JPWO2006013728A1 - 蛍光x線分析方法および蛍光x線分析装置 - Google Patents
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Abstract
Description
(1)ステップ301で行われたように、測定条件の入力を正確に行わないと正確な濃度結果が得られない。
(2)試料に含まれている元素の濃度をなるべく精度良く測定するため、必要以上に測定時間を長く設定してしまう。
(1)試料にX線を照射することにより、試料の種類が非金属系材料および金属系材料のいずれであるかを同定すること、
(2)同定した試料の種類に応じて、蛍光X線分析による測定条件を選択すること、および
(3)選択した測定条件に従って蛍光X線分析により、試料に含まれている1または複数の元素の濃度を測定すること
を含む、蛍光X線分析方法を提供する。本発明の分析方法は、試料にX線を照射して試料から発せられる蛍光X線スペクトルから、試料の大体の種類(即ち、非金属系材料であるか、あるいは金属系材料であるか)を判別し、この判別に基づいて、蛍光X線分析を実施することを特徴とする。したがって、この蛍光X線分析方法によれば、分析を実施する者が定量方法および測定時間を決定する作業を要することなく、未知試料に含まれる微量元素(特にCd、Pb、Hg、BrおよびCr)の含有量を測定することができる。
試料ステージ、X線管、検出器および演算装置を有する蛍光X線分析装置であって、当該演算装置が、
試料にX線を照射することにより試料から出た蛍光X線に基づいて、試料の種類が非金属系材料および金属系材料のいずれであるかを同定する手段、
同定した試料の種類に応じて蛍光X線分析による測定条件を選択する手段、および
選択した測定条件に従って、蛍光X線分析により、試料に含まれている1または複数の元素の濃度が測定されるように、分析装置内の各要素を制御する手段
を有している、蛍光X線分析装置である。上記演算装置は、換言すれば、X線管を制御し、かつ検出される放出された蛍光X線に対応して検出器からの情報を受け取るための演算装置であって、
(1)検出器から受け取った情報に基づいて、試料を、非金属系材料または金属系材料に分類する工程、
(2)サンプルの分類に基づいて、測定条件の所定のリストから測定条件を選択する工程、
(3)試料に含まれる少なくも1つの元素の濃度が、選択した測定条件に従って測定されるように、X線管を制御する工程、および
(4)試料に含まれる少なくとも1つの元素の濃度を測定する工程
実施するように構成された演算装置として提供してよい。
A.プラスチック樹脂用測定条件(上記4つの金属元素が検出されなかった場合)
X線照射時間:30秒、定量法:プラスチックベース検量線
B.塩素系プラスチック樹脂ベース(上記4つの金属元素が実質的に検出されず、かつClのみ検出された場合)
X線照射時間:60秒、定量法:塩素系プラスチックベース検量線
C.金属ベース(上記4つの金属元素のうち少なくとも1つが主成分として検出された場合)
X線照射時間:100秒、定量法:FP法
(1)ステップ301で行われたように、測定条件の入力を正確に行わないと正確な濃度結果が得られない。
(2)試料に含まれている元素の濃度をなるべく精度良く測定するため、必要以上に測定時間を長く設定してしまう。
(1)試料にX線を照射することにより、試料の種類が非金属系材料および金属系材料のいずれであるかを同定すること、
(2)同定した試料の種類に応じて、蛍光X線分析による測定条件を選択すること、および
(3)選択した測定条件に従って蛍光X線分析により、試料に含まれている1または複数の元素の濃度を測定すること
を含む、蛍光X線分析方法を提供する。本発明の分析方法は、試料にX線を照射して試料から発せられる蛍光X線スペクトルから、試料の大体の種類(即ち、非金属系材料であるか、あるいは金属系材料であるか)を判別し、この判別に基づいて、蛍光X線分析を実施することを特徴とする。したがって、この蛍光X線分析方法によれば、分析を実施する者が定量方法および測定時間を決定する作業を要することなく、未知試料に含まれる微量元素(特にCd、Pb、Hg、BrおよびCr)の含有量を測定することができる。
試料ステージ、X線管、検出器および演算装置を有する蛍光X線分析装置であって、当該演算装置が、
試料にX線を照射することにより試料から出た蛍光X線に基づいて、試料の種類が非金属系材料および金属系材料のいずれであるかを同定する手段、
同定した試料の種類に応じて蛍光X線分析による測定条件を選択する手段、および
選択した測定条件に従って、蛍光X線分析により、試料に含まれている1または複数の元素の濃度が測定されるように、分析装置内の各要素を制御する手段
を有している、蛍光X線分析装置である。上記演算装置は、換言すれば、X線管を制御し、かつ検出される放出された蛍光X線に対応して検出器からの情報を受け取るための演算装置であって、
(1)検出器から受け取った情報に基づいて、試料を、非金属系材料または金属系材料に分類する工程、
(2)サンプルの分類に基づいて、測定条件の所定のリストから測定条件を選択する工程、
(3)試料に含まれる少なくも1つの元素の濃度が、選択した測定条件に従って測定されるように、X線管を制御する工程、および
(4)試料に含まれる少なくとも1つの元素の濃度を測定する工程
実施するように構成された演算装置として提供してよい。
A.プラスチック樹脂用測定条件(上記4つの金属元素が検出されなかった場合)
X線照射時間:30秒、定量法:プラスチックベース検量線
B.塩素系プラスチック樹脂ベース(上記4つの金属元素が実質的に検出されず、かつClのみ検出された場合)
X線照射時間:60秒、定量法:塩素系プラスチックベース検量線
C.金属ベース(上記4つの金属元素のうち少なくとも1つが主成分として検出された場合)
X線照射時間:100秒、定量法:FP法
Claims (9)
- (1)試料にX線を照射する工程、
(2)試料を、非金属系材料または金属系材料に分類する工程、
(3)蛍光X線分析のための測定条件の所定のリストにアクセスする工程、
(4)サンプルの分類に基づいて当該所定のリストから測定条件を選択する工程、
(5)選択した測定条件に従って、試料へのX線照射を制御すること、および
