KR100255309B1 - 전전자교환기에서시간스위치/공간스위치및링크부시험방법 - Google Patents

전전자교환기에서시간스위치/공간스위치및링크부시험방법 Download PDF

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Abstract

본 발명은 전전자 교환기에서 시간 스위치/공간 스위치 및 링크부를 구성하는 각각의 보드 간에 이루어지는 다수의 경로를 시험하는 전전자 교환기에서 시간 스위치/공간 스위치 및 링크부 시험 방법에 관한 것이다. 본 발명에서는 시간 스위치 및 링크부(10) 내에서 시험자가 시험하기 원하는 각각의 제 1 내지 제 n 시간 스위치 보드(110 내지 112), 제 1 내지 제 n 로컬 링크 보드(120 내지 122), 서브하이웨이 및 채널의 경로를 정의하고 보드 간 또는 보드 내의 중요 장치의 시험 방법을 정의함으로써, 시험자의 편이에 따라 자동 또는 수동으로 시간 스위치 및 링크부(10)를 시험할 수 있다. 또한, 공간 스위치 및 링크부(130) 내에서 시험자가 시험하기 원하는 각각의 제 1 내지 제 n 메트릭스 스위치 보드(142 내지 144), 제 1 내지 제 n 중앙 데이터 링크 보드(138 내지 140), 상기 보드의 채널의 경로를 정의하고 보드 간 또는 보드 내의 중요 장치의 시험 방법을 정의함으로써, 시험자의 편이에 따라 자동 또는 수동으로 공간 스위치 및 링크부(130)를 시험할 수 있다.

Description

전전자 교환기에서 시간 스위치/공간 스위치 및 링크부 시험 방법{TESTING METHOD FOR TIME SWITCH/SPAVCE SWITCH AND LINK BLOCK IN A FULL ELECTRONIC SWITCHING SYSTEM}
본 발명은 전전자 교환기에서 시간 스위치(Time Switch : TS)/공간 스위치(Space Switch : SS) 및 링크부 시험 방법에 관한 것으로서, 특히 전전자 교환기에서 시간 스위치/공간 스위치 및 링크부를 구성하는 각각의 보드 간에 이루어지는 다수의 경로를 시험하는 방법에 관한 것이다.
종래의 기술에 있어서 시간 스위치 및 링크부의 연결 경로를 시험하는 경우 외부 시험 장치를 연결해서 시험하기 때문에, 시험이 번거롭다. 시간 스위치 및 링크부의 모든 경로를 자동으로 시험하는 경우에는 프로세서에서 보내주는 고정 테이터만을 이용해서 시험하기 때문에, 임의의 데이터가 송수신 되는 경로에 대한 완전한 시험을 할 수는 없다.
또한, 공간 스위치 및 링크부의 연결 경로를 시험하는 경우 외부 시험 장치를 연결해서 시험하기 때문에, 시험이 번거롭다. 공간 스위치 및 링크부의 모든 경로를 자동으로 시험하는 경우에는 시험자가 원하는 부분만을 선택적으로 시험하기 때문에, 모든 경로를 시험하기 위해서는 시간이 많이 소요된다.
본 발명은 상기 종래 기술의 결점을 해결하기 위하여 안출한 것으로, 시간 스위치/공간 스위치 및 링크부를 시험하는 경로를 정의하고 시간 스위치/공간 스위치에서 필요한 모든 시험을 수동 또는 자동으로 시험할 수 있도록하는 전전자 교환기에서 시간 스위치/공간 스위치 및 링크부 시험 방법을 제공하는 데 그 목적이 있다.
상기 목적을 달성하기 위하여 본 발명은, 디바이스 제어 보드, 다수의 시간 스위치 보드, 및 다수의 로컬 링크 보드를 포함하는 시간 스위치 및 링크부, 터미널을 구비하는 전전자 교환기에서 시간 스위치 및 링크부 시험 방법에 있어서: 상기 터미널의 명령 입력을 대기하는 초기 화면에서 명령 입력을 체크하여 시험을 종료하라는 명령이 입력되면, 모든 시험을 종료하는 제 1 단계; 상기 터미널의 명령 입력을 대기하는 초기 화면에서 명령 입력을 체크하여 시험을 시작하라는 명령이 입력되면, 상기 디바이스 제어 보드가 상기 터미널에 시험 유형을 선택하도록 하는 제 2 단계; 자동 시험 명령이면, 자동 시험을 하는 제 3 단계; 기능 시험 명령이면, 기능 시험을 하는 제 4 단계; 종료 명령인 경우에는 시험을 종료하고 상기 제 1 단계부터 다시 시작하는 제 5 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.
또한, 디바이스 제어 보드, 클럭 분배 공급 보드, 다수의 중앙 데이터 링크 보드, 및 다수의 메트릭스 스위치 보드를 포함하는 공간 스위치 및 링크부, 터미널을 구비하는 전전자 교환기에서 공간 스위치 및 링크부 시험 방법에 있어서: 상기 터미널의 명령 입력을 대기하는 초기 화면에서 명령 입력을 체크하여 시험을 종료하라는 명령이 입력되면, 모든 시험을 종료하는 제 1 단계; 상기 터미널의 명령 입력을 대기하는 초기 화면에서 명령 입력을 체크하여 시험을 시작하라는 명령이 입력되면, 상기 디바이스 제어 보드가 상기 터미널에 시험 유형을 선택하도록 하는 제 2 단계; 자동 시험 명령이면, 자동 시험을 하는 제 3 단계; 기능 시험 명령이면, 기능 시험을 하는 제 4 단계; 종료 명령인 경우에는 시험을 종료하고 상기 제 1 단계부터 다시 시작하는 제 5 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.
도 1은 본 발명에 따른 전전자 교환기에서 터미널과 시간 스위치 및 링크부의 연결을 도시한 블록 구성도,
도 2는 본 발명에 따른 전전자 교환기에서 타임 슬롯 및 링크부를 검사하는 방법을 나타낸 흐름도,
도 3은 도 2에 따라 타임 슬롯 및 링크부를 자동으로 시험하는 방법을 설명한 흐름도,
도 4는 도 2에 따라 타임 슬롯 및 링크부를 시험자의 필요에 따라 선택하여 시험하는 흐름도,
도 5a 내지 도 5b는 도 4에 따라 타임 슬롯 및 링크부의 경로를 시험자의 필요에 따라 선택하여 시험하는 흐름도,
도 6은 본 발명에 따른 전전자 교환기에서 터미널과 공간 스위치 및 링크부의 연결을 도시한 블록 구성도,
도 7은 본 발명에 따른 전전자 교환기에서 타임 슬롯 및 링크부를 검사하는 방법을 나타낸 흐름도,
도 8은 도 7에 따라 타임 슬롯 및 링크부를 자동으로 시험하는 방법을 설명한 흐름도,
도 9는 도 7에 따라 타임 슬롯 및 링크부를 시험자의 필요에 따라 선택하여 시험하는 흐름도,
도 10은 도 9에 따라 타임 슬롯 및 링크부의 경로를 시험자의 필요에 따라 선택하여 시험하는 흐름도.
＜도면의 주요부분에 대한 부호의 설명＞
10 : 시간 스위치 및 링크부
20, 132 : 터미널
100, 134 : 디바이스 제어 보드
110, ..., 112 : 제 1, ..., 제 n 시간 스위치 보드
120, ..., 122 : 제 1, ..., 제 n 로컬 링크 보드
130 : 공간 스위치 및 링크부
136 : 클럭 분배 공급 보드
138, ..., 140 : 제 1, ..., 제 n 중앙 데이터 링크 보드
142, ..., 144 : 제 1, ..., 제 n 메트릭스 스위치 보드
본 발명의 상기 및 기타 목적과 여러 가지 장점은 이 기술 분야에 숙련된 사람들에 의해 첨부된 도면을 참조하여 하기에 기술되는 발명의 바람직한 실시예로부터 더욱 명확하게 될 것이다.
도 1은 본 발명에 따른 전전자 교환기에서 터미널과 시간 스위치 및 링크부의 연결을 도시한 블록 구성도로, 터미널(20) 및 시간 스위치 및 링크부(10)로 구성된다. 시간 스위치 및 링크부(10)는 디바이스 제어 보드(100), 제 1 내지 제 n 시간 스위치 보드(110 내지 112), 및 제 1 내지 제 n 로컬 링크 보드(120 내지 122)를 구비한다.
동 도면에 있어서, 시간 스위치 및 링크부(10)는 발신 또는 착신 가입자를 스위칭하고 외부의 공간 스위치와 정합하여 발신 가입자로부터의 호 연결 요구를 수신하여 전전자 교환기의 중앙 제어 서브시스템(Central Control Subsystem : CCS) 내의 공간 스위치와 정합하여 호를 연결한다.
터미널(20)은 시간 스위치 및 링크부(10)를 시험하기 위한 명령을 시간 스위치 및 링크부(10)에 입력하기 위한 단말기로서, 시험자가 터미널(20)을 통하여 시험 명령을 입력하면 시간 스위치 및 링크부(10) 내의 디바이스 제어 보드(100)는 상기 명령에 따라 시험을 수행하고 이 시험 결과 정보를 터미널(20)을 통해 디스플레이하여 시험자가 볼 수 있도록 한다. 즉, 디바이스 제어 보드(100)는 제 1 내지 제 n 시간 스위치 보드(110 내지 112) 및 제 1 내지 제 n 로컬 링크 보드(120 내지 122)로 신호를 보내고 다시 이를 수신해서 수신한 데이터와 송신한 데이터를 비교 판단하여 연결 상태 및 보드의 이상 유무를 시험한다.
시간 스위치 및 링크부(10) 내의 제 1 내지 제 n 시간 스위치 보드(110 내지 112)는 BER(Bit Error Rate) 시험 장치를 내장하고 발신 가입자로부터의 호 요청에 따라 시간적인 차이에 의해 채널을 분할한다. 정해진 채널 간을 발신 가입자와 착신 가입자를 연결하여 스위칭한다. 예로, 4 개의 보드로 이루어져, 각각의 보드에는 64 개의 서브하이웨이(subhighway)가 연결되고 이때, 각각의 서브하이웨이는 64 개의 채널을 수용한다.
제 1 내지 제 n 로컬 링크 보드(120 내지 122)는 타국과 연결되는 호를 연결하기 위해 외부의 공간 스위치와 연결해서 발신 가입자와 착신 가입자를 연결하고 외부의 공간 스위치와 정합한다. 예로, 2 개의 보드로 이루어져, 각 로컬 링크 보드는 2,048 가입자를 수용한다. 디바이스 제어 보드(100)는 제 1 내지 제 n 시간 스위치 보드(110 내지 112) 및 제 1 내지 제 n 로컬 링크 보드(120 내지 122)를 제어한다.
도 2는 전전자 교환기에서 시간 스위치 및 링크부(10)를 검사하는 방법을 나타낸 흐름도이다.
먼저, 터미널(20)에 명령 입력을 대기하는 초기 화면이 실행된다(단계 202).
시험 시작 명령인가를 판단한다(단계 204).
디바이스 제어 보드(100)는 명령어 입력을 판단하여 시험 시작 명령이 입력되지 않은 경우는 모든 시험을 종료하고, 시험을 시작하라는 명령이 입력되면, 터미널(20)에 시험 유형을 선택하는 메뉴를 나타내어 시험자가 시험의 유형을 선택 가능하도록 한다(단계 206).
디바이스 제어 보드(100)는 시험자가 선택한 명령이 시간 스위치 및 링크부(10)를 자동 시험하는 명령인지 여부를 판단한다(단계 208).
단계(208)에서의 판단 결과, 자동 시험 하는 경우 다음에 설명될 도 3에 따른 자동 시험을 한다.
상기 단계(208)의 판단 결과, 자동 시험 하는 경우가 아니면 기능 시험 명령인지 여부를 판단한다(단계 210).
