TWI223082B - Method for judging pass or fail of capacitor - Google Patents

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1223082 A7 __B7 _ 五、發明說明（，） 技術領域 本發明係關於最適用於電容器、特別是使用高介電常 數陶瓷的大電容陶瓷電容器的電容器好壞判定方法。 步前技術 在電容器中，施加直流電壓進行充電時流過較大的充 電電流。理想的電容器，一旦充電結束，電流就完全不再 流通。然而’實際電容器在充電結束之後還有電流繼續流 通。這是由於實際電容器的絕緣電阻是有限値而產生的現 象。這樣的現象，由於流過絕緣電阻的電流引起的發熱徒 然浪費電力等原因，不僅是吾人所不期望的，且在絕緣電 阻低的電容器中，從將來的角度看來容易引起短路等故障 ，連續使用時有危險。 根據以上的觀點，判定陶瓷電容器好壞的方法有絕緣 電阻測試。這種測試如下述般來實施。 對製造出的電容器，在既定的充電時間內施加直流電 壓進行充電。在充電結束後，再在維持電壓施加後的狀態 下測定電容器的洩漏電流成份。然後從施加電壓E(V)、洩 漏電流成份1(A)求絕緣電阻R(Q)=E/I。 然後，將計算出的絕緣電阻R(〇)與既定的閩値進行 比較，在絕緣電阻高時判定該電容器爲良品，在絕緣電阻 低時判定其爲不良品。該閾値依日本工業標準（JIS)規格 等預先對每一種電容器進行規定。 發明所要解決之課題 近年來，隨著積層電容器的大容量化，電容器的充電 _____3______ 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） ----------------裝--- (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) -trej -丨線· 1223082 -bt A7 B7 五、發明說明（ iall —icap + iline + ileak ’"(1) 還有，電流成份ieap是根據實際電容成份流入電容器 的電流成份，電流成份illne是對構成電容器的電介質充電 時流過的電流成份，拽漏電流成份ileak是電容器在結構上 的不合適等因素產生的洩漏電流成份。 又，發現電流成份ieap、iline、以及ileak可以由下述式 (2)〜式(4)所示的近似式求出。 !cap = ^ C iline = e t !leak= g 其中t爲開始施加電流後經過的時間，e爲自然對數 的底(約爲2.71828)，a、b、c、f、g爲根據各電容器的各 種特性決定的常數。 又，常數a、b、c、f、g可以用l〇ms以下的短時間間 隔測定多個樣品（電容器）的充電特性，再用最佳化方法 等方法用電腦反覆運算而求得。 在本實施賴中，根麵_細點，首先針對測定 對象電容獅充職性，作_轉親特_各電流成 份 bap、lline、ileak 的近似式。 圖1是作祕雌紐‘<、ileak隨似式的充 電電流W謂魏顚散丨表示—定的溫度 環境（例如室溫）中施加-定的_ (例如i6v) _容 器的充電雜（充流lall_飾），圖中橫軸表示時 間（對數値）t，縱軸表示電流（對數値丨。 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁)

