JP2003177133A - 試料テスト機械のための識別装置 - Google Patents
試料テスト機械のための識別装置Info
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Abstract
単一の自動試料処理/読み取り機械に組み込む。 【解決手段】 試料テスト機械の識別装置であって、試
料テスト機械はテスト試料カードカセットに積まれた複
数個のテスト試料カードを試験するものであり、カセッ
トは試料テスト機械に装填されており、前記テスト試料
カードの各々と同一視される機械読み取り可能インジケ
ータ;前記カセットに適用された機械的読取可能な記憶
装置;複数個の前記テスト試料カードのために前記機械
的読取可能インジケータを読み取り、前記機械的読取可
能記憶装置上に前記テスト試料カードについての情報を
記録する情報ロードステーション;及び前記機械的読取
可能記憶装置に記憶された情報を取り出す、前記試料テ
スト機械における情報取り出しステーションから成る、
識別装置が開示される。
Description
ば、微生物試薬を含有する試料)を含む一つ以上の試薬
充填ウェルを有するテスト試料カードを自動的にロード
すると共に試薬との反応後試料の光学的分析を行う機械
とシステムに関する。本発明は、生物学的血液または化
学分析機械の使用に適した、更に免疫化学および核酸プ
ローブアッセイ機械の使用に特に適したものである。
光学分析を含む各種の手法を用いた化学または光学的分
析に反応させることが出来る。この分析の目的は、試料
中の未知の生物試薬またはターゲットを同程して、試料
中の物質濃度を決定し、または生物試薬がある抗体に敏
感か否かを決定し、更に試薬によりもたらされる感染を
処理するのに有効な抗体の濃度を決定することにある。
テスト試料カードの使用を含む生物試料の光学的分析を
行う方法が開発されている。通常は、例えば微生物分析
に対するカードの製造時に、試料ウェルは、各種の生物
試薬に対する各種の成長媒体または各種の濃度の異なる
抗体が充填される。これらのカードは、流体が移送チュ
ーブポートを通してカードのウェルに入ることを許容す
る内部流路構造を有している。L字状一体移送チューブ
は移送チューブポートから外方に延在する。従来の方法
は、移送チューブの一端部をカードに、他端部をテスト
チューブに手動で挿入し、次に装着した移送チューブと
テストチューブによりカードを Vitek Fill
er Sealer などの真空充填封止機械にカード
を手動配置するものであった。充填/封止機械は真空を
発生し、テストチューブ中の流体が試料カードのウェル
内に吸引されることをもたらす。カードのウェルが試料
をロードされると、カードは機械内のシーラーモジュー
ルの溝の中に手動で挿入され、そこで移送チューブは切
断、溶融され、カードの内部を封止する。次に、これら
のカードは充填/封止モジュールから手動で除去され、
VITEK Readerなどの読み取り/インキュベ
ーション機械にロードされる。読み取り/インキュベー
ション機械は所望の温度でカードをインキュベートす
る。光学的読み取り装置はカードのウェルの透過率を試
験するために設けられる。基本的には、カードは読み取
り機械のカラム内にスタックされ、そして光学系はカー
ドのカラムを上下に移動させ、一度にカードを透過率光
学系に引き込み、カードを読み取り、カードを逆にそれ
らのカラムに配置する。VITEK Readerは、
Charlesらの米国特許第4,118、280号に
一般に開示されている。
ドの処理、分析に二台の機械、充填装置/封止装置が必
要になるという制限がある。更に、カードの完全な分析
を行うのに余分の時間と労力が必要になる。
つかの機能を単一の自動試料処理/読み取り機械に組み
込むことはかなり難しい問題である。一つの特別に困難
な問題は、カードの真空ローディングを行う方法を提供
することにあり、更に、ロードした試料カードをインキ
ュベーションおよび光学的読み取りステーションに移動
させる方法を提供することにある。他の問題は、そのよ
うな機械において、試料カードや容器を各種のステーシ
ョンに移動させる移送システムを設計することにある。
ト機械は、全て自動的に、感受性テストのために希釈を
行い、真空ステーションにおいてカードを試料で充填
し、移送チューブを切断することによりカードを封止
し、更にインキュベーションおよび透過率および蛍光分
析を行う機械を提供することにより、これらの目的を実
現するものである。機械は一回のテスト中に単一のテス
トチューブ内に配置された試料の感受率と識別の試験を
行うことが出来る。機械は試料の迅速な自動識別と感受
率のテストを提供するものである。本発明の好適な形態
においては、一連の異なるテスト試料が一回のテスト実
施時にテストされ、更に各種のステーション間の機械周
りに試料トレイまたは「ボート」内で移動される。トレ
イは、複数個のテストチューブおよび関係するテスト試
料カードを収容するカセットを受ける。機械は、新規な
ピペットおよび希釈ステーションを与え、流体がテスト
チューブに付加されることを許容し、あるいは一つのテ
ストチューブから他のチューブに移送されることを許容
する。
レイを移動させる(テストチューブとカードを有する)
独自のテスト試料配置システムを有する。配置システム
の設計は、ベースパンの上でステーションのカスタム構
成を本質的に許容するようになされる。付加的なカルー
セルと読み取りステーションを含む機械の発展を容易に
実現することが出来る。
された流体試料を自動的にテストする機械が与えられ
る。本機械は、諸動作がテスト試料およびテスト試料カ
ードに対してなされるローディングステーションから各
種のステーションに機械内で移動自在なローディングス
テーションと試料トレイを有している。試料は、試料と
カードがトレイ内にロードされるとテスト試料カードと
流体的に連絡されるように配置される。
に対して移動自在な真空室を有する真空ステーションを
有する。真空室がその下部位置にさげられると、真空室
はトレイにおける周囲水平面と協同してトレイと封止係
合を行う。真空ステーションは、室に真空を供給する真
空源と、真空引きおよび真空開放を制御する弁を有す
る。
のウェルに進入させないために真空ステーションのため
の新規な真空ロード手法が与えられる。これらの手法
は、真空に引かれるにつれて真空圧力における圧力の所
定の変化割合を維持し、カードを適切に充填するために
真空レベルを短時間の間しきい値またはセットポイント
に維持することにある。真空ローディングプロセスが完
了した後、トレイは封止ステーションに進められ、そこ
で高温切断ワイヤを用いてカードのための移送チューブ
を遮断し、カードの内部を大気から封止する。
ートするためのインキュベーションステーションを有し
ている。トレイをローディングステーションから真空ス
テーションに、更に真空ステーションからインキュベー
ションステーションに移動させるテスト試料配置システ
ムが与えられる。これらのカードはトレイからインキュ
ベーションに自動的にアンロードされる。インキュベー
ションステーションにおけるカードのインキュベーショ
ンの間にカードを読み取る光学的読み取りステーション
が設けられる。テスト試料カードをインキュベーション
ステーションから光学的読み取りステーションに移送す
るテスト試料カードが設けられ、そこで光学的読み取り
ステーションはテスト試料カード内にロードされた試料
の光学的分析を行う。
のセプタクルまたはテストチューブに希釈液を選択的に
付加する希釈ステーションが設けられる。一つの容器か
ら他の容器に流体試料を移送するピペットステーション
も設けられる。希釈/ピペットステーションは、トレイ
内の容器に対してピペットおよび希釈動作が同時に行わ
れることを許容するように、好適には互いに近接して配
置される。
と容器はカセット上に配置され、カセットは機械内のト
レイ内に配置される。流体またはテストカード情報をカ
セットと関係づけるスタンドアロン情報系が設けられ
る。機械的読取可能インジケータが試料に塗布され、テ
スト試料カードの各々のと識別される。情報ロードステ
ーションは、複数個の試料カードがカセットにロードさ
れたときこれらのカードに対する機械的読取可能インジ
ケータを読み取り、テスト試料カードに関する情報を機
械的読取可能メモリ記憶装置に記憶する。カセットが自
動化試料テスト機械内で移動されると、それは機械的読
取可能記憶装置に記憶された情報を復元する情報復元ス
テーションの側を通過する。
ーションは、メモリーと、システムのユーザから入力さ
れたテスト情報をメモリーに移送するヒューマンインタ
ーフェースと、機械的読取可能インジケータの読み取り
装置と、ヒューマンインターフェースに応答して、メモ
リーテスト時に、ユーザからの情報をテスト試料カード
に塗布された機械的読取可能インジケータと関係づける
ソフトプログラムを有している。
について、図面を用いながら示していく。なお、各図に
おいて、同様の符号は同様の構成要素を指し示してい
る。
概観する。
試料充填カード28の分析を行う生物試料テスト機械2
0の斜視図である。本機械は一組の着脱自在カバーパネ
ルを有し、これらのカバーパネルは、機械をカバーし、
審美的に楽しい外観を与え、機械の機能的側面を更に良
く示すために図示しないシステム構成要素へのユーザの
アクセスを許容するものである。図1において、カード
28に対するスタッキングカードディスポーザルステー
ションは機械の他の構成要素を示すために除去されてい
る。カードディスポーザルステーション900が図3に
示してある。図4は、テスト試料カードが機械20の幾
つかのステーションで処理されるときのそれらのカード
の位置を示す、機械の、一部断面端面図である。図2は
全体としての機械20のブロック図であり、本発明の好
適な実施例における機械を通してのステーションのレイ
アウトおよびボートとカセットアセンブリーの経路およ
びテスト試料カードを示している。
と、生物試料テスト機械20は、4個の独立したモータ
駆動パドルからなる生物テスト試料配置システム100
を備えており、このシステムは、各種の動作がカセット
26内のカードおよび容器に対して行われる幾つかのデ
ィスクリートステーションへ機械20の周囲でベースパ
ン24を横切ってカセット26を取り込む試料トレイ2
2(ここでは「ボート」と呼ぶ)を引張する。手順の開
始前に、技術者はカセット26に生物試料または被テス
ト試料を収容するテストチューブ30などの複数個の容
器およびテストカード28をロードする。各々のテスト
カード28は、L字状移送チューブ30をそれから突出
させ、生物試料を含有する流体がテストチューブ30か
らテストカード28の試薬充填ウェルに吸引されること
を許容する。技術者は図1に示したベースパン24の前
部、右手コーナーなどの機械に対するロードステーショ
ンにおいてロードされたカセット26をボート22中に
配置する。次に、組み合わされたボート22とロードさ
れたカセット26がテスト試料配置システム100によ
り機械20周囲のベースパン24の表面にわたりユニッ
トとして移動される。
されるものではないが、以下に説明する通常の微生物テ
ストの場合には、テストカード28は次の2種類の形で
与えられる。すなわち、まず、(1)識別カード。ここ
では、カードの製造時にカード28のウェルの各々に特
定の異なる成長媒体が配置される。それから、(2)感
受性カード。ここでは、異なる抗体の異なる濃度が、カ
ード28のウェルの各々に配置される。識別カードは試
料中に存在する特定の未知の生物試薬、すなわち、微生
物を識別するために用いられる。感受性カードは各種の
濃度の抗体または他の薬剤に対する生物試薬の感受性を
決定するために用いられる。以下に示すテスト手順にお
いては、識別カードおよび感受性カードは機械20の一
動作サイクル(すなわち、一テストラン)時に単一試料
に対して行うことが出来る。これを実現するため、移送
チューブ32を介して識別カード28Aに接続された生
物試料を含有するテストチューブ30Aが移送チューブ
32を介して感受性カード28Bに接続された空のテス
トチューブ30Bに隣接して配置されるようにカセット
26がロードされる。
れたバーコードリーダーによる読み取りのためのカード
上のバーコード並びに他の識別指標を有する。バーコー
ドは各々のカードに独自であり、カードの種類や満了期
日、通番などのカード情報を識別し、更にテストデータ
および/またはカードからの結果を患者や生物試料と相
関付けるために用いられる。更に、全体のボートまたは
カセットは、Dallas Semiconducto
r Corp.から市販されているメモリーボタンまた
は「タッチボタン」などの、カセット26に固着された
一つ以上のメモリー装置に記憶されたカセットにロード
されたカードの全てに対する試料情報を有する。
ト22内の7または8個のテストチューブ30は生物試
料を収容し、ストロー状移送チューブ32により識別カ
ード28Aと流体的に連絡される。生物試料テストチュ
ーブ30Aおよびその関連する識別カード28Aは一組
として考えることが出来る。生物試料テストチューブお
よび識別カードは通常はカセット26内で交互パターン
をなして配列される。各々の生物試料テストチューブ3
0Aおよび識別カード28Aの組は移送チューブ32を
介して感受性カード28Bと連絡して配置された空のテ
ストチューブ30Bに隣接する。カードおよび関連する
テストチューブは、試料に対する特定のテスト要件に依
存してカセット26内で任意の順序で配置出来ることが
認められる。例えば、カードは次のように配列すること
が出来る。すなわち、識別(ID),感受性(SU),
ID,ID,ID,SU,SU,ID,SU...。他
の例は、全ての識別カードと全ての感受性カードのよう
になる。
2とカセット26をベースパン24を越えて先ず希釈ス
テーション200に移動させるように動作する。希釈ス
テーションは回転ショットチューブ202を備え、これ
により所定容積の希釈液(塩水溶液のような)がカセッ
ト26内の空の感受性テストチューブ、例えばテストチ
ューブ30Bに付加される。試薬などの他の種類の流体
を回転ショットチューブによりテストチューブに付加し
ても良く、かくして希釈ステーション200は希釈液を
テストチューブに丁度付加することに制限されることは
ない。ボート22の先端がこのプロセスの間に左に移動
されると、この先端はピペットステーション300の下
を通過する。ピペットステーション300は、ピペット
302をピペット304源から自動的に除去し、ピペッ
ト302を生物試料テストチューブ30A内に下降さ
せ、ピペット302を用いて生物試料テストチューブ3
0Aから所定容積の生物流体から真空下で除去する。
接するテストチューブ30Aおよび30Bの間の分離距
離に等しい距離、例えば15mmだけボート22を左に
移動させる。次に、ピペットステーション300は生物
流体を含有するピペット302を生物試料テストチュー
ブ30Aから隣接する感受性テストチューブ30B(既
に、或る量の希釈液を希釈ステーション200から受け
ている)中に降下させ、流体をテストチューブ30B内
に強制し、ピペット302を感受性テストチューブ30
Bに降下させる。テスト試料配置システム100による
ボート22の移動、希釈ステーション200における感
受性テストチューブ30Bへの希釈液の付加、更に生物
試料テストチューブ30Aからピペットステーション3
00における隣接する感受性テストチューブ30Bへの
生物試料の移動のプロセスは、ボート22内の識別およ
び/または感受性テストチューブセット(もしあるな
ら)の全てがそのように処理されるまで継続する。ピペ
ットステーション300および希釈ステーション200
が近接配置されているため、単一ボート22内の多数テ
ストチューブに対して希釈およびピペット操作を同時に
行うことが出来る。最後のピペット動作が行われた後、
テスト試料配置システム100は次にボート22をベー
スパン24の左手エッジに移動させる。
ッチが試料の内容を識別するためにテストされるような
場合に、カセット26はテストチューブ30および識別
カード28内の生物試料を完全にロードされる。この例
においては、希釈およびピペット動作は必要ではない。
しかしながら、他の種類の試料テストにおいては、他の
希釈液または試薬または流体がテストチューブにまたは
それから付加または退行される。いかなる希釈またはピ
ペット動作も行われない例においては(例えば、ピペッ
トおよび希釈動作がオフラインで行われる場合)カセッ
ト26はテストチューブとカードをロードされ、また配
置システム100は単にボート22を移動させ、ロード
されたカセット26は停止することなく希釈ステーショ
ン200およびピペットステーション300を直接、ベ
ースパン24の左手エッジまで通過する。
スト試料配置システム100はボート22を左手エッジ
に沿い真空ステーション400まで移動させるように動
作する。真空ステーション400は、希釈ステーション
200およびピペットステーション300が除去された
機械20の斜視図である図3、および図5、図6、およ
び図30に良く示されている。真空ステーション400
においては、真空室402の底面がボート22の上部周
囲面23に封止係合するように真空室402はボート2
2上に降下される。真空室は機械に対する従来の真空源
(図5では示してない)に連絡するホース406、40
8(図5)を有する。真空はマイクロプロセッサ制御の
下で室402に加えられ、テスト試料カード28の内部
の空気がそれらの関連するテストチューブから排気さ
れ、室402から退行されることをもたらす。真空サイ
クルは閉ループサーボシステムを用いて真空の変化割合
および完全な真空サイクルのタイミングを調節すること
により正確に管理されて充填を最適にする。所定時間の
後、室402はマイクロプロセッサの制御の下で大気に
通気される。カードの通気はテストチューブ30内の流
体がカード28中に吸引され、カード28内のウェルを
充填することをもたらす。室402が通気された後、室
はボートが機械20の他のステーションに移動されるこ
とを許容するように真空室駆動機構410により上昇さ
れる。
ート22をベースパン24の後部を横切って右手に、図
1および図3の中心マウント34の背後に配置された切
