KR100229705B1 - 자동 샘플 테스팅 장치 - Google Patents

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KR100229705B1
KR100229705B1 KR1019970005313A KR19970005313A KR100229705B1 KR 100229705 B1 KR100229705 B1 KR 100229705B1 KR 1019970005313 A KR1019970005313 A KR 1019970005313A KR 19970005313 A KR19970005313 A KR 19970005313A KR 100229705 B1 KR100229705 B1 KR 100229705B1
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베르나르 게이럴 장-삐에르
더블유. 카알 클리포드
장 마리 리몽 베르나르
메이어 도날드
제임스 모리스 로저
로빈슨 론
어니스트 시톤 윌리엄
세인 데이비드
스프링거 폴
레이 윌리엄 데니얼
윌리엄 안톤 에릭
클리멘트 비숍 제임스
드레거 크라이그
에이취. 버챠드 토마스
체스테인 데이비드
구에리라 스테펜
포레이트 데이비드
무어 앤드류
로우스마니어 아더
제임스 리알 리챠드
제이글러 앤드류
이. 오'베어 레이몬드
씨. 스미쓰 켄트
플렌더 그레그
티. 거스트 조엔
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찰스 에이취. 로거스; 패트릭 제이. 왈쉬
바이오메뤼 비텍, 인코포레이티드
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Abstract

본 발명은 테스트 카드에 저장된 테스팅 샘플용 자동 샘플 테스팅 장치에 관한 것이다. 장치는 장치의 다양한 스테이션 중에서 다수의 테스트 샘플 카드 및 유체 저장소를 포함하는 트레이를 이동하기 위한 테스트 샘플 위치 설정 시스템을 갖는다. 장치는 필요할 때 소정된 량의 희석액을 저장소에 부가하기 위한 희석 스테이션을 갖는다. 피펫팅 스테이션은 하나의 저장소로부터 다른 저장소로 유체를 전송한다. 진공 스테이션은 상부 및 하부 위치 사이에서의 트레이에 대하여 이동 가능한 진공 챔버를 갖는다. 챔버는 하부 위치로 내려갈 때 트레이의 상부 표면과 밀봉 결합되게 만들기 위하여 트레이와 함께 동작한다. 진공 발생기는 챔버에 진공을 공급한다. 진공이 챔버로부터 빠져나올때, 상기 유체 샘플은 저장소로부터 카드에 적재된다. 테스트 샘플 위치 설정 시스템은 트레이를 절단 및 밀봉 스테이션으로 이동하고 그 다음에 인큐베이션 스테이션으로 이동하고 동시에 카드를 인큐베이션 스테이션 내의 회전식 원형 컨베이어에 적재된다. 테스트 카드 전송 스테이션은 인큐베이션 스테이션에서 광학 판독 스테이션으로 테스트 카드를 전송하고, 카드 웰 상에서 광학 측정(예를 들면 투과/형광 광학 테스팅) 된다. 카드가 판독될 때, 그것은 부가적인 인큐베이이션 또는 판독을 위하여 인큐베이션 스테이션으로 다시 이동하거나 판독이 완료될 때 적층 카드 처리 시스템에 전송된다.

Description

자동 샘플 테스팅 장치 {AUTOMATIC SAMPLE TESTING MACHINE}
본 발명은 유체 샘플(예를들면 미생물 병인을 포함하는 샘플)을 갖는 하나 이상의 시약으로 채워진 샘플 웰을 갖는 테스트 샘플 카드를 자동적으로 적재되고상기 시약과 반응한 후에 상기 샘플의 광학 분석 장치 및 시스템에 관한 것이다. 특히 본 발명은 생물, 혈액 또는 화학 분석 장치 뿐만 아니라 면역 화학 및 핵산 프로브 분석 장치에 사용하기에 적절하다.
생물 샘플은 투과 및/또는 형광 광학 분석을 포함하는 다양한 기술을 사용하여 화학 또는 광학 분석을 할 수 있다. 상기 분석의 목적은 샘플에서의 미지의 생물 병인 또는 타겟을 알 수 있고, 샘플에서 물질의 농도를 결정하고, 상기 미생물 병인이 어떤 항체에 민감하고 상기 병인에 인한 감염을 치료하는데 효과적일 수 있는 항체의 농도를 결정할 수 있다.
다수의 작은 샘플 웰을 포함하는 밀봉된 테스트 샘플 카드를 사용하는 생물 샘플의 광학 분석을 유도하는 기술이 발전되어 왔다. 전형적으로 미생물 분석을 위한 카드의 제조 동안에, 상기 웰은 다양한 생물 병인에 대한 다양한 형태의 성장 매개체 또는 여러 가지 항체의 다양한 농도 중 하나로 채워진다. 이러한 카드는 전송 튜브 포트를 통하여 카드의 웰에 유체가 들어가게 하는 내부 유체 통로 구조를 갖고 있다. L-형태의 통합 전송 튜브는 전송 튜브 포트로부터 외부로 연장된다. 선행 방법은 전송 튜브의 한 단부를 카드로의 수동적 삽입 및 전송 튜브의 다른 단부를 테스트 튜브로 수동적 삽입 및 전송 튜브 및 테스트 튜브가 부착된 카드를 Vitex
Figure pat00001
필터 밀봉체와 같은 진공 채움 및 밀봉 장치의 수동적인 위치 설정 방법을 포함한다. 상기 채움 및 밀봉 장치는 진공을 발생하고, 테스트 튜브의 유체가 샘플 카드의 웰로부터 빠져나오게 한다. 카드의 웰이 샘플로 로드된 후에, 상기 카드는 상기 기계의 밀봉 모듈에서의 슬롯에 수동적으로 삽입되고, 상기 전송 튜브는 절단되고 그리고 녹고, 카드의 내부를 밀봉한다. 상기 카드는 채움기/밀봉기 모듈로부터 수동적으로 제거되고 VITEX
Figure pat00002
판독기와 같은 판독 및 인큐베이팅 장치로 적재된다. 상기 판독 및 인큐베이팅 장치는 요구된 온도에서 상기 카드를 인큐베이팅 한다. 기본적으로, 상기 카드는 판독 기계의 칼럼에서 적층되고, 광학 시스템은 카드의 칼럼을 따라서 윗쪽 아래쪽으로 이동하고, 동시에 투과 광학 장치에 카드를 밀어넣고 상기 카드를 판독하고, 상기 카드의 칼럼에 카드를 다시 놓는다. VITEX
Figure pat00003
판독기는 찰스 등의 미국 특허 번호 제 4,188,280호에 기술되어 있다.
이러한 장치는 상기 카드를 처리하고 분석하는데 2개의 장치 즉 채움기/밀봉기 및 판독기가 요구된다는 점에서 한계가 있다. 하나의 어려움은 상기 카드의 진공 로딩을 유도하는 통로를 제공하고, 상기 로드된 샘플 카드를 인큐베이션 및 광학 판독 스테이션에 이동하기 위한 통로를 제공하는 것이다. 다른 어려움은 기계 주위의 샘플 카드 및 저장소를 다양한 스테이션에 이동하기 위한 전송 시스템을 설계하는 것이다.
본 자동화된 샘플 테스팅 장치는 감지 테스팅을 위하여 희석하고, 진공 스테이션에서 상기 카드에 샘플을 채우고, 전송 튜브를 절단함으로서 상기 카드를 밀봉하고, 상기 카드의 인큐베이션 및 광학 투과 및 형광 분석을 모두 자동적으로 유도하는 장치를 제공함으로서 상기 목적을 이룩한다. 상기 장치는 하나의 테스트 작동에서 단일 테스트 튜브에 놓여진 샘플의 감지 및 식별 테스팅을 한다. 상기 장치는 샘플의 식별 및 감지 테스팅을 빠르고, 자동적인 수행을 제공한다. 본 발명의 바람직한 형태에서, 다수의 여러가지 테스트 샘플은 하나의 테스트 작동에서 테스트되고, 다양한 스테이션중 상기 장치 주위의 샘플 트레이 또는 "보트"에 이동된다. 상기 트레이는 다수의 테스트 튜브 및 관련된 테스트 샘플 카드를 포함하는 카세트를 수용한다. 상기 장치는 피펫팅 및 희석 스테이션이 상기 하나의 테스트 튜브로부터 다른 테스트 튜브로 전송된 테스트 튜브에 유체가 부가되게 한다.
상기 장치는 베이스 팬 위의 장치 주위에 (테스트 튜브 및 카드를 갖는) 트레이를 이동하는 유일한 샘플 위치 설정 시스템을 갖는다. 위치 설정 시스템은 베이스 팬 상의 스테이션의 통상적인 구성을 허용하도록 설계된다. 부가적인 회전 원형 컨베이어 및 판독 스테이션을 포함하는 장치의 연장은 쉽게 이루어질 수 있다.
본 발명의 이러한 및 다른 특징은 본 발명의 바람직한 실시예의 상세한 설명으로부터 명백할 것이다.
도 1은 카드 처리 스테이션 및 장치 커버 패널이 장치의 다른 특징을 나타내기 위하여 제거된 본 발명에 따른 바람직한 자동 생물 샘플 테스팅 장치의 투시도;
도 1a는 도 1의 장치에서 모든 주요 스테이션의 블록도;
도 2는 장치의 진공 스테이션을 더 잘 나타내기 위하여 제거된 희석 및 피펫팅 스테이션 및 상기 샘플 카드 전송 스테이션 및 광학 시스템의 관계를 나타내기 위하여 포함된 적층 처리 스테이션을 갖는 도 1 장치의 투시도;
도 3은 중앙 마운틴쪽으로 보이는 장치의 오른쪽 측면으로부터 부분 단면된 단면도;
도 4는 유체 샘플이 카드로 적재될때 보트의 상부 표면에 맞물리는 도 2의 진공 스테이션의 진공 챔버의 상세한 투시도;
도 5는 보트가 열 절단 와이어를 통과할 때 카드에 대하여 전송 튜브를 통하여 절단되는 열 절단 와이어 커팅을 나타내고 그러므로서 카드 내부를 밀봉하는 커트 및 밀봉 스테이션의 상세한 투시도;
도 6은 도 1 및 도 2의 테스트 샘플 위치 설정 시스템의 상세한 투시도;
도 7은 도 1 내지 도 3의 보트 및 카세트의 상세한 투시도;
도 8은 조립된 상태로 도 7의 카세트 및 보트의 평면도;
도 9는 도 7의 카세트 및 보트의 측면도;
도 10은 라인 10-10을 따라서 절단된 도 9의 카세트 및 보트의 단면도;
도 11은 카세트에 의해 운반된 카드에 관한 정보를 저장하는 터치 메모리 버튼을 수용하는 카세트의 개구부를 나타내는 도 9의 반대쪽 측면으로부터 보이는 도 7의 카세트 및 보트의 측면도;
도 12는 도 1 및 도 7 내지 도 11의 보트의 바닥 평면도;
도 13은 도 6의 베이스 팬의 평면도;
도 14는 도 1의 희석 및 피펫팅 스테이션의 더 상세한 투시도;
도 15는 도 14의 희석 및 피펫팅 스테이션의 입면도;
도 16은 도 15의 희석 스테이션의 측면도;
도 17은 도 14의 솔레노이드 및 숏 튜브 에셈블리의 확대도;
도 18은 숏 튜브 및 심블 밸브를 더 상세히 나타내고, 부분 단면된 도 14의 희석 스테이션의 분리도;
도 19는 도 18의 심블 밸브의 분리된 단면도;
도 20은 상기 밸브가 유체 수용 포트에 상대적으로 밀봉된 상태일 때 심블 밸브에 상대적으로 플런지의 관계를 나타내는 도 18의 숏 튜브 및 심블 밸브의 분리된 단면도;
도 21은 상기 밸브가 유체 수용 포트에 상대적으로 오픈된 상태일 때 심블 밸브에 상대적으로 플런저의 관계를 나타내는 도 18의 숏 튜브 및 심블 밸브의 분리된 단면도;
도 22는 하우징의 슬롯을 통하여 하우징으로부터 제거된 피펫의 능력을 제어하는 2개의 위치 사이에서 수평 슬라이드의 이동을 나타내는 피펫팅 호퍼 시스템의 단면도;
도 23은 도 22의 피펫 호퍼 시스템의 확대도;
도 23a는 모터(312)를 드럼(340)에 결합하는 커플링을 나타내는 도 23의 회전가능한 드럼의 더 상세한 확대도;
도 24는 피펫 하우징이 피펫 채움 위치로 회전할 때 하우징이 피펫으로 채워지게 하도록 커버 스윙 개방부를 갖는 도 1의 피펫팅 호퍼 시스템의 투시도;
도 25는 스트로가 저장소로 내려갈 수 있도록 추출 위치로 흐르기 위하여 회전된 관 모양의 테이프 전송 핀 어셈블리를 갖는 피펫팅 스테이션(300)의 입면도;
도 26은 도 25에서의 스트로우 호퍼(304)로부터 보이는 관모양의 테이퍼 전송 핀 어셈블리의 상부 평면도;
도 27은 도 26의 라인 27-27을 따라서 절단된 관모양의 테이프 핀 어셈블리의 상부 평면도;
도 28은 피펫과 적절한 마찰을 만들기 위하여 피펫으로 테이퍼링된 관모양 전송 핀의 삽입을 나타내고, 피펫이 피펫 하우징으로부터 제거되게 하는 제 25도의 피펫 호퍼 시스템의 일부분을 부분 단면된 상세도;
도 29는 도 3의 진공 스테이션의 개략적인 도면;
도 30은 카드의 로딩 동안에 시간 함수로서 도 29의 진공 챔버내의 진공에서의 변화를 나타내는 그래프;
도 31은 도 1 및 도 2의 장치에 대한 바람직한 샘플 카드 전송 시스템의 입면도;
도 32는 도 1 및 도 2의 회전식 원형 컨베이어 및 인큐베이션 스테이션의 방향에서 보이는 도 31의 샘플 카드 전송 스테이션의 측면도;
도 33은 구동 어셈블리를 칸막이에 상대적으로 이동하도록 하는 도 31의 운반대 및 슬라이드 어셈블리의 단면도;
도 34는 도 2의 회전식 원형 컨베이어의 슬롯 외부의 카드를 도 31의 샘플 카드 전송 시스템으로 밀어넣는 푸시 메카니즘의 투시도;
도 35는 칸막이의 후미로부터 보이는 푸시 메카니즘의 투시도;
도 36은 카드가 샘플 카드 전송 스테이션의 외부로부터 적층 처리 스테이션으로의 이동을 나타내는 입면도;
도 37은 광학 헤드를 더 자세히 나타내기 위하여 개방 위치에서의 반응기 어셈블리를 갖는 도 1 및 도 2의 광학 판독 시스템의 형광 광학 다음 스테이션의 투시도;
도 38a도는 도 37의 반응기 어셈블리의 정면 평면도;
도 38b도는 도 37의 반응기 어셈블리의 후면 평면도;
도 38c는 도 37의 반응기 어셈블리의 측면도;
도 39는 도 37의 플래시 램프 카세트의 확대도;
도 40은 도 37의 형광 광학 다음 스테이션의 단면도;
도 40a는 도 40의 UV 냉각 미러에 대한 파장의 함수로서 반사 그래프를 나타내는 도면;
도 40b는 도 40의 365nM 대역 통과 필터에 대한 파장의 함수로서 필터 투과 그래프;
도 41은 도 40의 고체 표준의 단면도;
도 42는 도 40의 고체 표준의 여기 및 방출 스펙트럼의 그래프;
도 43은 카드의 6개의 웰을 판독하기 위한 광학 인터럽터 채널 및 6개 채널을 나타내는 도 37의 광학 헤드의 정면도;
도 44는 도 37의 광학 헤드의 후면도;
도 45a는 도 37의 렌즈 어셈블리 홀더의 평면도;
도 45b는 렌즈 어셈블리 홀더의 후면도;
도 45c는 렌즈 어셈블리 홀더의 측면도;
도 45d는 렌즈 어셈블리 홀더의 단면도;
도 46은 도 39의 플래시 램프의 관계 및 도 40의 광학 헤드의 광학 채널을 나타내는 계략적인 도면;
도 47a는 광학 인터페이스 블록에 지지된 검출기 보드를 나타내는 도 37의 광학 인터페이스 블록의 후면도;
도 47b는 광학 채널의 정면에서의 대역 통과 필터의 이동을 나타내는 도 47a의 광학 인터페이스 블록의 정면도;
도 48a는 광학 인터페이스 블록의 6채널 뒤에 놓여진 광학다이오드 검출기를 나타내는 도 40의 검출기 보드의 정면도;
도 48b는 도 48a의 검출기 보드의 후면도;
도 49는 도 37의 형광 물질에 대한 바람직한 피크 검출기 보드의 블록도;
도 50은 도 48a의 광학다이오드 검출기의 입사 광선 파장 함수로서의 응답 그래프를 나타내는 도면;
도 51은 도 40의 445nM 대역 통과 필터에 대한 파장 함수로서의 필터 투과 그래프를 나타내는 도면;
도 52는 도 40의 빔 스플리터에 대한 파장 함수로서 반사 (및 투과) 그래프;
도 53은 도 3의 투과 다음 스테이션의 상세한 입면도;
도 54는 도 53의 3개의 LED 투과 방출 소스중 하나의 투시도;
도 55는 LED 투과 광 소스, 샘플 웰 및 광학다이오드 검출기 사이의 관계를 나타내는 도 53의 투과 부스테이션의 단면도;
도 56은 도 55의 투과 다음 스테이션에 대한 샘플 웰 및 LED 출력부의 입면도;
도 57은 도 2의 적층 처리 스테이션의 분리된 투시도;
도 58은 카드 슬롯 및 스냅 엘리먼트(910A)를 더 잘 나타내기 위하여 제거된 래치 및 압력 플레이트를 갖는 도 57의 적층 처리 스테이션의 다른 투시도;
도 59는 압력 플레이트가 미끄러지는 한 쌍의 가이드 레일을 나타내는 도 57 및 도 58의 적층 처리 스테이션의 투시도;
도 60은 도 57에 도시된 아래 및 반대쪽 측면으로부터 보이는 도 57의 적층 처리 시스템의 다른 투시도;
도 61은 도 57의 왼쪽 또는 정면 지지 플레이트 아래 및 뒷면으로부터 보이는 도 60의 적층 처리 시스템의 다른 투시도;
도 62는 상기 스냅 엘리먼트의 후면 표면 및 압력 플레이트 사이의 영역에서 적층된 다른 카드와 결합하기 위하여 상기 스냅 엘리먼트 상에 카드를 밀어넣는 푸시 플레이트 및 카드 슬롯으로의 카드 삽입을 나타내는 도 57 내지 도 61의 적층 처리 시스템의 부분 평면도;
도 63은 적층 처리 시스템 및 전체 샘플 테스팅 장치를 갖는 바람직한 테스트 샘플 카드의 정면도;
도 64는 도 1의 샘플 카드 전송 시스템(700)에 의해 카드 슬롯으로 카드의 로딩을 나타내는 부분 단면된 입면도;
도 65는 도 57의 정면 지지체의 분리된 투시도;
도 66은 도 61의 바닥 수직 지지체의 분리된 투시도;
도 67은 도 60의 매거진의 분리된 투시도;
도 68은 도 60의 수평 지지체의 분리된 투시도;
도 69는 도 57의 푸시 플레이트의 투시도;
도 70은 도 69의 압력 플레이트의 부분 단면된 측면도;
도 71은 도 69의 압력 플레이트의 단면도;
도 72는 도 57의 푸시 플레이트의 분리된 투시도;
도 73은 도 61의 푸시 플레이트 구동 어셈블리로부터 푸시 슬라이드의 투시도;
도 74는 도 61의 푸시 슬라이드의 정면 입면도;
도 75는 도 74의 푸시 슬라이드의 측면도;
도 76은 도 61의 푸시 플레이트 구동 어셈블리의 푸시 랙의 투시도;
도 77는 카드(28)의 상부 양단에 놓여진 바코드로부터의 정보를 한 쌍의 터치 메모리 버튼으로 로드하는 표준 단독 데이터 입력 스테이션의 투시도;
도 78은 보트 및 카세트가 스테이션 뒤로 이동할 때 판독 스테이션의 2개의 접촉부는 카세트의 측면 상에 2개의 접촉 메모리 버튼을 접촉하고, 중앙 마운틴을 따라서 터치 메모리 버튼 판독 스테이션의 위치 설정를 나타내는 도 1의 중앙 마운틴 및 베이스 팬의 일부분을 나타내는 도면;
도 79는 카드 상의 바코드가 바코드 판독 스테이션에 의해 판독되고 카드 및 카세트가 분리 장치에 의해 통과될 때 카드 및 카세트 일부분의 측면도를 나타내는 도면.
* 도면 주요 부분에 대한 부호의 설명 *
22 : 샘플 트레이 24 : 베이스 팬
26 : 카세트 28 : 카드
32 : 전송 튜브 200 : 회전 숏 튜브
302 : 피펫 400 : 진공 스테이션
602 : 슬롯 604 : 회전식 원형 컨베이어
본 발명은 테스트 샘플 카드의 시약이 채워진 웰에 배달된 유체 샘플을 자동적으로 테스팅하기 위한 장치가 제공된다. 상기 장치는 로딩 스테이션 및 상기 로딩 스테이션으로부터 다양한 스테이션까지 장치 내에서 이동가능한 샘플 트레이를 갖고, 테스트 샘플 및 테스트 샘플 카드 상에서 수행된다. 샘플 및 카드가 트레이에 적재될 때 상기 샘플은 테스트 샘플 카드와 유체 연통하도록 배치된다.
상기 장치는 상부 및 하부 위치 사이에서의 트레이에 대해 상대적으로 이동가능한 진공 챔버를 갖는 진공 스테이션을 포함한다. 상기 진공 챔버는 보다 하부 위치로 내려갈 때, 상기 진공 챔버는 트레이를 밀봉하기 위하여 트레이의 주변 수평 표면과 함께 동작한다. 진공 스테이션은 진공을 상기 챔버에 공급하기 위한 진공 소스 및 진공을 빼고 그리고 방출을 제어하는 밸브를 포함한다. 상기 유체 샘플은 상기 진공이 진공 챔버로부터 방출될 때 카드에 적재된다.
본 발명의 한 특징은 특이한 진공 로딩 기술이 공기 거품이 카드의 웰에 들어가는 것을 막기 위하여 진공 스테이션에 제공된다. 이러한 기술은 진공이 빠질 때 진공 압력의 소정된 레이트의 압력 변화을 유지하고, 상기 카드를 적절히 채우기 위하여 짧은 시간 주기 동안에 임계치 또는 설정 포인트에서의 진공 레벨을 유지하는 기술을 포함한다. 진공 로딩 처리가 완성된 후에, 상기 트레이가 밀봉 스테이션에 앞서고, 열 절단 와이어는 카드에 대해 전송 튜브를 절단하고 대기로부터 카드의 내부를 밀봉하는데 사용된다.
상기 장치는 상기 카드를 인큐베이팅 하기 위한 인큐베이션 스테이션을 갖는다. 테스트 샘플 위치 설정 시스템은 로딩 스테이션으로부터 진공 스테이션까지 그리고 진공 스테이션으로부터 인큐베이션 스테이션까지 이동하는데 사용된다. 상기 카드는 트레이 내부로부터 인큐베이션 스테이션까지 자동적으로 내려진다. 인큐베이션 스테이션에서 카드의 인큐베이션 동안에 카드의 판독에 대한 광학 판독 스테이션이 제공된다. 인큐베이션 스테이션으로부터 광학 판독 스테이션까지 테스트 샘플 카드를 전송하기 위한 테스트 샘플 카드 전송 스테이션이 제공되고, 상기 광학 판독 스테이션은 테스트 샘플로 적재된 샘플의 광학 분석을 유도한다.
본 발명의 바람직한 형태에서, 트레이에서의 저장소 또는 테스트 튜브에 희석액을 선택적으로 부가하기 위하여 희석 스테이션이 제공된다. 피펫 스테이션은 한 저장소로부터 다른 저장소까지 유체 샘플을 전송하는데 사용된다. 상기 희석 및 피펫 스테이션은 바람직하게 서로 가까이 배치되고, 트레이의 저장소 상에서 피펫팅 및 희석 작동이 동시적으로 수행되게 한다.
본 발명의 다른 특징에서, 상기 샘플 카드 및 저장소는 카세트에 적재되고, 상기 카세트는 상기 장치의 트레이에 놓여진다. 표준 단독 정보 시스템은 관련된 유체 또는 테스트 샘플 및 상기 카세트를 갖는 테스트 카드 정보를 제공된다. 판독가능 메모리 저장 장치는 카세트에 제공된다. 판독가능 표시기는 샘플 카드에 응용되고 각 테스트 샘플 카드와 동일하다. 정보 로딩 스테이션은 샘플 카드가 카세터에 적재될 때 다수의 샘플 카드에 대한 판독가능 표시기를 판독하고, 판독가능 메모리 저장 장치로 상기 테스트 샘플 카드에 관한 정보를 저장한다. 상기 카세트가 자동화된 샘플 테스팅 장치내로 이동할 때, 판독가능 메모리 저장 장치에 저장된 정보를 검색하는 정보 검색 스테이션에 의해 통과된다.
바람직한 실시예에서, 상기 정보 로딩 스테이션은 메모리, 시스템의 사용자로부터 메모리로 테스팅 정보 입력을 전송하기 위한 휴먼 인터페이스, 상기 테스트 샘플 카드에 인가된 판독가능 표시기를 갖는 사용자로부터 메모리 테스팅 정보와 관련된 휴먼 인터페이스에 응답하는 소프트웨어 프로그램을 포함한다.
본 발명의 바람직한 실시예는 도면에 기술되고, 동일 참조 부호는 여러 가지 도면에서 동일 엘리먼트를 언급한다.
도 1은 본 발명의 바람직한 실시예를 따라서 테스트 샘플이 채워진 카드(28)의 분석을 유도하는 생물 샘플 테스팅 장치(20)의 투시도를 나타낸다. 상기 장치는 장치를 덮는 한 세트의 제거가능한 커버 패널을 갖고 외관상 아름다운 모습을 제공하고 상기 장치의 기능적인 특징을 더 잘 나타내기 위하여 도시되지 않는 시스템 소자에 사용자 접근을 허용한다. 제 1도에서, 카드(28)에 대한 적층 카드 처리 스테이션은 상기 장치의 다른 요소를 더 잘 설명하기 위하여 제거되었다. 카드 처리 스테이션(900)은 제 2도에 도시되었다. 제 3도는 테스트 샘플 카드(28)가 장치(20)의 몇몇 스테이션에서 처리될 때의 위치를 나타내는 장치의 부분 단면도이다. 도 1a는 본 발명의 바람직한 실시예의 스테이션의 레이아웃 및 보트 및 카세트 어셈블리의 통로 및 장치를 통하는 테스트 샘플 카드 전체를 나타내는 장치(20)의 블록 도이다.
도 1, 1A 및 3에서, 생물 샘플 테스팅 장치(20)는 4개의 독립 모터 구동 패덜로 구성된 생물 테스트 샘플 위치 설정 시스템(100)을 포함하고, 상기 구동 패덜은 장치(20) 주위의 베이스 팬(24) 양단에 카세트(26)와 함께 동작하는 샘플 트레이(22)(여기서는 "보트"로 언급됨)을 몇몇 개별 스테이션으로 이끌고, 상기 개별 스테이션은 카세트(26)의 카드 및 저장소 상에서 다양한 작동이 수행된다. 상기 과정이 시작하기 전에, 기술자는 테스트 튜브(30)가 테스될 샘플 또는 제어 샘플을 포함하도록 다수의 테스트 카드(28) 및 저장소를 갖는 카세트를 적재된다. 각 테스트 카드(28)는 생물 샘플을 포함하는 유체가 테스트 튜브(30)으로부터 빠져나와 테스트 카드(28)의 시약이 채워진 웰로 흐르게 하기 위해 카드로부터 돌출되는 L-형태의 전송 튜브(32)를 갖는다. 상기 기술자는 제 1도에 도시된 베이스 팬(24)의 정면, 오른쪽 코너와 같은 장치에 대하여 로딩 스테이션에서 보트(22)에 적재된 카세트(26)을 놓는다. 결합된 보트(22) 및 적재된 카세트(26)는 테스트 샘플 시스템(100)에 의해 상기 장치(20) 주위의 베이스 팬(24)의 표면 위의 유니트로서 이동된다.
