JPWO2016042760A1 - 流体経路検査装置及び流体経路検査方法 - Google Patents

流体経路検査装置及び流体経路検査方法 Download PDF

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Abstract

システム上の問題なのか、専用チューブのリークなのか、締め付け圧力の不具合の問題なのか等の異常モードの分類やその異常モードの分析等が簡単にできる流体経路検査装置及び流体経路検査方法を提供する。圧力調整用比例電磁弁(V1a2,V1a4,V1a6,V1b2,V1b4,V1b6)を有し、被測定機器3の流体経路に発生する可能性のある複数の異常モードのそれぞれが呈する流体回路の特性を、被測定加圧手段303による流体圧力の加圧と圧力調整用比例電磁弁による流体圧力の調整によってそれぞれエミュレートして、被測定機器3の流体経路の異常を検査する異常エミュレーションユニット21bを備える。

Description

本発明は流体経路の異常を検査する装置に係り、特に間歇的流体圧迫法(intermittent pneumatic compression:IPC)に用いる医療機器の場合等のように、人体に取り付ける場合に圧力調整の微妙な流体経路を形成するシステムにおいて、人体に対する取り付け環境を含めた複雑な異常等を検査し、流体経路をメインテナンスする際に必要となる流体経路検査装置及びこの流体経路検査装置を用いた流体経路検査方法に関する。
間歇的流体圧迫法では、図34及び図35に示すようなスリーブ(ガーメント)301a,301bを下肢や足底に巻き付け、加圧ポンプ(IPCポンプ)によって加えられる圧力により、静脈中の血液を押し出し、静脈血流速度を増加させ、線維素溶解活動を刺激する。このIPC法においては、始業時に、接続チューブ4a1,4a2,4a3;4b1,4b2,4b3が確実に接続されているか、接続チューブ4a1,4a2,4a3;4b1,4b2,4b3にネジレや折れがないか、接続チューブ4a1,4a2,4a3;4b1,4b2,4b3からの空気漏れがないか、コネクタに空気漏れがないか、スリーブ、カーフポンプやフットポンプに空気漏れや故障がないか等の点検が必要である。
従来、高圧の流体加圧ポンプの作動状態を監視する装置(特許文献1参照。)やチューブの不具合のみを単独で検査する装置(特許文献2参照。)等の提案は知られている。しかしながら、医療機器に用いる5〜10kPa程度の低圧領域を対象とするシステムにおいては、スリーブ301a,301b等を人体に巻き付ける際の締め付け圧力の不具合等は、微少レベルの圧力変化を伴う複雑な事象である。よって、医療機器に用いられる低圧領域の流体経路の場合は、不具合の検知や原因の究明は経験則を伴う微妙な判断が求められ、非常に困難である。したがって、微少レベルの圧力変化の検知が必要な低圧領域の流体経路をシステム構成とするような医療機器を被測定機器とする場合は、加圧ポンプ等の被測定機器を構成しているハードウェアやシステムの故障なのか、被測定機器に用いる接続チューブ4a1,4a2,4a3;4b1,4b2,4b3等のリークや不備なのか、被測定機器に用いるスリーブ301a,301bの取り付け方や締め付け圧力に不具合があるのかを簡単に判別することは困難である。このため、従来は、専用チューブのリークと加圧手段等のシステム上の問題とを簡単に判別できるような流体経路検査装置や流体経路検査方法の提案はなかった。
特開2001−132659号公報 特開2002−202232号公報
本発明は、被測定機器を構成している加圧手段等のハードウェアやシステム上の問題なのか、被測定機器に用いる専用チューブのリークや不備の問題なのか、被測定機器に用いるスリーブ等の部品の取り付け方や締め付け圧力の不具合の問題なのか等の被測定機器の異常モードの分類やその異常モードの分析等を、1台の小型の装置を用いて簡単にできる流体経路検査装置及びこの流体経路検査装置を用いた流体経路検査方法を提供することを目的とする。
上記目的を達成するために、本発明の第1の態様は、被測定加圧手段と専用チューブを有する被測定機器の流体経路を検査する流体経路検査装置に関する。即ち、本発明の第1の態様に係る流体経路検査装置は、(a)測定用加圧手段を有し、専用チューブの経路を流体経路の一部として閉じた流体回路を構成し、測定用加圧手段によって流体回路を加圧して一定時間保持することにより専用チューブのリークを検査するリーク検査ユニットと、(b)圧力調整用比例電磁弁を有し、被測定機器の流体経路に発生する可能性のある複数の異常モードのそれぞれの流体回路の特性を、被測定加圧手段による流体圧力の加圧と圧力調整用比例電磁弁による流体圧力の調整によってそれぞれエミュレートして、被測定機器の流体経路の異常を検査する異常エミュレーションユニットと、を備えることを要旨とする。
本発明の第2の態様は、被測定加圧手段と専用チューブを有する被測定機器の流体経路を検査する流体経路検査方法に関する。即ち、本発明の第2の態様に係る流体経路検査方法は、(a)専用チューブの経路を流体経路の一部として閉じた流体回路を構成し、流体回路を加圧して一定時間保持することにより専用チューブのリークを検査するステップと、(b)被測定機器の流体経路に発生する可能性のある複数の異常モードのそれぞれの流体回路の特性を流体経路検査装置によってエミュレートするステップと、(c)被測定機器に接続された流体経路検査装置の内部配管を被測定加圧手段で加圧して、エミュレートされた特性と比較して、被測定機器の流体経路の異常を検査するステップと、を含むことを要旨とする。
本発明によれば、被測定機器を構成している加圧手段等のハードウェアやシステム上の問題なのか、被測定機器に用いる専用チューブのリークや不備の問題なのか、被測定機器に用いるスリーブ等の部品の取り付け方や締め付け圧力の不具合の問題なのか等の被測定機器の異常モードの分類やその異常モードの分析等を、1台の小型の装置を用いて簡単にできる流体経路検査装置及びこの流体経路検査装置を用いた流体経路検査方法を提供することができる。
本発明の第1の実施の形態に係る流体経路検査装置の一部を構成するリーク検査ユニットの平面配置レイアウトの要部の概略を説明する模式的なブロック図である。 第1の実施の形態に係る流体経路検査装置の他の一部を構成する異常エミュレーションユニットの平面配置レイアウトの要部の概略を、3系統の流体回路を一部に示しながら説明する模式的なブロック図である。 第1の実施の形態に係る流体経路検査装置の筐体に囲まれた下側の小部屋の要部の概略を説明する左側面側から見た部分断面斜視図である。 第1の実施の形態に係る流体経路検査装置の上側の小部屋と下側の小部屋を含めて全体を透視する左側面図である。 第1の実施の形態に係る流体経路検査装置の筐体に囲まれた下側の小部屋に着目した一部透視平面図である。 図6(a)は、第1の実施の形態に係る流体経路検査装置の下側の小部屋に配置されたプリント基板スタックの要部の概略を説明する模式的な側面図で、図6(b)は、第1の実施の形態に係る流体経路検査装置の上側の小部屋に配置されたプリント基板スタックの要部の概略を説明する模式的な側面図である。 第1の実施の形態に係る流体経路検査装置のシステム構成の要部の概略を説明するブロック図である。 第1の実施の形態に係る流体経路検査装置に用いる全体制御回路の要部の概略を説明するブロック図である。 第1の実施の形態に係る流体経路検査装置に用いるリーク用流体供給圧力計測回路の要部の概略を説明するブロック図である。 第1の実施の形態に係る流体経路検査装置に用いるAポート流体供給圧力計測回路の要部の概略を説明するブロック図である。 第1の実施の形態に係る流体経路検査装置に用いるBポート流体供給圧力計測回路の要部の概略を説明するブロック図である。 第1の実施の形態に係る流体経路検査装置に用いるリーク検査用駆動回路とこのリーク検査用駆動回路によって駆動される素子との関係を説明するブロック図である。 第1の実施の形態に係る流体経路検査装置に用いるAポート検査用異常負荷発生回路とこのAポート検査用異常負荷発生回路によって駆動される素子との関係を説明するブロック図である。 第1の実施の形態に係る流体経路検査装置に用いるBポート検査用異常負荷発生回路とこのBポート検査用異常負荷発生回路によって駆動される素子との関係を説明するブロック図である。 第1の実施の形態に係る流体経路検査装置に用いる動作表示灯点灯回路とこの動作表示灯点灯回路によって駆動される素子との関係を説明するブロック図である。 「エラーモード(異常モード)」における第1の実施の形態に係る流体経路検査装置の動作を説明するフローチャートである(その1)。 「エラーモード」における第1の実施の形態に係る流体経路検査装置の動作を説明するフローチャートである(その2)。 「エラーモード」における第1の実施の形態に係る流体経路検査装置の動作を説明するフローチャートである(その3)。 「エラーモード」における第1の実施の形態に係る流体経路検査装置の動作を説明するフローチャートである(その4)。 「エラーモード」における第1の実施の形態に係る流体経路検査装置の動作を説明するフローチャートである(その5)。 「エラーモード」における第1の実施の形態に係る流体経路検査装置の動作を説明するフローチャートである(その6)。 「エラーモード」における第1の実施の形態に係る流体経路検査装置の動作を説明するフローチャートである(その7)。 「エラーモード」における第1の実施の形態に係る流体経路検査装置の動作を説明するフローチャートである(その8)。 「エラーモード」における第1の実施の形態に係る流体経路検査装置の動作を説明するフローチャートである(その9)。 「ノーマルモード(正常モード)」における第1の実施の形態に係る流体経路検査装置の動作を説明するフローチャートである(その1)。 「ノーマルモード」における第1の実施の形態に係る流体経路検査装置の動作を説明するフローチャートである(その2)。 「ノーマルモード」における第1の実施の形態に係る流体経路検査装置の動作を説明するフローチャートである(その3)。 「ノーマルモード」における第1の実施の形態に係る流体経路検査装置の動作を説明するフローチャートである(その4)。 リーク検査の場合の第1の実施の形態に係る流体経路検査装置の動作を説明するフローチャートである(その1)。 リーク検査の場合の第1の実施の形態に係る流体経路検査装置の動作を説明するフローチャートである(その2)。 リーク検査の場合の第1の実施の形態に係る流体経路検査装置の動作を説明するフローチャートである(その3)。 リーク検査の場合の第1の実施の形態に係る流体経路検査装置の動作を説明するフローチャートである(その4)。 リーク検査の場合の第1の実施の形態に係る流体経路検査装置の動作を説明するフローチャートである(その5)。 本発明の第1の実施の形態に係る流体経路検査装置の適用例として好適な医療機器が人体に取り付けられた状態の概略を説明する模式的な鳥瞰図である。 人体に取り付ける前に、図34に示した医療機器を展開した状態の概略を説明する模式的な平面図である。
次に、図面を参照して、本発明の第1の実施の形態を説明する。以下の図面の記載において、同一又は類似の部分には同一又は類似の符号を付している。ただし、図面は模式的なものであり、厚みと平面寸法との関係、各層の厚みの比率等は現実のものとは異なることに留意すべきである。したがって、具体的な厚みや寸法は以下の説明を参酌して判断すべきものである。又、図面相互間においても互いの寸法の関係や比率が異なる部分が含まれていることは勿論である。又、以下に示す第1の実施の形態は、本発明の技術的思想を具体化するための装置や方法を例示するものであって、本発明の技術的思想は、構成部品の材質、形状、構造、配置等を下記のものに特定するものでない。本発明の技術的思想は、特許請求の範囲に記載された請求項が規定する技術的範囲内において、種々の変更を加えることができる。
(第1の実施の形態)
本発明の第1の実施の形態に係る流体経路検査装置は、図2に示すような被測定加圧手段(コンプレッサ)303と専用チューブ(4a1,4a2,4a3,4b1,4b2,4b3)を有する被測定機器3の流体経路を検査する流体経路検査装置である。即ち、第1の実施の形態に係る流体経路検査装置は、図1に示すような30kPa程度以下の低圧領域の加圧が可能な測定用加圧手段(コンプレッサ)34を有する。流体経路検査装置からは、専用チューブ(4a1,4a2,4a3,4b1,4b2,4b3)とは異なる検査チューブ4xjが出ており、エラーモード・ノーマルモード時には検査チューブ4xjのみで被測定機器3と流体経路検査装置とを接続している。被測定機器3の通常使用時には専用チューブ(4a1,4a2,4a3,4b1,4b2,4b3)が被測定機器3とスリーブ(ガーメント)とを接続している。流体経路検査装置と検査チューブ4xj(4a1,4a2,4a3,4b1,4b2,4b3)のみを接続してリーク検査を行う。検査チューブ4xjの経路を流体経路の一部として閉じた流体回路を構成し、測定用加圧手段34によって流体回路を加圧して一定時間保持することにより検査チューブ4xjのリークを検査するリーク検査ユニット21aと、図2に示すような圧力調整用比例電磁弁(V1a2,V1a4,V1a6,V1b2,V1b4,V1b6)を有し、被測定機器3の流体経路に発生する可能性のある複数の異常モードのそれぞれの流体回路特性を、被測定加圧手段303による流体圧力の加圧と圧力調整用比例電磁弁(V1a2,V1a4,V1a6,V1b2,V1b4,V1b6)による流体圧力の調整によってそれぞれエミュレートして、被測定機器3の流体経路の異常を検査する異常エミュレーションユニット21bとを備える。
例えば、被測定機器3が、IPCに用いる医療機器の場合であれば微妙な圧力変動を基準として、以下の4つの異常モード(エラーモードE1,E2,E3,E4)の存在を、被測定機器3の流体経路の異常として仮定できる:
(イ)第1の異常モード(エラーモードE1)は、医療機器の内部圧力が高くなると出る「システム高圧エラー」である。図34及び図35に示すようなスリーブ(ガーメント)301a,301bを下肢や足底に巻き付ける場合で説明すれば、例えば、「第1部位」として定義した「足底」にスリーブを巻き付ける場合は、医療機器の内部圧力が24kPa以上で「システム高圧エラー」と規定し、「第2部位」として定義した「下肢(レッグ)」にスリーブを巻き付ける場合は、医療機器の内部圧力が12kPa以上で「システム高圧エラー」と規定することができる。
