TWI595240B - Probe fixing guide structure for electronic component inspection device - Google Patents

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TWI595240B
TWI595240B TW105103654A TW105103654A TWI595240B TW I595240 B TWI595240 B TW I595240B TW 105103654 A TW105103654 A TW 105103654A TW 105103654 A TW105103654 A TW 105103654A TW I595240 B TWI595240 B TW I595240B
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    • G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02—General constructional details
    • G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067—Measuring probes
    • G01R1/073—Multiple probes
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Description

電子元件檢測裝置之探針固定導接構造
本發明係有關於一種探針固定導接構造，尤指一種用以檢測電子元件(例如被動元件)之電氣特性(例如電阻值)的電子元件檢測裝置之探針固定導接構造。
按，一般電子元件由於具有不同的物理特性，故常需經由檢測、分類的程序來進行包裝或分類，在進行檢測時常藉一檢測座上間歇旋轉之載盤，載盤周緣設有環列佈設的凹槽，使電子元件輸入凹槽中被間歇旋轉搬送，並在檢測座下方設有檢測裝置，使檢測裝置中的探針穿經檢測座而凸伸至凹槽中底部，俾被間歇旋轉輸送至對應探針定位處之凹槽中電子元件可被檢測；此類檢測裝置由於探針長期檢測下與電子元件間容易發生接觸磨損，因此必須經常作探針伸出檢測座高度的調整；此種探針通常螺設於一固定座的固定部中，藉由調整固定部的旋轉運動而相對的轉為使探針作上伸或下降的直線運動。
然而由於一般探針必須以導線連接偵測儀器，導線通常焊接於該金屬(通常為銅質材料)製成的固定部上，以傳導至同為金屬導電材質的探針，故固定部在作旋轉調整時容易使導線的焊接部位斷裂脫落，另，由於固定部係以螺接件螺固於固定座具內螺紋的固定孔中，該固定座通常 為不導電的材質例如壓克力、電木，每次調整固定部皆需轉動螺接件作對固定部的鬆放及螺固操作，長期操作下容易使固定座的內螺紋損壞。
爰是，本發明的目的，在於提供一種使探針座之探針螺設定位更穩固的電子元件檢測裝置之探針固定導接構造。
依據本發明目的之電子元件檢測裝置之探針固定導接構造，包括：一探針座，可受驅動進行上、下位移，其上設有複數個樞孔；複數支探針，設於該探針座上，每一探針包括一針部及供針部螺設之固定部，探針的固定部樞設於各對應的探針座上樞孔；複數導線，各該導線一端分別各與探針連接，另一端接設及傳遞訊號至檢測儀器；該探針座上的探針外側，於探針座上表面在相隔該探針一間距下設有凹槽，該凹槽上方為開口狀，凹槽的內側壁設有貫通並朝該對應樞孔的抵孔，該凹槽中設有可自開口狀上方上、下取放的嵌塊，該嵌塊上設有水平設置並前後貫通且分別對應抵孔及通孔的螺抵孔，螺抵孔中設有內螺紋；一螺抵件自該探針座外側壁先穿經探針座通孔，再螺經凹槽中嵌塊具有內螺紋的螺抵孔，然後至前端凹槽的另一內側壁穿經探針座抵孔而抵觸及樞孔中探針的固定部周緣。
