KR20040001119A

KR20040001119A - 캐패시터 내구성 시험장치

Info

Publication number: KR20040001119A
Application number: KR1020020036212A
Authority: KR
Inventors: 유동수; 송옥병
Original assignee: 대우전자주식회사
Priority date: 2002-06-27
Filing date: 2002-06-27
Publication date: 2004-01-07

Abstract

본 발명은 캐패시터와 같은 부품의 수명시험을 통해 상기 부품의 신뢰성을 측정하기 위한 캐패시터 내구성 시험장치에 관한 것이다.

그 특징으로, 전원공급수단(100)으로부터 공급되는 전원전압에 의해 임의의 시간 값으로 스위치 접점을 온/오프시키는 타임스위치(200)와; 상기 타임스위치(200)의 스위치접점과 연동되어 제 1접점과 제 2접점으로 접점의 주기를 변환하는 릴레이(300)와; 상기 릴레이(300)의 접점이 제 1접점 또는 제 2접점에 위치하게 되면 그에 따라 충방전하는 캐패시터(500)와; 상기 캐패시터(500)가 방전시 전원전압을 소모시키도록 하는 방전저항(400)을 포함하는 것을 특징으로 한다.

Description

캐패시터 내구성 시험장치{capacitor durability test device}

본 발명은 캐패시터 내구성 시험장치에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 캐패시터와 같은 부품의 수명시험을 통해 상기 부품의 신뢰성을 측정하기 위한 캐패시터 내구성 시험장치에 관한 것이다.

일반적으로, 캐패시터 또는 콘덴서는 전원을 공급받아 충전하고, 충전이 완료되면 이를 방전하는 것으로, 최근 들어 고용량 캐패시터를 전원장치로 사용되는 등 다양하게 이용되고 있다.

상기와 같은, 고용량 캐패시터는 전원장치의 전기에너지로 사용되는 경우 모든 전기 전자시스템에 사용도 될 수 있으며, 각종 이동식기기의 전원성능의 최적화 동력설비의 소형경량화 뿐만 아니라 충전기의 대체 및 사용량 절감과 같은 부차적인 효과를 얻을 수 있게 되는 것이다.

따라서, 본 발명은 상기와 같이 다양하게 이용되고 있는 캐패시터의 내구성을 시험하기 위한 장치로서 제품의 수명시험을 통해 제품의 신뢰성을 측정하기 위한 것이다.

본 발명은 상기와 같은 캐패시터의 내구성을 시험하기 위해 캐패시터가 충방전되는 횟수를 시험하고, 시험된 결과 값에 의해 캐패시터와 같은 전자부품의 신뢰성을 시험하는 동시에 캐패시터가 방전되는 시간을 단축하기 위하여 방전저항 값 혹은 부하를 높게 구성하여 보다 빠른 시간내에 시험을 행하고자 하는데 그 목적이 있다.

도 1은 본 발명에 따른 캐패시터 내구성 시험장치의 구성도.

도 2는 본 발명에 따른 캐패시터 내구성 시험장치의 다른 실시 예를 보인 구성도.

*도면의 주요부분에 대한 부호의 설명*

100 : 전원공급수단200 : 타임스위치

300 : 릴레이400 : 방전저항

500 : 캐패시터 600 : 카운터

본 발명을 이루기 위한 수단으로, 전원공급수단으로부터 공급되는 전원전압에 의해 임의의 시간 값으로 스위치 접점을 온/오프시키는 타임스위치와; 상기 타임스위치의 스위치접점과 연동되어 제 1접점과 제 2접점으로 접점의 주기를 변환하는 릴레이와; 상기 릴레이의 접점이 제 1접점 또는 제 2접점에 위치하게 되면 그에 따라 충방전하는 캐패시터와; 상기 캐패시터가 방전시 전원전압을 소모시키도록 하는 방전저항을 포함하는 것을 특징으로 한다.

바람직하게는 상기 타임스위치의 시간 값은 정전용량에 따라 캐패시터가 충방전되는 주기에 적합하도록 스위치가 온/오프되는 주기를 조절하도록 구성하고, 상기 캐패시터의 충방전되는 주기를 카운트하기 위해 카운터를 더 포함하여 구성한 것을 특징으로 한다.

이하, 본 발명의 바람직한 실시 예를 첨부된 도면을 참조하여 상세하게 살펴보면 다음과 같다.

도 1은 본 발명에 따른 캐패시터 내구성 시험장치의 구성도 이다.

도 2는 본 발명에 따른 캐패시터 내구성 시험장치의 다른 실시 예를 보인 구성도 이다.

