CN1290128C - 电容器好坏的判定方法 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及电容器好坏的判定方法。本发明的课题是谋求缩短检查时间和削减制造时间和制造成本。实现本发明的解决手段是，把充电时产生的电流iall分离为随着时间的经过而发生的变化互不相同的多种电流分量icap、iline、ileak，作成表示其时间变化的近似式。接着将作为电容器好坏的判定基准的判定基准电流分量ileak从上述icap、iline、ileak中抽出，根据所述近似式设定该好坏的判定条件。接着把测定得到的判定对象电容器的充电电流中包含的判定基准电流分量ileak与所述好坏判定条件加以对照，以判定所述判定对象电容器的好坏。
Description
技术领域
本发明涉及最适于对于电容器，特别是使用高介电常数陶瓷的大容量陶瓷电容器实施的电容器好坏的判定方法。
背景技术
在电容器中，施加直流电压进行充电时流过较大的充电电流。理想的电容器中，一旦充电结束，电流就完全不再流动。实际电容器在充电结束之后还有电流继续流动。这是由于实际电容器的绝缘电阻是有限值而产生的现象。这样的现象由于流过绝缘电阻的电流引起的发热白白浪费电力等原因，是人们所不希望的，而且在绝缘电阻低的电容器中，从将来的角度看来容易引起短路等故障，继续使用时有危险。
根据以上所述的观点，判定陶瓷电容器好坏的方法有绝缘电阻测试。这种测试如下所述实施。
对制造的电容器在规定的充电时间内施加直流电压进行充电。在充电结束之后再在维持施加的电压的状态下测定电容器的泄漏电流分量。然后从施加的电压E(V)、泄漏电流分量I(A)求绝缘电阻R(Ω)＝E/I。
然后，将计算出的绝缘电阻R(Ω)与规定的阈值进行比较，在绝缘电阻高时判定该电容器为合格品，在绝缘电阻低时判定其为不合格产品。所述阈值由日本工业标准(JIS)等预先对每一种电容器进行规定。
近年来，随着叠层电容器的大容量化，电容器的充电时间也变长了。因此，从在电容器上施加直流电压到实际能够测定绝缘电阻为止需要较长的时间，其结果是，每单位时间能够检查的电容器的数目不得不减少。
对此，在JIS标准中为了抑制每单位时间检查的电容器数目的减少，允许进行下述处理。JIS标准允许在施加充电用的直流电压之后经过60秒的时刻测定充电电流，根据测定的电流值预测绝缘电阻R(Ω)。
但是，即使进行这样的处理，一个电容器的检查时间需要60秒，这在生产线上不能不说是比较长的时间，这对于缩短电容器的制造时间和减少制造成本是个瓶颈。
因此，本发明的目的在于，提供能够谋求缩短检查时间，而且能够缩短制造时间和降低制造成本的、电容器好坏的判定方法。
发明内容
为了达到上述目的，本发明的电容器好坏判定方法具有如下所述的构成。
根据本申请第1方面的电容器好坏的判定方法，包含：把充电时的电容器产生的充电电流分离为由于时间的经过而引起的特性变化互不相同的、包含泄漏电流分量的多种电流分量后，再作成表示各电流分量随时间变化的近似式的近似式作成步骤；从所述多种电流分量提取出至少包含泄漏电流分量的电流分量作为电容器好坏的判定基准的判定基准特性分量，根据所述近似式设定该判定基准特性分量的好坏的判定条件的好坏判定条件设定步骤；以及将测得的判定对象电容器的充电电流中包含的所述判定基准特性分量与所述好坏判定条件对照，以判断判定对象电容器好坏的判定步骤。
由于具备这样的结构，该发明具有下述作用。即可以预先高精度地预测使用于判定好坏的电气特性的经时变化，借助于此，可以求出对于电容器好坏的判定最佳而且最快的条件。
又，根据本申请第2方面，最好是
