KR100384358B1 - 측정 탐침 장치 - Google Patents
측정 탐침 장치 Download PDFInfo
- Publication number
- KR100384358B1 KR100384358B1 KR10-2000-0043936A KR20000043936A KR100384358B1 KR 100384358 B1 KR100384358 B1 KR 100384358B1 KR 20000043936 A KR20000043936 A KR 20000043936A KR 100384358 B1 KR100384358 B1 KR 100384358B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- guide
- probe
- measuring probe
- tip
- hole
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/04—Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
본 발명은 측정 탐침 장치를 본체 베이스에 장착할 때, 측정 탐침의 선단이 파손되는 것을 미연에 방지하기 위한 것으로, 본 발명에 따른 측정 탐침 장치(10)는, 탐침 가이드(2)를 지닌 본체 베이스(1)에 장착된다. 이 측정 탐침 장치(10)는 프레임(11)과, 프레임(11)에 스윙이 자유롭게 설치되어 측정 탐침(20)을 지지하는 스윙 아암(12)을 구비하고 있고, 프레임(11)에 측정 탐침(20)의 선단측이며 탐침 가이드(2)와의 사이에 보호 가이드(22)가 설치되어 있다. 측정 탐침 장치(10)를 본체 베이스(1)에 장착할 때, 측정 탐침 장치(10)의 측정 탐침(20)은 보호 가이드(22)에 의해 보호된다.
Description
본 발명은 칩 형상의 전자 부품을 측정하기 위한 측정 탐침(probe)을 구비한 측정 탐침 장치에 관한 것으로, 특히 분해시에 측정 탐침의 선단을 유효하게 보호할 수 있는 측정 탐침 장치에 관한 것이다.
칩 형상의 전자 부품의 전기적 특성을 측정하기 위해, 전자 부품에 측정 탐침을 접촉시켜서 측정하는 방법이 행해지고 있다.
측정 탐침은 측정 탐침 장치 내에 설치되어 있고, 측정 탐침 장치는 가이드 구멍이 형성된 탐침 가이드를 지닌 본체 베이스에 착탈이 자유롭게 장착되어 있다.
이러한 측정 탐침 장치는 프레임과, 프레임에 스윙이 자유롭게 설치되며 측정 탐침을 지지하는 스윙 아암을 포함한다.
이와 같은 측정 탐침 장치는 본체 베이스에 장착되며, 측정 탐침이 탐침 가이드의 가이드 구멍 내에 삽입되어, 스윙 아암의 스윙 작용에 의해 가이드 구멍으로부터 돌출되거나 인입되도록 되어 있다.
또한 측정 탐침 장치는 본체 베이스로부터 착탈 가능하게 되어 있고, 측정 탐침 장치를 본체 베이스에 장착할 때, 측정 탐침의 선단이 바깥쪽에 노출되어 있으면, 이러한 측정 탐침의 선단이 파손되는 수가 있다.
상술한 바와 같이 측정 탐침 장치는 본체 베이스로부터 착탈이 자유롭게 되어 있으나, 측정 탐침 장치를 본체 베이스에 장착할 때, 측정 탐침의 선단이 다른 부품에 닿을 경우를 생각할 수 있다. 측정 탐침의 선단은 매우 가늘고 약하기 때문에, 다른 부품에 닿으면 쉽게 파손되어 버린다.
본 발명은 이러한 점을 고려하여 이루어진 것으로, 본체 베이스에 측정 탐침 장치를 장착할 때, 측정 탐침의 선단을 확실하게 보호할 수 있는 측정 탐침 장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.
도 1은 본 발명에 따른 측정 탐침 장치의 일 실시의 형태를 도시하는 도면.
도 2는 도 1의 화살표 A선에 따른 단면도.
도 3은 도 1의 B부 확대 도면으로, 측정 탐침이 탐침 가이드 내에 있는 상태를 도시하는 도면.
도 4는 도 1의 B부 확대 도면으로, 측정 탐침이 보호 가이드 내에 있는 상태를 도시하는 도면.
도 5는 측정 탐침 장치를 본체 베이스로부터 떼어낸 상태를 도시하는 도면.
도 6은 측정 탐침 장치를 본체 베이스에 장착한 상태를 도시하는 도면.
