JPWO2020016961A1 - データ取得装置 - Google Patents
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Abstract
Description
照明装置と、第1のビームスプリッタと、測定ユニットと、光検出器と、を備え、
照明装置と光検出器との間に、測定光路と、参照光路と、が位置し、
第1のビームスプリッタは、光学膜が形成された光学面を有し、
第1のビームスプリッタでは、光学膜によって、入射した光から、第1の方向に進行する光と、第2の方向に進行する光と、が生成され、
第1の方向に、測定光路が位置し、
第2の方向に、参照光路が位置し、
測定光路に、測定ユニットが配置され、
第1のビームスプリッタの光学面において、照明装置から出射した光の入射位置が時間の経過と共に変化し、
入射位置の変化に合わせて、測定光路を進む光と測定光路の光軸とのなす角度が変化することを特徴とする。
CL=λ2/Δλ
ここで、
λは、中心波長、
Δλは、波長幅、
である。
λ1=663nm、Δλ1=21nm。
CL1=(663×10−9)2/(21×10−9)=21×10−6
λ1=663nm、Δλ2=2nm。
CL2=(663×10−9)2/(2×10−9)=220×10−6
n−m=2x (1)
ここで、
nは、参照光路における所定の位置の数、
mは、測定光路における所定の位置の数、
所定の位置は、照明装置と共役な位置、
xは、整数、
である。
2 照明装置
3 第1のビームスプリッタ
3a 光学面
4 測定ユニット
4a、4d 結像レンズ
4b、4c 対物レンズ
5 第2のビームスプリッタ
6 光検出器
7 レンズ
8 ミラー
9 参照ユニット
9a、9d 結像レンズ
9b、9c 対物レンズ
10 ミラー
11、20 標本
21 球
22、24、26 測定光
23、25、27 曲線
30、40、50 データ取得装置
31 第2のビームスプリッタ
31a 光学面
41 ミラー
51 結像レンズ
60、63 照明装置
61 基板
62、64、65 発光ダイオード
70 照明装置
71 光源
72 光偏向素子
73 レンズ
74 光ファイババンドル
74a 入射端
74b 出射端
75 出射端面
80、90 データ取得装置
81、91 照明装置
82、92 波長制限部材
100 データ取得装置
101 第3のビームスプリッタ
101a 光学面
102 別の測定ユニット
102a、102d 結像レンズ
102b、102c 対物レンズ
103、104 ミラー
105 第4のビームスプリッタ
105a 光学面
レンズ 106
110、111、112、113 領域
M1、M2 ミラー
OPm 測定光路
OPm2 別の測定光路
OPr 参照光路
OPc1、OPc2、OPc3 共通光路
AXm、AXr、AXc1、AXc2、AXc3 光軸
Lout 出射光
P 点
Pm1、Pm1’、Pn1、Pn1’ 集光点
Claims (8)
- 照明装置と、第1のビームスプリッタと、測定ユニットと、光検出器と、を備え、
前記照明装置と前記光検出器との間に、測定光路と、参照光路と、が位置し、
前記第1のビームスプリッタは、光学膜が形成された光学面を有し、
前記第1のビームスプリッタでは、前記光学膜によって、入射した光から、第1の方向に進行する光と、第2の方向に進行する光と、が生成され、
前記第1の方向に、前記測定光路が位置し、
前記第2の方向に、前記参照光路が位置し、
前記測定光路に、前記測定ユニットが配置され、
前記第1のビームスプリッタの前記光学面において、前記照明装置から出射した光の入射位置が時間の経過と共に変化し、
前記入射位置の変化に合わせて、前記測定光路を進む光と前記測定光路の光軸とのなす角度が変化することを特徴とするデータ取得装置。 - 第2のビームスプリッタを備え、
前記第2のビームスプリッタは、光学膜が形成された光学面を有し、
前記第1の方向に進む光は測定光で、前記第2の方向に進む光は参照光であり、
前記測定光路と前記参照光路が交差する位置に、前記第2のビームスプリッタが配置され、
前記測定光と前記参照光は、前記第2のビームスプリッタに入射し、
前記第2のビームスプリッタから前記光検出器に向かって、前記測定光と前記参照光が出射することを特徴とする請求項1に記載のデータ取得装置。 - 前記測定光と前記参照光とが前記光検出器に入射し、
前記測定光の前記光検出器への入射角度と前記参照光の前記光検出器への入射角度は異なることを特徴とする請求項1又は2に記載のデータ取得装置。 - 前記照明装置は光出射部を有し、
前記測定ユニットは対物レンズを有し、
前記光出射部は、前記対物レンズの瞳位置と共役な位置に配置されていることを特徴とする請求項1から3のいずれか一項に記載のデータ取得装置。 - 前記照明装置は、アレイ状に配置された複数の光出射部を有し、
前記複数の光出射部では、光の出射を独立に制御できることを特徴とする請求項1から4のいずれか一項に記載のデータ取得装置。 - 前記照明装置は、アレイ状に配置された複数の発光ダイオードを有し、
前記照明装置と前記第1のビームスプリッタとの間に、波長制限部材が配置され、
前記波長制限部材は、特定の波長域の光を透過させる光学特性を有することを特徴とする請求項1から5のいずれか一項に記載のデータ取得装置。 - 以下の式(1)を満足することを特徴とする請求項1から6のいずれか一項に記載のデータ取得装置。
n−m=2x (1)
ここで、
nは、前記参照光路における所定の位置の数、
mは、前記測定光路における前記所定の位置の数、
前記所定の位置は、前記照明装置と共役な位置、
xは、整数、
である。 - 第3のビームスプリッタと、別の測定ユニットと、を備え、
前記第1の方向に、前記第3のビームスプリッタが配置され、
前記第3のビームスプリッタと前記光検出器との間に、前記別の測定光路が位置し、
前記第3のビームスプリッタは、光学膜が形成された光学面を有し、