전형적인 미생물 테스팅 계획에서, 아래에 설명의 목적으로 그러나 제한되지 않는 설명에서, 테스트 카드(28)은 2개의 변형체을 갖는다. 즉, 첫째는 카드가 제조될 때 다양한 성장 매개체가 각 카드(28)의 각 웰에 놓이는 식별 카드, 및 둘째로 여러 가지 항체의 여러 가지 농도가 카드(28)의 각 웰에 놓여진 감지 카드이다. 상기 식별 카드는 특히 미지의 미생물 병인 즉, 샘플에 있는 미생물(박테리아) 등을 식별하는데 사용된다. 감지 카드는 다양한 항체의 농도 또는 다른 약물에 미생물 병인의 민감도를 결정하는데 사용된다. 아래에 기술된 테스트 과정에서, 식별 및 감지 카드는 장치(20)(예를들면 한 테스트 작동)의 작동 한 사이클에서 단일 샘플 상에서 수행될 수 있다. 이것을 수행하기 위하여, 상기 카세트(26)은 전송 튜브(32)를 통하여 식별 카드(28A)에 접속된 미생물 샘플을 포함하는 테스트 튜브(30A)가 전송 튜브(32)를 통하여 감지 카드(28B)에 접속된 비어있는 테스트 튜브(30B)에 인접하여 놓이도록 적재된다.
바람직하게 카드(28)은 상기 장치(20)에서 만들어진 바코드 판독기에 의해 판독되기 위하여 카드 상에 바 코드 및 다른 식별 표시를 포함한다. 상기 바코드는 각 카드 및 카드 형태, 만료 기간, 연련 번호등과 같은 카드 정보를 식별하는데 독특하고, 환자 및 생물 샘플을 갖는 카드로부터 테스트 날자 또는 결과 등을 수정하는데 사용된다. 부가하여, 전체 보트 또는 카세트는 달라스 반도체 회사, 4401 S. Beltwood Parkway, Dallas Texas로부터 이용할 수 있는 메모리 버튼 또는 "터치 버튼"과같은 카세트(26)에 고정된 하나 이상의 메모리 장치 상에 저장된 카세트에 적재된 모든 카드에 대한 샘플 정보를 갖을 수 있다.
제 1도에 도시된 예에서, 보트(22)의 7개 또는 8개의 테스트 튜브(30)는 미생물 샘플을 포함하고, 스트로(straw)-모양 전송 튜브(32)에 의해 식별 카드(28A)와 유체 연통된다. 생물 샘플 테스트 튜브(30A) 및 관련된 식별 카드(28A)는 한 세트로서 생각할 수 있다. 생물 샘플 테스트 튜브 및 식별 카드는 전형적으로 카세트(26)에서 다른 형태로 정렬된다. 각 생물 샘플 테스트 튜브(30A) 및 식별 카드(28A) 세트는 전송 튜브(32)을 통하여 감지 카드(28B)와 연결 상태로 놓여진 비어있는 테스트 튜브(30B)와 인접한다. 상기 카드 및 관련된 테스트 튜브는 샘플에 대하여 특정 테스팅 요구에 따라서 카세트의 어떤 순서로 정리될 수 있다. 예를들면 카드는 아래로 같이 정렬될 수 있다. 식별(ID), 감지(SU), ID, ID, IS, SU, SU, ID, SU.... 추가 예는 모두 식별 카드 및 모두 감지 카드로 될 수 있다.
테스트 샘플 위치 설정 시스템(100)은 베이스 팬(24) 상의 보트(22) 및 카세트(26)을 희석 스테이션(200)으로 이동하기 위하여 작동한다. 상기 희석 스테이션은 소정된 량의 희석액(염류 용액과 같은)이 카세트(26)의 비어있는 감지 테스트 튜브 예를들면 테스트 튜브(30B)에 부가되는 회전 숏 튜브(202)를 포함한다. 다른 형태의 유체는 회전 숏 튜브에 의해 테스트 튜브에 시약과 같은 것이 부가될 수 있고, 상기 희석 스테이션(200)은 단지 희석액을 테스트 튜브에 부가하는데 국한되지 않는다. 보트(22)의 리딩 에지가 이러한 공정 동안에 왼쪽으로 이동할때, 그것은 피펫 스테이션(300) 아래로 통과한다. 상기 피펫 스테이션(300)은 피펫(304)의 소스로부터 피펫(302)를 자동적으로 제거하는 메카니즘을 포함하고, 피펫(302)이 생물 샘플 테스트 튜브(30A)로 내려가고, 피펫(302)를 사용하여 생물 샘플 테스트 튜브(30A)로부터 소정된 량의 미생물 액을 진공으로 뽑아낸다.
테스트 샘플 위치 설정 시스템(100)은 상기 보트(22)를 인접한 테스트 튜브(30A)와 (30B)사이 즉 15mm 떨어진 거리와 동일한 거리로 왼쪽으로 이동시킨다. 상기 피펫 스테이션(300)은 미생물 샘플 테스트 튜브(30A)로부터 생물 유체를 포함하는 피펫(302)이 (희석 스테이션(200)으로부터 희석액을 이미 수용한) 인접한 감지 테스트 튜브(30B)로 내려가고, 유체를 상기 테스트 튜브(30B)에 배출하고, 상기 피펫(302)이 감지 테스트 튜브(30B)로 내려간다. 테스트 샘플 위치 설정 시스템(100)에 의한 보트(22)의 이동 과정은 희석 스테이션(200)에서 감지 테스트 튜브(30B)에 희석액을 부과하고, 피펫 스테이션(300)에서 생물 샘플 테스트 튜브(30A)로부터 인접한 감지 테스트 튜브(30B)까지 생물 샘플을 전송하고, 모든 식별 또는 감지 테스트 튜브 세트(만약 있다면)는 보트(22)에서 처리된다. 가까이 배치된 피펫 스테이션(300) 및 희석 스테이션(200)에 의하여, 동시적인 희석 및 피펫 작동은 단일 보트(22)에서 여러 가지 테스트 튜브에서 작동될 수 있다. 최종 피펫 작동이 수행된 후에, 테스트 샘플 위치 설정 시스템(100)은 보트(22)를 베이스 팬(24)의 왼쪽 에지로 이동한다.
카세트(26)은 일련의 생물 샘플이 샘플의 내용을 식별하기 위하여 테스트되는 경우와 같이, 테스트 튜브(30) 및 식별 카드(28)가 생물 샘플로서 적재될 수 있다는 것을 당업자는 이해할 수 있을 것이다. 이러한 예에서, 희석 및 피펫 작동은 필요하지 않다. 그러나 다른 형태의 샘플 테스트에서, 다른 희석액 또는 시약 또는 유체가 부가되거나 또는 테스트 튜브로부터 꺼낼 수 있다. 희석 또는 피펫 작동이 수행되지 않는 (피펫 및 희석 작동이 오프-라인으로 수행됨) 예에서, 상기 카세트(26)은 테스트 튜브 및 카드가 적재되고, 위치 설정 시스템(100)은 보트(22)을 이동하고 적재된 카세트(26)은 베이스 밴(24)의 왼쪽 에지로 정지됨이 없이 희석 스테이션(200) 및 피펫 스테이션(300)을 직접 통과한다.
베이스 팬(24)의 왼쪽 에지에서, 테스트 샘플 위치 설정 시스템(100)은 왼쪽 에지를 따라서 보트(22)를 진공 스테이션(400)으로 이동하기 위하여 작동한다. 진공 스테이션(400)은 제 2도에 더 잘 도시되고, 제 4, 5 및 29도는 희석 스테이션(200) 및 피펫 스테이션(300)이 제거된 장치(20)의 투시도이다. 진공 스테이션(400)에서 진공 챔버(402)는 진공 챔버(402)의 바닥 표면이 보트(22)의 상부 주변 표면(23)을 맞물리도록 보트(22)에 내려간다. 진공 챔버는 (제 4도에 도시되지 않았지만) 장치에 대한 통상적인 진공 소스와 연락하는 호스(406, 408)(제 4도)을 갖는다. 진공은 테스트 샘플 카드(28)의 내부에서의 공기를 관련된 테스트 튜브의 외부로 배출하고, 챔버(402)로부터 빠져나오도록 하는 마이크로프로세서 제어하에서 챔버(402)로 인가된다. 진공 사이클은 진공 변화율 및 완성된 진공 사이클의 시간을 조정하기 위하여 밀봉된 루프 서보 시스템을 사용함으로서 채움을 최적화하기 위하여 정확히 관리된다. 소정된 주기 후에, 챔버(402)는 마이크로프로세스 제어 하에서 대기로 배출된다. 카드의 배출은 테스트 튜브(30)의 유체를 카드(28)의 웰을 채우는 카드(28)로 배출되게 한다. 챔버(402)가 배출된 후에, 상기 보트가 장치(20)의 다른 스테이션에 이동되게 하도록 진공 챔버 구동 메카니즘(410)에 의해 상기 챔버가 상승된다.
테스트 샘플 위치 설정 시스템(100)은 제 1도 및 제 2도의 중앙 마운틴(34) 뒤에 배치된 절단 및 밀봉 스테이션(500)에 베이스 팬(24)의 후미 양단 오른쪽에 보트(22)를 이동시키기 위하여 작동한다. 제 4도 및 제 5도에서, 상기 차단 및 밀봉 스테이션(500)은 열 절단 와이어(506) 및 부착된 지지 플레이트(504) 및 절단 와이어를 내리는 구동 메카니즘(502)(예를들면 스텝퍼 모터, 구동 벨트, 납 스크류)으로 구성되고, 테스트 카드(28)에 들어가는 전송 튜브(32)에 인접한 전송 튜브(32)의 상부 부분으로서 동일하게 상승하는 플레이트(504)를 지지한다. 보트(22)가 차단 및 밀봉 스테이션(500) 통과하여 이동함으로서, 전송 튜브(32)는 열 절단 와이어(506)을 통과한다. 전송 튜브 재료의 작은 스터브는 카드(28)의 내부 상에 남아있다. 상기 스터브는 대기(어떤 형태의 카드에서 샘플 벽을 덮는 산소 투과 가능한 테이프를 통하여 산소와 같은 가스 확산을 가능하게 하는 것을 제외한)로부터 카드(28)의 내부를 밀봉한다. 상기 보트가 스테이션(500)을 통과할 때, 와이어(506)은 상부 위치로 상승한다.
제 1도 및 제 3도에서, 테스트 샘플 위치 설정 시스템(100)은 회전식 원형 컨베이어 인큐베이션 스테이션(600)에 중앙 마운틴(34) 뒤의 베이스 팬(24)의 후미 양단 보트(22)를 이동시킨다. 왕복 운동을 하는 랙 및 피니언 톱니바퀴 구동기(610)는 슬롯(602)를 통하여 회전식 원형 컨베이어(604)에서 동시에 카세트(26)에서 카드를 빼내는 장치의 슬롯(602)에서 반대쪽 중앙 마운틴에 지지된다. 회전식 원형 컨베이어(604)는 적절한 인큐베이션 온도에서 지지되는 밀봉체에 들어간다. 상기 밀봉체는 회전 원형 컨베이어(604)을 나타내기 위하여 제 1도 및 제 2도에서 부분적으로 절단된 것이다. 회전 원형 컨베이어(604)는 카세트(26)의 다음 카드에 반대인 슬롯(602)를 갖는 라인에서 회전식 원형 컨베이어에서 다음 슬롯을 놓기위하여 테스트 샘플 위치 설정 시스템(100)에 의해 베이스 팬(24)의 후미 상에 보트(22)의 이동을 갖는 구동 시스템(612)에 의해 회전된다. 만약 회전식 원형 컨베이어가 카드를 부분적으로 적재된다면, 장치의 작동 시스템은 회전식 원형 컨베이어(604)에서 무게 분포 균형을 유지하기 위하여 회전식 원형 컨베이어의 카드를 동일하게 분포하는 인접하지 않는 슬롯으로 카드를 적재되기 위하여 회전식 원형 컨베이어(604) 회전을 제어할 수 있다. 예를들면 회전식 원형 컨베이어는 60개의 슬롯을 갖고 30카드만이 처리되고, 상기 카드는 모든 다른 슬롯으로 적재될 수 있을 것이다.
한 번에 다수의 카드를 처리하는데 요구된 부가적인 인큐베이션 능력은 베이스 팬의 후미에 부가적인 인큐베이션 스테이션을 부가함으로서 제공될 수 있고, 베이스 팬 크기 및 필요에 따라서 구동 시스템 소자를 조정할 수 있다. 부가적인 광학 스테이션은 부가적인 회전식 원형 컨베이에 제공될 수 있다. 예를들면, 만약 회전식 원형 컨베이어(604)가 60개의 슬롯을 갖고 카세트는 15개 카드를 지지하고, 44개의 보트는 동시에 처리될 수 있을 것이다. 만약 제 2회전식 원형 컨베이어가 부가된다면, 120카드 정도는 즉시 처리될 수 있을 것이고, 물론 여러 가지 수용능력이 카세트(26) 및 회전식 원형 컨베이어(604)에 제공될 수 있을 것이다.
모든 카드(28)가 회전식 원형 컨베이어(604)에 적재된 후에, 상기 보트(22)는 시작 위치(제 1도 및 제 2도에 도시된) 또는 (만약 있다면 테스트 튜브 피펫(302) 및 전송 튜브 잔존물을 포함하는) 카세트(26) 제거 및 새로운 카세트를 수용하기 위한 출구 위치로 베이스 팬(24)의 오른쪽 에지를 따라서 이동한다. 선택적으로, 상기 보트(22)는 베이스 팬(24)의 후미 또는 오른쪽에 배치된 출구 스테이션에 이동될 수 있다.
카드(28)가 인큐베이션 스테이션(600)에서 인큐베이팅될 때, 상기 카드는 왕복운동하는 랙 및 피니온 구동(602) 및 관련된 스테퍼 모터에 의해 한 번에 하나씩 회전식 원형 컨베이어(604)의 상부에서 회전식 원형 컨베이어(604)의 슬롯을 주기적으로, 연속적으로 밀어낸다. 광학 스캐너 카드 전송 스테이션(700)에 의해 이동된 상기 카드(28)는 전송 다음 스테이션(802) 및 형광 다음 스테이션(804)을 갖는 형광 및 전송 광학 스테이션(800)을 통과한다. 카드(28)의 벽은 투과 및 형광 광학 스테이션(800)에 의해 수행될 필요가 있는 분석에 따라서 투과 또는 형광 광학 테스팅 세트로 되기 쉽다. 투과 및 형광 광학 스테이션(800)은 카드(28)의 웰에 대해 투과 및 형광 데이터를 발생하고, 장치(20)에 대한 중앙 처리 장치(cpu)에 데이터를 기록하기 위하여 검출기 및 처리 회로를 포함한다. 만약 테스트가 완성되지 않았다면, 전송 스테이션(700)은 인규베이션 및 부가적인 판독을 위하여 회전식 원형 컨베이어(604)의 슬롯으로 다시 카드(28)를 이동한다.
전형적으로, 각 카드는 회전식 원형 컨베이어가 한 번의 회전을 할 때 매 15분 마다 판독될 것이다. 카드(28)에 대한 전형적인 인큐베이션은 시간당 4개의 전송 또는 형광 데이터 세트로 구성된 2 내지 18 시간의 순서이고, 각 데이터 세트는 다중 기록으로 구성되고, 카드(28)의 각 웰은 광학 분석 요구로 되기 쉽다.
테스팅이 완성된 후에, 광학 스캐너 전송 시스템(700)에 의해 카드 출력 스테이션(900)에 의해 이동된 상기 카드는 제 2도 및 제 3도에 도시되어 있다. 카드 출력 스테이션(900)은 광학 스테이션(800)과 동일한 높이에서 광학 스테이션(800)의 측면에 배치되고 떼어낼 수 있는 트레이 또는 메가진(902) 및 관련된 지지 구조로 구성된다. 스테이션(900)은 매거진(902) 내에서 이동가능한 압력 슬라이드(914) 및 매거진의 정면을 향하여 압력 슬라이드를 바이아싱하는 일정한 힘의 스프링을 갖는다. 상기 카드는 압력 슬라이드(914) 및 매거진(902)의 측면에서 형성된 대향하는 탄성 스냅 엘리먼트 사이의 매거진에서 적층된다. 기술자는 필요할 때 또는 매거진이 모드 카드로 채워질 때 매거진(20)으로부터 매거진(902)을 제거하고, 적절한 생물학적인 위험 처리 장치에 비우고 매거진(902)를 장치(20)에 다시 채운다.
개방 저장소(30)에 포함된 생물 샘플을 포함하는 테스팅 유체에 대한 자동화된 테스팅 시스템 또는 장치(20)가 기술된다. 시스템(20)은 다수의 샘플 웰을 갖는 테스트 샘플 카드(28)과 함께 사용되고, 상기 테스트 샘플 카드는 감지 카드 및 식별 카드를 포함한다. 상기 시스템은 베이스 팬, 저장소(30)을 운반하는 트레이(22) 및 베이스 팬(24) 양단에 테스트 카드, 소정된 유체 량을 상기 저장소(30)의 적어도 하나에 부가하기 위한 희석 스테이션(200) 및 트레이(22)에서의 상기 저장소의 하나로부터 트레이(22)에서의 다른 하나의 저장소(30B)로 테스트 샘플을 전송하기 위한 피펫 스테이션(300)을 포함한다. 트레이(22)에 대하여 이동가능하고, 저장소(30) 및 카드(28) 주위에 진공 밀봉을 형성하기 위하여 트레이(23)의 주변 에지와 합동 작동하는 진공 스테이션(400, 402)이 제공한다. 진공 스테이션은 유체 샘플을 카드(28)의 웰에 적재되기 위한 진공 소스를 포함한다. 밀봉 스테이션(500)은 카드(28)을 적재된 후에 카드를 밀봉하기 위하여 제공된다. 인큐베이션 스테이션(600)은 카드(28)을 인큐베이팅하기 위하여 제공되고, 판독 시스템(802, 804)은 카드(28) 웰의 광학 분석을 유도하기 위하여 제공된다. 위치 설정 시스템(100)은 진공 스테이션(400)에서 인큐베이션 스테이션(600)으로 베이스 팬(24)을 통하여 트레이(22)을 이동하고 트레이(22)로부터 인큐베이션 스테이션(600)으로 카드를 적재되는 구동기(610)을 갖는다. 구동 시스템(700)은 인큐베이션 스테이션(700)에서 판독 스테이션(802, 804)으로 카드를 이동시키기 위하여 제공된다. 그래서, 카드를 처리하고 카드의 광학 분석을 유도하는 전체 공정이 자동화된다.
자동화된 샘플 테스팅 장치(20)는 유체 샘플에서 생물 병인을 식별 및 감지 테스팅을 유도하는 방법을 수행하고, 상기 유체 샘플은 제 1개방 저장소 또는 테스트 튜브(30A)에 놓여진 생물 병인을 포함한다. 상기 방법은 아래와 같은 사항을 수행한다.
상기 샘플 홀더(26)에 의해 수용된 식별 테스트 샘플 카드(28A)을 갖는 L-자형 전송 튜브를 통하여 유체 연통하도록 배치된 유체 샘플을 갖는 샘플 홀더 또는 카세트(26)에 제 1저장소(30A)를 놓는 단계;
상기 샘플 홀더(26)에 제 2개장 저장소(30B)를 놓고, 상기 제 2개방 저장소(30B)는 샘플 홀더(26)에 의해 수용된 감지 테스트 샘플 카드(28B)와 유체 연통된다.
제 1 및 제 2 저장소(30A, 30B) 및 식별 및 감지 테스트 샘플 카드(28A, 28B)을 자동화된 샘플 테스팅 장치(20)에 놓는단계;
그 후, 상기 장치 내에서,
소정된 량의 희석액을 (희석 스테이션(200)을 통하여) 제 2 저장소(30B)로 부가하는 단계;
제 1저장소(30A)로부터 유체 샘플의 일부분을 (피펫 스테이션(300)을 통하여) 제 2저장소(30B)로 전송하는 단계;
각 진공 스테이션(400)에서 제 1 및 제 2저장소(30A, 30B)로부터의 유체를 식별 및 감지 카드에 적재되는 단계; 및
스테이션(802, 804)에서 식별 및 감지 카드(30A, 30B)의 광학 분석을 유도하는 단계를 수행한다.
상기 방법에서 중요한 장점은 소정된 량의 희석액을 저장소(30B)에 부가하는 단계, 저장소(30A)에서 저장소(30B)로 유체의 일부분을 전송하는 단계, 식별 및 감지 카드의 광학 분석 및 진공 로딩은 어떤 사람의 간섭없이 자동화된 샘플 테스팅 장치(30) 내에서 자동적으로 수행된다.
보트(22) 및 카세트(24) 작동 특징
본 발명의 바람직한 실시예에서, 보트(22)는 기계 주위의 이동 사이클 동안에 회전하지 않고, 그래서 보트(22)의 일반적인 방향은 변하지 않는다. 상기 보트가 바람직한 실시예에서 4개의 직각을 따라서 이동될 때, 상기 보트(22)는 바람직하게 4개의 측면을 갖는 직각 형태로 주어지고, 각 측면은 구동 시스템(100)(제 6도 참조)에서 4개의 패덜(38A-D)의 하나에 맞물리는 표면을 갖는다.
보트(22) 및 카세트(26)은 제 7도 내지 제 12도의 여러 가지 도면에 도시된다. 상기 보트 및 카세트는 (클린닝을 위하여 제거된 것을 제외하고) 카세트(26)에서 카드를 처리한 후 장치(20)에서 전형적으로 남아있는 보트(22)를 갖는 바람직한 실시예의 분리가능한 유니트이다. 상기 카세트(26)은 카드(28) 및 테스트 튜브(30) 오프 라인으로 로드되고, 데이터 엔터리 기능이 후에 기술될 것이고, 상기 적재된 카세트는 전체 처리 공정의 초기에서 기술자에 의해 장치(20)에서 보트(22)에 놓인다. 선택적인 실시예에서, 상기 보트 및 카세트는 카드 및 테스트 튜브를 로딩하기 위하여 장치(20)으로부터 제거되고 다음 연속 공정에 대한 장치의 로딩 스테이션으로 놓이는 통합 단일의 샘플 홀더일 수 있다.
제 7도 내지 제 12도에서, 보트(22)의 측면 벽(81)에 상대적인 각에서 경사지는 패덜 맞물림 표면(60A)을 갖는다. 이러한 평면 표면(60A)는 상기 패덜이 베이스 팬(24)의 정면 측면을 통하여 상기 보트에 미끄러질 때 패덜(38A)의 평면 경사진 표면 헤드와 맞물린다. 패덜(38A)(제 6도)이 보트(22) 상의 제2표면에 맞물리도록 하는 제 2 경사진 맞물림 표면(60AA)이 제공된다. 제 2 맞물림 표면(60AA)이 베이스 팬(24)의 극 정면 왼쪽 코너에 상기 보트를 이동하기 위하여 필요한 샤프트(42A) 상에 콜러 여행을 줄인다. 상기 패널(38A)는 표면(60A)과 맞물리게 회전할 수 있고, 샤프트(42A)가 표면(60AA)에 인접한 위치 아래로 이동되고 표면(60AA)와 맞물리게 다시 회전된다.
보트(22)의 오른쪽은 패덜(38D)이 베이스 팬(24)의 오른쪽을 따라서 상기 보트를 이동시킬 때 패덜(38D)에 의해 맞물리는 표면(60D)를 갖는다. 유사한 맞물림 표면은 보트(22)의 후미 및 오른쪽에 제공된다.
카세트(26)은 샘플 카드(28)에 대하여 다수의 슬롯(61)을 갖고, 슬롯의 각각은 테스트 튜브를 안전하게 유지하는 테스트 튜브 지지 슬롯(62)에 인접한다. 탱(tang)(64) 또는 다른 적절한 탄성 부재는 테스트 튜브 지지 슬롯(62)에서 내부로 연장하고 테스트 튜브가 슬롯(62)로의 이동을 막는다. 카드 슬롯(61)는 벽(70)에 의해 서로로부터 분리된다. 상기 슬롯(61)은 인접한 벽(70) 사이에서 샘플 카드의 전방 및 후방으로 이동량이 적게 하는 크기가 주어진다. 벽(70)은 카드(28) 상승 통로의 1/3정도 연장되고, 분리 장치(94)(제 3, 79도 참조)에 의해 카드의 전방 및 후방 록 운동을 허용하고 바 코드 판독기가 카드의 상부에 놓여진 바 코드를 판독하게 한다.
카드(28)은 슬롯(61)의 바닥(66)상에 놓인다. 카세트(26)를 빠져나온 카드가 슬롯의 개구 측(68)을 통하여 인큐베이션 스테이션(600)(제 1도)으로 들어가게 한다.
제 7도에서 보트(22)는 테스트 튜브로부터 어떤 스필(spills)을 포함하는 평면 바닥(74)을 갖는다. 바닥(74)은 카세트(26)가 보트(22)에 적재될 때 카세트(26)을 수용하기 위한 형태이다.
보트(22)는 보트(22)의 측면 빛 바닥을 따라서 다수의 강화된 ??(76)에 의해 지지된 실질적으로 평평한 상부 평면 표면(23)을 갖는다. 표면(23)은 진공 챔버(제 2도)의 바닥 표면을 밀봉적으로 종사한다. 상기 립(76)은 보트(22)가 챔버(402)에 의해 보트(22)의 주변 밀봉 표면(23)에 놓여진 압축 힘을 견디게 한다.
제 11도에서, 한 쌍의 개구부(78)은 터치 메모리 저장 버튼(도시되지 않았음)을 수용하는 카세트(26)의 후미에 제공된다. 터치 버튼은 카세트(26)에 적재된 카드(28)의 내용을 식별한다. 이러한 정보는 장치(20)(제 3도참조)의 중앙 마운틴(34)에 지지된 터치 버튼 판독기(85)에 의해 판독된다. 바람직하게, 독립형 카세트 식별 스테이션은 장치(20)에 제공된다. 상기 스테이션은 컴퓨터 단말 및 터치 버튼 접촉을 갖는다. 상기 접촉부는 카세트에 대하여 카드에 관한 정보를 터치 버튼 개구부(78)에 놓여진 2개의 터치 버튼에 적재된다.
테스트 샘플 배치 작동 특징
제 6도 및 제 13도에서, 테스트 샘플 위치 설정 시스템(100)은 상세히 기술될 것이다. 시스템(100) 위치 설정 시스템(100)의 구성을 더 상세히 나타내기 위하여 제거된 중앙 마운틴(34) 및 인큐베이션 스테이션(600)에 지지된 모든 스테이션을 갖는 제 6도의 투시도에 도시되어 있다.
시스템(100)은 보트(22)가 장치(22)의 스테이션으로부터 스테이션까지 밀리는 테이블 지지 구조체(18)에 지지된 베이스 팬(24)을 갖는다. 바람직한 실시예의 베이스 팬(24)는 서로에 대해 정면, 왼쪽(LHS), 뒤쪽, 오른쪽(RHS)에서 직각인 4개의 측면을 갖는 직각 형태이다. 4개의 측면은 보트(22)가 샘플 카드(28)의 모든 작동이 완성된 후에 로딩 스테이션(제 1-2도에 도시된)에서 시작 스테이션와 반대로 장치 주위 루프의 시계 방향으로 이동하게 한다. 그러나, 샘플 위치 설정 시스템의 원리는 베이스 팬(24)에 대해 다른 구조로 응용할 수있다. 부가적으로, 패덜 및 모터는 반 시계 방향으로 보트(22)을 이동할 수 있을 것이다.