단계(210)에서의 판단 결과, 기능 시험 경로인 경우 다음에 설명될 도 4에 따른 기능 시험을 한다.
상기 단계(210)의 판단 결과, 자동 시험 하는 경우가 아니면 시험 종료 명령인지 여부를 판단한다(단계 212).
시험자가 선택한 명령이 종료 명령이 아닌 경우에는 시험자가 선택한 명령이 자동 시험 명령인가를 판단하는 단계(208)로 루프백되고, 시험자가 선택한 키가 종료 명령인 경우에는 시험을 종료한다(단계 212).
도 3은 도 2에 따라 타임 슬롯 및 링크부를 자동으로 시험하는 방법을 설명한 흐름도이다.
시험자에 의해 터미널(20)에서 입력된 자동 시험 명령에 따라 디바이스 제어 보드(100)에서는 각 기능별 및 경로 별로 시간 스위치 및 로컬 링크부(10)의 기능별 시험을 실시한다(단계 302).
디바이스 제어 보드(100)에서 시험 종료 여부를 주기적으로 판단한다(단계 304).
단계(304)에서 판단하여 시험이 종료된 경우면, 시험 결과를 터미널(20)에 디스플레이하고, 도 2의 시험 유형 선택 메뉴를 시험자의 터미널(20)에 디스플레이하는 단계(206)로 루프백된다(단계 306).
시험이 종료되지 않은 경우면, 시험을 종료할 것인가 시험자에게 입력을 요구하여 재시험하라는 명령이 입력되었는가를 판단한다(단계 308).
자동 시험을 재시험하는 경우 단계(302)로 루프백한다.
시험자에게 입력을 요구하여 재시험하지 않는 경우면, 시험 결과를 터미널(20)에 디스플레이하고, 도 2의 시험 유형 선택 메뉴를 시험자의 터미널(20)에 디스플레이하는 단계(206)로 루프백된다.
도 4는 제 1 내지 제 n 시간 스위치 보드(110 내지 112) 및 제 1 내지 제 n 로컬 링크 보드(120 내지 122)를 선택하여 시간 스위치 및 링크부(10)의 이상 유무를 시험하는 흐름도이다.
상기 단계(210)의 기능 시험을 시작하라는 명령이 터미널(20)을 통하여 디바이스 제어 보드(100)로 입력된다.
기능 시험 종류를 선택하는 메뉴를 터미널(20)에 나타내어 시험의 유형을 시험자가 선택 가능하도록 한다(단계 402).
디바이스 제어 보드(100)에서는 명령 입력 체크하여 제어 메모리 초기화 명령이 입력되었는가 판단한다(단계 404).
디바이스 제어 보드(100)에서는 명령 입력 체크하여 제어 메모리 시험 명령이 입력되었는가 판단한다(단계 422).
디바이스 제어 보드(100)에서는 명령 입력 체크하여 이중화 시험 명령이 입력되었는가 판단한다(단계 446).
디바이스 제어 보드(100)에서는 명령어 입력 체크하여 상태 읽기 시험 명령이 입력되었는가 판단한다(단계 458).
디바이스 제어 보드(100)에서는 명령어 입력 체크하여 경로 시험 명령이 입력되었는가 판단한다(단계 468).
상기 단계 404에서 판단하여 제 1 내지 제 n 시간 스위치 보드(110 내지 112)의 제어 메모리 시작 명령이 입력된 경우 제어 메모리의 카운트를 "0"으로 셋팅한다(단계 406).
"0" 카운트의 제 1 내지 제 n 시간 스위치 보드(110 내지 112) 내의 제어 메모리를 읽어서 저장한다(단계 408).
저장된 제어 메모리의 초기화된 값을 읽어서 카운트 값이 정상인가를 판단한다(단계 410).
초기화 값이 예로, '0000FFFF'로 셋팅되어 있어야 정상인 데 '0000FFFF'이 아니면 정상적으로 초기화 되지 아니한 경우로, 제어 메모리가 비정상적으로 초기화된 경우이다. 디바이스 제어 보드(100)에서 초기화 값을 읽어 오류가 발생한 것으로 판단되면 제어 메모리가 비정상으로 초기화되었음을 터미널(20)로 알려준다(단계 412).
저장된 제어 메모리의 값이 '0000FFFF'이면 제어 메모리가 정상으로 초기화 된 것으로 판단한다. 디바이스 제어 보드(100)에서 초기화 값을 읽어 정상으로 초기화된 것으로 판단되면, 정상으로 초기화되었음을 터미널(20)로 알려준다(단계 414).
제어 메모리의 용량에 해당하는 메모리의 모든 바이트를 체크한다. 예로, 제어 메모리의 용량이 2K 바이트 즉, 2,048 바이트라면, 카운트가 2,047보다 작은가를 체크한다. 즉, 카운트 값이 메모리 용량보다 1 작은 값보다 작은가 판단한다(단계 416).
해당 제어 메모리 용량보다 작은 경우에는 메모리 카운트를 "1" 증가시킨다(단계 418).
해당 제어 메모리 읽는 단계로 루프백되어 해당 제어 메모리의 초기화를 카운트를 증가시키며 해당 제어 메모리 용량까지 검사한다.
해당 제어 메모리 용량보다 같거나 큰 경우에는 메모리 초기화를 다시 할 것인지 터미널(20)에 문의하여 시험자가 제어 메모리의 초기화를 다시 요구하는 경우인가 판단한다(단계 420).
단계(420)에서 판단하여 시험자가 제어 메모리의 초기화를 요구하는 경우이면, 메모리 카운트하는 단계(406)로 루프백되고, 시험자가 제어 메모리의 초기화를 다시 요구하지 않는 경우에는 기능 시험 종류를 선택하는 메뉴를 터미널(20)에 나타내는 단계(402)로 루프백된다.
상기 단계(422)에서 판단하여 제어 메모리 시험 명령이 입력된 것으로 판단되면, 디바이스 제어 보드(100)에서는 제 1 내지 제 n 시간 스위치 보드(110 내지 112) 내의 제어 메모리로 임의의 데이터를 입력한다(단계 424).
제어 메모리의 카운트를 "0"으로 셋팅한다(단계 426).
디바이스 제어 보드(100)에서는 입력한 임의의 데이터를 제어 메모리에 기록한다(단계 428).
데이터를 기록하고 다시 이를 읽는 사이에 정해진 시간 동안의 시간을 지연시킨다(단계 430).
제어 메모리에 쓴 데이터를 읽어 저장한다(단계 432).
입력된 데이터와 읽은 데이터가 일치하는가 판단한다(단계 434).
디바이스 제어 보드(100)에서 판단하여 쓴 데이터와 읽은 데이터가 일치하지 않는 경우에는 제어 메모리에 오류가 발생한 경우이므로 해당 제어 메모리에 오류가 있음을 터미널(20)로 알린다(단계 436).
디바이스 제어 보드(100)에서 판단하여 쓴 데이터와 읽은 데이터가 일치하는 경우, 해당 카운트의 제어 메모리에 이상이 없음을 터미널(20)로 알린다(단계 438).
디바이스 제어 보드(100)에서는 제어 메모리의 용량에 해당하는 메모리의 모든 바이트를 체크한다. 예로, 제어 메모리의 용량이 2K 바이트(Byte)라면 카운트가 2,047보다 작은가를 체크한다. 즉, 카운트 값이 메모리 용량보다 1 작은 값보다 작은지 여부를 판단한다(단계 440).
판단하여 작은 경우에는 메모리 카운트를 "1" 증가시킨다(단계 442).
해당 제어 메모리에 임의의 데이터를 쓰는 단계(428)로 루프백되어 해당 제어 메모리의 카운트를 증가시키며 해당 제어 메모리 용량까지 검사한다.
해당 제어 메모리 용량보다 같거나 큰 경우에는 메모리 초기화를 다시 할 것인지 터미널(20)에 문의하여 제어 메모리의 시험자가 초기화 요구하는 가를 판단한다(단계 444).
재시험을 요구하는 경우 메모리 카운트하는 단계로 루프백된다.
그리고, 교환기의 보드들은 신뢰도의 향상을 위하여 이중화로 구성되며, 이중화된 보드들은 서로간에 액티브 스탠바이로 동작하여 같은 동작을 하는 이중화된 보드중 액티브로 동작하는 보드에 이상이 생기면, 스탠바이로 동작하던 보드가 액티브의 역할을 담당한다.
단계(446)의 판단 단계에서 판단하여 이중화 시험 명령 입력인 경우로 판단되면, 두 개의 이중화된 보드(도면 중에 도시되지 않음) 중 하나의 보드를 선택한다(단계 448).
선택된 보드가 액티브로 동작하는가 판단한다(단계 450).
판단하여 선택된 보드가 액티브가 아닌 경우에는 선택되지 보드를 액티브로 동작시킨다(단계 452).
판단하여 선택된 보드가 액티브인 경우에는 선택된 보드를 액티브로 동작시킨다(단계 454).
이중화 시험을 다시 할 것인지 터미널(20)에 문의하여 시험자가 이중화 시험을 요구하는 가를 판단한다(단계 456).
단계(456)에서 판단하여 이중화 시험을 요구하는 경우 임의의 보드를 선택하는 단계(448)로 루프백된다.
단계(456)에서 판단하여 이중화 시험을 요구하는 경우가 아닌 경우에는 기능 시험 메뉴를 표시하는 단계(402)로 루프백된다.
명령 입력 체크하여 상태 읽기 시험 명령이 입력되었는가를 판단한다(단계 458).
상태 읽기 시험 명령이 입력된 것으로 판단되면, 상태 레지스터의 데이터를 읽는다(단계 460).
디바이스 제어 보드(100)에서는 단계(460)에서 읽은 테이터를 분석한다(단계 462).
디바이스 제어 보드(100)에서는 분석된 결과를 터미널(20) 화면에 디스플레이한다(단계 464).
디바이스 제어 보드(100)에서는 상태 읽기 시험을 다시 할 것인지 터미널(20)에 문의하여 시험자가 상태 읽기 시험 요구하는가 판단한다(단계 466).
단계(466)에서 판단하여 상태 읽기 시험을 요구하는 경우 상태 레지스터의 데이터를 읽는 단계(460)로 루프백된다.
단계(466)에서 판단하여 상태 읽기 시험을 요구하는 경우가 아닌 경우에는 기능 시험 메뉴를 표시하는 단계(402)로 루프백된다.
디바이스 제어 보드(100)에서는 경로 시험 명령이 입력되었는가를 판단한다(단계 468).
단계(468)에서 판단하여 경로 시험 명령이 입력된 경우면, 도 5의 경로 시험 기능 시험 메뉴를 표시하는 단계(5002)부터 실행한다.
도 5a 내지 도 5b는 도 4에 따라 타임 슬롯 및 링크부의 경로를 시험자의 필요에 따라 선택하여 시험하는 흐름도이다.
먼저, 터미널(20)로 경로 선택 메뉴를 표시한다(단계 5002).
터미널(20)에서 시험자는 고정 데이터를 입력하여 시험할 것인지 아니면, 디바이스 제어 보드(100)에서 임의의 데이터를 입력할 것인지를 시험자가 선택한다(단계 5004).
한편, 경로 시험은 크게 4 가지의 경로로 나눈다. 제 1 경로는 제 1 내지 제 n 시간 스위치 보드(110 내지 112)를 루프백시켜 시험하는 것으로, 자체 경로만을 시험할 때 사용한다. 제 2 경로는 임의의 제 1 시간 스위치 보드(110)와 다른 시간 스위치 보드(112)와의 루프백 테스트하는 것으로, 제 1 내지 제 n 시간 스위치 보드(110 ∼ 112) 간 경로를 테스트하는데 이용한다. 제 3 경로는 제 1 내지 제 n 시간 스위치 보드(110 내지 112)를 경유하여 제 1 내지 제 n 로컬 링크 보드(120 내지 122)에서 루프백되어 다시 제 1 내지 제 n 시간 스위치 보드(110 내지 112)로 연결되는 경로와 공간 스위치와의 연결 경로를 시험하는 것으로, 시간 스위치 및 링크부(10) 내부 경로를 모두 점검할 수 있다. 제 3 경로에서 수신 시간 스위치 보드(110)와 송신 시간 스위치 보드(112)는 서로간에 다른 보드 또는 동일 보드로 설정할 수 있다. 제 4 경로는 시간 스위치 및 링크부(10)와 연동되는 공간 스위치 및 링크부(도면중에 도시되지 않음)를 시험하기 위한 경로로서, 시간 스위치 및 링크부(10) 내의 제 1 내지 제 n 로컬 링크 보드(120 내지 122) 간을 연결시켜 루프백시킴으로써, 공간 스위치 및 링크부 내의 링크와 시간 스위치 및 링크부(10)와의 모의 시험이 가능한 경로이다.
디바이스 제어 보드(100)는 터미널(20)로부터 제 1 경로 시험 명령이 입력되었는가 판단한다(단계 5006).
디바이스 제어 보드(100)는 터미널(20)로부터 제 2 경로 시험 명령이 입력되었는가 판단한다(단계 5036).
디바이스 제어 보드(100)는 터미널(20)로부터 제 3 경로 시험 명령이 입력되었는가 판단한다(단계 5064).
디바이스 제어 보드(100)는 터미널(20)로부터 제 4 경로 시험 명령이 입력되었는가 판단한다(단계 5090).
단계(5006)에서 판단하여 터미널(20)에서 디바이스 제어 보드(100)로 제 1 경로 시험 명령이 수신된 경우면, 시험 대상이 되는 해당 제 1 내지 제 n 시간 스위치 보드(110 내지 112)를 선택한다(단계 5008).
시험자는 시험할 제 1 내지 제 n 시간 스위치 보드(110 내지 112)가 보유한 다수의 서브하이웨이 중 하나의 서브하이웨이를 선택한다(단계 5010).
예로, 특정 교환기에서는 하나의 보드에 32 개의 서브하이웨이가 연결된다.
시험자는 서브하이웨이 중에 시험을 시작할 하나의 채널을 선택한다(단계 5012).
특정 교환기에서는 예로, 하나의 서브하이웨이에 64 개의 채널을 수용한다.
시험자는 시험하고자 하는 서브하이웨이의 해당 채널까지의 시험 카운트를 입력한다(단계 5014).
특정 교환기에 있어서 하나의 보드에 최대 2,048 개의 채널 수용이 가능함으로, 특정 교환기에 있어서 카운트의 최대값은 2,047이다.
디바이스 제어 보드(100)에서는 제 1 경로에 따라 설정된 시간 스위치 보드의 경로를 설정한다(단계 5016).
설정된 경로로 제 1 내지 제 n 시간 스위치보드(110 내지 112) 내부에 내장된 BER(Bit Error Rate) 시험 장치에서 해당 채널에 연속된 임의 데이터를 송신한다(단계 5018).
데이터의 송수신 중에 정해진 시간의 지연 시간을 둔다(단계 5020).
제 1 내지 제 n 시간 스위치 보드(110 내지 112) 내부에 내장된 BER 시험 장치에서는 제 1 내지 제 n 시간 스위치 보드(110 내지 112)를 통과하여 루프백 되어온 신호를 수신한다(단계 5022).
제 1 내지 제 n 시간 스위치 보드(110 내지 112) 내부에 내장된 BER 시험 장치에서는 송신된 데이터와 수신된 데이터를 비교 판단한다(단계 5024).
제 1 내지 제 n 시간 스위치 보드(110 내지 112) 내부에 내장된 BER 시험 장치에서는 송신한 데이터와 수신한 데이터가 일치하지 않는 것으로 판단되면, 에러 카운트 값을 증가시키면서 디바이스 제어 보드(100)를 통하여 터미널(20)로 해당 시험 채널에 이상이 있음을 디스플레이 신호로 송신한다(단계 5026).
디바이스 제어 보드(100)는 송신한 데이터와 수신한 데이터가 일치하는 것으로 판단되면, 터미널(20)로 보드의 해당 채널이 이상 없음을 디스플레이 신호로 전송한다(단계 5028).
디바이스 제어 보드(100)는 카운트가 정해진 채널 카운트보다 작은가 판단한다(단계 5030).
카운트가 정해진 채널 카운트보다 작은가 판단하여 작은 경우에는 채널 카운트를 "1" 증가 시킨다(단계 5031).
자신의 경로를 설정하는 단계부터 설정된 채널 카운트보다 크거나 같아지기까지 루프백하여 반복 실행한다.
증가된 카운트가 정해진 채널 수보다 크거나 같은 경우에는 보드의 모든 채널의 검사 결과를 디스플레이한다(단계 5032).
디바이스 제어 보드(100)는 터미널(20)로 제 1 경로 시험을 다시 할 것인지 터미널(20)에 문의하여 시험자가 제 1 경로 시험을 다시 요구하는 가를 판단한다(단계 5034).
터미널(20)로 시험자가 시험을 재 실시할 것인지 문의하여 제 1 경로 시험을 다시한다는 명령어가 입력되면, 단계(5008)의 해당 스위치 보드를 선택하는 단계로 루프백된다.
터미널(20)로 시험자가 시험을 재 실시할 것인지 문의하여 제 1 경로 시험을 다시 하지 않는다는 명령어가 입력되면 경로 선택 메뉴를 표시하는 단계(5002)로 루프백된다.
단계(5036)에서 판단하여 제 2 경로를 시험하는 명령이 입력되었는가 판단하여 제 2 경로를 시험하는 명령이 입력되었으면, 송신되는 스위치 보드와 수신이 되는 스위치 보드를 선택한다(단계 5038).
제 1 내지 제 n 시간 스위치 보드(110 내지 112)와 연결된 해당 서브하이웨이 중 하나의 서브하이웨이를 선택하고 다시, 해당 서브하이웨이 중 시험이 시작되는 채널을 선택한다(단계 5040).
시험자는 채널 카운트를 입력하여 종료되는 채널을 선택한다(단계 5042).
선택된 경로를 셋팅하여 경로를 디바이스 제어 보드(100)에 설정한다(단계 5044).
제 1 내지 제 n 시간 스위치 보드(110 내지 112) 내부에 내장된 BER 시험 장치에서는 설정된 경로를 통하여 해당 채널로 연속된 임의의 데이터를 송신한다(단계 5046).
송수신 중에 정해진 시간의 지연 시간을 준다(단계 5048).
제 1 내지 제 n 시간 스위치 보드(110 내지 112) 내부에 내장된 BER 시험 장치에서는 경로를 통과하여 들어온 데이터를 수신한다(단계 5050).
제 1 내지 제 n 시간 스위치 보드(110 내지 112) 내부에 내장된 BER 시험 장치에서는 송신한 데이터와 수신한 데이터를 비교하여 동일한 데이터인가 판단한다(단계 5052).
제 1 내지 제 n 시간 스위치 보드(110 내지 112) 내부에 내장된 BER 시험 장치에서는 동일한 데이터인가 판단하여 동일한 데이터인 것으로 판단되면, 선택된 경로에 이상이 없음을 터미널(20)로 알린다(단계 5054).
제 1 내지 제 n 시간 스위치 보드(110 내지 112) 내부에 내장된 BER 시험 장치에서는 동일한 데이터인가 판단하여 동일한 데이터가 아닌 것으로 판단되면, 선택된 경로에 오류가 발생하였음을 터미널(20)로 알린다(단계 5056).
디바이스 제어 보드(100)는 증가된 카운트가 정해진 채널 수보다 작은가를 판단한다(단계 5058).
카운트를 "1" 증가 시킨다. 해당 설정된 채널을 경로 설정하는 단계(5044)부터 루프백되어 반복하여 실행한다.
단계(5058)에서 증가된 카운트가 정해진 채널 수보다 작은가를 판단하여 크거나 또는 같은 경우에는 결과를 디스플레이한다(단계 5060).
디바이스 제어 보드(100)는 터미널(20)로 제 3 경로 시험을 다시 할 것인지 터미널(20)에 문의하여 시험자가 제 3 경로 시험을 다시 요구하는 가를 판단한다(단계 5062).
터미널(20)로 시험자가 시험을 재 실시할 것인지 문의하여 제 2 경로 시험을 다시한다는 명령어가 입력되면, 단계(5038)의 해당 송신 스위치 보드 및 수신 스위치 보드를 선택하는 단계로 루프백된다.
터미널(20)로 시험자가 시험을 재 실시할 것인지 문의하여 제 2 경로 시험을 다시 하지 않는다는 명령어가 입력되면 경로 선택 메뉴를 표시하는 단계(5002)로 루프백된다.
도 5b의 단계(5064)에서 판단하여 제 3 경로 시험 명령인 것으로 판단되면, 제 1 내지 제 n 시간 스위치 보드(110 내지 112)의 송신 보드 및 수신 보드를 선택한다(단계 5066).
시험할 제 1 내지 제 n 로컬 링크 보드를(120 내지 122) 선택한다(단계 5068).
여기서, 제 1 내지 제 n 로컬 링크 보드(120 내지 122)의 경우에는 같은 보드 또는 수신 링크 보드와 송신 링크 보드가 상이한 경우에도 가능하지만 수신보드와 송신 보드가 틀린 경우에는 제 1 내지 제 n 로컬 링크 보드(120 내지 122)와 연결된 공간 스위치 링크(도면중에 도시되지 않음)에서 송신 로컬 링크 보드와 수신 로컬 링크 보드 사이의 경로를 연결해 주어야 한다.
시험자는 시험 대상이 되는 시간 스위치의 해당 서브하이웨이중 하나의 서브하이웨이를 선택하고, 해당 서브 하이웨이 중 하나의 채널을 선택하며, 해당 채널의 종료할 채널 카운트를 입력한다(단계 5070).
선택된 경로를 셋팅하여 경로를 디바이스 제어 보드(100)를 통하여 설정한다(단계 5072).
상기 단계에서 제 1 내지 제 n 시간 스위치 보드(110 내지 112) 내부에 내장된 BER 시험 장치에 설정된 경로를 통하여 연속된 임의의 데이터를 송신하고 수신한다(단계 5074).
송/수신 중에 정해진 시간의 지연시간을 준다.
제 1 내지 제 n 시간 스위치 보드(110 내지 112) 내부에 내장된 BER 시험 장치에서는 경로를 통하여 들어온 데이터를 수신한다(단계 5076).
제 1 내지 제 n 시간 스위치 보드(110 내지 112) 내부에 내장된 BER 시험 장치는 송신한 데이터와 수신한 데이터가 동일한 데이터인가 판단한다(단계5078).
제 1 내지 제 n 시간 스위치 보드(110 내지 112) 내부에 내장된 BER 시험 장치는 단계(5078)에서 판단하여 동일한 데이터가 아닌 것으로 판단되면, 선택된 경로에 오류가 발생하였음을 디바이스 제어보드(100)를 통하여 터미널(20)로 알린다(단계 5080).
단계(5078)에서 판단하여 동일한 데이터인 것으로 판단되면, 선택된 경로에 이상이 없음을 터미널(20)로 알린다(단계 5082).
디바이스 제어 보드(100)는 카운트가 정해진 채널 카운트보다 작은가 판단한다(단계 5084).
증가된 카운트가 정해진 채널 카운트보다 작은 경우, 카운트를 "1" 증가시키고 경로를 설정하는 단계부터 루프백되어 반복하여 실행한다(단계 5080).
단계(5084)에서 판단하여 카운트가 정해진 채널 카운트보다 크거나 같은 경우에는 시험된 디스플레이 정보를 터미널로 송신하여 터미널(20)에 시험 결과를 디스플레이한다(단계 5086).
