WO2013008789A1 - ハニカム構造体の検査方法、ハニカム構造体の製造方法及びハニカム構造体の検査装置 - Google Patents

ハニカム構造体の検査方法、ハニカム構造体の製造方法及びハニカム構造体の検査装置 Download PDF

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angle
light
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篠塚　淳彦
幸人 徳岡
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住友化学株式会社
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    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
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    • G01N21/952—Inspecting the exterior surface of cylindrical bodies or wires

Definitions

  • One embodiment of the present invention relates to a honeycomb structure inspection method, a honeycomb structure manufacturing method, and a honeycomb structure inspection apparatus, and a honeycomb structure inspection method for inspecting a side surface of a honeycomb structure, and a honeycomb structure manufacturing
  • the present invention relates to a method and an inspection apparatus for a honeycomb structure.
  • Patent Document 1 discloses a method for inspecting a honeycomb structure including a columnar honeycomb fired body in which a large number of cells are arranged in parallel in the longitudinal direction with cell walls interposed therebetween, and includes a reference plane and a perpendicular to the reference plane.
  • a contact-type measuring instrument comprising a rail provided on the surface of the honeycomb structure and a probe made of a probe that moves along the rail.
  • One end face of the honeycomb structure is brought into contact with the reference plane, and the probe is used as a reference.
  • a method for inspecting a honeycomb structure in which the shape of the honeycomb structure in the longitudinal direction is measured by moving the probe toward the other end face of the honeycomb structure by moving it in a direction approaching the surface is disclosed.
  • One embodiment of the present invention has been made in view of the above problems, and provides a honeycomb structure inspection method and a honeycomb structure inspection apparatus capable of inspecting a honeycomb structure with higher accuracy. With the goal.
  • One embodiment of the present invention is a method for inspecting a honeycomb structure, the first step of inspecting the surface of the honeycomb structure while irradiating light from the first angle with respect to the surface of the honeycomb structure, and the honeycomb And a second step of inspecting the surface of the honeycomb structure while irradiating light from a second angle different from the first angle with respect to the surface of the structure.
  • the first step of inspecting the surface of the honeycomb structure while irradiating the surface of the honeycomb structure with light from the first angle, and the surface of the honeycomb structure The second step of inspecting the surface of the honeycomb structure while irradiating light from a second angle different from the first angle.
  • Defects such as cracks, dents and chips generated on the surface of the honeycomb structure vary greatly depending on the light irradiation angle with respect to the surface of the honeycomb structure. Therefore, with the above configuration, the honeycomb structure can be inspected with higher accuracy.
  • the first angle can be an angle within ⁇ 5 ° with respect to the normal of the surface of the honeycomb structure, and the second angle is an angle rotated by 40 ° to 50 ° with respect to the first angle. And can.
  • the first angle is an angle within ⁇ 5 ° with respect to the normal of the surface of the honeycomb structure
  • the second angle is 40 ° to 50 ° with respect to the first angle.
  • the rotated angle When light is irradiated from a perpendicular angle within ⁇ 5 ° with respect to the normal of the surface of the honeycomb structure, cracks on the surface of the honeycomb structure are easily detected.
  • light is irradiated from an angle rotated by 40 ° to 50 ° from the first angle, dents and chips on the honeycomb structure surface are easily detected. Therefore, with the above configuration, various types of defects can be inspected with higher accuracy.
  • the surface of the honeycomb structure is inspected while irradiating light from the first angle with respect to the side surface of the columnar honeycomb structure.
  • the second step is performed on the side surface of the columnar honeycomb structure.
  • the surface of the honeycomb structure can be inspected while irradiating light from the second angle.
  • the first angle can be an angle within ⁇ 5 ° around the longitudinal direction of the honeycomb structure with respect to the normal of the side surface of the honeycomb structure, and the second angle is relative to the first angle.
  • the angle can be rotated by 40 ° to 50 ° around the longitudinal direction of the honeycomb structure.
  • a honeycomb structure that satisfies a predetermined inspection standard is selected from the honeycomb structure that has been inspected for cells by the method for inspecting a honeycomb structure of the embodiment of the present invention. It is a manufacturing method of a honeycomb structure provided with a sorting process.
  • one embodiment of the present invention is an inspection apparatus for a honeycomb structure, and irradiates light on the surface of the honeycomb structure from a first angle and a second angle different from the first angle.
  • Inspection unit for inspecting the light source that can be used, the surface of the honeycomb structure irradiated with light from the first angle by the light source, and the surface of the honeycomb structure irradiated with light from the second angle of the light source Is an inspection apparatus for a honeycomb structure.