보트(22)는 한 세트의 상승된 리지(37) 및 베이스 팬(24)의 주변부 주위로 연장되는 상승된 리지(37) 사이에 형성된 그로브(36)을 포함하는 트랙 부분 형태에 적합한 4개의 코너에서 4개의 아래로 매달린 발(72)(제 9도 및 제 10도)을 갖는다. 상기 그루브(36)은 보트(22)가 베이스 팬(24) 상에 이끌어질 때 보트(22)의 어떤 회전을 막는다.
보트(22)가 제 13도에 도시된 바와같이, 로딩 스테이션에 최초로 배치될 때, 보트(22)의 왼쪽 정면(LF) 및 오른쪽 정면(RF) 발은 그로브(36A)에 배치되고, 오른쪽 뒷면(RR) 발(72)는 그로브(36A, 36D)의 교차점에 RF 발을 갖는 그로브(36D)에 배치된다. 다수의 슬롯(35)는 보트(22)가 베이스 팬(24) 주위에 움직일 때 보트(22)의 발을 리지(36)을 통하여 이동하게 하기 위하여 상승된 리지(37)에 제공된다. 예를들면, 슬롯(35D)는 오른쪽 뒷면 RR 발(37B)이 상승된 리지(37D)를 움직이게 하고, 슬롯(35B)는 왼쪽 뒷면 LR 발이 리지(37B)을 그루브(36B)로 빠르게 이동하게 한다. 중앙 마운틴(34)는 상기 보트가 베이스 팬의 왼쪽 측면을 따라서 움직일 때 아래로 회전하는 것을 막기위하여 바람직하게 여리한 형태가 주어진 코너(33)을 갖는다.
베이스 팬 주위를 시계 방향으로 보트(22)을 이동하기 위하여, 4개의 독립 구동 시스템은 보트(22)를 이동하기 위하여 제공된다. 각 구동 시스템은 베이스 팬(24)의 4개의 측면의 하나를 따라서 한 방향으로 보트(22)를 이동한다. 제 6도에서, 제 1구동 시스템은 베이스 팬(24)의 정면 에지를 따라서 보트(22)를 이동하기 위하여 제공되고, 직각 단면을 갖는 회전 가능한 샤프트(42A), 샤프트(42A)에 지지된 콜러(40A), 샤프트(42A)을 따라서 콜러(40A)을 움직이기 위하여 콜러에 지지된 구동 벨트(44A), 벨트(50A)를 구동하는 스텝퍼 구동 모터(48A), 베이스 팬의 정면 에지를 따라서 구동 벨트(44A)를 앞 뒤로 움직이게 하는 풀리(52A), 구동 벨트(44A)에 대한 제 2풀리(46A)을 갖는다. 패덜(38A)는 콜러(40A)에 지지되고, 보트(22)의 측면 상에 하나 이상의 보충 표면(표면(60A))에 맞물리게 하도록 제공된다. 구동 모터(48A)는 콜러(40A)가 샤프트(42A)를 따라서 왼쪽으로 이동하도록 벨트(44A)를 움직이도록 작동할때, 패덜(38A)는 보트(22)를 베이스 팬(24) 양단의 왼쪽으로 당긴다.
샤프트 회전 모터(54A)는 90정도로 샤프트(42A)의 회전하기 위하여 관련된 벨트 및 풀리(도시되지 않았음)를 구비한다. 패덜(38A)의 헤드가 보트(22)의 방향의 수평 위치에 있도록 샤프트 회전 모터(54A)가 샤프트(42A)를 회전할 때, 패덜(38A) 및 콜러(40A)가 샤프트(42A)를 따라서 이동할 때 패덜(38A)이 보트(22)를 이끌기 위하여 보트(22)의 측면 상의 표면에 맞물리는 위치에 있다. 보트가 베이스 팬(24)의 정면 에지를 따라서 이동의 끝에 도달할 때, 샤프트 회전 모터(54)는 패덜(38A)이 보트(22)의 측면으로부터 떨어져 위쪽으로 회전하는 방향에서 90도로 샤프트(42A)를 회전하고, 그러므로서 보트(22)로부터 패덜(38A)가 풀려난다.
샘플 위치 설정 시스템(100)의 각각의 다른 3가지 구동 시스템은 베이스 팬(24)의 정면 에지에 대해 상기 기술한 구동 시스템에 동일하게 작동하고, 각 동일 소자로 구성된다. 예를들면, 왼쪽(LHS) 구동 시스템은 샤프트(42B), 부착된 패덜(38B)를 갖는 콜러(40B), 샤프트 회전 모터(54B) 등을 갖는다. 베이스 팬의 뒤쪽 에지에 대한 동일 소자는 회전 가능한 샤프트(42C), 벨트 구동 모터(48C) 등을 포함한다. 유사하게, 오른쪽(RHS) 구동 시스템은 회전 샤프트(42D), 콜러(40D), 및 부착된 패덜(38D)를 갖는다.
희석 스테이션 작동 특징
제 1도의 희석 스테이션(200)은 제 14도 내지 제 16도에 상세히 도시되어 있다. 제 14도는 각각 희석 및 피펫 스테이션(200, 300)의 투시도이다. 제 15도는 스테이션의 입면도이고, 제 16도는 희석 스테이션의 측면 입면도이다.
제14도 내지 제 16도에서, 희석 스테이션(200)은 테스트 튜브와 같은 저장소에 제어된 유체 량을 분배하기 위한 시스템으로서 생각할 수 있다. 스테이션(200)은 적절히 경사진 셀프(203)에 지지되는 가요성 염류 용액 백과 같은 희석 용액 소스(204)를 갖는다. 회전 숏 튜브(202)는 도관 또는튜브(206)을 통하여 소스(204)로부터 유체를 수용하는 소정된 량을 갖는다. 필터(208)은 오염 물질이 라인(206)으로 들어가는 것을 막기 위하여 도관(206)에 놓인다.
솔레노이드(220)은 숏 튜브(202)의 개구 단부(201) 내에 놓여진 심블 밸브의개구부를 조정하기 위하여 제공된다. 심블 밸브는 도관(206)으로부터 숏 튜브(202)로 유체의 흐름을 제어한다. 유체(204)의 소스가 상기 숏 튜브(202) 상에 놓이기 때문에, 상기 유체는 중력에 의해 흐르는 숏 튜브(202)를 채운다. 숏 튜브(202)는 솔레노이드(220) 하우징에 지지된다. 솔레노이드(220) 및 부착된 숏 튜브는 구동 벨트 및 풀리(도시되지 않았음)을 갖는 모터(219)(제 16도)에 의하여 칸막이(214)에 상대적으로 회전한다. 모터(219)는 칸막이(214)의 뒤쪽 측면 상에 솔레노이드(202) 뒤에 직접 놓인다.
숏 튜브(202)가 일반적으로 (즉 숏 튜브의 끝부분이 숏 튜브의 단부(201)에 대하여 상승되는) 위쪽 방향으로 회전할 때, 제 14도 내지 제 16도에 도시된 바와같이, 상기 숏 튜브는 채워질 때 자동적으로 제일 먼저 들어가도록 유체로 채워질 수 있다. 숏 튜브(202)의 윗쪽 방향은 유체가 숏 튜브의 단부(201)에 들어갈 때 그리고 숏 튜브(202)의 끝부분에서 작동할 때 숏 튜브 내의 공기를 숏 튜브(202)로부터 제거되게 한다. 브리갯(216)에 지지된 광학 센서(218)은 희석액이 숏 튜브(202)에 인접한 영역을 채우기 위하여 숏 튜브를 채울 때 검출하기 위하여 제공된다.
숏 튜브가 채워질 때, 칸막이 뒤의 모터(219)는 제 2위치에서 화살표(22)(제 5도)의 방향에서 솔레노이드(220) 및 숏 튜브(202)를 회전하고, 숏 튜브(202)의 꼭대기 부분은 보트(22)(제 1도)의 테스트 튜브를 향하여 아래로 향한다. 칸막이(214) 뒤에 지지된 압축 공기(217)의 소스와 연락하는 제 2도관(210)이 제공된다. 필터(212)는 도관(210)에 제공되고, 오염물이 라인(210)으로 들어가는 것을 막는다. 도관(210)은 심블 밸브의 경계에서 숏 튜브(202)의 배출 튜브 상에 채워진다. 숏 튜브(202)는 제 2아래쪽 위치에 있을 때, 압축 공기가 숏 튜브(202)로부터의 희석액을 테스트 튜브(30B)(제 1도)로 배출하기 위하여 스트림의 숏 튜브로 주입된다.
제 17도에서, 솔레노이드(220) 및 숏 튜브(202)는 확대도에 도시된다. 솔레노이드(220)은 에너지가 인가될 때, 솔레노이드 축(221)을 따라서 개구부(225) 내에 배치된다. 솔레노이드(220)은 제 17도의 왼쪽을 향하여 가까운 위치의 밸브에 갬 스라이드(236)를 이분하는 캠 스프링을 갖는다. 고무 O-링(223)은 캠 슬라이드(256)의 헤드(253)을 밀봉한다. 캠 슬라이드(256)은 축(221)을 따라서 캠 슬라이드 운동을 숏 튜브 축(S)을 따라서 지교 플런지(224) 운동으로 전환하기 위하여 플런지(224) 상의 캠 표면(259)와 함께 동작하는 캠 표면(258)을 갖는다. 플런지(224)는 아래에 기술된 바와같이 심블 밸브(226)로 들어가고 나오는 운동을 하고, 플런지가 캠 슬라이드(256)에 의해 연장된 위치로 이동할 때 밸브(226)을 개구한다. 이러한 장치는 솔레노이드가 숏 튜브(202)의 직각에서 지지되게 하고, 피펫팅 및 희석 스테이션 사이의 공간의 량을 줄이고 보트의 여러 가지 튜브 상에 수행된 동시적인 피펫 및 희석 작용을 가능하게 한다.
제 17도의 솔레노이드 어셈블리는 숏 튜브(202)가 조립된 상태에 있을 때 숏 튜브(202) 및 심블 튜브(226)을 수용하는 숏 튜브 개구부(266)을 포함한다. 상기 숏 튜브(202)는 배출 도관(210)에 접속된 배출 튜브(230) 및 희석 도관(206)에 접속된 채움 튜브(228)을 갖는다. 릴리즈 핀(260), 스프링(262) 및 필리즈 핀 캡(264)는 사용자가 숏 튜브(202) 및 사용자가 염류 백(204) 및 숏 튜브(202)를 대치할 때와같이 어셈블리 나머지로부터 심블 밸브을 접속 및 분리하도록 제공된다. 릴리즈 핀(260)은 개구부 및 하우징(221)의 함몰된 영역(261)을 통하여 하우징(221)의 상부에 지지된다. 릴리즈 핀 캡(264)이 회전할 때, 스프링(262)는 숏 튜브(202)를 하우징(221)로부터 제거되게 하는 숏 튜브(202)의 단부(201)을 떨어지게 하는 릴리즈 핀(264)를 들어올린다.
제 18도에서, 숏 튜브(202), 솔레노이드(220) 및 광학 센서(218)는 절단되어 도시된 숏 튜브(202) 및 심블 밸브(226)을 갖는 장치(20)으로부터 분리된다. 솔레노이드(220)은 심블 밸브(226)의 내부에 배치되는 밸브 플런지(224)를 포함한다. 제 19도에서, 심블 밸브(226)은 절단된 모습으로 분리된다. 심블 밸브(226)은 실리콘과 같은 탄성 재료로 만들어진 심블 형태 부재이다. 밸브(226)은 희석액 소스(204)에 접속된 채움 튜브(228)을 분리하기 위하여 적절한 압축의 숏 튜브의 내부에 종사하는 벽 부분(224) 및 정면 밀봉 립(240)을 갖는다. 심블 밸브(226)은 숏 튜브(202)의 단부(201)에 인접한 숏 튜브(202) 내부에 보충적으로 함몰된 영역에 적절한 뒤쪽 밀봉 립(248)을 형성하는 환형 몸체 부분(242)을 갖고, 숏 튜브(202)의 개방 단부(201)의 심블 밸브(226)을 압축한다. 몸체 부분(242)는 플런지(224)를 수용하기 위한 중앙 챔버(246)을 형성한다.
제 20도는 심블 밸브(226)가 밀폐된 상태일 때 플런지(224), 심블 밸브(226), 채움 튜브(228) 및 숏 튜브(202)의 위치를 나타낸다. 정면 밀봉 립(240)은 채움 튜브(228)을 밀봉하고, 유체가 숏 튜브(202)의 내부 영역 또는 챔버(254)로 들어가는 것을 막는다. 제 21도는 플런지(224)가 벽(244)에 대하여 솔레노이드(220)에 의해 확장된 위치로 밀어질 때 플런지(224) 및 심블 밸브(226)의 위치를 나타낸다. 플런지(224)는 정면 밀봉 ??(240)이 숏 튜브(202)의 내부(254)을 향하여 숏 튜브(202)의 내부 표면으로부터 떨어져 이동하도록 하는 방법으로 심블 밸브를 연장하고 확장하도록 벽(244)을 밀고, 채움 튜브 포트(250) 주위로부터 유체가 흐르도록 하고 숏 튜브(202)의 내부로 ??(240)을 통과하게 한다.
제 18도 내지 제 21도에서, 튜브(202)가 숏 튜브 광학 센서 영역(232)까지 희석액으로 채워질 때, 플런지(224)는 제 20도에 도시된 위치로 물러나고, 유체의 흐름을 차단한다. 바람직하게, 광학 센서 채움 영역(232)은 희석액에 대하여 적은 량을 형성하기 위하여 도시된 바와같이 테이프식 형태이고, 정확하게 숏 튜브의 채움을 허용한다. 테이프식 광학 센서 채움 영역(232) 및 그 결과 적은 량은 매우 적은 량의 유체가 심블 밸브(336)의 밀봉 동안에 광학 센서(218) 뒤로 이동하도록 한다. 숏 튜브(202)는 감지 테스트 튜브 상의 아래의 수직 위치로 회전하고, 압축 공기가 도관(210)을 통하여 공급되고, 튜브(230)을 배출 포트(252)로 배출하고, 숏 튜브(202)의 내부로 배출한다. 압축된 공기의 흐름이 내부 영역의 유체를 숏 튜브(202)의 팁(234)으로 나오게 한다.
제 20도 내지 제 21도에서, 리렉스된 정상적인 위치에서 상기 심블 밸브9226)은 닫힌다. 밸브를 닫기 위하여 심블 밸브(226)의 벽(244)으로부터 플런지(224)의 수축은 어떤 압력 서지(surge) 또는 "물 하머(water hammer)" 효과가 채워진 숏 튜브(202)에서 발생되는 것을 방지하는데 도움이 되고, 만약 심블 밸브가 포트(250)를 밀봉하기 위하여 연장된 위치로 밀어지게 하도록 설계하는 경우가 될 것이다. 만약 압력 서지가 희석액을 숏 튜브(202)의 팁(234)를 빠져 나오게 한다면, 숏 튜브 오염원이 잠정적으로 야기될 것이다. 그래서, 압력 서지를 막는 밸브를 닫기 위하여 수축되는 심블 밸브(226)의 설계는 바람직하게 설계된다.
본 발명의 바람직한 형태에서, 염류 백(204), 도관(206) 및 숏 튜브(202)는 대치할 수 있고, 처리할 수 있는 유체 배달 유니트로서 장치(20)에 결합되고 설치된다. 염류 백(204)이 비어있을 때, 사용자는 단순히 염류 백, 숏 튜브(202)(심블 밸브(226)을 포함하여) 및 숏 튜브(202)의 오염원 또는 감염을 갖는 어떤 문제를 피하는 단일 유니트로서 도관(206)을 대치한다. 상기 도관(210)은 유체 전달 유니트의 부분일 있수 있고 아닐 수 있고, 만약 없다면, 숏 튜브(202) 및 염류 백(204)이 장치(22)에 지지될 때 배출 튜브(230)에 대해 적절할 것이다.
제 14도 내지 제 16도에서, 바람직한 실시예에서 솔레노이드(220)는 공간을 절약하기 위하여 숏 튜브(202)에 상대적으로 향하고 숏 튜브(202) 및 솔레노이드(220)는 피펫 스테이션(300)에 가능한한 가까이 배치되게 한다. 숏 튜브의 축은 솔레노이드(제 15도)의 축 이동(221)에 수직이다. 솔레노이드(220)의 캠 슬라이드(256)는 축(221)의 방향의 운동을 숏 튜브(202)의 축 S를 따라서 심블 밸브 및 숏 튜브(202)의 방향의 플런지 운동으로 전환한다. 이것은 제 17도에 도시되어 있다.
테스트 튜브가 기술될 때와 같이 제어된 량의 유체를 저장소로 분배하는 시스템은 (가요성 백(204)에 저장된 희석액과 같은) 상기 유체 소스, 팁 부분(230)을 포함하는 숏 튜브(202), 중공 몸체 및 유체 입구 포트, 상기 소스(204)로부터 숏 튜브(202)의 유동 포트로 상기 유체를 유도하는 도관(206)을 포함한다. 모터(219)는 제 1또는 채움 위치로부터 숏 튜브를 회전하고, 숏 튜브(202)의 팁 부분은 숏 튜브의 채움 동안에 중공 몸체로, 제 2또는 분배 위치로 수평에 대해 경사지게 향하고, 상기 팁 부분은 유체 분배 동안에 저장소를 향하여 아래로 향한다. 밸브는 숏 튜브(202)의 중공 몸체로 유체의 흐름을 제어한다. 상기 장치를 이용하여, 숏 튜브(202) 내의 공기는 숏 튜브의 채움 동안에 상승된 팁 부분(230)을 통하여 숏 튜브로부터 제거될 수 있고, 숏 튜브의 효율적인 프리밍(priming) 및 정확한 량의 유체를 갖는 숏 튜브의 로딩을 야기한다.
피펫 스테이션 작동 특징
피펫 스테이션(300)은 전체 측면이 제 14도 및 제 15도에 도시된다. 상기 스테이션(300)은 피펫 호퍼(304) 및 제 22도의 단면도 및 제 13도의 확대도에 도시된 분배 어셈블리를 포함한다.
제 14도 , 제 15도 및 특히 제 22도 내지 제 24도에서, 스테이션(300)은 다수의 중공 피펫 스트로우(320)을 포함하는 원통형 하우징 또는 호퍼(304)을 포함한다. 제 22도에 도시된 바와같이, 하우징(304)는 하우징(304)의 바닥에서 수평적으로 배치된 스트로우 추출 개구부 슬롯(350)을 갖는다. 하우징(304)는 하우징(304)를 제 1도에 도시된 방향으로부터 제 24도에 도시된 방향 윗쪽으로 회전하도록 하는 칸막이(310)에 보호된 핀(308)에 의해 칸막이(310)에 상대적으로 회전할 수 있는 블록(306)에 지지된다. 하우징은 스트로우(320)가 하우징(304)에 떨어지지 않도록 깨끗한 플라스틱 커버(305)을 포함한다. 제 24도에 도시된 바와같이, 플라스틱 커버(305)는 기술자가 스트로우(320)을 갖는 하우징(304)를 다시 채워지도록 하우징(304) 개구부를 덮는 위치로부터 진동한다.
하우징(304)이 제 1도 및 제 22도의 정상적인 수평 위치일 때, 슬롯(350)이 수평 슬라이드 부재(314) 상에 즉시 배치된다. 제22도에서, 수평 측(314)은 연장 및 수축 위치 사이에서 상기 슬라이드를 제거하기 위하여 칸막이(310)의 뒤쪽 측면에 지지된 솔레노이드(336)를 갖는다. 솔레노이드(336)은 만약 원한다면 여러 가지 구성으로 칸막이 정면에 지지될 수 있다. 슬라이드(314)의 운동은 슬라이드(314)가 앞 및 뒤로 지지되도록 샤프트(338)을 이동함으로서 완성될 수 있다. 상기 슬라이드(314)는 가이드(337)을 따라서 미끄러진다.
드럼(340)의 뒤쪽 벽에 지지된 스텝핑 모터(312)(제 15도 및 제 23도)는 하우징(304)의 내부 표면 주위로 이동하기 위하여 3개의 일정한 공간이 형성된 핑거(342)를 갖는 회전가능한 드럼(340)이 제공된다. 바람직한 실시예에서, 각 핑거(340)은 약 60도 정도의 회전 각α를 형성한다. 제 22도에 도시된 바와같이, 핑거(342)가 하우징(304)의 내부 표면을 따라서 이동할 때, 핑거의 하나는 하우징(304)에서의 스트로우(320)을 슬롯(350)으로 이동한다. 핑거(342)의 일부분이 제 22도에 도시된 슬롯의 핑거 아래에 배치된 스트로우를 갖는 슬롯(350)을 덮도록 핑거(342)는 그들의 운동을 저지한다. 수평 슬라이드(314)가 제 22도의 점선에 도시된 위치(314')에 있을 때, 슬라이드(314)의 단부 부분(352)의 상부 표면(354)은 스트로우(320)가 슬롯(350)을 통하여 하우징(304)에 떨어지는 것을 막는 바닥 하우징 표면(352)과 접촉하는 슬롯(350) 아래에 배치된다. 제 22도에 도시된 바와같이, 슬롯(350)의 슬라이드, 핑거(304) 및 슬라이드(314)는 테이퍼식 관모양 전송 핀(330)을 스트로우(320)의 단부에 삽입되게 하는 슬롯의 스트로우(320)을 확고히 유지하기 위하여 모두 함께 동작한다.
제 22도에서, 하우징(304)은 마찰이 적은 재료로 만들어진다. 바람직하게 하우징(304)는 하우징(304)의 내부 직경이 하우징(304)의 길이에 평행하게 향하는 상태로 스트로우(320)을 유지하기 위하여 하우징의 길이보다 적게 만들어지고, 슬롯(350)으로 쉽게 이동할 수 있도록 만들어진다.
제 23A에서 드럼(340)은 더 상세히 기술되어 있다. 구동 러그(lug)(348)는 제 23도의 모터(312)에 의해 구동된다. 구동 러그(348)은 한 쌍의 원주 함몰부(348)을 갖는다. 한 쌍의 구동 O-링(346)은 함몰부(349) 상에 적절하다. 구동 러그(348)은 O-링(346)을 안전하게 고정하는 한 세트의 내부적으로 돌출된 포인트(345)에 의하여 고정 슬리브(344)로 고정된다. 고정 슬리브(344)는 차례로 드럼(340)의 뒤쪽 벽에서 중앙 개구부(341)에 안전하게 지지된다. 러그(348)가 모터(312)에 의해 회전할 때, 드럼(340)은 모터 및 드럼 축(M) 주위를 회전한다. 제 23A도의 고정 슬리브 및 O-링 구성은 노이저 및 진동을 줄인다.
슬라이드(314)가 연장된 위치(314')에 있고 스트로우가 제 22도에 도시된 슬롯(350)에 트랩되는 한편, 스트로우(320)의 팁을 마찰로 맞물리게 전송 핀 어셈블리(316)의 후퇴한 위치로부터 슬롯(350)의 스트로우(320)로 직접 연장된 위치로 이동한다. 이러한 포인터에서, 수평 슬라이드(314)는 칸막이(310)을 향하여 후퇴한다. 전송 핀(330)은 제 1도에 도시된 바와같이 수직 위치로 모터(360)에 의해 회전하고, 스트로우(320)을 하우징(304)의 외부 슬롯(350)을 통하여 이동하게 한다. 스트로우(320)가 슬롯(350)의 외측으로 회전하자마자, 슬라이드(314)은 제 22도의 점선에 도시된 위치(314')에 역으로 이동되고, 모터(312)는 다른 스트로우(320)를 슬롯(350)으로 이동하기 위하여 작동한다.
카세트(26)의 테스트 튜브의 하나 위에 직접 수직 방향으로 부착된 스트로우(320)을 갖는 테이프식 관모양 전송 핀(330)은 스트로우(302)(제 1도)의 단부가 생물 또는 제어 유체 샘플을 포함하는 테스트 튜브와 같은 테스트 튜브(예를들면 테스트 튜브(30A)) 하나의 유체에 담기도록 아래로 내려간다. 진공은 소정된 시간 주기에 대하여 관 모양의 전송 핀 및 부착된 스트로우(320)에 인가되고, 정확하고 제어된 량이 유체를 스트로우(320)로 이끌어낸다. 관모양 전송 핀(330) 및 (유체를 갖는) 부착된 스트로우가 테스트 튜브의 상부를 이동하기 위하여 상승된다. 보트 및 테스트 튜브는 인접한 테스트 튜브의 분리된 거리와 동일한 거리로 배치 시스템(100)에 의해 개선될 수 있다. 관모양 전송 핀(330) 및 스트로우(302)는 감지 테스트 튜브(30B)로 낮아지고, 전송 핀(330)에 인가된 진공이 풀려나오고, 스트로우(302)의 유체 내용을 감지 테스트 튜브(30B)로 떨어지게 한다. 이러한 점에서, 관모양 전송 핀(330)은 스트로우(302)을 배출하기 위하여 관 모양 전송 핀 하우징 내의 위치로 이동하고, 스트로우를 감지 테스트 튜브로 떨어지게한다. 전송 핀 어셈블리(316)은 호퍼(304)의 상승에 역으로 상승되고, 수평 위치로 회전하고, 상기 공정을 반복한다.
제25도 내지 제 27도에서, 전송 핀 어셈블리(316) 및 전송 핀(330)에 대하여 관련된 모터 및 진공 시스템은 더 상세히 설명된다. 제 25도에서, 모터(322)는 칸막이 뒤에 지지되고 ACME 스레드 및 납 스크류로서 선행 기술에 언급된 풀리(326) 및 스레드된 샤프트(362)을 회전하는 구동 벨트(324)를 포함한다. 전송 핀 플레이트(361)는 한 쌍의 콜러(364)을 통하여 스레드된 샤프트에 지지된다. 모터(322)가 샤프트(362)을 회전하는 방향에 따라서, 플레이트(361) 및 부착된 전송 핀 어셈블리(316)는 상부 위치 및 하부 위치 사이의 2개의 기둥(359) 위쪽 또는 아래쪽으로 미끄러지고, 상기 상부 위치는 전송 핀(330)이 하우징(304)의 스트로우 추출 슬롯(350)과 같은 높이에 있고, 상기 하부 위치는 전송 핀 어셈블리(316) 아래에 놓여진 저장소로부터 유체를 이끌어내는 위치에 있다.
제 2모터(360)은 구동 벨트(363) 및 풀리(365)을 갖고, 상기 구동 벨트(363) 및 풀리(365)는 전송 핀 플레이트(361)의 뒷면에 지지되고, 제 1위치 사이의 도 25의 화살표 방향에서 전체 전송 핀 어셈블리(316)의 회전을 제공하고, 상기 전송 핀(330)은 스트로우 추출 슬롯(350)의 방향으로 향하고, 상기 구동 벨트 및 풀리는 상기 스트로우(302)가 제 1도 및 제 25도에 도시된 위치에서 수직적으로 아래로 향하는 제 2위치에 부착된다.
제 26도에서, 전송 핀 어셈블리(316)는 피펫 하우징(304)로부터 측면에 도시되어 있다. 전송 핀 어셈블리는 전송 핀 개구부(368)을 형성하는 전송 핀 하우징(331)을 갖는다. 테이프식 관모양 전송 핀(330)(제 27도)은 하우징(제 26도 및 제 27도에 도시된)의 물러선 위치 및 제 28도에 도시된 스트로우 추출 슬롯(350)의 스트로우에 맞물리는 제 25도에 도시된 연장된 위치 사이에서 왕복 운동을 한다. 전송 핀 작동 솔레노이드(370)는 물러선 위치 및 연장된 위치 사이에서 관모양 테이프식 전송 핀(330)을 이동하기 위하여 전송 핀 어셈블리(316)의 후면에 지지된다. 진공(366)의 소스는 전송 핀 하우징(331)에 인접하게 지지되고, 진공을 튜브(372)을 통하여 전송 핀(330)의 단부에 제공한다. 스트로우가 테이프식 관모양 전송 핀(330)에 부착되고, 유체가 스트로우로 빠져나오고 충분한 량의 유체가 전송되는지를 식별하기 위하여 소스(366)에 의해 발생된 진공을 모니터하는 진공 압력 변환기(P)가 제공된다. 이러한 압력 변환기(P)는 진공 소스와 연락하는 제 2진공 라인(373)의 단부에서 배치된다. 적절한 압력 변환기(P)는 모토로라 모델 MPX5010D 센서이다.
