JP5082941B2 - 標線位置測定装置、標線位置測定用プログラム、および標線マーク - Google Patents

標線位置測定装置、標線位置測定用プログラム、および標線マーク Download PDF

Info

Publication number
JP5082941B2
JP5082941B2 JP2008059462A JP2008059462A JP5082941B2 JP 5082941 B2 JP5082941 B2 JP 5082941B2 JP 2008059462 A JP2008059462 A JP 2008059462A JP 2008059462 A JP2008059462 A JP 2008059462A JP 5082941 B2 JP5082941 B2 JP 5082941B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
mark
marked
marked line
line
test piece
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2008059462A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2009216494A (ja
Inventor
博志 辻
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shimadzu Corp filed Critical Shimadzu Corp
Priority to JP2008059462A priority Critical patent/JP5082941B2/ja
Priority to US12/379,393 priority patent/US8502871B2/en
Publication of JP2009216494A publication Critical patent/JP2009216494A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5082941B2 publication Critical patent/JP5082941B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T7/00Image analysis
    • G06T7/10Segmentation; Edge detection
    • G06T7/13Edge detection
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T7/00Image analysis
    • G06T7/70Determining position or orientation of objects or cameras
    • G06T7/73Determining position or orientation of objects or cameras using feature-based methods
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T2207/00Indexing scheme for image analysis or image enhancement
    • G06T2207/20Special algorithmic details
    • G06T2207/20068Projection on vertical or horizontal image axis
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T2207/00Indexing scheme for image analysis or image enhancement
    • G06T2207/30Subject of image; Context of image processing
    • G06T2207/30108Industrial image inspection
    • G06T2207/30164Workpiece; Machine component
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T2207/00Indexing scheme for image analysis or image enhancement
    • G06T2207/30Subject of image; Context of image processing
    • G06T2207/30204Marker

