JP2001338851A - コンデンサの試験方法及び試験装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】供試コンデンサにパルス電圧を印加して内部欠
陥を検出する試験において、供試コンデンサにより十分
な電流衝撃を与え、また複数回のパルス電圧を印加でき
るようにして、内部欠陥の検出能力を高める。 【解決手段】電流流路中に電流検出用の抵抗Ｒを備える
放電回路２２と、供試コンデンサ６と直流定電圧電源１
との間及び放電回路２２との間を接、断するスイッチＳ
Ｗ１、ＳＷ２と、放電電流の値を検出し予め定められた
電流レベルより大であるか否かを判定する放電電流レベ
ル検出回路５と、スイッチＳＷ１、ＳＷ２を制御して、
供試コンデンサを所定の時間ずつ充電、放電させる制御
回路３とを設け、供試コンデンサ６を充電した後、続い
て強制的に放電させ、そのときの放電電流がしきい値電
流を越えるか否かで内部欠陥の有無を判定する。充電電
流に制限を設けないので、供試コンデンサに十分な電流
衝撃を与えることができる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、コンデンサの試験
方法及び試験装置に関し、特に、供試コンデンサにパル
ス電圧を印加することによって供試コンデンサの内部の
欠陥の有無を検出する試験の方法と、その試験に供する
試験装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】コンデンサの良、不良は、第一次的に
は、静電容量Ｃ、誘電正接ｔａｎδ及び漏れ電流ＬＣと
いう電気的諸特性の初期値が定格を満足しているかどう
かによって、明確に判定される。しかしながら、実際の
使用に当っては、保証した或る一定の期間にわたって致
命的故障が生じないこと、すなわち信頼性も求められる
ので、コンデンサの製造者は、コンデンサを出荷する前
に、上記の信頼性を満たさないものをスクリーニングし
なければならない。また信頼性設計や製造プロセスの改
善に資するためにも、電気的特性の不良と信頼性の不良
とを区別して検出することが望まれる。

【０００３】ところが、電気的特性の良否はその電気的
特性の測定値で直ちに判定できるのに対し、信頼性に関
わる不良は、例えば誘電体膜中に存在するごく微小な耐
圧不足部分などのような、コンデンサに内包される故障
原因（内部欠陥）に起因することが多く、電気的諸特性
の初期値を測定するだけの特性検査では、信頼性不良を
検出できない場合が多い。そこで、従来、内部欠陥に基
く信頼性不良のコンデンサを検出する方法がいろいろ研
究されて、パルス性の電圧を供試コンデンサに印加する
ことで、内部欠陥を内包するコンデンサを検出したりス
クリーニングできることが見出され、コンデンサの一連
の製造工程中に、コンデンサに対してパルス電圧を印加
する試験工程が取り入れられるようになった。

【０００４】しかしながら、上述のようにパルス電圧の
印加を行うようにした場合でも、従来、その試験工程で
はただパルス電圧を印加するだけで、コンデンサの良否
は、後に行われるコンデンサのＣ、ＬＣ、ｔａｎδなど
の特性検査によって判定するようにしていた。つまり、
従来のパルス電圧印加試験では、特性検査の段階になっ
て始めて、そこで電気的特性が不良のコンデンサを取り
除くことはできるものの、その特性不良が（パルス電圧
の印加には関りなく）もともと製造の過程で発生してい
たものであるのか、或いはパルス電圧の印加によって生
じたものであるのかを区別して検出することはできず、
製造プロセスの改善などに関する情報を得ることができ
なかった。

