JPWO2011048791A1 - 複数個の各テスト回路を対象とする誤動作検出装置及び当該装置を使用した誤動作検出方法 - Google Patents
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Abstract
ノイズの放電時期を適宜選択しながら、効率的に実現し得るような装置及び検査方法を提供することを課題とし、直流電源1と複数個の各テスト回路5との間を、充電用抵抗素子(R1)、放電用抵抗素子(R2)、キャパシタンス(C)を備えているノイズ放電回路2を設け、当該ノイズ放電回路2と各テスト回路5との間に介在しているプローブ4が、複数個の各テスト回路5を選択しかつ接続可能とする一方、前記各テスト回路5に対し選択回路8を介して接続されている同期遅延コントローラー回路6が、印加コントローラー回路7を介してノイズ放電の時期を調整することができるテスト回路5の誤動作試験装置及び当該装置を使用している誤動作検出方法。
Description
本発明は、充電用抵抗素子(R1)と放電用抵抗素子(R2)を備え、かつ双方の抵抗素子が接続されている中間位置とアースとの間とを接続しているキャパシタンス(C)を備えたことによるノイズ放電回路(通称名:ESDガン)が発生するノイズ放電パルスを使用した複数個の各テスト回路に対する誤動作検出装置及び当該装置を使用した検出方法に関するものである。
近年マイクロコンピューターがあらゆる産業分野及び生活分野に採用されることに伴い、LSIを搭載したプリント基板は、誤動作が生じないことを必須の要件としている。
しかしながら、個別のLSI素子の小型化に伴い、誤動作が生ずる確率が増大する傾向にあり、1箇所の誤動作は、回路全体が作動不能と化すばかりか、交通機関の制御に使用されているLSIの誤動作が生じた場合には、危険な事故に発展する可能性さえ存在する。
このように、LSI等のプリント基板の誤動作の発生を事前に検出することは、極めて重要な技術的意義を有している。
而して、非特許文献1は、従来採用されているテスト基板回路11に対する誤動作検出装置として、図5に示すように、DUT(Device Under Test:テスト回路5)からの同期トリガー信号12(テストパルス)と可変遅延回路(同期遅延コントローラー回路6)によって同期させて高耐圧半導体スイッチ3をonさせることによって、所定のタイミングにてTLPインパルス発生回路10から発生するTLPパルスを印加し、直流電源1電圧の電圧値及び前記タイミングを調整することによって、誤動作の発生の有無を検出することが可能となっている。
しかしながら、前記同期型TLPインパルス印加試験装置の場合には、プローブ4において所定の電圧値を維持するために、図4に示すように、プローブ4の接続に伴ってテスト回路5の入力端子51との関係において、入力端子51内に印加抵抗(Rin)を挿入して接続すること及び前記入力端子51外においても、整合抵抗(Rm)を接続することを不可欠とする。
このため、前記同期型TLPインパルス印加試験装置の場合には、個別のテスト回路5の接続に煩雑な作業を要し、複数個の各テスト回路5を順次選択しながら、誤動作の検出作業を効率的に推進することは不可能な状態にある。
これに対し、非特許文献2に示されているような前記充電用抵抗素子(R1)及び放電用抵抗素子(R2)及びキャパシタンス(C)を採用しているノイズ放電回路(ESDガン)の場合には、前記テスト回路の入力端子との関係において、同期型TLPインパルス印加試験装置の場合のような各抵抗素子(Rin、Rm)との接続は不要であり、ノイズ放電回路の出力側に位置しているプローブを複数個の各テスト回路の出力端子を順次選択して接続することが可能である。
しかしながら、このような可能性にも拘らず、前記ノイズ放電回路(ESDガン)の場合には、同期遅延コントローラー回路と複数個の各テスト回路との接続関係につき、効率的な誤動作の検出を行うために必要な工夫を行ったうえで、ノイズの印加時期を調整することを可能とする構成については、現時点に至るも、提唱されていない。
「TLPによるインパルスイミュニティ評価系」(RCJ信頼性シンポジウムpp121−126、2007)
「ESDガンのIECイミュニティ試験法に対する放電電流の特性比較」(信学論B、Vol.J88−B、No.12、pp2401−2403、2005.)