所述好坏判定条件设定步骤是将从作为额定电压的绝缘电阻的好坏判定阈值计算的所述判定基准特性分量的阈值作为所述好坏判定条件、作为所述判定基准特性分量的判定阈值进行设定的步骤；所述判定步骤是根据从所述判定对象电容器的测定得到的所述充电电流提取的所述判定基准特性分量与所述判定阈值的比较，对判定对象电容器的好坏进行判断的步骤。
又，根据本申请第3方面，最好是
所述近似式作成步骤是将充电时的电容器中产生的充电电流分离成由于时间经过而引起的电流变化互不相同，而且其中一种包含电容器泄漏电流分量的多种电流分量后，作成表示各电流分量随时间的变化的近似式的作成步骤，
所述好坏判定条件设定步骤是将所述泄漏电流分量提取出作为所述判定基准特性分量后，根据所述近似式设定所述泄漏电流分量的所述判定阈值的步骤，
所述判定步骤是根据从测得的判定对象电容器的充电电流中包含的泄漏电流分量与所述判定阈值的比较，对判定对象电容器的好坏进行判断的步骤。
这是由于泄漏电流分量适合作为电容器好坏的判定基准。
又，根据本申请第4方曲，最好是
所述近似式作成步骤是将充电时的电容器中产生的充电电流分离成由于经过时间而引起的电流变化互不相同，而且其中一种包含电容器泄漏电流分量的多种电流分量后，作成表示各电流分量随时间的变化的近似式的作成步骤，
所述好坏判定条件设定步骤是，作为所述判定基准特性分量，推断受到因电容器产品好坏而产生的所述泄漏电流分量的变化的影响，其值发生变化的充电电流，再根据所述近似式设定该充电电流的推断值的所述判定阈值的步骤，
所述判定步骤是将测定得到的判定对象电容器的充电电流与所述判定阈值加以比较，根据该比较判断判定对象电容器好坏的步骤。这样一来，就可以将判断所需要的时间缩短到比根据泄漏电流进行的判断所需要的时间更短。
又，根据本申请第5方面，最好是
所述近似式作成步骤是作成能够尽可能缩短好坏判断时间的条件下的所述近似式的步骤，
所述好坏判定条件设定步骤是能够尽可能缩短好坏判断时间的条件下的所述判断基准特性分量的好坏判断条件的设定步骤，
所述判定步骤是在能够尽可能缩短好坏判断时间的条件下对测定对象电容器的电气特性进行测定的步骤。
这样一来，就能够进一步缩短判断所需要的时间。
又，根据本申请第6方面，最好是
所述近似式作成步骤是在对测定对象电容器施加能够施加的大约最大的电压的状态下作成所述近似式的步骤，
所述好坏判定条件设定步骤是在对测定对象电容器施加所述大约最大的电压的状态下设定所述判定基准特性分量的好坏判定条件的步骤，
所述判定步骤是在对测定对象电容器施加所述大约最大的电压的状态下测
定其电气特性的步骤。这样就能够发挥如下所述的作用，即在施加大约最大的
电压的状态下充电所需要的时间大致为最短。在本发明中，设定该状态下的判
定基准特性分量的好坏判定条件，能够缩短判断好坏所需要的时间。
附图说明
图1是本发明实施形态1的电容器的充电特性随时间变化的曲线图。
图2是时间的电压V与电流上升率RI的关系的一个例子的曲线图。
图3是表示假想阈值电容器上施加额定电压Vstd的状态下的充电特性的模拟结果和对假想阈值电容器施加电压Va的状态下的充电特性的模拟结果的曲线图。
图4是表示实施形态2的假想的合格电容器及假想的阈值电容器的充电特性的一个例子的曲线图。
图5是表示实现本发明的好坏判定方法的好坏判定装置的结构图。
具体实施形态
实施形态1
首先对本实施形态中着眼的电容器的充电特性进行说明。还有，所谓充电特性是指施加电压时流过电容器的电流量随时间的变化，下面将测定其随时间的变化称为“充电特性的测定”。
本申请的发明人根据对电容器的充电过程的详细研究，发现对电容器进行充电时流过的电流(以下称为“充电电流”)iall由电流分量icap、电流分量iline、以及泄漏电流分量ileak等多种电流分量组合而成，同时发现充电电流iall可由下述式(1)求出。
