JP3230466B2 - 光学式伸び計用標線マーク - Google Patents
光学式伸び計用標線マークInfo
- Publication number
- JP3230466B2 JP3230466B2 JP25326297A JP25326297A JP3230466B2 JP 3230466 B2 JP3230466 B2 JP 3230466B2 JP 25326297 A JP25326297 A JP 25326297A JP 25326297 A JP25326297 A JP 25326297A JP 3230466 B2 JP3230466 B2 JP 3230466B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- mark
- test piece
- shape
- profile
- elongation
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims description 9
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 38
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 239000010432 diamond Substances 0.000 description 4
- 239000003292 glue Substances 0.000 description 4
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 229910003460 diamond Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 239000003973 paint Substances 0.000 description 1
- 239000007921 spray Substances 0.000 description 1
- 238000005507 spraying Methods 0.000 description 1
- 238000004154 testing of material Methods 0.000 description 1
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/16—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring the deformation in a solid, e.g. optical strain gauge
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N3/00—Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress
- G01N3/02—Details
- G01N3/06—Special adaptations of indicating or recording means
- G01N3/068—Special adaptations of indicating or recording means with optical indicating or recording means
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2203/00—Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress
- G01N2203/02—Details not specific for a particular testing method
- G01N2203/06—Indicating or recording means; Sensing means
- G01N2203/0641—Indicating or recording means; Sensing means using optical, X-ray, ultraviolet, infrared or similar detectors
- G01N2203/0647—Image analysis
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)
Description
片を撮像することによって得られる画像データを用い
て、試験片の標線間の伸びを計測するに際して、その各
標線位置を識別すべく同位置に付されるマークに関す
る。
重を加えたときの伸びを、非接触のもとに計測する伸び
計として、カメラによる試験片の撮像信号を用いる、い
わゆる光学式伸び計が知られている。
標線位置をカメラによる撮像信号から識別するために、
その各標線位置にマークが付される。この標線マーク
は、通常、試験片の表面に直接的に印刷もしくは描画さ
れるか、もしくは標線マークが印刷されたシールを試験
片の該当位置に貼着され、また、カメラからの映像信号
に明確なコントラストの相違が得られるよう、例えばシ
ールの場合には白地に黒または黒地に白等、下地に対し
て反射率が大きく相違するようなマークとされるととも
に、試験片の表面に直接的に印刷等される場合には、そ
の試験片の表面の反射率と異なる反射率の色によってマ
ークが付される。
示するように、各標線に対応する位置において、試験片
Wの変形(伸び)方向xに直交する方向yに伸びる単純
な直線とされている。
うな光学式伸び計においては、一般に、カメラからの試
験片の撮像信号から各標線位置を特定するために、各画
素データを、試験片の変形(伸び)方向に直交する方向
(図5におけるy方向)に積分して、図6に例示するよ
うに、試験片の伸び方向(x方向)への濃淡のプロファ
イルP(x)を得て、そのプロファイルP(x)の立ち
上がり位置、立ち下がり位置、つまりプロファイルP
(x)とスレッシュホールドレベルThとの交点のx方
向座標を算出し、例えばその中央位置を標線位置とする
ような演算が行われる。なお、図においてLは画素のピ
ッチである。
を得ようとする場合、上記のプロファイルP(x)の補
間演算が必要になる。JISの1級(精度3μmもしく
は伸びの1%)を実現するには、精度の高い補間計算が
不可欠である。ここで、この補間演算においては、実用
上、計算速度を速くするために近似式の次数を低くする
ことが有益であり、最も計算速度が速い1次式で近似し
た場合には、立ち上がり位置Aおよび立ち下がり位置B
は下記の式によって算出される。
よって計算の誤差が左右されるという問題がある。この
誤差は、真のエッジが画素の中心上にあるときに0、画
素の中心から画素の大きさの半分だけ離れた位置にある
ときに最大になる傾向があり、例えば画素のピッチが
0.1mmであるとすると、図7に例示するようにマー
クの0.1mmの移動を周期としてその位置の計算結果