本発明は、2個の抵抗素子と1個のキャパシタンスとによるノイズ放電回路を採用したうえで、複数個の各テスト回路における誤動作の有無に関する検査を、当該ノイズ放電の時期を適宜選択しながら、効率的に実現し得るような装置及び当該装置を使用することによる検査方法を提供することを課題としている。
前記課題を解決するため、本発明の基本構成は、
(1)直流電源と内部にテストパルス発生信号回路を有し、かつ誤動作検出回路をも有している複数個の各テスト回路との間を、直流電源側に位置している充電用抵抗素子(R1)及び充電スイッチと前記複数個の各テスト回路側に位置している放電用抵抗素子(R2)を備え、かつ前記充電用抵抗素子(R1)及び充電スイッチと前記放電用抵抗素子(R2)との接続ラインにおける双方の中間位置とアースとを接続しているキャパシタンス(C)を備えているノイズ放電回路を設け、当該ノイズ発生用放電回路とテスト回路との間に、ノイズ印加スイッチ及びプローブを介在させており、前記プローブが、複数個の各テスト回路を選択しかつ接続可能としたうえで、同期遅延コントローラー回路を前記複数個の各テスト回路に対し選択回路を介して接続し、当該同期遅延コントローラー回路が前記各テスト回路から受信したテストパルスの特定時刻に対する遅延時間を設定し、当該遅延時間に基づいて、ノイズ印加スイッチの作動に関与している印加コントローラー回路に対し、前記作動信号を発信する時期を制御することができるテスト回路の誤動作試験装置、
(2)前記(1)記載の誤動作検出装置を使用し、かつプローブ及び同期遅延コントローラー回路が同一のテスト回路を選択したうえで、直流電源の電圧値及び同期遅延コントローラー回路が設定する遅延時間を順次変化させたうえで、前記テスト回路における誤動作発生の有無を検出することに基づく誤動作検出方法、
からなる。
(1)直流電源と内部にテストパルス発生信号回路を有し、かつ誤動作検出回路をも有している複数個の各テスト回路との間を、直流電源側に位置している充電用抵抗素子(R1)及び充電スイッチと前記複数個の各テスト回路側に位置している放電用抵抗素子(R2)を備え、かつ前記充電用抵抗素子(R1)及び充電スイッチと前記放電用抵抗素子(R2)との接続ラインにおける双方の中間位置とアースとを接続しているキャパシタンス(C)を備えているノイズ放電回路を設け、当該ノイズ発生用放電回路とテスト回路との間に、ノイズ印加スイッチ及びプローブを介在させており、前記プローブが、複数個の各テスト回路を選択しかつ接続可能としたうえで、同期遅延コントローラー回路を前記複数個の各テスト回路に対し選択回路を介して接続し、当該同期遅延コントローラー回路が前記各テスト回路から受信したテストパルスの特定時刻に対する遅延時間を設定し、当該遅延時間に基づいて、ノイズ印加スイッチの作動に関与している印加コントローラー回路に対し、前記作動信号を発信する時期を制御することができるテスト回路の誤動作試験装置、
(2)前記(1)記載の誤動作検出装置を使用し、かつプローブ及び同期遅延コントローラー回路が同一のテスト回路を選択したうえで、直流電源の電圧値及び同期遅延コントローラー回路が設定する遅延時間を順次変化させたうえで、前記テスト回路における誤動作発生の有無を検出することに基づく誤動作検出方法、
からなる。
前記(1)の装置に立脚している前記(2)の方法に基づき、本発明においては、同期遅延コントローラー回路が複数個の各テスト回路を順次選択したうえで、同期遅延コントローラー回路によってノイズ放電が行われる時期を適宜変化させながら、誤動作の有無を効率的に検査することが可能となる。
本発明は、直流電源1側に位置している充電抵抗素子(R1)及びテスト回路5側に位置している放電抵抗素子(R2)を備え、かつ双方の抵抗素子(R1及びR2)の接続ラインにおける中間位置とアースとを接続しているキャパシタンスを備えているノイズ放電回路2(ESDガン)を使用して、前記(1)及び(2)の基本構成に基づいて、複数個の各テスト回路5のうち特定のテスト回路5を選択したうえで、当該テスト回路5において発生しているテストパルスの発生時期を基準として、ノイズ信号の遅延した放電時期を順次調整しながら、当該テスト回路5における誤動作の有無を順次検出し得ることを基本的特徴点としている。
