JPWO2013035341A1 - 位置検出装置、駆動装置、レンズ鏡筒 - Google Patents

Abstract

位置検出装置（２４８）は、磁気発生部（１５４）と、検出部（１５０）とを、備えている。磁気発生部（１５４）は、面内に２極着磁されている。検出部（１５０）は、第１磁気検出素子（１５２）と、第２磁気検出素子（１５３）と、保持部材（１５１）とを、有している。保持部材（１５１）は、磁気発生部（１５４）の面に対して相対的に平行移動可能である。検出部（１５０）では、第１磁気検出素子（１５２）及び第２磁気検出素子（１５３）が、保持部材（１５１）に一体に成型されている。第１磁気検出素子（１５２）と第２磁気検出素子（１５３）とを通過する第１方向と、磁気発生部（１５４）の分極線が延びる方向とがなす角度は、９０度以外である。第１磁気検出素子（１５２）と第２磁気検出素子（１５３）とを結ぶ線分と、磁気発生部（１５４）の分極線とは、食い違い又は平行である。

Description

ここに開示された技術は、位置検出装置に関する。また、この技術は、駆動装置に関する。さらに、この技術は、位置検出装置を備えたレンズ鏡筒、及び駆動装置を備えたレンズ鏡筒に関する。

近年、様々なところで位置検出装置が用いられている。例えば、デジタルスチルカメラやデジタルビデオムービーに用いられる像ぶれ補正装置は、瞬時にレンズの位置を高精度に検出するために、位置検出装置を有している。
従来の像ぶれ補正装置は、回動軸と、ピッチング方向の電磁アクチュエータと、ヨーイング方向の電磁アクチュエータと、磁気センサを用いた２つの１方向位置検出装置を、備えている。この像ぶれ補正装置では、２つの位置検出装置によって、像ぶれ補正レンズの位置を検出している（特許文献１参照）。

特開２００７−２４４１２５４号公報

ここに開示された技術では、１つのパッケージで２方向の位置検出を同時に実行可能な位置検出装置が、提供される。

ここに開示された位置検出装置は、磁気発生部と、検出部とを、備えている。磁気発生部は、面内に２極着磁されている。検出部は、第１磁気検出素子と、第２磁気検出素子とを、有している。第２磁気検出素子は、第１磁気検出素子と並んで配置される。保持部材は、第１磁気検出素子及び第２磁気検出素子を、保持する。保持部材は、磁気発生部の面に対して相対的に平行移動可能である。検出部では、第１磁気検出素子及び第２磁気検出素子が、保持部材に一体に成型されている。第１磁気検出素子と第２磁気検出素子とを通過する第１方向と、磁気発生部の分極線が延びる方向とがなす角度が、９０度以外である。第１磁気検出素子と第２磁気検出素子とを結ぶ線分と、磁気発生部の分極線とは、食い違い又は平行である。

本位置検出装置では、１つのパッケージで２方向の位置検出を同時に実行可能である。

実施の形態１にかかるレンズ鏡筒の斜視図である。 実施の形態１にかかるレンズ鏡筒の分解模式図である。 実施の形態１にかかるレンズ駆動ユニットの斜視図である。 実施の形態１にかかる位置検出装置の模式図 実施の形態１にかかる位置検出装置の正面図 実施の形態１にかかる位置検出装置の側面図 実施の形態１にかかる位置検出装置の下面図 実施の形態１にかかる位置検出装置のＹ方向の位置とＺ方向の磁束密度との関係を示す図 実施の形態１にかかるＮ極側での２つの位置検出装置のＸ方向の位置とＺ方向の磁束密度との関係を示す図 実施の形態１にかかるＮ極側での２つの位置検出装置のＸ方向の位置とＺ方向の磁束密度差との関係を示す図 他の実施の形態１にかかる位置検出装置の正面図 他の実施の形態１にかかる位置検出装置の側面図 他の実施の形態１にかかる位置検出装置の下面図 他の実施の形態２にかかる位置検出装置の正面図 他の実施の形態２にかかる位置検出装置の側面図 他の実施の形態２にかかる位置検出装置の下面図 他の実施の形態にかかる位置検出装置の模式図

以下に示す実施の形態において、例えば、デジタルスチルカメラに用いられるレンズ鏡筒１００について、説明する。本明細書では、説明の便宜上、横撮り姿勢におけるデジタルスチルカメラの前後方向をＺ方向、左右方向をＹ方向、上下方向をＸ方向とする。また、被写体側を「前」側、カメラ本体側を「後」側とする。また、特段の説明がない限り、「半径方向」とは、光軸ＡＸを中心とする半径方向を意味し、「周方向」とは、光軸ＡＸを中心とする周方向を意味する。また、「光軸方向」とは、光軸ＡＸに沿った方向を意味する。

（実施の形態１）
［１．レンズ鏡筒の構成］
図１は、レンズ鏡筒１００の外観斜視図である。レンズ鏡筒１００は、本体枠２１０と、フランジ３１０と、フレキシブルプリント基板３２０と、ズームモータユニット３３０とを、有する。本体枠２１０は、内部に複数のレンズを持つ光学系を、有している。ここでは、光学系は光軸ＡＸを有している。フランジ３１０は、本体枠２１０を保持する。フランジ３１０は、撮像素子を有している。撮像素子は、光学系の結像面において、フランジ３１０の内部に配置されている。ズームモータユニット３３０は、フレキシブルプリント基板３２０を介して、フランジ３１０の撮像素子に連結されている。レンズ鏡筒１００は、光学系により結像された画像を、フランジ３１０の撮像素子で電気信号化し、外部の機器に送信する。

図２は、レンズ鏡筒１００の分解斜視図である。本体枠２１０の内部には、２群枠２２０と、フォーカス枠２３０と、ＯＩＳユニット２４０（駆動装置の一例）と、フォーカスレンズ枠２５０と、カム枠２６０と、が配置されている。本体枠２１０は、第１レンズ群を保持している。第１レンズ群は、最も被写体側に配置されるレンズ群である。２群枠２２０は、第２レンズ群を、保持している。

フォーカス枠２３０は、２群枠２２０と、ＯＩＳユニット２４０とを、保持している。ＯＩＳユニット２４０は、手ぶれ補正レンズ２４３（図３を参照）とレンズ駆動機構を持っている。フォーカスレンズ枠２５０は、フォーカス調整用のレンズを保持している。フォーカスレンズ枠２５０は、ラックアンドピニオン機構を介して、フォーカスモータ３４０と連結されている。カム枠２６０は、外周面及び内周面に、カム溝を、有している。ズームモータユニット３３０は、ズーム駆動用のモータと、回転力をカム枠２６０に伝えるギヤとを、内部に有している。フランジ３１０は、光軸ＡＸに垂直な面上に撮像素子を、有している。

レンズ鏡筒１００は、光軸ＡＸに沿って、本体枠２１０の第１レンズ群、及び２群枠２２０の第２レンズ群を通過した入射光を、フォーカスレンズ枠２５０のフォーカスレンズによって焦点位置を調整する。これにより、被写体が、フランジ３１０の撮像素子上に結像される。また、レンズ鏡筒１００は、ＯＩＳユニット２４０内の手ぶれ補正レンズ２４３を駆動することによって、手ぶれを補正する。

［２．ＯＩＳユニットの構成］
図３は、撮像素子側から見たＯＩＳユニット２４０の斜視図である。ＯＩＳユニット２４０は、可動枠２４２（第２部材の一例）と、固定枠２４１（第１部材の一例）と、位置規制ピンＡ１と、回転軸ピンＡ２（回動軸の一例）と、位置検出装置２４８（図４を参照）とを、有する。固定枠２４１は、ＯＩＳユニット２４０の外殻部品である。

［２−１．可動枠の構成］
図３に示すように、可動枠２４２は、光軸ＡＸと垂直面内で移動可能なように、固定枠２４１に保持されている。つまり、可動枠２４２は、固定枠２４１に対してＸ−Ｙ面内で移動可能である。具体的には、可動枠２４２は、固定枠２４１に対して、Ｘ−Ｙ面内において、並進可能且つ揺動可能である。

可動枠２４２は、固定枠２４１に設けられた間隔保持ピンＡ３と、係合している。具体的には、可動枠２４２には、間隔保持ピンＡ３に係合する係合部Ｂ３が、形成されている。この係合部Ｂ３に間隔保持ピンＡ３が係合することによって、可動枠２４２は、固定枠２４１に対して、所定の間隔を隔てて保持されている。また、可動枠２４２は、固定枠２４１に圧入された位置規制ピンＡ１と係合している。この位置規制ピンＡ１によって、可動枠２４２は、固定枠２４１に対する最大移動量が規制されている。さらに、可動枠２４２は、固定枠２４１に圧入された回転軸ピンＡ２と係合している。この回転軸ピンＡ２によって、可動枠２４２は、固定枠２４１に対して、並進可能且つ揺動可能である。

詳細には、可動枠２４２は、手ぶれ補正レンズ２４３を支持している。位置規制ピンＡ１は、貫通孔Ｂ１を通過し、固定枠２４１の位置規制ピン穴（図示しない）に、固定される。位置規制ピンＡ１は、貫通孔Ｂ１の内部において移動可能である。貫通孔Ｂ１は、可動枠２４２の移動範囲を規制するためのものである。具体的には、貫通孔Ｂ１の内周部と位置規制ピンＡ１との間には、隙間が形成されている。この隙間によって、位置規制ピンＡ１の移動が、許可される。回転軸ピンＡ２は、可動枠２４２の回転軸である。回転軸ピンＡ２は、スリット部Ｂ２に係合し、固定枠２４１の回転軸ピン穴（図示しない）に、固定される。スリット部Ｂ２は、Ｙ方向へ延びるスリットである。

図４は、ＯＩＳユニット２４０を、被写体側から見た模式図である。なお、図４には、可動枠２４２、及び可動枠２４２に配置される部材が、破線にて示されている。以下では、図４を用いて、可動枠２４２の構成を、さらに説明する。
可動枠２４２は、並進駆動用マグネット２４４と、回転駆動用マグネット２４５とを、有している。並進駆動用マグネット２４４と、回転駆動用マグネット２４５とは、手ぶれ補正レンズ２４３を取り囲むように配置されている。

並進駆動用マグネット２４４は、可動枠２４２に固定されている。並進駆動用マグネット２４４は、Ｎ極及びＳ極の２つの磁極を、有している。Ｎ極及びＳ極の２つの磁極は、Ｙ軸方向に沿って並べて配置されている。すなわち、並進駆動用マグネット２４４は、２極着磁された磁石である。並進駆動用マグネット２４４は、Ｘ方向に延びる分極線を、有している。並進駆動用マグネット２４４の分極線が、スリット部Ｂ２と手ぶれ補正レンズ２４３の中心（又は光軸ＡＸ）とを結んだ直線と実質的に垂直になるように、並進駆動用マグネット２４４は配置される。分極線とは、極性が変化する境界線（磁気中立線）を、意味している。

回転駆動用マグネット２４５は、可動枠２４２に固定されている。回転駆動用マグネット２４５は、Ｎ極及びＳ極の２つの磁極を有する。Ｎ極及びＳ極の２つの磁極は、Ｘ方向に沿って並べて配置されている。すなわち、回転駆動用マグネット２４５は、２極着磁された磁石である。回転駆動用マグネット２４５は、Ｙ方向に延びる分極線を、有している。回転駆動用マグネット２４５の分極線が、スリット部Ｂ２と手ぶれ補正レンズ２４３の中心（又は光軸ＡＸ）とを結んだ直線と実質的に平行になるように、回転駆動用マグネット２４５は配置される。

［２−２．固定枠の構成］
図２に示すように、固定枠２４１は、レンズ鏡筒１００内に配置される。図３に示すように、固定枠２４１は、可動枠２４２を光軸ＡＸに垂直な面内で移動可能に保持している。具体的には、固定枠２４１には、複数の棒状の部材、例えば金属部材が、固定されている。可動枠２４２は、これら棒状の部材と係合している。複数の棒状の部材は、上述した、間隔保持ピンＡ３と、位置規制ピンＡ１と、回転軸ピンＡ２とを、含んでいる。間隔保持ピンＡ３は、可動枠２４２と実質的に平行になるように、固定枠２４１に固定されている。位置規制ピンＡ１及び回転軸ピンＡ２は、光軸ＡＸに沿うように、固定枠２４１に固定されている。

図４の実線で示すように、固定枠２４１は、並進駆動用コイル２４６（コイルの一例）と、回転駆動用コイル２４７とを、有している。並進駆動用コイル２４６は、固定枠２４１に固定されている。並進駆動用コイル２４６は、Ｘ軸方向に長く、Ｘ軸方向のストレート部の長さは、長さＬ１である。並進駆動用コイル２４６は、光軸ＡＸと回転軸ピンＡ２との間に配置されている。回転駆動用コイル２４７は、固定枠２４１に固定されている。回転駆動用コイル２４７は、Ｙ軸方向に長く、Ｙ軸方向のストレート部の長さは、長さＬ２である。回転駆動用コイル２４７の長軸が、並進駆動用コイル２４６の長軸となす角度が、実質的に直角になるように、回転駆動用コイル２４７は、固定枠２４１に固定されている。並進駆動用コイル２４６及び回転駆動用コイル２４７は、レンズ用ホールＤ１（図２を参照）を取り囲むように、固定枠２４１に固定されている。

また、並進駆動用コイル２４６のＸ軸方向のストレート部の長さＬ１は、並進駆動用マグネット２４４のＸ軸方向における長さと実質的に同じ長さに、構成されている。また、回転駆動用コイル２４７のＹ軸方向のストレート部の長さＬ２は、回転駆動用マグネット２４５のＹ軸方向における長さと実質的に同じ長さに、構成されている。
［２−３．可動枠と固定枠との関係］
図３及び図４を用いて、固定枠２４１と可動枠２４２との関係を、説明する。

可動枠２４２は、固定枠２４１に対して、並進可能且つ回転可能である。詳細には、スリット部Ｂ２が、回転軸ピンＡ２に対して、並進可能且つ回転可能に、摺動支持されている。
可動枠２４２と固定枠２４１とは、並進用アクチュエータ１３０と回転用アクチュエータ１４０とによって、相対的に移動させられる。具体的には、並進用アクチュエータ１３０は、並進駆動用コイル２４６と並進駆動用マグネット２４４とによって、構成される。並進用アクチュエータ１３０は、回転軸ピンＡ２と手ぶれ補正レンズ２４３との間に、配置されている。また、回転用アクチュエータ１４０が、回転駆動用コイル２４７及び回転駆動用マグネット２４５によって、構成される。回転用アクチュエータ１４０は、手ぶれ補正レンズ２４３のレンズ中心を基準として、Ｘ方向の一方側に配置されている。

並進駆動用コイル２４６及び回転駆動用コイル２４７は、固定枠２４１に装着されている。並進駆動用マグネット２４４及び回転駆動用マグネット２４５は、可動枠２４２に装着されている。
並進駆動用コイル２４６と並進駆動用マグネット２４４とは、互いに対向して配置されている。並進駆動用コイル２４６は、並進駆動用マグネット２４４に対して、所定の間隔を隔てて配置されている。

回転駆動用コイル２４７と回転駆動用マグネット２４５とは、互いに対向して配置されている。回転駆動用コイル２４７は、回転駆動用マグネット２４５に対して、所定の間隔を隔てて配置されている。
このように、各コイル（並進駆動用コイル２４６，回転駆動用コイル２４７）と、各マグネット（並進駆動用マグネット２４４，回転駆動用マグネット２４５）との間に、所定の間隔が形成されるように、可動枠２４２及び固定枠２４１は構成されている。

［２−４．位置検出装置の構成］
図５Ａ〜図５Ｃは、位置検出装置２４８の模式図である。図５Ａは光軸方向から見た正面図、図５Ｂは側面図、図５Ｃは下面図、である。なお、図５Ａ〜図５Ｃは、位置検出装置２４８が初期状態である場合の図である。ここでは、初期状態は、第１磁気検出素子１５２の検出中心と第２磁気検出素子１５３の検出中心とを結ぶ直線の中点と、位置検出用マグネット１５４（後述する）の移動範囲の中点が、互いに対向する状態を、示す。

位置検出装置２４８は、固定枠２４１に対する可動枠２４２の移動を、検出する。図５Ａ〜図５Ｃに示すように、位置検出装置２４８は、面内に２極着磁された位置検出用マグネット１５４（磁気発生部の一例）と、検出部１５０（保持部材１５１、第１磁気検出素子１５２、第２磁気検出素子１５３）とを、備える。
位置検出用マグネット１５４は、可動枠２４２に配置される。図５Ａ及び図５Ｂに示すように、位置検出用マグネット１５４は、検出部１５０と対向して配置される。詳細には、位置検出用マグネット１５４は、光軸方向において、保持部材１５１に対向している。より詳細には、位置検出用マグネット１５４は、第１磁気検出素子１５２と、第２磁気検出素子１５３とに対向している。

位置検出用マグネット１５４は、２極着磁された直方体磁石である。図５Ａに示すように、位置検出用マグネット１５４は、Ｘ−Ｙ面内において、Ｘ方向に、分極線を有している。図５Ｂ及び図５Ｃに示すように、位置検出用マグネット１５４の着磁方向（Ｚ方向）は、２つの磁気検出素子１５２、１５３の感磁方向と同一方向である。図５Ｃに示すように、位置検出用マグネット１５４は、Ｚ方向において互いに反する磁束を有している。

図５Ａに示すように、位置検出用マグネット１５４のＸ方向の長さＷ１は、例えば２．０ｍｍであり、Ｙ方向の長さＷ２は、例えば６．０ｍｍである。また、第１磁気検出素子１５２と第２磁気検出素子１５３との間の長さＷ４は、例えば０．８ｍｍである。また、図５Ｃに示すように、Ｚ方向の厚みＷ３は、例えば１．６ｍｍである。さらに、第１磁気検出素子１５２および第２磁気検出素子１５３と位置検出用マグネット１５４の表面とのＺ方向の距離Ｗ５は、例えば１．２５ｍｍである。

図５Ａ〜図５Ｃに示すように、検出部１５０は、単一部材として構成されている。詳細には、検出部１５０は、保持部材１５１と、第１磁気検出素子１５２と、第２磁気検出素子１５３とを、備えている。第１磁気検出素子１５２と、第２磁気検出素子１５３とは、保持部材１５１と一体に成型されている。
保持部材１５１は、固定枠２４１に配置される。保持部材１５１は、第１磁気検出素子１５２と第２磁気検出素子１５３とを、内部に保持している。第１磁気検出素子１５２の感磁方向と、第２磁気検出素子１５３の感磁方向とは、位置検出用マグネット１５４に対して垂直である。具体的には、第１磁気検出素子１５２の感磁方向と、第２磁気検出素子１５３の感磁方向とは、Ｚ方向である。

図４及び図５Ａ〜図５Ｃに示すように、第１磁気検出素子１５２と、第２磁気検出素子１５３とを結んだ直線と、並進駆動用コイル２４６のストレート部とが平行になるように、第１磁気検出素子１５２と第２磁気検出素子１５３とは、保持部材１５１に配置されている。また、第１磁気検出素子１５２と、第２磁気検出素子１５３とを結んだ直線と、回転軸ピンＡ２と手ぶれ補正レンズ２４３（又はレンズ用ホールＤ１）の中心とを結んだ直線とが、垂直になるように、第１磁気検出素子１５２と第２磁気検出素子１５３とは、保持部材１５１に配置されている。

また、図５Ａ〜図５Ｃに示すように、第１磁気検出素子１５２と第２磁気検出素子１５３とは、位置検出用マグネット１５４の分極線ＬＰと平行になるように、位置検出用マグネット１５４に対向して配置される。つまり、第１磁気検出素子１５２の検出中心と第２磁気検出素子１５３の検出中心とを結ぶ直線と、位置検出用マグネット１５４の分極線ＬＰとが、平行である。また、第１磁気検出素子１５２の検出中心と第２磁気検出素子１５３の検出中心とを結ぶ直線の中点と、位置検出用マグネット１５４の分極線ＬＰの中点とは、互いに対向する。

［３．ＯＩＳユニットの動作］
ＯＩＳユニット２４０では、手ぶれ補正レンズ２４３が、並進用アクチュエータ１３０と回転用アクチュエータ１４０とによって、駆動される。これにより、撮像素子に結像された像のぶれが、補正される。
具体的には、並進駆動用コイル２４６に電流が流れると、並進駆動用マグネット２４４と並進駆動用コイル２４６のストレート部の間で、磁気によるＹ方向推力が発生する。それにより、可動枠２４２は、Ｙ方向へ並進運動する。すなわち、Ｙ方向の像のぶれが、補正される。

回転駆動用コイル２４７に電流が流れると、回転駆動用マグネット２４５と回転駆動用コイル２４７のストレート部の間で、磁気によるＸ方向推力が発生する。詳細には、Ｘ方向推力は、回転軸ピンＡ２を基準とした揺動推力である。これにより、可動枠２４２は、スリット部Ｂ２と回転軸ピンＡ２によって、Ｘ方向の並進運動が規制されているので、回転軸ピンＡ２を中心とした揺動運動する。すなわち、Ｘ方向の像のぶれが、補正される。

［４．位置検出装置の動作］
上記のように、ＯＩＳユニット２４０において像のぶれを補正するためには、可動枠２４２の移動量を、算出する必要がある。この移動量は、位置検出装置２４８において演算される。詳細には、位置検出装置２４８からの出力に基づいて、移動量の演算、すなわち以下に示す処理が、実行される。

ここでは、第１磁気検出素子１５２の第１出力値をＶ１（第１信号の一例）とし、第２磁気検出素子１５３の第２出力値をＶ２（第２信号の一例）とする。分極線ＬＰに対して垂直な方向（Ｙ方向）の位置検出には、例えば、Ｖ１、Ｖ２、又は（ａＶ１＋ｂＶ２）/ｎの関係式が、用いられる。分極線ＬＰに沿う方向（Ｘ方向）の位置検出には、（｜Ｖ１｜―｜Ｖ２｜）、又は（｜Ｖ１｜−｜Ｖ２｜）/（｜Ｖ１｜＋｜Ｖ２｜）の関係式が、用いられる。なお、ａおよびｂは、０または正の実数である。ｎは、正の実数である。

ここでは、図６及び図７に示す磁束密度に基づいて、上記の演算を、具体的に説明する。可動枠２４２がＹ方向に並進運動する場合、図６に示すように、第１磁気検出素子１５２によって検出される磁束密度と、第２磁気検出素子１５３とよって検出される磁束密度とは、実質的に同じである。また、第１磁気検出素子１５２で検出された磁束密度と、第２磁気検出素子１５３で検出された磁束密度との平均値を、計算することによって、第１磁束評価値の分布（第１磁束評価曲線）が、求められる。この場合、第１磁気検出素子１５２によって検出される磁束密度と、第２磁気検出素子１５３とよって検出される磁束密度とは、実質的に同じであるので、第１磁束評価曲線は、図６と実質的に相似になる。この第１磁束評価曲線に基づいて、可動枠２４２のＹ方向の移動量が、決定される。なお、この場合、上述したように、２つの磁束密度のいずれか一方だけを用いて、可動枠２４２の移動量を、決定するようにしてもよい。

詳細には、可動枠２４２のＹ方向の移動量は、次のように算出される。図６に示すように、第１磁束評価曲線が、直線によって近似される。ここでは、原点を基準とした所定の範囲内において、第１磁束評価曲線が、直線近似される。この近似直線と、Ｙ方向（分極線ＬＰに対して垂直な方向）の位置とを対応させることによって、Ｙ方向の位置検出が実行される。なお、所定の範囲は、近似直線と磁束密度曲線との誤差Ｄｘ１が所定値以下になるように、設定されている。例えば、図６に示すように、あるＹ軸の値に対する第１磁束評価曲線のＸ軸の値と、このＹ軸の値に対する近似直線のＸ軸の値との差（＝Ｄｘ１）が、所定の誤差以下になるように、所定の範囲が設定される。所定の誤差は、例えば、０％以上１０％以下に設定される。

一方で、可動枠２４２がＸ方向に揺動運動する場合、図７に示すように、第１磁気検出素子１５２によって検出される磁束密度と、第２磁気検出素子１５３とよって検出される磁束密度とには、位相差が生じる。この場合、第１磁気検出素子１５２で検出された磁束密度と、第２磁気検出素子１５３で検出された磁束密度との差分を、計算することによって、図８に示すような第２磁束評価値の分布（第２磁束評価曲線）が、求められる。そして、この第２磁束評価曲線に基づいて、可動枠２４２のＸ方向の移動量が、決定される。なお、この場合、上述したように、２つの磁束密度の差分を無次元化して、可動枠２４２の移動量を、決定するようにしてもよい。

詳細には、可動枠２４２のＸ方向の移動量は、上述したＹ方向の移動量と同様に算出される。図８に示すように、第２磁束評価曲線が、直線によって近似される。ここでは、原点を基準とした所定の範囲内において、第２磁束評価曲線が、直線近似される。この近似直線と、Ｘ方向（分極線ＬＰに沿う方向）の位置とを対応させることによって、Ｙ方向の位置検出が実行される。なお、所定の範囲は、近似直線と磁束密度曲線との誤差Ｄｘ２が所定値以下になるように、設定されている。例えば、図８に示すように、あるＹ軸の値に対する第２磁束評価曲線のＸ軸の値と、このＹ軸の値に対する近似直線のＸ軸の値との差（＝Ｄｘ２）が、所定の誤差以下になるように、所定の範囲が設定される。所定の誤差は、例えば、０％以上１０％以下に設定される。

［５．まとめ］
従来の像ぶれ補正装置では、２つの位置検出装置が用いられていた。このため、２つの位置検出装置を配置するためのスペースを確保する必要があり、電磁アクチュエータの配置やサイズ等が、制約を受けていた。すなわち、電磁アクチュエータの設計の自由度が低くなるという問題があった。また、像ぶれ補正装置を小型化しようとすると、電磁アクチュエータの設計の自由度が、さらに低くなるという問題があった。ここに開示された技術では、この問題を解決することができる。

（１）本位置検出装置２４８は、位置検出用マグネット１５４（磁気発生部の一例）と、検出部１５０とを、備えている。位置検出用マグネット１５４は、面内に２極着磁された磁石である。検出部１５０は、第１磁気検出素子１５２と、第２磁気検出素子１５３と、保持部材１５１とを、有している。第２磁気検出素子１５３は、第１磁気検出素子１５２と並んで配置されている。保持部材１５１は、第１磁気検出素子１５２及び第２磁気検出素子１５３を、保持している。保持部材１５１は、位置検出用マグネット１５４の面に対して相対的に平行移動可能である。

本位置検出装置２４８では、次の条件を満足している。第１磁気検出素子１５２と第２磁気検出素子１５３とを通過する第１方向と、位置検出用マグネット１５４の分極線ＬＰが延びる方向とがなす角度は、９０度以外である。第１磁気検出素子１５２と第２磁気検出素子１５３とを結ぶ線分と、位置検出用マグネット１５４の分極線ＬＰとは、食い違い又は平行である。なお、食い違いとは、２つの線分（直線）が互いに離れた状態で交わった状態を示す文言である。例えば、位置検出用マグネット１５４の面を、位置検出用マグネット１５４の面に垂直な方向から見た場合、第１磁気検出素子１５２と第２磁気検出素子１５３とを結ぶ線分と、位置検出用マグネット１５４の分極線ＬＰとは、交差又は一致する。

この構成により、検出部１５０が、位置検出用マグネット１５４に対して相対的に移動した場合に、第１磁気検出素子１５２及び第２磁気検出素子１５３によって、２方向の位置検出を実行することができる。すなわち、２方向の位置検出を、１つの位置検出装置２４８によって、実行できる。また、この構成により、位置検出装置２４８を２つ設ける必要がないので、位置検出装置２４８が装着される構造体を、小型化することができる。

（２）本位置検出装置２４８では、第１磁気検出素子１５２から出力される第１出力値Ｖ１、及び第２磁気検出素子１５３から出力される第２出力値Ｖ２に基づいて、第１方向に対する検出部１５０の位置検出が、実行される。また、第１出力値Ｖ１及び第２出力値Ｖ２に基づいて、第１方向に直交する第２方向に対する検出部１５０の位置検出が、実行される。

この構成により、検出部１５０が、位置検出用マグネット１５４に対して相対的に移動した場合に、第１磁気検出素子１５２及び第２磁気検出素子１５３によって、２方向の位置検出を確実に実行することができる。すなわち、２方向の位置検出を、１つの位置検出装置２４８によって、確実に実行できる。
（３）本位置検出装置２４８では、第１方向と分極線ＬＰとがなす角度θが、９０度以外である。この角度θは、第１方向を基準として、−６０度以上＋６０度以下である。例えば、図５Ａでは、角度θはゼロである。図９Ａは、角度θが０度以上６０度以下の範囲に設定される場合の例である。

この構成により、位置検出用マグネット１５４に対する検出部１５０の位置を、精度良く検出することができる。すなわち、検出部１５０の２方向の位置を、１つの位置検出装置２４８によって、精度良く検出することができる。
（４）本位置検出装置２４８では、第１磁気検出素子１５２と第２磁気検出素子１５３とを通過する直線が、位置検出用マグネット１５４の分極線ＬＰと平行である。

この構成では、第１磁気検出素子１５２と第２磁気検出素子１５３とが、Ｙ方向（分極線ＬＰに直交する方向）に並進運動する場合、第１磁気検出素子１５２によって検出される磁束密度と、第２磁気検出素子１５３とよって検出される磁束密度とが、実質的に同じなる。これにより、上述した第１磁束評価値の分布（第１磁束評価曲線）を、正確且つ容易に予測することができる。すなわち、位置検出用マグネット１５４に対する検出部１５０の位置を、精度良く検出することができる。

（５）本位置検出装置２４８では、検出部１５０が、回転軸ピンＡ２まわりの回動、及び回転軸ピンＡ２を基準とした直動の少なくともいずれか一方によって、位置検出用マグネット１５４に対して、相対的に移動する。
この構成では、１つの回転軸ピンＡ２が、回動及び直動の２つの基準点となっているので、位置検出用マグネット１５４に対する検出部１５０の位置を、高精度に検出することができる。

（６）本ＯＩＳユニット２４０では、上記の検出部１５０を有する位置検出装置２４８と、固定枠２４１（固定部材の一例）と、可動枠２４２（可動部材の一例）とを、備えている。固定枠２４１には、検出部１５０が設けられる。可動枠２４２には、位置検出用マグネット１５４が設けられる。
この構成では、ＯＩＳユニット２４０が、上記の位置検出装置２４８を備えているので、可動枠２４２が、固定枠２４１に対して、相対的に移動した場合に、検出部１５０によって、２方向の位置検出を実行することができる。すなわち、２方向の位置検出を、１つの位置検出装置２４８によって、実行できる。また、この構成により、位置検出装置２４８を２つ設ける必要がないので、ＯＩＳユニット２４０を小型化することができる。

（７）本ＯＩＳユニット２４０では、回転軸ピンＡ２まわりの可動枠２４２の回動、及び回転軸ピンＡ２を基準とした可動枠２４２の直動の少なくともいずれか一方によって、可動枠２４２は、固定枠２４１に対して相対的に移動する。
この構成では、１つの回転軸ピンＡ２が、回動及び直動の２つの基準点となっているので、位置検出用マグネット１５４に対する検出部１５０の位置を、高精度に検出することができる。

（８）本レンズ鏡筒１００は、上記の位置検出装置２４８を、備えている。この構成により、レンズ鏡筒１００に設けられた１つの位置検出装置２４８によって、２方向の位置検出を、実行できる。また、この構成により、レンズ鏡筒１００には、位置検出装置２４８を２つ設ける必要がないので、レンズ鏡筒１００を小型化することができる。
（９）本レンズ鏡筒１００は、上記のＯＩＳユニット２４０を、備えている。この構成により、ＯＩＳユニット２４０に設けられた１つの位置検出装置２４８によって、２方向の位置検出を、実行できる。また、この構成により、レンズ鏡筒１００には、位置検出装置２４８を２つ設ける必要がないので、レンズ鏡筒１００を小型化することができる。

（他の実施の形態）
以上のように、本開示における技術の例示として、実施の形態を説明した。そのために、添付図面および詳細な説明を提供した。
したがって、添付図面および詳細な説明に記載された構成要素の中には、課題解決のために必須な構成要素だけでなく、上記技術を例示するために、課題解決のためには必須でない構成要素も含まれ得る。このため、それらの必須ではない構成要素が添付図面や詳細な説明等に記載されていることをもって、直ちに、それらの必須ではない構成要素が必須であるとの認定をするべきではない。

また、上述の実施の形態は、本開示における技術を例示するためのものであるから、特許請求の範囲またはその均等の範囲において種々の変更、置き換え、付加、省略などを行うことができる。すなわち、本技術は、上記の実施の形態に限定されず、適宜修正可能である。以下に、本技術の他の実施の形態を、まとめて説明する。
（Ａ）前記実施の形態では、可動枠２４２が、固定枠２４１に対して、並進及び揺動する場合の例を示した。これに代えて、可動枠２４２が、固定枠２４１に対して、２方向に並進するように構成してもよい。また、可動枠２４２が、固定枠２４１に対して、回転体で支持されるように構成してもよい。このように構成しても、上記と同様の効果を得ることができる。

（Ｂ）前記実施の形態では、第１磁気検出素子１５２と第２磁気検出素子１５３とを結ぶ直線Ｌ１が、位置検出用マグネット１５４の分極線ＬＰに平行になるように、検出部１５０が構成される場合の例を、示した。この構成では、可動枠２４２の支持形態によっては、第１磁気検出素子１５２及び第２磁気検出素子１５３が、分極線ＬＰ上を移動することがある。この場合、理論的には、第１磁気検出素子１５２の出力及び第２磁気検出素子１５３の出力が、発生しない。このため、この場合には、可動枠２４２の位置を検出できないおそれがある。

この問題を解決するために、図９に示すように、第１磁気検出素子２５２と第２磁気検出素子２５３とを結ぶ線分Ｌ１が、位置検出用マグネット１５４の分極線ＬＰと食い違うように、検出部１５０を構成してもよい。
この場合、前記実施の形態に示した、可動枠２４２のＸ方向の移動量及びＹ方向の移動量の計算と同じ計算によって、可動枠２４２のＸ方向の移動量及びＹ方向の移動量が、計算される。このように可動枠２４２の移動量を算出することによって、上記の問題を解決することができる。また、このように構成しても、上記と同様の効果を得ることができる。

（Ｃ）前記実施の形態では、検出部１５０が、２つの磁気検出素子１５２、１５３を有する場合の例を、示した。前記実施の形態のように、第１磁気検出素子１５２及び第２磁気検出素子１５３が配置された場合、可動枠２４２の支持形態によっては、第１磁気検出素子１５２及び第２磁気検出素子１５３が、分極線ＬＰ上を移動することがある。この場合、理論的には、第１磁気検出素子１５２の出力及び第２磁気検出素子１５３の出力が、発生しない。このため、この場合には、可動枠２４２のＸ方向の位置を検出できないおそれがある。

この問題を解決するために、図１０に示すように、検出部３５０が、３つの磁気検出素子（第１磁気検出素子３５２、第２磁気検出素子３５３、第３磁気検出素子３５５）を、有するようにしてもよい。この場合、例えば、第３磁気検出素子３５５は、第１磁気検出素子３５２と第２磁気検出素子３５３とを通過する直線から、所定の間隔を隔てて、配置される。

この場合、可動枠２４２のＸ方向の移動量は、次のように計算される。まず、第１磁気検出素子３５２の磁束密度、及び第２磁気検出素子３５３の磁束密度に基づいて、上記のように、第１磁束密度差が計算される。また、第２磁気検出素子３５３の磁束密度、及び第３磁気検出素子３５５の磁束密度に基づいて、上記のように、第２磁束密度差が計算される。また、第３磁気検出素子３５５の磁束密度、及び第１磁気検出素子３５２の磁束密度に基づいて、上記のように、第３磁束密度差が計算される。

次に、上記のように、第１磁束密度差を用いて位置検出し、第２磁束密度差を用いて位置検出し、第３磁束密度差を用いて位置検出する。そして、３つの位置検出結果を平均することによって、最終的な磁束密度差（上記の第２磁束評価曲線）が決定される。この最終的な磁束密度差に基づいて、上記と同様に、可動枠２４２のＸ方向の移動量が算出される。

このように可動枠２４２のＸ方向の移動量を算出することによって、上記の問題を解決することができる。また、このように構成しても、上記と同様の効果を得ることができる。
なお、この場合、可動枠２４２のＹ方向の移動量は、次のように計算される。まず、第１磁気検出素子３５２の磁束密度と、第２磁気検出素子３５３の磁束密度と、第３磁気検出素子３５５の磁束密度との平均を計算することによって、上記の第１磁束評価曲線が求められる。すると、この第１磁束評価曲線に基づいて、上記と同様に、可動枠２４２のＹ方向の移動量が算出される。なお、この場合、上述したように、３つの磁束密度のいずれか１つだけを用いて、可動枠２４２のＹ方向の移動量を、決定するようにしてもよい。

（Ｄ）前記実施の形態では、検出部１５０と並進駆動用コイル２４６との間に手ぶれ補正レンズ２４３が位置するように、可動枠２４２が構成される場合の例を、示した。これに代えて、図１１に示すように、検出部１５０が並進駆動用コイル２４６に囲まれるように、保持部材１５１を固定枠２４１に配置してもよい。すなわち、検出部１５０を、並進駆動用コイル２４６のループ内に、配置してもよい。この場合、検出部１５０が、並進駆動用コイル２４６の内部、すなわち回転軸ピンＡ２の近傍に、配置される。このように構成することによって、検出部１５０を配置するスペースを、特別に用意する必要がなくなるので、ＯＩＳユニット２４０を小型化することができる。また、位置検出用マグネット１５４を、並進駆動用マグネット２４４によって代用することができるので、ＯＩＳユニット２４０をさらに小型化することができる。また、このように構成しても、上記と同様の効果を得ることができる。

なお、この場合、手ぶれ補正レンズ２４３が、並進駆動用コイル２４６と回転駆動用コイル２４７との間に、配置されように、並進駆動用コイル２４６及び回転駆動用コイル２４７を構成してもよい。
（Ｅ）前記実施の形態では、位置検出用マグネット１５４が可動枠２４２に装着され、検出部１５０が固定枠２４１に装着される場合の例を、示した。これに代えて、位置検出用マグネット１５４を固定枠２４１に装着し、検出部１５０を可動枠２４２に装着するようにしてもよい。このように構成しても、上記と同様の効果を得ることができる。

（Ｆ）前記実施の形態では、マグネット２４４、２４５が可動枠２４２に装着され、コイル２４６、２４７が固定枠２４１に装着される場合の例を、示した。これに代えて、マグネット２４４、２４５を固定枠２４１に装着し、コイル２４６、２４７を可動枠２４２に装着するようにしてもよい。このように構成しても、上記と同様の効果を得ることができる。

ここに開示された技術は、位置検出装置、駆動装置、及びレンズ鏡筒を含む電子機器に広く適用可能である。

１００ レンズ鏡筒
２４０ ＯＩＳユニット（駆動装置の一例）
２４８ 位置検出装置
２４１ 固定部材
２４２ 可動部材
１５０ 検出部
１５１ 保持部材
１５２，２５２，３５２ 第１磁気検出素子
１５３，２５３，３５３ 第２磁気検出素子
１５４ 位置検出用マグネット（磁気発生部の一例）
３５５ 第３磁気検出素子
２４６ 並進駆動用コイル（コイルの一例）
２４７ 回転駆動用コイル
２４４ 並進駆動用マグネット
２４５ 回転駆動用マグネット
Ａ２ 回転軸ピン（回動軸の一例）
Ｈ１ 第１方向
Ｈ２ 第２方向
ＬＰ 分極線
Ｖ１ 第１出力値（第１信号の一例）
Ｖ２ 第２出力値（第２信号の一例）

ここに開示された技術は、位置検出装置に関する。また、この技術は、駆動装置に関する。さらに、この技術は、位置検出装置を備えたレンズ鏡筒、及び駆動装置を備えたレンズ鏡筒に関する。

近年、様々なところで位置検出装置が用いられている。例えば、デジタルスチルカメラやデジタルビデオムービーに用いられる像ぶれ補正装置は、瞬時にレンズの位置を高精度に検出するために、位置検出装置を有している。
従来の像ぶれ補正装置は、回動軸と、ピッチング方向の電磁アクチュエータと、ヨーイング方向の電磁アクチュエータと、磁気センサを用いた２つの１方向位置検出装置を、備えている。この像ぶれ補正装置では、２つの位置検出装置によって、像ぶれ補正レンズの位置を検出している（特許文献１参照）。

特開２００７−２４１２５４号公報

ここに開示された技術では、１つのパッケージで２方向の位置検出を同時に実行可能な位置検出装置が、提供される。

ここに開示された位置検出装置は、検出部と、磁気発生部とを、備える。検出部は、第１磁気検出素子と、第２磁気検出素子とを、同一面内に有する。磁気発生部は、検出部と対向する位置に配置される。磁気発生部は、第１磁気検出素子と第２磁気検出素子とが配置された面に対向する面に、２極着磁を行う。磁気発生部は、検出部に対して互いに反する磁束を有する。

本位置検出装置では、１つのパッケージで２方向の位置検出を同時に実行可能である。

実施の形態１にかかるレンズ鏡筒の斜視図である。 実施の形態１にかかるレンズ鏡筒の分解模式図である。 実施の形態１にかかるレンズ駆動ユニットの斜視図である。 実施の形態１にかかる位置検出装置の模式図 実施の形態１にかかる位置検出装置の正面図 実施の形態１にかかる位置検出装置の側面図 実施の形態１にかかる位置検出装置の下面図 実施の形態１にかかる位置検出装置のＹ方向の位置とＺ方向の磁束密度との関係を示す図 実施の形態１にかかるＮ極側での２つの位置検出装置のＸ方向の位置とＺ方向の磁束密度との関係を示す図 実施の形態１にかかるＮ極側での２つの位置検出装置のＸ方向の位置とＺ方向の磁束密度差との関係を示す図 他の実施の形態１にかかる位置検出装置の正面図 他の実施の形態１にかかる位置検出装置の側面図 他の実施の形態１にかかる位置検出装置の下面図 他の実施の形態２にかかる位置検出装置の正面図 他の実施の形態２にかかる位置検出装置の側面図 他の実施の形態２にかかる位置検出装置の下面図 他の実施の形態にかかる位置検出装置の模式図

以下に示す実施の形態において、例えば、デジタルスチルカメラに用いられるレンズ鏡筒１００について、説明する。本明細書では、説明の便宜上、横撮り姿勢におけるデジタルスチルカメラの前後方向をＺ方向、左右方向をＹ方向、上下方向をＸ方向とする。また、被写体側を「前」側、カメラ本体側を「後」側とする。また、特段の説明がない限り、「半径方向」とは、光軸ＡＸを中心とする半径方向を意味し、「周方向」とは、光軸ＡＸを中心とする周方向を意味する。また、「光軸方向」とは、光軸ＡＸに沿った方向を意味する。

（実施の形態１）
［１．レンズ鏡筒の構成］
図１は、レンズ鏡筒１００の外観斜視図である。レンズ鏡筒１００は、本体枠２１０と、フランジ３１０と、フレキシブルプリント基板３２０と、ズームモータユニット３３０とを、有する。本体枠２１０は、内部に複数のレンズを持つ光学系を、有している。ここでは、光学系は光軸ＡＸを有している。フランジ３１０は、本体枠２１０を保持する。フランジ３１０は、撮像素子を有している。撮像素子は、光学系の結像面において、フランジ３１０の内部に配置されている。ズームモータユニット３３０は、フレキシブルプリント基板３２０を介して、フランジ３１０の撮像素子に連結されている。レンズ鏡筒１００は、光学系により結像された画像を、フランジ３１０の撮像素子で電気信号化し、外部の機器に送信する。

図２は、レンズ鏡筒１００の分解斜視図である。本体枠２１０の内部には、２群枠２２０と、フォーカス枠２３０と、ＯＩＳユニット２４０（駆動装置の一例）と、フォーカスレンズ枠２５０と、カム枠２６０と、が配置されている。本体枠２１０は、第１レンズ群を保持している。第１レンズ群は、最も被写体側に配置されるレンズ群である。２群枠２２０は、第２レンズ群を、保持している。

フォーカス枠２３０は、２群枠２２０と、ＯＩＳユニット２４０とを、保持している。ＯＩＳユニット２４０は、手ぶれ補正レンズ２４３（図３を参照）とレンズ駆動機構を持っている。フォーカスレンズ枠２５０は、フォーカス調整用のレンズを保持している。フォーカスレンズ枠２５０は、ラックアンドピニオン機構を介して、フォーカスモータ３４０と連結されている。カム枠２６０は、外周面及び内周面に、カム溝を、有している。ズームモータユニット３３０は、ズーム駆動用のモータと、回転力をカム枠２６０に伝えるギヤとを、内部に有している。フランジ３１０は、光軸ＡＸに垂直な面上に撮像素子を、有している。

レンズ鏡筒１００は、光軸ＡＸに沿って、本体枠２１０の第１レンズ群、及び２群枠２２０の第２レンズ群を通過した入射光を、フォーカスレンズ枠２５０のフォーカスレンズによって焦点位置を調整する。これにより、被写体が、フランジ３１０の撮像素子上に結像される。また、レンズ鏡筒１００は、ＯＩＳユニット２４０内の手ぶれ補正レンズ２４３を駆動することによって、手ぶれを補正する。

［２．ＯＩＳユニットの構成］
図３は、撮像素子側から見たＯＩＳユニット２４０の斜視図である。ＯＩＳユニット２４０は、可動枠２４２（第２部材の一例）と、固定枠２４１（第１部材の一例）と、位置規制ピンＡ１と、回転軸ピンＡ２（回動軸の一例）と、位置検出装置２４８（図４を参照）とを、有する。固定枠２４１は、ＯＩＳユニット２４０の外殻部品である。

［２−１．可動枠の構成］
図３に示すように、可動枠２４２は、光軸ＡＸと垂直面内で移動可能なように、固定枠２４１に保持されている。つまり、可動枠２４２は、固定枠２４１に対してＸ−Ｙ面内で移動可能である。具体的には、可動枠２４２は、固定枠２４１に対して、Ｘ−Ｙ面内において、並進可能且つ揺動可能である。

可動枠２４２は、固定枠２４１に設けられた間隔保持ピンＡ３と、係合している。具体的には、可動枠２４２には、間隔保持ピンＡ３に係合する係合部Ｂ３が、形成されている。この係合部Ｂ３に間隔保持ピンＡ３が係合することによって、可動枠２４２は、固定枠２４１に対して、所定の間隔を隔てて保持されている。また、可動枠２４２は、固定枠２４１に圧入された位置規制ピンＡ１と係合している。この位置規制ピンＡ１によって、可動枠２４２は、固定枠２４１に対する最大移動量が規制されている。さらに、可動枠２４２は、固定枠２４１に圧入された回転軸ピンＡ２と係合している。この回転軸ピンＡ２によって、可動枠２４２は、固定枠２４１に対して、並進可能且つ揺動可能である。

詳細には、可動枠２４２は、手ぶれ補正レンズ２４３を支持している。位置規制ピンＡ１は、貫通孔Ｂ１を通過し、固定枠２４１の位置規制ピン穴（図示しない）に、固定される。位置規制ピンＡ１は、貫通孔Ｂ１の内部において移動可能である。貫通孔Ｂ１は、可動枠２４２の移動範囲を規制するためのものである。具体的には、貫通孔Ｂ１の内周部と位置規制ピンＡ１との間には、隙間が形成されている。この隙間によって、位置規制ピンＡ１の移動が、許可される。回転軸ピンＡ２は、可動枠２４２の回転軸である。回転軸ピンＡ２は、スリット部Ｂ２に係合し、固定枠２４１の回転軸ピン穴（図示しない）に、固定される。スリット部Ｂ２は、Ｙ方向へ延びるスリットである。

図４は、ＯＩＳユニット２４０を、被写体側から見た模式図である。なお、図４には、可動枠２４２、及び可動枠２４２に配置される部材が、破線にて示されている。以下では、図４を用いて、可動枠２４２の構成を、さらに説明する。
可動枠２４２は、並進駆動用マグネット２４４と、回転駆動用マグネット２４５とを、有している。並進駆動用マグネット２４４と、回転駆動用マグネット２４５とは、手ぶれ補正レンズ２４３を取り囲むように配置されている。

並進駆動用マグネット２４４は、可動枠２４２に固定されている。並進駆動用マグネット２４４は、Ｎ極及びＳ極の２つの磁極を、有している。Ｎ極及びＳ極の２つの磁極は、Ｙ軸方向に沿って並べて配置されている。すなわち、並進駆動用マグネット２４４は、２極着磁された磁石である。並進駆動用マグネット２４４は、Ｘ方向に延びる分極線を、有している。並進駆動用マグネット２４４の分極線が、スリット部Ｂ２と手ぶれ補正レンズ２４３の中心（又は光軸ＡＸ）とを結んだ直線と実質的に垂直になるように、並進駆動用マグネット２４４は配置される。分極線とは、極性が変化する境界線（磁気中立線）を、意味している。

回転駆動用マグネット２４５は、可動枠２４２に固定されている。回転駆動用マグネット２４５は、Ｎ極及びＳ極の２つの磁極を有する。Ｎ極及びＳ極の２つの磁極は、Ｘ方向に沿って並べて配置されている。すなわち、回転駆動用マグネット２４５は、２極着磁された磁石である。回転駆動用マグネット２４５は、Ｙ方向に延びる分極線を、有している。回転駆動用マグネット２４５の分極線が、スリット部Ｂ２と手ぶれ補正レンズ２４３の中心（又は光軸ＡＸ）とを結んだ直線と実質的に平行になるように、回転駆動用マグネット２４５は配置される。

［２−２．固定枠の構成］
図２に示すように、固定枠２４１は、レンズ鏡筒１００内に配置される。図３に示すように、固定枠２４１は、可動枠２４２を光軸ＡＸに垂直な面内で移動可能に保持している。具体的には、固定枠２４１には、複数の棒状の部材、例えば金属部材が、固定されている。可動枠２４２は、これら棒状の部材と係合している。複数の棒状の部材は、上述した、間隔保持ピンＡ３と、位置規制ピンＡ１と、回転軸ピンＡ２とを、含んでいる。間隔保持ピンＡ３は、可動枠２４２と実質的に平行になるように、固定枠２４１に固定されている。位置規制ピンＡ１及び回転軸ピンＡ２は、光軸ＡＸに沿うように、固定枠２４１に固定されている。

図４の実線で示すように、固定枠２４１は、並進駆動用コイル２４６（コイルの一例）と、回転駆動用コイル２４７とを、有している。並進駆動用コイル２４６は、固定枠２４１に固定されている。並進駆動用コイル２４６は、Ｘ軸方向に長く、Ｘ軸方向のストレート部の長さは、長さＬ１である。並進駆動用コイル２４６は、光軸ＡＸと回転軸ピンＡ２との間に配置されている。回転駆動用コイル２４７は、固定枠２４１に固定されている。回転駆動用コイル２４７は、Ｙ軸方向に長く、Ｙ軸方向のストレート部の長さは、長さＬ２である。回転駆動用コイル２４７の長軸が、並進駆動用コイル２４６の長軸となす角度が、実質的に直角になるように、回転駆動用コイル２４７は、固定枠２４１に固定されている。並進駆動用コイル２４６及び回転駆動用コイル２４７は、レンズ用ホールＤ１（図２を参照）を取り囲むように、固定枠２４１に固定されている。

また、並進駆動用コイル２４６のＸ軸方向のストレート部の長さＬ１は、並進駆動用マグネット２４４のＸ軸方向における長さと実質的に同じ長さに、構成されている。また、回転駆動用コイル２４７のＹ軸方向のストレート部の長さＬ２は、回転駆動用マグネット２４５のＹ軸方向における長さと実質的に同じ長さに、構成されている。

［２−３．可動枠と固定枠との関係］
図３及び図４を用いて、固定枠２４１と可動枠２４２との関係を、説明する。
可動枠２４２は、固定枠２４１に対して、並進可能且つ回転可能である。詳細には、スリット部Ｂ２が、回転軸ピンＡ２に対して、並進可能且つ回転可能に、摺動支持されている。
可動枠２４２と固定枠２４１とは、並進用アクチュエータ１３０と回転用アクチュエータ１４０とによって、相対的に移動させられる。具体的には、並進用アクチュエータ１３０は、並進駆動用コイル２４６と並進駆動用マグネット２４４とによって、構成される。並進用アクチュエータ１３０は、回転軸ピンＡ２と手ぶれ補正レンズ２４３との間に、配置されている。また、回転用アクチュエータ１４０が、回転駆動用コイル２４７及び回転駆動用マグネット２４５によって、構成される。回転用アクチュエータ１４０は、手ぶれ補正レンズ２４３のレンズ中心を基準として、Ｘ方向の一方側に配置されている。

並進駆動用コイル２４６及び回転駆動用コイル２４７は、固定枠２４１に装着されている。並進駆動用マグネット２４４及び回転駆動用マグネット２４５は、可動枠２４２に装着されている。
並進駆動用コイル２４６と並進駆動用マグネット２４４とは、互いに対向して配置されている。並進駆動用コイル２４６は、並進駆動用マグネット２４４に対して、所定の間隔を隔てて配置されている。

回転駆動用コイル２４７と回転駆動用マグネット２４５とは、互いに対向して配置されている。回転駆動用コイル２４７は、回転駆動用マグネット２４５に対して、所定の間隔を隔てて配置されている。
このように、各コイル（並進駆動用コイル２４６，回転駆動用コイル２４７）と、各マグネット（並進駆動用マグネット２４４，回転駆動用マグネット２４５）との間に、所定の間隔が形成されるように、可動枠２４２及び固定枠２４１は構成されている。

［２−４．位置検出装置の構成］
図５Ａ〜図５Ｃは、位置検出装置２４８の模式図である。図５Ａは光軸方向から見た正面図、図５Ｂは側面図、図５Ｃは下面図、である。なお、図５Ａ〜図５Ｃは、位置検出装置２４８が初期状態である場合の図である。ここでは、初期状態は、第１磁気検出素子１５２の検出中心と第２磁気検出素子１５３の検出中心とを結ぶ直線の中点と、位置検出用マグネット１５４（後述する）の移動範囲の中点が、互いに対向する状態を、示す。

位置検出装置２４８は、固定枠２４１に対する可動枠２４２の移動を、検出する。図５Ａ〜図５Ｃに示すように、位置検出装置２４８は、面内に２極着磁された位置検出用マグネット１５４（磁気発生部の一例）と、検出部１５０（保持部材１５１、第１磁気検出素子１５２、第２磁気検出素子１５３）とを、備える。
位置検出用マグネット１５４は、可動枠２４２に配置される。図５Ａ及び図５Ｂに示すように、位置検出用マグネット１５４は、検出部１５０と対向して配置される。詳細には、位置検出用マグネット１５４は、光軸方向において、保持部材１５１に対向している。より詳細には、位置検出用マグネット１５４は、第１磁気検出素子１５２と、第２磁気検出素子１５３とに対向している。

位置検出用マグネット１５４は、２極着磁された直方体磁石である。図５Ａに示すように、位置検出用マグネット１５４は、Ｘ−Ｙ面内において、Ｘ方向に、分極線を有している。図５Ｂ及び図５Ｃに示すように、位置検出用マグネット１５４の着磁方向（Ｚ方向）は、２つの磁気検出素子１５２、１５３の感磁方向と同一方向である。図５Ｃに示すように、位置検出用マグネット１５４は、Ｚ方向において互いに反する磁束を有している。

図５Ａに示すように、位置検出用マグネット１５４のＸ方向の長さＷ１は、例えば２．０ｍｍであり、Ｙ方向の長さＷ２は、例えば６．０ｍｍである。また、第１磁気検出素子１５２と第２磁気検出素子１５３との間の長さＷ４は、例えば０．８ｍｍである。また、図５Ｃに示すように、Ｚ方向の厚みＷ３は、例えば１．６ｍｍである。さらに、第１磁気検出素子１５２および第２磁気検出素子１５３と位置検出用マグネット１５４の表面とのＺ方向の距離Ｗ５は、例えば１．２５ｍｍである。

図５Ａ〜図５Ｃに示すように、検出部１５０は、単一部材として構成されている。詳細には、検出部１５０は、保持部材１５１と、第１磁気検出素子１５２と、第２磁気検出素子１５３とを、備えている。第１磁気検出素子１５２と、第２磁気検出素子１５３とは、保持部材１５１と一体に成型されている。
保持部材１５１は、固定枠２４１に配置される。保持部材１５１は、第１磁気検出素子１５２と第２磁気検出素子１５３とを、内部に保持している。第１磁気検出素子１５２の感磁方向と、第２磁気検出素子１５３の感磁方向とは、位置検出用マグネット１５４に対して垂直である。具体的には、第１磁気検出素子１５２の感磁方向と、第２磁気検出素子１５３の感磁方向とは、Ｚ方向である。

図４及び図５Ａ〜図５Ｃに示すように、第１磁気検出素子１５２と、第２磁気検出素子１５３とを結んだ直線と、並進駆動用コイル２４６のストレート部とが平行になるように、第１磁気検出素子１５２と第２磁気検出素子１５３とは、保持部材１５１に配置されている。また、第１磁気検出素子１５２と、第２磁気検出素子１５３とを結んだ直線と、回転軸ピンＡ２と手ぶれ補正レンズ２４３（又はレンズ用ホールＤ１）の中心とを結んだ直線とが、垂直になるように、第１磁気検出素子１５２と第２磁気検出素子１５３とは、保持部材１５１に配置されている。

また、図５Ａ〜図５Ｃに示すように、第１磁気検出素子１５２と第２磁気検出素子１５３とは、位置検出用マグネット１５４の分極線ＬＰと平行になるように、位置検出用マグネット１５４に対向して配置される。つまり、第１磁気検出素子１５２の検出中心と第２磁気検出素子１５３の検出中心とを結ぶ直線と、位置検出用マグネット１５４の分極線ＬＰとが、平行である。また、第１磁気検出素子１５２の検出中心と第２磁気検出素子１５３の検出中心とを結ぶ直線の中点と、位置検出用マグネット１５４の分極線ＬＰの中点とは、互いに対向する。

［３．ＯＩＳユニットの動作］
ＯＩＳユニット２４０では、手ぶれ補正レンズ２４３が、並進用アクチュエータ１３０と回転用アクチュエータ１４０とによって、駆動される。これにより、撮像素子に結像された像のぶれが、補正される。
具体的には、並進駆動用コイル２４６に電流が流れると、並進駆動用マグネット２４４と並進駆動用コイル２４６のストレート部の間で、磁気によるＹ方向推力が発生する。それにより、可動枠２４２は、Ｙ方向へ並進運動する。すなわち、Ｙ方向の像のぶれが、補正される。

回転駆動用コイル２４７に電流が流れると、回転駆動用マグネット２４５と回転駆動用コイル２４７のストレート部の間で、磁気によるＸ方向推力が発生する。詳細には、Ｘ方向推力は、回転軸ピンＡ２を基準とした揺動推力である。これにより、可動枠２４２は、スリット部Ｂ２と回転軸ピンＡ２によって、Ｘ方向の並進運動が規制されているので、回転軸ピンＡ２を中心とした揺動運動する。すなわち、Ｘ方向の像のぶれが、補正される。

［４．位置検出装置の動作］
上記のように、ＯＩＳユニット２４０において像のぶれを補正するためには、可動枠２４２の移動量を、算出する必要がある。この移動量は、位置検出装置２４８において演算される。詳細には、位置検出装置２４８からの出力に基づいて、移動量の演算、すなわち以下に示す処理が、実行される。

ここでは、第１磁気検出素子１５２の第１出力値をＶ１（第１信号の一例）とし、第２磁気検出素子１５３の第２出力値をＶ２（第２信号の一例）とする。分極線ＬＰに対して垂直な方向（Ｙ方向）の位置検出には、例えば、Ｖ１、Ｖ２、又は（ａＶ１＋ｂＶ２）/ｎの関係式が、用いられる。分極線ＬＰに沿う方向（Ｘ方向）の位置検出には、（｜Ｖ１｜―｜Ｖ２｜）、又は（｜Ｖ１｜−｜Ｖ２｜）/（｜Ｖ１｜＋｜Ｖ２｜）の関係式が、用いられる。なお、ａおよびｂは、０または正の実数である。ｎは、正の実数である。

ここでは、図６及び図７に示す磁束密度に基づいて、上記の演算を、具体的に説明する。可動枠２４２がＹ方向に並進運動する場合、図６に示すように、第１磁気検出素子１５２によって検出される磁束密度と、第２磁気検出素子１５３とよって検出される磁束密度とは、実質的に同じである。また、第１磁気検出素子１５２で検出された磁束密度と、第２磁気検出素子１５３で検出された磁束密度との平均値を、計算することによって、第１磁束評価値の分布（第１磁束評価曲線）が、求められる。この場合、第１磁気検出素子１５２によって検出される磁束密度と、第２磁気検出素子１５３とよって検出される磁束密度とは、実質的に同じであるので、第１磁束評価曲線は、図６と実質的に相似になる。この第１磁束評価曲線に基づいて、可動枠２４２のＹ方向の移動量が、決定される。なお、この場合、上述したように、２つの磁束密度のいずれか一方だけを用いて、可動枠２４２の移動量を、決定するようにしてもよい。

詳細には、可動枠２４２のＹ方向の移動量は、次のように算出される。図６に示すように、第１磁束評価曲線が、直線によって近似される。ここでは、原点を基準とした所定の範囲内において、第１磁束評価曲線が、直線近似される。この近似直線と、Ｙ方向（分極線ＬＰに対して垂直な方向）の位置とを対応させることによって、Ｙ方向の位置検出が実行される。なお、所定の範囲は、近似直線と磁束密度曲線との誤差Ｄｘ１が所定値以下になるように、設定されている。例えば、図６に示すように、あるＹ軸の値に対する第１磁束評価曲線のＸ軸の値と、このＹ軸の値に対する近似直線のＸ軸の値との差（＝Ｄｘ１）が、所定の誤差以下になるように、所定の範囲が設定される。所定の誤差は、例えば、０％以上１０％以下に設定される。

一方で、可動枠２４２がＸ方向に揺動運動する場合、図７に示すように、第１磁気検出素子１５２によって検出される磁束密度と、第２磁気検出素子１５３とよって検出される磁束密度とには、位相差が生じる。この場合、第１磁気検出素子１５２で検出された磁束密度と、第２磁気検出素子１５３で検出された磁束密度との差分を、計算することによって、図８に示すような第２磁束評価値の分布（第２磁束評価曲線）が、求められる。そして、この第２磁束評価曲線に基づいて、可動枠２４２のＸ方向の移動量が、決定される。なお、この場合、上述したように、２つの磁束密度の差分を無次元化して、可動枠２４２の移動量を、決定するようにしてもよい。

詳細には、可動枠２４２のＸ方向の移動量は、上述したＹ方向の移動量と同様に算出される。図８に示すように、第２磁束評価曲線が、直線によって近似される。ここでは、原点を基準とした所定の範囲内において、第２磁束評価曲線が、直線近似される。この近似直線と、Ｘ方向（分極線ＬＰに沿う方向）の位置とを対応させることによって、Ｙ方向の位置検出が実行される。なお、所定の範囲は、近似直線と磁束密度曲線との誤差Ｄｘ２が所定値以下になるように、設定されている。例えば、図８に示すように、あるＹ軸の値に対する第２磁束評価曲線のＸ軸の値と、このＹ軸の値に対する近似直線のＸ軸の値との差（＝Ｄｘ２）が、所定の誤差以下になるように、所定の範囲が設定される。所定の誤差は、例えば、０％以上１０％以下に設定される。

［５．まとめ］
従来の像ぶれ補正装置では、２つの位置検出装置が用いられていた。このため、２つの位置検出装置を配置するためのスペースを確保する必要があり、電磁アクチュエータの配置やサイズ等が、制約を受けていた。すなわち、電磁アクチュエータの設計の自由度が低くなるという問題があった。また、像ぶれ補正装置を小型化しようとすると、電磁アクチュエータの設計の自由度が、さらに低くなるという問題があった。ここに開示された技術では、この問題を解決することができる。

（１）本位置検出装置２４８は、位置検出用マグネット１５４（磁気発生部の一例）と、検出部１５０とを、備えている。位置検出用マグネット１５４は、面内に２極着磁された磁石である。検出部１５０は、第１磁気検出素子１５２と、第２磁気検出素子１５３と、保持部材１５１とを、有している。第２磁気検出素子１５３は、第１磁気検出素子１５２と並んで配置されている。保持部材１５１は、第１磁気検出素子１５２及び第２磁気検出素子１５３を、保持している。保持部材１５１は、位置検出用マグネット１５４の面に対して相対的に平行移動可能である。

本位置検出装置２４８では、次の条件を満足している。第１磁気検出素子１５２と第２磁気検出素子１５３とを通過する第１方向Ｈ１と、位置検出用マグネット１５４の分極線ＬＰが延びる方向とがなす角度は、９０度以外である。第１磁気検出素子１５２と第２磁気検出素子１５３とを結ぶ線分と、位置検出用マグネット１５４の分極線ＬＰとは、食い違い又は平行である。なお、食い違いとは、２つの線分（直線）が互いに離れた状態で交わった状態を示す文言である。例えば、位置検出用マグネット１５４の面を、位置検出用マグネット１５４の面に垂直な方向から見た場合、第１磁気検出素子１５２と第２磁気検出素子１５３とを結ぶ線分と、位置検出用マグネット１５４の分極線ＬＰとは、交差又は一致する。

この構成により、検出部１５０が、位置検出用マグネット１５４に対して相対的に移動した場合に、第１磁気検出素子１５２及び第２磁気検出素子１５３によって、２方向の位置検出を実行することができる。すなわち、２方向の位置検出を、１つの位置検出装置２４８によって、実行できる。また、この構成により、位置検出装置２４８を２つ設ける必要がないので、位置検出装置２４８が装着される構造体を、小型化することができる。

（２）本位置検出装置２４８では、第１磁気検出素子１５２から出力される第１出力値Ｖ１、及び第２磁気検出素子１５３から出力される第２出力値Ｖ２に基づいて、第１方向Ｈ１に対する検出部１５０の位置検出が、実行される。また、第１出力値Ｖ１及び第２出力値Ｖ２に基づいて、第１方向Ｈ１に直交する第２方向Ｈ２に対する検出部１５０の位置検出が、実行される。
この構成により、検出部１５０が、位置検出用マグネット１５４に対して相対的に移動した場合に、第１磁気検出素子１５２及び第２磁気検出素子１５３によって、２方向の位置検出を確実に実行することができる。すなわち、２方向の位置検出を、１つの位置検出装置２４８によって、確実に実行できる。

（３）本位置検出装置２４８では、第１方向Ｈ１と分極線ＬＰとがなす角度θが、９０度以外である。この角度θは、第１方向Ｈ１を基準として、−６０度以上＋６０度以下である。例えば、図５Ａでは、角度θはゼロである。図９Ａは、角度θが０度以上６０度以下の範囲に設定される場合の例である。
この構成により、位置検出用マグネット１５４に対する検出部１５０の位置を、精度良く検出することができる。すなわち、検出部１５０の２方向の位置を、１つの位置検出装置２４８によって、精度良く検出することができる。

（４）本位置検出装置２４８では、第１磁気検出素子１５２と第２磁気検出素子１５３とを通過する直線が、位置検出用マグネット１５４の分極線ＬＰと平行である。

この構成では、第１磁気検出素子１５２と第２磁気検出素子１５３とが、Ｙ方向（分極線ＬＰに直交する方向）に並進運動する場合、第１磁気検出素子１５２によって検出される磁束密度と、第２磁気検出素子１５３とよって検出される磁束密度とが、実質的に同じなる。これにより、上述した第１磁束評価値の分布（第１磁束評価曲線）を、正確且つ容易に予測することができる。すなわち、位置検出用マグネット１５４に対する検出部１５０の位置を、精度良く検出することができる。

（５）本位置検出装置２４８では、検出部１５０が、回転軸ピンＡ２まわりの回動、及び回転軸ピンＡ２を基準とした直動の少なくともいずれか一方によって、位置検出用マグネット１５４に対して、相対的に移動する。
この構成では、１つの回転軸ピンＡ２が、回動及び直動の２つの基準点となっているので、位置検出用マグネット１５４に対する検出部１５０の位置を、高精度に検出することができる。

（６）本ＯＩＳユニット２４０では、上記の検出部１５０を有する位置検出装置２４８と、固定枠２４１（固定部材の一例）と、可動枠２４２（可動部材の一例）とを、備えている。固定枠２４１には、検出部１５０が設けられる。可動枠２４２には、位置検出用マグネット１５４が設けられる。
この構成では、ＯＩＳユニット２４０が、上記の位置検出装置２４８を備えているので、可動枠２４２が、固定枠２４１に対して、相対的に移動した場合に、検出部１５０によって、２方向の位置検出を実行することができる。すなわち、２方向の位置検出を、１つの位置検出装置２４８によって、実行できる。また、この構成により、位置検出装置２４８を２つ設ける必要がないので、ＯＩＳユニット２４０を小型化することができる。

（７）本ＯＩＳユニット２４０では、回転軸ピンＡ２まわりの可動枠２４２の回動、及び回転軸ピンＡ２を基準とした可動枠２４２の直動の少なくともいずれか一方によって、可動枠２４２は、固定枠２４１に対して相対的に移動する。
この構成では、１つの回転軸ピンＡ２が、回動及び直動の２つの基準点となっているので、位置検出用マグネット１５４に対する検出部１５０の位置を、高精度に検出することができる。

（８）本レンズ鏡筒１００は、上記の位置検出装置２４８を、備えている。この構成により、レンズ鏡筒１００に設けられた１つの位置検出装置２４８によって、２方向の位置検出を、実行できる。また、この構成により、レンズ鏡筒１００には、位置検出装置２４８を２つ設ける必要がないので、レンズ鏡筒１００を小型化することができる。
（９）本レンズ鏡筒１００は、上記のＯＩＳユニット２４０を、備えている。この構成により、ＯＩＳユニット２４０に設けられた１つの位置検出装置２４８によって、２方向の位置検出を、実行できる。また、この構成により、レンズ鏡筒１００には、位置検出装置２４８を２つ設ける必要がないので、レンズ鏡筒１００を小型化することができる。

（他の実施の形態）
以上のように、本開示における技術の例示として、実施の形態を説明した。そのために、添付図面および詳細な説明を提供した。
したがって、添付図面および詳細な説明に記載された構成要素の中には、課題解決のために必須な構成要素だけでなく、上記技術を例示するために、課題解決のためには必須でない構成要素も含まれ得る。このため、それらの必須ではない構成要素が添付図面や詳細な説明等に記載されていることをもって、直ちに、それらの必須ではない構成要素が必須であるとの認定をするべきではない。

また、上述の実施の形態は、本開示における技術を例示するためのものであるから、特許請求の範囲またはその均等の範囲において種々の変更、置き換え、付加、省略などを行うことができる。すなわち、本技術は、上記の実施の形態に限定されず、適宜修正可能である。以下に、本技術の他の実施の形態を、まとめて説明する。
（Ａ）前記実施の形態では、可動枠２４２が、固定枠２４１に対して、並進及び揺動する場合の例を示した。これに代えて、可動枠２４２が、固定枠２４１に対して、２方向に並進するように構成してもよい。また、可動枠２４２が、固定枠２４１に対して、回転体で支持されるように構成してもよい。このように構成しても、上記と同様の効果を得ることができる。

（Ｂ）前記実施の形態では、第１磁気検出素子１５２と第２磁気検出素子１５３とを結ぶ直線Ｌ１が、位置検出用マグネット１５４の分極線ＬＰに平行になるように、検出部１５０が構成される場合の例を、示した。この構成では、可動枠２４２の支持形態によっては、第１磁気検出素子１５２及び第２磁気検出素子１５３が、分極線ＬＰ上を移動することがある。この場合、理論的には、第１磁気検出素子１５２の出力及び第２磁気検出素子１５３の出力が、発生しない。このため、この場合には、可動枠２４２の位置を検出できないおそれがある。

この問題を解決するために、図９に示すように、第１磁気検出素子２５２と第２磁気検出素子２５３とを結ぶ線分Ｌ１が、位置検出用マグネット１５４の分極線ＬＰと食い違うように、検出部１５０を構成してもよい。
この場合、前記実施の形態に示した、可動枠２４２のＸ方向の移動量及びＹ方向の移動量の計算と同じ計算によって、可動枠２４２のＸ方向の移動量及びＹ方向の移動量が、計算される。このように可動枠２４２の移動量を算出することによって、上記の問題を解決することができる。また、このように構成しても、上記と同様の効果を得ることができる。

（Ｃ）前記実施の形態では、検出部１５０が、２つの磁気検出素子１５２、１５３を有する場合の例を、示した。前記実施の形態のように、第１磁気検出素子１５２及び第２磁気検出素子１５３が配置された場合、可動枠２４２の支持形態によっては、第１磁気検出素子１５２及び第２磁気検出素子１５３が、分極線ＬＰ上を移動することがある。この場合、理論的には、第１磁気検出素子１５２の出力及び第２磁気検出素子１５３の出力が、発生しない。このため、この場合には、可動枠２４２のＸ方向の位置を検出できないおそれがある。

この問題を解決するために、図１０に示すように、検出部３５０が、３つの磁気検出素子（第１磁気検出素子３５２、第２磁気検出素子３５３、第３磁気検出素子３５５）を、有するようにしてもよい。この場合、例えば、第３磁気検出素子３５５は、第１磁気検出素子３５２と第２磁気検出素子３５３とを通過する直線から、所定の間隔を隔てて、配置される。

この場合、可動枠２４２のＸ方向の移動量は、次のように計算される。まず、第１磁気検出素子３５２の磁束密度、及び第２磁気検出素子３５３の磁束密度に基づいて、上記のように、第１磁束密度差が計算される。また、第２磁気検出素子３５３の磁束密度、及び第３磁気検出素子３５５の磁束密度に基づいて、上記のように、第２磁束密度差が計算される。また、第３磁気検出素子３５５の磁束密度、及び第１磁気検出素子３５２の磁束密度に基づいて、上記のように、第３磁束密度差が計算される。

次に、上記のように、第１磁束密度差を用いて位置検出し、第２磁束密度差を用いて位置検出し、第３磁束密度差を用いて位置検出する。そして、３つの位置検出結果を平均することによって、最終的な磁束密度差（上記の第２磁束評価曲線）が決定される。この最終的な磁束密度差に基づいて、上記と同様に、可動枠２４２のＸ方向の移動量が算出される。

このように可動枠２４２のＸ方向の移動量を算出することによって、上記の問題を解決することができる。また、このように構成しても、上記と同様の効果を得ることができる。
なお、この場合、可動枠２４２のＹ方向の移動量は、次のように計算される。まず、第１磁気検出素子３５２の磁束密度と、第２磁気検出素子３５３の磁束密度と、第３磁気検出素子３５５の磁束密度との平均を計算することによって、上記の第１磁束評価曲線が求められる。すると、この第１磁束評価曲線に基づいて、上記と同様に、可動枠２４２のＹ方向の移動量が算出される。なお、この場合、上述したように、３つの磁束密度のいずれか１つだけを用いて、可動枠２４２のＹ方向の移動量を、決定するようにしてもよい。

（Ｄ）前記実施の形態では、検出部１５０と並進駆動用コイル２４６との間に手ぶれ補正レンズ２４３が位置するように、可動枠２４２が構成される場合の例を、示した。これに代えて、図１１に示すように、検出部１５０が並進駆動用コイル２４６に囲まれるように、保持部材１５１を固定枠２４１に配置してもよい。すなわち、検出部１５０を、並進駆動用コイル２４６のループ内に、配置してもよい。この場合、検出部１５０が、並進駆動用コイル２４６の内部、すなわち回転軸ピンＡ２の近傍に、配置される。このように構成することによって、検出部１５０を配置するスペースを、特別に用意する必要がなくなるので、ＯＩＳユニット２４０を小型化することができる。また、位置検出用マグネット１５４を、並進駆動用マグネット２４４によって代用することができるので、ＯＩＳユニット２４０をさらに小型化することができる。また、このように構成しても、上記と同様の効果を得ることができる。
なお、この場合、手ぶれ補正レンズ２４３が、並進駆動用コイル２４６と回転駆動用コイル２４７との間に、配置されように、並進駆動用コイル２４６及び回転駆動用コイル２４７を構成してもよい。

（Ｅ）前記実施の形態では、位置検出用マグネット１５４が可動枠２４２に装着され、検出部１５０が固定枠２４１に装着される場合の例を、示した。これに代えて、位置検出用マグネット１５４を固定枠２４１に装着し、検出部１５０を可動枠２４２に装着するようにしてもよい。このように構成しても、上記と同様の効果を得ることができる。

（Ｆ）前記実施の形態では、マグネット２４４、２４５が可動枠２４２に装着され、コイル２４６、２４７が固定枠２４１に装着される場合の例を、示した。これに代えて、マグネット２４４、２４５を固定枠２４１に装着し、コイル２４６、２４７を可動枠２４２に装着するようにしてもよい。このように構成しても、上記と同様の効果を得ることができる。

ここに開示された技術は、位置検出装置、駆動装置、及びレンズ鏡筒を含む電子機器に広く適用可能である。

１００ レンズ鏡筒
２４０ ＯＩＳユニット（駆動装置の一例）
２４８ 位置検出装置
２４１ 固定部材
２４２ 可動部材
１５０ 検出部
１５１ 保持部材
１５２，２５２，３５２ 第１磁気検出素子
１５３，２５３，３５３ 第２磁気検出素子
１５４ 位置検出用マグネット（磁気発生部の一例）
３５５ 第３磁気検出素子
２４６ 並進駆動用コイル（コイルの一例）
２４７ 回転駆動用コイル
２４４ 並進駆動用マグネット
２４５ 回転駆動用マグネット
Ａ２ 回転軸ピン（回動軸の一例）
Ｈ１ 第１方向
Ｈ２ 第２方向
ＬＰ 分極線
Ｖ１ 第１出力値（第１信号の一例）
Ｖ２ 第２出力値（第２信号の一例）

Claims (11)

1. 面内に２極着磁される磁気発生部と、
   第１磁気検出素子と、前記第１磁気検出素子と並んで配置される第２磁気検出素子と、前記第１磁気検出素子及び前記第２磁気検出素子を保持し、且つ前記磁気発生部の面に対して相対的に平行移動可能な保持部材とを、有する検出部と、
   を備え、
   前記検出部では、前記第１磁気検出素子及び前記第２磁気検出素子が、前記保持部材に一体に成型されており、
   前記第１磁気検出素子と前記第２磁気検出素子とを通過する第１方向と、前記磁気発生部の分極線が延びる方向とがなす角度は、９０度以外であり、
   前記第１磁気検出素子と前記第２磁気検出素子とを結ぶ線分と、前記磁気発生部の分極線とは、食い違い又は平行である、
   位置検出装置。
2. 前記第１磁気検出素子から出力される第１信号、及び前記第２磁気検出素子から出力される第２信号に基づいて、前記第１方向に対する前記検出部の位置検出が、実行され、且つ前記第１信号及び前記第２信号に基づいて、前記第１方向に直交する第２方向に対する前記検出部の位置検出が、実行される、
   請求項１に記載の位置検出装置。
3. 前記角度は、前記第１方向を基準として、−６０度以上＋６０度以下である、
   請求項１又は２に記載の位置検出装置。
4. 前記第１磁気検出素子と前記第２磁気検出素子とを通過する直線は、前記磁気発生部の分極線と平行である、
   請求項１から３のいずれか１項に記載の位置検出装置。
5. 前記保持部材に保持される第３磁気検出素子、
   をさらに備え、
   前記第３磁気検出素子は、前記直線から所定の間隔を隔てて、配置されている、
   請求項４に記載の位置検出装置。
6. 前記検出部は、所定の回動軸まわりの回動、及び前記回動軸を基準とした直動の少なくともいずれか一方によって、前記磁気発生部に対して相対的に移動する、
   請求項１から５のいずれか１項に記載の位置検出装置。
7. 請求項１から６のいずれか１項に記載の、磁気発生部及び検出部を有する位置検出装置と、
   前記検出部が設けられる第１部材と、
   前記磁気発生部が設けられ、前記第１部材に対して相対的に移動可能な第２部材と、
   を備える駆動装置。
8. 前記磁気発生部の磁界に対向するように、前記第１部材に固定されるコイル、
   をさらに備え、
   前記検出部は、前記コイルのループ内に配置される、
   請求項７に記載の駆動装置。
9. 所定の回動軸まわりの前記第２部材の回動、及び前記回動軸を基準とした前記第２部材の直動の少なくともいずれか一方によって、前記第２部材は、前記第１部材に対して相対的に移動する、
   請求項７又は８に記載の駆動装置。
10. 請求項１から６のいずれか１項に記載の位置検出装置、
    を備えるレンズ鏡筒。
11. 請求項７から９のいずれか１項に記載の駆動装置、
    を備えるレンズ鏡筒。

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