JPWO2020175209A5 - - Google Patents
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上記構成において、前記第1CMOSインバータはハイレベルおよびローレベルの一方である第1レベルおよび前記ハイレベルおよび前記ローレベルの他方である第2レベルを出力し、前記第1スイッチは、制御端子に前記第1レベルが入力するとオンし、前記制御端子に前記第2レベルが入力するとオフし、前記反転回路は、前記第1ノードが前記第1レベルから前記第2レベルとなると前記第1レベルを前記第1スイッチの制御端子に出力する第1反転回路と、前記遅延回路の出力が前記第2レベルとなると前記第1スイッチの制御端子に前記第2レベルを出力する第2反転回路と、を備え、前記中間ノードは、前記第2反転回路内に設けられている構成とすることができる。
本発明は、入力信号が入力する入力端子に接続された中間ノードである第1ノードに出力ノードが接続され、第1電源と第2電源との間に接続された第1CMOSインバータと、一端が前記第1ノードに接続され、他端が基準電位端子に接続され、前記入力信号による電荷が蓄積される容量素子と、前記第1ノードと出力端子との間に偶数段に接続された偶数個の第2CMOSインバータを含む遅延回路であって、前記偶数個の第2CMOSインバータの各々において前記第1ノードに入力ノードが接続され前記出力端子に出力ノードが接続され、前記第1ノードの電圧が所定値になると前記容量素子に蓄積された電荷をリセットする信号を前記第1CMOSインバータの入力ノードに出力することによって、前記第1ノードの電圧を立ち下がらせ、前記出力端子に単発の出力スパイク信号を出力する遅延回路と、を備え、前記偶数個の第2CMOSインバータは、6個以上の偶数個の第2CMOSインバータであるスパイク生成回路である。
本発明は、入力信号が入力する入力端子に接続された中間ノードである第1ノードに出力ノードが接続され、第1電源と第2電源との間に接続された第1CMOSインバータと、一端が前記第1ノードに接続され、他端が基準電位端子に接続され、前記入力信号による電荷が蓄積される容量素子と、前記第1ノードと出力端子との間に偶数段に接続された偶数個の第2CMOSインバータを含む遅延回路であって、前記偶数個の第2CMOSインバータの各々において前記第1ノードに入力ノードが接続され前記出力端子に出力ノードが接続され、前記第1ノードの電圧が所定値になると前記容量素子に蓄積された電荷をリセットする信号を前記第1CMOSインバータの入力ノードに出力することによって、前記第1ノードの電圧を立ち下がらせ、前記出力端子に単発の出力スパイク信号を出力する遅延回路と、を備え、前記第1電源と前記第2電源との間に前記第1CMOSインバータと直列に接続され、前記偶数個の第2CMOSインバータのうち前記第1ノードから奇数番目の第2CMOSインバータの出力ノードの信号が入力する制御端子を有するスイッチを備えるスパイク生成回路である。
上記構成において前記偶数個の第2CMOSインバータは、6個以上の偶数個の第2CMOSインバータである構成とすることができる。
本発明は、一端が出力ノードに接続され、他端が第1基準電位端子に接続されたキャパシタと、電圧が時間に依存した入力信号が入力する入力端子に一端が接続され、他端が前記出力ノードに接続され、両端の電圧差に対応する定電流を生成する定電流素子または定電流回路と、を備え、前記入力信号の立ち上がりの時定数を長くし前記出力ノードから中間ノードに出力する時定数回路と、前記中間ノードの電圧が閾値電圧になることに対応して出力端子に単発の出力スパイク信号を出力しかつ前記中間ノードの電圧をリセットする出力回路と、を備え、前記出力回路は、前記入力信号が入力した後、前記時定数回路の時定数に関連した遅延時間後に前記単発の出力スパイク信号を出力し、前記定電流素子または定電流回路は、逆方向接続されたダイオードまたはオン状態となるように制御端子に電圧が印加されたトランジスタを含むスパイク生成回路である。
Claims (40)
- 入力信号が入力する入力端子に接続された中間ノードである第1ノードに出力ノードが接続され、第1電源と第2電源との間に接続された第1CMOSインバータと、
前記第1電源と前記第2電源との間に前記第1CMOSインバータと直列に接続されたスイッチと、
前記第1ノードの信号の反転信号を前記スイッチの制御端子に出力する第1反転回路と、