디바이스 제어 보드(100)는 터미널(20)로 제 3 경로 시험을 다시 할 것인지 터미널(20)에 문의하여 시험자가 제 3 경로 시험을 다시 요구하는 가를 판단한다(단계 5088).
터미널(20)로 시험자가 시험을 다시 실시할 것인지 문의하여 제 3 경로 시험을 다시한다는 명령어가 입력되면, 단계(5066)의 해당 송신 스위치 보드 및 수신 스위치 보드를 선택하는 단계로 루프백된다.
터미널(20)로 시험자가 시험을 재 실시할 것인지 문의하여 제 3 경로 시험을 다시 하지 않는다는 명령어가 입력되면 경로 선택 메뉴를 표시하는 단계(5002)로 루프백된다.
제 4 판단 단계에서 판단하여 제 4 경로 시험 명령 입력인 것으로 판단되면, 시험하고자 하는 제 1 내지 제 n 로컬 링크 보드(120 내지 122)를 선택한다(단계 5092).
해당 로컬 링크에 속한 다수의 서브하이웨이 중에서 하나의 서브하이웨이를 선택하고, 서브하이웨이에 속한 다수의 채널 중 하나의 채널을 선택한다(단계 5094).
시험을 시작하고자 하는 해당 채널의 카운트 넘버를 입력한다(단계 5096).
선택된 경로를 디바이스 제어 보드(100)에 설정한다(단계 5098).
제 4 경로 시험을 다시 할 것인지 시험자의 터미널로 문의하여 다시 로컬 링크 보드 간을 시험하고자 하는가 판단한다(단계 5100).
제 1 내지 제 n 로컬 링크 보드(120 내지 122) 간을 재시험하고자 하는 경우 시험하고자 하는 제 1 내지 제 n 로컬 링크 보드(120 내지 122)를 선택하는 단계로 루프백 되도록하며, 제 1 내지 제 n 로컬 링크 보드(120 내지 122) 간을 다시 시험하고자 하지 않는 경우면, 도 1의 터미널(20)로 경로 선택 메뉴를 표시하는 단계로 루프백되도록 한다.
터미널(20)로 시험자가 시험을 재 실시할 것인지 문의하여 제 4 경로 시험을 다시 하지 않는다는 명령어가 입력되면 경로 선택 메뉴를 표시하는 단계(5002)로 루프백된다.
그리고, 제 1 경로, 제 2 경로, 제 3 경로, 제 4 경로 명령이 모두 아닌 경우 시험을 종료할 것인가를 시험자에게 입력 문의하여 입력된 명령이 시험 종료 명령인지를 판단한다(단계 5102).
시험을 종료하는 명령이 아닌 것으로 판단되면 시험 명령을 체크하여 제 1 경로 시험 명령인가를 판단하는 단계(5006)로 루프백되며, 시험을 종료하는 명령으로 판단되면 단계(402)의 기능 시험 메뉴를 표시하는 단계로 루프백된다.
도 6은 본 발명에 따른 전전자 교환기에서 터미널과 공간 스위치 및 링크부의 연결을 도시한 블록 구성도로, 터미널(132) 및 공간 스위치 및 링크부(130)로 구성된다. 공간 스위치 및 링크부(130)는 디바이스 제어보드(134), 클럭 분배 공급 보드(136), 다수의 제 1 내지 제 n 중앙 데이터 링크 보드(138 내지 140), 및 다수의 제 1 내지 제 n 메트릭스 스위치 보드(142 내지 144)를 구비한다.
동 도면에 있어서, 공간 스위치 및 링크부(130)는 외부의 시간 스위치로부터의 호를 스위칭하고, 외부의 시간 스위치와 정합하여 연결함으로써, 각각의 호가 수신한 가입자 정합 서브시스템(Access Switching Subsystem : ASS)과 호를 착신할 가입자 정합 서브시스템 간의 호를 연결한다.
터미널(132)은 공간 스위치 및 링크부(130)를 시험하기 위한 명령을 입력한 단말기로서, 시험자가 터미널(132)을 통하여 시험 명령을 입력하면 공간 스위치 및 링크부(130) 내의 디바이스 제어 보드(134)에서 공간 스위치 및 링크부(130)를 시험하고 시험 결과 정보를 디바이스 제어 보드(134)로부터 받아 이를 가시적인 정보로 시험자에세 디스플레이하여 준다.
공간 스위치 및 링크부(130) 내의 제 1 내지 제 n 메트릭스 스위치 보드(142 내지 144)는 발신 가입자로부터의 호 요청에 따라 물리적인 스위칭을 통하여 정해진 채널 간을 연결하여 스위칭한다.
공간 스위치 및 링크부(130) 내의 제 1 내지 제 n 중앙 데이터 링크 보드(138 내지 140)는 다수의 보드로 이루어지며, 제 1 내지 제 n 메트릭스 스위치 보드(142 내지 144)에서 연결된 채널을 대국과 연결하여 발신 가입자와 착신 가입자를 연결하며, 외부의 시간 스위치와 정합을 담당한다.
공간 스위치 및 링크부(130) 내의 디바이스 제어 보드(134)는 다수의 제 1 내지 제 n 메트릭스 스위치 보드(142 내지 144) 및 제 1 내지 제 n 중앙 데이터 링크 보드(138 내지 140)로 임의의 데이터 신호를 보내고 다시 이를 수신하여 수신한 데이터와 송신한 데이터를 비교 판단하여 연결 상태 및 보드의 이상 유무를 시험한다.
클럭 분배 공급 보드(136)는 교환기 내의 장치 간에 네트워크를 구성하기 위하여 동기를 위한 기본 클럭을 발생시켜 교환기의 실시간 시계 클럭 공급을 담당한다.
도 7은 본 발명에 따른 전전자 교환기에서 타임 슬롯 및 링크부를 검사하는 방법을 나타낸 흐름도이다.
먼저, 터미널(132)에 명령 입력을 대기하는 초기 화면이 실행된다(단계 702).
시험 종료 명령인가를 판단한다(단계 704).
디바이스 제어 보드(134)에서는 명령어 입력을 판단하여 시험 종료 명령이 입력된 경우는 모든 시험을 종료하고, 시험을 시작하라는 명령이 입력되면, 터미널(132)에 시험 유형을 선택하는 메뉴를 나타내어 시험자가 시험의 유형을 선택 가능하도록 한다(단계 706).
디바이스 제어 보드(134)는 시험자가 선택한 명령이 공간 스위치 및 링크부(130)를 자동 시험하는 명령인가를 판단한다(단계 708).
판단 결과 자동 시험하는 경우 도 8에 따른 자동 시험을 한다.
디바이스 제어부(134)는 시험자가 선택한 명령이 기능 시험 경로 명령인가를 판단한다(단계 710).
단계(710)에서의 판단 결과 기능 시험 경로인 경우 도 9에 따른 기능 시험을 한다.
시험자가 시험 종료 명령을 입력하였는가를 판단한다(단계 712).
단계(712)에서 선택한 명령이 종료 명령이 아닌 경우에는 시험자가 선택한 명령이 자동 시험 명령인가를 판단하는 단계로 루프백되고, 시험자가 선택한 키가 종료 명령인 경우에는 초기 화면이 실행되는 단계(702)로 루프백된다(단계 712).
도 8은 도 7에 따라 타임 슬롯 및 링크부를 자동으로 시험하는 방법을 설명한 흐름도이다.
먼저, 시험자에 의해 터미널(132)에서 입력된 자동 시험 명령에 따라 디바이스 제어 보드(134)에서는 각 기능별 및 경로 별로 공간 스위치 및 로컬 링크부(130)의 기능별 시험을 실시한다(단계 802).
시험이 종료되었는가 디바이스 제어 보드(134)에서 주기적으로 판단한다(단계 804).
시험이 종료되지 않은 경우면, 시험 중지 명령이 시험자로부터 입력되었는가를 판단한다(단계 806).
시험이 종료된 경우면, 시험을 종료한다(단계 812).
디바이스 제어 보드(134)는 시험을 종료하고 시험 결과를 터미널로 전송하여 디스플레이한다(단계 814).
시험이 종료되었으면, 시험자에게 자동 시험의 재시험에 대한 명령을 요구하여 자동 시험을 재시험하는 경우인가 판단한다(단계 816).
단계(816)에서 판단하여 재시험하는 경우면, 단계(802)의 각 기능별 시험하는 단계로 루프백되고, 재시험하지 않는 것으로 판단되면, 도 7의 시험 유형을 선택하는 단계(706)로 루프백된다.
그리고, 도 7의 시험 유형 선택 메뉴를 시험자의 터미널(132)에 디스플레이하는 단계(1002)로 루프백된다.
단계(806)에서 판단하여 시험 중지 명령이 입력된 경우면, 시험을 중지하고 대기한다(단계 808).
시험을 중지하고 있는 중에 가입자의 터미널(132)로부터 시험을 중지하라는 명령이 입력되었는가를 판단한다(단계 810).
시험을 중지하라는 명령이 입력된 경우면, 단계(812)부터 단계(816) 까지를 실행한다.
도 9는 도 7에 따라 타임 슬롯 및 링크부를 시험자의 필요에 따라 선택하여 시험하는 흐름도로, 임의의 제 1 내지 제 n 메트릭스 스위치 보드(142∼144) 및 제 1 내지 제 n 로컬 링크 보드(138 내지 140)를 선택하여 공간 스위치 및 링크부(130)의 이상 유무 시험을 설명하면 다음과 같다.
단계(710)의 기능 시험을 시작하라는 명령이 터미널(132)을 통하여 디바이스 제어 보드(134)로 입력된다.
기능 시험 종류를 선택하는 메뉴를 터미널(132)에 디스플레이시켜 시험의 유형을 시험자가 선택 가능하도록 한다(단계 902).
디바이스 제어 보드(134)에서는 명령 입력 체크하여 제어 메모리 초기화 명령이 입력되었는가 판단한다(단계 904).
디바이스 제어 보드(134)에서는 명령 입력 체크하여 제어 메모리 시험 명령이 입력되었는가 판단한다(단계 926).
디바이스 제어 보드(134)에서는 명령어 입력 체크하여 상태 읽기 시험 명령이 입력되었는가 판단한다(단계 952).
디바이스 제어 보드(134)에서는 명령어 입력 체크하여 경로 시험 명령이 입력되었는가 판단한다(단계 962).
상기 단계(904)에서 판단하여 제 1 내지 제 n 메트릭스 스위치 보드(142 내지 144)의 제어 메모리 시작 명령이 입력된 경우 시험하고자하는 해당 제 1 내지 제 n 메트릭스 스위치 보드(142 내지 144)를 선택한다(단계 906).
제어 메모리의 카운트(n)를 "0"으로 셋팅한다(단계 908).
"0" 카운트(n)의 제 1 내지 제 n 메트릭스 스위치 보드(142 내지 144) 내의 제어 메모리를 읽어서 저장한다(단계 910).
저장된 제어 메모리의 초기화된 값을 읽어서 카운트(n) 값이 정상인가를 판단한다(단계 912).
초기화 값이 예를 들어 '0000FFFF'로 셋팅되어 있어야 정상인데 '0000FFFF'이 아니면 정상적으로 초기화 되지 아니한 경우로, 제어 메모리가 비정상적으로 초기화된 경우이다. 디바이스 제어 보드(134)에서 초기화 값을 읽어 오류가 발생한 것으로 판단되면 제어 메모리가 비정상으로 초기화되었음을 터미널(132)로 알려준다(단계 914).
저장된 제어 메모리의 값이 '0000FFFF'이면 제어 메모리가 정상으로 초기화 되었다. 디바이스 제어 보드(134)에서 초기화 값을 읽어 정상으로 초기화된 것으로 판단되면, 정상으로 초기화되었음을 터미널(132)로 알려준다(단계 916).