図1は、前記基本構成(1)の典型的な実施形態に基づくブロック回路図であるが、当該回路図に示すように、直流電源1に接続されている前記ノイズ放電回路2、及びノイズ印加スイッチ32並びにプローブ4を介して複数個の各テスト回路5と接続可能状態となっている。
図1に示す装置において、直流電源1の電圧を200Vとし、ノイズ放電回路2の充電用抵抗素子(R1)の抵抗値を1MΩとし、放電用抵抗(R2)の抵抗値を630Ωとし、複数個のキャパシタンス(C)の値を150pFとした場合のノイズの波形状態は、図2に示すとおりである(尚、図2における横軸の各メモリ時間単位は80n秒である。)。
複数個の各テスト回路5は、図1に示すように、通常整列された状態にあり、プローブ4によって順次選択可能な状態とされている。
図1に示すノイズ放電回路2の場合には、図5に示すような同期型TLPインパルス印加試験誤動作検出装置のように、プローブ4自体が個別のテスト回路5の入力端子51側の回路との間にて印加抵抗(Rin)及び整合抵抗(Rm)との接続を伴わずに、順次各テスト回路5の入力端子51を選択して接続し得る点において極めて便利である。
図1に示すように、各テスト回路5の入力位置には、アースとの間において所定のインピーダンスを構成している電源側(V側)及びアースに接続している接地側(G側)の2個の入力位置が存在しており、プローブ4は、そのうちの何れか1個を選択可能であると共に、印加する正電圧及び負電圧の何れをも選択することができる(尚、図1は正電圧を印加する構成を図示しているが、負電圧を印加する場合には、電源電圧側に逆転スイッチ回路を必要としており、図1においては当該逆転スイッチ回路の図示を省略している。)。
尚、図1に示すように、ノイズ印加スイッチ32とプローブ4との接続ラインにおける双方の中間位置とアースとの間には、ノイズ信号に基づく過大電流が、テスト回路5に流入することを防止するための調整抵抗(R3)を設ける場合が多い。
尚、図1に示すように、ノイズ印加スイッチ32とプローブ4との接続ラインにおける双方の中間位置とアースとの間には、ノイズ信号に基づく過大電流が、テスト回路5に流入することを防止するための調整抵抗(R3)を設ける場合が多い。
前記基本構成(1)において記載したように、各テスト回路5においては、テストパルスが発生しており、当該パルスの時系列に基づく組合せは千差万別である。
但し、典型的なテストパルスとしてパルスが等時間間隔にて発生するクロックパルスを採用する場合が多い。
但し、典型的なテストパルスとしてパルスが等時間間隔にて発生するクロックパルスを採用する場合が多い。
誤動作が生じたか否かは、各テスト回路5にインプットされたテストパルスに対する応答パルスが同一の時系列となっているか否かによって判断され、前記クロックパルスの場合には、同一の等時間間隔に基づく時系列が維持されているか否かによって誤動作の有無が判断される。
そして、誤動作は、直流電源1に基づく充電電圧の大きさに基づくノイズ放電電圧の程度、及びテストパルスとノイズ信号の位相の相違(具体的には、特定の時刻におけるテストパルスに対するノイズ信号の放電時期の時間遅れ)によって左右されることが既に判明している。
このため、同期遅延コントローラー回路6は、特定のテストパルスが発生されたテストパルスを基準として、印加コントローラー回路7に対してノイズ印加スイッチ32の作動時間を適宜遅延させることによって、各遅延状態に対応する誤動作の発生の有無を検出している。
そして、同期遅延コントローラー回路6は、複数個の各テスト回路5と接続されている選択回路8を介してプローブ4によって選択されているテスト回路5と同一のテスト回路5を選択することができる。
尚、同期遅延コントローラー回路6は、選択回路8を通じてテストパルスを受信するだけでなく、各テスト回路5の作動状態をリセットするためのリセット信号を、選択回路8を介して各テスト回路5に伝達しているが、図1においては、そのようなリセット信号を伝達するラインの図示は省略されている。
尚、同期遅延コントローラー回路6は、選択回路8を通じてテストパルスを受信するだけでなく、各テスト回路5の作動状態をリセットするためのリセット信号を、選択回路8を介して各テスト回路5に伝達しているが、図1においては、そのようなリセット信号を伝達するラインの図示は省略されている。