前記第1ノードの信号を遅延させ前記第1CMOSインバータの入力ノードに出力し、出力端子に単発の出力スパイク信号を出力する遅延回路と、
を備えるスパイク生成回路。 - 前記第1反転回路は前記第1ノードの信号の反転信号を前記スイッチの制御端子および第2ノードに出力し、
前記遅延回路は、前記第1反転回路と、前記第2ノードの信号の反転信号を前記第1CMOSインバータの入力ノードおよび前記出力端子が接続された第3ノードに出力する第2反転回路と、を備える請求項1に記載のスパイク生成回路。 - 前記第1反転回路は、前記第1ノードと前記第2ノードとの間に奇数段に接続された奇数個の第2CMOSインバータを含み、前記奇数個の第2CMOSインバータの各々において前記第1ノードに入力ノードが接続され前記第2ノードに出力ノードが接続され、
前記第2反転回路は、前記第2ノードと前記第3ノードとの間に奇数段に接続された奇数個の第3CMOSインバータを含み、前記奇数個の第3CMOSインバータの各々において前記第2ノードに入力ノードが接続され前記第3ノードに出力ノードが接続された請求項2に記載のスパイク生成回路。 - 前記第2反転回路は、3個以上の奇数個の第3CMOSインバータを含む請求項3に記載のスパイク生成回路。
- 前記3個以上の第3CMOSインバータの隣り合ういずれか2つの間の第4ノードに一端が接続され、他端が第1基準電位端子に接続された第1容量素子を備える請求項4に記載のスパイク生成回路。
- 前記第1容量素子の容量値は、前記3個以上の第3CMOSインバータ内の1つのFETのゲート容量値以上である請求項5に記載のスパイク生成回路。
- 一端が前記第1ノードに接続され、他端が第2基準電位端子に接続された第2容量素子を備える請求項1から6のいずれか一項に記載のスパイク生成回路。
- 第1ノードに出力ノードが接続され、第1電源と第2電源との間に接続された第1CMOSインバータと、
前記第1電源と前記第2電源との間に前記第1CMOSインバータと直列に接続された第1スイッチと、
前記第1ノードの信号の反転信号を前記第1スイッチの制御端子に出力する反転回路と、
前記第1ノードの信号を遅延させ前記第1CMOSインバータの入力ノードに出力し、出力端子に単発の出力スパイク信号を出力する遅延回路と、
前記反転回路内に設けられ、入力信号が入力する入力端子に接続された中間ノードと、
を備えるスパイク生成回路。 - 前記第1CMOSインバータはハイレベルおよびローレベルの一方である第1レベルおよび前記ハイレベルおよび前記ローレベルの他方である第2レベルを出力し、
前記第1スイッチは、制御端子に前記第1レベルが入力するとオンし、前記制御端子に前記第2レベルが入力するとオフし、
前記反転回路は、前記第1ノードが前記第1レベルから前記第2レベルとなると前記第1レベルを前記第1スイッチの制御端子に出力する第1反転回路と、前記遅延回路の出力が前記第2レベルとなると前記第1スイッチの制御端子に前記第2レベルを出力する第2反転回路と、を備え、
前記中間ノードは、前記第2反転回路内に設けられている請求項8に記載のスパイク生成回路。 - 前記第2反転回路は、制御端子に前記遅延回路の出力が接続され、前記遅延回路が前記第2レベルを出力すると、前記中間ノードと前記入力信号の初期レベルが供給される電源とを接続する第2スイッチを備える請求項9に記載のスパイク生成回路。
- 入力ノードが前記中間ノードに接続され、出力ノードが前記第1スイッチの制御端子に接続された第2CMOSインバータを備える請求項8から10のいずれか一項に記載のスパイク生成回路。
- 前記第1反転回路は、制御端子が前記第1ノードに接続され、前記第1ノードが前記第2レベルとなると前記第1スイッチの制御端子と前記第1レベルが供給される電源とを接続する第3スイッチを備える請求項10に記載のスパイク生成回路。
- 制御端子が前記第1スイッチの制御端子に接続され、前記第1スイッチの制御端子が前記第2レベルのとき、前記第1ノードを前記第1レベルが供給される電源に接続する第4スイッチを備える請求項9または10に記載のスパイク生成回路。
- 前記第2電源の電圧は前記第1電源の電圧より高く、