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Description

本発明は、試験片の標線位置を非接触ビデオ式で測定するための標線位置測定装置、標線位置測定用のプログラム、および、標線マークに関するものである。
従来から、材料試験機により試験片に機械的負荷を作用させたとき、標線の位置を光学的に検出することが行われている。試験片の標線に張り付ける標線シールとして、最も単純な例では、試験片の変形方向に直交する方向に直線状の標線マークを描いたシールを貼り付けることが知られている。ところが、単なる直線状の標線マークでは、試験片の変形方向に直交する方向に向って画素ごとの濃淡データを積算したとしても、十分な測定精度を安定的に得ることができないことは周知の事実である。
そこで現在では、単なる直線状の標線マークを改良することにより、試験片の変形方向に直交する方向に向って撮像データを積算したとき、多数の画素ピッチを含んだ補間計算が可能となるようにしている(特許文献1)。すなわち、白黒のはっきりした改良型の標線マークを用い、試験片の変形方向に直交する方向に向って撮像データを積算することにより、試験片の位置を表す座標xに関するプロファイルP(x)を求め、そのプロファイル値が所定の閾値と交わる2点のx座標値から標線位置を算出することが行われている。
特開平11−94719号公報
しかしながら、上記の改良型標線マークを使用したとしても、画素ピッチ単位での補間計算を前提としているので、撮像素子間距離の数分の一ないし数十分の一程度の測定分解能を得るのが限界である。換言すると、白黒の標線マークをビデオカメラで撮像しているので、撮像素子間の補間計算まで行って測定分解能を高めることはできなかった。
本発明に係る標線位置測定装置は、試験片に付されている標線の位置を非接触ビデオ式により測定する装置であって、連続した階調濃度分布が前記標線を挟んで線対称となるよう分布している標線マークを撮像し、標線マーク画像データを出力するビデオカメラと、前記標線マーク画像データに基づいて、前記標線の位置を演算する演算手段とを備え、前記演算手段は、前記標線の位置変位に伴って前記標線マークがX軸方向に変位するとき、前記標線マークの変位方向と直交するY軸方向に前記標線マーク画像データを積算して関数f(x)を求め、予め定めた直交する2つの関数と前記関数f(x)との相関をそれぞれ算出し、得られた2つの算出結果の比に基づいて前記標線の位置を演算する、ことを特徴とする。
本発明に係る標線マークは、試験片の標線位置を非接触ビデオ式により検出するための標線マークであって上記の標線位置測定装置に用いることを特徴とする。
本発明に係る標線位置測定用プログラムは、試験片に付されている標線の位置を非接触ビデオ式により測定する装置に用いるための標線位置測定用プログラムであって、連続した階調の濃度分布が前記標線を挟んで線対称となるよう分布している標線マークの画像データを入力する処理と、前記標線マーク画像データに基づいて前記標線の位置を演算する際に、前記標線の位置変位に伴って前記標線マークがX軸方向に変位するとき、前記標線マークの変位方向と直交するY軸方向に前記標線マーク画像データを積算して関数f(x)を求め、予め定めた直交する2つの関数と前記関数f(x)との相関をそれぞれ算出し、得られた2つの算出結果の比に基づいて前記標線の位置を演算する処理とをコンピュータで実行させることを特徴とする。
本発明によれば、線対称となっている連続階調画像を標線マークとして使用しているので、白黒などの2値画像を用いる場合に比べて、標線の測定分解能を極めて高めることができる。
以下、図面を参照して、本発明の実施の形態を詳細に説明する。
<実施の形態1>
図1は、本発明を適用した非接触ビデオ式伸び計の全体構成図である。本図において、TPは試験片であり、図示しない材料試験機の上つかみ具2および下つかみ具4により把持されている。試験片TPに付けられているG1およびG2は標線である。この標線G1,G2の上には標線シールが貼り付けてあり、その標線シール上には標線マーク(後に詳述する)が印刷されている。ここで、標線マークは標線シール上に印刷されているものであるが、標線マークと標線シールは一体として機能するので、以下、単に標線マークM1,M2と呼ぶ。
なお、標線マークM1,M2はシールとして試験片TPに貼り付けるほか、試験片TPの表面にインクを吐出もしくは塗布することにより形成してもよい。また、図1では、標線マークM1,M2の下面にある標線G1,G2が透過して見えるように描いてあるが、実際には、標線マークM1,M2のみが観測対象となる。
本明細書において、標線マークM1,M2を含む標線マークの総称を指すときには、単に標線マークMという。同様に、標線G1,G2を含む標線の総称を指すときには、単に標線Gという。
6はビデオカメラであり、その撮影視野内には少なくとも標線マークM1,M2が含まれるように、レンズあるいはズーム倍率等の設定をしておく。ビデオカメラ6は、後に詳述するように、標線マークM1,M2を捕捉して画像データ(以下、標線マーク画像データともいう)を出力する。
8はコンピュータであり、その内部には、画像データを取り込むためのインタフェースI/Oのほか、演算処理および各種制御用のCPU,RAM,ROMが含まれている。コンピュータ8には、表示装置10,入力装置12,外部記憶装置14が接続されている。コンピュータ8のROMには、標線マークM1,M2の位置を演算するための演算プログラムが記憶されている。その演算処理については、後に詳述する。なお、このコンピュータ8は、図示しない材料試験機のコントローラとしても機能するので、材料試験機を制御するための各種インタフェースおよび制御回路(いずれも図示せず)も含んでいる。
図1の右側部分には、標線位置を測定するうえで必要な座標の方向を描いてある。試験片TPに負荷が作用されると標線間距離は伸びるが、その伸びる方向をX軸としてある。換言すると、標線G1,G2に直交する方向をX軸方向としている。したがって、標線G1,G2に平行な方向がY軸方向となる。
標線間距離を測定する際には、2つの標線G1,G2の位置をCPUでそれぞれ演算する必要がある。しかし、2つの標線G1,G2それぞれの位置を演算する手法は同じであるので、一方の標線位置を演算する過程について以下に説明していく。
図2は、標線マークM1を拡大した図である。本図に示すように、標線G1が変位する前(すなわち、試験片TPに負荷が作用されていないとき)のX座標を0としている。標線マークM1のうち、X座標=0を挟んで±πの範囲内には、連続した黒色濃度分布が上下対称に印刷されている。いわゆる、上下対称のグレイスケールがX座標=±πの範囲内に描かれている。その対称軸は、標線G1と一致している。より具体的に述べると、X座標=0の黒色濃度は1(100%)であり、X座標=±πの黒色濃度は0(0%)となるように連続した階調の濃度分布が描かれている。X座標が±πを超えた領域は白色(黒色濃度0)である。
図2に示した標線マークM1の横方向(Y軸方向)長さは、ビデオカメラ6で撮像して得られた標線マーク画像データをY軸方向に積算するのに適した長さにしておく。また、X軸方向の黒色濃度は、例えば8ビットで表現される階調(=256階調)としておく。
本実施の形態において、X軸方向の黒色濃度は、次の数式1で表される濃淡分布を有しているものとする。
説明の都合上、いま試験片TPに負荷を作用させたとき、標線マークM1がX軸のプラス方向に変位したものとする。その状態を示したのが図3(A)である。
図3(A)は、変位した標線マークM1の位置と、標線マーク画像データをY軸方向に積算する際の計算領域を示している。この図3(A)に示されているbは、変位した標線G1のX座標を表していると同時に、上下対称のグレイスケールにおける対称軸の位置でもある。
図3(A)に示した標線マークM1の位置において、ビデオカメラ6から得られた標線マーク画像データをコンピュータ8でY軸方向に積算(計算領域は−π〜+π)すると、図3(B)に示すような関数f(x)が算出される。
上記の関数f(x)は、次の数式2で示される。
ここで、aは、光学系の倍率,カメラと標線マークM1との距離等により規定される標線マークの大きさに関連した定数である。bは、図3(B)に示した通り、計算領域(±π)内における標線マークの重心位置である。
以上の前提に基づいて、本実施の形態における演算の原理を説明する。
まず次の数式3に基づいて、上記の関数f(x)とcos x の相関を計算し、その計算結果をx相関と定義する。これと同時に、上記の関数f(x)とsin x の相関を計算し、その計算結果をy相関と定義する。ここで、cos xとsin xについては、直交関数となっていることから便宜的に用いたものである。また、数式3に示してある=マークは、右辺により計算した結果を左辺にする、という意味である。
数式3から、x相関は次の数式4の通り計算される。
同様に、数式3から、y相関は次の数式5の通り計算される。
ここで、数式4と数式5から、x相関とy相関のベクトル位相を求めると、次の数式6の通りとなり、bの値を計算することができる。
なお、数式6から明らかなように、数式2で用いた定数aはbの値に何の影響も与えないことが判る。また、数式6から明らかなように、bの値はx相関とy相関の比だけで決まるので、ビデオカメラのコントラストも計算結果に影響を与えない。さらに、変位位置を計算するために何らかの閾値も必要としないので、演算結果にばらつきが生じない。
以上が、本実施の形態によりbの値(すなわち、標線G1のX座標)を演算するための原理的説明である。
実際にコンピュータ8でbの値を計算するためには、数式3の演算を離散的に実行すればよい。すなわち、図3(B)において説明した関数f(x)とcos x の相関Rxを計算し、且つ、上記の関数f(x)とsin x の相関Ryを計算し、それら計算結果の比からtan-1 (Ry/Rx)を求めればよい。