(ロ)第2の異常モード(エラーモードE2)は、通常使用時において、「第1部位」及び「第2部位」への取り付け状態が締め付け過ぎた場合に出る「高圧エラー」である。例えば「第1部位」については、10サイクル連続で18kPa以上、又は5サイクル連続で21.3kPa以上になれば「高圧エラー」と規定することができる。一方、「第2部位」については、10サイクル連続で6.3kPa以上、又は5サイクル連続で8.7kPa以上になれば「高圧エラー」と規定することができる。
(ハ)第3の異常モード(エラーモードE3)は、通常使用時において、「第1部位」及び「第2部位」への取り付け状態が緩過ぎた場合に出る「低圧エラー」である。例えば「第1部位」については、10サイクル連続で18.7kPa以下になれば「低圧エラー」と規定することができる。一方、「第2部位」については、10サイクル連続で5.7kPa以下になれば「低圧エラー」と規定することができる。
(ニ)第4の異常モード(エラーモードE4)は、「システム高圧エラー」、「高圧エラー」、「低圧エラー」以外の要因で規定圧力範囲外となった場合に出る「システム低圧エラー」である。例えば「第1部位」については、12サイクル連続で14.7〜20kPaの範囲外になれば「システム低圧エラー」と規定することができる。一方、「第2部位」については、12サイクル連続で4.7〜7.3kPaの範囲外になれば「システム低圧エラー」と規定することができる:
ただし、これらの4つの異常モード(エラーモードE1,E2,E3,E4)は例示であり、被測定機器3が呈する流体経路の特性によって、2つ〜3つの異常モードや、5つ以上の異常モードや他の異常モードを設定して、異常エミュレーションユニット21bがエミュレートするようにしても構わない。
第1の実施の形態に係る流体経路検査装置を構成するリーク検査ユニット21aは、図1に示すように、検査チューブ4xjの経路を流体経路の一部とする配管系が構成する流体回路を加圧する測定用加圧手段(コンプレッサ)34と、測定用加圧手段34に内部配管g1を介して接続された供給側ソレノイド弁V4aと、供給側ソレノイド弁V4aに内部配管g1を介して接続された圧力センサS1を内蔵するマニホールド31と、圧力センサS1に内部配管g3を介して接続された排気側ソレノイド弁V4bと、排気側ソレノイド弁V4bに内部配管g4を介して接続されたリーク検査用比例電磁弁V3と、圧力センサS1に内部配管g5を介して接続された第1のチューブ接続継手f1aと、圧力センサS1に内部配管g6を介して接続された第2のチューブ接続継手f2aと、を備える。第1のチューブ接続継手f1aと第2のチューブ接続継手f2aには、一方の端部に第1の取付継手f1bを有し、他方の端部に第2の取付継手f2bを有する検査チューブ4xj(x=a,b;j=1〜3)が接続される。なお、図1では第1のチューブ接続継手f1a、第2のチューブ接続継手f2a、第1の取付継手f1b及び第2の取付継手f2bが、あたかもフランジタイプであるかのように表現されているが、模式的な表現であり、実際には検査チューブ4xj(x=a,b;j=1〜3)の両端がフランジタイプである必要はなく、雄−雌のソケットタイプ等、種々の接続継手が採用可能である。
一方、第1の実施の形態に係る流体経路検査装置を構成する異常エミュレーションユニット21bは、図2に示すように、被測定機器3のAポートに3本の専用チューブである第1チューブ4a1,第2チューブ4a2,第3チューブ4a3を介してそれぞれ順に接続されるAポート第1チューブ用圧力センサS2,Aポート第2チューブ用圧力センサS3,Aポート第3チューブ用圧力センサS4を備えている。同様に、異常エミュレーションユニット21bは、被測定機器3のBポートに3本の専用チューブである第1チューブ4b1,第2チューブ4b2,第3チューブ4b3を介してそれぞれ順に接続されるBポート第1チューブ用圧力センサS5,Bポート第2チューブ用圧力センサS6,Bポート第3チューブ用圧力センサS7を更に備えている。図1の検査チューブ4xj(x=a,b;j=1〜3)は、Aポートの第1チューブ4a1,Aポートの第2チューブ4a2,Aポートの第3チューブ4a3、Bポートの第1チューブ4b1,Bポートの第2チューブ4b2,Bポートの第3チューブ4b3のいずれかに対応する。
そして、異常エミュレーションユニット21bは、Aポート第1チューブ用圧力センサS2に一方の端部を接続した垂直方向の内部配管g7a1から水平方向に分岐した第1の分岐配管に接続されたAポート第1チューブ用第1電磁弁V2a1と、第1の分岐配管に隣接して内部配管g7a1から水平方向に分岐した第2の分岐配管に接続されたAポート第1チューブ用第2電磁弁V5a1と、内部配管g7a1の他方の端部に接続されたAポート第1チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1a2と、第1電磁弁V2a1に水平方向の内部配管g8a1を介して接続されたAポート第1チューブ用バッファ用比例電磁弁V1a1と、を備える。被測定機器3のAポート第1チューブ4a1によって指定される流体経路に発生する可能性のある複数の異常モードのそれぞれの流体回路特性を、被測定加圧手段303による流体圧力の加圧、Aポート第1チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1a2とAポート第1チューブ用バッファ用比例電磁弁V1a1との調整によってエミュレートして、被測定機器3のAポート第1チューブ4a1の系の流体経路の異常を検査することができる。例えば、被測定機器3が、IPCに用いる医療機器の場合であれば、上述した「システム高圧エラー」、「高圧エラー」、「低圧エラー」及び「システム低圧エラー」の4つの異常モード(エラーモードE1,E2,E3,E4)の存在を、被測定機器3の流体経路の異常として設定できるので、これら4つの異常モードが呈する流体回路の特性を、被測定加圧手段303による流体圧力の加圧、Aポート第1チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1a2とAポート第1チューブ用バッファ用比例電磁弁V1a1との調整によってエミュレートして、被測定機器3のAポート第1チューブ4a1の系の流体経路の異常を検査することができる。ここで、被測定機器3が有する被測定加圧手段303は、30kPa程度以下の低圧領域の加圧が可能なコンプレッサ等である。
同様に、異常エミュレーションユニット21bは、Aポート第2チューブ用圧力センサS3に一方の端部を接続した垂直方向の配管(図示省略)から水平方向に分岐した第1の分岐配管(図示省略)に接続されたAポート第2チューブ用第1電磁弁V2a2と、第1の分岐配管に隣接して垂直方向の配管から水平方向に分岐した第2の分岐配管(図示省略)に接続されたAポート第2チューブ用第2電磁弁V5a2と、垂直方向の配管の他方の端部に接続されたAポート第2チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1a4と、第1電磁弁V2a2に水平方向の配管(図示省略)を介して接続されたAポート第2チューブ用バッファ用比例電磁弁V1a3と、を備える。被測定機器3のAポート第2チューブ4a2によって指定される流体経路に発生する異常モードが呈する流体回路の特性を、被測定加圧手段303による流体圧力の加圧、Aポート第2チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1a4とAポート第2チューブ用バッファ用比例電磁弁V1a3との調整によってエミュレートして、被測定機器3のAポート第2チューブ4a2の系の流体経路の異常を検査することができる。
更に、異常エミュレーションユニット21bは、Aポート第3チューブ用圧力センサS4に一方の端部を接続した垂直方向の配管(図示省略)から水平方向に分岐した第1の分岐配管(図示省略)に接続されたAポート第3チューブ用第1電磁弁V2a3と、第1の分岐配管に隣接して垂直方向の配管から水平方向に分岐した第2の分岐配管(図示省略)に接続されたAポート第3チューブ用第2電磁弁V5a3と、垂直方向の配管の他方の端部に接続されたAポート第3チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1a6と、第1電磁弁V2a3に水平方向の配管(図示省略)を介して接続されたAポート第3チューブ用バッファ用比例電磁弁V1a5と、を備える。被測定機器3のAポート第3チューブ4a3によって指定される流体回路の特性を、被測定加圧手段303による流体圧力の加圧、Aポート第3チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1a6とAポート第3チューブ用バッファ用比例電磁弁V1a5との調整によってエミュレートして、被測定機器3のAポート第3チューブ4a3の系の流体経路の異常を検査することができる。
更に、異常エミュレーションユニット21bは、Bポート第1チューブ用圧力センサS5に一方の端部を接続した垂直方向の内部配管g7b1から水平方向に分岐した第1の分岐配管に接続されたBポート第1チューブ用第1電磁弁V2b1と、第1の分岐配管に隣接して内部配管g7b1から水平方向に分岐した第2の分岐配管に接続されたBポート第1チューブ用第2電磁弁V5b1と、内部配管g7b1の他方の端部に接続されたBポート第1チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1b2と、第1電磁弁V2b1に水平方向の内部配管g8b1を介して接続されたBポート第1チューブ用バッファ用比例電磁弁V1b1と、を備える。被測定機器3のBポート第1チューブ4b1によって指定される流体回路の特性を、被測定加圧手段303による流体圧力の加圧、Bポート第1チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1b2とBポート第1チューブ用バッファ用比例電磁弁V1b1との調整によってエミュレートして、被測定機器3のBポート第1チューブ4b1の系の流体経路の異常を検査することができる。
更に、異常エミュレーションユニット21bは、Bポート第2チューブ用圧力センサS6にπ型の配管(図示省略)を介して接続されたBポート第2チューブ用第1電磁弁V2b2、Bポート第2チューブ用第2電磁弁V5b2及びBポート第2チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1b4と、第1電磁弁V2b2に水平方向の配管(図示省略)を介して接続されたBポート第2チューブ用バッファ用比例電磁弁V1b3とを備える。被測定機器3のBポート第2チューブ4b2によって指定される流体回路の特性を、被測定加圧手段303による流体圧力の加圧、Bポート第2チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1b4とBポート第2チューブ用バッファ用比例電磁弁V1b3との調整によってエミュレートして、被測定機器3のBポート第2チューブ4b2の系の流体経路の異常を検査することができる。
更に、異常エミュレーションユニット21bは、Bポート第3チューブ用圧力センサS7にπ型の配管(図示省略)を介して接続されたBポート第3チューブ用第1電磁弁V2b3、Bポート第3チューブ用第2電磁弁V5b3及びBポート第3チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1b6と、第1電磁弁V2b3に水平方向の配管(図示省略)を介して接続されたBポート第3チューブ用バッファ用比例電磁弁V1b5とを備える。被測定機器3のBポート第3チューブ4b3によって指定される流体回路の特性を、被測定加圧手段303による流体圧力の加圧、Bポート第3チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1b6とBポート第3チューブ用バッファ用比例電磁弁V1b5との調整によってエミュレートして、被測定機器3のBポート第3チューブ4b3の系の流体経路の異常を検査することができる。
図3には、第1の実施の形態に係る流体経路検査装置の筐体(外装)21に囲まれた下側の小部屋の部分断面斜視図を、図5には筐体21に囲まれた下側の小部屋に着目した一部透視平面図を示したが、測定用加圧手段(コンプレッサ)34が、図3の右側の奥(図5の右側の上部)となる位置において、第1の台座板(ベース)24の上に配置されている。図4は筐体21に囲まれた上側の小部屋と下側の小部屋を含めて全体を透視する左側面図であるが、図3及び図4に示すように、測定用加圧手段34の左側の下段側(1段目側)に、手前側から順にAポート第1チューブ用第1電磁弁V2a1、Bポート第1チューブ用第1電磁弁V2b1、Bポート第2チューブ用第1電磁弁V2b2、Bポート第3チューブ用第1電磁弁V2b3が紙面の奥に向かって、第1の台座板24の上にコンパクトに配列されている。Aポート第1チューブ用第1電磁弁V2a1、Bポート第1チューブ用第1電磁弁V2b1、Bポート第2チューブ用第1電磁弁V2b2、Bポート第3チューブ用第1電磁弁V2b3の配列の左側の第1の台座板24の上には、圧力センサS1を有するマニホールド31が配置されている。そして、図3及び図4において、マニホールド31の左側の第1の台座板24の上には手前側から順にAポート第1チューブ用バッファ用比例電磁弁V1a1、Aポート第1チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1a2、圧力センサユニット35,Bポート第1チューブ用バッファ用比例電磁弁V1b1、Bポート第1チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1b2がコンパクトに配列されている。図5に示すように、圧力センサユニット35は、下側(図3及び図4において手前側)から順に、Aポート第1チューブ用圧力センサS2,Aポート第2チューブ用圧力センサS3,Aポート第3チューブ用圧力センサS4、Bポート第1チューブ用圧力センサS5,Bポート第2チューブ用圧力センサS6,Bポート第3チューブ用圧力センサS7がコンパクトに配列されている。
図3及び図4に示すように、マニホールド31の上には矩形の開口部28を有する矩形の第2の台座板(ベース)23が、4隅を4本の支柱22a,22b,22c,22dでそれぞれ支えられて中空状態で設けられている。この第2の台座板23の右側の領域には手前側から順にAポート第2チューブ用第1電磁弁V2a2、Aポート第3チューブ用第1電磁弁V2a3、供給側ソレノイド弁V4a、排気側ソレノイド弁V4bが上段側(2段目側)の弁(バルブ)としてコンパクトに配列されている。図5の一部透視平面図から分かるように、Aポート第2チューブ用第1電磁弁V2a2、Aポート第3チューブ用第1電磁弁V2a3、供給側ソレノイド弁V4a、排気側ソレノイド弁V4bは、それぞれAポート第1チューブ用第1電磁弁V2a1、Bポート第1チューブ用第1電磁弁V2b1、Bポート第2チューブ用第1電磁弁V2b2、Bポート第3チューブ用第1電磁弁V2b3の1段目側の配置位置の上方に配列され、コンパクトな構造を実現している。
