JPWO2014002794A1 - 薄膜積層素子の製造方法 - Google Patents
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Abstract
本発明の目的は、損傷の少ないアライメントマークをエッチングの際のフォトマスクの位置決めに使用が可能である薄膜積層素子の製造方法を提供することである。本発明の薄膜積層素子の製造方法は、フォトリソグラフィを用いたエッチングにより、薄膜積層体7に素子部10およびアライメントマークを形成する第2の工程と、薄膜積層体7上に感光性レジストを塗布するステップと、アライメントパターンを有するフォトマスクを、アライメントパターンと前の工程で形成されたアライメントマークとの位置合わせにより、感光性レジスト上に配置するステップと、感光性レジストを露光し、現像するステップと、感光性レジストが塗布された薄膜積層体をエッチングすることにより、薄膜積層体に素子部およびアライメントマークを形成するステップとを有する第3の工程とを備える。
Description
本発明は、薄膜コンデンサ等として機能する薄膜積層素子の製造方法に関する。
従来の薄膜積層素子の製造方法には、例えば先行文献1(特開2010−21478号)に開示された下方進行方式がある。
先行文献1に開示された下方進行方式では、まず、図22(A)に示すように、コンデンサ用電極等として機能する複数の薄膜103、104、105、106を有する薄膜積層体107を形成する。その後、フォトリソグラフィを用いたエッチングを複数回繰り返すことにより、薄膜積層体107の所定の薄膜103、104、105、106を表面から順に加工していく。
先行文献1に開示された下方進行方式では、薄膜積層体107を高い位置精度でエッチングするために、図22(B)に示すように、フォトリソグラフィを用いたエッチングにより、薄膜積層体107の最上層に予め複数のアライメントマーク131を形成する。この複数のアライメントマーク131は、複数回繰り返すエッチング工程のいずれかにおいて、フォトマスクの位置決めに使用される。
各エッチング工程において、そのエッチング工程で使用しない未使用のアライメントマーク131は、エッチングによる損傷を受けることがないように、感光性レジストで覆う必要がある。したがって、複数回繰り返すエッチング工程のうち、後の方で使用されるアライメントマーク131上には、何回も感光性レジストが塗布され、剥離されることになる。
しかしながら、上述した従来の製造方法においては、何回も同一のアライメントマーク131上に感光性レジストが塗布され、剥離されることになるため、アライメントマーク131が損傷を受けやすいという課題があった。損傷を受けたアライメントマーク131を用いると、位置の認識ずれが大きくなり、薄膜積層体107の加工精度が低下してしまうという課題があった。
そこで、本発明の目的は、損傷の少ないアライメントマークをエッチングの際のフォトマスクの位置決めに使用することができる薄膜積層素子の製造方法を提供することである。
上記の目的を達成するために、本発明の薄膜積層素子の製造方法は、薄膜を複数層有する薄膜積層体を形成するステップを有する第1の工程と、前記薄膜積層体上に感光性レジストを塗布するステップと、フォトマスクを用いて前記レジストを露光し、現像するステップと、前記現像された感光性レジストが塗布された前記薄膜積層体をエッチングすることにより、前記薄膜積層体に素子部およびアライメントマークを形成するステップと、前記エッチングされた薄膜積層体上から前記感光性レジストを除去するステップとを有する第2の工程と、前記薄膜積層体上に感光性レジストを塗布するステップと、アライメントパターンを有するフォトマスクを、前記アライメントパターンと、前の工程で形成されたアライメントマークとの位置を合わせることにより、前記感光性レジスト上の所定の位置に配置するステップと、前記フォトマスクを用いて前記感光性レジストを露光し、現像するステップと、前記現像された感光性レジストが塗布された前記薄膜積層体をエッチングすることにより、前記薄膜積層体に素子部およびアライメントマークを形成するステップと、前記エッチングされた薄膜積層体上から前記感光性レジストを除去するステップとを有する第3の工程と、を備えることを特徴とする。