전송 핀(330) 및 스트로우(302)가 제 25도에 도시된 수평 위치로부터 수직 위치로 회전할 때, 상기 스트로우(302)는 하우징(304)의 슬롯(350)의 외부로 회전한다. 모터(322)는 스트로우(302)가 테스트 튜브(30A)에 담기도록 적절한 레벨로 전송 핀 어셈블리(316)을 낮추기 위하여 작동한다. 테스트 튜브(30A)로부터 유체가 빠져나온후, 모터(322)는 스트로우(302)가 테스트 튜브(30A)의 상부를 이동하도록 전송 핀 어셈블리(316)을 상승하고, 테스트 튜브(30B)가 스트로우(302) 아래에 놓인후 어셈블리(316)가 테스트 튜브(30B)로 낮아진다. 스트로우(302)을 제거하기 위하여, 전송 튜브(330)은 전송 튜브 하우징(331)으로 후퇴한다. 스트로우(302)의 직경은 전송 핀 개구부(368)의 직경보다 약간 크고, 전송 핀(330)이 제 27도에 도시된 위치의 전송 핀 하우징(331)으로 완전히 철회될 때, 스트로우(302)가 전송 핀(330)으로부터 완전히 분리되게 한다. 이러한 실시예에서, 스트로우(302)는 테스트 튜브(30B)로 떨어진다. 전송 핀 어셈블리는 수평 위치로 역 회전되고 하우징(304)의 스트로우 추출 슬롯(350)의 레벨로 상승하고, 이러한 공정은 테스트 튜브의 다음 세트에 대해 반복된다.
상기 기술로부터, 내부 표면을 갖는 원통형 하우징(304)에 상기 스트로우를놓는 단계, 상기 원통형 하우징은 스트로우 추출 슬롯(350)을 형성하는 단계, 하우징의 내부 영역 주변 주위 스트로우를 이동하는 단계, 스트로우가 스트로우 추출 슬롯(350)으로 이동하는 단계, 스트로우가 원통형 하우징(350)으로부터 제거되지 않는 시간 주기 동안에 스트로우 추출 슬롯(350)의 정면에 장애물(예를들면 수평 슬라이드(314))을 놓고, 스트로우가 상기 원통형 하우징으로부터 제거되는 시간 주기동안에 스트로우 제거 슬롯(350) 정면으로부터 장매물(314)를 제거하는 단계를 포함하는 진공 분배 스트로우 방법을 기술하는 것이 바람직하다. 전송 핀은 장매물(314)에 의하여 스트로우 추출 슬롯(350)에 유지될 때 스트로우에 맞물리고, 장애물(314)는 슬롯으로부터 제거될 때 피펫에 대한 위치로 슬롯(350)의 외부로 스트로우를 회전한다. 슬롯으로부터 스트로우의 회전하여 제거하는 것에 대안적인 것은 전송 핀의 직선 물러남 운동에 의해 완성될 수 있다는 것을 인식할 것이다.
다수의 중공 스트로우을 포함하는 하우징(304) 및 스트로우 추출 개구부(350), 팁 부분을 갖는 테이프식 관모양 전송 핀(330), 상기 전송 핀에 접속된 진공 소스, 및 상기 전송 핀(330)에 대한 구동 메카니즘을 형성하는 하우징(304)을 포함하는 저장소(30)으로부터 유체를 제거하는 시스템이 기술되어 있다. 상기 구동 메카니즘은 스트로우 추출 개구부(350)로 떨어져 제 1축을 따라서 전송 핀을 앞쪽으로 이동하기 위한 솔레노이드(370) 수단을 포함하고, 핀(330)의 팁 부분은 전송 핀(330)이 스트로우 추출 개구부(330)을 향하여 움직일 때 스트로우 추출 개구부(350)에 놓여진 스트로우를 맞물리고, 상기 저장소(30) 상의 수직 방향에 조립된 상태에서 전송 핀 및 스트로우를 회전하기 위한 수단(360); 및 상기 스트로우가 저장소의 유체와 접촉하게 놓이도록 전송 핀 및 스트로우를 낮게하고 진공이 전송 핀(330)에 인가될 때 저장소로부터 유체를 제거하기 위하여 전송 핀을 상승하기 위한 수단을 포함한다.
카드 로딩의 진공 제어
제 1도의 진공 스테이션(400)에서, 테스트 튜브로부터 유체 샘플을 갖는 카드(28)의 진공 로딩이 발생한다. 진공 챔버(402)에서 발생된 진공은 카드(28)의 벽에서 거품 형성을 막기 위하여 제어된다. 그러한 거품은 광학 스테이션에 의해 웰의 정확한 판독을 할 수 있다. 바람직한 진공 로딩 스테이션(400)은 제 29도에 개략적으로 도시된다.
진공 채움 스테이션(400)은 아래의 소자를 포함한다. 다음,
. 진공 펌프(420)(개스트 P/N : SAA-V110-NB, 115VAC, 50/60Hz, 29,5인치 Hg max. 진공 : 1.75 cmf 오픈 프로우)
. 비례하는 진공 제어 밸브(422)(호니웰/스키너 P/N: BP2EV0006, 12-24 VDC, 0-5 VDC 제어. 0.078 인치 직경 오리피스)
. A 4방향 작동 솔레노이드 밸브(424)(험프리 P/N :420, 24 VDC, 60scfm＠ 1100 PSIG 입구 압력, 24VDC, .250 인치 직경 오피스)
. 에어 필터(426)(노그렌 P/N F39222EOTA, 4scfm＠ 100PSIG 입구 압력, 0.01 AKDLZMFHS 여과법)
. 절대 압력 변환기(428)(데이타 지시 P/N:XCA415AN, 범위: 0-15 PSIA, 5VDC, 여기, 0.25-4.25 V F.S.O., +/-0.5%의 F.S.O. 결합된 라인어리티 하이스테레시스, +/-0.3%의 F.S.O 반복).
. 표준 샘플 준비 노드(spn) 인쇄 회로 기판(430)
. 진공 터빙(432), 0.250 인치 측면 직경.
스테이션(400)에 대한 구동 시스템(410)은 스테핑 모터(438) 및 관련된 벨트(440) 및 진공 챔버(402)을 상승 및 하강하는 스레드된 샤프트(442)을 포함한다. 광학 코더(434) 및 광학 인터럽터(436)는 진공 챔버(402)가 상부 및 하부 위치에 있을 때를 감지한다.
진공 펌프(420)이 작동할 때, 4방향 솔레노이드 밸브(424)에 부착된 필터/머플러(444)를 통하여 공기를 뽑는다. 보트(22)에서 카드(28)을 채우기 위하여, 아래의 순서가 발생한다. 진공 챔버(402)는 샘플 카드(28)을 갖는 보트(22)로 내려간다. 비례하는 및 진공 제어 밸브(422)는 100% 오픈된다. 4방향 솔레노이드 밸브(424)는 에너지가 인가되고 공기는 공기 필터(426) 및 4방향 솔레노이드 밸브9424)을 통하여 진공 챔버(402)로 빠져나온다. 절대 압력 변환기(428)은 진공 챔버(402) 압력 감소를 측정하고 비례하여 연속적으로 변하는 전압 출력을 SPN 보트(430)으로 보낸다. 연속적으로 변하는 전압은 일정한 간격에서 SPN 보트(430)에 의해 샘플되고 변화율은 진공 챔버를 펌퍼하기 위하여 프로그램된 레이트와 비교된다.
만약 변화율이 너무 빠르면, 비례하는 밸브(422)는 높은 제어 전압을 오픈 와이더로 보낸다. 만약 가능하다면, 공기 누설 크기를 진공 라인(406)으로 감소한다. 만약 변화율이 너무 느리면, 비례하는 밸브(422)가 낮은 제어 전압을 닫기 위하여 전송하고 만약 가능하다면, 공기 누설 크기를 진공 라인(406)으로 감소한다. 압력 변화율의 제어는 진공이 너무 빨리 빠져서, 테스트 튜브(30)에 물이 튀기거나 거품이 생기게 하는 것을 식별한다. 이것은 챔버가 배출될 때 공기 거품이 카드(28)에 들어가게 하고, 카드의 광학 분석을 방해한다.
절대 압력 변환기(428)은 진공 챔버(402) 압력을 계속적으로 측정하고 4방향 솔레노이드(422)가 에너지가 인가되지 않은 한편 SPN 보트(430)에 비례하는 압력 전압을 전송한다. 진공 펌프(420)은 커지고, 비례하는 밸브(422)는 0.90 PSIA 진공 타겟(또는 세트 포인트) 압력이 도달할 때 5초 동안 완전히 차단된다. 이것은 진공 챔버의 압력이 샘플 유체가 상기 5초 동안 테스트 카드 내부 및 외부로 전송되게 하도록 위 아래로 가변하는 것을 막는다.
절대 압력 변환기(428)은 진공 챔버(402) 압력을 게속적으로 관찰하고 비례하는 압력 전압을 SPN 보드(430)에 전송하고, 한편, 비례하는 밸브(422)는 프로그램된 압력 증가율의 변화가 도달할때까지 5초 진공 유지되는 끝에서 점차로 개방된다.
압력 변환기(428)로부터 연속적으로 변하는 압력은 일정한 간격에서 SPN 보드(430)에 의해 샘플되고 대기온도에 복귀하는 변화율이 소정 프로그램된 레이트와 비교된다. 만약 변화율이 너무 빠르면, 상기 비례 밸브(422)는 보다 낮은 제어 전압을 오픈 와이더로 보내고, 만약 가능하다면, 공기 누설 크기를 진공 라인(406)으로 감소한다. 만약 변화율이 너무 느리면, 비례 밸브(422)는 보다 높은 제어 전압을 오픈 와이더로 전송하고, 만약 가능하다면, 공기 누설의 크기를 진공 라인(406)으로 증가한다. 이것은 스스히 제어된 배출이 카드(28)의 웰에서 형성된 거품의 위험을 줄이고 카드(28)의 완전한 채움을 식별하기 위하여 샘플 카드(28)로 유체 샘플이 빠지게 한다.
비례 밸브(422)는 대기 압력으로 완전한 복귀에서 100%오픈되고, 한편 진공 챔버(402)가 보트(22)로부터 상승하는 동안 개방을 유지한다. 이것은 잔여 진공이 진공 챔버(402)에 발생하는 것을 막고 챔버(402) 내에서 보트(22)를 올린다. 상기 비례 밸브는 닫히고 상기 시스템은 사이클을 반복하기 위하여 준비한다.
진공 발생, 정지 주기, 배출 사이클은 제 30도에 그래프 형태로 나타나 있다. 초당 약 -0.54 ±0.07 PSIA의 직선 스트로우 커버(450)을 주목하고, 0.90PSIA의 5초 정지 주기(452) 및 초당 약 -0.45 ±0.07 PSIA의 직선 배출 레이트 커버(454)을 주목하라.
실시예에 도시된 바와같이, 테스트 카드(28) 및 진공 챔버(402) 내의 주위 대기 매개체 사이의 상대적인 압력이 0PSI되게 가정한다. 실재로, 전체 채움 사이클 동안 진공 챔버에서의 외측 테스트 카드(28) 대 내측 테스트 카드(28) 내의 매우 작은 압력 차가 되어야 한다. 그러나 만약 진공 챔버 내측 대 외측 압력 변화를 생각한다면, 그러면 아래의 사이클 정보는 도시된 실시예에 인가된다. 최초로: (국부 기압계 압력으로 변하는) 국부 온도 압력. 필링 사이클 시작: -.53 +/-0.07PSI/sec(23-30 초 펌프) 진공 지속 주기: 약 5초. 대기압 :+.53 +/-0.07 PSI/sec(23-30초 복귀). 대기율로의 복귀는 어떤 테스트 카드가 미완성되게 하는 것보다 더 빠르게 한다. 끝으로: 국부 대기압(시작과 같음).
그래서, 유체 샘플을 갖는 테스트 샘플 카드를 로딩하는 방법은 테스트 튜브(30)의 상기 유체 샘플과 연통하는 유체의 테스트 샘플 카드(28)을 대치하는 단계, 진공 챔버(402)에서 테스트 튜브(30)에서 테스트 샘플 카드 및 상기 유체 샘플을 대치하는 단계, 실질적으로 일정하고 소정된 레이트에서 진공 챔버(402)의 압력을 세트 포인트 진공 레벨로 낮추는 단계, 소정된 포인트 레벨에 일정하고 소정된 레이트, 공기가 진공 레벨 동안에 카드로부터 제거될 때 공기 거품을 유체 샘플에 형성하지 않도록 선택된 레이트(예를들면 제 30도에 도시된)에서 진공 챔버의 압력을 낮춘다. 진공이 소정된 길이 시간(제 30도에 도시된 바와같이)에 대해 설정 포인트 레벨에서 유지되고, 카드의 유체 샘플에 공기 거품을 피하는 방법으로 소정된 레이트에서 풀려나온다.
상기 진공을 낮아지고, 유지하고, 풀려나오는 단계는 자동화된 샘플 테스트 장치의 진공 스테이션(400)에서 형성되고, 상기 장치는 로딩 스테이션(예를들면 베이스 팬의 정면, 오른쪽 코너에서)에서 상기 진공 스테이션(400)까지 상기 장치 내에서 이동가능한 샘플 트레이(22)를 갖는다.
진공 스테이션(400)은 제 30도에 도시된 바와같이 진공 챔버에서의 압력이 낮아지는 레이트의 소정된 레이트에서 발생을 식별하기 위하여 작동하는 진공 챔버(402)와 연락하는 진공 제어 밸브(422)를 갖는다.
다른 장점에서, 오픈 저장소(30)에 저장된 유체 테스트 샘플과 연통하게 배치된 테스트 샘플 카드(28)에 대한 진공 로딩 시스템(400)이 기술되었고, 진공 소스와 연락되는 진공 챔버(402)을 포함하고, 상기 챔버는 챔버(402)의 바닥 주변에서 낮은 주변 밀봉 표면을 갖으며, 카드(28)을 포함하는 트레이(22) 및 테스트 튜브(30)의 유체 테스트 샘플 및 진공 챔버(402)의 보다 낮은 주변부 밀봉 표면에 밀봉적으로 맞물리는 주변 표면(23)을 가지며 로딩 스테이션으로부터 진공 챔버(402)로 트레이(22)을 이동하기 위한 위치 설정 시스템(100)을 포함한다. 구동 시스템(410) 또는 진공 챔버(402)를 상승하고 하강하는 수단은 트레이(22)를 챔버(402) 아래에 이동되도록 제공하고, 트레이(22)를 진공 챔버(402)로부터 인큐베이션 스테이션(600)으로 이동되게 한다. 챔버(402)가 트레이(22)의 주변 표면(23)에 종사하는 낮은 에지의 하부 위치에 있을 때, 진공이 챔버(402)내에서 발생되게 한다.
튜브 차단 및 밀봉 스테이션 작동 특징
카드가 진공 챔버(402)의 샘플로 채워질 때, 상기 카세트(26)은 제 1, 4, 및 5도에 도시된 바와같이 전송 튜브 차단 및 밀봉 스테이션(500)을 통하여 이동된다. 형성된 니크롬 와이어(506)은 마이크로프로세서 제어 일정한 전류 소스(도시되지 안았음)을 사용하여 전송 튜브(30)을 통하여 차단되기 위하여 정확한 온도로 가열된다.
카세트(26)은 와이어가 차단되도록 낮은 속도에서 열 와이어(506)가 이동되고 외부적으로 전송 서트브를 형성하는 카드(28) 가까이 전송 튜브(30)을 밀봉한다. 전송 튜브(30)의 나머지는 제 5도의 보트(22)의 아주 오른쪽에 도시되어 있듯이 처리 하기 위하여 테스트 튜브가 남아있다.
핫 절단 와이어(506)은 모터/풀리/구동 벨트 구동 어셈블리(502)(제 1도)에 의해 상승하고 하강하는 플레이트(504)를 포함하는 메카니즘에 지지되고, 절단되지 않는 전송 튜브가 절단 및 밀봉 스테이션(500)을 빠르게 통과하게 하는 통로 외부로 와이어(506)을 이동하게 한다. 이러한 기능은 에러 복귀 목적으로 로드 다중 카세트를 통합하기 위하여 사용될 수 있다.
테스트 샘플 위치 설정 시스템(100)과 함께 동작하는 절단 밀봉 스테이션(500)는 보트(22)가 열 절단 와이어(506)을 빠르게 통과할 때 다수의 전송 튜브가 실질적으로 절단되게 한다. 전송 튜브(32)의 절단 제어는 열 절단 와이어(506)의 열 출력을 제어하기 위하여 일정한 전류 소스를 사용하고 보트(22) 및 카세트(26)가 와이어(506)을 빠르게 움직이는 속도를 제어함으로서 완성될 수 있다. 와이어(506)의 전기적인 특성은 소정되어있기 때문에, 일정한 전류를 유지하고 와이어가 플라스틱 전송 튜브(30)(즉 모터(48C)의 속도)를 통하여 통과하는 속도를 제어하고, 상기 스테이션(500)은 전송 튜브(32)의 절단 및 밀봉을 단순하면서 정확하게 제어할 수 있다. 이러한 열 제어 설계는 매우 간단하고 온도 보정을 필요로 하지 않는다. 와이어(506)은 매우 빨 가열되고, 그래서 상기 와이어는 전 시간에 대해 남아있지 않는다. 이러한 특성은 안전하고 에너지 보존 장점을 제공한다.
Vitex
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밀봉기의 절단 및 밀봉 선행 기술에서, 금속 블록은 통상적인 온도 제어에 접속된 열전쌍을 구비하는 카테리지 히터를 구비한다. 이것은 아주 값비싸고, 보정을 필요하지 않는 거대한 장치, 한 번에 하나의 스트로우를 절단하고, 길고, 일정한 "온" 가열 시간을 요구한다. 반대로, 본 밀봉 스테이션(500)은 제조하기에 더 작고, 더 신뢰할 수 있고, 값 싸다. 선행기술에서, 제어 온도라기 보다는 스테이션(500)은 열을 제어하기 위하여 절단/밀봉 와이어(506)에 인가된 일정한 전류 소스를 갖는 전력을 제어한다. 전력(P)=I2R이기 때문에 열은 전류의 자승 함수이다. 전형적으로, 일정한 전류 소스에 대한 세팅은 공장에서 설정되고 필드에 설치된 후에 필드에서 조정될 수 없을 것이다.
샘플 카드 전송 스테이션 작동 특성
카드(28)가 샘플로 실어지고 밀봉된 후에, 그들은 회전식 원형 컨베이어(600)로 삽입되고 인큐베이팅 된다. 주기적으로, 상기 카드는 회전식 원형 컨베이어의 슬롯으로부터 제거되고, 판독하기 위하여 광학 판독 스테이션으로 이동하고 회전식 원형 컨베이어에 복귀하거나 적층 배분 시스템으로 보내진다. 상기 메카니즘은 회전식 원형 컨베이어 및 광학 스테이션 사이의 카드를 제거하기 위하여 응답하고 적층 배분 시스템은 제 1도에 도시되고 제 31도에 더 상세히 도시된 샘플 카드 전송 스테이션(700)이다.
제 31도에서, 광학 스캐너에 대한 샘플 카드 전송 스테이션(700)은 입면도에 도시된다. 스테이션(700)은 칸막이 또는 지지체(706)에 지지된 커버 플레이트(704)을 갖는 구동 어셈블리(702)을 포함한다. 바람직한 실시예의 광학 판독 시스템(800)은 전송 다음 스테이션(802) 및 칸막이(706)에 지지된 형광 다음 스테이션(804), 제 31도에 도시된 외각선으로 구성된다. 샘플 카드(28)은 광학 판독 시스템(800)을 통하여 구동 어셈블리(702)에 의해 회전식 원형 컨베이어(604) 상부로부터 제거되고 만약 카드(28)가 추가 인큐베이션 및 부가 판독이 필요하다면 회전식 원형 컨베이어(604)로 다시 이동한다. 만약 카드가 충분히 (광학 판독기 시스템(800)으로부터 데이터의 분석에 근거한) 인큐베이팅되었다면, 카드(28)은 광학 시스템(800)의 왼쪽에 카드 배출 트레이(902)(제2도 및 제 3도)로 이동한다.
구동 어셈블리(702)는 지지 브리켓(709) 뒤에 배치된 점선으로 도시된 스테퍼 모터(708)로 구성된다. 모터(708)은 실질적으로 탄성이 없는 끝으로 이동하는 타이밍 풀리(711)을 구동하고, 구동 벨트(710)은 일련의 롤러(712) 상에서 이빨(710')을 갖는다. 벨트(710)은 한 세트의 롤러(710)에 의해 커버 플레이트(704)의 상부에 지지된다. 롤러(712)를 통하여 벨트 통로는 제 31도에 점선으로 도시된다. 벨트(710)은 커버 플레이트(704)의 상부 양단 및 광학 다음 스테이션(802, 804)의광학 아래을 통과하는 것이 도시된다. 구동 벨트(710) 커버 플레이트(704)의 상부를 따라서 카드(28)의 바닥 에지를 종사한다. 적절한 구동 벨트(710)은 Gates Rubber Co., of Denver, Colorado, U.S.A로부터 얻어질 수 있다.
칸막이(706)에 지지된 레지(718)는 벨트(710) 및 광학 판독 시스템(800) 상에 제공된다. 레지는 카드(28)의 상부 에지를 수용하는 슬롯(720)을 갖는다. 레지(718) 및 슬롯(720)은 카드 이동 방향을 형성한다. 카드(28)가 회전식 원형 컨베이어(604)를 빠져나올 때, 카드(28)은 슬롯(720) 및 벨트(710) 사이의 공간에서 배치된다. 커버 플레이트(704), 스터퍼 모터(708), 및 구동 벨트(710)을 포함하는 전체 구동 어셈블리(720)은 지지 칸막이(706)에 상대적으로 이동될 수 있다. 상대적인 이동을 허용하기 위하여, 한 세트의 카리지 및 슬라이드 어셈블리(716)가 제공되고, 그것의 하나는 제 33도에 더 상세히 도시되어있다. 제 33도에 도시되어 있듯이, 각 카리지 및 슬라이드 어셈블리(716)은 벨트(734)에 의해 칸막이(706)에지지된 슬라이드(730)을 포함한다. 카리지(726)은 그루브(732)을 따라서 움직이는 밸 베어링(728)에 의하여 슬라이드 부재(730)에 상대적으로 미그러진다. 바람직한 실시예에서, 2개의 카리지 및 슬라이드 어셈블리(716)가 커버 플레이트(704)의 각측면 상의 하나에 제공된다.
전체 구동 어셈블리(702)는 바이아싱 스프링(714)에 의해 레지(718)을 향하여 위쪽으로 바이아스된다. 상기 스프링은 칸막이(706)에 지지된 핀에 관여하는 상부 단부(713), 상기 커버 플레이트(704)에 지지된 핀에 관여하는 바닥 단부(715)을 갖는다. 3개의 스프링(714)는 바람직하고, 커버 플레이트(704)의 중앙 및 측면에 배치된다. 스프링(714)는 3개의 스프링에 대해 전체 49.5ibs/in에 대해 16.5ibs/in의 스프링 상수(k)을 갖는다. 스프링(714)의 목적은 카드 높이에서 어떤 오차 변화의 경우에서와 같이 벨트(710)에 의해 카드(28) 상에 적절한 상부 압력을 일정하게 유지하는 것이다. 상기 구동 벨트(710)은 벨트가 카드(28)의 바닥에 종사하도록 허용하는 충분한 상승 힘을 갖춰야하고 슬롯(720)을 따라서 충분히 제공되어야하고, 벨트가 카드의 바닥에 상대적으로 움직이게 하는 구동 모터 또는 너무 작은 힘에 의해 너무 많이 조이지 않고 슬롯(720)을 따라서 카드를 이동한다. 카드 상에 적절한 상부 힘을 유지함으로서, 벨트 이동이 카드 이동으로 직접 전송 되도록 스터퍼 모터(708)에 의해 정확한 이동이 광학 시스템(800)에 상대적으로 카드(28)의 정확한 이동이다. 이러한 정확한 이동은 전송 다음 스테이션(802)의 작동과 함께 더 상세히 기술된다.
제 32도에서 구동 어셈블리(702) 및 칸막이(706)은 제 1도의 회전식 원형 컨베이어(604) 및 인큐베이션 스테이션(600)을 향하여 보이는 측면도에 도시된다. 커버 플레이트(704)의 상부에서 롤러(712)는 카드(28)의 바닥 에지를 지지하는 슬롯을 형성한다. 카드(28)은 벨트(710) 및 레지(718)의 슬롯(720) 사이에 적절히 배치된다. 스프링(714)에 의하여 카드(28) 상의 상부 힘은 벨트(710)을 카드(28)의 바닥 에지를 고정하게 하고, 카드(28)은 벨트(710) 및 카드(28) 사이에 어떤 중요한 미그러짐이 없이 구동 벨트(710)에 의해 레지(718)을 따라서 움직인다. 이동 운동을 편리하게 위하여, 슬롯(720)은 델린(Delin) 또는 주어진 낮은 마찰 코팅과 같은 적은 마찰 재료로부터 만들어진다. 카드(28)의 바닥 에지는 벨트(710)가 롤러(710) 상에서 앞 뒤로 움직일 때 벨트(710)을 카드(28)을 고정하게 하는 병렬로 상승된 리지와 같은 널식(knurled) 텍스터 표면을 구비한다.
제 34도 및 제 35도에서, 카드를 샘플 카드 전송 시스템(700)으로 놓기 위하여, 푸시 메카니즘(648)은 카드(28)을 원형 회전식 컨베이어(604)로 나오게 하도록 제공된다. 제 34도는 원형 회전식 컨베이어 칸막이(652)의 정면에 지지된 푸시 메카니즘(648)을 나타내는 원형 회전식 컨베이어 칸막이(604)의 투시도이고, 제 35도는 칸막이(652)의 후면으로부터 보이는 메카니즘(648)을 도시한다. 푸시 메카니즘(648)은 블록(654)에 상대적으로 앞 뒤로 왕복 운동하는 칸막이(652) 및 구동기(656)에 지지된 배열 블록(654)을 포함한다. 모터(648)은 칸막이(652) 뒤에 지지된 기어(662)를 갖는다. 기어(662)의 이빨은 구동기(656) 상에서 한 세트의 이빨(658)과 함께 동작하고, 기어(662)의 앞 뒤 회전은 구동기(658)이 보다 낮은 슬롯(666) 및 블록(654)의 상부 슬롯(668) 사이의 공간에서 화살표(664)(제 35도)에 의해 도시된 방향으로 이동하게 한다. 구동기(656)의 단부는 회전식 원형 컨베이어(604)의 상부 슬롯(614)내에 정렬되어 배치된다. 구동기(656)가 슬롯(614)으로 밀어지도록 모터(648)에 의해 작동할 때, 슬롯(615) 내의 카드(28)은 레지(718) 및 구동기 벨트(710) 사이의 공간으로 슬롯이 빠져나온다. (카드(28)을 카세트(26)으로부터 회전식 원형 컨베이어로 적재되는 캠 메카니즘의 제조 및 작동은 푸시 메카니즘(648)에서와 같이 실질적으로 동일하다.) 광학 검출기(650)(제 34도)는 슬롯(614)이 구동기(656) 및 레지(718)에 적절히 인접하여 배치되도록 회전식 원형 컨베이어(604)의 회전을 제어하기 위하여 상기 슬롯(614) 상에 직접 제공된다.