断/封止ステーション500まで前進させるように動作
する。図5および図6を参照すると、切断/封止ステー
ション500は高温切断ワイヤ506および装着した支
持板504、および切断ワイヤと支持板504を、移送
チューブ32がテストカード28に入る場所に隣接する
移送チューブ32の上部と同じ高さまで降下させる駆動
機構502(例えば、ステップモータ、駆動ベルト、リ
ーヂスクリウー)とで構成される。ボート22が切断/
封止ステーション500を過ぎて前進すると、移送チュ
ーブ32は高温切断ワイヤ506を越えて駆動される。
カセット26の壁によるカード28の運動に対する縦方
向の拘束、またカセットおよび機械20の壁構造による
カード28の運動に対する横方向の拘束に援助されて、
高温切断ワイヤは、ボート22が高温切断ワイヤ506
を過ぎてゆっくりと前進されるにつれて移送チューブ材
料を溶融することにより移送チューブ32を切断する。
移送チューブ材料の小さなスタブはカード28の外部に
残される。スタブは大気からカード28の内部を封止す
る(或る種類のカードにおける、試料ウェルをカバーす
る酸素透過テープを通しての酸素などの気体の可能な拡
散を除いて)。ボートがステーション500を過ぎて前
進されると、ワイヤ506はその上部位置まで上昇され
る。
配置システム100は次にボート22を中心マウント3
4の背後のベースパン24の後部を横切りカルーセルイ
ンキュベーションステーション600に前進させる。機
械のスロット602に対抗する中心マウント34に揺動
するラックアンドピニオンドライバー610が装着さ
れ、これはカードをスロット602を通してカセット2
6からカルーセル604に一度に一つ押圧する。カルー
セル604は、適当なインキュベーション温度に維持さ
れた閉鎖容器に収容される。閉鎖容器はカルーセル60
4を示すために図1および図3において一部破断してあ
る。カルーセル604は、カセット26内の次のカード
に対抗するスロット602と一致してカルーセル604
に次のスロットを配置するようにテスト試料配置システ
ム100によりベースパン24の後部を越えてボート2
2の運動と同期して駆動システム612により回転され
る。カルーセルが単に部分的にカードをロードされよう
としているとき、機械の動作システムは、カルーセル6
04における重量分布をバランスさせるために、カルー
セル604の回転を制御して非隣接スロットにカードを
ロードし、カルーセル内でカードを均等に分布させる。
例えば、カルーセルが60個のスロットを持ち、30個
のカードだけが処理される場合、カードは全ての他のス
ロットにロード可能になる。
付加的なインキュベーション容量は、ベースパンの後部
に付加的なインキュベーションステーションを付加する
ことにより、かつ必要なものとしてベースパンおよび駆
動システム構成要素の寸法を調節することにより与える
ことが出来る。付加的な光学ステーションを付加的なカ
ルーセルに対して設けてもよい。例えば、カルーセル6
04が6個のスロットを有し、各々のカセットが15個
のカードを保持するときは、4個のボートを一度に処理
することが出来る。第二のカルーセルを付加すると、最
高120個のカードを一度に処理することが出来る。勿
論、カセット26およびカルーセル604に対して異な
る容量を与えることが出来る。
ロットにロードした後、ボート22は、ベースパン24
の右手エッジに沿い逆にその始動位置(図1および図3
に示された)に、またはカセット26(若しあるなら、
テストチューブ、ピペット302を収容し、かつ移送チ
ューブの残りを収容する)の除去のために、かつ新しい
カセットの受容のために出口位置に前進される。一方、
ボート22は、例えばベースパン24の後部または右手
側に配置された出口ステーションに移動され得る。
ョン600でインキュベートされているので、カードは
往復動するラックアンドピニオンドライバー620およ
び関係するステップモーターにより一度に一つカルーセ
ル604の上部でカルーセル604のスロットから定期
的かつ逐次押し出される。カード28は光学スキャナカ
ード移送ステーション700により透過率サブステーシ
ョン802および蛍光サブステーション804を有する
蛍光および透過率光学系ステーション800を越えて移
動される。カード28のウェルは、透過率および蛍光光
学系ステーション800によりなされる必要がある分析
に従って透過率および/または蛍光光学テストの組を選
択的に受ける。透過率および蛍光光学系ステーション8
00は、カード28のウェルに対する透過率おび蛍光デ
ータを生成し、機械20に対する中央処理ユニットにこ
のデータを報告する検出器および処理回路を備える。テ
ストが完了していないときは、移送ステーション700
はカード28をカルーセル604のスロットに逆に移動
させ、更に多くのインキュベーションおよび付加的な読
み取りに供する。
回転を行う15分毎に読み取られる。カード28に対す
る通常のインキュベーション時間は2から18時間のオ
ーダーであり、1時間当たりおよそ4つの透過率および
/または蛍光データセットからなり、各々のデータセッ
トは光学的分析要件を受けたカード28のウェルの各々
に対して多重読み取りからなる。
ステム700により図3および図4に示したカード出力
ステーション900に移動される。カード出力ステーシ
ョン900は、光学的ステーション800とほぼ同じ高
さで光学的ステーション800の側に配置された着脱自
在トレイまたはマガジン902および関連する支持構造
からなる。ステーション900は、マガジン902内で
移動自在の圧力スライド914およびマガジンの前方に
向けて圧力スライドを付勢する一定力のばねとを有す
る。カードは、圧力スライド914とマガジン902の
側面に一体的に形成された逆方向に対抗する弾性スナッ
プ要素の間でマガジン内にスタックされる。技術者は、
必要に応じてまたはマガジンがカードで充填されたとき
機械20からマガジン902を除去し、カードを適切な
バイオハザードディスポーザルユニットに排出し、更に
マガジン902を逆に機械20内に置き換える。
有する流体をテストする自動化微生物テストシステムま
たは機械20がかくして開示される。システム20は複
数個の試料ウェルを有するテスト試料カード28と関連
して使用され、テスト試料カードは感受性カードと識別
カードで構成される。このシステムは、ベースパンと、
容器30とテストカードをベースパン24を横切って搬
送するトレイ22と、所定体積の流体を前記容器30の
少なくとも1つに付加する希釈ステーション200と、
テスト試料をトレイ22の容器の1つからトレイ22の
容器30Bの他の物に移送するピペットステーション3
00とで構成される。真空ステーション400、402
が設けられ、これは、トレイ22に対して移動自在であ
り、トレイ23の周辺エッジと協同して容器30とカー
ド28の周りに真空閉鎖容器を形成する。真空ステーシ
ョンは更に流体試料をカード28のウェルにロードする
真空源からなる。カード28のロードの後カードを封止
する封止ステーション500が設けられる。カード28
をインキュベートするインキュベーションステーション
600が設けられ、またカード28のウェルの光学的分
析を行う読み取りシステム802、804が設けられ
る。配置システム100はトレイ22をベースパン24
を越えて真空ステーション400からインキュベーショ
ンステーション600に移動させ、またカードをトレイ
からインキュベーションステーション600にロードす
るドライバー610を有する。カードをインキュベーシ
ョンステーション700から読み取りステーション80
2、804に移動させる駆動システム700が設けられ
る。かくして、カードを処理し、カードの光学的分析を
行う全工程が自動化される。
0は流体試料中の生物試薬の識別および感受性テストを
行う方法を実行し、生物試料を含有する流体試料が第一
の開放容器またはテストチューブ30A内に配置され
る。この方法は、第一の容器30Aを試料ホルダーまた
はカセット26内に配置し、流体試料は前記試料ホルダ
ー26により受容された識別テスト試料カード28Aと
L字状移送チューブを介して流体的に連絡して配置され
るステップと、第二の開放容器30Bを試料ホルダー2
6内に配置し、この第二の開放容器30Bは試料ホルダ
ー26により受容された感受性テスト試料カード28B
と流体連絡するステップと、第一および第二の容器30
A,30Bおよび識別および感受性テスト試料カード2
8Aおよび28Bと共に試料ホルダー26を自動化試料
テスト機械20内に配置するステップと、その後、前記
機械内で、所定体積の希釈液を第二容器30Bに(希釈
ステーション200を介して)付加するステップと、流
体試料の要部を第一容器30Aから第二容器30Bに
(ピペットステーション300を介して)移送するステ
ップと、識別および感受性カードをそれぞれ真空ステー
ション400で第一および第二の容器30A,30Bか
らの流体でロードするステップと、更に続いて識別およ
び感受性カード30Aおよび30Bのステーション80
2および/または804において光学的分析を行うステ
ップとで構成される。
容器30Bに付加し、流体の要部を容器30Aから容器
30Bに移送し、識別および感受性カードを真空ロード
し、光学的分析を行うステップが人間の介在無しに自動
化試料テスト機械30内で自動的に行われるということ
は非常に有利である。
徴について説明する。
2はその機械周囲の運動サイクルの間に回転されず、従
ってボート22の一般的な向きは一定のままである。好
適な実施例において、ボートは長方形の4辺に沿い移動
されるので、ボート22は好適には4辺を持つ長方形状
が与えられ、各々の辺は駆動システム100において、
このパドル38A乃至Dの1つと係合するための相補的
面を有する(図7参照)。
3の幾つかに示されている。ボートとカセットは好適な
実施例においては個別ユニットであり、ボート22は通
常はカセット26内でのカードの処理の後機械20内に
残留する(洗浄の場合を除いて)。カセット26はオフ
ラインでカード28とテストチューブ30がロードさ
れ、更に後述するデータエントリー機能に従ってロード
されたカセットは全体の処理手順の開始時に技術者によ
り機械20内のボート22内に配置される。他の実施例
においては、ボートとカセットは、カードとカセットを
ロードするために機械20から除去され、かつ次の処理
のため機械のローディングステーション内に配置される
一体試料ホルダとして与えられることも出来る。
はボート22の側壁81に対してある角度で傾斜される
パドル係合面60Aを有する。この平面60Aは、パド
ルがベースパン24の前側にわたってボートをスライド
するときパドル38Aのヘッドの相補的な平面鋭角面と
係合する。第二の鋭角係合面60AAが設けられ、これ
はパドル38A(図7)がボート22の第二の面に係合
することを許容する。この第二係合面60AAは、ベー
スパン24の最前部左角に移動させるのに必要なシャフ
ト42Aでのカラー移動を逓減させる。パドル38A
は、面60Aとの係合から外れるように回転され、面6
0AAに隣接する一までシャフト42Aから下方に移動
され、更に面60AAと係合するように逆に回転され
る。
ースパン24の右手側に沿いボートを移動させるときパ
ドル38Dにより係合される表面60Dを有する。同様
の係合面がボート22の後部側および左手側に設けられ
る。
数個のスロット61を有し(図1)、それらの各々はテ
ストチューブを確実に保持するテストチューブ保持スロ
ット62に隣接する。タング64または他の適切な弾性
部材がテストチューブ保持スロット62内に内向きに延
在し、テストチューブのスロット62内での運動を防止
する。カード61は壁70により互いに分離される。ス
ロット61は、隣接する壁70の間での試料カードのわ
ずかな量の縦方向運動を許容するように寸法が与えられ
る。壁70はカード28までの経路の単に約1/3だけ
延在し、分離装置94によるカードの縦方向揺動運動を
許容し(図4、図76を参照)、バーコードリーダーが
カードの上部に配置されたバーコードを読み取ることを
許容する。
静置される。スロットの開放側68はカードがカセット
26からインキュベーションステーション600内に滑
動されることを許容する(図1)。
74を有し、これはテストチューブからの流出を収容す
る。床74は、カセット26がボート22にロードされ
るときカセット26をぴったりと受容するように形状が
与えられる。
部に沿い複数個の補強用リブ76により支持される。表
面23は真空室402の底面と封止的に係合する(図
3)。リブ76は、ボート22が室402によりボート
22の周囲封止面23上に配置された圧縮力に耐える援
助をなす。
に一対の開口78が設けられ、これはタッチメモリー記
憶ボタン(図示せず)を受容する。これらのタッチボタ
ンはカセット26内にロードされたカード28の内容を
識別する。次に、この情報は機械20の中心マウントに
装着されたタッチボタンリーダー85により読み取られ
る(図4参照)。好適には、機械20に対してスタンド
アロンカセット識別ステーションが設けられる。このス
テーションはコンピューター端末とタッチボタン接点を
有する。接点はカセットに対するカードに関する情報を
タッチボタン開口78内に配置された2つのタッチボタ
ンにロードする。
について説明する。
と、テスト試料配置システム100が以下に詳細に開示
される。システム100は図7に斜視図で与えられ、ス
テーションの全ては中心マウント34に装着され、イン
キュベーションステーション600は配置システム10
0の構成要素を更に明瞭に示すために除去される。
装着されたベースパン24を有し、これを横切ってボー
ト22はステーションから機械22内のステーションに
引張される。好適な実施例におけるベースパン24は互
いに直角をなす4辺、前部辺、左手辺(LHS),後部
辺、および右手辺(RHS)を有する長方形状をなして
いる。これらの4辺は、試料カード28に対する動作の
全てが完了した後ボート22がロードステーションにお
いてその始動位置に逆に機械周りにループをなして時計
周りに移動されることを許容する(図1乃至図3に示さ
れる)。しかし、テスト試料配置システムの本発明の原
理はベースパン24に対する他の形状に適用可能であ
る。更に、パドルおよびモータはボート22を反時計周
りの方向に移動させることが出来る。
に向かう足72を有し(図10および図11)、これら
の足はベースパン24の周囲周りに延在する1組の突出
リッジ37および突出リム39の間に形成された溝36
からなるトラック断面のパターンに嵌合する。溝36
は、ボート22がベースパン24を越えて引かれるとき
ボート22の回転を防止する援助をなす。
めにロードステーションに配置されると、ボート22の
足の左前部LFおよび右前部RFは溝36A内に配置さ
れ、右後部(RR)足72は溝36D内に配置され、R
F足は溝36Aと36Dの交差点に配置される。突出リ
ッジ37には、ボート22がベースパン24周りに移動
されるにつれボート22の足がリッジ36を通して移動
することを許容するように複数個のスロット35が設け
られる。例えば、スロット35Dは右後部RR足が突出
リッジ37Dを過ぎて移動することを許容し、またスロ
ット35Bは左後部LR足がリッジ37Bを過ぎて溝3
5B内に移動することを許容する。中心マウント34は
角を有し、これは好適には、これがベースパンの左手側
に沿い滑動されるときボートが回転しないように、図に
示したように、鋭角の角が与えられる。
移動させるために、ボート22を移動させる4個の独立
した駆動システムが設けられる。各々の駆動システムは
ボート22をベースパン24の4辺の一つに沿う一方向
に移動させる。ここで特に図7を参照すると、ベースパ
ン24の前部エッジに沿いボート22を移動させる第一
駆動システムが設けられ、これは、正方形断面を有する
回転自在シャフト42Aと、シャフト42Aに滑動自在
に装着されたカラー40Aと、シャフト42Aに沿いカ
ラー40Aを滑動させるカラーに装着された駆動ベルト
44Aと、ベルト52Aを駆動するステップ駆動モータ
48Aと、ベースパンの前部エッジに沿い駆動ベルト4
4Aを前後に移動させるプーリー52Aと、更に駆動ベ
ルト44Aのための第二プーリー46Aとで構成され
る。カラー40Aにパドル38Aが装着され、これはボ
ート22の側面の1つ以上の相補面(例えば、表面60
A)に係合するために設けられる。カラー40Aがシャ
フト42Aに沿い左に移動されるように駆動モータ48
Aがベルト44Aを移動させるように動作するとき、パ
ドル38Aはボート22をベースパン24に沿い左に引
張する。
ト42Aを90度の角度回転させる関連するベルトとプ
ーリー(図示せず)を備える。パドル38Aのヘッドが
ボート22の方向で水平一にあるようにシャフト回転モ
ータ54Aが回転するとき、パドル38Aは、パドル3
8Aとカラー40Aがシャフト42Aに沿い移動される
ときボート22を引張するようにボート22の側面の相
補面に係合する位置にある。ボートがベースパン24の
前部エッジに沿いその移動の終了点に達したとき、シャ
フト回転モータ54は、パドル38Aが情報にかつボー
ト22の側面から離れるように回転され、それによりパ
ドル38Aをボート22から脱係合させるような方向に
シャフト42Aを90度回転させる。
の駆動システムはベースパン24の前部エッジに対して
上記した駆動システムに機能的に等価であり、また各々
は同様の構成要素からなる。例えば、左手側LHS駆動
システムはシャフト42B,装着パドル38Bを有する
カラー40B、駆動ベルトモータ48B,シャフト回転
モータ54Bなどを有する。ベースパンの後部エッジに
対する同様の構成要素は回転自在シャフト42C,ベル
ト駆動モータ48Cなどを有する。同様に、右手側(R
HS)駆動システムは回転自在シャフト42D,カラー
40D,および装着パドル38Dなどを有する。
て説明する。
至図17に更に詳細に示されている。図15はそれぞれ
希釈ステーション200およびピペットステーション3
00の斜視図である。図16はステーションの立面図、
図17は希釈ステーション200の側面立面図である。
ーション200はテストチューブなどの容器に制御され
た体積の流体を分与するシステムと考えることが出来