(6)選択した測定条件に従ってX線を照射して、試料に含まれる少なくとも1つの元素の濃度を測定する工程
を含む、蛍光X線分析方法。 - 前記(1)において、試料がClおよびBrのいずれか1つを含んでいるか否かを検出する工程をさらに含む、請求項1に記載の蛍光X線分析方法。
- 前記検工程を、前記工程(1)と同時に実施する、請求項2に記載の蛍光X線分析方法。
- Fe、Zn、CuおよびSnから成る群から選択される少なくとも1つの元素が検出されたときに、試料を金属系材料として分類する、請求項1に記載の蛍光X線分析方法。
- 工程(1)の後に試料の主たる成分が実質的に蛍光X線を放出しないときに、試料を非金属系材料として分類する、請求項1に記載の蛍光X線分析方法。
- 請求項5の試料に関して得られる量よりも多くの量の蛍光X線を放出したときに、試料を金属系材料として分類する、請求項5に記載の蛍光X線分析方法。
- 原子番号が少なくとも16である元素を試料が含む場合に、試料を金属系材料として分類する、請求項1に記載の蛍光X線分析方法。
- 試料を保持する試料ステージ、
試料ステージに対して位置決めされている、X線を照射するためのX線管、
試料ステージに対して位置決めされている、放出される蛍光X線を検出するための検出器、
X線管を制御し、かつ検出される放出された蛍光X線に対応して検出器からの情報を受け取るための演算装置であって、
(1)検出器から受け取った情報に基づいて、試料を、非金属系材料または金属系材料に分類する工程、
(2)サンプルの分類に基づいて、測定条件の所定のリストから測定条件を選択する工程、
(3)試料に含まれる少なくも1つの元素の濃度が、選択した測定条件に従って測定されるように、X線管を制御する工程、および
(4)試料に含まれる少なくとも1つの元素の濃度を測定する工程
実施するように構成された操作機器
を含む、蛍光X線分析装置。 - 前記所定のリストを保存するためのメモリをさらに含む、請求項8に記載の蛍光X線分析装置。
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JP4930874B2 (ja) * | 2006-06-22 | 2012-05-16 | エスアイアイ・ナノテクノロジー株式会社 | エネルギー分散型放射線検出システム及び対象元素の含有量測定方法 |
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JP2014035334A (ja) * | 2012-08-10 | 2014-02-24 | Hitachi High-Tech Science Corp | 蛍光x線分析方法及び蛍光x線分析装置 |
JP2016017823A (ja) * | 2014-07-08 | 2016-02-01 | 株式会社日立ハイテクサイエンス | X線分析用試料板及び蛍光x線分析装置 |
DE102015221323B3 (de) * | 2015-10-30 | 2016-08-04 | Airbus Defence and Space GmbH | Verfahren zum Nachweis von Oberflächenverunreinigungen mittels Röntgenfluoreszenzanalyse |
CN105486708A (zh) * | 2015-12-01 | 2016-04-13 | 中国建材检验认证集团股份有限公司 | Xrf分析试样化学成分的方法及其工作曲线的制作方法 |
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WO2023027097A1 (ja) * | 2021-08-25 | 2023-03-02 | 国立大学法人大阪大学 | 計測システム |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0763711A (ja) * | 1993-08-27 | 1995-03-10 | Rigaku Ind Co | 蛍光x線分析方法および装置 |
JP2000121584A (ja) * | 1998-10-15 | 2000-04-28 | Rigaku Industrial Co | 蛍光x線分析装置 |
JP2000193615A (ja) * | 1998-12-25 | 2000-07-14 | Shimadzu Corp | 蛍光x線分析装置 |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3562525A (en) * | 1967-06-29 | 1971-02-09 | Minnesota Mining & Mfg | X-ray fludrescence gauging employing a single x-ray source and a reference sample for comparative measurements |
US3980568A (en) * | 1975-10-17 | 1976-09-14 | Hankison Corporation | Radiation detection system |
JPH0749319A (ja) | 1993-08-05 | 1995-02-21 | Horiba Ltd | 蛍光x線分析方法 |
JPH0843329A (ja) | 1994-07-30 | 1996-02-16 | Horiba Ltd | 蛍光x線分析方法 |
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US6266390B1 (en) * | 1998-09-21 | 2001-07-24 | Spectramet, Llc | High speed materials sorting using x-ray fluorescence |
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JP2000121584A (ja) * | 1998-10-15 | 2000-04-28 | Rigaku Industrial Co | 蛍光x線分析装置 |
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