•(2) •⑶ -(4) —f 8 1223082 A7 广 _B7___ 五、發明說明（Π ) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 如圖1所示，在電容器的充電特性中，存在第1時間 區域teap、第2時間區域tline、以及第3區域tleak。在這些 時間區域中，位置關係是第1時間區域ieap在時間上最早 ，接著是第2時間區域inne，最後是第3時間區域ileak。 第1時間區域teap，係電流成份ieap與其他電流成份相 比最多出現的時間區域，該時間區域teap中的充電時電流 Un (對數）隨著隨時間（對數）的經過而發生的電流成份 icap的變化（參照上述式(2))而呈大致拋物線減少。 在第2時間區域tune，電流成份Lap儘量收欽爲〇，取 而代之，係電流成份iline比起其他電流成份來說最多出現 的時間區域，該時間區域tline中的充電時電流iall (對數.） 隨著因時間（對數）經過而發生的電流成份iline的變化（ 參照上述式(3))而呈大致線性減少。 在第3時間區域tleak，電流成份iline儘量收歛爲〇，取 而代之，係洩漏電流成份ileak比起其他電流成份來說最多 出現的時間區域，該時間區域tleak中的充電時電流iall (對 數），由於無關時間變化而流通該電容器特有的洩漏電流 成份ileak (參照上述式(4))，電流値經常保持大致一定。 在這裏，洩漏電流成份ileak，如上述在充電時所產生 的電流成份ieap、iline儘里收破爲〇後的時間區域、即第3 時間區域tleak才開始構成電流的主要成份。因此在以往的 好壞判定方法中，須等待第3時間區域tleak的到來，再測 定電流，藉此測定洩漏電流成份ileak，因此作爲判定基準 特性成份的洩漏電流成份ileak的測定（絕緣電阻的計算） 9 張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 x 297公董） " 1223082 A7 ____Β7_ 五、發明說明（S ) 需要比較長的時間。 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 在具有這樣的充電特性的電容器中，本發明人詳細探 討上述（1)〜(4)式，發現電容器的充電特性中存在以下的第 1特徵和第2特徵。 首先對第1特徵進行說明。在使施加電壓V相同的條 件下根據上述式（1)〜式(4)模擬假想的良品電容器以及假想 的不良品電容器的充電特性的情況下，兩者（良品/不良品 )的充電特性間會產生洩漏電流成份ileak値的差，但是電 流成份ieap、電流成份iline的値則沒有產生差値。 根據這樣的第1特徵對電容器的充電特性進行硏究， 就可以瞭解以下的情況。只要決定出作爲好壞的判定閾値 •的洩漏電流成份ileak値，任意施加電壓V時作爲好壞判定 閾値的電容器（下面稱爲“假想閾値電容器”）的充電特 性可以根據上述式（1)〜式(4)來作模擬。 i線- 下面對第2特徵進行說明。本發明人將各電流成份（ icap、、以及ileak)與施加電壓V的關係用最小平方法 等表示爲近似式，在電容器中，只要加大施加電壓V，則 充電電流增大，在這時可以發現各電流成份（ieap、iline、 以及ileak)相對於電壓之電流上升率RI彼此間差異很大。 亦即，如果把電流成份Line的電流上升率RI〔 iline〕 與洩漏電流成份ileak的電流上升率RI〔 ileak〕加以比較， 則 RI〔ileak〕比 RI〔iline〕大得多（RI〔iline〕<RI〔ileak〕 )° 還有，作爲近似式，可以使用指數（Aexp〔BV〕的關 10_ _ 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） 1223082 A7 __ B7____ 五、發明說明（？） 係）、乘方（AVB的關係）或多項式（A+bv2+CV3+… )進行計算，但是也可以使用其他式子，係數的導出可以 利用專用的電腦程式計算，也可以利用表計算軟體等的近 似式導出功能進行計算。 