KR100600948B1 - 아날로그 가입자 시험 장치와 교환기 자원을 이용한디지털 가입자 시험 구현 방법 - Google Patents

아날로그 가입자 시험 장치와 교환기 자원을 이용한디지털 가입자 시험 구현 방법 Download PDF

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Abstract

본 발명은 교환기 시스템에서 아날로그 가입자 시험 장치와 교환기 자원을 이용한 디지털 가입자 시험 구현 방법에 관한 것으로, 교환기 시스템에서 디지털 가입자의 선로/회로/루프백 시험을 하기 위해 필요한 장치인 디지털 가입자 시험 장치를 사용하지 않고, 아날로그 가입자 시험 장치와 교환기 자원을 이용해 디지털 가입자의 선로/회로/루프백 시험 구현 방법을 제공함으로서 교환기 시스템의 단순화로 인해 유지보수가 편리하고, 시스템의 안정성을 높일 수 있으며, 아날로그 가입자가 디지털 가입자로 서비스를 변경할 경우와나 그 반대의 서비스 변경의 경우에 고객의 가입자 변경 요구에 즉각적인 대응도 가능한 효과도 있다.

Description

아날로그 가입자 시험 장치와 교환기 자원을 이용한 디지털 가입자 시험 구현 방법{Digital subscriber's test method using analog subscriber's test equipment and switching resource }
도 1 은 일반적인 디지털 가입자 구성 및 시험 예시도.
도 2 는 본 발명의 적용에 따른 디지털 가입자 구성 및 시험 예시도.
도 3 은 본 발명에 따른 아날로그 가입자 시험 장치와 교환기 자원을 이용한 디지털 가입자 시험 구현 방법의 일실시예 흐름도.
< 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 >
201 : 망종단장치 202 : 일차군 다중화장치
203 : 가입자보드 204 : 디지털 라인 집선장치
205 : 타임스위치 보드 206 : 아날로그가입자 시험장치
A : 디지털 가입자 선로시험
B : 디지털 가입자 회로시험
C : 디지털 가입자 루프백시험
본 발명은 아날로그 가입자 시험 장치와 교환기 자원을 이용한 디지털 가입자 시험 구현 방법에 관한 것으로, 보다 상세하게는 교환기 시스템에서 디지털 가입자 시험을 하기 위해 필요한 장치인 디지털 가입자 시험 장치를 사용하지 않고, 아날로그 가입자 시험 장치와 교환기 자원을 이용해 디지털 가입자 선로/회로/루프백 시험을 구현할 수 있도록 한 아날로그 가입자 시험 장치와 교환기 자원을 이용한 디지털 가입자 시험 구현 방법에 관한 것이다.
현재 교환 시스템에서 가입자는 음성만을 전달하는 아날로그 가입자와 음성과 데이터를 함께 전달하는 디지털 가입자로 분류되고, 이들의 시험을 위해서 아날로그 가입자 시험장치와 디지털 가입자 시험장치가 별도로 존재한다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명 적용전의 종래 기술을 간략히 설명한다.
도 1 은 일반적인 디지털 가입자 구성 및 시험 예시도로서, 망종단부(101), 일차군 다중화부(102), 가입자 보드(103), 디지털 라인 집선부(104), 타임스위치보드(105) 및 디지털 가입자 시험부(106)를 구비한다.
도면에 도시된 바와 같이, 상기 디지털 가입자 선로 시험(A)의 경우에 디지털 가입자 보드(103)와 디지털 가입자 시험부(106)간을 Test Bus를 통해 연결하고, 상기 디지털 가입자 회로시험(B)과 루프백 시험(C)의 경우에는 디지털 가입자 보드(103)와 디지털 가입자 시험부(106)간을 타임 스위치보드(105)를 통해 연결시켜 교환기의 가입자보드(103), 일차군 다중화 부(102) 및 망종단부(101)등을 종단으로 하는 경로를 구성함으로써 시험 환경을 구성하며, 각각의 시험은 다음과 같이 수행 한다.