本發明實施例之電子元件檢測裝置之探針固定導接構造，由於使提供內螺紋供螺固件螺經的嵌塊可以輕易的自上方為開口狀的凹槽中上、下取放，而螺抵探針的固定部周緣之螺抵件所螺設之內螺紋係設於探針座外的金屬嵌塊上，探針座並不受內螺紋的損毀影響，且配合用以固定嵌塊的螺固件在螺固後即不需經常旋進旋出，故探針可以獲得穩固之鎖固；且由於導線係以端子套嵌套於每一探針螺設針部的固定部下端，不僅端子套容易拆拔取下，亦使取下端子套後的固定部的旋轉調整無礙導線的連接。
1‧‧‧座架
11‧‧‧電磁機構
111‧‧‧旋臂
112‧‧‧彈性元件
12‧‧‧探針座
121‧‧‧樞孔
122‧‧‧聯結部
123‧‧‧凹槽
124‧‧‧抵孔
125‧‧‧通孔
126‧‧‧嵌塊
127‧‧‧螺抵孔
128‧‧‧螺抵孔
129‧‧‧固接孔
13‧‧‧探針
131‧‧‧針部
132‧‧‧固定部
14‧‧‧探針架
141‧‧‧鉆座
15‧‧‧樞座
16‧‧‧固定架
161‧‧‧端子座
162‧‧‧端子套
163‧‧‧導線
164‧‧‧金屬扣片
171‧‧‧螺固件
172‧‧‧螺抵件
圖1係本發明實施例中檢測裝置構造配置之示意圖。
圖2係本發明實施例之探針固定導接構造立體分解示意圖。
圖3係本發明實施例中探針固定導接構造之組合剖面示意圖(一)。
圖4係本發明實施例中探針固定導接構造之組合剖面示意圖(二)。
圖5係本發明實施例中另一探針導接實施例之檢測裝置構造配置示意圖。
圖6係本發明實施例中另一探針導接實施例示意圖之剖面示意圖。
請參閱圖1、2，本發明電子元件檢測裝置之探針固定導接構造實施例可以如圖所示之裝置來說明，包括：一座架1，座架1上設有電磁機構11，其驅動一探針座12可作上下位移，探針座12上設有複數支探針13；座架1同時固設有一探針架14，各探針13伸經探針架14上端的一鉆座141，以進行觸抵電子元件作檢測；在探針架14一側下端設有一樞座15，其位於探針座12與探針架14間，並供各探針13樞經以作引導及支撐細長的探針13；座架1設有一固定架16，其上設有對應探針13數目的端子座161，各端子座161用以接設及傳遞訊號至檢測儀器；該探針座12設有方形矩陣排列的複數個樞孔121，該探針13各包括一針部131及一固定部132，所述針部131螺設於固定部132上端，各固定部132並樞設於各對應的探針座12上樞孔121；探針座12一側同時設有一凹設的聯設部122供一受電磁機構11驅動的懸臂111一端固設，懸臂111另一端樞設於座架1，兩端之間則受一彈性元件112抵撐，電磁機構 11的電磁吸附及鬆放，配合彈性元件112的被壓縮及回復，使懸臂111連動該探針座12、探針13作上下往復位移。
請參閱圖2、3，該探針座12上方形矩陣排列的複數個樞孔121，在本實施例中使用四支探針13，各探針13各據矩陣之四角，每二探針13各形成一方形矩陣的其中一直邊，於位於方形矩陣相平行的二直邊相對應的兩外側，在相隔各該直邊一間距並與該直邊平行下，於探針座12上表面分別各設有一長度超過該直邊中二探針13間寬度的凹槽123，該凹槽123底部為盲底狀，上方則為開口狀，每一凹槽123中二平行長邊的內側壁，相對應分別設有二貫通並朝該對應的方形矩陣二直邊處二樞孔121的抵孔124，及二貫通並朝探針座12外側的通孔125，同時在該凹槽123底部亦設有相隔間距朝探針座12底面貫通的二固定孔126；該凹槽123中相隔間距設有二金屬材質的嵌塊127，該金屬材質以銅質為佳，每一嵌塊127呈矩形立方體並於其上設有水平設置並前後貫通且分別對應抵孔124及通孔125的螺抵孔128，螺抵孔128中設有內螺紋，每一嵌塊127上亦設有垂直設置並對應固定孔126的固接孔129，固接孔129中設有內螺紋；該嵌塊127上水平設置的螺抵孔128與垂直設置的固接孔129相隔間距而不相交錯貫通；每一探針13螺設針部131的固定部132下端各嵌套一端子套162，端子套162各以導線163連接各對應的端子座161，以接設及傳遞訊號至檢測儀器。
請參閱圖3、4，該嵌塊127藉由一螺絲構成的螺固件171自探針座12底部的固定孔126朝凹槽123中嵌塊127的固接孔129螺設，使嵌塊127被固設於探針座12的凹槽123中定位；該探針座12以無頭螺絲構成的螺抵件172自探針座12外側壁穿經通孔125，而螺經凹槽123中 嵌塊127上水平設置並前後貫通且具有內螺紋的螺抵孔128，至前端穿經凹槽123另一內側壁上抵孔124而直接抵觸及探針13的固定部132周緣，使固定部132獲得鎖固定位。