前記第3のビームスプリッタでは、前記光学膜によって、入射した光から、前記第1の方向に進行する光と、第3の方向に進行する光と、が生成され、
前記第3の方向に、前記別の測定光路が位置し、
前記別の測定光路に前記別の測定ユニットが配置され、
前記測定光路と前記別の測定光路とが交差していることを特徴とする請求項1から7のいずれか一項に記載のデータ取得装置。
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Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4810094A (en) * | 1988-01-29 | 1989-03-07 | The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration | Dual wavelength holographic interferometry system and method |
JP2013231716A (ja) * | 2012-04-25 | 2013-11-14 | Canon Inc | 干渉測定法およびデジタルホログラフィ顕微鏡 |
JP2014044095A (ja) * | 2012-08-24 | 2014-03-13 | Ushio Inc | 三次元位置測定方法、速度測定方法、三次元位置測定装置及び速度測定装置 |
US8937722B2 (en) * | 2010-03-28 | 2015-01-20 | Ecole Polytechnique Federale De Lausanne (Epfl) | Complex index refraction tomography with sub λ/6-resolution |
WO2016185729A1 (ja) * | 2015-05-20 | 2016-11-24 | オリンパス株式会社 | 標本形状測定方法及び標本形状測定装置 |
WO2016199179A1 (ja) * | 2015-06-08 | 2016-12-15 | 株式会社ニコン | 構造化照明顕微鏡システム、方法及びプログラム |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8213022B1 (en) * | 2009-03-04 | 2012-07-03 | University Of Central Florida Research Foundation, Inc. | Spatially smart optical sensing and scanning |
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2018
- 2018-07-18 WO PCT/JP2018/026908 patent/WO2020016961A1/ja active Application Filing
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Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4810094A (en) * | 1988-01-29 | 1989-03-07 | The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration | Dual wavelength holographic interferometry system and method |
US8937722B2 (en) * | 2010-03-28 | 2015-01-20 | Ecole Polytechnique Federale De Lausanne (Epfl) | Complex index refraction tomography with sub λ/6-resolution |
JP2013231716A (ja) * | 2012-04-25 | 2013-11-14 | Canon Inc | 干渉測定法およびデジタルホログラフィ顕微鏡 |
JP2014044095A (ja) * | 2012-08-24 | 2014-03-13 | Ushio Inc | 三次元位置測定方法、速度測定方法、三次元位置測定装置及び速度測定装置 |
WO2016185729A1 (ja) * | 2015-05-20 | 2016-11-24 | オリンパス株式会社 | 標本形状測定方法及び標本形状測定装置 |
WO2016199179A1 (ja) * | 2015-06-08 | 2016-12-15 | 株式会社ニコン | 構造化照明顕微鏡システム、方法及びプログラム |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
KAMILOV U.S. ET AL.: "Learning approach to optical tomography", OPTICA, vol. 2, no. 6, JPN6018039900, June 2015 (2015-06-01), pages 517 - 522, XP055569062, ISSN: 0004676627, DOI: 10.1364/OPTICA.2.000517 * |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP7112649B2 (ja) | 2022-08-04 |
US11269191B2 (en) | 2022-03-08 |
US20210247619A1 (en) | 2021-08-12 |
WO2020016961A1 (ja) | 2020-01-23 |
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