が蛇行するといった現象が見られる。その結果として、
伸びの計測結果が蛇行し、特に材料の比例弾性域での蛇
行は弾性率の計算精度が低下するという問題に繋がる。
ントラストの調整に大きく依存するが、ピントを最適に
調整し、コントラストを高めると、かえって蛇行の程度
が大きくなるという問題がある。
もので、計算速度の点で最も有利な1次式を用いた補間
計算によって、常に高精度の標線位置の特定が可能で、
もって高速で高精度の伸びを計測することのできる光学
式伸び計用標線マークの提供を目的としている。
め、本発明の光学式伸び計用標線マークは、光の反射率
が他部と相違する領域の境界形状が、当該マークを試験
片に付した状態で試験片の変形方向(x方向)に直交す
る方向(y方向)にこの境界の形状を積分したとききに
得られる関数が変形方向(x方向)への底辺を持つ二等
辺三角形となる形状であることによって特徴づけられ
る。
境界形状として、試験片の変形方向に直交する方向(y
方向)に複数個の菱形を並べた形状とすることが、標線
マークを付すときに、目視によりその中心線位置を感覚
的に正確に把握できるが故に好ましい。
的な形態としては、上記のような境界形状のマークが印
刷ないしは描画されて試験片表面に貼着するためのたシ
ール状のもの、試験片の表面に直接的に印刷されたも
の、試験片の表面に直接的にスプレー等によって描画す
べく、上記のようなマークに対応する形状に孔が穿たれ
たシート状ないしは板状のマスク等とすることができ
る。
に積分した結果としてのプロファイルの、y方向に伸び
るエッジ部分を傾斜させることにより、そのエッジ部分
の関数の補間計算に供されるデータ点数を増大させ、計
算速度の点で最も有利な1次の近似式を用いた補間計算
によってそのエッジ部分の直線を正確に求め、スレッシ
ュホールドレベルThとの交点を常に正確に求めようと
するものである。
クを用いた場合、そのマークをy方向に積分して得られ
るプロファイルは、図6に示したようにそのエッジ部分
がほぼy方向に沿ったものとなり、x方向への広がりは
狭く、そのx方向への画素ピッチとの関連において、そ
のエッジ部分の補間計算に用いられるデータ点数は限ら
れたものとなる。
のエッジ部分をy軸に対して傾斜させてx方向への広が
りを持たせると(図3,図4参照)、x方向への画素ピ
ッチLが同じであっても、そのエッジ部分の補間計算に
用いられるデータ点数は多くなり、正確にエッジの直線
を求めることができる。y方向への積分後のプロファイ
ルを二等辺三角形とすることにより、エッジの立ち上が
りと立ち下がりの双方を正確に捕らえることができ、標
線マークの中央を常に正確に特定することが可能とな
る。
イルを得るための実際の標線マークの輪郭形状として、
複数の菱形をy方向、つまり試験片の変形方向に直交す
る方向に並べたものとすれば、マークの中心線を目視に
よって正確に把握することが可能となり、マークを付す
る作業が容易となる。
実施の形態の説明図で、(A)は正面図で、(B)は背
面図である。また、図2はその本発明の実施の形態を試
験片Wに貼りつけた状態を示す図である。
ク本体3が黒色となっており、その裏面側には、マーク
本体3に沿った部分のみに糊4が施されている。なお、
この糊4の施工領域をマーク本体3に沿った幅の狭いも
のとすることは、試験の進行に伴う試験片Wの変形に対
してもシール1が相対的に回動等しにくく、好適であ
る。
線上に並べた形状となっている。各菱形は、この例にお
いて正方形であって、その各対角線が一直線上に並ぶよ
うに配列されている。また、各菱形の対角線は約1mm
程度としている。
試験片Wの伸び方向(x方向)に直交する方向(y方
向)に伸びる標線にマーク本体3が沿うように、裏面に
施された糊4を介して試験片Wに貼りつけられる。
をカメラで撮像して、その標線マーク近傍の各画素の濃
淡データを伸びに直交するy方向に積分すると、つま
り、より具体的には、各画素の濃淡データをy軸方向に
沿った1列ごとに積算すると、そのプロファイルP
(x)は、図3に示すように、伸び方向であるx方向に
底辺を持つ二等辺三角形となる。
ジ部分がx軸に対して垂直でなく傾斜し、x方向に所定
の広がりを持つため、エッジ部分の直線を1次式で近似
する補間計算を行う場合、図4に示すように、x方向へ
の画素ピッチLとの関連において、その計算に供するこ
とのできるデータ点数が、前記した従来のプロファイル
である図6の場合に比して大幅に増大し、誤差の生じに
くい正確な近似式を得ることができる。
き点は、マーク本体3の伸びる方向、つまり標線方向が
目視により明確に識別できる点である。すなわち、上記
のようにx方向に底辺を持つ二等辺三角形のプロファイ
ルを得るためのマーク形状は他にもあるが、複数の菱形
を一直線上に配列した形状は、そのマークの伸びる方向
が直線と同等に極めて分かりやすく、マーク付与作業が
容易となる。
ク本体3を黒とし、下地2を白とした例を示したが、黒
色の下地に白色のマーク本体を設けてもよいことは勿論
である。
にシールとして試験片に貼着するほか、試験片の表面に
直接的に印刷し、あるいは描画してもよく、描画する場
合、上記したようなマーク本体3の形状に孔を穿ったマ
スクを用い、そのマスクを介してスプレー塗料等により
試験片の表面に標線マークを描画してもよい。
射率が他部と相違する領域の境界形状、つまりマークの
輪郭形状を、当該マークを試験片に付した状態での試験
片の変形方向(x方向)に直交するy方向にこの境界の
形状を積分したときに得られる関数がx方向に底辺を持
つ二等辺三角形となる形状としているから、プロファイ
ルの両エッジ部分がx方向に対して広がりを持つ斜線と
なり、そのエッジの直線を補間により近似する際に用い
ることのできるデータ点数が多くなり、常に誤差の少な
い正確な近似式を得て高精度にエッジ位置を把握するこ
とができる。その結果、従来と同じ光学式伸び計を用い
ても、高精度の伸びの測定をすることが可能となった。
めのマークの具体的な形状として、複数の菱形が一直線
上に並んだ形状を採用すれば、標線位置を従来の直線形
のマークと同等に目視により容易に把握することができ
る。
図であり、(B)は背面図
を示す図
y方向に沿って積分した場合に得られるプロファイルの
説明図
れるプロファイルのエッジを求めるときの補間計算時に
用いることのできるデータ点数の説明図
に用いられる従来の標線マークの説明図
試験片の伸び方向に直交する方向に積分して得られるプ
ロファイルと、そのプロファイルのエッジを求める方法
の説明図
演算結果に現れる蛇行の説明図
Claims (2)
- 【請求項1】 カメラにより試験片を撮像することによ
って得られる画像データから、試験片に設定された少な
くとも2つの標線間の伸びを計測するに当たり、上記各
標線位置に付されるマークであって、光の反射率が他部
と相違する領域の境界形状が、当該マークを試験片に付
した状態で試験片の変形方向に直交する方向にこの境界
形状を積分したときに得られる関数が上記変形方向に底
辺を持つ二等辺三角形となる形状であることを特徴とす
