JPWO2002031854A1 - プラズマディスプレイパネルおよびその寿命試験方法ならびに寿命試験装置 - Google Patents

Abstract

本発明は、性能評価試験後に廃棄せざるを得ないプラズマディスプレイパネルの数を従来に比べて減らすことにより、ロスコストを低減することが可能なプラズマディスプレイパネルを提供することを目的とする。そのため、プラズマディスプレイパネルにおいて、対向して設けられる前面ガラス基板、背面ガラス基板の間に気密シール層で封止された画像表示用セル領域と、それとは独立した、気密シール層で封止された評価用セル領域を設ける。そして、評価用セル領域を駆動させて性能評価試験を行う。

Description

技術分野
本発明は、例えば、コンピュータおよびテレビなどの画像表示に用いられるプラズマディスプレイパネルに関し、特に、プラズマディスプレイパネルを劣化させてその寿命を調べる寿命試験方法、寿命試験装置および寿命試験などの性能評価に適したプラズマディスプレイパネルに関する。
背景技術
近年、コンピュータやテレビなどの画像表示に用いられている表示デバイスにおいて、プラズマディスプレイパネル（Ｐｌａｓｍａ　Ｄｉｓｐｌａｙ　Ｐａｎｅｌ、以下、「ＰＤＰ」という。）は、大型で薄型軽量を実現することのできる表示デバイスとして注目されている。
図１６は、一般的なＰＤＰ１００の前面ガラス基板１０１を取り除いたときの平面図を示し、図１７は、図１６に示すＰＤＰ１００の画像表示領域１２３における部分断面斜視図を示す。
ＰＤＰ１００は、各色発光セルがマトリックス状に配列された構成であって、図１７に示すように前面ガラス基板１０１と背面ガラス基板１０２とが、隔壁１０９を介してギャップを保ちながら対向して設けられている。
前面ガラス基板１０１には、放電電極対（表示電極群１０３と表示スキャン電極群１０４）が平行配設され、背面ガラス基板１０２には放電電極対と直交してアドレス電極群１０７が配される。そして、各基板１０１，１０２の周縁部は、斜線部で示すフリットガラスからなる気密シール層１２１（図１６）により封着され、その内部には図１７に示すように放電空間１２２が形成されるとともに不活性ガスが封入され、赤、緑、青の蛍光体層（１１０Ｒ，Ｇ，Ｂ）が配される。上記表示電極群１０３と表示スキャン電極群１０４との間での維持放電により発生する紫外線が蛍光体層１１０Ｒ，Ｇ，Ｂを励起発光させ、画像表示領域１２３（図１６）において画像が表示される。
ＰＤＰにおいては、他の表示デバイスと同様、良好な表示品質を長期にわたって維持することが求められており、一般に家電製品として使用するためには、その寿命が、現在普及しているＣＲＴ並みの数万時間以上必要とされている。しかしながら、ＰＤＰでは、現在のところ寿命改善の余地がまだ多く残っている。
そこで現在、ＰＤＰの寿命を改善するための研究開発が行われており、その寿命を評価する際には、実際に使用するように通常の画像を表示する（以下、「通常使用」という。）ためのアドレス期間と放電維持期間を有する駆動方法と同じ形式で１年以上（数万時間に相当する。）にわたりＰＤＰを連続駆動させて劣化させ、輝度が５０％低下するまでの時間や、放電セルの誤動作の発生などを確認することにより寿命を評価している。
ところで、ＰＤＰの寿命を評価する寿命試験においては、試験後のＰＤＰの廃棄に伴なうロスコストの改善が望まれている。同一プロセスを経て製造されたＰＤＰであっても製造工程の誤差による製品のばらつきが生じて、突発的に短寿命なＰＤＰが製造されることがある。このようなＰＤＰを市場に流出させないように監視するため、寿命試験に供するＰＤＰサンプルをできるだけ多く抜き取り、それを連続駆動させることによって、輝度の低下や放電セルの誤作動の発生確認などを行い、短寿命なＰＤＰを発見する確度を上げることが考えられる。
しかしながら、ＰＤＰは１枚当たりの製品コストが高額であり、あまりに多くの数のＰＤＰサンプルを抜き取って寿命試験することはコスト的に難しい。寿命試験において連続使用されたＰＤＰサンプルは、その輝度などの特性が激しく劣化しており、製品としての価値がなくなるので廃棄せざるをえず、その数が増えるとロスコストが高くなりすぎるからである。一方、ロスコストを減らすために寿命試験用に抜き取るＰＤＰサンプルの数を減らすと、短寿命のＰＤＰを市場に流通させる確率が高くなる。
また、ＰＤＰの寿命試験においては、その試験時間を短縮することも望まれている。寿命を評価する際に行う１年以上にわたる長い連続駆動の期間は、時にＰＤＰの寿命を改善する開発スピードの低下につながる。
この開発スピードを上げるため、１フレーム期間中アドレスを行わずに終始維持放電を行って全白表示させてＰＤＰの劣化を促進する駆動方法があるが、通常使用条件においては、ＰＤＰの劣化はアドレス放電と維持放電の両方によって引き起こされるため、この場合には、アドレス放電による劣化を考慮した通常使用条件における寿命を正しく評価することができない。そのため、アドレス放電による劣化を考慮した通常使用条件を考慮するとともに試験時間を短縮する技術が望まれている。
また、ＰＤＰの寿命試験においては、不純物ガスの影響を考慮しながら通常使用に類するＰＤＰの寿命を適正に評価することができる技術も望まれている。
寿命試験を行う場合には、画像表示領域１２３全面において連続して全白表示を行うことが、赤、緑、青すべての蛍光体層を発光させる点で好ましいが、その場合には、連続維持放電の発熱により、前面ガラス基板１０１が矢印で示すような方向に熱膨張し、前面ガラス基板１０１と気密シール層１２１との熱膨張係数の差によって気密シール層１２１に応力が集中して破損する、いわゆるパネル割れが発生する場合がある。
そこで、この発熱によるパネル割れを防止するために、従来の寿命試験では画像表示領域１２３における点灯パターンを変更して対処している。
図１８は、従来の寿命試験中の画像表示領域１２３における点灯パターンの例を示す図である。
図１８に示すように、画像表示領域１２３には、その中心部に配される常時点灯部分７０１と、画像表示領域の周縁部全域に常時点灯部分７０１を囲むように配される常時消灯部分７０２とから構成される点灯パターンが表示される。ここで、常時点灯部分とは、１フィールド中に必ず維持放電が行われ、常時白表示されているように見える部分を指し、常時消灯部分とは、寿命試験の駆動時間において全く維持放電が行われず発光点灯しない部分のことを指す。なお、寿命評価は常時点灯部分７０１において輝度測定、放電セルの誤動作を確認することなどにより行われる。
常時消灯部分７０２は、寿命試験期間中に発熱しない上、画像表示領域１２３の周縁部全域に配置されているため、各ガラス基板１０１，１０２周縁部の発熱が抑制される。その結果、気密シール層１２１付近に発生する熱膨張による歪量が低減するとともに応力集中が緩和されるので、パネル割れの発生を抑えることができる。なお、図１９、図２０に示すように、複数の常時点灯部分７１１，７２１を各図に示すように格子状に配置したとしても、少なくとも常時消灯部分７１２，７２２を画像表示領域１２３の周縁部に配置しておけば同様にパネル割れの発生が抑制される。
しかしながら、上記従来の寿命試験においては、ＰＤＰの輝度劣化などに影響を及ぼすパネル内部での不純物ガスの挙動を考慮していないため、通常使用に類するＰＤＰの寿命を適正に評価できていないと考えられる。
通常、常時点灯部分７０１においては、維持放電による発熱により蛍光体層などに含まれている不純物がガス化されて放電空間内に拡散されるが、常時消灯部分７０２においては維持放電などが一切行われないため、この部分の蛍光体層等に不純物ガスが順次捕捉、蓄積されてしまい、ＰＤＰをテレビなどの表示デバイスとして通常使用する場合には常時消灯部分は少ないので、このような不純物ガスが捕捉されるといった挙動が生じにくいからである。
本発明は、上記課題に鑑み、ＰＤＰを多く抜き取って寿命試験したとしてもロスコストを低減させる効果を有するＰＤＰおよびその製品の製造方法を提供することを第１の目的とする。
また、通常使用条件を考慮しつつ、それに類似した条件でのＰＤＰの劣化を促進することができる寿命試験方法および寿命試験装置を提供することを第２の目的とする。
さらに、不純物ガスの影響を考慮した通常使用に類するＰＤＰの寿命を適正に評価することができる寿命試験方法、および寿命試験装置を提供することを第３の目的とする。
発明の開示
上記第１の目的を達成するために、本発明に係るプラズマディスプレイパネルは、複数の放電セルがマトリックス状に形成された、画像表示を行うための第１のセル領域と、当該第１のセル領域とは異なる領域であって、複数の放電セルがマトリックス状に形成された、性能評価するための第２のセル領域とを備えたことを特徴とする。これにより、第２のセル領域において寿命特性やエージング特性などの性能評価を行った後でも第１のセル領域は画像表示用の製品として使用できるため、性能評価後のパネルを廃棄する必要がなく、ロスコストを低減することができる。
また、前記第１および第２のセル領域は、当該各セル領域の全セルで発光させるために電圧を印加する電極群を有し、前記第１のセル領域と前記第２のセル領域とは、パネル内のそれぞれ独立して気密封止された放電空間内部に配置されていることを特徴とする。これにより、第２のセル領域で性能評価を行った時に発生する不純物などが画像表示用の第１のセル領域に侵入しない。
また、前記第１のセル領域の電極群は、前記第２のセル領域の電極群と互いに独立駆動できるように形成されていることを特徴とする。これにより、第２のセル領域において性能評価を行っている間には、第１のセル領域は画像表示が行われないので、第１のセル領域を製品として使用することができる。
また、前記第１のセル領域および第２のセル領域が配置されている各放電空間には、それぞれ不活性ガスからなる放電ガスが封入されているとともに、前記第２のセル領域が配置されている放電空間には、当該セルの劣化を促進する放電ガスが封入されてもよい。これにより寿命特性の評価期間を短縮することができる。
このセルの劣化を促進するには、第２のセル領域に封入されている放電ガスの質量や封入圧力を前記第１のセル領域のそれらより小さくすればよい。