푸시 어셈블리(648)은 회전식 원형 컨베이어(604)의 상부에서 카드(28)를 슬롯(614) 밖으로 미끄러지고 아주 상부 오른쪽 구동기 롤러(712A)에 인접한 구동기 어셈블리(702)의아주 오른쪽 에지에서 카드(28)을 대치한다. 스퍼퍼 모터(708)은 구동 벨트(710)을 전송 투과 다음 스테이션(802)를 향하여 왼쪽으로 이동하고 카드(28)을 전송 투과 다음 스테이션(802)를 향하여 왼쪽으로 이동하게 한다.
카드(28)의 리딩 에지가 투과 다음 스테이션(802)에 도달할 때, 투과 광학 다음 스테이션의 광학 인터럽터(LED)는 카드(28)의 베이스에서 광학 인터럽터 개구부(112)(제 31도)를 통하여 방사선을 통과한다. 광학 인터럽터 검출기는 방사선을 감지하고 모터(708)을 정지하게 하는 제어 시스템으로 신호를 전송한다. 모터(708)가 정지할 때, 카드(28) 웰(110)의 제 1컬럼은 카드(28) 웰의 칼럼이 투과 테스팅을 유도하는 전송 다음 스테이션(802)에서 한 세트의 8개 투과 LEDs에 반대로 배치된다.
LED의 초기 방사후에, 미러(708)은 전송 광학은 웰의 폭 양단에 일련의 위치에서 개별적인 웰을 나타내도록 일련의 작은 스텝에서 벨트(710)을 빠르게 이동하기 위하여 작동된다. 카드(28)의 정확한 이동은 웰(110)에 대하여 많은 세트의 데이타를 이룩한다. 웰(110) 양단에 다중 위치에서 투과 테스팅은 어떤 공기 포겟 또는 웰에서의 부서러기 검출을 포함할 것이고, 데이터 처리 시스템이 비정상적인 투과 측정을 검출 가능하게 하고 그리고 버리게 한다.
형광 테스팅이 요구되는 경우에, 카드(28)의 모든 웰이 전송 다음 스테이션(802)에 의해 추가 테스트될 때, 모터(708) 및 벨트(710)은 카드(28)을 웰(110)의 형광 테스팅이 발생하는 형광 다음 스테이션(804)으로 미끄러진다.
테스트 상태에 따라서, 카드(28)은 역 방향에서 모터(708) 및 벨트(710)을 움직이므로서 회전식 원형 컨베이어(604)에 복귀되거나 또는 모터(708) 및 벨트(710)은 구동 어셈블리(710)의 왼쪽의 모든 방향으로 카드를 카드 처리 메카니즘(900)의 카드(28)에 놓기 위하여 작동한다.
그래서, 인큐베이션 스테이션(900)에서 아래의 단계를 포함하는 샘플 테스팅 장치(20)의 판독 스테이션(800)까지 제 1 및 제 2(상부 및 바닥) 에지를 갖는 샘플 카드(28)을 전송하기 위한 방법이 기술되어 있다.
레지(718)의 슬롯(719) 및 구동 벨트(710)에 의해 형성된 공간에서 샘플 카드를 놓으며, 상기 슬롯(710)은 카드의 상기 상부 에지를 수용하고 카드 이동 방향을 형성하고, 상기 구동 벨트(710)은 슬롯(719)에 병행하게 배치되고, 카드(28)의 바닥 에지를 지지한다.
구동 벨트, 카드 및 슬롯 사이의 압력을 유지하기 위하여 레지를 향하여 구동 벨트(710)을 (스프링(714)로서) 바이아싱한다.
벨트(710)에 상대적으로 카드(28)의 실질적인 미끄러짐 없이 슬롯(719)을 통하여 카드를 광학 스테이션(800)에 미그러지게 하기 위하여 카드 이동 방향에서 구동 벨트를 움직이며; 타이밍 풀리(711) 및 스텝퍼 모터(708)에 의해 벨트의 정확한 이동으로 인하여 광학 시스템에 상대적으로 카드의 정확한 이동을 허용한다.
제 2, 3, 31 및 36도에서, 카드 분배 메카니즘(900)은 카드가 샘플 카드 전송 시스템(700)을 빠져나올 때 적층되는 트레이(902)를 갖는다. 상기 레지(718)는 레지(718)의 아주 왼쪽에서 경사진 부분(719)를 구비한다. 카드(28)가 트레이(902) 상으로 커브 플레이트(704)의 단부를 빠르게 움직일 때, 카드(28)의 상부 오른쪽 어깨(114)는 경사진 부분(719)과 접촉하도록 놓여진다. 상기 트레이(902)는 커버 플레이트(704)의 상부에서 벨트(710)의 높이 보다 약간 낮고, 경사진 부분(719)에 대하여 상부 어깨(114)의 이동을 지지한다. 탄성 힘(F)(제 36도)은 경사진 부분(710)에 의해 카드(28)에 분할되고, 카드(28)을 구동 어셈블리(702)을 빠져나와 카드 배출 트레이(902)에 들어가게 한다.
형광 광학 다음 스테이션 및 작동 특성
제 37도에서, 형광 광학 다음 스테이션(804)는 장치(20)으로부터 분리된 투시도에 도시된다. 다음 스테이션(804)는 경첩(808)을 통하여 광학 헤드(810)에 지지된 선택적인 반사 어셈블리(806)을 포함한다. 광학 헤드(810)은 형광 발광 소스 및 카드(28)의 웰(100) 칼럼의 중간 6개 벽 사이의 6개 광학 채널을 형성하는 다수의 표면 개구부(812)을 갖는다. 광학 채널의 수 및 위치 설정은 램프 크기(또는 수) 및 카드(28)의 샘플 구조에 따라 좌우된다. 발광 소스는 형광 램프 카세트(816)내에 배치된다. LED 및 검출기는 정면 표면 개구부 및 반사기 어셈블리 사이의 공간에서 카드를 정확히 배치 시키기 위하여 카드(28)의 베이스를 따라서 광학 인터럽터 개구부(112)와 함께 동작한다.
경첩(808)이 닫힌 상태일 때, 선택적인 반사기 어셈블리(806)은 개구부(812)에 병행하게 배치된다. 카드(28)가 정면 표면 개구부(812) 및 반사기 어셈블리(806)에 의해 형성된 공간에서 앞 뒤로 이동한다.
선택적인 반사기 어셈블리(806)은 앞 뒤로 광학 샤터(803)을 이동하는 스터퍼 모터(801)을 갖는다. 반사기(852) 및 고체 참조(850)는 광학 셔터(803)에 지지된다. 반사기 및 고체 참조의 목적은 지금 더 상세히 설명된다.
제 38A도에서, 선택적인 반사기 어셈블리(806)의 정면은 평면도의 스테이션(804)의 나머지로부터 분리되어 있다. 광학 셔터(803)은 한 쌍의 가이드(807A, 807B)을 따라서 앞 뒤로 움직인다. 정상적인 작동에서, 상기 셔트(803)은 반사기(852)가 광학 헤드(810)의 반대쪽 개구부(812)에 놓여지는 위치에 있다. 광학 헤드(810)의 검출기 교정이 수행될 때마다, 상기 모터(810)은 고체 참조(850)가 개구부(812) 반대쪽 광학 통로에 놓이도록 셔트(803)을 이동한다. 선택적인 반사기 어셈블리 하우징은 카드(28)에 대한 광학 인터럽터 개구부(112)용 LED에 대한 하우징을 포함한다. 스프링 클램프(805)는 어셈블리(806)가 닫힌 상태일 때 헤드(110)에 선택적인 어셈블리를 보호하기 위하여 제공된다.
제 38B도는 선택적인 반사기 어셈블리(806)의 후면을 도시한다. 선택적인 반사기 어셈블리(806)은 제 38C의 측면도에 도시되어 있다. 셔트(803) 뒤에서, 웰(1000)은 스터퍼 모터(810)으로부터 샤프트(도시되지 않았음)에 대해 제공된다. 스터퍼 모터 샤프트는 웰의 갭(1002)을 통하여 통과하고 광학 셔트(803)의 후면 표면으로부터 상부로 연장되는 피이스(809)에 보호된다. 커브 플레이트(도시되지 않았음)는 나사 홀(1001)에 지지에 의하여 웰(1000)을 덮는다. 스터퍼 모터(801)의 샤프트의 앞 뒤 운동은 샤터(803)을 가이드(807A, 807B)을 따라서 앞 뒤로 움직인다.
제 37도에서, 제거가능한 플래시 램프 카세트(816)은 연장된 제논 직선 플래시 램프를 지지하고, 상기 램프는 카드(28)의 웰(110)에 놓여진 형광단(flurophores)에 대한 형광 발광 소스로서 작용한다. 플래시 램프 카세트(816)는 고전압 전력 공급장치(820)에 접속된다. 플래시 램프(824)는 램프의 필드 대치를 허용하는 고전류 용량 접속을 갖는다. 이것은 플래시(350amps) 동안에 발생된 고 펄스 전류로 인한 램프 타입에 대한 독특한 것이다.
피크 검출기(814) 및 전자 모듈은 광학 헤드(810) 뒤에지지 된다. 플래시 램프 카세트(816)은 인터페이스 블록(854) 및 제 39도에 상세히 도시된 램프 홀더(856)을 포함한다.
제 40도에서, 형광 광학 다음 스테이션(804)은 플래시 램프(824) 및 6개 광학다이오드 검출기의 축에 수직인 단면도에 도시된다. 플래시 램프 카세트(816)는 연장되는 원통형 포물성 반사 미러(822)의 초점에 지지된 제논 램프(824)를 포함한다. 플래시 램프 방사선(R)은 형광단의 여기 파장에서 방사선을 통과하기 위하여 방사선(R)을 필터하는 365nM 필터(828)로 냉각 미러(826)의 반사된다. 냉 미러(826) 및 필터(828)에 대한 필터 스펙은 제 40A도 및 제 40B도에 도시된다. 필터(828)을 통하여 통과한 후에, 개구부(812) 외부 및 카드 웰(110) 내부 및 광학 통로(833)을 따라서 2색성 빔 스플리터(830)을 반사한다. 웰(110)을 통하는 방사선은 선택적인 반사기 어셈블리(806)의 반사기(852)에 의해 반사되고 웰(110)으로 반사된다. 방사선은 웰(110)의 형광단을 자극하고, 형광단이 방사선을 방출하게 한다. 방출 방사선은 제 40도의 점선으로 도시된다. 방출 방사선은 2색 빔 스프리트(830) 초점 렌즈(836) 및 대역 통과 필터(838)을 통하여 광학다이오드 검출기(840)로 전송된다. 6개의 광학 채널에 대해 6개의 광학다이오드 검출기가 있다.
선택적인 검출기(852)의 사용은 신호 대 잡음 비를 강화하고 광학 통로를 2배로함으로서 광학 혼선을 최소화한다. 더욱이, 카드(28)가 광학 인터럽터에 의하여 형광 스테이션에 의해 판독되기 위하여 배치되고, 카드의 웰은 광학 혼선을 최소화하고 형광 신호를 최대화하도록 웰의 광학 분리를 향상하기 위하여 발생된다. 카드(28) 재료는 혼선을 최소화하기 위하여 불투명하고 형광 신호를 최대화 하기 위하여 바람직하게 백색이다.
2색 빔 스플리터(830)은 방사선의 거의 95%을 웰(110)로 반사하는 형광단의 여기 파장에서 방사하기 위하여 높게 반사된다. 그러나, 2색 빔 스플리터(830)은 형광단의 투과 파장에서 반사하기 위하여 고도로 투과적이고, 동일 광학 통로(833)을 따라서 형광단으로부터 대부분의 방사선을 검출기(840)로 통과한다.
2색 빔 스플리터(830)의 반사되지 않는 램프(824)로부터 방사선의 거의 5%는 광학 통로(834)을 따라서 미러(832)로 투과된다. 미러(832)는 촛점 렌즈(836A) 및 대역 통과 필터(846)을 통하여 방사선을 기준 다이오드 검출기(844)로 반사된다. 기준 검출기(844)는 기준 검출기(844)에 의해 검출된 신호에 의해 나눠진 검출기 (840)에 의해 검출된 신호의 비를 계산하기 위하여 피크 검출기 회로(814)에 의해 사용된다. 램프(824)의 출력은 기준 검출기(844)의 출력에 의해 분할된 채널 검출기(840)의 출력 비가 일정하게 즉 시간에 대해 램프 출력의 독립적인 변화가 유지된다. 램프 밀도에서의 변화를 보상하기 위하여, 기준 채널(844)는 램프(824)가 형광 광학 시스템의 적절한 작동에 대하여 충분한 빛이 제공되는 지를 결정하는데 사용될 수 있다. 기준 검출기(844)에서 램프 출력을 모니터링 함으로서, 상기 시스템은 램프(824)가 변화될 필요성이 없을 때 자동적으로 결정할 수 있다.
제 40도에서, 검출기 어셈블리(806)은 기준(850)이 광학 통로(833)로 이동할 때 형광인 방출 파장에서 방사선을 방출하는 고체 기준(850)을 포함한다. 바람직한 고체 기준의 구조는 제 41도에 도시되어 있다. 바람직하게 고체 기준(850)은 유리 플레이트(853) 사이에 있는 인광성 유러품 소스(555)이고 유리의 정면 표면 상에 놓여진 450nM 필터(851)을 갖는다.
제 42도에서 유러품의 전형적인 여기 및 방출은 파장 함수로서 도시된다. 유러품이 200 및 약 750nM 사이의 여기 방사선에 응답하는 여기 곡선(895)으로부터 알 수 있다. 그래서, 유러품은 웰(110)의 형광단을 방사하는 파장에서 즉, 약 365nM에서 여기 시킨다. 유러품 방출 스펙스럼(896)은 약 455 및 460nM 사이의 피크를 갖고, 카드(28)의 웰(110)에서 형광단의 파장 방출과 오브랩핑한다. 그래서 고체 기준(850)은 광 통로(833)에 놓여질 때 플래시 램프(824)는 발광하고, 그것은 실질적으로 카드(28)의 웰(110)에서의 형광인 방출 파장으로 오프랩핑한다. 고체 기준(850)은 카드(28)의 웰(110)의 형광단의 파장과 유사한 방출 파장에서 방사선을 방출한다. 고체 기준(850)은 아래에 기술된 검출기(840)의 출력을 교정을 보정하기 위하여 사용된다. 그것은 고체 기준의 다른 종류는 제 41도의 유러품 고체 기준이외에 사용될 수 있다는 것을 알 것이다. 방출 파장의 선택은 웰에서 사용된 형광단의 형태에 좌우된다.
제 39도에서, 프래시 램프 카세트(816)은 확대도에서 도시되어 있다.
플랫시 램프 카세트(816)은 플래시 램프(824)에 대해 포물선 검출기를 수용하는 램프 홀더(856)을 포함한다. 플래시 램프(824)는 한 쌍의 조정 피이스(858)에 지지되고 지지 나사(864)에 의해 정위치에서 보호된다. 조정 피이스(858)는 한 쌍의 조정 스프링(860) 및 조정 나사(862)를 수용한다. 조정 나사(862)는 인터페이스 블록(854)의 개구부 및 조정 피이스(858)의 자석을 통하여 통과한다. 조정 나사(862)를 풀고 조음으로서 원통형 포물선 반사기(822)에 상대적으로 플래시 램프(824)의 기울기가 원통형 포물선 반사기(822)의 초점에 있는 램프(824)의 세로 축을 만들기 위하여 조정된다. 인터페이스 블록(854)은 플래시 램프(824)로부터의 방사선을 인터페이스 블록(854)의 외부로 통과하도록 하고 냉각 미러(826)(제 40도)을 차단하고 2색 빔 스플리터(830) 및 샘플 웰(110)을 향하도록 한다.
광학 헤드(810)는 제 43 및 44도에 도시되어 있다. 제 43도는 형광 다음 스테이션(804)을 통과할 때 카드(28)로부터 보이는 광학 헤드(810)의 표면 평면도이다. 헤드(810)는 개구부(812) 내의 헤드 플레이트(866) 및 배치된 광학 인터럽터 개구부(811)를 포함한다. 광학다이오드는 광학 인터럽터 개구부 뒤에 배치되고 카드(28)가 형광 다음 스테이션(804)내에 정확히 배치될 때를 결정하기 위하여 카드(28)의 광학 인터럽터 개구부(112)와 결합하여 사용된다. 제 44도에서, 헤드 플레이트(866)의 후면이 도시된다. 냉각 미러(826) 및 2색 빔 스프리트(830)는 광학 헤드 플레이트(866) 내에 놓이고 카드(28) 웰의 한 칼럼의 중간 6개 벽의 배열로 병행하게 배치된 6채널(837) 세트 양단에 길이 방향으로 연장된다. 물론 당업자는 광학 헤드는 칼럼의 끝에서 웰을 포함하는 웰 컬럼에서 모든 웰에 대해 한 채널을 제공할 수 있다는 것을 인식할 것이다.
제 45A 내지 제 45D도에서, 제 40도의 렌즈(836) 및 (836A)는 렌즈 홀더 피이스(848)에 의해 지지된다. 렌즈 홀더(848)는 제 45A의 상부 평면도, 제 45B도의 바닥 평면도, 제 45C 도의 측면도, 및 제 45D 도의 단면도에 도시된다. 상기 렌즈 홀더(848)는 2색 빔 스트리터(830)(제 40도 및 제 44도 참조) 뒤에 적절한 피크 부분(849)을 포함한다. 렌즈(836)는 만곡된 벽(839)의 베이스에 배치되고, 그것은 렌즈(836) 및 검출기(840, 844) 사이에 광학 통로를 형성하기 위하여 제 44도의 채널(837)과 함께 동작한다. 벽(839)은 인접한 채널로부터 블록 광선에 의해 인접한 채널 사이에 혼선을 방지한다.
6개의 광학 채널에서 플래시 램프의 관계는 제 46도에 도시된다. 플래시 램프(824)는 램프(824)의 애노드 및 캐소드 사이의 공간이 광학 헤드에서 6개 개구부(812) 사이의 공간보다 커거나 동일하도록 충분한 길이다. 제 45도는 광학 인터럽터(811)의 상대적인 배치 및 6개의 개구부(812)에 상대적인 기준 채널(874)을 나타낸다. 플래시 램프(824)는 램프를 발광시키게 하는 램프(824)의 표면 주위에 감싸인 타이거 와이어(825)를 갖는다. 적절한 램프(824)는 ILC Tecnology Inc. of Sunnyvale California, part no L7752로부터 얻을 수 있다.
제 47A도 47b도에서, 형광 광학 시스템(804)은 광학 헤드(810) 및 렌즈 홀더(848) 뒤에 지지된 광학 인터럽터 블록(868)을 포함한다. 광학 인터럽터 블록(868)은 램프(824)로부터의 방사선을 블록(868)에 통과하게 하고 냉각 미러(826)를 차단하기 위하여 개구 영역(870)을 갖는다. 블록(868)의 후미는 제 47A도에 도시되어 있고, 카드의 6개 벽으로부터 광선에 대한 6개 채널 또는 통로(872) 및 램프(824)(제 40도 참조)로부터 광선(834)에 대한 기준 채널 또는 통로(874)를 포함한다. 광학다이오드 검출기 기판(842)은 제 47A도의 점선에 도시된 블록(868)의 후면 상에 지지된다. 제 47B도에서, 블록(868)의 정면은 렌즈 홀더(848)를 블록(868)에 지지하기 위하여 한 세트의 지지 핀(878)을 포함한다. 제 40도의 445nM 대역 통과 필터(838)는 기준 채널(874)에 대한 365nM 대역 통과 필터(846)와 같이 블록(868)에 보호된다.
제 48A도에서, 광학다이오드 검출기 기판(842)은 평면도에 도시되어있다. 6 광학다이오드 검출기(840)는 기판(842)이 제 40도 및 제 47A도에 도시된 블록(868)의 후면에 지지될 때 6 채널(872) 상에 직접 놓여진다. 광학 인터럽터 검출기(882)는 광학 인터럽터 LED로부터의 광이 광학 다음 스테이션(804) 카드(28)의 적절한 배열을 표시하는 카드(48)의 광학 인터럽터 개구부(112)를 통하여 통과할때를 검출하기 위하여 제공된다.
제 48B도에서, 검출기 기판(842)의 블랙 사이드는 광학다이오드(840) 및 (844)의 출력을 수신하고 피크 검출기(814)에 신호를 통과하는 통상적인 회로 트레이스(880)를 갖는다.
제 49도에서, 제 37도의 피트 검출기(814)는 블록도 형태로 도시된다. 예의 오른측 상에서, 6개의 광학 채널(CH1, CH2, CH3, CH4, CH5, CH6)은 6개의 광학다이오드 검출기로부터 입력을 나타낸다. 이러한 신호는 한 세트의 6개의 검출기에 입력되고 광학다이오드로부터 전압 신호까지 전류를 전환하는 이득 증폭기(884)가 고정된다. 기준 채널 입력 신호는 검출기 및 증폭기(884A)에 공급된다. 검출기 출력 및 고정된 이득 증폭기는 한 세트의 가변 이득 증폭기(886A)로 입력된다. 가변 이득 증폭기(886 및 886A)는 한 세트 전자 피크 검출기(888)에 출력 신호를 공급한다.
피크 검출기(888)는 Horowitz 및 Hill의 The Art of Electronics, 페이지 218에 기술된 피크 검출기와 동일한 것이다. 표준 회로는 변환 증폭기가 표준 작동 증폭기 대신에 제 1스테이지 증폭기로서 사용된다는 점에서 약간 변형된다. 상기 장치는 회로(88)를 최소 신호 왜곡으로 빠르게 작동하도록 하는 전압-입력, 전류-출력 증폭기이다.
피크 검출기(888)의 출력은 버퍼 증폭기에 의해 버퍼되고 다중 채널 입력 아날로그 대 디지털(A-D) 전환기(890)에 공급된다. 기준 채널로부터 피크 검출기(888A)의 출력은 A-D 전환기(890)의 기준 입력(892)에 단순히 버퍼되고 공급된다. A-D 전환기(890)의 출력을 6개 채널 및 기준 광학다이오드로부터 신호를 처리하는 마이크로프로세서로된 제어기 보드(도시되지 않았음)에 전송하는 데이터 버스(894)이다. 특히, 제어기 보드는 램프(824)의 독립 출력인 상대적인 형광 측정을 계산하기 위하여 기준 채널의 출력에 의해 분할된 6개 채널(CH1 내지 CH6)의 출력의 비를 처리한다.
카드(28)가 형광 다음 스테이션에 배치될 때, 램프(824)는 10배정도로 다수의 시간에서 25Hz에서 발광한다. 발광후에, A-D 컨버터(890)는 기준 채널에 대한 각 채널의 비를 계산하고 제어기는 그 결과를 판독한다. 10개가 발광한 후에, 그 결과는 각 채널에 대하여 평균된다. 이러한 처리는 각 6채널에 대해 평행하게 유도된다.
데이터 버스(894)는 제어 신호를 피크 검출기(888) 및 가변 이득 증폭기(886)에 공급한다. 검출기의 보정에 대하여, 제어기 기판은 검출기의 최초 보정이 만들어질 때 출력 신호와 정합하는 각 채널에 대해 출력 신호를 제공하기 위하여 가변 이득 증폭기(886)를 조정한다. 예를들면, 장치의 설치시기에, 상기 채널은 제어된 용액으로 채워진 웰을 갖는 카드로 보정되고 검출기의 최초 판독은 메모리에 저장된다.
검출기(840)에 대한 응답 곡선은 제 50도에 도시되어 있다. 응답 곡선(897)은 400 내지 500nM 이득 영역에서 0.2 및 0.35사이의 전형적인 스펙트럼 응답(A/W)을 갖는다. 445nM 통과 필터(838)( 제 40도)의 특성은 제 51도에 도시되어 있다. 투과 곡선(898)은 445nM에서 최고 50%의 투과를 갖는다. 상기 투과 곡선은 440nM아래 및 450nM보다 높은 곳에서 예리하게 낮아지고, 스트레이 광선을 광학다이오드 검출기(840) 상에 충돌하는 것을 방지한다.
제 40도의 2색 빔 스프리트(830)의 반사 스펙은 제 52도에 도시된다. 반사 곡선(899)은 365nM의 플래시 램프 출력 파장에서 95%의 반사 및 5%의 투과를 나타낸다. 상기 반사 곡선은 약 445-450nM 정도의 형광단의 방출 주파수에서 6.5% 반사 및 93.5% 투과보다 낮은 약 380nM으로 예리하게 떨어진다. 그래서, 2색 빔 스플리터(830)는 플래시 램프(824)로부터 광선을 자극하기 위하여 높게 반사되는 것이 제 52도에 도시되어 있고, 카드 웰(110) 및 고체 기준(850)의 형광단으로부터 광선을 방출하기 위하여 투과적이다.
상기로부터, 테스트 샘플의 다수의 웰에 저장된 다수의 샘플의 형광 분석을 유도하는 방법이 기술되어 있다는 것을 알 수 있을 것이다. 상기 웰(110)은 웰의 칼럼에 정렬되고 방출 파장에서 광선을 반출하는 형광 단을 포함한다.
인접한 웰의 칼럼을 여기 파장에서 광선을 방출하는 직선 플래시 램프(824)(예를들면 광학 통로)에 배치하며;
여기 파장에서 광선을 갖는 웰을 조사하기 위하여 램프(824)를 발광하며, 광학 통로를 따라서 움직이며;
플래시 램프를 기준 광학다이오드(844), 출력 신호를 발생하는 기준 광학다이오드까지 광선 일부분을 전송하며;
광학 통로를 따라서 방출 파장에서 웰로부터 다수의 검출기(840) 광선을 수신하며, 상기 검출기는 검출기 출력 신호를 방출 파장에서 웰로부터 다수의 검출기(840) 광선을 수신하며; 및
램프의 출력의 독립 웰에서 형광단의 형광을 결정하기 위하여 기준(844) 출력 신호에 검출기(840) 출력 신호의 비를 비교한다. 바람직한 실시예에서, 램프(824)는 웰에 대하여 형광 데이타를 발생하기 위하여 한 세트의 데이터 포인트를 발생하기 위하여 빠른 연속으로 다수의 플레시를 발광하기 위하여 작동된다.
투과 다음 스테이션 작동 특징
제 53도에서, 바람직한 투과 다음 스테이션(802)은 입면도에 도시되어 있다. 다음 스테이션(802)은 3가지 투과 광학 소스(770A, 770B, 770C)를 갖고, 그것의 각각은 8개의 LED 소스(웰 칼럼의 각 웰에 대한 하나) 및 광학 인터럽터 LED 소스를 포함한다. 분리 거리(D)에 의해 각각 분리되는 광학 소스(770A-C)는 카드(28)의 칼럼 웰(110) 사이의 분리 거리와 동일하다. 3가지 소스(7710A-C)는 3가지 다른 파장 체크에서 투과 테스팅이 가능하도록 제공된다. 소스(770A)는 제 54도의 투시도에 도시되고, 카드(28)의 칼럼 방향에서 인접한 웰(110) 사이의 거리와 동일한 거리(L)에 의해 서로로부터 분리된다. 광학 인터럽터 LED(789)는 카드(28)의 베이스를 따라서 광학 인터럽터(112)를 통하여 광선을 발광한다. 투과 검출기의 3컬럼 세트는 LED(797, 789)로부터 광선을 수집하기 위하여 3가지 소스(770A-C) 뒤에 배치되고 전송 데이터를 공지된 방법으로 접속기 기판에 공급한다.
제 55도에서, 투과 소스(770A) 및 관련된 검출기(791)는 제 53도의 라인(55-55)을 따라서 절단된 단면도에 도시된다. LED 소스(797)는 공지된 방법으로 기판(798)에 지지된다. 광선은 공지된 방법으로 기판(792)에 지지된 광학다이오드 검출기(791)에 떨어진다. 검출기(791)는 검출기(770A)와 반대인 수직으로 연장되는 하우징(793)에 지지된다. 빔(790) 및 웰(110) 크기 사이의 관계는 전송 측정의 하나에 대해 제 56도에 도시되고, 웰의 길이가 빔의 크기보다 더 길는 것이 바람직하고, 카드가 투과 스테이션을 빠르게 움직일 때 투과 측정이 웰의 다중 피이스에서 발생하게 한다. 광 소스(770A)의 구조 및 검출기(795)는 다른 2개의 소스 및 투가 스테이션(802)의 검출기와 동일하다.
