KR19990002727A

KR19990002727A - 전자 교환기에서 공간 스위치 및 링크부 시험 방법

Info

Publication number: KR19990002727A
Application number: KR1019970026430A
Authority: KR
Inventors: 성도상
Original assignee: 유기범; 대우통신 주식회사; 이계철; 한국전기통신공사
Priority date: 1997-06-23
Filing date: 1997-06-23
Publication date: 1999-01-15

Abstract

본 발명은 TDX-100 교환기에서 공간 스위치 및 링크부를 구성하는 각각의 로컬 링크 보드(120∼122)와 각각의 메트릭스 스위치 보드(Metrix Switch Board)(110∼112)로 이루어지는 다수의 경로를 시험기에 적합한 전자 교환기에서 공간 스위치 및 링크부 시험 방법에 관한 것으로서, 종래의 기술에 있어서는 외부에 시험 장치를 연결하여 공간 스위치 및 링크부의 연결 경로 및 장치의 동작 시험을 하였는데 외부 시험 장치를 연결하여 시험하는 경우 연결이 번거로운 결점이 있었으며, 자동으로 공간 스위치 및 링크부의 모든 경로를 시험하는 자동 시험 경로만이 있어서, 시험자가 원하는 부분만을 시험하고자 하여도 많은 시간이 걸려서 모든 경로를 시험해야 하는 결점이 있었으나, 본 발명에서는 공간 스위치 및 링크부(10) 내에서 시험자가 시험하기 원하는 각각의 메트릭스 스위치 보드(110 ~ 112), 로컬 링크 보드(120 ~ 122), 서브하이웨이 및 채널의 경로를 정의하고 보드 간 또는 보드 내의 중요 장치의 시험 방법을 정의함으로써, 시험자의 편이에 따라 자동 또는 수동으로 공간 스위치 및 링크부(10)를 시험함으로써, 상술한 결점을 개선시킬수 있는 것이다.

Description

전자 교환기에서 공간 스위치 및 링크부 시험 방법

본 발명은 전자 교환기에서 공간 스위치 및 링크부 시험 방법에 관한 것으로서, 특히, TDX-100 교환기에서 공간 스위치 및 링크부를 구성하는 각각의 보드 간에 이루어 지는 다수의 경로를 시험하는 전자 교환기에서 공간 스위치 및 링크부 시험 방법에 관한 것이다.

종래의 기술에 있어서는 외부에 시험 장치를 연결하여 공간 스위치 및 링크부의 연결 경로를 시험하였는데 외부 시험 장치를 연결하여 시험하는 경우 연결이 번거로운 결점이 있었으며, 자동으로 공간 스위치 및 링크부의 모든 경로를 시험하는 자동 시험 경로 만이 있어서, 시험자가 원하는 부분만을 시험하고자 하여도 많은 시간이 걸려서 모든 경로를 시험해야 하는 결점이 있었다.

본 발명은 상술한 종래 기술의 결점을 해결하기 위하여 안출한 것으로, 공간 스위치 및 링크부를 시험하는 경로를 정의하여 공간 스위치에서 필요한 모든 시험을 수동 또는 자동으로 시험할 수 있는 장치를 교환기 내에 장착하여 시험을 실시하는 것이 가능한 전자 교환기에서 공간 스위치 및 링크부 시험 방법을 제공하는 데에 목적이 있다.

상기 목적을 달성하기 위하여 본 발명은, 시간 스위치로부터 발신 또는 착신 가입자의 호를 스위칭하고 정합하여 타 시간 스위치와 연결하는 공간 스위치 및 링크부와, 공간 스위치 및 링크부의 연결 상태를 시험하여 시험된 상태의 정보를 디바이스 제어 보드로부터 수신하여 디스플레이하는 터미널을 포함하며, 상기 공간 스위치 및 링크부는 시간 스위치로 부터의 호 요청에 따라 메시지 신호를 수신하면 물리적인 채널을 발신 가입자와 연결하여 주는 메트릭스 스위치 보드, 시간 스위치부터 호를 수신받아 호를 연결하는 중앙 데이터 링크 보드와, 다수의 메트릭스 스위치 보드 및 중앙 데이터 링크 보드를 제어하며, 시험하는 디바이스 제어 보드와, 각각의 보드에 동기 신호를 공급하는 클럭 분배 공급 보드로 이루어지는 전전자 교환기에 있어서,

터미널의 명령 입력을 대기하는 초기 화면에서 명령 입력을 체크하여 시험을 종료하라는 명령이 입력되면, 모든 시험을 종료하는 단계;

터미널의 명령 입력을 대기하는 초기 화면에서 명령 입력을 체크하여 시험을 시작하라는 명령이 입력되면, 디바이스 제어 보드는 터미널에 시험 유형을 선택하도록 하는 단계;

시험자가 선택한 명령이 자동 시험 명령이면, 자동 시험을 하는 단계;

시험자가 선택한 명령이 기능 시험 명령이면, 기능 시험을 하는 단계;

시험자가 선택한 명령이 종료 명령인 경우에는 시험을 종료하고 초기 화면으로 루프백되어 상기의 단계를 반복하는 단계로 이루어지는 전자 교환기에서 공간 스위치 및 링크부 시험 방법을 제공한다.

도 1은 본 발명에 따른 전전자 교환기에서 터미널과 공간 스위치 및 링크부의 연결을 도시한 블록 구성도,

도 2는 본 발명에 따른 전전자 교환기에서 타임 슬롯 및 링크부를 검사하는 방법을 나타낸 흐름도,

도 3은 도 2에 따라 타임 슬롯 및 링크부를 자동으로 시험하는 방법을 설명한 흐름도,

도 4는 도 2에 따라 타임 슬롯 및 링크부를 시험자의 필요에 따라 선택하여 시험하는 흐름도,

도 5는 도 4에 따라 타임 슬롯 및 링크부의 경로를 시험자의 필요에 따라 선택하여 시험하는 흐름도.