また、本発明に係るプラズマディスプレイパネルの寿命試験方法は、複数の放電セルがマトリックス状に形成された、画像表示を行うための第１のセル領域と、当該第１のセル領域とは異なる領域であって、複数の放電セルがマトリックス状に形成された、寿命特性を評価するための第２のセル領域とを備えるプラズマディスプレイパネルを組み立てる第１のステップと、前記第２のセル領域を所定の駆動方法を用いて駆動して寿命特性を評価する第２のステップとを有することを特徴とする。これにより、ロスコストを減らしながら、短寿命なプラズマディスプレイパネルが市場に流れる確率を低減することができる。
また、前記駆動方法は、前記第１のセル領域に画像を表示する駆動方法と比較して、前記第２のセル領域の劣化をより促進する駆動方法を用いれば、短期間に寿命を評価することができる。
上記第２の目的を達成するために、本発明に係る、プラズマディスプレイパネルの寿命試験方法は、試験対象のプラズマディスプレイパネルをフレーム内時分割階調表示方式で駆動して劣化促進させるとともに、試験時に適用するフレーム内時分割階調表示方式の時分割表示パターンは、１フレーム期間にアドレス放電を少なくとも１回行うアドレス期間を含み、かつ、残余の放電維持期間における放電回数が、プラズマディスプレイパネルの通常使用時に適用されるフレーム内時分割階調表示方式のそれに比して多く含む設定とされていることを特徴とする。
これにより、画像表示用駆動に比べて１フレームにおける放電回数が増えて、放電によるＰＤＰの劣化が促進され、短期間にＰＤＰの寿命を評価できるようになる。
また、試験時における前記放電維持期間に印加される放電維持パルスの周期は、プラズマディスプレイパネルの通常使用時に適用されるフレーム内時分割表示方式のそれに比して短い設定としてもよいし、試験時における前記１フレーム期間に占める前記アドレス期間の合計長さは、プラズマディスプレイパネルの通常使用時に適用されるフレーム内時分割表示方式のそれに比して短い設定としてもよい。さらに、前者と後者の設定を組み合わせてもよい。これにより放電回数が増加し、放電によるＰＤＰの劣化が促進される。
また、後者の設定とするために、具体的には、試験時における前記１フレーム期間内のアドレス期間の合計数を、プラズマディスプレイパネルの通常使用時に適用されるフレーム内時分割表示方式のそれに比して少ない設定としたり、試験時における前記アドレス期間において、プラズマディスプレイパネルの有する複数本の電極からなる電極群に対して行われるアドレス放電を、当該電極群のうち２本以上の電極に対して同時に行われるようにしたりすればよい。このようにすれば、１フレームに占めるアドレス期間の時間を短縮することができるので１フレームの放電維持期間を長く取って放電回数を多くすることができる。
また、本発明に係るプラズマディスプレイパネルの寿命試験方法は、試験対象のプラズマディスプレイパネルをフレーム内時分割階調表示方式で駆動して劣化促進させるとともに、試験時に適用するフレーム内時分割階調表示方式の時分割表示パターンは、１フレーム期間にアドレス放電を少なくとも１回行うアドレス期間を含み、かつ、残余の放電維持期間に印加する放電維持パルス電圧が、プラズマディスプレイパネルの通常使用時に適用されるフレーム内時分割階調表示方式のそれに比して高い設定としてもよい。これにより、放電時の陰極材料へのイオン衝突などの現象が通常使用時よりも促進されるので、ＰＤＰの劣化が促進される。したがって、ＰＤＰを短期間で寿命評価できるようになる。
上記第３の目的を達成するために、本発明に係るプラズマディスプレイパネルの寿命試験方法は、試験対象のプラズマディスプレイパネルをフレーム内時分割階調表示方式を用いて駆動し、前記プラズマディスプレイパネルの画像表示領域における周縁部以外の部分領域には常時点灯を行う常時点灯画像を表示させ、画像表示領域における前記部分領域以外の領域には点灯および消灯を繰り返す点滅画像を表示させることを特徴とする。
これにより、画像表示領域の周縁部全域に点滅画像が表示されるため、その周縁部における発熱が抑えられ、ガラス基板の熱膨張による気密シール層への応力集中が緩和されるので、パネル割れの発生が防止される。また、画像表示領域においては常時点灯画像が表示される部分以外の残余の画像表示領域に点滅画像が表示されるため、画像表示領域全域において常時消灯画像が存在しない。一方、点滅画像の表示される部分では常時点灯画像が表示される部分のように不純物ガスが特定の領域に捕捉、蓄積されることもない。したがって、ＰＤＰ内における不純物ガスの挙動が実使用に類する条件と同様の条件下においてＰＤＰの寿命評価をすることができる。
また、上記点滅画像は、所定の幅を有する帯状の点灯画像を所定方向に周期的にスクロール移動させて作製した画像とするとすることもできる。
また、上記点滅画像は、具体的に点滅周期の１周期のうち少なくとも１０％の時間を点灯状態に保つようにした画像とすることが望ましい。これにより、蛍光体層に捕捉された不純物のほとんどはすぐにガス化され、より適正なＰＤＰの寿命評価をすることができるからである。
また、試験対象のプラズマディスプレイパネルをフレーム内時分割階調表示方式を用いて駆動し、前記プラズマディスプレイパネルの画像表示領域における周縁部以外の部分領域には高階調で発光する高階調画像を表示させ、前記画像表示領域における前記部分領域以外の領域には低階調で発光する低階調画像を表示させることを特徴とする。これによっても、高階調画像を表示する部分において寿命評価を行うことができ、高くなる。
また、ＰＤＰの寿命試験においては、その試験時間を短縮することも望まれている。寿命を評価する際に行う１年以上にわたる長い連続駆動の期間は、時にＰＤＰの寿命を改善する開発スピードの低下につながる。
この開発スピードを上げるため、１フレーム期間中アドレスを行わずに終始維持放電を行って全白表示させてＰＤＰの劣化を促進する駆動方法があるが、通常使用条件においては、ＰＤＰの劣化はアドレス放電と維持放電の両方によって引き起こされるため、この場合には、アドレス放電による劣化を考慮した通常使用条件における寿命を正しく評価することができない。そのため、アドレス放電による劣化を考慮した通常使用条件を考慮するとともに試験時間を短縮する技術が望まれている。
また、ＰＤＰの寿命試験においては、不純物ガスの影響を考慮しながら通常使用に類するＰＤＰの寿命を適正に評価することができる技術も望まれている。
寿命試験を行う場合には、画像表示領域１２３全面において連続して全白表示を行うことが、赤、緑、青すべての蛍光体層を発光させる点で好ましいが、その場合には、連続維持放電の発熱により、前面ガラス基板１０１が矢印で示すような方向に熱膨張し、前面ガラス基板１０１と気密シール層１２１との熱膨張係数の差によって気密シール層１２１に応力が集中して破損する、いわゆるパネル割れが発生する場合がある。
そこで、この発熱によるパネル割れを防止するために、従来の寿命試験では画像表示領域１２３における点灯パターンを変更して対処している。
図１８は、従来の寿命試験中の画像表示領域１２３における点灯パターンの例を示す図である。
図１８に示すように、画像表示領域１２３には、その中心部に配される常時点灯部分７０１と、画像表示領域の周縁部全域に常時点灯部分７０１を囲むように配される常時消灯部分７０２とから構成される点灯パターンが表示される。ここで、常時点灯部分とは、１フィールド中に必画像表示領域の周縁部全域は低階調画像を表示するため、その周縁部における発熱が抑えられパネル割れの発生を防止することができる。一方、画像表示領域全域においては、常時消灯画像を表示する部分が存在しないので、不純物ガスが特定の領域に捕捉されて蓄積されることもなく、不純物ガスの影響を考慮したＰＤＰの実使用に類する寿命を適正に評価することができる。
発明を実施するための最良の形態
（第１の実施の形態）
以下、本発明が適用されたＰＤＰおよびＰＤＰ寿命試験装置について図面を参照しながら説明する。
〈ＰＤＰ寿命試験装置１５０の全体構成〉
図１は、本発明の第１の実施の形態に係るＰＤＰ寿命試験装置１５０の構成を示す回路ブロック図である。なお、図１におけるＰＤＰ１３０は、図２に示すＰＤＰ１３０の評価用セル領域２のみを模式的に図示し、画像表示用セル領域１については図示を省略している。
図１に示すように、ＰＤＰ寿命試験装置１５０は、外部の映像出力器から入力されてくる赤色（Ｒ）、緑色（Ｇ）、青色（Ｂ）に対応する映像データＤＲ，ＤＧ，ＤＢなどを格納するフレームメモリ１５１と、格納された映像データＤＲ，ＤＧ，ＤＢの処理および各回路の駆動を制御するコントローラ１５２と、コントローラ１５２からの指示により、表示電極群１３３に所定の電圧を印加する表示ドライバ回路１５３と、表示スキャン電極群１３４に所定の電圧を印加する表示スキャンドライバ回路１５４と、アドレス電極群１３５に所定の電圧を印加するアドレスドライバ回路１５５、および各ドライバ回路１５３，１５４，１５５に所定の電圧を供給する可変電圧電源装置１５６，１５７，１５８などを備え、寿命試験に供されるＰＤＰ１３０（図２）の評価用セル領域２に対して取着可能に接続されている。
フレームメモリ１５１は、１フレームごとに各サブフレームの映像データを分割して格納できるものであり、外部装置から入力された各ピクセルの赤色（Ｒ）、緑色（Ｇ）、青色（Ｂ）の輝度レベル（階調レベル）を示す多値の映像データＤＲ，ＤＧ，ＤＢ、および各種の同期信号を一旦格納する。このフレームメモリ１５１に格納された映像データＤＲ，ＤＧ，ＤＢは、コントローラ１５２によって読み出された後に、階調表示のために、各色毎に各サブフレームにおけるセルの点灯の要否を示す２値データの集合である映像データ（以下、サブフレームデータＤｓｆという。）に変換され、再びフレームメモリ１５１に格納される。
コントローラ１５２は、サブフレームデータＤｓｆに応じて、後述する駆動方法を用いて表示ドライバ回路１５３、表示スキャンドライバ回路１５４、アドレスドライバ回路１５５を駆動する。
表示ドライバ回路１５３および表示スキャンドライバ回路１５４は、それぞれに所定の電圧を印加するための可変電圧電源装置１５６，１５７を備えるとともに、表示電極群１３３、表示スキャン電極群１３４（それぞれ後述する）に接続され、コントローラ１５２から送られてくる信号に応じて、それぞれ表示電極群１３３、表示スキャン電極群１３４に対して所定の周期、電圧をもつ放電維持パルスを印加する。
アドレスドライバ回路１５５は、この回路に電圧を印加するための可変電圧電源装置１５８を備えるとともに、アドレス電極群１３５（後述する）に接続され、コントローラ１５２により送られてくる信号に応じて、アドレス電極群１３５に所定の電圧を印加する。
