JPWO2022103416A5 - - Google Patents
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- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 38
- 239000010453 quartz Substances 0.000 claims description 37
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 27
- 239000000155 melt Substances 0.000 claims description 20
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 12
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims description 12
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims description 12
- 229910021420 polycrystalline silicon Inorganic materials 0.000 claims description 10
- 239000013078 crystal Substances 0.000 claims description 7
- 239000012535 impurity Substances 0.000 claims description 4
- 229910021421 monocrystalline silicon Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 3
- 239000007787 solid Substances 0.000 claims 8
- 238000002231 Czochralski process Methods 0.000 claims 3
- 230000001788 irregular Effects 0.000 claims 2
- 238000002844 melting Methods 0.000 claims 2
- 230000008018 melting Effects 0.000 claims 2
- 239000007790 solid phase Substances 0.000 claims 2
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000005260 corrosion Methods 0.000 description 2
- 230000007797 corrosion Effects 0.000 description 2
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 2
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 2
- 238000004090 dissolution Methods 0.000 description 1
- 239000002019 doping agent Substances 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 229920005591 polysilicon Polymers 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
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Description
単結晶シリコンインゴットは、単結晶種を坩堝内に保持されたシリコン融液に接触させる、いわゆるチョクラルスキー法により作製され得る。結晶種が融液から引き出されて、単結晶シリコンインゴットを融液から引き上げる。高抵抗率または超高抵抗率用途は、融液への不純物の導入を減少させるために、合成石英のライナーを含む坩堝を用いることがある。高抵抗率または超高抵抗率用途は、ドーパント補償(dopant compensation)を可能にするために、長いサイクル時間によって特徴づけられる。これは、合成ライナーを貫通する腐食を引き起こすことがあり、腐食により石英ベースが露出して、融液に不純物を侵入させ、それによってインゴットの抵抗率が低下する。
チョクラルスキー(Czochralski)単結晶成長プロセスによれば、所定量の多結晶シリコンまたはポリシリコンが坩堝102に投入される。坩堝に導入される半導体またはソーラーグレードの物質は、一または複数の加熱要素から供給される熱により溶融させられる。インゴット引き上げ装置100は、引き上げ装置内の熱を保持するために底部絶縁体110および側面絶縁体124を含む。図示した実施形態において、インゴット引き上げ装置100は、坩堝の床129の下に配置された底部ヒータ126を含む。坩堝102は、坩堝102に投入された多結晶シリコンを溶融させるために、底部ヒータ126に極めて接近するように移動させてよい。
本開示の実施形態によれば、インゴット113の成長前または成長中に、石英(SiO2)144(図4)が融液104に添加される。石英144は、それが融液の表面111にて坩堝の側壁131に接する(または当たる)ように、(例えば、側壁への移動によって、または後述するように固定デバイスにより所定位置に保持することによって)坩堝102に配置される。石英144は、融液104の表面111にて、坩堝の側壁131にて溶解し、それにより坩堝-融液表面の界面125での坩堝の腐食を抑制する。石英144から融液に侵入する酸素は、SiOとして蒸発し、坩堝-融液表面の界面125にて坩堝102から酸素が溶解するのを抑制する。
Claims (23)
- 単結晶シリコンインゴットを形成する方法であって、
固相多結晶シリコンを、側壁および底を有する坩堝に加えること;
前記多結晶シリコンを加熱して、表面を有するシリコン融液を形成すること;
前記シリコン融液に種結晶を接触させること;
前記種結晶を前記シリコン融液から引き出し、シリコンインゴットを形成すること;
合成石英を前記融液に加えること;および
前記合成石英を少なくとも部分的に溶解させること
を含み、前記合成石英を溶解させるときに、前記合成石英を前記融液の表面にて坩堝の側壁に接触させる、方法。 - 前記合成石英が、ロッド、チューブ、もしくは球形に形成されており、あるいは不規則な形状を有する、請求項1に記載の方法。
- 前記合成石英が、5.0ppmw以下の不純物を含む、請求項1に記載の方法。
- 前記坩堝が、石英のベース層および前記石英のベース層上に配置された合成石英のライナーを含む、請求項1に記載の方法。
- 前記合成石英が、前記融液の表面にて、前記坩堝の略全周に配置される、請求項1に記載の方法。
- 前記坩堝を回転させることを含み、前記坩堝の回転により生じる遠心力で、前記合成石英を前記坩堝の側壁に接触させる、請求項1に記載の方法。
- 前記合成石英を、固定デバイスによって前記坩堝の側壁に当たるように保持する、請求項1に記載の方法。
- 前記合成石英を、前記シリコンインゴットの成長の前に加える、請求項1に記載の方法。
- 前記合成石英を、インゴットの成長中に加える、請求項1に記載の方法。
- 前記合成石英を、1回、前記融液に加える、請求項1に記載の方法。
- 前記合成石英を、2回以上のサイクルにて、前記融液に加える、請求項1に記載の方法。
- バッチ式のチョクラルスキー・プロセスにおいて前記インゴットを成長させ、インゴットの成長中、多結晶シリコンを前記融液に加えない、請求項1に記載の方法。
- 多結晶シリコンをインゴットの成長中に前記融液に加える、連続チョクラルスキー・プロセスにおいて、前記インゴットを成長させる、請求項1に記載の方法。
- 単結晶シリコンインゴットを形成する方法であって、
固相多結晶シリコンを、側壁および底を有する坩堝に加えること;
前記多結晶シリコンを加熱して、シリコン融液を形成すること;
前記シリコン融液に種結晶を接触させること;
前記種結晶を前記シリコン融液から引き出し、シリコンインゴットを形成することであって、前記インゴットを、多結晶シリコンをインゴットの成長中に前記融液に加えない、バッチ式のチョクラルスキー法で成長させること;
固相石英を前記融液に加えて、固相石英が前記シリコン融液の表面を部分的にのみ横切って延びるようにすること;および
前記石英を少なくとも部分的に溶解させて、坩堝の溶解を減少させること
を含み、前記石英を溶解させるときに、前記石英を前記融液の表面にて前記坩堝の全周に接触させる、方法。 - 前記石英が、ロッド、チューブ、もしくは球形に形成されており、あるいは不規則な形状を有する、請求項14に記載の方法。
- 前記石英が、5.0ppmw以下の不純物を含む、請求項14に記載の方法。
- 前記坩堝が、石英のベース層および前記石英のベース層上に配置された合成石英のライナーを含む、請求項14に記載の方法。
- 前記坩堝を回転させることを含み、前記坩堝の回転により生じる遠心力で、前記固相石英を前記坩堝の側壁に接触させる、請求項14に記載の方法。
- 前記固相石英を、固定デバイスによって前記坩堝の側壁に当たるように保持する、請求項14に記載の方法。
- 前記固相石英を、前記シリコンインゴットの成長の前に加える、請求項14に記載の方法。
- 前記固相石英を、インゴットの成長中に加える、請求項14に記載の方法。
- 前記固相石英を、1回、前記融液に加える、請求項14に記載の方法。
- 前記固相石英を、2回以上のサイクルにて、前記融液に加える、請求項14に記載の方法。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US202063112431P | 2020-11-11 | 2020-11-11 | |
US63/112,431 | 2020-11-11 | ||
PCT/US2020/067382 WO2022103416A1 (en) | 2020-11-11 | 2020-12-29 | Methods for forming a single crystal silicon ingot with reduced crucible erosion |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2023549193A JP2023549193A (ja) | 2023-11-22 |
JPWO2022103416A5 true JPWO2022103416A5 (ja) | 2024-01-11 |
Family
ID=74285571
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2023528119A Pending JP2023549193A (ja) | 2020-11-11 | 2020-12-29 | 坩堝の腐食を低減させた単結晶シリコンインゴットを形成する方法 |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20220145491A1 (ja) |
EP (1) | EP4244411A1 (ja) |
JP (1) | JP2023549193A (ja) |
KR (1) | KR20230098872A (ja) |
CN (1) | CN116615580A (ja) |
TW (1) | TW202219331A (ja) |
WO (1) | WO2022103416A1 (ja) |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5669298A (en) * | 1979-11-13 | 1981-06-10 | Nec Corp | Method of growing single crystal of semiconductor |
DE3865628D1 (de) * | 1987-11-02 | 1991-11-21 | Mitsubishi Materials Corp | Einrichtung zur zuechtung von kristallen. |
JPH0416588A (ja) * | 1990-05-11 | 1992-01-21 | Ishikawajima Harima Heavy Ind Co Ltd | 単結晶の製造方法及びその装置 |
JPH05194075A (ja) * | 1992-01-24 | 1993-08-03 | Nec Corp | 単結晶育成法 |
US6422861B1 (en) * | 2000-11-20 | 2002-07-23 | General Electric Company | Quartz fusion furnace and method for forming quartz articles |
US8021483B2 (en) * | 2002-02-20 | 2011-09-20 | Hemlock Semiconductor Corporation | Flowable chips and methods for the preparation and use of same, and apparatus for use in the methods |
JP5072933B2 (ja) * | 2008-10-31 | 2012-11-14 | ジャパンスーパークォーツ株式会社 | シリコン単結晶引き上げ用石英ガラスルツボ及びその製造方法並びにシリコン単結晶の製造方法 |
MY169752A (en) * | 2011-05-06 | 2019-05-15 | Gt Advanced Cz Llc | Growth of a uniformly doped silicon ingot by doping only the initial charge |
US9822466B2 (en) * | 2013-11-22 | 2017-11-21 | Corner Star Limited | Crystal growing systems and crucibles for enhancing heat transfer to a melt |
JP6028128B1 (ja) * | 2015-03-25 | 2016-11-16 | 株式会社トクヤマ | 投入装置、塊状シリコン原料の供給方法、シリコン単結晶製造装置およびシリコン単結晶の製造方法 |
US10221500B2 (en) * | 2017-01-04 | 2019-03-05 | Corner Star Limited | System for forming an ingot including crucible and conditioning members |
-
2020
- 2020-12-29 KR KR1020237019177A patent/KR20230098872A/ko not_active Application Discontinuation
- 2020-12-29 JP JP2023528119A patent/JP2023549193A/ja active Pending
- 2020-12-29 WO PCT/US2020/067382 patent/WO2022103416A1/en active Application Filing
- 2020-12-29 CN CN202080107747.0A patent/CN116615580A/zh active Pending
- 2020-12-29 EP EP20845842.2A patent/EP4244411A1/en active Pending
- 2020-12-31 TW TW109147177A patent/TW202219331A/zh unknown
-
2021
- 2021-01-20 US US17/152,993 patent/US20220145491A1/en active Pending
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