図4は、標線位置を決定するための処理手順を示すフローチャートである。本図に示す処理手順は、プログラムの形態でコンピュータ8のROM(または外部記憶装置14)に記憶されており、CPUにより実行される。
ステップS1では、ビデオカメラ6から標線マーク画像データをCPU内のワークエリアに取り込む。
ステップS2では、図3(A),(B)で説明したように、試験片TPに負荷がかけられたときの関数f(x)を計算する。
ステップS3では、ステップS2で求めた関数f(x)とcos x の相関Rxを計算する。同時に、上記の関数f(x)とsin x の相関Ryを計算する。
ステップS4では、ステップS3で求めた計算結果の比からtan-1 (Ry/Rx)を計算し、その結果をbとする。
ステップS5では、ステップS4で求めたbの値を実際の長さに変換するための変換処理および校正処理を行う。
図5は、ビデオカメラ6の撮像素子が離散的に配置されていることにより生じる測定結果への影響を説明する図である。いま図5に示すように、X軸方向を−π〜+πの範囲で8分割する9個の撮像素子が有ると仮定する。そして、演算のために入力された信号の大きさが次の数式7で表され、bが0からπ/4まで(=1画素分)移動する場合を想定する。
すると、相関係数の計算に関わる撮像素子は−π/4,0,π/4,π/2の位置にある4素子だけであり、x,yの相関係数はそれぞれ以下のように計算される。
まず、x相関は次の数式8により求められる。
同様に、y相関は次の数式9により求められる。
そこで、数式8と数式9から、次の数式10を使ってβを求めると、βはbの関数となる。
このようにして数値計算した結果と理想的直線との関係は、図6に示す通りである。
図7は、図6に示した計算結果と理想的直線との誤差を示している。この図から明らかなように、計算に関わる素子は僅かに4素子であるにも拘わらず、計算領域(撮像範囲)の0.2%程度の精度が得られている。よって、撮像素子が離散的に配置されていることは、測定結果にほとんど影響を与えないことがわかる。
−実施の形態1による作用・効果−
(1)本実施の形態では、試験片TP上の標線Gを対称軸として、その両側に黒色濃度が徐々に下がっていく連続階調分布(いわゆるグレイスケール)を備えた標線マークMを用いた。その結果、従来から用いられてきた白黒の標線マークを用いる場合に比べて撮像素子間の補間までも行うことができるので、より高分解能を達成することができる。
(2)本実施の形態では、試験片TP上の標線Gを対称軸として、その両側に黒色濃度が徐々に下がっていく連続階調分布をビデオカメラで撮影しているので、撮像素子から出力される映像信号のレベルも連続的なものとなる。その結果として、高い測定精度を安定的に得ることができる。
(3)1つの撮像素子に着目すると、感光部分はその素子のある1部の領域にすぎないことになるが、従来から知られている白黒の標線マークでは境界部が通り過ぎてから隣の素子の感光部分が応答するまで映像出力が変化せず、適切な計算結果が得られなかった。他方、本実施の形態では、黒色濃度が徐々に下がっていく連続階調分布を撮像しているので、常に安定した位置演算を実行することができる。
(4)本実施の形態では、標線マークMを撮影するビデオカメラ側の設定、および、映像信号のコントラスに依存することなく、標線位置の演算を行うことができる。
(5)標線Gの位置を計算するに際して、所定値の閾値を用いることなく演算を実行することができるので、演算結果にばらつきが生じることがない。
(6)撮像素子が離散的に配置されていたとしても、標線マークMとして連続階調の黒色濃度を撮影しているので、撮像素子が離散的に配置されていることは、位置測定のための演算結果にほとんど影響を与えることがない。
−変形例−
実施の形態1における各構成要素は、以下に列挙するよう変形することができる。
(1)上述した標線マークMでは、黒色の連続階調分布を用いているが、有彩色の連続階調分布を線対称とした場合にも同様に適用可能である。また、対称軸位置での色濃度を1(100%)とすることなく、逆に0(0%)としてもよい。
(2)図1に示した構成では、1つのビデオカメラ6を用いて、その視野内に2つの標線マークM1,M2を捉えているが、図8に示すように、1つの標線マークに対して1つのビデオカメラを対応させることも可能である。これとは逆に、1つのビデオカメラを用いて3本以上の標線マークを補足し、それにより、複数の標線間距離を同時に測定することも可能である。
(3)実施の形態1では、試験片TPの伸びを測定しているが、1つの標線マークを使用することによって、伸び計と幅計の両機能を実現することも可能である。斯かる構成について、以下に説明する。
伸び計と幅計を同時に機能させるための全体構成は、図1に示した構成と同じである。但し、標線マークの画像として、線対称の濃度分布をX軸方向のみならず、Y軸方向にも備えた画像とする必要がある。
X軸方向の伸びと、Y軸方向の伸びを同時に測定するために、一例として、次の数式11に示す濃淡をもつ標線マークを使用することができる。