전체 웰(110)의 투과 분석을 수행하기 위하여, 카드(28)는 예를들면 10개 또는 14개 위치의 소스(770A)에 일련의 작은 증가로 빠르게 움직이고, 웰(110)의 다중 광선은 각 위치에서 행해진다. 이러한 테스트는 큰 세트의 투과 데이터를 야기하는 모든 웰에 대하여 3가지 다른 투과 파장에 가지 수행될 수 있다.
제 53도에서, 카드(28)가 회전식 원형 컨베이어(604) 외부로 움직일 때, 카드의 제 1컬럼(110')은 제 1파장의 LED를 갖는 소스(770C)로 이동되고, 그러므로서 14개의 이동 단계 및 매 단계 당 10개의 발광 단계가 수행된다. 카드(28)는 칼럼(110')이 제 2파장의 LED를 갖는 소스(770B)에 반대로 배치되도록 개선된다. 소스(770B)는 소스(770C)가 제 2컬럼에서 발광하는 한편 제 1컬럼(110')에 조사된다. 카드(28)는 칼럼(110')이 제 3파장의 LED를 갖는 소스(770A)에 반대로 배치되도록 이동하고, 소스(770A-C)는 3가지 칼럼 웰을 조사하기 위하여 일제히 작동한다. 카드(28)는 모든 칼럼이 3가지 세트의 파장에서 투과 광선이 되도록 왼쪽으로 이동한다. LED의 칼럼은 만약 원한다면 한 칼럼의 8개의 여러가지 파장까지 포함할 수 있다. 최종 칼럼이 소스(770A)에 의해 조사될 때, 카드(28)는 형광 테스팅에 대하여 형광 다음 스테이션(804)으로 이동한다.
물론, 전송 시스템(700) 및 투과 다음 스테이션(802)의 작동은 카드(28)가 오른쪽에서 왼쪽보다도 왼쪽에서 오른쪽으로 스테이션(802)을 통하여 이동하도록 제어될 수 있다. 더욱이, 투과 소스(770)보다 적거나 또는 심지어 더 큰 수가 만약 원한다면 사용될 수 있다.
적층 테스트 샘플 카드 분배 스테이션 작동 특징
제 57도에서, 적층 테스트 샘플 카드 분배 스테이션(900)은 상기 언급한 투시도 및 제 2도의 동일 투시도의 장치(20)로부터 분리되어 도시된다. 제 58도 내지 제 61도는 스테이션(900)의 다양한 소자를 더 잘 나타내기 위하여 매거진(902)의 입면도 위 및 아래에 여러 가지 부가적인 투시도의 스테이션(900)을 도시한다. 매거진(902)은 정면 및 후면 지지체(904, 906)로부터 수동적으로 제거 가능하다. 매거진(902)은 후면 지지체(906)에 인접한 막대가 표면(903), 측면 부분(905, 907) 및 단부 부분(909)을 갖는다. 스테이션(900)에서 설치될 때, 매거진은 제 60도 및 제 61도에 도시된 바와같이, 수평 지지체(936)에 지지된다.
카드가 스테이션에 적층되는 것이 준비되었을 때, 스테이션(900)을 카드 입구 슬롯(901)에 들어가게 한다. 푸시 플레이트(908)는 카드 입구 슬롯(901)의 다른 측면 상에 매거진(902)의 정면 단부에 제공된다. 푸시 플레이트(908)는 제 57도 및 확대도에 도시된 바와같이 물러선 위치 사이의 카드 입구 슬롯(901) 내에서 앞뒤로 왕복운동한다. 푸시 플레이트(908)는 물러선 위치에 있을 때, 카드(28)가 샘플 카드 전송 스테이션(700)(제 2도 및 제 31도)으로부터 스롯(901)으로 삽입될 수 있다.
한 쌍의 탄성 스냅 엘리먼트(910A, 910B)는 카드 입구 슬롯(901)에 인접한 매거진(902)의 상기 측면(905, 907)으로 몰드된다. 매거진(902)이 제 57도에 도시된 스테이션(900)에 지지될 때, 유지기(912)는 정면 및 후면 지지체(904, 906) 사이의 매거진(902)을 안전하게 유지한다. 매거진(902)은 사용자가 매거진(902)을 고정하도록 하는 측면(907)의 손잡이 부분(940)을 갖고 매거진(902)에 적층된 카드의 분배를 유하여 스테이션(900)의 외부로 매거진을 올리기 위하여 유지기(912) 상에서 움직인다. 손잡이(940)는 매거진 이동 작동 동안에 카드(28)의 하나와 동시에 접촉하는 것을 막기 위하여 매거진 측(907)의 낮은 부분에서 배치된다.
제 57도의 오른쪽에서, 한 쌍의 너트(926)는 후면 지지체(906)에 대하여 압력 슬라이드(916, 918)를 보호하기 위하여 제공된다. 광학 센서(924)는 트레이(902)의 단부(909) 아래 및 인접하여 후면 지지체(906)에 지지된다. 센서(924)는 압력 플레이트(914)가 전체 매거진(902)을 나타내는 매거진(902)의 후면에서 모든 방향으로 배치될 때 검출된다.
제 57도의 오른쪽에서, 스터퍼 모터(950)는 정면 지지체(904) 뒤에 지지된다. 모터(950)는 상기 언급한 바와같이 카드 입구(901)에 상대적으로 연장되고 후퇴한 위치 사이에 앞뒤로 푸시 플레이트(908)를 이동한다. 상기 푸시 플레이트(908)는 카드를 슬롯(901)으로 삽입을 편리하게 하는 경사진 카드 슬라이드 표면(901)을 이동한다. 래치(930)는 정면 지지체(904)에 브레키(934)에 의해 지지된다. 래치(930)는 카드를 카드 입구 슬롯(901)에 쉽게 들어가게 하는 카드 슬라이드 래치(931A)를 갖고, 래치(930)는 래치(930)를 주축 핀(932)(제 61도) 주위를 선회하게 한다. 래치(930)의 무게는 제 2카드 접촉 표면(931B)이 슬롯(901)으로 카드(28)가 들어가게 하고, 카드(28)가 테스트 카드 전송 스테이션(700)으로 빠져나오고 적층 분배 스테이션(900)으로의 통로를 식별하도록 웨딩 효과를 사용한다.
제 58도에서, 적층 분배 스테이션(900)은 압력 플레이트(914) 및 제거된 제 57도의 래치(930)를 갖는 투시도에 도시된다. 스냅(910A)은 경사진 표면(911) 및 후면 표면(913)을 갖는다. 푸시 플레이트(908)가 스냅(910A)에 대하여 카드를 밀 때, 카드가 스냅 엘리먼트(910A)를 빠르게 밀고, 그 포인트에서 탄성 스냅(910A)이 제 58도에 도시된 위치로 역으로 리턴하도록 외부로 플렉스하기 위하여 상기 카드는 경사진 표면(911)과 맞물리게 하고 탄성 스냅(910A)에 힘을 가한다. 이러한 위치에서, 상기 카드는 압력 플레이트(914)(제 57도)에 의하여 스냅(910A)의 후면 표면(913)에 대하여 밀어진다. 스냅 엘리먼트(910B)의 구조 및 작동은 스냅 엘리먼트(910A)에 대하여 기술된 것과 동일하다.
제 59도에서, 적층 분배 시스템(900)은 스테이션(900)의 지지체(906) 쪽 및 그 쪽 약간 아래에 도시된다. 트레이 유지기(912)는 매거진(902)을 지지하는 수평 지지 부재(936)에 지지된다. 수평 지지 부재(936)는 나사 또는 다른 적절한 고정 장치에 의해 정면 및 후면 지지 부재(904, 906)에 지지된다. 수직적인 강하 지지 부재(938)는 수평 지지 부재(936) 및 매거진(902)의 매스를 지지하기 위하여 제공된다.
압력 플레이트(914)는 매거진(902) 아래의 횡방향으로 연장하는 한 쌍의 압력 슬라이드(916, 918)에 의하여 장치(900)에 지지된다. 압력 슬라이드(916, 918)는 압력 플레이트(914)의 보충 개구부에 의해 수용된다. 일정한 힘 스프링(918)은 왼쪽 지지체(904)에 상대적으로 고정된 제 1단부를 구비하는 금속 코일 및 압력 슬라이드(914)의 포켓에 수용된 제 2단부를 구비하는 금속 코일을 포함한다. 매거진(902)은 카드 하나 하나에 의해 적재되고, 압력 플레이트(914)는 트레이(902)의 후면(909)을 향하여 오른쪽을 향하여 위쪽으로 움직인다. 그러나, 일정한 힘 스프링(920)은 매거진(902)(및 그래서 매거진에 적재된 독립적인 카드 수) 내에 압력 플레이트(914)의 위치에 독립적인 힘을 구비하는 스냅(910)을 향하는 압력 플레이트(914)를 이분한다.
제 60도에서 스테이션(900)은 제 57도에 도시된 반대쪽 측면 상에서 스테이션(900)의 측면 아래로부터 다시 도시된다. 압력 플레이트(914)는 후면 표면으로부터 외부로 연장되는 플래그 엘리먼트(922)를 갖는다. 매거진(902)이 완전히 적재될 때, 압력 플레이트(914)는 매거진(902)의 단부로 이동되고, 후면 지지체(906)에 인접한 플래그(922)의 존재는 광학 검출기(924)에 의해 검출된다. 제 61도에 도시된 바와같이, 광학 검출기(924)는 후면 지지체(906)에 놓인다.
제 61도에서, 압력 플레이트(914)는 카드의 중앙 부분에 대하여 카드 슬롯(901)으로 밀어지는 카드 접촉 표면(915)을 갖는다. 제 61도는 푸시 플레이트(908)에 대하여 구동 어셈블리를 나타낸다. 푸시 플레이트 스터퍼 모터(950)는 슬라이드 브리켓(952)에 지지된다. 모터(950)는 푸시 랙(954)의 상부 에지 상의 보충 이빨에 맞물리는 한 세트의 이빨을 갖는 피니언 기어(951)를 갖는다. 모터(950), 피니언 기어(951), 푸시 랙(954)은 푸시 플레이트(908)를 제 61도에 도시된 후퇴한 위치 및 연장된 위치 사이에서 카드 입구 슬롯(901)의 앞뒤로 이동하게 하고, 푸시 플레이트(908)는 카드를 탄성 스냅 엘리먼트(910A, 910B)를 통과하게 한다. 제 62도는 적층 작동을 좀 더 상세히 설명하는 매거진(902)의 정면 부분의 상부 평면도이다. 테스트 샘플 카드(28)가 카드 슬롯(901)에 적재될 때, 제 62도의 점선에 도시된 위치(28')에 배치된다. 모터(950)는 푸시 플레이트(908)를 연장된 위치로 이동하게 하고, 탄성 스냅 엘리먼트(910A, 910B)의 경사진 표면(911)에 대하여 카드(28)를 밀어낸다. 이것은 스냅(910)을 외부로 굽히고, 스냅 엘리먼트(910) 및 압력 플레이트(914) 사이에 배치된 다른 카드(28")을 밀고 저장한다. 모터(950)의 힘은 매거진(902)을 향하여 압력 플레이트(914)를 민다. 카드(28)가 매거진에 적재된 후에, 모터(950)는 다른 카드(28)를 카드 슬롯(901)으로 적재되도록 하는 푸시 플레이트(908)를 밀어내기 위하여 작동한다.
상기 설명된 실시예에 대한 카드(28)는 제 63도의 입면도에 도시된다. 카드(28)는 판독 스테이션(800)에 대하여 광학 분석을 하기 위하여 다수의 샘플 웰(110)을 갖는다. 경사진 어깨(114)는 카드(28)의 상부 에지에 제공된다. 카드 입구 슬롯(901)으로 카드(28)의 로딩은 제 64도에 도시되고, 그것은 제 62도의 선(64-64)를 따라서 스테이션(900)의 단면부 이다. 상기 언급한 바와같이, 상기 샘플 카드 전송 스테이션(700)은 커버 플레이트(704)에 지지된 일련의 롤러(712)를 따라서 구동 벨트(710)를 구동하는 스터퍼 모터를 갖는다. 카드(28)는 칸막이에 지지된 구동 벨트(710) 및 레지(718) 사이에 배치된다. 레지(719)는 카드(28)의 상부 에지를 수용하는 내부 카드 슬롯을 갖는다. 카드 슬롯은 레지(718)의 왼쪽 단부에서 경사진 부분(719)을 갖는다. 카드(28)가 커버 플레이트(704)를 트레이(902) 상에 빠르게 이동시킬 때, 카드(28)의 경사진 어깨를 경사진 부분(719)과 접촉하게 놓인다. 트레이(902)는 경사진 부분(719)에 대하여 상부 어깨(114)의 배치를 돕는 커버 플레이트(704)의 상부에서 벨트(710)의 입면도보다 약간 낮다. 결과 핀칭 힘(F)은 매거진(902)의 방향에서 구동 벨트(710) 및 경사진 부분(719)에 의해 카드(28)에서 분산되고, 카드(28)를 구동 어셈블리(700)를 빠져나와 슬롯(901)으로 스냅하게 한다.
제 65도에서, 제 57도의 왼쪽 또는 정면 지지체(904)는 투시도에서 분리되어 도시된다. 왼쪽 지지체(904)는 압력 플레이트(914)에 대하여 가이드(918, 916)를 수용하는 한 쌍의 통로 홀(972, 974)을 포함한다. 한 쌍의 지지 홀(943A)은 제 59도 및 제 66도에 도시된 수직적인 지지 부재(938)에 제공된다. 한 쌍의 지지 홀(927)은 수평 지지 부재(936)를 보호하기 위하여 제공된다. 지지체(904)는 매거진(902)의 왼쪽 에지를 지지하는 레지(970)를 갖는다. 지지체(904)의 측면 상에 테이퍼식 부분(975)은 스테이션(900)으로 매거진(902)을 쉽게 삽입하도록 돕는다. 지지체(904)는 푸시 플레이트(908)에 대해 개구부를 형성하는 웰 부분(971)을 갖는다.
매거진(902)은 제 67도의 투시도에 분리되어 도시되어 있다. 매거진(902)의 왼쪽 측면(907)상에 큰 스냅(910B)의 위치가 카드(28)의 외부 표면상에 있도록 전송 튜브(32)의 스터브와 방해하지 않도록 세트된다. 스냅 엘리먼트(910A, 910B)는 매거진 측의 몰드된 부분이 되도록 설계된다. 매거진(902)의 바닥 표면(903)은 매거진(902)의 바닥 표면(903) 상에 가볍게 카드(28)를 지지하는 한 쌍의 상승된 리지 엘리먼트(976, 979)를 갖는다. 매거진은 만약 카드가 누설된다면 적은 량의 유체를 지지하도록 설계된다. 바람직하게, 매거진(902)은 폴리카본네이터로 만들어진다. 이러한 재료는 높은 온도에 견디고, 자동 소독되고, 스냅 엘리먼트(910A, 910B)에 대하여 우수한 가요성 특성을 갖는다. 폴리카본네이터는 부서지지 않고 수행될 수 있다. 그러므로서 카드가 스냅 상에 밀어질 때 스냅(910A, 910B)이 깨지지 않을 것이다.
제 66도에서, 수직 지지체(938)는 절연되어 도시된다. 상기 지지체(938)는 지지체(938)를 왼쪽 지지체(904)에 지지하는 지지 나사를 수용하는 한 쌍의 홀(943)을 갖는다. 지지체(908)를 후면 지지체(906)에 지지하기 위한 홀(941)이 제공된다. 지지체(938)를 수평 지지체(936)에 고정하기 위한 홀(936)이 제공된다. 상기 수평 지지체는 제 68도에 분리되어 도시되고, 수직 지지체(938)를 수평 지지체(936)에 부착하는 고정체에 대하여 3가지 함몰부(935) 세트를 포함한다. 수평 지지체는 수평 지지체(936)를 왼쪽 또는 정면 지지체(904)에 지지하기 위한 나사를 수용하는 한 세트의 홀, 지지체(936)를 후면 지지체(936)에 고정하기 위한 한 세트의 홀(931)을 갖는다. 홀(913)은 제 57도의 매거진 저장소(912)에 대한 나사를 수용한다.
제 60도 및 제 69도에서, 일정한 힘 스프링(920)은 스프링(920)에 대한 축을 제거하는 압력 플레이트(914)의 포켓(920A)에 설치된다. 스프링(920)은 압력 플레이트(914)의 카드 접촉 표면(915)에 대하여 카드 압축에 의해 야기되는 힘의 반대 방향에서 힘을 제공함으로서 압력 플레이트(914)의 결합을 막도록 배치된다. 가이드(916)에 대한 압력 플레이트(914)의 홀(916A)은 2개의 가이드 레일(916, 918)의 평행 정렬이 중요하지 않도록 제공된다. 상기 슬라이드(916, 918)는 사용자로부터 서로 분리되도록 어셈블리(900) 아래에 배치된다.
제 69도 내지 제 71도에서, 압력 플레이트(914)는 카드 접촉 표면(915)을 갖는 카드 접촉 암(982), 개구부(918A)에서 압력 슬라이드 가이드 레일(918)을 수용하는 슬라이드 콜러(983), 및 슬라이드 콜러(983)를 카드 접촉 암(982)을 연결하는 통합 몸체 부분(981)을 갖는다. 압력 플레이트(981)가 설치될 때, 카드 접촉 부분(982)이 측면 부분(905)에 인접한 매거진(902)의 외측에 연장되는 몸체 부분(981)을 갖는 트레이(902)의 바닥 부분 상에 배치된다. 매거진(902)이 스테이션(900)에 삽입될 때, 매거진(902)의 측면(905)이 카드 접촉 암(982) 아래에 미끄러진다.
제 59도 및 제 70도의 슬라이드 및 압력 플레이트 어셈블리의 힘 분석은 트레이(902)의 후면으로 이동하기 위한 압력 플레이트(914)에 대해, 카드 접촉 표면(915) 상에 푸시 플레이트(908)에 의해 분할된 힘은 포인트(d, e)에서 압력 플레이트(914)에 인가된 마찰 힘보다 더 커야한다. 포인트(d, e)에서의 마찰 힘은 콜러(983)의 중앙에서 포인트(C) 주위에서 만들어진 힘에 의하여 공급된다. 슬라이드 로드(918) 상에서 견디는 콜러 포인트(983) 내의 표면의 길이(L)는 콜러 부분(983) 및 슬라이드(916) 사이의 마찰 힘은 카드(28)로 푸시 플레이트(908)에 의해 인가된 힘 보다 적도록 충분히 길게 선택된다. 이것은 압력 플레이트(914)의 결박을 막는다. 압력 플레이트(914) 및 압력 슬라이드(916, 918) 사이에 적절한 틈은 ANSI 바람직한 홀 기초 메트릭 틈 번호 H8/f7이다. 바람직한 실시예에서, 압력 플레이트(914) 재료는 0.25의 마찰 계수를 갖는 백색 아세톤(GP)으로 선택된다. 플레이트(914)는 개구부(918A)의 중앙 및 59mm의 카드 접촉 표면(915)의 중앙 사이에서 높이(H)를 갖고, 길이(L)는 14.75mm보다 더 커야 하고, 바람직하게 21.4mm이다. 슬라이드 레일 및 카드 접촉 암 사이의 거리(H) 대 콜러(983) 길이 비는 콜러(983) 및 레일(918) 사이의 마찰력이 푸시 플레이트(908)에 의해 인가된 힘보다 적도록 선택되고, 그러므로서 압력 플레이트(914)가 결합되는 것을 막는다.
가이드(916, 917)는 어셈블리 부분이 화학적으로 오염되기 때문에 부식을 방지하기 위하여 스텐레스 스틸 샤프트이다. 바람직하게, 압력 플레이트(914)는 이동이 필요한지를 결정하는데 도움이 되는 밝은 색 재료로 선택된다.
푸시 플레이트(908)는 제 72도의 투시도에 분리되어 도시된다. 푸시 플레이트는 카드(28)의 상부 및 하부 부분과 접촉하는 상부 및 하부 카드 접촉 표면(1002, 1000)을 구비한다. 푸시 플레이트(908)는 백색 아세톤(GP)과 같은 마찰 계수를 갖는 밝은 색으로된 안정된 플라스틱으로부터 만들어진다. 상부 및 하부로 경사진 표면(919)은 제 57도에 도시된 바와같이 카드 슬롯(901)으로 카드(28)의 삽입을 쉽게 한다. 푸시 플레이트(908)의 뒤측면으로부터 외부로 연장되는 것은 수평 연장 보호 부재(917)가 제 61도에 도시된 푸시 랙(954)으로부터 푸시 플레이트를 지지하기 위하여 제공된다. 바람직하게 푸시 플레이트(954)는 백색 아세톤(GP)으로 만들어진다.
제 61도 및 제 73도에서, 푸시 플레이트(952)는 푸시 플레이트 모터(950)를 수용하는 중앙 개구부(953)를 갖는다. 한 세트의 3가지 슬롯식 모터 지지 홀(963)은 푸시 플레이트(952)에 제공된다. 슬롯식 지지 홀(963)은 모터(950)의 기어(951)가 노이즈를 만들지 않도록 모터(950) 위치에 조정하도록 한다. 푸시 슬라이드(952)는 푸시 플레이트(908)가 밀려진 위치에 있을 때를 검출하기 위하여 광학 센서(도시되지 않았음)를 수용하는 광학 센서 및 개구부(964)를 포함한다. 푸시 슬라이드(952)는 푸시 랙(954)을 수용하는 개구부(962)를 형성하는 C-형태 푸시 랙 슬라이드(960)를 갖는다. 수평 지지체 표면(966)은 C-형태 슬라이드(960) 내에서 모터(950)에 의해 앞뒤로 움직일 때 푸시 랙(954)의 단부 뒤를 지지하기 위하여 제공된다. 푸시 슬라이드(952)는 제 75도의 측면도에 도시된다. 제 72도에서, 플래그 엘리먼트(921)는 푸시 플레이트(908)의 후면 표면으로부터 수평으로 연장된다. 푸시 플레이트가 후퇴한 위치에 있을 때, 플래그 엘리먼트(921)는 푸시 슬라이드(952)의 개구부(964)에 설치된 광학 센서에 의해 검출된다.
제 76도에서, 푸시 랙(954)은 모터(950)의 피니언 기어(951)에 의해 맞물리는 한 세트의 이빨을 갖는다. 한 세트의 지지홀(958)은 푸시 플레이트(908)(제 72도) 상의 지지 부재(917)에 푸시 랙(954)을 보호하기 위하여 제공된다.
바람직한 실시예에서, 스테이션(900)의 펌 웨어 코드는 스터퍼 모터(950)가 후퇴한 위치에서 연장된 위치로 푸시 플레이트(908)를 이동하기 위하여 취하는 단계 수 및 푸시 플레이트(908)가 후퇴한 위치로 다시 물러나는 단계 수를 계산하도록 설계된다. 연속적인 과정은 카드 슬롯에서 장애물을 검출하기 위한 기능을 한다. 예를들면, 펌 웨어 코드는 연장된 위치로 푸시 플레이트(908)를 이동하기 위하여 140 단계를 계산할 수 있다. 푸시 플레이트(908)가 후퇴한 위치로 물러날 때, 센서가 푸시 플레이트(908)의 후면 상에 플래그(919)를 검출할 때까지 푸시 플레이트(908)가 이동하기 위하여 프로그램이 단계 수를 계산한다. 그러면 상기 코드는 입력 단계 수와 출력 단계 수를 비교한다. 만약 그들이 정합 되지 않는다면, 잼이 있어야 하는 가정하에서 상기 사이클이 반복된다. 만약 상기 단계의 수가 10 사이클 후에 정합되지 않는다면, 그러면 상기 과정은 중지되고 사용자는 잼 상태를 알린다. 바람직하게 모터(950)에 대한 좀 더 큰 크기는 푸시 플레이트 속도를 최소화하는 모터 속도를 최대화하기 위하여 선택되고, 그러므로서 상대적으로 높은 수의 카운터를 제공한다. 모터를 제어하는 장치는 필요한 토크를 제공하기 위하여 쵸프 구동을 사용한다.
카세트 식별 및 바코드 판독 시스템
제 77도에서, 바람직한 실시예에서, 독립형 카세트 식별 스테이션(80)은 장치(20)에 의해 카드(28)의 처리를 편리하게 하도록 제공된다. 상기 스테이션(80)은 모터(84) 및 부착된 키보드(86) 및 바코드 판독기(88)를 갖는 컴퓨터 단자로 구성된다. 통상적인 호스트 컴퓨터(CPU) 및 메모리는 도시되지 않는 스테이션(80)에 포함된다. 호스트(CPU)는 카드(28)와 관련되도록 환자 또는 샘플 정보를 기술자가 입력하도록 하는 메뉴-구동 소프트웨어 프로그램을 작동한다. 스테이션(80)은 장치(20) 또는 다른 컴퓨터와 연락하도록 하는 데이터 포트를 갖는다.
스테이션(80)은 바 코드 스캐너 또는 키보드(86)를 통하여 기술자로부터 환자 및 샘플 데이터를 수용하고, 상기 정보를 메모리에 저장하고 테스트 샘플 카드(28)의 상부에 인가된 바 코드(89)를 갖는 정보를 관련시킨다. 상기 스테이션(80)은 카드(28)에 인가된 바 코드(89)를 판독하는 바 코드 판독기(88)를 가질 수 있다. 상기 카드가 판독된 후에, 사용자는 카드(28)와 관련된 환자 또는 다른 정보를 스캔하거나 입력하도록 한다. 바 코드 카드(83)는 정보의 타이핑 입력을 최소화하기 위하여 가장 통상적으로 입력된 데이터를 구비할 수 있다. 각 카드(28)는 판독된 후에 카드와 관련된 정보를 스테이션(80)에서 컴퓨터로 적재된 후에, 상기 기술자는 카드(28)를 카세트(26)에 적재된다.
스트린(84) 아래의 스테이션(80)의 베이스 부분이 카세트(26)의 후미 상에 배치된 2개의 터치 버튼이 스테이션(80)에 대한 터치 버튼 데이터 판독 단자(82)와 접촉하게 놓이도록 도시된 바와같이 카세트(26) 및 카세트(26)의 위치를 수용하기 위하여 몰드된 외형이 주어진다. 모든 카드(28)가 카세트로 적재된 후에, 모든 카세트와 관련된 정보를 단자(28)를 통하여 터치 버튼으로 적재된다.
제 78도에서, 터치 버튼은 중앙 지지체(34)의 측면에 부착된 터치 버튼 판독기 단자(85)를 포함하는 장치의 정보 검색 스테이션에서 판독된다. 보트(22)가 베이스 팬(24)을 따라서 이동될 때, 터치 버튼은 판독기 단자(85)와 접촉하게 된다. 터치 버튼으로부터의 테이타가 리드(87)를 통하여 장치(20)의 중앙 처리 장치를 통과하고, 상기 장치(20)는 테이타를 광학 스테이션(800)으로부터 광학 데이터와 관련시킨다.
제 3도 및 제 79도에서, 장치(20)는 카드(28)에 인가된 바 코드(89)를 판독하기 위한 바 코드 판독 스테이션(90)을 포함한다. 바 코드는 중앙 마운틴(34)에 고정된 바 코드 판독기 지지 구조체(92)에 지지된 바 코드 판독기(90)에 의해 판독된다. 바 코드 판독기는 카드(28)가 카세트(26)에 적재될 때 바코드가 그들이 쉽게 판독될 수 있는 카드(28)의 "상부"를 따라서 배치되는 위치에서 카드(28)에 인가된다.
