KR19980051679A - 전전자 교환기의 공간분할 스위치 경로 시험 장치 - Google Patents

전전자 교환기의 공간분할 스위치 경로 시험 장치 Download PDF

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Abstract

본 발명은 전전자 교환기의 공간 분할 스위치 경로 시험 장치에 관한 것으로, 특히 전전자 교환기의 온라인 또는 오프라인 모든 경우에 대해 링크나 시분할 스위치 등 PCM(Pulse Coded Modulation) 데이타의 경로 시험을 가능하도록 한 전전자 교환기의 공간분할 스위치 경로 시험 장치에 관한 것이다.
본 발명의 목적은 전전자 교환기의 공간분할 스위치의 스위칭 시험이 시스템의 온라인 상태 뿐만 아니라 오프 상태에서도 사용자에 의한 특정 패턴 데이타의 입력으로 가능하도록 하는 장치를 제공하여 안정되고 신뢰성 있는 시스템을 구현하고자 한다.
이에 따라, 사용자나 프로세서에서 발생시킨 패턴 데이타 또는 링크로부터 링크 정합 입력측으로 입력된 PCM 데이타를 프로세서에서 직접 비교하고 처리하기에 에러가 발생될 확률이 떨어지며 시스템이 완성되지 않은 상태에서도 공간분할 스위치 단독으로 경로 시험을 할 수가 있어 시스템에 대한 신뢰성이 향상된다.

Description

전전자 교환기의 공간분할 스위치 경로 시험 장치
본 발명은 전전자 교환기의 공간 분할 스위치 경로 시험 장치에 관한 것으로, 특히 전전자 교환기의 온라인 또는 오프라인 모든 경우에 대해 링크나 시분할 스위치 등 PCM(Pulse Coded Modulation) 데이타의 경로 시험을 가능하도록 한 전전자 교환기의 공간분할 스위치 경로 시험 장치에 관한 것이다.
일반적인 전전자 교환기의 공간분할 스위치 경로 시험 장치의 구성은 도 1과 같이, 입력 링크(1)를 통해 들어온 PCM 데이타를 인터페이스하는 입력링크 정합부(2)와, 입력링크 정합부(2)로부터 데이타를 받아 공간분할 스위칭을 실현하는 공간분할 스위칭부(3)와, 공간분할 스위칭부(3)에 의해 스위칭된 데이타를 출력 링크(5)로 보내는 출력링크 정합부(4)와, 입력링크 정합부(2)로부터 현재 스위칭될 특정 채널의 PCM 데이타와 공간분할 스위칭부(3)에서 스위칭되어 출력링크 정합부(4)로부터 전해진 시험용 특정 채널의 PCM 데이타를 비교하는 비교부(6)와, 비교부(6)의 비교 결과를 모니터 상에 디스플레이되도록 하는 프로세서(7)를 포함한다.
즉, 입력링크 정합부(2)에서는 링크(1)로부터 입력되어진 PCM 데이타의 특정 채널을 잡아서 비교부(6)에 전송하고, 이 시험용 특정 채널은 공간분할 스위칭부(3)에 의해 스위칭된 후 출력링크 정합부(4)에서 비교부(6)로 송신된다.
이에 비교부(6)에서는 입출력 링크 정합부(2)(4)에서 각각 송신되어 온 두 PCM 데이타를 비교하여 비교 결과가 같으면 '로우'신호를, 다르면 '하이'신호를 프로세서(7)로 송신한다.
결국, 프로세서(7)는 비교부(6)에서 보내온 비교 결과 신호를 확인해서 모니터 상에 에러 메세지를 출력시키거나 시험 결과 정상 신호를 출력시키게 된다.
그런데, 전술된 시험 장치에 의해서는 프로세서(7)가 입출력 링크 정합부(2)(4)와 직접 PCM 데이타를 주고 받지 않고 비교부(6)에서 처리 후 그 결과만 받기 때문에 시험 결과에 오류가 발생될 가능성이 있고, 또한 프로세서(7)에서는 PCM 데이타가 어떠한 형태인지도 알 수 없다.
그리고, 시스템이 모두 완성되어 음성 가입자의 PCM 데이타가 입력링크 정합부(2)로 수신되었을 경우, 즉 온라인 상태에서만 시험 가능하며, 개발 단계나 공간분할 스위치 자체만의 경로 시험은 불가능하다.
본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위해 전전자 교환기의 공간분할 스위치의 스위칭 시험이 시스템의 온라인 상태 뿐만 아니라 오프 상태에서도 사용자에 의한 특정 패턴 데이타의 입력으로 가능하도록 하는 장치를 제공하여 안정되고 신뢰성 있는 시스템 구현을 목적으로 한다.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명 전전자 교환기의 공간분할 스위치 경로 시험 장치는, 시스템의 현재 동작 상태에 따라 온/오프라인 선택신호를 발생하고, 오프라인에서는 시험용 특정 패턴 데이타를 생성하여 출력하면서 시험용 채널을 선택하고, 모든 온/오프라인에서 스위칭 전 특정 채널의 데이타와 스위칭 후 데이타를 비교하여 그 비교 결과를 모니터 상에 디스플레이하도록 하는 프로세서와; 온라인에서는 입력 링크로부터 PCM 데이타를 받아 특정 채널의 PCM 데이타를 상기 프로세서로 보내면서 오프라인에서는 상기 프로세서로부터 특정 패턴 데이타를 입력하여 해당 경로로 스위칭되도록 전해주는 입력링크 정합부와; 상기 입력링크 정합부에서 전해진 PCM 데이타를 해당 경로로 공간분할 스위칭시키는 공간분할 스위칭부와; 상기 공간분할 스위칭부에서 스위칭된 PCM 데이타를 출력 링크로 전해주면서 특정 채널의 PCM 데이타를 상기 프로세서로 전해주는 출력링크 정합부를 포함하는 것을 특징으로 한다.
도 1은 일반적인 전전자 교환기의 공간분할 스위치 경로 시험 장치의 구성도,
도 2는 본 발명 전전자 교환기의 공간분할 스위치 경로 시험 장치의 구성도,
도 3은 도 2에서 입력링크 정합부의 구성도.
도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명
10,50 : 링크 20 : 입력링크 정합부
21 : 셀렉터 22 : 래치부
30 : 공간분할 스위칭부 40 : 출력링크 정합부
60 : 프로세서
이하, 본 발명의 일실시예를 첨부 도면을 참조로 하여 좀 더 상세히 설명하면 다음과 같다.
도 2는 전전자 교환기의 공간분할 스위치 경로 시험 장치의 구성도이고, 도 3은 도 2에서 입력링크 정합부의 구성도이다.
도 2에 따른 본 발명의 구성은 프로세서(60)와, 입력링크 정합부(20)와, 공간분할 스위칭부(30)와, 출력링크 정합부(40)를 포함한다.
상기 프로세서(60)는 시스템의 현재 동작 상태에 따라 온/오프라인 선택신호를 발생하고, 오프라인에서는 시험용 특정 패턴 데이타를 생성하여 출력하면서 시험용 채널을 선택하고, 모든 온/오프라인에서 스위칭 전 특정 채널의 데이타와 스위칭 후 데이타를 비교하여 그 비교 결과를 모니터 상에 디스플레이하도록 한다.
상기 입력링크 정합부(20)는 온라인에서는 입력 링크(10)로부터 PCM 데이타를 받아 특정 채널의 PCM 데이타를 상기 프로세서(60)로 보내면서 오프라인에서는 상기 프로세서(60)로부터 특정 패턴 데이타를 입력하여 해당 경로로 스위칭되도록 전해준다.
상기 공간분할 스위칭부(30)는 상기 입력링크 정합부(20)에서 전해진 PCM 데이타를 해당 경로로 공간분할 스위칭시킨다.
상기 출력링크 정합부(40)는 상기 공간분할 스위칭부(30)에서 스위칭된 PCM 데이타를 출력 링크(50)로 전해주면서 특정 채널의 PCM 데이타를 상기 프로세서(60)로 전해준다.
그리고, 도 3에 따른 상기 입력링크 정합부(20)의 구성은 셀렉터(21)와, 래치부(22)를 포함한다.
상기 셀렉터(21)는 상기 프로세서(60)로부터 입력된 온/오프라인 선택신호에 따라 입력 링크(10)로부터 오는 PCM 데이타와 상기 프로세서(60)에서 전해진 특정 패턴 데이타 중 하나를 선택하면서 상기 프로세서(60)로부터 입력된 시험 채널 선택신호에 따라 선택된 PCM 데이타에서 특정 채널이 선택되도록 하여 상기 공간분할 스위칭부(30)로 출력한다.
상기 래치부(22)는 상기 프로세서(60)의 온/오프라인 선택신호에 의해 인네이블되어 온라인 상태에서만 상기 셀렉터(21)에서 선택된 특정 채널의 PCM 데이타를 상기 프로세서(60)로 출력한다.
상기와 같은 구성으로 이루어진 본 발명의 동작은 다음과 같다.
우선, 온라인 상태에서의 프로세서(60)에 의한 시험 동작을 설명한다.
온라인 상태에서는 프로세서(60)에서 입력링크 정합부(20)의 셀렉터(21)로 온라인 선택신호와 시험 채널 선택신호를 보낸다.
이에 입력 링크(10)로부터 입력링크 정합부(20)로 전해진 PCM 데이타는 셀렉터(21)에서 특정 채널의 PCM 데이타가 선택되어 공간분할 스위칭부(30)로 출력되면서 동시에 프로세서(60)의 온라인 선택신호에 의해 출력 인네이블 상태에 있는 래치부(22)를 통해 프로세서(60)로 전해진다.
이후, 공간분할 스위칭부(30)에서 스위칭되어 출력링크 정합부(40)로 전해진 시험용 채널의 PCM 데이타는 해당 경로의 가입자에게 전해지기 위해 출력 링크(50)로 출력되면서 공간분할 스위칭부(30)의 시험 결과를 확인하기 위해 프로세서(60)로도 출력된다.
이에 프로세서(60)에서는 입력링크 정합부(20)에서 전해진 스위칭 전 PCM 데이타와 출력링크 정합부(40)에서 전해진 스위칭 후 PCM 데이타를 비교하여 그 비교 결과가 같으면 정상임을 확인하고, 다르면 공간분할 스위칭부(30)에 이상이 있음을 모니터 상에 디스플레이한다.
반면, 오프라인 상태에서의 프로세서(60)에 의한 시험동작은 다음과 같다.
이때, 오프라인 상태란 것은 시스템의 개발 단계에서 공간분할 스위칭부(30)의 동작 상태를 시험할 경우를 뜻하는 것으로, 입력 링크(10)나 출력 링크(50)로 데이타의 입출력은 없게 된다.
이에 프로세서(60)에서 시험용 특정 패턴 데이타를 생성하여 이를 입력링크 정합부(20)로 보내야만 한다.
이 특정 패턴 데이타는 프로세서(60)에서 입력링크 정합부(20)의 셀렉터(21)로 보낸 오프라인 선택신호와 시험 채널 선택신호에 의해 시험용 채널에 실려 선택된다.
그런데, 이때 생성된 특정 패턴 데이타는 프로세서(60)에서 생성된 것이므로 입력링크 정합부(20)의 래치부(22)는 인네이블될 필요가 없다.
즉, 프로세서(60)로부터 입력된 오프라인 선택신호에 의해 래치부(22)는 출력 디저블되어 셀렉터(21)에서 선택된 특정 패턴 데이타가 입력되더라도 프로세서(60)로 출력시키지는 않는다.
이에 셀렉터(21)에서 선택된 특정 패턴 데이타는 공간분할 스위칭부(30)에서 스위칭되어 출력링크 정합부(40)로 전해진다.
이렇게 스위칭된 시험용 채널의 특정 패턴 데이타는 프로세서(60)로 출력된다.
이에 프로세서(60)에서는 스위칭 전 특정 패턴 데이타와 출력링크 정합부(40)에서 전해진 스위칭 후 데이타를 비교하여 그 비교 결과가 같으면 정상임을 확인하고, 다르면 공간분할 스위칭부(30)에 이상이 있음을 모니터 상에 디스플레이한다.
이상에서 살펴본 바와 같이, 사용자나 프로세서에서 발생시킨 패턴 데이타 또는 링크로부터 링크정합입력측으로 입력된 PCM 데이타를 프로세서에서 직접 비교하고 처리하기에 에러가 발생될 확률이 떨어지며 시스템이 완성되지 않은 상태에서도 공간분할스위치 단독으로 경로 시험을 할 수가 있어 시스템에 대한 신뢰성이 향상된다.

Claims (2)

  1. 전전자 교환기의 공간분할 스위치 경로 시험 장치에 있어서,
    시스템의 현재 동작 상태에 따라 온/오프라인 선택신호를 발생하고, 오프라인에서는 시험용 특정 패턴 데이타를 생성하여 출력하면서 시험용 채널을 선택하고, 모든 온/오프라인에서 스위칭 전 특정 채널의 데이타와 스위칭 후 데이타를 비교하여 그 비교 결과를 모니터 상에 디스플레이하도록 하는 프로세서와;
    온라인에서는 입력 링크로부터 PCM 데이타를 받아 특정 채널의 PCM 데이타를 상기 프로세서로 보내면서 오프라인에서는 상기 프로세서로부터 특정 패턴 데이타를 입력하여 해당 경로로 스위칭되도록 전해주는 입력링크 정합부와;
    상기 입력링크 정합부에서 전해진 PCM 데이타를 해당 경로로 공간분할 스위칭시키는 공간분할 스위칭부와;
    상기 공간분할 스위칭부에서 스위칭된 PCM 데이타를 출력 링크로 전해주면서 특정 채널의 PCM 데이타를 상기 프로세서로 전해주는 출력링크 정합부를 포함하는 것을 특징으로 하는 전전자 교환기의 공간분할 스위치 경로 시험 장치.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 일력링크 정합부는 상기 프로세서로부터 입력된 온/오프라인 선택신호에 따라 입력 링크로부터 오는 PCM 데이타와 상기 프로세서에서 전해진 특정 패턴 데이타 중 하나를 선택하면서 상기 프로세서로부터 입력된 시험 채널 선택신호에 따라 선택된 PCM 데이타에서 특정 채널이 선택되도록 하여 상기 공간분할 스위칭부로 출력하는 셀렉터와;
    상기 프로세서의 온/오프라인 선택신호에 의해 인네이블되어 온라인 상태에서만 상기 셀렉터에서 선택된 특정 채널의 PCM 데이타를 상기 프로세서로 출력하는 래치부를 포함하는 것을 특징으로 하는 전전자 교환기의 공간분할 스위치 경로 시험 장치.
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20020004434A (ko) * 2000-07-05 2002-01-16 박종섭 이동통신 교환국 시스템내 pcm 데이터의 공간분할 교환테스트 장치 및 그 방법
KR100428665B1 (ko) * 1998-11-10 2004-06-30 엘지전자 주식회사 프로세서제어공간분할스위치장치및그방법
KR100788139B1 (ko) * 2001-05-31 2007-12-21 주식회사 케이티 시분할 전전자교환기에서의 공간스위치 성능 측정 방법 및장치

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR930004686B1 (ko) * 1990-07-03 1993-06-03 한국전기통신공사 공간분할 교환 시스팀내 오프라인 시험용 정합장치

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100428665B1 (ko) * 1998-11-10 2004-06-30 엘지전자 주식회사 프로세서제어공간분할스위치장치및그방법
KR20020004434A (ko) * 2000-07-05 2002-01-16 박종섭 이동통신 교환국 시스템내 pcm 데이터의 공간분할 교환테스트 장치 및 그 방법
KR100788139B1 (ko) * 2001-05-31 2007-12-21 주식회사 케이티 시분할 전전자교환기에서의 공간스위치 성능 측정 방법 및장치

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