図2の場合と同様に、図1の充電用抵抗素子(R1)の抵抗値を1MΩとし、放電用抵抗素子(R2)の抵抗値を630Ωとし、キャパシタンス(C)の値を150pFとし、かつ各テスト回路5内にて発生するクロックパルスの時間間隔を1μ秒としたうえで、図2に示すような波形のノイズ信号を特定のクロックパルスの発生時刻よりも10等分した時刻だけ遅延させて発生した場合(100n秒、200n秒・・・900n秒だけ遅延して発生した場合)において、誤動作が生ずるために必要な直流電源1における電圧の程度は図3に示すとおりであって、電源パルスが正であるか負であるか、及びプローブ4が電源側(V側)に接続されるか又はグランド側(G側)に接続されるかによってさしたる相違は生じていない。
但し、図3に示すように、今回試験したLSIはノイズ信号の放電時期が、各クロックパルスが発生する時間間隔の先頭の時期と中間の時期である場合(500n秒だけ遅延しているT5によって示す場合)に、前記電圧が最も小さくて済むことが判明している。
尚、図2の波形及び図3のテスト結果は、何れも印加コントローラー回路7からの信号によってノイズ印加スイッチ32が無接点スイッチ3である場合を記載した場合のデータであるが、機械的な接点スイッチ3の場合には、スイッチ3のonに伴うインダクダンス(L)の程度が大きいことを反映して、図2に対応する波形はより先鋭状態となり、かつ図3に対応する動作を生ずるために必要な直流電源1における電圧が、より小さな値で済むことが判明している。
但し、図3に示すように、今回試験したLSIはノイズ信号の放電時期が、各クロックパルスが発生する時間間隔の先頭の時期と中間の時期である場合(500n秒だけ遅延しているT5によって示す場合)に、前記電圧が最も小さくて済むことが判明している。
尚、図2の波形及び図3のテスト結果は、何れも印加コントローラー回路7からの信号によってノイズ印加スイッチ32が無接点スイッチ3である場合を記載した場合のデータであるが、機械的な接点スイッチ3の場合には、スイッチ3のonに伴うインダクダンス(L)の程度が大きいことを反映して、図2に対応する波形はより先鋭状態となり、かつ図3に対応する動作を生ずるために必要な直流電源1における電圧が、より小さな値で済むことが判明している。
前記基本構成(1)の装置を使用し、かつ前記基本構成(2)のように、プローブ4及び同期遅延コントローラー回路6によって選択されたテスト回路5を対象として、順次、図3に示すような誤動作を発生させるために必要な直流電源1における電圧を予め設定したうえで、順次各テスト回路5における固有のテストパルスの下に、同期遅延コントローラー回路6によるノイズ印加スイッチ32をonとする時刻の遅延の程度を適宜選択しながら、かつテスト回路5における操作の有無を検査することが可能となる。
テストパルスは、各テスト回路5において相違する場合があり、しかもクロックスパルスに限定される訳ではない。
実施例においては、テストパルスが予め発生時期及び順序が定められている擬似乱数であることを特徴としている。
このような擬似乱数を使用した場合には、クロックパルスの場合には検出し得なかった誤動作を改めて検出することが可能となり、各テスト回路5における誤動作の発生し易い部位を発見することが可能となる。
特に、典型的な擬似乱数であるM系列(maximum length sequence)は、図4に示すような、一定の段数を有する線形シフトレジスタ回路で、発生され得る最大周期の数の系列{ai}と定義されており(尚、図4において、hi=0又は1であり、かつai=0又は1である。)、主たる特性は以下のとおりである。
(i).周期は2n−1である(n=1、2・・・)
(ii).シフトレジスタの内容1周期(a0、a1、・・・an−1)からなる2n−1組の長さnのパターン(ai、ai+i・・・ai+n−1)(i=0、1・・・、2n−2)には、すべて零以外の長さnのパターンの全てが一度ずつ表れる。
(iii).−周期には、0は2n−1−1個、1は2n−1個存在し、従って、0と1とはほぼ2分の1の割合で含まれる。