iall＝icap+iline+ileak …(1)
还有，电流分量icap是根据实际电容分量流入电容器的电流分量，电流分量iline是对构成电容器的电介质充电时流过的电流分量，泄漏电流分量ileak是电容器在结构上的不合适等因素产生的泄漏电流分量。
又，发现电流分量icap、iline、以及ileak可以由下述式(2)～式(4)所示的近似式求出。
icap＝ae-bt …(2)
iline＝ct-f …(3)
ileak＝g …(4)
其中t为开始实际电流后经过的时间，e为自然对数的底(约为2.71828)，a、b、c、f、g为根据各电容器的各种特性决定的常数。
还有，常数a、b、c、f、g可以以10ms以下的短的时间间隔测定多个样品
(电容器)的充电特性，再用最佳化方法等方法用电子计算机反复计算该数据求得。
在本实施形态中，根据这样的着眼点，首先对测定对象电容器的充电特性作成构成该充电特性的各电流分量icap、iline、ileak的近似式。
图1是作成各电流分量icap、iline、ileak的近似式的充电电流1all随时间变化的具体化曲线图。图1表示一定的温度环境(例如室温)中施加一定的电压(例如16V)的电容器的充电特性(充电电流iall随时间的变化)，图中横轴表示时间(对数值)t，纵轴表示电流(对数值)。
如图1所示，在电容器的充电特性中，存在第1时间区域tcap、第2时间区域tline、以及第3区域tleak。在这些时间区域中，位置关系是第1时间区域icap在时间上最早，接着是第2时间区域iline，最后是第3时间区域ileak。
第1时间区域tcap是电流分量icap与其他电流分量相比最多出现的时间区域，该时间区域tcap中的充电电流iall(对数)随着随时间(对数)的经过而发生的电流分量icap的变化(参照上述式(2))而大致呈抛物线减少。
第2时间区域tline是电流分量icap尽可能收缩为0，取而代之，电流分量iline比起其他电流分量来说最多出现的时间区域，该时间区域tline中的充电电流iall(对数)随着随时间(对数)的经过而发生的电流分量iline的变化(参照上述式(3))而大致线性减少。
第3时间区域tleak是电流分量iline尽可能收缩为0，取而代之，泄漏电流分量ileak比起其他电流分量来说最多出现的时间区域，该时间区域tleak中的充电电流iall(对数)由于流过该电容器特有的泄漏电流分量ileak不随时间变化(参照上述式(4))，电流值经常大致保持一定。
在这里，泄漏电流分量ileak如上所述在充电时产生的电流分量icap、iline尽可能收缩为0之后的时间区域即第3时间区域tleak开始构成电流的主要分量。因此在已有的好坏判定方法中是等待第3时间区域tleak的到来，再测定电流，以此测定泄漏电流分量ileak，因此作为判定基准特性分量的泄漏电流分量ileak的测定(绝缘电阻的计算)需要比较长的时间。
在具有这样的充电特性的电容器中，本申请的发明人详细研究了上述(1)～(4)式，发现电容器的充电特性中存在下面所述的第1特征和第2特征。
首先对第1特征进行说明。在使施加的电压相同的条件下根据上述式(1)～式(4)模拟假想的合格电容器以及假想的不合格电容器的充电特性的情况下，两者(合格和不合格电容器)的充电特性之间产生泄漏电流分量ileak值的差，但是电流分量icap和电流分量iline的值没有产生差值。
