JPWO2011061843A1 - 被検面の形状を計測する装置及び被検面の形状を算出するためのプログラム - Google Patents
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Abstract
Description
STG ステージ
PC コンピュータ
Claims (7)
- 被検面の形状を測定する測定部と、前記測定部による測定データを用いて前記被検面の形状を算出する算出部とを有する計測装置において、
前記測定部は、前記被検面の一部を測定範囲に設定して、複数の測定範囲において各測定範囲が少なくとも1つの他の測定範囲と重なり領域を形成するように前記被検面の形状を測定し、
前記算出部は、
前記測定部による前記各測定範囲の測定データを読み出し、
前記測定範囲の設定毎に係数の値が定められる項と各測定範囲の設定に依らず係数の値が定められる項とを含む多項式で各測定における測定誤差を表すことによって、かつ、前記重なり領域における各測定データに対して最小2乗法を用いることによって得られる前記多項式の各係数についての行列方程式に、前記重なり領域における前記多項式の各項のデータ及び前記各測定データを代入し、
データが代入された前記行列方程式について特異値分解を行うことにより前記多項式の各係数の値を求め、
該求められた各係数を用いて前記各測定範囲の測定データを補正し、該補正された測定データを用いて前記複数の測定範囲における前記被検面の形状を算出することを特徴とする計測装置。 - 前記算出部は、該補正された前記各測定範囲の測定データを繋ぎ合わせたことによりデータの段差の発生する領域を検出し、前記段差が検出された領域のデータを削除してデータの補間を行うことを特徴とする請求項1に記載の計測装置。
- 前記行列方程式において、前記各測定範囲の設定に依らず係数の値が定められる項のうち、直交座標系の座標軸をx及びyとすると、xとyの2次の項を除くことを特徴とする請求項1に記載の計測装置。
- 請求項1に記載の計測装置によって得られた前記被検面の形状のデータを用いて、前記被検面を加工することを特徴とする加工方法。
- 被検面の形状をコンピュータに算出させるプログラムにおいて、
前記被検面の一部を測定範囲に設定して複数の測定範囲において前記被検面の形状を測定する際に各測定範囲が少なくとも1つの他の測定範囲と重なり領域を形成するように測定することによって得られる、前記各測定範囲の測定データを読み出すステップと、
各測定範囲の設定に対応して係数の値が定められる項と各測定範囲の設定に依らず係数の値が定められる項とを含む多項式で各測定における測定誤差を表すことによって、かつ、前記重なり領域における各測定データに対して最小2乗法を用いることによって得られる前記多項式の各係数についての行列方程式に、前記重なり領域における前記多項式の各項のデータ及び前記各測定データを代入するステップと、
データが代入された前記行列方程式について特異値分解を行うことにより前記多項式の各係数の値を求めるステップと、
該求められた各係数を用いて各測定範囲の測定データを補正し、該補正された測定データを用いて前記複数の測定範囲における前記被検面の形状を算出する算出ステップとをコンピュータに実行させることを特徴とするプログラム。 - 前記算出ステップにおいて、該補正された前記各測定範囲の測定データを繋ぎ合わせたことによりデータの段差の発生する領域を検出し、前記段差が検出された領域のデータを削除してデータの補間を行うことを特徴とする請求項5に記載のプログラム。
- 前記行列方程式において、前記各測定範囲の設定に依らず係数の値が定められる項のうち、直交座標系の座標軸をx及びyとすると、xとyの2次の項を除くことを特徴とする請求項5に記載のプログラム。
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