数式11は、無彩色のみならず有彩色にも適用し得ることは勿論である。
図9は、X軸方向の伸びと、Y軸方向の伸びを同時に測定するための濃度分布を示した一例である。なお、この図9においてはContrastという変数を用いているが、このContrastとは、通常の意味におけるコントラスト(明度差)ではなく、各座標位置における色濃度を1〜0の範囲で表したものである。
図10は、X軸方向の伸びとY軸方向の伸びを同時に測定するために、連続階調の色濃度分布を備えた標線マークの一例を示す。
<実施の形態2>
図11は、図3(B)に示した関数f(x)を用いることにより、標線Gの位置(=標線マークの重心位置)bを算出する手順を示した説明図である。
図3(B)に示した関数f(x)を算出する手順は実施の形態1で説明した通りであるので、説明は省略する。ここで述べる実施の形態2では、所定の閾値Thと関数f(x)との交点XおよびX2を求め、その中点をbの座標としている。
−実施の形態2による作用・効果−
本実施の形態では、従来から知られている閾値を使用しているので、図3(B)に示した関数f(x)を算出した後は、より簡便に標線の位置を算出することができる。
−変形例−
図11から明らかなように、実施の形態2で重要な数値は、閾値Thと関数f(x)との交点となるXおよびX2である。従って、これら交点XおよびX2を含む立上がり領域および立下り領域以外は、どのような濃度分布であってもよい。すなわち、標線マークの対称軸近辺における濃度は必ずしも連続階調とする必要はない。一例として、標線を挟んだX軸方向の所定領域を一定の濃度とした標線マークを用いることができる。
<実施の形態3>
図12は、図3(B)に示した関数f(x)を用いることにより、標線Gの位置(=標線マークの重心位置)bを算出する手順を示した説明図である。
図3(B)に示した関数f(x)を算出する手順は実施の形態1で説明した通りであるので、説明は省略する。ここで述べる実施の形態3では、試験片TPへ負荷を作用させる前に、標線マークMの濃淡分布を横方向に積分して関数f(x)を予め求めておく。次に、変位後の関数f(x)と一致するまでX軸上をΔτずつ移動させる。Δτは、所望する分解能である。これにより、標線マークMの重心位置bを求めることができる。関数f(x)をX軸上で移動させるためには、f(x −τ)とf(x)との相関を計算すればい。そして、最大の相関値を呈するτをbの座標とする。
−実施の形態3による作用・効果−
本実施の形態によれば、標線マークMの濃淡分布を横方向に積分して関数f(x)を予め求めておけばよいので、同一の標線マークMを用いるユーザにとっては、既知の関数f(x)を共用することができる。
−変形例−
実施の形態3では、1)試験片TPの標線Gと直交するX軸方向に負荷が作用される前に、標線Gと平行なY軸方向に標線マーク画像データを積算することにより、X座標を変数とする第1の関数f(x)を予め算出しておき、2)試験片TPに負荷が作用されたとき標線Gの位置変位に伴って標線マークMがX軸方向に変位した時点で、Y軸方向に前記標線マーク画像データを積算することにより、X座標を変数とする第2の関数f(x)を算出し、3)第1の関数f(x)と第2の関数f(x)との相関関数R12(τ)が最大値を呈するτを求めることにより前記標線の位置を判定していた。
しかし、X軸上を移動させる関数は上記第1の関数f(x)に限らず、正規分布曲線あるいは2等辺三角形など、任意な関数を用いることが可能である。
以上の説明はあくまで一例であり、本発明の特徴を損なわない限り、本発明は上述した実施の形態および変形例に限定されるものではない。また、本発明の技術的思想の範囲内で考えられる他の形態についても、本発明の範囲内に含まれる。
特許請求の範囲に記載した構成要素と、実施の形態との対応関係は次に例示する通りである。
試験片は、図1の試験片TPに相当する。標線は、図1の標線G1,G2に相当する。連続した階調の色濃度が標線を挟んで線対称となるよう分布している標線マークは、図1の標線マークM1,M2に相当する。ビデオカメラは、図1のビデオカメラ6に相当する。演算手段は、図1のコンピュータ8に相当する。
なお、本発明を解釈する上で上記の対応関係は何ら限定とならない。
本発明を適用した非接触ビデオ式伸び計の全体構成図である。 標線マークM1,M2の拡大図である。 標線マークM1,M2が変位したときの説明図である。 標線位置を決定するための処理手順を示すフローチャートである。 ビデオカメラ6の撮像素子が離散的に配置されていることにより生じる測定結果への影響を説明する図である。 ビデオカメラ6の撮像素子が離散的に配置されているときの計算結果と理想的直線との関係を示す図である。 図6に示した計算結果と理想的直線との誤差を示す図である。 2台のビデオカメラを使用した伸び計の説明図である。 X軸方向の伸びとY軸方向の伸びを同時に測定するための濃度分布を示した説明図である。 X軸方向の伸びとY軸方向の伸びを同時に測定するために、連続階調の色濃度分布を備えた標線マークの一例を示す図である。 実施の形態2の説明図である。 実施の形態3の説明図である。
符号の説明
2 上つかみ具
4 下つかみ具
6 ビデオカメラ
8 コンピュータ
10 表示装置
12 入力装置
14 外部記憶装置
G1,G2 標線
M1,M2 標線マーク