도 1에 도시된 바와 같이, 캐패시터 내구성 시험장치는 전원공급수단(100), 타임스위치(200), 릴레이(300), 캐패시터(500) 및 방전저항(400)으로 구성되고, 상기 방전저항(400)은 캐패시터(500) 시료가 빨리 방전되도록 저항 값(부하) 및 내압이 큰 저항을 다수개를 직렬로 구성하는 것이 바람직하다.

또한, 상기 타임스위치(200)는 임의의 시간 값을 조절할 수 있으며, 상기 임의의 시간 값에 의해 스위치 접점이 온/오프 되도록 하여 상기 릴레이(300)접점이 제 1접점과 제 2접점 사이로 변환되도록 한다.

또한, 임의의 시간 값을 조절할 수 있는 타임스위치(200) 접점의 시간 주기는 정전용량에 따라 캐패시터(500)의 충방전 주기가 달리 구성되는 시험장치의 단점을 보안하기 위해 상기 타임스위치(200) 시간 값이 사용자가 임의의 시간 값으로 조절할 수 있는 구성하는 것이 바람직하다.

상기 전원공급수단(100)에서 공급되는 전원은 타임스위치(200)에 공급되면 상기 타임스위치(200)가 작동되면서 릴레이(300)의 접점이 제 1접점으로 변환되어 캐패시터(500) 시료에 전원이 공급되어 충전하고, 상기 타임스위치(200)의 설정된 시간이 되면 상기 타임스위치(200)는 차단되면서 릴레이(300)의 접점이 제 2접점으로 변환되어 캐패시터(500) 시료의 방전저항(400)을 통하여 단 시간 내에 방전하게 된다.

바람직하게는 도 2에 도시된 바와 같이, 캐패시터 시료(500)가 충방전되는 횟수를 카운트할 수 있는 카운터(600)를 타임스위치(200)에 포함하여 구성하거나 별도 추가 구성하여 상기 캐패시터(500)의 충방전되는 주기의 횟수를 카운트하여 내구성 시험한다.

따라서, 상기 캐패시터(500)의 정전용량의 감소량을 시험하여 상기 시험된 결과 값으로 캐패시터(500) 등과 같은 전자부품의 내구성을 시험할 수 있게 되는 것이다.

상기 캐패시터(500)의 신뢰성을 인정하는 조건으로 예를 들어, 캐패시터의 충반전되는 주기의 횟수가 100,000번 이상이고, 그 오차가 범위가 ±5% 이내에 포함하는 것으로 규정하여 도출되는 결과 값에 의해 내구성을 시험하게 되는 것이다.

또한, 본 발명의 바람직한 실시 예에 대하여 도시하고 또한 설명하였으나, 본 발명은 상기한 실시 예에 한정되지 아니하며, 청구범위에서 청구하는 본 발명의 요지를 벗어남이 없이 당해 본 발명이 속하는 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 누구든지 다양한 변형 실시가 가능한 것은 물론이고, 그와 같은 변경은 기재된 청구범위 내에 있게 된다.

이상에서 살펴본 바와 같이, 본 발명은 캐패시터와 같은 전자부품의 내구성을 시험을 위하여 상기 캐패시터의 방전시간을 단축하기 위해서 방전저항을 높게 구성하고, 정격전원을 공급하여 상기 전원전압에 의해 캐패시터가 충전하고 방전하는 횟수를 카운트하여 카운트된 횟수를 통해 상기 부품의 내구성 및 신뢰성을 비교할 수 있게 되는 것이다.

Claims

전원공급수단(100)으로부터 공급되는 전원전압에 의해 임의의 시간 값으로 스위치 접점을 온/오프시키는 타임스위치(200)와;

상기 타임스위치(200)의 스위치접점과 연동되어 제 1접점과 제 2접점으로 접점의 주기를 변환하는 릴레이(300)와;

상기 릴레이(300)의 접점이 제 1접점 또는 제 2접점에 위치하게 되면 그에 따라 충방전하는 캐패시터(500)와;

상기 캐패시터(500)가 방전시 전원전압을 소모시키도록 하는 방전저항(400)을 포함하는 것을 특징으로 하는 캐패시터 내구성 시험장치.
제 1항에 있어서, 상기 타임스위치(200)의 시간 값은 정전용량에 따라 캐패시터(500)가 충방전되는 주기에 적합하도록 스위치가 온/오프되는 주기를 조절하도록 구성한 것을 특징으로 하는 캐패시터 내구성 시험장치.
제 1항에 있어서, 상기 캐패시터(500)의 충방전되는 주기를 카운트하기 위해 카운터(600)를 더 포함하여 구성한 것을 특징으로 하는 캐패시터 내구성 시험장치.