보트(22) 및 카세트(26)가 장치(22)의 정면을 따라서 왼쪽으로 이동할 때, 그들은 지지 피이스(96)에 지지된 휠(94)을 구성하는 카드 분리 장치(94) 아래를 통과한다. 지지 피이스(96)제 79도의 화살표로 도시된 바와같이 핀(98) 주위를 회전하도록 하고, 카드(28)가 휠(94) 밑을 통과할 때 휠(94)을 카드(28) 상에 놓게 한다. 카드(28)의 위를 놓는 과정에서, 휠(94)은 제 79도에 도시된 바와같이 경사진 위치로 카드를 밀어넣거나 진동하고, 그들은 바 코드 판독기(90)에 의해 더 쉽게 판독할 수 있다. 제 79도에서, 카드(28C)가 휠(94) 아래로 통과할 때, 휠은 카드(28C)를 경사진 방향으로 슬롯을 밀어 넣는다. 휠(94)은 카드 상부 상에 놓고 카드(28D)를 점선에 도시된 위치(28E)에 밀어넣은 다음 카드(28D) 사이에 동일한 작동을 허용한다. 카세트(26)의 인접한 벽(70) 사이의 벽(70) 높이 및 거리는 카드(28)에 대하여 충분한 진동 운동을 허용하도록 선택되고 카세트(26)에서의 카드(28) 위치가 너무 많이 움직이지 않도록 만들어진다.
바 코드 판독기(90) 스테이션은 로딩 스테이션 및 희석 스테이션(200) 사이의 장치의 정면 측면을 따라서 배치된다. 이러한 위치에서, 판독 스테이션은 샘플을 갖는 카드를 채우기 전에 테스트의 타당성을 체크할 수 있다. 이것은 테스트 샘플이 작동기 또는 장치 에러의 경우에 보호되게 한다.
그래서, 샘플 테스팅 장치(20)에 의해 처리된 카드(28)에 대한 식별 시스템은 시스템에 인가된 장치-판독 표시기(예를들면 바코드(89))를 갖는 카드(28)를 구비하고, 장치(20)에 놓여진 장치-판독가능 표시기(89)에 대한 판독기, 카세트(26)가 장치 판독가능 표시기(89)를 즉시 판독하도록 판독기(90)를 돕는 카드 분리 장치(94)를 갖는 카드 분리 장치(94)에 상대적으로 이동될 때 서로로부터 카세트를 분리하기 위한 장치(20)의 카드 분리 장치(94)를 포함한다.
카드 분리 장치(94)는 카세트에 적재된 카드 및 카세트(26)가 기계의 장치(94)에 상대적으로 내부에 배치되고 이동될 때 카드(28)의 상부 부분의 입면도에 배치된 몸체를 포함한다. 카드 분리 장치(94)는 카드 분리 장치 및 카세트 /카드 결합이 서로에 대해 상대적으로 이동할 때 카세트(26)의 카드 슬롯의 경사진 위치에 상기 카드를 밀어 넣고 경사진 위치는 카드 판독기(90)에 의해 카드(28)의 원격 판독을 편리하게 한다.
카드 분리 휠(94)은 카세트(28)가 휠(94)을 빠르게 전진할 때 카드(28)가 휠 아래에 통과하도록 돕기 위하여 카드(28)에 대해 수직 방향으로 휠(94)이 위 아래로 이동하게 하는 장치에 지지된다.
더욱이 샘플 테스팅 장치(20)에 대한 식별 시스템은 장치(20)의 카드를 운반하는 상기 카세트(26)에 인가된 판독가능 메모리 저장 장치(예를들면 터치 버튼), 판독가능 메모리(예를들면 터치 버튼)로 카드 샘플 카드에 관한 정보를 저장하는 카세트(26)로 적재된 다수의 테스트 샘플 카드에 대하여 판독가능 표시기(89)를 판독하는 정보 로딩 스테이션(80) 및 판독가능 메모리 저장 장치에 저장된 정보를 검색하는 샘플 테스팅 장치에서 정보 검색 스테이션(85)을 포함한다.
사용자 인터페이스
장치(20)에 대한 선행 설명 및 기술이 장치(20)의 구조 및 작동의 더 상세히 설명하는 한편, 장치 그 자체가 미적이고 안전한 목적으로 편리하고 매력적인 커버링을 제공한다는 것을 이해할 것이다. 장치의 호스트(CPU)에 접속된 사용자 인터페이스는 바람직하게 정면 패널을 포함하고, 작동기에 장치 상태 정보를 제공하는 LCD(액정 디스플레이) 스크린 및 터치 패드를 포함한다. 그것은 시작 테스트, 요구 정보 및 수행 장치 진단과 같은 일에 사용된다.
본 발명의 바람직한 실시예가 기술되었다. 당업자는 다양성 및 변형은 본 발명의 정신 및 범위에 벗어남이 없이 더 상세히 만들어질 수 있다는 것을 이해할 것이다. 이것은 본 발명의 정신 및 범위는 첨부된 청구 범위에 한정되고, 선행 권리에 침해되지 않는다.
본 자동화된 샘플 테스팅 장치는 감지 테스팅을 위하여 희석하고, 진공 스테이션에서 상기 카드에 샘플을 채우고, 전송 튜브를 절단함으로서 상기 카드를 밀봉하고, 상기 카드의 인큐베이션 및 광학 투과 및 형광 분석을 모두 자동적으로 유도하는 장치를 제공한다. 상기 장치는 하나의 테스트 작동에서 단일 테스트 튜브에 놓여진 샘플의 감지 및 식별 테스팅을 한다. 상기 장치는 샘플의 식별 및 감지 테스팅을 빠르고, 자동적인 수행을 제공한다.

Claims (78)

  1. 샘플 및 테스트 샘플 카드를 수용하기 위하여 자체 장치 내에 가동 트레이 및 적재 스테이션을 갖고, 상기 샘플이 상기 트레이 내에서 상기 테스트 카드와 유체 연통하도록 배치되고, 시약이 충전된 테스트 카드로 인도된 샘플을 자동적으로 테스팅하기 위한 자동 샘플 테스팅 장치에 있어서,
    상기 샘플을 상기 카드에 적재하기 위한 진공 스테이션,
    상기 카드를 배양하기 위한 배양 스테이션,
    상기 카드를 판독하기 위한 광학 판독 스테이션,
    상기 적재 스테이션으로부터 상기 진공 스테이션까지, 상기 진공 스테이션으로부터 상기 배양 스테이션까지 상기 카드를 이동시키고, 상기 트레이로부터 상기 배양 스테이션까지 상기 테스트 샘플 카드를 이동하기 위한 테스트 샘플 위치 설정 시스템, 및
    상기 배양 스테이션으로부터 상기 광학 판독 스테이션까지 상기 테스트 카드를 이송하기 위한 테스트 카드 이송 스테이션을 포함하고, 상기 광학 판독 스테이션은 상기 카드에 적재된 상기 샘플을 광학 분석하는 것을 특징으로 하는 자동 샘플 테스팅 장치.
  2. 제 1 항에 있어서, 상기 샘플이 상기 트레이의 개방 저장부에 의해 운반되고, 상기 장치가 소정량의 유체를 상기 저장부에 공급하는 유체 부가 스테이션을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 자동 샘플 테스팅 장치.
  3. 제 2 항에 있어서, 상기 유체 부가 스테이션이 희석액을 상기 저장부에 부가하는 것을 특징으로 하는 자동 샘플 테스팅 장치.
  4. 제 2 항에 있어서, 상기 유체 부가 스테이션이 시약을 상기 저장부에 부가하는 것을 특징으로 하는 자동 샘플 테스팅 장치.
  5. 제 1 항에 있어서, 상기 트레이가 다수의 개방 저장부에 공급된 다수의 샘플을 운반하고, 상기 장치가 상기 트레이에서의 한 저장부에서 다른 저장부로 유체를 자동적으로 이송하기 위한 피펫팅 스테이션을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 자동 샘플 테스팅 장치.
  6. 제 5 항에 있어서, 상기 피펫팅 스테이션이 처리 스트로우로 상기 유체를 이송하며, 상기 피펫팅 스테이션이 상기 스트로우를 저장하기 위한 호퍼 및 상기 호퍼로부터 한 번에 한 개씩 상기 스트로우를 자동적으로 제거하기 위한 수단을 갖는 것을 특징으로 하는 자동 샘플 테스팅 장치.
  7. 제 5 항에 있어서, 상기 장치가 상기 샘플을 수납하는 상기 저장부 중 적어도 하나에 소정량의 희석액을 부가하는 희석 스테이션을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 자동 샘플 테스팅 장치.
  8. 제 1 항에 있어서, 상기 진공 스테이션이 상부 및 하부 위치 사이에서 상기 트레이에 대하여 이동 가능한 진공 챔버를 포함하고, 상기 진공 챔버는 상기 하부 위치에서 상기 트레이와 밀봉 결합하도록 상기 트레이와 함께 동작하고, 상기 진공 스테이션은 상기 샘플을 상기 카드에 적재하도록 상기 챔버에 진공을 공급하고 상기 진공을 대기로 방출하는 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 자동 샘플 테스팅 장치.
  9. 감지 카드 및 식별 카드로 구성되고 다수의 샘플 웰을 갖는 테스트 샘플 카드와 함께 사용되고, 개방 저장부에 수납되는 미생물 샘플을 포함하는 유체를 테스팅하기 위한 자동 미생물 테스팅 시스템에 있어서,
    베이스 팬,
    상기 베이스 팬을 가로질러 상기 저장부 및 상기 카드를 운반하기 위한 트레이,
    상기 저장부 중 적어도 하나에 소정량의 유체를 부가하기 위한 희석 스테이션,
    상기 트레이 상의 한 저장부로부터 다른 저장부로 테스트 샘플을 이송하기 위한 피펫팅 스테이션,
    상기 트레이에 대해 이동 가능하고, 상기 저장부 및 상기 카드 주위에 진공 밀봉체를 형성하도록 상기 트레이와 함께 동작하고, 상기 유체 샘플을 상기 카드의 상기 웰에 적재하기 위한 진공 소스를 포함하는 진공 스테이션,
    상기 카드를 배양하기 위한 배양 스테이션,
    상기 카드의 상기 웰의 광학 분석을 하기 위한 판독 스테이션,
    상기 진공 스테이션으로부터 상기 배양 스테이션까지 상기 베이스 팬 위로 상기 트레이를 이동시키고 상기 트레이로부터의 상기 카드를 상기 배양 스테이션에 적재하기 위한 위치 설정 시스템, 및
    상기 배양 스테이션으로부터 상기 판독 스테이션까지 상기 카드를 이동하기 위한 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 자동 미생물 테스팅 시스템.
  10. 제 9 항에 있어서, 상기 희석 스테이션은 상기 트레이 내의 감지 카드와 유체 연통하는 제 1 저장부에 희석액을 부가하며,
    상기 피펫팅 스테이션은 식별 카드와 유체 연통하는 상기 트레이 내의 제 2 저장부로부터 미생물 샘플을 포함하는 유체를 추출하며,
    상기 피펫팅 스테이션은 상기 미생물 샘플을 포함하는 상기 유체를 상기 제 1 저장부로 전달하며,
    상기 진공 스테이션은 상기 제 1 및 제 2 저장부 내의 상기 유체를 상기 식별 카드 및 상기 감지 카드에 적재하도록 작동하며, 그리고
    상기 미생물 샘플로부터 식별 및 감지 분석을 자동적으로 얻기 위하여 상기 광학 판독 스테이션이 상기 식별 및 감지 카드를 판독하도록 작동하는 것을 특징으로 하는 자동 미생물 테스팅 시스템.
  11. 제 9 항에 있어서, 상기 광학 스테이션에 의한 상기 카드의 판독 후 상기 카드를 수용하는 상기 장치로부터 제거 가능한 트레이 및 상기 저장부에 적층된 상태로 상기 카드를 유지하기 위한 수단을 갖춘 적층 처리 스테이션을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 자동 미생물 테스팅 시스템.
  12. 제 1 항에 있어서, 상기 카드의 적재 후에 상기 카드를 밀봉하기 위한 밀봉 스테이션을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 자동 샘플 테스팅 장치.
  13. 샘플 테스팅 장치에 적재되는 테스트 샘플 카드용 카세트에 의해 운반되는 다수의 테스트 샘플 카드를 테스팅하기 위한 샘플 테스팅 장치용 식별 시스템에 있어서,
    상기 각 테스트 샘플 카드를 식별하는 기계-판독가능 표시기,
    상기 카세트에 부착된 기계-판독가능 메모리 저장 장치,
    상기 다수의 테스트 샘플 카드에 대한 기계-판독가능 표시기를 판독하고 상기 판독가능 메모리 저장 장치에 상기 테스트 샘플 카드의 정보를 저장하기 위한 정보 적재 스테이션, 및
    상기 기계-판독가능 메모리 저장 장치에 저장된 정보를 검색하기 위한 상기 샘플 테스팅 장치 내의 정보 검색 스테이션을 포함하는 것을 특징으로 하는 식별 시스템.
  14. 제 13 항에 있어서, 상기 정보 적재 스테이션이 메모리, 상기 시스템의 사용자로부터의 테스팅 정보 입력을 상기 메모리로 이송하기 위한 사용자 인터페이스, 상기 기계-판독가능 표시기용 판독기, 상기 샘플 테스팅 카드에 제공된 상기 판독가능 표시기와 상기 사용자로부터의 테스팅 정보를 상기 메모리에서 연관시키기 위하여 상기 사용자 인터페이스에 응답하는 소프트웨어 프로그램을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 식별 시스템.
  15. 제 13 항에 있어서, 상기 기계-판독가능 메모리 저장 장치가 적어도 하나의 터치 메모리 버튼을 포함하는 것을 특징으로 하는 식별 시스템.
  16. 제 13 항에 있어서, 상기 테스트 샘플 카드가 상기 샘플 테스팅 장치 내에서 이동할 때 상기 기계-판독가능 표시기를 판독하기 위하여 상기 장치에 배치되는 상기 기계-판독가능 표시기를 위한 판독기를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 식별 시스템.
  17. 샘플 테스팅 장치에 의해 처리되며 기계-판독가능 표시기를 갖춘 카드를 위한 식별 시스템에 있어서,
    상기 다수의 카드를 포함하는 카세트 수단,
    상기 테스팅 장치 내에 놓여진 상기 기계-판독가능 표시기를 위한 판독기, 및
    상기 카세트 수단이 카드 분리 장치에 대하여 이동할 때 상기 카드를 서로로부터 분리하기 위한 상기 장치 내의 카드 분리 장치를 포함하며,
    상기 카드 분리 장치는 상기 카드에 제공된 상기 기계-판독가능 표시기를 원격 판독하기 위하여 상기 판독기를 돕는 것을 특징으로 하는 식별 시스템.
  18. 제 17 항에 있어서, 상기 카세트 수단은 벽 부분에 의해 서로 분리된 다수의 카드 슬롯을 포함하고, 상기 카드는 상부를 가지며 상기 카세트 수단 내의 상기 카드 슬롯에 놓이고,
    상기 카드 분리 장치는 상기 카드의 상부의 높이에 위치된 몸체를 포함하고, 상기 분리 장치는 상기 분리 장치가 상기 카드에 대하여 이동될 때 상기 카드를 상기 카드 슬롯 내의 경사진 위치로 밀어 넣고, 상기 경사진 부분은 상기 카드 판독기에 의해 상기 카드의 원격 판독을 용이하게 하는 것을 특징으로 하는 식별 시스템.
  19. 테스트 샘플 카드에 유체 샘플을 적재하기 위한 방법에 있어서,
    상기 테스트 샘플 카드를 상기 유체 샘플과 유체 연통되게 놓는 단계,
    진공 챔버 내에 상기 테스트 샘플 카드 및 유체 샘플을 놓는 단계,
    공기가 상기 카드로부터 제거될 때 상기 유체 샘플에 기포를 형성시키지 않는 일정한 소정의 비율로 상기 진공 챔버의 압력을 설정점 진공 레벨까지 낮추는 단계,
    소정의 시간 동안 상기 설정점 레벨에서 상기 진공을 유지하는 단계, 및
    상기 진공을 소정의 비율로 해제하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 방법.
  20. 제 19 항에 있어서, 진공을 낮추고, 유지하고, 그리고 해제하는 상기 단계들이 자동 샘플 테스팅 장치의 진공 스테이션에서 수행되며,
    상기 장치는 적재 스테이션으로부터 상기 진공 스테이션까지 상기 장치 내에서 이동 가능한 샘플 트레이를 갖춘 것을 특징으로 하는 방법.
  21. 제 20 항에 있어서, 상기 장치가 상기 진공 스테이션과 연통하는 진공 제어 밸브를 더 포함하고, 상기 진공 챔버 내의 압력을 강하시키는 상기 비율이 상기 소정의 비율로 발생하도록 상기 제어 밸브가 작동되는 것을 특징으로 하는 방법.
  22. 개방 저장부에 저장된 유체 테스트 샘플과 유체 연통하도록 배치된 테스트 샘플 카드를 위한 적재 스테이션, 배양 스테이션, 판독 스테이션 및 진공 적재 스테이션을 갖춘 샘플 테스팅 장치에 있어서,
    진공 소스와 연통하며, 하부 주위 밀봉면을 갖는 진공 챔버,
    상기 카드 및 상기 유체 테스트 샘플을 수용하며 상기 하부 주위 밀봉면과 밀봉 결합하는 주위 표면을 갖는 트레이,
    상기 적재 스테이션에서 상기 진공 챔버까지 상기 트레이를 이동시키기 위한 위치 설정 장치, 및
    상기 트레이를 상기 챔버 아래로 이동시키고 상기 진공 챔버로부터 상기 배양 스테이션까지 이동시키기 위하여 상기 진공 챔버를 상승 및 하강시키는 수단을 포함하고,
    상기 하부 위치에서 상기 챔버가 상기 주위 표면 트레이와 결합하여, 상기 챔버 내에 진공을 발생시키는 것을 특징으로 하는 샘플 테스팅 장치.
  23. 미생물 샘플 처리 장치에 있어서,
    다수의 저장부를 운반하는 트레이,
    유체 소스, 소정량을 한정하며 상기 유체를 상기 트레이에 의해 운반되는 상기 저장부 중 적어도 하나로 분배하기 위하여 충전동안 제 1위치에서 제 2위치로 회전하는 회전 가능한 쇼트 튜브, 및 상기 소스로부터 상기 쇼트 튜브로 상기 유체를 운반하는 도관을 포함하는 희석 스테이션, 및
    스트로우 소스 및 상기 스트로우 소스로부터 스트로우 중 하나를 제거하고 상기 스트로우를 상기 저장부 중 하나에 삽입하고 상기 저장부로부터 유체를 추출하기 위한 수단을 포함하는 피펫팅 스테이션을 포함하며,
    상기 희석 및 피펫팅 스테이션은 상기 트레이 내의 적어도 하나의 상기 저장부에 상기 희석액이 수용되는 것을 허용하고 상기 트레이가 상기 희석 스테이션 및 피펫팅 스테이션을 통과할 때 상기 트레이 내의 상기 저장부 중 하나로부터 상기 트레이 내의 다른 하나로 유체의 이송을 허용하는 것을 특징으로 하는 미생물 샘플 처리 장치.
  24. 제 23 항에 있어서, 희석 및 피펫팅 작업이 상기 트레이의 다수의 저장부에서 동시에 수행되도록 상기 피펫팅 및 희석 스테이션을 서로 밀접하게 배치하는 것을 특징으로 하는 미생물 샘플 처리 장치.
  25. 자동 샘플 테스트 장치에 대하여 수평으로 다수의 테스트 샘플 카드를 수용하는 트레이를 이동시키기 위한 위치 설정 시스템을 갖춘 자동 생물 샘플 테스팅 장치 내에 설치되며, 유체 샘플을 테스트 샘플 카드로 이동시키기 위한 이송 튜브를 각각 갖춘 테스트 샘플 카드를 밀봉하기 위한 절단 및 밀봉 스테이션에 있어서,
    열간 절단 와이어를 포함하며,
    상기 열간 절단 와이어는 상기 위치 설정 시스템이 상기 테스트 샘플 카드와 함께 상기 열간 절단 와이어를 통과하는 상기 트레이를 이동시키도록 작동할 때 상기 이송 튜브를 절단하고 상기 테스트 샘플 카드를 밀봉하기 위하여 상기 테스트 샘플 위치 설정 시스템과 함께 동작하는 것을 특징으로 하는 절단 및 밀봉 스테이션.
  26. 제 25 항에 있어서, 상기 스테이션은 후퇴한 위치로부터 절단 위치까지 상기 트레이에 대하여 상기 열간 절단 와이어를 이동시키기 위한 구동 수단을 더 포함하고,
    상기 구동 수단 및 열간 절단 와이어는 상기 구동 수단이 상기 열간 절단 와이어를 상기 절단 위치로 이동하고 상기 테스트 샘플 위치 설정 시스템이 상기 테스트 샘플 카드를 갖는 상기 트레이를 상기 열간 절단 와이어에 통과하도록 작동할 때 상기 이송 튜브를 절단하고 상기 테스트 샘플 카드를 밀봉하기 위하여 상기 테스트 샘플 위치 설정 시스템과 함께 동작하는 것을 특징으로 하는 절단 및 밀봉 스테이션.
  27. 제 25 항 또는 제 26 항에 있어서, 상기 열간 절단 와이어의 온도가 일정한 전류 소스에 의해 제어되는 것을 특징으로 하는 절단 및 밀봉 스테이션.
  28. 자동 샘플 테스팅 장치에서 제 1 개방 저장부에 놓여진 생물 병인을 포함하는 유체 샘플 내의 생물 병인을 식별 및 감지 테스팅하기 위한 방법에 있어서,
    a) 상기 유체 샘플이 샘플 홀더에 의해 수용되는 식별 테스트 샘플 카드와 유체 연통하도록 상기 샘플 홀더 내에 상기 제 1 개방 저장부를 배치하는 단계,
    b) 제 2 개방 저장부가 상기 샘플 홀더에 의해 수용되는 감지 테스트 샘플 카드와 유체 연통하도록 상기 샘플 홀더 내에 상기 제 2 개방 저장부를 배치하는 단계,
    c) 상기 제 1 및 제 2 개방 저장부와 식별 및 감지 테스트 샘플 카드를 갖는 상기 샘플 홀더를 상기 자동 샘플 테스팅 장치에 배치하는 단계,
    d) 상기 제 2 개방 저장부에 소정량의 희석액을 부가하는 단계,
    e) 상기 제 1 개방 저장부에서 상기 제 2 개방 저장부로 상기 유체 샘플의 일부분을 이송하는 단계,
    f) 상기 식별 및 감지 카드에 상기 제 1 및 제 2 개방 저장부로부터의 유체를 각각 적재하는 단계, 및
    g) 상기 식별 및 감지 카드의 광학 분석을 실행하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 방법.
  29. 제 28 항에 있어서, 상기 테스트 샘플 카드가 상기 테스트 샘플 카드로부터 외부로 연장된 이송 튜브를 통하여 상기 저장부와 유체 연통하고, 그리고
    상기 테스트 샘플 카드를 밀봉하도록 상기 샘플 적재 단계 후에 상기 이송 튜브를 절단하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 방법.
  30. 제 28 항에 있어서, 상기 적재 단계 후 및 상기 광학 분석 단계 전에 상기 식별 카드를 배양하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 방법.
  31. 테스트 샘플 위치 설정 시스템에 있어서,
    제 1, 제 2, 제 3 및 제 4 측면 영역과 상기 제 1, 제 2, 제 3 및 제 4 측면 영역에 각각 배치되는 제 1, 제 2, 제 3 및 제 4 트랙 부분을 갖춘 베이스 팬,
    상기 베이스 팬 상에 배치되어 상기 베이스 팬 주위를 움직이는 적어도 하나의 테스트 샘플을 수용하며, 베이스 부재 및 상기 베이스 부재로부터 돌출한 다수의 다리를 갖춘 샘플 홀더, 및
    상기 샘플 홀더의 다리가 상기 트랙 부분에서 이동하도록 상기 베이스 팬의 제 1, 제 2, 제 3 및 제 4 측면을 따라서 상기 샘플 홀더를 이동시키기 위한 구동 시스템을 포함하고,
    상기 구동 시스템이 상기 베이스 팬 주위로 상기 샘플 홀더를 이동시킬 때 상기 베이스 팬에 대한 상기 샘플 홀더의 배열이 유지되는 것을 특징으로 하는 테스트 샘플 위치 설정 시스템.
  32. 제 31 항에 있어서, 상기 구동 수단이,
    상기 베이스 팬의 제 1 방향을 따라서 상기 샘플 홀더를 이동시키기 위한 상기 샘플 홀더와 결합 가능한 제 1 구동 수단,
    상기 베이스 팬의 제 2 방향을 따라서 상기 샘플 홀더를 이동시키기 위한 상기 샘플 홀더와 결합 가능한 제 2 구동 수단,
    상기 베이스 팬의 제 3 방향을 따라서 상기 샘플 홀더를 이동시키기 위한 상기 샘플 홀더와 결합 가능한 제 3 구동 수단, 및
    상기 베이스 팬의 제 4 방향을 따라서 상기 샘플 홀더를 이동시키기 위한 상기 샘플 홀더와 결합 가능한 제 4 구동 수단을 포함하며,
    상기 제 1, 제 2, 제 3 및 제 4 구동 수단은 상기 제 1, 제 2, 제 3, 제 4측면 영역을 따라서 상기 베이스 팬을 중심으로 연속적으로 상기 샘플 홀더를 이동시키기 위하여 독립적으로 작동할 수 있는 것을 특징으로 하는 테스트 샘플 위치 설정 시스템.
  33. 제 32 항에 있어서, 상기 제 1, 제 2, 제 3 및 제 4 구동 수단 중 적어도 하나가,
    샤프트,
    상기 샤프트에 이동 가능하게 장착되고 상기 샘플 홀더와 결합하는 패들, 및
    상기 샤프트에 대하여 상기 패들을 이동시키기 위한 모터 조립체를 포함하며,
    상기 패들은 상기 모터 조립체가 상기 패들을 상기 샤프트에 대하여 이동시킬 때 상기 베이스 팬을 가로질러 상기 샘플 홀더를 이동시키며,
    상기 샘플 홀더에 대한 결합 위치와 상기 샘플 홀더에 대한 분리 위치 사이에서 상기 패들이 회전하도록 상기 샤프트가 상기 베이스 팬에 대하여 회전 가능하며, 이에 의하여 상기 패들이 상기 샘플 홀더와 선택적으로 결합할 수 있는 것을 특징으로 하는 테스트 샘플 위치 설정 시스템.
  34. 샘플 테스팅 장치에 사용하기 위한 샘플 홀더 시스템에 있어서,
    상부 표면을 갖춘 상기 샘플 테스팅 장치 내에서 이동 가능한 샘플 트레이, 및
    다수의 테스트 샘플 카드를 수용하기 위한 다수의 슬롯과 상기 테스트 샘플 카드와 결합된 다수의 테스트 튜브를 수용하기 위한 수단을 갖춘 카세트를 포함하며,
    상기 카세트는 상기 샘플 테스팅 장치 내의 샘플 트레이에 의해 수용되고 상기 샘플 트레이와 상기 샘플 테스팅 장치로부터 제거 가능하여, 상기 샘플 테스팅 장치 외부에서 상기 테스트 샘플 카드 및 상기 테스트 튜브가 상기 카세트에 적재되는 것을 특징으로 하는 샘플 홀더 시스템.
  35. 제 34 항에 있어서, 상기 샘플 테스팅 장치가 상부 및 하부 위치 사이에서 이동 가능한 진공 챔버 하우징을 갖춘 진공 스테이션을 포함하고,
    상기 샘플 트레이의 상기 상부 표면은 상기 진공 챔버 하우징이 상기 하부 위치로 이동될 때 상기 샘플 홀더와 밀봉 결합하는 상기 진공 챔버 하우징을 지지하기 위한 상기 샘플 트레이의 주위 둘레로 연장된 평평한 수평 표면을 포함하는 것을 특징으로 하는 샘플 홀더 시스템.
