JP6541456B2 - 試験装置 - Google Patents
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Description
コンデンサなどの電子部品の信頼性試験を行なう場合、その特性劣化を加速した後に電気性能が測定される。電子部品にはいくつかの劣化モードが存在し、そのうち急峻な高速パルス電圧を連続して印加されることによって加速される劣化モードがある。これは、実環境におけるサージ電圧による劣化に相当するモードである。このような劣化モードに対する品質レベルを確保するためには、急峻な高速パルス電圧を連続して印加することが可能な試験装置を用いた信頼性試験が必要となる。
<全体構成>
図1は、実施の形態1に従う試験装置10の全体構成を示す図である。図1を参照して、試験装置10は、制御部100と、直流電圧源110と、パルス印加回路120と、電流検出部130と、インターフェイス部140とを含む。なお、図1には、電子部品である供試体Cが試験装置10に接続されている構成が示されている。本実施の形態では、供試体Cがコンデンサである場合について説明するが、他の電子部品であってもよい。
図2は、実施の形態1に従うパルス印加回路の回路構成を説明するための図である。図2を参照して、パルス印加回路120は、スイッチSWa,SWbと、バイパス抵抗Rとを含む。
試験装置10では、図2に示すようにバイパス抵抗Rを有していることから、供試体Cに適切な大きさ(すなわち、電圧値Vоnと電圧値Vоffとの電位差)のパルス電圧を印加することができる。ここでは、バイパス抵抗Rの有無により供試体Cに印加されるパルス電圧がどのように変化するのかを説明する。
図6は、実施の形態1に従う制御部100の機能構成を説明するための図である。図6を参照して、制御部100は、電圧制御部200と、スイッチング制御部202と、測定部204と、判定部206とを含む。典型的には、これらの各機能は、制御部100のCPUがメモリであるROM(Read Only Memory)やRAM(Random Access Memory)に格納されたプログラムを実行することによって実現される。なお、これらの機能の一部または全部はハードウェアで構成されていてもよい。たとえば、スイッチング制御部202の全部または一部はロータリースイッチで構成されていてもよい。
図7は、実施の形態1に従う試験装置10の処理手順の一例を示すフローチャートである。なお、フローチャートの開始時点においては、供試体Cの残留電荷は完全に放電されており、スイッチSWa,SWbはオフ状態であるとする。
実施の形態1によると、パルス印加回路にバイパス抵抗を設けることにより、絶縁抵抗値の大きい供試体であっても、高速パルス電圧を適切に供試体に印加することができる。そのため、簡易な構成により供試体への信頼性試験を適切に行なうことができる。また、これにより、絶縁抵抗値の大きい供試体の良否判定を精度よく行なうこともできる。
実施の形態1では、1つの供試体Cに対して劣化加速試験を行なう構成について説明した。実施の形態2では、1度に複数の供試体Cに対して劣化加速試験を行なう構成について説明する。
上述した実施の形態では、供試体の良否判定や判定結果の報知などを試験装置において実行する構成について説明したが、これに限られず、試験装置に接続された外部装置において、供試体の良否判定や判定結果の報知などを行なってもよい。すなわち、試験装置の機能(図6に示す機能構成)の一部を他の外部装置で行なうように構成されていてもよい。たとえば、外部装置は、試験装置から受信した測定結果に基づいて供試体の良否を判定して、判定結果を報知してもよい。また、外部装置は、直流電圧源の設定値や、スイッチング制御信号のパルス幅、パルス間隔、パルス電圧の印加時間などの情報を試験装置に送信してもよい。これによると、劣化加速試験以外の処理については外部装置において実行されるため、試験装置の処理負荷を軽減することができる。
Claims (5)
- 複数の供試体の信頼性を試験するための試験装置であって、
直流電圧源と、
前記直流電圧源の出力電圧をパルス電圧に変換可能な電圧変換器と、
前記電圧変換器から前記複数の供試体に出力される電圧を制御する制御部とを備え、
前記電圧変換器は、
前記複数の供試体のそれぞれに直列接続される複数のスイッチング素子と、
前記複数の供試体のそれぞれに接続され、前記複数のスイッチング素子の漏れ電流をバイパスするための複数のバイパス抵抗とを含み、
前記制御部は、
前記複数のスイッチング素子のオン期間が互いに重ならないように、前記複数のスイッチング素子のスイッチング動作を制御することにより前記複数の供試体の各々にパルス電圧を印加し、
前記複数の供試体の各々に前記パルス電圧が印加された後に、前記複数の供試体の各々から流れる電流を測定する、試験装置。 - 前記制御部は、前記複数の供試体の各々に前記パルス電圧が印加された後に、前記スイッチング素子のスイッチング動作を制御することにより前記直流電圧源の出力電圧を前記複数の供試体の各々に印加し、
前記複数の供試体の各々に前記出力電圧が印加されているときに、前記複数の供試体の各々から流れる電流を測定する、請求項1に記載の試験装置。 - 前記制御部は、前記複数の供試体の各々に流れる電流の測定結果を外部装置に出力する、請求項1または2に記載の試験装置。
- 前記制御部は、前記複数の供試体の各々に流れる電流の測定結果と予め定められた判定基準とに基づいて、前記複数の供試体の各々の良否を判定する、請求項1〜請求項3のいずれか1項に記載の試験装置。
- 前記制御部は、
前記複数の供試体の各々に流れる電流の測定結果に基づいて前記複数の供試体の各々の絶縁抵抗値を算出し、
当該算出された絶縁抵抗値が基準閾値以上である場合には当該供試体が良品であると判定し、
当該算出された絶縁抵抗値が前記基準閾値未満である場合には当該供試体が不良品であると判定する、請求項4に記載の試験装置。
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