Claims (5)

  1. 試験片に付されている標線の位置を非接触ビデオ式により測定する装置であって、
    連続した階調濃度分布が前記標線を挟んで線対称となるよう分布している標線マークを撮像し、標線マーク画像データを出力するビデオカメラと、
    前記標線マーク画像データに基づいて、前記標線の位置を演算する演算手段とを備え、
    前記演算手段は、
    前記標線の位置変位に伴って前記標線マークがX軸方向に変位するとき、前記標線マークの変位方向と直交するY軸方向に前記標線マーク画像データを積算して関数f(x)を求め、予め定めた直交する2つの関数と前記関数f(x)との相関をそれぞれ算出し、得られた2つの算出結果の比に基づいて前記標線の位置を演算する、
    ことを特徴とする標線位置測定装置。
  2. 請求項1に記載の標線位置測定装置において、
    前記標線マークは、無彩色または有彩色の連続的な階調の濃度分布が所定の対称軸を挟んでいる画像として、標線シール上に印刷されていることを特徴とする標線位置測定装置。
  3. 請求項1または2に記載の標線位置測定装置において、
    前記試験片に対して負荷が作用されたとき、前記標線が、前記標線に直交するX軸方向および前記標線に平行なY軸方向に向って変位する際には、
    前記標線マークとして、
    連続した階調濃度分布が、前記試験片の標線を挟んで線対称となるよう連続分布している第1の濃度パターンと、
    連続した階調の色濃度が、前記試験片の標線上における所定の点を通り且つ前記標線と直行する直線を挟んで線対称となるよう連続分布している第2の濃度パターンとを併せ備えたマークを用いることにより、
    前記試験片のX座標およびY座標を算出することを特徴とする標線位置測定装置。
  4. 試験片の標線位置を非接触ビデオ式により検出するための標線マークであって
    請求項1から請求項3のいずれか一項に記載の標線位置測定装置に用いることを特徴とする標線マーク。
  5. 試験片に付されている標線の位置を非接触ビデオ式により測定する装置に用いるための標線位置測定用プログラムであって、
    連続した階調の濃度分布が前記標線を挟んで線対称となるよう分布している標線マークの画像データを入力する処理と、
    前記標線マーク画像データに基づいて前記標線の位置を演算する際に、前記標線の位置変位に伴って前記標線マークがX軸方向に変位するとき、前記標線マークの変位方向と直交するY軸方向に前記標線マーク画像データを積算して関数f(x)を求め、予め定めた直交する2つの関数と前記関数f(x)との相関をそれぞれ算出し、得られた2つの算出結果の比に基づいて前記標線の位置を演算する処理と
    をコンピュータで実行させることを特徴とする標線位置測定用プログラム
JP2008059462A 2008-03-10 2008-03-10 標線位置測定装置、標線位置測定用プログラム、および標線マーク Expired - Fee Related JP5082941B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008059462A JP5082941B2 (ja) 2008-03-10 2008-03-10 標線位置測定装置、標線位置測定用プログラム、および標線マーク
US12/379,393 US8502871B2 (en) 2008-03-10 2009-02-20 Gauge line position measuring device, program for measuring a gauge line position, and gauge line mark