＜도면의 주요부분에 대한 부호의 설명＞

10 : 공간 스위치 및 링크부20 : 터미널

100 : 디바이스 제어 보드

110 : 클럭 분배 공급 보드

120, ..., 122 : 제 1, ..., 제 n 중앙 데이터 링크 보드

130, ..., 132 : 제 2, ..., 제 m 메트릭스 스위치 보드

본 발명의 상기 및 기타 목적과 여러 가지 장점은 이 기술 분야에 숙련된 사람들에 의해 첨부된 도면을 참조하여 하기에 기술되는 발명의 바람직한 실시예로부터 더욱 명확하게 될 것이다.

도 1을 참조하여 구성을 살펴보면, 전전자 교환기에서 터미널(20)과 공간 스위치 및 링크부(10)의 연결을 도시한 블록 구성도이다. 발신 또는 착신 가입자를 스위칭하고, 외부의 시간 스위치(미도시됨)와 정합하여 연결하는 공간 스위치 및 링크부(10)와, 공간 스위치 및 링크부(10)의 연결 상태를 시험하여 시험된 상태의 정보를 수신하여 디스플레이하는 터미널(20)을 포함한다.

상술한 공간 스위치 및 링크부(10)는 시간 스위치로부터의 호 요청에 따라 물리적 채널을 해당 시간 스위치와 연결하여 주는 메트릭스 스위치 보드(130∼132)와, 스위칭된 호룰 대국과 연결하는 중앙 데이터 링크 보드(120∼122)와, 다수의 보드로 이루어진 메트릭스 스위치 보드(130∼132) 및 중앙 데이터 링크 보드(120∼122)를 제어하며, 중앙 데이터 링크 보드(120∼122) 및 메트릭스 스위치 보드(130∼132)를 시험하는 디바이스 제어 보드(100)와, 상기 메트릭스 스위치 보드내의 모든 보드로 동일한 클록을 공급하는 클럭 분배 공급 보드(110)로 이루어진다.

이하, 첨부된 도면을 참조하여, 본 발명의 바람직한 실시예에 대하여 상세하게 설명한다.

공간 스위치 및 링크부(10)는 외부의 시간 스위치로부터의 호를 스위칭하고, 외부의 시간 스위치와 정합하여 연결함으로써, 각각의 호가 수신한 가입자 정합 서브시스템과 호를 착신할 가입자 정합 서브시스템 간의 호를 연결하며, 공간 스위치 및 링크부(10)의 상태를 시험하여 시험 결과 정보를 가지고 시험자의 요청에 따라 시험자의 터미널(20)로 시험 결과 정보를 전송하여 터미널(20)에 디스플레이한다.

터미널(20)은 공간 스위치 및 링크부(10)를 시험하기 위한 명령을 입력한 단말기로서, 시험자가 터미널(20)을 통하여 시험 명령을 입력하면 공간 스위치 및 링크부(10) 내의 디바이스 제어 보드(100)에서 공간 스위치 및 링크부(10)를 시험하고 시험 결과 정보를 디바이스 제어 보드(10)로부터 받아 이를 가시적인 정보로 시험자에세 디스플레이하여 준다.

공간 스위치 및 링크부(10) 내의 메트릭스 스위치 보드(130∼132)는 발신 가입자로부터의 호 요청에 따라 물리적인 스위칭을 통하여 정해진 채널 간을 연결하여 스위칭한다.

공간 스위치 및 링크부(10) 내의 중앙 데이터 링크 보드(120∼122)는 다수의 보드로 이루어지며, 메트릭스 스위치 보드(110∼112)에서 연결된 채널을 대국과 연결하여 발신 가입자와 착신 가입자를 연결하며, 외부의 시간 스위치와 정합을 담당한다.

공간 스위치 및 링크부(10) 내의 디바이스 제어 보드(100)는 다수의 메트릭스 스위치 보드(130∼132) 및 로컬 링크 보드(120∼122)로 임의의 데이터 신호를 보내고 다시 이를 수신하여 수신한 데이터와 송신한 데이터를 비교 판단하여 연결 상태 및 보드의 이상 유무를 시험한다.

클럭 분배 공급 보드(110)는 교환기 내의 장치 간에 네트워크를 구성하기 위하여 동기를 위한 기본 클럭을 발생시켜 교환기의 실시간 시계 클럭 공급을 담당한다.

도 2를 참조하면, 도 2는 전전자 교환기에서 타임 슬롯 및 링크부()를 검사하는 방법을 나타낸 흐름도로서, 터미널(20)에 명령 입력을 대기하는 초기 화면이 실행된다(단계202).

시험 종료 명령인가를 판단한다(단계 204).

디바이스 제어 보드(100)에서는 명령어 입력을 판단하여 시험 종료 명령이 입력된 경우는 모든 시험을 종료하고, 시험을 시작하라는 명령이 입력되면, 터미널(20)에 시험 유형을 선택하는 메뉴를 나타내어 시험자가 시험의 유형을 선택 가능하도록 한다(단계 206).

디바이스 제어 보드(100)는 시험자가 선택한 명령이 공간 스위치 및 링크부(10)를 자동 시험하는 명령인가를 판단한다(단계 208).

판단 결과 자동 시험하는 경우면, A로 간다. 즉, 도 3에 따른 자동 시험을 한다.

디바이스 제어부(100)는 시험자가 선택한 명령이 기능 시험 경로 명령인가를 판단한다(단계 210).

단계 (210)에서의 판단 결과 기능 시험 경로인 경우면, B로 간다. 즉, 도 4에 따른 기능 시험을 한다.

시험자가 시험 종료 명령을 입력하였는가를 판단한다(단계 212).

단계 (212)에서 선택한 명령이 종료 명령이 아닌 경우에는 시험자가 선택한 명령이 자동 시험 명령인가를 판단하는 단계로 루프백되고, 시험자가 선택한 키가 종료 명령인 경우에는 초기 화면이 실행되는 단계 (202)로 루프백된다(단계 212).

도 3을 보면, 공간 스위치 및 링크부(10)를 자동으로 시험하는 방법을 설명한 흐름도로서, 시험자에 의해 터미널(20)에서 입력된 자동 시험 명령에 따라 디바이스 제어 보드(100)에서는 각 기능별 및 경로 별로 공간 스위치 및 로컬 링크부(10)의 기능별 시험을 실시한다(단계 302).

시험이 종료되었는가 디바이스 제어 보드(100)에서 주기적으로 판단한다(단계 304).

시험이 종료되지 않은 경우면, 시험 중지 명령이 시험자로부터 입력되었는가를 판단한다(단계 306).

시험이 종료된 경우면, 시험을 종료한다(단계 312).

디바이스 제어 보드(100)는 시험을 종료하고 시험 결과를 터미널로 전송하여 디스플레이한다(단계 314).

시험이 종료되었으면, 시험자에게 자동 시험의 재시험에 대한 명령을 요구하여 자동 시험을 재시험하는 경우인가 판단한다(단계 316).

단계 (316)에서 판단하여 재시험하는 경우면, 단계 (302)의 각 기능별 시험하는 단계로 루프백되고, 재시험하지 않는 것으로 판단되면, 도 2의 시험 유형을 선택하는 단계 (206)으로 루프백된다.

그리고, 도 2의 시험 유형 선택 메뉴를 시험자의 터미널(20)에 디스플레이하는 C로 루프백된다.

단계 (306)에서 판단하여 시험 중지 명령이 입력된 경우면, 시험을 중지하고 대기한다(단계 308).

시험을 중지하고 있는 중에 가입자의 터미널로부터 시험을 중지하라는 명령이 입력되었는가를 판단한다(단계 310).

시험을 중지하라는 명령이 입력된 경우면, 단계 (312)에서 단계 (316)을 실행한다.

도 4를 참조하여 임의의 메트릭스 스위치 보드(110∼112) 및 로컬 링크 보드(120∼122)를 선택하여 공간 스위치 및 링크부(10)의 이상 유무를 시험하는 흐름도를 설명하면, 단계 (210)의 기능 시험을 시작하라는 명령이 터미널(20)을 통하여 디바이스 제어 보드(100)로 입력된다.

기능 시험 종류를 선택하는 메뉴를 터미널(20)에 디스플레이시켜 시험의 유형을 시험자가 선택 가능하도록 한다(단계 402).

디바이스 제어 보드(100)에서는 명령 입력 체크하여 제어 메모리 초기화 명령이 입력되었는가 판단한다(단계 404).

디바이스 제어 보드(100)에서는 명령 입력 체크하여 제어 메모리 시험 명령이 입력되었는가 판단한다(단계 426).

디바이스 제어 보드(100)에서는 명령어 입력 체크하여 상태 읽기 시험 명령이 입력되었는가 판단한다(단계 452).

디바이스 제어 보드(100)에서는 명령어 입력 체크하여 경로 시험 명령이 입력되었는가 판단한다(단계 462).

상기 단계 (404)에서 판단하여 메트릭스 스위치 보드(130∼132)의 제어 메모리 시작 명령이 입력된 경우 시험하고자하는 해당 메트릭스 스위치 보드(130∼132)를 선택한다(단계 406).

제어 메모리의 카운트(n)를 0으로 셋팅한다(단계 408).

0 카운트(n)의 메트릭스 스위치 보드(130∼132) 내의 제어 메모리를 읽어서 저장한다(단계 410).

저장된 제어 메모리의 초기화된 값을 읽어서 카운트(n) 값이 정상인가를 판단한다(단계 412).

초기화 값이 예를 들어 '0000FFFF'로 셋팅되어 있어야 정상인 데 '0000FFFF'이 아니면 정상적으로 초기화 되지 아니한 경우로, 제어 메모리가 비정상적으로 초기화된 경우이다. 디바이스 제어 보드(100)에서 초기화 값을 읽어 오류가 발생한 것으로 판단되면 제어 메모리가 비정상으로 초기화되었음을 터미널(20)로 알려준다(단계 414).

저장된 제어 메모리의 값이 '0000FFFF'이면 제어 메모리가 정상으로 초기화 되었다. 디바이스 제어 보드(100)에서 초기화 값을 읽어 정상으로 초기화된 것으로 판단되면, 정상으로 초기화되었음을 터미널(20)로 알려준다(단계 416).

제어 메모리의 용량에 해당하는 메모리의 모든 바이트를 체크한다. 예를 들어 제어 메모리의 용량이 2K 바이트 즉 2048 바이트라면, 카운트(n)가 2047보다 작은가를 체크한다. 즉, 카운트(n) 값이 메모리 용량보다 1 작은 값보다 작은가 판단한다(단계 418).

단계 (418)에서 판단하여 카운트(n) 값이 해당 제어 메모리 용량보다 작은 경우에는 메모리 카운트를 1 증가시킨다(단계 420).

그리고, 해당 제어 메모리를 읽는 단계 (410)으로 루프백되어 해당 제어 메모리의 초기화를 카운트를 증가시키며 해당 제어 메모리 용량까지 검사한다.

카운트(n) 값이 해당 제어 메모리 용량보다 크거나 같은 경우에는 검사 결과를 터미널(20)에 디스프레이한다(단계 422).

해당 제어 메모리 용량보다 같거나 큰 경우에는 메모리 초기화를 다시 할 것인지 터미널(20)에 문의하여 시험자가 제어 메모리의 초기화를 다시 요구하는 경우인가 판단한다(단계 424).

단계 (424)에서 판단하여 제어 메모리의 초리화를 요구하는 경우로 판단되면, 메모리 초기화를 할 해당 보드를 선택하는 단계 (406)으로 루프백되고, 시험자가 제어 메모리의 초기화를 다시 요구하지 않는 경우에는 시험 기능 시험 종류를 선택하는 메뉴를 터미널에 나타내는 단계 (402)로 루프백된다.

상술한 단계 (426)에서 판단하여 제어 메모리 시험 명령이 입력된 것으로 판단되면, 시험하고자하는 해당 메트릭스 스위치 보드(130∼132)를 선택하고, 입력할 데이터를 선택한다(단계 428).

제어 메모리의 카운트(n)를 0으로 셋팅한다(단계 430).

디바이스 제어 보드(100)에서는 선택된 데이터를 해당 메트릭스 스위치 보드(130∼132)의 제어 메모리에 기록한다(단계 432).

데이터를 기록하고 다시 이를 읽는 사이에 정해진 시간 동안의 시간을 지연시킨다(단계 434).

제어 메모리에 쓴 데이터를 읽는다(단계 436).

디바이스 제어 보드(100)에서는 입력한 데이터와 읽은 데이터가 일치하는가 판단한다(단계 438).

단계 (438)에서 판단하여 입력한 데이터와 읽은 데이터가 일치하지 않는 경우에는 제어 메모리에 오류가 발생한 경우이므로 해당 제어 메모리에 오류가 있음을 터미널(20)로 알린다(단계 440).

디바이스 제어 보드(100)에서 판단하여 쓴 데이터와 읽은 데이터가 일치하는 경우, 해당 카운트의 제어 메모리에 이상이 없음을 터미널(20)로 알린다(단계 442).

디바이스 제어 보드(100)에서는 제어 메모리의 용량에 해당하는 메모리의 모든 바이트를 체크한다. 예를 들어 제어 메모리의 용량이 2K 바이트(Byte)라면 카운트가 2047보다 작은가를 체크한다. 즉, 카운트 값이 메모리 용량보다 1 작은 값보다 작은가 판단한다(단계 444)

단계 (444)에서 판단하여 작은 경우에는 메모리 카운트(n)를 1 증가시킨다(단계 446).

해당 제어 메모리에 임의의 데이터를 쓰는 단계 (428)로 루프백되어 해당 제어 메모리의 카운트(n)를 증가시키며 해당 제어 메모리 용량까지 검사한다.

메트릭스 스위치 보드(130∼132) 내의 제어 메모리를 검사한 결과를 터미널(20) 화면에 디스플레이한다(단계 448).

해당 제어 메모리 용량보다 같거나 큰 경우에는 메모리 초기화를 다시 할 것인지 터미널(20)에 문의하여 제어 메모리의 시험자가 초기화 요구하는 가를 판단한다(단계 450).

재시험을 요구하는 경우 시험하고자하는 해당 메트릭스 스위치 보드(130∼132)를 선택하고, 입력할 데이터를 선택하는 단계 (428)로 루프백된다.

단계 (452)에서 판단하여 상태 읽기 시험 명령이 입력된 것으로 판단되면, 상태 레지스터의 데이터를 읽어들일 해당 메트릭스 스위치 보드를 선택한다(단계 454).

상태 레지스터의 데이터를 읽는다(단계 456).

디바이스 제어 보드(100)에서는 단계 (460)에서 읽은 테이터를 분석한다.

디바이스 제어 보드(100)에서는 분석된 결과를 단말기의 화면에 디스플레이한다(단계 458).

디바이스 제어 보드(100)에서는 상태 읽기 시험을 다시 할 것인지 터미널(20)에 문의하여 시험자가 상태 읽기 시험 요구하는가 판단한다(단계 460).

단계 (460)에서 판단하여 상태 읽기 시험을 요구하는 경우이면, 상태 레지스터의 데이터를 읽어들일 해당 메트릭스 스위치 보드를 선택하는 단계 (454)로 루프백된다.

디바이스 제어 보드(100)에서는 경로 시험 명령이 입력되었는가를 판단한다(단계 462).

단계 (462)에서 판단하여 경로 시험 명령이 입력된 경우면, C, 즉, 도 5의 경로 시험 기능 시험 메뉴를 표시하는 단계 (502)의 단계부터 실행하며, 경로 시험 명령이 입력되지 않은 경우면, 시험 종료 명령이 입력되었는가 판단한다(단계 464).

단계 (464)에서 판단하여 시험 종료 명령이 입력된 경우면, 시험 유형을 선택하는 단계 (206)으로 루프백되며, 시험 종료 명령이 입력되지 않은 경우면, 시험 기능 선택 메뉴를 표시하는 단계 (402)로 루프백된다.

도 5를 참조하여 타임 스위치 및 링크부(10)를 선택하여 시험하는 흐름도를 설명하면, 터미널(20)로 경로 선택 메뉴를 표시한다(단계 502).

터미널(20)에서 시험자는 고정 데이터를 입력하여 시험할 것인지 아니면, 임의의 데이터를 디바이스 제어 보드(100)에서 입력할지를 선택한다(단계 504).

한편, 경로 시험은 크게 3가지의 경로로 나눈다. 제 1 경로는 클럭 분배 공급 보드(110∼112)를 루프백시켜 시험하는 것으로 자체 경로만을 시험할 때 사용한다. 제 2 경로는 임의의 클럭 분배 공급 보드(110)와 다른 중앙 데이터 링크 보드(112)와의 루프백 테스트하는 것으로 중간에 메트릭스 스위치 보드를 거쳐 경로를 설정하여 테스트하는데 수신측 중앙 데이터 링크 보드의 내부에서 루프백되어 경로를 테스트하는 것이다. 제 3 경로는 송신 중앙 데이터 링크 보드에서 메트릭스 스위치 보드를 거쳐 수신측 중앙 데이터 링크 보드로 연결되는 경로로 공간 스위치 및 링크부의 모든 가능한 경로를 점검할 수 있다.

그리고, 루프백은 보드 내에서 하드웨어적으로 구성되어 있는 것을 이용하는 경우와 보드 외부에서 루프백 케이블을 이용하여 테스트하는 경로로 나눌수 있다. 경로 설정은 입력된 하이웨이와 채널 데이터를 이용하여 보드 내부에 경로를 소프트웨어적으로 연결하고, 이 경로에 테스트 데이터를 보내고 일정 시간이 지난 다음 경로에서 돌아오는 데이터를 읽어 보낸 데이터와 일치하는지 검사하여 이상 유무를 판단한다.

디바이스 제어 보드(100)는 터미널(20)로부터 제 1 경로 시험 명령이 입력되었는가 판단한다(단계 506).

디바이스 제어 보드(100)는 터미널(20)로부터 제 2 경로 시험 명령이 입력되었는가 판단한다(단계 534).

디바이스 제어 보드(100)는 터미널(20)로부터 제 3 경로 시험 명령이 입력되었는가 판단한다(단계 540).

단계 (506)에서 판단하여 터미널(20)에서 디바이스 제어 보드(100)로 제 1 경로 시험 명령이 수신된 경우면, 시험 대상이 되는 해당 중앙 데이터 링크 보드(120 ∼ 122)를 선택하고, 시작할 채널과 채널 카운트(N)를 입력한다(단계 508).

디바이스 제어 보드(100)에서는 제 1 경로에 따라 설정된 중앙 데이터 링크 보드(130∼132)의 경로를 설정한다(단계 510).

설정된 경로로 시험자가 고정 데이터로 설정하였는지 또는, 임의의 데이터로 설정하였는지 디바이스 제어 보드(100)에서 판단한다(512).

시험자가 고정 데이터로 설정한 경우면, 설정된 경로로 고정 데이터를 입력받는다(단계 514).

시험자가 고정 데이터로 설정하지 않은 경우면, 디바이스 제어 보드에서 임의의 데이터를 설정된 경로로 해당 채널에 임의의 데이터를 생성한다(단계 516).

고정/임의의 데이터를 설정된 경로로 송신한다(단계 518).

데이터의 송수신 중에 정해진 시간의 지연 시간을 둔다.

디바이스 제어 보드(100)는 메트릭스 스위치 보드(110~112)를 통과하여 루프백 되어온 데이터를 수신한다(단계 520).

디바이스 제어 보드(100)는 송신된 데이터와 수신된 데이터를 비교 판단한다(단계 522).

디바이스 제어 보드(100)는 송신한 데이터와 수신한 데이터가 일치하지 않는 것으로 판단되면, 터미널(20)로 해당 시험 채널에 이상이 있음을 디스플레이 신호로 송신한다(단계 524).

디바이스 제어 보드(100)는 송신한 데이터와 수신한 데이터가 일치하는 것으로 판단되면, 터미널(20)로 보드의 해당 채널이 이상 없음을 디스플레이 신호로 전송한다(단계 526).

디바이스 제어 보드(100)는 채널 카운트(n)가 정해진 채널 카운트(N) 보다 작은가 판단한다(단계 528).

단계 (528)에서 판단하여 작은 경우에는 채널 카운트(n)를 1 증가 시킨다(단계 529).

그리고, 자신의 경로를 설정하는 단계 (510)부터 설정된 채널 카운트보다 크거나 같아지기까지 루프백하여 반복 실행한다.

증가된 카운터가 정해진 채널 카운트보다 크거나 같은 경우에는 보드의 모든 채널의 검사 결과를 디스플레이한다(단계 530).

디바이스 제어 보드(100)는 터미널(20)로 경로 시험을 다시 할 것인지 터미널(20)에 문의하여 시험자가 제 1 경로 시험을 다시 요구하는 가를 판단한다(단계 532).

단계 (532)에서 제 1 경로 시험을 다시한다는 명령어가 입력되면, 단계 (506)의 제 1 경로 시험 명령이 입력되었는가 판단하는 단계로 루프백된다.

터미널(20)로 시험자가 시험을 재실시할 것인지 문의하여 제 1 경로 시험을 다시 하지 않는다는 명령어가 입력되면 경로 선택 메뉴를 표시하는 단계 즉, C 즉, 단계 (502)로 루프백된다.

단계 (534)에서 판단하여 제 2 경로를 시험하는 명령이 입력되었는가 판단하여 제 2 경로를 시험하는 명령이 입력되었으면, 데이터를 송신하는 중앙 데이터 링크 보드와 데이터를 수신하는 중앙 데이터 링크 보드 및 이를 시험하고자하는 메트릭스 스위치 보드(130∼132)를 선택한다(단계 536).

메트릭스 스위치 보드(130∼132)와 연결된 해당 서브하이웨이 중 하나의 서브하이웨이를 선택하고 다시, 해당 서브하이웨이 중 시험이 시작되는 채널을 선택한하고, 채널 카운트를 입력하여 종료되는 채널을 선택한다(단계 538).

경로 선택된 경로를 셋팅하여 경로를 디바이스 제어 보드(100)에 설정하는 단계 (510)에서부터 단계 (532)까지의 단계를 실행한다.

단계 540에서 판단하여 제 3 경로 시험 명령인 것으로 판단되면, 중앙 제어 보드(120∼122)의 송신 보드 및 수신 보드를 선택하고, 시험할 해당 메트릭스 스위치 보드(130∼132)를 선택한다(단계 542).

시험이 시작되는 채널을 선택한하고, 채널 카운트를 입력하여 종료되는 채널을 선택한다(단계 544).

여기서, 중앙 제어 링크 보드(120∼122)의 경우 외부에서 송신 로컬 링크 보드와 수신 로컬 링크 보드를 루프백 케이블로 연결하여 준다(단계 546).

경로 선택된 경로를 셋팅하여 경로를 디바이스 제어 보드(100)에 설정하는 단계 510에서부터 단계 532까지의 단계를 실행한다.

단계 (540)에서 판단하여 제 1 경로, 제 2 경로, 제 3 경로, 명령이 모두 아닌 경우면, 시험을 종료할 것인가를 시험자에게 입력 문의하여 입력된 명령이 시험 종료 명령인지를 판단한다(단계 548).

시험을 종료하는 명령이 아닌 것으로 판단되면 시험 명령을 체크하여 제 1 경로 시험 명령인가를 판단하는 단계 (506)으로 루프백되며, 시험을 종료하는 명령으로 판단되면 단계 (402)의 기능 시험 메뉴를 표시하는 단계로 루프백된다.

상기와 같은 경로는 항상 클럭 분배 공급 보드(110)을 경유하여 시험한다. 시험하는 경로는 디바이스 제어보드에서 클럭 분배 공급 보드(110)으로 클록 분배 공급 보드(110)에서 중앙 데이터 링크 보드(120∼122), 그리고, 메트릭스 스위치 보드(130∼132)를 경유한다.

이상 설명한 바와 같이, 본 발명은 공간 스위치 및 링크부(10) 내에서 시험자가 시험하기 원하는 각각의 메트릭스 스위치 보드, 중앙 제어 링크 보드, 상술한 보드의 채널의 경로를 정의하고 보드 간 또는 보드 내의 중요 장치의 시험 방법을 정의함으로써, 시험자의 편이에 따라 자동 또는 수동으로 공간 스위치 및 링크부를 시험할 수 있다.

특정 장치와 관련하여 본 발명의 원리를 전술하였는데, 이러한 기술된 바는 단지 예시에 불과하며, 첨부된 특허 청구 범위에서 기술된 바와 같은 본 발명의 기술 사상에 한정되는 것은 아니다.

Claims

시간 스위치로부터의 가입자의 호 연결 요청을 수신하여 해당 착신 가입자가 속한 시간 스위치와 연결하는 공간 스위치 및 링크부(10)와, 공간 스위치 및 링크부(10)의 연결 상태를 시험하여 시험된 상태의 정보를 수신하여 디스플레이하는 터미널(20)을 포함하며, 상기 공간 스위치 및 링크부(10)는, 시간 스위치로부터의 호 요청에 따라 물리적 채널을 해당 시간 스위치와 연결하여 주는 메트릭스 스위치 보드(130∼132)와, 스위칭된 호룰 대국과 연결하는 중앙 데이터 링크 보드(120∼122)와, 다수의 보드로 이루어진 메트릭스 스위치 보드(130∼132) 및 중앙 데이터 링크 보드(120∼122)를 시험하는 디바이스 제어 보드(100)와, 상기 메트릭스 스위치 보드내의 모든 보드로 동일한 클록을 공급하는 클럭 분배 공급 보드(110)로 이루어지는 전전자 교환기에 있어서,

터미널(20)에 명령 입력을 대기하는 초기 화면이 실행되면, 시험 종료 명령인가를 판단하는 단계;

디바이스 제어 보드(100)에서는 명령어 입력을 판단하여 시험 종료 명령이 입력된 경우는 모든 시험을 종료하고, 시험을 시작하라는 명령이 입력되면, 터미널(20)에 시험 유형을 선택하는 메뉴를 디스플레이시키는 단계;

디바이스 제어 보드(100)는 시험자가 선택한 명령이 공간 스위치 및 링크부(10)를 자동 시험하는 명령인가를 판단하는 제 1 판단 단계;

제 1 판단 단계에서의 판단 결과 자동 시험하는 경우면, 자동 시험을 하는 단계;

제 1 판단 단계에서의 판단 결과 기능 시험 경로인 경우면, 도 4에 따른 기능 시험을 하는 단계;

시험자가 시험 종료 명령을 입력하였는가를 판단하는 제 2 판단 단계;

제 2 판단 단계에서의 판단 결과, 선택한 명령이 종료 명령이 아닌 경우에는 시험자가 선택한 명령이 자동 시험 명령인가를 판단하는 단계로 루프백되고, 시험자가 선택한 키가 종료 명령인 경우에는 초기 화면이 실행되는 단계로 루프되는 단계;
제 1 항에 있어서,

상기 자동 시험하는 단계는:

터미널(20)에서 입력된 자동 시험 명령에 따라 각 기능별로 메트릭스 스위치 보드(110 ∼ 112) 및 로컬 링크 보드(120 ∼ 122)를 시험하는 단계;

시험이 종료되었는가를 디바이스 제어 보드(100)에서 판단하여 시험이 종료된 경우면, 시험자가 시험 유형을 선택하도록 하는 단계로 루프백 되는 단계;

시험이 종료되지 않은 경우면, 시험을 종료할 것인가 시험자에게 입력을 요구하여 재시험하는 경우면 다시 루프백되어 각 기능별 시험부터 공간 스위치 및 링크부(10)를 재시험하는 단계를 포함하여 이루어 지는 것을 특징으로하는 전자 교환기에서 공간 스위치 및 링크부 시험 방법.
제 1 항에 있어서,

상기 기능 시험하는 단계는:

시험을 시작하라는 명령이 입력되면, 기능 시험 종류를 선택하는 메뉴를 터미널에 디스플레이시키는 단계;

명령어 입력 체크하여 제어 메모리 초기화 명령이 입력되었는가 판단하는 제 1 판단 단계;

명령어 입력 체크하여 제어 메모리 시험 명령이 입력되었는가 판단하는 제 2 판단 단계;

명령어 입력 체크하여 이중화 명령이 입력되었는가 판단하는 제 3 판단 단계;

명령어 입력 체크하여 상태 읽기 시험 명령이 입력되었는가 판단하는 제 4 판단 단계;

명령어 입력 체크하여 경로 시험 명령이 입력되었는가 판단하는 제 5 판단 단계;

상기 제 1 판단 단계에서 판단하여 메트릭스 스위치 보드(110~112) 내의 있는 제어 메모리 시작 명령이 입력된 경우에 저장된 제어 메모리의 초기화된 값을 읽어서 초기화 값이 정상인가를 판단하는 단계;

디바이스 제어 보드(100)에서 초기화 값을 읽어 초기화 값이 비정상인 것으로 판단되면 제어 메모리에 오류가 발생하였음을 터미널(20)로 알려주는 단계;

디바이스 제어 보드(100)에서 초기화 값을 읽어 정상으로 초기화된 것으로 판단되면, 정상으로 초기화되었음을 터미널(20)로 알려주는 단계;

제어 메모리의 용량에 해당하는 메모리의 모든 바이트를 체크하는 단계;

시험자가 제어 메모리의 초기화를 다시 요구하는 경우 메모리 카운트하는 단계로 루프백되는 단계;

상술한 제 2 판단 단계어서 판단하여 제어 메모리 시험 명령이 입력된 것으로 판단되면, 메트릭스 스위치 보드(110 ∼ 112) 내의 제어 메모리로 임의의 데이터를 입력하는 단계;

제어 메모리에 쓴 데이터를 읽어들이는 단계;

입력한 데이터와 읽은 데이터가 일치하는가 판단하는 단계;

입력한 데이터와 읽은 데이터가 일치하는 경우, 해당 카운트의 제어 메모리에 이상이 없음을 터미널(20)로 전송하는 단계;

디바이스 제어 보드(100)에서 판단하여 쓴 데이터와 읽은 데이터가 일치하지 않는 경우에는 제어 메모리에 오류가 발생한 경우이므로 해당 제어 메모리에 오류가 있음을 터미널(20)로 전송하는 단계;

제어 메모리의 용량에 해당하는 메모리의 모든 바이트를 체크하는 단계;

해당 제어 메모리 용량보다 같거나 큰 경우에는 메모리 초기화를 다시 할 것인지 터미널(20)에 문의하여 제어 메모리의 시험자가 초기화 요구하는 경우 메트릭스 스위치 보드(110 ∼ 112) 내의 제어 메모리로 임의의 데이터를 입력하는 단계로 루프백되는 단계;

해당 제어 메모리 용량보다 같거나 큰 경우에는 메모리 초기화를 다시 할 것인지 터미널(20)에 문의하여 제어 메모리의 시험자가 초기화 요구하지 않는 경우, 기능 시험 종류를 선택하는 메뉴를 터미널(20)에 디스플레이 시키는 단계로 루프백되도록하는 단계;

제 3 판단 단계에서 판단하여 이중화 시험 명령어 입력인가 판단하여 두 개의 보드 중 임의의 보드를 선택하여 액티브인가 판단하는 단계;

액티브인가 판단하여 선택된 보드가 액티브인 경우에는 선택된 보드를 액티브로 동작시키는 단계;

액티브인가 판단하여 선택된 보드가 액티브가 아닌 경우에는 선택되지 않은 보드를 액티브로 동작시키는 단계;

이중화 시험을 다시 할 것인지 터미널에 문의하여 시험자가 이중화 시험을 요구하는 경우 메모리 카운트하는 단계로 루프백되는 단계;

이중화 시험을 다시 할 것인지 터미널에 문의하여 시험자가 이중화 시험을 요구하지 않는 경우 기능 시험 종류를 선택하는 메뉴를 터미널에 디스플레이 시키는 단계로 루프백되도록하는 단계;

제 4 판단 단계에서 판단하여 상태 읽기 시험 명령이 입력된 것으로 판단되면, 상태 레지스터의 데이터를 읽는 단계;

디바이스 제어 보드(100)에서는 테이터를 분석하는 단계;

분석된 결과를 단말기의 화면에 표시하는 단계;

상태 읽기 시험을 다시 할 것인지 터미널(20)에 문의하여 제어 메모리의 시험자가 상태 읽기 시험 요구하는 경우 상태 레지스터의 데이터를 읽는 단계로 루프백되는 단계;

상태 읽기 시험을 다시 할 것인지 터미널(20)에 문의하여 제어 메모리의 시험자가 상태 읽기 시험 요구하지 않는 경우 기능 시험 종류를 선택하는 메뉴를 터미널에 디스플레이 시키는 단계로 루프백되도록하는 단계;

제 5 판단 단계에서 판단하여 경로 시험 명령이 입력되었는가 판단되면, 경로 시험하는 단계로 이루어 지는 것을 특징으로하는 전자 교환기에서 공간 스위치 및 링크부 시험 방법.
제 3 항에 있어서,

상기 경로 시험하는 단계는;

터미널(20)로 경로 선택 메뉴를 표시하는 단계;

자동 경로 시험인가 또는 기능 경로 시험인가를 선택하는 단계;

터미널(20)로부터 제 1 경로 시험 명령이 입력되었는가 판단하는 제 1 판단 단계;

터미널(20)로부터 제 2 경로 시험 명령이 입력되었는가 판단하는 제 2 판단 단계;

터미널(20)로부터 제 3 경로 시험 명령이 입력되었는가 판단하는 제 3 판단 단계;

터미널(20)로부터 제 4 경로 시험 명령이 입력되었는가 판단하는 제 4 판단 단계;

제 1 판단 단계에서 판단하여 터미널(20)에서 디바이스 제어 보드(100)로 제 1 경로 시험 명령이 수신된 경우면, 시험 대상이 되는 메트릭스 스위치 보드(110 ∼ 112)를 선택하는 단계;

시험 대상인 메트릭스 스위치 보드(110 ∼ 112)가 보유한 다수의 서브하이웨이 중에 하나의 서브하이웨이를 선택하는 단계;

시험 대상인 서브하이웨이 중에 하나의 채널을 선택하는 단계;

시험하고자 하는 해당 채널까지의 카운트를 입력하는 단계;

디바이스 제어 보드(100)에서는 메트릭스 스위치 보드(110 ∼ 112)의 경로를 설정하는 단계;

설정된 경로로 해당 채널에 임의의 데이터를 송신하는 단계;

송신한 임의의 데이터를 수신하는 단계;

송신된 데이터와 수신된 데이터를 비교 하는 단계;

송신한 데이터와 수신한 데이터가 일치하는 것으로 판단되면, 터미널(20)로 보드의 해당 채널이 이상 없음을 디스플레이 신호로 전송하는 단계;

송신한 데이터와 수신한 데이터가 일치하지 않는 것으로 판단되면, 터미널(20)로 해당 시험 채널에 이상이 있음을 디스플레이 신호로 송신하는 단계;

상기의 단계를 설정한 해당 채널까지 루프백하여 반복 실행하는 단계;

터미널(20)로 시험자가 시험 실시할 것인지 문의하는 단계;

문의 결과 시험한다는 명령어가 입력되면, 제 1 경로의 해당 스위치 보드를 선택하는 단계로 루프백되는 단계;

제 2 판단 단계에서 판단하여 제 2 경로를 시험하는 명령이 입력되었는가 판단하여 제 2 경로를 시험하는 명령이 입력되었으면, 송신되는 스위치 보드와 수신이 되는 스위치 보드를 선택하는 단계;

메트릭스 스위치 보드(110 ∼ 112)와 연결된 해당 서브하이웨이 중 하나의 서브하이웨이를 선택하는 단계;

해당 서브하이웨이 중 시험이 시작되는 채널을 선택하는 단계;

카운트를 입력하는 단계;

선택된 경로를 셋팅하여 경로를 디바이스 제어 보드(100)에 설정하는 단계;

정해진 경로를 통하여 데이터를 송신하는 단계;

경로를 경유하여 들어온 데이터를 수신하는 단계;

송신한 데이터와 수신한 데이터를 비교하여 동일한 데이터인가 판단하는 단계;

동일한 데이터인가 판단하여 동일한 데이터인 것으로 판단되면, 선택된 경로에 이상이 없음을 터미널(20)로 알리는 단계;

동일한 데이터인가 판단하여 동일한 데이터가 아닌 것으로 판단되면, 선택된 경로에 오류가 발생하였음을 터미널(20)로 알리는 단계;

상기의 단계를 설정한 해당 채널까지 루프백하여 반복 실행하는 단계;

결과를 터미널(20)에 디스플레이하는 단계;

제 3 판단 단계에서 판단하여 제 3 경로 시험 명령인 것으로 판단되면, 송신 메트릭스 스위치 보드(110 ∼ 112) 및 수신 메트릭스 스위치 보드(110 ∼ 112)를 선택하는 단계;

시험할 로컬 링크 보드를 선택하는 단계;

시험 대상이 되는 메트릭스 스위치 보드(110 ∼ 112)에 속한 다수의 서브하이웨이중 하나의 서브하이웨이를 선택하는 단계;

다시, 해당 하이 웨이 중 하나의 채널을 선택하는 단계;

시험하고자 하는 해당 채널까지의 카운트를 입력하는 단계;

선택된 경로를 셋팅하여 경로를 디바이스 제어 보드(100)에 설정하는 단계;

디바이스 제어 보드(100)에 설정된 경로를 통하여 데이터를 송신하는 단계;

디바이스 제어 보드(100)에서 송신한 데이터를 수신하여 송신한 데이터와 수신한 데이터를 비교하여 동일한 데이터인가 판단하는 단계;

동일한 데이터인가 판단하여 동일한 데이터인 것으로 판단되면, 선택된 경로에 이상이 없음을 터미널(20)로 로 알리는 단계;

동일한 데이터인가 판단하여 동일한 데이터가 아닌 것으로 판단되면, 선택된 경로에 오류가 발생하였음을 터미널(20)로 알리는 단계;

상기의 단계를 설정한 해당 채널까지 루프백하여 반복 실행하는 단계;

제 4 판단 단계에서 판단하여 제 4 경로 시험 명령 입력인 것으로 판단되면, 시험하고자 하는 해당 로컬 링크 보드(120 ∼ 122)를 선택하는 단계;

해당 로컬 링크 보드(120 ∼ 122)에 속한 다수의 서브하이웨이 중에서 하나의 서브하이웨이를 선택하는 단계;

다시, 해당 서브하이웨이에 속한 다수의 채널 중 시작되는 채널을 선택하는 단계;

해당 채널의 종료 카운트 넘버를 입력하는 단계;

선택된 경로를 디바이스 제어 보드(100)에 설정하는 단계;

상기의 단계를 설정한 해당 채널까지 루프백하여 반복 실행하는 단계;

터미널(20)로 제 4 경로 시험을 다시 할 것인지 문의하여 로컬 링크 보드 간을 시험 명령어가 입력된 경우면, 시험하고자 하는 해당 로컬 링크 보드(120 ∼ 122)를 선택하는 단계로 루프백하는 단계;

시험자의 터미널로 제 4 경로 시험을 다시 할 것인지 문의하여 로컬 링크 보드 간을 다시 시험하고자 하지 않는 경우면, 경로 선택 메뉴를 표시하는 단계로 루프백되도록 하는 단계;

상술한 제 4 판단 단계에서 판단하여 제 4 경로 시험 명령 입력이 아닌 것으로 판단되면, 종료할지 터미널로 문의하여 종료 명령이 입력되면, 시험 유형을 체크하는 단계로 루프백 되도록하며, 종료하지 않을 것으로 판단되면, 명령어 입력 체크하는 단계로 루프백되도록하는 단계를 포함하여 이루어 지는 것을 특징으로하는 전전자 교환기에서 공간 스위치 및 링크부 시험 방법.
제 1 항에 있어서,

상기 제 1 경로는 메트릭스 스위치 보드(110 ∼ 112)를 루프백시켜 시험하는 것을 특징으로하는 전전자 교환기에서 공간 스위치 및 링크부 시험 방법.
제 1 항에 있어서,

상기 제 2 경로는 임의의 메트릭스 스위치 보드(110)와 다른 메트릭스 스위치 보드(112)와의 루프백 시험하는 것을 특징으로 하는 전전자 교환기에서 공간 스위치 및 링크부 시험 방법.
제 1 항에 있어서,

상기 제 3 경로는 임의의 메트릭스 스위치 보드(110 ∼ 112)를 경유하여 임의의 로컬 링크 보드(120 ∼ 122)에서 루프백되어 다시 메트릭스 스위치 보드(110 ∼ 112)로 연결 경로를 루프백 시험하는 것을 특징으로하는 전전자 교환기에서 공간 스위치 및 링크부 시험 방법.
제 1 항에 있어서,

상기 제 4 경로는 공간 스위치 및 링크부(10)와 연동되는 공간 스위치 및 링크부를 위한 경로를 로컬 링크 보드(120 ∼ 122) 간의 루프백시키는 경로를 제공하는 것을 특징으로하는 전자 교환기에서 공간 스위치 및 링크부 시험 방법.