る。ステーション200は塩水溶液の柔軟バッグなどの
希釈流体源204を有し、これは適切な傾斜棚203上
に静置してある。所定体積の回転ショットチューブ20
2は導管またはチューブ206を介して流体源204か
ら流体を受ける。導管206にはフィルタ208が配置
され、これは汚染物がライン206に入らないように作
用する。
内に配置されたシンブル弁の開口を制御するソレノイド
220が設けられる。シンブル弁は導管206からの流
体のショットチューブ202への流入を制御する。流体
204源はショットチューブ202の上に配置されるの
で、流体は重力流によりショットチューブ202を充填
する。ショットチューブ202はソレノイド220に装
着される。ソレノイド220および装着ショットチュー
ブは駆動ベルトとプーリー(図示せず)を有するモータ
219(図17)によりバルクヘッド214に対して回
転する。モータ219はバルクヘッド214の後ろ側の
ソレノイド202の背後に直接配置される。
7に示されたように一般に上向きに回転されるとき(す
なわち、ショットチューブの先端がショットチューブの
端部201に対して上昇される。)、ショットチューブ
は、これが充填されるときこれが自動的に準備されるよ
うに流体で充填することが出来る。ショットチューブ2
02の上方配向は、流体がショットチューブの端部20
1に入り、その道をショットチューブ202の先端まで
作り上げるときショットチューブ内の空気がショットチ
ューブ202から排除されることを許容する。希釈液が
ショットチューブ202の先端に隣接する充填ゾーンま
でショットチューブを充填する時点を検出する光学的セ
ンサ218がブラケット216に設けられる。
ヘッド214の背後のモータ219はソレノイド220
とショットチューブ202を矢印222の方向で(図1
6)第二位置まで回転させ、ここでショットチューブ2
02の先端部はボート22内のテストチューブに向けて
下方に配向される(図1)。バルクヘッド214の背後
に装着された圧縮空気源217に連通する第二のダクト
210が設けられる。ダクト210にはフィルタ212
が設けられ、これは汚染物がライン210に入ることを
防止する。ダクト210はシンブル弁の近傍でショット
チューブ202内で排出チューブにわたって嵌合され
る。ショットチューブ202が第二下方位置にあると
き、圧縮空気が、ショットチューブ202から希釈液を
テストチューブ30Bに排出する流れをなして(図1)
ショットチューブに噴射される。
20およびショットチューブ202が分解組み立て図と
して示してある。ソレノイド220は、係合されたと
き、ソレノイド軸221に沿い開口225内に配置され
たカムスライド256を作動させる。ソレノイド220
はカムスライド236を図18の左手に向け弁閉成位置
に付勢するカムばね258を有する。ゴム製Oリング2
23がカムスライド256のヘッド253上に着座す
る。カムスライド256はカム面258を有し、この面
は軸21に沿うカムスライド運動をショットチューブ軸
Sに沿う直交プランジャ224運動に変換するようにプ
ランジャ224上のカム面259と協同動作する。プラ
ンジャ224は以下に開示するようにシンブル弁226
と係合するようにまたは脱係合するように移動され、そ
してプランジャがカムスライド256により延長位置に
移動されるとき弁226を開放する。この構成は、ソレ
ノイドがショットチューブ202に対して直角をなして
装着されることを許容し、ピペットおよび希釈ステーシ
ョンの間の空間の量を逓減させ、更に同時的なピペット
および希釈動作がボート内の異なるテストチューブに対
してなされることを許容する。
ョットチューブ開口266を有し、これは、ショットチ
ューブ202が組み立て状態にあるときショットチュー
ブ202とシンブル弁226を受容する。ショットチュ
ーブ202は排出ダクト210に接続された排出チュー
ブ230と希釈ダクト206に接続された充填チューブ
228を有する。解放ピン260、ばね262、および
解放ピンキャップ264が設けられて、ユーザが塩水バ
ッグ204およびショットチューブ202を置き換える
ときなどにユーザがショットチューブ202およびシン
ブル弁をアセンブリーの残部から係合、脱係合させるこ
とを許容する。解放ピン260は開口およびハウジング
221内の凹領域261を通してハウジング221の上
部に装着される。解放ピンキャップ264が回転される
と、ばね262は解放ピン264をショットチューブ2
02の端部201との係合をはずれるように上昇させ、
ショットチューブ202がハウジング221から除去さ
れることを許容する。
ューブ202、ソレノイド220、および光学的センサ
218が機械20から分離されて図示され、ショットチ
ューブ202およびシンブル弁226の断面が示され
る。ソレノイド220はシンブル弁226の奥部内に配
置された弁プランジャ224を有する。図19Bを参照
すると、シンブル弁226が断面図として分離されて図
示される。シンブル弁226はシリコーンなどの弾性材
料からなるシンブル状部材である。弁226は壁部24
4と前部封止リブ240を有し、このリブは圧縮嵌めを
なしてショットチューブの奥部に封止係合し、希釈液源
204に接続された充填チューブ228を密封する。シ
ンブル弁226は環状体部分242を有し、この部分
は、ショットチューブ202の端部201に隣接するシ
ョットチューブ202の奥部の相補的凹領域に嵌合し、
ショットチューブ202の開放端部201にシンブル弁
226を拘束する後部封止リブ248を確定する。環状
体部分242はプランジャ224を受ける中央室246
を確定する。
あるときのプランジャ224、シンブル弁226、充填
チューブ228およびショットチューブ202の位置を
示す。前部封止リブ240は充填チューブ228を密閉
し、流体がショットチューブ202の内部領域または室
254に入らないようにする。図21は、プランジャ2
24がソレノイド220により壁244に対して延長部
分に押し圧されるときのプランジャ224およびシンブ
ル弁226の位置を示す。プランジャ224は壁244
に対して押し圧し、前部封止リブ240がショットチュ
ーブ202の奥部254に向けてショットチューブ20
2の内面から離れて移動することをもたらすようにシン
ブル弁226を延長させ、引き延ばし、流体がリブ24
0の周りでまたそれを過ぎて充填チューブポート250
からショットチューブ202の奥部254に流入するこ
とを許容する。
ブ202がショットチューブ光学的センサゾーン232
まで希釈液で充填されるとき、プランジャ224は図2
0に示した位置まで退行し、流体流を遮断する。好適に
は、光学的センサ充填ゾーン232は、希釈液に対して
小体積を確定するように図示のようなテーパー形状が与
えられ、精密にショットチューブの充填を許容する。テ
ーパー状光学的センサ充填ゾーン232および得られる
小さな体積は単に非常に小さな体積の流体がシンブル弁
336の閉成時に光学的センサ218を越えて移動する
ことを許容する。次に、ショットチューブ202は感受
性テストチューブの上の下向き垂直位置に向け回転さ
れ、その際圧縮空気がダクト210および排出チューブ
230を介して排出ポート252にまたショットチュー
ブ202の奥部に供給される。圧縮空気の流れは奥部領
域の流体をショットチューブ202の先端234の外に
強制する。
その緩和した正常位置で閉成されることがわかる。シン
ブル弁226の壁244からプランジャ224が退行し
て弁を閉じることは、シンブル弁が延長位置まで押し圧
されてポート250を閉じるように設計されている場合
のように、何らかの圧力サージまたは「ウオーターハン
マ」効果が充填されたショットチューブ202に生成さ
れることを防止する援助をなす。圧力サージが、希釈液
がショットチューブ202の先端234から噴出するこ
とをもたらす場合は、ショットチューブの汚染が潜在的
に生じる。従って、弁を閉じるように退行され、圧力サ
ージを防止するシンブル弁226の設計が好適な設計で
ある。
グ204、ダクト206、およびショットチューブ20
2が機械20内に代替可能、使い捨て流体配送ユニット
として組み合わされ、設置される。塩水バッグ204が
空のときは、ユーザは単に塩水バッグ204、ショット
チューブ202(シンブル弁226を含む)およびダク
ト206を単一ユニットとして置き換え、ショットチュ
ーブ202の汚染または消毒に伴う問題点を回避する。
ダクト210は流体配送ユニットの一部であってもよく
またはなくてもよく、またない場合もそれは、ショット
チューブ202と塩水バッグ204が機械20内に装着
されたとき排出チューブ230にわたって嵌合すること
になる。
な実施例において、ソレノイド220は、空間を節約
し、ショットチューブ202とソレノイド220がピペ
ットステーション300に出来るだけ近接して配置され
ることを許容するようにショットチューブ202に対し
て配向される。ショットチューブの軸線はソレノイドの
移動(図16のページ内へ)221の軸線に垂直であ
る。ソレノイド220内のカムスライド256は軸線2
21の方向の運動を(図17)ショットチューブ202
の軸線Sに沿うシンブル弁およびショットチューブ20
2の方向のプランジャ運動に変換する。これは図18に
示される。
器に制御された量の流体を分与するシステム200が開
示され、これは、前記流体(柔軟バッグ204に収容さ
れた希釈液など)の流体源と、先端部230、中空体、
および流体流入ポートからなるショットチューブ202
と、更に前記流体を前記流体源204からショットチュ
ーブ202の流体ポートに流すダクト206とで構成さ
れる。モータ219はショットチューブを、ショットチ
ューブ202の先端部がショットチューブの充填の間に
中空体に対して水平線上傾斜をなして配向される第一の
または充填位置から、先端部が流体の分与中に容器に向
けて下方に配向される第二のまたは分与位置に回転させ
る。弁は流体のショットチューブ202の中空体内への
流れを制御する。上記構成のため、ショットチューブ2
02内の空気はショットチューブの充填の間に上昇先端
部230を通してショットチューブから排除され、ショ
ットチューブの有効な準備およびショットチューブの正
確な量の流体をもたらす。
ついて説明する。
側面が図15および図16に示してある。ステーション
300は図22の端部図および図14の分解組み立て図
に示したピペットホッパ304と分与アセンブリを有す
る。
5を参照すると、ステーション300は複数個の中空ピ
ペットストロー320を収容する一般に円筒状のハウジ
ングまたはホッパ304を有する。図22に示したよう
に、ハウジング304はハウジング304の底部の水平
配置ストロー退行開口スロット350を有する。ハウジ
ング304はブロック306に装着され、このブロック
は、ハウジング304が図1に示した向きから図25に
示した向きに向け上方に回転することを許容するように
バルクヘッド310に確保されたピン308に対して回
転自在である。ハウジングは、ストロー320がハウジ
ング304から落下しないようにする透明なプラスティ
ックカバー305を有する。プラスティックカバー30
5はねじ303およびハウジング304の装着孔307
(図23)を介してハウジング304に装着される。図
25に示したように、プラスティックカバー305は、
技術者がハウジング304をストロー320で再充填す
ることを許容するようにハウジング304開口をカバー
する位置から揺動する。
常水平位置にあるとき、スロット350は水平スライド
部材314の直ぐ上に配置される。図22を参照する
と、水平スライド314はソレノイド336を有し、こ
のソレノイドは延長および退行位置の間でスライドを移
動させるためバルクヘッド310の後ろ側に装着され
る。ソレノイド336は所望の場合は異なる構成のバル
クヘッドの正面に装着される。スライド314の移動
は、スライド314が前後に装着されたシャフト338
を移動させることにより実現される。スライド314は
ガイド337に沿い滑動される。
プモータ312(図16および図23)が設けられて3
個の等距離に隔置されたフィンガ342を有する回転自
在ドラム340をハウジング304の内部表面周りに走
査する。好適な実施例において、フィンガ340の各々
はほぼ60度の走査角αを規定する。図22に最良に示
したように、フィンガ342がハウジング304の内面
に沿い走査するので、フィンガの一つはハウジング30
4内のストロー320をスロット350内に走査する。
フィンガ342は、図22に示したように、フィンガ3
42の要部がスロット350をカバーするようにそれら
の運動を停止し、ストローはスロットのフィンガ下方に
配置される。水平スライド314は図22のダッシュ線
に示された位置314’内にあるとき、スライド314
の端部356の上面354は底部ハウジング面352に
当接するスロット350の下方に配置され、ストロー3
20がスロット350を通してハウジング304から落
下しないようにする。図22に最良に示したように、ス
ロット350の側面、フィンガ342、およびスライド
314の全てはスロット内のストロー320を確実に保
持するように協同動作し、テーパー上管状移送ピン33
0がストロー320の端部に挿入することを許容する。
低摩擦材料からなる。好適には、ハウジング304は、
ハウジング304の長さに平行に配向された状態にスト
ロー320を維持するように、ハウジング304の内径
がハウジングの長さより少なく、従ってそれらが容易に
スロット350内に走査され得るように構成される。
40が詳細に示してある。駆動ラグ348は図23のモ
ータ312により回転される。駆動ラグ348は一対の
周囲凹所348を有する。一対の駆動Oリング346が
凹所349に嵌合する。駆動ラグ348は一組の三個の
内方に突出する点345によりグリップスリーブ344
に嵌合し、これらの突出点は確実にOリング346を把
持する。次に、グリップスリーブ344はドラム340
の後部壁の中央開口341に確保される。ラグ348が
モータ312により回転されると、ドラム340がモー
タおよびドラム軸線M周りに回転される。図24のグリ
ップスリーブとOリングの構成はノイズおよび振動を逓
減する。
り、ストローが図22に示したようにスロット350に
トラップされているとき、テーパー上管状移送ピン33
0(図16、図23)は、ストロー320の先端と摩擦
係合するように移送ピンアセンブリー316内の引っ込
み位置から延長位置に直接スロット350のストロー3
20内に移動される。この点で、水平スライド314は
バルクヘッド310に向け引っ込む。ここで移送ピン3
30は図1に示したようにモータ360(図25乃至図
27)により垂直位置まで回転され、ストロー320が
スロット350を通してハウジング304の外に移動さ
れることを許容する。ストロー320がスロット350
から回転されると直ぐに、スライド314は図22でダ
ッシュ線で示した位置314’に逆に移動され、そして
モータ312が操作されて他のストロー320をスロッ
ト350に走査する。
移送ピン330は、ここでカセット26内のテストチュ
ーブの一つの直ぐ上で垂直方向に配向され、ストロー3
02(図1)の端部が生物または対照流体試料を収容す
るテストチューブなどのテストチューブの一つの(例え
ば、テストチューブ30A)流体内に十分に侵漬され
る。所定時間管状移送ピン330および装着ストロー3
02に真空を加え、正確なまたは対照量の流体をストロ
ー302に吸引する。管状移送ピン330および装着ス
トロー(流体と共に)がテストチューブの上部をクリア
するように上昇される。ボートとテストチューブが隣接
するテストチューブの分離距離に等しい量だけ位置決め
システム100により前進される。管状移送ピン330
とストロー302が感受性テストチューブ30B内に降
下され、その際移送ピン330に加えられた真空が開放
され、ストロー302の流体内容が感受性テストチュー
ブ30B内に降下するようにする。この時点で、管状移
送ピン330がストロー302を吐き出すように管状移
送ピンハウジング内の位置に移動され、ストローが感受
性テストチューブ内に落下する。次に、移送ピンアセン
ブリー316がホッパ304の高さまで逆に上昇され、
水平位置に回転され、この工程は反復される。
アセンブリー316および移送ピン330用の関連する
モータと真空システムが詳細に図示される。特に、図2
6を参照すると、モータ322がバルクヘッドの背後に
装着され、更に駆動ベルト324を有し、このベルトは
プーリ326とACMEねじまたは親ねじと技術的に呼
ばれるねじ込みシャフト362を回転させる。移送ピン
板361が一対のカラー364を介してねじ込みシャフ
トに装着される。モータ322がシャフト362を回転
させる方向に依存して、板361と装着移送ピンアセン
ブリー316が、移送ピン330がハウジング304内
のストロー退行スロット350と同じ高さにある上部位
置とストロー302が移送ピンアセンブリー316の下
部に配置された容器から流体を退行させる位置にある下
部位置の間で2つのピラー359の上または下のいずれ
かに滑動される。
る第二のモータ360が移送ピン板361の後部に装着
され、そして移送ピン330がストロー退行スロット3
50の方向に配向される第一位置と、ストロー302が
図1および図26に示された位置で垂直方向下方に配向
される第二位置の間で図26の矢印の方向で全移送ピン
アセンブリー316の回転のために設けられる。
ー316がピペットハウジング304から見た側面図で
示される。移送ピンアセンブリーは移送ピン開口368
を確定する移送ピンハウジング331を有する。テーパ
ー状管状移送ピン330(図28)はハウジング内の退
行位置(図27および図28に示された)と、図29に
示したようにストロー退行スロット350内のストロー
にこれが係合する図26に示した延長位置の間で往復動
する。移送ピンアセンブリー316の後部には移送ピン
作動ソレノイド370が装着されて管状テーパー状移送
ピン330を引き込みおよび延長位置の間で移動させ
る。真空源366が移送ピンハウジング331に隣接し
て装着され、そしてチューブ372を介して移送ピン3
30の端部に真空を与える。真空圧トランスデューサー