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008059462A JP5082941B2 (ja) 2008-03-10 2008-03-10 標線位置測定装置、標線位置測定用プログラム、および標線マーク

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2009216494A JP2009216494A (ja) 2009-09-24
JP5082941B2 true JP5082941B2 (ja) 2012-11-28

Family

ID=41053178

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008059462A Expired - Fee Related JP5082941B2 (ja) 2008-03-10 2008-03-10 標線位置測定装置、標線位置測定用プログラム、および標線マーク

Country Status (2)

Country Link
US (1) US8502871B2 (ja)
JP (1) JP5082941B2 (ja)

Families Citing this family (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5282853B2 (ja) * 2010-09-06 2013-09-04 株式会社島津製作所 材料試験機
JP5378340B2 (ja) * 2010-10-14 2013-12-25 株式会社コベルコ科研 ひずみ測定装置およびひずみ測定方法
JP5549530B2 (ja) * 2010-10-21 2014-07-16 株式会社島津製作所 材料試験機および材料試験機の標線測定方法
JP5549531B2 (ja) * 2010-10-21 2014-07-16 株式会社島津製作所 材料試験機および材料試験機の試験片の幅測定方法
CN102003945B (zh) * 2010-10-28 2013-05-22 汪远银 一种虚拟光学引伸计的测量方法
KR101310345B1 (ko) * 2010-12-31 2013-09-23 전남대학교산학협력단 이미지 강도에 의한 변위측정 프로그램이 저장된 기록매체 및 변위측정 장치
US9053561B2 (en) * 2012-03-23 2015-06-09 Specialty Minerals (Michigan) Inc. System and method for workpiece measurement during forging by image processing
CN103376065B (zh) * 2012-04-26 2016-06-22 北京隆盛泰科石油管科技有限公司 类条形码引伸计系统及其测量应力应变全曲线的方法
CN109470165A (zh) * 2018-12-07 2019-03-15 广州大学 一种基于机器视觉的测量材料弯曲变形的引伸计测量方法
US11803943B2 (en) * 2019-06-25 2023-10-31 Illinois Tool Works Inc. Brightness and contrast correction for video extensometer systems and methods
CN110514330A (zh) * 2019-08-08 2019-11-29 西安中星测控有限公司 一种无源二维码压力传感器及其制备方法
CN110514329A (zh) * 2019-08-08 2019-11-29 西安中星测控有限公司 一种无源二维码载荷传感器及其制备方法
CN110806182A (zh) * 2019-10-30 2020-02-18 河海大学 基于远心镜头的高精度光学引伸计及测量方法

