KR100190352B1 - 기생전류에 보호되는 수직형 모놀리식 반도체 전력소자 - Google Patents

기생전류에 보호되는 수직형 모놀리식 반도체 전력소자 Download PDF

Info

Publication number
KR100190352B1
KR100190352B1 KR1019900017732A KR900017732A KR100190352B1 KR 100190352 B1 KR100190352 B1 KR 100190352B1 KR 1019900017732 A KR1019900017732 A KR 1019900017732A KR 900017732 A KR900017732 A KR 900017732A KR 100190352 B1 KR100190352 B1 KR 100190352B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
power device
type
metallization
pocket
insulating
Prior art date
Application number
KR1019900017732A
Other languages
English (en)
Other versions
KR910010700A (ko
Inventor
페를라 기우셉페
파라라 세르기오
Original Assignee
피에로 카폰셀리
에세지에세-톰슨 미크로엘렉트로닉스 에세. 에르. 엘.
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 피에로 카폰셀리, 에세지에세-톰슨 미크로엘렉트로닉스 에세. 에르. 엘. filed Critical 피에로 카폰셀리
Publication of KR910010700A publication Critical patent/KR910010700A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100190352B1 publication Critical patent/KR100190352B1/ko

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/02Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers
    • H01L27/04Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being a semiconductor body
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/02Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers
    • H01L27/0203Particular design considerations for integrated circuits
    • H01L27/0248Particular design considerations for integrated circuits for electrical or thermal protection, e.g. electrostatic discharge [ESD] protection
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/02Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers
    • H01L27/04Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being a semiconductor body
    • H01L27/08Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being a semiconductor body including only semiconductor components of a single kind
    • H01L27/082Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being a semiconductor body including only semiconductor components of a single kind including bipolar components only
    • H01L27/0821Combination of lateral and vertical transistors only

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
  • Bipolar Integrated Circuits (AREA)
  • Internal Circuitry In Semiconductor Integrated Circuit Devices (AREA)
  • Bipolar Transistors (AREA)
  • Emergency Protection Circuit Devices (AREA)

Abstract

수직형 모놀리식 반도체 전력소자는 P 타입 절연포켓(3)이 얻어지는 N 타입 에피텍셜층(2)이 중첩되는 N+타입 기판(1)을 포함한다. 그러한 포켓은 상기 전력소자의 회로부품(T1,T2,T5)을 한정하는 N+타입 영역(11,12;13;14)과 P타입 영역 영역(6,7,9,10)을 포함하는 N 타입 영역(4,15)과 P 타입 영역(8)을 포함한다. 절연포켓(3)은 접지에 연결된 제 1의 메탈리제이션(21,30)에 의해 전체적으로 덮어진다. 그러한 메탈리제이션(21,30)은 서로 다른 구성품들의 연결을 위한 금속레트(20) 또는 제2의 메탈리제이션(31)의 크로싱을 허여하기에 적당한 절연재료층(18)에 의해 보호된다.

Description

기생전류에 보호되는 수직형 모놀리식 반도체 전력소자
제1도는 본 발명에 따른 보호가 제공되지 않은 수직형 모놀리식 반도체 전력소자의 종단면도.
제2도는 기생전류에 보호되는, 본 발명에 따른 모놀리식 전력소자의 제 1의 실시예의 평면도.
제3도는 제2도의 라인 Ⅲ-Ⅲ에 따른 단면도.
제4도는 제2도의 라인 Ⅳ-Ⅳ에 따른 단면도.
제5도는 본 발명에 따른 모놀리식 전력소자의 제2의 실시예의 평면도.
제6도는 제5도의 라인 Ⅵ-Ⅵ에 따른 단면도.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
1 : 기판 2 : N-에피텍셜층
3 : P 절연포켓 6 : 베이스
11: 에미터 12 : 콜렉터
18, 40 : 절연층 19 : 접점
20 : 금속트랙 21, 30 : 제 1의 메탈리제이션
31 : 제 2의 메탈리제이션
본 발명은 기생전류에 보호되는 수직형 모놀리식 반도체 전력소자에 관한 것이다.
수직형 반도체 직접구조는 근본적으로 N+타입 기판과 그 위에 중첩되는 N- 타입 에피텍셜층을 포함하고, 거기서 N-타입 에피텍셜층에는 접지에 연결되고 돌출말단(protruding extremity)을 갖는 P타입 절연포켓이 제공된다. 상기 절연포켓은 장치의 회로부품을 한정하는 P 및 N+타입 영역을 포함하는 N 타입 영역들을 포함한다.
회로의 능동부품과 기생부품이 결합되어 있고, 기생부품은 그것과 결합되어 있는 회로의 능동부품이 스위치 온될 때 스위치 온되고, 그리고 절연포켓(P)의 중심부로 전류를 주입한다.
주입된 전류는 절연포켓을 통해 흘러 접지된 금속단자에 이른다.
만일 그러한 단자가 주입영역으로부터 멀리 떨어져 있다면, 절연포켓 자체는 전류가 접지단자에 도달하기 위해 흘러야 할 저항통로가 길어지기 때문에 전압이 상승한다.
그러한 전압상승은 비록 몇 V에 해당할지라도 직접회로의 동작을 위태롭게 할 수 있다.
아울러, 절연포켓의 전압이 상승하는 동안 N+타입 기판이 낮아지는 경우에, 그러한 영역들간의 기생접합 다이오드는 도통상태로 되어 전류가 기판에 주입됨으로써 전체의 동작이 위태롭게 된다.
그러한 회로의 성질로부터 가능한 한 많은 지점에서 포켓(P)을 접지해야 할 필요가 있다. 그러한 문제는 일반적으로 그들 사이에 접지된 금속트랙으로 절연포켓(P)상의 실질적인 수의 접지점을 연결함으로써 해결된다. 그러한 방법에 의하면, 접지점의 수가 더 커져 복잡해지고, 실질적인 사이즈가 요구되는 바, 금속접지트랙은 서로 다른 회로부품이 다수의 연결트랙에 적합해야 하기 때문이다.
본 발명의 목적은 절연포켓의 선택적인 접지점에 의해 발생되는 상기 언급된 문제점을 극복하는 것이다.
본 발명에 따라, 그러한 목적은 전력소자의 회로부품을 한정하는 N+타입영역 및 P 타입 영역을 포함하기 위한 N 타입 영역 및 P 타입 영역을 포함하며, 말단이 표면위로 돌출한 P 타입 절연포켓이 얻어지는 N+타입 기판을 포함하며, 상기 절연포켓의 돌출말단을 전체적으로 접지에 연결된 제1의 금속화로 덮어지는 것을 특징으로 하는 수직형 모놀리식 반도체 전력소자로 얻어진다.
이 방법에서 기생부품상의 절연포켓으로 전류가 주입되는 영역과 접지단자 사이의 저항통로는 어쨌든 짧고, 그리고 상기 언급된 결점을 일으키지 않는다.
본 발명의 특징은 첨부도면을 참고로 한 이하의 설명으로부터 보다 더 명백해질 것이다.
제1도에서 모놀리식 전력소자 N+타입 기판(1)을 포함하고, 기판(1)위에는 N-타입 에피텍셜층(2)이 성장되고, 상기 층(2)에서 기판의 표면위로 돌출한 말단을 갖는 P 타입 절연포켓(3)이 얻어진다. 영역(1)과 포켓(3)은 다이오드(D1)를 형성한다.
포켓(3)내에서 회로의 능동부품을 포함하기 위한 N 타입 영역(4, 15)이 얻어진다. 영역(4)내에서는 P 타입 영역(6)과 N+타입 영역(11, 12)이 얻어진다. 영역(12)은 트랜지스터(T1)의 콜렉터를 구성한다. 상기 트랜지스터(T1)의 에미터는 영역(11)에서 성취되고, 그의 베이스는 영역(6)에서 성취된다. 영역(15)내에서는 P 타입 영역(7, 9, 10)과 N 타입 영역(13)이 얻어진다. 영역(13)은 트랜지스터(T2)의 베이스를 구성한다. 상기 트랜지스터(T2)의 콜렉터 영역(10)에 차례로 연결되는 영역(15)과 포켓(3) 사이에서는 다이오드(D2)가 얻어진다.
영역(4, 15)의 바닥에서 N+타입 영역(16, 17)이 얻어진다. 그러한 영역(16, 17)은 제 1 및 제 2의 기생트랜지스터(T4, T3)의 베이스를 구성한다. 상기 제 1의 기생트랜지스터(T4)의 에미터는 영역(6)에서 성취되고, 그의 콜렉터는 포켓(3)에서 성취된다. 상기 제 2의 기생트랜지스터(T3)의 에미터는 P 타입 영역(9)에서 성취되고, 그의 콜렉터는 포켓(3)에서 성취된다.
아울러, 에피텍셜층(2)내에서는 P타입 영역(8)이 얻어지고, 영역(8)내에서는 N+타입 영역(14)이 얻어진다. 영역(8)은 전력트랜지스터(T5)의 베이스를 구성한다. 상기 트랜지스터(T5)의 에미터는 영역(14)에서 성취되고, 그의 콜렉터는 그것이 기판(1)에 도달될 때까지 에피텍셜층(2)에서 성취된다.
제1도에 도시된 회로의 동작을 설명하면, 트랜지스터(T2)가 온일 때 그것에 해당하는 기생트랜지스터(T3)도 온이고,트랜지스터(T1)가 포화일때 그것에 해당하는 기생트랜지스터(T4)는 능동적이다.
기생트랜지스터(T3, T4)가 온일때, 그들은 절연포켓(P), 영역(3)에 전류를 주입한다. 그러한 전류를 절연포켓(3)을 통해 흘러 접지된 단자에 도달한다. 만일 이 단자가 절연포켓으로 주입되는 영역으로부터 멀리 떨어져 있다면, 전류가 접지단자에 도달하도록 흘러야 할 저항통로가 길어지기 때문에 포켓의 전압이 상승한다.
절연포켓 (P)의 전압상승은 단지 몇 V에 불과할 수 있고, 그리고 절연포켓(P)에 포함된 N타입 영역(4, 15)의 전압이 낮아지게 될 때 기생트랜지스터(T3, T4)의 도통은 직접회로의 동작을 위태롭게 할 수 있다.
게다가, N 타입 영역(15)의 전압강화와 연관하여 절연포켓(P)의 전압 상승은 다이오드(D2)를 도통시킨다.
수직 전력트랜지스터(T5)의 콜렉터로 이용되는 기판(1)도 또한 트랜지스터의 포화점에서 매우 낮은 전압으로 떨어질 수 있다. 만일 기판(1)과 절연포켓(3)사이에 다이오드(D1)의 임계 도통 전압보다 더 전압차가 있다면, 다이오드(D1)는 도통되어 전체 회로의 동작을 위태롭게 한다.
기생트랜지스터 존재로 인해 발생되는 절연포켓(P)의 전압상승을 제거하기 위해 제2, 3, 4도를 참조하면, 절연포켓(P)의 돌출말단은 본 발명에 따라 금속 실리사이드층, 바람직하게는 플라티늄층이라고 불리는 메탈리제이션(21)에 의해 전체적으로 덮어지는 바, 상기 메탈리제이션(21)의 저항은 절연포켓(P)의 스퀘어당 저항보다 약 100배 더 낮은 스퀘어당 약 1Ω을 갖는다. 절연포켓(P)의 일부의 영역은 선행기술에 따라 접지에 연결된 도시안된 알루미늄 금속트랙에 도달되어 접촉된다.
이 방법에서 기생트랜지스터(T3, T4)의 누설전류는 저저항율의 통로를 통해 접지로 흐르므로 절연포켓(P)의 전압은 상승되지 않는다.
메탈리제이션(21)은 실리콘 산화막이라 불리는 절연층(18)으로 덮어져 집적회로의 서로 다른 회로부품들을 연결하고, 접점(19)에 도달하는 금속트랙(20) 부분에서 메탈리제이션(21)의 크로싱을 허용한다.
제5 및 6도를 참조하면, 본 발명에 따른 장치의 대체 실시예에서는 절연포켓(P)의 돌출말단위에 접지회로망을 형성하기에 적당한 제 1의 메탈제이션(30)이 적층되고, 상기 제 1의 메탈리제이션(30)위에는 절연층(40)과 집적회로의 서로 다른 회로부품들을 연결하는 제 2의 메탈리제이션(31)이 중첩된다. 상기 양 메탈리제이션은 바람직하게 알루미늄으로 성취되며, 상기 절연층으로는 바람직하게 실리콘 산화막이 이용된다.

Claims (11)

  1. 전력소자의 회로성분을 한정하는 N+타입 영역(11, 12, 13, 14)과 P 타입 영역(6, 7, 9, 10)을 포함하는 N 타입 영역(14, 15)과 P타입 영역(8)을 차례로 포함하며 기판의 말단이 표면위로 돌출해 있는 P 타입 절연포켓(3)이 얻어지는N+타입 기판(1)을 포함하는 수직형 모노릴식 반도체 전력소자에 있어서, 상기 절연포켓(3)의 돌출말단은 접지에 연결된 제 1의 메탈리제이션(21, 30)에 의해 완전히 덮어지는 것을 특징으로 하는 수직형 모놀리식 반도체 전력소자.
  2. 제 1항에 있어서, 상기 제 1의 메탈리제이션(21)은 금속 실리사이드로 성취되는 것을 특징으로 하는 전력소자.
  3. 제 2항에 있어서, 상기 제 1의 메탈리제이션(21)은 플라티늄 실리사이드로 성취되는 것을 특징으로 하는 전력소자.
  4. 제 1항에 있어서, 상기 제 1의 메탈리제이션(30)은 알루미늄으로 성취되는 것을 특징으로 하는 전력소자.
  5. 제 1항에 있어서, 상기 제 1의 메탈리제이션(21, 30)은 절연재료층(18, 40)으로 덮여지는 것을 특징으로 하는 전력소자.
  6. 제 5항에 있어서, 상기 절연 재료층(18)은 실리콘 산화물로 성취되는 것을 특징으로 하는 전력소자.
  7. 제 5항에 있어서, 상기 절연재료층(18)에는 서로 다른 회로부품들을 연결하는 금속트랙(20)이 있는 것을 특징으로 하는 전력소자.
  8. 제 7항에 있어서, 상기 금속연결트랙(20)은 알루미늄으로 성취되는 것을 특징으로 하는 전력소자.
  9. 제 5항에 있어서, 상기 절연재료층(40)에는 서로 다른 회로부품들을 연결하는 제 2의 메탈리제이션(31)이 있는 것을 특징으로 하는 전력소자.
  10. 제 9항에 있어서, 상기 제 2의 메탈리제이션(31)은 알루미늄으로 성취되는 것을 특징으로 하는 전력소자.
  11. 제 1항에 있어서, 상기 절연포켓(3)은 상기 기판(1)위에 중첩되는 에피텍셜층(2)에서 얻어지는 것을 특징으로 하는 전력소자.
KR1019900017732A 1989-11-17 1990-11-02 기생전류에 보호되는 수직형 모놀리식 반도체 전력소자 KR100190352B1 (ko)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
IT22428A/89 1989-11-17
IT02242889A IT1236797B (it) 1989-11-17 1989-11-17 Dispositivo monolitico di potenza a semiconduttore di tipo verticale con una protezione contro le correnti parassite.

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR910010700A KR910010700A (ko) 1991-06-29
KR100190352B1 true KR100190352B1 (ko) 1999-06-01

Family

ID=11196182

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019900017732A KR100190352B1 (ko) 1989-11-17 1990-11-02 기생전류에 보호되는 수직형 모놀리식 반도체 전력소자

Country Status (5)

Country Link
US (1) US5221855A (ko)
EP (1) EP0429131A3 (ko)
JP (1) JPH03173169A (ko)
KR (1) KR100190352B1 (ko)
IT (1) IT1236797B (ko)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE69126618T2 (de) * 1991-11-25 1998-01-08 Cons Ric Microelettronica Integrierte Brückenanordnung mit optimierten Übertragungsleistungsverlusten
EP1172848A1 (en) * 2000-07-14 2002-01-16 STMicroelectronics S.r.l. Integrated semiconductor structure
US7156115B2 (en) * 2003-01-28 2007-01-02 Lancer Partnership, Ltd Method and apparatus for flow control

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3517280A (en) * 1967-10-17 1970-06-23 Ibm Four layer diode device insensitive to rate effect and method of manufacture
US4174562A (en) * 1973-11-02 1979-11-20 Harris Corporation Process for forming metallic ground grid for integrated circuits
US4106048A (en) * 1977-04-27 1978-08-08 Rca Corp. Integrated circuit protection device comprising diode having large contact area in shunt with protected bipolar transistor
FR2492165A1 (fr) * 1980-05-14 1982-04-16 Thomson Csf Dispositif de protection contre les courants de fuite dans des circuits integres
IT1210916B (it) * 1982-08-05 1989-09-29 Ates Componenti Elettron Transistore integrato protetto contro le sovratensioni.
EP0109996B1 (fr) * 1982-11-26 1987-06-03 International Business Machines Corporation Structure de résistance autopolarisée et application à la réalisation de circuits d'interface
JPS59108326A (ja) * 1982-12-14 1984-06-22 Sanyo Electric Co Ltd 集積回路
IT1214806B (it) * 1984-09-21 1990-01-18 Ates Componenti Elettron Dispositivo integrato monolitico di potenza e semiconduttore
FR2575333B1 (fr) * 1984-12-21 1987-01-23 Radiotechnique Compelec Dispositif de protection d'un circuit integre contre les decharges electrostatiques
US4825278A (en) * 1985-10-17 1989-04-25 American Telephone And Telegraph Company At&T Bell Laboratories Radiation hardened semiconductor devices
JPS63114261A (ja) * 1986-09-11 1988-05-19 フェアチャイルド セミコンダクタ コーポレーション トランジスタ用の自己整合型ベース分路
US4883772A (en) * 1986-09-11 1989-11-28 National Semiconductor Corporation Process for making a self-aligned silicide shunt
GB2204445B (en) * 1987-03-06 1991-04-24 Texas Instruments Ltd Semiconductor switch
US4999684A (en) * 1988-05-06 1991-03-12 General Electric Company Symmetrical blocking high voltage breakdown semiconducotr device
US4864379A (en) * 1988-05-20 1989-09-05 General Electric Company Bipolar transistor with field shields

Also Published As

Publication number Publication date
KR910010700A (ko) 1991-06-29
JPH03173169A (ja) 1991-07-26
IT8922428A1 (it) 1991-05-17
EP0429131A3 (en) 1992-01-08
US5221855A (en) 1993-06-22
IT1236797B (it) 1993-04-02
IT8922428A0 (it) 1989-11-17
EP0429131A2 (en) 1991-05-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100282760B1 (ko) 정전기적 방전 방지용 회로 및 구조
US5223737A (en) Electrostatic discharge protection device for an integrated circuit pad and related integrated structure
US5717559A (en) Input/output protection device for use in semiconductor device
JPS5943827B2 (ja) 保護回路
JPH069018B2 (ja) 半導体構造
JPS6358380B2 (ko)
JPH08306924A (ja) 高電圧保護能力を備えた半導体装置
US4543593A (en) Semiconductor protective device
US4922317A (en) CMOS device having Schottky diode for latch-up prevention
JPH0324791B2 (ko)
US4641171A (en) Monolithically integrated semiconductor power device
JPH03224263A (ja) Cmos集積回路の静電放電保護構造
US5798538A (en) IGBT with integrated control
EP0472654B1 (en) Low voltage triggered snap-back device
US10199368B2 (en) Stucture for protecting an integrated circuit against electrostatic discharges
KR100190352B1 (ko) 기생전류에 보호되는 수직형 모놀리식 반도체 전력소자
US6320229B1 (en) Semiconductor device
JP3158534B2 (ja) 半導体集積回路
CA1289267C (en) Latchup and electrostatic discharge protection structure
JPH1117198A (ja) 集積mosパワー・トランジスタを含むコンポーネントのロジック・ウエルの保護
US5245211A (en) Device for the protection against breakdown of an n+ type diffused region inserted in vertical-type semiconductor integrated power structure
JPS6211787B2 (ko)
JPH0478162A (ja) 集積回路用保護装置
US6870227B1 (en) Device for protecting against electrostatic discharge
JP2901275B2 (ja) 半導体集積回路装置

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
LAPS Lapse due to unpaid annual fee