*도면의 주요부분에 대한 부호의 설명*
1 : 본체 베이스 2 : 탐침 가이드
3 : 가이드 구멍 10 : 측정 탐침 장치
11 : 프레임 12 : 스윙 아암
12a : 지지점 13 : 고정 스프링
14 : 부시 15 : 댐퍼
16 : 조정 나사 17 : 흡착판
18 : 고정 볼트 19 : 전자 코일
20 : 측정 탐침 21 : 리턴 스프링
22 : 보호 가이드 22a : 보호 구멍
29 : 스토퍼
본 발명은 가이드 구멍이 형성된 탐침 가이드를 지닌 본체 베이스에 착탈이 자유롭게 설치된 측정 탐침 장치에 있어서, 프레임과, 프레임에 스윙이 자유롭게 설치된 스윙 아암과, 스윙 아암에 의해 지지되며 탐침 가이드의 가이드 구멍에 진입하는 측정 탐침과, 프레임의 탐침 가이드측에 설치되며 측정 탐침의 선단을 수용하여 보호하는 보호 구멍을 가진 보호 가이드를 구비하고, 측정 탐침 장치를 본체 베이스로부터 떼어냈을 경우에 스윙 아암이 흔들려서 측정 탐침의 선단이 보호 가이드의 보호 구멍 안에 인입되어 측정 탐침의 선단이 보호 가이드에 의해 보호되며, 측정 탐침 장치를 본체 베이스에 장착했을 경우에 스윙 아암이 흔들려서 측정 탐침의 선단이 보호 가이드의 보호 구멍으로부터 탐침 가이드의 가이드 구멍 안으로 진입하는 것을 특징으로 하는 측정 탐침 장치이다.
본 발명에 따르면, 측정 탐침 장치를 본체 베이스로부터 떼어냈을 경우에 측정 탐침의 선단이 보호 가이드의 보호 구멍 안에 인입되어, 측정 탐침의 선단이 보호 가이드에 의해 보호되고, 측정 탐침 장치를 본체 베이스에 장착했을 경우에 측정 탐침의 선단이 보호 가이드의 보호 구멍으로부터 탐침 가이드의 가이드 구멍 안으로 진입하기 때문에, 측정 탐침 장치의 장착시에 측정 탐침의 선단이 바깥쪽에 노출되는 일은 없다.
이하, 도면을 참조하여 본 발명의 실시의 형태에 대해 설명한다.
도 1 내지 도 6은 본 발명에 따른 측정 탐침 장치의 일 실시의 형태를 도시하는 도면이다.
도 1 내지 도 6에 도시한 바와 같이, 측정 탐침 장치(10)는 가이드 구멍(3)이 형성된 탐침 가이드(2)를 지닌 본체 베이스(1)에 착탈이 자유롭게 장착된다.
또한, 도시하지 않은 피가공재가 본체 베이스(1)의 탐침 가이드(2) 위까지 도달하면, 측정 탐침 장치(10) 내에 설치된 2개의 측정 탐침(20)이 위쪽으로 돌출되어, 측정 탐침(20)의 선단이 피가공재에 접촉함으로써, 피가공재의 전기적 특성이 측정 탐침(20)에 의해 측정된다.
다음으로, 본 발명에 따른 측정 탐침 장치(10)에 대해 상세히 설명한다. 도 1 내지 도 6에 도시한 바와 같이, 측정 탐침 장치(10)는 본체 베이스(1)에 고정되는 프레임(11)과, 프레임(11)에 지지점(12a)을 통해서 스윙이 자유롭게 부착된 스윙 아암(12)을 구비하며, 2개의 측정 탐침(20)은 스윙 아암(12)의 선단에 의해 지지되어 있다.
이 경우, 측정 탐침(20)은 스윙 아암(12)보다 위쪽에 있는 부분이 유연성을 지녀, 쉽게 휘어질 수 있도록 되어 있다. 또한 본체 베이스(1)에는 상술한 바와 같이, 측정 탐침(20)의 선단을 안내하는 탐침 가이드(2)가 설치되고, 이 탐침 가이드(2)에는 측정 탐침(20)의 선단측이 관통하는 가이드 구멍(3)이 형성되어 있다.
스윙 아암(12)은 측정 탐침(20)이 탐침 가이드(2)로부터 위쪽으로 돌출되는 돌출 위치와, 측정 탐침(20)이 탐침 가이드(2)로부터 아래쪽으로 후퇴하는 후퇴 위치 사이에서 스윙 가능하게 되어 있다.