本発明の薄膜積層素子の製造方法によれば、アライメントマークの損傷を小さくでき、位置の認識ずれを小さくできるため、薄膜積層体の加工精度を高めることができる。
また、アライメントマークを逐次形成しながら薄膜積層体を形成していくため、アライメントマークの位置ずれの許容度を小さく設定することができる。このため、キャパシタ等の導体の重なり面積が素子の機能に影響を与える素子においては、従来、位置ずれが発生しても機能が許容値を下回ることがないように、予め導体を大きく設計しておかなければならず、素子のサイズが大きくなってしまうことがあったが、本発明の製造方法によれば、サイズを大きくすることなく、所望の機能を得ることができる。また、同じ機能の素子を、従来よりも小さなサイズで構成することができる。
また、アライメントマークを逐次形成しながら薄膜積層体を形成していくため、アライメントマークの位置ずれの許容度を小さく設定することができる。このため、キャパシタ等の導体の重なり面積が素子の機能に影響を与える素子においては、従来、位置ずれが発生しても機能が許容値を下回ることがないように、予め導体を大きく設計しておかなければならず、素子のサイズが大きくなってしまうことがあったが、本発明の製造方法によれば、サイズを大きくすることなく、所望の機能を得ることができる。また、同じ機能の素子を、従来よりも小さなサイズで構成することができる。
以下、本発明を実施するための形態について、図面を参照しながら説明する。
図21に、本実施形態にかかる薄膜積層素子の製造方法を適用する薄膜積層素子の一例として、薄膜コンデンサとして機能する薄膜積層素子100を示す。
薄膜積層素子100は、SiO2からなるSi熱酸化膜2を表面に有する、Siからなる基板1を備えている。
熱酸化膜2上には、密着層として機能する(Ba,Sr)TiO3(以下BSTと記載)からなる誘電体薄膜3が形成されている。誘電体薄膜3上には、コンデンサ用電極として機能するPtからなる導体薄膜4が形成されている。導体薄膜4上には、コンデンサ用誘電体として機能するBSTからなる誘電体薄膜5が形成されている。誘電体薄膜5上には、さらに必要に応じて、導体薄膜4、誘電体薄膜5が繰り返して形成されている。そして、最上層の導体薄膜4上には、保護層として機能するBSTからなる誘電体薄膜6が形成されている。これらの誘電体薄膜3、複数の導体薄膜4、複数の誘電体薄膜5、誘電体薄膜6により、薄膜積層体7が構成されている。
薄膜積層体7には、薄膜コンデンサとして機能する素子部10が形成されている。
素子部10の周囲には、耐湿性を高めるためのSiO2からなる無機保護膜12および外力を緩和するための有機保護膜13が形成されている。
外部電極14が、コンデンサ用電極として機能する導体薄膜4の所定箇所に接続されるように、有機保護膜13上に形成されている。外部電極14は、Ti薄膜、Ni薄膜、Au薄膜の順に積層されてなる(図示せず)。
次に、本発明の実施形態にかかる薄膜積層素子100の製造方法について説明する。
(第1の工程)
第1の工程では、熱酸化膜2を表面に有する基板1上に薄膜積層体7を形成する。
(第1の工程)
第1の工程では、熱酸化膜2を表面に有する基板1上に薄膜積層体7を形成する。
まず、図1に示すように、SiO2からなるSi熱酸化膜2を表面に有するSiからなる基板1を準備する。熱酸化膜2の膜厚は例えば700nmとし、基板1の厚みは例えば0.5mmとする。
次に、図2に示すように、熱酸化膜2上に、BSTからなる誘電体薄膜3を有機金属分解(MOD:Metal Organic Deposition)法で形成する。誘電体薄膜3の膜厚は例えば100nmとする。この誘電体薄膜3上にPtからなる導体薄膜4をスパッタ法で形成する。導体薄膜4の膜厚は例えば200nmとする。さらに、この導体薄膜4上に、上記と同様の方法により、BSTからなる誘電体薄膜5とPtからなる導体薄膜4との形成を、交互に4回繰り返す。最後に、BSTからなる誘電体薄膜6を形成する。
以上のステップにより、誘電体薄膜3、複数の導体薄膜4、複数の誘電体薄膜5、誘電体薄膜6からなる薄膜積層体7が、熱酸化膜2を表面に有する基板1上に形成される。
(第2の工程)
第2の工程では、薄膜積層体7の表面に、当該第2の工程の次に実施される第3の工程で使用するアライメントマーク31aを形成する。
(第2の工程)
第2の工程では、薄膜積層体7の表面に、当該第2の工程の次に実施される第3の工程で使用するアライメントマーク31aを形成する。
まず、図3に示すように、スピンコーティング法により、誘電体薄膜6上に、ポジ型の感光性レジスト8を塗布、ベークする。
次に、図4(A)、(B)に示すように、感光性レジスト8上に、素子部用パターン11aおよびアライメントパターン21aを設けたフォトマスク9aを配置する。アライメントパターン21aは、所定の隙間を設けて配置された4個の正方形の要素からなる。
次に、フォトマスク9a上から感光性レジスト8を露光し、その後フォトマスク9aを取り除くことにより、図5(A)、(B)に示すように、感光性レジスト8に未感光部8aと感光部8bを形成する。
次に、図6(A)、(B)に示すように、現像により感光性レジスト8の未感光部8bを除去し、薄膜積層体7上にパターンを有する感光性レジスト8を形成する。
次に、図7(A)、(B)に示すように、感光性レジスト8が塗布された誘電体薄膜6および導体薄膜4を一体で、RIE(反応性イオンエッチング)により加工し、薄膜積層体7の表面の一部に素子部10およびアライメントマーク31aを形成する。
次に、図8(A)、(B)に示すように、O2プラズマアッシングにより、薄膜積層体7上から感光性レジスト8を除去する。
以上のステップにより、薄膜積層体7の表面の一部に、素子部10と、次の工程で使用するアライメントマーク31aが完成する。
(第3の工程)
第3の工程では、前記第2の工程で形成したアライメントマーク31aをフォトマスクの位置決めに用いたエッチングにより、薄膜積層体7を表面から加工し、素子部10をさらに形成するとともに、新しいアライメントマークを形成する。
(第3の工程)
第3の工程では、前記第2の工程で形成したアライメントマーク31aをフォトマスクの位置決めに用いたエッチングにより、薄膜積層体7を表面から加工し、素子部10をさらに形成するとともに、新しいアライメントマークを形成する。
まず、図9(A)、(B)に示すように、スピンコーティング法により、ポジ型の感光性レジスト8を薄膜積層体7の表面に塗布、ベークする。
次に、図10(A)、(B)に示すように、感光性レジスト8上に、素子部用パターン11bおよびアライメントパターン21bと、十字型のアライメントパターン41aを有するフォトマスク9bを配置する。
具体的には、十字型のアライメントパターン41aと、前の工程で薄膜積層体7の表面上に形成されたアライメントマーク31aとの位置を合わせることにより、感光性レジスト8上の所定の位置にフォトマスク9bを配置する。
次に、フォトマスク9b上から感光性レジスト8を露光し、フォトマスク9bを取り除くことにより、図11(A)、(B)に示すように、感光性レジスト8に未感光部8aと感光部8bを形成する。
次に、図12(A)、(B)に示すように、現像により感光性レジスト8の感光部8bを除去し、薄膜積層体7上にパターンを有する感光性レジスト8を形成する。
次に、図13(A)、(B)に示すように、感光性レジストが塗布された誘電体薄膜6および導体薄膜4を一体でRIEにより加工し、薄膜積層体7に素子部10をさらに形成するとともに、新しいアライメントマーク31bを形成する。
次に、図14(A)、(B)に示すように、O2プラズマアッシングにより、薄膜積層体7上から感光性レジスト8を除去する。
(第2回目以降の第3の工程)
第2回目以降の第3の工程では、前記第3の工程を複数回繰り返すことにより、薄膜積層体7を表面から順に加工し、素子部10をさらに形成する。複数回繰り返す第3の工程のそれぞれにおけるフォトマスクの位置決めには、その第3の工程の1つ前の工程で形成されたアライメントマークを用いる。
(第2回目以降の第3の工程)
第2回目以降の第3の工程では、前記第3の工程を複数回繰り返すことにより、薄膜積層体7を表面から順に加工し、素子部10をさらに形成する。複数回繰り返す第3の工程のそれぞれにおけるフォトマスクの位置決めには、その第3の工程の1つ前の工程で形成されたアライメントマークを用いる。
まず、新しいアライメントマーク31bをフォトマスク(図示せず)の位置合わせに用いて前記第3の工程を繰り返すことにより、図15(A)、(B)に示すように、薄膜積層体7に素子部10をさらに形成するとともに、次の工程で使用するアライメントマーク31cを形成する。
次に、新しいアライメントマーク31cをフォトマスク(図示せず)の位置合わせに用いて前記第3の工程を繰り返すことにより、図16(A)、(B)に示すように、薄膜積層体7に素子部10をさらに形成するとともに、次の工程で使用するアライメントマーク31dを形成する。
次に、新しいアライメントマーク31dをフォトマスク(図示せず)の位置合わせに用いて前記第3の工程を繰り返すことにより、図17(A)、(B)に示すように、薄膜積層体7に素子部10をさらに形成するとともに、次の工程で使用するアライメントマーク31eを形成する。
以上のように、薄膜積層体7を加工する際に、前の工程で形成されたアライメントマークをエッチングの際のフォトマスクの位置合わせに用いる。したがって、位置合わせ前に、アライメントマークの表面上に感光性レジスト8を1回のみ塗布し、剥離することになり、アライメントマークの損傷が小さくできる。損傷の小さいアライメントマークを位置合わせに用いると、アライメントマークの位置の認識ずれが小さくできるため、素子部10の加工精度が低下しにくくなる。
(第4の工程)
第4の工程では、素子部10の周囲を覆うSiO2からなる無機保護膜12および、有機保護膜13と、コンデンサ用電極として機能する導体薄膜4の一部と接続された外部電極14を形成し、薄膜積層素子100を完成させる。
(第4の工程)
第4の工程では、素子部10の周囲を覆うSiO2からなる無機保護膜12および、有機保護膜13と、コンデンサ用電極として機能する導体薄膜4の一部と接続された外部電極14を形成し、薄膜積層素子100を完成させる。
まず、素子部10を含む薄膜積層体7の全体に、約850℃の熱処理を行う。
次に、図18(A)、(B)に示すように、SiO2からなる無機保護膜12を化学蒸着(CVD: Chemical Vapor Deposition)法で形成する。その後、ポジ型の感光性レジストとして機能する有機保護膜13をスピンコーティング法により塗布する。無機保護膜12の膜厚は例えば700nmとし、有機保護膜13の膜厚は例えば5000nmとする。
次に、図19(A)、(B)に示すように、前記第2の工程と同様に、フォトマスク9fの十字型のアライメントパターン41eと、前の工程で形成されたアライメントマーク31eとを位置合わせすることにより、有機保護膜13上の所定の位置に、アライメントパターン21fを設けたフォトマスク9fを配置する。
次に、アライメントパターン21fを設けたフォトマスク9fを用いて、ポジ型の有機保護膜13を露光、現像することにより、有機保護膜13にパターンを形成する。
次に、図20(A)、(B)に示すように、パターンが形成された有機保護膜13をマスクとして、CHF3ガスを用いて無機保護膜12および誘電体薄膜5を一体でドライエッチングし、コンデンサ用電極として機能する導体薄膜4の一部を露出させる。同時に、無機保護膜12をドライエッチングすることにより、新たなアライメントマーク31fを形成する。
最後に、図21(A)、(B)に示すように、アライメントマーク31fを用いて、素子部10のコンデンサ用電極として機能する導体薄膜4の一部に接続した外部電極14をスパッタ法により形成し、薄膜積層素子100を完成させる。
具体的には、まずスパッタ法により、Ti薄膜、Ni薄膜、Au薄膜を順番に成膜する。Ti薄膜の膜厚は例えば50nmとし、Ni薄膜の膜厚は例えば1000nmとし、Au薄膜の膜厚は例えば200nmとする。
次に、ポジ型の感光性レジスト(図示せず)をスピンコーティング法により塗布する。
次に、フォトマスク(図示せず)のアライメントパターンをアライメントマーク31fに位置合わせをし、このフォトマスクを用いて感光性レジストに外部電極14に対応するパターンを形成する。次に、感光性レジストでマスキングされたTi薄膜、Ni薄膜、Au薄膜からなる層をRIEにより加工し、コンデンサ用電極として機能する導体薄膜4の一部と接続された外部電極14を形成する。
最後に、O2プラズマアッシングにより、感光性レジスト8を取り除くことにより、パターンを有する外部電極14を完成させる。
なお、本発明の実施形態にかかる薄膜積層素子の製造方法は、上述した内容に限定されることはなく、発明の趣旨に沿って、種々の変更をなすことができる。例えば、前記実施形態の製造方法では、第3の工程を複数回繰り返したが、1回のみでも良い。また、感光性レジストにポジ型を用いたが、ネガ型を用いても良い。また、1回のエッチング工程ごとに導体薄膜と誘電体薄膜を1層ずつ一体でエッチングしたが、エッチングの層数は何層でも良い。また、薄膜積層体に形成されたアライメントマークの形状および、フォトマスクのアライメントパターンの形状は、エッチングの際の位置合わせが正確にできればどのような形状でも良い。
1 基板
2 熱酸化膜
3、5、6 誘電体薄膜
4 導体薄膜
7 薄膜積層体
8 感光性レジスト
8a 未感光部
8b 感光部
9a、9b、9f フォトマスク
10 素子部
11a、11b、11f 素子部用パターン
12 無機保護膜
13 有機保護膜
14 外部電極
21a、21b、21f、41a、41e アライメントパターン
31a〜31f アライメントマーク
100 薄膜積層素子
2 熱酸化膜
3、5、6 誘電体薄膜
4 導体薄膜
7 薄膜積層体
8 感光性レジスト
8a 未感光部
8b 感光部
9a、9b、9f フォトマスク
10 素子部
11a、11b、11f 素子部用パターン
12 無機保護膜
13 有機保護膜
14 外部電極
21a、21b、21f、41a、41e アライメントパターン
31a〜31f アライメントマーク
100 薄膜積層素子
Claims (4)
- 薄膜を複数層有する薄膜積層体を形成するステップを有する第1の工程と、
前記薄膜積層体上に感光性レジストを塗布するステップと、
フォトマスクを用いて前記レジストを露光し、現像するステップと、
前記現像された感光性レジストが塗布された前記薄膜積層体をエッチングすることにより、前記薄膜積層体に素子部およびアライメントマークを形成するステップと、
前記エッチングされた薄膜積層体上から前記感光性レジストを除去するステップとを有する第2の工程と、
前記薄膜積層体上に感光性レジストを塗布するステップと、
アライメントパターンを有するフォトマスクを、前記アライメントパターンと、前の工程で形成されたアライメントマークとの位置を合わせることにより、前記感光性レジスト上の所定の位置に配置するステップと、
前記フォトマスクを用いて前記感光性レジストを露光し、現像するステップと、
前記現像された感光性レジストが塗布された前記薄膜積層体をエッチングすることにより、前記薄膜積層体に素子部およびアライメントマークを形成するステップと、
前記エッチングされた薄膜積層体上から前記感光性レジストを除去するステップとを有する第3の工程と、
を備えることを特徴とする薄膜積層素子の製造方法。 - 前記第3の工程を2回以上繰り返すことを特徴とする請求項1に記載された薄膜積層素子の製造方法。
- 前記第3の工程において形成される前記アライメントマークは、当該第3の工程よりも1つ前の工程で形成されたアライメントマークよりも、前記薄膜積層体の下層に設けられることを特徴とする請求項1または2に記載された薄膜積層素子の製造方法。
- 前記薄膜積層体は交互に積層された導体薄膜と誘電体薄膜を含んでおり、
前記第2の工程または前記第3の工程において、前記導体薄膜と前記誘電体薄膜を一体でエッチングすることを特徴とする請求項1ないし3のいずれか1項に記載された薄膜積層素子の製造方法。
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