Pが設けられ、これは真空源366により生成された真
空をモニターし、ストローがテーパー状管状移送ピン3
30に装着されることを保証し、流体がストロー内に退
行され、更に十分な量の液体が移送されることを保証す
る。圧力トランスデューサーPは真空源に連通して二次
真空ライン373の端部に配置される。圧力トランスデ
ューサとしては Motorola model MP
X 5010D センサが適している。
に示した水平位置から垂直位置に回転されると、ストロ
ー302はハウジング304内でスロット350から回
転される。次に、モータ322は、ストロー302がテ
ストチユーブ30Aに侵漬されるように移送ピンアセン
ブリー316を適当なレベルに降下させるように動作す
る。流体のテストチューブ30Aからの退行の後、モー
タ322は、ストロー302がテストチューブ30Aの
上部をクリアするように移送ピンアセンブリー316を
上昇させ、次に、テストチューブ30Bがストロー30
2の下方に配置された後アセンブリー316をテストチ
ューブ30B内に降下させる。ストロー302を除去す
るために移送チューブ330は移送チューブハウジング
331に退行される。ストロー302の直径は移送ピン
開口368の直径より僅かに大きく、ストロー302を
移送ピン330として移送ピン30から外れるように強
制し、図28に示した位置に移送ピンハウジング331
内に退行される。この実施例においては、ストロー30
2はテストチューブ30B内に降下する。次に、移送ピ
ンアセンブリーは水平位置に逆に回転され、ハウジング
304内のストロー退行スロット350のレベルに上昇
され、工程は次の組のテストチューブに対して反復され
る。
方法を開示したことが明らかになるが、この方法は、内
部面を有し、その内部にストロー退行スロット350を
確定する円筒状ハウジング304内にストローを配置
し、ストローをハウジングの内部領域の周囲周りに走査
すると共にストローをストロー退行スロット350内に
走査し、ストローが円筒状ハウジング350から除去さ
れない時間の間にストロー退行スロット350の前面に
障害物(例えば、水平スライド314)を配置し、更に
ストローが前記円筒状ハウジングから除去される時間の
間にストロー除去スロット350の前部から障害物31
4を除去するステップとで構成される。移送ピンは、こ
れが障害物314によりストロー退行スロット350に
維持されるときストローに係合し、障害物314がスロ
ットから除去されたときストローをスロット350から
ピペット動作のための位置に回転させる。ストローをス
ロットから回転除去する他の方法が移送ピンの直線状退
行運動により実現されることは明らかである。
ムを開示するが、これは、複数個の中空ストローを収容
すると共にストロー退行開口350を確定するハウジン
グ304と、先端部分を有するテーパー状管状移送ピン
330と、前記移送ピンに接続された真空源と、更に前
記移送ピン330に対する駆動機構とで構成される。駆
動機構は、移送ピンをストロー退行開口350に向け、
それから離れるように第一軸線に沿い移動させるソレノ
イド370手段であって、ピンの先端部分は、移送ピン
330がストロー退行開口330に向けて移動されると
きストロー退行開口350に配置されたストローに係合
するソレノイド手段と、移送ピンとストローを容器30
の上で垂直方向に組付け状態で回転させる手段と、更に
ストローが容器内の液体と接触して配置されるように移
送ピンとストローを降下させ、真空が移送ピン330に
加えられたとき容器330から流体を退行させるように
移送ピンを移動させる手段322とで構成される。
て説明する。
ード28をテストチューブからの流体試料で真空ロード
する操作が行われる。真空室402で生成された真空は
カード28のウェルでのバブルの形成を防止するように
制御される。このようなバブルは光学ステーションによ
るウェルの読み取りの精度で干渉することが出来る。好
適な真空ローディング手段が図30に概略図示してあ
る。真空充填ステーション400は次のような構成要素
からなる。
P/N:SAA-V110-NB,115VAC,50/60 Hz,29.5 INCHHg max.Va
cuum:1.75cfm open flow)と、(2)比例真空制御弁4
22(Honeywell/Skinner P/N:BP2EV0006, 12-24VDC,0-
5 VDC Control.0.078 インチ径オリフィス)と、(3)
4方向直接作用ソレノイド弁424(Humphrey P/N:42
0, 24VDC,60 scfm at 1100 PSIG inlet pressure, 24 V
DC, 250 インチ径オリフィス)と、(4)空気フィルタ
426(Norgren P/N:F39-222EOTA, 4 scfm at 100 PSI
Ginlet pressure, 0.01 micron filtration)と、
(5)絶対圧トランスデューサ428(Dara Instrumen
ts P/N:XCA415AN, RANge:0-15 PSIA, 5 VDC Excitatio
n, 0.25-4.25 V F.S.O., +/-0.5% of F.S.O. Combined
linearity & hysteresis, +/-0.3% of F.S.O. Repeatab
ility)と、(6)標準試料調整ノード(SPN)印刷
回路板430と、(7)真空チューブ432, 0.250 イ
ンチ内径と、からなる。
は、真空室402を上昇および降下させるステップモー
タ438および関連するベルト、およびねじ込みシャフ
ト442を有する。光学的エンコーダ434および光学
的割り込み装置436は、真空室402がそれぞれその
上部および下部位置にあるとき検出する。
は4−ウエイソレノイド弁424に装着されたフィルタ
/マフラ444を通してフリー空気を引き張る。カード
28をボート22に充填するため次のシーケンスが生じ
る。真空室402が試料カードと共にボート22上に降
下される。比例および真空制御弁422が100%開放
される。4方向ソレノイド弁424が付勢され、空気が
空気フィルタ426および4方向ソレノイド弁424を
通して真空室402からポンプされる。絶対圧トランス
デューサ428は真空室402圧力の減少を計測し、比
例連続変化電圧出力をSPNボード430に送出する。
連続変化電圧は規則的な間隔でSPNボード430によ
りサンプルされ、変化速度はプログラム速度と比較され
て真空室をポンプダウンする。
22は可能ならより高い制御電圧を送られてより広く開
放し、また真空ライン406への空気漏れの大きさを増
加させる。変化速度が余りにゆっくりのときは、比例制
御弁422はより低い制御電圧を送られクローズダウン
し、また真空ライン406への空気漏れの大きさを逓減
させる。圧力の変化速度の制御は、真空が余りに速くは
吸引されないことを保証し、これはテストチューブ30
内にスプラッシングとバブルをもたらすことが出来る。
これは、室が通気されたとき空泡がカード28に入るこ
とをもたらし、カードの光学的分析に干渉する。
02圧力の計測を継続し、SPNボード430に比例圧
力電圧を送出し、一方4方向ソレノイド弁424は消勢
される。0.90PSIAの真空ターゲット(またはセ
ットポイント)圧力が得られると、真空ポンプ420は
オフにされ、比例弁422は5秒間完全に閉成される。
これは、真空室の圧力が、5秒一時停止期間の間試料流
体がテストカード28の中におよびそれか移送されるの
に十分な程上下に変動する可能性を防止するものであ
る。
402圧力の計測を継続し、比例圧力電圧力をSPNボ
ード430に送出し、一方比例弁422は、プログラム
された圧力の増加変化速度が実現されるまで5秒の真空
一時停止期間の終わりに徐々に開放される。
化電圧は定期的な間隔でSPNボード430によりサン
プルされ、大気圧力に戻る変化速度は所定のプログラム
速度と比較される。変化速度が余りに速いときは、比例
弁422は可能ならより低い制御電圧を送られてクロー
ズダウンし、真空ライン405への空気の漏れの大きさ
を減少させる。変化速度が余りに遅いときは、比例制御
弁422は可能ならより高い制御電圧が送られ、より広
く開放され、真空ライン406への空気漏れの大きさを
増加させる。この定常制御ガス抜き動作は、流体試料
が、カード28のウェル内でのバブルの形成の危険を減
らすように、そしてカード28の完全な充填を保証する
ように試料カード28に流体試料が吸引されることを許
容する。比例弁422が大気圧への完全な復帰時に10
0%開放され、真空室402がボート22から上昇され
るとき開放のまま保持される。これは、残留する真空が
室402に発生し、室402内でボート22を上昇させ
ることを防止するためである。比例弁が閉成され、シス
テムはサイクルを反復する準備状態になる。
クルがグラフの形で示される。秒当たり約−0.54±
0.07PSIAの直線ドローダウン曲線450、0.
90PSIAにおける5秒一時停止期間452、および
秒当たり約+0.45±0.07PSIAの直線通気速
度曲線454に注目されたい。
と真空室402の内側の周囲大気媒体の間の相対圧力が
0PSIと仮定する。実際には、充填サイクルを通して
真空室におけるテストカード28の内側対テストカード
28の外側での非常に小さな圧力差が存在するべきであ
る。しかしながら、真空室の内側と外側での圧力変化を
考えると、次のようなサイクル情報が図示実施例に適用
される。初期:局部大気圧(局部気圧と共に変化す
る)。開始充填サイクル:−0.53+/−0.07P
SI/sec(23−30秒ポンプダウン)。真空一時
停止:約5秒。大気圧に復帰:+.53+/−0.07
PSI/sec(23−30秒復帰)。これより早い大
気速度への復帰は、いくつかのテストカードの充填が不
完全であることをもたらすことが出来る。終了:局所大
気圧(始めと同じ)。
ードをロードする方法が与えられ、これは、テストチュ
ーブ30内の前記流体試料と流体的に連通するテスト試
料カード28を配置し、真空室402内のテストチュー
ブ30内にテスト試料カード28と流体試料を配置し、
更にほぼ一定で所定の割合で真空室402内の圧力をセ
ットポイントの真空レベルまで降下させるステップで、
この割合は(例えば、図31に示されたように)真空レ
ベルの間にカードから空気が除去されるにつれ空泡が流
体試料に形成されることをもたらさないように選択され
るステップとで構成される。真空は所定の時間長の間セ
ットポイントレベルに維持され(図31に示されたよう
に)、空泡がカードの流体試料に形成されることを回避
するように所定の速度で開放される。
テップは自動化試料テスト機械の真空ステーション40
0で行われ、この機械はロードステーション(例えば、
ベースパンの前部右角)から前記真空ステーション40
0まで機械内で移動自在な試料トレイ22を有する。
たように、真空室内での圧力の降下速度が所定の速度で
生じることを保証するように動作する真空室402と連
通する真空制御弁422を有する。
された流体テスト試料と流体的に連通して配置されたテ
スト試料カード28に対する真空ロードシステム400
が開示されるが、これは、真空源と連通する真空室40
2であって、その底部周辺により低い周囲封止面を有す
る室と、テストチューブ30内にカード28と流体テス
ト試料を収容し、真空室402の下部周囲封止面に封止
係合する周囲面23を有するトレイ22と、トレイ22
をロードステーションから真空室402に移動させる位
置決めシステム100とで構成される。トレイ22が室
402の下を移動されることを許容するように、かつト
レイ22が真空室402からインキュベーションステー
ション600に移動されることを許容するように真空室
402を上昇、降下させる駆動システム410または手
段が設けられる。室402が下部位置にあるとき、その
下部エッジはトレイ22の周囲面23に係合し、真空が
室402内で生成されることを可能にする。
ションの動作特徴について説明する。
と、図1、図5、および図6に最良に示したように、カ
セット26が移送チューブ切断および封止ステーション
500を通して移動される。成形されたニクロム線50
6がマイクロプロセッサ制御定電流源(図示せず)を用
いて移送チューブを通しての切断のため正確な温度に加
熱される。
06を過ぎて移動されて、ワイヤの切断を許容すると共
にカード28に近接する移送チューブ28を封止し、外
部移送スタブを形成する。移送チューブ30の残部は、
図6のボート22の一番右手側に示したように、使い捨
て用のテストチューブ内に残される。
/プーリー/駆動ベルト駆動アセンブリー502(図
1)により上昇、降下される板504を有する機構に装
着され、ワイヤ506が経路から移動されて未切断移送
チューブが切断および封止ステーション500を過ぎて
移動されることを許容する。この機能はバッチロード多
重カセットに対してまたはエラー復元目的に使用するこ
とが出来る。
スト試料位置決めシステムと協同で、ボート22が高温
切断ワイヤ506を過ぎて前進されると直ちに多重移送
チューブがほぼ切断されることを可能にする。確実な封
止を与える移送チューブ32の切断の制御は、定電流源
を用いて高温切断ワイヤ506の熱出力を制御し、かつ
ボート22とカセット26がワイヤ506を越えて移動
される速度を制御することにより実現される。ワイヤ5
06の電気的特性は予め決定されているので、かつ電流
を一定に保持し、ワイヤがプラスチック移送チューブ3
0を通過する速度(すなわち、モータ48Cの速度)を
制御することにより、ステーション500は簡単かつ正
確に移送チューブ32の切断および封止を制御すること
が出来る。この熱制御の設計は非常に簡単であり、温度
校正を必要としない。ワイヤ506は非常に急速に加熱
し、従ってワイヤは全ての時間にわたって残される必要
はない。この特徴は安全性とエネルギー保存という利点
を与える。
止ステーションにおいては、金属のブロックは従来の温
度制御装置に接続された熱電対を埋設したカートリッジ
ヒータを備える。これはかなり高価でかさばった装置で
あり、キャリブレーションを必要とし、一度に1つのス
トローだけを切断するものであり、長い絶えずオンの加
熱時間を要求する。一方、本発明の封止ステーション5
00はより小形であり、より確実であり、製造がより安
価である。ステーション500は、従来のように温度を
制御するよりもむしろ、切断/封止ワイヤ506に付加
され、熱を制御する定電流源により電力を制御する。熱
は、電力(P)=I2 Rなので電流の自乗の関数であ
る。通常は、定電流源の設定は工場で一度設定され、現
場設置した後そこで調整される必要はない。次に、試料
カード移送ステーションの動作特徴について説明する。
た後、それらはカルーセル600に挿入され、インキュ
ベートされる。カードは、定期的に、カルーセルのスロ
ットから除去され、光学的読み取りステーションに移動
されて読み取られ、カルーセルに戻され、またはスタッ
キング使い捨てシステムに送出される。カルーセルおよ
び光学的ステーションおよびスタッキング使い捨てシス
テムの間でカードを移動させるために応答出来る機構は
図1および更に詳細に図32に示されたように、試料カ
ード移送ステーション700である。
ナに対する試料カード移送ステーション700が立面図
として示してある。このステーション700は支持体7
06のバルクヘッドに装着されたカバー板704を有す
る駆動アセンブリー702を備える。好適な実施例にお
ける光学的読み取りシステム800は透過率サブステー
ション802およびバルクヘッド706に装着された蛍
光ステーション804から成り、その外観は図32に示
してある。試料カード28は駆動アセンブリー702に
よりカルーセル604の上部から光学的読み取りシステ
ム800により移動され、カード28が更にインキュベ
ーションおよび読み取りを必要とするときはカルーセル
604に逆に移動される。カードが十分にインキュベー
トされているときは(光学的読み取りシステム800か
らのデータの分析に基づいて)、カード28は光学的シ
ステム800の左にカードリジェクトトレイ902(図
3および図4)に移動される。
709の背後に位置づけられ、ダッシュ線で示されたス
テップモータ708から成る。モータ708は、一連の
ローラ712にわたり歯710’を有するエンドレスの
ほぼ非弾性的な駆動ベルト710を移動させるタイミン
グプーリー711を駆動する。ベルト710は、1組の
ローラ712によりカバー板704の上部で支持され
る。ローラ712を通しての経路が図32のダッシュ線
で示してある。ベルト710は、カバー板704の上部
を横切り、かつ光学サブステーション802および80
4の光学系の下を通過することを見出すことが出来る。
駆動ベルト710は、カバー板704の上部に沿いカー
ド28の底エッジに係合する。適切な駆動ベルト710
は、Gates Rubber Co.から得ることが
出来る。
(押縁)718がベルト710および光学的読み取りシ
ステム800の上に設けられる。レッジはカード28の
上部エッジを受けるスロット720を有する。レッジ7
18とスロット720はカードの移動方向を規定する。
カード28がカルーセル604から押し出されると、カ
ード28はスロット720とベルト710の間の空間に
滑り配置される。カバー板704、ステップモータ70
8、および駆動ベルト710を有する全駆動アセンブリ
ー702は支持バルクヘッド706に対して移動自在で
ある。相対移動を許容するため、一組のキャリッジとス
ライドアセンブリー716が設けられ、それらの1つが
図34に更に詳細に示してある。図34に示したよう
に、各々のキャリッジおよびスライドアセンブリー71
6はボルト734によりバルクヘッド706に装着され
たスライド730を有する。キャリッジ726は4個1
組のねじ724によりカバー板704に装着される。キ
ャリッジ726は溝732に沿い滑動する玉軸受728
により滑動部材730に対して滑動する。好適な実施例
においては、キャリッジおよびスライドアセンブリー7
16の2つがカバー板704の各々の側に設けられる。
を付勢することによりレッジ718に向けて付勢され
る。ばねは、バルクヘッド706に装着されたピンに係
合する上部端部713およびカバー板704に装着され
たピンに係合する底部端部715を有する。全体で3個
のばね714が好適であり、カバー板704の中心およ
び側面に配置される。ばね714の各々は、3個のばね
に対して全体が49.5lbs/inに対して16.5
lbs/inのばね定数を有する。ばね714の目的
は、カードの高さの許容変動の場合のように、ベルト7
10によりカード28に対して常に適切な上向きの圧力
を維持することにある。駆動ベルト710は、ベルトが
カード28の底部に係合するように、かつスロット72
0に沿いカードを移動させるように十分な上向き力を与
えなければならないが、駆動モータによる結合をもたら
す程大きくはなく、小さ過ぎない力を与えなければなら
ず、これはベルトがカードの底部に対して滑動をもたら
すものである。ベルトの移動がカードの移動に直接変換
されるようにカードに対して適切な上向き力を維持する
ことにより、ステップモータ708による正確な運動は
光学系800に対してカード28の正確な運動をもたら
す。この正確な運動は透過率サブステーション802の
動作と関連して更に詳細に説明する。
02とバルクヘッド706が、図1のカルーセル604
およびインキュベーションステーション600に向かっ
て眺めて、側面図で示してある。カバー板704の上部
におけるローラ712は図示のようにスロットを形成
し、これはカード28の底部エッジを支持するように作
用する。カード28はレッジ718のスロット720と
ベルト710の間に滑り配置される。ばね714による
カード28に対する上向き力は、カード28がベルト7
10とカード28の間で意味のある滑りなしに駆動ベル
ト710によりレッジ718に沿い滑動されるように、
ベルト710がカード28の底部エッジを把持すること
をもたらす。滑動を容易にするためにスロット720は
Delrinなどの低摩擦材料から形成され、または低
摩擦コーテイングが施される。カード28の底部エッジ
は、ベルト710がローラ712を越えて前後に移動す
るときベルト710がカード28を捉持することを十分
に可能にするため、平行突出リッジなどの刻みのある組
織面を備えることが出来る。
ード移送システム700にカードを配置するために、カ
ルーセル604からカード28を押し出す押圧機構64
8が設けられる。図35はカルーセルバルクヘッド65
2の前面に装着された押圧機構648を示すカルーセル
604の斜視図であり、かつ図36はバルクヘッド65
2の後部から見た機構648を示す。押圧機構648は
バルクヘッド652に装着されたアラインメントブロッ
ク654と、このブロック654に対して前後に揺動す
るドライバ656を有する。ギア662を有するモータ
648がバルクヘッド652の背後に装着される。ギア
662の歯は、ギア662の前後の回転が、ドライバ6
58がブロック654の下部スロット666と上部スロ
ット668の間の空間において矢印664(図36)に
より示された方向に移動することをもたらすようにドラ
イバ656の1組の歯658と協同動作する。ドライバ
656の端部はカルーセル604の上部スロット614
と整合するように配置される。ドライバ656がスロッ
ト614に圧入されるようにドライバ656がモータ6
48により動作されると、スロット614内のカード2
8はスロットからレッジ718と駆動ベルト710の間
の空間に押し出される。(カード28をカセット26か
らカルーセルにロードする揺動カム機構の構成と動作は
押圧機構648のものとほぼ同じである。)スロット6
14がドライバ656とレッジ718に隣接して適切に
配置されるようにカルーセル604の回転を制御するよ
うに光学的検出器650(図35)がスロット614の
直ぐ上に設けられる。
の上部でカード28をスロット614から滑動させ、カ
ード28を最上部右駆動ローラ712Aに隣接する駆動
アセンブリー702の最右手エッジに配置する。ステッ
プモータ708が前方に動作され(タイミングプーリ7
11を反時計方向に回転させる)、駆動ベルト710が
左に移動することをもたらし、かつカード28が透過率
サブステーション802に向け左に移動させる。
ン802に達すると、透過率サブステーションの光学的
割り込みLEDはカード28のベースにおいて光学的割
り込み開口112(図32)を通して放射を送出する。
光学的割り込み検出器は放射を検出し、モータ708を
停止させる制御システムへの信号を送出する。モータ7
08が停止すると、カード28のウェル110の第一カ
ラムは透過率サブステーション802の8個1組の透過
率LEDに直接対抗して配置され、これらはカード28
のウェルのカラムの透過率テストを行う。
透過率光学系が壁の幅を横切り一連の位置で個々のウェ
ルを照明するようにベルト710を一連の小さなステッ
プで迅速に移動させるように動作する。カード28のこ
の正確な運動は壁110に対する大きな組のデータを与
える。ウェル110を横切る多重位置における透過率テ
ストはウェル内のエアポケットまたは堆積物の検出を含
み、データ処理システムが異常透過率測定を検出し、恐
らく排除することを可能にする。
8のウェルの全てが透過率サブステーション802によ
る透過率テストを受けた後、モータ708とベルト71
0はカード28を蛍光サブステーション804に滑動さ
せ、そこでウェル110の蛍光テストが行われる。
存して、モータ708およびベルト710を逆方向に移
動させることによりカルーセル604に戻されるか、あ
るいはモータ708とベルト710が動作され、カード
を駆動アセンブリー702の左手エッジへの全ての経路
を移動させ、カード28をカード使い捨て機構900に
配置する。
および下部)エッジを有する試料カード28を試料テス
ト機械20におけるインキュベーションステーション6
00から読み取りステーション800へ移送する方法が
開示され、これは、試料カード28を(1)レッジ71
8のスロット719であって、カードの前記上部エッジ
を受け、かつカード移送方向を確定するスロット719
により、また(2)スロット719に平行に配置され、
カード28の底部エッジを支承する駆動ベルト710に
より確定された滑り嵌め空間に配置するステップと、駆
動ベルトと、カードおよびスロットの間で圧力を維持す
るようにレッジに向けて駆動ベルト710を付勢(ばね
714により)するステップと、ベルト710に対して
カード28の実質的な滑りなしにカードをスロット71
9を通して光学的ステーション800に滑動させるよう
に駆動ベルトをカード移送方向に移動させ、これにより
タイミングプーリ711とステップモータ708による
ベルトの正確な運動に起因する光学システムに対するカ
ードの正確な移動を許容するステップとで構成される。
を参照すると、カード使い捨て機構900はトレイ90
2を有し、このトレイにおいてカードは、それらが試料
カード移送システム700を出るにつれスタックされ
る。レッジ718はその最左手端部に傾斜部719を備
える。カード28がカバー板704を過ぎトレイ902
の上に移動されると、カード28の上部右手ショルダー
114が傾斜部719に当接して配置される。トレイ9
02はカバー板704の上部においてベルト710の高
さよりわずかに低くなり、スラント719に対する上部
ショルダー114の配置を援助する。生じた力Fは駆動
ベルト710および傾斜部719によりカード28に付
与され、カード28が駆動アセンブリー702からカー
ドリジェクトトレイ902にスナップアウトされること
をもたらす。
特徴について説明する。
ーション804が機械20から分離された斜視図として
示される。サブステーション804はヒンジ808を介
して光学ヘッド810に装着された選択反射アセンブリ
ー806を有する。光学ヘッド810は蛍光照明源トカ
ード28内のウェル100のカラム内の中間6個のウェ
ルの間で6個の光学チャンネルを確定する複数個の面開
口812を有する。光学チャンネルの配置と個数はラン
プサイズ(または個数)とカード28内の試料ウェルの
形状に依存する。フラッシュランプカセット816内に
は照明源が配置される。LEDと検出器はカード28の
ベースに沿う光学的割り込み開口112と協同動作し
て、前面開口と反射アセンブリーの間の空間にカードを
正確に配置する。
的反射アセンブリー806は開口812に平行に配置さ
れる。カード28は前面開口812と反射アセンブリー
806により確定される空間内で前後に移動される。
トル803を前後に移動させるステップモータ801を
有する。光学的シャトルには反射器852と固体基準8
50が装着される。反射器と固体基準850の目的は以
下に更に詳細に説明される。
リー806の前部がステーション804の残部から分離
され、平面図として示してある。光学的シャトル803
は一対のガイド807Aと807Bに沿い前後に移動す
る。正常な動作においては、シャトル803は、反射器
852が光学ヘッド810の開口812に直接対向して
配置されるような位置にある。光学ヘッド810の検出
器の校正が行われるときは、モータ801は、固体基準
850が開口812に対向する光路内に配置されるよう
にシャトル803を移動させる。選択反射アセンブリー
ハウジングはカード28に対する光学的割り込み開口1
12に対するLEDに対するハウジングを有する。ばね
クランプ805が設けられ、アセンブリー806が閉成
状態にあるとき選択反射アセンブリーをヘッド110に
確保する。
の後部を示す。選択反射アセンブリー806は図39C
において側面図として示してある。シャトル803の背
後にはウェル1000がステップモータ801からのシ
ャフト(図示せず)に対して設けられる。ステップモー
タシャフトはウェルのギャップ1002を通過し、光学
シャトル803の後面から上向きに延在するピース80
9に確保される。カバー板(図示せず)はねじ孔100
1に装着することによりウェル1000をカバーする。
ステップモータ801のシャフトの前後の運動はシャト
ル803がガイド807Aと807Bに沿い前後に滑動
することをもたらす。
シュランプカセット816は細長いキセノン直線フラッ
シュランプを保持し、これはカード28のウェル110
内に配置されたフルオロフォアに対する蛍光照明源とし
て用いられる。フラッシュランプカセット816は高圧
電源820に接続される。フラッシュランプ824はラ
ンプの現場での置き換えを許容する高電流容量接続をな
している。これはフラッシュの間に生成される高いパル
ス電流(350A以上)によるこのランプの種類に独自
のものである。
814と電子モジュールが装着される。フラッシュラン
プカセット816は、図40に更に詳細に示されるイン
タフェースブロック854とランプホルダ856を有す
る。
ブステーション804がフラッシュランプ824と6個
の光ダイオード検出器の軸線に垂直な断面図として示し
てある。フラッシュランプカセット816はキセノンラ
ンプ824を収容し、これは細長い円筒状放物線状反射
ミラー822の焦点に装着される。フラッシュランプ放
射Rは、コールドミラー826から365nmフィルタ
ー828に反射され、このフィルターは放射Rをろ波
し、フルオロフォアの励起波長の放射を通過させる。コ
ールドミラー826およびフィルター828に対するフ
ィルター仕様がそれぞれ図42および図43に示してあ
る。フィルター828を通過した後、放射Rは二色ビー
ムスプリッタ830からその光学経路833に沿い、ま
た開口812からカードウェル110に反射される。ウ
ェル110を通過する任意の放射は選択的反射アセンブ
リー806の反射器852から、逆にウェル110に反
射される。放射はウェル110内のフルオロフォアを励
起し、フルオロフォアが簡単に放射を出すようにする。
この放出放射は図41にダッシュ線で示してある。放出
放射は二色ビームスプリッタ830を通し、集光レンズ
836と帯域フィルタ838を通して光ダイオード検出
器840に至る。6個の光学チャンネルに対する全てに
6個の光ダイオード検出器が設けられる。
を増強し、光路を二倍にすることにより光学的クロスト
ークを最小にする。更に、カード28が光学的割り込み
による蛍光ステーションによる読み取りに対して配置さ
れると、カード内のウェルはウェルの光学的分離を促進
して光学的クロストークを最小にし、蛍光信号を最大に
するように配向される。カード28の材料は不透明でク
ロストークを最小にするものが好適であり、白色で蛍光
信号を最大にするものが好適である。
ォアの励起波長に対して十分反射的であり、放射の約9
5%をウェル110に反射する。しかし、二色ビームス
プリッタ830はフルオロフォアの放出波長の放射に対
して十分透過的であり、フルオロフォアからの放射の殆
どを同じ光路833に沿い検出器840上に透過する。
ないランプ824からの放射の約5%は光路834に沿
いミラー832に透過される。ミラー832は放射を集
光レンズ836Aと帯域フィルタ846を通して基準光
ダイオード検出器844に反射する。基準検出器844
がピーク検出回路814により用いられ、基準検出器8
44により検出された信号により除算された検出器84
0により検出された信号の比を計算する。ランプ824
の出力は時間を越えて変化するが、基準検出器844の
出力により除算されたチャンネル検出器840の出力の
比は一定のままであり、すなわち時間にわたりランプ出
力の変化とは無関係である。基準チャンネル844は、
ランプ強度の変化を補償することに加えて、ランプ82
4が蛍光光学系の適切な動作に対して十分な光を与えて
いるかを決定するために用いることが出来る。システム
は、基準検出器844におけるランプ出力をモニタする
ことにより、ランプ824が変化されることを必要とす
る時点を自動的に決定することが出来る。
ー806はまた、固体基準850が光路833内に移動
されるときフルオロフォアの放出波長で放射を出す固体
基準850を有する。好適な固体基準の構成が図44に
示してある。好適には、固体基準850は、ガラス板8
53の間にサンドイッチされ、ガラスの前面にわたって
配置された450nmフィルタ8851を有する燐光性
ユウロピウム源555である。
の励起および放出が波長の関数として示してある。励起
曲線895からユウロピウムは200と約375nmの
間の励起放射に応答することに注目されたい。このよう
にして、ユウロピウムはウェル110内のフルオロフォ
アを照明する波長、すなわち約365nmで励起され
る。ユウロピウム放出スペクトル896は約455と4
60nmの間にピークを持ち、これはカード28のウェ
ル110内のフルオロフォアの放出波長とほぼ重なる。
かくして、固体基準850が光路833内に配置され、
フラッシュランプ824がフラッシュされると、固体基
準850はカード28のウェル110内のフルオロフォ
アのものに類似の放出波長で放射を発する。かくして、
固体基準850は、以下に説明するように、検出器84
0の出力の校正を補償するために用いられる。図44の
ユウロピウム固体基準の外に他の種類の固体基準を用い
ることが出来るのは勿論である。放出波長の選択はウェ
ル内で用いられるフルオロフォアの種類に依存する。
ンプカセット816が分解組み立て図で示してある。フ
ラッシュランプカセット816はフラッシュランプ82
4に対する放物線反射器822を受けるランプホルダ8
56を有する。フラッシュランプ824は一対の調整片
858に装着され、装着ねじ864により適切に確保さ
れる。調節片858は一対の調節ばね860と調節ねじ
862を受ける。調節ねじ862はインタフェースブロ
ック854の開口を通過し、調節片858に着座する。
調節ねじ862を弛め、締めつけることにより、ランプ
824の長軸を円筒状放物線反射器822の焦点に置く
ように円筒状放物線反射器822に対してのフラッシュ
ランプ824の傾斜が調節される。インタフェースブロ
ック854は、フラッシュランプ824からの放射がイ
ンタフェースブロック854から、そしてコールドミラ
ー826(図41)から、そして二色ビームスプリッタ
830と試料ウェル110に向けて放出されることを許
容する開口857を有する。
0が示される。図46Aは、カード28から見た光学的
ヘッド810の、これが蛍光サブステーション804を
通過するときの、表面の平面図である。ヘッド810
は、開口812および光学的割り込み開口81が配置さ
れるヘッド板866を有する。光学的割り込み開口の背
後に光検出器が配置され、カード28が蛍光サブステー
ション804内に正確に配置される時点を決定するため
カード28の光学的割り込み開口112と組み合わせて
用いられる。ここで図46Bを参照すると、ヘッド板8
66の後部が示してある。コールドミラー826および
二色ビームスプリッタ830が光学的ヘッド板866内
に配置され、カード28のウェルのカラムの中間6個の
ウェルと整合して平行に配置された1組の6個のチャン
ネル837を長さ方向に横切って延在する。勿論当業者
には明らかなように、光学ヘッドはウェルのカラム内の
ウェル毎に1つのチャンネルを、カラムの最端歩におけ
るウェルを含んで設けてもよい。
と、図41のレンズ836および836Aはレンズホル
ダ片848により保持される。レンズホルダ848が図
47Aの上部平面図で、図47Bに底部平面図で、図4
7Cに側面図で、更に図47Dに端面図で示してある。
レンズホルダ848は二色ビームスプリッタ830の背
後に嵌合するピーク部分849を有する(図41および
図46B参照)。彎曲壁839の基部にはレンズ836
が配置され、これは図46Bのチャンネル837と協同
動作してレンズ836と検出器840および844の間
に光学的経路を形成する。壁部839は隣接するチャン
ネルからの光をブロックすることにより隣接するチャン
ネル間のクロストークを防止する。
るフラッシュランプ824の関係が示してある。フラッ
シュランプ824は、ランプ824のアノードとカソー
ドの間の間隔が光学ヘッドの6個の開口812の間の距
離より大きか、または等しくなるような十分な長さであ
る。図47はまた、6個の開口812に対する光学的割
り込み811と基準チャンネル874の相対配置を示
す。フラッシュランプ824は、ランプがフラッシュす
ることをもたらすランプ824の表面周りにラップされ
たトリガワイヤ825を有する。適切なフラッシュラン
プ824は、ILC Technology Inc.
から得ることが出来る。
蛍光光学系804は、光学ヘッド810とレンズホルダ
848の背後に装着される光学的インタフェースブロッ
ク868を有する。光学器インタフェースブロック86
8はランプ824からの放射(図41)がブロック86
8を通し、コールドミラー826から通過することを許
容する開放領域870を有する。ブロックの後部が図4
9Aに示され、またこれは、カードの6個のウェルから
の放射に対する6個のチャンネルまたは経路872と、
ランプ824からの放射834に対する基準チャンネル
または経路874を有する。図49Aのダッシュ線で示
されるように、ブロック868の後部には光ダイオード
検出器ボード842が装着される。図49Bを参照する
と、ブロック868の前部はレンズホールダ848をブ
ロック868に装着する1組の装着ピン878を有す
る。図41の445nm帯域フィルタ838は、基準チ
ャンネル874に対する365nm帯域フィルタ846
と同様に、ブロック868に確保される。
ド検出器ボード842が平面図で示してある。ボード8
42が図41および図49Aに示したようにブロック8
68の後部に装着されたとき6個の光ダイオード検出器
840が6個のチャンネル872に直接わたって配置さ
れる。光学的割り込みLEDからの光がカード48の光
学的割り込み開口112を通過する時点を検出する光学
的割り込み検出器882が設けられ、蛍光サブステーシ
ョン804におけるカード28の適切な整合を表示す
る。
2の後ろ側は、光ダイオード検出器840と844の出
力を受け、これらの信号をピーク検出器814電子回路
に通過させる従来の回路トレース880を有する。
ク検出器814はブロック図の形で示してある。図の右
手側において、6個の光学チャンネルCH1,CH2,
CH3,CH4,CH5,CH6は6個の光ダイオード
検出器からの入力を表す。これらの信号は、光ダイオー
ドからの電流を電圧信号に変換する1組の6個の検出器
と固定利得増幅器884に入力される。基準チャンネル
入力信号が検出器と増幅器884Aに供給される。検出
器および固定利得増幅器の出力は1組の可変利得増幅器
886Aに入力される。同様に、検出器増幅器884A
の出力は可変利得増幅器886Aに入力される。可変利
得増幅器886および886Aは出力信号を1組の電子
ピーク検出器888に供給する。
標準的教科書、The Art of Electro
nics,p.218、図4.40に書いてあるピーク
検出器と同じである。標準回路は、トランスコンダクタ
ンス増幅器が標準の演算増幅器の代わりに第一ステージ
増幅器として用いられる点でわずかに修正される。この
装置は、回路888が最小の信号歪みで非常に高速で動
作することを許容するボルテージ−イン、カレント−ア
ウト増幅器である。
器により緩衝され、多チャンネル入力アナログ−デイジ
タル(A−D)変換器890に供給される。基準チャン
ネルからのピーク検出器888Aの出力は同様に緩衝さ
れ、A−D変換器890の基準入力892に供給され
る。データバス894が設けられ、これはA−D変換器
890の出力をマイクロプロセッサ−ベースコントロー
ラボード(図示せず)に送出し、そこで6チャンネルお
よび基準光検出器からの信号の処理が行われる。特に、
コントローラボードは、基準チャンネルの出力により除
算された6チャンネルCH1乃至CH6の出力の比を取
り、これによりランプ824の出力とは独立な相対蛍光
測定を計算する。
されると、ランプ824は10回などの一連の回数25
Hzの割合でフラッシュされる。フラッシュの後、A−
D変換器890は基準に対する各チャンネルの比を計算
し、コントローラボードは結果を読み取る。10フラッ
シュの後、結果は各チャンネルに対して平均化される。
この工程が6チャンネルの各々に対して行われる。
ク検出器888および可変利得増幅器886に供給す
る。検出器の校正時には、コントローラボードは、検出
器の初期校正がなされたとき出力信号に整合する各チャ
ンネルに対する出力信号を与えるように可変利得増幅器
886を調整する。例えば、機械の設置時には、チャン
ネルは対照解を重点されたウェルを有するカードで校正
され、検出器の初期読み取り値はメモリに格納される。
線が示してある。応答曲線897は問題の400乃至5
00nm領域において0.2と0.35の間の通常のス
ペクトル応答(A/W)を有する。図53には、445
nmの通過フィルタ838の特性(図41)が示してあ
る。透過率曲線898は445nmにおいて最大50%
の透過率を有する。この透過率曲線は440nm以下お
よび450nmより高い領域で鋭く降下し、ストレイ放
射が光ダイオード検出器840に入射しないようにす
る。
タ830の反射仕様が示してある。反射曲線899は3
65nmのフラッシュランプ出力波長において95%の
反射率および5%の透過率を示す。反射曲線は、約38
0nmの上でフルオロフォアの放出周波数、約445−
450nmにおける約6.5%の反射率および93.5
%の透過率の低さまで鋭く降下する。かくして、図54
から、二色ビームスプリッタ830はフラッシュランプ
824からの励起放射に対しては十分に反射的である
が、カードウェル110および固体基準850における
フルオロフォアからの放出放射に対しては十分に透過的
である。
収容された複数個の試料の蛍光分析を行う方法が記述さ
れていることがわかる。ウェルのカラムにウェル110
が配列され、放出波長におけるフルオロフォア放出放射
を含有する。この方法は、励起波長において放射を出す
直線フラッシュランプ824に隣接して(すなわち、光
路に)ウェルのカラムを配置するステップと、励起波長
における放射であって光路に沿い伝搬する放射でウェル
を同時に照明するようにランプ824をフラッシュする
ステップと、フラッシュランプからの放射の要部を基準
光検出器844に送出するステップであって、基準光検
出器が応答的に出力信号を生成するステップと、光路に
沿う放出波長におけるウェルからの放射を複数個の検出
器840で受けるステップであって、検出器が応答的に
検出器出力信号を生成するステップと、更に、基準84
4出力信号に対する検出器840出力信号の比を比較
し、これによりランプの出力とは無関係なウェル内のフ
ルオロフォアの蛍光を決定するステップとで構成され
る。好適な実施例においては、ウェルに対する蛍光デー
タを生成する実質的な組のデータ点を生成するようにラ
ンプ824が動作されて一連のフラッシュを(例えば、
10)迅速な繰り返しでフラッシュする。
について説明する。
サブステーション802が立面図として示してある。サ
ブステーション802は最高3個の透過率光源770
A、770Bおよび770Cを有し、それらの各々は8
個のLED源(ウェルのカラムにおける各々のウェルに
対して1つ)と、光学的割り込みLED源とで構成され
る。光源770A−Cはカード28内のウェル110の
カラムの間の分離距離に等しい分離距離Dだけ互いに分
離される。3種の異なる波長における透過率テストを可
能にするように3個の光源770A−Cが設けられる。
光源770Aが図56の斜視図で示してあり、カード2
8のカラム方向の隣接ウェル110間の距離に等しい距
離Lだけ互いに分離された8個のLED797を有す
る。光学的割り込みLED789はカード28のベース
に沿い光学的割り込み112を通して光を照明する。3
個の光源770A−Cの背後には1組の3カラムの透過
率検出器が配置され、公知の方法で、LED797と7
89からの放射を収集し、透過率データをコントローラ
ボードに供給する。
70Aおよびその関連する検出器791が、図55のラ
イン57−57に沿って取られた断面図で示される。L
ED源797が公知の方法で基板798に装着され、開
口793を通して光790を試料ウェル110に送出す
る。放射は光ダイオード検出器791に入射し、これも
また公知の方法で基板792に装着される。検出器79
1が、検出器770Aに垂直方向に直接対向して延在す
るハウジング795に装着される。ビーム790とウェ
ル110の寸法の間の関係が透過率測定の1つに対して
図57Bに示してあり、ウェル長はビームサイズより長
く、透過率測定が、カードが透過率ステーションを過ぎ
て移動されるにつれウェル内の多重位置で行われること
を可能にする。光源770Aと検出器795の構成は透
過率ステーション802における他の2つの光源と検出
器に相対するものと同じである。
めに、カード28は光源770Aに対して一連の小さな
増分で、例えば10または14位置で迅速に移動され、
かつウェル110の多重照明が各位置において取られ
る。現在好適な透過率の照明テストはウェル110の全
体幅を横切る14個の等距離位置であり、10個の照明
事象が14位置の各々で得られる。このテストは全ての
ウェルに対して最高3つの異なる透過率波長で行うこと
が出来、大きな組の透過率データを与える。
セル604から移動されるにつれて、カード内の第一カ
ラム110’が第一波長のLEDを有する光源770C
に移動され、これによりステップ当たり14個の移動ス
テップおよび10個の照明事象が行われる。次に、カー
ド28は、カラム110’が第二の波長のLEDを有す
る光源770Bに対向して配置される。光源770Bは
第一カラム110’を照明し、光源770Cは第二カラ
ムを照明する。次に、カード28は、カラム110’が
第三波長のLEDを有する光源770Aに対向して配置
されるように移動され、ここで光源770A−Cの全て
はウェルの3カラムを同時に照明するように協同動作す
る。カード28は、全てのカラムが3つの組の波長で透
過率照明を受けるように左に前進される。LEDのカラ
ムは、必要なときは、1カラム内に最高8個の異なる波
長を含むことが出来る。最後のカラムが光源770Aに
より照明されると、カード28は蛍光サブステーション
804に移動され蛍光テストに供される。
ブステーション802の動作は、カード28が、右から
左の代わりに左から右にステーション802を通して移
動されるように制御され得る。更に、所望に応じて、よ
り少ないまたはむしろ大きな個数の透過率源770を用
いることが出来る。
捨てステーションの動作特徴について説明する。
試料カード使い捨てステーション900が、上記からわ
かるように、また図3におけると同様の斜視図で、斜視
図の形態で機械20から分離されて示されている。図5
9〜図62は、ステーション900の各種の構成要素を
より良く図示するために、マガジン902の高さの上お
よび下の双方で、各種の付加的な斜視図の形でステーシ
ョン900を示す。
テーション900は、左または前部支持体904、右ま
たは後部支持体906、およびおよびそれぞれ前部およ
び後部支持体904および906の間に配置された着脱
自在マガジンまたはカードトレイ902を有する。マガ
ジン902は前部および後部支持体904および906
から主動で着脱自在である。マガジン902は底面90
3、側部905および907、および後部支持体906
に隣接する端部909を有する。マガジンは、ステーシ
ョン900に設置されると、図61および図62に最良
に示されるように、水平支持体936に静置される。
される準備が出来ているとき、カードはカードエントラ
ンススロット901でステーション900に入る。押板
908がカードエントランススロット901の他側のマ
ガジン902の前端部に対向して設けられる。押板90
8は図58に示した退行位置と延長位置の間でカードエ
ントランススロット901内を前後に往復動する。押板
908が退行位置にあるとき、カード28が試料カード
移送ステーション700(図3および図32)からのス
ロット901内に挿入される。
してマガジン902の側部905および907に一対の
弾性スナップ要素910Aおよび910Bが成形され
る。押板908がその延長位置に移動されると、カード
エントランススロット901のカード28はスナップ9
01を過ぎて押板により押圧され、更に圧板914とス
ナップ910の間に直立してスタックされる。カードが
既にマガジン902にロードされていると、カードは、
図63に示したように、かつ以下に更に詳細に示すよう
に、スナップ910と圧力板914の間に配置されたカ
ードのスタックにスタックされる。
高さにあるマガジン902の底部の上に配置されたカー
ド当接部915を有する。圧力板914は、これが、付
加的なカードがマガジン902にスタックされるにつれ
マガジン902の後部909に向け移動されるように一
対の圧力スライド(またはガイドレール)916および
918に沿い移動自在である。
部材936に装着される(図60、図62、図66)。
図58に示したようにマガジン902がステーション9
00に装着されると、リテイナ912は支持体904と
906の前部および後部の間でマガジン902を確保す
る。マガジン902は側部907にハンドル部分940
を有し、これは、ユーザがマガジン902を捉持し、リ
テイナ912にわたって滑動させ、これによりマガジン
902をステーション900から上昇させ、マガジン9
02にスタックされたカードの使い捨てに供する。マガ
ジン除去動作の間にカード28の1つとの偶然の接触を
防止するためにマガジン側部907の最下部にハンドル
940が配置される。
ト926が設けられて後部支持体906に対して圧力ス
ライド916および918を確保する。光学センサ92
4がトレイ902の端部909に隣接し、その下方にあ
る後部支持体906に装着される。センサ924は、圧
力板914がマガジン902の後部にずっと配置された
時点を検出し、完全なマガジン902を表示する。
ップモータ950が前部支持体904の背後に装着され
る。モータ950は押板908を、上記のようにカード
エントランス901に対して延長および退行位置の間で
前後に移動させる。押板908はカードのスロット90
1への挿入を容易にする鋭角のカード滑動面919を有
する。ラッチ930がブラケット934により前部支持
体904に装着される。ラッチ930は、カードがカー
ドエントランススロット901に入り易くするカード滑
動面931Aを有し、ラッチ930をピボットピン93
2周りでピボットさせる(図62)。ラッチ930の重
量は、カード28がテストカード移送ステーション70
0から自由であり、スタッキング使い捨てステーション
900中にあることを補償するウエッジング効果を用い
て、第2カード当接面931Bがカード28をスロット
901に圧入することをもたらす。
使い捨てステーション900が、図58の圧力板914
とラッチ930を除去した状態で斜視図の形で示され
る。スナップ910Aは傾斜面911と後部面913を
有する。押板908がスナップ910Aに対してカード
を押圧すると、カードは傾斜面911に係合し、カード
がスナップ要素910Aを過ぎて押圧されるように弾性
スナップ910Aを外向きに屈曲させ、この点で弾性ス
ナップ910Aは図59に示した位置に逆に復帰する。
この位置で、カードは圧力板914によりスナップ91
0Aの後部面913に対して押圧される(図58)。ス
ナップ要素910Bの構造と動作はスナップ要素910
Aに対して丁度開示したものと同じである。
ーション900がステーション900の支持体906の
わずかに下方で、それに向けて斜視図の形で示される。
トレイリテイナ912が、マガジン902を支持する水
平支持部材936に装着される。水平支持部材936
は、ねじまたは他の適切な締結装置によりそれぞれ前部
および後部支持部材04と906に装着される。垂直補
強支持部材938が設けられ、水平支持部材936とマ
ガジン902の質量を支持する。
一対の圧力スライド916および918により圧力板9
14が装置900に装着される。圧力スライド916と
918は相補的開口により圧力板914に受け取られ
る。金属コイルからなる定力ばね920は左支持体90
4に対して固定された第一端部と、圧力スライド914
のポケットに受容された第二端部を有する。マガジン9
02にカードを1つづつロードするにつれ、圧力板91
4はトレイ902の後部909に向け、右手に向けてス
テップワイズに移動される。しかし、定力ばね920は
マガジン902内で圧力板914の位置とは無関係な
(そして従って、マガジンにロードされたカード数とは
無関係な)力によりスナップ910に向け前方に圧力板
914を連続的に付勢する。
た逆側で、ステーションの側部の下方からまたわずかに
それに対して再度示される。圧力板914はその後部面
から外向きに延在するフラグ要素922を有する。マガ
ジン902が十分にロードされると、圧力板914がマ
ガジン902の端部に移動され、後部支持体906に隣
接するフラグ922の存在が光学検出器924により検
出される。図62に最良に示したように、光学検出器9
24は後部支持体906に配置される。
ド当接面915を有し、これはカードスロット901に
挿入されたカードの中心位置に対して押圧する。図62
はまた押板908に対する駆動アセンブリーを示す。モ
ータ950は押ラック954の上部エッジの相補歯に係
合する1組の歯を有するピニオンギア951を有する。
押ラック954はねじ956を介して押板908の後部
に装着され、押スライド952上を前後に滑動する。モ
ータ950、ピニオンギア951、および押ラック95
4の動作は、押板908が図62に示した退行位置と延
長位置の間でカードエントランススロット901内を前
後に移動することをもたらし、そこでは押板908が弾
性スナップ要素910Aおよび910Bを過ぎてカード
を押圧する。
図で、スタッキング動作を更に詳細に示した図である。
テスト試料カード28がカードスロット901にロード
されると、それは図63にダッシュ線で示した位置2
8’に配置される。モータ950は、押板908がその
延長位置に移動することをもたらし、カード28を弾性
スナップ要素910Aおよび910Bの傾斜面911に
対して押圧する。これは、スナップ910がダッシュ線
で示したように外向きに曲げ、スナップ要素910と圧
力板914の間に配置されている他のカード28”に対
してカードを押圧し、スタックする。モータ950の力
は圧力板914をマガジン902の後部に向けて押圧す
る。カード28がマガジン902にロードされた後、モ
ータ950は押板908を退行させるように動作し、そ
れにより他のカード28がカードスロット901にロー
ドされることを許容する。
面図で示してある。カード28は、読み取りステーショ
ン800において光学分析を受ける複数個の試料ウェル
110を有する。カード28の上部エッジには傾斜ショ
ルダ114が設けられる。カード28のカードエントラ
ンススロット901へのロード動作が図65に示してあ
り、これは図63のライン65−65に沿うステーショ
ン900の断面図である。上記のように、試料カード移
送ステーション700はカバー板704に装着された一
連のローラ712に沿い駆動ベルト710を駆動するス
テップモータを有する。カード28はバルクヘッドに装
着された駆動ベルト710とレッジ718の間に滑り配
置される。レッジ719はカード28の上部エッジを受
ける内部カードスロットを有する。カードスロットはレ
ッジ718の最左手端部に傾斜部719を有する。カー
ド28がカバー板704の端部を過ぎて移動されると、
カード28の傾斜ショルダ114はバー板704の上部
におけるベルト710の高さよりわずかに低くされ、傾
斜719に対して上部ショルダ114の配置を援助す
る。生じたピンチ力Fは駆動ベルト710および傾斜部
719によりマガジン902の方向でカードに付与さ
れ、カード28が駆動アセンブリー700からスロット
901にスナップ嵌めされることをもたらす。
たは前部支持体904が斜視図の形で分離して示してあ
る。左支持体904は圧力板914に対するガイド91
8および916を受ける一対の貫通孔972および97
4を有する。図60および図67に示した垂直支持部材
938に対して一対の装着孔943Aが設けられる。水
平支持部材936を確保する一対の装着孔927が設け
られる。支持体904はマガジン902の左手遠端エッ
ジを支持するレッジ970を有する。支持体904の側
部のテーパ部分975はマガジン902のステーション
900への挿入を容易にする。支持体904は押板90
8用の開口を確定する壁部971を有する。
斜視図の形で示してある。マガジン902の左手側90
7の大きなスナップ910Bの位置は、カード28の外
面に存在する移送チューブ32のスタブにそれが干渉し
ないようにセットされる。スナップ要素910Aおよび
910Bは、それらがマガジン側の成形部分をなすよう
に設計される。マガジン902の底部面903は一対の
突出リッジ要素976、979を有し、これらはカード
28をマガジン902の底面903のわずかに上に支持
する。マガジンは、カードがリークした場合に少量の流
体を保持するように設計される。好適には、マガジン9
02はポリカーボネートから形成される。この材料は高
温に耐えることが出来、オートクレーブ可能であり、ス
ナップ要素910Aおよび910Bに対して優秀なたわ
み特性を有する。ポリカーボネートは割れなしに変形さ
せることが出来る。従って、スナップ910Aと910
Bは、カードがスナップにわたって押圧されるとき破断
されることはない。
38が分離して示してある。支持体938は支持体93
8を左支持体904に装着する装着用ねじを受ける一対
の孔943を受ける。孔941は後部支持体906に支
持体908を装着するために設けられる。孔939は水
平支持体936に支持体938を締結するために設けら
れる。水平支持体が図69に示され、これは垂直支持体
938を水平支持体936に装着するファスナに対する
1組の3個の凹部935を有する。水平支持体は1組の
孔929を有し、これらは水平支持体936を左または
前部支持体904に装着するねじと、支持体936を後
部支持体936に装着する1組の孔931を受容する。
孔913は図58のマガジンリテイナ912用のネジを
受ける。
と、定力ばね920が圧力板914のポケット920A
に設置され、これによりばね920に対する軸を排除す
る。ばね920は、これが、圧力板914のカード当接
面915に対して押圧するカードによりもたらされるモ
ーメントの逆方向にモーメントを与えることにより圧力
板914の拘束を防止する援助をなすように配置され
る。圧力板914にガイド916用の孔916Aを設
け、これにより2つのガイドレイル916および918
の平行調整が楽になる。アセンブリー900の下にはス
ライド916および918が設けられ、これによりそれ
らはユーザから離れて配置されるようになる。
板914はカード当接アーム982を有し、これはカー
ド当接面915、圧力スライドガイドレイル918を開
口918Aに受けるスライドカラー983、およびスラ
イドカラー983をカード当接アーム982に結合する
一体部981を有する。圧力板914が設置されると、
カード当接部982はトレイ902の底部の上に配置さ
れ、一体部981は側部905に隣接するマガジン90
2の外側に延在する。マガジン902がステーション9
00に挿入されると、マガジン902の側部905はカ
ード当接アーム982の下に滑動する。
力板アセンブリーの力の分析から、圧力板914がトレ
イ902の後部に向けて移動し、拘束されないために
は、押板908によりカード当接面915上に付与され
た力Faは点dおよびeにおいて圧力板914に印加さ
れた摩擦力より大きくなければならない。dおよびeに
おける摩擦力はカラー983の中心である点Cの周りに
生成されたモーメントにより供給される。スライドロッ
ド918に支持されるカラー部983内の面の長さL
は、カラー部983とスライド916の間の摩擦力がカ
ード28上に押板908により印加された力より常に小
さくなるように十分長く選択される。これは、圧力板9
14の拘束を防止する。圧力板914と圧力スライド9
16および918の間の遊び嵌めはANSIで好適な孔
に基づくメトリック遊び嵌めNo.H8/f7として与
えられる。好適な実施例においては、圧力板914は、
摩擦係数が0.25の White Aceton G
P が選択される。板914は開口918Aの中心と5
9mmのカード当接面915の中心の間で高さHを有
し、長さLは14.75mmより大きくなければなら
ず、好適には21.4mmである。スライドレイルとカ
ード当接アームの間の距離Hに対するカラー983の長
さ(dからeまでの距離)の比は、カラー983とレイ
ル918の間の摩擦力が常に押板908により印加され
た力より小さくなるように選択され、これにより圧力板
914が拘束されないようにする。
一部が化学的に汚染されるため、好適には腐食を防止す
るステンレススチールシャフトである。好適には、圧力
板914は、洗浄が必要かを決定する援助をなす軽カラ
ー材料が選択される。
形で示される。押板は、カード28の上部および底部に
当接する上部および下部カード当接面1002および1
000を備える。押板908はWhite Acetr
on GPなどの摩擦係数を持つライトカラー寸法安定
プラスティックで形成される。上部および下部傾斜面9
19は図58に示したカードスロット901へのカード
28の挿入を容易にする。押板908の後側から外方に
延在して、水平に延在する確保部材917は、図62に
示したように、押ラック954から押板を装着するため
に設けられる。好適には、押ラック954はまたWhi
te Aceton GPから形成される。
ライド952は押板モータ950を受ける中央開口95
3を有する。1組のスロット付きモータ装着孔963が
押スライド952に設けられる。スロット付き装着孔9
63は、モータ950のギア951がノイズを生成しな
いようにモータ950位置への調節を許容する。押スラ
イド952はまた、押板908が退行位置にある時点を
検出する光学センサ(図示せず)を受ける光学センサ装
着開口964を有する。押スライド952はまた、押ラ
ック954を受ける開口962を確定するC字状押ラッ
クスライド960を有する。水平支持面966が設けら
れ、これがC状スライド960内でモータ950により
前後に滑動されるとき押ラック954の後端部を支持す
る。押スライド952が図72Bに立面図で示してあ
る。押スライド952は図72Cで側面図として示して
ある。図71を参照すると、フラグ要素921は押板9
08の後面から水平に延在する。押板がその退行位置に
あるとき、フラグ要素921は押スライド952の開口
964に設置された光学センサにより検出される。
モータ950のピニオンギア951により係合される1
組の歯を有する。1組の装着孔958が設けられて押ラ
ック954を押板908(図71)の装着部材917に
確保する。
00のファームウエアコードが設計され、ステップモー
タ950が押板908をその退行位置からその延在位置
まで移動させるために取るステップ数を計数し、更に押
板908をその退行位置に逆に退行させるステップ数を
計数する。この計数工程はカードスロット中の障害物を
検出する機能に用いられる。例えば、ファームウエアコ
ードは押板908をその延在位置に移動させる140ス
テップを計数する。押板908がその退行位置に退行さ
れると、プログラムは、センサが押板908の後部のフ
ラグ919を検出するまで押板908を逆に移動させる
ステップ数を計数する。次に、コードはステップイン数
に対するステップアウト数を比較する。それらが一致し
ないときは、ステップ数が一致しないかのジャムが存在
しなければならないという仮定の下でサイクルが反復さ
れる。10サイクルの後ステップ数が一致しないとき
は、手順は中断され、ユーザはジャム状態について通知
される。好適には、モータ950に対するギアサイズ
が、モータ速度を最大にし、押板速度を最小にし、これ
により比較的高いカウント数を与えるように選択され
る。モータ950を制御するエレクトロニクスは必要な
トルクを与えるチョッパドライバを用いる。
取りシステムについて説明する。
て、機械20によるカードの処理を容易にするスタンド
アロンカセット識別ステーション80が設けられる。ス
テーション80は、モニタ84、装着キーボード86、
およびバーコードリーダ88を有するコンピユータ端末
からなる。従来のホストCPUとメモリーがステーショ
ン80に収容され、これらは図示してない。ホストCP
Uはメニュー駆動ソフトウエアプログラムを動作させ、
これは、技術者がカード28の各々に係わるべき患者ま
たは試料情報を入力するように促す。ステーション80
は、これが機械20または他のコンピュータと連絡する
ことを許容するデータポートを有する。
および/またはキーボード86を介して技術者から患者
および試料データを受け、この情報をそのメモリに格納
し、更にテスト試料カード28の上部に適用されたバー
コード89とこの情報を関係付ける。ステーション80
は、カード28に適用されたバーコード89を読み取る
バーコードリーダ88を有することが出来る。カードが
読み取られた後、ユーザはカード28に係わる患者また
は他の情報を走査または入力することが促される。バー
コードード83は情報のタイピングを最小にする最も共
通に入力されたデータを備える。各々のカード28が読
み取られ、それに係わる情報がステーション80のコン
ピュータにロードされた後、技術者はカード28をカセ
ット26にロードする。
ース部分は図示のようにカセット26を滑り嵌めに受
け、カセット26を配置するように成形された輪郭が与
えられ、従ってカセット26の後部に装着された2つの
タッチボタンがステーション80に対するタッチボタン
データ書き込み端子82とタッチ接触するように配置さ
れる。全てのカード28がカセットにロードされた後、
全てのカードに係わる情報が端子82を介してタッチボ
タンにロードされる。ここでカセット26は機械20の
ボート22へのロードの準備が完了する。
マウント34の側部に装着されたタッチボタンリーダ端
子85からなる機械内の情報取り出しステーションで読
み取られる。ボート22がベースパン24に沿い移動さ
れるにつれ、タッチボタンはリーダ端子85に当接する
ようになる。タッチボタンからのデータはリード87を
介して機械20に対する中央処理ユニットに送出され、
これはデータを光学ステーション800からの光学デー
タに関係付ける。
は更にカード28に適用されたバーコード89を読み取
るバーコード読み取りステーション90を有する。バー
コードは中央マウント34に固着されたバーコードリー
ダ支持構造92に装着されたバーコードリーダ90によ
り読み取られる。バーコードは、カード28がカセット
26内にロードされたとき、バーコードはカード28の
「上部」に沿って与えられるような位置でカード28に
適用され、そこではそれらはより容易に読み取ることが
出来る。
部に沿い左に前進されると、それらは支持片96に装着
されたホイール94からなるカード分離装置94の下方
を通過する。支持片96はピン98を介して中心マウン
ト34に装着されたバルクヘッドに装着される。支持片
96は図76の矢印により示されたようにピン98周り
に枢支することが許容され、カード28がホイール94
の下を通過するときホイール94がカードの上およびそ
れを越えて乗ることを許容する。ホイール94は、カー
ド28に乗り上げ、それを越える工程において、図76
に示したようにカードを傾斜位置にロックし、または押
し入れ、そこでそれらはバーコードリーダ90により更
に容易に読み取ることが出来る。特に図76を参照する
と、アカード28Cがホイール94の下を通過するにつ
れ、ホイールはそのスロットのカード28Cを傾斜姿勢
に押し圧する。ホイール94はカードの上部に乗りそれ
を越え、かつ同様の動作を次のカード28Dに行い、カ
ード28Eをダッシュ線に示した位置28Eに押し込
む。カセット26の隣接壁70の間の壁70の高さと距
離は、カード28に対する十分な揺動運動を許容する
が、カセット26のカード28の配置において余りに多
くの役割をそれ程生成しないように選択される。
ディングステーションと希釈ステーション200の間で
機械の前部側に沿い配置される。この位置で、読み取り
ステーションはカードを試料で充填する前にテストの有
効性をチェックすることが出来る。これは、テスト試料
がオペレータまたは計器エラーの場合にセーブされるこ
とを許容する。
されるカード28に対する識別装置が設けられ、カード
28はそれに適用された機械的読取可能インジケータ
(例えば、バーコード89)を有し、複数個のカード2
8を収容するカセット26、機械20内に配置された機
械的読取可能インジケータ89に対する読み取り装置9
0、更にカセット26がカード分離装置94に対して移
動されるにつれ互いから分離する機械20におけるカー
ド分離装置94とで構成され、カード分離装置94はカ
ードに印加された機械的読取可能インジケータ89を遠
隔的に読み取る読み取り装置90を援助する。
にロードされ、カセット26は機械内の装置94に内側
に配置され、それに対して移動されるときカード28の
ほぼ上部の高さに配置された本体からなる。カード分離
装置94は、カード分離装置およびカセット/カード組
み合わせが互いに移動するにつれカセット26のカード
スロットの傾斜位置にカードを押圧し、傾斜位置はカー
ドリーダ90によるカード28の遠隔読み取りを読み取
る。
がホイール94を過ぎて前進されるにつれホイールの下
をカード28が通過することを援助するように、ホイー
ル94がカード28に対して垂直方向に上下することを
許容する機械に枢支装着される。
置が設けられ、これは、テスト試料カード28の各々に
より識別される機械的読取可能インジケータ89、機械
20内でカードを搬送する前記カセット26に印加され
た機械的読取可能記憶装置(例えば、タッチボタン)、
機械的読取可能メモリ(例えば、タッチボタン)上にテ
スト試料カードに関する情報を格納するカセット26に
ロードされるべき複数個のテスト試料カードに対する機
械的読取可能インジケータ89を読み取る情報ロードス
テーション80、および機械的読取可能記憶装置に格納
された情報を取り出す試料テスト機械における情報取り
出しステーション85とで構成される。
明する。
械20の構成と動作について詳細に開示したが、機械自
体は審美的目的、かつ安全性に対するユーザフレンドリ
ー、かつアトラクテイブなパネルカバーを有することが
理解出来よう。機械のホストCPUに接続されたユーザ
インタフェースは好適には前面パネルに設けられ、更に
LCD(液晶デイスプレイ)スクリーンおよびオペレー
タに装置ステータス情報を与えるタッチパッドとを有す
る。これはまた、開始テストやリクエスト情報などにも
用いることが出来、更に装置の診断を行う。
斜視図である。機械の他の特徴を更に明らかに示すため
にカードディスポーザルステーションと機械カバーパネ
ルは除去してある。
ブロック図である。
ションをより良く示すために希釈およびピペットステー
ションは除去され、スタッキングディスポーザルステー
ションは試料カード移送ステーションおよび光学系に対
する関係を示すために含まれている。
ら見た、一部断面で示した機械の端面図である。
る、ボートの上面に係合する図3の真空ステーションの
真空室の詳細な斜視図である。
カードに対する移送チューブを通して高温切断ワイヤを
切断し、それによりカードの内部を封止する状態を示
す、切断/封止ステーションの詳細斜視図である。
細な斜視図である。
である。
ートの平面図である。
1に沿う断面図である。
ートの側面図であり、カセットにより支承されるカード
に関する情報を記憶するタッチメモリボタンを受けるカ
セットの開口を示す図である。
面図である。
に詳細な斜視図である。
立面図である。
アセンブリーの分解組み立て図である。
ル弁を更に詳細に示す、一部断面で示した、図15の希
釈ステーションの分離図である。図19Bは、図19A
のシンブル弁の分離断面図である。
るときシンブル弁に対するプランジャの関係を示す、図
19Aのショットチューブおよびシンブル弁の分離断面
図である。
ときシンブル弁に対するプランジャの関係を示す、図1
9Aのショットチューブおよびthimbleチューブ
の分離断面図である。
ら除去されるピペットの機能を制御する、二つの位置の
間の水平スライドの運動を示すピペットホッパーシステ
ムの端面図である。
み立て図である。
プリングを示す、図23の回転自在ドラムの更に詳細な
分解組み立て図である。
容するようにカバーが開放揺動される状態で、ピペット
ハウジングがピペット充填位置に回転されたときの図1
のピペットホッパーシステムの斜視図である。
置に管状テーパー移送ピンアセンブリーが回転された状
態の、ピペットステーション300の立面図である。
きの管状テーパー移送ピンアセンブリーの側面図であ
る。
ー移送ピンアセンブリーの上部平面図である。
ピペットと摩擦嵌めさせる状態を示し、ピペットがピペ
ットハウジングから除去されることを許容する状態を示
す、図26のピペットホッパーシステムの要部の、一部
断面で示した、詳細図である。
0の真空室の内側の真空度の変化を示すグラフである。
ード移送システムの立面図である。
ベーションステーションの方向で見た、図32の試料カ
ード移送ステーションの側面図である。
て移動することを許容する、図32のキャリッジとスラ
イドアセンブリーの断面図である。
ルーセルのスロットからカードを押し出すプッシュ機構
の斜視図である。
機構の斜視図である。
への試料カード移送ステーションからのカードの移動を
示す立面図である。
蛍光光学サブステーションの斜視図であり、反射アセン
ブリーは光学ヘッドを更によく示すため開放位置にあ
る。
部の平面図である。図39Bは、図38の反射アセンブ
リーの後部の平面図である。図39Cは、図38の反射
アセンブリーの側面図である。
み立て図である。
図である。
関数としての反射率のグラフである。
波長の関数としてのフィルター透過率のグラフである。
ルのグラフである。
で、光学的割り込みチャンネルおよびカードの6個のウ
ェルを読み取る6個のチャンネルを示す図である。図4
6Bは、図38の光学的ヘッドの後部図である。
ルダーの上面図である。図47Bは、レンズアセンブリ
ーホルダーの後部図である。図47Cは、レンズアセン
ブリーホルダーの側面図である。図47Dは、レンズア
センブリーホルダーの端面図である。
ヘッドの光学的チャンネルの関係を示す概略図である。
スブロックの後部図であり、光学的インターフェースブ
ロックに装着された検出器ボードを示す図である。図4
9Bは、図49Aの光学的インターフェースブロックの
前面図であり、光学的チャンネルの前面の帯域フィルタ
ーの配置を示す図である。
で、光学的なインターフェースブロックの6チャンネル
の背後に配置された光ダイオード検出器を示す図であ
る。図50Bは、図50Aの検出器ボードの後面図であ
る。
なピーク検出器ボードのブロック図である。
長の関数としての応答性を示すグラフである。
る波長の関数としてのフィルター透過率のグラフであ
る。
関数としての反射率(透過率)のグラフである。
図である。
斜視図である。
ンの断面図であり、LED透過率光源、試料ウェル、お
よび光ダイオード検出器の間の関係を示す図である。図
57Bは、図57Aの透過率サブステーションに対する
試料ウェルとLED出力の立面図である。
ョンの分離斜視図である。
ションの他の斜視図であり、カードスロットとスナップ
要素を更によく示すためにラッチおよび圧力板は除去し
てある。
ッキングディスポーザルステーションの斜視図であり、
圧力板が滑動される一対のガイドレールを示す図であ
る。
の図58のスタッキングディスポーザルシステムの他の
斜視図である。
後から見たときの図61のスタッキングディスポーザル
システムの他の斜視図である。
ザルシステムの破断上部平面図で、カードスロットとス
ナップ要素にわたりカードを押圧する押圧板にカードを
挿入してスナップ要素の後面と圧力板の間の領域にスタ
ックされた他のカードを接合する状態を示す図である。
にわたる試料テスト機械と共に使用するための好適なテ
スト試料カードの立面図である。
カードのカードスロットへのローディングを示す一部断
面、立面図である。
る。
る。図70Bは、図70Aの圧力板の一部断面側面図で
ある。図70Cは、図70Aの圧力板の端面図である。
ーからの押圧スライドの斜視図である。図72Bは、図
62の押圧スライドの前部立面図である。図72Cは、
図72Bの押圧スライドの側面図である。
クの斜視図である。
リーボタン上に配置されたバーコードからの情報をロー
ドするスタンドアロンデータ入力ステーションの斜視図
である。
す図であり、中心マウントの側部に沿うタッチメモリー
ボタン読み取りステーションの配置を示す図である。ボ
ートとカセットがステーションを過ぎて移動されたとき
読み取りステーションの二つの接点がカセットの側部の
二つのタッチメモリーボタンに触れる。
またカード上のバーコード読み取りステーションにより
読み取られるときのカードとカセットの要部の側面図で
ある。
マガジン
Claims (12)
- 【請求項1】 試料テスト機械の識別装置であって、前
記試料テスト機械はテスト試料カードカセットに積まれ
た複数個のテスト試料カードを試験するものであり、前
記カセットは前記試料テスト機械に装填されており、以
下から成る試験試料機械の識別装置。 前記テスト試料カードの各々と同一視される機械読み取
り可能インジケータ;前記カセットに適用された機械的
読取可能な記憶装置;複数個の前記テスト試料カードの
ために記機械的読取可能インジケータを読み取り、前記
機械的読取可能記憶装置上に前記テスト試料カードにつ
いての情報を記録する情報ロードステーション;及び前
記機械的読取可能記憶装置に記憶された情報を取り出
す、前記試料テスト機械における情報取り出しステーシ
ョン。 - 【請求項2】 前記情報装填ステーションは更に、メモ
リーと、装置の使用者から入力された試験情報を前記メ
モリーに転送するユーザインタフェースと、前記機械読
み取り可能インジケータに対する読み取り装置と、 更に、前記ユーザインタフェースに応答して、前記メモ
リーにおいて、前記ユーザからの前記テスト情報を、前
記テスト試料カードに適用された前記機械読み取り可能
インジケータと関連づけるソフトウェアプログラムとを
具備する、請求項1に記載の識別装置。 - 【請求項3】 前記試験情報が、前記カセットに装填さ
れた前記テスト試料カード各々に伴う情報から成る、請
求項2の識別装置。 - 【請求項4】 前記的機械読取可能記憶装置は、少なく
とも1つのタッチメモリーボタンを具備している、請求
項1に記載の識別装置。 - 【請求項5】 前記機械的読取可能インジケータが、前
記テスト試料カードに適用されたバーコードから成る、
請求項4の識別装置。 - 【請求項6】 前記テスト試料カードが前記機械内で移
動しているとき前記機械的読取可能インジケータを読み
取る、前記機械内に配置された前記機械的読取可能イン
ジケータに対する読取装置を更に具備する、請求項1に
記載の識別装置。 - 【請求項7】 前記機械的読取可能インジケータがバー
コードから成り、前記読み取り装置がバーコードリーダ
から成る、請求項6の識別装置。 - 【請求項8】 前記機械的読取可能インジケータは前記
テスト試料カードの表面に適用され、かつ前記装置が更
に以下から成る、請求項1に記載の装置。前記機械に配
置された前記機械的読取可能インジケータのための読み
取り装置;及び、 前記カセット手段がカード分離装置に対して動くとき、
前記カードを互いに分離する前記機械のカード分離装置
であって、前記テストカードに適用された前記機械的読
取可能インジケータを前記読み取り装置が遠隔的に読み
取ることを援助するカード分離装置。 - 【請求項9】 前記カセット手段は、壁部により互いに
分離された複数個のカードスロットを具備し、かつ前記
カードは上部を有すると共に、前記カセット手段の前記
カードスロット内に配置され、なおかつ、 前記カード分離装置は、前記カードの前記上部のほぼ同
じ高さに配置された本体を有し、前記カード分離装置が
前記カードに対して相対的に動くとき、前記カードを前
記カードスロットの傾斜位置に押し出し、 ここにおいて、前記傾斜位置は、前記カードリーダによ
る前記カードの遠隔読み取りを容易にする、請求項8の
識別装置。 - 【請求項10】 前記カセットが前記機械で前記テスト
試料カードを処理する時、前記機械内部を移動し、前記
本体は、前記カセットが前記機械内で前記車輪を越えて
移動した時に、前記テスト試料カードを前記傾斜位置に
押し出す車輪を有する、請求項9の識別装置。 - 【請求項11】 前記車輪が、前記カセットが前記車輪
を越えて前進した時に前記テスト試料カードが前記車輪
の下を通るのを助けるために、前記テスト試料カードに
関して第一の方向に沿って前記機械が前記車輪を移動さ
せるように、前記機械に対して旋回可能に搭載されてい
る、請求項10の識別装置。 - 【請求項12】 前記機械的読取可能インジケータがバ
ーコードから成り、 前記読み取り装置がバーコードリーダである、請求項8
の識別装置。
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US6337490B1 (en) * | 1998-08-06 | 2002-01-08 | Kyoto Daiichi Kagaku Co., Ltd. | Test piece analyzing apparatus having an excessive portion removal |
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EP0994355A1 (en) * | 1998-09-23 | 2000-04-19 | Randox Laboratories Ltd. | Assay device processing instrument |
US20050279949A1 (en) | 1999-05-17 | 2005-12-22 | Applera Corporation | Temperature control for light-emitting diode stabilization |
US6692700B2 (en) | 2001-02-14 | 2004-02-17 | Handylab, Inc. | Heat-reduction methods and systems related to microfluidic devices |
US8895311B1 (en) | 2001-03-28 | 2014-11-25 | Handylab, Inc. | Methods and systems for control of general purpose microfluidic devices |
US6852287B2 (en) | 2001-09-12 | 2005-02-08 | Handylab, Inc. | Microfluidic devices having a reduced number of input and output connections |
US7829025B2 (en) | 2001-03-28 | 2010-11-09 | Venture Lending & Leasing Iv, Inc. | Systems and methods for thermal actuation of microfluidic devices |
US7010391B2 (en) | 2001-03-28 | 2006-03-07 | Handylab, Inc. | Methods and systems for control of microfluidic devices |
US6670617B2 (en) * | 2001-06-28 | 2003-12-30 | Ondeo Nalco Company | Mirror fluorometer |
US20030124539A1 (en) * | 2001-12-21 | 2003-07-03 | Affymetrix, Inc. A Corporation Organized Under The Laws Of The State Of Delaware | High throughput resequencing and variation detection using high density microarrays |
WO2003098277A2 (en) * | 2002-05-17 | 2003-11-27 | Applera Corporation | Optical instrument including excitation source |
EP2402089A1 (en) | 2003-07-31 | 2012-01-04 | Handylab, Inc. | Processing particle-containing samples |
US7601300B2 (en) * | 2003-10-28 | 2009-10-13 | BIOMéRIEUX, INC. | Compact, integrated system for processing test samples |
FR2862387B1 (fr) * | 2003-11-18 | 2006-06-09 | C2 Diagnostics | Bloc seringues pour automate d'analyse de liquides, notamment pour l'analyse sanguine |
US7588733B2 (en) * | 2003-12-04 | 2009-09-15 | Idexx Laboratories, Inc. | Retaining clip for reagent test slides |
US8852862B2 (en) | 2004-05-03 | 2014-10-07 | Handylab, Inc. | Method for processing polynucleotide-containing samples |
US10900066B2 (en) | 2006-03-24 | 2021-01-26 | Handylab, Inc. | Microfluidic system for amplifying and detecting polynucleotides in parallel |
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US7998708B2 (en) * | 2006-03-24 | 2011-08-16 | Handylab, Inc. | Microfluidic system for amplifying and detecting polynucleotides in parallel |
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US9618139B2 (en) | 2007-07-13 | 2017-04-11 | Handylab, Inc. | Integrated heater and magnetic separator |
US8133671B2 (en) | 2007-07-13 | 2012-03-13 | Handylab, Inc. | Integrated apparatus for performing nucleic acid extraction and diagnostic testing on multiple biological samples |
US8287820B2 (en) | 2007-07-13 | 2012-10-16 | Handylab, Inc. | Automated pipetting apparatus having a combined liquid pump and pipette head system |
US8182763B2 (en) | 2007-07-13 | 2012-05-22 | Handylab, Inc. | Rack for sample tubes and reagent holders |
USD787087S1 (en) | 2008-07-14 | 2017-05-16 | Handylab, Inc. | Housing |
DE102008034008B4 (de) * | 2008-07-21 | 2010-07-01 | Carl Zeiss Surgical Gmbh | Filtersatz zur Beobachtung von Fluoreszenzstrahlung in biologischem Gewebe |
US11235323B2 (en) | 2008-08-27 | 2022-02-01 | Life Technologies Corporation | Apparatus for and method of processing biological samples |
DK2331954T3 (da) | 2008-08-27 | 2020-04-06 | Life Technologies Corp | Apparat og fremgangsmåde til processering af biologiske prøver |
GB2473868A (en) * | 2009-09-28 | 2011-03-30 | Invitrogen Dynal As | Apparatus and method of automated processing of biological samples |
DE102010033825B9 (de) | 2010-08-09 | 2024-04-18 | Carl Zeiss Meditec Ag | Fluoreszenzbeobachtungssystem und Filtersatz |
DE102011016138A1 (de) * | 2011-03-30 | 2012-10-04 | Karl Storz Gmbh & Co. Kg | Vorrichtung zur Fluoreszenzdiagnose |
CA3082652A1 (en) | 2011-04-15 | 2012-10-18 | Becton, Dickinson And Company | Scanning real-time microfluidic thermocycler and methods for synchronized thermocycling and scanning optical detection |
CN103959070B (zh) | 2011-09-30 | 2017-05-10 | 贝克顿·迪金森公司 | 组合试剂条 |
USD692162S1 (en) | 2011-09-30 | 2013-10-22 | Becton, Dickinson And Company | Single piece reagent holder |
CN104040238B (zh) | 2011-11-04 | 2017-06-27 | 汉迪拉布公司 | 多核苷酸样品制备装置 |
CN107881219B (zh) | 2012-02-03 | 2021-09-10 | 贝克顿·迪金森公司 | 用于分子诊断测试分配和测试之间兼容性确定的外部文件 |
EP2841926B1 (en) * | 2012-04-23 | 2017-07-26 | Siemens Healthcare Diagnostics Inc. | Biological assay sample analyzer |
JP5995631B2 (ja) * | 2012-09-28 | 2016-09-21 | シスメックス株式会社 | 標本搬送装置、標本検査システムおよび標本搬送方法 |
JP6178161B2 (ja) * | 2013-08-21 | 2017-08-09 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | フローセル固定装置及び核酸分析装置 |
CN104101527B (zh) * | 2014-07-25 | 2017-03-29 | 安徽省一一通信息科技有限公司 | 一种样品自动处理系统的样品处理方法 |
USD814653S1 (en) | 2014-08-07 | 2018-04-03 | Becton, Dickinson And Company | Sample tube holder and components thereof |
EP3262423A1 (en) | 2015-02-27 | 2018-01-03 | Ventana Medical Systems, Inc. | Assay reaction controller magazine |
CN104655605B (zh) * | 2015-03-11 | 2017-03-15 | 厦门为正生物科技股份有限公司 | 基于检测卡的检测液智能检测装置及其方法 |
FR3035716B1 (fr) | 2015-04-30 | 2019-06-21 | Biomerieux | Machine et procede pour la detection automatisee in vitro d'analytes mettant en oeuvre une decomposition spectrale chromatique d'une reponse optique |
ES2560110B1 (es) * | 2015-06-26 | 2016-09-09 | Grifols, S.A. | Aparato para la realización automática de análisis de inmunohematología en tarjetas de gel |
CN105067806B (zh) * | 2015-08-03 | 2017-01-04 | 瑞莱生物科技(江苏)有限公司 | 一种全自动免疫荧光检测装置 |
EP3136108B1 (en) * | 2015-08-26 | 2020-12-23 | F. Hoffmann-La Roche AG | Device for loading an automated analysis system |
KR102180846B1 (ko) | 2016-03-03 | 2020-11-19 | 주식회사 엘지화학 | 리튬 이차전지용 음극 및 이를 포함하는 리튬 이차전지 |
WO2017185012A1 (en) * | 2016-04-22 | 2017-10-26 | SeLux Diagnostics, Inc. | Performing antimicrobial susceptibility testing and related systems and methods |
EP3239718B1 (en) * | 2016-04-27 | 2020-10-14 | Roche Diagniostics GmbH | Analyzer and method for loading a rack into a rack slot of an analyzer |
CN111413337A (zh) * | 2016-08-29 | 2020-07-14 | 爱威科技股份有限公司 | 镜检平台及包括其的镜检装置 |
JP6899667B2 (ja) * | 2016-11-30 | 2021-07-07 | シスメックス株式会社 | 試料搬送装置、試料測定装置、試料搬送方法および保持体 |
US10948507B2 (en) | 2016-11-30 | 2021-03-16 | Sysmex Corporation | Specimen transport apparatus, specimen measurement apparatus, specimen transport method, and holder |
EP3583419B1 (en) * | 2017-04-03 | 2020-07-15 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Biological fluid dilution devices |
WO2019050734A1 (en) * | 2017-09-05 | 2019-03-14 | Hologic, Inc. | WASTE DISPOSAL APPARATUS FOR AUTOMATED SPECIMENS PREPARATION SYSTEM |
CN107907697B (zh) * | 2017-11-10 | 2020-02-07 | 深圳市金准生物医学工程有限公司 | 自动退卡机构及单通道荧光免疫分析仪 |
CN110967496B (zh) * | 2018-09-29 | 2023-11-10 | 深圳市帝迈生物技术有限公司 | 样本分析仪 |
CN111495781A (zh) * | 2019-01-30 | 2020-08-07 | 百特国际有限公司 | 用于评估医用流体容器的视觉检查系统和方法 |
CN110106072B (zh) * | 2019-04-25 | 2022-05-13 | 珠海迪尔生物工程股份有限公司 | 一种微生物样品测试卡加样装置及加样方法 |
CN113853519A (zh) | 2019-05-22 | 2021-12-28 | 生物梅里埃公司 | 用于制造生产分析反应器的方法和系统 |
TWI735371B (zh) * | 2020-11-04 | 2021-08-01 | 致茂電子股份有限公司 | 螢光檢測系統 |
CN112964637A (zh) * | 2021-02-03 | 2021-06-15 | 深圳市康立生物医疗有限公司 | 免疫分析综合系统的自动化检测方法 |
CN113075176B (zh) * | 2021-03-17 | 2022-11-01 | 西安医学院 | 肿瘤标志物多重分析装置 |
CN114113574B (zh) * | 2022-01-26 | 2022-04-19 | 山东康华生物医疗科技股份有限公司 | 一种紧凑型一体化多通道荧光免疫定量分析仪机芯 |
CN114509575B (zh) * | 2022-04-19 | 2022-06-14 | 天津德祥生物技术有限公司 | 微流控检测装置 |
CN114755432B (zh) * | 2022-06-13 | 2022-09-16 | 北京华益精点生物技术有限公司 | 多通道荧光免疫层析分析系统及方法 |
WO2024005455A1 (ko) * | 2022-06-28 | 2024-01-04 | 주식회사 씨젠 | 자동 샘플 풀링 시스템 및 이를 이용한 샘플 풀링 방법 |
CN116853801B (zh) * | 2023-09-01 | 2023-12-08 | 常州孟腾智能装备有限公司 | 电芯托盘解锁机构及其输送线 |
Family Cites Families (29)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3476515A (en) * | 1966-04-26 | 1969-11-04 | Du Pont | Analytical test pack and process for analysis |
US3712794A (en) * | 1971-01-26 | 1973-01-23 | Farr Devices Inc | Laboratory pipette and diluter device |
NL176841C (nl) * | 1975-03-04 | 1985-06-17 | Philips Nv | Transport inrichting voor testmonsterdragers, alsmede deze dragers. |
US4038030A (en) * | 1975-04-10 | 1977-07-26 | American Hospital Supply Corporation | Profile analysis pack and method |
US4342407A (en) * | 1975-07-11 | 1982-08-03 | Dynatech Laboratories, Incorporated | Liquid dispensing apparatus |
US4118280A (en) * | 1976-05-03 | 1978-10-03 | Mcdonnell Douglas Corporation | Automated microbial analyzer |
US4448534A (en) * | 1978-03-30 | 1984-05-15 | American Hospital Corporation | Antibiotic susceptibility testing |
US4236825A (en) * | 1978-08-01 | 1980-12-02 | Gilford Instrument Laboratories, Inc. | Automatic monochromatic light absorbance measurement analyzer |
FR2571147B1 (fr) * | 1984-10-01 | 1986-11-14 | Commissariat Energie Atomique | Automate programmable pour effectuer le depot en position precise sur un support d'analyse d'une infime quantite precise de liquide |
US4710352A (en) * | 1985-09-20 | 1987-12-01 | Eastman Kodak Company | Simplified test element advancing mechanism having positive engagement with element |
DE3539372A1 (de) * | 1985-11-06 | 1987-05-14 | Meier Geb Konnerth Elinore | Vorrichtung mit wenigstens einer foerderspur zum zufuehren kleiner maschinenelemente |
US4750837A (en) * | 1986-04-11 | 1988-06-14 | Sclavo Inc. | Fluorometer with reference light source |
JPS62247260A (ja) * | 1986-04-19 | 1987-10-28 | Fuji Photo Film Co Ltd | 分析用スライド装填装置 |
CA1289856C (en) * | 1986-09-11 | 1991-10-01 | Ei Mochida | Chemical reaction apparatus |
US5053198A (en) * | 1989-02-14 | 1991-10-01 | Eastman Kodak Company | Used test element collection apparatus and method |
US5163582A (en) * | 1991-04-30 | 1992-11-17 | Andronic Devices Ltd. | Apparatus and method for aliquotting blood serum or blood plasma |
JPH04348258A (ja) * | 1991-05-27 | 1992-12-03 | Kowa Co | 多チャンネル光学測定装置 |
US5232665A (en) * | 1991-07-26 | 1993-08-03 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | Multi-linear automatic apparatus for processing immunoassays |
US5364598A (en) * | 1991-07-30 | 1994-11-15 | T-Systems, Inc. | System for sampling fluid |
EP0592624B1 (en) * | 1992-03-09 | 2001-09-19 | Accumed International Inc. | Diagnostic microbiological testing apparatus and method |
US5376313A (en) * | 1992-03-27 | 1994-12-27 | Abbott Laboratories | Injection molding a plastic assay cuvette having low birefringence |
US5260030A (en) * | 1992-06-03 | 1993-11-09 | Bio-Plas, Inc. | Calibrated pipette tip and method |
US5332549A (en) * | 1992-07-01 | 1994-07-26 | Pb Diagnostic Systems, Inc. | Assay module transport apparatus for use in an automated analytical instrument |
JPH06102151A (ja) * | 1992-09-18 | 1994-04-15 | Mitsubishi Yuka B C L:Kk | 分注装置 |
JP2812625B2 (ja) * | 1992-10-19 | 1998-10-22 | 株式会社日立製作所 | 液体試料自動分析装置 |
US5374395A (en) * | 1993-10-14 | 1994-12-20 | Amoco Corporation | Diagnostics instrument |
EP0663589A1 (de) * | 1994-01-13 | 1995-07-19 | EBNER ELECTRONIC GESELLSCHAFT m.b.H. | Verfahren und Vorrichtung zum Identifizieren von aus zugelieferten Flüssigkeitsmengen gezogenen und in Probengefässe eingefüllten Proben, insbesondere Milchproben |
US5690893A (en) * | 1994-06-10 | 1997-11-25 | Hitachi, Ltd. | Analyzer having sensor with memory device |
JPH08271527A (ja) * | 1995-03-30 | 1996-10-18 | S R L:Kk | 検体搬送用ラック |
-
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