根据这样的第1特征对电容器的充电特性进行研究，就可以了解下面的情况。作为好坏的判定阈值的泄漏电流分量ileak的值一旦决定，成为加以任意施加电压V的时候的好坏判定阈值的电容器(下面称为“假想阈值电容器”)的充电特性可以根据上述式(1)～式(4)模拟。
下面对第2特征进行说明。本申请的发明人将各电流分量(icap、iline、以及ileak)与施加电压V的关系用最小二乘法等表示为近似式，在电容器中，如果加大施加电压，则充电电流增大，在这时可以发现各电流分量(icap、iline、以及ileak)相对于电压的电流上升率RI相互之间差异很大。
总之，如果把电流分量iline的电流上升率RI〔iline〕与泄漏电流分量ileak的电流上升率RI〔ileak〕加以比较，则RI〔ileak〕比RI〔iline〕大得多(RI〔iline〕＜RI〔ileak〕)。
还有，作为近似式，可以使用指数(Aexp〔BV〕的关系)、乘方(AVB的关系)或多项式(A+BV2+CV3+…)进行计算，但是也可以使用其他式，系数的导出可以利用专用的计算机程序计算，也可以利用表计算软件等的近似式导出功能进行计算。
下面对这样的第2特征进一步进行详细说明。图2的曲线表示施加电压V与电流上升率RI的关系的一个例子。图2表示对额定电压(在这里为16V)的迭层陶瓷电容器的合格品，在一定的环境温度(例如室温)下一边加以各种施加电压(16V、32V、48V、64V、…)一边测定充电时的充电特性得到的电流分量iline以及泄漏电流分量ileak的电流1秒值的变化。在图2中，横轴表示施加电压，纵轴表示电流的1秒值(对数值)。
图2中的数据表示为乘方近似式则如下所示。以y表示电流分量iline的电流1秒值，x表示施加电压V的情况下，这些数据之间以下式(5)乘方近似表示。
y＝6.1E-11x3.5E+00 ……(5)
同样，以y表示泄漏电流分量ileak的电流1秒值，x表示施加电压V的情况下，这些数据之间以下式(6)乘方近似表示。
y＝2.4E-15x5.5E+00 ……(6)
这样，把x的值代入上述式(5)、(6)，可以近似求出施加电压V时的电流分量iline、泄漏电流ileak的值。也就是说，如果使用上述式(5)、(6)，则可以近似模拟对于各施加电压V的电流分量iline、泄漏电流ileak。
从图2的曲线以及上述式(5)、(6)可知，与电流分量iline的电流上升率RI〔iline〕相比，泄漏电流分量ileak的电流上升率RI〔ileak〕比较大，还有，在图2中，各电流分量(iline、ileak)的特性曲线的倾斜(视作直线时的方向系数)表示电流上升率RI。
根据这样的第2特征对电容器的充电特性进行探讨，就可以了解到，在电容器好坏的判断中，利用提高施加电压V的方法可以谋求缩短判断时间。下面详细说明其理由。
在使施加电压V有各种变化的状态下，根据上述第1特征，对在该电压下的假想阈值电容器的充电特性假想模拟的结果的一个例子示于图3。该模拟如下所述实施。在日本工业标准(JIS)等标准中，作为额定电压Vstd下的绝缘电阻，规定了好坏的判定阈值。首先，根据该阈值(绝缘电阻)计算出额定电压Vstd下的泄漏电流分量ileak的阈值Sstd，将计算出的阈值Sstd代入上述式(4)的变数g中。再求额定电压Vstd下的式(1)～(3)的变数a、b、c、f。以此模拟额定电压Vstd下的假想阈值电容器的充电特性。
下面设定使施加电压V从额定电压Vstd上升任意值的电压(下面称为“电压Va”)，同时通过测定并分析预先作成测定对象电容器的上述式(5)、(6)。再在作成的式(5)中代入电压Va，模拟电压Va下的假想阈值电容器的电流分量iline(a)。
接着在作成的式(6)中代入Va，计算电压Va下的假想阈值电容器的泄漏电流分量ileak(a)。泄漏电流分量ileak(a)作为电压Va下的判断好坏用的阈值Sa、即好坏的判定条件起作用。
假想阈值电容器的泄漏电流分量ileak(a)例如如下所述计算。在这里，以在泄漏电流分量ileak与电流分量iline之间电压/电流1秒值的特性有图2所示的关系的电容器为例，说明电压Va为0V的情况下的泄漏电流分量ileak(a)的计算方法。
在作为电容器好坏判定基准加以标准化的绝缘电阻测试中，在额定电压Vstd(＝16V)下，绝缘电阻值1.6GΩ为判定好坏的阈值。采用这一阈值，则表示额定电压Vstd下的阈值Sstd的假想阈值电容器的泄漏电流分量ialeak(std)为10nA。
另一方面，在具有图2所示的特性的电容器中，在泄漏电流分量ileak的1秒值(y)与施加电压(V)之间存在所述式(6)所示的关系。根据上述式(6)可知，泄漏电流分量ileak与施加电压的5.5次方成比例。因此电压Va取80V的情况下的泄漏电流分量ileak(a)可以根据下面所述计算出，即
ileak(a)＝10nA×(80/16)5.5＝69.9μA
但是鉴于电流测定器的测定精度，将泄漏电流分量ileak(a)设定为69μA是妥当的。
这样计算电压Va下的假想阈值电容器的电流分量iline(a)和泄漏电流分量ileak(a)(好坏的判定条件)之后，组合这些电流分量，模拟电压Va下的假想阈值电容器的充电特性。还有，对于电流分量icap(a)由于在判定好坏时不使用，因此不必进行计算。
图3表示额定电压为16V的叠层陶瓷电容器中，对设定的假想阈值电容器施加额定电压Vstd(＝16V)的状态下的充电特性的模拟结果，同时表示对同一假想阈值电容器将施加电压Va设定为80V的状态下的充电特性的模拟结果。
在图3中，点Astd表示在施加额定电压Vstd(＝16V)时的充电特性下从第2时间区域tline变为第3时间区域tleak的变换点(以下称为“第2-第3时间区域变换点”)，点Aa表示施加电压Va(＝80V)时的充电特性下的第2-第3时间区域变换点A。
详细研究图3所示的曲线可以理解下面所述的情况。将第2-第3时间区域变换点Astd、Aa的时间位置加以比较可以看出，变换点Aa比变换点Astd时间上时间上较早(即靠近电压施加开始时刻)。
这是由于下述原因所致。如以上述第2特征所作的说明那样，电流上升率RI中，RI〔iline〕＜RI〔ileak〕，因此一旦使施加电压V上升，第3时间区域tleak的电流上升程度就比第2时间区域tline的电流上升程度大。因此一旦使施加电压V上升，第2-第3时间区域变换点A就被推到电压施加开始时刻一侧。其结果是，变换点Aa比在时间上比变换点Astd早。
经过上面所述的步骤之后，在本实施形态中，如下所述进行好坏的判断，可以缩短该判断所需要的时间。也就是说，在对测定对象电容器施加电压Va的状态下测定刚经过变换点Aa后的电流，这样可以测定泄漏电流分量ileak(a)。然后，将测定的泄漏电流分量ileak(a)与阈值Sa比较，以此判断测定对象电容器好坏。在这里，在泄漏电流分量ileak(a)比阈值Sa小的情况下判定为合格品，相反的情况则判定为不合格品。
在这种情况下，如上所述，对测定对象电容器的泄漏电流分量ileak进行测定的时间缩短了变换点Aa比变换点Astd时间上提早的量，判定好坏的时间缩短了。还有，变换点Aa可以从模拟的假想阈值电容器的充电特性读出，又可以利用计算方法计算得到。
越是使施加电压Va升高，越是能够缩短对测定对象电容器的泄漏电流分量ileak进行测定的时间。但是施加电压Va一旦升高到超过测定对象电容器的击穿电压，电容器就有受到损伤的危险，因此施加电压Va最好是小于测定对象电容器的击穿电压，设定为不损伤电容器的值。
这样判断好坏，对各测定对象电容器好坏的判断所需要的时间可以缩短的量，相当于第2-第3时间区域变换点Aa比第2-第3时间区域变换点Astd在时间上提早的量。
实施形态2
在第1实施形态中，尽可能高地设定时间电压Va，以使第2-第3时间区域变换点Aa比第2-第3时间区域变换点Astd在时间上比较早，以此缩短判断好坏所需要的时间。但是在实施形态1的方法中，根据泄漏电流分量ileak(a)与阈值Sa的比较判断电容器好坏，在时间上能够测定泄漏电流分量ileak(a)之前不能够判断好坏。
但是，在电容器中，一旦泄漏电流分量ileak上升，充电电流接受泄漏电流分量ileak的上升，比在第2时间区域tline的后半期间的电流分量iline有若干上升。因此不合格的电容器的充电特性从第2时间区域tline的后半期间开始慢慢偏离合格电容器的充电特性。
本实施形态着眼于这一情况，检测第2时间区域tline的后半期间的电流分量iline的上升，以进行好坏的判断，由此谋求缩短判断时间。
下面详细说明本实施形态的好坏判定方法。首先，模拟施加预先设定的施加电压Vb的状态下的假想合格品电容器的充电特性，同时模拟施加所述施加电压Vb的状态下泄漏电流分量ileak(b)表示好坏的阈值Sb的假想阈值电容器的充电特性。施加电压Vb下的阈值Sb的设定、表示阈值Sb的假想阈值电容器的充电特性的模拟方法、以及假想合格品电容器的充电特性的模拟方法，与在实施形态1中作为假想阈值电容器的施加电压Va的设定、以及充电特性的模拟方法进行的说明相同，因此在这里省略其说明。
图4表示假想合格品电容器以及假想阈值电容器的充电特性的一个例子。图4是施加电压Vb与阈值Sb分别取Vb＝80V，阈值Sb＝69μA，的额定电压16V的叠层陶瓷电容器的充电特性。
如图4所示，假想阈值电容器的充电特性中，在第2时间区域tline的后半期间，已经发生与假想合格品电容器的充电特性之间基于上述特性偏离的电流值上升。在本实施形态中，测定该电流值的上升以判断其好坏。
在这样的判定方法中存在着这样的问题，即假想合格品电容器的充电特性与假想阈值电容器的充电特性之间电流的不同要达到多大的差值才能够判定为不合格。这个问题可以以电流测定器的测量误差为基准解决。在本实施形态中，基于这样的见解，在假想阈值电容器的充电特性(电流值)相当于假想合格品电容器的充电特性(电流值)有10％以上差值的时刻可以判断好坏。但是由于电流测定器的测量误差，当然又可以将此外的电流差值不同的时刻作为可以判断好坏的时刻。
图4的假想合格品电容器/假想阈值电容器的充电特性中，两种电容器的充电特性产生10％差值的时刻记为时刻B，又将时刻B的假想阈值电容器显示的电流值作为本实施形态的阈值Sc。于是，时刻B是在时间上比假想阈值电容器的第2-第3时间区域变换点Ac早的时刻。
在确定时刻B和阈值Sc之后，对各测定样品的充电特性进行测定以判断好坏。这时，测定时刻B的电流值，如果该测定电流值小于阈值Sc，则判断该样品为合格品，如果反之大于阈值Sc，则判断该样品为不合格品。
还有，如果和实施形态1一样把本实施形态的施加电压Vb设定得尽可能高，则和实施形态1中好坏的判定所需要的时间的缩短相结合，好坏的判定时间能够进一步缩短。
以上说明的实施形态1、2的好坏判定方法可以用图5所示的装置实现。该好坏判定装置具备测定时支持电容器构成的样品U的样品支持部1、在样品U上加以施加电压V的电压施加部2、测量施加电压V时的样品的电流的电流测定部3、控制电压施加部2和电流测定部3的动作的控制部4、以及根据电流测定部3测定的电流判断好坏的判定部5。
该好坏判定装置在判定部5根据实施形态1～实施形态2的好坏判定方法判断样品U好坏。
上述实施形态1、2中，为了调整充电特性而使施加电压V改变。但是利用调整充电时的环境温度的方法也能够调整充电特性。因此也可以利用调整环境温度(具体地说是升温)的方法使第2-第3时间区域变换点A在时间上提早。
如上所述，采用本发明能够以最短的时间对好坏进行判断。又能够比较简单地设定能以最短时间判断好坏的各种条件。这样，可以对例如每一批产品设定最佳的好坏判定条件。而且将设定的判定条件提供给好坏判定装置也就能够自动设定好坏判定装置的运行条件。
Claims (5)
1.一种电容器好坏的判定方法，其特征在于，包含
把充电时的电容器产生的充电电流分离为由于时间的经过而引起的特性变化互不相同的、包含泄漏电流分量的多种电流分量后，再用指数、乘方和多项式中选择的至少一种作成表示各电流分量随时间变化的近似式的近似式作成步骤、
从所述多种电流分量提取出至少包含泄漏电流分量的电流分量作为电容器好坏的判定基准的判定基准特性分量，根据所述近似式设定该判定基准特性分量的好坏的判定条件的好坏判定条件设定步骤、以及
将测得的判定对象电容器的充电电流中包含的所述判定基准特性分量与所述好坏判定条件对照，以判断判定对象电容器好坏的判定步骤。
2.根据权利要求1所述的电容器好坏的判定方法，其特征在于，
所述好坏判定条件设定步骤是将从作为额定电压的绝缘电阻的好坏判定阈值计算的所述判定基准特性分量的阈值作为所述好坏判定条件、作为所述判定基准特性分量的判定阈值进行设定的步骤，
所述判定步骤是根据从所述判定对象电容器的测定得到的所述充电电流提取的所述判定基准特性分量与所述判定阈值的比较，对判定对象电容器的好坏进行判断的步骤。
3.根据权利要求2所述的电容器好坏的判定方法，其特征在于，
所述近似式作成步骤是将充电时的电容器中产生的充电电流分离成由于时间经过而引起的电流变化互不相同，而且其中一种包含电容器泄漏电流分量的多种电流分量后，作成表示各电流分量随时间的变化的近似式的作成步骤，
所述好坏判定条件设定步骤是将所述泄漏电流分量提取出作为所述判定基准特性分量后，根据所述近似式设定所述泄漏电流分量的所述判定阈值的步骤，
所述判定步骤是根据从测得的判定对象电容器的充电电流中包含的泄漏电流分量与所述判定阈值的比较，对判定对象电容器的好坏进行判断的步骤。
4.根据权利要求2所述的电容器好坏的判定方法，其特征在于，
所述近似式作成步骤是将充电时的电容器中产生的充电电流分离成由于时间经过而引起的电流变化互不相同，而且其中一种包含电容器泄漏电流分量的多种电流分量后，作成表示各电流分量随时间的变化的近似式的作成步骤，
所述好坏判定条件设定步骤是，作为所述判定基准特性分量，推断受到因电容器产品好坏而产生的所述泄漏电流分量的变化的影响，其值发生变化的充电电流，再根据所述近似式设定该充电电流的推断值的所述判定阈值的步骤，
所述判定步骤是将测定得到的判定对象电容器的充电电流与所述判定阈值加以比较，根据该比较判断判定对象电容器好坏的步骤。
5.根据权利要求1～4中的任一项所述的电容器好坏的判定方法，其特征在于，
所述近似式作成步骤是在对测定对象电容器施加能够施加的最大的电压的状态下作成所述近似式的步骤，
所述好坏判定条件设定步骤是在对测定对象电容器施加所述最大的电压的状态下设定所述判定基准特性分量的好坏判定条件的步骤，
所述判定步骤是在对测定对象电容器施加所述最大的电压的状态下测定其电气特性的步骤。
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