Family Cites Families (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB1448611A (en) * 1973-01-10 1976-09-08 Nippon Kokan Kk Method and apparatus for on-contact measurement of a gauge of a high temperature material
JPH0274814A (ja) * 1988-09-09 1990-03-14 Fujitsu Ltd 検出装置
JP3550605B2 (ja) * 1995-09-25 2004-08-04 株式会社ニコン 位置検出方法、それを用いた露光方法、その露光方法を用いた半導体素子、液晶表示素子又は薄膜磁気ヘッドの製造方法、及び位置検出装置、それを備えた露光装置
JPH0987632A (ja) * 1995-09-18 1997-03-31 Yaskawa Electric Corp コークス炉移動台車位置ずれ検出装置
WO1997047943A1 (fr) * 1996-06-14 1997-12-18 Kabushiki Kaisya Saginomiya Seisakusyo Dispositif pour controler l'alignement des roues et controle de l'alignement des roues
JP3750249B2 (ja) * 1997-02-03 2006-03-01 株式会社島津製作所 ビデオ式非接触伸び計
JPH10270304A (ja) * 1997-03-26 1998-10-09 Nikon Corp 露光パターンの評価方法、露光パターンの評価用マーク及び露光パターンの評価装置
JP3230466B2 (ja) * 1997-09-18 2001-11-19 株式会社島津製作所 光学式伸び計用標線マーク
JP2001201322A (ja) * 2000-01-21 2001-07-27 Japan Tobacco Inc 非接触伸び計ターゲットおよび非接触伸び計
US7061628B2 (en) * 2001-06-27 2006-06-13 Southwest Research Institute Non-contact apparatus and method for measuring surface profile
JP3899915B2 (ja) * 2001-12-06 2007-03-28 旭硝子株式会社 光学歪の評価方法および評価装置
JP3983573B2 (ja) * 2002-03-06 2007-09-26 富士重工業株式会社 ステレオ画像特性検査システム
JP3837503B2 (ja) * 2002-05-09 2006-10-25 独立行政法人産業技術総合研究所 3次元座標評価ゲージ
DE102004013441A1 (de) * 2004-03-18 2005-10-13 Beissbarth Gmbh Meßverfahren und Meßgerät zur Bestimmung der räumlichen Lage einer Radfelge sowie Fahrwerkvermessungseinrichtung
JP2006078345A (ja) * 2004-09-09 2006-03-23 Toyota Motor Corp 標点設定方法
EP1840686B1 (en) * 2005-01-19 2013-05-08 Mitsubishi Electric Corporation Positioning device and positioning method
JP2007256240A (ja) * 2006-03-27 2007-10-04 Aisin Seiki Co Ltd 表面歪み欠陥検査装置、検査方法及びコンピュータプログラム

Also Published As

Publication number Publication date
JP2009216494A (ja) 2009-09-24
US8502871B2 (en) 2013-08-06
US20090225167A1 (en) 2009-09-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5082941B2 (ja) 標線位置測定装置、標線位置測定用プログラム、および標線マーク
EP2889575B1 (en) Three-dimensional measurement apparatus, three-dimensional measurement method, and storage medium
CN109100100B (zh) 刚性测定装置以及刚性测定方法
US20100310128A1 (en) System and Method for Remote Measurement of Displacement and Strain Fields
CN106415663B (zh) 光学跟踪系统及光学跟踪系统的标记部姿势及位置算出方法
JP2006329628A (ja) 構造物における変形量計測方法
JP6170281B2 (ja) 三次元計測装置、三次元計測装置の制御方法、およびプログラム
CN107883874B (zh) 一种圆结构光的标定方法
EP3548838B1 (en) Wire rope measuring device and wire rope measuring method
JP5487946B2 (ja) カメラ画像の補正方法およびカメラ装置および座標変換パラメータ決定装置
KR101734372B1 (ko) 싱글 카메라 모듈을 이용한 이용자 거리 측정 방법
JP6634842B2 (ja) 情報処理装置、情報処理方法およびプログラム
JP2016066995A (ja) 像ズレ量算出装置、撮像装置、および像ズレ量算出方法
JP3508659B2 (ja) ビデオ式伸び計
JP2001201322A (ja) 非接触伸び計ターゲットおよび非接触伸び計
JP4240215B2 (ja) ビデオ式3次元位置計測装置およびビデオ式伸び計並びにビデオ式幅計
JP2008170282A (ja) 形状測定装置
KR20100080640A (ko) 디지털 카메라를 이용한 배관의 2차원 정도관리 방법 및 측정 시스템
TWI424373B (zh) 決定物件特徵之影像處理裝置及其方法
JP5549530B2 (ja) 材料試験機および材料試験機の標線測定方法
KR20180105215A (ko) 카메라 촬영 제어 방법 및 장치
JP5378340B2 (ja) ひずみ測定装置およびひずみ測定方法
JP2024047868A (ja) ラインセンサカメラの位置姿勢推定装置及び位置姿勢推定方法
JP2021162305A (ja) 測距システム、測距方法及び測距プログラム
JP2005249729A (ja) 設置ズレ検出システム

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20100805

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20120223

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120228

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20120426

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20120807

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20120820

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 5082941

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150914

Year of fee payment: 3

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees