KR100463852B1 - 전전자 교환기의 검사 오류방지방법 - Google Patents

Abstract

본 발명은 전전자 교환기의 검사 오류방지방법에 관한 것으로, 종래의 기술에 있어서는 하나의 검사장치에 가입자 보드가 16개 이상이 연결되어 있어 채널 시험을 위해 릴레이의 연결 및 해제를 반복으로 수행하는 과정에서 릴레이 연결 및 해제가 정상적으로 되지 않고 두 개 이상의 채널이 연결되어 시험하고자 하는 가입자 보드의 상태와 다른 결과를 상위로 보고하게 되어 시스템 오류를 유발시킴으로써, 검사의 신뢰성을 떨어뜨리게 되는 문제점이 있었다.

따라서, 본 발명은 상기와 같은 종래의 문제점을 해결하기 위하여 창안한 것으로, 사용자가 설정한 일정주기에 따라 전체 채널의 시험을 순차적으로 수행하는 일반시험단계와; 사용자가 설정한 특정 채널에 한하여 일정주기에 따라 시험을 수행하는 특정시험단계와; 상기 일반시험단계 또는 특정시험단계의 시험동작 중 발생하는 오류 채널에 대한 재 시험을 수행하는 재시험단계로 이루어진 방법을 제공하여, 릴레이 연결의 오류로 인한 비정상적인 시험결과를 미연에 방지함으로써, 검사의 신뢰성을 극대화시키는 등의 효과가 있다.

Description

전전자 교환기의 검사 오류방지방법{TEST ERROR PROTECTION METHOD FOR EXCHANGE}

본 발명은 전전자 교환기의 검사 오류방지방법에 관한 것으로, 특히 1 개의 검사 보드당 여러 가입자가 연결되어 있는 경우에 있어서, 시험장치에 의한 시험결과의 오류로 인해 시험결과가 가입자 보드와 다르게 나오는 것을 방지하도록 하여시험 결과의 신뢰성을 확보하기 위한 전전자 교환기의 검사 오류방지방법에 관한 것이다.

종래에 있어서는 도 1 및 도 2에 도시된 바와 같이 시스템 내에서 시험장치(30)에는 한 개의 릴레이(채널, 31)가 연결되어 있고, 그 릴레이(31)에는 16개의 가입자 보드가 연결되어 있는데, 실제 시스템에서는 한 개의 시험장치에 256개의 릴레이(채널)의 연결이 가능하다.

이와 같이 구성된 종래 장치의 동작 과정을 첨부한 도 3을 참조하여 설명하면 다음과 같다.

도 3은 종래 가입자 보드의 시험 동작 과정을 보인 흐름도로서, 이에 도시된 바와 같이 가입자 보드가 대기상태(Idle) 인가를 확인하여 대기상태인 경우에 제어보드인 메인 처리장치(MP, 10)는 검사버스로의 연결을 위해서 가입자 보드(20)의 검사버스 연결 릴레이(21)로의 연결 명령을 전송하여 동작시킨 후, 시험장치(30)에 대해서도 검사버스 연결을 위해서 연결 명령을 전송하여 릴레이(31)를 동작시킨다.

상기 가입자 보드(20)와 시험장치(30)의 릴레이(21,31)가 모두 동작 완료가 되어 검사버스 경로가 설정되었으면 상기 가입자 보드에 대한 시험을 실시하고, 시험이 완료하면 시험 결과를 상위에 보고한 후 시험장치(30)의 해당 릴레이를 연결 해제하며, 가입자 보드(20)의 릴레이(21)도 연결 해제하여 특정 채널에 대한 시험 동작을 종료한다.

상기에서와 같이 종래의 기술에 있어서는 도 2에 도시된 바와 같이 하나의검사장치에 가입자 보드가 16개 이상이 연결되어 있어 채널 시험을 위해 릴레이의 연결 및 해제를 반복으로 수행하는 과정에서 릴레이 연결 및 해제가 정상적으로 되지 않고 두 개 이상의 채널이 연결되어 시험하고자 하는 가입자 보드의 상태와 다른 결과를 상위로 보고하게 되어 시스템 오류를 유발시킴으로써, 검사의 신뢰성을 떨어뜨리게 되는 문제점이 있었다.

따라서, 본 발명은 상기와 같은 종래의 문제점을 해결하기 위하여 창안한 것으로, 실험을 각각 정상적인 실험과 특정채널 시험으로 나누어 사용자의 선택에 따라 수행하도록 하고, 시험 도중 오류를 일으키는 채널에 대해서는 재 시험을 실시하도록 하는 방법을 제공하는데 그 목적이 있다.

도 1은 종래 시스템 내 시험장치의 구성을 간략하게 보인 예시도.

도 2는 종래 시험장치와 가입자간의 연결을 간략하게 보인 예시도.

도 3은 종래 가입자 보드의 시험 동작 과정을 보인 흐름도.

도 4는 본 발명에 따른 가입자 보드의 시험 동작 과정을 보인 흐름도.

도 5는 도 4에서 정상적인 시험 동작 과정을 보인 예시도.

********* 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 **********

10 : 메인 처리장치 20 : 가입자 보드

21 : 검사버스 연결 릴레이 30 : 시험장치

31 : 릴레이

이와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명의 특징은, 시험장치와 가입자 보드 사이에 연결된 채널을 스위칭하여 가입자 보드를 시험하는 경우에 오류를 방지토록 하는 전전자 교환기의 검사 오류방지방법에 있어서, 사용자가 설정한 일정주기에 따라 전체 채널의 시험을 순차적으로 수행하는 일반시험단계와; 사용자가 설정한 특정 채널에 한하여 일정주기에 따라 시험을 수행하는 특정시험단계와; 상기 일반시험단계 또는 특정시험단계의 시험동작 중 발생하는 오류 채널에 대한 재 시험을 수행하는 재시험단계로 이루어지는데 있다.

상기 일반시험단계는 사용자가 기 설정한 시험주기가 되었는가를 판단하는 제1 단계와; 상기 제1 단계의 판단결과 시험주기인 경우 전체 채널들의 릴레이 연결을 해제한 후 채널 순서에 따라 시험 대기중인 채널이 있는가를 판단하는 제2 단계와; 상기 제2 단계의 판단결과 대기중인 채널이 있는 경우 해당 채널에 대한 소정의 시험동작을 수행하는 제3 단계와; 상기 제3 단계의 수행이 완료되면 전체 채널의 시험이 모두 완료되었는가를 판단하는 제4 단계와; 상기 제4 단계의 판단결과 모두 완료가 아니면 검사한 채널의 다음 순서 채널로 이동하여 상기 제2 단계의 동작을 수행하는 제5 단계로 이루어진 것을 특징으로 한다.

이하, 본 발명에 따른 일실시예의 동작 과정을 첨부한 도면을 참조하여 설명하면 다음과 같다.

도 4는 본 발명에 따른 가입자 보드의 시험 동작 과정을 보인 흐름도이고, 도 5는 도 4에서 정상적인 시험 동작 과정을 보인 예시도로서, 이에 도시한 바와 같이 사용자가 시험하고 자하는 보드를 설정하면 정상적인 시험인가를 판단하고(S10), 그 판단결과 정상적인 시험인 경우 전체 채널에 대한 시험을 순차적으로 수행하는데(S11), 이때 기 설정한 시험주기가 되었는가를 판단하고(S20 ~ S21), 이 판단결과 시험주기인 경우 전체 보드들의 릴레이 연결을 해제한 후 채널 순서에 따라 시험 대기중인 채널이 있는가를 판단하며(S22 ~ S23), 상기 판단결과 대기중인 채널이 있는 경우 해당 가입자 보드와 시험장치의 릴레이를 연결한 후 시험을 시작한다(S24).