  36. 저장부 내에 제어된 양의 유체를 분배하기 위한 분배 시스템에 있어서,
    유체 소스,
    팁 부분, 중공 몸체, 및 유체 포트를 포함하는 쇼트 튜브,
    상기 소스로부터 상기 쇼트 튜브의 유체 포트로 상기 유체를 전달하기 위한 도관,
    상기 팁 부분이 상기 쇼트 튜브의 충전 동안에 상기 중공 몸체에 대하여 수평 위쪽으로 경사지는 제 1 위치로부터 상기 팁 부분이 상기 유체의 분배 동안에 상기 저장부에 대해 아래쪽으로 향하는 제 2 위치로 상기 쇼트 튜브를 회전시키기 위한 수단, 및
    상기 쇼트 튜브의 중공 몸체로 흐르는 상기 유체의 흐름을 제어하는 밸브를 포함하고 있으며,
    상기 쇼트 튜브 내의 공기는 상기 쇼트 튜브가 상기 유체로 충전되는 동안에 상기 쇼트 튜브로부터 제거될 수 있는 것을 특징으로 하는 분배 시스템.
  37. 제 36 항에 있어서, 상기 쇼트 튜브가 배출 포트를 더 포함하고, 상기 분배 시스템은 상기 쇼트 튜브가 상기 제 2 위치로 회전할 때 상기 쇼트 튜브에 압축된 공기 스트림을 공급하기 위한 수단을 더 포함함으로써, 상기 쇼트 튜브로부터 상기 저장부로 상기 유체를 더 강하게 배출시키는 것을 특징으로 하는 분배 시스템.
  38. 제 37 항에 있어서, 상기 밸브는 상기 쇼트 튜브 내에 놓여진 딤블 밸브 및 상기 딤블 밸브의 개폐 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 분배 시스템.
  39. 제 38 항에 있어서, 상기 딤블 밸브는 상기 쇼트 튜브의 상기 몸체에 인접하여 배치되고 중앙 챔버를 형성하는 환형 부분 및 벽 부분을 포함하고, 상기 밸브 개폐 수단은 상기 챔버 내에 배치되는 밸브 플런저 및 연장 위치와 후퇴 위치 사이에 상기 밸브 플런저를 놓기 위한 수단을 포함하고, 상기 밸브 플런저는 상기 연장 위치에 배치될 때 상기 쇼트 튜브 내의 상기 벽 부분과 접촉 및 연장함으로써, 상기 유체가 상기 쇼트 튜브로 유입되도록 상기 쇼트 튜브의 상기 몸체로부터 상기 환형 부분이 떨어지게 하는 것을 특징으로 하는 분배 시스템.
  40. 제 36 항에 있어서, 상기 쇼트 튜브가 상기 제 1 위치에 있을 때 상기 쇼트 튜브의 상기 팁 부분이 상기 광학 센서에 인접하게 배치되도록, 상기 쇼트 튜브에 인접하게 장착되는 광학 센서를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 분배 시스템.
  41. 제어된 양의 유체를 수용하기 위한 쇼트 튜브에 있어서,
    소정량을 갖는 내부 영역을 형성하고 제 1 단부 및 중공 팁 부분을 형성하는 제 2 단부를 갖춘 기다란 중공 몸체,
    유체 소스로부터 상기 내부 영역으로 유체를 전달하기 위한 유체 포트, 및
    상기 제 1 단부에 인접한 상기 내부 영역 내에 배치되고 상기 내부 영역으로의 유체의 유입을 제어하도록 상기 유체 포트와 함께 동작하는 딤블 밸브를 포함하는 것을 특징으로 하는 쇼트 튜브.
  42. 제 41 항에 있어서, 상기 딤블 밸브가 중앙 챔버를 형성하는 환형 부분 및 벽 부분을 갖춘 가요성 몸체를 포함하고, 상기 환형 부분은 상기 쇼트 튜브의 상기 제 1 단부에 인접한 상기 쇼트 튜브의 상기 내부 부분과 밀봉 결합하는 적어도 하나의 환형 립을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 쇼트 튜브.
  43. 교환 및 처리 가능한 유체 전달 유니트에 있어서,
    유체로 충전되는 저장부,
    소정량의 상기 유체를 수용하고 유체 유입 포트를 포함하는 쇼트 튜브,
    상기 저장부를 상기 쇼트 튜브와 연결하는 도관, 및
    상기 포트를 통하여 상기 유체의 흐름을 제어하는 상기 쇼트 튜브 내에 배치된 딤블 밸브를 포함하는 것을 특징으로 하는 유체 전달 유니트.
  44. 제 43 항에 있어서, 상기 쇼트 튜브가 상부에 인접한 충전 영역 및 팁 부분을 포함하고, 상기 충전 영역은 소량의 유체가 상기 딤블 밸브의 폐쇄 시간 동안에 상기 충전 영역에 부가되도록 감소된 양의 유체를 제공하기 위하여 상기 기다란 중공 몸체의 테이퍼링부를 포함하는 것을 특징으로 하는 유체 전달 유니트.
  45. 저장부로부터 유체를 제거하기 위한 시스템에 있어서,
    다수의 중공 스트로우를 포함하고 스트로우 추출 개구부를 형성하는 하우징,
    팁 부분을 갖는 테이퍼링된 관형 이송 핀,
    상기 이송 핀에 접속된 진공 소스, 및
    상기 이송 핀용 구동 메커니즘을 포함하며,
    상기 구동 메커니즘은,
    상기 이송 핀이 상기 스트로우 추출 개구부로부터 진퇴하도록 제 1 축을 따라 상기 이송 핀을 이동시키는 수단을 포함하는데, 상기 팁 부분은 상기 이송 핀이 상기 스트로우 추출 개구부를 향하여 이동할 때 상기 스트로우 추출 개구부에 배치된 스트로우와 결합하고,
    조립된 상태의 상기 이송 핀 및 스트로우를 상기 저장부 상의 수직 방향으로 회전시키는 수단, 및
    상기 스트로우가 상기 저장부의 상기 유체와 접촉하게 놓여지도록 상기 이송 핀 및 스트로우를 하강시키고 진공이 상기 이송 핀에 인가될 때 상기 저장부로부터 유체를 추출하도록 상기 이송 핀을 상승시키는 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 유체 제거 시스템.
  46. 제 45 항에 있어서, 상기 하우징은 상기 다수의 스트로우를 수용할 수 있으며 스트로우 추출 슬롯을 형성하는 개구부를 갖춘 원통형 하우징을 포함하며, 상기 유체 제거 시스템이,
    상기 원통형 하우징 내의 스트로우를 상기 스트로우 추출 슬롯으로 쓸어 내리기 위한 다수의 핑거를 갖추고 있으며 상기 원통형 하우징 내에 배치되는 동심의 회전식 드럼, 및
    상기 슬롯에 인접하여 배치되고 상기 스트로우가 상기 원통형 하우징으로부터 추출되는 것을 가능하게 하는 제 1 위치로부터 상기 스트로우가 상기 스트로우 추출 슬롯으로부터 추출되는 것을 방지하는 제 2 위치까지 이동 가능한 수평 슬라이드를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 유체 제거 시스템.
  47. 제 45 항에 있어서, 상기 유체 제거 시스템이 핀 개구부를 갖는 테이퍼링된 핀 하우징을 더 포함하고,
    상기 테이퍼링된 핀은 연장 및 후퇴 위치로부터 상기 테이퍼링된 핀 하우징 및 핀 개구부에 대하여 이동가능하고,
    상기 핀 하우징은 상기 핀 하우징 내의 상기 핀이 후퇴할 때 상기 스트로우가 상기 테이퍼링된 핀으로부터 분리되도록 상기 스트로우의 직경보다 작은 직경을 갖는 것을 특징으로 하는 유체 제거 시스템.
  48. 스트로우 분배 장치에 있어서,
    다수의 스트로우를 수용할 수 있으며 스트로우 추출 슬롯을 형성하는 개구부를 갖춘 원통형 하우징,
    상기 원통형 하우징 내의 스트로우를 상기 스트로우 추출 슬롯으로 쓸어 내리기 위한 다수의 내부 설치 부재를 갖추고 있으며 상기 원통형 하우징 내에 배치되는 동심의 회전식 드럼, 및
    상기 슬롯에 인접하여 배치되고 상기 스트로우가 상기 원통형 하우징으로부터 추출되는 것을 가능하게 하는 제 1 위치로부터 상기 스트로우가 상기 스트로우 추출 슬롯으로부터 추출되는 것을 방지하는 제 2 위치까지 이동 가능한 슬라이드를 포함하는 것을 특징으로 하는 스트로우 분배 장치.
  49. 제 48 항에 있어서, 상기 하우징이 개방 단부 및 폐쇄 단부를 형성하며, 상기 장치가 상기 하우징 내에 상기 스트로우를 유지하고 상기 하우징 내의 스트로우의 수량을 시각적으로 검사하기 위한 상기 개방 단부를 덮는 투명 덮개를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 스트로우 분배 장치.
  50. 스트로우를 자동 분배하는 방법에 있어서,
    내부 표면 및 스트로우 추출 슬롯을 갖춘 원통형 하우징에 상기 스트로우를 배치하는 단계,
    상기 스트로우를 상기 스트로우 추출 슬롯으로 쓸어 내리는 단계,
    스트로우가 상기 원통형 하우징으로부터 제거되지 않는 시간 동안에 상기 스트로우 추출 슬롯의 정면에 장애물을 배치하는 단계, 및
    스트로우가 상기 원통형 하우징으로부터 제거되는 시간 동안에 상기 스트로우 제거 슬롯의 정면으로부터 상기 장애물을 제거하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 방법.
  51. 제 50 항에 있어서, 상기 원통형 하우징이 수평으로 배치되며, 상기 스트로우 추출 슬롯이 상기 원통형 하우징의 바닥 영역에 배치되는 것을 특징으로 하는 방법.
  52. 제 50 항에 있어서, 상기 장애물을 배치하고 제거하는 단계는 상기 슬라이드의 일부분으로 상기 스트로우 추출 슬롯을 차단 및 개방하기 위하여 상기 스트로우 추출 슬롯에 인접하게 회수 가능한 슬라이드를 배치하고 상기 하우징에 대하여 상기 슬라이드를 이동하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 방법.
  53. 다수의 샘플 웰과 제 1 및 제 2 에지를 갖춘 테스트 샘플 카드를 상기 샘플 웰을 판독하기 위한 광학 시스템에 대하여 이동시키기 위한 이송 시스템에 있어서,
    카드 이동 방향을 형성하고 상기 카드의 제 1 에지를 수용하는 카드 슬롯을 형성하는 동시에 상기 광학 시스템에 대하여 상기 카드를 정렬 유지시키기 위한 레지 수단, 및
    상기 카드용 구동 조립체를 포함하며,
    상기 구동 조립체는,
    a) 상기 카드 이동 방향에 평행한 방향으로 상기 레지 수단에 대하여 이동 가능하고, 상기 광학 시스템에 대하여 상기 카드를 이동시키도록 상기 카드의 제 2 에지와 결합하며, 하나 이상의 롤러에 의해 지지되는 구동 벨트,
    b) 상기 벨트를 구동하기 위한 수단, 및
    c) 상기 카드, 상기 레지 수단 및 상기 벨트간의 압력을 유지하기 위하여 상기 레지 수단 쪽으로 상기 구동 조립체를 편향시키기 위한 스프링 수단을 포함하고,
    d) 상기 구동 벨트가 상기 카드의 구동 벨트와 상기 카드의 제 2 에지 간의 미끄러짐 없이 상기 카드 이동 방향으로 상기 레지 수단에 대하여 상기 카드를 활주시킴으로써, 상기 벨트를 구동하기 위한 수단이 상기 광학 시스템에 대하여 상기 카드를 정확하게 이동시키는 것을 특징으로 하는 이송 시스템.
  54. 제 53 항에 있어서, 상기 레지 수단이 상기 카드 슬롯을 형성하며 낮은 마찰 계수를 갖는 표면을 포함하는 것을 특징으로 하는 이송 시스템.
  55. 제 53 항에 있어서, 상기 광학 시스템이 투과성 광학 시스템을 포함하고, 상기 카드 내의 상기 웰의 다양한 위치에서 다수의 투과성 측정이 가능하도록 상기 모터는 다수의 개별 단계에서 상기 카드 이동 방향으로 상기 카드를 움직이도록 작동하는 것을 특징으로 하는 이송 시스템.
  56. 제 53 항에 있어서, 상기 이송 시스템이 카드 제거 개구부를 갖춘 상기 카드를 배양하기 위한 배양 스테이션을 포함하는 장치 내에 설치되고, 그리고
    상기 모터 및 구동 벨트가 순방향 및 역방향 사이에서 작동 가능하여, 상기 카드가 제 1 방향으로 상기 카드 제거 개구부를 빠져나와 상기 광학 시스템에 관한 판독 위치로 이동하고 상기 제 1 방향과 반대인 제 2 방향으로 상기 판독 위치를 빠져나와 다시 상기 카드 제거 개구부로 이동함으로써, 상기 카드를 상기 배양 스테이션으로부터 상기 광학 시스템으로 앞뒤로 움직이게 하는 것을 특징으로 하는 이송 시스템.
  57. 제 56 항에 있어서, 상기 광학 시스템이 투과 광학 서브스테이션 및 형광 광학 서브스테이션을 더 포함하고, 상기 구동 조립체가 상기 투과 광학 서브스테이션 및 상기 형광 광학 서브스테이션 모두를 통하여 상기 카드를 이동시키는 것을 특징으로 하는 이송 시스템.
  58. 제 53 항에 있어서, 상기 레지 수단이 상기 광학 시스템에 인접하여 횡적으로 연장되고 상기 카드 슬롯을 형성하는 기다란 부재를 포함하며, 상기 구동 조립체는 상기 기다란 부재에 평행한 위치에서 횡적으로 상기 구동 벨트를 지지하는 한 세트의 롤러를 더 포함하고, 상기 롤러는 상기 카드의 상기 제 2 에지를 지지하기 위한 지지 표면을 형성하고, 상기 카드는 상기 구동 벨트가 상기 광학 시스템에 대하여 상기 카드를 이동시킬 때 상기 지지표면 및 상기 카드 슬롯을 따라서 움직이고 배치되는 것을 특징으로 하는 이송 시스템.
  59. 하나 이상의 샘플 웰을 갖춘 샘플 카드를 저장 및 배양하기 위한 배양 스테이션을 구비한 샘플 테스팅 장치에서, 상기 샘플 카드를 상기 배양 스테이션으로부터 상기 샘플 카드를 판독하기 위한 광학 스테이션까지 자동적으로 이동시키기 위한 샘플 카드 이송 시스템에 있어서,
    상기 배양 스테이션으로부터 상기 샘플 카드를 방출하기 위한 수단, 및
    상기 배양 스테이션으로부터 상기 방출 수단에 의해 방출된 카드를 수용하고, 상기 배양 스테이션으로부터 상기 샘플 웰을 판독하는 상기 광학 스테이션까지 직선 형태로 상기 카드를 이동시키기 위한 수단을 포함하는 구동 시스템을 포함하고,
    상기 구동 시스템은 상기 배양 스테이션으로부터 상기 광학 스테이션까지 상기 샘플 카드를 이동시키기 위하여 순방향으로 작동하고 상기 광학 스테이션으로부터 상기 배양 스테이션까지 역으로 상기 샘플 카드를 이동시키기 위하여 역방향으로 작동하는 모터 및 구동 벨트를 포함하는 것을 특징으로 하는 샘플 카드 이송 시스템.
  60. 제 59 항에 있어서, 상기 광학 시스템에 인접하게 배치된 카드 방출 스테이션을 더 포함하고, 상기 모터 및 구동 벨트는 상기 샘플 카드의 판독이 완료될 때 상기 광학 스테이션으로부터 상기 카드 방출 스테이션까지 상기 카드를 이송하기 위하여 순방향으로 작동 가능한 것을 특징으로 하는 샘플 카드 이송 시스템.
  61. 제 59 항에 있어서, 상기 광학 시스템이 투과 광학 시스템을 포함하고, 상기 모터 및 구동 벨트는 상기 카드의 웰의 다양한 위치에서 다수의 투과 측정이 가능하도록 상기 순방향 또는 상기 역방향으로 다수의 개별 단계에서 상기 카드를 이동시키기 위하여 작동되는 것을 특징으로 하는 샘플 카드 이송 시스템.
  62. 제 61 항에 있어서, 상기 카드가 제 1 및 제 2 에지를 형성하고, 상기 샘플 카드 이송 시스템이,
    상기 광학 시스템 상에 횡적으로 연장하며 상기 광학 시스템에 대한 상기 카드의 정렬을 유지시키는 레지 및 상기 구동 벨트를 지지하는 다수의 롤러를 더 포함하고,
    상기 레지는 상기 카드의 상기 제 1 에지를 수용하는 카드 슬롯 및 카드 이동 방향을 형성하고,
    상기 구동 벨트는 상기 카드 이동 방향에 평행한 방향으로 상기 레지에 대하여 이동 가능하고, 상기 광학 시스템에 대하여 상기 카드를 움직이도록 상기 카드의 상기 제 2 에지를 결합시키는 것을 특징으로 하는 샘플 카드 이송 시스템.
  63. 제 62 항에 있어서, 상기 제 1 및 제 2 카드 에지, 상기 레지 및 상기 벨트간의 압력을 유지하기 위하여 상기 레지 수단을 쪽으로 상기 롤러 및 상기 구동 벨트를 편향시키기 위한 스프링 수단을 더 포함하며,
    상기 구동 벨트가 상기 구동 벨트와 상기 카드의 제 2 에지 간의 미끄러짐 없이 상기 카드 이동 방향으로 상기 레지에 대하여 상기 카드를 활주시킴으로써, 상기 모터가 상기 광학 시스템에 대하여 상기 카드를 정확하게 이동시키는 것을 특징으로 하는 샘플 카드 이송 시스템.
  64. 테스트 샘플 카드를 광학 분석하기 위한 자동 샘플 테스팅 시스템에 있어서,
    형광 광학 스테이션과 투과 광학 스테이션, 및
    상기 카드를 광학 분석하기 위하여 상기 투과 스테이션 및 상기 형광 광학 스테이션 중 적어도 하나를 통하여 상기 테스트 샘플 카드를 이동시키기 위한 카드 이송 시스템을 포함하는 것을 특징으로 하는 자동 샘플 테스팅 시스템.
  65. 샘플 테스팅 장치의 배양 스테이션으로부터 판독 스테이션으로 제 1 및 제 2 에지를 갖춘 샘플 카드를 이송하기 위한 방법에 있어서,
    상기 카드의 제 1 에지를 수용하고 카드 이동 방향을 형성하는 레지의 슬롯과, 상기 슬롯에 평행하게 위치하고 상기 카드의 제 2 에지를 지지하는 구동 벨트에 의해 형성된 공간에 상기 샘플 카드를 배치하는 단계,
    상기 구동 벨트, 상기 카드 및 상기 슬롯간의 압력을 유지하기 위하여 상기 레지 쪽으로 상기 구동 벨트를 편향시키는 단계,
    상기 벨트에 대한 상기 카드의 실질적인 미끄러짐 없이 상기 슬롯을 통하여 상기 카드를 상기 광학 스테이션으로 활주시키기 위하여 상기 카드 이동 방향으로 상기 구동 벨트를 이동하여, 상기 광학 시스템에 대하여 상기 카드를 정확하게 이동시키는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 방법.
  66. 제 65 항에 있어서, 상기 카드가 하나 이상의 샘플 웰 칼럼을 포함하고, 상기 판독 시스템이 투과 광학 스테이션을 포함하며, 그리고
    상기 방법은 상기 샘플 웰 칼럼이 다수의 개별 위치에서 상기 투과 광학 스테이션을 통과하도록 다수의 개별 단계에서 상기 구동 벨트를 이동시키는 단계를 더 포함하며, 상기 투과 광학 스테이션은 상기 각 개별 단계에서 상기 샘플 웰 칼럼을 한번 이상 투과 측정하도록 작동되는 것을 특징으로 하는 방법.
  67. 제 66 항에 있어서, 상기 판독 스테이션이 형광 광학 스테이션을 포함하고, 상기 방법이,
    상기 카드를 상기 형광 광학 스테이션으로 이동시키도록 제 1 방향으로 상기 구동 벨트를 이동시키고, 상기 카드를 다시 상기 형광 광학 스테이션에서 상기 배양 스테이션으로 이동시키도록 상기 제 1 방향과 반대인 제 2 방향으로 상기 구동 벨트를 이동시키는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 방법.
  68. 여기 에너지 레벨에서 방사선을 수용하고 방출 에너지 레벨에서 방사선을 방출할 때 여기 가능한 형광단을 포함하는 웰의 한 칼럼 내에 정렬된 다수의 웰을 갖춘 테스트 샘플 카드용 형광 광학 스테이션에 있어서,
    상기 여기 에너지 레벨에서 여기 광선으로 상기 웰 칼럼에 조사하기 위한 여기 램프,
    상기 여기 램프로부터 상기 웰 칼럼으로 동시에 상기 여기 광선의 일부를 반사하고 상기 방출 에너지 레벨에서 방사선을 적어도 부분적으로 투과시키는 2색 빔 스플리터,
    상기 여기 램프로부터 상기 2색 빔 스플리터를 통과하는 여기광선을 수용하는 기준 검출기,
    상기 웰을 통과하는 여기광선을 다시 상기 웰로 반사시키기 위하여 상기 여기 램프 및 2색 빔 스플리터로부터 상기 웰에 반대로 배치되는 선택적 반사기 조립체,
    상기 2색 빔 스플리터를 통하여 상기 샘플 웰로부터 이송된 광선을 상기 방출 에너지 레벨에서 수용하는, 상기 각각의 샘플 웰을 위한 다수의 검출기, 및
    상기 여기 램프 출력에서의 변화와 상관없이 상기 웰로부터 일정한 형광 측정을 제공하기 위하여 상기 기준 검출기 및 상기 다수의 검출기의 출력을 비교하는 피크 검출기 회로를 포함하는 것을 특징으로 하는 형광 광학 스테이션.
  69. 제 68 항에 있어서, 상기 여기 광선이 광학 통로를 따라서 상기 2색 빔 스플리터로부터 상기 웰 및 반사 조립체로 통과하고, 상기 선택적 반사기 조립체는 상기 형광단의 상기 방출 에너지 레벨에서 방사선을 방출하기 위하여 기준 소스를 갖춘 광학 셔틀을 더 포함하고, 상기 광학 셔틀은 상기 다수의 검출기를 교정하기 위하여 상기 기준 소스를 상기 광학 통로로 이동시키는 것을 특징으로 하는 형광 광학 스테이션.
  70. 제 68 항에 있어서, 상기 여기 램프는 광섬유 케이블을 사용하지 않고도 동시적으로 상기 웰 칼럼에서 상기 다수의 웰의 직접 조명이 가능한 기다란 램프를 포함하는 것을 특징으로 하는 형광 광학 스테이션.
  71. 제 68 항에 있어서, 상기 피크 검출기 회로는 상기 여기 램프의 출력에 상관없이 일정한 형광 측정을 할 수 있도록 상기 기준 검출기의 상기 출력에 의해 분할되는 상기 다수의 검출기의 출력비를 갖는 것을 특징으로 하는 형광 광학 스테이션.
  72. 한 칼럼의 웰에 정렬되고 소정의 방출 파장으로 광선을 방출하는 형광단을 포함하는 테스트 샘플 카드의 다수의 웰에 저장된 다수의 샘플을 형광 분석하기 위한 방법에 있어서,
    소정의 여기 파장으로 방사선을 방출하는 선형 플래시 램프에 인접하게 상기 칼럼의 웰을 배치시키는 단계,
    광학 통로를 따라서 이동하는 상기 여기 파장에서의 상기 방사선으로 상기 웰을 동시에 조사하기 위하여 상기 램프를 플래싱하는 단계,
    상기 플래시 램프로부터 출력 신호를 응답적으로 발생하는 기준 광학 검출기로 상기 방사선의 일부를 이송하는 단계,
    상기 광학 통로를 따라서 상기 방출 파장에서의 상기 웰로부터의 광선을, 검출기 출력 신호를 발생하는 다수의 검출기에서 수용하는 단계, 및
    상기 램프의 출력에 상관없이 상기 웰 내의 형광단의 형광을 결정하도록 상기 기준 출력 신호에 대한 상기 검출기 출력 신호의 비를 비교하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 방법.
  73. 제 72 항에 있어서, 상기 램프가 상기 웰의 복합적인 형광 데이터 세트를 허용하기 위하여 복수 배로 플래싱하도록 작동되는 것을 특징으로 하는 방법.
  74. 제 72 항에 있어서, 상기 검출기를 주기적으로 교정하는 단계를 더 포함하며, 상기 교정 단계는,
    기준 소스를 상기 광학 통로로 이동시키는 단계,
    상기 기준 소스에 의해 상기 방출 파장으로 방사선을 방출시키는 단계, 및
    상기 방출된 방사선을 상기 검출기에서 수용하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 방법.
  75. 하나 이상의 테스트 샘플 웰을 갖고 식별 카드 및 감지 카드로 구성된 테스트 샘플 카드 내에 저장된 생물 샘플을 광학 분석하기 위한 시스템에 있어서,
    투과 광학 스테이션,
    형광 광학 스테이션, 및
    상기 테스트 샘플 카드를 위한 배양 스테이션으로부터 하나 이상의 상기 투과 광학 스테이션 및 상기 형광 광학 스테이션으로 상기 테스트 샘플 카드를 자동적으로 이동시키는 샘플 카드 이송 시스템을 포함하고, 상기 샘플 카드의 상기 광학 분석을 수행하도록 상기 이송 시스템, 투과 스테이션 및 형광 스테이션이 함께 동작하는 것을 특징으로 하는 광학 분석 시스템.
  76. 편평한 표면 및 평행 측면을 갖춘 다수의 카드 또는 다른 유사 형상의 단단한 물체를 위한 적층 처리 시스템에 있어서,
    하부 표면, 단부 및 상기 하부 표면으로부터 연장된 제 1 및 제 2 측면을 갖춘 저장부,
    상기 저장부에 적층되는 상기 카드 중 하나 이상을 수용하기 위한 카드 입구 슬롯,
    상기 저장부에 적층된 상태로 상기 카드를 유지하기 위하여 상기 입구 슬롯에 인접하여 배치된 탄성 스냅 수단,
    압력판으로서, 상기 카드가 상기 스냅 수단과 상기 압력판 사이에서 상기 저장부에 적층되며, 카드 접촉 표면을 가지며 상기 스냅 수단과 상기 저장부의 단부 사이 상기 저장부 내부에서 이동 가능한 압력판,
    상기 스냅 수단에 대해 상기 카드를 가압하기 위하여 상기 압력판의 상기 카드 접촉 표면이 상기 카드 중 하나의 일부분과 접촉하게 놓이도록 상기 스냅 수단 쪽으로 상기 압력판을 편향시키는 수단, 및
    푸시 판 수단을 포함하고,
    상기 푸시 판 수단이 후퇴 위치에서 연장 위치로 이동할 때 상기 스냅 수단을 통해 상기 카드 입구에 놓여진 상기 테스트 샘플 카드 중 하나 이상을 변위시키기 위하여 상기 푸시 판 수단은 상기 후퇴 위치로부터 상기 연장 위치로 상기 카드 입구 슬롯에 대하여 왕복 운동 가능하고, 이에 따라 상기 카드 중 하나 이상이 상기 스냅 수단과 상기 압력판 사이에 적층된 상태로 놓여진 후에, 상기 테스트 샘플 카드 중 다른 하나가 상기 카드 입구 슬롯에 놓여지도록 상기 푸시 판 수단이 상기 후퇴 위치로 복귀하는 것을 특징으로 하는 적층 처리 시스템.
  77. 제 76 항에 있어서, 상기 편향 수단이 상기 압력판과 상기 스냅 수단 사이에서 상기 저장부에 적층된 카드 수에 상관없이 상기 압력판을 상기 스냅 수단을 향해 소정의 힘으로 편향시키는 일정한 파워 스프링을 포함하는 것을 특징으로 하는 적층 처리 시스템.
  78. 제 9 항에 있어서, 상기 카드의 적재 후에 상기 카드를 밀봉하기 위한 밀봉 스테이션을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 자동 미생물 테스팅 시스템.
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