ko) | 2003-04-26 |
KR100459812B1 true KR100459812B1 (ko) | 2004-12-03 |
Family
ID=19137965
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR10-2002-0063503A KR100459812B1 (ko) | 2001-10-18 | 2002-10-17 | 커패시터의 양부 판정 방법 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3890951B2 (ko) |
KR (1) | KR100459812B1 (ko) |
CN (1) | CN1290128C (ko) |
TW (1) | TWI223082B (ko) |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1659414A4 (en) * | 2004-06-30 | 2012-12-19 | Panasonic Corp | METHOD FOR ASSESSING CONDENSATE EXPLOITATION |
CN101477160B (zh) * | 2009-01-20 | 2012-07-04 | 武汉电联电力电气技术有限公司 | 浮模差值高压电容器状态监测法及其装置 |
KR101593527B1 (ko) * | 2014-04-02 | 2016-02-16 | 삼화콘덴서공업 주식회사 | Mlcc 선별기 |
CN104459399B (zh) * | 2014-12-08 | 2017-09-26 | 南通新江海动力电子有限公司 | 电容产品在线老练检测方法 |
KR101876632B1 (ko) * | 2016-09-27 | 2018-07-09 | 한국수력원자력 주식회사 | 원자력 발전소 안전성 등급으로 대체 사용하기 위한 일반규격품 커패시터의 품질 검증 방법 및 장치 |
CN108279386A (zh) * | 2018-02-05 | 2018-07-13 | 惠州亿纬锂能股份有限公司 | 一种电芯筛选方法 |
CN110441609A (zh) * | 2019-08-30 | 2019-11-12 | 国家电网有限公司 | 电容器绝缘电阻检测装置、系统及方法 |
TWI781053B (zh) * | 2022-01-28 | 2022-10-11 | 仲鈜科技股份有限公司 | 積層陶瓷電容可靠度自動檢測裝置 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR19980070644A (ko) * | 1997-01-20 | 1998-10-26 | 무라따미치히로 | 제조된 커패시터들의 선별용 정밀검사를 위한 품질 판별법 |
JPH10340832A (ja) * | 1997-04-08 | 1998-12-22 | Murata Mfg Co Ltd | コンデンサの特性測定・梱包装置 |
JP2000228337A (ja) * | 1998-12-04 | 2000-08-15 | Murata Mfg Co Ltd | コンデンサの良否判別方法 |
JP2003043098A (ja) * | 2001-07-27 | 2003-02-13 | Nec Tohoku Ltd | コンデンサの絶縁耐圧試験方法および試験装置 |
JP2003107118A (ja) * | 2001-10-01 | 2003-04-09 | Murata Mfg Co Ltd | コンデンサの良否判定方法 |
-
2001
- 2001-10-18 JP JP2001320603A patent/JP3890951B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
2002
- 2002-09-05 TW TW091120266A patent/TWI223082B/zh not_active IP Right Cessation
- 2002-10-17 KR KR10-2002-0063503A patent/KR100459812B1/ko active IP Right Grant
- 2002-10-18 CN CNB021473110A patent/CN1290128C/zh not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR19980070644A (ko) * | 1997-01-20 | 1998-10-26 | 무라따미치히로 | 제조된 커패시터들의 선별용 정밀검사를 위한 품질 판별법 |
JPH10340832A (ja) * | 1997-04-08 | 1998-12-22 | Murata Mfg Co Ltd | コンデンサの特性測定・梱包装置 |
JP2000228337A (ja) * | 1998-12-04 | 2000-08-15 | Murata Mfg Co Ltd | コンデンサの良否判別方法 |
JP2003043098A (ja) * | 2001-07-27 | 2003-02-13 | Nec Tohoku Ltd | コンデンサの絶縁耐圧試験方法および試験装置 |
JP2003107118A (ja) * | 2001-10-01 | 2003-04-09 | Murata Mfg Co Ltd | コンデンサの良否判定方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN1412795A (zh) | 2003-04-23 |
KR20030032874A (ko) | 2003-04-26 |
TWI223082B (en) | 2004-11-01 |
CN1290128C (zh) | 2006-12-13 |
JP2003121487A (ja) | 2003-04-23 |
JP3890951B2 (ja) | 2007-03-07 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5674783B2 (ja) | 電池を特徴付ける方法 | |
JPH0634704A (ja) | 絶縁膜破壊評価装置および経時絶縁膜破壊評価装置 | |
KR100459812B1 (ko) | 커패시터의 양부 판정 방법 | |
US20130241591A1 (en) | Apparatus and Method for Screening Electrolytic Capacitors | |
CN110196395B (zh) | 蓄电池soc估算方法 | |
KR100349084B1 (ko) | 커패시터의 검사 방법 | |
JP2010210510A (ja) | 絶縁検査装置及び絶縁検査方法 | |
GB2296778A (en) | A method for testing the reliability of a dielectric film on semiconductor substrate | |
CN115436811A (zh) | 一种基于实车工况的电池老化后的soc估算方法及系统 | |
CN113588733A (zh) | 油纸绝缘水分含量评估方法及设备 | |
JP3461937B2 (ja) | 絶縁抵抗の測定方法 | |
JP3925136B2 (ja) | コンデンサの良否判定方法 | |
JP3137060B2 (ja) | コンデンサの良否判別方法 | |
JP2007519830A (ja) | Ecmpシステム | |
JP4062764B2 (ja) | コンデンサの良否判別方法 | |
JP3859357B2 (ja) | 絶縁膜評価方法 | |
JP3644284B2 (ja) | 経時絶縁破壊特性の予測方法及び予測装置 | |
GB2616874A (en) | Measurement apparatus | |
RU2573176C2 (ru) | Способ оценки надежности металлической разводки интегральных схем | |
JP7278312B2 (ja) | 蓄電デバイスの自己放電検査方法及び蓄電デバイスの製造方法 | |
JP2002141388A (ja) | 半導体装置の評価方法及びその評価装置 | |
KR20230089426A (ko) | Ai를 이용한 기판 검사 장치 | |
JP2003302436A (ja) | 電子部品の品質管理方法 | |
JPH1144722A (ja) | コンデンサの測定端子接触検出方法 | |
CN113009347A (zh) | 一种电池寿命终止阶段功率的设定方法、装置及相关产品 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20121019 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20131101 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20141104 Year of fee payment: 11 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20151113 Year of fee payment: 12 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20161111 Year of fee payment: 13 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20171116 Year of fee payment: 14 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20181120 Year of fee payment: 15 |