る光学式伸び計用標線マーク。 - 【請求項2】 上記境界形状が、上記変形方向に直交す
る方向に複数個の菱形を並べた形状であることを特徴と
する、請求項1に記載の光学式伸び計用標線マーク。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP25326297A JP3230466B2 (ja) | 1997-09-18 | 1997-09-18 | 光学式伸び計用標線マーク |
US09/222,761 US6094259A (en) | 1997-09-18 | 1998-12-30 | Optical extensometer and reference line mark therefor |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP25326297A JP3230466B2 (ja) | 1997-09-18 | 1997-09-18 | 光学式伸び計用標線マーク |
US09/222,761 US6094259A (en) | 1997-09-18 | 1998-12-30 | Optical extensometer and reference line mark therefor |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH1194719A JPH1194719A (ja) | 1999-04-09 |
JP3230466B2 true JP3230466B2 (ja) | 2001-11-19 |
Family
ID=26541111
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP25326297A Expired - Fee Related JP3230466B2 (ja) | 1997-09-18 | 1997-09-18 | 光学式伸び計用標線マーク |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6094259A (ja) |
JP (1) | JP3230466B2 (ja) |
Families Citing this family (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20050145044A1 (en) * | 2004-01-06 | 2005-07-07 | Dublin Wilbur L.Jr. | Six degrees of freedom mirrored cantilever extensometer |
US8001734B2 (en) | 2004-05-18 | 2011-08-23 | Simpson Strong-Tie Co., Inc. | Moment frame links wall |
US6860156B1 (en) * | 2004-05-24 | 2005-03-01 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Combined in-plane shear and multi-axial tension or compression testing apparatus |
US7080561B2 (en) * | 2004-09-27 | 2006-07-25 | The Boeing Company | Visual documentation of micro-cracks during tensile coupon testing |
JP5082941B2 (ja) * | 2008-03-10 | 2012-11-28 | 株式会社島津製作所 | 標線位置測定装置、標線位置測定用プログラム、および標線マーク |
US8432537B2 (en) * | 2008-06-16 | 2013-04-30 | Duhane Lam | Photoelastic coating for structural monitoring |
JP2011112512A (ja) * | 2009-11-26 | 2011-06-09 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 形状計測装置及び方法並びにプログラム |
US8402670B2 (en) * | 2010-05-06 | 2013-03-26 | Toyota Motor Engineering & Manufacturing North America, Inc. | Tensile bar marking fixture |
US9228907B2 (en) | 2013-11-14 | 2016-01-05 | Nokia Technologies Oy | Flexible device deformation measurement |
CN107782242A (zh) * | 2017-09-26 | 2018-03-09 | 西安交通大学 | 基于图像处理技术的主轴轴向热伸长测量装置和方法 |
US11808740B2 (en) * | 2019-03-01 | 2023-11-07 | University Of South Carolina | Systems and methods for measuring strain using removable reusable markers |
US11803943B2 (en) * | 2019-06-25 | 2023-10-31 | Illinois Tool Works Inc. | Brightness and contrast correction for video extensometer systems and methods |
CN110806182A (zh) * | 2019-10-30 | 2020-02-18 | 河海大学 | 基于远心镜头的高精度光学引伸计及测量方法 |
US11867668B2 (en) * | 2020-06-29 | 2024-01-09 | Illinois Tool Works Inc. | Thickness correction for video extensometer systems and methods |
CN113137940B (zh) * | 2021-04-23 | 2022-03-22 | 歌尔股份有限公司 | 电子设备的控制方法、装置、设备及可读存储介质 |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4690001A (en) * | 1985-11-13 | 1987-09-01 | Mts Systems Corporation | Optical displacement transducer usable as an extensometer |
US4880309A (en) * | 1987-04-14 | 1989-11-14 | General Signal Corporation | Dark field target design system for alignment of semiconductor wafers |
DE3813340A1 (de) * | 1987-04-27 | 1988-11-10 | Yokohama Rubber Co Ltd | Zugfestigkeits-pruefgeraet |
JP2692599B2 (ja) * | 1994-07-27 | 1997-12-17 | 株式会社島津製作所 | レーザー非接触伸び計 |
US5827629A (en) * | 1995-05-11 | 1998-10-27 | Sumitomo Heavy Industries, Ltd. | Position detecting method with observation of position detecting marks |
-
1997
- 1997-09-18 JP JP25326297A patent/JP3230466B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1998
- 1998-12-30 US US09/222,761 patent/US6094259A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US6094259A (en) | 2000-07-25 |
JPH1194719A (ja) | 1999-04-09 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP3230466B2 (ja) | 光学式伸び計用標線マーク | |
JP3511450B2 (ja) | 光学式測定装置の位置校正方法 | |
US6920249B2 (en) | Method and measuring instrument for determining the position of an edge of a pattern element on a substrate | |
US6621928B1 (en) | Image edge detection method, inspection system, and recording medium | |
US20070242280A1 (en) | Digitizer adapter | |
US7400414B2 (en) | Hand-size structured-light three-dimensional metrology imaging system and method | |
KR101402326B1 (ko) | 표면의 병진이동을 측정하기 위한 방법 및 측정 장치 | |
JP4171583B2 (ja) | 基体上の構造要素のエッジの距離pを決定する方法 | |
EP2492636A3 (en) | Method of calibrating a scanning system | |
US6199024B1 (en) | Calibration process for shape measurement | |
JPH09105613A (ja) | 非接触型の三次元測定装置および測定方法 | |
EP1998137A2 (en) | Abnormality detecting method for form measuring mechanism and form measuring mechanism | |
CN111256591B (zh) | 一种结构光传感器的外参标定装置及方法 | |
KR20100121634A (ko) | 어레이 및 캔틸레버 어레이 레벨링 방법 | |
JP3464835B2 (ja) | 微小円筒形部品の穴径・同心度測定装置 | |
US5365072A (en) | Repositionable substrate for microscopes | |
JP3402021B2 (ja) | ロボット装置の相対位置姿勢検出方法 | |
JP2024099588A (ja) | 長さ測定装置、長さ測定方法、プログラム、及び身長計 | |
Marinello et al. | Development and analysis of a software tool for stitching three-dimensional surface topography data sets | |
JPH1163952A (ja) | 三次元形状計測用ターゲットおよび視準面の傾き測定方法 | |
JP2012132786A (ja) | ひずみ計測方法及びひずみ計測システム | |
US20050066721A1 (en) | Optical system and method for measuring continuously distributed strain | |
JP2676040B2 (ja) | コンクリート部材の面内変位計測方法 | |
US6490541B1 (en) | Method and apparatus for visual measurement | |
JP2974223B2 (ja) | 光学式形状認識装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080914 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080914 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090914 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090914 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100914 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110914 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110914 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120914 Year of fee payment: 11 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120914 Year of fee payment: 11 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130914 Year of fee payment: 12 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |