JPWO2006077629A1 - 位置決め装置及び位置決め方法 - Google Patents
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Abstract
Description
また、上記接触感知用のプローブは、接触時の圧力による変形を抑制するために、剛性を向上させる必要があり、それに伴い、プローブ先端の球形状部分は一定サイズ以上の大きさにする必要があった。
そのため、プローブ先端の球形状部は、微小形状部へ近接させることが不可能となり、同部分の測定が不可能という欠点もあった。
この様な場合、ピンゲージ等を備える専用の測定器を用いるため、測定物を一旦取り出しオフラインで測定したり、また、ピンゲージが入らない微細形状においては、光学的な手段を用いて測定する必要があり、測定物を一旦取り出し、CCDカメラや等を備える顕微鏡にて、測定断面を拡大・形状測定をオフラインで実施する必要があった。
なお、一度取り外した測定物は、計測結果から再度追加工したいとしても、正確に元の場所に設置し直すことが困難であるため、計測結果に基づく正確な追加工を行うことが不可能であった。
この場合、上記で示した通り、CCDカメラ等を備える顕微鏡にて測定断面を拡大・形状測定をオフラインで実施する必要があった。
また、高精度レーザ測長器を選定した場合は、誤差5μm程度まで抑制できるものの、該高精度レーザ測定器で測長できる範囲が、例えば10mm±1mm程度に制限されてしまい、高精度レーザ測定器と測定対象物とを10mm±1mm程度の範囲に載置しなければならず、そのままでの実用的な使用が困難となる。
また、分解能0.1μmの駆動単位で制御する加工機において、加工された高精度ワークをサブミクロン単位で測定することが困難であるため、従来の接触位置決めから代替することも困難である。
上記制御手段による自動補正後の座標値を格納し、この基準座標値を元に位置決めを行う位置決め制御手段と、を備えたものである。
図1は、この発明の実施の形態1に係る位置決め装置を放電加工機に適用した場合の構成を示すものである。
図1において、放電加工機はNC等の軸制御手段1、軸駆動手段2、主軸ヘッド部3、加工槽4、定盤5等により構成されており、通常は、主軸ヘッド部にツール電極6、定盤側に加工ワーク7が設置されている。
ここで、非接触センサ8からの出力信号は、軸制御手段1に送信され、位置決め制御手段11によって、軸駆動手段2へ最適な軸送り指令を行う。
本実施の形態で説明する高精度非接触センサは、測長範囲に制限があり、分解能0.5μmで30mm±2mm程度、分解能0.1μmで5mm±0.3mm程度といった一般的なものを使用する。
非接触センサ8からの出力信号は、測長範囲の任意の位置(一般的に測長範囲の中間位置)にて、出力信号がH−L切替されるような出力仕様となっている。
本仕様は、あくまで任意位置で信号を発生させる手段の一例を示しており、他の方法でも代替可能である。
また、図3に示すシステムフォロー図にて軸駆動部2を制御させることにより、非接触センサ8と加工ワーク7側被測定部を一定距離に移動させ、その時の駆動軸の座標値を軸制御手段1により読み取ることが可能である。
位置決め指令が実行された場合、軸制御手段1からの指令に基づき、軸駆動部2が主軸ヘッド部3を駆動させることにより着脱センサユニット9に装着された非接触センサ8が加工ワーク7の非測定部(測定物21)に対し相対移動(接近動作)する。
上述したように、非接触センサ8には測長範囲が存在し、その任意の位置(例えば測長範囲の中間点)で測定物21を検出すると出力信号がLからHに切替わり、測長範囲内では、Hレベルを維持し、測長範囲を外れるとLレベルとなる。
S1) 位置決め指令を実行された場合、測定対象物への方向(この場合は+方向)へ、高速の軸移動を実施し、センサヘッド部が測定物へ移動する。
なお、高速の軸移動は、NC制御装置1にて設定可能な最大速度(例えば、リニア駆動の場合は50m/min)が設定可能である。
S2) 移動時において一定周期毎(例えば、1KHz程度から10Hz程度の範囲)に、非接触センサ8からの出力信号を参照し、L信号(任意座標より手前の座標)の場合には、移動を継続する。
S3) 非接触センサ8からの出力信号がH信号(任意座標から測定対象までの一定距離)の場合、軸移動を停止させる。
なお、非接触センサ8からのH信号を検出に伴うアプローチ停止指令後、実際に軸移動が停止するまでの距離がオーバーシュート距離である。(第1位置)
S4) 軸移動停止後、出力信号を再度参照し、移動に伴うオーバーシュート影響度に応じて、移動制御のシーケンス(軸方向及び軸移動速度)を変更する。
S5) S3)で軸停止した際、センサからの出力信号がLの場合、オーバーシュート量が大(図2の場合は、2mm以上(=センサと測定物21の距離が28mm以内))のため、高速軸移動速度より遅い標準速度(従来の位置決めに使用する速度等)にて、任意座標値まで軸戻し(この場合−方向)動作を実施する。
なお、S5)に基づく軸戻し中、一定周期毎(例えば、1KHz程度から10Hz程度の範囲)に非接触センサ8からの出力信号の参照を行い、出力信号がLからHになった時点(=センサと測定物21の距離が28mm程度)で軸移動を停止する。
S6) 一方、S3)で軸停止した際、上記出力信号がHの場合、或いは、S5)に基づく動作により、オーバーシュート量が小(図2の場合は、2mm以内)と認識できるため、高速軸移動速度より遅い微小送り速度(例えば、30mm/min程度から1mm/min程度の範囲において)にて、オーバーシュート量の補正を行う。
S7) S6)に基づく任意座標値まで軸戻し中、一定周期毎に出力信号の参照を行い、出力信号Lの時点(=センサと測定物21の距離が30mm)で軸移動を停止する。(第2位置)
S8) S7)の位置にて駆動軸の座標値(座標A)をNCなどの位置決め制御手段11にて読込みを行う。
なお、この座標値(座標A)は、本来位置決めすべき目標位置(30mm)から、微小送り速度で上記一定周期の最低単位分−方向への移動した際のオーバーシュート量を−方向移動した座標値となる。
S9) 座標値(座標A)読み込み後、引き続きS7)と反対方向(+方向)に微小送り速度でアプローチを行う。
S10) 反対方向(+方向)にアプローチ時、一定周期毎に出力信号の参照を行い、出力信号Hの時点で軸移動を停止する。(第3位置)
S11) S10)の位置にて軸移動の座標値(座標B)をNCなどの軸制御手段にて読込みを行なう。
なお、この座標値(座標B)は、本来位置決めすべき目標位置から、微小送り速度で上記一定周期の最低単位分+方向への移動した際のオーバーシュート量を+方向移動した座標値となる。
S12) アプローチ方向の違いによる出力信号のヒステリシスの値(アプローチ方向(+方向と−方向)で検出値に違いが発生する場合の、検出値のズレ量)を確認し、ヒステリシスの影響を除去するため、座標A及び座標Bの中点に軸移動を実施する。
S13) その地点を最終位置決め完了地点(座標C)とし、座標読込みを実施する。
また、オーバーシュート量が測定物と目標座標(アプローチ目標)の距離を越えない限り、衝突によるダメージをうけないため、移動速度をあげることができる。
但し、オーバーシュート量が大きくなりすぎると、目標座標までの座標補正時間が増大するため、測定時間を最短にするためには、軸戻し時の移動速度を適切に設定する必要がある。
リニア駆動装置などにより最大50m/minにて移動させた場合、遅延時間を0.01秒と見積もったとして、オーバーシュート量は、8.3mmとなり、実施例の装置においては、衝突などの問題が発生する恐れはない。
以下にそのプロセスを示す。
1) 深さ計測の基準となる面(計測基準点)に対して、上述した図3に示すプロセスにて高速の位置決め、及び同位置における駆動座標(NC座標1)の読込みをNCなどの駆動制御装置により行う。
2) 続いて、深さ計測部(深さ計測点)にて上記と同様の高速の位置決め、および同位置における駆動座標(NC座標2)の読込みをNCなどの駆動制御装置により行う。
3) 微小部分の深さは、上記座標1と座標2の相対座標より求めることができる。
つまり深さ計測値=NC座標1−NC座標2より算出することができる。
なお、位置決めにはオペレータが介在する必要は無く、プログラムやシステムにて自動化を容易に図ることが可能である。
しかし、本方法を利用する事により、加工機上でダイレクトに深さ計測を実施することが可能となる。
機上測定のメリットとして、加工後の測定物を移動させる必要がないため、測定物移動にともなう誤差要因を排除できるため、計測結果に基づき、形状補正のための追加工を容易に実現可能となる。
図5は、代表的なレーザ測長器の誤差量を示したデータである。
グラフのX軸(横軸)は、レーザヘッドと測定物の距離の駆動座標を、NCなどの駆動制御手段によって読み込んだ値である。
一方、上記座標値を正とした時に、その時のレーザ測長機が認識する座標データとの差(誤差量)をY軸(縦軸)に示している。
レーザ測長機の測定レンジ仕様は、28mm〜30mmとなっている。
図5(a)は駆動座標値からの28mm〜30mmのデータ、図5(b)は同29.9mm〜30.1mmのデータ、図5(c)は同29.99〜30.01mmのデータを示している。
しかし、実データでは、測定距離の応じて誤差量が増減しており、現状のレーザ測長精度のH/W精度の限界を示している。
±2mmのフルレンジの測定範囲において、最大誤差量は51μmとなる。
図5(a)においては、繰り返し精度(Data(1)〜(3))も取得しており、同一条件3回計測した計測結果も同時に示している。
その結果、3回中の計測結果間においてもばらつきが生じている。
すなわち、±2mmのフルレンジにて、高精度の絶対位置測定を実施することは困難であることがわかる。
以上より、レーザ測長器は、任意距離(この場合30mm)離れた測定物を計測する場合には誤差が非常に小さいこととなる。
よって、レーザ測長器を用いることで、測定物より任意距離離れた位置への非常に高精度な位置決めすることが可能であり、本実施の形態の位置決めシステムはこの仕組みを使用している。
なおこの場合、主軸とセンサ部を移動させる駆動手段である数値制御工作機械において、一定以上の静的精度を確保することが、測定精度向上の必須条件となる。
図6は、実施の形態2に係る位置決め装置を示すものである。
実施の形態1にて示される放電加工機において、さらに+X軸センサ31、−X軸センサ32、+Y軸センサ33、−Y軸センサ34、Z軸センサ35による、計5軸方向の非接触測長手段により構成されている。
後述する位置決めプロセスを実現するため、センサ間の相対座標値はあらかじめ求められている。
S21) あらかじめ電極をZ軸センサ35上に設置(30mm以上離す)し、Z軸位置決め指令を実行すると電極はZ軸センサ方向のZ軸方向に高速位置決めを実施する。
実施するプロセスは実施の形態1に示すプロセスと同様であるため、ここでは詳細を省く。
そして、位置決め完了後、駆動系の停止座標を、NCを代表とする軸制御手段1にて座標値の読込みを実施する。
この座標値は、Z軸センサ35より正確に30mm上方の座標を示している。
引き続き、電極を+X軸センサ31近傍に設置(30mm以上離す)する。
設置方法は、手動にてオペレータが簡易的に駆動系を操作して実施しても良いし、あらかじめ取得した電極形状データ及び、+X軸センサ31位置座標値に基づき、プログラムにより自動制御させても良い。
電極の設置完了後、+X方向位置決め指令を実行する。
電極は、上述と同様に+X軸センサ方向に高速に位置決めを実施し、完了後駆動座標をNCにて読込みを行う。
この座標値は、+X軸センサ31より正確に−30mmの座標を示している。
この座標値は、−X軸センサ32より正確に+30mmの座標を示している。
S23) 上記S21、S22の結果よりX方向幅の、+X軸センサ31及び−X軸センサ32間の電極幅中心座標が検出することができる。
すなわち、上記S21、S22による位置決め動作から取得した座標値より、電極のX軸方向の芯ズレ量を算出することができる。
この電極芯ズレ量は、+X軸センサ及び−X軸センサの位置は既知であるため、+X軸センサと−X軸センサの位置の中心座標Aがわかっていることから、仮に、電極が対称であれば、S21)で取得の座標値と、S22)で取得の座標値の中心座標Bが、上記座標Aに一致するはずである。しかしながら、座標Aと座標Bが一致しない場合、電極は対称でないことになり、その値が電極芯ズレ量となる。
電極の移動手段は、X軸センサへの設置時と同様に、手動にてオペレータが簡易的に駆動系を操作して実施しても良いし、あらかじめ取得した電極形状データ及び、+Y軸センサ33位置座標値に基づき、プログラムにより自動制御させても良い。
S24) 電極の設置完了後、+Y方向位置決め指令を実行する。
電極は、上述と同様に+Y軸センサ方向に高速に位置決めを実施し、完了後駆動座標をNCにて読込みを行う。
この座標値は、+Y軸センサ33より正確に−30mmの座標を示している。
この座標値は、−Y軸センサ34より正確に+30mmの座標を示している。
S26) 上記S24、S25の結果より、Y方向幅の、+Y軸センサ33及び−Y軸センサ34間の電極幅中心座標が検出することができる。
すなわち、S24、S25による位置決め動作から取得した座標値より、電極のY軸方向の芯ズレ量を算出することができる。
この電極芯ズレ量は、+Y軸センサ及び−Y軸センサの位置は既知であるため、+Y軸センサと−Yセンサの位置の中心座標Cわかっていることから、仮に、電極が対称であれば、S24で取得の座標値と、S25取得の座標値の中心座標Dが、上記座標C一致するはずである。しかしながら、座標Cと座標Dが一致しない場合、電極は対称でないことになり、その値が電極芯ズレ量となる。
なお、必要に応じて、S25、S26実施後、上記S22、S23の再実施により、X方向の芯ズレ量再測定を実施し、誤差量を最小限にすることが可能である。
上記までの一連の動作は、プログラムにても自動化させることも可能である。
ツール電極の主軸に対する高精度な芯ズレ補正を、従来の接触位置決めでは30mm/min程度以下に抑制させる必要があったが、本実施例においては、1000mm/min以上の高速位置決め動作が可能となる。
また、リニア駆動系などを利用することにおり、さらなる高速化も実現可能である。
実施の形態2においては、芯ズレ補正を実施するための、計5軸方向の非接触センサを用意する必要があるが、主軸にてC軸(回転軸)を併用する事により、XY平面に1軸、Z軸方向に1軸、計2軸分の非接触センサにて、同様の芯ズレ補正を実現可能である。
XY平面の4方向から計測する代わりに、C軸回転により1軸方向のセンサのみにより、測定物を4方向(±X、±Y)から測定することが可能である。
S31) C0°の位置にてレーザ測長器と測定物を任意の距離に制御し、その際の座標値Aを取得する(位置決めプロセスは実施の形態1にて明記)。
S32) C180°の位置にて、同様に制御し、座標値Bを取得する。
S33) 式1より芯ズレ量xを算出する(算出式に関しては、下記を参照)。
S34) C90°の位置にて、同様に制御し、座標値Dを取得する。
S35) C270°の位置にて、同様に制御し、座標値Eを取得する。
S36) 式2より芯ズレ量y算出する(算出式に関しては、下記を参照)。
m=Bx−Cx
n=Ax−Cx
(Cxは既知の値とする)
d/2=(m+n)/2 (dはX軸方向の電極の幅)
=Ax/2+Bx/2−Cx
x=Ax−d/2
=Ax/2−Bx/2+Cx ・・・式1
m2=Dx−Cx
n2=Ex−Cx
(Cxは既知の値とする)
e/2=(m2+n2)/2
=Dx/2+Ex/2−Cx
−y=Ex−e/2
=Ex/2−Dx/2+Cx
y=−Ex/2+Dx/2−Cx ・・・式2
x=Ax/2−Bx/2+Cx
y=−Ex/2+Dx/2−Cx
主軸のC軸駆動部において、回転に対する芯ブレ量が存在する場合、0°に対する90°、180°、270°におけるC軸芯ズレ量を測定しておく必要がある。
例えば、90°、180°、270°の場合のX方向芯ズレ量をX90、X180、X270とした場合、上記の算出式は以下の通りとなる。
x=Ax/2−(Bx−X180)/2+Cx ・・・式1’
y=−(Ex−X270)/2+(Dx−X90)/2−Cx ・・・式2’
すなわち、あらかじめ本データを取得する事により、上記算出式に補正を実施し、高精度な位置決めを実現可能である。
図10は、本実施の形態4に係る位置決め装置の放電加工機への適用例を示すものである。
放電加工機は、軸制御手段1、軸駆動手段2、主軸ヘッド部3、等により構成されている。
本実施の形態においては、実施の形態1、2にて示したXYZ軸方向計測が可能であるレーザ変位計を代表とする非接触センサ8が図6に示すように取り付けられている。
また、熱変位補正用基準ブロック52は、主軸3に直接取り付けられており、機械熱変位量を、基準ブロック52を代表点として計測可能としている。
非接触センサ8により、基準ブロック52を測定し、その位置計測結果が、時間を経過して異なった値となれば、その値を機械熱変位量と考えることができる。
非接触センサ8からの出力信号は、軸制御手段1に送信され、機械熱変異量を補正するように位置決め制御手段11によって、軸駆動手段2へ最適な軸送り指令を行うものである。
このNC座標値の変位は、工作機械が設置されている温度環境変化に応じて変位する、鋳物を中心とする構造体の機械熱変位量を示すことから、機械熱変位量を一定周期毎に取得することにほかならない。
図11に示される機械温度変化より機械熱変位量を算出することは、近似式を構築することで可能であるが、あくまで近似解であるため、機械熱変位量の補正に限界があることがわかる。
なお、近似式による補正の場合、機械熱変位量に対する補正は、1/2程度が限界となり、例えば、機械熱変位量による、電極先端での機械熱変位量が20μmの場合、補正を実施したとしても、依然10μm程度の熱変位に起因する誤差量が残存する。
なお、本実施の形態のような直接計測を実施する場合、加工を中断し、熱変位補正用基準ブロック52の計測による無駄時間が発生するが、上述した実施の形態のような非接触計測方式を採用することにより、軸移動速度を機械許容限界まで上げることができるため、無駄時間の発生の抑制が可能である。
Claims (11)
- 位置決め対象物と、該位置決め対象物との距離を非接触で測定し、任意の検出位置から所定範囲の測長エリアでのみ、位置決め対象物を検出すると検出信号を出力する測長手段とを相対的に移動させる移動手段と、
この移動手段により上記位置決め対象物及び測長手段を相対移動させる際に、上記測長手段からの検出信号を検出することにより上記移動手段を停止し、上記停止位置と任意検出位置とのオーバーシュート量を自動補正するための軸制御手段と、
上記制御手段による自動補正後の座標値を格納し、この基準座標値を元に位置決めを行う位置決め制御手段と、
を備えたことを特徴とする位置決め装置。 - 位置決め制御手段におけるオーバーシュート量補正は、上記測長エリアでの上記位置決め対処物の検出位置から実際に停止した第1位置から測長手段の検出位置まで低速移動を行い、測長エリアを外れたことを検出し停止する第2位置の座標値を求め、該第2位置から再度測長手段の検出位置まで低速移動を行ない、測長エリアでの検出位置に達し停止する第3位置の座標値を求め、上記第2位置の座標値及び第3位置の座標値の中間座標を基準座標値とすることを特徴とする請求項1乃至5何れかに記載の位置決め装置。
- 第1位置での停止位置が測長エリアを外れた場合、該測長エリアに入るように低速移動より早い所定の速度で逆方向に移動し、測長エリアより低速移動により第2位置へ移動することを特徴とする請求項2に記載の位置決め装置。
- 位置決め対象物は定盤に固定され、該定盤に対向しXYZ方向に移動可能な主軸に測長手段を取り付け、主軸の移動に伴う各位置での座標値を求め、位置決めを行うことを特徴とする請求項1乃至3何れかに記載の位置決め装置。
- 測長手段は定盤に対し±X軸方向、±Y軸方向、Z軸方向の計5軸固定され、該定盤に対向しXYZ方向に移動可能な主軸に位置決め対象物を取り付け、主軸の移動に伴う各位置での座標値を求め、位置決めを行うことを特徴とする請求項1乃至3何れかに記載の位置決め装置。
- 測長手段は定盤に対しXY軸方向、Z軸方向の計2軸固定され、該定盤に対向し任意の角度に回転制御可能な回転駆動部を有したXYZ方向に移動可能な主軸に位置決め対象物を取り付け、主軸の移動に伴う各位置での座標値を求め、位置決めを行うことを特徴とする請求項1乃至3何れかに記載の位置決め装置。
- 主軸の回転駆動部は、位置決め動作時に、90°、180°、270°回転することを特徴とする請求項6に記載の位置決め装置。
- 位置決め制御手段からの主軸NC座標値を一定時間単位毎に読込み、該取得データの変化量を用いて、主軸移動の際に機械熱変位を主因とする補正係数を加えることを特徴とする請求項1乃至7何れかに記載の位置決め装置。
- 測長手段により、位置決め対象物との距離を非接触で測定し、任意の検出位置から所定範囲の測長エリアでのみ、検出信号を出力する工程と、
この検出信号を検出することにより上記測長手段及び位置決め対象物の相対移動を停止する工程と、
上記検出信号検出時から相対移動を実際に停止した第1位置までのオーバーシュート量を補正する工程と、
この補正された基準座標値を元に位置決めを行う工程と、
を備えたことを特徴とする位置決め方法。 - オーバーシュート量補正工程は、第1位置から測長手段の検出位置まで低速移動を行い、測長エリアを外れたことを検出し停止する第2位置の座標値を求める工程と、
この第2位置から再度測長手段の検出位置まで低速移動を行ない、測長エリアでの検出位置に達し停止する第3位置の座標値を求める工程と、
からなり、上記第2位置の座標値及び第3位置の座標値の中間座標を基準座標値と決定することを特徴とする請求項9に記載の位置決め方法。 - 第1位置での停止位置が測長エリアを外れた場合、該測長エリアに入るように低速移動より早い所定の速度で逆方向に移動し、測長エリアより低速移動により第2位置へ移動することを特徴とする請求項10に記載の位置決め方法。
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