以下對這樣的第2特徵進一步進行詳細說明。圖2的 曲線表示施加電壓V與電流上升率RI的關係的一個例子 。圖2表示對額定電壓（在這裏爲16V)的積層陶瓷電容 器的良品，在一定的環境溫度（例如室溫）下一邊施加各 種方也加電壓（16V、32V ' 48V、64V、…）一^邊測定充電 時的充電特性所得的電流成份iline以及洩漏電流成份ileak 之電流1秒値的變化。在圖2中，橫軸表示施加電壓，縱 軸表示電流的1秒値（對數値）。 圖2中的數據表示爲乘方近似式則如下所示。以y表 7^：電流成份iline的電流1秒値，X表示施加電壓V的情況 下，這些數據之間以下式(5)乘方近似表示。 y=6.1E-llx35E+00 ......⑶ 同樣，以y表示洩漏電流成份ileak的電流1秒値，x 表示施加電壓V的情況下，這些數據之間以下式(6)乘方近 似表不。 y=2.4E—15x55E+00 …···⑹ 這樣，把X的値代入上述式(5)、（6)，可以近似求出施 加電壓V時的電流成份illne、洩漏電流ileak的値。也就是 說，如果使用上述式(5)、（6)，則可以近似模擬對於各施加 電壓V的電流成份iline、洩漏電流ileak。 11 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) φί :裝 ·. -線· 1223082 A7 B7 _ 五、發明說明（,。） 從圖2的曲線以及上述式（5)、（6)可知，與電流成份 inne的電流上升率RI〔iline〕相比，洩漏電流成份ileak的電 流上升率RI〔 ileak〕比較大，還有，在圖2中，各電流成 份、ileak)的特性曲線的傾斜（視爲直線時的方向係 數）表不電流上升率RI。 根據這樣的第2特徵對電容器的充電特性進行探討， 就可以瞭解到，在電容器好壞的判斷中，利用提高施加電 壓V的方法可以謀求縮短判斷時間。下面詳細說明其理由 〇 在使施加電壓V產生各種變化的狀態下，根據上述第 1特徵，對在該電壓下的假想閾値電容器的充電特性作模 擬的結果之一例示於圖3。該模擬如下述般實施。在曰本 工業規格(JIS)等中，作爲額定電壓vstd下的絕緣電阻，係 規定好壞的判定閾値。首先，根據該閾値（絕緣電阻）計 算出額定電壓vstd下的洩漏電流成份ileak的閾値Sstd，將計 算出的閾値Sstd代入上述式(4)的變數g中。再求取額定電 壓Vstd下的式（1)〜（3)的變數a、b、c、f。藉此來模擬額定 電壓Vstd下的假想閾値電容器的充電特性。 接著’將施加電壓V設定成從額定電壓Vstd上升任意 値的電壓（下面稱爲“電壓va”），同時通過測定與解析 而預先作成測定對象電容器的上述式(5)、（6)。再在作成的 式(5)中代入電壓Va，模擬電壓1下的假想閾値電容器的 電流成份iline⑷。 接著在作成的式(6)中代入Va，計算電壓Va下的假想 度適用中國國家標準（CNS)A4^7210 X 297^^ )--"""""" (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) •裝 1223082 A7 _______B7___ 五、發明說明（Μ ) 閾値電容器的洩漏電流成份ileak⑷。洩漏電流成份ileak⑷係 被當作電壓Va下的判斷好壞用的閾値Sa、即好壞的判定條 件而作用。 假想閾値電谷器的拽漏電流成份ileak⑷例如如下述般 計算。在這裏’以在洩漏電流成份ileak與電流成份iHne之 間、電壓/電流1秒値的特性有圖2所示的關係的電容器爲 例’說明電壓Va爲80V的情況下的洩漏電流成份ileak(a#9 計算方法。 在作爲電容器好壞判定基準加以標準化的絕緣電阻測 試中，在額定電壓Vstd ( = 16V)下，絕緣電阻値1.6GQ 爲判定好壞的閾値。採用這一閾値，則表示額定電壓Vstd 下的閾値Sstd之假想閾値電容器的洩漏電流成份 ialeak(std)^^ 10nA 〇

另一方面，在具有圖2所示的特性的電容器中，在洩 漏電流成份匕^的1秒値(y)與施加電壓（V)之間存在該 式(6)所示的關係。根據上述式(6)可知，洩漏電流成份ileak 與施加電壓的5.5次方成比例。因此電壓va取80V的情況 下的洩漏電流成份ileak⑷可以根據下面該計算出，即 ileak⑷=ΙΟηΑΧ (80/16)5 69.9 // A 但是鑒於電流測定器的測定精度，將洩漏電流成份 ileak(a)設定爲69//A是妥當的。 這樣計算電壓Va下的假想閾値電容器的電流成份 iline⑷和洩漏電流成份ileak⑷（好壞判定條件）之後，組合 這些電流成份，模擬電壓VaT的假想閾値電容器的充電特 ——___13 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） ' (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁)

· •線· 1223082 A7 __B7 __ 五、發明說明（) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 性。還有，關於電流成份ieap(a)由於在判定好壞時不使用’ 因此不必進行計算。 圖3表示額定電壓爲16V的積層陶瓷電容器中，對假 定的假想閾値電容器施加額定電壓vstd ( = 16V)的狀態下 的充電特性的模擬結果，同時表不對同一假想閾値電容器 將施加電壓Va設定爲80V的狀態下的充電特性的模擬結 果。 •在圖3中，點Astd表示在施加額定電壓Vstd ( = 16V) 時的充電特性下從第2時間區域tline變爲第3時間區域 tleak的變換點（以下稱爲“第2-第3時間區域變換點”） ，點Aa表示施加電壓Va ( =80V)時的充電特性下的第2-第3時間區域變換點A。 -丨線· 詳細探討圖3所示的曲線可以理解下面所述的情況。 將第2-第3時間區域變換點Astd、Aa的時間位置加以比較 可以看出，變換點Aa比變換點Astd時間上時間上較早（即 靠近電壓施加開始時點）。 這是由於下述原因所致。如上述第2特徵所作的說明 那樣，電流上升率RI中，RI〔iline〕<RI〔ileak〕，若使施 加電壓V上升，第3時間區域一^的電流上升程度就比第 2時間區域tline的電流上升程度大。因此若使施加電壓V 上升，第2-第3時間區域變換點A就被推向電壓施加開始 時點側。其結果是，變換點Aa在時間上比變換點Astd早。 經過上面所述的步驟之後，在本實施形態中，如下述 般進行好壞的判斷，可以縮短該判斷所需要的時間。也就 _____ 14 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） 1223082 A7 _____ Β7_____ 五、發明說明（6 ) 是說，在對測定對象電容器施加電壓va的狀態下測定剛經 過變換點Aa後的電流，即可測定洩漏電流成份ileak(a)。然 後，將測定的拽漏電流成份ileak(a)與閾値Sa比較，藉此判 斷測定對象電容器好壞。在這裏，在洩漏電流成份ileak(a) 比閾値Sa小的情況下判定爲良品，相反的情況則判定爲不 良品。 在這種情況下，如上所述，以相當於變換點Aa在時間 上比變換點Astd提早的量，測定對象電容器的洩漏電流成 份ileak之測定時間縮短了，判定好壞的時間縮短了。還有 ，變換點Aa可以從模擬的假想閾値電容器的充電特性讀出 ，又可以利用計算方法計算得到。 越是使施加電壓Va升高，越是能夠縮短對測定對象電 容器的洩漏電流成份ileak進行測定的時間。但是施加電壓 Va—旦升高到超過測定對象電容器的擊穿電壓，電容器就 有受到損傷的危險，因此施加電壓Va較佳爲設定成小於測 定對象電容器的擊穿電壓且不致損傷電容器的値。 這樣判斷好壞，對各測定對象電容器好壞的判斷所需 要的時間可以縮短的量，係相當於第2-第3時間區域變換 點Aa比第2-第3時間區域變換點Astd在時間上提早的量。 實施形態2 在第1實施形態中，儘量加高所設定的施加電壓Va， 以使第2_第3時間區域變換點Aa比第2-第3時間區域變 換點Astd在時間上提早，藉此縮短判斷好壞所需要的時間 。但是在實施形態1的方法中’係根據洩漏電流成份 ___\5__ 度適用^"5家標準（CNS)A4規格（210 x 297公釐1 "~~ (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) :裝 · -線- 1223082 A7 _______B7___ ___ 五、發明說明（A ) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) ileak⑷與閾値心的比較判斷電容器好壞，在能夠測定洩漏 電流成份ileak(a)的時間前不能夠判斷好壞。 但是，在電容器中，若洩漏電流成份ileak上升，充電 電流受到浅漏電纟iL成份ileak的上升，在第2時間區域tnne 的後半期間會比電流成份line來得上升若干。因此不良品 電容器的充電特性從第2時間區域tline的後半期間開始慢 慢偏離良品電容器的充電特性。 本實施形態著眼於這一情況，檢測第2時間區域tline 的後半期間的電流成份illne的上升，以進行好壞的判斷， 藉此謀求縮短判斷時間。 i線- 下面詳細說明本實施形態的好壞判定方法。首先，在 施加預先設定的施加電壓Vb的狀態下，模擬假想良品電 容器的充電特性，同時模擬施加該施加電壓Vb的狀態下 之洩漏電流成份^^⑻表示好壞的閾値Sb之假想閾値電容 器的充電特性。施加電壓Vb下的閾値Sb的設定、表示閾 値Sb的假想閾値電容器的充電特性的模擬方法、以及假想 良品電谷器的充電特性的模擬方法，與在實施形態1中所 說明之假想閾値電容器的施加電壓va的設定、以及充電特 性的模擬方法相同，因此在這裏省略其說明。 圖4表示假想良品電容器以及假想閾値電容器的充電 特性的一個例子。圖4表示施加電壓vb與閾値Sb分別取 Vb=8GV、Sb=69/zA之額定電壓16V的積層陶瓷電容器 的充電特性。 如圖4所示，假想閾値電容器的充電特性，係在第2 __ —_16__ 本紙張尺度適用中國國家標準（CNs)A4規格（21〇 X 297公釐） 1223082 A7 ______ B7 ___ 五、發明說明（C ) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 時間區域tllne的後半期間，在與假想良品電容器的充電特 性間已發生基於上述特性偏離的電流値上升。在本實施形 態中，測定該電流値的上升以判斷其好壞。 在這樣的好壞判定方法中存在著這樣的問題，即假想 良品電容器的充電特性與假想閾値電容器的充電特性之間 電流差異量要達到多大才能夠判定爲不合格。這個問題可 以用電流測定器的測量誤差爲基準來解決。在本實施形態 中，基於這樣的見解，相對於假想良品電容器的充電特性 (電流値），在假想閾値電容器的充電特性（電流値）有 10%以上差値的時點可以判斷好壞。但是依電流測定器的 測量誤差，當然可以將其他的電流差異量不同的時點作爲 可以判斷好壞的時點。 丨線· 圖4的假想良品電容器/假想閾値電容器的充電特性中 ，將兩種電容器的充電特性產生10%差値的時點定爲時點 B，又將在時點B假想閾値電容器顯示的電流値作爲本實 施形態的閾値Se。於是，時點B是在時間上比假想閾値電 容器的第2-第3時間區域變換點Ae早的時點。 在特定出時點B和閾値S。之後，對各測定樣品的充電 特性進行測定以判斷好壞。這時，測定時點B的電流値， 如果該測定電流値小於閩値Se，則判斷該樣品爲良品，如 果反之大於閩値Se，則判斷該樣品爲不良品。 還有，如果和實施形態1 一樣把本實施形態的施加電 壓Vb設定得儘量高，則能結合實施形態1之好壞判定所需 時間的縮短化，好壞的判定時間能夠進一步縮短。 __________Γ7____ 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） 1223082 A7 _____B7_ 五、發明說明（ι6 ) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 以上說明的實施形態1、2的好壞判定方法可以用圖5 所示的好壞判定裝置來實現。該好壞判定裝置具備：測定 時把持電容器所構成的樣品U之樣品把持部i，在樣品u 上施加電壓V的電壓施加部2，測量施加電壓V後的樣品 U電流的電流測定部3，控制電壓施加部2和電流測定部3 的動作之控制部4，以及根據電流測定部3所測定的電流 判斷好壞之判定部5。 該好壞判定裝置，係在判定部5根據實施形態i〜實 施形態2的好壞判定方法判斷樣品U好壞。 上述實施形態1、2中，爲了調整充電特性係使施加電 壓V產生變動。但是，利用調整充電時的環境溫度的方法 也能夠調整充電特性。因此也可以利用調整環境溫度（具 體地說是升溫）的方法而使第2-第3時間區域變換點A在 時間上提早。 發明之效果 如上所述，依據本發明能夠以最短的時間對好壞進行 判斷。又能夠比較簡單地設定爲以最短時間判斷好壞的各 種條件。藉此，可對例如每一批製品設定最佳的好壞判定 條件。而且將設定的判定條件給予好壞判定裝置，就能夠 自動設定好壞判定裝置的運轉條件。 圖式之簡單說明 圖1係顯示本發明實施形態1的電容器充電特性經時 變化圖。 圖2係顯示施加電壓V與電流上升率RI的關係的一 -—__18 __ 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） 1223082 A7 _B7_ 五、發明說明（) 例。 圖3係顯示假想閾値電容器上施加額定電壓Vstd的狀 態下的充電特性的模擬結果、假想閾値電容器上施加電壓 Va的狀態下的充電特性的模擬結果。 圖4係顯示實施形態2的假想良品電容器及假想閾値 電容器的充電特性的一例。 圖5係顯示實現本發明的好壞判定方法之好壞判定裝 置的構成。 符號說明 iall :電流；Uap :電流成份；iiine :電流成份； ileak :洩漏電流成份；teap :第1時間區域； tline :第2時間區域；tleak :第3時間區域； V :施加電壓；RI :電流上升率；Vstd :額定電壓；

Vmax :大致最大可施加電壓；

Astd、Aa :第2 -第3時間區域變換點；S :閾値 _ 19 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) -·裝

Claims (1)

1223082 92. 12, 3 0 Α8 Β8 C8 D8 - 」一 卞] f示 ϋ / … j 3丨 :.人J ；% 3ί) $ η 存;vr 正提 申請專利範圍 第091120266號專利申請案 申請專利範圍替換本（2003年12月） 1.一種電容器之好壞判定方法，包含下列步驟： 把充電時電容器所產生的電氣特性分離成經時特性變 化互不相同的複數個特性成份，再作成表示各特性成份經 時變化的近似式的近似式作成步驟； 從該複數個特性成份取出作爲電容器好壞的判定基準 之判定基準特性成份，根據該近似式設定該判定基準特性 成份的好壞判定條件之好壞判定條件設定步驟；以及 將測得的判定對象電容器的充電電氣特性中所含的判 定基準特性成份與該好壞判定條件對照，以判斷判定對象 電容器好壞的判定步驟。 2·如申請專利範圍第1項之電容器之好壞判定方法， 其中，作爲該電氣特性係使用電流。 3.如申請專利範圍第1項之電容器之好壞判定方法， 其中，該好壞判定條件設定步驟，係將判定基準特性成份 的判定閾値作爲好壞判定條件來設定的步驟； 該判定步驟，是根據從該判定對象電容器的所測得的 電氣特性取出的判定基準特性成份與判定閾値作比較，而 判斷判定對象電容器的好壞之步驟。 4·如申請專利範圍第3項之電容器之好壞判定方法， 其中，該近似式作成步驟，係將充電時的電容器所產生的 充電電流分離成經時電流變化互不相同、且其中一種爲電 容器洩漏電流成份的複數個電流成份後，作成表示各電流 成份經時變化之近似式作成步驟； S亥好壞判疋條件設定步驟，係取出該洩漏電流成份來 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁)

1223082 A8 B8 C8 D8 :\丄 申請專利範圍 作爲判定基準特性成份後，根據該近似式設定該洩漏電流 成份的判定閾値之步驟； 該判定步驟，係根據從測得的判定對象電容器的充電 電流中所含的洩漏電流成份與該判定閾値作比較，而判斷 判定對象電容器的好壞之步驟。 5.如申請專利範圍第3項之電容器之好壞判定方法， 其中，該近似式作成步驟，係將充電時的電容器所產生的 充電電流分離成經時電流變化互不相同、且其中一種爲電 容器洩漏電流成份的複數個電流成份後，作成表示各電流 成份經時變化的近似式之步驟； 該好壞判定條件設定步驟，作爲該判定基準特性成份 ，係推定受到因電容器製品好壞所產生的洩漏電流成份變 動的影響、其値發生變化的充電電流，再根據該近似式來 設定該充電電流的推定値之判定閩値的步驟； 該判定步驟，係將測得的判定對象電容器的充電電流 與判定閾値作比較，而判斷判定對象電容器好壞的步驟。 6·如申請專利範圍第1至5項中任一項之電容器之好 壞判定方法，其中，該近似式作成步驟，係在可儘量縮短 好壞定斷時間的條件下作成該近似式的步驟； 該好壞判定條件設定步驟，係在可儘量縮短好壞判斷 時間的條件下設定該判定基準特性成份的好壞判定條件的 步驟； 該判定步驟，係在可儘量縮短好壞判斷時間的條件下 對測定對象電容器的電氣特性進行測定的步驟。 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格(210 X 297公釐) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) -一口 線 A8 B8 C8 D8 12230^2 η 修正i …’涵充1 申請專利範圍 7.如申請專利範圍第1至5項中任一項之電谷器之好 壞判定方法，其中，該近似式作成步驟’係在對測定對象 電容器施加能夠施加的大致最大電壓的狀態下作成該近似 式的步驟； 該好壞判定條件設定步驟，係在對測定對象電容器施 加該大致最大電壓的狀態下設定該判定基準特性成份的好 壞判定條件的步驟； 該判定步驟，係在對測定對象電容器施加該大致最大 的電壓的狀態下測定其電氣特性的步驟。 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) iC 、1T: 線 ^尺'度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210 X 297公變） 12230¾ 第091120266號專利申請案 圖式替換頁(圖1至4) (2003年12月） Μ :之 圖 MSI》j 31酲盤-*- f——

1223082 2 圖 J )' I - --5-6.7-8 電流之1秒値απ)(Α)

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