(iv).M系列{ai}とこれの位相をシフトさせたM系列{ai+p}との否定的排他的論理を(NEOR)は再びM系列{ai+l}となる。
(i).周期は2n−1である(n=1、2・・・)
(ii).シフトレジスタの内容1周期(a0、a1、・・・an−1)からなる2n−1組の長さnのパターン(ai、ai+i・・・ai+n−1)(i=0、1・・・、2n−2)には、すべて零以外の長さnのパターンの全てが一度ずつ表れる。
(iii).−周期には、0は2n−1−1個、1は2n−1個存在し、従って、0と1とはほぼ2分の1の割合で含まれる。
(iv).M系列{ai}とこれの位相をシフトさせたM系列{ai+p}との否定的排他的論理を(NEOR)は再びM系列{ai+l}となる。
このようなM系列に基づくパルス信号は、広く採用されており、本実施例においても、容易に利用することができる。
このように、本発明に係る誤動作遅延装置及び誤動作検出方法は、プリント基板上の各LSIをテスト回路として、あるいはLSI内の各動作ブロックをテスト回路として効率的な誤動作の検出に寄与することが可能である。
1 直流電源
2 ノイズ放電回路
3 スイッチ
31 充電スイッチ
32 ノイズ印加スイッチ
4 プローブ
5 テスト回路(プリント基板)
51 入力端子
6 同期遅延コントローラー回路
7 印加コントローラー回路
8 選択回路
9 同軸ケーブル
10 TLPインパルス発生回路
11 テスト基板回路
12 同期トリガー信号
2 ノイズ放電回路
3 スイッチ
31 充電スイッチ
32 ノイズ印加スイッチ
4 プローブ
5 テスト回路(プリント基板)
51 入力端子
6 同期遅延コントローラー回路
7 印加コントローラー回路
8 選択回路
9 同軸ケーブル
10 TLPインパルス発生回路
11 テスト基板回路
12 同期トリガー信号
Claims (7)
- 直流電源と内部にテストパルス発生信号回路を有し、かつ誤動作検出回路をも有している複数個の各テスト回路との間を、直流電源側に位置している充電用抵抗素子(R1)及び充電スイッチと前記複数個の各テスト回路側に位置している放電用抵抗素子(R2)を備え、かつ前記充電用抵抗素子(R1)及び充電スイッチと前記放電用抵抗素子(R2)との接続ラインにおける双方の中間位置とアースとを接続しているキャパシタンス(C)を備えているノイズ放電回路を設け、当該ノイズ発生用放電回路とテスト回路との間に、ノイズ印加スイッチ及びプローブを介在させており、前記プローブが、複数個の各テスト回路を選択しかつ接続可能としたうえで、同期遅延コントローラー回路を前記複数個の各テスト回路に対し選択回路を介して接続し、当該同期遅延コントローラー回路が前記各テスト回路から受信したテストパルスの特定時刻に対する遅延時間を設定し、当該遅延時間に基づいて、ノイズ印加スイッチの作動に関与している印加コントローラー回路に対し、前記作動信号を発信する時期を制御することができるテスト回路の誤動作試験装置。
- 印加コントローラー回路からの信号に基づいて作動するノイズ印加用スイッチが無接点スイッチであることを特徴とする請求項1記載のテスト回路の誤動作試験装置。
- ノイズ印加用スイッチとプローブとが接続されている双方の中間位置とアースとの間に、過大電流通過用抵抗素子(R3)を接続していることを特徴とする請求項1、2の何れか一項に記載のテスト回路の誤動作試験装置。
- 請求項1、2、3の何れか一項に記載の誤動作検出装置を使用し、かつプローブ及び同期遅延コントローラー回路が同一のテスト回路を選択したうえで、直流電源の電圧値及び同期遅延コントローラー回路が設定する遅延時間を順次変化させたうえで、前記テスト回路における誤動作発生の有無を検出することに基づく誤動作検出方法。
- テストパルスが、同一間隔毎に発生するクロックスパルスであることを特徴とする請求項4記載の誤動作検出方法。
- テストパルスが予め発生時期及び順序が定められている擬似乱数であることを特徴とする請求4記載の誤動作検出方法。
- 擬似乱数として、M系列を選択することを特徴とする請求項6記載の誤動作検出方法。
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