JPWO2017073628A1 - ハニカム構造体の端面検査方法、及び端面検査装置 - Google Patents

ハニカム構造体の端面検査方法、及び端面検査装置 Download PDF

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Abstract

ハニカム構造体の端面の隔壁のクラックを検出することができる端面検査方法、及び端面検査装置を提供する。ハニカム構造体１を、第２の端面２ｂを載置面３として配置する配置工程と、ハニカム構造体１の第１の端面２ａに、ハニカム構造体１の載置面３に対し垂直方向の軸ａとの間に形成される角度ｋが４０°以上である光１２を照射しながら、第１の端面２ａの第１の処理用画像データを得る。また、上記の角度ｋが４０°未満である光１２を照射しながら、第１の端面２ａの第２の処理用画像データを得る。第１の処理用画像データと第２の処理用画像データとを比較してクラックを検出することにより、ハニカム構造体１の端面検査を行う。

Description

本発明はハニカム構造体の端面検査方法、及び端面検査装置に関する。さらに詳しくは、ハニカム構造体の端面の隔壁のクラックを検出することができるハニカム構造体の端面検査方法、及び端面検査装置に関する。
化学、電力、鉄鋼等の様々な分野において、環境対策や特定物資の回収等のために使用される触媒装置用の担体として、セラミック製のハニカム構造体が採用されている。また、セラミック製のハニカム構造体は、ディーゼルパティキュレートフィルター（ＤＰＦ）等の排ガス浄化用のフィルターとしても広く用いられている。このようなセラミック製のハニカム構造体は、耐熱性、耐食性に優れたものであり、上述したような種々の用途に採用されている。
ハニカム構造体は、例えばセラミック原料を焼結助剤等と共に混合して坏土を作製し、その坏土を口金により押出成形し、次に焼成することにより作製される。作製されたハニカム構造体には、押出成形工程や焼成工程等でその端面にクラック等の不良が現れることがある。上述した種々の用途において、ハニカム構造体の端面の隔壁にクラック等の不良が現れると、そのハニカム構造体は使用できない。このため、これらの不良をハニカム構造体毎に検査する必要がある。
従来、ハニカム構造体の端面の不良を検査するために、目視による検査を行うことが一般的であった。また、装置を用いてハニカム構造体の端面を検査する方法としては、例えば、ハニカム構造体の端面の画像を密着型センサを用いたスキャナーで走査して端面の原画像を求め、求めた原画像に基づき、端面の検査を行う方法がある（特許文献１）。
特開２００２−２５７７３６号公報
ハニカム構造体の端面における隔壁の欠陥として、チッピングとクラックが存在する。チッピングは端面の欠けであり、クラックはハニカム構造体の長手方向の隔壁の切れである。製品の特性に与える影響がチッピングとクラックで異なり、クラックのみを不良として判定する必要がある。
従来は、目視による端面検査で、このクラックとチッピングとを区別していたが、検査に時間を要していた。また、特許文献１に記載の方法では、端面の欠陥がチッピングによるものなのか、クラックによるものなのか区別することが困難であった。
本発明の課題は、ハニカム構造体の端面を精度よく、速く検査することのできるハニカム構造体の端面検査方法、及び端面検査装置を提供することである。
ハニカム構造体の第１の端面に、ハニカム構造体の載置面（第２の端面）に対し垂直方向の軸との間に形成される角度が４０°以上である光を照射しながら、第１の端面の第１の処理用画像データを得る。また、ハニカム構造体の載置面に対し垂直方向の軸との間に形成される角度が４０°未満である光を照射しながら、第１の端面の第２の処理用画像データを得る。そして、第１の処理用画像データと第２の処理用画像データとを比較してクラックのみを検出することにより、上記目的を解決することができることを、本発明者らは見出した。すなわち、本発明によれば、以下の端面検査方法、及び端面検査装置が提供される。
［１］ 第１の端面から第２の端面まで延びる複数のセルを区画形成する多孔質の隔壁を有するハニカム構造体を、前記第２の端面を載置面として載置して所定の位置に配置する配置工程と、前記ハニカム構造体の前記第１の端面に、前記ハニカム構造体の前記載置面に対し垂直方向の軸との間に形成される角度が４０°以上である光を照射しながら、前記第１の端面の第１の処理用画像データを得る第１の処理用画像データ取得工程と、前記ハニカム構造体の前記第１の端面に、前記ハニカム構造体の前記載置面に対し垂直方向の軸との間に形成される角度が４０°未満である光を照射しながら、前記第１の端面の第２の処理用画像データを得る第２の処理用画像データ取得工程と、前記第１の処理用画像データと前記第２の処理用画像データとを比較して前記隔壁のクラックを検出するクラック検出工程と、を含む端面検査方法。
［２］ 前記第１の処理用画像データを得た後、または得る前に、前記第２の処理用画像データを得る前記［１］に記載の端面検査方法。
［３］ 前記ハニカム構造体の前記載置面に対し垂直方向の軸との間に形成される角度が４０°以上である光と、４０°未満である光は、異なる波長の光であり、異なる波長の光を用いて、前記第１の処理用画像データと前記第２の処理用画像データとを同時に得る前記［１］に記載の端面検査方法。
［４］ 前記クラック検出工程において、前記第１の処理用画像データを２値化して第１の２値画像データを求め、その第１の２値画像データにおいて前記隔壁における欠損部分の幅を求め、前記幅と所定の閾値を比較することによって前記隔壁のクラックの有無を検出する前記［１］〜［３］のいずれかに記載の端面検査方法。
［５］ 前記クラック検出工程において、前記第１の処理用画像データを２値化して第１の２値画像データを求め、その第１の２値画像データにおいて１セルの面積よりも大きい面積を有するセルを抽出し、抽出した前記セルの抽出画像データを収縮処理し、前記隔壁のクラックの有無を検出する前記［１］〜［３］のいずれかに記載の端面検査方法。
［６］ 前記クラック検出工程において、前記第２の処理用画像データを２値化して第２の２値画像データを求め、その第２の２値画像データを基に１セルの面積よりも大きい面積を有するセルを抽出することにより、前記第１の端面のクラックを検出する前記［１］〜［５］のいずれかに記載の端面検査方法。
［７］ 第１の端面から第２の端面まで延びる複数のセルを区画形成する多孔質の隔壁を有するハニカム構造体を、前記第２の端面を載置面として載置して所定の位置に移動させて配置する配置手段と、前記配置手段によって第１の位置に配置された前記ハニカム構造体の前記第１の端面に、前記ハニカム構造体の前記載置面に対し垂直方向の軸との間に形成される角度が４０°以上である光を照射するための第１の光源と、前記第１の端面を撮影する第１の撮影装置とを有し、前記第１の端面の第１の処理用画像データを得る第１の処理用画像データ取得手段と、前記配置手段によって第２の位置に配置された前記ハニカム構造体の前記第１の端面に、前記ハニカム構造体の前記載置面に対し垂直方向の軸との間に形成される角度が４０°未満である光を照射するための第２の光源と、前記第１の端面を撮影する第２の撮影装置とを有し、前記第１の端面の第２の処理用画像データを得る、前記第１の処理用画像データ取得手段とは異なる位置に設けられた、第２の処理用画像データ取得手段と、を含むハニカム構造体の端面検査装置。
［８］ 前記第１の撮影装置、及び／又は、前記第２の撮影装置は、前記ハニカム構造体の前記載置面に対し垂直方向に備えられており、前記第１の光源は、前記第１の撮影装置を挟んで、対称位置に少なくとも一対設けられており、前記第２の光源は、前記第２の撮影装置を挟んで、対称位置に少なくとも一対設けられている前記［７］に記載のハニカム構造体の端面検査装置。
［９］ 前記第１の撮影装置、及び／又は、前記第２の撮影装置は、テレセントリック光学系を備える前記［７］または［８］に記載のハニカム構造体の端面検査装置。
［１０］ 前記第１の光源、及び／又は、前記第２の光源から照射された光を反射して前記ハニカム構造体の前記第１の端面に所定の角度で光を照射するためのミラーを備える前記［７］〜［９］のいずれかに記載のハニカム構造体の端面検査装置。
［１１］ 第１の端面から第２の端面まで延びる複数のセルを区画形成する多孔質の隔壁を有するハニカム構造体を、前記第２の端面を載置面として載置して所定の位置に配置する配置手段と、前記ハニカム構造体の前記第１の端面に、前記ハニカム構造体の前記載置面に対し垂直方向の軸との間に形成される角度が４０°以上である光を照射するための第１の光源と、前記ハニカム構造体の前記第１の端面に、前記ハニカム構造体の前記載置面に対し垂直方向の軸との間に形成される角度が４０°未満である光を照射するための第２の光源と、前記第１の光源により前記ハニカム構造体の前記載置面に対し垂直方向の軸との間に形成される角度が４０°以上である光を照射して、前記第１の端面の第１の処理用画像データを得、前記第２の光源により前記ハニカム構造体の前記載置面に対し垂直方向の軸との間に形成される角度が４０°未満である光を照射して、前記第１の端面の第２の処理用画像データを得る撮影装置と、を備えるハニカム構造体の端面検査装置。
［１２］ 前記撮影装置は、前記ハニカム構造体の前記載置面に対し垂直方向に備えられており、前記第１の光源は、前記撮影装置を挟んで、対称位置に少なくとも一対設けられており、前記第２の光源は、前記撮影装置を挟んで、対称位置に少なくとも一対設けられている前記［１１］に記載のハニカム構造体の端面検査装置。
［１３］ 前記撮影装置は、テレセントリック光学系を備える前記［１１］または［１２］に記載のハニカム構造体の端面検査装置。
［１４］ 前記第１の光源の光を照射して前記第１の処理用画像データを得た後、または得る前に前記第２の光源の光を照射して前記第２の処理用画像データを得る前記［１１］〜［１３］のいずれかに記載のハニカム構造体の端面検査装置。
［１５］ 前記第１の光源の光と前記第２の光源の光は、異なる波長の光であり、前記第１の処理用画像データと前記第２の処理用画像データとを同時に得る前記［１１］〜［１３］のいずれかに記載のハニカム構造体の端面検査装置。
［１６］ 前記第１の光源、及び／又は、前記第２の光源から照射された光を反射して前記ハニカム構造体の前記第１の端面に所定の角度で光を照射するためのミラーを備える前記［１１］〜［１５］のいずれかに記載のハニカム構造体の端面検査装置。
本発明の端面検査方法、及び端面検査装置によれば、ハニカム構造体の載置面に対し垂直方向の軸との間に形成される角度が４０°以上である光を照射して取得した第１の端面の第１の処理用画像データと、角度が４０°未満である光を照射して取得した第１の端面の第２の処理用画像データとを比較することにより、端面のチッピングとクラックを区別して検出することができる。
第１の処理用画像データ取得手段と、第２の処理用画像データ取得手段とを備え、ハニカム構造体を移動させて画像データを得る端面検査装置を上から見た図である。 ハニカム構造体の載置面に対し垂直方向の軸との間に形成される角度が４０°以上である光を照射しながら、第１の端面の第１の処理用画像データを得る方法の一例を説明する図である。 ハニカム構造体の載置面に対し垂直方向の軸との間に形成される角度が４０°未満である光を照射しながら、第１の端面の第２の処理用画像データを得る方法の一例を説明する図である。 ハニカム構造体の載置面に対し垂直方向の軸との間に形成される角度について説明するための他の説明図である。 ハニカム構造体を移動させずに画像データを得る、または移動させつつ所定の位置を通過させて画像データを得る、端面検査装置の第２の実施形態を示す図である。 端面検査装置の第３の実施形態を横から見た図である。 光源の光の角度を変化させるミラーを備えた実施形態を示す図である。 ハニカム構造体を示す軸方向の第１の端面から見た模式図である。 ハニカム構造体を示す斜視図である。 第１の端面にチッピングを有する隔壁の一例を示す断面図である。 第１の端面にクラックを有する隔壁の一例を示す断面図である。 第１の端面にチッピングを有するハニカム構造体の、第１の端面を撮影した第１の処理用画像の一例を示す画像である。 第１の端面に細い幅のクラックを有するハニカム構造体の、第１の端面を撮影した第１の処理用画像の一例を示す画像である。 第１の端面に太い幅のクラックを有するハニカム構造体の、第１の端面を撮影した第１の処理用画像の一例を示す画像である。 第１の端面にチッピングを有するハニカム構造体の、第１の端面を撮影した、第２の処理用画像の一例を示す画像である。 第１の端面に細い幅のクラックを有するハニカム構造体の、第１の端面を撮影した第２の処理用画像の一例を示す画像である。 第１の端面に太い幅のクラックを有するハニカム構造体の、第１の端面を撮影した第２の処理用画像の一例を示す画像である。 画像処理の流れを説明するための図である。 第１の処理用画像データを用いて、画像処理をする方法の一実施形態を示す説明図である。 第１の処理用画像データを用いて、画像処理をする方法の他の実施形態を示す説明図である。 第２の処理用画像データを用いて、画像処理をする方法の一実施形態を示す説明図である。 第２の処理用画像データを用いて、画像処理をする方法の他の実施形態を示す説明図である。 ハニカム構造体の検出箇所Ａ１の処理用画像である。 ハニカム構造体の検出箇所Ｂ１の処理用画像である。 ハニカム構造体の検出箇所Ｃ１の処理用画像である。
以下、図面を参照しつつ本発明の実施形態について説明する。本発明は、以下の実施形態に限定されるものではなく、発明の範囲を逸脱しない限りにおいて、変更、修正、改良を加え得るものである。
１．端面検査装置
（第１の実施形態）
図１Ａは、第１の処理用画像データ取得手段２１と、第２の処理用画像データ取得手段２２とを備え、ハニカム構造体１を移動させて画像データを得る端面検査装置１０を上から見た模式図である。図１Ｂ及び図１Ｃは、端面検査装置１０を横から見た場合の一部を示す図である。また、図１Ｂは、本発明のハニカム構造体１の載置面３に対し垂直方向の軸ａとの間に形成される角度ｋが４０°以上である光１２を照射しながら、第１の端面２ａの第１の処理用画像データを得る方法を説明する図である。また、図１Ｃは、本発明のハニカム構造体１の載置面３に対し垂直方向の軸ａとの間に形成される角度ｋが４０°未満である光１２を照射しながら、第１の端面２ａの第２の処理用画像データを得る方法を説明する図である。
図１Ａ〜図１Ｃに示す端面検査装置１０は、配置手段２３、第１の処理用画像データ取得手段２１、第２の処理用画像データ取得手段２２を含む。第１の実施形態では、ハニカム構造体１を第１の位置２６に配置し、第１の処理用画像データを取得し、ハニカム構造体１を第２の位置２７まで移動させて、第２の処理用画像データを取得する。なお、ハニカム構造体１を第１の位置２６に配置するとは、第１の位置２６に静止状態で置く場合のみならず、移動させつつ第１の位置２６を通過させる場合も含む。第２の位置２７についても同様である。
配置手段２３は、第１の端面２ａから第２の端面２ｂまで延びる複数のセル５を区画形成する多孔質の隔壁４を有するハニカム構造体１を、第２の端面２ｂを載置面３として載置して所定の位置に移動させて配置する。
第１の処理用画像データ取得手段２１は、配置手段２３によって第１の位置２６に配置されたハニカム構造体１の第１の端面２ａに、ハニカム構造体１の載置面３に対し垂直方向の軸ａとの間に形成される角度が４０°以上である光１２を照射するための第１の光源１１ａと、第１の端面２ａを撮影する第１の撮影装置１３ａとを有し、第１の端面２ａの第１の処理用画像データを得る。
第２の処理用画像データ取得手段２２は、配置手段２３によって第２の位置２７に配置されたハニカム構造体１の第１の端面２ａに、ハニカム構造体１の載置面３に対し垂直方向の軸ａとの間に形成される角度が４０°未満である光１２を照射するための第２の光源１１ｂと、第１の端面２ａを撮影する第２の撮影装置１３ｂとを有し、第１の端面２ａの第２の処理用画像データを得る。第２の処理用画像データ取得手段２２は、第１の処理用画像データ取得手段２１とは異なる位置に設けられている。なお、図１Ａでは、第１の処理用画像データ取得手段２１が上流で、第２の処理用画像データ取得手段２２が下流となっているが、逆でもよい。
図１Ｄに示すように、ハニカム構造体１の第１の端面２ａには、点ｐ１の他、点ｐ２や点ｐ３等様々な点がある。本明細書において、光１２の角度が４０°未満という場合は、撮影視野内において、ハニカム構造体１の載置面３に対し垂直方向の軸ａ（垂直軸）との間に形成される角度が４０°未満ということである。図１Ｄでは、撮影視野内の点ｐ１〜ｐ３のどの点においても角度ｋ１、ｋ２、ｋ３が４０°未満である。また、４０°以上についても同様である。
図１Ｂに示すように第１の撮影装置１３ａ、及び／又は、図１Ｃに示すように第２の撮影装置１３ｂは、ハニカム構造体１の第１の端面２ａに対向して備えられていることが好ましく、ハニカム構造体１の載置面３に対し垂直方向に備えられていることが好ましい。第１の光源１１ａは、第１の撮影装置１３ａを挟んで、対称位置に少なくとも一対設けられていることが好ましい。第２の光源１１ｂは、第２の撮影装置１３ｂを挟んで、対称位置に少なくとも一対設けられていることが好ましい。
また、図１Ａに示すように、第１の撮影装置１３ａ、及び／又は、第２の撮影装置１３ｂは、ラインセンサを使用することができる。ラインセンサは、撮影対象のハニカム構造体１の第１の端面２ａの移動方向に垂直な方向の長さよりも長いことが好ましい。また、ラインセンサを挟む位置に配置された少なくとも一対の光源１１を有することが好ましく、光源１１としては、ライン照明を使用することが好ましい。ラインセンサを用いるときは、光源１１の光は、第１の端面２ａにおいて、ラインセンサの幅に近くなるように絞ることが好ましい。
ラインセンサを使用すると、ハニカム構造体１を移動させながら（停止せずに）、撮影することができる。ハニカム構造体１を移動させながらラインセンサで撮影すると、タクトを速くすることができる。なお、エリアカメラ（センサ）を用いることもできるが、この場合、ハニカム構造体１を一旦停止させて、撮影することが好ましい。また、光源１１としては、ＬＥＤ光源、レーザー、ハロゲン、メタルハライド光源等を用いることができる。
撮影装置１３は、テレセントリック（Ｔｅｌｅｃｅｎｔｒｉｃ）光学系を備えることが好ましい。テレセントリック光学系を備えると、隔壁４（リブ）の写りこみがなくなるため、ハニカム構造体１の第１の端面２ａの全体を検査するために好ましい。
（第２の実施形態）
図２Ａは、端面検査装置１０の第２の実施形態を示す図である。第２の実施形態では、配置手段２３、第１の光源１１ａ、第２の光源１１ｂ、撮影装置１３を含む。第２の実施形態では、ハニカム構造体１を所定の位置に配置し、第１の処理用画像データと第２の処理用画像データとを取得する。なお、本実施形態においても、ハニカム構造体１を所定の位置に配置するとは、所定の位置に静止状態で置く場合のみならず、移動させつつ所定の位置を通過させる場合も含む。
配置手段２３（台１４）は、第１の端面２ａから第２の端面２ｂまで延びる複数のセル５を区画形成する多孔質の隔壁４を有するハニカム構造体１を、第２の端面２ｂを載置面３として載置して所定の位置に配置する。
第１の光源１１ａは、ハニカム構造体１の第１の端面２ａに、ハニカム構造体１の載置面３に対し垂直方向の軸ａとの間に形成される角度が４０°以上である光１２を照射する。第２の光源１１ｂは、ハニカム構造体１の第１の端面２ａに、ハニカム構造体１の載置面３に対し垂直方向の軸ａとの間に形成される角度が４０°未満である光１２を照射する。
撮影装置１３は、第１の光源１１ａによりハニカム構造体１の載置面３に対し垂直方向の軸ａとの間に形成される角度が４０°以上である光１２を照射して、第１の端面２ａの第１の処理用画像データを得る。また、第２の光源１１ｂによりハニカム構造体１の載置面３に対し垂直方向の軸ａとの間に形成される角度が４０°未満である光１２を照射して、第１の端面２ａの第２の処理用画像データを得る。
撮影装置１３は、ハニカム構造体１の載置面３に対し垂直方向に備えられていることが好ましい。また、第１の光源１１ａは、撮影装置１３ａを挟んで、対称位置に少なくとも一対設けられており、第２の光源１１ｂは、撮影装置１３ｂを挟んで、対称位置に少なくとも一対設けられていることが好ましい。
第２の実施形態の撮影装置１３としては、エリアカメラを用いることができる。また、撮影装置１３は、テレセントリック光学系を備えることが好ましい。エリアカメラにより、ハニカム構造体１の第１の端面全体を撮影することができる。あるいは、複数のエリアカメラを備えて、分割して第１の端面２ａを撮影してもよい。なお、第２の実施形態においても、ラインセンサを用いることもできる。
光源１１を備える照明としては特に限定されず、ライン照明、点照明を用いることができるが、第１の端面２ａの全体を照射することができるものが好ましい。また、光源１１としては、ＬＥＤ光源、レーザー、ハロゲン、メタルハライド光源等を用いることができる。
なお、ハニカム構造体１の第１の端面２ａと、光源１１との間の距離は特に限定されず、良好な第１の処理用画像データを得ることができる位置であれば良い。
第２の実施形態では、ハニカム構造体１を所定の位置に配置した後、第１の光源１１ａの光１２を照射して第１の処理用画像データを得た後、または得る前に第２の光源１１ｂの光１２を照射して第２の処理用画像データを得ることができる。第１の処理用画像データと第２の処理用画像データのどちらを先に取得するように構成してもよい。第１の処理用画像データと第２の処理用画像データは、ハニカム構造体１を移動させずに同じ位置で取得する。
第１の光源１１ａの光１２と第２の光源１１ｂの光１２を、異なる波長の光とすることもできる。この場合、第１の処理用画像データと第２の処理用画像データとを同時に得ることができる。異なる波長の光１２として、例えば、青色の光源と赤色の光源を用いることができる。第１の処理用画像データと第２の処理用画像データとを同時に得た場合、一つの処理用画像データに、第１の処理用画像データと第２の処理用画像データが含まれることになる。この場合、一つの処理用画像データのＲＧＢデータから第１の処理用画像データと第２の処理用画像データとを分離することができる。
（第３の実施形態）
図２Ｂ及び図２Ｃを用いて第３の実施形態を説明する。第３の実施形態の端面検査装置１０は、配置手段２３、第１の処理用画像データ取得手段２１、第２の処理用画像データ取得手段２２を含む。また、ハニカム構造体１の上下を反転するための反転装置２８を含む。
図２Ｂに示すように、第３の実施形態では、２つのハニカム構造体１を１組として台１４に載せて移動させる。まず、第２の処理用画像データ取得手段２２で、第１の端面２ａの第２の処理用画像データを取得し、第１の処理用画像データ取得手段２１で、第１の端面２ａの第１の処理用画像データを取得する。その後、反転装置２８にて、ハニカム構造体１の上下を反転させ、第２の端面２ｂについて、同様に処理用画像データを取得する。
図２Ｃに示すように、第１の処理用画像データ取得手段２１は、第１の光源１１ａ及びハニカム構造体１との間に、ミラー１５を備える。ミラー１５は、第１の光源１１ａから照射された光１２を反射してハニカム構造体１の端面２（第１の端面２ａ、第２の端面２ｂ）に所定の角度で光１２を照射するためのものである。ミラー１５を備えることにより、ハニカム構造体１の端面２に照射する光１２の角度を容易に所望の角度に設定できる。また第１の処理用画像データ取得手段２１のサイズをコンパクトにすることができることから取得手段同士の設置間隔を狭くすることができ、ハニカム構造体１の移動距離を短く（＝検査時間を短く）することができる。なお、ミラー１５は、第２の処理用画像データ取得手段２２に備えても良い。
第３の実施形態では、反転装置２８を備えることにより、第１の端面２ａのみならず、第２の端面２ｂも検査できるように構成されている。他の実施形態においても、同様にハニカム構造体１を反転させて、第１の端面２ａのみならず、第２の端面２ｂも検査するように構成してもよい。
（検査対象）
（ハニカム構造体）
図３Ａに、本発明の端面検査方法の検査対象として用いられるハニカム構造体１の一例であり、軸方向９の一方の端面２から見た模式図を示す。図３Ｂに、ハニカム構造体１の斜視図を示す。ハニカム構造体１は柱状に形成され、軸（長手）方向９の第１の端面２ａから第２の端面２ｂまで貫通する流体の流路を有するものである。ハニカム構造体１は、隔壁４を有し、隔壁４によって流体の流路となる多数のセル５が区画形成されている。
ハニカム構造体１としては、特に限定されず、どのような形状、大きさ、材質のものであっても良い。したがって、ハニカム構造体１の外形は、円柱状に限らず、軸（長手）方向９に垂直な断面が楕円形であってもよい。また、ハニカム構造体１の外形は、角柱状、すなわち、軸（長手）方向９に垂直な断面が、四角形、またはその他の多角形であってもよい。
ハニカム構造体１のセル５の隔壁４の厚さ（壁厚４ａ（またはリブ厚ともいう）：図４Ｂ参照）や隔壁４の密度についても、目的に応じて適宜設計すればよく、特に制限はない。
ハニカム構造体１は、セラミックを主成分とするものが好ましく用いられる。なお、本明細書にいうセラミックを主成分とするとは、セラミックを５０質量％以上含むことをいう。
（欠陥）
ハニカム構造体１の端面２の隔壁４の欠陥として、チッピングとクラックが挙げられる。図４Ａに、第１の端面２ａにチッピングを有する隔壁４の一例を示す断面図を示す。また、図４Ｂに、第１の端面２ａにクラックを有する隔壁４の一例を示す断面図を示す。なお、図４Ｂの上の図は、第１の端面２ａを正面から見た図である。クラックは、端面２の切れである。
（処理用画像データ）
処理用画像データについて説明する。図５Ａ〜図５Ｆに、隔壁４にチッピング、細い幅のクラック、又は太い幅のクラックを有する第１の端面２ａを撮影した処理用画像の一例を示す。図５Ａ〜図５Ｃは、ハニカム構造体１の載置面３に対し垂直方向の軸ａとの間に形成される角度ｋが４０°以上である光１２を照射しながら、第１の端面２ａを撮影した第１の処理用画像である。図５Ｄ〜図５Ｆは、ハニカム構造体１の載置面３に対し垂直方向の軸ａとの間に形成される角度ｋが４０°未満である光１２を照射しながら、第１の端面２ａを撮影した第２の処理用画像である。また、図５Ａ及び図５Ｄは、隔壁４にチッピングを有する第１の端面２ａの処理用画像である。図５Ｂ及び図５Ｅは、隔壁４に細い幅のクラックを有する第１の端面２ａの処理用画像である。図５Ｃ及び図５Ｆは隔壁４に太い幅のクラックを有する第１の端面２ａの処理用画像である。
ハニカム構造体１の載置面３に対し垂直方向の軸ａとの間に形成される角度ｋが４０°以上である光１２を照射しながら、第１の端面２ａを撮影した第１の処理用画像では、図５Ｂに示すように、細い幅のクラックを良好に確認することができる。これは、照射した光１２によりクラックの影が強調されるためである。しかし、照射した光１２がハニカム構造体１の長手方向のセル５の奥にまで届かないため、図５Ａ及び図５Ｃに示すように、チッピングと太い幅のクラックとを区別し難くなる。
一方、ハニカム構造体１の載置面３に対し垂直方向の軸ａとの間に形成される角度ｋが４０°未満である光１２を照射しながら、第１の端面２ａを撮影した第２の処理用画像では、図５Ｄ及び図５Ｆに示すように、太い欠陥について、それがチッピングであるか、クラックであるか区別することができる。これは、ハニカム構造体１の長手方向のセル５の奥まで光１２が照射されているためである。しかし、図５Ｅに示すように、細い幅のクラックは検出し難くなる。
したがって、細い幅のクラックを検出可能な第１の処理用画像データと、太い幅のクラックを検出可能な第２の処理用画像データを組み合わせて端面検査することにより、細い幅のクラック、太い幅のクラックといったクラックのみを検出可能になる。また第１の処理用画像データと第２の処理用画像データの位置座標を合わせることにより、チッピングをクラックと区別して検出することができる。
２．端面検査方法
（端面検査方法の概要）
本発明の端面検査方法は、第１の端面２ａから第２の端面２ｂまで延びる複数のセル５を区画形成する多孔質の隔壁４を有するハニカム構造体１を、第２の端面２ｂを載置面３として台１４に載置し所定の位置に配置する（配置工程）。そして、ハニカム構造体１の第１の端面２ａに、そのハニカム構造体１の載置面３に対し垂直方向の軸ａとの間に形成される角度ｋが４０°以上である光１２を照射しながら、第１の端面２ａの第１の処理用画像データを得る（第１の処理用画像データ取得工程）。また、ハニカム構造体１の第１の端面２ａに、ハニカム構造体１の載置面３に対し垂直方向の軸ａとの間に形成される角度ｋが４０°未満である光１２を照射しながら、第１の端面２ａの第２の処理用画像データを得る（第２の処理用画像データ取得工程）。このようにして得られた第１の処理用画像データと第２の処理用画像データとを比較してクラックを検出する（クラック検出工程）。
第１の処理用画像データを得た後、または得る前に、第２の処理用画像データを得るように構成することができる。あるいは、ハニカム構造体１の載置面３に対し垂直方向の軸ａとの間に形成される角度が４０°以上である光１２と、４０°未満である光１２が、異なる波長であるようにして、第１の処理用画像データと第２の処理用画像データとを同時に得るように構成することもできる。
クラック検出工程において、第１の処理用画像データを２値化して第１の２値画像データを求め、その第１の２値画像データにおいて１セルの面積よりも大きい面積を有するセル５を抽出し、抽出したセル５の抽出画像データを収縮処理し、隔壁４のクラックの有無を検出する。
クラック検出工程において、第２の処理用画像データを２値化して第２の２値画像データを求め、その第２の２値画像データを基に１セルの面積よりも大きい面積を有するセル５を抽出することにより、端面２のクラックを検出する。
なお、クラック検出工程において、２値画像データを収縮処理して、隔壁４のクラックの有無を検出する方法を説明したが、２値画像データにおいて隔壁４における欠損部分の幅を求め、幅と所定の閾値を比較することによって隔壁４のクラックの有無を検出することもできる。
（端面検査方法の詳細）
端面検査方法の具体的な工程について詳細に説明する。具体的には、第１の処理用画像データの撮影及び画像データ処理の方法（隔壁４の細い幅のクラック検出）、第２の処理用画像データの撮影及び画像データ処理の方法（隔壁４の太い幅のクラック検出）について説明する。なお、クラックの幅は、例えば、細い幅は、１００μｍ未満、太い幅は、１００μｍ以上である。ただし、細い幅と太い幅の区切りは、収縮処理の収縮度合いにより、変更することができるため、所望の値で区切ることができる。
図６に、端面検査方法の工程を示す。第１の処理画像データにより、細い幅のクラックと、太い幅のクラック又はチッピングとを区別する。さらに、第２の処理画像データにより、太い幅のクラックと、チッピングとを区別する。
なお、第１の処理用画像データの撮影及び第２の処理用画像データを撮影は、どちらを先に行っても良く、同時に行っても良い。また、図６では、第１の処理用画像データの処理を先に行っているが、第２の処理用画像データの処理を先に行ってもよい。同時に撮影する場合、ハニカム構造体１の第１の端面２ａに、ハニカム構造体１の載置面３に対し垂直方向の軸ａとの間に形成される角度ｋが４０°以上である光１２と、４０°未満である光１２を同時に照射することになる。このため、ハニカム構造体１の載置面３に対し垂直方向の軸ａとの間に形成される角度ｋが４０°以上である光１２と、４０°未満である光１２は、異なる波長の光１２を用いることが好ましい。異なる波長の光１２を用いることにより、１回の撮像で照射角度が異なる二つの画像を得ることが可能となる。これにより検査時間が短くなる、また、チッピングのみを抽出する際の位置座標合わせが簡便になるという効果が得られる。以下、図６に示すように、第１の処理用画像データの処理を先に行う場合を例として説明する。
（第１の処理用画像データの処理）
図１Ｂに示すように、ハニカム構造体１を、第２の端面２ｂを載置面３として台１４に配置する。そして、ハニカム構造体１の第１の端面２ａに、そのハニカム構造体１の載置面３に対し垂直方向の軸ａとの間に形成される角度ｋが４０°以上である光１２を照射しながら、第１の端面２ａの第１の処理用画像データを得る。
光１２は、光源１１からハニカム構造体１の第１の端面２ａに向かって照射される。照射される光１２と、ハニカム構造体１の載置面３に対して垂直方向の軸ａとの間に形成される角度ｋは、４０°以上である。より好ましくは上記角度ｋが６０°〜８０°である。これは、第１の端面２ａのどの点においても、光源１１からの光１２の角度が６０°〜８０°ということである。上記角度ｋを４０°以上にすることにより、細い幅のクラックの画像データを良好に撮影することができる。
次に、図７Ａ及び図７Ｂに示す手順により、得られた第１の処理用画像データを用いて、第１の端面２ａの細い幅のクラックを検出する。なお、図５Ａ及び図５Ｃに示すように、第１の処理用画像の撮影では、チッピングもまた、第１の端面２ａの隔壁４の太い幅のクラックと同様に撮影される。したがって、第１の処理用画像から太い幅のクラックとチッピングを見分けることは困難である。よって、第１の処理用画像を用いて、太い幅のクラックを検出しないことが好ましい。
第１の処理用画像データは、コンピュータにより画像処理され、細い幅のクラックの検出に用いられるが、画像処理の方法は特に限定されるものではなく、公知のコンピュータ画像処理方法を用いることができる。例えば、２値化等の方法を挙げることができる。
図７Ａは、ハニカム構造体１が隔壁４に太い幅のクラックまたはチッピングを有する場合の、第１の処理用画像データを用いた画像処理の方法を示している。また、図７Ｂは、ハニカム構造体１が隔壁４に細い幅のクラックを有する場合の、第１の処理用画像データを用いた画像処理の方法を示している。２値化を用いた画像処理では、まず、第１の処理用画像データを２値化して第１の２値画像データを求め、その第１の２値画像データにおいて１セルの面積よりも大きい面積を有するセル５を抽出する。次に、抽出したセル５の抽出画像データを収縮処理し、抽出画像データが隔壁４により複数のセル５に分割されるか否かにより、隔壁４の細い幅のクラックの有無を検出することが好ましい。
図７Ａの一段目の図及び図７Ｂの一段目の図に、第１の処理用画像データを２値化処理した際の模式的説明図を示す。なお、２値化処理は、輝度の任意の値を閾値として行うことができる。また、画像データに含まれるＲＧＢデータのＲ，Ｇ，Ｂのいずれかの輝度で２値化処理を行ってもよい。第１の処理用画像データを２値化して第１の２値画像データを求めると、セル５と隔壁４が異なる領域として分けられる。四辺にクラックやチッピングがある隔壁４が無いセル５は正常セル面積を有するセル５として見える。一方、いずれかの辺にクラックやチッピングがあるセル５は、クラックやチッピングがある隔壁４を挟んで隣り合うセル５と繋がり、１セルの面積よりも大きい面積を有するセル５として見える。そして、図７Ａの二段目の図及び図７Ｂの二段目の図に示すように、このような第１の２値画像データにおいて１セルの面積よりも大きい面積を有するセル５を抽出する。
次に、図７Ａの三段目の図及び図７Ｂの三段目の図に示すように、抽出したセル５の抽出画像データを収縮処理する。収縮処理することにより、隔壁４の細い幅のクラックは収縮され、クラックが消えて切れていた隔壁４がつながる。したがって、図７Ｂの三段目の図に示すように、１セルの面積よりも大きい面積を有していたセル５は、その隔壁４により分割されて１セルずつに分かれる。一方、図７Ａの三段目の図に示すように、太い幅のクラックまたはチッピングを有する隔壁４は、収縮処理しても隔壁４がつながらず、１セルの面積よりも大きい面積を有するセル５のままの形で残る。このようにして、抽出画像データを収縮処理し、抽出画像データが隔壁４により複数のセル５に分割されるか否かにより、隔壁４の細い幅のクラックの有無を検出することができる。なお、第１の２値画像データから、端面２の隔壁４の太い幅の切れは、チッピングによるものなのか、クラックによるものなのか判断できない。このため、図７Ａの四段目の図に示すように、第１の２値画像データから、端面２の隔壁４の太い幅のクラック検出は行わないことが好ましい。
（第２の処理用画像データの処理）
第１の処理用画像データを得た後、または得る前、あるいは同時に、隔壁４の太い幅のクラックを検出するための第２の処理用画像データを得る。図１Ｃに示すように、ハニカム構造体１を、第２の端面２ｂを載置面３として台１４に配置する。そして、ハニカム構造体１の第１の端面２ａに、そのハニカム構造体１の載置面３に対し垂直方向の軸ａとの間に形成される角度ｋが４０°未満である光１２を照射しながら、第１の端面２ａの第２の処理用画像データを得る。
光１２は、光源１１からハニカム構造体１の第１の端面２ａに向かって照射される。照射される光１２とハニカム構造体１の載置面３に対して垂直方向の軸ａとの間に形成される角度ｋは、４０°未満である。より好ましくは１０°〜３０°である。上記角度ｋを４０°未満にすることにより、ハニカム構造体１の長手方向のセル５の奥深くまで照射することができ、図５Ｄ及び図５Ｆに示すように、第２の処理用画像データを撮影した際にチッピングと太い幅のクラックとを区別することができる。一方で、図５Ｅに示すように、細い幅のクラックの撮影には不向きである。
次に、図８Ａ及び図８Ｂに示すように、上記で得られた第２の処理用画像データを用いて第１の端面２ａの太い幅のクラックを検出する。なお、クラックは、チッピングよりもハニカム構造体１の長手方向に対してのクラックの深さが深い。このため、図５Ｆに示すように、第２の処理用画像データの撮影では、隔壁４の太い幅のクラックは隔壁４が切れた状態で撮影される。一方、図５Ｄに示すように、隔壁４の太い幅のチッピングは、そのクラックの深さが浅い。このため、第２の処理用画像データの撮影により、隔壁４の欠けは撮影されず、クラックを有さない隔壁４として認識することができる。
第２の処理用画像データは、コンピュータにより画像データ処理され、隔壁４の太い幅のクラックの検出に用いられる。画像データ処理の方法は特に限定されるものではなく、公知のコンピュータ画像データ処理方法を用いることができる。例えば、２値化等の方法を挙げることができる。
図８Ａは、ハニカム構造体１が隔壁４にチッピングを有する場合の、第２の処理用画像データを用いた画像データ処理の方法を示している。また、図８Ｂは、ハニカム構造体１が隔壁４に太い幅のクラックを有する場合の、第２の処理用画像データを用いた画像データ処理の方法を示している。２値化を用いた画像データ処理では、まず、第２の処理用画像データを２値化して第２の２値画像データを求める。その第２の２値画像データを基に、１セルの面積よりも大きい面積を有するセル５を抽出することにより、端面２の太い幅のクラックを検出することが好ましい。以下に、この画像データ処理方法について、より詳細に説明する。
図８Ａの一段目の図及び図８Ｂの一段目の図に示すように、第２の処理用画像データを２値化して第２の２値画像データを求めると、その２値画像データの第２の処理用画像データにおいて太い幅のクラックにより隔壁４が切れて撮影されなかった箇所は、セル５と同一の色を示す。これにより、その切れた隔壁４を有するセル５は隣接するセル５と繋がり、１セルの面積よりも大きい面積を有するセル５として見える。そして、図８Ｂの二段目の図に示すように、このような第２の２値画像データにおいて１セルの面積よりも大きい面積を有するセル５を抽出する。一方、図８Ａの二段目の図に示すように、ハニカム構造体１の端面２の太い幅のチッピングは、１セルよりも大きい面積を有するセル５が見られないため、検出しない。したがって、太い幅のクラックのみを検出することができ、チッピングの過剰検出を防止することができる。
なお、上記の端面検査方法では、ハニカム構造体１の第１の端面２ａの検査について説明したが、第２の端面２ｂについても同様に検査を行ってもよい。
以下、本発明を実施例に基づいてさらに詳細に説明するが、本発明はこれらの実施例に限定されるものではない。
（ハニカム構造体の作製）
まず、以下のようにして、撮影用のハニカム構造体１を作製した。原材料を所定の割合で混合して、水を加えて混練することにより坏土を調製した。調製した坏土を真空脱気した後、押出成形することによりハニカム成形体を得た。次に、ハニカム成形体を焼成することによってハニカム焼成体（多孔質基材）を得た。
得られたハニカム構造体１は、底面の直径１００ｍｍ、軸方向長さ１００ｍｍの円筒形であり、隔壁厚さは８０μｍ、セル密度は、６００ｃｐｓｉ（セル／平方インチ）（＝９３セル／ｃｍ２）であった。また、得られたハニカム構造体１は、セル５がハニカム構造体１の軸方向９に延び、両端面が中心軸に垂直に形成されたものであった。また、セル５の延びる方向に直交する断面において、セル形状は正方形であった。
図１Ｂ、図１Ｃに示すような、端面検査装置１０を用いてハニカム構造体１の端面２を撮影した。図１Ｂ、図１Ｃに示すように、ハニカム構造体１の載置面３に対し垂直方向の軸ａと撮影装置１３の光軸とが一致するように配置し、軸ａから、つまり光軸からの照明（光源１１）の角度ｋを変化させてハニカム構造体１の端面２を撮影した。照射する光１２と、ハニカム構造体１の載置面３（第２の端面２ｂ）に対し垂直方向の軸ａとの間に形成される角度ｋを７０°、５０°、３０°、１０°として撮影した。撮影装置１３としては、ラインセンサカメラ（ＤＡＬＳＡ社製、商品名：ＥＳ−８０−０８Ｋ８０）を使用し、光源１１（照明）としては、ライン照明（ＣＣＳ社製、商品名：ＬＮＳＰ−２００ＳＷ）を使用した。また、撮影装置１３は、画像データ処理装置に接続した。画像データ処理装置としては、パソコンと市販の画像データ処理ソフトウェアを使用した。
処理用画像データから、細い幅のクラック（検出箇所Ａ１〜Ａ３）、チッピング（検出箇所Ｂ１〜Ｂ３）、太い幅のクラック（検出箇所Ｃ１〜Ｃ３）を選んだ。クラックの幅や、チッピングの深さは、表１〜表３に示す。また、図９に、検出箇所Ａ１、図１０に、検出箇所Ｂ１、図１１に検出箇所Ｃ１の処理用画像データを示す。
（隔壁の細い幅のクラック検出）
次に、細い幅のクラックの画像データ（検出箇所Ａ１〜Ａ３）について、画像データ解析を行った。光軸からの照明（光源１１）の角度ｋが４０°以上の場合は図７Ａと図７Ｂに示すように、処理用画像データを、コンピュータにより２値化処理をし、次に、２値画像データにおいて１セルの面積よりも大きい面積を有するセル５を抽出し、抽出したセル５の抽出画像データを収縮処理した。抽出画像データが隔壁４により複数のセル５に分割されるか否かにより、隔壁４の１００μｍ未満の幅のクラックの有無を検出した。角度ｋが４０°未満の場合は図８Ａと図８Ｂに従って、処理用画像データを、コンピュータにより２値化処理をし、次に、２値画像データにおいて１セルの面積よりも大きい面積を有するセル５を抽出し、クラックの有無を検出した。
画像データ解析を行った結果、検出箇所を含む領域が２値画像データにおいて１セルの面積よりも大きい面積を有するセル５として抽出されるか、また、検出箇所がクラックとして検出されるか、について表１に示す。１セルの面積よりも大きい面積を有するセル５として抽出された場合をＡ、されなかった場合をＢ、その結果、クラックとして検出された場合をＣ、されなかった場合をＤとして表す。なお、表に記載のクラックの幅は、光学顕微鏡で測定した。
細い幅のクラックの検出箇所Ａ１〜Ａ３は、照射する光１２が光軸から７０°であれば、クラックとして検出することができた。
（チッピングの検出）
チッピングを有する検出箇所Ｂ１〜Ｂ３についても、検出箇所Ａ１〜Ａ３と同様に処理用画像データを得た。光軸からの照明（光源１１）の角度ｋが４０°以上の場合は図７Ａと図７Ｂに示すように、処理用画像データを、コンピュータにより２値化処理をし、次に、２値画像データにおいて１セルの面積よりも大きい面積を有するセル５を抽出し、抽出したセル５の抽出画像データを収縮処理した。抽出画像データが隔壁４により複数のセル５に分割されるか否かにより、隔壁４のチッピングの有無を検出した。角度ｋが４０°未満の場合は図８Ａと図８Ｂに従って、処理用画像データを、コンピュータにより２値化処理をし、次に、２値画像データにおいて１セルの面積よりも大きい面積を有するセル５を抽出し、チッピングの有無を検出した。
表２に、１セルの面積よりも大きい面積を有するセル５として抽出された場合をＡ、されなかった場合をＢ、その結果、クラックとして検出された場合をＣ、されなかった場合をＤとして表す。なお、表に記載のチッピングの深さは、ノギスで測定した。
チッピングの検出箇所Ｂ１〜Ｂ３は、照射する光１２がいずれの角度であっても、クラックとして検出されることはなかった。
（隔壁の太い幅のクラック検出）
太い幅のクラックを有する検出箇所Ｃ１〜Ｃ３についても、検出箇所Ａ１〜Ａ３と同様に処理用画像データを得た。ｋが４０°以上の場合は図７Ａと図７Ｂに示すように、処理用画像データを、コンピュータにより２値化処理をし、次に、２値画像データにおいて１セルの面積よりも大きい面積を有するセル５を抽出し、抽出したセル５の抽出画像データを収縮処理した。抽出画像データが隔壁４により複数のセル５に分割されるか否かにより、隔壁４の１００μｍ以上の幅のクラックの有無を検出した。角度ｋが４０°未満の場合は図８Ａと図８Ｂに従って、処理用画像データを、コンピュータにより２値化処理をし、次に、２値画像データにおいて１セルの面積よりも大きい面積を有するセル５を抽出し、クラックの有無を検出した。
表３に、１セルの面積よりも大きい面積を有するセル５として抽出された場合をＡ、されなかった場合をＢ、その結果、クラックとして検出された場合をＣ、されなかった場合をＤとして表す。なお、表に記載のクラックの幅は、光学顕微鏡で測定した。
太い幅のクラックの検出箇所Ｃ１〜Ｃ３は、照射する光１２が光軸から４０°未満の場合、チッピングと区別して検出することができた。
表１〜表３に示すように、光１２の照射方向を変化させた処理用画像データを画像データ処理することにより、チッピング、細い幅のクラック、太い幅のクラックを区別することができた。
本発明のハニカム構造体の端面検査方法、及び端面検査装置は、作製したハニカム構造体について、良品、不良品を振り分ける工程において好適に利用される。
１：ハニカム構造体、２：端面、２ａ：第１の端面、２ｂ：第２の端面、３：載置面、４：隔壁、４ａ：壁厚、５：セル、９：軸方向、１０：端面検査装置、１１：光源、１１ａ：第１の光源、１１ｂ：第２の光源、１２：（照射する）光、１３：撮影装置、１３ａ：第１の撮影装置、１３ｂ：第２の撮影装置、１４：台、１５：ミラー、２１：第１の処理用画像データ取得手段、２２：第２の処理用画像データ取得手段、２３：配置手段、２６：第１の位置、２７：第２の位置、２８：反転装置、ａ：ハニカム構造体の載置面に対し垂直方向の軸、ｋ：角度。

Claims (16)

  1. 第１の端面から第２の端面まで延びる複数のセルを区画形成する多孔質の隔壁を有するハニカム構造体を、前記第２の端面を載置面として載置して所定の位置に配置する配置工程と、
    前記ハニカム構造体の前記第１の端面に、前記ハニカム構造体の前記載置面に対し垂直方向の軸との間に形成される角度が４０°以上である光を照射しながら、前記第１の端面の第１の処理用画像データを得る第１の処理用画像データ取得工程と、
    前記ハニカム構造体の前記第１の端面に、前記ハニカム構造体の前記載置面に対し垂直方向の軸との間に形成される角度が４０°未満である光を照射しながら、前記第１の端面の第２の処理用画像データを得る第２の処理用画像データ取得工程と、
    前記第１の処理用画像データと前記第２の処理用画像データとを比較して前記隔壁のクラックを検出するクラック検出工程と、を含む端面検査方法。
  2. 前記第１の処理用画像データを得た後、または得る前に、前記第２の処理用画像データを得る請求項１に記載の端面検査方法。
  3. 前記ハニカム構造体の前記載置面に対し垂直方向の軸との間に形成される角度が４０°以上である光と、４０°未満である光は、異なる波長の光であり、異なる波長の光を用いて、前記第１の処理用画像データと前記第２の処理用画像データとを同時に得る請求項１に記載の端面検査方法。
  4. 前記クラック検出工程において、前記第１の処理用画像データを２値化して第１の２値画像データを求め、その第１の２値画像データにおいて前記隔壁における欠損部分の幅を求め、前記幅と所定の閾値を比較することによって前記隔壁のクラックの有無を検出する請求項１〜３のいずれか一項に記載の端面検査方法。
  5. 前記クラック検出工程において、前記第１の処理用画像データを２値化して第１の２値画像データを求め、その第１の２値画像データにおいて１セルの面積よりも大きい面積を有するセルを抽出し、抽出した前記セルの抽出画像データを収縮処理し、前記隔壁のクラックの有無を検出する請求項１〜３のいずれか一項に記載の端面検査方法。
  6. 前記クラック検出工程において、前記第２の処理用画像データを２値化して第２の２値画像データを求め、その第２の２値画像データを基に１セルの面積よりも大きい面積を有するセルを抽出することにより、前記第１の端面のクラックを検出する請求項１〜５のいずれか一項に記載の端面検査方法。
  7. 第１の端面から第２の端面まで延びる複数のセルを区画形成する多孔質の隔壁を有するハニカム構造体を、前記第２の端面を載置面として載置して所定の位置に移動させて配置する配置手段と、
    前記配置手段によって第１の位置に配置された前記ハニカム構造体の前記第１の端面に、前記ハニカム構造体の前記載置面に対し垂直方向の軸との間に形成される角度が４０°以上である光を照射するための第１の光源と、前記第１の端面を撮影する第１の撮影装置とを有し、前記第１の端面の第１の処理用画像データを得る第１の処理用画像データ取得手段と、
    前記配置手段によって第２の位置に配置された前記ハニカム構造体の前記第１の端面に、前記ハニカム構造体の前記載置面に対し垂直方向の軸との間に形成される角度が４０°未満である光を照射するための第２の光源と、前記第１の端面を撮影する第２の撮影装置とを有し、前記第１の端面の第２の処理用画像データを得る、前記第１の処理用画像データ取得手段とは異なる位置に設けられた、第２の処理用画像データ取得手段と、
    を含むハニカム構造体の端面検査装置。
  8. 前記第１の撮影装置、及び／又は、前記第２の撮影装置は、前記ハニカム構造体の前記載置面に対し垂直方向に備えられており、
    前記第１の光源は、前記第１の撮影装置を挟んで、対称位置に少なくとも一対設けられており、
    前記第２の光源は、前記第２の撮影装置を挟んで、対称位置に少なくとも一対設けられている請求項７に記載のハニカム構造体の端面検査装置。
  9. 前記第１の撮影装置、及び／又は、前記第２の撮影装置は、テレセントリック光学系を備える請求項７または８に記載のハニカム構造体の端面検査装置。
  10. 前記第１の光源、及び／又は、前記第２の光源から照射された光を反射して前記ハニカム構造体の前記第１の端面に所定の角度で光を照射するためのミラーを備える請求項７〜９のいずれか一項に記載のハニカム構造体の端面検査装置。
  11. 第１の端面から第２の端面まで延びる複数のセルを区画形成する多孔質の隔壁を有するハニカム構造体を、前記第２の端面を載置面として載置して所定の位置に配置する配置手段と、
    前記ハニカム構造体の前記第１の端面に、前記ハニカム構造体の前記載置面に対し垂直方向の軸との間に形成される角度が４０°以上である光を照射するための第１の光源と、
    前記ハニカム構造体の前記第１の端面に、前記ハニカム構造体の前記載置面に対し垂直方向の軸との間に形成される角度が４０°未満である光を照射するための第２の光源と、
    前記第１の光源により前記ハニカム構造体の前記載置面に対し垂直方向の軸との間に形成される角度が４０°以上である光を照射して、前記第１の端面の第１の処理用画像データを得、前記第２の光源により前記ハニカム構造体の前記載置面に対し垂直方向の軸との間に形成される角度が４０°未満である光を照射して、前記第１の端面の第２の処理用画像データを得る撮影装置と、を備えるハニカム構造体の端面検査装置。
  12. 前記撮影装置は、前記ハニカム構造体の前記載置面に対し垂直方向に備えられており、
    前記第１の光源は、前記撮影装置を挟んで、対称位置に少なくとも一対設けられており、
    前記第２の光源は、前記撮影装置を挟んで、対称位置に少なくとも一対設けられている請求項１１に記載のハニカム構造体の端面検査装置。
  13. 前記撮影装置は、テレセントリック光学系を備える請求項１１または１２に記載のハニカム構造体の端面検査装置。
  14. 前記第１の光源の光を照射して前記第１の処理用画像データを得た後、または得る前に前記第２の光源の光を照射して前記第２の処理用画像データを得る請求項１１〜１３のいずれか一項に記載のハニカム構造体の端面検査装置。
  15. 前記第１の光源の光と前記第２の光源の光は、異なる波長の光であり、前記第１の処理用画像データと前記第２の処理用画像データとを同時に得る請求項１１〜１３のいずれか一項に記載のハニカム構造体の端面検査装置。
  16. 前記第１の光源、及び／又は、前記第２の光源から照射された光を反射して前記ハニカム構造体の前記第１の端面に所定の角度で光を照射するためのミラーを備える請求項１１〜１５のいずれか一項に記載のハニカム構造体の端面検査装置。
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