JPWO2018105031A1 - 基板検出装置 - Google Patents

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Abstract

基板検出装置(1)は、搬送路(3)の特定位置に相当する入口(31)および出口(31)に臨んで配置され、特定位置に向かって検出光(Ld)を投光する投光部(4)と、特定位置に臨んで配置され、検出光を受光して受光量(R)を求める受光部(5)と、動作時間帯の一部分であって特定位置に基板(K)が存在し得ない不在時間帯(Tn)、および動作時間帯から不在時間帯を除外した判定時間帯(Tj)を把握する時間帯把握部(23)と、不在時間帯に求められた受光量に基づいて、特定位置に基板が存在するか否かを判定する閾光量(S)を設定する設定部(24)と、判定時間帯に求められた受光量を閾光量と比較して、特定位置に基板が存在するか否かを判定する判定部(53)と、を備える。

Description

本発明は、機内の搬送路に沿って基板を搬送する基板生産機に設けられた基板検出装置に関する。
多数の電子部品が実装された基板を生産する基板生産機として、半田印刷機、電子部品装着機、リフロー機、基板検査機などがある。これらの基板生産機を連結して基板生産ラインを構築することが一般的になっている。各基板生産機は、基板検出装置を備えて、搬送路における基板の搬送状況を確認する。基板検出装置として、検出光を用いる方式が多用されている。すなわち、基板検出装置は、搬送路の特定位置に向かって検出光を投光し、検出光が基板によって遮られ、または反射されることから基板の存在を判定する。この種の基板検出装置の一技術例が特許文献1に開示されている。
特許文献1の基板割れ検出装置は、搬送される基板に対して光を照射する照射手段と、受光手段と、受光状態に基づいて信号を出力する信号出力手段と、信号に基づき基板の存在に加えて基板の割れも検知する手段とを有し、信号出力手段は、基板の割れに相当するよりも大きな時間幅の信号を出力する。これによれば、基板に割れがある場合に、受光状態が基板有りの状態から無しの状態に変化し、かつ大きな時間幅の信号が出力されるので、確実に割れが検知される、とされている。
特開2007−225323号公報
ところで、特許文献1の照射手段に例示される投光部は、電源投入の直後や一時的な動作中断によって温度が上下動し、これに伴って投光量が時間的に変動する。そのため、基板生産機で基板の生産を続けていると、基板の存在を判定する一定の閾光量に対し、投光量に依存する受光量が変動して、誤判定を引き起こす場合が生じ得る。その結果、基板の搬送異常と判定されて、基板の生産が停止してしまう。
搬送異常を防止するために、従来技術では、一定時間間隔で搬送路に基板が存在しない状態を確保し、そのときの受光部の受光量を求めて閾光量を再設定する。しかしながら、この再設定は、基板の搬入を一時的に停止する動作中断を必要とする。さらに、従来技術では、基板生産機が動作を継続して投光部の温度および投光量が安定していても、不要な動作中断および閾光量の再設定を行っていた。このような動作中断により、基板生産機の生産効率が低下する。
本発明は、上記背景技術の問題点に鑑みてなされたものであり、基板生産機の動作を妨げることなく閾光量の設定を行って、生産効率を低下させない基板検出装置を提供することを解決すべき課題とする。
本明細書で開示する基板検出装置は、基板の搬送用に基板生産機に設けられた搬送路の特定位置に臨んで配置され、前記特定位置に向かって検出光を投光する投光部と、前記特定位置に臨んで配置され、前記検出光を受光して受光量を求める受光部と、前記基板生産機が動作している動作時間帯の一部分であって、前記特定位置に前記基板が存在し得ない不在時間帯、および前記動作時間帯から前記不在時間帯を除外した判定時間帯を把握する時間帯把握部と、前記不在時間帯に求められた前記受光量に基づいて、前記特定位置に前記基板が存在するか否かを判定する閾光量を設定する設定部と、前記判定時間帯に求められた前記受光量を前記閾光量と比較して、前記特定位置に前記基板が存在するか否かを判定する判定部と、を備える。
本明細書で開示する基板検出装置によれば、基板生産機が動作している動作時間帯の一部分であって搬送路の特定位置に基板が存在し得ない不在時間帯に、受光部の受光量を求めることができる。求めた受光量は、基板が存在しないと分かっているときの受光量であるので、この受光量に基づいて閾光量を適正に設定して、投光部の投光量の変動を補償できる。これにより、不在時間帯を除外した判定時間帯で、特定位置に基板が存在するか否かを正しく判定できる。かつ、基板生産機の動作を中断するのでなく、動作時間帯のうちの不在時間帯を利用して受光量を求めるので、基板生産機の動作を妨げることがなく、生産効率を低下させない。
実施形態の基板検出装置が設けられる基板生産機の基板搬送装置の正面断面図である。 基板搬送装置の側面断面図である。 実施形態の基板検出装置の制御の構成を示すブロック図である。 時間帯把握部および設定部の動作を説明するタイムチャートの図である。 設定部の演算処理および設定動作を含む基板検出装置の動作フロー図である。 最も新しい閾光量を設定したときの受光量と比較して、今回の受光量が許容範囲の範囲内で変化した一例を示す棒グラフの図である。 最も新しい閾光量を設定したときの受光量と比較して、今回の受光量が許容範囲を超えて変化した一例を示す棒グラフの図である。 図7で求められた新しい閾光量を示す棒グラフの図である。
基板搬送装置9の構成および動作
実施形態の基板検出装置1について、図1〜図8を参考にして説明する。まず、基板検出装置1が設けられる基板生産機の基板搬送装置9について説明する。図1は、実施形態の基板検出装置1が設けられる基板生産機の基板搬送装置9の正面断面図である。さらに、図2は、基板搬送装置9の側面断面図である。基板Kの搬送方向は、図1では紙面の表側から裏側に向かい、図2では左方から右方に向かっている。基板搬送装置9は、基板生産機の代表例である電子部品装着機の機台99の上面に配設されており、他種の基板生産機に配設されてもよい。また、図3は、実施形態の基板検出装置1の制御の構成を示すブロック図である。図3には、基板検出装置1の一部となる基板搬送装置9の制御部2も示されている。
基板搬送装置9は、左右一対のガイドレール92およびコンベアベルト93、駆動モータ94、クランプ装置95、および制御部2などで構成される。図1に示されるように、立設された左右一対の支持板91の上側に、一対のガイドレール92が配設されている。一対のガイドレール92は、相互の離間距離が基板Kの幅に対応して設定される。この離間距離は、可変に調整されるようになっていてもよい。一対のガイドレール92の対向する内側に、搬送方向に延びるベルトガイド921が設けられている。各ガイドレール92に沿いつつベルトガイド921の上面に案内されるように、無端環状のコンベアベルト93が配設されている。コンベアベルト93の上面は、基板Kを搬送する搬送路3となる。
図2に示されるように、コンベアベルト93は、前後一対の搬送ガイドプーリ922、前後一対の戻しプーリ923、方向変換プーリ924、駆動プーリ925、及びテンション付与プーリ926に巻装されている。駆動プーリ925は、スプライン軸927と一体回転されるように支持されている。スプライン軸927は、駆動モータ94から回転駆動される。テンション付与プーリ926は、コンベアベルト93に張力を付与して弛緩を防止する。これにより、コンベアベルト93は、輪転駆動され、その上面に基板Kを載置して搬送する。
クランプ装置95は、複数の支持ピン951、台座952、および流体圧シリンダ96などで構成される。複数の支持ピン951は、搬送する基板Kの種類に対応して、適宜使用本数および配置が調整される。複数の支持ピン951は、矩形板状の台座952の上面に立設される。台座952は、複数のパイロットバー953により上下動可能に支持、および案内される。台座952は、流体圧シリンダ96によって、昇降駆動される。
図3に示されるように、制御部2は、搬送制御部21、および位置決め制御部22の機能を有する。搬送制御部21は、駆動モータ94の動作を制御する。位置決め制御部22は、流体圧シリンダ96の動作を制御する。後述するように、制御部2は、基板検出装置1の機能の一部を兼ねている。
次に、基板搬送装置9の動作について説明する。搬送路3の入口31に基板Kが到着すると、搬送制御部21は、駆動モータ94を動作させる。これにより、コンベアベルト93が輪転し、基板Kは、搬送路3の略中央の装着実施位置32まで搬入される。次に、位置決め制御部22は、流体圧シリンダ96を上昇動作させる。これにより、台座952は上昇し、支持ピン951は基板Kを上方に押し上げる。基板Kは、ガイドレール92の上部から内向きに延びる押え部928と支持ピン951の間の高さKKに位置決めされる。
次に、装着実施位置32の高さKKに位置決めされた基板Kに対して、電子部品の装着作業が行われる。装着作業が終了すると、位置決め制御部22は、流体圧シリンダ96を下降動作させる。これにより、台座952は下降し、基板Kは、コンベアベルト93の上面に戻される。次に、搬送制御部21は、駆動モータ94を動作させる。これにより、基板Kは、装着実施位置32から搬送路3の出口33を経由して、機外まで搬出される。なお、基板搬送装置9は、基板Kの搬出、および別の基板Kの搬入を同時に行うこともできる。
実施形態の基板検出装置1の構成
実施形態の基板検出装置1の説明に移る。図3に示されるように、実施形態の基板検出装置1は、投光部4、受光部5、ならびに、制御部2の制御機能で実現された時間帯把握部23および設定部24などで構成されている。基板検出装置1は、搬送路3の特定位置で基板Kの存在を検出して、検出結果を基板Kの搬送制御に反映させるものである。本実施形態において、搬送路3の特定位置は、入口31および出口33に設定されており、これに限定されない。
図1および図2に示されるように、投光部4および受光部5は、搬送路3の入口31および出口33に臨んで二組設けられる。二つの投光部4は、図1の左側のガイドレール92に配置される。投光部4の点灯および消灯は、制御部2から制御される。投光部4は、電源投入の直後や一時的な動作中断によって温度が上下動し、これに伴って投光量が時間的に変動するという温度依存性をもつ。第一の投光部4は、入口31に向かって検出光Ldを投光する。第二の投光部4は、出口33に向かって検出光Ldを投光する。
二つの受光部5は、搬送路3の入口31および出口33を挟んで投光部4の反対側、すなわち図1の右側のガイドレール92に配置される。第一の受光部5は、第一の投光部4から入口31を通過して到来する検出光Ldを受光して受光量Rを求める。第二の受光部5は、第二の投光部4から出口33を通過して到来する検出光Ldを受光して受光量Rを求める。なお、検出光Ldは、可視光に限定されず、赤外線などの人に見えない光であってもよい。
第一の投光部4からの検出光Ldは、入口31に基板Kが存在しない場合に、第一の受光部5に到達する。第一の投光部4からの検出光Ldは、入口31に基板Kが存在する場合に、基板Kによって少なくとも一部が遮られて第一の受光部5に到達しない。つまり、第一の受光部5の受光量Rが減少し、または無くなる。同様に、第二の投光部4からの検出光Ldは、出口33に基板Kが存在しない場合に、第二の受光部5に到達する。第二の投光部4からの検出光Ldは、出口33に基板Kが存在する場合に、基板Kによって少なくとも一部が遮られて第二の受光部5に到達しない。つまり、第二の受光部5の受光量Rが減少し、または無くなる。
図3に示されるように、受光部5は、光電変換部51、閾光量記憶部52、判定部53、および出力部54を有する。光電変換部51は、入射した検出光Ldを光電変換して、受光量Rを表す電気信号を求める。閾光量記憶部52は、設定部24から設定された閾光量Sを記憶する。判定部53は、受光量Rを閾光量Sと大小比較して、判定結果Jを出力部54に送る。受光量Rが閾光量S未満のとき、判定結果Jは、「基板Kが存在する」を意味する「1」とされる。また、受光量Rが閾光量S以上のとき、判定結果Jは、「基板Kが存在しない」を意味する「0」とされる。出力部54は、受光量Rおよび判定結果Jを制御部2に出力する。受光量Rおよび判定結果Jの情報は、制御部2の内部で共有される。
次に、制御部2内の時間帯把握部23および設定部24の機能について説明する。時間帯把握部23および設定部24は、投光部4および受光部5の二組を別々に独立して制御する。以降では、主に搬送路3の入口31側に配置された投光部4および受光部5を対象にして説明を進める。時間帯把握部23は、基板生産機が動作している動作時間帯を、不在時間帯Tnと判定時間帯Tjとに分けて把握する。不在時間帯Tnは、搬送路3の入口31に基板Kが存在し得ない時間帯である。また、判定時間帯Tjは、動作時間帯から不在時間帯Tnを除外した時間帯となる。
図4は、時間帯把握部23および設定部24の動作を説明するタイムチャートの図である。図4において、横軸は時間の経過を示す。また上段のグラフは、判定部53の判定結果Jを示し、中段のグラフは、設定部24の演算処理の時間帯を示し、下段のグラフは、設定部24の設定動作の時間帯を示す。図4の時刻t1に、判定部53の判定結果Jが「1」から「0」に変化している。これは、第1の基板Kの後端が入口31を通過したこと、すなわち、時刻t1が第1の基板Kの搬入終了時点であることを意味する。時間帯把握部23は、時刻t1を不在時間帯Tnの始点とする。
時刻t1の後、装着実施位置32で第1の基板Kへの装着作業が行われる。制御部2は、装着作業が終了した後の時刻t4に、第2の基板Kの搬入を開始する。このため、時刻t1から時刻t4までの間、入口31には基板Kが存在し得ない。したがって、時間帯把握部23は、時刻t4を不在時間帯Tnの終点とする。
なお、不在時間帯Tnの終点は、別法により決定することもできる。詳述すると、第1の基板Kへの装着作業には、或る程度の装着時間が必要になる。このため、時間帯把握部23は、装着時間よりも短めの一定時間を設定し、第1の基板Kの搬入終了時点から一定時間が経過したときを不在時間帯Tnの終点にできる。
上述のようにして不在時間帯Tnが把握されると、時刻t4以降は、判定時間帯Tjとなる。判定時間帯Tjとなった後の時刻t5に、判定部53の判定結果Jが「0」から「1」に変化している。これは、第2の基板Kの先端が入口31に搬入されたことを意味する。したがって、時刻t5は、第2の基板Kの搬入開始時点となる。搬送制御部21は、この搬入開始時点に基づいて、第2の基板Kの搬送制御を正確に進めることができる。
中段のグラフに示されるように、設定部24は、不在時間帯Tnとなった後の時刻t2に演算処理を開始する。設定部24の演算処理では、閾光量Sの再設定の要否の判定、および、再設定が必要である場合の閾光量Sの演算が実行される(詳細後述)。設定部24の演算処理は、不在時間帯Tnの終点(時刻t4)以前の時刻t3に終了する。時刻t3において、閾光量Sの再設定は不要と判定されている。このため、下段のグラフに示されるように、設定部24は、設定動作を実行しない。
設定部24は、所定時間Td以上の時間間隔で繰り返して動作する。すなわち、設定部24は、今回の演算処理を開始した時刻t2から所定時間Tdが経過した以降であって、不在時間帯Tnになった後の時刻t7に次回の演算処理を開始する。このときの不在時間帯Tnは、時刻t6を始点とし、時刻t11を終点としている。所定時間Tdとして、10分を例示でき、これに限定されない。なお、時刻t2から時刻t6までの間に、複数の基板Kへの装着作業が行われて、複数回の不在時間帯Tnおよび判定時間帯Tjが交互に発生している。
設定部24の次回の演算処理は、不在時間帯Tnの終点(時刻t11)以前の時刻t8に終了する。時刻t8において、閾光量Sの再設定が必要と判定されている。このため、下段のグラフに示されるように、設定部24は、時刻t9から設定動作を実行する。設定部24の設定動作は、不在時間帯Tnの終点(時刻t11)以前の時刻t10に終了する。
実施形態の基板検出装置1の動作および作用
次に、実施形態の基板検出装置1の動作および作用について説明する。図5は、設定部24の演算処理および設定動作を含む基板検出装置1の動作フロー図である。この動作フロー図は、基板生産機が動作している動作時間帯に、生産動作と並行して実行される。図5のステップS1で、初期設定が行われる。詳述すると、次に生産する基板Kの種類に対応する段取り替えが終了してから基板Kが搬入されるまでの間に、受光量Rの手動測定が行われる。そして、手動測定の結果に基づいて、受光量Rおよび閾光量Sの初期値が設定される。また、次に生産する基板Kの幅寸法および厚みの情報に基づいて、後述する許容範囲Dおよび係数Aが自動設定される。
次のステップS2で、受光部5は、受光量Rを求め、受光量Rおよび判定結果Jを制御部2に出力する。次のステップS3で、制御部2は、時間帯把握部23の把握結果を参照して、不在時間帯Tnの場合に動作フローの実行をステップS4に進め、判定時間帯Tjの場合に動作フローの実行をステップS11に進める。
ステップS4で、設定部24は、前回の動作から所定時間Tdが経過しているか否か判定する。なお、基板検出装置1が始動した直後であって前回の動作が無い場合、設定部24は、始動時から所定時間Tdが経過しているか否か判定する。設定部24は、所定時間Tdが経過していない場合に動作フローの実行をステップS2に戻し、所定時間Tdが経過している場合に動作フローの実行をステップS5に進める。
ステップS5で、設定部24は、異常時であるか否かを調査する。本実施形態において、2種類の異常時を考慮する。第1の異常時は、前回の受光量Rと比較して今回の受光量Rが異常判定範囲を超えて変化した場合である。この場合、例えば、搬送路3の入口31に偶発的に異物が侵入して、検出光Ldが遮光された状態などが想定される。第2の異常時は、搬送路3で基板Kの搬送に支障が生じた場合である。2種類の異常時には、求められた受光量Rの信頼性に疑義がある。したがって、設定部24は、異常時であれば動作フローの実行をステップS2に戻し、異常時でなければ動作フローの実行をステップS6に進める。
ステップS6で、設定部24は、最も新しい閾光量Sを設定したときの過去の受光量Rpstと比較して、今回の受光量Rが許容範囲Dを超えて変化したか否かを判定する。今回の受光量Rは、不在時間帯Tnに求められた量であり、換言すると搬送路3の入口31に基板Kが存在しない状態で求められた量である。最も新しい閾光量Sは、前回以前のステップS8で閾光量記憶部52に設定されたものである。なお、基板検出装置1が始動した初期の段階では、最も新しい閾光量Sおよび過去の受光量Rは、ステップS1で初期設定された初期値となる。許容範囲Dは、例えば過去の受光量Rpstの±10%に設定でき、これに限定されない。設定部24は、今回の受光量Rが許容範囲Dの範囲内で変化したときに動作フローの実行をステップS2に戻し、すなわち、閾光量Sを再設定しない。また、設定部24は、今回の受光量Rが許容範囲Dを超えて変化した場合に、動作フローの実行をステップS7に進める。
ステップS7で、設定部24は、今回の受光量Rに1未満の係数Aを乗算して新しい閾光量Snewを求める。係数Aは、検出光Ldを遮光する基板Kの幅寸法および厚みなどに基づいて適切に設定される。係数Aとして、50%を例示でき、これに限定されない。なお、係数Aを乗算するのでなく、今回の受光量Rから一定量を減算して新しい閾光量Snewを求めてもよい。次のステップS8で、設定部24は、新しい閾光量Snewを閾光量記憶部52に設定する。閾光量記憶部52は、元の閾光量Sに加えて、新しい閾光量Snewをメモリに記憶し、変更履歴を残す。その後、設定部24は、動作フローの実行をステップS2に戻す。
ここで、ステップS6およびステップS7の動作フローについて、具体例を示して説明する。図6は、最も新しい閾光量Sを設定したときの受光量Rpstと比較して、今回の受光量Rが許容範囲Dの範囲内で変化した一例を示す棒グラフの図である。また、図7は、最も新しい閾光量Sを設定したときの受光量Rpstと比較して、今回の受光量Rnowが許容範囲Dを超えて変化した一例を示す棒グラフの図である。さらに、図8は、図7で求められた新しい閾光量Snewを示す棒グラフの図である。
図6に例示されるように、過去の受光量Rpstに1未満の係数Aが乗算されて閾光量Sが設定されている。投光部4の動作状態が安定していて温度変化が小さい場合、今回の受光量Rは、統計的に多少変動しても、許容範囲Dを逸脱することはない。したがって、この場合、閾光量Sの再設定は不要である。
ところが、投光部4の電源投入の直後や一時的な動作中断の際には、温度変化が大きくなって、投光量が変化する。これに伴い、図7に例示されるように、今回の受光量Rnowが許容範囲Dを超えて変化することが生じ得る。この場合、閾光量Sを再設定しないと、誤った判定結果Jのおそれが生じる。したがって、設定部24は、ステップS7で、今回の受光量Rnowに係数Aを乗算して新しい閾光量Snewを求める。新しい閾光量Snewは、元の閾光量Sに対して差分ΔSを有する。
この結果、図8に示されるように、最も新しい閾光量Snewとなり、これを設定したのは今回の受光量Rnowとなる。そして、設定部24は、次回のステップS6で、次回に求められた受光量Rnextが今回の受光量Rnowの許容範囲Dの範囲内にあるか否かを判定する。また、判定部53は、次回に求められた受光量Rnextを新しい閾光量Snewと大小比較して、基板Kの存在を判定する。このようにして、投光部4の温度依存性を補償できる。
図5の動作フローに戻り、判定時間帯Tjの場合のステップS11以降で、制御部2は、判定部53の機能の一部を分担する。つまり、制御部2は、判定時間帯Tjの間、判定結果Jにしたがって、搬送路3の入口31に基板Kが存在しているか否かを判定する。詳述すると、ステップS11で、制御部2は、判定結果Jの内容を調査する。判定結果J=「1」の場合のステップS12で、制御部2は、入口31に基板Kが存在すると判定する。また、判定結果J=「0」の場合のステップS13で、制御部2は、入口31に基板Kが存在しないと判定する。なお、制御部2は、不在時間帯Tnの間、判定結果Jに関係なく、入口31に基板Kが存在しないと判定する。
ステップS12およびステップS13の後、制御部2は、動作フローの実行をステップS2に戻す。これで、動作フローの1サイクルが終了する。以降、所定の制御サイクル間隔で、ステップS2以降が繰り返して実行される。ステップS12およびステップS13で基板Kの存在が逐次判定されることにより、基板Kの先端および後端が搬送路3の入口31を通過するタイミングが明らかになる。搬送制御部21は、これらのタイミングに基づいて、基板Kの搬送制御を正確に進めることができる。
図5〜図8を用いて説明した基板検出装置1の動作は、搬送路3の出口33側に配置された投光部4および受光部5についても同様である。ただし、時間帯把握部23は、出口33側の受光部5の判定結果Jが「1」から「0」に変化した第3の基板Kの搬出終了時点を不在時間帯Tnの始点とする。そして、時間帯把握部23は、装着作業が終了した後の第4の基板Kの搬出を開始する時刻を不在時間帯Tnの終点とする。あるいは、時間帯把握部23は、装着時間よりも短めの一定時間を設定し、第3の基板Kの搬出終了時点から一定時間が経過したときを不在時間帯Tnの終点としてもよい。
実施形態の基板検出装置1の態様および効果
実施形態の基板検出装置1は、基板Kの搬送用に基板生産機に設けられた搬送路3の特定位置(入口31、出口33)に臨んで配置され、特定位置に向かって検出光Ldを投光する投光部4と、特定位置に臨んで配置され、検出光Ldを受光して受光量Rを求める受光部5と、基板生産機が動作している動作時間帯の一部分であって、特定位置に基板Kが存在し得ない不在時間帯Tn、および動作時間帯から不在時間帯Tnを除外した判定時間帯Tjを把握する時間帯把握部23と、不在時間帯Tnに求められた受光量Rに基づいて、特定位置に基板Kが存在するか否かを判定する閾光量Sを設定する設定部24と、判定時間帯Tjに求められた受光量Rを閾光量Sと比較して、特定位置に基板Kが存在するか否かを判定する判定部53および制御部2と、を備える。
実施形態の基板検出装置1によれば、基板生産機が動作している動作時間帯の一部分であって搬送路3の特定位置に基板Kが存在し得ない不在時間帯Tnに、受光部5の受光量Rを求めることができる。求めた受光量Rは、基板Kが存在しないと分かっているときの受光量Rであるので、この受光量Rに基づいて閾光量Sを適正に設定して、投光部4の投光量の変動を補償できる。これにより、不在時間帯Tnを除外した判定時間帯Tjで、特定位置に基板Kが存在するか否かを正しく判定できる。かつ、基板生産機の動作を中断するのでなく、動作時間帯のうちの不在時間帯Tnを利用して受光量Rを求めるので、基板生産機の動作を妨げることがなく、生産効率を低下させない。
さらに、受光部5は、特定位置(入口31、出口33)を挟んで投光部4の反対側に配置され、検出光Ldは、特定位置に基板Kが存在しない場合に、受光部5に到達し、特定位置に基板Kが存在する場合に、基板Kによって少なくとも一部が遮られて受光部5に到達しない。これによれば、検出光Ldが基板Kによって遮光される方式の基板検出装置1で、生産効率を低下させない効果が得られる。
さらに、設定部24は、不在時間帯Tnに求められた受光量Rnowに1未満の係数Aを乗算して閾光量Snewを求め、判定部53は、判定時間帯Tjに求められた受光量Rnextが閾光量Snew未満のときに基板Kが存在すると判定し、判定時間帯Tjに求められた受光量Rnextが閾光量Snew以上のときに基板Kが存在しないと判定する。これによれば、係数Aを適切に設定して適正な閾光量Snewを求めることができ、基板Kの存在を高い精度で判定できる。
さらに、設定部24は、所定時間Td以上の時間間隔で繰り返して動作し、最も新しい閾光量Sを設定したときの受光量Rpstと比較して、今回の受光量Rnowが許容範囲Dを超えて変化したときに閾光量Snewを再設定し、今回の受光量Rが許容範囲Dの範囲内で変化したときに閾光量Sを再設定しない。
これによれば、投光部4の温度依存性によって投光量が変化し、不在時間帯Tnにおける受光部5の受光量Rが大きく変化した場合に、閾光量Snewを再設定できる。したがって、投光部4の温度依存性を補償するように閾光量Snewが可変に調整され、基板Kの存在を極めて高い精度で判定できる。また、受光部5の不在時間帯Tnの受光量Rの変化が小さい場合に、不要な再設定動作を行わない。したがって、制御の冗長性を回避でき、閾光量記憶部52のメモリ容量の節約にもなる。
さらに、特定位置は、搬送路3の入口31であり、不在時間帯Tnは、判定部53の判定結果が「基板が存在する」から「基板が存在しない」に変化した第1の基板Kの搬入終了時点(時刻t1)から、第2の基板Kの搬入を開始する時刻t4までの時間帯、または、搬入終了時点から一定時間が経過するまでの時間帯である。これによれば、搬送路3の入口31において、基板Kの存在を高い精度で判定できる。したがって、第2の基板Kの先端の搬入を検出して、以降の搬送制御を正確に進めることができる。
また、特定位置は、搬送路3の出口33であり、不在時間帯Tnは、判定部53の判定結果が「基板が存在する」から「基板が存在しない」に変化した第3の基板Kの搬出終了時点から、第4の基板Kの搬出を開始するまでの時間帯、または、搬出終了時点から一定時間が経過するまでの時間帯である。これによれば、搬送路3の出口33において、基板Kの存在を高い精度で判定できる。
さらに、設定部24は、所定時間Td以上の時間間隔で繰り返して動作し、前回の受光量と比較して今回の受光量が異常判定範囲を超えて変化した異常時に、閾光量Sの再設定をしない。これによれば、求められた受光量Rの信頼性に疑義がある場合に、閾光量Sの再設定をしないので、動作信頼性が高い。
また、設定部24は、所定時間Td以上の時間間隔で繰り返して動作し、搬送路3で基板Kの搬送に支障が生じた異常時に、閾光量Sの再設定をしない。これによれば、求められた受光量Rの信頼性に疑義がある場合に、閾光量Sの再設定をしないので、動作信頼性が高い。
実施形態の応用および変形
なお、投光部4および受光部5は、搬送路3の入口31および出口33の一方のみに配設されていてもよく、あるいは、装着実施位置32の辺りに一組が配設されていてもよい。また、閾光量記憶部52および判定部53を制御部2の側に設け、出力部54は受光量Rのみを出力する構成としてもよい。さらに、本実施形態において、検出光Ldは基板Kの幅方向に投光されているが、検出光Ldが基板Kの厚さ方向に投光されてもよい。
さらになお、本実施形態では、検出光Ldが基板Kによって遮光される方式を採用しているが、検出光Ldが基板Kによって反射される方式としてもよい。すなわち、基板の搬送用に基板生産装置に設けられた搬送路の特定位置に臨んで配置され、前記特定位置に向かって検出光を投光する投光部と、前記特定位置に臨んで配置され、前記検出光を受光して受光量を求める受光部と、前記基板生産装置が動作している動作時間帯の一部分であって、前記特定位置に前記基板が有り得ない不在時間帯、および前記動作時間帯から前記不在時間帯を除外した判定時間帯を把握する時間帯把握部と、前記不在時間帯に求められた前記受光量に基づいて、前記特定位置における前記基板の有無を判定する閾光量を設定する設定部と、前記判定時間帯に求められた前記受光量を前記閾光量と比較して、前記特定位置における前記基板の有無を判定する判定部と、を備え、前記受光部は前記投光部に並んで配置され、前記検出光は、前記特定位置に前記基板が無い場合に前記受光部に到達せず、前記特定位置に前記基板が有る場合に前記基板によって少なくとも一部が反射されて前記受光部に到達する、という態様を採用してもよい。本発明は、その他にも様々な応用や変形が可能である。
1:基板検出装置 2:制御部 23:時間帯把握部 24:設定部 3:搬送路 31:入口 32:装着実施位置 33:出口 4:投光部 5:受光部 51:光電変換部 52:閾光量記憶部 53:判定部 54:出力部 9:基板搬送装置 K:基板 Ld:検出光 R:受光量 Rpst:過去の受光量 Rnow:今回の受光量 S:閾光量 Snew:新しい閾光量 J:判定結果 Tn:不在時間帯 Tj:判定時間帯 Td:所定時間 D:許容範囲 A:係数

Claims (8)

  1. 基板の搬送用に基板生産機に設けられた搬送路の特定位置に臨んで配置され、前記特定位置に向かって検出光を投光する投光部と、
    前記特定位置に臨んで配置され、前記検出光を受光して受光量を求める受光部と、
    前記基板生産機が動作している動作時間帯の一部分であって、前記特定位置に前記基板が存在し得ない不在時間帯、および前記動作時間帯から前記不在時間帯を除外した判定時間帯を把握する時間帯把握部と、
    前記不在時間帯に求められた前記受光量に基づいて、前記特定位置に前記基板が存在するか否かを判定する閾光量を設定する設定部と、
    前記判定時間帯に求められた前記受光量を前記閾光量と比較して、前記特定位置に前記基板が存在するか否かを判定する判定部と、
    を備える基板検出装置。
  2. 前記受光部は、前記特定位置を挟んで前記投光部の反対側に配置され、
    前記検出光は、
    前記特定位置に前記基板が存在しない場合に、前記受光部に到達し、
    前記特定位置に前記基板が存在する場合に、前記基板によって少なくとも一部が遮られて前記受光部に到達しない、
    請求項1に記載の基板検出装置。
  3. 前記設定部は、前記不在時間帯に求められた前記受光量に1未満の係数を乗算して前記閾光量を求め、
    前記判定部は、前記判定時間帯に求められた前記受光量が前記閾光量未満のときに前記基板が存在すると判定し、前記判定時間帯に求められた前記受光量が前記閾光量以上のときに前記基板が存在しないと判定する、
    請求項2に記載の基板検出装置。
  4. 前記設定部は、
    所定時間以上の時間間隔で繰り返して動作し、
    最も新しい前記閾光量を設定したときの前記受光量と比較して、今回の前記受光量が許容範囲を超えて変化したときに前記閾光量を再設定し、今回の前記受光量が前記許容範囲の範囲内で変化したときに前記閾光量を再設定しない、
    請求項1〜3のいずれか一項に記載の基板検出装置。
  5. 前記特定位置は、前記搬送路の入口であり、
    前記不在時間帯は、
    前記判定部の判定結果が「前記基板が存在する」から「前記基板が存在しない」に変化した第1の前記基板の搬入終了時点から、第2の前記基板の搬入を開始するまでの時間帯、または、
    前記搬入終了時点から一定時間が経過するまでの時間帯である、
    請求項1〜4のいずれか一項に記載の基板検出装置。
  6. 前記特定位置は、前記搬送路の出口であり、
    前記不在時間帯は、
    前記判定部の判定結果が「前記基板が存在する」から「前記基板が存在しない」に変化した第3の前記基板の搬出終了時点から、第4の前記基板の搬出を開始するまでの時間帯、または、
    前記搬出終了時点から一定時間が経過するまでの時間帯である、
    請求項1〜5のいずれか一項に記載の基板検出装置。
  7. 前記設定部は、所定時間以上の時間間隔で繰り返して動作し、前回の前記受光量と比較して今回の前記受光量が異常判定範囲を超えて変化した異常時に、前記閾光量の再設定をしない請求項1〜6のいずれか一項に記載の基板検出装置。
  8. 前記設定部は、所定時間以上の時間間隔で繰り返して動作し、前記搬送路で前記基板の搬送に支障が生じた異常時に、前記閾光量の再設定をしない請求項1〜7のいずれか一項に記載の基板検出装置。
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JP2001324574A (ja) * 2000-03-10 2001-11-22 Toshiba Corp スライスレベル自動調整装置、スライスレベル自動調整方法、及び媒体搬送装置
JP2008218021A (ja) * 2007-02-28 2008-09-18 Sunx Ltd 透明体検出センサ
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