一方、開口部28を挟んで第2の台座板23の左側の領域には、手前側から順にAポート第2チューブ用バッファ用比例電磁弁V1a3、Aポート第2チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1a4、Aポート第3チューブ用バッファ用比例電磁弁V1a5、Aポート第3チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1a6、Bポート第2チューブ用バッファ用比例電磁弁V1b3、Bポート第2チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1b4、Bポート第3チューブ用バッファ用比例電磁弁V1b5、Bポート第3チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1b6、リーク検査用比例電磁弁V3が2段目側の弁として配列され、コンパクトな構造を実現している。図5の一部透視平面図から分かるように、Aポート第2チューブ用バッファ用比例電磁弁V1a3、Aポート第2チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1a4、Aポート第3チューブ用バッファ用比例電磁弁V1a5、Aポート第3チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1a6、Bポート第2チューブ用バッファ用比例電磁弁V1b3、Bポート第2チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1b4、Bポート第3チューブ用バッファ用比例電磁弁V1b5、Bポート第3チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1b6、リーク検査用比例電磁弁V3は、それぞれAポート第1チューブ用バッファ用比例電磁弁V1a1、Aポート第1チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1a2、Aポート第1チューブ用圧力センサS2,Aポート第2チューブ用圧力センサS3,Aポート第3チューブ用圧力センサS4、Bポート第1チューブ用圧力センサS5,Bポート第2チューブ用圧力センサS6,Bポート第3チューブ用圧力センサS7,Bポート第1チューブ用バッファ用比例電磁弁V1b1、Bポート第1チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1b2の1段目側の配置位置の上方に配列され、コンパクトな構造を実現している。図示を省略しているが、開口部28を介して1段目の流体経路と2段目の流体経路を接続する配管(流体経路)等が通過している。
図3の部分断面斜視図及び図4の左側面図の右側の手前側(図5の下部構造に着目した一部透視平面図の右側の下部)に示すように、第1の台座板24の上には6枚のプリント基板からなるプリント基板スタック33が配置されている。図6(a)に示すように、プリント基板スタック33は下段側から、電源回路用基板676s、第1の比例電磁弁駆動回路用基板675s、第2の比例電磁弁駆動回路用基板674s、第3の比例電磁弁駆動回路用基板673s、加圧手段駆動回路用基板672s、電磁弁駆動回路用基板671sの順に、スペーサ(カラー)を介して、間を開けて積層配置されている。
図4に示すように、筐体21に囲まれた上側の小部屋(2階)には、4枚のプリント基板からなるプリント基板スタック36が配置されている。図6(b)に示すように、プリント基板スタック36は左側から順に、センサ信号増幅回路用基板677s、Bポート用エミュレーション制御回路用基板68s、Aポート用エミュレーション制御回路用基板69s、タッチパネル駆動回路用基板61sが右方向に向かって、スペーサ(カラー)を介して間を開けて積層配置されている。図6(b)では、右端のタッチパネル駆動回路用基板61sの紙面の奥に、リーク検査制御回路用基板62sがAポート用エミュレーション制御回路用基板69sから離間して、Aポート用エミュレーション制御回路用基板69sの右側に配置されている。
図4の筐体21に囲まれた上側の小部屋の左側の空間から外装に露出するように、被測定機器3の専用チューブを接続する接続コネクタホルダ38が設けられている。一方、図4の筐体21の右側の外装部分にはタッチパネル37が設けられている。又、図5に示すように、筐体21に囲まれた下側の小部屋の中央部から外装に露出するように、リーク検査チューブ接続部品(雌)29a及びリーク検査チューブ接続部品(雄)29bが設けられている。 図3の筐体21に囲まれた下側の小部屋の部分断面斜視図においては、下側の小部屋の中央部にリーク検査チューブ接続部品(雄)29bが図示され、図4の左側面図においては、下側の小部屋の中央部に3孔のリーク検査チューブ接続部品(雌)29aが図示されている。即ち、図1では第1のチューブ接続継手f1a、第2のチューブ接続継手f2a、第1の取付継手f1b及び第2の取付継手f2bが、あたかも単独のフランジタイプであるかのように表現されているが模式的な表現である。実際には3本の検査チューブ4xj(x=a,b;j=1〜3)が、図4の左側面図から分かるような3孔のリーク検査チューブ接続部品(雌)29a及びリーク検査チューブ接続部品(雄)29bを用いて、第1の実施の形態に係る流体経路検査装置に同時に接続されることが可能である。
図3〜図6に示すような物理構造とすることにより、測定用加圧手段34を有し、3本の専用チューブ(検査用チューブ)4xjをリーク検査チューブ接続部品(雌)29a及びリーク検査チューブ接続部品(雄)29bを用いて第1の実施の形態に係る流体経路検査装置に接続される。そして、3本の専用チューブ(検査用チューブ)4xjの経路を3本の流体経路のそれぞれの一部として閉じた3本の流体回路が構成される。リーク検査ユニット21aは、測定用加圧手段34によって3本の流体回路を加圧して一定時間保持することにより3本の検査用チューブ4xjのリークを検査する。
一方、筐体21の上側の小部屋に設けられた接続コネクタホルダ38を用いて、3本の専用チューブ(検査用チューブ)4xjを同時に接続することが可能であり、接続コネクタホルダ38を介して3本の流体回路が構成される。異常エミュレーションユニット21bは、圧力調整用比例電磁弁(V1a2,V1a4,V1a6,V1b2,V1b4,V1b6)を有しているので、被測定機器3の3本の流体経路に発生する異常モードが呈する流体回路の特性を、被測定加圧手段303による流体圧力の加圧と圧力調整用比例電磁弁(V1a2,V1a4,V1a6,V1b2,V1b4,V1b6)による流体圧力の調整によってそれぞれエミュレートして、被測定機器3の3本の流体経路の異常を検査することができる。図3〜図6に示すような物理構造とすることにより、リーク検査ユニット21aと異常エミュレーションユニット21bとが、1台の小型の装置を構成するように、同一の筐体21の内部に物理的に収納される。
第1の実施の形態に係る流体経路検査装置の物理構造であるプリント基板スタック33及びプリント基板スタック36の全体は、図7のブロック図に示すようなシステム構成を実現している。即ち、第1の実施の形態に係る流体経路検査装置は、図7に示すような検査チューブ4xjのリークを検査するリーク用流体供給圧力計測回路61と、被測定機器3のAポート側の正常動作及び異常動作をエミュレーションするAポート流体供給圧力計測回路69と、被測定機器3のBポート側の正常動作及び異常動作をエミュレーションするBポート流体供給圧力計測回路68と、リーク用流体供給圧力計測回路61、Aポート流体供給圧力計測回路69及びBポート流体供給圧力計測回路68の全体の動作を制御する全体制御回路67と、検査チューブ4xjのリークの検査、被測定機器3のAポート及びBポート側の正常動作及び異常動作のエミュレーションに必要な情報や検査結果を、図4に示したタッチパネル37に表示させる液晶表示制御回路62を備える。電気的な接続関係の図示を省略しているが、リーク用流体供給圧力計測回路61、Aポート流体供給圧力計測回路69、Bポート流体供給圧力計測回路68、全体制御回路67及び液晶表示制御回路62には、図7に示した電源63から12Vや5V等の直流電圧が供給される。
図8に示すように、全体制御回路67は全体信号増幅回路677と、リーク用計測用演算処理回路(CPU)52a、Aポート計測用演算処理回路(CPU)52b、Bポート計測用演算処理回路(CPU)52cを備えており、リーク用計測用CPU52a、Aポート計測用CPU52b及びBポート計測用CPU52cは外部クロック51から供給されるクロック信号により動作する。リーク用計測用CPU52a、Aポート計測用CPU52b及びBポート計測用CPU52cのそれぞれには、全体信号増幅回路677からそれぞれ増幅信号が供給される。又、リーク用計測用CPU52aとAポート計測用CPU52bとは互いに動作信号を交換し、Aポート計測用CPU52bとBポート計測用CPU52cも互いに動作信号を交換する。
リーク用流体供給圧力計測回路61は、図9に示すように演算処理回路(CPU)54と数値表示回路53とを備え、圧力センサS1からの計測信号を受信してCPU54が演算処理した処理結果としての計測信号は数値表示回路53に送信される。Aポート流体供給圧力計測回路69は、図10に示すように第1の演算処理回路(CPU)56a、第2の演算処理回路(CPU)56b、第3の演算処理回路(CPU)56c、第1の数値表示回路55a、第2の数値表示回路55b及び第3の数値表示回路55cを備える。圧力センサS2からの計測信号を受信して第1のCPU56aが演算処理した処理結果としての計測信号は第1の数値表示回路55aに送信され、圧力センサS3からの計測信号を受信して第2のCPU56bが演算処理した処理結果としての計測信号は第2の数値表示回路55bに送信され、圧力センサS4からの計測信号を受信して第3のCPU56cが演算処理した処理結果としての計測信号は第3の数値表示回路55cに送信される。
Bポート流体供給圧力計測回路68は、図11に示すように第1の演算処理回路(CPU)58a、第2の演算処理回路(CPU)58b、第3の演算処理回路(CPU)58c、第1の数値表示回路57a、第2の数値表示回路57b及び第3の数値表示回路57cを備える。圧力センサS5からの計測信号を受信して第1のCPU58aが演算処理した処理結果としての計測信号は第1の数値表示回路57aに送信され、圧力センサS6からの計測信号を受信して第2のCPU58bが演算処理した処理結果としての計測信号は第2の数値表示回路57bに送信され、圧力センサS7からの計測信号を受信して第3のCPU58cが演算処理した処理結果としての計測信号は第3の数値表示回路57cに送信される。
図8のリーク用計測用CPU52aから出力される駆動信号は、図12に示されるように、駆動素子70に伝達され、駆動素子70が測定用加圧手段(コンプレッサ)34を駆動させる。更に、図12に示されるようにリーク用計測用CPU52aから出力される駆動信号は、駆動素子71aに伝達され、駆動素子71aが供給側ソレノイド弁V4aを駆動し、リーク用計測用CPU52aから出力される駆動信号は、駆動素子71bに伝達され、駆動素子71bが排気側ソレノイド弁V4bを駆動し、リーク用計測用CPU52aから出力される駆動信号は、駆動素子71cに伝達され、駆動素子71cがリーク検査用比例電磁弁V3を駆動する。図12に示されるように駆動素子71a、駆動素子71b、駆動素子71cとでリーク検査用駆動回路611を構成している。
図8のAポート計測用CPU52bから出力される駆動信号は、図13に示した駆動素子721aに伝達され、駆動素子721aがAポート第1チューブ用第1電磁弁V2a1を動作させる。同様に、Aポート計測用CPU52bから出力される駆動信号は、駆動素子721bに伝達され、駆動素子721bがAポート第1チューブ用第2電磁弁V5a1を動作させる。更に、Aポート計測用CPU52bから出力される駆動信号は、駆動素子731に伝達され、駆動素子731がAポート第1チューブ用バッファ用比例電磁弁V1a1を動作させ、Aポート計測用CPU52bから出力される駆動信号は、駆動素子732に伝達され、駆動素子732がAポート第1チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1a2を動作させる。図13に示すように、駆動素子721a、駆動素子721b、駆動素子731及び駆動素子732の4台の駆動素子によって第1チューブに対するAポート検査用異常負荷発生回路691aを構成している。
図13ではAポート第2チューブ用第1電磁弁V2a2、Aポート第2チューブ用第2電磁弁V5a2、Aポート第2チューブ用バッファ用比例電磁弁V1a3及びAポート第2チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1a4の図示を省略しているが、図8のAポート計測用CPU52bからは、図2に示したAポート第2チューブ用第1電磁弁V2a2、Aポート第2チューブ用第2電磁弁V5a2、Aポート第2チューブ用バッファ用比例電磁弁V1a3及びAポート第2チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1a4をそれぞれ動作させる4台の駆動素子から構成された第2チューブに対するAポート検査用異常負荷発生回路691bに入力される。
同様に、図13ではAポート第3チューブ用第1電磁弁V2a3、Aポート第3チューブ用第2電磁弁V5a3、Aポート第3チューブ用バッファ用比例電磁弁V1a5及びAポート第3チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1a6の図示を省略しているが、図8のAポート計測用CPU52bからは、図2に示したAポート第3チューブ用第1電磁弁V2a3、Aポート第3チューブ用第2電磁弁V5a3、Aポート第3チューブ用バッファ用比例電磁弁V1a5及びAポート第3チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1a6をそれぞれ動作させる4台の駆動素子から構成された第3チューブに対するAポート検査用異常負荷発生回路691cに入力される。