【０００５】これに対し、特開平７−３２０９９３号公
報に、コンデンサにパルス電圧を印加したときの充電時
の電圧波形をモニターし、その電圧波形に異常が生じる
か否かで、内部欠陥の有無の判定をパルス電圧の印加と
同時にリアルタイムで行なう技術が開示されている。図
８に、上記公報の図１に記載されたブロック図を再掲し
て示す。尚、図８は、本発明と上記公報との対比を明瞭
にするために、上記公報の図１の記載から一部を省略し
て示す。また便宜上、図中の各構成要素の符合に、公報
に用いられているものとは異なる符合を用いて示す。図
８を参照して、ＣＰＵ３３は、直流定電流定電圧電源３
０を制御するために、Ｄ／Ａ（ディジタル・アナログ変
換回路）３２に信号を出力する。ＩＳＯＡＭＰ（絶縁増
幅器）３１は、Ｄ／Ａ３２より送られたアナログ信号を
増幅して、直流定電流定電圧電源３０に送る。直流定電
流定電圧電源３０は、このＩＳＯＡＭＰ３１からの信号
により制御される。そこで、ＣＰＵ３３は、供試コンデ
ンサ３５の充電時間が一定になるように直流定電流定電
圧電源３０の電流値を設定すると共に、直流定電流定電
圧電源３０を制御して、供試コンデンサ３５にパルス電
圧を印加する。挙動電圧検出回路３４は、供試コンデン
サに印加されたパルス電圧の波形をモニターして、予め
決められている挙動電圧リミット値と比較する。そし
て、パルス電圧の挙動電圧値が挙動電圧リミット値を越
えた場合、ＣＰＵ３３に異常信号を報せる。これにより
供試コンデンサの内部欠陥の有無を判別する。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】上述の特開平７−３２
０９９３号公報の試験方法によれば、供試コンデンサに
対して充電時間が一定になるように電流を調整しながら
パルス電圧を印加し、それと同時にそのパルス電圧の印
加による充電電圧の波形をモニターして、充電電圧の波
形に異常が生じるか否かを知ることによって、内部欠陥
の有無をパルス電圧の印加と同時にリアルタイムで判定
できる。

【０００７】しかしながら、上記公報記載の試験方法の
場合、パルス電圧の印加時に充電時間が一定になるよう
に充電電流を制御しているので、内部欠陥の検出能力は
十分ではないといえる。すなわち、パルス電圧の印加に
よる内部欠陥の検出は、電圧の印加に伴うパルス性の突
入電流が加速要因になって、欠陥部分に電流集中、局部
発熱が生じる結果、コンデンサにショート或いはオープ
ンが起こることに基くもので、コンデンサ充電時の突入
電流は、内部欠陥のない正常なコンデンサを破壊しない
範囲で、大きい方が内部欠陥の検出能力或いはスクリー
ニング効果が高いと考えられる。これに対し、上記公報
記載の試験方法のようにした場合は、パルス電圧印加時
にコンデンサに流れ込む突入電流が抑制されることにな
るので、パルス電圧の印加は十分な電流衝撃にならず、
それだけ内部欠陥の検出効果は低くなってしまう。

【０００８】また、上記公報記載の方法による試験で
は、パルス電圧の印加を一回しか行わないので、複数回
のパルス電圧印加を行わないと検出できないような内部
欠陥は検出できず、この点からも内部欠陥の検出能力の
向上が望まれる。

【０００９】従って、本発明は、供試コンデンサにパル
ス電圧を印加し、その印加と同時にリアルタイムで内部
欠陥を検出するコンデンサの試験において、供試コンデ
ンサに対してより十分な電流衝撃を与え、また複数回の
パルス電圧を印加できるようにして、内部欠陥の検出能
力或いはスクリーニング効果をより高めることを目的と
するものである。

【００１０】

【課題を解決するための手段】本発明のコンデンサの試
験方法は、放電させた供試コンデンサにパルス電圧を印
加することによって供試コンデンサの内部の欠陥の有無
を検出するコンデンサの試験方法において、前記パルス
電圧の印加により供試コンデンサを充電した後、続いて
供試コンデンサを強制的に放電させ、そのときの放電電
流が予め定められたしきい値電流を越えることが有るか
無いかにより、前記内部の欠陥の有無を判定することを
特徴とする。

【００１１】また、前記パルス電圧の印加による充電と
これに続く放電及び異常の有無の判定とを複数回繰り返
し、パルス電圧の印加回数と放電電流がしきい値電流よ
り大と判定された放電の回数とが一致するか否かによ
り、内部欠陥の有無を判定することを特徴とする。