また、後述する画像表示用セル領域１においては、ＰＤＰ１３０がコンピュータやテレビなどの表示デバイスとなった場合に、上記ＰＤＰ寿命試験装置１５０と同様の構成を持つ駆動装置が接続され、チューナから受信された画像データに応じて画像が表示される。これにより、ＰＤＰ寿命試験装置１５０は、プラズマディスプレイ装置としての機能を有する。
〈ＰＤＰ１３０の構成〉
図２は、本発明の一適用例としてのＰＤＰ１３０における前面ガラス基板１０１を取り除いた場合の概略平面図を示す。なお、表示電極群１０３，１３３、表示スキャン電極群１０４，１３４、アドレス電極群１０７，１３５については分かり易くするため、その本数など一部省略して図示している。また、図１６、図１７のところで説明したものと同じ番号を付した構成要素については同じ構成要素であるので詳しい説明については省略する。
図２に示すように、ＰＤＰ１３０は、画像表示用セル領域１と評価用セル領域２を有しており、基本的には、図１６，３２を用いて従来の技術で説明したＰＤＰ１００と略同じ構造をしているが、画像表示用セル領域１の端部に隣接した、寿命試験に供するための評価用セル領域２が設けられている点が異なっている。
この評価用セル領域２は、画像表示用セル領域１と比べてその面積が小さい以外は、画像表示用セル領域１と略同様の構造をしており、対向する前面ガラス基板１０１（図３）と背面ガラス基板１０２との間に、表示電極群１３３と、表示スキャン電極群１３４と、アドレス電極群１３５などを備え、気密シール層１４１により封止されて構成される。
ここで、この評価用セル領域２において発光表示することができる表示領域１４２（点領域で示す。）の面積は、寿命評価に必要な大きさ（１０セル程度）があればよい。すなわち、ＰＤＰの寿命を測定する際に用いる輝度測定装置などの受光領域の大きさに応じてその面積を変更すればよく、必要最低限の大きさとすれば、使用する材料を削減することができるのでコスト的に好ましい。また、評価用セル領域２を画像表示用セル領域１と同じ大きさとしても構わない。
図３は、評価用セル領域２の構成を説明するための断面斜視図である。
同図に示すように、前面ガラス基板１０１の対向面上には、各Ｎ本の表示電極群１３３および表示スキャン電極群１３４（図３においては各２本のみ表示している。以下、図１に示すようにＮ本目のものを示す場合は添え字を付す。）がストライプ状に交互に平行に列設される。当該各電極群１３３，１３４は、透明電極と、この透明電極の電気抵抗による電圧低下を防ぐためのバス電極（ともに不図示）から構成されており、鉛ガラスなどからなる誘電体層１０５で被覆され、さらにＭｇＯ保護膜１０６で被覆される。
他方、背面ガラス基板１０２の対向面上には、Ｍ本のストライプ状のアドレス電極群１３５（図１参照。図３においては４本のみ表示している。以下、Ｍ本目のものを示す場合は添え字を付す。）が前記各電極群１３３，１３４と直交する方向に列設され、その表面を覆う鉛ガラスなどからなる誘電体層１０８が被覆される。
さらに、アドレス電極群１３５に隣接するようにリブ１３９が形成されている。このリブ１３９は、アドレス放電時の隣接セルへの放電拡散を遮断し、いわゆる光のクロストークを防ぐようになっている。また、隣り合うリブ１３９の間には、それぞれ赤色（Ｒ）、緑色（Ｇ）、青色（Ｂ）を発光する各蛍光体１４０Ｒ，１４０Ｇ，１４０Ｂがアドレス電極群１３５を被覆するように塗り分けられている。なお、本第１の実施の形態においては、ストライプ状のリブが採用されているが、格子状のリブなど、他の形状としても良い。
前面ガラス基板１０１と背面ガラス基板１０２との間には、放電空間１４３を備え、図２に示すように、各ガラス基板１０１，１０２の間が気密シール層１４１によって封止されて評価用セル領域２が形成される。
これにより、評価用セル領域２の放電空間１４３は、画像表示用セル領域１の放電空間１２２と独立した状態に構成され、また、それぞれのセル領域を独立して駆動できるような電極群が設けられている。このため、評価用セル領域２を選択的に寿命評価試験することができ、その際に、陰極材料、リブおよび蛍光体中に含まれる不純物が放電時のイオン衝突等により不純物ガスとなって放電空間１４３に放出されたとしても、その不純物ガスは放電空間１２２に侵入するおそれがない。
したがって、寿命試験を行った後にもＰＤＰ１３０の画像表示用セル領域１は、製品として問題なく使用することができるので寿命試験後のＰＤＰを廃棄する必要がなく、従来に比べロスコストを低減することができる。
また、放電空間１４３には、画像表示用セル領域１の放電空間１２２に充填される、ネオンを主体にバッファガスとして微量のキセノンを混合した放電ガスと同じガスが、同一圧力（通常、６．５×１０^４〜１０×１０^４Ｐａ程度）で充填されている。なお、評価用セル領域２に充填される放電ガスの圧力を、画像表示用セル領域１に充填される放電ガスの圧力より低めに設定すれば、陰極材料へのイオン衝突が起こり易くなり、ＰＤＰの劣化が促進されるため、より短期間で寿命を評価することができる。さらに、放電ガスに加えられるバッファガスとして、キセノンの代わりに質量の小さいヘリウムなどを混合させても陰極材料へのイオン衝突が起こり易くなり、ＰＤＰの劣化を促進するため、より短期間で寿命を評価することができる。
〈ＰＤＰ１３０の駆動方法〉
▲１▼画像表示用セル領域１の駆動方法
まず、ＰＤＰ１３０が製品となったときに画像表示用セル領域１に通常の画像を表示する際の駆動方法について説明する。
一般に、ＰＤＰにおける多階調を表示するための駆動方式としては、１フレームを複数のサブフレームに分割し、各サブフレームにおける点灯／消灯を組み合わせて中間階調を表現する「フレーム内時分割階調表示方式」が用いられている。
図４は、「フレーム内時分割階調表示方式」において、例えば２５６階調を表現する場合における１フレーム２００の分割方法の一例を示す図であって、横方向は時間、斜線部はアドレス期間を示している。
同図に示す分割方法では、１フレーム２００を８つのサブフレーム２０１〜２０８に分割する。各サブフレーム２０１〜２０８の輝度の相対比が１：２：４：８：１６：３２：６４：１２８になるように各サブフレーム２０１〜２０８の放電維持パルス数を設定しておき、各サブフレーム２０１〜２０８の点灯、非点灯を表示輝度のデータにしたがってコントロールすることにより、８つのサブフレームの組み合わせで２５６階調を表示できるようになっている。
各サブフレーム２０１〜２０８は、それぞれに共通する一定時間をもつアドレス期間２０９と、輝度の相対比に対応した時間の長さをもつ放電維持期間２１０から構成される。
画像表示用セル領域１（図２）に画像表示させる際には、アドレス期間２０９において、サブフレームデータＤｓｆにしたがって、表示スキャン電極群１０４を１ライン毎に１からｎ番目まで順にスキャンして、表示スキャン電極群１０４とアドレス電極群１０７の間で微少放電を発生させ、点灯させたい放電セルに壁電荷を蓄積する。
その後、放電維持期間２１０において、表示電極群１０３および表示スキャン電極群１０４には、電圧Ｖ０かつ周期Ｔ０をもつ矩形波の放電維持パルス２１１，２１２が、それぞれ半周期ずれた状態でパネル全面同時に印加され、壁電荷が形成されている放電セルに放電が持続される。この放電により発生した紫外線が、各蛍光体１１０Ｒ，１１０Ｇ，１１０Ｂ（図１７）を励起発光させる。そして、このような操作をサブフレーム２０１からサブフレーム２０８間で繰り返すことにより、表示データに対応して、規則的に並んだセルが選択的に放電発光されて画像表示用セル領域１の表示領域１２３（図２）に表示が行われる。
以下、このようにＰＤＰにおいて通常の画像表示を行うような駆動方法を「画像表示用駆動」という。
▲２▼評価用セル領域２の駆動方法
次に、寿命試験の評価に供される評価用セル領域２の駆動方法について説明する。ここで、評価用セル領域２においても画像表示用領域１と同様の駆動方法を用いて通常の画像を表示するようにしても良いが、以下に示すようなＰＤＰの劣化を促進する方法を用いれば、より短期間にＰＤＰの寿命を評価することができる。
図５は、本第１の実施の形態におけるＰＤＰ寿命試験装置１５０の駆動方法を示すための１フレームの分割方法の一例を示す図であって、横方向は時間、斜線部はアドレス期間を示している。
１フレーム２３０は、１色当たり２５６階調を表示するために８つのサブフレーム２３１〜２３８に分割され、各サブフレーム２３１〜２３８は、その輝度の相対比が１：２：４：８：１６：３２：６４：１２８になるように放電維持パルスが設定される。そして、各サブフレーム２３１〜２３８は、アドレス期間２３９と、放電維持期間２４０とから構成される。以上の点においては、図４において説明した画像表示用駆動と同じ構成および期間の長さを持つものであり、詳細な説明は省略する。
画像表示用駆動と異なる点は、放電維持期間２４０においてパネル全面の表示電極群１３３および表示スキャン電極群１３４に同時に印加される、各放電維持パルス２４１，２４２である。
各放電維持パルス２４１，２４２は、周期Ｔ１、電圧Ｖ０の矩形波であるとともに、互いに半周期ずれるようになっており、周期Ｔ１は、画像表示用セル領域１における画像表示用駆動時の各放電維持パルス２１１，２１２の周期Ｔ０（図４）よりも短く設定されている。これにより、各放電維持期間２４０内での放電回数は、画像表示用駆動時における放電維持期間での放電回数と比較して増加する。すなわち、１フレーム２３０全体における総放電回数も画像表示用駆動と比べ増加する。
通常、ＰＤＰの寿命は、放電空間内での放電によって生じる、紫外線強度の低下、蛍光体の劣化、蛍光体表面への不純物の付着が原因と考えられる輝度の低下や、陰極材料へのイオン衝突、陰極材料へのスパッタ物による電界分布の変動等が原因と考えられる放電セルの誤作動等となって現れる。特に、放電時に発生する紫外線による蛍光体の劣化や、スパッタリングと呼ばれる放電時に起こる陰極材料へのイオン衝突は、ＰＤＰ寿命を縮める大きな理由となる。そのため、放電維持パルス２４１，２４２の周期Ｔ１を短く設定し、１フレーム２３０全体での放電回数も増加させることにより、放電に伴い発生する、上記スパッタリングおよび紫外線の総量の増加に伴う蛍光体の劣化などが促進され、当然ながらＰＤＰ１３０における評価用セル領域２の劣化は促進される。
