JP6904872B2 - 波面計測装置、波面計測方法、及び光学系の製造方法 - Google Patents
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Description
35、36、37 レンズ
60 被検光学系
70a、71a、72a 反射面
80 波面センサ
Claims (16)
- 複数の光源と、
前記複数の光源から出射した複数の光をそれぞれ集光する複数のレンズと、
前記複数の光の集光位置から発散して被検光学系に入射し、該被検光学系を透過した複数の第1透過光を反射する複数の反射面と、
前記複数の反射面で反射して前記被検光学系と前記複数のレンズを再度透過した複数の第2透過光を受光する波面センサと、
前記波面センサで受光した前記複数の第2透過光から前記被検光学系の複数の画角の透過波面を算出する演算手段を有し、
前記複数の反射面は、前記被検光学系の光軸方向に並べられており、かつ、前記光軸に対する角度が互いに異なるように配置されており、前記複数の反射面のうち前記被検光学系から最も離れて配置された反射面以外の反射面は光の一部を透過することを特徴とする波面計測装置。 - 光源と、
前記光源から出射した光を複数の光に分割するビームスプリッタと、
前記複数の光をそれぞれ集光する複数のレンズと、
前記複数の光の集光位置から発散して被検光学系に入射し、該被検光学系を透過した複数の第1透過光を反射する複数の反射面と、
前記複数の反射面で反射して前記被検光学系と前記複数のレンズを再度透過した複数の第2透過光を受光する波面センサと、
前記波面センサで受光した前記複数の第2透過光から前記被検光学系の複数の画角の透過波面を算出する演算手段を有し、
前記複数の反射面は、前記被検光学系の光軸方向に並べられており、かつ、前記光軸に対する角度が互いに異なるように配置されており、前記複数の反射面のうち前記被検光学系から最も離れて配置された反射面以外の反射面は光の一部を透過することを特徴とする波面計測装置。 - 前記波面センサは、該波面センサの受光面の異なる領域において前記複数の第2透過光を受光することを特徴とする請求項1または2に記載の波面計測装置。
- 前記複数の第2透過光をそれぞれ受光する複数の波面センサを備えることを特徴とする請求項1または2に記載の波面計測装置。
- 前記複数の反射面のうちの1つは、前記光軸に対して垂直に配置されていることを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1項に記載の波面計測装置。
- 前記複数の光は前記光軸に関して対称な位置に集光される2つの光を含み、一方の光が前記被検光学系に入射するとき、他方の光が前記被検光学系に入射しないように、前記光源の発光を制御する制御手段を備えることを特徴とする請求項5に記載の波面計測装置。
- 前記複数の光は前記光軸に関して対称な位置に集光される2つの光を含み、一方の光が前記被検光学系に入射するとき、他方の光が前記被検光学系に入射しないように、光を遮るシャッターを備えることを特徴とする請求項5に記載の波面計測装置。
- 前記複数の光は前記光軸に関して互いに非対称な位置に集光されることを特徴とする請求項5に記載の波面計測装置。
- 前記複数の反射面において垂直以外の方向に反射した光を遮光する遮光部材を備えることを特徴とする請求項1乃至8のいずれか1項に記載の波面計測装置。
- 前記遮光部材は、前記複数の光が集光する焦点面に配置されていることを特徴とする請求項9に記載の波面計測装置。
- 複数の反射板を備え、該複数の反射板の2つの面のうち一方の面が前記反射面であり、他方の面に反射防止膜が形成されていることを特徴とする請求項1乃至10のいずれか1項に記載の波面計測装置。
- 光学系を組み立てるステップと、
請求項1乃至11のいずれか1項に記載の波面計測装置を用いて前記光学系の波面を計測することによって、前記光学系の光学性能を評価するステップを含むことを特徴とする光学系の製造方法。 - 複数の光源から出射した複数の光を複数のレンズを用いて集光し、前記複数の光の集光位置から発散して被検光学系に入射し、該被検光学系を透過した複数の第1透過光を複数の反射面で反射させ、前記複数の反射面で反射して前記被検光学系と前記複数のレンズを再度透過した複数の第2透過光を波面センサで受光させる測定ステップと、
前記波面センサで受光させた前記複数の第2透過光から前記被検光学系の複数の画角の透過波面を算出する演算ステップを有する波面計測方法であり、
前記複数の反射面は、前記被検光学系の光軸方向に並べられており、かつ、前記光軸に対する角度が互いに異なるように配置されており、前記複数の反射面のうち前記被検光学系から最も離れて配置された反射面以外の反射面は光の一部を透過することを特徴とする波面計測方法。 - 光源から出射した光を複数の光に分割し、前記複数の光を複数のレンズを用いて集光し、前記複数の光の集光位置から発散して被検光学系に入射し、該被検光学系を透過した複数の第1透過光を複数の反射面で反射させ、前記複数の反射面で反射して前記被検光学系と前記複数のレンズを再度透過した複数の第2透過光を波面センサで受光させる測定ステップと、
前記波面センサで受光させた前記複数の第2透過光から前記被検光学系の複数の画角の透過波面を算出する演算ステップを有する波面計測方法であり、
前記複数の反射面は、前記被検光学系の光軸方向に並べられており、かつ、前記光軸に対する角度が互いに異なるように配置されており、前記複数の反射面のうち前記被検光学系から最も離れて配置された反射面以外の反射面は光の一部を透過することを特徴とする波面計測方法。 - 前記測定ステップにおいて、前記複数の第1透過光が、前記複数の反射面のうちいずれか1つの反射面において垂直に反射するように、前記複数の反射面の傾きを調整することを特徴する請求項13または14に記載の波面計測方法。
- 前記測定ステップにおいて、前記複数の光の集光位置が前記被検光学系の焦点面と一致するように、前記被検光学系の位置を調整することを特徴とする請求項13乃至15のいずれか1項に記載の波面計測方法。
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JP2017194695A JP6904872B2 (ja) | 2017-10-04 | 2017-10-04 | 波面計測装置、波面計測方法、及び光学系の製造方法 |
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JP2023045329A (ja) | 2021-09-21 | 2023-04-03 | キヤノン株式会社 | 光学装置、評価装置、評価方法、および光学系の製造方法 |
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