本發明實施例之電子元件檢測裝置之探針固定導接構造，由於使提供內螺紋供螺固件171螺經的嵌塊127可以輕易的自上方為開口狀的凹槽123中上、下取放，而螺抵探針13的固定部132周緣之螺抵件172所螺設之內螺紋係設於探針座12外的金屬嵌塊127上，探針座12並不受內螺紋的損毀影響，且配合用以固定嵌塊127的螺固件171在螺固後即不需經常旋進旋出，故探針13可以獲得穩固之鎖固；且由於導線163係以端子套162嵌套於每一探針13螺設針部131的固定部132下端，不僅端子套162容易拆拔取下，亦使取下端子套162後的固定部132的旋轉調整無礙導線163的連接。
本發明另一實施例，請參閱圖5、6，該導線163的線端可連接一金屬扣片164，使該金屬扣片164嵌夾於螺固件171與探針座12底部間，則因金屬扣片164可以經螺固件171、嵌塊127，螺抵件172而與探針13螺設針部131的固定部132形成訊號導通；此種方式可以在作固定部132旋轉微調時，金屬扣片164完全無需拆下，使操作更簡便。
惟以上所述者，僅為本發明之較佳實施例而已，當不能以此限定本發明實施之範圍，即大凡依本發明申請專利範圍及發明說明內容所作之簡單的等效變化與修飾，皆仍屬本發明專利涵蓋之範圍內。
12‧‧‧探針座
121‧‧‧樞孔
122‧‧‧聯結部
123‧‧‧凹槽
124‧‧‧抵孔
125‧‧‧通孔
127‧‧‧螺抵孔
128‧‧‧螺抵孔
129‧‧‧固接孔
13‧‧‧探針
131‧‧‧針部
132‧‧‧固定部
161‧‧‧端子座
162‧‧‧端子套
163‧‧‧導線

Claims (8)

  1. 一種電子元件檢測裝置之探針固定導接構造，包括：一探針座，可受驅動進行上、下位移，其上設有複數個樞孔；複數支探針，設於該探針座上，每一探針包括一針部及供針部螺設之固定部，探針的固定部樞設於各對應的探針座上樞孔；複數導線，各該導線一端分別各與探針連接，另一端接設及傳遞訊號至檢測儀器；該探針座上的探針外側，於探針座上表面在相隔該探針一間距下設有凹槽，該凹槽上方為開口狀，凹槽的內側壁設有貫通並朝該對應樞孔的抵孔，該凹槽中設有可自開口狀上方上、下取放的嵌塊，該嵌塊上設有水平設置並前後貫通且分別對應抵孔及通孔的螺抵孔，螺抵孔中設有內螺紋；一螺抵件自該探針座外側壁先穿經探針座通孔，再螺經凹槽中嵌塊具有內螺紋的螺抵孔，然後至前端凹槽的另一內側壁穿經探針座抵孔而抵觸及樞孔中探針的固定部周緣。
  2. 如申請專利範圍第1項所述電子元件檢測裝置之探針固定導接構造，其中，該凹槽底部為盲底狀並設有相隔間距朝探針座底面貫通的二固定孔，嵌塊上亦設有垂直設置並對應固定孔的固接孔，固接孔中設有內螺紋；該嵌塊藉由一螺固件自探針座底部的固定孔朝凹槽中嵌塊的固接孔螺設，使嵌塊被固設於探針座的凹槽中定位。
  3. 如申請專利範圍第2項所述電子元件檢測裝置之探針固定導接構造，其中，該嵌塊上水平設置的螺抵孔與垂直設置的固接孔相隔間距而不相交錯貫通。
  4. 如申請專利範圍第2項所述電子元件檢測裝置之探針固定導接構造，其中，該導線一端以一金屬扣片嵌夾於螺固件與探針座底部間，金屬扣片經螺固件、嵌塊，螺抵件而與探針螺設針部的固定部形成訊號導通。
  5. 如申請專利範圍第1項所述電子元件檢測裝置之探針固定導接構造，其中，該導線一端與探針連接部份，係以一端子套嵌套於固定部下端。
  6. 如申請專利範圍第1項所述電子元件檢測裝置之探針固定導接構造，其中，該凹槽長度超過該直邊中二探針間寬度。
  7. 如申請專利範圍第1項所述電子元件檢測裝置之探針固定導接構造，其中，該該嵌塊呈矩形立方體。
  8. 如申請專利範圍第1項所述電子元件檢測裝置之探針固定導接構造，其中，該嵌塊為銅質之金屬材質。
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