JPWO2019138702A1 - 真空装置 - Google Patents
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- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 75
- 238000003780 insertion Methods 0.000 claims description 16
- 230000037431 insertion Effects 0.000 claims description 16
- 230000003028 elevating effect Effects 0.000 claims description 12
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 44
- 239000000725 suspension Substances 0.000 description 4
- 238000005336 cracking Methods 0.000 description 3
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 3
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 2
- 229910001873 dinitrogen Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 2
- 238000004380 ashing Methods 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
- 238000005468 ion implantation Methods 0.000 description 1
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 1
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 1
- 238000005477 sputtering target Methods 0.000 description 1
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- Physical Vapour Deposition (AREA)
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
Abstract
Description
蓋部材116には給排気口109が設けられている。給排気口109には、真空排気装置124とガス供給装置125とが接続されている。
給排気口109と搬送プレート112上の基板107の間には、整流板106が設けられている。
このとき、導入した昇圧用ガスは基板107に衝突しないのに、基板107周辺の昇圧用ガスの流速が大きすぎ、かつ基板107が薄いと破損する場合がある。
従って、基板107の破損を防止するためには、昇圧用ガスの供給速度や真空排気速度を低下させることが考えられる。
本発明は、前記搬送プレートの前記第一の整流板に面した表面には、窪みが形成された真空装置である。
本発明は、前記貫通孔には、前記搬送プレート上に配置された前記基板の表面と前記第一の整流板の下方に向く面との間の高さに配置された上側貫通孔と、前記ステージ上に配置された前記搬送対象物の裏面の高さと前記ステージの表面の高さとの間の高さに配置された下側貫通孔とが含まれる真空装置である。
本発明は、前記基板と前記第一の整流板との間には表面側隙間が形成され、前記搬送プレートの裏面と前記ステージの表面との間には裏面側隙間が形成され、前記表面側隙間の体積と前記上側貫通孔の面積との積の値と、前記裏面側隙間の体積と前記下側貫通孔の面積との積の値とが等しくされた真空装置である。
本発明は、前記第二の整流板と前記第二の整流板と対面する前記壁面との間の距離は、前記上側貫通孔の鉛直方向の幅よりも大きくされ、且つ、前記下側貫通孔の鉛直方向の幅よりも大きくされた真空装置である。
本発明は、前記貫通孔には、前記搬送プレート上に配置された前記基板の表面と前記第一の整流板の下方に向く面との間の高さに配置された上側貫通孔と、前記ステージと前記第二の整流板の下端との間に設けられた隙間であるステージ上貫通孔とが含まれ、前記ステージ上貫通孔は、前記ステージ上に配置された前記搬送プレートの裏面よりも低い高さに配置された真空装置である。
本発明は、前記基板と前記第一の整流板との間には表面側隙間が形成され、前記搬送プレートの裏面と前記ステージの表面との間には裏面側隙間が形成され、前記表面側隙間の体積と前記上側貫通孔の面積との積の値と、前記裏面側隙間の体積と前記ステージ上貫通孔の面積との積の値とが等しくされた真空装置である。
本発明は、前記第一の整流板と前記第二の整流板とを前記蓋部材に対して上昇と下降とをさせる昇降装置が設けられた真空装置である。
本発明は、前記第二の整流板と、前記第二の整流板と対面する前記壁面との間の距離は、前記上側貫通孔の鉛直方向の幅よりも大きくされ、且つ、前記ステージ上貫通孔の鉛直方向の幅よりも大きくされた真空装置である。
本発明は、複数の前記給排気口が設けられた真空装置である。
本発明は、前記給排気口には、メッシュ状の整流部材が設けられた真空装置である。
本発明は、前記基板は前記真空槽の内部で真空処理される真空装置である。
真空処理室4は、真空槽14と、真空槽14の内部に配置されたステージ15とを有しており、真空槽14の天井には貫通孔から成る挿入孔が設けられている。
図3は後述するように、ステージ15を真空槽14の内部の交換位置で静止させた状態を示しており、同図の符号11は挿入孔である。
第二の整流板6の上端は第一の整流板5に密着されており、第一の整流板5と第二の整流板6との間には隙間は形成されないようにされている。
第二の整流板6の下端とステージ15の表面との間には、シール部材29が配置されている。
搬出入空間8が真空雰囲気から大気圧雰囲気に変更される場合には、搬出入空間8の真空排気が停止された後、搬出入空間8へ給排気口9から昇圧用ガスが吹き出される。吹き出された昇圧用ガスは第一の整流板5に吹き付けられる。つまり、昇圧用ガスは第一の整流板5に衝突し、衝突した昇圧用ガスは進行方向が曲げられ、第一の整流板5に沿って進行し、蓋部材16の壁面に衝突して進行方向が曲げられ、バッファ空間17の中に流入する。バッファ空間17の中に流入した昇圧用ガスは、ステージ15の表面が位置する方向に向けて第二の整流板6に沿って進行する。
5……第一の整流板
6……第二の整流板
7……基板
8……搬出入空間
9……給排気口
10……搬送対象物
11……挿入孔
12……搬送プレート
13……上側貫通孔
14……真空槽
15……ステージ
16……蓋部材
20……昇降装置
23……下側貫通孔
31……ステージ上貫通孔
Claims (12)
- 真空槽と、
前記真空槽の天井に設けられた挿入孔と、
前記挿入孔を閉塞させる閉塞位置と前記閉塞位置よりも下方の前記真空槽内の交換位置との間で移動可能にされ、上方に向けられた面に搬送対象物が隙間を開けて配置されるステージと、
前記ステージに対して伏せられた向きの容器形形状にされ、前記容器形形状の開口の縁部分と前記挿入孔の外側の前記天井との間が気密にされる蓋部材と、
前記蓋部材に形成された給排気用貫通孔と、
を有し、
前記搬送対象物は、前記ステージ上に配置された搬送プレートと、前記搬送プレート上に配置された基板とを含み、
前記挿入孔が前記ステージで閉塞されて形成される前記蓋部材と前記ステージとの間の搬出入空間は、前記蓋部材と前記天井との間が気密にされると大気から分離され、
前記搬出入空間は前記給排気用貫通孔の前記搬出入空間に設けられた開口である給排気口から真空排気され、前記搬出入空間には前記給排気口から昇圧用気体が供給される真空装置であって、
前記ステージと前記給排気口との間には長方形又は正方形である第一の整流板が配置され、
前記搬送対象物は前記第一の整流板と前記ステージとの間に配置され、
前記蓋部材は四角筒形形状に配置された四壁面を有し、
前記第一の整流板は、前記四壁面のうち互いに平行な二壁面と接触し、他の平行な二壁面と離間して配置されており、
前記二壁面と離間した前記第一の整流板の部分に長方形又は正方形である第二の整流板が、前記第二の整流板が離間された前記二壁面と対面して配置され、
前記第二の整流板には、前記壁面と対面する面と、その裏面との間で貫通して前記昇圧用気体が通過する貫通孔が設けられた真空装置。 - 前記搬送プレートの前記第一の整流板に面した表面には、窪みが形成された請求項1記載の真空装置。
- 前記貫通孔には、前記搬送プレート上に配置された前記基板の表面と前記第一の整流板の下方に向く面との間の高さに配置された上側貫通孔と、前記ステージ上に配置された前記搬送対象物の裏面の高さと前記ステージの表面の高さとの間の高さに配置された下側貫通孔とが含まれる請求項1又は請求項2のいずれか1項記載の真空装置。
- 前記基板と前記第一の整流板との間には表面側隙間が形成され、前記搬送プレートの裏面と前記ステージの表面との間には裏面側隙間が形成され、
前記表面側隙間の体積と前記上側貫通孔の面積との積の値と、前記裏面側隙間の体積と前記下側貫通孔の面積との積の値とが等しくされた請求項3記載の真空装置。 - 前記第二の整流板と前記第二の整流板と対面する前記壁面との間の距離は、前記上側貫通孔の鉛直方向の幅よりも大きくされ、且つ、前記下側貫通孔の鉛直方向の幅よりも大きくされた請求項3記載の真空装置。
- 前記貫通孔には、前記搬送プレート上に配置された前記基板の表面と前記第一の整流板の下方に向く面との間の高さに配置された上側貫通孔と、前記ステージと前記第二の整流板の下端との間に設けられた隙間であるステージ上貫通孔とが含まれ、
前記ステージ上貫通孔は、前記ステージ上に配置された前記搬送プレートの裏面よりも低い高さに配置された請求項1又は請求項2のいずれか1項記載の真空装置。 - 前記基板と前記第一の整流板との間には表面側隙間が形成され、前記搬送プレートの裏面と前記ステージの表面との間には裏面側隙間が形成され、
前記表面側隙間の体積と前記上側貫通孔の面積との積の値と、前記裏面側隙間の体積と前記ステージ上貫通孔の面積との積の値とが等しくされた請求項6記載の真空装置。 - 前記第一の整流板と前記第二の整流板とを前記蓋部材に対して上昇と下降とをさせる昇降装置が設けられた請求項7記載の真空装置。
- 前記第二の整流板と、前記第二の整流板と対面する前記壁面との間の距離は、前記上側貫通孔の鉛直方向の幅よりも大きくされ、且つ、前記ステージ上貫通孔の鉛直方向の幅よりも大きくされた請求項6記載の真空装置。
- 複数の前記給排気口が設けられた請求項1記載の真空装置。
- 前記給排気口には、メッシュ状の整流部材が設けられた請求項1記載の真空装置。
- 前記基板は前記真空槽の内部で真空処理される請求項1記載の真空装置。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2018003377 | 2018-01-12 | ||
JP2018003377 | 2018-01-12 | ||
PCT/JP2018/043350 WO2019138702A1 (ja) | 2018-01-12 | 2018-11-26 | 真空装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP6515254B1 JP6515254B1 (ja) | 2019-05-15 |
JPWO2019138702A1 true JPWO2019138702A1 (ja) | 2020-01-16 |
Family
ID=66530761
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2019506749A Active JP6515254B1 (ja) | 2018-01-12 | 2018-11-26 | 真空装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6515254B1 (ja) |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH10151029A (ja) * | 1996-11-25 | 1998-06-09 | Sony Corp | 基板ケース収納棚 |
JP2000126581A (ja) * | 1998-10-29 | 2000-05-09 | Kokusai Electric Co Ltd | ロードロック装置 |
CN103109363B (zh) * | 2010-09-17 | 2015-11-25 | 株式会社爱发科 | 真空处理装置 |
TW201741483A (zh) * | 2016-02-25 | 2017-12-01 | 愛發科股份有限公司 | 真空裝置 |
-
2018
- 2018-11-26 JP JP2019506749A patent/JP6515254B1/ja active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP6515254B1 (ja) | 2019-05-15 |
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