このような放電回数の増加に伴うＰＤＰの劣化速度の加速具合は、画像表示用駆動時の１フレームにおける放電回数の総量と比例して大きくなることが今回の検討から判明しており、例えば、画像表示用駆動で全階調表示を行う際の１フレームの放電回数２５６回をその１０倍の２５６０回に設定することにより、ＰＤＰの劣化はその放電回数に比例して加速され、その寿命が約１０倍短縮される。
ここで、放電維持パルスの周期Ｔ１の値は、放電回数増加に伴うパネルの発熱によるパネル割れを生じさせないためには、約３μｓｅｃ〜１０μｓｅｃ程度が好ましい。
また、アドレス期間を通常使用条件と同じように設けているため、アドレス放電によるＰＤＰの劣化を考慮した通常使用条件に類する寿命試験を行うことができる。
したがって、評価用セル領域２において、通常使用条件を考慮しつつ、画像表示用駆動に比べてＰＤＰの劣化を促進することができ、短期間でＰＤＰ１３０の寿命評価をすることができる。
なお、上記説明では、１フレーム２３０の時間の長さを、画像表示用駆動における１フレーム２００の時間の長さと等しくしたが、１フレームの長さは画像表示用駆動と同じである必要はなく、これらの長さが異なっていた場合においても、１フレーム２３０全体における放電回数を１フレーム２３０の時間で割った単位時間当たりの放電回数を、画像表示用駆動における１フレーム２００全体における放電回数を１フレーム２００の時間で割った単位時間当たりの放電回数より多くするように周期Ｔ１を設定すれば同様の効果が得られる。
また、通常使用条件を考慮することはできなくなるが、少なくとも１回のアドレス放電を行い、その後に放電維持パルスを連続して印加するようにしても劣化を促進することができるため、簡素化した寿命評価をすることができる。
〈ＰＤＰ製品の製造方法〉
次に、ＰＤＰ１３０の製造方法について、その一例を図３を用いて説明する。
前面ガラス基板１０１には、互いに相対して対をなす表示電極群１３３、表示スキャン電極群１３４が平行配置されて形成される。この表示電極群１３３および表示スキャン電極群１３４は、透明電極と、透明電極の電気抵抗による電圧低下を防ぐためのバス電極（ともに不図示）からなる。この透明電極は、スパッタ法により形成されるＩＴＯ膜であり、バス電極は、Ａｇを印刷法により形成して得られる。この表示電極群１３３および表示スキャン電極群１３４の上には、印刷法により誘電体層１０５が被覆され、さらにＥＢ蒸着によりＭｇＯ保護膜１０６が被覆される。なお、各電極群においては、透明電極を設けず、バス電極のみで形成することもできる。
一方、背面ガラス基板１０２には、ストライプ状のアドレス電極群１３５が形成される。このアドレス電極群１３５は、Ａｇを印刷法により形成することにより得られ、さらに印刷法により形成される誘電体層１０８に被覆される。なお、各電極群１３３，１３４，１３５は、画像表示用セル領域１における各電極群１０３，１０４、１０７の配列されるピッチと等しく構成されるので、セル領域の面積に比例してそれぞれ少ない本数が配列されている。
アドレス電極群１３５の隣接する位置には、例えばガラス材料を含むペーストを繰り返しスクリーン印刷し、その後焼成することによりリブ１３９がそれぞれ形成される。このリブ１３９により、放電空間１４３はライン方向にサブピクセル（単位発光領域）毎に区画され、その間隙寸法が一定値（１５０μｍ程度）に規定される。
ここで、上記各構成要素が形成された、前面ガラス基板１０１および背面ガラス基板１０２には、評価用セル領域２と同様の方法により同時に画像表示用セル領域１の構成要素も形成される。こうした各ガラス基板１０１，１０２における構成要素の作製方法などについては、特開２０００−１３３１４３号公報などに開示されている公知の方法を用いることができる。評価用セル領域２は、画像表示用セル領域１と同一の各ガラス基板１０１，１０２上に同時に形成されるので、評価用セル領域２を設けるコストは材料費程度とＰＤＰ１枚のコストに比べ僅かで済むうえ、同じ条件で作製された評価用セル領域２の寿命特性の評価結果を、画像表示用セル領域１の寿命特性の評価をそのまま適用できる。
そして、各ガラス基板１０１，１０２が、ギャップを保ちながら放電空間１２２，１４３（図３）を形成するように対向して重ね合わされた後、各セル領域１，２の周縁はフリットガラスからなる気密シール層１２１，１４１により封止される。
その後、各放電空間１２２、１４３の排気を行い、上記放電ガスの充填を行うことにより作製される。この放電ガスの充填は、画像表示用セル領域１および評価用セル領域２へ同時に充填しても良いが、評価用セル領域２に先に充填して寿命試験を行った後、画像評価用セル領域１に充填してもよい。
このように製造されたＰＤＰ１３０は、その評価用セル領域２の表示電極群１３３が、図１に示すように電気的に共通化され、ライン方向の一端（図の右端）側で表示ドライバ回路１５３と接続される。また、表示スキャン電極群１３４は、ライン方向の他端（図の左端）側でそれぞれ独立して表示スキャンドライバ回路１５４と接続される。アドレス電極群１３５は、その一端がそれぞれ独立した状態でアドレスドライバ回路１５５に接続される。
これらのドライバ回路１５３〜１５５を介して、各電極群１３３〜１３５へ図２０を用いて説明した駆動方法を用いて電圧を印加することにより、評価用セル領域２を劣化させて、その輝度低下および放電セルの誤作動等の発生を確認して寿命を判断する。
この判断は、所定の検査項目（例えば、輝度の５０％低下までの時間やセルの誤作動の出現など）について検査を行い、この検査結果に基づいて行う。この判断により、良好な結果を得られたプラズマディスプレイパネルについては、製品とし、結果が悪かったものについては不良品として製品とは区別することにより、市場には短寿命のプラズマディスプレイパネルをなるべく流通させないようにすることができる。
以上説明してきたように、本第１の実施の形態に係るＰＤＰ１３０によれば、同一基板上に画像表示用セル領域１と、寿命を評価するための評価用セル領域２を備える。この各セル領域１，２は、気密シール層１２１，１４１によって独立した状態に形成されるとともに、それぞれに独立駆動できる電極群が設けられる。
そして、ＰＤＰ１３０の寿命を評価する際には、評価用セル領域２に対して寿命評価を行えば、その評価に伴い評価用セル領域２のセルが劣化したり、不純物ガスが発生したりしても、気密シール層１２１により独立して形成された画像表示用セル領域１は製品として使用することができる。そのため、寿命試験用に抜き出すＰＤＰサンプル数を多くしたとしても、ＰＤＰを廃棄する必要がなく、ロスコストを低減することができる。
さらに、評価用セル領域２に対して劣化を促進する駆動方法を用いたり、劣化を促進するようなガスを封入したりすれば寿命試験の期間をさらに短縮することができる。
そして、ＰＤＰを寿命試験してその結果が良好なものについてのみＰＤＰ製品とする製造方法により、短寿命なＰＤＰを市場に流通させる確率を低減することができる。
なお、評価用セル領域２の形成位置は、図２に示すような位置が好ましいが、ＰＤＰ１３０がテレビなどの完成品として形成された場合に、画像表示用セル領域１が画面として露出され評価用セル領域２が隠れるような位置にあれば、画像表示用セル領域１の上端、下端、外周など、どの位置に形成されてもよい。また、ＰＤＰ１３０がテレビなどに使用された場合において邪魔にならない位置に評価用セル領域２を複数設けるようにして、複数のセルで寿命試験を行うようにすれば、さらに寿命試験の信頼度が向上する。
また、基板上に１つの評価用セル領域を設けるとともに、複数の画像表示用セル領域を設けてもよい。これにより、評価用セル領域においてパネルの寿命試験を行えば、２つの画像表示用セル領域の寿命試験を兼ねることができ、生産性が向上する。このように作製されたＰＤＰは、画像表示用セル領域毎にレーザ等を用いて切断すればよい。また、複数の画像表示用セル領域のうち一つを寿命評価用セル領域として用いても構わない。
また、図１７に示す長方形の画像表示用セル領域１の一部、例えば一番右端の放電セル数列などを気密シールで仕切り、画像評価用セル領域２として用いるようにしてもよい。また、評価用セル領域２の放電空間１４３と画像表示用セル領域１の放電空間１２２とが独立して形成されているので、評価用セル領域２を寿命試験後に削除するようにしてもよい。さらに、画像表示用セル領域１を複数形成できるような大きな前面ガラス基板１０１および背面ガラス基板１０２を用いて、同一基板上に複数の画像表示用セル領域を設けるようにしてもよい。こうすれば、複数の画像表示用セル領域における寿命が、１つの評価用セル領域２の寿命試験を行うことにより判別でき、コストの観点から好ましい。
また、上記各電極群１３３〜１３５は、画像表示用セル領域１の各電極群１０３，１０４，１０７と独立して設けられているが、これらを共通化して設けてもよい。その際には、寿命試験を行うときに評価用セル領域２のみを点灯させるようにアドレス放電を行う必要がある。
（第２の実施の形態）
次に、本発明の一適用例としてのＰＤＰ寿命試験装置の第２の実施の形態について説明する。なお、本第２の実施の形態に係るＰＤＰ寿命試験装置１５０は、第１の実施の形態と図１の構成、および図５に示す評価用セル領域２の駆動方法が異なるほかは同様の構成であるので、同様の構成については説明を省略する。
本第２の実施の形態におけるＰＤＰ寿命試験装置１５０の構成は、図１を用いて第１の実施の形態で説明した構成と略同じであるが、フレームメモリ１５１への映像データの格納方法が異なるので、その点について説明する。
フレームメモリ１５１に格納された映像データＤＲ，ＤＧ，ＤＢは、コントローラ１５２により読み出された後に、各色毎にセルの点灯の要否を示すサブフレームデータＤｓｆに変換され、再びフレームメモリ１５１に格納される。ここで、フレームメモリ１５１は、第１の実施の形態においては、１フレームごとに各サブフレームの映像データを分割して格納していたが、本第２の実施の形態においては、複数のサブフレームに分割せずに１つのサブフレームの映像データとして格納する。したがって、ＰＤＰ１３０の評価用セル領域２においてはセルを点灯するか否かの２階調の表示を行うこととなる。
図６は、本発明の第２の実施の形態におけるＰＤＰ寿命試験装置１５０の駆動方法を示したものであり、横方向は時間、斜線部はアドレス期間を示している。