제어 메모리의 용량에 해당하는 메모리의 모든 바이트를 체크한다. 예로, 제어 메모리의 용량이 2K 바이트 즉, 2,048 바이트라면, 카운트(n)가 2047보다 작은가를 체크한다. 즉, 카운트(n) 값이 메모리 용량보다 1 작은 값보다 작은가 판단한다(단계 918).
단계(918)에서 판단하여 카운트(n) 값이 해당 제어 메모리 용량보다 작은 경우에는 메모리 카운트를 "1" 증가시킨다(단계 920).
그리고, 해당 제어 메모리를 읽는 단계(910)으로 루프백되어 해당 제어 메모리의 초기화를 카운트를 증가시키며 해당 제어 메모리 용량까지 검사한다.
카운트(n) 값이 해당 제어 메모리 용량보다 크거나 같은 경우에는 검사 결과를 터미널(132)에 디스프레이한다(단계 922).
해당 제어 메모리 용량보다 같거나 큰 경우에는 메모리 초기화를 다시 할 것인지 터미널(132)에 문의하여 시험자가 제어 메모리의 초기화를 다시 요구하는 경우인가 판단한다(단계 924).
단계(924)에서 판단하여 제어 메모리의 초리화를 요구하는 경우로 판단되면, 메모리 초기화를 할 해당 보드를 선택하는 단계(906)으로 루프백되고, 시험자가 제어 메모리의 초기화를 다시 요구하지 않는 경우에는 시험 기능 시험 종류를 선택하는 메뉴를 터미널에 나타내는 단계(902)로 루프백된다.
상기 단계(926)에서 판단하여 제어 메모리 시험 명령이 입력된 것으로 판단되면, 시험하고자하는 해당 제 1 내지 제 n 메트릭스 스위치 보드(142 내지 144)를 선택하고, 입력할 데이터를 선택한다(단계 928).
제어 메모리의 카운트(n)를 "0"으로 셋팅한다(단계 930).
디바이스 제어 보드(134)에서는 선택된 데이터를 해당 제 1 내지 제 n 메트릭스 스위치 보드(142 내지 144)의 제어 메모리에 기록한다(단계 932).
데이터를 기록하고 다시 이를 읽는 사이에 정해진 시간 동안의 시간을 지연시킨다(단계 934).
제어 메모리에 쓴 데이터를 읽는다(단계 936).
디바이스 제어 보드(134)에서는 입력한 데이터와 읽은 데이터가 일치하는가를 판단한다(단계 938).
단계(938)에서 판단하여 입력한 데이터와 읽은 데이터가 일치하지 않는 경우에는 제어 메모리에 오류가 발생한 경우이므로 해당 제어 메모리에 오류가 있음을 터미널(132)로 알린다(단계 940).
디바이스 제어 보드(134)에서 판단하여 쓴 데이터와 읽은 데이터가 일치하는 경우, 해당 카운트의 제어 메모리에 이상이 없음을 터미널(132)로 알린다(단계 942).
디바이스 제어 보드(134)에서는 제어 메모리의 용량에 해당하는 메모리의 모든 바이트를 체크한다. 예로, 제어 메모리의 용량이 2K 바이트라면 카운트가 2,047보다 작은가를 체크한다. 즉, 카운트 값이 메모리 용량보다 1 작은 값보다 작은가 판단한다(단계 944)
단계(944)에서 판단하여 작은 경우에는 메모리 카운트(n)를 "1" 증가시킨다(단계 946).
해당 제어 메모리에 임의의 데이터를 쓰는 단계(928)로 루프백되어 해당 제어 메모리의 카운트(n)를 증가시키며 해당 제어 메모리 용량까지 검사한다.
제 1 내지 제 n 메트릭스 스위치 보드(142 내지 144) 내의 제어 메모리를 검사한 결과를 터미널(132) 화면에 디스플레이한다(단계 948).
해당 제어 메모리 용량보다 같거나 큰 경우에는 메모리 초기화를 다시 할 것인지 터미널(132)에 문의하여 제어 메모리의 시험자가 초기화 요구하는 가를 판단한다(단계 950).
재시험을 요구하는 경우 시험하고자하는 해당 제 1 내지 제 n 메트릭스 스위치 보드(142 내지 144)를 선택하고, 입력할 데이터를 선택하는 단계(928)로 루프백된다.
단계(952)에서 판단하여 상태 읽기 시험 명령이 입력된 것으로 판단되면, 상태 레지스터의 데이터를 읽어들일 해당 메트릭스 스위치 보드를 선택한다(단계 954).
상태 레지스터의 데이터를 읽는다(단계 956).
디바이스 제어 보드(134)에서는 단계(960)에서 읽은 테이터를 분석한다.
디바이스 제어 보드(134)에서는 분석된 결과를 단말기의 화면에 디스플레이한다(단계 958).
디바이스 제어 보드(134)에서는 상태 읽기 시험을 다시 할 것인지 터미널(132)에 문의하여 시험자가 상태 읽기 시험 요구하는가 판단한다(단계 960).
단계(960)에서 판단하여 상태 읽기 시험을 요구하는 경우이면, 상태 레지스터의 데이터를 읽어들일 해당 메트릭스 스위치 보드를 선택하는 단계(954)로 루프백된다.
디바이스 제어 보드(134)에서는 경로 시험 명령이 입력되었는가를 판단한다(단계 962).
단계(962)에서 판단하여 경로 시험 명령이 입력된 경우 도 10의 경로 시험 기능 시험 메뉴를 표시하는 단계(1002)의 단계부터 실행하며, 경로 시험 명령이 입력되지 않은 경우면, 시험 종료 명령이 입력되었는가 판단한다(단계 964).
단계(964)에서 판단하여 시험 종료 명령이 입력된 경우면, 시험 유형을 선택하는 단계(706)으로 루프백되며, 시험 종료 명령이 입력되지 않은 경우면, 시험 기능 선택 메뉴를 표시하는 단계(902)로 루프백된다.
도 10은 도 9에 따라 타임 슬롯 및 링크부의 경로를 시험자의 필요에 따라 선택하여 시험하는 흐름도이다.
먼저, 터미널(132)로 경로 선택 메뉴를 표시한다(단계 1002).
터미널(132)에서 시험자는 고정 데이터를 입력하여 시험할 것인지 아니면, 임의의 데이터를 디바이스 제어 보드(134)에서 입력할지를 선택한다(단계 1004).
한편, 경로 시험은 크게 3 가지의 경로로 나눈다. 제 1 경로는 임의의 클럭 분배 공급 보드(136)를 루프백시켜 시험하는 것으로, 자체 경로만을 시험할 때 사용한다. 제 2 경로는 임의의 클럭 분배 공급 보드(136)와 다른 제 1 중앙 데이터 링크 보드(112)와의 루프백 테스트하는 것으로, 중간에 메트릭스 스위치 보드를 거쳐 경로를 설정하여 테스트하는데 수신측 중앙 데이터 링크 보드의 내부에서 루프백되어 경로를 테스트하는 것이다. 제 3 경로는 송신 중앙 데이터 링크 보드에서 메트릭스 스위치 보드를 거쳐 수신측 중앙 데이터 링크 보드로 연결되는 경로로 공간 스위치 및 링크부(130)의 모든 가능한 경로를 점검할 수 있다.
그리고, 루프백은 보드 내에서 하드웨어적으로 구성되어 있는 것을 이용하는 경우와 보드 외부에서 루프백 케이블을 이용하여 테스트하는 경로로 나눌 수 있다. 경로 설정은 입력된 하이웨이와 채널 데이터를 이용하여 보드 내부에 경로를 소프트웨어적으로 연결하고, 이 경로에 테스트 데이터를 보내고 일정 시간이 지난 다음 경로에서 돌아오는 데이터를 읽어 보낸 데이터와 일치하는지 검사하여 이상 유무를 판단한다.
디바이스 제어 보드(134)는 터미널(132)로부터 제 1 경로 시험 명령이 입력되었는가 판단한다(단계 1006).
디바이스 제어 보드(134)는 터미널(132)로부터 제 2 경로 시험 명령이 입력되었는가 판단한다(단계 1034).
디바이스 제어 보드(134)는 터미널(132)로부터 제 3 경로 시험 명령이 입력되었는가 판단한다(단계 1040).
단계(1006)에서 판단하여 터미널(132)에서 디바이스 제어 보드(134)로 제 1 경로 시험 명령이 수신된 경우면, 시험 대상이 되는 해당 제 1 내지 제 n 중앙 데이터 링크 보드(138 내지 140)를 선택하고, 시작할 채널과 채널 카운트(N)를 입력한다(단계 1008).
디바이스 제어 보드(134)에서는 제 1 경로에 따라 설정된 제 1 내지 제 n 중앙 데이터 링크 보드(142 내지 144)의 경로를 설정한다(단계 1010).
설정된 경로로 시험자가 고정 데이터로 설정하였는지 또는, 임의의 데이터로 설정하였는지 디바이스 제어 보드(134)에서 판단한다(1012).
시험자가 고정 데이터로 설정한 경우면, 설정된 경로로 고정 데이터를 입력받는다(단계 1014).
시험자가 고정 데이터로 설정하지 않은 경우면, 디바이스 제어 보드(134)에서 임의의 데이터를 설정된 경로로 해당 채널에 임의의 데이터를 생성한다(단계 1016).
고정/임의의 데이터를 설정된 경로로 송신한다(단계 1018).
데이터의 송수신 중에 정해진 시간의 지연 시간을 둔다.
디바이스 제어 보드(134)는 제 1 내지 제 n 메트릭스 스위치 보드(136 내지 112)를 통과하여 루프백 되어온 데이터를 수신한다(단계 1020).
디바이스 제어 보드(134)는 송신된 데이터와 수신된 데이터를 비교 판단한다(단계 1022).
디바이스 제어 보드(134)는 송신한 데이터와 수신한 데이터가 일치하지 않는 것으로 판단되면, 터미널(132)로 해당 시험 채널에 이상이 있음을 디스플레이 신호로 송신한다(단계 1024).
디바이스 제어 보드(134)는 송신한 데이터와 수신한 데이터가 일치하는 것으로 판단되면, 터미널(132)로 보드의 해당 채널이 이상 없음을 디스플레이 신호로 전송한다(단계 1026).
디바이스 제어 보드(134)는 채널 카운트(n)가 정해진 채널 카운트(N)보다 작은가 판단한다(단계 1028).
단계(1028)에서 판단하여 작은 경우에는 채널 카운트(n)를 "1" 증가 시킨다(단계 1029).
그리고, 자신의 경로를 설정하는 단계(1010)부터 설정된 채널 카운트보다 크거나 같아지기까지 루프백하여 반복 실행한다.
증가된 카운터가 정해진 채널 카운트보다 크거나 같은 경우에는 보드의 모든 채널의 검사 결과를 디스플레이한다(단계 1030).
디바이스 제어 보드(134)는 터미널(132)로 경로 시험을 다시 할 것인지 터미널(132)에 문의하여 시험자가 제 1 경로 시험을 다시 요구하는 가를 판단한다(단계 1032).
단계(1032)에서 제 1 경로 시험을 다시한다는 명령어가 입력되면, 단계(1006)의 제 1 경로 시험 명령이 입력되었는가 판단하는 단계로 루프백된다.
터미널(132)로 시험자가 시험을 재실시할 것인지 문의하여 제 1 경로 시험을 다시 하지 않는다는 명령어가 입력되면 경로 선택 메뉴를 표시하는 단계(1002)로 루프백된다.
단계(1034)에서 판단하여 제 2 경로를 시험하는 명령이 입력되었는가 판단하여 제 2 경로를 시험하는 명령이 입력되었으면, 데이터를 송신하는 중앙 데이터 링크 보드와 데이터를 수신하는 중앙 데이터 링크 보드 및 이를 시험하고자하는 제 1 내지 제 n 메트릭스 스위치 보드(142 내지 144)를 선택한다(단계 1036).