또한 프레임(11)에는 전자 코일(19)이 고정 부착되고, 한편 스윙 아암(12)에는 전자 코일(19)의 통전시에 전자 코일(19)에 흡착되는 흡착판(17)이 고정 부착되며, 이들 전자 코일(19)과 흡착판(17)에 의해, 스윙 아암(12)을 돌출 위치까지 구동시키는 구동 기구가 구성되어 있다. 이 경우, 흡착판(17)과 전자 코일(19)이 맞닿은 위치가, 스윙 아암(12)의 돌출 위치가 된다.
또한 프레임(11)에는, 부시(14)가 슬라이딩이 자유롭게 설치되며, 이러한 부시(14)는 고정 스프링(13)에 의해 스윙 아암(12)측으로 떠밀려져 있다. 또한 부시(14)에는 조정 나사(16)가 부착되고, 이러한 조정 나사(16)에 의해 댐퍼(15)가 지지되어 있다. 또한 조정 나사(16)의 바깥 둘레에는 부시(14)와 스윙 아암(12) 사이에 위치하는 리턴 스프링(21)이 부착되어 있다. 이러한 리턴 스프링(21)은 스윙 아암(12)을 후퇴 위치까지 구동시키는 구동 기구를 구성한다. 스윙 아암(12)의 후퇴 위치는 댐퍼(15)에 의해 규제되는데, 조정 나사(16)를 부시(14)에 대해 꽉 조이거나 느슨하게 풀음으로써, 댐퍼(15)의 위치는 바뀔 수 있다.
더욱이, 프레임(11)에는 스윙 아암(12)측으로 이동하는 부시(14)의 움직임을 규제하는 스토퍼(29)가 설치되어 있다.
또한 측정 탐침(20)의 선단측에 있어서, 프레임(11)에는 프레임(11)과 탐침 가이드(2) 사이에 위치하는 보호 가이드(22)가 설치되어 있다. 이러한 보호 가이드(22)에는 측정 탐침(20)의 선단을 수용하여 보호하는 보호 구멍(22a)이 형성되어 있다.
측정 탐침 장치(10)는 본체 베이스(1)에 대해 착탈이 자유롭게 되어 있으며, 측정 탐침 장치(10)를 본체 베이스(1)로부터 떼어냈을 경우에, 측정 탐침(20)의 선단이 보호 가이드(22)의 보호 구멍(22a) 내에 인입되어, 측정 탐침(20)의 선단이 보호 가이드(22)에 의해 보호된다.
더욱이, 측정 탐침 장치(10)의 프레임(11)에는 고정 볼트(18)를 본체 베이스(1)를 관통하여 부시(14)내에 삽입 부착함으로써 본체 베이스(1)에 고정된다.
다음으로, 이와 같은 구성으로 이루어진 본 실시의 형태의 작용에 대해 설명한다. 먼저 도 5에 의해 측정 탐침 장치(10)가 본체 베이스(1)로부터 분리된 상태를 나타낸다. 이 경우, 고정 볼트(18)를 본체 베이스(1) 및 부시(14)로부터 빼내며, 이로 인해 부시(14)는 고정 스프링(13)에 의해 아래쪽으로 떠밀려져, 스토퍼(29)에 맞닿아 정지한다.
또한, 전자 코일(19)은 무통전 상태로 되어 있기 때문에, 스윙 아암(12)은 리턴 스프링(21)의 작용에 의해 댐퍼(15)측으로 압착된다. 이 때, 측정 탐침(20)의 선단은 보호 가이드(22)의 보호 구멍(22a) 안에 인입되고, 이와 같이 해서 측정탐침(20)의 선단은 보호 가이드(22)에 의해 보호된다.
다음으로 도 6에 도시한 바와 같이, 측정 탐침 장치(10)가 본체 베이스(1)에 장착된다. 이 경우, 고정 볼트(18)가 본체 베이스(1)를 관통하여 부시(14) 내에 삽입 부착되고, 고정 볼트(18)를 부시(14) 내에 조여서 체결함으로써, 본체 베이스(1)에 대해 측정 탐침(10)이 장착된다.
이와 같이 본체 베이스(1)에 측정 탐침 장치(10)를 장착함으로써, 측정 탐침(20)의 선단은 도 4에 도시하는 보호 가이드(22)의 보호 구멍(22a) 안으로부터, 도 3에 도시하는 탐침 가이드(2)의 가이드 구멍(3) 안으로 진입한다.
도 3 및 도 4에 도시하는 바와 같이, 보호 가이드(22)의 보호 구멍(22a) 내에는 탐침 가이드(2)의 가이드 구멍(3)을 향해서 끝이 가늘어지는 형상으로 형성되어 있다. 이 때문에, 보호 가이드(22)의 보호 구멍(22a) 내에 배치되어 있던 측정 탐침(20)의 선단을 매끄럽게 탐침 가이드(2)의 가이드 구멍(3)으로 안내할 수 있다.
또한, 탐침 가이드(2)의 가이드 구멍(3)도 바깥쪽을 향해서 끝이 가늘어지는 형상으로 형성되어 있다.
상술한 바와 같이, 본체 베이스(1)에 측정 탐침 장치(10)를 장착할 때, 측정 탐침(20)의 선단은 보호 가이드(22)에 의해 보호받게 되므로, 측정 탐침(20)의 선단이 다른 부품에 닿아 파손되는 일은 없다. 따라서, 측정 탐침 장치(10)를 장착할 때, 측정 탐침(20)을 확실하게 보호할 수 있다.
다음, 측정 탐침 장치(10)를 본체 베이스(1)에 장착한 다음의 작용에 대해설명한다.
먼저, 피가공재가 탐침 가이드(2)의 위까지 도달한다. 이 경우, 전자 코일(19)은 무통전 상태로 되어 있고, 스윙 아암(12)은 리턴 스프링(21)의 작용에 의해 댐퍼(15)측으로 압착되어 스윙 아암(12)은 후퇴 위치에 있다. 즉, 측정 탐침(20)의 선단은 탐침 가이드(2)로부터 돌출되지 않는다(도 3 참조).
다음으로 피가공재의 전기적 특성을 측정 탐침(20)에 의해 측정할 경우, 전자 코일(19)이 통전되고, 이로써 전자 코일(19)에 흡착판(17)이 흡착되어, 스윙 아암(12)은 돌출 위치, 즉 측정 탐침(20)의 선단이 탐침 가이드(2)로부터 돌출된 돌출 위치까지 스윙한다.
이 경우, 측정 탐침(20)은 원호 궤도를 그리며 상방으로 이동하는데, 측정 탐침(20)의 선단은 탐침 가이드(2)에 의해 안내되어 바로 위로 상승할 수 있다. 또한 원호 궤도를 그리는 측정 탐침(20)의 가로 방향의 움직임은 측정 탐침(20)의 휨에 의해 흡수된다.
스윙 아암(12)이 돌출 위치까지 오면, 측정 탐침(20)의 피가공재에 대한 측정 작업이 시작된다.
측정 탐침(20)에 의한 피가공재에 대한 전기적 측정이 종료된 후, 전자 코일(19)은 무통전 상태가 되며, 스윙 아암(12)은 리턴 스프링(21)의 작용에 의해 후퇴 위치까지 되돌아온다.
이상과 같이 본 실시의 형태에 따르면, 본체 베이스(1)에 측정 탐침 장치(10)를 장착할 때, 측정 탐침(20)의 선단은 보호 가이드(22)에 의해 보호받게되므로, 측정 탐침(20)의 선단을 확실하게 보호해서 측정 탐침의 파손을 방지할 수 있다.
이상과 같이 본 발명에 따르면, 측정 탐침 장치를 본체 베이스에 장착할 때, 측정 탐침의 선단이 바깥쪽에 노출되지 않으므로, 이러한 장착시에 측정 탐침의 선단이 다른 부품에 닿아 파손되는 일은 없다.
Claims (2)
- 가이드 구멍이 형성된 탐침 가이드를 지닌 본체 베이스에 착탈이 자유롭게 설치된 측정 탐침 장치에 있어서,프레임과,상기 프레임에 스윙이 자유롭게 설치된 스윙 아암과,상기 스윙 아암에 의해 지지되고 탐침 가이드의 가이드 구멍에 진입하는 측정 탐침과,상기 프레임의 탐침 가이드측에 설치되고 측정 탐침의 선단을 수용하여 보호하는 보호 구멍을 가진 보호 가이드를 구비하며,상기 측정 탐침 장치를 본체 베이스로부터 해체했을 경우에 스윙 아암이 흔들려서 측정 탐침의 선단이 보호 가이드의 보호 구멍 안에 인입되어 측정 탐침의 선단이 보호 가이드에 의해 보호되며, 측정 탐침 장치를 본체 베이스에 장착했을 경우에 스윙 아암이 흔들려서 측정 탐침의 선단이 보호 가이드의 보호 구멍으로부터 탐침 가이드의 가이드 구멍 안으로 진입하는 것을 특징으로 하는 측정 탐침 장치.
- 제 1 항에 있어서,상기 보호 가이드의 보호 구멍은 탐침 가이드의 가이드 구멍 안을 향해서 끝이 가늘어지는 형상으로 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 측정 탐침 장치.
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000082090A JP3664936B2 (ja) | 2000-03-23 | 2000-03-23 | 測定プローブ装置 |
| JP2000-82090 | 2000-03-23 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR20010092634A KR20010092634A (ko) | 2001-10-26 |
| KR100384358B1 true KR100384358B1 (ko) | 2003-05-22 |
Family
ID=18598938
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR10-2000-0043936A KR100384358B1 (ko) | 2000-03-23 | 2000-07-29 | 측정 탐침 장치 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3664936B2 (ko) |
| KR (1) | KR100384358B1 (ko) |
| TW (1) | TW476848B (ko) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004129376A (ja) * | 2002-10-02 | 2004-04-22 | Tokyo Weld Co Ltd | 電磁駆動機構の動作制御方法 |
| TWI595240B (zh) * | 2016-02-04 | 2017-08-11 | All Ring Tech Co Ltd | Probe fixing guide structure for electronic component inspection device |
| KR102357238B1 (ko) * | 2021-10-22 | 2022-02-08 | 애프터레인 주식회사 | 바이오 임피던스 측정용 탐침기구 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH09229607A (ja) * | 1996-02-22 | 1997-09-05 | Mitsutoyo Corp | 形状測定機 |
-
2000
- 2000-03-23 JP JP2000082090A patent/JP3664936B2/ja not_active Expired - Lifetime
- 2000-07-29 KR KR10-2000-0043936A patent/KR100384358B1/ko active IP Right Grant
- 2000-08-04 TW TW089115734A patent/TW476848B/zh not_active IP Right Cessation
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH09229607A (ja) * | 1996-02-22 | 1997-09-05 | Mitsutoyo Corp | 形状測定機 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3664936B2 (ja) | 2005-06-29 |
| TW476848B (en) | 2002-02-21 |
| JP2001272417A (ja) | 2001-10-05 |
| KR20010092634A (ko) | 2001-10-26 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR970029418A (ko) | 디스크 장치의 캐리지 구조 | |
| KR101449409B1 (ko) | 플렉시블 ｐｃｂ 벤딩 시험장치 | |
| JP2007163217A5 (ko) | ||
| EP1076001A3 (en) | Load-securing device | |
| KR100384358B1 (ko) | 측정 탐침 장치 | |
| US6397667B1 (en) | Surface property measuring device | |
| CN219065542U (zh) | 一种用于承载电路板的治具 | |
| JP2008185570A (ja) | プローブユニット及び検査装置 | |
| KR20100029035A (ko) | 기판검사용 검사치구 | |
| JP2000183594A (ja) | 部品装着装置 | |
| JP3978314B2 (ja) | プローブ装置及びプローブ固定方法 | |
| US5340010A (en) | Bonding apparatus | |
| KR100384357B1 (ko) | 측정 탐침 구동장치 | |
| KR101405779B1 (ko) | 차량의 테일게이트 댐퍼 | |
| JP2015007555A (ja) | プローブユニットおよび基板検査装置 | |
| CN210665296U (zh) | 一种开关外壳推拉力试验设备 | |
| KR200214416Y1 (ko) | 아이씨티용 검사 핀 | |
| JP2002090386A (ja) | プリント基板検査用コンタクトピン | |
| US7050696B2 (en) | Assembly apparatus for an optical transceiver | |
| JP4666326B2 (ja) | 機器取り付けバネ | |
| JP3862963B2 (ja) | プローブ装置 | |
| JP4660864B2 (ja) | 導通検査装置 | |
| JP2010048771A (ja) | プリント配線板の検査治具 | |
| KR20180024187A (ko) | 척프로브핀 | |
| JP4430430B2 (ja) | 極細コンタクトプローブ |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A201 | Request for examination | ||
| E902 | Notification of reason for refusal | ||
| E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
| GRNT | Written decision to grant | ||
| FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20130409 Year of fee payment: 11 |
|
| FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20140409 Year of fee payment: 12 |
|
| FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20150428 Year of fee payment: 13 |
|
| FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20180427 Year of fee payment: 16 |