KR100394554B1 - 교환기내공간스위치보드의시험방법 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 교환기내 공간 스위치 보드의 시험방법에 관한 것이다.
종래의 공간 스위치 보드의 시험방식에서는, 제어보드가 시험결과를 상위 프로세서 블록에게 보고할 경우 정상여부 만을 보고하기 때문에 시험결과 비정상 상태에서는 시험오류의 발생원인을 정확히 판정할 수 없게되고, 공간분할 스위칭 기능을 시험할 때 한 번에 하나의 하이웨이에 대한 시험만이 가능하기 때문에 다수의 하이웨이에 대한 시험을 행하기 위해서는 많은 시간이 소요되고, 공간분할 스위치 보드에 대한 시험은 가능하나 링크블록과 연동하여 시험할 수 없다는 문제점이 있다.
본 발명은 공간 분할 스위칭 기능의 정상여부를 보다 세밀하게 시험함과 동시에 여러 하이웨이에 대한 시험을 동시에 시험하므로 시험 정밀성과 시험 속도를 향상시키고, 공간 분할 스위칭 기능에 대한 시험 이외에 링크블록과의 연동 기능도 시험하게 된다.

Description

교환기내 공간 스위치 보드의 시험방법
본 발명은 교환기내 공간 스위치 보드의 시험방법에 관한 것으로, 특히 공간 분할 스위칭 기능의 정상여부를 보다 세밀하게 시험함과 동시에 여러 하이웨이에 대한 시험을 동시에 시험함으로써 시험 정밀성과 시험 속도를 향상시키고, 공간 분할 스위칭 기능에 대한 시험 이외에 링크블록과의 연동 기능도 시험하도록 하는 교환기내 공간 스위치 보드의 시험방법에 관한 것이다.
일반적으로 교환기에는 공간 분할 스위칭 기능을 수행하는 공간 스위치 보드를 구비하고 있는데, 해당 공간 스위치 보드를 정상 상태로 가동하기 위해서는 주기적으로 해당 공간 스위치 보드가 정상적 인지의 여부를 시험해야 할 필요성이 있다.
도1에 도시된 바와같이, 종래 교환기내의 공간 스위치 보드(20)는 제어보드 (21), 하이웨이 정합보드(22, 24) 및 공간분할 스위치 보드(23)를 구비하여 이루어진다. 제어보드(21)는 상위 프로세서 블록(10)으로부터 인가되는 제어데이터에 따라, 공간분할 스위치 보드(23)의 스위칭 동작을 제어하고, 시험시에 시험을 위한 제어데이터를 하이웨이 정합보드(22)측에 인가함과 함께 하이웨이 정합보드(22)측에 시험용의 랜덤 패턴 데이터를 공급하며, 하이웨이 정합보드(24)측에 제어데이터를 출력하여 하이웨이 정합보드(24)로부터 인가되는 랜덤 패턴 데이터를 수신해서 하이웨이 정합보드(22)측에 출력했던 랜덤 패턴 데이터와 비교하여 시험결과 정상여부를 상위 프로세서 블록(10)측에 보고한다. 하이웨이 정합보드(22)는 링크블록 (31)으로부터 입력하이웨이를 통해 인가되는 데이터를 공간분할 스위치 보드(23)측에 송신하는데, 시험시에 제어보드(21)의 제어데이터에 의해 지정되는 하이웨이의 채널에 제어보드(21)로부터 공급받은 랜덤 패턴 데이터를 삽입하여 공간분할 스위치 보드(23)측에 출력한다. 공간분할 스위치 보드(23)는 제어보드(21)로 부터의 제어에 따라 공간 분할 스위칭을 행함으로써 하이웨이 정합보드(22)로부터 인가되는 데이터를 스위칭하여 하이웨이 정합보드(24)측에 출력한다. 하이웨이 정합보드(24)는 공간분할 스위치 보드(23)를 통해 인가되는 데이터를 링크블록(32)측에 송신하는데, 시험시에 제어보드(21)로부터 인가되는 제어데이타에 따라 대응되는 하이웨이 채널의 랜덤 패턴 데이터를 추출하여 제어보드(21)측에 전송한다.
이와같은 종래 교환기내 공간 스위치 보드의 공간분할 스위칭 기능을 시험하는 동작은 다음과 같이 이루어 진다.
시험을 위해서 상위 프로세서 블록(10)이 제어보드(21)측에 통화로 시험 시행을 활성화시키면, 이때부터 제어보드(21)는 상위 프로세서 블록(10)의 제어에 따라 통화로 시험을 수행하게 된다. 먼저, 제어보드(21)가 자체적으로 생성한 랜덤 패턴 데이터를 하이웨이 정합보드(22)측으로 인가함과 동시에 제어데이터를 인가하여 해당 랜덤 패턴 데이터를 삽입할 하이웨이의 채널을 지정하여 준다. 그때, 하이웨이 정합보드(22)는 제어보드(21)로부터 제어데이터와 랜덤 패턴 데이터를 인가받아, 해당 제어데이터에 의해 지정되는 하이웨이의 채널에 랜덤 패턴 데이터를 삽입하여 공간분할 스위치 보드(23)측에 출력하고, 그와 동시에 시험결과 비교를 위해 해당 랜덤 패턴 데이터를 제어보드(21)측에 인가한다. 이에, 공간분할 스위치 보드(23)는 제어보드(21)로 부터의 제어에 따라 공간 분할 스위칭을 행함으로써 하이웨이 정합보드(22)로부터 인가되는 데이터를 스위칭하여 하이웨이 정합보드(24)측에 출력한다. 그후, 하이웨이 정합보드(24)는 제어보드(21)로부터 인가되는 제어데이타에 따라 대응되는 하이웨이 채널의 랜덤 패턴 데이터를 추출하여 제어보드(21)측에 전송하며, 제어보드(21)는 하이웨이 정합보드(24)로부터 인가되는 랜덤 패턴 데이터를 수신해서 하이웨이 정합보드(22)측에 출력했던 랜덤 패턴 데이터와 비교하여 시험결과 정상여부를 상위 프로세서 블록(10)측에 보고한다.
이상과 같은 종래의 공간 스위치 보드의 시험방식에서는, 제어보드가 시험결과를 상위 프로세서 블록에게 보고할 경우 정상여부 만을 보고하기 때문에 시험결과 비정상 상태에서는 시험오류의 발생원인을 정확히 판정할 수 없게되고, 공간분할 스위칭 기능을 시험할 때 한 번에 하나의 하이웨이에 대한 시험만이 가능하기 때문에 다수의 하이웨이에 대한 시험을 행하기 위해서는 많은 시간이 소요되고, 공간분할 스위치 보드에 대한 시험은 가능하나 링크블록과 연동하여 시험할 수 없다는 문제점이 있다.
본 발명은 상술한 바와같은 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로, 그 목적은 공간 분할 스위칭 기능의 정상여부를 보다 세밀하게 시험함과 동시에 여러 하이웨이에 대한 시험을 동시에 시험함으로써 시험 정밀성과 시험 속도를 향상시키고, 공간 분할 스위칭 기능에 대한 시험 이외에 링크블록과의 연동 기능도 시험하도록 하는 교환기내 공간 스위치 보드의 시험방법을 제공하는데 있다.
이와같은 목적을 달성하기 위한 본 발명의 특징은, 공간 분할 스위칭을 시험하기 위한 교환기내 공간 스위치 보드의 시험방법에 있어서, 공간분할 스위치부에 인가되는 다수 하이웨이의 채널에 패턴 데이터를 동시에 삽입하는 과정과; 상기 공간분할 스위치부를 통해 스위칭되어 출력되는 다수 하이웨이의 채널로 부터 패턴 데이터를 동시에 추출하는 과정과; 상기 삽입한 다수의 패턴 데이터와 상기 추출한 다수의 패턴 데이터를 동시에 비교하여 상기 공간분할 스위치부의 기능이 정상적 인지를 판정하는 과정을 포함하는데 있다.
본 발명의 또 다른 특징은, 링크블록과의 연동을 시험하기 위한 교환기내 공간 스위치 보드의 시험방법에 있어서, 링크블럭으로 부터 출력되는 다수 하이웨이의 채널에 패턴 데이터를 동시에 삽입하는 과정과; 공간분할 스위치부의 통과 전(前)이나 후(後)에서 상기 다수 하이웨이의 채널에 삽입된 패턴 데이터를 동시에 추출하는 과정과; 상기 삽입한 다수의 패턴 데이터와 상기 추출한 다수의 패턴 데이터를 동시에 비교하여 상기 링크블록과의 연동이 정상적 인지를 판정하는 과정을 포함하는데 있다.
도1은 종래 교환기내 공간 스위치 보드의 구성도.
도2는 본 발명에 따른 교환기내 공간 스위치 보드의 시험장치 구성도.
* 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 *
40 : 상위 프로세서 50 : 공간 스위치 보드의 시험장치
51 : 상위 프로세서 정합부 52 : 입력 하이웨이 정합부
53 : 출력 하이웨이 정합부 60 : 공간분할 스위치부
71, 72 : 링크블록
본 발명에 따른 교환기내 공간 스위치 보드의 시험장치(50)는 도2에 도시된 바와같이 상위 프로세서 정합부(51), 입력 하이웨이 정합부(52) 및, 출력 하이웨이 정합부(53)를 구비하여 이루어 진다. 상위 프로세서 정합부(51)는 상위 프로세서 (40)으로부터 인가되는 제어데이터에 따라 공간분할 스위치부(60)의 스위칭 동작을 제어하고 공간분할 스위칭 시험과 링크블록과의 연동 시험을 위한 데이터를 입출력하는데, 공간분할 스위칭 시험시에는 시험을 위한 제어 데이터를 입력 하이웨이 정합부(52)측에 인가함과 함께 입력 하이웨이 정합부(52)측에 시험용의 패턴 데이터를 공급한후 출력 하이웨이 정합부(53)측에 제어데이터를 출력하여 출력 하이웨이 정합부(53)로부터 인가되는 패턴 데이터를 수신해서 상위 프로세서(40)측에 인가함으로써 상위 프로세서(40)에서 입력 하이웨이의 채널에 삽입했던 패턴 데이터와 비교하여 시험결과를 판정할 수 있게하며, 링크블록과의 연동 시험시에는 입력 하이웨이 정합부(52)측에 제어데이터를 출력하여 입력 하이웨이 정합부(52)로 부터 추출되어 인가되는 링크블록(71)측의 패턴 데이터를 상위 프로세서(40)측에 인가하거나 출력 하이웨이 정합부(53)측에 제어데이터를 출력하여 출력 하이웨이 정합부 (53)로 부터 추출되어 인가되는 링크블록(71)측의 패턴 데이터를 상위 프로세서 (40)측에 인가함으로써 상위 프로세서(40)에서 링크블록(71)으로 부터 입력 하이웨이를 통해 인가되는 패턴 데이터에 의거하여 링크블록과의 연동 시험결과를 판정할 수 있게한다. 한편, 입력 하이웨이 정합부(52)는 링크블록(71)으로부터 입력하이웨이를 통해 인가되는 데이터를 공간분할 스위치부(60)측에 송신하는데, 공간분할 스위칭 시험시에는 상위 프로세서 정합부(51)로 부터의 제어데이터에 의해 지정되는 다수 하이웨이의 채널에 상위 프로세서 정합부(51)로부터 공급받은 패턴 데이터를 삽입하여 공간분할 스위치부(60)측에 출력하고, 링크블럭(71)과의 연동 시험시에는 상위 프로세서 정합부(51)로 부터의 제어데이터에 의해 지정되는 다수 하이웨이의 채널로 부터 추출한 패턴 데이터를 상위 프로세서 정합부(51)측에 출력한다. 공간분할 스위치부(60)는 상위 프로세서 정합부(51)로 부터의 제어에 따라 공간 분할 스위칭을 행함으로써 입력 하이웨이 정합부(52)로부터 인가되는 데이터를 스위칭하여 출력 하이웨이 정합부(53)측에 출력한다. 출력 하이웨이 정합부(53)는 공간분할 스위치부(60)를 통해 인가되는 데이터를 링크블록(72)측에 송신하는데, 공간분할 스위칭 시험시에는 상위 프로세서 정합부(51)로 부터의 제어데이터에 의해 지정되는 다수 하이웨이의 채널에서 추출한 패턴 데이터를 상위 프로세서 정합부(51)측에 출력하고, 링크블럭(71)과의 연동 시험시에는 상위 프로세서 정합부(51)로 부터의 제어데이터에 의해 지정되는 다수 하이웨이의 채널로 부터 추출한 패턴 데이터를 상위 프로세서 정합부(51)측에 출력한다.
이상과 같이 구성된 본 발명에 따른 교환기내 공간 스위치 보드의 시험장치 (50)는 시험 동작을 다음과 같이 수행한다.
공간분할 스위칭을 시험하는 경우, 상위 프로세서 정합부(51)가 상위 프로세서(40)로 부터의 제어에 따라, 시험을 위한 제어 데이터를 입력 하이웨이 정합부 (52)측에 인가함과 함께 입력 하이웨이 정합부(52)측에 시험용의 패턴 데이터를 공급하면, 입력 하이웨이 정합부(52)는 상위 프로세서 정합부(51)로 부터의 제어데이터에 의해 지정되는 다수 하이웨이의 채널에 상위 프로세서 정합부(51)로부터 공급받은 패턴 데이터를 삽입하여 공간분할 스위치부(60)측에 출력한다. 이때, 공간분할 스위치부(60)는 상위 프로세서 정합부(51)로 부터의 제어에 따라 공간 분할 스위칭을 행함으로써 입력 하이웨이 정합부(52)로부터 인가되는 데이터를 스위칭하여 출력 하이웨이 정합부(53)측에 출력한다. 그리고, 출력 하이웨이 정합부(53)는 상위 프로세서 정합부(51)로 부터의 제어데이터에 의해 지정되는 다수 하이웨이의 채널에서 추출한 패턴 데이터를 상위 프로세서 정합부(51)측에 출력한다. 이에따라, 상위 프로세서 정합부(51)는 상위 프로세서(40)로 부터의 지시에 의거하여 출력 하이웨이 정합부(53)으로 부터 추출 패턴 데이터를 읽어들여 상위 프로세서(40)측에 출력함으로써 상위 프로세서(40)에서 입력 하이웨이의 채널에 삽입했던 패턴 데이터와 비교하여 시험결과를 판정할 수 있게한다.
한편, 링크블록과의 연동 시험을 하는 경우, 상위 프로세서 정합부(51)는 상위 프로세서(40)로 부터의 제어에 따라 링크블록(71)으로 부터 인가되는 패턴 데이터를 입력 하이웨이 정합부(52)나 출력 하이웨이 정합부(53)를 통해 읽어들여 상위프로세서(40)측에 출력함으로써, 상위 프로세서(40)에서 링크블록(71)으로 부터 입력 하이웨이를 통해 인가되는 패턴 데이터와 링크블록(71)에서 출력했던 패턴 데이터를 비교하여 링크블록과의 연동 시험결과를 판정할 수 있게한다. 예를들어, 상위 프로세서 정합부(51)가 입력 하이웨이 정합부(52)측에 제어데이터를 출력하면 입력 하이웨이 정합부(52)는 상위 프로세서 정합부(51)로 부터의 제어데이터에 의해 지정되는 다수 하이웨이의 채널로 부터 추출한 패턴 데이터를 상위 프로세서 정합부 (51)측에 출력하고, 상위 프로세서 정합부(51)가 출력 하이웨이 정합부(53)측에 제어데이터를 출력하면 출력 하이웨이 정합부(53)는 상위 프로세서 정합부(51)로 부터의 제어데이터에 의해 지정되는 다수 하이웨이의 채널로 부터 추출한 패턴 데이터를 상위 프로세서 정합부(51)측에 출력한다. 이에따라, 상위 프로세서 정합부 (51)가 입력 하이웨이 정합부(52)나 출력 하이웨이 정합부(53)로 부터 추출되어 인가된 패턴 데이터를 상위 프로세서(40)측에 출력함으로써, 상위 프로세서(40)가 링크블록(71)으로 부터 입력 하이웨이를 통해 인가되는 패턴 데이터와 링크블록(71)에서 출력했던 패턴 데이터를 비교하여 링크블록과의 연동 시험결과를 판정한다.
이상과 같이, 본 발명에서는 공간분할 스위칭 시험을 수행하는 경우 상위 프로세서 정합부(51)가 출력 하이웨이 정합부(53)를 통해 추출한 패턴 데이터를 상위 프로세서(40)측에 출력함으로써 상위 프로세서(40)가 입력 하이웨이의 채널에 삽입했던 패턴 데이터와 비교하여 시험결과를 판정하므로, 공간 분할 스위칭 기능의 정상여부를 보다 세밀하게 시험하게 된다. 예를들어, 입력 하이웨이 정합부(52)를 통해 삽입한 패턴 데이터가 "01010101, 10101010, 11110000, 00001111"등과 같이 마지막 비트를 "0"과 "1"로 변화시켜서 삽입한 경우 출력 하이웨이 정합부(53)로 부터 추출한 패턴 데이터의 마지막 비트가 항상 "1"로 됨을 확인하게 되면, 상위 프로세서(40)는 해당 마지막 비트를 담당하는 회로에 이상이 있다고 판정함으로써 공간 분할 스위칭 기능의 정상여부를 보다 세밀하게 시험할 수 있게된다.
또한, 본 발명에서는 공간분할 스위칭 시험을 수행하는 경우 입력 하이웨이 정합부(52)를 통해 동시에 여러 하이웨이의 채널에 패턴 데이터를 삽입하여, 출력 하이웨이 정합부(53)를 통해 동시에 여러 하이웨이의 채널로 부터 패턴 데이터를 추출해서 해당 패턴 데이터들을 비교함으로써 공간 분할 스위칭을 시험하므로, 여러 하이웨이에 대한 시험을 동시에 할 수 있어 시험시간을 단축할 수 있다.
한편, 본 발명에서는 링크블록으로 부터 하이웨이의 채널에 삽입되어 인가되는 패턴 데이터를 입력 하이웨이 정합부(52)나 출력 하이웨이 정합부(53)을 통해 추출하여 비교함으로써 링크블록과의 연동 시험을 행할 수 있다는 장점도 있다.
이상 설명한 바와같이, 본 발명은 공간 분할 스위칭 기능의 정상여부를 보다 세밀하게 시험함과 동시에 여러 하이웨이에 대한 시험을 동시에 시험하므로 시험 정밀성과 시험 속도를 향상시키고, 공간 분할 스위칭 기능에 대한 시험 이외에 링크블록과의 연동 기능도 시험하게 된다.

Claims (2)

  1. 공간 분할 스위칭을 시험하기 위한 교환기내 공간 스위치 보드의 시험방법에 있어서, 공간분할 스위치부에 인가되는 다수 하이웨이의 채널에 패턴 데이터를 동시에 삽입하는 과정과; 상기 공간분할 스위치부를 통해 스위칭되어 출력되는 다수 하이웨이의 채널로 부터 패턴 데이터를 동시에 추출하는 과정과; 상기 삽입한 다수의 패턴 데이터와 상기 추출한 다수의 패턴 데이터를 동시에 비교하여 상기 공간분할 스위치부의 기능이 정상적 인지를 판정하는 과정을 포함하는 것을 특징으로 하는 교환기내 공간 스위치 보드의 시험방법.
  2. 링크블록과의 연동을 시험하기 위한 교환기내 공간 스위치 보드의 시험방법에 있어서, 링크블럭으로 부터 출력되는 다수 하이웨이의 채널에 패턴 데이터를 동시에 삽입하는 과정과; 공간분할 스위치부의 통과 전(前)이나 후(後)에서 상기 다수 하이웨이의 채널에 삽입된 패턴 데이터를 동시에 추출하는 과정과; 상기 삽입한 다수의 패턴 데이터와 상기 추출한 다수의 패턴 데이터를 동시에 비교하여 상기 링크블록과의 연동이 정상적 인지를 판정하는 과정을 포함하는 것을 특징으로 하는 교환기내 공간 스위치 보드의 시험방법.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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