前記スイッチは、Nチャネルトランジスタでありかつ前記第1ノードと前記第1電源との間に接続されている、または、Pチャネルトランジスタでありかつ前記第1ノードと前記第2電源との間に接続されている請求項1から7のいずれか一項に記載のスパイク生成回路。 - 入力信号が入力する入力端子に接続された中間ノードである第1ノードに出力ノードが接続され、第1電源と第2電源との間に接続された第1CMOSインバータと、
一端が前記第1ノードに接続され、他端が基準電位端子に接続され、前記入力信号による電荷が蓄積される容量素子と、
前記第1ノードと出力端子との間に偶数段に接続された偶数個の第2CMOSインバータを含む遅延回路であって、前記偶数個の第2CMOSインバータの各々において前記第1ノードに入力ノードが接続され前記出力端子に出力ノードが接続され、前記第1ノードの電圧が所定値になると前記容量素子に蓄積された電荷をリセットする信号を前記第1CMOSインバータの入力ノードに出力することによって、前記第1ノードの電圧を立ち下がらせ、前記出力端子に単発の出力スパイク信号を出力する遅延回路と、
を備え、
前記偶数個の第2CMOSインバータは、6個以上の偶数個の第2CMOSインバータであるスパイク生成回路。 - 入力信号が入力する入力端子に接続された中間ノードである第1ノードに出力ノードが接続され、第1電源と第2電源との間に接続された第1CMOSインバータと、
一端が前記第1ノードに接続され、他端が基準電位端子に接続され、前記入力信号による電荷が蓄積される容量素子と、
前記第1ノードと出力端子との間に偶数段に接続された偶数個の第2CMOSインバータを含む遅延回路であって、前記偶数個の第2CMOSインバータの各々において前記第1ノードに入力ノードが接続され前記出力端子に出力ノードが接続され、前記第1ノードの電圧が所定値になると前記容量素子に蓄積された電荷をリセットする信号を前記第1CMOSインバータの入力ノードに出力することによって、前記第1ノードの電圧を立ち下がらせ、前記出力端子に単発の出力スパイク信号を出力する遅延回路と、
を備え、
前記第1電源と前記第2電源との間に前記第1CMOSインバータと直列に接続され、前記偶数個の第2CMOSインバータのうち前記第1ノードから奇数番目の第2CMOSインバータの出力ノードの信号が入力する制御端子を有するスイッチを備えるスパイク生成回路。 - 前記偶数個の第2CMOSインバータは、6個以上の偶数個の第2CMOSインバータである請求項16に記載のスパイク生成回路。
- 前記入力端子と前記中間ノードとの間に設けられ、前記入力信号の電圧を変換した信号を前記中間ノードに出力する電圧変換回路を更に備え、
前記遅延回路は、前記入力信号の電圧が所定範囲内のとき前記単発の出力スパイク信号を出力しない請求項1から17のいずれか一項に記載のスパイク生成回路。 - 前記入力端子と前記中間ノードとの間に設けられ、前記入力信号の立ち上がりの時定数を長くし前記中間ノードに出力する時定数回路を更に備え、
前記遅延回路は、前記入力信号が入力した後、前記時定数回路の時定数に関連した遅延時間後に前記単発の出力スパイク信号を出力する請求項1から17のいずれか一項に記載のスパイク生成回路。 - 前記入力端子と前記中間ノードとの間に設けられ、前記入力信号として入力スパイク信号が入力すると、前記中間ノードの電圧を高くまたは低くする入力回路を更に備え、
前記遅延回路は、前記入力スパイク信号が入力する頻度が所定範囲になると、前記単発の出力スパイク信号を出力する請求項1から17のいずれか一項に記載のスパイク生成回路。 - 前記入力端子と前記中間ノードとの間に設けられ、前記入力信号の時間に対する変化量に応じ前記中間ノードの電圧を変化させる入力回路を更に備え、
前記遅延回路は、前記入力信号の時間に対する変化量が所定範囲になると、前記単発の出力スパイク信号を出力する請求項1から17のいずれか一項に記載のスパイク生成回路。 - 請求項1から21のいずれか一項に記載のスパイク生成回路と、
入力した信号を処理し、前記スパイク生成回路に出力することで、前記スパイク生成回路が前記単発の出力スパイク信号を出力する条件を設定する条件設定回路と、
前記スパイク生成回路が出力した前記単発の出力スパイク信号を処理するスパイク処理回路と、
を備える情報処理回路。 - スイッチ素子と、
請求項1から21のいずれか一項に記載のスパイク生成回路を含み、前記スイッチ素子のオンおよびオフを制御する制御回路と、
を備える電力変換回路。 - 一端が出力ノードに接続され、他端が第1基準電位端子に接続されたキャパシタと、電圧が時間に依存した入力信号が入力する入力端子に一端が接続され、他端が前記出力ノードに接続され、両端の電圧差に対応する定電流を生成する定電流素子または定電流回路と、を備え、前記入力信号の立ち上がりの時定数を長くし前記出力ノードから中間ノードに出力する時定数回路と、
前記中間ノードの電圧が閾値電圧になることに対応して出力端子に単発の出力スパイク信号を出力しかつ前記中間ノードの電圧をリセットする出力回路と、
を備え、
前記出力回路は、前記入力信号が入力した後、前記時定数回路の時定数に関連した遅延時間後に前記単発の出力スパイク信号を出力し、
前記定電流素子または定電流回路は、逆方向接続されたダイオードまたはオン状態となるように制御端子に電圧が印加されたトランジスタを含むスパイク生成回路。 - 一端が出力ノードに接続され、他端が第1基準電位端子に接続されたキャパシタと、一端が入力信号が入力する入力端子に接続され、他端が前記出力ノードに接続され、両端の電圧差に対応する定電流を生成する定電流回路と、を備え、前記入力信号の立ち上がりの時定数を長くし前記出力ノードから中間ノードに出力する時定数回路と、
前記中間ノードの電圧が閾値電圧になることに対応して出力端子に単発の出力スパイク信号を出力しかつ前記中間ノードの電圧をリセットする出力回路と、
を備え、
前記定電流回路は、
電流入力端子および電流出力端子のいずれか一方の端子が前記入力端子に接続され、前記電流入力端子および前記電流出力端子の他方の端子が前記出力ノードに接続された第1トランジスタと、
電流入力端子および電流出力端子のいずれか一方の端子が順方向接続された第1ダイオードを介し前記入力端子に接続され、前記電流入力端子および前記電流出力端子の他方の端子が逆方向接続された第2ダイオードを介し第2基準電位端子に接続され、制御端子が前記第1トランジスタの制御端子に接続された第2トランジスタと、
を備えるカレントミラー回路であるスパイク生成回路。 - 一端が中間ノードに接続され、他端が第1基準電位端子に接続されたキャパシタと、
電圧が時間に依存した入力信号が入力する入力端子と第2基準電位端子との間に直列に接続された第1素子および第2素子と、一端が前記第1素子と前記第2素子との間のノードに接続され、他端が前記中間ノードに接続された抵抗素子と、を備え、前記入力信号の電圧を前記第1素子と前記第2素子とで分割した信号を前記中間ノードに出力する電圧変換回路と、
前記中間ノードの電圧が閾値電圧になることに対応して出力端子に単発の出力スパイク信号を出力しかつ前記中間ノードの電圧をリセットする出力回路と、
を備え、
前記抵抗素子の抵抗値と前記キャパシタの容量値の積は前記単発の出力スパイク信号の幅より大きいスパイク生成回路。 - 前記第1素子は、抵抗、ダイオードおよびトランジスタのいずれかであり、前記第2素子は、抵抗、ダイオードおよびトランジスタのいずれかである請求項26に記載のスパイク生成回路。
- 複数の入力スパイク信号が時系列に入力する入力端子に1つの入力スパイク信号が入力する毎に中間ノードの電圧を前記1つの入力スパイク信号に対応する量高くする、および/または、前記入力端子に前記1つの入力スパイク信号が入力する毎に前記中間ノードの電圧を前記1つの入力スパイク信号に対応する量低くする入力回路と、
前記中間ノードの電圧が閾値電圧となることに対応し出力端子に単発の出力スパイク信号を出力しかつ前記中間ノードの電圧をリセットする出力回路と、
を備え、
前記出力回路は、前記複数の入力スパイク信号が入力する頻度が所定範囲になると、前記単発の出力スパイク信号を出力し、
前記入力端子に前記複数の入力スパイク信号が入力しないとき前記中間ノードの電圧は前記複数の入力スパイク信号の幅より長い期間をかけて徐々に低くまたは高くなるスパイク生成回路。 - 複数の入力端子の少なくとも1つに入力スパイク信号が入力する毎に、中間ノードの電圧を前記入力スパイク信号に対応する量高くする、および/または、前記複数の入力端子の少なくとも1つに入力スパイク信号が入力する毎に、前記中間ノードの電圧を前記入力スパイク信号に対応する量低くする入力回路と、
前記中間ノードの電圧が閾値電圧となることに対応し出力端子に単発の出力スパイク信号を出力しかつ前記中間ノードの電圧をリセットする出力回路と、
を備え、
前記出力回路は、前記複数の入力端子のうち少なくとも2つの入力端子に入力スパイク信号が入力する時刻がある期間内のとき前記単発の出力スパイク信号を出力し、
前記複数の入力端子に前記入力スパイク信号が入力しないとき前記中間ノードの電圧を前記入力スパイク信号の幅より長い期間をかけて徐々に低くまたは高くするスパイク生成回路。 - 入力端子に入力する入力信号における時間に対する電圧の変化量に応じ中間ノードの電圧を変化させる入力回路と、
前記中間ノードの電圧が閾値電圧となることに対応し出力端子に単発の出力スパイク信号を出力しかつ前記中間ノードの電圧をリセットする出力回路と、
を備え、
前記入力信号における時間に対する電圧の変化量は時間に対し変化し、
前記出力回路は、前記入力信号の時間に対する変化量が所定範囲になると、前記単発の出力スパイク信号を出力するスパイク生成回路。 - 第1端と第2端の間を第1電流が流れる第1経路を導通および遮断する第1スイッチと、
前記第1端と相補的な第3端と前記第2端と相補的な第4端との間を前記第1電流と相補的な第2電流が流れる第2経路を導通および遮断する第2スイッチと、
前記第1スイッチが前記第1経路を遮断しかつ前記第2スイッチが前記第2経路を遮断する遮断期間において、前記第1スイッチより前記第1端および前記第2端のいずれか一方の端側における前記第1経路の第1電圧と、前記第2スイッチより前記第3端および前記第4端のうち前記いずれか一方の端側と相補的な端側における前記第2経路の第2電圧と、に基づき、前記第1電流の流れる方向を検出する検出回路と、
を備える検出器。 - 請求項31に記載の検出器と、
前記検出器の検出結果に基づき、オンおよびオフを制御するスイッチ素子と、
を備える電力変換回路。 - 請求項31に記載の検出器と、
前記検出器が前記第1電流の流れる方向を第1方向と検出したとき、前記第2端を第1電源端子に接続し第2電源端子から遮断しかつ前記第4端を前記第2電源端子に接続し前記第1電源端子から遮断し、前記検出器が前記第1電流の流れる方向を前記第1方向と反対方向の第2方向と検出したとき、前記第2端を前記第2電源端子に接続し前記第1電源端子から遮断しかつ前記第4端を前記第1電源端子に接続し前記第2電源端子から遮断するスイッチ回路と、
を備える電力変換回路。 - 入力端子に入力する入力電流の履歴に依存する内部状態が閾値に達すると、ハイレベルまたはローレベルの単発のスパイク信号を出力端子に出力しかつ前記内部状態を初期値にリセットする複数のスパイク生成回路と、
第1入力端子にハイレベルが入力すると、第1出力端子のレベルをハイレベルに保持しかつ第2出力端子のレベルをローレベルに保持し、第2入力端子にハイレベルが入力すると、前記第1出力端子のレベルをローレベルに保持しかつ前記第2出力端子のレベルをハイレベルに保持する1または複数のメモリ回路と、
を備え、
前記1または複数のメモリ回路は、第1メモリ回路を含み、
前記複数のスパイク生成回路は、前記第1メモリ回路の第1出力端子に入力端子が接続された第1スパイク生成回路と、前記第1メモリ回路の第2出力端子に入力端子が接続された第2スパイク生成回路と、を含む電子回路。 - 前記1または複数のメモリ回路は、前記第1スパイク生成回路の出力端子に第1入力端子が接続された第2メモリ回路を含む請求項34に記載の電子回路。
- 入力端子に入力する入力電流の履歴に依存する内部状態が閾値に達すると、ハイレベルまたはローレベルの単発のスパイク信号を出力端子に出力しかつ前記内部状態を初期値にリセットする複数のスパイク生成回路と、
第1入力端子にハイレベルが入力すると、第1出力端子のレベルをハイレベルに保持しかつ第2出力端子のレベルをローレベルに保持し、第2入力端子にハイレベルが入力すると、前記第1出力端子のレベルをローレベルに保持しかつ前記第2出力端子のレベルをハイレベルに保持するメモリ回路と、
を備え、
前記複数のスパイク生成回路は、前記メモリ回路の第1入力端子に出力端子が接続された第1スパイク生成回路と、前記メモリ回路の第2入力端子に出力端子が接続された第2スパイク生成回路と、を含む電子回路。 - 入力端子に入力する入力電流の履歴に依存する内部状態が閾値に達すると、ハイレベルまたはローレベルの単発のスパイク信号を出力端子に出力しかつ前記内部状態を初期値にリセットするスパイク生成回路と、
第1入力端子にハイレベルが入力すると、第1出力端子のレベルをハイレベルに保持しかつ第2出力端子のレベルをローレベルに保持し、第2入力端子にハイレベルが入力すると、前記第1出力端子のレベルをローレベルに保持しかつ前記第2出力端子のレベルをハイレベルに保持するメモリ回路と、
を備え、
前記メモリ回路の第1入力端子には、スパイク信号またはビット信号が入力し、
前記スパイク生成回路の入力端子は前記メモリ回路の第1出力端子に接続され、前記スパイク生成回路の出力端子は前記メモリ回路の第2入力端子に接続された電子回路。 - 一端が前記メモリ回路の第1出力端子に接続され、他端が前記スパイク生成回路の入力端子に接続され、前記一端と前記他端との電圧差に応じた電流を流す素子または回路を備え、
前記スパイク生成回路は、入力端子に入力する電流の積分値が閾値に達すると単体のスパイク信号を出力する請求項37に記載の電子回路。 - 1または複数の入力端子にそれぞれハイレベルまたはローレベルが入力し、1または複数の出力端子にそれぞれ前記1または複数の入力端子の入力により一意的に定まるハイレベルまたはローレベルを出力し、前記第1メモリ回路の第1出力端子が前記1または複数の入力端子の少なくとも1つと接続され、前記第1スパイク生成回路の入力端子が前記1または複数の出力端子の少なくとも1つに接続される組み合わせ回路を含む請求項34または35に記載の電子回路。
- 請求項1から21のいずれか一項に記載のスパイク生成回路と、
前記スパイク生成回路が出力した単発の出力スパイク信号を出力するアンテナと、
を含む電子回路。
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JP3409938B2 (ja) | 1995-03-02 | 2003-05-26 | 株式会社東芝 | パワーオンリセット回路 |
JPH0950051A (ja) * | 1995-08-09 | 1997-02-18 | Ykk Corp | エレクトロクロミック素子の駆動方法 |
IT1296016B1 (it) * | 1997-04-29 | 1999-06-04 | Sgs Thomson Microelectronics | Metodo di rilevazione di un evento di zero-crossing della corrente che attraversa un carico induttivo e ottimizzazione di un sistema di |
JP2000106521A (ja) | 1998-09-29 | 2000-04-11 | Oki Micro Design Co Ltd | 発振回路 |
US6242988B1 (en) * | 1999-09-29 | 2001-06-05 | Lucent Technologies Inc. | Spiking neuron circuit |
JP2002100961A (ja) * | 2000-09-21 | 2002-04-05 | Mitsumi Electric Co Ltd | 半導体集積装置の積分回路 |
DE10120142B4 (de) * | 2001-04-25 | 2010-12-30 | Nxp B.V. | Detektorschaltung zur Detektion von Spannungs-Spikes |
JP2006243877A (ja) | 2005-03-01 | 2006-09-14 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 加算素子及びその駆動方法 |
US20070024317A1 (en) * | 2005-07-29 | 2007-02-01 | Hansen James E | Apparatus for obtaining precision integrated resistors |
JP5435594B2 (ja) * | 2009-09-11 | 2014-03-05 | 国立大学法人九州工業大学 | 情報処理装置及びプログラム |
JP5143874B2 (ja) | 2010-08-12 | 2013-02-13 | 株式会社半導体理工学研究センター | 位相変調回路 |
US8432214B2 (en) * | 2011-03-21 | 2013-04-30 | Freescale Semiconductor, Inc. | Programmable temperature sensing circuit for an integrated circuit |
US9053428B2 (en) * | 2011-07-21 | 2015-06-09 | Qualcomm Incorporated | Method and apparatus of robust neural temporal coding, learning and cell recruitments for memory using oscillation |
US8996431B2 (en) * | 2012-07-25 | 2015-03-31 | Hrl Laboratories, Llc | Spike domain neuron circuit with programmable kinetic dynamic, homeostatic plasticity and axonal delays |
US20160364643A1 (en) * | 2012-03-08 | 2016-12-15 | Hrl Laboratories Llc | Scalable integrated circuit with synaptic electronics and cmos integrated memristors |
US11501143B2 (en) * | 2013-10-11 | 2022-11-15 | Hrl Laboratories, Llc | Scalable integrated circuit with synaptic electronics and CMOS integrated memristors |
US10003265B2 (en) * | 2014-07-28 | 2018-06-19 | Rohm Co., Ltd. | Switching power supply device |
US9540736B2 (en) * | 2014-07-29 | 2017-01-10 | Applied Materials, Inc. | Methods of etching films with reduced surface roughness |
US9721332B2 (en) * | 2015-02-16 | 2017-08-01 | Hrl Laboratories, Llc | Spike domain convolution circuit |
CN106374887A (zh) * | 2015-07-20 | 2017-02-01 | 马利峰 | 一种新型BiCMOS电压峰值锁存电路设计 |
CN106549653A (zh) * | 2015-09-16 | 2017-03-29 | 胡荣炎 | 一种新型峰值锁存电路设计 |
WO2017100078A1 (en) * | 2015-12-08 | 2017-06-15 | Rambus Inc. | Low power signaling interface |
WO2018100790A1 (ja) * | 2016-11-30 | 2018-06-07 | 国立研究開発法人科学技術振興機構 | ニューロン回路、システムおよびスイッチ回路 |
JP2019022047A (ja) * | 2017-07-14 | 2019-02-07 | 株式会社明電舎 | 光通信システムおよびそのデータ通信方法 |
CN113508386A (zh) * | 2019-02-28 | 2021-10-15 | 国立研究开发法人科学技术振兴机构 | 尖峰生成电路、信息处理电路、电力转换电路、检测器以及电子电路 |
CN112447218A (zh) * | 2019-08-29 | 2021-03-05 | 台湾积体电路制造股份有限公司 | 存储器电路和方法 |
US11566950B2 (en) * | 2020-04-06 | 2023-01-31 | Realtek Semiconductor Corp. | Process and temperature tracking reference load and method thereof |
US11443827B2 (en) * | 2021-01-13 | 2022-09-13 | Winbond Electronics Corp. | Memory device and method for error detection |
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