【００１２】

【発明の実施の形態】次に、本発明の実施の形態につい
て、図面を参照して説明する。本発明の第１の実施の形
態に係るコンデンサの試験装置のブロック図及び、これ
に用いる充放電切替え器の回路図を示す図１を参照し
て、本実施の形態に係る試験装置は、主としてパルス印
加回路４と、放電電流レベル検出回路５と、制御回路３
とで構成され、他に、必要に応じて、外部の装置９との
インタフェース回路８を設ける。インタフェース回路８
は、外部装置９と制御回路３との間で信号の受け渡しが
正常にできるように信号レベルを変換する回路である。

【００１３】パルス印加回路４は、供試コンデンサ６に
電圧を供給するための直流定電圧電源１と、充電と放電
とを切り替える充放電切替え器２とから構成される。充
放電切替え器２は、２つのスイッチＳＷ１、ＳＷ２から
なるスイッチ回路２３と、放電回路２２とからなり、上
記２つのスイッチの開閉が制御回路３中のタイミング回
路１０からの信号により制御されて、供試コンデンサ６
の充電、放電を切替える。すなわち、充放電切替え器２
の素子レベルでの回路図を示す図１（ｂ）を参照して、
２つの端子１８、１９は定電圧電源１の電圧出力端子と
接続される端子であり、別の２つの端子１１、１２は供
試コンデンサ６の２端子が接続される端子である。スイ
ッチＳＷ１は、供試コンデンサの２端子を定電圧電源１
の電圧出力端子に接続する充電用のスイッチであり、ス
イッチＳＷ２は、放電回路２２に接続する放電用のスイ
ッチである。これら２つのスイッチは、タイミング回路
１０からの開閉制御信号で互いに相補に開閉し、スイッ
チＳＷ１がオンでスイッチＳＷ２がオフのときは、供試
コンデンサ６に定電圧電源１が出力する電圧をパルス的
に印加する。一方、スイッチＳＷ１がオフでスイッチＳ
Ｗ２がオンのときは、２つの端子１１、１２の間を放電
回路２２で結んで、供試コンデンサ６を放電させる。放
電回路２２の電流経路中に挿入された抵抗Ｒは、放電回
路を流れる供試コンデンサの放電電流を電圧に変換する
ためのものであって、ここで発生した電圧は、２つの端
子１６、１７を介して放電電流レベル検出回路５に送ら
れる。

【００１４】放電電流レベル検出回路５は、放電回路２
２中に挿入された抵抗Ｒから電圧信号を受け取る。そし
て、抵抗Ｒの端子間電圧つまり供試コンデンサ６の放電
電流が予め決められている電流レベルより大になること
があるか否かによって、放電が正常であるか異常である
かを判定し、その判定結果を二値の放電電流確認信号で
制御回路３に送る。放電電流確認信号は、判定結果が正
常であれば“１”、異常であれば“０”である。

【００１５】制御回路３は、判定回路７とタイミング回
路１０とで構成され、放電電流レベル検出回路５からの
上記放電電流確認信号は、判定回路７に入力される。判
定回路７はタイミング回路１０と接続されていて、供試
コンデンサの放電と同じタイミングで、放電電流レベル
検出回路５からの放電電流確認信号を受け取る。また供
試コンデンサの充電と放電の組が規定の回数行われたこ
とを検出し、パルス印加終了信号をインタフェース回路
８を介して外部装置９に送る。同時に、充、放電の回数
と、放電電流レベル検出回路５が「正常」と判定したこ
とを示す放電電流確認信号の発生回数とを比較し、両者
が一致すれば「内部欠陥なし」、不一致であれば「内部
欠陥あり」と判定して、判定結果の二値信号をインタフ
ェース回路８を介して外部装置９に送る 本実施の形態においては、上述の構成の試験装置を用
い、以下のようにしてコンデンサの内部欠陥の検出を行
う。先ず、パルス印加回路４は、タイミング回路１０か
らの信号により、供試コンデンサ６にパルス電圧を加え
続いて放電させる動作を、規定の回数実行する。パルス
電圧の印加、放電の回数は、タイミング回路１０のスイ
ッチ設定で、１からｎ（ｎは、自然数）回までの任意の
回数に設定できる。ここで、設定する印加回数とは、充
電とそれに続く放電の１組で１回とする。