  • the first angle can be an angle within ⁇ 5 ° with respect to the normal of the surface of the honeycomb structure, and the second angle is an angle rotated by 40 ° to 50 ° with respect to the first angle. And can.
  • the light source can emit light from the first angle and a second angle different from the first angle with respect to the side surface of the columnar honeycomb structure.
  • the first angle can be an angle within ⁇ 5 ° around the longitudinal direction of the honeycomb structure with respect to the normal of the side surface of the honeycomb structure, and the second angle is relative to the first angle.
  • the angle can be rotated by 40 ° to 50 ° around the longitudinal direction of the honeycomb structure.
  • the honeycomb structure inspection method can be inspected with higher accuracy.
  • FIG. 2 is an image obtained by a camera when cracks on the side surface of the honeycomb structure are measured by the apparatus of FIG. 1.
  • FIG. 2 It is an image by a camera when the dent on the side surface of the honeycomb structure is measured with the apparatus of FIG.
  • FIG. 1 is an image obtained by a camera when the dents and chips on the side surface of the honeycomb structure are measured at a light source angle of 45 ° with the apparatus of FIG. , (C) is a partially enlarged view of (b), (d) shows a detection result of chipping, and (e) is a partially enlarged view of (d).
  • the honeycomb structure inspection apparatus of this embodiment is for inspecting the presence or absence of defects on the side surfaces of the honeycomb structure used in a DPF or the like.
  • the honeycomb structure inspection apparatus of the present embodiment includes a camera 100 that can capture an image of a side surface of a columnar honeycomb structure 70.
  • the honeycomb structure inspection apparatus according to the present embodiment has a normal direction with respect to the side surface of the columnar honeycomb structure 70 (hereinafter referred to as a light source angle of 0 °) and a method of the side surface of the columnar honeycomb structure 70.
  • a light source 110 capable of irradiating light from a direction rotated by 45 ° around the longitudinal axis of the honeycomb structure 70 from the linear direction (hereinafter referred to as light source direction 45 °) is provided.
  • the light source 110 may have two light sources 110 arranged in advance at a light source angle of 0 ° and a light source angle of 45 °.
  • the light source 110 may be capable of changing the light irradiation direction by freely moving around the longitudinal axis of the honeycomb structure 70.
  • the light irradiation angle of the light source 110 is also an angle within ⁇ 5 ° around the longitudinal direction of the honeycomb structure 70 with respect to the normal of the side surface of the honeycomb structure 70 (hereinafter referred to as a light source angle ⁇ 5 °), If the angle can be changed to two angles, that is, an angle rotated from 40 ° to 50 ° around the longitudinal axis of the honeycomb structure 70 (hereinafter referred to as a light source angle of 35 ° to 55 °) from the angle ⁇ 5 °, it is strictly The light source angle need not be changed to 0 ° and 45 °.
  • the light source 110 may be a light source that can irradiate the honeycomb structure 70 with light from three or more angles.
  • the camera 100 can also be freely moved around the longitudinal axis of the honeycomb structure 70.
  • the camera 100 can be positioned at an angle rotated by ⁇ 45 ° ⁇ 5 ° opposite to the direction of the light source angle of 35 ° to 55 ° (hereinafter, camera angle ⁇ 45 ° ⁇ 5 °). And).
  • the honeycomb structure 70 has an upper surface 70U, a lower surface 70B, and a side surface 70S, and a large number of through holes (cells) 70a are substantially parallel to the upper surface 70U and the lower surface 70B. It is a cylinder arranged in.
  • the cross-sectional shape of the through hole 70a is a square as shown in FIG.
  • the plurality of through holes 70a are arranged in a square arrangement in the honeycomb structure 70, that is, such that the central axis of the through hole 70a is located at the apex of the square, respectively.
  • the square size of the cross section of the through hole 70a can be set to, for example, 0.8 to 2.5 mm on a side.
  • the length of the honeycomb structure 70 in the direction in which the through holes 70a extend is not particularly limited, but may be 40 to 350 mm, for example.
  • the outer diameter of the honeycomb structure 70 is not particularly limited, but may be, for example, 10 to 320 mm.
  • the material of the honeycomb structure 70 is not particularly limited, but may be a ceramic material from the viewpoint of high temperature resistance. Examples thereof include alumina, silica, mullite, cordierite, glass, oxides such as aluminum titanate, silicon carbide, silicon nitride, and metal.
  • the aluminum titanate can further contain at least one of magnesium and silicon.
  • Such a honeycomb structure 70 is usually porous.
  • the honeycomb structure 70 is a green molded body (unfired molded body) that becomes a ceramic material as described above by firing later.
  • the green molded body includes an inorganic compound source powder that is a ceramic raw material, an organic binder such as methylcellulose, and an additive that is added as necessary.
  • the inorganic compound source powder includes an aluminum source powder such as ⁇ -alumina powder, and a titanium source powder such as anatase-type or rutile-type titania powder.
  • an aluminum source powder such as ⁇ -alumina powder
  • a titanium source powder such as anatase-type or rutile-type titania powder.
  • magnesium source powder such as magnesia powder and magnesia spinel powder
  • silicon source powder such as silicon oxide powder and glass frit
  • organic binder examples include celluloses such as methylcellulose, carboxymethylcellulose, hydroxyalkylmethylcellulose, and sodium carboxymethylcellulose; alcohols such as polyvinyl alcohol; and lignin sulfonate.
  • the additive include a pore-forming agent, a lubricant and a plasticizer, a dispersant, and a solvent.
  • Such a honeycomb structure 70 is, for example, as shown in FIG. 3A if the honeycomb structure 70 has square through holes 70a arranged in a square shape as shown in FIGS. As shown in FIG. 2B, only the plurality of through holes 70a that are not adjacent to each other in the vertical and horizontal directions among the plurality of squarely arranged through holes 70a in FIG. 2B are sealed by the sealing material. . At the other end face of the honeycomb structure 70, only the through hole 70a whose one end face is not sealed is similarly sealed by the sealing material.
  • a honeycomb structure 70 generally used for a DPF or the like
  • an inspection before sealing the through-hole 70a and an inspection after sealing the through-hole 70a as shown in FIG. 4 are performed.
  • the inspection of whether or not numbers can be read is the main inspection target.
  • FIGS. 5A and 5B a case where a crack 70cr is generated on the side surface 70S of the honeycomb structure 70 to be inspected will be described.
  • the angle of the camera 100 is assumed to be a camera angle of ⁇ 45 °.
  • FIG. 5A when the crack cr does not have a step at the light source angle of 45 °, the crack cr captured by the camera 100 is unclear.
  • FIG. 5B when the crack cr has no step at the light source angle of 0 °, the crack cr captured by the camera 100 becomes extremely clear.
  • the detection sensitivity of the crack 70cr having no step can be improved by irradiating the crack 70cr with light near a light source angle of 0 °.
  • the crack 70cr having a step becomes unclear when the image is taken at a light source angle of 0 °, and the image taken at a light source angle of 45 ° becomes clear.
  • FIGS. 6 (a) to 6 (c) a case will be described in which a dent 70d is formed on the side surface 70S of the honeycomb structure 70 to be inspected.
  • the angle of the camera 100 is set to a camera angle of ⁇ 45 °.
  • FIG. 6B when the light source angle is 0 °, the dent 70d captured by the camera 100 is unclear.
  • FIG. 6C it can be seen that the same is true even if the captured image of the camera 100 is enlarged.
  • FIG. 6A when the light source angle is 45 °, the dent 70d imaged by the camera 100 is extremely clear. That is, the detection sensitivity of the recess 70d can be improved by irradiating the recess 70d with light near a light source angle of 45 °.
  • FIG. 7A an image of the side surface 70S of the honeycomb structure 70 is captured by the camera 100 at a light source angle of 45 °.
  • FIG. 7B when the light source angle is 45 °, the dent 70d is very clear in the captured image, and the details of the dent 70d are further increased by enlarging the captured image as shown in FIG. 7C. State can be detected.
  • FIG. 7D when the light source angle is 45 °, the chipped 70 ch is also very clear in the captured image, and by expanding the captured image as shown in FIG. The detailed state of can be detected.
  • Defects such as cracks 70cr, dents 70d, and chippings 70ch generated on the side surface 70S of the honeycomb structure 70 vary greatly depending on the light irradiation angle with respect to the side surface 70S of the honeycomb structure 70. Therefore, the honeycomb structure 70 can be inspected with higher accuracy.
  • the first angle is an angle within ⁇ 5 ° around the longitudinal axis of the honeycomb structure 70 with respect to the normal line of the side surface 70S of the honeycomb structure 70
  • the second angle is The angle rotated by 40 ° to 50 ° around the longitudinal axis of the honeycomb structure 70 with respect to the first angle.
  • this invention is not limited to the said embodiment, A various deformation
  • the description has been made mainly on the aspect in which the inspection is performed by changing the angle of the light source 110 to the first angle and the second angle with respect to the side surface 70S of the columnar honeycomb structure 70.
  • the present invention is not limited to an aspect in which the side surface 70S of the honeycomb structure 70 is inspected.
  • the upper surface 70U and the lower surface 70B of the honeycomb structure are similarly irradiated with light at a first angle within ⁇ 5 ° with respect to the normal line of the upper surface 70U and the lower surface 70B. Then, the inspection can be performed by irradiating light at a second angle which is an angle rotated by 40 ° to 50 ° with respect to the first angle.
  • the above steps may be repeated for each of the side surface 70S, the upper surface 70U, and the lower surface 70B in order to improve detection accuracy. Moreover, you may perform said process separately for every test object, such as the side surface 70S, the upper surface 70U, and the lower surface 70B. In addition, processes other than those described above may be added as appropriate.
  • the honeycomb structure inspection method can be inspected with higher accuracy.

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Abstract

　柱状のハニカム構造体の検査方法において、ハニカム構造体の側面に対して第１の角度から光源より光を照射しつつハニカム構造体の側面をカメラにより検査する工程と、ハニカム構造体の側面に対して第１の角度とは異なる第２の角度から光源より光を照射しつつハニカム構造体の側面をカメラにより検査する工程とを含む。ハニカム構造体の側面に生じたクラックや凹みや欠け等の欠陥は、ハニカム構造体の側面に対する光の照射角度によって、測定のし易さがそれぞれ大きく異なる。そのため、より高精度でハニカム構造体の検査を行なうことができる。

Description

ハニカム構造体の検査方法、ハニカム構造体の製造方法及びハニカム構造体の検査装置
　本発明の一実施形態は、ハニカム構造体の検査方法、ハニカム構造体の製造方法及びハニカム構造体の検査装置に関し、ハニカム構造体の側面を検査するハニカム構造体の検査方法、ハニカム構造体の製造方法及びハニカム構造体の検査装置に関する。
　従来より、ディーゼルパティキュレートフィルタ（ＤＰＦ：Diesel　particulate　filter）として用いられるハニカムフィルタの欠陥検査方法が知られている。例えば、特許文献１には、多数のセルがセル壁を隔てて長手方向に並設された柱状のハニカム焼成体からなるハニカム構造体の検査方法であって、基準面と、当該基準面に垂直に設けられたレールと、当該レールに沿って移動する探針からなる測定子とを備えた接触式計測機を準備し、基準面にハニカム構造体の一方の端面を接触させ、測定子を基準面に近づける方向に移動せしめてハニカム構造体の他方の端面に探針を接触させることにより、ハニカム構造体の長手方向の形状を計測するハニカム構造体の検査方法が開示されている。
特開２００７－２５６２６３号公報
　しかしながら、従来の方法では、欠陥の検出精度が十分では無い。
　本発明の一実施形態は、上記課題に鑑みてなされたものであり、より高精度でハニカム構造体の検査を行なうことができるハニカム構造体の検査方法及びハニカム構造体の検査装置を提供することを目的とする。
　本発明の一実施形態は、ハニカム構造体の検査方法であって、ハニカム構造体の表面に対して第１の角度から光を照射しつつハニカム構造体の表面を検査する第１工程と、ハニカム構造体の表面に対して第１の角度とは異なる第２の角度から光を照射しつつハニカム構造体の表面を検査する第２工程とを含むハニカム構造体の検査方法である。
　この構成によれば、ハニカム構造体の検査方法において、ハニカム構造体の表面に対して第１の角度から光を照射しつつハニカム構造体の表面を検査する第１工程と、ハニカム構造体の表面に対して第１の角度とは異なる第２の角度から光を照射しつつハニカム構造体の表面を検査する第２工程とを含む。ハニカム構造体の表面に生じたクラックや凹みや欠け等の欠陥は、ハニカム構造体の表面に対する光の照射角度によって、その測定のし易さがそれぞれ大きく異なる。そのため、上記構成により、より高精度でハニカム構造体の検査を行なうことができる。
　この場合、第１の角度は、ハニカム構造体の表面の法線に対して±５°以内の角度とでき、第２の角度は、第１の角度に対して４０°～５０°回転した角度とできる。
　この構成によれば、第１の角度は、ハニカム構造体の表面の法線に対して±５°以内の角度であり、第２の角度は、第１の角度に対して４０°～５０°回転した角度である。ハニカム構造体の表面の法線に対して±５°以内の垂直に近い角度から光を照射した場合、ハニカム構造体表面のクラックを検出し易い。一方、上記第１の角度から４０°～５０°回転した角度から光を照射した場合、ハニカム構造体表面の凹みや欠けを検出し易い。そのため、上記構成により、様々な種類の欠陥の検査をより高精度で行なうことができる。
　また、第１工程は、柱状のハニカム構造体の側面に対して第１の角度から光を照射しつつハニカム構造体の表面を検査し、第２工程は、柱状のハニカム構造体の側面に対して第２の角度から光を照射しつつハニカム構造体の表面を検査することができる。
　ハニカム構造体の側面に生じたクラックや凹みや欠け等の欠陥は、ハニカム構造体の側面に対する光の照射角度によって、その測定のし易さがそれぞれ大きく異なる。そのため、上記構成により、より高精度でハニカム構造体の検査を行なうことができる。
　この場合、第１の角度は、ハニカム構造体の側面の法線に対してハニカム構造体の長手方向周りに±５°以内の角度とでき、第２の角度は、第１の角度に対してハニカム構造体の長手方向周りに４０°～５０°回転した角度とできる。
　柱状のハニカム構造体の側面の法線に対してハニカム構造体の長手方向周りに±５°以内の垂直に近い角度から光を照射した場合、ハニカム構造体側面のクラックを検出し易い。一方、上記第１の角度から柱状のハニカム構造体の長手方向周りに４０°～５０°回転した角度から光を照射した場合、柱状のハニカム構造体側面の凹みや欠けを検出し易い。そのため、上記構成により、様々な種類の欠陥の検査をより高精度で行なうことができる。
　また、本発明の一実施形態は、上記本発明の一実施形態のハニカム構造体の検査方法によってセルについての検査が行なわれたハニカム構造体について、所定の検査基準を満たすハニカム構造体を選別する選別工程を備えたハニカム構造体の製造方法である。
　また、本発明の一実施形態は、ハニカム構造体の検査装置であって、ハニカム構造体の表面に対して、第１の角度と第１の角度とは異なる第２の角度とから光を照射することが可能な光源と、光源により第１の角度から光を照射されたハニカム構造体の表面と、光源により第２の角度から光を照射されたハニカム構造体の表面とを検査する検査ユニットとを備えたハニカム構造体の検査装置である。
　この場合、第１の角度は、ハニカム構造体の表面の法線に対して±５°以内の角度とでき、第２の角度は、第１の角度に対して４０°～５０°回転した角度とできる。
　また、光源は、柱状のハニカム構造体の側面に対して、第１の角度と、第１の角度とは異なる第２の角度とから光を照射することが可能であり、検査ユニットは、光源により第１の角度から光を照射された柱状のハニカム構造体の側面と、光源により第２の角度から光を照射された柱状のハニカム構造体の側面とを検査することができる。
　この場合、第１の角度は、ハニカム構造体の側面の法線に対してハニカム構造体の長手方向周りに±５°以内の角度とでき、第２の角度は、第１の角度に対してハニカム構造体の長手方向周りに４０°～５０°回転した角度とできる。
　本発明の一実施形態のハニカム構造体の検査方法、ハニカム構造体の製造方法及びハニカム構造体の検査装置によれば、より高精度でハニカム構造体の検査を行なうことができる。
本発明の一実施形態に係るハニカムフィルタの欠陥の検査装置の配置を示す平面図である。 （ａ）は封口前のハニカム構造体の斜視図であり、（ｂ）は（ａ）の部分拡大図である。 （ａ）は封口後の封口用マスクの斜視図であり、（ｂ）は（ａ）の部分拡大図である。 封口前検査における検査場所と検査対象となる欠陥の種類とを示す表である。 図１の装置でハニカム構造体側面のクラックを測定した際のカメラによる画像であり、（ａ）は光源角度４５°の画像であり、（ｂ）は光源角度０°の画像である。 図１の装置でハニカム構造体側面の凹みを測定した際のカメラによる画像であり、（ａ）は光源角度４５°の画像であり、（ｂ）は光源角度０°の画像であり、（ｃ）は（ｂ）の部分拡大図である。 図１の装置でハニカム構造体側面の凹み及び欠けを光源角度４５°として測定した際のカメラによる画像であり、（ａ）はカメラによる取得画像であり、（ｂ）は凹みの検出結果を示し、（ｃ）は（ｂ）の部分拡大図であり、（ｄ）は欠けの検出結果を示し、（ｅ）は（ｄ）の部分拡大図である。
　以下、図面を参照しながら、本発明の一実施形態について詳細に説明する。本実施形態のハニカム構造体の検査装置は、ＤＰＦ等に用いられるハニカム構造体の側面の欠陥の有無を検査するためのものである。図１に示すように、本実施形態のハニカム構造体の検査装置は、柱状のハニカム構造体７０の側面を撮像することが可能なカメラ１００を備えている。また、本実施形態のハニカム構造体の検査装置は、柱状のハニカム構造体７０の側面に対して法線方向（以下、光源角度０°とする）と、柱状のハニカム構造体７０の側面の法線方向からハニカム構造体７０の長手方向の軸周りに４５°回転した方向（以下、光源方向４５°とする）とから光を照射することが可能な光源１１０を備えている。
　光源１１０は、光源角度０°の位置と光源角度４５°の位置とに２機の光源１１０が予め配置されているものでも良い。あるいは、光源１１０は、ハニカム構造体７０の長手方向の軸周りに自在に移動することにより、光の照射方向を変更可能なものでも良い。光源１１０の光の照射角度も、ハニカム構造体７０の側面の法線に対してハニカム構造体７０の長手方向周りに±５°以内の角度（以下、光源角度±５°とする）と、光源角度±５°からハニカム構造体７０の長手方向軸周りに４０°～５０°回転した角度（以下、光源角度３５°～５５°とする）との２つの角度に変更できるものであれば、厳密に光源角度０°及び４５°に変更するものでなくとも良い。また、光源１１０は３つ以上の角度からハニカム構造体７０に光を照射可能なものでも良い。また、カメラ１００も、ハニカム構造体７０の長手方向の軸周りに自在に移動可能なものとできる。例えば本実施形態では、カメラ１００は、光源角度３５°～５５°の方向とは反対方向の－４５°±５°回転した角度に位置するものとできる（以下、カメラ角度－４５°±５°とする）。
　ここで検査対象となるハニカム構造体について説明する。図２（ａ）に示すように、本実施形態に係るハニカム構造体７０は、上面７０Ｕ、下面７０Ｂ及び側面７０Ｓを有し、上面７０Ｕ及び下面７０Ｂに多数の貫通孔（セル）７０ａが略平行に配置された円柱体である。貫通孔７０ａの断面形状は、図２の（ｂ）に示すように正方形である。これらの複数の貫通孔７０ａは、ハニカム構造体７０において、端面から見て、正方形配置、すなわち、貫通孔７０ａの中心軸が、正方形の頂点にそれぞれ位置するように配置されている。貫通孔７０ａの断面の正方形のサイズは、例えば、一辺０．８～２．５ｍｍとすることができる。
　また、ハニカム構造体７０の貫通孔７０ａが延びる方向の長さは特に限定されないが、例えば、４０～３５０ｍｍとすることができる。また、ハニカム構造体７０の外径も特に限定されないが、例えば、１０～３２０ｍｍとすることできる。
　ハニカム構造体７０の材料は特に限定されないが、高温耐性の観点から、セラミクス材料とできる。例えば、アルミナ、シリカ、ムライト、コーディエライト、ガラス、チタン酸アルミニウム等の酸化物、シリコンカーバイド、窒化珪素、金属等が挙げられる。なお、チタン酸アルミニウムは、さらに、マグネシウム及びケイ素の少なくともいずれかを含むことができる。このような、ハニカム構造体７０は通常多孔質である。
　ハニカム構造体７０は、後で焼成することにより上述のようなセラミック材料となるグリーン成形体（未焼成成形体）である。グリーン成形体は、セラミクス原料である無機化合物源粉末、メチルセルロース等の有機バインダ及び必要に応じて添加される添加剤を含む。
　例えば、チタン酸アルミニウムのグリーン成形体の場合、無機化合物源粉末は、αアルミナ粉等のアルミニウム源粉末、及びアナターゼ型やルチル型のチタニア粉末等のチタニウム源粉末を含み、必要に応じて、さらに、マグネシア粉末やマグネシアスピネル粉末等のマグネシウム源粉末及び酸化ケイ素粉末やガラスフリット等のケイ素源粉末の少なくともいずれかを含むことができる。
　有機バインダとしては、メチルセルロース、カルボキシルメチルセルロース、ヒドロキシアルキルメチルセルロース、ナトリウムカルボキシルメチルセルロースなどのセルロース類；ポリビニルアルコールなどのアルコール類；リグニンスルホン酸塩を例示できる。添加物としては、例えば、造孔剤、潤滑剤および可塑剤、分散剤、溶媒が挙げられる。
　なお、このようなハニカム構造体７０は、例えば、図２（ａ）（ｂ）に示したような正方形の貫通孔７０ａが正方形配置とされているハニカム構造体７０であれば、図３（ａ）（ｂ）に示すように、図２の（ｂ）の正方配置された複数の貫通孔７０ａのうち、互いに上下左右に隣接しない関係にある複数の貫通孔７０ａのみが封口材により封口される。ハニカム構造体７０のもう一方の端面では、一方の端面が封口されていない貫通孔７０ａのみが同様に封口材により封口される。
　一般にＤＰＦ等に用いられるハニカム構造体７０の製造においては、図４に示すような貫通孔７０ａを封口する前の検査と、貫通孔７０ａを封口した後の検査とが行なわれる。本実施形態では、図４に示す、ハニカム構造体７０の側面のかど欠け、側面へこみ、側面クラック及びＩＤの刻印等の数字の読み取りの可否の検査が主な検査対象となる。
　以下、本実施形態の検査装置及び検査方法の手順と作用とについて説明する。まず、図５（ａ）（ｂ）に示すように、検査対象となるハニカム構造体７０の側面７０Ｓにクラック７０ｃｒが生じている場合について説明する。カメラ１００の角度は、カメラ角度－４５°とする。図５（ａ）に示すように、光源角度４５°では、クラックｃｒが段差を有しない場合は、カメラ１００で撮像されるクラックｃｒは不鮮明なものとなる。一方、図５（ｂ）に示すように、光源角度０°では、クラックｃｒが段差を有しない場合は、カメラ１００で撮像されるクラックｃｒは極めて鮮明なものとなる。すなわち、クラック７０ｃｒに対しては、光源角度０°付近で光を照射することにより、段差を有しないクラック７０ｃｒの検出感度を向上させることができる。逆に、段差を有するクラック７０ｃｒは光源角度０°で撮影される画像は不鮮明となり、光源角度４５°で撮影される画像は鮮明となる。
　次に、図６（ａ）～（ｃ）に示すように、検査対象となるハニカム構造体７０の側面７０Ｓに凹み７０ｄが生じている場合について説明する。カメラ１００の角度は、同様にカメラ角度－４５°とする。図６（ｂ）に示すように、光源角度０°では、カメラ１００で撮像される凹み７０ｄは不鮮明なものとなる。これは、図６（ｃ）に示すように、カメラ１００の撮像画像を拡大しても同様であることが判る。一方、図６（ａ）に示すように、光源角度４５°では、カメラ１００で撮像される凹み７０ｄは極めて鮮明なものとなる。すなわち、凹み７０ｄに対しては、光源角度４５°付近で光を照射することにより、凹み７０ｄの検出感度を向上させることができる。
　ここで、光源角度４５°によりハニカム構造体７０の側面７０Ｓの欠陥を検出する作用について説明する。図７（ａ）に示すように、光源角度４５°により、ハニカム構造体７０の側面７０Ｓの画像がカメラ１００により撮像される。図７（ｂ）に示すように、光源角度４５°では、凹み７０ｄは撮像画像中で極めて鮮明であり、図７（ｃ）に示すように撮像画像を拡大することにより、より凹み７０ｄの詳細な状態を検出することができる。また、図７（ｄ）に示すように、光源角度４５°では、欠け７０ｃｈも撮像画像中で極めて鮮明であり、図７（ｅ）に示すように撮像画像を拡大することにより、より欠け７０ｃｈの詳細な状態を検出することができる。
　本実施形態では、柱状のハニカム構造体７０の検査方法において、ハニカム構造体７０の側面７０Ｓに対して第１の角度から光を照射しつつハニカム構造体７０の側面７０Ｓを検査する工程と、ハニカム構造体７０の側面７０Ｓに対して第１の角度とは異なる第２の角度から光を照射しつつハニカム構造体７０の側面７０Ｓを検査する工程とを含む。ハニカム構造体７０の側面７０Ｓに生じたクラック７０ｃｒや凹み７０ｄや欠け７０ｃｈ等の欠陥は、ハニカム構造体７０の側面７０Ｓに対する光の照射角度によって、その測定のし易さがそれぞれ大きく異なる。そのため、より高精度でハニカム構造体７０の検査を行なうことができる。
　また、本実施形態では、第１の角度は、ハニカム構造体７０の側面７０Ｓの法線に対してハニカム構造体７０の長手方向軸周りに±５°以内の角度であり、第２の角度は、第１の角度に対してハニカム構造体７０の長手方向軸周りに４０°～５０°回転した角度である。ハニカム構造体７０の側面７０Ｓの法線に対してハニカム構造体７０の長手方向軸周りに±５°以内の垂直に近い角度から光を照射した場合、ハニカム構造体７０の側面７０Ｓのクラック７０ｃｒを検出し易い。一方、上記第１の角度からハニカム構造体７０の長手方向軸周りに４０°～５０°回転した角度から光を照射した場合、ハニカム構造体７０の側面７０Ｓの凹み７０ｄや欠け７０ｃｈを検出し易い。そのため、様々な種類の欠陥の検査をより高精度で行なうことができる。
　なお、本発明は上記実施形態に限定されず、様々な変形態様が可能である。例えば、上記実施形態においては、柱状のハニカム構造体７０の側面７０Ｓに対して光源１１０の角度を第１の角度と第２の角度とに変更して検査を行なう態様を中心に説明したが、本発明はハニカム構造体７０の側面７０Ｓを検査する態様に限定されない。例えば、本発明の一実施形態では、ハニカム構造体の上面７０Ｕ及び下面７０Ｂに対しても、同様に上面７０Ｕ及び下面７０Ｂの法線に対して±５°以内の第１の角度で光を照射し、第１の角度に対して４０°～５０°回転した角度である第２の角度で光を照射することにより、検査を行なうことができる。
　また、上記の工程は、検出精度を向上させるため、側面７０Ｓ、上面７０Ｕ及び下面７０Ｂのそれぞれに対して繰り返し行なっても良い。また、上記の工程は、側面７０Ｓ、上面７０Ｕ及び下面７０Ｂといった検査対象ごとに分けて行なっても良い。加えて、上記以外の工程が適宜追加されても良い。
　本発明の一実施形態のハニカム構造体の検査方法、ハニカム構造体の製造方法及びハニカム構造体の検査装置によれば、より高精度でハニカム構造体の検査を行なうことができる。
７０　ハニカム構造体
７０ａ　貫通孔
７０Ｕ　上面
７０Ｓ　側面
７０Ｂ　下面
７０ｃｒ　クラック
７０ｄ　凹み
７０ｃｈ　欠け

Claims (9)

  1. 　ハニカム構造体の検査方法であって、
    　前記ハニカム構造体の表面に対して第１の角度から光を照射しつつ前記ハニカム構造体の表面を検査する第１工程と、
    　前記ハニカム構造体の表面に対して前記第１の角度とは異なる第２の角度から光を照射しつつ前記ハニカム構造体の表面を検査する第２工程とを含む、ハニカム構造体の検査方法。
  2. 　前記第１の角度は、前記ハニカム構造体の表面の法線に対して±５°以内の角度であり、
    　前記第２の角度は、前記第１の角度に対して４０°～５０°回転した角度である、請求項１に記載のハニカム構造体の検査方法。
  3. 　前記第１工程は、柱状の前記ハニカム構造体の側面に対して前記第１の角度から光を照射しつつ前記ハニカム構造体の表面を検査し、
    　前記第２工程は、柱状の前記ハニカム構造体の側面に対して前記第２の角度から光を照射しつつ前記ハニカム構造体の表面を検査する、請求１に記載のハニカム構造体の検査方法。
  4. 　前記第１の角度は、前記ハニカム構造体の側面の法線に対して前記ハニカム構造体の長手方向周りに±５°以内の角度であり、
    　前記第２の角度は、前記第１の角度に対して前記ハニカム構造体の長手方向周りに４０°～５０°回転した角度である、請求項３に記載のハニカム構造体の検査方法。
  5. 　前記請求項１～４のいずれか１項に記載のハニカム構造体の検査方法によって前記セルについての検査が行なわれた前記ハニカム構造体について、所定の検査基準を満たす前記ハニカム構造体を選別する選別工程を備えたハニカム構造体の製造方法。
  6. 　ハニカム構造体の検査装置であって、
    　前記ハニカム構造体の表面に対して、第１の角度と、前記第１の角度とは異なる第２の角度とから光を照射することが可能な光源と、
    　前記光源により前記第１の角度から光を照射された前記ハニカム構造体の表面と、前記光源により前記第２の角度から光を照射された前記ハニカム構造体の表面とを検査する検査ユニットとを備えたハニカム構造体の検査装置。
  7. 　前記第１の角度は、前記ハニカム構造体の表面の法線に対して±５°以内の角度であり、
    　前記第２の角度は、前記第１の角度に対して４０°～５０°回転した角度である、請求項６に記載のハニカム構造体の検査装置。
  8. 　前記光源は、柱状の前記ハニカム構造体の側面に対して、第１の角度と、前記第１の角度とは異なる第２の角度とから光を照射することが可能であり、
    　前記検査ユニットは、前記光源により前記第１の角度から光を照射された柱状の前記ハニカム構造体の側面と、前記光源により前記第２の角度から光を照射された柱状の前記ハニカム構造体の側面とを検査する、請求項６に記載のハニカム構造体の検査装置。
  9. 　前記第１の角度は、前記ハニカム構造体の側面の法線に対して前記ハニカム構造体の長手方向周りに±５°以内の角度であり、
    　前記第２の角度は、前記第１の角度に対して前記ハニカム構造体の長手方向周りに４０°～５０°回転した角度である、請求項８に記載のハニカム構造体の検査装置。
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