여기서 상기 타임 스위치(Time Switch)란 음성 정보가 저장되는 SM(Speech Memory)과 제어 정보가 저장되는 CM(Control Memory)로 구성되어 타임슬롯 교환을 하는 장치이다.
먼저 상기 디지털 가입자 선로 시험(A)은 디지털 가입자 시험부(106)가 제공하는 선로 시험 기능으로 시험을 수행하며, 디지털 가입자 시험부(106)는 Test Bus를 통해 가입자 보드(103)를 거쳐 망종단부(101)까지 디지털 가입자 선로 시험을 수행한다.
그리고 상기 디지털 가입자 회로 시험(B)은 첫째로 가입자 회로 활성화(Activation) 시험과 D-채널에 대한 시험, 두 번째로 B1 채널 / B2 채널에 대한 회로 시험으로 구분된다.
먼저, 가입자 회로 활성화(Activation) 시험과 D-채널에 대한 시험으로 상기 가입자 보드(103)를 Test Bus라는 물리적인 경로를 통해 디지털 가입자 시험부(106)와 연결시킨 다음 디지털 가입자 시험부(106)가 시험을 수행한다.
그리고 B1 채널 / B2 채널에 대한 회로 시험은 디지털 가입자 시험부(106)가 Test Bit Pattern을 발생시켜 시험 경로를 통해 돌아온 Bit와 비교하여 Error Bit를 검출을 통해 시험을 수행하는 것이다. 여기서 상기와 같은 디지털 가입자 선로 및 회로 시험(A,B)의 경우에는 가입자 보드로 시험 대상 라인에 대한 입력/출력 테스트 릴레이 구동 및 해제하는 과정이 필요하다.
한편, 상기 디지털 가입자 루프백 시험(C) 시험 장치와 시험 대상(가입자 보 드(103), 망종단부(101) 등) 라인간을 Switching 시킨 후 시험 장치인 디지털 가입자 시험부(106)가 Test Bit Pattern을 발생시켜 시험 경로를 통해 돌아온 Bit와 비교하여 Error Bit를 검출을 통해 시험을 수행하는 것이다.
그러나 상기와 같은 종래의 교환기 시스템에서 디지털 가입자 선로/회로/루프백 시험은 디지털 가입자 시험 장치를 별도로 둠으로써 다음의 문제점들이 있다.
첫째로 교환기 자원이 낭비되고, 이에 따라 교환기 시스템의 원가상승 요인이 된다. 구체적 일례를 들면, 국내 개발 대용량 교환기 시스템(예:TDX-100 교환기)에서 가입자 시험 장치는 가입자 4개 UNIT당 한장씩 실장되어 있어서 ABSI UNIT에 PSTN과 디지털이 혼용일 경우에는 가입자 4개 UNIT당 아날로그 가입자 시험 장치와 디지털 가입자 시험 장치가 한 장씩 2장이 실장되어야 하는데 반해, 아날로그 가입자 시험 장치과 기존 자원을 이용해 디지털 가입자 시험을 할 경우에는 아날로그 가입자 시험 장치 1장만 실장되어도 시험이 가능하다.
둘째로 교환기 시스템의 소프트웨어 처리가 복잡하다. 즉, 아날로그 가입자 시험 장치와 디지털 가입자 시험 장치에 대한 각각의 소프트웨어 처리를 필요로 하므로 아날로그 가입자 시험장치 하나만을 이용해 시험하는 경우보다 소프트웨어 처리가 복잡하다.
세 번째로 교환기 시스템의 유지보수가 불편하다. 즉, 아날로그 가입자 시험 장치와 디지털 가입자 시험 장치에 대한 각각의 유지 보수가 필요하므로 아날로그 가입자 시험장치 하나만을 이용해 시험하는 경우보다 유지 보수의 일이 두배로 늘어난다. 또한, 신속한 아날로그 가입자가 디지털 가입자로 서비스를 변경할 경우나 그 반대의 서비스 변경의 경우에 고객의 가입자 변경 요구에 즉각적인 대응이 곤란하다.
네 번째로 교환기 시스템의 안정성을 저하의 요인이 될 수 있다. 즉, 소프트웨어의 처리 복잡성 및 유지 보수의 불편성은 교환기 시스템의 안정성과 직접관계되므로 교환기 시스템의 안정성을 저하의 요인이 될 수 있다.
이에 본 발명은 상기한 바와 같은 요구에 부응하기 위하여 안출된 것으로 교환기 시스템에서 디지털 가입자의 선로/회로/루프백 시험을 하기 위해 필요한 장치인 디지털 가입자 시험 장치를 사용하지 않고, 아날로그 가입자 시험 장치와 교환시스템의 가입자 보드 및 타임스위치(Time Switch) 등의 교환기 시스템 자원을 이용한 디지털 가입자 시험 구현 방법을 제공하는데 그 목적이 있다.
상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명은 아날로그 가입자 시험 장치와 교환기 시스템 자원을 이용한 디지털 가입자 시험 구현 방법에 있어서, 디지털 가입자 시험을 위해 점검하는 제 1과정(S301 ~ S304); 아날로그 가입자 시험 장치와 디지털 가입자 시험 장치 모두 동일한 선로 시험 기능을 제공하므로 아날로그 가입자 시험 장치을 이용해 디지털 가입자 선로 시험을 하는 제 2과정(S306~S311); 교환시스템의 가입자 보드 및 타임스위치(Time Switch) 보드 기능을 이용해 디지털 가입자 회로 시험을 하는 제 3과정(S312~S319); 타임스위치(Time Switch) 보드 기능 등을 이용해 디지털 가입자 루프백 시험을 하는 제 4과정(S320~S324); 및 시험 결과 수신 후 점유했던 시험 장치의 릴리즈(Release)와 값의 소거, 그리고 시험 결 과를 출력하는 제 5과정(S325~S328)을 포함하는 것을 특징으로 한다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 따른 바람직한 일 실시예를 상세히 설명한다.
도 2는 본 발명의 적용에 따른 디지털 가입자 구성 및 시험 예시도로서, 망종단부(201), 일차군 다중화부(202), 가입자보드(203), 디지털 라인 집선부(204), 타임스위치보드(205) 및 아날로그 가입자 시험부(206)를 구비한다.
도면에 도시된 바와 같이, 디지털 가입자 선로 시험의 경우(A)에 디지털 가입자 보드(203)와 아날로그 가입자 시험부(206)간을 Test Bus를 통해 연결하고, 상기 디지털 가입자 회로시험과 루프백 시험(B,C)의 경우에는 아날로그 가입자 시험부(206)와 타임 스위치 보드(205)간의 연결이 없이 타임 스위치보드(203)와 가입자 보드(203)를 연결시켜 교환기의 가입자 보드(203), 일차군 다중화부(202), 망종단 부(201)등을 종단으로 하는 경로를 구성함으로써 시험 환경을 구성하며 각각의 시험은 다음과 같이 수행 한다.
여기서 일차군 다중화부(Primary Multiplexer:202)는 일차군 가입자 다중화 장치로서 T1 & E1 선로를 이용하여 T1=8, E1=12가입자의 2B+D를 다중화 하는 장치이다.
먼저, 디지털 가입자 선로 시험(A)은 아날로그와 디지털 가입자에 대해서 동일하게 이루어지며, 아날로그 가입자 시험부(206)와 디지털 가입자 시험부(106) 모두 동일한 선로 시험 기능을 제공하므로 아날로그 가입자 시험부(206)만으로도 모 든 디지털 가입자에 대한 선로 시험 기능을 수행할 수 있다. 따라서, 디지털 가입자 시험장치를 대체한 아날로그 가입자 시험부(206)가 Test Bus를 통해 가입자 보드(203)를 거쳐 망종단부(201)까지 디지털 가입자 선로 시험을 수행할 수 있다.
또한, 디지털 가입자 회로 시험 기능(B)은 활성화(Activation)시험, D-채널 시험, B1 채널 및 B2-채널으로 구분된다.
여기서 디지털 가입자 회로에 대한 활성화(Activation)시험은 가입자 카드 내의 U-Interface 정합 Chip에서의 Looping이 정상적으로 이루어지는지를 시험하여 결과를 판단할 수 있으며, 이는 디지털 가입자 시험 장치를 사용하지 않더라도 디지털가입자 루프백 시험에서 사용하는 LT(Line Termination)에 대한 Loop-Back Setting 요구를 하여 그 결과로 검증이 가능하다.
그리고 상기 디지털 가입자 회로에 대한 D-채널 시험은 활성화(Activation)시험을 통해서 Looping 된 회로의 경로를 통해 디지털 가입자 보드(203)내의 F/W에서 수행하는 D-채널 루프백 시험이 가능하며 디지털 가입자 시험부가 시험할 경우와 동일한 결과를 얻을 수 있다. 이때, Activation 시험을 통해 LT Loop-Back은 Setting되어 있는 상태이어야 한다.
또한, 상기 디지털 가입자 회로에 대한 B1 채널 및 B2-채널 시험은 다음에 설명하는 루프백 시험과 동일하게 타임 스위치(Time Switch)의 기능을 이용하여 수행할 수 있다.
한편, 상기 디지털 가입자 루프백 시험(C) Test Bit를 발생시키던 디지털 가입자 시험 장치의 사용없이 타임 스위치(205)의 Bit Pattern 생성 기능을 이용하여 Test Bit를 보내고 루프 경로를 거친 Bit를 다시 받아서 시험 결과를 판단하는 기능으로 시험을 수행한다.
도 3은 본 발명에 따른 아날로그 가입자 시험 장치와 교환기 자원을 이용한 디지털 가입자 시험 구현 방법의 일 실시예 흐름도이다.
도면에 도시된 바와 같이, 먼저 시험하고자 하는 라인의 상태를 판단한다 (S301).이때 상기 S301단계에서 판단한 결과 장애 상태일 경우에는 에러 메시지를 출력하고(S328), 시험 가능한 상태일 경우에는 해당라인을 테스트 블럭으로 천이 시켜 시험 수행 동안 격리시킨다(S302).
이후, 가입자 전화번호 할당여부를 점검하여(S303) 가입자 전화번호가 할당되지 않은 가입자에 대해서는 에러 메시지를 출력하고(S328) 시험을 종료하고, 가입자 전화번호가 할당되었을 경우에는 다음 단계로 진행한다.
이후, 시험장치의 이상 유무를 점검하여(S304) 이상이 있을 경우에 에러 메시지를 출력하고(S328) 시험을 종료하고, 이상이 없을 때에는 다음 단계로 진행한다. 그리고 입력된 시험 명령어에 대해 가입자 선로 시험인지, 가입자 회로 시험인지, 가입자 루프백 시험인지를 구분한다(S305).
S305단계에서 판단한 결과 가입자 선로 시험일 경우, 아날로그 가입자 시험장치(TEC)와 디지털 가입자 시험 장치 모두 동일한 선로 시험 기능을 제공하므로 아날로그 가입자 시험 장치를 이용해 다음의 절차로 시험을 진행한다.
중앙제어 프로세서(CCP :Central Control Processor)의 가입자 선로 및 중계선 시험 관리를 위한 공통 주프로세서(LTTM_CMP:Line and Trunk Test Management_Common Main Processor) 블럭에서 가입자 선로 시험 명령어(TDX-100 교환기의 예:TEST-SC-INST)를 수신하면 해당 라인의 Line Category를 참조하여 우선 시험 대상 라인이 아날로그 가입자인지 디지털 가입자인지를 판단한다(S306).
여기서 상기 중앙 제어 프로세서는 시스템내의 일련의 운용과 유지보수 관련 기능을 총괄한다. 그리고 LTTM(Line and Trunk Test Management)은 가입자 회로 및 선로 시험 관리 블럭으로서 Analog/Digital 가입자 시험을 전체적으로 제어하고 관리한다. 상기 CMP(Common Main Processor)은 공통 메인 프로세서 모듈로써 호처리 기능을 수행하기 위한 상위 프로세서이다.
한편, 상기 S306단계에서 판단한 결과 상기 라인이 아날로그 가입자 라인일 경우에는 ASP(Access Switching Processor)의 AST(Analog Subscriber Test)블럭으로 가입자 선로 시험을 요구하고(S307), 상기 디지털 가입자 라인이면 ASP의DST(Digital Subscriber Test)블럭으로 시험을 요구한다(S309).
여기서 상기 ASP(Access Switching Processor)는 액세스 교환 프로세서로서, ASS(Access Switching Subsystem)내의 지능망 호처리를 포함하는 전반적인 호처리 기능과, 트래픽 제어, 스위치 제어, ASS 유지 보수, 운용 관리, IPC 메세지 교환, 기타 서비스 등을 수행하고, Main control을 담당하는 ASP는 호 흐름 제어 및 운용 보전 기능을 수행한다.
그리고 상기 AST(Analog Subscriber Test)는 아날로그 가입자 시험 블럭으로서 아날로그 가입자 선로 및 가입자 선로 정합 회로에 대한 품질 및 기능 시험을 통해 이상 유무 점검 및 유지보수 기능을 수행한다.
상기 DST(Digital Subscriber Test)는 디지틀 가입자 시험 블럭으로서, 디지털 가입자의 회선 시험을 주관하며, LTTM으로부터 디지털 가입자의 회로 및 선로에 대한 운용자 시험 요구를 수신하여 DSI(Digital Subscriber Interface) 블럭이나 ISTI(ISDN Subscriber Test Interface) 블럭으로 시험을 요구하고 시험 결과를 DSI 블럭이나 ISTI블럭으로부터 수신하여 CCP(Central Control Processor)의 EC(Execution Control) 블럭으로 전송한다.
한편, 상기 S306단계에서 판단한 결과 라인이 디지털 가입자 라인일 경우에는 아날로그 라인에 대해 AST블럭은 ASTI(Analog Subscriber Test Interface) 블럭으로 시험을 요구하고 결과를 수신하며(S308), 디지털 라인에 대해서는 DST블럭은 ISTI(ISDN Subscriber Test Interface)블럭으로 시험을 요구하고 결과를 수신한다(S310).
여기서 상기 ISTI(ISDN Subscriber Test Interface)는 디지털 가입자 시험 장치 정합 기능을 수행하기 위해 DST 블럭으로부터 In/Out Test 요구 시 디지털 가입자 시험 장치를 제어하고, 그 결과를 받아 AST로 전송하는 기능이 있다. 또한 LTTM으로부터의 시험 장치 상태 보고 요구를 받아 결과를 보고하는 등의 기능을 제공한다. 그리고 상기 아날로그 가입자 시험 장치로 시험을 요구하고, 시험결과를 수신한다(S311).
한편, 가입자 회로 시험일 경우에는 가입자 보드 및 타임스위치의 기능을 이용해 다음의 절차로 시험을 진행한다.
먼저, CCP의 LTTM_CMP(Line and Trunk Test Management_Common Main Processor) 블럭에서 가입자 선로 시험 명령어(TDX-100 교환기의 예:TEST-SLN-INST)를 수신하면 해당 라인의 Line Category를 참조하여 우선 시험 대상 라인이 아날로그 가입자인지 디지털 가입자인지를 판단한다(S312).
이때 상기 S312단계에서 판단한 결과 라인이 아날로그 가입자 라인일 경우 에는 ASP(Access Switching Processor)의 AST(Analog Subscriber Test)블럭으로 가입자 회로 시험을 요구하고(S313), 디지털 라인이면 ASP의 DST(Digital Subscriber Test)블럭으로 시험을 요구한다(S314).
또한, 상기 아날로그 라인에 대해 AST블럭은 ASTI(Analog Subscriber Test Interface) 블럭으로 시험을 요구하고 결과를 수신하며(S315), 디지털 라인에 대한 DST블럭은 DSI 블럭으로 Activation과 D-Cahnnel에 대한 시험을 요구하고 그 결과를 수신한다. B1 및 B2 채널에 대한 시험은 아래의 루프백 시험과 동일하다(S316).
그리고 상기 아날로그 라인에 대한 아날로그 가입자 시험 블록(AST :Analog Subscriber Test)은 아날로그 가입자 시험 장치로 시험을 요구하고 시험결과를 수신하고(S317), 디지털 라인에 대해 DSI 블럭은 아날로그 가입자 정합 블록(ASBI)의 으로 시험을 요구하고, 그 결과 수신한다(S318). 그리고 ASBI F/W는 디지털 가입자 보드로 시험 수행을 요구하고 그 결과를 수신한다(S319).
한편 가입자 루프백 시험일 경우(C)에는 타임 스위치(Time Switch) 보드의 Bit Pattern 생성 기능을 이용해 다음의 절차로 시험을 진행한다. 이때, 입자 루프백 시험은 아날로그 가입자 시험에는 없고 디지털 가입자 시험에만 있으므로 가입자가 아날로그 가입자인지, 디지털 가입자 인지의 구분이 필요없다
즉, CCP(Central Control Processor)의 LTTM(Line and Trunk Test Management: 가입자 회로 및 선로 시험 관리)블럭에서 디지털 가입자 루프백 시험 명령어(TDX-100 교환기의 예:TEST-DSL-LB)를 수신하면,ASP의 DST 블럭으로 디지털 루프백 시험을 요구한다(S320).
그러면 DST(Digital Subscriber Test) 블럭에서 DSI(Digital Subscriber Interface) 블럭으로 시험 대상 라인을 이용하여 할당받은 Time Slot과 시험 대상 가입자 채널과의 DLC((Digital Line Concentration) 연결 요구하고, 타임스위치와 가입자 라인의 Time Slot을 할당 받은 Intra Juctor 채널을 통해 서로 스위칭 시킨다(S321). 여기서 상기 DLC(Digital Line Concentration) 디지털 라인 집선 장치로서, PCM 데이터의 다중화 역다중화 기능을 제공하며, 아날로그 가입자 및 디지털 가입자 인터페이스 장치로 부터의 PCM데이터를 수신하여 1차 집선 기능을 수행(1:1 ~ 4:1)하고, 집선된 PCM 데이터를 TSL로 송신한다.
그리고 상기 TCDT(Telephony Common Device Test) 블럭으로 Bit Pattern 발생을 이용한 Error Test 요구를 한다(S322). 여기서 TCDT(Telephony Common Device Test) 블럭은 통화로계 공통 장비 시험 블럭으로서, 가입자 신호기, 국간 중계 신호기, 녹음 안내 장비, 회의 통화 장비, Time Switch, ASS간의 Link Path, RASM으로 존재하는 ASS인 경우에 본체와 연결된 PCM Link 등에 대한 각종 시험을 수행한다.
그리고 TCDT(Telephony Common Device Test) 블럭은 구성되어 있는 경로를 이용하여 TSL(Time Switch and Link) 블럭으로 실제 시험 요구를 하게 되고(이 시 험 요구는 스위치 네트워크 BER 시험이나 DLC TEST와 동일하다), 결과를 받아서 DST 블럭으로 넘겨준다(S323). 여기서 상기 TSL(Time Switch and Link)는 타임 스위치 및 링크 블럭으로서, TSL은 DLC(Digital Line Concentration)나, 회선정합 유니트로부터 수신된 최대 8,192 회선을 두개의 SNL(Switching Network Link)상에 각각 최대 2,430(S3,048 Speech + 256 IPC + 146 reserved)타임슬롯이나 1,024 x 2 intrajunctor 타임슬롯들 가운데 어느 하나로 할당하므로서 시분할 스윗칭 기능을 제공한다.
그리고 DST(Digital Subscriber Test) 블럭은 DSI(Digital Subscriber Interface) 블럭으로 DLC(Digital Line Concentration) 및 Intra Junctor 연결을 해제 요구 및 그 결과를 수신한다(S324).
이후, 시험을 위해 Seize한 시험 장치를 릴리즈(Release)한다(S325). 이때, 시험 장치 정보에 시험 중에 세팅된 모든 정보를 소거시키고, 다음 시험을 수행할 수 있도록 초기화 한다.
이후, 시험을 수행한 라인을 Release시킨다(S326). 이때, 라인 상태를 "Test Block" 에서 "IDLE" 상태로 천이하게 된다. 이후, 시험 결과를 출력한다(S327).
상기한 바와 같은 본 발명은, 교환기 시스템에서 디지털 가입자 시험 장치를 사용하지 않으면서 디지털 가입자에 대한 시험 기능을 수행하여 장애 유무를 판단하는 결과를 얻을 수 있고, 디지털 가입자 시험을 위해 사용하는 디지털 가입자 시험 장치를 사용없이 아날로그 가입자 시험 장치와 교환기 시스템의 자원을 활용해 이를 구현함으로써 교환기 자원을 절약통합하고 기존자원의 효율적 사용을 기할 수 있으며, 이에 따른 TDX-100 시스템 자체의 원가도 크게 절감할 수 있다.
또한, 교환기 시스템의 단순화로 인해 유지보수가 편리하고, 시스템의 안정성을 높일 수 있으며, 아날로그 가입자가 디지털 가입자로 서비스를 변경할 경우와나 그 반대의 서비스 변경의 경우에 고객의 가입자 변경 요구에 즉각적인 대응도 가능한 효과도 있다.
아울러 본 발명의 바람직한 실시예들은 예시의 목적을 위해 개시된 것이며, 당업자라면 본 발명의 사상과 범위안에서 다양한 수정, 변경, 부가등이 가능할 것이며, 이러한 수정 변경 등은 이하의 특허 청구의 범위에 속하는 것으로 보아야 할 것이다.

Claims (7)

  1. 디지털 가입자 시험을 위해 점검하는 제 1과정;
    아날로그 가입자 시험 장치을 이용해 디지털 가입자 선로 시험을 하는 제 2과정;
    교환시스템의 가입자 보드 및 타임스위치보드 기능을 이용해 디지털 가입자 회로 시험을 하는 제 3과정;
    타임스위치보드 기능 등을 이용해 디지털 가입자 루프백 시험을 하는 제 4과정; 및
    시험 결과 수신 후 점유했던 시험 장치의 릴리즈(Release)와 값의 소거, 그리고 시험 결과를 출력하는 제 5과정을 포함하는 것을 특징으로 하는 아날로그 가입자 시험 장치와 교환기 자원을 이용한 디지털 가입자 시험 구현 방법.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 제 1과정은
    선로 시험하고자 하는 라인의 상태를 상태를 점검하고, 시험가능한 상태일 경우 라인상태를 테스트 블록으로 천이시켜 시험 수행동안 격리하는 단계; 및
    가입자 전화번호의 할당여부를 점검하고, 할당되었을 경우 시험장치의 이상유무를 판단하는 단계로 이루어진 것을 특징으로 하는 아날로그 가입자 시험 장치와 교환기 자원을 이용한 디지털 가입자 시험 구현 방법.
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 제 2과정은
    시험대상 라인의 상태를 점검하여 라인이 아날로그이면 액세스 교환 프로세서의 아날로그 가입자 시험 블록으로 가입자 선로시험을 요구하는 제 1단계;
    상기 제 1단계 수행 후, 아날로그 가입자 시험 인터페이스 블록으로 시험요구 및 결과를 수신하는 제 2단계;
    시험대상 라인의 상태를 점검하여 라인이 디지털이면 액세스 교환 프로세서의 디지털 가입자 시험 블록으로 가입자 선로시험을 요구하는 제 3단계 ;
    상기 제 3단계 수행 후, 디지털 가입자 시험 인터페이스 블록으로 시험요구 및 결과를 수신하는 제 4단계; 및
    상기 2단계 및 4단계 수행 후, 아날로그 가입자 시험장치로 시험요구 및 시험결과를 수신하는 제 5단계로 이루어진 것을 특징으로 하는
  4. 제 1 항에 있어서,
    제 2과정은 아날로그 가입자 시험 장치와 디지털 가입자 시험 장치 모두 동일한 선로 시험 기능을 제공하는 것을 특징으로 하는 아날로그 가입자 시험 장치와 교환기 자원을 이용한 디지털 가입자 시험 구현 방법.
  5. 제 1 항에 있어서,
    상기 제 3과정은
    회로시험 대상라인을 점검하여 아날로그 라인이면 액세스 교환 프로세서의 아날로그 가입자 시험 블록으로 가입자 회로시험을 요구하는 제 1단계;
    상기 제 1단계 수행 후, 아날로그 가입자 시험 인터페이스 블록으로 회로 시험요구 및 결과를 수신하는 제 2단계;
    상기 제 2단계 수행 후, 아날로그 가입자 시험장치로 회로 시험요구 및 시험결과를 수신하는 제 3단계;
    회로시험 대상라인을 점검하여 디지털 라인이면 액세스 교환 프로세서의 디지털 가입자 시험 블록으로 가입자 회로시험을 요구하는 제 4단계;
    상기 제 4단계 수행 후, 디지털 가입자 인테페이스 블록으로 활성화와 D채널에 대한 시험을 요구하고 그 결과를 수신하는 제 5단계;
    상기 제 5단계 수행 후, 디지털 가입자 인테페이스 블록은 아날로그 가입자 정합블록인 아날로그 및 베이직 가입자 인터페이스 블록 F/W로 시험을 요구하고 그 결과를 수신하는 제 6단계; 및
    제 6단계 수행 후, 디지털 가입자 보드로 시험 수행을 요구하고 그 결과를 수신하는 단계로 이루어진 것을 특징으로 하는 아날로그 가입자 시험 장치와 교환기 자원을 이용한 디지털 가입자 시험 구현 방법.
  6. 제 1 항에 있어서,
    제 3과정에서 디지털 가입자 회로 시험은 Activation시험, D 채널시험, B1 채널시험 및 B2 채널시험을 포함하는 것을 특징으로 하는 아날로그 가입자 시험 장치와 교환기 자원을 이용한 디지털 가입자 시험 구현 방법.
  7. 제 1 항에 있어서,
    제 4과정은
    회로시험 명령어를 점검하여 루프백 시험일 경우 액세스 교환 프로세서의 디지털 가입자 시험 블록으로 디지털 가입자 루프백 시험을 요구하는 제 1단계;
    상기 제 1단계 수행 후, 디지털 가입자 시험 블럭에서 디지털 가입자 인터페이스 블럭으로 시험 대상 라인을 이용하여 할당받은 타임슬롯과 시험대상 가입자 채널과의 디지털 라인 접선장치의 연결을 요구하는 제 2단계;
    상기 제 2단계 수행 후, 타임스위치와 가입자 라인의 타임 슬롯을 할당받은 intra juctor 채널을 통해 서로 스위칭하는 제 3단계;
    상기 제 3단계 수행 후, 통화로계 공통장비 시험블럭으로 비트 패턴 발생을 이용한 에러 시험을 요구하는 제 4단계;
    상기 제 4단계 수행 후, 통화로계 공통장비 시험블럭은 구성된 경로를 이용하여 타임스위치 및 링크로 시험을 요구하고 결과를 받아서 디지털 가입자 시험블록으로 넘겨주는 제 5단계; 및
    상기 제 5단계 수행 후, 디지털 가입자 인터페이스 블록으로 디지털 라인집선 장치로 시험을 요구하고, 그 결과를 수신하는 제 6단계로 이루어진 것을 특징으로 하는 아날로그 가입자 시험 장치와 교환기 자원을 이용한 디지털 가입자 시험 구현 방법.
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