１フレーム２５０は、第１の実施の形態における１フレーム２３０（図５）と異なり、複数のサブフレームに分割されずにそのまま１つのサブフレーム２５１を形成する。サブフレーム２５１は、アドレスを行うアドレス期間２５２と、維持放電を行う放電維持期間２５３を有する。ここで、１フレーム２５０、アドレス期間２５２は、画像表示用駆動における、１フレーム２００、アドレス期間２０９と同じ時間の長さを持ち、他方、放電維持期間２５３は、サブフレーム２５１のうち、上記アドレス期間２５２を除いた時間の長さとなる。ここで、各表示電極群１３３および表示スキャン電極群１３４に印加される各放電維持パルス２５４，２５５は、画像表示用駆動と同じ、周期Ｔ０，電圧Ｖ０の矩形波である。
上述した構成により、１フレーム２５０中に占める、放電維持期間２５３の長さを画像表示用駆動と比べ大きくとることができる。
例えば、図４に示すような２５６階調を表示する画像表示用駆動方法を用いた場合、１フレーム２００中のアドレス回数は、各サブフレーム２０１〜２０８においてそれぞれ１回行うので計８回となる。一方、本第２の実施の形態の図６に示す駆動方法を用いた場合、１フレーム２５０中のアドレス回数は、サブフレーム２５１のアドレス期間２５２の計１回で済む。
すなわち、サブフレーム数が画像表示用駆動と比べて減ることにより、１フレーム２５０中におけるアドレス期間２５２の占める長さを画像表示用駆動時に比べて低減することができるので、その分放電維持期間２５３に割り当てられる期間を大きく取ることができる。この放電維持期間２５３の増加により、画像表示用駆動と同じ周期Ｔ０の放電維持パルスが印加されても、１フレーム２５０中の放電回数は全階調表示する際の画像表示用駆動に比べ増加することができる。
ＰＤＰは、すでに述べた通り、放電回数に比例して寿命劣化が加速される。なお、この実施の形態によれば、アドレス回数は減ることになるが、アドレス放電自体は行われており、通常使用条件に近い形でＰＤＰの寿命を評価することができる。したがって、上述した駆動方法により、通常使用条件を考慮しつつ、画像表示用駆動を行う場合にくらべてＰＤＰの評価用セル領域２の劣化を促進することが可能となり、短期間で寿命を評価することができる。
また、本第２の実施の形態においては、１フレーム２５０を分割せずにそのままひとつのサブフレーム２５１としたため高精細な画像表示はできないが、そのような画像表示を行うために複数のサブフレームに分割したとしても、画像表示用駆動時におけるサブフレームの数よりサブフレームの数が少なければ、その分１フレーム２５０に占めるアドレス期間２５２を減らして放電維持期間を増加することができるので、ＰＤＰの劣化を促進することができる。
（第３の実施の形態）
次に、本発明の一適用例としてのＰＤＰの駆動方法における第３の実施の形態について説明する。なお、本第３の実施の形態におけるＰＤＰ寿命試験装置１５０は、第１の実施の形態で説明した図１における映像データＤＲ，ＤＧ，ＤＢがパネル全面を表示させたり、部分的に矩形領域を表示させたりするデータであること、および図５に示す評価用セル領域２の駆動方法が異なるほかは、図２、図３、および図４を用いて説明した構成は同様であるので、その構成については説明を省略する。
図７は、本第３の実施の形態におけるＰＤＰ寿命試験装置１５０の駆動方法を示したものであり、横方向は時間、斜線部はアドレス期間を示している。
１フレーム２７０は、例えば、８つのサブフレーム２７１〜２７８に分割される。この１フレーム２７０、サブフレーム２７１〜２７８は、図４に示す画像表示用駆動の１フレーム２００、サブフレーム２０１〜２０８と同じ長さを持つ。
各サブフレーム２７１〜２７８は、データを書き込むアドレス期間２７９と維持放電を行う放電維持期間２８０を有する。
アドレス期間２７９においては、表示スキャン電極群１３４（１〜Ｎ）とアドレス電極群１３５（１〜Ｍ）のすべての電極に対して、アドレス２８１を同時かつ１度だけ行い、電圧を印加するようにしている。このアドレス２８１を１度に同時に行うことにより、表示スキャン電極群１３４とアドレス電極群１３５の間で微少放電が発生し、評価用セル領域２のパネル全面へ壁電荷の形成が行われる。
そして、放電維持期間２８０において、表示電極群１３３および表示スキャン電極群１３４には、画像表示用駆動と同じ電圧Ｖ０かつ周期Ｔ０をもつ放電維持パルス２８２，２８３が、それぞれ半周期ずれた状態で同時に印加され、アドレス期間２７９において壁電荷が形成されている放電セルに放電を持続することにより、パネル全面に白色の画像が表示される。ただし、パネルへ点灯させる画像パターンは、アドレス２８１を同時に１度しか行わないために、固定された１ヶ所の長方形となる。
上記アドレス期間２７９においては、アドレス２８１を同時に行うことにより、表示スキャン電極群１３４へアドレス電圧を印加する際のスキャンを１度で行うことができるので、その分、画像表示用駆動に比べてアドレス期間２７９の長さを短くすることができる。ここで、放電維持期間２８０は、各サブフレーム２７１〜２７８から、時間の短くなった各アドレス期間２７９をそれぞれ差し引いた値となるので、画像表示用駆動のアドレス期間２１０と比べてその時間が長くなる。
この放電維持期間２８０の長さの増加により、たとえ、画像表示用駆動と同じ周期Ｔ０を持つ放電維持パルス２８２，２８３が印加されても、１フレーム２７０全体における放電回数は画像表示用駆動にくらべて増加するので、上述したようにＰＤＰの劣化が促進され、短期間で寿命を評価することができる。
本来、表示スキャン電極群１３４の本数回スキャンして行っていた点灯セルへの壁電荷の形成が、わずか１度のアドレス２８１によって行われ、アドレス自体が簡素化されることとなるが、アドレス放電と同じ放電は行われているので、本駆動方法で通常使用条件を考慮したＰＤＰの寿命を評価することができる。
なお、本第３の実施の形態においては、アドレスを１度で行うようにしたが、２本以上の表示スキャン電極群１３４に同時にアドレスを行えばよく、これにより画像表示用駆動のスキャン回数より少ないスキャン回数（表示スキャン電極群１３４の本数Ｎ未満の回数）とすることができる。そのため、画像表示用駆動と比べてアドレス期間２７９を短縮することができるので、その分放電維持期間２８０が長くなり、上記と同様にＰＤＰの劣化を促進することができる。
（第４の実施の形態）
次に、本発明の第４の実施の形態にかかるＰＤＰの駆動方法について説明する。なお、本第４の実施の形態におけるＰＤＰ寿命試験装置１５０は、第１の実施の形態と評価用セル領域２の駆動方法（図５）が異なるほかは、図１、図２、図３および図４を用いて説明した構成と同様であるのでその構成については説明を省略する。
図８は、本発明の第４の実施の形態におけるＰＤＰ寿命試験装置１５０の駆動方法を示したものであり、横方向は時間、斜線部はアドレス期間を示す。
１画面を表示する期間である１フレーム２９０は、例えば、８つのサブフレーム２９１〜２９８に分割される。この１フレーム２９０、サブフレーム２９１〜２９８は、図１９に示す画像表示用駆動のフレーム２００、サブフレーム２０１〜２０８とそれぞれ同じ長さの時間を持つ。
各サブフレーム２９１〜２９８は、データを書き込むためのアドレス期間２９９と維持放電を行う放電維持期間３００を有する。
アドレス期間２９９においては、第１の実施の形態のアドレス期間と同様、サブフレームデータＤｓｆにしたがって１ライン毎に表示スキャン電極群１３４をスキャンさせることにより、表示スキャン電極群１３４とアドレス電極群１３５の間で微小放電を発生させてパネル内の点灯させたいセルに壁電荷を蓄積する。
その後、放電維持期間３００において、パネル全面の表示電極群１３３および表示スキャン電極群１３４に、電圧Ｖ１かつ周期Ｔ０をもつ矩形波の各放電維持パルス３０１，３０２を半周期ずらせて印加させ、壁電荷が形成されているセルに放電を維持させる。これにより、表示電極群１３３と、表示スキャン電極群１３４との間には互いに電圧の極性を反転させながら放電が繰り返し起こる。
ここで、各放電維持パルス３０１，３０２の電圧Ｖ１は、画像表示用駆動時における放電維持パルス電圧Ｖ０（通常、１５０〜１８５Ｖ程度）と比べて、印加される電圧が高く設定されている。
この高い電圧Ｖ１のため、放電維持期間３００において発生する放電は、画像表示用駆動時に比べて強くなり、陰極材料へのイオン衝突などの現象を促進し、たとえ、単位時間当たりの放電回数が画像表示用駆動と同じ（放電維持パルスの周期がＴ０と等しい。）であっても蛍光体の劣化などを促進させる。したがって、ＰＤＰを短期間で寿命評価できるようになる。また、画像表示用駆動と同じアドレスを行っていることから、アドレス電極の劣化を考慮に入れた寿命を評価することできる。
ここで、各放電維持パルス３０１，３０２の電圧Ｖ１の値は、ＰＤＰの劣化速度を考慮すると電圧が高い方が好ましいが、大きくしすぎるとパネル内での発熱が加速し、パネル割れが発生する可能性が高くなるので、約１５０Ｖ〜２５０Ｖ程度が好ましい。
（第５の実施の形態）
次に、本発明の一適用例としてのＰＤＰの寿命試験方法および寿命試験装置について説明する。なお、本第５の実施の形態におけるＰＤＰ寿命試験装置３５０は、第１〜４の実施の形態で説明したＰＤＰ寿命試験装置１５０（図１）と信号発生器３５１を備えていることが異なり、これに接続されるＰＤＰは、従来の技術で説明したＰＤＰ１００（図１６，３２）と同じものを一例として用いている。
〈ＰＤＰ寿命試験装置３５０の全体構成〉
図９は、本第５の実施の形態におけるＰＤＰ寿命試験装置３５０の構成を示す回路ブロック図である。
ＰＤＰ寿命試験装置３５０は、ＰＤＰ１００を寿命試験するためにこれを接続して駆動させるためのものであって、同図に示すように、寿命試験のための点灯パターンに相当する映像データＤＲ（赤），ＤＧ（緑），ＤＢ（青）などを出力する信号発生器３５１と、この信号発生器３５１より出力された映像データＤＲ，ＤＧ，ＤＢなどを格納するフレームメモリ３５２と、フレームメモリ３５２への映像データＤＲ，ＤＧ，ＤＢの入出力などの処理および各回路の駆動を制御するコントローラ３５３と、コントローラ３５３からの指示により、表示電極群１０３に放電維持電圧を印加する表示ドライバ回路３５４と、表示スキャン電極群１０４に走査アドレスおよび放電維持電圧を印加する表示スキャンドライバ回路３５５と、アドレス電極群１０７に書き込み電圧を印加するアドレスドライバ回路３５６、および各ドライバ回路３５４，３５５，３５６に電圧を供給する電源装置３５７，３５８，３５９などを備える。ＰＤＰ寿命試験装置３５０は、図１を用いて説明したＰＤＰ寿命試験装置１５０と信号発生器３５１を備えるほかは略同様の構成をしており、それらの構成については説明を省略する。
信号発生器３５１は、所望の点灯パターンに相当する画像信号を発生させることができる公知のプログラマブルビデオ信号発生器であり、各ピクセルの赤色（Ｒ）、緑色（Ｇ）、青色（Ｂ）の輝度レベル（階調レベル）を示す多値の映像データＤＲ，ＤＧ，ＤＢ、および各種の同期信号をフレームメモリ３５２およびコントローラ３５３に出力する。
フレームメモリ３５２は、１フレームごとに各サブフレームの映像データを分割して格納できるものであり、信号発生器３５１から入力された映像データＤＲ，ＤＧ，ＤＢなどを一旦格納する。このフレームメモリ３５２に格納された映像データＤＲ，ＤＧ，ＤＢは、コントローラ３５３によって読み出された後に、階調表示のために、各色毎に各サブフレームにおけるセルの点灯の要否を示す２値データの集合である映像データ（以下、サブフレームデータＤｓｆという。）に変換され、再びフレームメモリ３５２に格納される。
コントローラ３５３は、サブフレームデータＤｓｆに応じて、後述する駆動方法を用いて表示ドライバ回路３５４、表示スキャンドライバ回路３５５、アドレスドライバ回路３５６を駆動する。
このＰＤＰ寿命試験装置３５０により、以下に説明する方法を用いてＰＤＰ１００の画像表示領域１２３に画像を表示させて寿命評価を行う。なお、ＰＤＰ１００の駆動方法については、上記第１の実施の形態において図４を用いて説明したフレーム内時分割諧調表示方式を用いる。
〈画像表示領域１２３における点灯パターン〉
次に、信号発生器３５１から送信される画像データに基づいてＰＤＰ１００の画像表示領域１２３に表示する本発明に特有の点灯パターンについて説明する。
図１０は、ＰＤＰ１００の画像表示領域１２３における点灯パターンを示す。
同図に示すように、画像表示領域１２３に表示される画像は、常時点灯部分３０１と、点滅部分３０２とからなる。
常時点灯部分３０１は、寿命試験期間中白表示を行って寿命測定が行われる部分であり、画像表示領域１２３の周縁部を除く所定の領域に配置される。この常時点灯部分３０１に表示する画像については、Ｒ，Ｇ，Ｂ色の蛍光体層を有する一組のセルを常時点灯させて全白表示（全階調表示）することにより維持放電回数を多くすることがＰＤＰの寿命を劣化させる点で好ましいが、若干階調を下げてもよく、また、任意の画像を表示しても問題はない。
点滅部分３０２は、画像表示領域１２３の常時点灯部分３０１以外のすべての領域に設けられ、点灯、消灯を繰り返すことにより点滅を行う部分である。この点滅は、１サイクルを２秒周期として、その時間の内所定の割合で連続点灯させて、残りの時間を消灯するように行う。このように常時点灯部分３０１と点滅部分３０２とを設定することによって、寿命測定は、常時点灯部分３０１を部分的に劣化させて、その輝度劣化や放電特性の変動（放電セルの誤動作）を測定および検出することにより行うことができる。また、画像表示領域１２３の周縁部には点滅部分３０２が表示されるが、この点滅部分３０２では消灯時間における冷却がなされるので、気密シール層１２１付近での各ガラス基板１０１，１０２の熱膨張による応力集中は抑えられ、パネル割れの発生は抑制される。
ところで、一般に、蛍光体層１１０Ｒ，１１０Ｇ，１１０Ｂなどは、その製造段階において公知の有機物などが混練されており、焼成工程等でその大部分は除去されるのであるが、極微量の有機物が不純物として残る。そして、常時点灯部分３０１の点灯の際には、維持放電で発生した熱が加わることや、スパッタリングの影響により蛍光体層１１０Ｒ，１１０Ｇ，１１０Ｂなどが高温になり、その中に含まれる不純物がガス化されて放出される。また、点滅部分３０２においても点灯時には高温になり不純物がガス化されると考えられる。この不純物ガスは、放電空間１２２内の不活性ガスの原子のエネルギーを奪い輝度低下を引き起こしたり、放電特性の変動を発生させ放電セルの誤動作を引き起こしたりするので、放電空間１２２に存在する不純物ガスの量はＰＤＰ１００の寿命に大きく影響を与える。
そのため、従来の寿命試験技術においては、画像表示領域６２３に常時消灯部分７０２（ともに図１８参照）が設けられていたので、常時点灯部分７０１（図１８）の点灯により発生した不純物ガスは拡散した後、常時消灯部分７０２における蛍光体層等に捕捉される。常時消灯部分７０２は、寿命試験の期間中始終消灯しており、放電によるエネルギーが加わることがないため、捕捉された不純物はそのまま蓄積していき、この領域から再び拡散していくことはないと考えられる。その結果、放電空間内の不純物ガス濃度は次第に低下していき、不純物ガスに起因する輝度劣化や、放電セルの誤動作は発生しにくくなる。一方、通常使用条件では、常時消灯部分は存在しないので、このような放電空間における不純物ガス濃度の低下は生じない。よって、従来の寿命試験では、通常使用条件と異なって不純物ガスの挙動を考慮した正しい寿命評価をしにくい。
これに対して、本第５の実施の形態においては、常時消灯部分は設けておらず画像表示領域１２３全域において必ず維持放電が行われる。また、不純物ガスが点滅部分３０２において蛍光体層１１０Ｒ，１１０Ｇ，１１０Ｂに捕捉されたとしても点滅によってガス化されるに十分なエネルギーがすぐに加えられて不純物ガスが放出される。したがって、放電空間１２２における不純物ガス濃度は常時消灯部分を有する従来技術のように低下しないと推定される。そのため、不純物ガスの影響を考慮した通常使用に類する条件でＰＤＰの寿命を評価することができると考えられる。
ここで、常時点灯部分３０１の面積は、寿命測定を行うための測定機器の関係上、少なくとも１０セル程度の面積が必要であるが、放電空間１２２（図１７）における不純物ガスの影響を考慮した通常使用に類する寿命を評価しようとすれば、通常使用条件に近い大きな面積を有するほうが好ましい。一方、その面積を大きくしすぎると今度は維持放電の発熱によるパネル割れの問題が生じるが、パネルを冷却するファンを設けるなどしてパネルからの放熱量を増やすことによりその問題も軽減すると考えられるので、寿命試験時のパネルからの発熱量、放熱量などを考慮して常時点灯部分３０１の大きさを決めればよい。
また、点滅部分３０２の点滅周期は、特に限定されず、維持放電による発熱を冷却する時間の関係を考慮して決めればよいが、１サイクルの点滅における連続点灯時間が少なくとも１０％を占めることが望ましい。これは、その値未満であると放電回数が少ないため蛍光体層などの温度が上昇せず、蛍光体層等に捕捉された不純物がガス化されずに残ってしまう可能性があると推定されるからである。
なお、常時点灯部分３０１の配置については、図１０のように中央部全体に表示するパターンに限られることなく、例えば、図１１のように複数の常時点灯部分３１１を格子状に配置して表示するパターン、または、図１２のように、複数の常時点灯部分３２１と、点滅部分３２２を千鳥格子に配置して表示するパターンなどが考えられるが、基本的には常時点灯部分３１１，３２１を寿命測定に差し支えない程度の大きさで点灯させるとともに、画像表示領域１２３の周縁部全域にわたって点滅部分３１２，３２２が配置されればよい。これにより、パネル割れの発生を抑制しながら通常使用に類する条件でＰＤＰの適正な寿命を評価することができる。
上述したように、画像表示領域における点灯パターンが、常時点灯部分と点滅部分により構成され、点滅部分は画像表示領域の周縁部の略全域に配置されるので、パネル割れが発生する気密シール層付近の発熱が抑制されるとともに、点滅部分においても蛍光体層に捕捉された不純物がガス化されるに十分な放電が行われ、放電空間内部における不純物ガス濃度が低下することもなく、通常使用に類する条件のもとで寿命試験を行うことができる。
（第６の実施形態）
次に、本発明の第６の実施の形態に係るＰＤＰの寿命試験方法および寿命試験装置について説明する。なお、本第６の実施の形態においては、第５の実施の形態と図１３に示す点灯パターンが異なるのみであり、他のＰＤＰ寿命評価装置などの構成については同じであるため説明は省略する。
図１３は、本発明の第６の実施の形態におけるＰＤＰ１００の画像表示領域１２３の点灯パターンを示す。
画像表示領域１２３は、常時点灯部分４０１と、点滅部分４０２とからなる。
常時点灯部分４０１は、第１の実施の形態における図２０で説明した常時点灯部分３０１と同じく、画像表示領域１２３の中央部に長方形の形で配置され、寿命試験期間中、始終白表示で点灯され続ける。この常時点灯部分４０１において劣化を進行させ、輝度劣化および放電特性の変動を測定することによりＰＤＰ１００の寿命評価を行う。
点滅部分４０２は、画像表示領域１２３の周縁部に常時点灯部分４０１を囲むように配置されている。
本実施の形態では、一定幅Ｌ２をもつ帯形状を表示するように、白表示するスクロール点灯部分４０３が、その形状を維持しながら画像表示領域１２３の図面左端から右端までを周期的にスクロール移動を繰り返し、スクロール点灯部分４０３が通過するとき以外は点滅部分４０２は消灯状態とする（図１３では、スクロール点灯部分４０３が通過していない領域４０４が消灯状態となっている。）。これによって点滅部分４０２の各部分は周期的に点滅することになる。このスクロール点灯部分４０３の移動方向の幅Ｌ２は、画像表示領域１２３における横方向の長さＬ１の所定の割合（少なくとも１０％が好ましい）をもつ。そして、スクロール点灯部分４０３が同じ場所に戻ってくるまでの１サイクルの時間、すなわちスクロール周期は２秒と設定した。これにより、点滅部分４０２における各放電セルは、１サイクル毎にスクロール周期の所定割合の時間白表示されるので、第１の実施の形態と同様、放電空間の不純物ガス濃度は低下せず、そのため、ＰＤＰは不純物ガス濃度を考慮して通常使用に類する寿命を適正に評価することができ、パネル割れの防止が図られる。ここではスクロール周期は２秒と設定したが、点滅部分４０２における発熱および放熱を考慮してパネル割れを防止できる範囲で設定すればよい。
なお、本第６の実施の形態においては、スクロール方向を図面向かって左から右へ向かって進むようにしたが、特にこれに限定されず、左から右、上から下、対角方向など種々の方向であっても同じ効果が得られる。
（第７の実施の形態）
次に、本発明の第７の実施の形態に係るＰＤＰの寿命試験方法および寿命試験装置について説明する。なお、本第７の実施の形態においては、第５の実施の形態と図１４に示す点灯パターンが異なるのみであり、ＰＤＰ寿命試験装置などの構成については同じであるため説明は省略する。
図１４は、本発明の第７の実施の形態におけるＰＤＰの画像表示領域１２３の点灯パターンを示す。
同図に示すように、画像表示領域１２３は、高階調表示部分４１１と、低階調表示部分４１２から構成され、すべての領域で常時点灯されている点において上記第５および第６の実施の形態と異なる。
高階調表示部分４１１は、第６の実施の形態の図１０における常時点灯部分３０１と同じく、画像表示領域１２３の中央部において長方形の形で配置され、寿命試験期間中白表示、すなわち赤、緑、青すべてを高階調で表示する部分である。この高階調表示部分４１１において、輝度劣化および放電特性の変動を測定することにより寿命評価が行われる。
低階調表示部分４１２は、高階調表示部分４１１よりも低い所定の階調で表示する部分である。すなわちこの部分は、１フレーム中には必ず維持放電が起こり発光するが、サブフレーム毎においては必ずしも維持放電を行わず発光しない期間を有することにより、１フレームにおける維持放電の回数を少なくして発熱を抑え低階調を表示する部分であり、高階調表示部分４１１を囲むように画像表示領域１２３の周縁部全域に配置される。低階調表示部分４１２における表示階調は、発熱および放熱を考慮してパネル割れが発生しない範囲で設定すればよい。
ここで、所定の階調としては、少なくとも最高階調の１０分の１階調以上が好ましく、例えば、図４において説明したように、表示可能な階調が２５６階調であれば、１フレーム２００期間中、サブフレーム２０２，２０４，２０５において維持放電を行い、２６階調目を表示する。これにより、低階調表示部分４１２では、全放電維持期間のうち所定割合の時間（少なくとも１０分の１以上の時間）において維持放電が行われる。
本実施の形態においても、第５の実施の形態と同様の作用によって、放電空間内の不純物ガス濃度は低下せず、パネル割れの防止が図られる。そのため、不純物ガス濃度を考慮して通常使用に類するＰＤＰの寿命を適正に評価することができる。
なお、低階調表示部分４１２は、その画像表示領域の周縁部に向かって低階調となるようにグラデーション表示することも可能である。
上記各第５〜第７の実施の形態においては、図４に示すフレーム内時分割階調表示方式における放電維持パルスの周期をＴｏとしたが、これよりも周期を短いＴ１とすることにより放電回数を増加させて寿命を加速させて寿命試験の期間を短縮させるようにしてもよい。この場合、放電回数の増加に伴うパネル内での発熱量が多くなると、パネル内での常時点灯部分（高階調表示部分）の位置や面積を調整することにより、場合によっては、水冷もしくは空冷による適切な冷却を施すことによりパネル割れの問題を解消することができる。
また、上記第６および第７の実施の形態においては、常時点灯部分４０１および高階調表示部分４１１の配置パターンを図１３，１９に示すように画像表示領域１２３の中心に配置するように行ったが、その配置パターンを、例えば、常時点灯部分３０１，３１１（図１１，１７）のようにするとともに、その残りの領域を点滅部分および低階調表示部分と置き換えて表示するパターンで行っても問題はない。点滅部分および低階調表示部分が画像表示領域の周縁部に配置されてさえいれば、上述したようにパネル割れの発生が抑制されるとともに不純物ガスの影響を考慮した通常使用に類する条件でＰＤＰの寿命試験を行うことができる。
（第８の実施の形態）
上記第１の実施の形態においては、評価用セル領域２においてＰＤＰの寿命を評価するようにしていたが、評価用セル領域２は、寿命評価だけではなく画像表示用セル領域１の最適なエージング時間を予測するために用いることもできる。
以下、本発明の第８の実施の形態に係るＰＤＰのエージング試験方法について説明する。なお、本第８の実施の形態においては、第１の実施の形態と同様のＰＤＰ１３０と寿命試験装置１５０を用い、寿命試験装置１５０を評価用セル領域２のエージング試験目的に使用する以外は、第１の実施の形態と同様の構成であるため、その構成については説明を省略する。
通常、ＰＤＰは、製品として出荷する前に、一定時間のエージングが行われている。このエージングは、パネル内に吸着されている不純物ガス分子を取り除くために、ＰＤＰの全面を発光させるとともにそれが安定化するまで続ける操作のことを言う。すなわち、ＰＤＰの発光時におけるプラズマの作用で不純物ガス分子を脱離して、その不純物ガス分子をプラズマの作用が及ばない領域まで排除することによって、ＰＤＰは、放電特性の安定化、および蛍光体の発光特性の安定化が行われる。
しかしながら、同一プロセスを経て製造されたＰＤＰであっても製造工程の誤差による製品のばらつきが生じて、最適なエージング時間がパネルによって異なり、パネル毎にエージング時間の過不足が生じやすい。そのため、それぞれのパネルに対する最適なエージング時間が求められる。
そこで、本実施の形態においては、予め評価用セル領域２と画像表示用セル領域１とのエージング時間の相関性を求めておき、それぞれのＰＤＰにおいて、評価用セル領域２のエージング時間を求めることによって、画像表示用セル領域１の最適なエージング時間を算出するようにしている。
図１５は、ＰＤＰ１３０の評価用セル領域２と画像表示用セル領域１におけるエージング完全点灯電圧とエージング時間との関係を示すグラフである。なお、エージング完全点灯電圧とは、各セル領域１，２において、全てのセルが点灯するときの表示電極群と表示スキャン電極群に印加された最小電圧である。
同図に示すように、評価用セル領域２のエージング時完全点灯電圧（以下、「点灯電圧」という。）は、エージング時間とともに低下し、最終的に時間Ｔａ以降、略Ｖａでサチュレートすることがわかる。すなわち、点灯電圧がＶａで安定し始める最初の時間Ｔａが評価用セル領域２における最適エージング時間となる。
また、画像表示用セル領域１の点灯電圧もエージング時間とともに低下し、時間Ｔｂ以降、略Ｖｂでサチュレートする。この時間Ｔｂが、画像表示用セル領域１の最適エージング時間となる。
ここでは、エージング最適時間Ｔａ＜Ｔｂ、点灯電圧Ｖａ＜ｖｂとなっており、同じパネル内にセル領域が形成されていても各セル領域１，２のエージング特性が一致していないことがわかる。これは、各セル領域１，２の放電領域の面積が異なることによる各放電空間内の到達圧力の違い、プラズマが及ばない領域（表示領域の外周部など）の面積の違いなどによって、同一エージング条件であっても、各セルのエージング特性が異なると考えられるからである。
ここで、この時間Ｔａと時間Ｔｂとの関係から以下の式が導き出される。
Ｔａ＝α×Ｔｂ　・・・　▲１▼
上記▲１▼式より、各セル領域１，２の相関関係を示す係数αが求められる。このようにして、一度、評価用セル領域２と画像表示用セル領域１との相関関係を示す係数αを求めておけば、それ以降では、パネル毎に評価用セル領域２のエージング最適時間Ｔａを測定し、その値をαで割るのみで、画像表示用セル領域１のエージング最適時間Ｔｂを求めることができる。
これにより、パネル毎に微妙にずれる画像表示用セル領域１の最適エージング時間を、評価用セル領域２における最適エージング時間の測定によって推定することができるので、従来ではできなかったエージングの過不足を解消することができる。
なお、ここでは、最適エージング時間の推定を点灯電圧の測定結果を利用して行ったが、点灯電圧に限定されるものではなく、最も輝度劣化し易い青色蛍光体の輝度をエージング時間に対して測定し、その結果を最適エージング時間の推定に利用するようにしても良い。
（各実施の形態における変形例など）
なお、上記各第１〜４の実施の形態は、必ずしも独立して実施する必要はなく、これらの各実施の形態におけるＰＤＰの劣化を促進する方法を複数組み合わせることにより、ＰＤＰの寿命を示す輝度劣化および放電特性の変動による放電セルの誤動作等の出現をさらに早めることができる。また、各上記第１〜４の実施の形態においては、放電パルス数の増加もしくは放電維持パルス電圧の増加により、パネル内での熱の発生に伴うパネル割れの問題や電流値の増加による耐圧の問題が懸念されるが、パネル内での点灯位置をアドレス選択により選択し、点灯面積を調整することにより、または、水冷もしくは空冷による適切な冷却を施すことにより実施することができる。また、上記各第１〜４の実施の形態での画面に表示する画像については、白色表示の固定画像の連続点灯が、Ｒ，Ｇ，Ｂ色の蛍光体を有する一組のセルを常時点灯させることとなり好ましいが、第３の実施の形態以外は任意の画像を表示しても問題はない。また、上記各実施の形態のサブフレームの数は、表示したい階調に合わせてその他の数のサブフレームに分けるようにしてもよい。
上記各第５〜第７実施の形態においては、図４に示すフレーム内時分割階調表示方式における放電維持パルスの周期をＴｏ，電圧Ｖｏとしたが、第１〜４の実施の形態に示すようなパルスの周期を短くしたり、電圧を高めたりするＰＤＰの劣化促進方法を組み合わせることにより、寿命を加速させて寿命試験の期間を短縮させるようにしてもよい。この場合、放電回数の増加などに伴ってパネル内での発熱量が多くことが考えられるが、パネル内での常時点灯部分（高階調表示部分）の位置や面積を調整したり、場合によっては、水冷もしくは空冷による適切な冷却を施したりすることによりパネル割れの問題を解消することができる。
また、第５〜７の実施形態においては、寿命試験を通常のフレーム内時分割諧調表示方式を用いて行っていたが、これに限られず、第１〜４の実施の形態のように、画像表示用セルと評価用セルを一枚のガラス基板上に設け、いずれかのセルにおいて寿命を促進する駆動方法を用いて寿命試験を行っても良い。このようにすれば、パネル割れを防止しつつ通常使用に類するプラズマディスプレイパネルの寿命を行うことができる。
また、上記第６および第７の実施の形態においては、常時点灯部分４０１および高階調表示部分４１１の配置パターンを図１３，１９に示すように画像表示領域１２３の中心に配置するように行ったが、例えば、第５の実施の形態で説明した、図１０および図１１に示す常時点灯部分４１１と置き換えるとともに、残りの領域を点滅部分４０２および低階調表示部分４１２と置き換えて表示するパターンなどで行っても問題はなく、点滅部分４０２および低階調表示部分４１２が画像表示領域の周縁部に配置されてさえいれば、上述したようにパネル割れの発生が抑制されるとともに不純物ガスの影響を考慮した通常使用に類する条件でＰＤＰの寿命試験を行うことができる。
産業上の利用可能性
本発明に係るプラズマディスプレイパネルは、特に低コストを要求されるディスプレイパネルに有効である。
【図面の簡単な説明】
図１は、ＰＤＰ寿命試験装置のブロック図である。
図２は、本発明の第１の実施の形態に係るＰＤＰの前面ガラス基板を除いた平面図である。
図３は、本発明の第１の実施の形態に係る評価用セル領域の構造を示す断面斜視図である。
図４は、ＰＤＰに通常の画像表示をする際の駆動方法を示す図である。
図５は、本発明の第１の実施の形態におけるＰＤＰ寿命試験装置の駆動方法を示す図である。
図６は、本発明の第２の実施の形態におけるＰＤＰ寿命試験装置の駆動方法を示す図である。
図７は、本発明の第３の実施の形態におけるＰＤＰ寿命試験装置の駆動方法を示す図である。
図８は、本発明の第４の実施の形態におけるＰＤＰ寿命試験装置の駆動方法を示す図である。
図９は、本発明の第５の実施の形態に係るＰＤＰ寿命試験装置のブロック図である。
図１０は、本発明の第５の実施の形態に係るＰＤＰの画像表示パターンを示す図である。
図１１は、本発明の第５の実施の形態に係るＰＤＰの画像表示パターンを示す図である。
図１２は、本発明の第５の実施の形態に係るＰＤＰの画像表示パターンを示す図である。
図１３は、本発明の第６の実施の形態に係るＰＤＰの画像表示パターンを示す図である。
図１４は、本発明の第７の実施の形態に係るＰＤＰの画像表示パターンを示す図である。
図１５は、エージング完全点灯電圧とエージング時間との関係を模式的に示した図である。
図１６は、従来の技術におけるＰＤＰの前面ガラス基板を除いた平面図である。
図１７は、ＰＤＰの画像表示領域の構造を示す部分断面斜視図である。
図１８は、従来の技術におけるＰＤＰの画像表示パターンを示す図である。
図１９は、従来の技術におけるＰＤＰの画像表示パターンを示す図である。
図２０は、従来の技術におけるＰＤＰの画像表示パターンを示す図である。

Claims (21)

1. 複数の放電セルがマトリックス状に形成された、画像表示を行うための第１のセル領域と、
   当該第１のセル領域とは異なる領域であって、複数の放電セルがマトリックス状に形成された、性能評価するための第２のセル領域とを備えたこと
   を特徴とするプラズマディスプレイパネル。
2. 前記第１および第２のセル領域は、当該各セル領域の全セルで発光させるために電圧を印加する電極群を有し、前記第１のセル領域と前記第２のセル領域とは、パネル内のそれぞれ独立して気密封止された放電空間内部に配置されていること
   を特徴とする請求項１に記載のプラズマディスプレイパネル。
3. 前記第１のセル領域の電極群は、前記第２のセル領域の電極群と互いに独立駆動できるように形成されていること
   を特徴とする請求項２に記載のプラズマディスプレイパネル。
4. 前記第１のセル領域および第２のセル領域が配置されている各放電空間には、それぞれ不活性ガスからなる放電ガスが封入されているとともに、前記第２のセル領域が配置されている放電空間には、当該セルの劣化を促進する放電ガスが封入されている
   ことを特徴とする請求項２または３に記載のプラズマディスプレイパネル。
5. 前記第２のセル領域が配置されている放電空間に封入されている放電ガスは、前記第１のセル領域が配置されている放電空間に封入されている放電ガスと比較して質量が小さいこと
   を特徴とする請求項４に記載のプラズマディスプレイパネル。
6. 前記第２のセル領域が配置されている放電空間に封入されている放電ガスは、前記第１のセル領域が配置されている放電空間に封入されている放電ガスと比較して、低い圧力で放電ガスが封入されていること
   を特徴とする請求項４または５に記載のプラズマディスプレイパネル。
7. 複数の放電セルがマトリックス状に形成された、画像表示を行うための第１のセル領域と、当該第１のセル領域とは異なる領域であって、複数の放電セルがマトリックス状に形成された、寿命特性を評価するための第２のセル領域とを備えるプラズマディスプレイパネルを組み立てる第１のステップと、
   前記第２のセル領域を所定の駆動方法を用いて駆動して寿命特性を評価する第２のステップとを有すること
   を特徴とするプラズマディスプレイパネルの寿命試験方法。
8. 前記駆動方法は、前記第１のセル領域に画像を表示する駆動方法と比較して、前記第２のセル領域の劣化をより促進する駆動方法であること
   を特徴とする請求項７に記載のプラズマディスプレイパネルの寿命試験方法。
9. 複数の放電セルがマトリックス状に形成された、画像表示を行うための第１のセル領域と、当該第１のセル領域とは異なる領域であって、複数の放電セルがマトリックス状に形成された、エージング最適時間を評価するための第２のセル領域とを備えるプラズマディスプレイパネルを組み立てる第１のステップと、
   前記第２のセル領域を所定の駆動方法を用いて駆動してその最適なエージング時間を評価する第２のステップと、
   前記第２のセル領域の最適エージング時間に準じて、前記第１のセル領域をエージングする第３のステップとを有すること
   を特徴とするプラズマディスプレイパネルの製造方法。
10. プラズマディスプレイパネルを対象として劣化促進する寿命試験方法であって、
    試験対象のプラズマディスプレイパネルをフレーム内時分割階調表示方式で駆動して劣化促進させるとともに、試験時に適用するフレーム内時分割階調表示方式の時分割表示パターンは、１フレーム期間にアドレス放電を少なくとも１回行うアドレス期間を含み、かつ、残余の放電維持期間における放電回数が、プラズマディスプレイパネルの通常使用時に適用されるフレーム内時分割階調表示方式のそれに比して多く含む設定とされていること
    を特徴とするプラズマディスプレイパネルの寿命試験方法。
11. 試験時における前記放電維持期間に印加される放電維持パルスの周期は、プラズマディスプレイパネルの通常使用時に適用されるフレーム内時分割表示方式のそれに比して短い設定とされていること
    を特徴とする請求項１０に記載のプラズマディスプレイパネルの寿命試験方法。
12. 試験時における前記１フレーム期間に占める前記アドレス期間の合計長さは、プラズマディスプレイパネルの通常使用時に適用されるフレーム内時分割表示方式のそれに比して短い設定とされていること
    を特徴とする請求項１１に記載のプラズマディスプレイパネルの寿命試験方法。
13. 試験時における前記１フレーム期間内のアドレス期間の合計数は、プラズマディスプレイパネルの通常使用時に適用されるフレーム内時分割表示方式のそれに比して少ない設定とされていること
    を特徴とする請求項１２に記載のプラズマディスプレイパネルの寿命試験方法。
14. 試験時における前記アドレス期間において、プラズマディスプレイパネルの有する複数本の電極からなる電極群に対して行われるアドレス放電は、当該電極群のうち２本以上の電極に対して同時に行われること
    を特徴とする請求項１２または１３に記載のプラズマディスプレイパネルの寿命試験方法。
15. プラズマディスプレイパネルを対象として劣化促進する寿命試験方法であって、
    試験対象のプラズマディスプレイパネルをフレーム内時分割階調表示方式で駆動して劣化促進させるとともに、試験時に適用するフレーム内時分割階調表示方式の時分割表示パターンは、１フレーム期間にアドレス放電を少なくとも１回行うアドレス期間を含み、かつ、残余の放電維持期間に印加する放電維持パルス電圧が、プラズマディスプレイパネルの通常使用時に適用されるフレーム内時分割階調表示方式のそれに比して高い設定とされていること
    を特徴とするプラズマディスプレイパネルの寿命試験方法。
16. プラズマディスプレイパネルを対象として劣化促進する寿命試験装置であって、
    試験対象のプラズマディスプレイパネルを表示駆動する表示駆動手段と、
    当該表示駆動手段をフレーム内時分割階調表示方式で駆動するように制御するとともに、試験時に適用するフレーム内時分割階調表示方式の時分割表示パターンにおいて、１フレーム期間にアドレス放電を少なくとも１回行うアドレス期間を含み、かつ、残余の放電維持期間における放電回数が、プラズマディスプレイパネルの通常使用時に適用されるフレーム内時分割階調表示方式のそれに比して多くなるように制御する制御手段とを備えること
    を特徴とするプラズマディスプレイパネルの寿命試験装置。
17. プラズマディスプレイパネルの寿命試験方法であって、
    試験対象のプラズマディスプレイパネルをフレーム内時分割階調表示方式を用いて駆動し、前記プラズマディスプレイパネルの画像表示領域における周縁部以外の部分領域には常時点灯を行う常時点灯画像を表示させ、前記画像表示領域における前記部分領域以外の領域には点灯および消灯を繰り返す点滅画像を表示させる
    ことを特徴とするプラズマディスプレイパネルの寿命試験方法。
18. 前記点滅画像は、所定の幅を有する帯状の点灯画像を所定方向に周期的にスクロール移動させて作製した画像である
    ことを特徴とする請求項１７に記載のプラズマディスプレイパネルの寿命試験方法。
19. 前記点滅画像は、点滅周期の１周期のうち少なくとも１０％の時間を点灯状態に保つようにした画像である
    ことを特徴とする請求項１７または請求項１８記載のプラズマディスプレイパネルの寿命試験方法。
20. プラズマディスプレイパネルの寿命試験方法であって、
    試験対象のプラズマディスプレイパネルをフレーム内時分割階調表示方式を用いて駆動し、前記プラズマディスプレイパネルの画像表示領域における周縁部以外の部分領域には高階調で発光する高階調画像を表示させ、前記画像表示領域における前記部分領域以外の領域には低階調で発光する低階調画像を表示させる
    ことを特徴とするプラズマディスプレイパネルの寿命試験方法。
21. 画像信号を発生する信号発生手段を備え、当該信号発生手段から発生された信号に基づきプラズマディスプレイパネルを駆動表示することにより寿命試験するプラズマディスプレイパネルの寿命試験装置であって、
    前記信号発生手段は、前記プラズマディスプレイパネルの画像表示領域における周縁部以外の部分領域には常時点灯を行う常時点灯画像を表示させ前記画像表示領域における前記部分領域以外の領域には点灯および消灯を繰り返す点滅画像を表示させる信号を発生させる
    ことを特徴とするプラズマディスプレイパネルの寿命試験装置。

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