제 1 내지 제 n 메트릭스 스위치 보드(142 내지 144)와 연결된 해당 서브하이웨이 중 하나의 서브하이웨이를 선택하고 다시, 해당 서브하이웨이 중 시험이 시작되는 채널을 선택한하고, 채널 카운트를 입력하여 종료되는 채널을 선택한다(단계 1038).
경로 선택된 경로를 셋팅하여 경로를 디바이스 제어 보드(134)에 설정하는 단계(1010)에서부터 단계(1032)까지의 단계를 실행한다.
단계(1040)에서 판단하여 제 3 경로 시험 명령인 것으로 판단되면, 중앙 데이터 링크 보드(138 내지 140)의 송신 보드 및 수신 보드를 선택하고, 시험할 해당 제 1 내지 제 n 메트릭스 스위치 보드(142 내지 144)를 선택한다(단계 1042).
시험이 시작되는 채널을 선택한하고, 채널 카운트를 입력하여 종료되는 채널을 선택한다(단계 1044).
여기서, 제 1 내지 제 n 중앙 데이터 링크 보드(138 내지 140)의 경우 외부에서 송신 로컬 링크 보드와 수신 로컬 링크 보드를 루프백 케이블로 연결하여 준다(단계 1046).
경로 선택된 경로를 셋팅하여 경로를 디바이스 제어 보드(134)에 설정하는 단계(1010)에서부터 단계 1032까지의 단계를 실행한다.
단계(1040)에서 판단하여 제 1 경로, 제 2 경로, 제 3 경로, 명령이 모두 아닌 경우 시험을 종료할 것인가를 시험자에게 입력 문의하여 입력된 명령이 시험 종료 명령인지를 판단한다(단계 1048).
시험을 종료하는 명령이 아닌 것으로 판단되면 시험 명령을 체크하여 제 1 경로 시험 명령인가를 판단하는 단계(1006)으로 루프백되며, 시험을 종료하는 명령으로 판단되면 단계(902)의 기능 시험 메뉴를 표시하는 단계로 루프백된다.
상기와 같은 경로는 항상 클럭 분배 공급 보드(136)을 경유하여 시험한다. 시험하는 경로는 디바이스 제어보드에서 클럭 분배 공급 보드(136)으로 클록 분배 공급 보드(136)에서 제 1 내지 제 n 중앙 데이터 링크 보드(138 내지 140), 그리고 제 1 내지 제 n 메트릭스 스위치 보드(142 내지 144)를 경유한다.
이상 설명한 바와 같이, 본 발명은 시간 스위치 및 링크부(10) 내에서 시험자가 시험하기 원하는 각각의 제 1 내지 제 n 시간 스위치 보드(110 내지 112), 제 1 내지 제 n 로컬 링크 보드(120 내지 122), 서브하이웨이 및 채널의 경로를 정의하고 보드 간 또는 보드 내의 중요 장치의 시험 방법을 정의함으로써, 시험자의 편이에 따라 자동 또는 수동으로 시간 스위치 및 링크부(10)를 시험할 수 있다.
또한, 공간 스위치 및 링크부(130) 내에서 시험자가 시험하기 원하는 각각의 제 1 내지 제 n 메트릭스 스위치 보드(142 내지 144), 제 1 내지 제 n 중앙 데이터 링크 보드(138 내지 140), 상기 보드의 채널의 경로를 정의하고 보드 간 또는 보드 내의 중요 장치의 시험 방법을 정의함으로써, 시험자의 편이에 따라 자동 또는 수동으로 공간 스위치 및 링크부(130)를 시험할 수 있다.
특정 장치와 관련하여 본 발명의 원리를 전술하였는데, 이러한 기술된 바는 단지 예시에 불과하며, 첨부된 특허 청구 범위에서 기술된 바와 같은 본 발명의 기술 사상에 한정되는 것은 아니다.

Claims (16)

  1. 디바이스 제어 보드, 다수의 시간 스위치 보드, 및 다수의 로컬 링크 보드를 포함하는 시간 스위치 및 링크부, 터미널을 구비하는 전전자 교환기에서 시간 스위치 및 링크부 시험 방법에 있어서:
    상기 터미널의 명령 입력을 대기하는 초기 화면에서 명령 입력을 체크하여 시험을 종료하라는 명령이 입력되면, 모든 시험을 종료하는 제 1 단계;
    상기 터미널의 명령 입력을 대기하는 초기 화면에서 명령 입력을 체크하여 시험을 시작하라는 명령이 입력되면, 상기 디바이스 제어 보드가 상기 터미널에 시험 유형을 선택하도록 하는 제 2 단계;
    자동 시험 명령이면, 자동 시험을 하는 제 3 단계;
    기능 시험 명령이면, 기능 시험을 하는 제 4 단계;
    종료 명령인 경우에는 시험을 종료하고 상기 제 1 단계부터 다시 시작하는 제 5 단계를 포함하는 전전자 교환기에서 시간 스위치 및 링크부 시험 방법.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 제 3 단계는, 상기 터미널에서 입력된 자동 시험 명령에 따라 각 기능별로 상기 다수의 시간 스위치 보드 및 상기 다수의 로컬 링크 보드를 시험하는 제 21 단계;
    상기 디바이스 제어 보드가 시험 종료 여부를 판단하여 시험 종료 경우 상기 제 2 단계로 루프백하는 제 22 단계;
    시험이 종료되지 않은 경우 시험 종료 여부를 시험자에게 입력 요구하여 재시험의 경우 상기 제 21 단계로 루프백하는 제 23 단계를 구비하는 것을 특징으로하는 전전자 교환기에서 시간 스위치 및 링크부 시험 방법.
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 제 4 단계는, 시험을 시작하라는 명령이 입력되면 기능 시험 종류를 선택하는 메뉴를 상기 터미널에 디스플레이시키는 제 31 단계;
    입력되는 명령어를 체크하여 제어 메모리 초기화 명령 입력 여부를 판단하는 제 32 단계;
    입력되는 명령어를 체크하여 상기 제어 메모리 시험 명령 입력 여부를 판단하는 제 33 단계;
    입력되는 명령어를 체크하여 이중화 명령 입력 여부를 판단하는 제 34 단계;
    입력되는 명령어를 체크하여 상태 읽기 시험 명령 입력 여부를 판단하는 제 35 단계;
    입력되는 명령어를 체크하여 경로 시험 명령 입력 여부를 판단하는 제 36 단계;
    상기 제 32 단계에서 판단하여 상기 다수의 시간 스위치 보드 내의 있는 상기 제어 메모리 시작 명령이 입력된 경우 상기 제어 메모리에 저장된 초기화된 값을 읽어서 초기화 값 정상 여부를 판단하는 제 37 단계;
    상기 디바이스 제어 보드에서 초기화 값을 읽어 초기화 값이 비정상인 것으로 판단되면 상기 제어 메모리에 오류가 발생하였음을 상기 터미널로 알려주는 제 38 단계;
    상기 디바이스 제어 보드에서 초기화 값을 읽어 초기화 값이 정상인 것으로 판단되면 정상으로 초기화되었음을 상기 터미널로 알려주는 제 39 단계;
    상기 제어 메모리의 용량에 해당하는 메모리의 모든 바이트를 체크하는 제 40 단계;
    시험자가 상기 제어 메모리의 초기화를 다시 요구하는 경우 메모리 카운트하는 단계로 루프백하는 제 41 단계;
    상기 제 33 단계에서 상기 제어 메모리 시험 명령이 입력되면 다수의 시간 스위치 보드 내의 제어 메모리로 임의의 데이터를 입력하는 제 42 단계;
    상기 제어 메모리에 쓴 데이터를 읽어들이는 제 43 단계;
    사기 입력한 데이터와 상기 읽은 데이터가 일치하는지 여부를 판단하는 제 44 단계;
    상기 입력한 데이터와 상기 읽은 데이터가 일치하는 경우, 해당 카운트의 제어 메모리에 이상이 없음을 상기 터미널(20)로 전송하는 제 45 단계;
    상기 디바이스 제어 보드에서 판단하여 쓴 데이터와 읽은 데이터가 일치하지 않는 경우 해당 제어 메모리에 오류가 있음을 상기 터미널로 전송하는 제 46 단계;
    제어 메모리의 용량에 해당하는 메모리의 모든 바이트를 체크하는 제 47 단계;
    해당 제어 메모리 용량보다 같거나 큰 경우에는 메모리 초기화를 다시 할 것인지 여부를 상기 터미널에 문의하여 제어 메모리의 시험자가 초기화 요구하는 경우 상기 다수의 시간 스위치 보드 내의 제어 메모리로 임의의 데이터를 입력하는 단계로 루프백하는 제 48 단계;
    해당 제어 메모리 용량보다 같거나 큰 경우에는 메모리 초기화를 다시 할 것인지 여부를 상기 터미널에 문의하여 제어 메모리의 시험자가 초기화 요구하지 않는 경우 기능 시험 종류를 선택하는 메뉴를 상기 터미널에 디스플레이시키는 단계로 루프백하는 제 49 단계;
    제 34 판단 단계에서 이중화 시험 명령어 입력인가 판단하여 두 개의 보드 중 임의의 보드를 선택하여 액티브 여부를 판단하는 제 50 단계;
    액티브인가 판단하여 선택된 보드가 액티브인 경우에는 선택된 보드를 액티브로 동작시키는 제 51 단계;
    액티브인가 판단하여 선택된 보드가 액티브가 아닌 경우에는 선택되지 않은 보드를 액티브로 동작시키는 제 52 단계;
    이중화 시험을 다시 할 것인지 여부를 상기 터미널에 문의하여 시험자가 이중화 시험을 요구하는 경우 메모리 카운트하는 단계로 루프백하는 제 53 단계;
    이중화 시험을 다시 할 것인지 여부를 상기 터미널에 문의하여 시험자가 이중화 시험을 요구하지 않는 경우 기능 시험 종류를 선택하는 메뉴를 상기 터미널에 디스플레이시키는 단계로 루프백하는 제 54 단계;
    제 35 판단 단계에서 판단하여 상태 읽기 시험 명령이 입력된 것이면 상태 레지스터의 데이터를 읽는 제 55 단계;
    상기 디바이스 제어 보드는 테이터를 분석하는 제 56 단계;
    분석된 결과를 상기 터미널의 화면에 표시하는 제 57 단계;
    상태 읽기 시험을 다시 할 것인지 여부를 상기 터미널에게 문의하여 제어 메모리의 시험자가 상태 읽기 시험 요구하는 경우 상태 레지스터의 데이터를 읽는 단계로 루프백하는 제 58 단계;
    상태 읽기 시험을 다시 할 것인지 여부를 상기 터미널에 문의하여 제어 메모리의 시험자가 상태 읽기 시험 요구하지 않는 경우 기능 시험 종류를 선택하는 메뉴를 상기 터미널에 디스플레이시키는 단계로 루프백하는 제 59 단계;
    제 36 판단 단계에서 판단하여 경로 시험 명령 입력으로 판단되면, 경로 시험하는 제 60 단계를 구비하는 것을 특징으로하는 전전자 교환기에서 시간 스위치 및 링크부 시험 방법.
  4. 제 3 항에 있어서,
    상기 경로 시험 단계는, 상기 터미널로 경로 선택 메뉴를 표시하는 제 401 단계;
    자동 경로 시험인가 또는 기능 경로 시험인가를 선택하는 제 402 단계;
    상기 터미널로부터 제 1 경로 시험 명령 입력 여부를 판단하는 제 403 단계;
    상기 터미널로부터 제 2 경로 시험 명령 입력 여부를 판단하는 제 404 단계;
    상기 터미널로부터 제 3 경로 시험 명령 입력 여부를 판단하는 제 405 단계;
    상기 터미널로부터 제 4 경로 시험 명령 입력 여부를 판단하는 제 406 단계;
    상기 제 403 단계에서 판단하여 상기 터미널에서 상기 디바이스 제어 보드로 제 1 경로 시험 명령이 수신된 경우 시험 대상이 되는 상기 다수의 시간 스위치 보드를 선택하는 제 407 단계;
    상기 다수의 시간 스위치 보드가 보유한 다수의 서브하이웨이 중에 하나의 서브하이웨이를 선택하는 제 408 단계;
    시험 대상인 서브하이웨이 중에 하나의 채널을 선택하는 제 409 단계;
    시험하고자 하는 해당 채널까지의 카운트를 입력하는 제 410 단계;
    상기 디바이스 제어 보드가 상기 다수의 시간 스위치 보드의 경로를 설정하는 제 411 단계;
    설정된 경로로 해당 채널에 임의의 데이터를 송신하는 제 412 단계;
    송신한 임의의 데이터를 수신하는 제 413 단계;
    송신된 데이터와 수신된 데이터를 비교 하는 제 414 단계;
    송신한 데이터와 수신한 데이터가 일치하는 것으로 판단되면 상기 터미널로 보드의 해당 채널이 이상 없음을 디스플레이 신호로 전송하는 제 415 단계;
    송신한 데이터와 수신한 데이터가 일치하지 않는 것으로 판단되면 상기 터미널로 해당 시험 채널에 이상이 있음을 디스플레이 신호로 송신하는 제 416 단계;
    상기 단계를 설정한 해당 채널까지 루프백하여 반복 실행하는 제 417 단계;
    상기 터미널로 시험자가 시험 실시할 것인지 문의하는 제 418 단계;
    상기 문의 결과, 시험한다는 명령어가 입력되면 상기 제 1 경로의 해당 스위치 보드를 선택하는 단계로 루프백하는 제 419 단계;
    상기 제 404 단계에서 판단하여 상기 제 2 경로 시험 명령 입력 여부를 판단하여 상기 제 2 경로를 시험하는 명령이 입력되면 송신되는 스위치 보드와 수신되는 스위치 보드를 선택하는 제 420 단계;
    상기 다수의 시간 스위치 보드와 연결된 해당 서브하이웨이 중 하나의 서브하이웨이를 선택하는 제 421 단계;
    해당 서브하이웨이 중 시험이 시작되는 채널을 선택하는 제 422 단계;
    카운트를 입력하는 제 423 단계;
    선택된 경로를 셋팅하여 경로를 상기 디바이스 제어 보드에 설정하는 제 424 단계;
    정해진 경로를 통하여 데이터를 송신하는 제 425 단계;
    경로를 경유하여 들어온 데이터를 수신하는 제 426 단계;
    송신한 데이터와 수신한 데이터를 비교하여 동일한 데이터인가 판단하는 제 427 단계;
    동일한 데이터인가 판단하여 동일한 데이터인 것으로 판단되면 선택된 경로에 이상이 없음을 상기 터미널로 알리는 제 428 단계;
    동일한 데이터인가 판단하여 동일한 데이터가 아닌 것으로 판단되면 선택된 경로에 오류가 발생하였음을 상기 터미널로 알리는 제 429 단계;
    상기의 단계를 설정한 해당 채널까지 루프백하여 반복 실행하는 제 430 단계;
    결과를 상기 터미널에 디스플레이하는 제 431 단계;
    상기 제 405 단계에서 판단하여 상기 제 3 경로 시험 명령인 것으로 판단되면 상기 다수의 송신 시간 스위치 보드 및 수신 시간 스위치 보드를 선택하는 제 432 단계;
    시험할 로컬 링크 보드를 선택하는 제 433 단계;
    시험 대상인 시간 스위치 보드에 속한 다수의 서브하이웨이중 하나의 서브하이웨이를 선택하는 제 434 단계;
    해당 하이웨이 중 하나의 채널을 선택하는 제 435 단계;
    시험하고자 하는 해당 채널까지의 카운트를 입력하는 제 436 단계;
    선택된 경로를 셋팅하여 경로를 상기 디바이스 제어 보드에 설정하는 제 437 단계;
    상기 디바이스 제어 보드에 설정된 경로를 통하여 데이터를 송신하는 제 438 단계;
    상기 디바이스 제어 보드에서 송신한 데이터를 수신하여 송신한 데이터와 수신한 데이터를 비교하여 동일한 데이터인지 여부를 판단하는 제 439 단계;
    동일한 데이터인 것으로 판단되면 선택된 경로에 이상이 없음을 상기 터미널로 알리는 제 440 단계;
    동일한 데이터가 아닌 것으로 판단되면 선택된 경로에 오류가 발생하였음을 상기 터미널로 알리는 제 441 단계;
    상기의 단계를 설정한 해당 채널까지 루프백하여 반복 실행하는 제 442 단계;
    상기 제 406 단계에서 상기 제 4 경로 시험 명령 입력인 것으로 판단되면 시험하고자 하는 해당 로컬 링크 보드를 선택하는 제 443 단계;
    해당 로컬 링크 보드에 속한 다수의 서브하이웨이 중에서 하나의 서브하이웨이를 선택하는 제 444 단계;
    해당 서브하이웨이에 속한 다수의 채널 중 시작되는 채널을 선택하는 제 445 단계;
    해당 채널의 종료 카운트 넘버를 입력하는 제 446 단계;
    선택된 경로를 상기 디바이스 제어 보드에 설정하는 제 447 단계;
    상기의 단계를 설정한 해당 채널까지 루프백하여 반복 실행하는 제 448 단계;
    상기 터미널로 상기 제 4 경로 시험을 다시 할 것인지 문의하여 로컬 링크 보드 간에 시험 명령어가 입력된 경우 시험하고자 하는 해당 로컬 링크 보드를 선택하는 단계로 루프백하는 제 449 단계;
    상기 터미널로 상기 제 4 경로 시험을 다시 할 것인지 문의하여 로컬 링크 보드 간을 다시 시험하고자 하지 않는 경우 경로 선택 메뉴를 표시하는 단계로 루프백하는 제 450 단계;
    상기 제 406 단계에서 상기 제 4 경로 시험 명령 입력이 아닌 것으로 판단되면 종료할지 여부를 상기 터미널로 문의하여 종료 명령이 입력되는 경우 시험 유형을 체크하는 단계로 루프백 하도록하며, 종료하지 않을 것으로 판단되면 명령어 입력 체크하는 단계로 루프백되도록하는 제 451 단계를 구비하는 것을 특징으로하는 전전자 교환기에서 시간 스위치 및 링크부 시험 방법.
  5. 제 4 항에 있어서,
    상기 제 1 경로는 상기 다수의 시간 스위치 보드를 루프백시켜 시험하는 것을 특징으로 하는 전전자 교환기에서 시간 스위치 및 링크부 시험 방법.
  6. 제 4 항에 있어서,
    상기 제 2 경로는 임의의 시간 스위치 보드와 다른 시간 스위치 보드와의 루프백 시험하는 것을 특징으로 하는 전전자 교환기에서 시간 스위치 및 링크부 시험 방법.
  7. 제 4 항에 있어서,
    상기 제 3 경로는 임의의 시간 스위치 보드를 경유하여 임의의 로컬 링크 보드에서 루프백되어 다시 시간 스위치 보드로의 연결 경로를 루프백 시험하는 것을 특징으로하는 전전자 교환기에서 시간 스위치 및 링크부 시험 방법.
  8. 제 4 항에 있어서,
    상기 제 4 경로는 상기 시간 스위치 및 링크부와 연동되는 공간 스위치 및 링크부를 위한 경로를 상기 디수의 로컬 링크 보드 간에 루프백시키는 경로를 제공하는 것을 특징으로하는 전전자 교환기에서 시간 스위치 및 링크부 시험 방법.
  9. 디바이스 제어 보드, 클럭 분배 공급 보드, 다수의 중앙 데이터 링크 보드, 및 다수의 메트릭스 스위치 보드를 포함하는 공간 스위치 및 링크부, 터미널을 구비하는 전전자 교환기에서 공간 스위치 및 링크부 시험 방법에 있어서:
    상기 터미널의 명령 입력을 대기하는 초기 화면에서 명령 입력을 체크하여 시험을 종료하라는 명령이 입력되면 모든 시험을 종료하는 제 1 단계;
    상기 터미널의 명령 입력을 대기하는 초기 화면에서 명령 입력을 체크하여 시험을 시작하라는 명령이 입력되면 상기 디바이스 제어 보드가 상기 터미널에 시험 유형을 선택하도록 하는 제 2 단계;
    자동 시험 명령이면 자동 시험을 하는 제 3 단계;
    기능 시험 명령이면 기능 시험을 하는 제 4 단계;
    종료 명령인 경우에는 시험을 종료하고 상기 제 1 단계부터 다시 시작하는 제 5 단계를 포함하는 전전자 교환기에서 공간 스위치 및 링크부 시험 방법.
  10. 제 9 항에 있어서,
    상기 자동 시험 단계는, 상기 터미널에서 입력된 자동 시험 명령에 따라 각 기능별로 상기 다수의 메트릭스 스위치 보드 및 상기 다수의 로컬 링크 보드를 시험하는 제 101 단계;
    상기 디바이스 제어 보드에서 시험 종료 여부를 판단하여 시험이 종료된 경우 시험자가 시험 유형을 선택하도록 하는 단계로 루프백하는 제 102 단계;
    시험이 종료되지 않은 경우 시험을 종료할 것인지 여부를 시험자에게 입력 요구하여 재시험하는 경우 다시 루프백되어 각 기능별 시험부터 상기 공간 스위치 및 링크부를 재시험하는 제 103 단계를 구비하는 것을 특징으로하는 전전자 교환기에서 공간 스위치 및 링크부 시험 방법.
  11. 제 9 항에 있어서,
    상기 기능 시험하는 단계는, 시험을 시작 명령이 입력되면 기능 시험 종류 선택 메뉴를 상기 터미널에 디스플레이시키는 제 111 단계;
    명령어 입력 체크하여 제어 메모리 초기화 명령 입력 여부를 판단하는 제 112 단계;
    명령어 입력 체크하여 제어 메모리 시험 명령 입력 여부를 판단하는 제 113 단계;
    명령어 입력 체크하여 이중화 명령 입력 여부를 판단하는 제 114 단계;
    명령어 입력 체크하여 상태 읽기 시험 명령 입력 여부를 판단하는 제 115 단계;
    명령어 입력 체크하여 경로 시험 명령 입력 여부를 판단하는 제 116 단계;
    상기 제 112 단계에서 판단하여 상기 다수의 메트릭스 스위치 보드 내의 있는 제어 메모리 시작 명령이 입력된 경우에 저장된 제어 메모리의 초기화된 값을 읽어 초기화 값이 정상인지 여부를 판단하는 제 117 단계;
    상기 디바이스 제어 보드에서 초기화 값을 읽어 초기화 값이 비정상인 것으로 판단되면 제어 메모리에 오류가 발생하였음을 상기 터미널로 알려주는 제 118 단계;
    상기 디바이스 제어 보드에서 초기화 값을 읽어 정상으로 초기화된 것으로 판단되면 정상으로 초기화되었음을 상기 터미널로 알려주는 제 119 단계;
    제어 메모리의 용량에 해당하는 메모리의 모든 바이트를 체크하는 제 120 단계;
    시험자가 제어 메모리의 초기화를 다시 요구하는 경우 메모리 카운트하는 단계로 루프백되는 제 121 단계;
    상기 제 113 단계어서 판단하여 제어 메모리 시험 명령이 입력된 것으로 판단되면 상기 다수의 메트릭스 스위치 보드 내의 제어 메모리로 임의의 데이터를 입력하는 제 122 단계;
    제어 메모리에 쓴 데이터를 읽어들이는 제 123 단계;
    입력한 데이터와 읽은 데이터가 일치하는가 판단하는 제 124 단계;
    입력한 데이터와 읽은 데이터가 일치하는 경우 해당 카운트의 제어 메모리에 이상이 없음을 상기 터미널로 전송하는 제 125 단계;
    상기 디바이스 제어 보드에서 판단하여 쓴 데이터와 읽은 데이터가 일치하지 않는 경우에는 제어 메모리에 오류가 발생한 경우이므로 해당 제어 메모리에 오류가 있음을 상기 터미널로 전송하는 제 126 단계;
    제어 메모리의 용량에 해당하는 메모리의 모든 바이트를 체크하는 제 127 단계;
    해당 제어 메모리 용량보다 같거나 큰 경우에는 메모리 초기화를 다시 할 것인지 상기 터미널에 문의하여 제어 메모리의 시험자가 초기화 요구하는 경우 상기 다수의 메트릭스 스위치 보드 내의 제어 메모리로 임의의 데이터를 입력하는 단계로 루프백하는 제 128 단계;
    해당 제어 메모리 용량보다 같거나 큰 경우에는 메모리 초기화를 다시 할 것인지 상기 터미널에 문의하여 제어 메모리의 시험자가 초기화 요구하지 않는 경우 기능 시험 종류를 선택하는 메뉴를 상기 터미널에 디스플레이 시키는 단계로 루프백하는 제 129 단계;
    상기 제 114 단계에서 판단하여 이중화 시험 명령어 입력인가 판단하여 두 개의 보드 중 임의의 보드를 선택하여 액티브인지 여부를 판단하는 제 130 단계;
    액티브인가 판단하여 선택된 보드가 액티브인 경우에는 선택된 보드를 액티브로 동작시키는 제 131 단계;
    액티브인가 판단하여 선택된 보드가 액티브가 아닌 경우에는 선택되지 않은 보드를 액티브로 동작시키는 제 132 단계;
    이중화 시험을 다시 할 것인지 터미널에 문의하여 시험자가 이중화 시험을 요구하는 경우 메모리 카운트하는 단계로 루프백하는 제 133 단계;
    이중화 시험을 다시 할 것인지 터미널에 문의하여 시험자가 이중화 시험을 요구하지 않는 경우 기능 시험 종류를 선택하는 메뉴를 상기 터미널에 디스플레이 시키는 단계로 루프백하는 제 134 단계;
    상기 제 115 단계에서 판단하여 상태 읽기 시험 명령이 입력된 것으로 판단되면 상태 레지스터의 데이터를 읽는 제 135 단계;
    상기 디바이스 제어 보드가 테이터를 분석하는 제 136 단계;
    분석된 결과를 상기 단말기의 화면에 표시하는 제 137 단계;
    상태 읽기 시험을 다시 할 것인지 상기 터미널에 문의하여 제어 메모리의 시험자가 상태 읽기 시험 요구하는 경우 상태 레지스터의 데이터를 읽는 단계로 루프백하는 제 138 단계;
    상태 읽기 시험을 다시 할 것인지 상기 터미널에 문의하여 제어 메모리의 시험자가 상태 읽기 시험 요구하지 않는 경우 기능 시험 종류를 선택하는 메뉴를 상기 터미널에 디스플레이시키는 단계로 루프백하는 제 139 단계;
    상기 제 116 단계에서 판단하여 경로 시험 명령이 입력되었는가 판단되면 경로 시험하는 제 140 단계를 구비하는 것을 특징으로하는 전전자 교환기에서 공간 스위치 및 링크부 시험 방법.
  12. 제 11 항에 있어서,
    상기 경로 시험 단계는, 상기 터미널로 경로 선택 메뉴를 표시하는 제 1201 단계;
    자동 경로 시험인지 또는 기능 경로 시험인지를 선택하는 제 1202단계;
    상기 터미널로부터 제 1 경로 시험 명령 입력 여부를 판단하는 제 1203 단계;
    상기 터미널로부터 제 2 경로 시험 명령 입력 여부를 판단하는 제 1204 단계;
    상기 터미널로부터 제 3 경로 시험 명령 입력 여부를 판단하는 제 1205 단계;
    상기 터미널로부터 제 4 경로 시험 명령 입력 여부를 판단하는 제 1206 단계;
    상기 제 1203 단계에서 판단하여 상기 터미널에서 상기 디바이스 제어 보드로 상기 제 1 경로 시험 명령이 수신되는 경우 시험 대상이 되는 상기 메트릭스 스위치 보드를 선택하는 제 1207 단계;
    시험 대상인 상기 메트릭스 스위치 보드가 보유한 다수의 서브하이웨이 중에 하나의 서브하이웨이를 선택하는 제 1208 단계;
    시험 대상인 서브하이웨이 중에 하나의 채널을 선택하는 제 1209 단계;
    시험하고자 하는 해당 채널까지의 카운트를 입력하는 제 1210 단계;
    상기 디바이스 제어 보드에가 상기 다수의 메트릭스 스위치 보드의 경로를 설정하는 제 1211 단계;
    설정된 경로로 해당 채널에 임의의 데이터를 송신하는 제 1212 단계;
    송신한 임의의 데이터를 수신하는 제 1213 단계;
    송신된 데이터와 수신된 데이터를 비교하는 제 1214 단계;
    송신한 데이터와 수신한 데이터가 일치하는 것으로 판단되면 상기 터미널로 보드의 해당 채널이 이상 없음을 디스플레이 신호로 전송하는 제 1215 단계;
    송신한 데이터와 수신한 데이터가 일치하지 않는 것으로 판단되면 상기 터미널로 해당 시험 채널에 이상이 있음을 디스플레이 신호로 송신하는 제 1216 단계;
    상기의 단계를 설정한 해당 채널까지 루프백하여 반복 실행하는 제 1217 단계;
    상기 터미널로 시험자가 시험 실시할 것인지 문의하는 제 1218 단계;
    문의 결과 시험한다는 명령어가 입력되면 상기 제 1 경로의 해당 스위치 보드를 선택하는 단계로 루프백하는 제 1219 단계;
    상기 제 1204 단계에서 판단하여 상기 제 2 경로 시험 명령 입력 여부를 판단하여 상기 제 2 경로를 시험하는 명령이 입력되었으면 송신되는 스위치 보드와 수신이 되는 스위치 보드를 선택하는 제 1220 단계;
    상기 다수의 메트릭스 스위치 보드와 연결된 해당 서브하이웨이 중 하나의 서브하이웨이를 선택하는 제 1221 단계;
    해당 서브하이웨이 중 시험이 시작되는 채널을 선택하는 제 1222 단계;
    카운트를 입력하는 제 1223 단계;
    선택된 경로를 셋팅하여 경로를 상기 디바이스 제어 보드에 설정하는 제 1224 단계;
    정해진 경로를 통하여 데이터를 송신하는 제 1225 단계;
    경로를 경유하여 들어온 데이터를 수신하는 제 1226 단계;
    송신한 데이터와 수신한 데이터를 비교하여 동일한 데이터인가 판단하는 제 1227 단계;
    동일한 데이터인가 판단하여 동일한 데이터인 것으로 판단되면 선택된 경로에 이상이 없음을 상기 터미널로 알리는 제 1228 단계;
    동일한 데이터인가 판단하여 동일한 데이터가 아닌 것으로 판단되면 선택된 경로에 오류가 발생하였음을 상기 터미널로 알리는 제 1229 단계;
    상기의 단계를 설정한 해당 채널까지 루프백하여 반복 실행하는 제 1230 단계;
    결과를 상기 터미널에 디스플레이하는 제 1231 단계;
    상기 제 1205 단계에서 판단하여 상기 제 3 경로 시험 명령인 것으로 판단되면 상기 다수의 송신 메트릭스 스위치 보드 및 상기 다수의 수신 메트릭스 스위치 보드를 선택하는 제 1232 단계;
    시험할 로컬 링크 보드를 선택하는 제 1233 단계;
    시험 대상인 상기 메트릭스 스위치 보드에 속한 다수의 서브하이웨이중 하나의 서브하이웨이를 선택하는 제 1234 단계;
    해당 하이웨이 중 하나의 채널을 선택하는 제 1235 단계;
    시험하고자 하는 해당 채널까지의 카운트를 입력하는 제 1236 단계;
    선택된 경로를 셋팅하여 경로를 상기 디바이스 제어 보드에 설정하는 제 1237 단계;
    상기 디바이스 제어 보드에 설정된 경로를 통하여 데이터를 송신하는 제 1238 단계;
    상기 디바이스 제어 보드에서 송신한 데이터를 수신하여 송신한 데이터와 수신한 데이터를 비교하여 동일한 데이터인지 여부를 판단하는 제 1239 단계;
    동일한 데이터인지 판단하여 동일한 데이터인 것으로 판단되면 선택된 경로에 이상이 없음을 상기 터미널로 알리는 제 1240 단계;
    동일한 데이터인지 여부를 판단하여 동일한 데이터가 아닌 것으로 판단되면 선택된 경로에 오류가 발생하였음을 상기 터미널로 알리는 제 1241 단계;
    상기의 단계를 설정한 해당 채널까지 루프백하여 반복 실행하는 제 1242 단계;
    상기 제 1206 단계에서 판단하여 상기 제 4 경로 시험 명령 입력인 것으로 판단되면 시험하고자 하는 해당 로컬 링크 보드를 선택하는 제 1243 단계;
    해당 로컬 링크 보드에 속한 다수의 서브하이웨이 중에서 하나의 서브하이웨이를 선택하는 제 1244 단계;
    해당 서브하이웨이에 속한 다수의 채널 중 시작되는 채널을 선택하는 제 1245 단계;
    해당 채널의 종료 카운트 넘버를 입력하는 제 1246 단계;
    선택된 경로를 상기 디바이스 제어 보드에 설정하는 제 1247 단계;
    상기의 단계를 설정한 해당 채널까지 루프백하여 반복 실행하는 제 1248 단계;
    상기 터미널로 상기 제 4 경로 시험을 다시 할 것인지 문의하여 로컬 링크 보드 간을 시험 명령어가 입력된 경우 시험하고자 하는 해당 로컬 링크 보드를 선택하는 단계로 루프백하는 제 1249 단계;
    시험자의 터미널로 상기 제 4 경로 시험을 다시 할 것인지 문의하여 로컬 링크 보드 간을 다시 시험하고자 하지 않는 경우 경로 선택 메뉴를 표시하는 단계로 루프백하는 제 1250 단계;
    상기 제 1206 단계에서 판단하여 상기 제 4 경로 시험 명령 입력이 아닌 것으로 판단되면 종료할지 상기 터미널로 문의하여 종료 명령이 입력되면 시험 유형을 체크하는 단계로 루프백하고, 종료하지 않을 것으로 판단되면 명령어 입력 체크하는 단계로 루프백하는 제 1251 단계를 구비하는 것을 특징으로하는 전전자 교환기에서 공간 스위치 및 링크부 시험 방법.
  13. 제 12 항에 있어서,
    상기 제 1 경로는 상기 다수의 메트릭스 스위치 보드를 루프백시켜 시험하는 것을 특징으로하는 전전자 교환기에서 공간 스위치 및 링크부 시험 방법.
  14. 제 12 항에 있어서,
    상기 제 2 경로는 임의의 메트릭스 스위치 보드와 다른 메트릭스 스위치 보드와의 루프백 시험하는 것을 특징으로 하는 전전자 교환기에서 공간 스위치 및 링크부 시험 방법.
  15. 제 12 항에 있어서,
    상기 제 3 경로는 임의의 메트릭스 스위치 보드를 경유하여 임의의 로컬 링크 보드에서 루프백되어 다시 상기 다수의 메트릭스 스위치 보드로의 연결 경로를 루프백 시험하는 것을 특징으로하는 전전자 교환기에서 공간 스위치 및 링크부 시험 방법.
  16. 제 12 항에 있어서,
    상기 제 4 경로는 상기 공간 스위치 및 링크부와 연동되는 공간 스위치 및 링크부를 위한 경로를 상기 다수의 로컬 링크 보드 간에 루프백시키는 경로를 제공하는 것을 특징으로하는 전전자 교환기에서 공간 스위치 및 링크부 시험 방법.
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