이후, 상기 단계(S24)의 동작 중 오류가 발생하였는가를 판단하여(S25) 이 판단결과 오류가 발생하지 않았으면 시험이 완료되었는가를 판단하고(S26), 상기 단계(S25)의 판단결과 오류가 발생하였거나, 상기 단계(S26)의 판단결과 완료되었으면 시험장치와 가입자 보드의 릴레이 연결을 해제한다(S27).

상기 단계(S27)의 수행이 완료되면 전체 채널의 시험이 모두 완료되었는가를 판단하여(S28), 이 판단결과 모두 완료가 아니면 검사한 채널의 다음 순서 채널로 이동하여 상기 시험 동작을 수행하고(S29), 모두 완료인 경우에는 시험결과를 상위로 통지하고 시험동작을 종료한다(S30).

또한, 정상적인 시험이 아닌 경우에는 특정채널의 시험으로 판단하여 그에 따라 사용자가 지정한 특정 채널에 대한 검사를 정상적인 시험 절차대로 수행하게 된다(S12).

그러나, 상기 일반시험단계와 특정시험단계에서 오류가 발생한 채널이 소정 개수(예를 들어 16개) 이상인 경우에는 시험 영역의 채널들의 릴레이 연결을 해제한 후, 처음 오류가 발생한 채널부터 재시험을 시작한다(S13 ~ S15).

이상에서 설명한 바와 같이 본 발명 전전자 교환기의 검사 오류방지방법은 릴레이 연결의 오류로 인한 비정상적인 시험결과를 미연에 방지함으로써, 검사의 신뢰성을 극대화시키는 등의 효과가 있다.

Claims (3)

1. 시험장치와 가입자 보드 사이에 연결된 채널을 스위칭하여 가입자 보드를 시험하는 경우에 오류를 방지토록 하는 전전자 교환기의 검사 오류방지방법에 있어서,

   사용자가 설정한 일정주기에 따라 전체 채널의 시험을 순차적으로 수행하는 일반시험단계와;

   사용자가 설정한 특정 채널에 한하여 일정주기에 따라 시험을 수행하는 특정시험단계와;

   상기 일반시험단계 또는 특정시험단계의 시험동작 중 발생하는 오류 채널에 대한 재 시험을 수행하는 재시험단계로 이루어진 것을 특징으로 하는 전전자 교환기의 검사 오류방지방법.
2. 제1항에 있어서, 상기 일반시험단계는 사용자가 기 설정한 시험주기가 되었는가를 판단하는 제1 단계와;

   상기 제1 단계의 판단결과 시험주기인 경우 전체 채널들의 릴레이 연결을 해제한 후 채널 순서에 따라 시험 대기중인 채널이 있는가를 판단하는 제2 단계와;

   상기 제2 단계의 판단결과 대기중인 채널이 있는 경우 해당 채널에 대한 소정의 시험동작을 수행하는 제3 단계와;

   상기 제3 단계의 수행이 완료되면 전체 채널의 시험이 모두 완료되었는가를 판단하는 제4 단계와;

   상기 제4 단계의 판단결과 모두 완료가 아니면 검사한 채널의 다음 순서 채널로 이동하여 상기 제2 단계의 동작을 수행하는 제5 단계로 이루어진 것을 특징으로 하는 전전자 교환기의 검사 오류방지방법.
3. 제1항에 있어서, 상기 재시험단계는 일반시험단계와 특정시험단계에서 오류가 발생한 채널이 소정 개수 이상인 가를 판단하는 제1 단계와;

   상기 제1 단계의 판단결과 소정 개수 이상인 경우 전 채널의 릴레이 연결을 해제한 후, 처음 오류가 발생한 채널부터 재시험을 시작하는 제2 단계로 이루어진 것을 특징으로 하는 전전자 교환기의 검사 오류방지방법.