【００１６】タイミング回路１０は、図２に示すよう
に、充電用スイッチＳＷ１と放電用スイッチＳＷ２とが
互いに相補に開閉するように信号を送って、予め時間が
決められた充電と放電が交互に行われるように指令す
る。すなわち、各スイッチＳＷ１、ＳＷ２はそれぞれ、
タイミング回路１０からの開閉制御信号が“１”のとき
オン状態になり、“０”のときオフ状態になるようにさ
れていて、スイッチＳＷ１の開閉制御信号とスイッチＳ
Ｗ２の開閉制御信号とは位相が１８０度ずれている。こ
れによって２つのスイッチＳＷ１、ＳＷ２は互いに相補
に開閉し、スイッチＳＷ１がオンでスイッチＳＷ２がオ
フのとき、供試コンデンサ６に直流定電圧電源１の出力
電圧がパルス的に供給され、スイッチＳＷ１がオフでス
イッチＳＷ２がオンのとき、供試コンデンサ６は放電電
流検出用の抵抗Ｒを介して放電する。このとき、各スイ
ッチＳＷ１、ＳＷ２がオンである時間及びオフである時
間、つまり供試コンデンサ６の充電時間Ｔ１及び放電時
間Ｔ２は、各スイッチへの開閉制御信号のパルス幅及び
パルス間隔で決る。

【００１７】その場合、充電時間Ｔ１は、供試コンデン
サに十分な電流衝撃を与えることができる時間に設定
し、放電時間Ｔ２は、放電電流レベル検出回路が十分応
答できる時間で、しかも供試コンデンサ６が次の充電の
ために十分放電し切る時間に設定する。例えば、供試コ
ンデンサはＥＳＲ（等価直列抵抗）が１０Ωで容量値が
１０μＦのものであり、回路抵抗が０．５Ωの場合であ
れば、時定数は１０５μｓｅｃになるので、パルス電圧
印加時の充電時間Ｔ１はその時定数の数倍以上に設定す
る。また放電時間Ｔ２も、充電時間Ｔ１と同様に、放電
電流検出用抵抗Ｒの抵抗値と、供試コンデンサ６のＥＳ
Ｒ及び容量値から算出した時定数の数倍以上に設定す
る。

【００１８】尚、図２に示すように、２つのスイッチＳ
Ｗ１、ＳＷ２の開閉のタイミングをずらして、充電用ス
イッチＳＷ１がオン状態になる以前に放電用スイッチＳ
Ｗ２をオフ状態にし、また充電用スイッチＳＷ１がオフ
状態になってから放電用スイッチＳＷ２をオン状態にし
ているのは、供試コンデンサの放電時に直流定電圧電源
１からの電圧供給が重ならないようにするためである。
また第１回目の充電に先だって放電を１回行っているの
は、供試コンデンサ６の残留電荷を除去し、パルス電圧
による電流衝撃が供試コンデンサに十分に印加されるよ
うに予備放電をするためである。

【００１９】上述のようにして供試コンデンサ６にパル
ス電圧を加えて充電し、続いて放電を行わせると、供試
コンデンサからの放電電流は各回毎に放電電流検出用の
抵抗Ｒを流れ、その両端に生じた電圧がその都度放電電
流レベル検出回路５に送られる。

【００２０】放電電流レベル検出回路５は、コンパレー
タと基準電圧源とを備えていて、抵抗Ｒの端子間電圧と
基準電圧の値とを比較することによって、抵抗Ｒでの電
圧降下が予め決められている規定の電圧を越えるか否か
を判定する。ここでいう規定の電圧とは、内部欠陥のな
いコンデンサが放電するときの電流値を基準にしたしき
い値電圧で、内部欠陥を内包するコンデンサと内部欠陥
のないコンデンサとを区別する値である。内部欠陥のあ
るコンデンサにパルス電圧を印加すると、そのときのパ
ルス状の突入電流により内部欠陥に電流集中、局部発熱
が生じ、コンデンサの内部でショート故障が発生するこ
とがある。その場合、放電電流は、内部欠陥のない正常
なコンデンサであれば、図３（ａ）に示すように、或る
しきい値を越える大きい電流が流れるところ、内部欠陥
によってショートを起こしたコンデンサでは、内部欠陥
のない正常なコンデンサに比べて小さくなり、図３
（ｂ）に示すように、上記のしきい値以下の放電電流し
か流れない。上述の規定の電圧とは、図３中のしきい値
電流に相当する電圧であって、コンパレータでの比較の
基準になる基準電圧を変えることによって、適当に設定
できる。

【００２１】放電電流レベル検出回路５は、抵抗Ｒでの
電圧降下の大小を判定した結果、放電電流が図３に示す
しきい値以上の電流であると判定すれば、“１”の放電
電流確認信号を判定回路７に送る。放電電流がしきい値
以下であれば、放電電流確認信号は“０”のままで、判
定回路７への信号送出はしない。

【００２２】判定回路７は、放電電流レベル検出回路５
からの放電電流確認信号の発信回数をカウントする。但
し、１回目の予備放電時の放電電流確認信号はカウント
しない。判定回路７はパルス電圧の印加が規定の回数行
われた後、パルス電圧の印加回数と放電電流確認信号の
発信回数とを比較し、比較結果が一致した場合、「内部
欠陥なし」と判定して、その判定結果の二値信号をイン
タフェース回路８を介して外部装置９に送る。

【００２３】図４に、内部欠陥のない供試コンデンサに
おける、パルス電圧の印加開始から試験終了までのタイ
ミングチャートを示す。図４を参照して、最上段のパル
ス印加開始信号は、外部装置９から入力されるパルス電
圧印加開始命令であり、この命令に基いて、スイッチＳ
Ｗ１及びスイッチＳＷ２の開閉が始められる。第２段目
のスイッチＳＷ１への指令信号と第３段目のスイッチＳ
Ｗ２への指令信号は、タイミング回路１０からスイッチ
ＳＷ１又はスイッチＳＷ２への開閉制御信号であり、こ
れらの開閉制御信号に応じて、供試コンデンサにおける
充電、放電の組合せが複数回（この場合は、４回）繰り
返される。第４段目の供試コンデンサの放電電流は、放
電電流レベル検出回路５が検出した放電電流の波形であ
る。この放電電流波形を拡大すると図３に示す波形にな
るのであるが、図４の場合は時間軸のスケールが図３に
おけるよりも非常に長いので、放電電流は一本毎のひげ
状にみえる。第５段目は、放電電流レベル検出回路５が
出力する放電電流確認信号の波形を示す。放電電流レベ
ル検出回路５は、第４段目の放電電流が規定のしきい値
より大きかった場合、第５段目に示すような、“１”の
放電電流確認信号を判定回路７に送る。この例の場合
は、第４段目に示すように、４回の放電電流が全てしき
い値を越えているので、放電電流確認信号が４回出力さ
れている。

【００２４】判定回路７は、供試コンデンサにおけるパ
ルス電圧の印加回数と放電電流確認信号の発信回数とを
カウントし比較すると共に、外部装置９に対して「結果
読取り可」を示す信号として、第７段目に示すパルス印
加終了信号を出力する。このとき、判定回路７は、上述
のパルス電圧の印加回数と放電電流確認信号の発信回数
とが一致した場合、“１”の判定結果信号を出力する。
一致しなかった場合、判定結果信号は“０”である。こ
の図に示す例の場合は、４回のパルス電圧印加に対して
放電電流確認信号が４回出力されていて、両方のカウン
ト数が一致しているので、判定回路７は、第６段目に示
すように、“１”の判定結果信号を出す。これにより、
この供試コンデンサは、「内部欠陥なし」と判断され
る。

【００２５】次に、図５に、内部欠陥を持つコンデンサ
の試験におけるタイミングチャートの一例を示す。第１
段目のパルス印加開始信号に応じて、供試コンデンサに
対するパルス電圧の印加とそれに続く放電が始まる。以
後、第２段目及び第３段目に示すように、充、放電の組
合せが４回繰り返され、その都度、供試コンデンサの放
電電流としきい値電流との比較が行われる。この図に示
す例の場合は、第４段目に示すように、初回の予備放電
を除いて第３回目の放電から、放電電流がしきい値を下
回るようになっている。これは、内包されていた内部欠
陥が第３回目のパルス電圧の印加による突入電流でショ
ートを起したためである。結果として、放電電流レベル
検出回路５は、放電電流がしきい値を越えている第１回
目と第２回目の放電に対してのみ“１”の放電電流確認
信号を出力し、第３回目と第４回目の放電に対しては、
放電電流確認信号を出力しない。

【００２６】判定回路７は、充電、放電が規定の４回行
われたことを検出して、パルス電圧の印加回数と放電電
流確認信号の発信回数との比較を行うと同時に、第７段
目に示すように、「結果読取り可」を示すパルス印加終
了信号を出力するが、この例の場合、パルス電圧の印加
回数が４回であるのに対し放電電流確認信号は２回であ
って両方のカウント数が一致しないので、第６段目に示
すように、判定結果信号は“０”で、この供試コンデン
サは「内部欠陥あり」と判断される。

【００２７】これまで述べたように、本実施の形態によ
れば、コンデンサの内部欠陥を、パルス電圧印加試験を
行ったその時にリアルタイムで検出でき、単なる電気的
諸特性の不良と内部欠陥に基く不良とを区別することが
できる。しかもパルス電圧の印加に当って充電電流には
制限を設けていないので、供試コンデンサには過渡現象
によって決る大きな突入電流が流れ、十分な電流衝撃が
与えられる。従って、従来の試験方法に比べ、内部欠陥
の検出能力は、その分高い。またパルス電圧を複数回印
加するようにしているので、従来とは違って、１回のパ
ルス電圧印加では検出できないような内部欠陥でも検出
できる。

【００２８】これまで述べた試験方法は、次に述べる第
２の実施の形態に係る試験装置のように、コンピュータ
のソフトウエアで充放電切替え器２をコントロールする
ように構成した装置でも実現できる。すなわち、第２の
実施の形態に係る試験装置のブロック図を示す図６を参
照して、この図に示す試験装置は、第１の実施の形態に
係る試験装置における制御回路３（図１参照）をＣＰＵ
２０で置き換えた構成となっている。

【００２９】本実施の形態においては、ＣＰＵ２０のソ
フトウエアでタイミングを作り出して充放電切替え器２
をコントロールするが、その場合、ＣＰＵ２０と充放電
切替え器２のタイミングコントロール及び、放電電流レ
ベル検出回路５との信号のやり取り、すなわち充放電切
替え器２中のスイッチの開閉制御信号などのタイミング
信号や、放電電流レベル検出回路からの放電電流確認信
号或いはパルス電圧の印加回数と放電電流確認信号の発
信回数との比較結果を示す信号のような判定信号や、直
流定電圧電源１の出力電圧を設定するための電圧設定信
号等々の信号のやり取りは、インタフェース回路８を介
して行う。

【００３０】本実施の形態のようにＣＰＵ２０を用いる
と、パルス電圧の印加回数の設定をソフトウエアででき
るようになる。また品種の異なるコンデンサを試験する
ときは、品種名を入力するなどのことで、供試コンデン
サの品種切替えに伴う試験条件の変更を容易に行うこと
ができるようになり、更には直流定電圧電源１の出力電
圧、すなわち供試コンデンサに印加するパルス電圧の電
圧値設定も容易にコントロール可能になる。

【００３１】尚、これまで述べた第１及び第２の実施の
形態は、放電電流の検出に、放電回路中に挿入した抵抗
Ｒにおける電圧降下を利用した例であるが、本発明はこ
れに限られるものではない。例えば図７に示す充放電切
替え器のように、抵抗Ｒに替えてコイルＬを用い、その
両端の電圧波形で放電電流を検出するようにしてもよ
い。

【００３２】

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
供試コンデンサにパルス電圧を印加することによって内
部欠陥を検出するコンデンサの試験において、コンデン
サの内部欠陥を、試験しているその時にリアルタイム
で、しかも従来より高い検出能力で検出できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第１の実施の形態に係るコンデンサの
試験装置のブロック図及び、これに用いた充放電切替え
器の回路図である。

【図２】スイッチの開閉制御信号の波形を示す図であ
る。

【図３】供試コンデンサの放電電流波形の例を示す図で
ある。

【図４】内部欠陥のないコンデンサを試験したときのタ
イミングチャートを示す図である。

【図５】内部欠陥のあるコンデンサを試験したときのタ
イミングチャートの一例を示す図である。

【図６】第２の実施の形態に係る試験装置のブロック図
である。

【図７】放電電流検出手段の他の例を示す回路図であ
る。

【図８】従来の技術に係るコンデンサの試験装置の一例
のブロック図である。

【符号の説明】

１ 直流定電圧電源 ２ 充放電切替え器 ３ 制御回路 ４ パルス印加回路 ５ 放電電流レベル検出回路 ６ 供試コンデンサ ７ 判定回路 ８ インタフェース回路 ９ 外部装置 １０ タイミング回路 １１，１２，１６，１７，１８，１９ 端子 ２０ ＣＰＵ ２２ 放電回路 ２３ スイッチ回路

Claims (15)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 放電させた供試コンデンサにパルス電圧
   を印加することによって供試コンデンサの内部の欠陥の
   有無を検出するコンデンサの試験方法において、 前記パルス電圧の印加により供試コンデンサを充電した
   後、続いて供試コンデンサを強制的に放電させ、そのと
   きの放電電流のレベルにより前記供試コンデンサの内部
   の欠陥の有無を判定することを特徴とするコンデンサの
   試験方法。
2. 【請求項２】 前記内部の欠陥の有無を、前記放電電流
   が予め定められたしきい値電流を越えることが有るか無
   いかにより判定することを特徴とする、請求項１に記載
   のコンデンサの試験方法。
3. 【請求項３】 請求項１又は請求項２に記載のコンデン
   サの試験方法において、 前記パルス電圧の印加による充電とこれに続く放電及び
   内部の欠陥の有無の判定とを複数回繰り返すことを特徴
   とするコンデンサの試験方法。
4. 【請求項４】 請求項３に記載のコンデンサの試験方法
   において、 前記供試コンデンサに対するパルス電圧の印加回数と放
   電電流が前記しきい値電流を越えた放電の回数とが一致
   するか否かによって、内部の欠陥の有無を判定すること
   を特徴とするコンデンサの試験方法。
5. 【請求項５】 放電させた供試コンデンサにパルス電圧
   を印加することによって供試コンデンサの内部の欠陥の
   有無を検出する構成のコンデンサの試験装置において、 前記パルス電圧の印加により供試コンデンサを充電した
   後、続いて供試コンデンサを強制的に放電させ、そのと
   きの放電電流のレベルにより前記供試コンデンサの内部
   の欠陥の有無を判定するように構成したことを特徴とす
   るコンデンサの試験装置。
6. 【請求項６】 前記内部の欠陥の有無を、前記放電電流
   が予め定められたしきい値電流を越えることが有るか無
   いかにより判定するように構成したことを特徴とする、
   請求項５に記載のコンデンサの試験装置。
7. 【請求項７】 請求項５又は請求項６に記載のコンデン
   サの試験装置において、 前記パルス電圧の印加による充電とこれに続く放電及び
   内部の欠陥の有無の判定とを複数回繰り返すように構成
   したことを特徴とするコンデンサの試験装置。
8. 【請求項８】 請求項７に記載のコンデンサの試験装置
   において、 前記供試コンデンサに対するパルス電圧の印加回数と放
   電電流が前記しきい値電流を越えた放電の回数とが一致
   するか否かによって、内部の欠陥の有無を判定するよう
   に構成したことを特徴とするコンデンサの試験装置。
9. 【請求項９】 請求項５乃至８のいずれかに記載のコン
   デンサの試験装置において、 前記放電電流のレベルの検出を、放電電流の流路中に挿
   入した抵抗の２端子間の電圧で行うように構成したこと
   を特徴とするコンデンサの試験装置。
10. 【請求項１０】 請求項５乃至８のいずれかに記載のコ
    ンデンサの試験装置において、 前記放電電流のレベルの検出を、放電電流の流路中に挿
    入したコイルの２端子間の電圧で行うように構成したこ
    とを特徴とするコンデンサの試験装置。
11. 【請求項１１】 直流定電圧源と、 二端子の電流流路からなる放電回路であって、電流の流
    路中に前記二端子間を流れる電流の値を検出する電流検
    出手段を備える放電回路と、 供試コンデンサの二端子と前記直流定電圧源の電圧出力
    端子との間及び前記放電回路の二端子との間を接続し又
    は切断するスイッチ手段と、 前記電流検出手段により放電回路の電流流路中を流れる
    電流の値を検出すると共に、検出した電流値が予め定め
    られた電流レベルより大であるか否かを判定して判定結
    果を二値信号に変換する放電電流レベル検出手段と、 前記スイッチ手段を制御して、前記供試コンデンサの二
    端子を、前記直流定電圧源の電圧出力端子又は前記放電
    回路の二端子に切替えて、所定の時間ずつ接続させる制
    御手段とを少なくとも備えるコンデンサの試験装置。
12. 【請求項１２】 直流定電圧源と、 二端子の電流流路からなる放電回路であって、電流の流
    路中に前記二端子間を流れる電流の値を検出する電流検
    出手段を備える放電回路と、 供試コンデンサの二端子と前記直流定電圧源の電圧出力
    端子との間及び前記放電回路の二端子との間を接続し又
    は切断するスイッチ手段と、 前記電流検出手段により放電回路の電流流路中を流れる
    電流の値を検出すると共に、検出した電流値が予め定め
    られた電流レベルより大であるか否かを判定して判定結
    果を二値信号に変換する放電電流レベル検出手段と、 前記スイッチ手段を制御して、前記供試コンデンサの二
    端子を、前記直流定電圧源の電圧出力端子又は前記放電
    回路の二端子に切替えて、所定の時間ずつ接続すること
    を複数回繰り替えさせる制御手段と、 前記供試コンデンサの二端子と直流電圧源との接続回数
    と前記放電電流レベル検出手段の出力信号の出力回数と
    を比較して一致するか否かを判定し、判定結果を二値信
    号に変換する判定手段とを少なくとも備えるコンデンサ
    の試験装置。
13. 【請求項１３】 直流定電圧源と、 二端子の電流流路から放電回路であって、電流の流路中
    に前記二端子間を流れる電流の値を検出する電流検出手
    段を備える放電回路と、 供試コンデンサの二端子と前記直流定電圧源の電圧出力
    端子との間及び前記放電回路の二端子との間を接続し又
    は切断するスイッチ手段と、 前記電流検出手段により放電回路の電流流路中を流れる
    電流の値を検出すると共に、検出した電流値が予め定め
    られた電流レベルより大であるか否かを判定し判定結果
    を二値信号に変換する放電電流レベル検出手段と、 前記放電電流レベル検出手段の出力信号及び外部からの
    信号に基いて、少なくとも、前記直流定電圧源の出力電
    圧を制御し、前記スイッチ手段をして、前記コンデンサ
    の二端子を前記直流定電圧源の電圧出力端子と放電回路
    の二端子とに切替えて所定の時間ずつ接続することを所
    定の回数実行させ、前記供試コンデンサの二端子と直流
    電圧源との接続回数と前記放電電流レベル検出手段の出
    力信号の出力回数とを比較して一致するか否かを判定
    し、判定結果を二値信号に変換することをソフトウエア
    で実行する手段とを備えるコンデンサの試験装置。
14. 【請求項１４】 前記放電回路の電流検出手段が抵抗で
    あることを特徴とする、請求項１１乃至１３に記載のコ
    ンデンサの試験装置。
15. 【請求項１５】 前記放電回路の電流検出手段がコイル
    であることを特徴とする、請求項１１乃至１３に記載の
    コンデンサの試験装置。