図8のBポート計測用CPU52cから出力される駆動信号は、図14に示した駆動素子741aに伝達され、駆動素子741aがBポート第1チューブ用第1電磁弁V2b1を動作させる。同様に、Bポート計測用CPU52cから出力される駆動信号は、駆動素子741bに伝達され、駆動素子741bがBポート第1チューブ用第2電磁弁V5b1を動作させる。更に、Bポート計測用CPU52cから出力される駆動信号は、駆動素子751に伝達され、駆動素子751がBポート第1チューブ用バッファ用比例電磁弁V1b1を動作させ、Bポート計測用CPU52cから出力される駆動信号は、駆動素子752に伝達され、駆動素子752がBポート第1チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1b2を動作させる。図14に示すように、駆動素子741a、駆動素子741b、駆動素子751及び駆動素子752の4台の駆動素子によって第1チューブに対するBポート検査用異常負荷発生回路681aを構成している。
図14ではBポート第2チューブ用第1電磁弁V2b2、Bポート第2チューブ用第2電磁弁V5b2、Bポート第2チューブ用バッファ用比例電磁弁V1b3及びBポート第2チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1b4の図示を省略しているが、図8のBポート計測用CPU52cからは、図2に示したBポート第2チューブ用第1電磁弁V2b2、Bポート第2チューブ用第2電磁弁V5b2、Bポート第2チューブ用バッファ用比例電磁弁V1b3及びBポート第2チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1b4をそれぞれ動作させる4台の駆動素子から構成された第2チューブに対するBポート検査用異常負荷発生回路681bに入力される。
同様に、図14ではBポート第3チューブ用第1電磁弁V2b3、Bポート第3チューブ用第2電磁弁V5b3、Bポート第3チューブ用バッファ用比例電磁弁V1b5及びBポート第3チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1b6の図示を省略しているが、図8のBポート計測用CPU52cからは、図2に示したBポート第3チューブ用第1電磁弁V2b3、Bポート第3チューブ用第2電磁弁V5b3、Bポート第3チューブ用バッファ用比例電磁弁V1b5及びBポート第3チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1b6をそれぞれ動作させる4台の駆動素子から構成された第3チューブに対するBポート検査用異常負荷発生回路681cに入力される。
リーク用計測用CPU52a、Aポート計測用CPU52b及びBポート計測用CPU52cのそれぞれからは図15に示す駆動素子76a、駆動素子7ba、駆動素子76cを有する動作表示灯点灯回路621に駆動信号が伝達され、駆動素子76aは赤発光素子86aに点灯信号を出力し、赤発光素子86aが点灯する。同様に、駆動素子7baは緑発光素子86bに点灯信号を出力し、緑発光素子86bが点灯し、駆動素子76cは青発光素子86cに点灯信号を出力し、青発光素子86cが点灯する。赤発光素子86a、緑発光素子86b及び青発光素子86cによって、図15に示すように動作状態表示灯622を構成している。
被測定機器3の故障や不具合の発見は逆問題解析である。例えば、計算機トモグラフィーでは、出力された結果のみから、逆問題解析によって見えない内部の構造を決定している。本発明の第1の実施の形態に係る流体経路検査装置によれば、被測定機器3を構成している被測定加圧手段303によるシステム上の問題なのか、被測定機器3に用いる専用チューブである検査チューブ4xj(x=a,b;j=1〜3)のリークの問題なのか、被測定機器3に用いるスリーブ301a,301bの「第1部位」や「第2部位」に対する締め付け圧力の問題なのか等の逆問題解析を、被測定機器3の故障や不具合をエミュレートした流体経路検査装置を用いて、複数の異常モード(エラーモードE1,E2,E3,E4)に分類して測定することによって、1台の小型の装置を用いて簡単且つ短時間の操作で実現して、30kPa程度以下の低圧領域の流体経路を有するシステムであっても、被測定機器3の故障や不具合を簡単に発見することが可能である。
(流体経路検査装置の動作1:エラーモードの場合)
図16〜図24のフローチャートを用いて、「エラーモード(異常モード)」における本発明の第1の実施の形態に係る流体経路検査方法の処理の流れを説明する。なお、以下の図16〜図24のフローチャートを用いた説明では、被測定機器3がIPCに用いる医療機器の場合に問題となる「システム高圧エラー」、「高圧エラー」、「低圧エラー」及び「システム低圧エラー」の4つの異常モード(エラーモードE1,E2,E3,E4)を前提として説明するが、これらの4つの異常モードは例示であり、被測定機器3が呈する流体経路の特性によって、2〜3の異常モードや、5以上の異常モードや他の異常モードを設定しても構わない。即ち、4つの異常モードを用いた流体経路検査装置の動作は、簡単な説明をするための一例であり、特許請求の範囲に記載した趣旨の範囲内であれば、この変形例を含めて、これ以外の種々の異常モード、手順、順番、選択、動作方法等により、実現可能であることは勿論である。
又、図19及び図22のフローチャートでは、図面上の枠の大きさの制限から「被測定機器」を被測定機器3の一例である「SCD」と略記し、「流体経路検査装置」を「IPCD」と略記しているが、単なる便宜上の表記であり、「SCD]や「IPCD」が特定の意味を有するものではない。又、本発明の第1の実施の形態に係る流体経路検査装置が検査する被測定機器3がSCDに限定されるものでもなく、「流体経路検査装置」がIPCDに限定されるものでもない。
(a) 先ず、図2に示したように、被測定機器3のAポートに3本の専用チューブである第1チューブ4a1,第2チューブ4a2,第3チューブ4a3を、Bポートに3本の専用チューブである第1チューブ4b1,第2チューブ4b2,第3チューブ4b3をそれぞれ接続して、被測定機器3と第1の実施の形態に係る流体経路検査装置とを互いに接続する。そして、図16のステップS101において、図4に示したタッチパネル37を入力装置として用いて「エラーモード」を選択し、ステップS102のポートの選択に進む。ステップS102においてポートが選択(Yes)されていれば、Bポート用の電磁弁を閉じてステップS103のAポートの設定に進み、更にステップS105に進む。ステップS102においてポートが選択されていなければ(No)、Aポート用の電磁弁を閉じてステップS104のBポートの設定に進み、更にステップS105に進む。即ち、ステップS103とステップS104を用いて、1ポート毎にパラメータの設定が可能なようなフローチャートの流れにして、ステップS105に進む。
(b) 図16のステップS105において、図4に示したタッチパネル37を入力装置として用いて第1部位を選択した場合は、ステップS106において、「第1部位の設定」を宣言して、ステップS107に進む。被測定機器3が、IPCに用いる医療機器の場合であれば、図34及び図35に示すようなスリーブ(ガーメント)301a,301bを下肢や足底に巻き付けるので、例えば、「第1部位」として「足底」にスリーブを巻き付ける条件の設定とし、「第2部位」として「下肢」にスリーブを巻き付ける条件の設定とすることができる。以下の説明では、便宜上、「第1部位」を「足底(フット)」、「第2部位」を「下肢(レッグ)」と定義するが、単なる選択であり、「第1部位」が「下肢(レッグ)」、「第2部位」が「足底(フット)」でもよく、他の部位でも構わない。ステップS107では、Aポート第1チューブ用バッファ用比例電磁弁V1a1、Aポート第2チューブ用バッファ用比例電磁弁V1a3、Aポート第3チューブ用バッファ用比例電磁弁V1a5を「第1部位」の締め付け圧力の設定に必要な条件にタッチパネル37上で設定して、ステップS108に進む。ステップS108では、Aポート第1チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1a2、Aポート第2チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1a4、Aポート第3チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1a6を、「第1部位」の締め付け圧力の設定に必要な条件にタッチパネル37上で設定して、図17のステップS112に進む。図16のステップS105において、第2部位を選択した場合は、ステップS109において、「第2部位の設定」を宣言して、ステップS110に進む。ステップS110では、Aポート第1チューブ用バッファ用比例電磁弁V1a1、Aポート第2チューブ用バッファ用比例電磁弁V1a3、Aポート第3チューブ用バッファ用比例電磁弁V1a5を「第2部位」の締め付け圧力の設定に必要な条件にタッチパネル37上で設定して、ステップS111に進む。ステップS111では、Aポート第1チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1a2、Aポート第2チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1a4、Aポート第3チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1a6を、「第2部位」の締め付け圧力の設定に必要な条件にタッチパネル37上で設定して、図17のステップS112に進む。
(c) 図17のステップS112のデフォルトの条件ではステップS113として、図16のステップS101のエラーモードの選択に戻ることになっている。一方、図4に示したタッチパネル37を入力装置として用いて4つのエラーモードE1,E2,E3,E4が選択できるので、第1の異常モード(エラーモードE1)を選択した場合は、ステップS115において、第1の異常モードの選択を宣言して、ステップS116に進む。ステップS116において規定サイクル数を例えば4回に設定し、ステップS117に進む。ステップS117では、Aポート第1チューブ用バッファ用比例電磁弁V1a1、Aポート第2チューブ用バッファ用比例電磁弁V1a3、Aポート第3チューブ用バッファ用比例電磁弁V1a5を第1の異常モードのパラメータに設定して、ステップS118に進む。ステップS118では、Aポート第1チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1a2、Aポート第2チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1a4、Aポート第3チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1a6を、第1の異常モードのパラメータに設定して、ステップS131に進む。タッチパネル37を入力装置として用いて第2の異常モード(エラーモードE2)を選択した場合は、ステップS119において、第2の異常モードの選択を宣言して、ステップS120において規定サイクル数を例えば10回に設定し、ステップS121に進む。ステップS121では、Aポート第1チューブ用バッファ用比例電磁弁V1a1、Aポート第2チューブ用バッファ用比例電磁弁V1a3、Aポート第3チューブ用バッファ用比例電磁弁V1a5を第2の異常モードのパラメータに設定して、ステップS122に進む。ステップS122では、Aポート第1チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1a2、Aポート第2チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1a4、Aポート第3チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1a6を、第2の異常モードのパラメータに設定して、ステップS131に進む。第3の異常モード(エラーモードE3)を選択した場合は、ステップS123において、第3の異常モードの選択を宣言して、ステップS124において規定サイクル数を例えば10回に設定し、ステップS125に進む。ステップS125では、Aポート第1チューブ用バッファ用比例電磁弁V1a1、Aポート第2チューブ用バッファ用比例電磁弁V1a3、Aポート第3チューブ用バッファ用比例電磁弁V1a5を第3の異常モードのパラメータに設定して、ステップS126に進む。ステップS126では、Aポート第1チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1a2、Aポート第2チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1a4、Aポート第3チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1a6を、第3の異常モードのパラメータに設定して、ステップS131に進む。第4の異常モード(エラーモードE4)を選択した場合は、ステップS127において、第4の異常モードの選択を宣言して、ステップS128において規定サイクル数を例えば12回に設定し、ステップS129に進む。ステップS129では、Aポート第1チューブ用バッファ用比例電磁弁V1a1、Aポート第2チューブ用バッファ用比例電磁弁V1a3、Aポート第3チューブ用バッファ用比例電磁弁V1a5を第4の異常モードのパラメータに設定して、ステップS130に進む。ステップS130では、Aポート第1チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1a2、Aポート第2チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1a4、Aポート第3チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1a6を、第4の異常モードのパラメータに設定して、ステップS131に進む。ステップS131でポート設定の確認をしたら図18のステップS132に進む。
(d) 図18のステップS132ではタッチパネル37の表示が「Aポート」に設定されているか確認する。ステップS132でAポートの設定が確認されたら、ステップS133に進む。ステップS133ではAポート第1チューブ用第2電磁弁V5a1、Aポート第2チューブ用第2電磁弁V5a2、Aポート第3チューブ用第2電磁弁V5a3を閉じ、ステップS134に進む。ステップS134では、Bポート第1チューブ用第2電磁弁V5b1、Bポート第2チューブ用第2電磁弁V5b2、Bポート第3チューブ用第2電磁弁V5b3を開放してステップS135に進む。そしてステップS135で「部位確認」を宣言して、ステップS136でタッチパネル37の表示が「第1部位」に設定されているか確認する。ステップS136で第1部位の設定が確認されたら、ステップS137に進み、Aポート第1チューブ用第1電磁弁V2a1を閉じてステップS138に進む。そして、ステップS138でAポート第2チューブ用第1電磁弁V2a2を開放してステップS139に進む。更に、ステップS139でAポート第3チューブ用第1電磁弁V2a3を閉じてステップS140に進む。ステップS140では、Aポート第1チューブ用バッファ用比例電磁弁V1a1、Aポート第2チューブ用バッファ用比例電磁弁V1a3、Aポート第3チューブ用バッファ用比例電磁弁V1a5を第1部位のパラメータで動作させて、ステップS141に進む。ステップS141では、Aポート第1チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1a2、Aポート第2チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1a4、Aポート第3チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1a6を第1部位のパラメータで動作させて、図19のステップS161に進む。ステップS136で第1部位の設定が確認されないときは、ステップS142に進み、Aポート第1チューブ用第1電磁弁V2a1を開放してステップS143に進む。そして、ステップS143でAポート第2チューブ用第1電磁弁V2a2を開放してステップS144に進む。更に、ステップS144でAポート第3チューブ用第1電磁弁V2a3を閉じてステップS145に進む。ステップS145では、Aポート第1チューブ用バッファ用比例電磁弁V1a1、Aポート第2チューブ用バッファ用比例電磁弁V1a3、Aポート第3チューブ用バッファ用比例電磁弁V1a5を第2部位のパラメータで動作させて、ステップS146に進む。ステップS146では、Aポート第1チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1a2、Aポート第2チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1a4、Aポート第3チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1a6を第2部位のパラメータで動作させて、図19のステップS161に進む。
(e) 図18のステップS132でAポートの設定が確認されない場合は、ステップS147に進む。ステップS147ではAポート第1チューブ用第2電磁弁V5a1、Aポート第2チューブ用第2電磁弁V5a2、Aポート第3チューブ用第2電磁弁V5a3を開放し、ステップS148に進む。ステップS148では、Bポート第1チューブ用第2電磁弁V5b1、Bポート第2チューブ用第2電磁弁V5b2、Bポート第3チューブ用第2電磁弁V5b3を閉じてステップS149に進む。そしてステップS149で「部位確認」を宣言して、ステップS150でタッチパネル37の表示が「第1部位」に設定されているか確認する。ステップS150で第1部位の設定が確認されたら、ステップS151に進み、Bポート第1チューブ用第1電磁弁V2b1を閉じてステップS152に進む。そして、ステップS152でBポート第2チューブ用第1電磁弁V2b2を開放してステップS153に進む。更に、ステップS153でBポート第3チューブ用第1電磁弁V2b3を閉じてステップS154に進む。ステップS154では、Bポート第1チューブ用バッファ用比例電磁弁V1b1、Bポート第2チューブ用バッファ用比例電磁弁V1b3、Bポート第3チューブ用バッファ用比例電磁弁V1b5を第1部位のパラメータで動作させて、ステップS155に進む。ステップS155では、Bポート第1チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1b2、Bポート第2チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1b4、Bポート第3チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1b6を第1部位のパラメータで動作させて、図19のステップS161に進む。ステップS150で第1部位の設定が確認されないときは、ステップS156に進み、Bポート第1チューブ用第1電磁弁V2b1を開放してステップS157に進む。そして、ステップS157でBポート第2チューブ用第1電磁弁V2b2を開放してステップS158に進む。更に、ステップS158でBポート第3チューブ用第1電磁弁V2b3を閉じてステップS159に進む。ステップS159では、Bポート第1チューブ用バッファ用比例電磁弁V1b1、Bポート第2チューブ用バッファ用比例電磁弁V1b3、Bポート第3チューブ用バッファ用比例電磁弁V1b5を第2部位のパラメータで動作させて、ステップS160に進む。ステップS160では、Bポート第1チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1b2、Bポート第2チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1b4、Bポート第3チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1b6を第2部位のパラメータで動作させて、図19のステップS161に進む。
(f) 図19のステップS161ではタッチパネル37に検査画面を表示させ、ステップS162に進む。ステップS162で被測定機器3の電源オンの「スタンバイ完了」をタッチパネル37に表示させ、ステップS163に進む。ステップS163で被測定機器3の電源がオフの表示であるか確認し、オフの表示(電源投入待ちではない)であれば、ステップS162に戻り、タッチパネル37に被測定機器3の「スタンバイ完了(電源投入待ち)」が表示されるのを待つ。ステップS163で被測定機器3の電源が電源投入待ちであることが確認された場合は、S164に進み、被測定機器3の電源を入れ、被測定機器3の被測定加圧手段(コンプレッサ)303を起動する。そして、ステップS165で被測定機器3の動作条件を読み出し、ステップS166に進む。ステップS166では、図16〜図18のフローで第1の実施の形態に係る流体経路検査装置が設定した動作条件を「被測定機器側の動作条件」として読み出す。ステップS166で被測定機器3側の動作条件の読み出しが完了したら、タッチパネル37に動作条件を表示させステップS167に進む。ステップS167で被測定機器3を動作させると、被測定機器3のAポートから専用チューブである第1チューブ4a1,第2チューブ4a2,第3チューブ4a3を介して、Bポートから専用チューブである第1チューブ4b1,第2チューブ4b2,第3チューブ4b3を介して第1の実施の形態に係る流体経路検査装置に流体圧が供給される。ステップS167で被測定機器3を動作させ、被測定機器3の被測定加圧手段303から専用チューブに流体圧が供給されると、ステップS168で第1の実施の形態に係る流体経路検査装置に内蔵されたAポート第1チューブ用圧力センサS2,Aポート第2チューブ用圧力センサS3,Aポート第3チューブ用圧力センサS4、Bポート第1チューブ用圧力センサS5,Bポート第2チューブ用圧力センサS6,Bポート第3チューブ用圧力センサS7の反応が開始される。ステップS168で各圧力センサの反応が開始されると、動作タイミングが取得される。そして、ステップS169ではタッチパネル37に「選択ポートA」の表示がされているか確認する。ステップS169で、「選択ポートA」の表示が確認されれば、図20のステップS170に進み、「選択ポートA」の表示が確認されないときは、図21のステップS188に進む。
(g) 図20のステップS170のデフォルトの条件ではステップS171で動作なしとして、図22のステップS206に進むことになっている。一方、タッチパネル37を入力装置として用いて4つのエラーモードE1,E2,E3,E4が選択できるので、ステップS170で第1の異常モード(エラーモードE1)を選択した場合は、ステップS172において、Aポート第1チューブ用バッファ用比例電磁弁V1a1、Aポート第2チューブ用バッファ用比例電磁弁V1a3、Aポート第3チューブ用バッファ用比例電磁弁V1a5を第1の異常モードのエラー条件再現パラメータにするようにパラメータを変更して、ステップS173に進む。ステップS173では、Aポート第1チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1a2、Aポート第2チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1a4、Aポート第3チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1a6を、第1の異常モードのエラー条件再現パラメータにするようにパラメータを変更して、ステップS174に進む。ステップS174では、Aポート第1チューブ用第2電磁弁V5a1、Aポート第2チューブ用第2電磁弁V5a2、Aポート第3チューブ用第2電磁弁V5a3を閉じて、ステップS175に進む。そしてステップS175で4サイクル継続した後、図22のステップS206に進む。ステップS170で第2の異常モード(エラーモードE2)を選択した場合は、ステップS176において、Aポート第1チューブ用バッファ用比例電磁弁V1a1、Aポート第2チューブ用バッファ用比例電磁弁V1a3、Aポート第3チューブ用バッファ用比例電磁弁V1a5を第2の異常モードのエラー条件再現パラメータにするようにパラメータを変更して、ステップS177に進む。ステップS177では、Aポート第1チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1a2、Aポート第2チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1a4、Aポート第3チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1a6を、第2の異常モードのエラー条件再現パラメータにするようにパラメータを変更して、ステップS178に進む。ステップS178では、Aポート第1チューブ用第2電磁弁V5a1、Aポート第2チューブ用第2電磁弁V5a2、Aポート第3チューブ用第2電磁弁V5a3を閉じて、ステップS179に進む。そしてステップS179で10サイクル継続した後、図22のステップS206に進む。ステップS170で第3の異常モード(エラーモードE3)を選択した場合は、ステップS180において、Aポート第1チューブ用バッファ用比例電磁弁V1a1、Aポート第2チューブ用バッファ用比例電磁弁V1a3、Aポート第3チューブ用バッファ用比例電磁弁V1a5を第3の異常モードのエラー条件再現パラメータにするようにパラメータを変更して、ステップS181に進む。ステップS181では、Aポート第1チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1a2、Aポート第2チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1a4、Aポート第3チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1a6を、第3の異常モードのエラー条件再現パラメータにするようにパラメータを変更して、ステップS182に進む。ステップS182では、Aポート第1チューブ用第2電磁弁V5a1、Aポート第2チューブ用第2電磁弁V5a2、Aポート第3チューブ用第2電磁弁V5a3を開放して、ステップS183に進む(第1の実施の形態に係る流体経路検査装置では第3の異常モードを「低圧エラー」としているので、ステップS182では、Aポート第1チューブ用第2電磁弁V5a1、Aポート第2チューブ用第2電磁弁V5a2、Aポート第3チューブ用第2電磁弁V5a3も開放する。)。そしてステップS183で10サイクル継続した後、図22のステップS206に進む。ステップS170で第4の異常モード(エラーモードE4)を選択した場合は、ステップS184において、Aポート第1チューブ用バッファ用比例電磁弁V1a1、Aポート第2チューブ用バッファ用比例電磁弁V1a3、Aポート第3チューブ用バッファ用比例電磁弁V1a5を第4の異常モードのエラー条件再現パラメータにするようにパラメータを変更して、ステップS185に進む。ステップS185では、Aポート第1チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1a2、Aポート第2チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1a4、Aポート第3チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1a6を、第4の異常モードのエラー条件再現パラメータにするようにパラメータを変更して、ステップS186に進む。ステップS186では、Aポート第1チューブ用第2電磁弁V5a1、Aポート第2チューブ用第2電磁弁V5a2、Aポート第3チューブ用第2電磁弁V5a3を開放して、ステップS187に進む(第1の実施の形態に係る流体経路検査装置では第4の異常モードを「低圧エラー」としているので、ステップS186では、Aポート第1チューブ用第2電磁弁V5a1、Aポート第2チューブ用第2電磁弁V5a2、Aポート第3チューブ用第2電磁弁V5a3も開放する。)。そしてステップS187で12サイクル継続した後、図22のステップS206に進む。
(h) 図21のステップS188のデフォルトの条件ではステップS189で動作なしとして、図22のステップS206に進むことになっている。一方、タッチパネル37を入力装置として用いて4つのエラーモードE1,E2,E3,E4が選択できるので、ステップS188で第1の異常モード(エラーモードE1)を選択した場合は、ステップS190において、Bポート第1チューブ用バッファ用比例電磁弁V1b1、Bポート第2チューブ用バッファ用比例電磁弁V1b3、Bポート第3チューブ用バッファ用比例電磁弁V1b5を第1の異常モードのエラー条件再現パラメータにするようにパラメータを変更して、ステップS191に進む。ステップS191では、Bポート第1チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1b2、Bポート第2チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1b4、Bポート第3チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1b6を、第1の異常モードのエラー条件再現パラメータにするようにパラメータを変更して、ステップS192に進む。ステップS192では、Bポート第1チューブ用第2電磁弁V5b1、Bポート第2チューブ用第2電磁弁V5b2、Bポート第3チューブ用第2電磁弁V5b3を閉じて、ステップS193に進む。そしてステップS193で4サイクル継続した後、図22のステップS206に進む。ステップS188で第2の異常モード(エラーモードE2)を選択した場合は、ステップS194において、Bポート第1チューブ用バッファ用比例電磁弁V1b1、Bポート第2チューブ用バッファ用比例電磁弁V1b3、Bポート第3チューブ用バッファ用比例電磁弁V1b5を第2の異常モードのエラー条件再現パラメータにするようにパラメータを変更して、ステップS195に進む。ステップS195では、Bポート第1チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1b2、Bポート第2チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1b4、Bポート第3チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1b6を、第2の異常モードのエラー条件再現パラメータにするようにパラメータを変更して、ステップS196に進む。ステップS196では、Bポート第1チューブ用第2電磁弁V5b1、Bポート第2チューブ用第2電磁弁V5b2、Bポート第3チューブ用第2電磁弁V5b3を閉じて、ステップS197に進む。そしてステップS197で10サイクル継続した後、図22のステップS206に進む。ステップS188で第3の異常モード(エラーモードE3)を選択した場合は、ステップS198において、Bポート第1チューブ用バッファ用比例電磁弁V1b1、Bポート第2チューブ用バッファ用比例電磁弁V1b3、Bポート第3チューブ用バッファ用比例電磁弁V1b5を第3の異常モードのエラー条件再現パラメータにするようにパラメータを変更して、ステップS199に進む。ステップS199では、Bポート第1チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1b2、Bポート第2チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1b4、Bポート第3チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1b6を、第3の異常モードのエラー条件再現パラメータにするようにパラメータを変更して、ステップS200に進む。ステップS200では、Bポート第1チューブ用第2電磁弁V5b1、Bポート第2チューブ用第2電磁弁V5b2、Bポート第3チューブ用第2電磁弁V5b3を開放して、ステップS201に進む(第1の実施の形態に係る流体経路検査装置では第3の異常モードを「低圧エラー」としているので、ステップS200では、Bポート第1チューブ用第2電磁弁V5b1、Bポート第2チューブ用第2電磁弁V5b2、Bポート第3チューブ用第2電磁弁V5b3も開放する。)。そしてステップS201で10サイクル継続した後、図22のステップS206に進む。ステップS188で第4の異常モード(エラーモードE4)を選択した場合は、ステップS202において、Bポート第1チューブ用バッファ用比例電磁弁V1b1、Bポート第2チューブ用バッファ用比例電磁弁V1b3、Bポート第3チューブ用バッファ用比例電磁弁V1b5を第4の異常モードのエラー条件再現パラメータにするようにパラメータを変更して、ステップS203に進む。ステップS203では、Bポート第1チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1b2、Bポート第2チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1b4、Bポート第3チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1b6を、第4の異常モードのエラー条件再現パラメータにするようにパラメータを変更して、ステップS204に進む。ステップS204では、Bポート第1チューブ用第2電磁弁V5b1、Bポート第2チューブ用第2電磁弁V5b2、Bポート第3チューブ用第2電磁弁V5b3を開放して、ステップS205に進む(第1の実施の形態に係る流体経路検査装置では第4の異常モードを「低圧エラー」としているので、ステップS204では、Bポート第1チューブ用第2電磁弁V5b1、Bポート第2チューブ用第2電磁弁V5b2、Bポート第3チューブ用第2電磁弁V5b3も開放する。)。そしてステップS205で12サイクル継続した後、図22のステップS206に進む。
(i) 図22のステップS206ではタッチパネル37に「判定画面」を表示させる。ステップS206でAポートの設定が確認されたら、ステップS207に進む。ステップS207では、Aポート第1チューブ用第1電磁弁V2a1、Aポート第2チューブ用第1電磁弁V2a2、Aポート第3チューブ用第1電磁弁V2a3を閉じてステップS208に進む。ステップS208では、Aポート第1チューブ用第2電磁弁V5a1、Aポート第2チューブ用第2電磁弁V5a2、Aポート第3チューブ用第2電磁弁V5a3を閉じ、ステップS209に進む。ステップS209では、Aポート第1チューブ用バッファ用比例電磁弁V1a1、Aポート第2チューブ用バッファ用比例電磁弁V1a3、Aポート第3チューブ用バッファ用比例電磁弁V1a5を閉じてステップS210に進む。ステップS210では、Aポート第1チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1a2、Aポート第2チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1a4、Aポート第3チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1a6を閉じてステップS211に進む。ステップS211では、Bポート第1チューブ用第1電磁弁V2b1、Bポート第2チューブ用第1電磁弁V2b2、Bポート第3チューブ用第1電磁弁V2b3を閉じてステップS212に進む。ステップS212では、Bポート第1チューブ用第2電磁弁V5b1、Bポート第2チューブ用第2電磁弁V5b2、Bポート第3チューブ用第2電磁弁V5b3を閉じ、ステップS213に進む。ステップS213では、Bポート第1チューブ用バッファ用比例電磁弁V1a1、Bポート第2チューブ用バッファ用比例電磁弁V1a3、Bポート第3チューブ用バッファ用比例電磁弁V1a5を閉じてステップS214に進む。ステップS214では、Bポート第1チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1a2、Bポート第2チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1a4、Bポート第3チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1a6を閉じてステップS215に進む。ステップS215では、被測定機器3側の発生エラーの状況を目視で確認する。ステップS215で、被測定機器3側の発生エラーが確認できたら、ステップS216で被測定機器3の電源を切り、図23のステップS217に進む。
(j) 図23のステップS217のデフォルトの条件ではステップS218で不合格を選択して、ステップS231の初期画面に戻り、終了する。一方、図4に示したタッチパネル37の画面を用いて4つのエラーモードE1,E2,E3,E4が選択できるので、ステップS217で、発生したエラーが第1の異常モード(エラーモードE1)であるとして画面上で選択した場合は、ステップS219において、第1の実施の形態に係る流体経路検査装置で選択したエラーが被測定機器3側で再現できたかを判定する。ステップS219において、 第1の実施の形態に係る流体経路検査装置で選択した第1のエラーが被測定機器3側で再現できたと判定された場合は、ステップS220においてタッチパネル37の画面の「合格」を押し、ステップS231の初期画面に戻り、終了する。ステップS219において、 被測定機器3側のエラーが第1の実施の形態に係る流体経路検査装置で選択した第1のエラー以外のエラーであることが分かった場合や、選択した第1のエラーが被測定機器3側で再現できていないと判定された場合は、ステップS221においてタッチパネル37の画面の「不合格」を押し、ステップS231の初期画面に戻り、終了する。ステップS217で、発生したエラーが第2の異常モード(エラーモードE2)であるとして画面上で選択した場合は、ステップS222において、 第1の実施の形態に係る流体経路検査装置で選択したエラーが被測定機器3側で再現できたかを判定する。ステップS222において、 第1の実施の形態に係る流体経路検査装置で選択した第2のエラーが被測定機器3側で再現できたと判定された場合は、ステップS223においてタッチパネル37の画面の「合格」を押し、ステップS231の初期画面に戻り、終了する。ステップS222において、被測定機器3側のエラーが第1の実施の形態に係る流体経路検査装置で選択した第2のエラー以外のエラーであることが分かった場合や、選択した第2のエラーが被測定機器3側で再現できていないと判定された場合は、ステップS224においてタッチパネル37の画面の「不合格」を押し、ステップS231の初期画面に戻り、終了する。ステップS217で、発生したエラーが第3の異常モード(エラーモードE3)であるとして画面上で選択した場合は、図24のステップS225において、 第1の実施の形態に係る流体経路検査装置で選択したエラーが被測定機器3側で再現できたかを判定する。ステップS225において、 第1の実施の形態に係る流体経路検査装置で選択した第3のエラーが被測定機器3側で再現できたと判定された場合は、ステップS226においてタッチパネル37の画面の「合格」を押し、図23のステップS231の初期画面に戻り、終了する。ステップS225において、被測定機器3側のエラーが第1の実施の形態に係る流体経路検査装置で選択した第3のエラー以外のエラーであることが分かった場合や、選択した第3のエラーが被測定機器3側で再現できていないと判定された場合は、ステップS227においてタッチパネル37の画面の「不合格」を押し、ステップS231の初期画面に戻り、終了する。ステップS217で、発生したエラーが第4の異常モード(エラーモードE4)であるとして画面上で選択した場合は、図24のステップS228において、 第1の実施の形態に係る流体経路検査装置で選択したエラーが被測定機器3側で再現できたかを判定する。ステップS228において、第1の実施の形態に係る流体経路検査装置で選択した第4のエラーが被測定機器3側で再現できたと判定された場合は、ステップS229においてタッチパネル37の画面の「合格」を押し、図23のステップS231の初期画面に戻り、終了する。ステップS228において、被測定機器3側のエラーが第1の実施の形態に係る流体経路検査装置で選択した第4のエラー以外のエラーであることが分かった場合や、選択した第4のエラーが被測定機器3側で再現できていないと判定された場合は、ステップS230においてタッチパネル37の画面の「不合格」を押し、ステップS231の初期画面に戻り、終了する。
第1の実施の形態に係る流体経路検査方法によれば、図16〜図24のフローチャートに沿った手順により、被測定機器3の流体経路に発生する可能性のある4つの異常モード(エラーモードE1〜E4)の流体回路の特性を流体経路検査装置によってエミュレートし、被測定機器3に接続された流体経路検査装置を被測定加圧手段303で加圧して、エミュレートされた特性と比較して、被測定機器3の流体経路の異常を検査することができる。
(流体経路検査装置の動作2:ノーマルモードの場合)
図25〜図28のフローチャートを用いて、「ノーマルモード(正常モード)」の場合における第1の実施の形態に係る流体経路検査方法における処理の流れを説明する。なお、以下に述べるノーマルモード(正常モード)の場合の流体経路検査装置の動作は、簡単な説明をするための一例であり、特許請求の範囲に記載した趣旨の範囲内であれば、この変形例を含めて、これ以外の種々の手順、順番、選択、動作方法等により、実現可能であることは勿論である。なお、図27のフローチャートでは、図面上の枠の大きさの制限から「被測定機器」を被測定機器3の一例であるSCDと略記し、「流体経路検査装置」をIPCDと略記して簡略化表現を用いて説明しているが、単なる便宜上の表記であり、「SCD]や「IPCD」が特定の意味を有するものではない。
(a) 先ず、図2に示したように、被測定機器3のAポートに3本の専用チューブである第1チューブ4a1,第2チューブ4a2,第3チューブ4a3を、Bポートに3本の専用チューブである第1チューブ4b1,第2チューブ4b2,第3チューブ4b3をそれぞれ接続して、被測定機器3と第1の実施の形態に係る流体経路検査装置とを互いに接続する。そして、図25のステップS301において、図4に示したタッチパネル37を入力装置として用いて「ノーマルモード」を選択し、ステップS302でAポートを選択する。ステップS302においてAポートを選択したら、ステップS303に進む。ステップS303では、図4に示したタッチパネル37を入力装置として用いて第1部位又は第2部位を選択する。「エラーモード」の説明の際に述べたとおり、以下の説明では、便宜上、「第1部位」を「足底(フット)」、「第2部位」を「下肢(レッグ)」と定義するが、単なる選択であり、「第1部位」が「下肢(レッグ)」、「第2部位」が「足底(フット)」でもよく、他の部位でも構わない。
(b) 図25のステップS303において、第2部位を選択した場合は、ステップS304に進む。ステップS304では、Aポート第1チューブ用バッファ用比例電磁弁V1a1、Aポート第2チューブ用バッファ用比例電磁弁V1a3、Aポート第3チューブ用バッファ用比例電磁弁V1a5を「第2部位」の正常な締め付け圧力の設定に必要な条件にタッチパネル37上で設定して、ステップS305に進む。ステップS305では、Aポート第1チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1a2、Aポート第2チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1a4、Aポート第3チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1a6を、「第2部位」の正常な締め付け圧力の設定に必要な条件にタッチパネル37上で設定して、ステップS308に進む。図25のステップS303において、第1部位を選択した場合は、ステップS306に進む。ステップS306では、Aポート第1チューブ用バッファ用比例電磁弁V1a1、Aポート第2チューブ用バッファ用比例電磁弁V1a3、Aポート第3チューブ用バッファ用比例電磁弁V1a5を「第1部位」の正常な締め付け圧力の設定に必要な条件にタッチパネル37上で設定して、ステップS307に進む。ステップS307では、Aポート第1チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1a2、Aポート第2チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1a4、Aポート第3チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1a6を、「第1部位」の正常な締め付け圧力の設定に必要な条件にタッチパネル37上で設定して、ステップS308に進む。
(c) ステップS308においてBポートを選択したら、図26のステップS309に進む。ステップS309ではタッチパネル37を入力装置として用いて第1部位又は第2部位を選択する。ステップS309において、第2部位を選択した場合は、ステップS310に進む。ステップS310では、Bポート第1チューブ用バッファ用比例電磁弁V1b1、Bポート第2チューブ用バッファ用比例電磁弁V1b3、Bポート第3チューブ用バッファ用比例電磁弁V1b5を「第2部位」の正常な締め付け圧力の設定に必要な条件にタッチパネル37上で設定して、ステップS311に進む。ステップS311では、Bポート第1チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1b2、Bポート第2チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1b4、Bポート第3チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1b6を、「第2部位」の正常な締め付け圧力の設定に必要な条件にタッチパネル37上で設定して、ステップS314に進む。ステップS309において、第1部位を選択した場合は、ステップS312に進む。ステップS312では、Bポート第1チューブ用バッファ用比例電磁弁V1b1、Bポート第2チューブ用バッファ用比例電磁弁V1b3、Bポート第3チューブ用バッファ用比例電磁弁V1b5を「第1部位」の正常な締め付け圧力の設定に必要な条件にタッチパネル37上で設定して、ステップS313に進む。ステップS313では、Bポート第1チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1b2、Bポート第2チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1b4、Bポート第3チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1b6を、「第1部位」の正常な締め付け圧力の設定に必要な条件にタッチパネル37上で設定して、ステップS314に進む。
(d) ステップS314では、Bポート第1チューブ用第1電磁弁V2b1、Bポート第2チューブ用第1電磁弁V2b2、Bポート第3チューブ用第1電磁弁V2b3を開放し、その後ステップS315に進む。ステップS315では、Bポート第1チューブ用第2電磁弁V5b1、Bポート第2チューブ用第2電磁弁V5b2、Bポート第3チューブ用第2電磁弁V5b3を閉じ、ステップS316に進む。ステップS316では、Bポート第1チューブ用バッファ用比例電磁弁V1a1、Bポート第2チューブ用バッファ用比例電磁弁V1a3、Bポート第3チューブ用バッファ用比例電磁弁V1a5を、正常な動作条件として設定したパラメータで動作させ、ステップS317に進む。ステップS317では、Bポート第1チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1a2、Bポート第2チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1a4、Bポート第3チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1a6を、正常な動作条件として設定したパラメータで動作させ、ステップS318に進む。ステップS318で検査画面をタッチパネル37上に表示させて、図27のステップS319に進む。なお、ステップS314では、Aポート第1チューブ用第1電磁弁V2a1、Aポート第2チューブ用第1電磁弁V2a2、Aポート第3チューブ用第1電磁弁V2a3についても同様に開放し、その後ステップS315に進む。ステップS315では、Aポート第1チューブ用第2電磁弁V5a1、Aポート第2チューブ用第2電磁弁V5a2、Aポート第3チューブ用第2電磁弁V5a3についても同様に閉じ、ステップS316に進む。ステップS316では、Aポート第1チューブ用バッファ用比例電磁弁V1a1、Aポート第2チューブ用バッファ用比例電磁弁V1a3、Aポート第3チューブ用バッファ用比例電磁弁V1a5についても同様に正常な動作条件として設定したパラメータで動作させ、ステップS317に進む。ステップS317では、Aポート第1チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1a2、Aポート第2チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1a4、Aポート第3チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1a6についても同様に正常な動作条件として設定したパラメータで動作させ、ステップS318に進む。ステップS318で検査画面をタッチパネル37上に表示させて、図27のステップS319に進む。
(e) ステップS319で被測定機器3の電源オンの「スタンバイ完了」をタッチパネル37に表示させ、ステップS320に進む。ステップS320で被測定機器3の電源がオフの表示であるか確認し、オフの表示(電源投入待ちではない)であれば、ステップS319に戻り、タッチパネル37に被測定機器3の「スタンバイ完了(電源投入待ち)」が表示されるのを待つ。ステップS320で被測定機器3の電源が電源投入待ちであることが確認された場合は、S321に進み、被測定機器3の電源を入れ、被測定機器3の被測定加圧手段303を起動する。そして、ステップS322で被測定機器3の動作条件を読み出し、ステップS323に進む。ステップS322では、図25〜図26のフローで第1の実施の形態に係る流体経路検査装置が設定した動作条件を「被測定機器側の動作条件」として読み出す。ステップS323で被測定機器3側の動作条件の読み出しが完了したら、タッチパネル37に動作条件を表示させステップS324に進む。ステップS324で被測定機器3を動作させると、被測定機器3のAポートから専用チューブである第1チューブ4a1,第2チューブ4a2,第3チューブ4a3を介して、Bポートから専用チューブである第1チューブ4b1,第2チューブ4b2,第3チューブ4b3を介して第1の実施の形態に係る流体経路検査装置に、被測定機器3の被測定加圧手段303から流体圧が供給される。ステップS324で被測定機器3を動作させ、専用チューブに流体圧が供給されると、ステップS325で第1の実施の形態に係る流体経路検査装置に内蔵されたAポート第1チューブ用圧力センサS2,Aポート第2チューブ用圧力センサS3,Aポート第3チューブ用圧力センサS4、Bポート第1チューブ用圧力センサS5,Bポート第2チューブ用圧力センサS6,Bポート第3チューブ用圧力センサS7の反応が開始され、流体圧の数値が表示される。ステップS325で各圧力センサの反応が開始されると、動作タイミングが取得され、ステップS326で12サイクル動作させる。
(f) ステップS326では、Aポート第1チューブ用バッファ用比例電磁弁V1a1、Aポート第2チューブ用バッファ用比例電磁弁V1a3、Aポート第3チューブ用バッファ用比例電磁弁V1a5、Bポート第1チューブ用バッファ用比例電磁弁V1b1、Bポート第2チューブ用バッファ用比例電磁弁V1b3、Bポート第3チューブ用バッファ用比例電磁弁V1b5は全開放状態での排気であり、Aポート第1チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1a2、Aポート第2チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1a4、Aポート第3チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1a6、Bポート第1チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1b2、Bポート第2チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1b4、Bポート第3チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1b6も全開放状態で排気する。そして、ステップS326では、Aポート第1チューブ用第2電磁弁V5a1、Aポート第2チューブ用第2電磁弁V5a2、Aポート第3チューブ用第2電磁弁V5a3、Bポート第1チューブ用第2電磁弁V5b1、Bポート第2チューブ用第2電磁弁V5b2、Bポート第3チューブ用第2電磁弁V5b3も全開放状態で排気しながら、12サイクル動作させる。ステップS326で、12サイクルの動作がされれば、ステップS327に進み、Aポート第1チューブ用圧力センサS2,Aポート第2チューブ用圧力センサS3,Aポート第3チューブ用圧力センサS4、Bポート第1チューブ用圧力センサS5,Bポート第2チューブ用圧力センサS6,Bポート第3チューブ用圧力センサS7のそれぞれについて、タッチパネル37上に表示される数値から、12サイクルの動作が第1〜第4のエラーのいずれかのエラー条件を満たしていると判断された場合は、ステップS328で「不合格」の画面をタッチパネル37上に表示した後、被測定機器3の電源をオフして、被測定機器3の被測定加圧手段303を停止し、図28のステップS330に進む。ステップS327で、12サイクルの動作が第1〜第4のエラーのエラー条件のいずれをも満たしていないと判断された場合は、ステップS329で「合格」の画面をタッチパネル37上に表示した後、被測定機器3の電源をオフして、図28のステップS330に進む。
(g) 図28のステップS330ではタッチパネル37の判定画面上のリセットを選択する(ステップS330で判定画面上のリセットが未選択であれば、ステップS330に戻り、リセットを選択する。)。その後、ステップS331に進む。ステップS331では、Aポート第1チューブ用バッファ用比例電磁弁V1a1、Aポート第2チューブ用バッファ用比例電磁弁V1a3、Aポート第3チューブ用バッファ用比例電磁弁V1a5、Bポート第1チューブ用バッファ用比例電磁弁V1b1、Bポート第2チューブ用バッファ用比例電磁弁V1b3、Bポート第3チューブ用バッファ用比例電磁弁V1b5をすべて閉じ、ステップS332に進む。ステップS332では、Aポート第1チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1a2、Aポート第2チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1a4、Aポート第3チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1a6、Bポート第1チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1b2、Bポート第2チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1b4、Bポート第3チューブ用圧力調整用比例電磁弁V1b6をすべて閉じ、ステップS333に進む。ステップS333では、Aポート第1チューブ用第1電磁弁V2a1、Aポート第2チューブ用第1電磁弁V2a2、Aポート第3チューブ用第1電磁弁V2a3、Bポート第1チューブ用第1電磁弁V2b1、Bポート第2チューブ用第1電磁弁V2b2、Bポート第3チューブ用第1電磁弁V2b3をすべて閉じて、ステップS334に進む。そして、ステップS334では、Aポート第1チューブ用第2電磁弁V5a1、Aポート第2チューブ用第2電磁弁V5a2、Aポート第3チューブ用第2電磁弁V5a3、Bポート第1チューブ用第2電磁弁V5b1、Bポート第2チューブ用第2電磁弁V5b2、Bポート第3チューブ用第2電磁弁V5b3をすべて閉じて、ステップS335に進む。ステップS335で初期画面に戻って終了する。
(流体経路検査装置の動作3:リーク検査の場合)
図29〜図33のフローチャートを用いて、「リーク検査」を選択した場合における本発明の第1の実施の形態に係る流体経路検査方法における処理の流れを説明する。なお、以下に述べる流体経路検査装置の動作は、簡単な説明をするための一例であり、特許請求の範囲に記載した趣旨の範囲内であれば、この変形例を含めて、これ以外の種々の手順、順番、選択、動作方法等により、実現可能であることは勿論である。なお、図29〜図31のフローチャートでは、図面上の枠の大きさの制限から「被測定機器」を被測定機器3の一例であるSCDと略記し、「流体経路検査装置」をIPCDと略記して簡略化表現を用いて説明しているが、単なる便宜上の表記であり、「SCD]や「IPCD」が特定の意味を有するものではない。
(a) 先ず、図1に示したように、第1の実施の形態に係る流体経路検査装置の第1のチューブ接続継手f1aに検査チューブ4xjの第1の取付継手f1bを結合し、第2のチューブ接続継手f2aに検査チューブ4xjの第2の取付継手f2bを結合して、第1の実施の形態に係る流体経路検査装置に検査チューブ4xjをする。そして、図29のステップS401において、図4に示したタッチパネル37の画面で「リーク」を選択しリーク検査ユニット21aを起動する。そして、ステップS402で供給側ソレノイド弁V4aを開き、検査チューブ4xjがその一部となって構成する流体回路(流体経路)を開く。ステップS402において供給側ソレノイド弁V4aを開いたら、ステップS403に進む。ステップS403では、排気側ソレノイド弁V4bを閉じ、検査チューブ4xjがその一部となって構成する流体回路(流体経路)を閉じる。ステップS403で排気側ソレノイド弁V4bを閉じたら、ステップS404に進み、ステップS404で第1の実施の形態に係る流体経路検査装置の測定用加圧手段(コンプレッサ)34を起動し、ステップS405で第1の実施の形態に係る流体経路検査装置のマニホールド31を経由して、検査チューブ4xjに空気を供給する。ステップS405で検査チューブ4xjに空気を供給が開始されたら、ステップS406において、第1の実施の形態に係る流体経路検査装置のマニホールド31に内蔵された圧力センサS1によって、検査チューブ4xjの内部の流体圧の測定を開始し、図30のステップS407に進む。
(b) 図30のステップS407で流体圧の測定の開始から5秒未満であれば、ステップS408で圧力センサS1が表示する検査チューブ4xjの内部の流体圧の測定値をタッチパネル37上で確認する。ステップS409で圧力センサS1が表示する検査チューブ4xjの内部の流体圧の測定値が20kPa以上になれば、ステップS410で「初期圧力OK」を設定してステップS407に戻る。ステップS409で圧力センサS1が表示する検査チューブ4xjの内部の流体圧の測定値が20kPa未満であれば、ステップS407に戻る。一方、ステップS407で流体圧の測定の開始から5秒以上経過していれば、ステップS411に進み、ステップS411で「初期圧力OK」が設定されているかを確認する。ステップS411で「初期圧力OK」の設定が確認されたら、図31のステップS413に進む。ステップS411で「初期圧力OK」の設定が確認できなければ、ステップS412で、「初期圧力NG」を設定した後、図31のステップS413に進む。
(c) 図31のステップS413では、供給側ソレノイド弁V4aを閉じることにより検査チューブ4xjがその一部となって構成する流体回路を閉じてステップS414に進み、測定用加圧手段34を停止する。空気の供給が停止した後、ステップS415に進み、排気側ソレノイド弁V4bを開放して、検査チューブ4xjがその一部となって構成する流体回路を開く。その後、ステップS416に進み、圧力センサS1が表示する検査チューブ4xjの内部の流体圧の測定値をタッチパネル37上で確認し、ステップS417に進む。ステップS417では図1に示したリーク検査用比例電磁弁V3を開放し、ステップS418で検査チューブ4xjの内部の圧力の調整を開始してステップS419に進む。ステップS419で圧力センサS1が表示する検査チューブ4xjの内部の流体圧の測定値が20kPa以上であれば、ステップS416に戻る。ステップS419で圧力センサS1が表示する検査チューブ4xjの内部の流体圧の測定値が20kPa未満のリーク測定用圧力に調整されたことが確認されれば、ステップS420に進み、排気側ソレノイド弁V4bを閉じて、検査チューブ4xjがその一部となって構成する流体回路を閉塞状態にする。更に、ステップS421に進み、リーク検査用比例電磁弁V3を閉じる。ステップS421でリーク検査用比例電磁弁V3を閉じて、検査チューブ4xjがその一部となって構成する流体回路を閉塞状態にした後、ステップS422に進み、圧力センサS1が表示する検査チューブ4xjの内部の流体圧の測定値をタッチパネル37上で確認して、図32のステップS423に進む。
(d) 図32のステップS423で、圧力センサS1が表示する検査チューブ4xjの内部の流体圧の測定値が20kPaであれば、ステップS425に進み、検査チューブ4xjがその一部となって構成する流体回路の閉塞状態を5秒間保持する。圧力センサS1が表示する検査チューブ4xjの内部の流体圧の測定値が20kPaでなければ、ステップS424に進み、「基準圧力NG」を設定した後、ステップS425に進み、検査チューブ4xjがその一部となって構成する流体回路の閉塞状態を5秒間保持する。ステップS425で検査チューブ4xjがその一部となって構成する流体回路の閉塞状態を5秒間保持した後、ステップS426に進む。ステップS426で、「初期圧力NG」の設定がされているか確認し、「初期圧力NG」の設定がない場合は、ステップS427に進む。ステップS426で、「初期圧力NG」の設定がされている場合は、ステップS435に進み、「不合格」画面をタッチパネル37に表示させる。ステップS435で「不合格」画面が表示されたら、ステップS436に進み、タッチパネル37上で「不合格」を選択した後、図33のステップS437に進む。一方、ステップS427では、「基準圧力NG」の設定がされているか確認し、「基準圧力NG」の設定がされている場合は、ステップS433に進み、「不合格」画面をタッチパネル37上に表示させる。ステップS433で「不合格」画面が表示されたら、ステップS434に進み、タッチパネル37上で「不合格」を選択した後、図33のステップS437に進む。ステップS427で、「基準圧力NG」の設定がされているか確認し、「基準圧力NG」の設定がない場合は、ステップS428に進む。ステップS428では、5秒間の保持において、圧力センサS1が表示する検査チューブ4xjの内部の流体圧の測定値が20kPa〜19.5kPaの範囲内の値であるか確認する。ステップS428で、5秒間の保持における圧力センサS1が表示する検査チューブ4xjの内部の流体圧の測定値が20kPa〜19.5kPaの範囲内の値であると確認されれば、ステップS429に進み、「合格」画面をタッチパネル37に表示させる。ステップS429で「合格」画面が表示されたら、ステップS430に進み、タッチパネル37上で「合格」を選択した後、図33のステップS437に進む。一方、ステップS428で、5秒間の保持において、一回でも、圧力センサS1が表示する検査チューブ4xjの内部の流体圧の測定値が20kPa〜19.5kPaの範囲内の値ではないと判断されれば、ステップS431に進み、「不合格」画面をタッチパネル37に表示させる。ステップS431で「不合格」画面が表示されたら、ステップS432に進み、「不合格」を選択した後、図33のステップS437に進む。
(e) 図33のステップS437では、供給側ソレノイド弁V4aを開放する。ステップS437で供給側ソレノイド弁V4aを開放したら、ステップS438に進む。ステップS438では排気側ソレノイド弁V4bを開放して、検査チューブ4xjがその一部となって構成する流体回路を開く。その後、ステップS439に進み、リーク検査用比例電磁弁V3を全開放の状態にし、5秒間排気を続ける。即ち、ステップS440で全開放の状態での排気が5秒未満であると判断されれば、ステップS437に戻る。一方、ステップS440で全開放の状態での排気が5秒以上続いていると判断されれば、ステップS441に進む。ステップS441では、供給側ソレノイド弁V4aを閉じ、ステップS442に進む。ステップS442でも排気側ソレノイド弁V4bを閉じ、検査チューブ4xjがその一部となって構成する流体回路を閉じる。その後、ステップS443に進み、リーク検査用比例電磁弁V3も閉じて、ステップS444に進む。ステップS444で、「合格」又は「不合格」の表示がされているタッチパネル37の画面にタッチすると、初期画面に戻り、一連のリーク検査の処理を終了する。
第1の実施の形態に係る流体経路検査方法によれば、図29〜図33のフローチャートに示した手順を用いて、専用チューブを検査用チューブ4xjとして、検査用チューブ4xjの経路を流体経路の一部として閉じた流体回路を構成し、この流体回路を加圧して一定時間保持することにより、3本1組を1個のチューブとする検査用チューブ4xjのそれぞれのリークを、1組毎、順に短時間で簡単に検査することができる。
以上のように、第1の実施の形態に係る流体経路検査方法によれば、25kPa程度以下の低圧領域の流体経路を有するシステムであっても微少レベルの圧力変化を検知できるので、被測定機器3を構成している被測定加圧手段303等のシステム上の問題なのか、検査用チューブ4xjのリークの問題なのか、被測定機器3に用いるスリーブ301a,301bの「第1部位」や「第2部位」に対する締め付け圧力の問題なのか等を明確に示す複数の異常モード(エラーモードE1,E2,E3,E4)の分類やその異常モード(エラーモードE1,E2,E3,E4)の分析等を、1台の小型の装置を用いて簡単且つ短時間の操作で実現することが可能である。
(その他の実施の形態)
上記のように、本発明は第1の実施の形態によって記載したが、この開示の一部をなす論述及び図面は本発明を限定するものであると理解すべきではない。この開示から当業者には様々な代替実施の形態、実施例及び運用技術が明らかとなろう。特に、第1の実施の形態の説明では「流体」が「空気」である場合について例示的に説明したが、本発明の「流体」は「空気」に限定されるものではなく、「流体」は酸素(O2)、窒素(N2)、ヘリウム(He)等の他のガスでもかまわない。また「流体」は水や油等の液体や水銀等の液体金属であっても構わない。したがって、本発明はここでは記載していない様々な実施の形態等を含むことは勿論である。よって、本発明の技術的範囲は上記の説明から妥当な特許請求の範囲に係る発明特定事項によってのみ定められるものである。
21…筐体
21a…リーク検査ユニット
21b…異常エミュレーションユニット
22a,22b,22c,22d…支柱
23…第2の台座板
24…第1の台座板
28…開口部
3…被測定機器
301a,301b…スリーブ
31…マニホールド
33…プリント基板スタック
34…測定用加圧手段
35…圧力センサユニット
36…プリント基板スタック
37…タッチパネル
38…接続コネクタホルダ
xj…検査チューブ
a1,4a2,4a3,4b1,4b2,4b3…専用チューブ
51…外部クロック
52a,52b,52c,54,56a,56b,58a,58b…CPU
53…数値表示回路
55a,57a…第1の数値表示回路
55b,57b…第2の数値表示回路
55c,57c…第3の数値表示回路
61…リーク用流体供給圧力計測回路
611…リーク検査用駆動回路
1s…タッチパネル駆動回路用基板
62…液晶表示制御回路
621…動作表示灯点灯回路
622…動作状態表示灯
62s…リーク検査制御回路用基板
63…電源
67…全体制御回路
671s…電磁弁駆動回路用基板
672s…加圧手段駆動回路用基板
673s…第3の比例電磁弁駆動回路用基板
674s…第2の比例電磁弁駆動回路用基板
675s…第1の比例電磁弁駆動回路用基板
676s…電源回路用基板
677…全体信号増幅回路
677s…センサ信号増幅回路用基板
68…Bポート流体供給圧力計測回路
681a,681b,681c…Bポート検査用異常負荷発生回路
68s…Bポート用エミュレーション制御回路用基板
69…Aポート流体供給圧力計測回路
691a,691b,691c…Aポート検査用異常負荷発生回路
69s…Aポート用エミュレーション制御回路用基板
70…駆動素子
71a〜71c,721a,721b,731,732,741a,741b,751,752,76a,76c,7ba…駆動素子
86a…赤発光素子
86b…緑発光素子
86c…青発光素子
S1〜S7…圧力センサ
1a1…第1チューブ用バッファ用比例電磁弁
1a2…第1チューブ用圧力調整用比例電磁弁
1a3…第2チューブ用バッファ用比例電磁弁
1a4…第2チューブ用圧力調整用比例電磁弁
1a5…第3チューブ用バッファ用比例電磁弁
1a6…第3チューブ用圧力調整用比例電磁弁
1b1…第1チューブ用バッファ用比例電磁弁
1b2…第1チューブ用圧力調整用比例電磁弁
1b3…第2チューブ用バッファ用比例電磁弁
1b4…第2チューブ用圧力調整用比例電磁弁
1b5…第3チューブ用バッファ用比例電磁弁
1b6…第3チューブ用圧力調整用比例電磁弁
V2a1〜V2a3,V2b1〜V2b3…第1電磁弁
V3…リーク検査用比例電磁弁
4a…供給側ソレノイド弁
4b…排気側ソレノイド弁
V5a1〜V5a3、V5b1〜V5b3…第1電磁弁
1a…第1のチューブ接続継手
2a…第2のチューブ接続継手
1b…第1の取付継手
2b…第2の取付継手
g1〜g6,g7a1,g7b1,g8a1,g8b1…内部配管

Claims (2)

  1. 被測定加圧手段と専用チューブを有する被測定機器の流体経路を検査する流体経路検査装置であって、
    測定用加圧手段を有し、前記専用チューブの経路を流体経路の一部として閉じた流体回路を構成し、前記測定用加圧手段によって前記流体回路を加圧して一定時間保持することにより前記専用チューブのリークを検査するリーク検査ユニットと、
    圧力調整用比例電磁弁を有し、前記被測定機器の流体経路に発生する可能性のある複数の異常モードのそれぞれが呈する流体回路の特性を、前記被測定加圧手段による流体圧力の加圧と前記圧力調整用比例電磁弁による流体圧力の調整によってそれぞれエミュレートして、前記被測定機器の流体経路の異常を検査する異常エミュレーションユニットと、
    を備えることを特徴とする流体経路検査装置。
  2. 被測定加圧手段と専用チューブを有する被測定機器の流体経路を検査する流体経路検査方法であって、
    前記専用チューブの経路を流体経路の一部として閉じた流体回路を構成し、前記流体回路を加圧して一定時間保持することにより前記専用チューブのリークを検査するステップと、
    前記被測定機器の流体経路に発生する可能性のある複数の異常モードのそれぞれが呈する流体回路の特性を流体経路検査装置によってエミュレートするステップと、
    前記被測定機器に接続された前記流体経路検査装置の内部配管を前記被測定加圧手段で加圧して、前記エミュレートされた特性と比較して、前記被測定機器の流体経路の異常を検査するステップと、
    を含むことを特徴とする流体経路検査方法。
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