TW535190B - Plasma display panel, method of performing life test on the plasma display panel, and apparatus for performing the life test - Google Patents

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535190 A7 ________B7 五、發明説明（ ） 【技術領域】 本發明係有關於一種譬如使用於電腦及電視等影像顯 示之電漿顯示面板，特別係有關於一種應用於使電漿顯示 面板劣化以調查其壽命之壽命測試方法、壽命測試裝置及 壽命測試等性能評估之電漿顯示面板。 【技術背景】 近年來，使用於電腦及電視等影像顯示之顯示裝置 中’電漿顯示面板（Plasma Display Panel，以下稱為「pdp」） 以作為實現大型且薄型輕重量之顯示裝置而備受矚目。 第16圖例示撤除一般PDPl〇〇之前面玻璃基板1〇1後之 平面圖’第17圖則例示第16圖所示之PDP 1〇〇之影像顯示領 域123中之部分剖面斜視圖。 PDP1 〇〇為各色發光胞元配列呈矩陣狀之構造，且如第 17圖所示’前面玻璃基板1〇1與背面玻璃基板ι〇2挾間壁ι〇9 保持一間隙（Gap)而對向設置。 前面玻璃基板101上平行配設有放電電極對（顯示電極 群1〇3與顯示掃瞄電極群1〇4)，背面玻璃基板1〇2上則設有 與放電電極對垂直相交之位址電極群1〇7。且，各基板1(n、 i〇2之周緣部係藉由以斜線表示之由燒結玻璃（Frit Glass) 構成之密封層121(第16圖）而密封，其内部除形成如第17圖 所示之放電空間122外，並封入惰性氣體，且設有紅、綠、 藍之螢光體層（11 OR、G、B)。藉由於前述顯示電極群1〇3 與顯示掃瞄電極群104間之維持放電而產生之紫外線激發 螢光體層110R、G、B並使之發光，以於影像顯示領域123

-4- 535190 A7 B7 五、發明説明纟 ) 中（第16圖）顯示影像。 PDP與其他顯示裝置相同地，均被要求可長期維持良 好之顯示品質，一般而言，因作為家電製品使用，故其壽 命需為目前普及之CRT同等級之數萬小時以上。然而，於 現今之情況中，PDP壽命之改善尚有許多進步空間。 因此目前持續進行改善PDP壽命之研究開發，而評估 其壽命時，利用具有如實際使用般地顯示一般影像 (Ordinary Image)(以下，稱為「一般使用」）之位址期間與 放電維持期間之驅動方法之形式，連續驅動PDP —年以上 (相當於數萬小時）並使之劣化，以藉由確認亮度降至50% 之時間及放電胞元之故障產生等而評估壽命。 評估PDP壽命之壽命測試中，期望能改善伴隨測試後 PDP之廢棄而導致之成本損耗。即使是經由同一程序而製 造之PDP，亦因製造程序之誤差而產生製品之不一致，以 致突發性的製造出短壽命之PDP。為監視不使此種PDP流 出於市面，可藉由盡量多抽取用以供給於壽命測試之PDP 樣本並連續驅動該等PDP，以進行亮度之降低及放電胞元 之故障產生等之確認，從而提高發現短壽命之PDP之機率。 然而，因平均每一塊PDP之製品成本都相當高，故若 抽取太過多數之PDP樣本進行壽命測試，則成本難以負 荷。此係因為於壽命測試中連續使用之PDP樣本，其亮度 等特性將激烈劣化，由於作為製品之價值消失故不得不廢 棄，若其數目增加則損耗成本將過高。另一方面，若為降 低損耗成本而減少抽取用於壽命測試用之PDP樣本數目， 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS) A4規格（210X297公釐） (請先M-讀背面"之注意事項再填寫本頁)

-5- 535190 五、發明説明纟 ) 則短壽命之PDP流通於市面之機率將提高。 又’ PDP之哥命測試中，亦冀望可縮短其測試時間。 評估壽命時所進行之長達一年以上之連續驅動期間，有時 將使改善PDP壽命之開發速度降低。 為提高此開發速度，有以下之驅動方法，即，不於j 幀期間中進行位址放電而始終進行維持放電並進行全白色 顯示，以促進PDP之劣化，然而，一般使用條件中，因pDp 之劣化係由於位址放電與維持放電雙方所引起，故此種情 况中，無法正確評估一般使用條件中，即，考慮到由於位 址放電而引起之劣化之壽命。因此，除思索考慮到由於位 址放電而引起之劣化之一般使用條件外，並期待可縮短測 试時間之技術。 又，PDP之壽命測試中，亦期待可於考慮雜質氣體之 影響下，適當地評估類似一般使用之PDp壽命之技術。 進行壽命測試時，雖於影像顯示領域123中全面地連續 進行全白色顯示，但以使紅、綠、藍所有之螢光體層發光 較佳，此時，因連續維持放電之發熱，前面玻璃基板1〇1 於如刖頭所示之方向熱膨脹，且由於前面玻璃基板1〇1與密 封層121之熱膨脹係數之差，導致集中應力於密封層121而 發生破損，產生所謂面板裂縫之情況。 因此’為防止由於此發熱而導致之面板裂縫，習知之 可〒測试中便以變更影像顯示領域123中之點亮圖樣作為 對策。 第1 8圖係例示習知之壽命測試中，影像顯示領域123 本紙張尺度_巾關家標準（_Α4祕⑵Qx297公董） 五、發明説明《 ) 中之點亮圖樣之圖。 如第所示，影像顯示領域123中顯示有由 部分701與正常熄滅部分702所構成之點亮圖樣；該正常點° 冗部分701係配置於影像顯示領域123之中心部，… :滅：分7。2則係配置呈於影像顯示領域之周緣部：圍： 二點Μ?分Μ。在此，所謂正常點亮部分係指於1影面 ㈣句中必然進行維持放電，看起來如進行正常白色顯示 之^刀’而正常熄滅部分係指於壽命測試之驅動時間中呈 本全不進行維持放電之狀態，不發光點亮之部分。此外， 壽命評估係藉由於正常點亮部分7〇1中進行亮度測定、確認 放電胞元之故障等而進行。 正常熄滅部分702因於壽命測試期間中不發熱，且配置 於整個影像顯示領域123之周緣部’故可抑制各玻璃基板 1(>1、102周緣部之發熱。由該結果，因產生於密封層 附近之熱膨脹而導致之偏差量減低且應力集中緩和，故可 抑制面板裂縫之產生。且，如第19圖、第20圖所示，即使 將多數正常點亮部分711、721配置呈如各圖所示之格子 狀，只需至少將正常熄滅部分712、722配置於影像顯示領 域123之周緣部’則同樣可抑制面板裂縫之產生。 然而，前述習知之壽命測試中，因未考慮對PDP之亮 度劣化等產生影響之面板内部之雜質氣體之狀態，故無法 適當地評估類似一般使用之PDP之壽命。 通常，正常點亮部分701中，雖因維持放電之發熱而使 包含於螢光體層等之雜質氣體氣化且擴散於放電空間内， 本紙張尺度適用中國國家檩準（CNS)A4胁（21GX297公董) 535190 A7 --~_______ 五、發明説明·) -- 但正常熄滅部分702中則因完全不進行維持放電等，故於此 4刀之螢光體層等依次戴留、儲蓄雜質氣體，且，由於將 作為電視等顯示裝置之一般使用時少有正常熄滅部 分，故難以產生截留此種雜質氣體之狀態。 本發明有鑑於前述課題，第丨目的係在於提供一種pDp 及其製扣之製造方法，其係即便抽取多數]?〇1)進行壽命測 試’亦具有可減低損耗成本之效果者。 又，考慮一般使用條件，第2目的則在於提供一種壽命 測試方法及壽命測試裝置，其係可促進類似一般使用條件 之條件下的PDP之劣化者。 進而’第3目的係在於提供—種壽命測試方法及壽命測 忒裝置，其係可適當評估類似考慮雜質氣體之影響之一般 使用的PDP壽命者。 【發明之揭示】 為達成前述第1目的，本發明之電漿顯示面板係具有： 第1胞元領域，係有多數放電胞元形成呈矩陣狀且用以進行 影像顯示者；及第2胞元領域，係一與該第丨胞元領域相異 之領域，且有多數放電胞元形成呈矩陣狀而用以進行性能 評估者。藉此，即使於第2胞元領域中進行壽命特性及老: 特性等性能評估後，第1胞元領域因仍可作為影像顯示用之 製品使用，故無須廢棄進行性能評估後之面板，因而可降 低損耗成本。 又，前述第1及第2胞元領域係具有為使於前述各胞元 領域之所有胞元發光而施加電壓用之電極群，且前述第1 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS) A4規格（21〇x297公釐） (請先W-讀背面'之注意事項再填寫本頁)

-8- 535190 A7 ---— —__B7_ 五、發明説明f ) 胞元領域與前述第2胞元領域係配置於面板内之各自獨立 且呈密封之放電空間内部。藉此，於第2胞元領域進行性能 口平估時所產生之雜質氣體等不會侵入影像顯示用之第工胞 元領域内。 又，前述第1胞元領域之電極群係形成呈可與前述第2 胞兀領域之電極群相互獨立驅動之狀態。藉此，於第2胞元 領域中進行性能評估時，因第丨胞元領域未進行影像顯示， 故第1胞元領域可作為製品使用。 又，前述配置有前述第1胞元領域及第2胞元領域之各 放電空間内，除可分別封入有由惰性氣體形成之放電氣體 外，亦可於配置有前述第2胞元領域之放電空間内封入促進 該胞元劣化之放電氣體。藉此，可縮短壽命特性之評估期 間。 為促進違胞元之劣化，封入於第2胞元領域之放電氣體 之質量及封入壓力宜較封入於前述第丨胞元領域之放電氣 體之質量及封入壓力小。 又’本發明之電漿顯示面板之壽命測試方法，係具有 以下步驟，即：第1步驟，係組合具有第丨胞元領域及第2 胞元領域之電漿顯示面板者；該第丨胞元領域係有多數放電 胞元形成呈矩陣狀且用以進行影像顯示，而該第2胞元領域 係一與前述第1胞元領域相異之領域，且有多放電數胞元形 成呈矩陣狀而用以評估壽命特性者；及第2步驟，係使用預 定之驅動方法驅動前述第2胞元領域，並評估壽命特性者。 藉此，可減少損耗成本且降低短壽命之電漿顯示面板流入 -9- 535190 五 、發明説明 市面之機率。 又’刚述驅動方法與用以於前述第1胞元領域顯示影像 之驅動方法相較，若使用可更進一步促成前述第2胞元領域 之劣化之方法，便可於短期間内評估壽命。 為達成前述第2目的，本發明之電漿顯示面板之壽命測 "式方法’除以幀内時間分割灰階顯示方式驅動測試對象之 電裝顯不面板，促成劣化外，應用於測試時之幀内時間分 割灰階顯示方式之時間分割顯示圖樣係於丨幀期間内包含 夕進行1 -人位址放電之位址期間；又，殘餘之放電維持 /月間内之放電次數係設定包含有較應用於一般電漿顯示面 板使用時之幀内時間分割灰階顯示方式之期間更多次數。 猎此，與影像顯示用驅動相較，丨幀内之放電次數增加 且促進因放電而起之PDP之劣化，可於短期間内評估⑽ 之奇命。 ，又，施加於測試時之前述放電維持期間之放電維持脈 衝的週期’宜設定為較應用於—般電漿顯示面板使用時之 1時間分割方式之放電維持脈衝之週期短，纟，測試時 之前述u貞期間中所佔之前述位址期間的合計長度，宜設+ =應用於一般電漿顯示面板使用時之鴨内時間分割; Γ之位址期間的合計長度短。進而，亦可組合前者與後 2設定。藉此增加放電次數’促進因放電而起之pDp之 又’作為後者之設定’具體而言，宜將 幀期間内之位址期間的合計數設定’月^ 奴應用於一般電漿顯 :紙張尺度適财國織格⑵0Χ297公釐;

、τ. 『線丨 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁} 1·裝- -10- 五、發明説明·) 不面板使用時之幀内時間分割方式之位址期間的合計數 少，或，測試時之前述位址期間中，對由電漿顯示面板所 具有之多數電極所構成之電極群進行之位址放電，宜同時 對該電極群中2條以上之電極進行。藉此，因可縮短j幀中 所佔之位址期間之時間，故可使丨幀之放電維持期間延長且 增加放電次數。 又’本發明之電漿顯示面板之壽命測試方法除以幀内 時間分割方式驅動測試對象之電漿顯示面板，促進劣化 外，應用於測試時之幀内時間分割灰階顯示方式之時間分 割顯不圖樣，宜於丨幀期間内包含有至少進行丨次位址放電 之位址期間，又，施加於殘餘之放電維持期間中之放電維 持脈衝電壓，宜設定為較應用於一般電漿顯示面板使用時 之幀内時間分割灰階顯示方式之放電維持脈衝電壓高。藉 此因可較一般使用時更進一步促成朝放電時之陰極材料 之離子衝擊等現象，故可促進PDP之劣化。因此，可於短 期間内評估PDP之壽命。 、為達成前述第3目的，本發明之電漿顯示面板之壽命測 式方去係使用幀内時間分割灰階顯示方式驅動測試對象之 電漿顯示墊板，且使前述電漿顯示面板之影像顯示領域中 周緣部以外之部分領域顯示進行正常點亮之正常點亮影 像，並於影像顯示領域中前述部分領域以外之領域顯示反 覆進行點亮及熄滅之閃爍影像。 精此，因於影像顯示領域之整個周緣部顯示閃爍影 像，故可抑制該周緣部中之發熱，且，由於玻璃基板 Α4規格（210X297公嫠） 本紙張尺度適財

膨脹而產生之朝密封層之 縫之產生。又，影像顯二7、集中緩和，故可防止面板裂 之部分以外之殘餘鸟像7域中’顯示正常點亮影像 π殘餘衫像顯示領域内顯示 影像顯示領域内不存在 /、〜像，故整個 有正#熄滅影像。另一方& ΜΈ -閃爍影像之部分中，並不似顯方面’顯- 於特定之領域截留、儲蓄雜 ‘·：像之部分般， 雜質氣體之狀態與類似實際使二 進行PDP之壽命評估。 料為相R之條件下， 又，前述閃爍影像係—可使具有 影像週期性地朝預定方向作渦形移動而製成之影像儿 又’具體而言’前述閃爍影像係閃爍週期之旧期中， 時間保持於點亮狀態。藉此，截留於螢光體 :之雜貝成乎立即被氣化’可更進一步適當地進行卿之 哥命評估。 又，使用幢内時間分割灰階顯示方式驅動測試對象之 «顯示面板’且使於前述電漿顯示面板之影像顯示領域 中周緣部以外之部分領域顯示以高灰階發光之高灰階影 像，並於前述影像顯示領域中前述部分以外之領域顯干以/ 低灰階發光之低紐影像。藉此，可於顯示高•影像之 部分進行壽命評估，且’因影像顯示領域之整個周緣部均 顯示低灰階影像，故可抑制該周緣部中之發熱且防止面板 裂縫之產生。另一方面，整個影像顯示領域中，由於顯示 正常熄滅影像之部分不存在，因此不會於特定之領域截留 且儲蓄雜質氣體，可適當地評估類似考慮雜質氣體之影響 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS) A4规格（210X297公釐) 535190 A7 _______ B7 ___ 五、發明説明¢0 ) 之PDP實際使用之壽命。 【圖示之簡單說明】 第1圖：PDP壽命測試裝置之區塊圖。 第2圖：撤除本發明第1實施形態之PDP之前面玻璃基 板的平面圖。 第3圖··例示本發明第1實施形態之評估用胞元領域之 構造的剖面斜視圖。 第4圖：例示於PDP進行一般之影像顯示時之驅動方法 圖。 第5圖：例示本發明第1實施形態中之PDP壽命測試裝 置之驅動方法圖。 第6圖：例示本發明第2實施形態中之PDP壽命測試裳 置之驅動方法圖。 第7圖：例示本發明第3實施形態中之PDP壽命測試裝 置之驅動方法圖。 第8圖：例示本發明第4實施形態中之PDP壽命測試事 置之驅動方法圖。 第9圖：本發明之第5實施形態之PDP壽命測試農置之 區塊圖。 第10圖：例示本發明第5實施形態之PDP之影像顯示圖 樣之圖。 第11圖：例示本發明第5實施形態之PDP之影像顯示圖 樣之圖。 第12圖：例示本發明第5實施形態之PDP影像顯示圖樣 紙張尺度適用中關家標準（CNS) A4規格（2κ)χ297公爱） -13- 535190 A7 B7

五、發明説明（1 之圖。 第13圖：例示本發明第6實施形態之PDP影像顯示圖樣 之圖。 第14圖：例示本發明第7實施形態之PDP影像顯示圖樣 之圖。 第15圖：模式化表示老化時完全點亮電壓與老化時間 之關係之圖。 第16圖··撤除習知技術中之PDP之前面玻璃基板之平 面圖。 第17圖：例示PDP之影像顯示領域之構造的部分剖面 斜視圖。 第18圖：例示習知技術中之PDp之影像顯示圖樣之圖。 第19圖：例示習知技術中之PDP之影像顯示圖樣之圖。 第20圖：例示習知技術中之Pdp之影像顯示圖樣之圖。 【實施發明之最佳形態】 (第1實施形態） 以下’參照附圖說明有關應用本發明之PDp及pDp壽 命測試裝置。 <PDP壽命測試裝置15〇之整體構成〉 第1圖為例示本發明第1實施形態之PDP壽命測試裝置 150之構成之電路塊（circuit Block)圖。且，第1圖中之 PDP130僅模式化地圖示第2圖所示之pdp 130之評估用胞 元領域2 ’並省略有關影像顯示用胞元領域1之圖示。 如第1圖所示，PDP壽命測試裝置150具備有以下構 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS) A4規格（210X297公釐） -14- 535190 A7 ----—-- 五、發明説明¢2 ) "-- 件，即··幢記憶器（Frame Memory)，係用以存儲對應於由 外部之圖像輸出器所輸入之紅色（R)、綠色（G)、藍色@)之 圖像資料DR、DG、DB等者；控制器152，係用以控制業已 存儲之圖像資料DR、DG、DB之處理及各電路之驅動者； 顯示驅動電路153，係用以依照來自控制器152之指示，於 顯示電極群133施加預定之電壓者；顯示掃瞄驅動電路 154，係用以於顯示掃瞄電極群134施加預定之電壓者；位 址驅動電路155，係用以於位址電極群135施加預定之電壓 者；及可變電壓電源裝置156、157、158，係用以於各驅動 電路153、154、155供給預定之電壓者；且，以可裝卸之狀 恶連接於用以提供於壽命測試之PDP130(第2圖）之評估用 胞元領域2。 幀記憶器1 51可於每1幀分割且存儲各子幀之圖像資 料，並且暫時存儲多值之圖像資料DR、DG、DB及各種同 步信號，而該等多值之圖像資料DR、DG、DB係表示由外 部裝置輸入之各頂點胞元（Peak Cell)之紅色（R)、綠色（G)、 藍色（B)之亮度等級（灰階等級）。存儲於該幀記憶器151之 圖像資料DR、DG、D於藉控制器152讀出後，為進行灰階 顯示，故於各色中變換為顯示是否點亮各子幀中之胞元之 二進制數據（Binary Data)之集合，即圖像資料（以下，稱為 子幀資料Dsf)，並再次儲存於幀記憶器151。 控制器152依照子幀資料Dsf，使用後述之驅動方法驅 動顯示驅動電路1 53、顯示掃瞄驅動電路154及位址驅動電 路 155。 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS) A4規格（210X297公釐） (請先閲讀背面，之注意事項再填寫本頁)

-15- 53519ο A7 、--------- B7 ' - _ _ 五、發明説明（3 ) 顯示驅動電路153及顯示掃瞄驅動電路154除分別具有 用以施加預定電壓之可變電壓電源裝置156、157外，並連 接於顯示電極群133、顯示掃瞄電極群134(分別於後敘 述），且依照控制器i 52送至之信號，分別對顯示電極群 133、顯示掃瞄電極群134施加具有預定週期、電壓之放電 維持脈衝。 位址驅動電路1 55除具備用以於該電路施加電壓之可 變電壓電源裝置158外，並連接於位址電極群135(於後敘 述）’且依照控制器152送至之信號，於位址電極群135施加 預定之電壓。 又’後述之影像顯示用胞元領域1中，PDP 13〇成為電 腦及電視等顯示裝置時，將連接於具有與前述PDP壽命測 試裝置150相同構造之驅動裝置，並依照由調諧器（Tuner) 收信之影像資料而顯示影像。藉此，PDP壽命測試裝置15〇 具有作為電漿顯示裝置之機能。 <PDP130之構成> 第2圖為撤除作為本發明一應用例之pDpi3〇中之前面 玻璃基板101時之概略平面圖。此外，為易於瞭解顯示電極 群103、133 ’顯示掃瞄電極群1〇4、ι34及位址電極群、 135故。卩为省略其數目等而作圖示。又，有關賦予和第μ 圖、第17圖中說明之構件相同號碼之構成要素，因兩者為 同樣的構成要素故省略詳細說明。 如第2圖所示，PDP13〇具有影像顯示用胞元領域1與評 估用胞元領域2，基本上，雖具有與使用 第16圖，以習知技 張尺度適财關家鮮（CNS) A4規格⑽x29^D -----— 請 先 閲_ 讀 背 面< 之 注 意 事

訂

-16- 535190 A7 ___B7 五、發明説明（4 ) 術說明之PDP100大略相同之構造，但以下之點相異，即， 設有一評估用胞元領域2，係鄰接於影像顯示用胞元領域丄 之端部且用以提供於壽命測試者。 此評估用胞元領域2除其面積較影像顯示用胞元領域i 小以外，並具有與影像顯示用胞元領域1大略相同之構造， 且，構造呈於對向之前面玻璃基板101(第3圖）與背面玻璃 基板102間具有顯示電極群133、顯示掃瞄電極群134及位址 電極群135專’並藉密封層141而密封。 在此，可於该評估用胞元領域2中進行發光顯示之顯示 領域142(以點領域表示者）之面積，宜為壽命評估所需之大 小（10胞元程度）。即，宜依照使用於測定PDP壽命時之亮度 測定裝置等之受光領域大小而變更該面積，若為所需最低 限度之大小，因可削減使用之材料，故以成本而論較為理 想。又，評估用胞元領域2可為與影像顯示用胞元領域1相 同之大小。 第3圖為用以說明評估用胞元領域2之構成之剖面斜視 圖。 如該圖所示，前面玻璃基板101之對向面上，條紋狀交 互平行列設各N條之顯示電極群133及顯示掃猫電極群 134(第3圖中僅顯示各2條。以下，如第j圖所示，表示第n 條時則附加標號）。前述各電極群133、134係由透明電極與 母線電極（Bus Electrode)(均不圖示)所構成，而該母線電極 係用以防止因前述透明電極之電阻而起之電壓降低，且， 覆蓋有由鉛玻璃等構成之介電體層1〇5，再進而覆蓋 本紙張尺度適财關家標準_ Α4規格⑵GX297公楚了 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) ·、τ· 17· 535190 A7 B7 五 、發明説明（15 保遵膜1 〇 6。 另一方面，背面玻璃基板1〇2之對向面上，μ條條紋狀 之位址電極群135(參照第1圖。第3圖中僅例示4條。以下， 表示第Μ條時則附加標號）列設於與前述各電極群133、134 垂直相交之方向上，且覆蓋有由被覆該表面之鉛玻璃等構 成之介電體層108。 進而，加強肋139形成呈與位址電極群135鄰接。此加 強肋139於位址放電時將隔斷朝鄰接胞元之放電擴散，即防 止所謂光之交調失真（Cross Talk)。又，相鄰接之加強肋139 間’以被覆位址電極群135之狀態而分別塗佈有各自發出紅 (R)、綠（G)、藍（B)之光之各螢光體層140R、140G、140B。 此外’本第i實施形態中雖採用條紋狀之加強肋，但亦可為 格子狀之加強肋等其他之形狀。 前面玻璃基板101與背面玻璃102間具有放電空間 143，如第2圖所示，各玻璃基板ΐ(π、1〇2間係藉密封層141 而密封且形成評估用胞元領域2。 藉此，評估用胞元領域2之放電空間143係構造呈與影 像顯示用胞元領域1之放電空間122為獨立之狀態，又，設 有可獨立驅動各個胞元領域之電極群。因此，可選擇地進 行評估用胞元領域2之壽命評估測試，此時，即使包含於陰 極材料、加強肋及螢光體中之雜質因放電時之離子衝擊而 成為雜質氣體且釋出於放電空間143内，仍不需擔憂該雜質 氣體將侵入放電空間122。 因此’即使進行壽命測試後，PDP130之影像顯示用胞 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS) A4規格（210X297公釐） (請先閲讀背面之注意事項再填窝本頁) 、可| -18- 535190 A7 ___B7_ 五、發明説明（6 ) 元領域1因可沒問題的作為製品使用，故不需廢棄壽命測試 後之PDP，與習知相較，可減低損耗成本。 放電空間143内以同樣之壓力（一般，6·5χ 1〇4〜ΐ〇χ 104Pa程度）充填有與填充於影像顯示用胞元領域！之放電 空間122内之氣體相同者，而該氣體係以氖為主體且混合作 為緩衝氣體之微量SI之放電氣體。且，若將充填於評估用 胞元領域2之放電氣體之壓力設定為較填充於影像顯示用 胞元領域1之放電氣體之壓力低，則由於易於引起朝陰極材 料之離子衝擊而促進PDP之劣化，故可於更短之期間内評 估壽命。進而，作為添加於放電氣體之緩衝氣體，即使取 代氙而混合質量小之氦等，仍因易於引起朝陰極材料之離 子衝擊而促進PDP之劣化，故可於短期間内評估壽命。 <PDP130之驅動方法> ①影像顯示用胞元領域1之驅動方法 首先，說明有關PDP130成為製品時，於影像顯示用胞 元領域1顯示一般之影像時之驅動方法。 一般而言，作為用以顯示PDP中之多灰階之驅動方 法，係使用「幀内時間分割灰階顯示方式」，即，將丨幀分 割為多數子幀，組合各子幀中之點亮/熄滅並表現中間灰 階。 第4圖係例示「幀内時間分割灰階顯示方式」中，譬如 表現256灰階時，1幀2〇〇之分割方法之一例之圖，橫方向表 示時間，斜線部分則表示位址期間。 該圖所示之分割方法中，將1幀2〇〇分割為8個子幢 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS) A4規格（210X297&I} (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁)

、可I -19- 535190 A7 B7 五、發明説明（Π 201〜208。預先將各子幀201〜208之放電維持脈衝數設定為 使各子幀201〜208之亮度之相對比為1 : 2 : 4 : 8 : 16 : 32 : 64· 128’並藉由按顯示各子巾貞2〇1〜2 08之點亮、非點亮之 焭度資料進行控制，而可以8個子幀之組合顯示256灰階。 各子幀201〜208分別係由位址期間209及放電維持期 間210構成，該位址期間209具有共通之一定時間，而該放 電維持期間210則具有對應於亮度之相對比之時間長度。 於影像顯示用胞元領域1(第2圖）顯示影像時，於位址 期間209中，按子幀資料Dsf而於每1行由1至第η為止依次掃 瞒顯示掃猫電極群104，並於顯示掃瞒電極群1〇4與位址電 極群107間產生微量放電，於欲點亮之放電胞元儲蓄壁電 何。 之後，放電維持期間210中，於顯示電極群1〇3及顯示 掃瞄電極群104上，具有電壓V0且週期Τ0之矩形波之放電 維持脈衝211、212以各自錯開半週期之狀態同時施加於整 個面板，並於形成有壁電荷之放電胞元持續放電。藉此放 電而產生之紫外線將激勵各螢光體層110R、ll〇G、110B(第 17圖）並使之發光。且，藉由於子幀201至子禎208間反覆進 行此種操作，使規則地排列之胞元對應於顯示資料而選擇 性地放電發光，以於影像顯示胞元1之顯示領域123(第2圖） 進行顯示。 以下，將如此般地於PDP中進行一般之影像顯示之驅 動方法稱為「影像顯示用驅動」。 ②評估用胞元領域2之驅動方法 本紙張尺度適用中國國家標準（CMS) Α4規格（21〇Χ297公釐） --------------------—— • Μ (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 、" -20- 535190 五、發明説明彳8 ) 其次’說明有關供給於壽命測試評估用之評估用胞元 領域2之驅動方法。在此’評估用胞元領域2雖亦可使用與 法顯般之影像但若使 用如下所示之促進PDP之劣化之方法，則可於更短之期間 内評估PDP之壽命。 第5圖為-用以表示本第i實施形態中，pDp壽命測試 裝置15〇之驅動方法之U貞分割方法中之_例之圖橫方向 表示時間，斜線部分則表示位址期間。 U貞230為顯示平均每灰階，故分割為8個子幅 231〜238’且’各子㈣卜238以使其亮度之相對比為1:2: 4: 8: 16: 32: 64: 128般地設定放電維持脈衝數。此外， 各子幀231〜238係由位址期間239及放電維持期間24〇構 成。於以上之點中，因具有與第4圖中說明之影像顯示用驅 動相同之構成及期間長度，故省略詳細說明。 與影像顯不用驅動相異之點在於各放電維持脈衝 241、242 ,而該各放電維持脈衝241、242係於放電維持期 間240中，同時施加於整個面板之顯示電極群133及顯示掃 瞄電極群134者。 各放電維持脈衝241、242為週期T1、電壓V0之矩形波 且相互錯開半週期，而，週期T1係設定為較影像顯示用胞 元領域1中之影像顯示用驅動時之各放電維持脈衝2丨丨、2工2 之週期T0(第4圖）短。藉此，於各放電維持期間24〇内之放 電次數較影像顯示用驅動時之放電維持期間内之放電次數 增加。即’整個1幀230中之總放電次數亦較影像顯示用驅 本紙張尺度適用中國國家標準A4規格（21〇χ297公董）

..................... (請先閱讀背面•之注意事項再填寫本頁) 訂—

I線I -21- 535190 五、發明説明（l9 ) 動增加。 通常’ PDP之壽命表現於亮度降低及放電胞元故障等 上’免度降低之原因可考慮為：由於放電空間内之放電而 產生之紫外線強度之降低、螢光體之劣化、朝螢光體表面 之雜質附著等，放電胞元故障之原因則可考慮為：由於朝 陰極材料之離子衝擊、朝陰極材料之濺鍍物等而起之電場 分佈之變動等。尤其，因放電時所產生之紫外線而起之螢 光體之劣化以及於所謂濺鑛之放電時所起之朝陰極材料之 離子衝擊’係使PDP壽命縮短之重要理由。因此，藉由將 放電維持脈衝241、242之週期T1設定的較短，並增加於i 幀230整體内之放電次數，以促進跟隨放電產生之螢光體之 劣化等，而該螢光體之劣化係伴隨著前述濺鍍及紫外線總 1之增加者；當然，可促進PDP130中之評估用胞元領域2 之劣化。 由鈿述討論得知’伴隨此種放電次數增加之PDP劣化 速度之加速狀況，係與影像顯示用驅動時之丨幀中之放電次 數總量成比例增大，譬如，藉由將以影像顯示用驅動進行 全灰階顯示時之1幀之放電次數256設定為其1〇倍之256〇 次，使PDP之劣化與其放電次數成比例加速，而使其壽命 縮短約10倍。 在此，為不產生由於伴隨放電次數增加之面板發熱而 起之面板裂縫，放電維持脈衝之週期T1之值宜為約 3gsec〜lOpsec程度 〇 又’因位址期間設定為與一般使用條件相同，故可進 A4規格（210X297公釐） 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS) 五、發明説明扣 ) 行類似考慮到由於位址放電而起之PDP之劣化之一般使用 條件之壽命測試。 因此，於評估用胞元領域2中，可在考慮一般使用條件 之狀態下較影像顯示用驅動更促進PDp之劣化，且於短期 間内進行PDPUO之壽命評估。 此外，前述說明中，雖1幀23〇之時間長度與影像顯示 用驅動十之1幀200之時間長度相等，但丨幀之長度並不需與 影像顯示用驅動相同，因為即使該等之長度相異，若將週 期以設定如下亦可得同樣之效果，即，將以丨幢23〇之時間 除整個1鴨230中之放電次數之平均單位時間之放電次數， 設定為較以1幀200之時間除影像顯示用驅動中之整個“貞 200中之放電次數之平均單位時間之放電次數多。 又，雖無法考慮一般使用條件，但由於至少進行丨次位 址放電且於其後連續施加放電維持脈衝亦可促進劣化，故 仍可進行簡單化之壽命評估。 <PDP製品之製造方法> 其次，使用第3圖說明有關PDp130之製造方法之一例。 前面玻璃基板1〇1上形成呈平行配置相互相對而成對 之顯示電極群133、顯示掃瞄電極群134。此顯示電極群133 及顯示掃猫電極群143係由透明電極及母線電極（均不圖示） 構成，而該母線電極係用以防止因透明電極之電阻而起之 電壓下降。該透明電極係藉濺鍍法而形成之汀〇膜，母線 電極則係以印刷法形成Ag而得者。此顯示電極群133及顯 示掃瞄電極群134上，藉印刷法而被覆介電體層1〇5，進而 535190 A7 __ B7_ 五、發明説明会1 一) "" ~ -〜 再藉EB蒸鍍被覆MgO保護膜106。此外，各電極群中可 設置透明電極而僅形成母線電極。 另一方面，背面玻璃基板102上形成有條紋狀之位址電 極群135。此位址電極群135可藉印刷法形成Ag而得之，進 而再被覆於藉印刷法而得之介電體層108上。且，因各電極 群133、134、135係構造成與配列影像顯示用胞元領域1中 之各電極群103、104、107之節距相等，故與胞元領域面積 成比例地各自配列較少之電極數。 於位址電極群135之鄰接位置上，譬如反覆網版印刷包 含玻璃材料之膏（Paste)並於其後藉由焙燒分別形成加強肋 139。藉此加強肋139,放電空間143於直線方向區劃出每一 附頂點胞元（Sub-peak Cell)(單位發光領域），且其間隙尺寸 規定為一定值（150μιη程度）。 在此’於業已形成兩述各構成要素之前面玻璃基板1〇1 及背面玻璃基板102上，藉由與評估用胞元領域2相同之方 法同時亦形成影像顯示用胞元領域1之構成要素。有關此種 各玻璃基板101、102中之構成要素之製作方法，可使用揭 示於特開2000 — 133 143號公報等之習知方法。評估用胞元 領域2因同時形成於與影像顯示用胞元領域1相同之各玻璃 基板101、102上，故設置評估用胞元領域2之成本與材料費 程度及PDP—片之成本相較，可以些許之成本完成，且， 可將影像顯示用胞元領域1之壽命特性之評估直接應用於 以同樣條件製作之評估用胞元領域2之壽命特性之評估結 果上。 本紙張尺度適用中國國家標準（〇β) Α4規格（210X297公釐） ------------------------- (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) ·、τ· -24- 535190 A7 _ B7 _ 五、發明説明纟2 ) 且，各玻璃基板101、1〇2以保持一間隙而形成放電空 間122、143(第3圖）之狀態對向相互疊合後，各胞元領域j、 2之周緣以由燒結玻璃構成之密封層121、141密封。 之後，進行各放電空間122、143之排氣，並藉由進行 前述放電氣體之充填而進行製作。此放電氣體之填充，可 同時朝影像顯示用胞元領域1及評估用胞元領域2進行填 充，亦可先填於充評估用胞元領域2並進行壽命測試後，再 充填於影像評估用胞元領域1。 如此製造出之PDP130，其評估用胞元領域2之顯示電 極群133如第1圖所示般的電性共通化，並於直線方向之一 端（圖之右端）侧與顯示驅動電路153連接。又，顯示掃瞄電 極群134於直線方向之另一端（圖之左端）側，以分別獨立之 狀悲與顯示掃瞄驅動電路1 54連接。位址電極群丨35則以其 一端為分別獨立之狀態連接於位址驅動電路丨5 5。 藉由使用以第20圖說明之驅動方法，俾透過該等驅動 電路153〜155朝各電極群133〜135施加電壓，以使評估用胞 几領域2劣化，並確認其亮度之下降及放電胞元故障等之產 生而判斷壽命。 此判斷將進行有關預定之檢查項目（譬如，直到亮度降 低至50%之時間及胞元之故障產生等）之檢查，並根據該檢 查結果進行。依該判斷，藉由將可得良好結果之電漿顯示 面板作為製品而結果不佳者作為瑕疵品，以區別製品，則 可儘可能地使短壽命之電漿顯示面板不流通於市面。 如前述說明，依本第i實施形態之PDp130，係於同一 Ϊ紙張尺度適A穩^^2獻297公釐) -- …·裝------------------訂--------------#線. f請先閱讀背¾.之注意事項再填寫本頁} -25- 535190 A7 B7 五、發明説明fc ) (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 基板上具有影像顯示用胞元領域丨與用以評估壽命之評估 用胞元領域2。此各胞元領域1、2除藉密封層121、141形成 呈獨立之狀態，並分別設有可獨立驅動之電極群。 且，評估PDP130之壽命時，若對評估用胞元領域2進 行壽命評估，則伴隨著該評估，雖評估用胞元領域2之胞元 將劣化或產生雜質氣體’但藉密封層121而獨立形成之影像 顯示用胞元領域1仍可作為製品使用。因此，即使作為壽命 測試用之PDP樣本數多亦不需廢棄PDp，故可減低損耗成 ° 進而’若對評估用胞元領域2使用促進劣化之驅動方 、^τ— 法，或封入可促進劣化之氣體，則可更進一步縮短壽命測 試之期間。 且，對PDP進行壽命測試，並藉由僅對該結果良好者 施行作為PDP製品之製造方法，因而可降低短壽命之pDp 流通於市面之機率。 1·線— 此外，評估用胞元領域2之形成位置雖宜為如第2圖所 示之位置’但PDP 130作為電視等完成品而形成時，若影像 顯示用胞元領域1作為畫面而露出且評估用胞元領域2位於 隱藏之位置，則評估用胞元領域2之形成位置可為影像顯示 用胞元領域1之上端、下端、外周等，可形成於任何位置。 又，PDP130使用於電視等時，若將評估用胞元領域2多數 δ又於不造成妨礙之位置上而以多數胞元進行壽命測試，則 可進一步提高壽命之可靠性。 又’基板上除可設置1個評估用胞元領域外，亦可設置 -26- 535190 A7 ^~ ---—_ B7 —_ 五、發明綱“） "1--- 多數影像顯示用胞元領域。藉此，若於評估用胞元領域中 =行面板之壽命測試，則可兼顧2個影像顯示用胞元領域之 可命測試，提高生產性。如此製作出之pDp，可於每一影 像顯示用胞元領域使用雷射等切斷。又，亦可將多數影2 顯不用胞元領域中之一個作為壽命評估用胞元領域。 又，第17圖所示之長方形之影像顯示用胞元領域丨之一 部分，可譬如以密封隔開最右端之放電胞元數列等而作為 影像評估用胞元領域2。又，因評估用胞元領域2之放電空 間143與影像顯不用胞元領域！之放電空間122係獨立形 成，故可於壽命測試後削除評估用胞元領域2。進而，亦可 使用能多數形成影像顯示用胞元領域丨之較大的前面玻璃 基板101及背面玻璃基板102，而於同一基板上設置多數影 像顯示用胞元領域。如此，多數影像顯示用胞元領域中之 壽命便可藉由進行i個評估用胞元領域2之壽命測試而判 別’由成本之觀點而言為較佳者。 又，雖前述各電極群133〜135與影像顯示用胞元領域工 之各電極群103、104、107為獨立設置，但亦可共通化設置 該等電極群。此時，進行壽命測試時則需以僅使評估用胞 元領域2點壳之狀態進行位址放電。 (第2實施形態） 其次，說明作為本發明一應用例之PDp壽命測試裝置 之第2貝施形悲。此外，因本第2實施形態之pDp壽命測試 裝置1 50除第1實施形態與第丨圖之構成及第5圖所示之評估 用胞兀領域2之驅動方法相異外，其餘皆為同樣之構成，故 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS) A4規格（210X297公釐） -27- 535190 五、發明説明釦 省略有關同樣構成之說明。 本第2實施形態中之PDp壽命測試裝置15〇之構成雖與 使用第1圖且以第丨實施形態說明之構成大致相同但由於 朝幀記憶器151之圖像資料之存儲方法相異，故對該點進行 說明。 頁 訂 存儲於幀記憶器1 5 1之圖像資料DR、DG、DB於藉控制 裔152讀出後，於各色變換為顯示是否點亮胞元之子幀資料 Dsf，並再次儲存於幀記憶器151。在此，幀記憶器i5i於第 1實施形悲中雖於每1幀分割各子幀之圖像資料並進行存 儲，但本第2實施形態中並不分割為多數之子幀，而是作為 1個子幀之圖像資料進行存儲。因此，於PDP130之評估用 胞元領域2中進行是否點亮胞元之2灰階顯示。 第6圖例示本發明第2實施形態中之pDP壽命測試裝置 150之驅動方法，橫方向表示時間，斜線方向表示位址期間。 1中貞250與第1實施形態中之1幀23〇(第5圖）相異，並不 分割為多數之子幀而是直接形成1個子幀251。子幀251具有 用以進行位址放電之位址期間252及用以進行維持放電之 放電維持期間253。在此，1幀250、位址期間252具有與影 像顯示用驅動中之i幀2〇〇、位址期間209相同時間之長度， 另一方面’放電維持期間253為子幀251中撤除前述位址期 間252之時間長度。在此，施加於各顯示電極群ι33及顯示 掃瞄電極群134之各放電維持脈衝254、255與影像顯示用驅 動相同，為適期T0、電壓V0之矩波形。 藉由前述構成，可使H| 250中所佔之放電維持期間253 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS) A4規格（210X297公爱） -28- 535190 A7 ~——---L _ 五、發明説明紅 ) 之長度較影像顯示用驅動大。 譬如，使用顯不如第4圖所示之256灰階之影像顯示用 驅動方法時，1幀200中之位址次數因各子幀2〇1〜2〇8中分 別進行1次，故合計為8次。另一方面，使用本第2實施形態 之第6圖所不之驅動方法時，丨幀25〇中之位址次數可以子幀 251之位址期間252而作結束，即合計1次。 即’由於子幀數較影像顯示用驅動少，因可使1幀250 中之位址期間252所佔之長度較影像顯示用驅動時減低，故 可增大分配於放電維持期間253之期間。藉此放電維持期間 253之增加，即使施加與影像顯示用驅動相同週期丁〇之放 電維持脈衝，1幀250中之放電次數亦可較全灰階顯示時之 影像顯示用驅動增加。 如前述，PDP係與放電次數成比例地加速壽命劣化。 且，依此實施形態，雖位址次數減少，但位址放電本身仍 在進行’且可以近似於一般使用條件之形式評估pDp之壽 命。因此，藉由前述之驅動方法，於考慮到一般使用條件 之狀態下’與進行影像顯示用驅動時相較可促進PDP之評 估用胞元領域2之劣化，且於短期間内評估壽命。 又’本第2實施形態中，雖因不分割1幀25〇、直接作為 1個子幀251而無法進行高精密之影像顯示，但即便為進行 此種影像顯示而分割為多數子幀，若子幀數較影像顯示驅 動時之子巾貞數少’則因減少1幀250所佔之位址期間252且增 加放電維持期間，故可促進PDp之劣化。 (第3實施形態） 本紙張尺度適用中國國家標準（QfS) A4規格（21〇χ297>ίΗί) 一 ' -29-

----- * · (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 、可_ 535190 A7 - B7 五、發明説明纟7 ) (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 接著，說明有關作為本發明一應用例之PDP驅動方法 中之第3實施形態。此外，本第3實施形態中之pDP壽命測 試裝置150係，以第1實施形態說明之第！圖中之圖像資料 DR、DG、DB係顯示於整個面板或部分地顯示矩形領域之 資料’且，除第5圖所示之評估用胞元領域2之驅動方法相 異外，因使用第2圖、第3圖及第4圖說明之構成均相同，故 省略有關其構成之說明。 第7圖例示本第3實施形態中之PDP壽命測試裝置150 之驅動方法，橫方向表示時間，斜線部分表示位址期間。 1幀270分割為譬如8個子幀271〜278。此1幀270、子幢 271〜278具有與第4圖所示之影像顯示用驅動之1幀2〇〇、子 幀201〜208相同之長度。 各子幀271〜278具有用以寫入資料之位址期間279及 用以進行維持放電之放電維持期間280。 位址期間279中，對顯示掃瞄電極群134(1〜N)與位址電 極群135(1〜M)之所有電極，同時且僅進行1次位址放電281 以施加電壓。藉由1次且同時進行此位址放電28 1，俾於顯 示掃瞄電極群134與位址電極群135間產生微量放電，以朝 評估用胞元領域2之整個面板進行壁電荷之形成。 且’放電維持期間280中，於顯示電極群133及顯示掃 猫電極群134上，藉由以分別錯開半週期之狀態同時施加具 有與影像顯示用驅動相同之電壓V0且週期T0之放電維持 脈衝282、283，並於位址期間279中形成壁電荷之放電胞元 持續進行放電，以於整個面板顯示白色之影像。不過，欲 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS) A4規格（210X297公釐） -30- 535190

朝面板點儿之衫像圖樣因係同時且僅進行】次位址放電 281，故成為固定之丨個長方形。 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 前述位址期間279中，藉由同時進行位址放電281，因 可進行1次朝顯示掃猫電極群134施加位址電壓時之掃猫， 故與影像顯示用驅動相較，可縮短位址期間Μ之長度。在 此因放電維持期間280為分別由各子幀271〜278扣除時間 縮短之各位址期間279之值，故與影像顯示用驅動之位址期 間210相較，其時間增長。 藉由增加此放電維持期間280之長度，則，即使施加具 有與影像顯示用驅動相同週期丁〇之放電維持脈衝282、 283，因整個1幀27〇中之放電次數仍較影像顯示用驅動增 加，故可如前述般的促進PDP之劣化，於短時間内評估壽 命0 本來’對於知瞒顯示掃瞒電極群13 4之電極數目次之點 冗胞元之壁電荷形成係藉僅1次之位址放電281而進行，且 位址放電本身精簡化，但因進行與位址放電相同之放電， 故本驅動方法可評估考慮一般使用條件之pDp壽命。 此外’本第3實施形態中，雖進行1次位址放電，但可 於2條以上之顯示掃瞄電極群134同時進行位址放電，藉此 可進行較影像顯示用驅動之掃瞄次數少之掃瞄次數（不足 顯示掃瞄電極群134之電極數N之次數）。因此，由於可較 影像顯示用驅動更縮短位址期間279，故放電維持期間28〇 增長’與前述同樣地可促進PDP之劣化。 (第4實施形態） 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS) A4規格（210X297公釐） -31- 535190 A7 B7 五、發明説明纟9 ) (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 接著’說明有關本發明第4實施形態之PDP之驅動方 法。此外，本第4實施形態中之PDP壽命測試裝置150，除 第1實施形態與評估用胞元領域2之驅動方法（第5圖）相異 外’因與使用第1圖、第2圖、第3圖及第4圖說明之構成相 同，故省略有關其構成之說明。 第8圖例示本發明第4實施形態中之Pdp壽命測試裝置 1 50之驅動方法，橫方向表示時間，斜線部分表示位址期間。 為顯示1畫面之期間，即i幀290分割為譬如8個子幀 291〜298。此1幀290、子幀291〜298分別具有與第19圖所示 之影像顯示用驅動之幀200、子幀201〜208相同長度之時 、可 各子幀291〜298具有用以寫入資料之位址期間299與 用以進行維持放電之放電維持期間300。 位址期間299中，與第1實施形態之位址期間相同地， 藉由隨著子幀資料Dsf而於每1行列掃瞄顯示掃瞄電極群 134,以於顯示掃瞄電極群134與位址電極群135間產生微量 放電，俾於面板内中欲點亮之胞元儲蓄壁電荷。 之後，於放電維持期間300中，錯開半週期地於整個面 板之顯示掃瞄電極群133及顯示掃瞄電極群i34施加具有電 壓νι且週期το之矩形波之各放電維持脈衝301、3〇2，並於 形成有壁電％之胞元維持放電。藉此，於顯示電極群133 與顯示掃瞄電極群134間，邊使電壓之極性相互反轉邊反覆 引起放電。 在此，各放電維持脈衝301、302之電壓VI與影像顯示 -32- 、發明説明知) 用驅動時之放電維持脈衝電壓ν〇(通常為丨85v程度） 相較，所施加之電壓係設定為較高者。 由於此高電壓VI之故，於放電維持期間300中產生之 放電較影像顯示用驅動時強，並促進朝陰極材料之離子衝 擊等現象，且，即使平均單位時間之放電次數與影像顯示 用驅動相同（放電維持脈衝之週期與το相等），亦可促進螢 光體之劣化等。因此，可於短期間内評估PDP之壽命。又， 因進行與影像顯示用驅動相同之位址放電，故可評估將址 電極之劣化列入考慮之壽命。 在此，各放電維持脈衝301、302之電壓VI之值在考慮 到PDP之劣化速度時雖以電壓高者為佳，但若太大則會加 速於面板内之發熱，且因面板裂縫產生之可能性提高，故 以約150V〜250V程度為佳。 (第5實施形態） 其次，說明有關作為本發明一應用例之PDP之壽命測 試方法及壽命測試裝置。此外，本第5實施形態中之pDP壽 命測試裝置350，於具備第丨〜第4實施形態說 明之PDP壽命 測試裝置150(第1圖）與信號產生器351之點相異，而連接於 此之PDP則使用與以習知技術說明之pDpi〇〇(第16圖）相同 者作為一例。 <PDP壽命測試裝置35〇之整體構成〉 第9圖為例示本第5實施形態中之PDP壽命測試裝置 350之構成之電路塊圖。 PDP壽命測試裝置350係用以驅動為進行PDP100之壽 535190 A7 B7 五、發明説明会1 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 命測忒而連接於此者，且如同圖所示，具有：信號產生器 351，係用以輸出相當於為進行壽命測試之點亮圖樣之圖像 貝料DR(紅）、DG(綠）、DB(藍）等者；幀記憶器川，係用 以存儲由該#號產生器351輸出之圖像資料dr、dg、db 等者，控制器353，係肖以控制朝巾貞記憶器352之圖像資料 DR、DG、DB之輸出入等處理及各電路之驅動者；顯示驅 動電路354，係用以依照來自控制器353之指示而於顯示電 極群103施加放電維持電壓者；顯示掃瞄驅動電路355，係 用以於顯示掃瞄電極群104施加掃瞄位址及放電維持脈衝 者，位址驅動電路356，係用以於位址電極群1〇7施加寫入 電壓者，及電源裝置357、358、359，係用以於各驅動電路 354、355、356供給電壓者。卩训壽命測試裝置35〇，除具 備使用第1圖說明之PDP壽命測試裝置15〇與信號產生器 351之點相異外，其餘均為大略相同之構造，故省略有關該 等構造之說明。 信號產生器351係習知之可程式化視頻信號 (Programmable Video Signal)產生器，該可程式化視頻信號 產生器係可產生相當於所希望之點亮圖樣之影像信號者； 且，將顯示各頂點胞元之紅色（R)、綠色（G)、藍色（B)之亮 度等級（灰階等級）之多值圖像資料DR、DG、DB及各種同 步信號輸出於幀記憶器352及控制器353。 幀記憶器352可於每1幀分割各子幀之圖像資料並進行 儲存’且暫時存儲由信號產生器351輸入之圖像資料DR、 DG、DB等。存儲於該幀記憶器352之圖像資料DR、DG、 -34- 535190 A7 " - B7 五、發明説明) ^ —- DB於藉控制器353讀出後，A ;隹 > 七价β 交馮進仃灰階顯示，故於每一色 變換為顯示是否點亮各子幢中之胞元之二進制數據之集 合，即圖像資料（以下，稱為子㈣料Dsf)，並再次儲存於 幀記憶器352。 控制11 353依照子㈣料Dsf，使用後述之驅動方法驅 動顯示驅動電路354、顯示掃瞄驅動點路355及位址驅動電 路 356。 藉此PDP壽命測試裝置35()，使用以下說明之方法於 PDP100之影像顯示領域123顯示影像並進行壽命評估。此 外，有關PDP100之驅動方法，係使用於前述第i實施形態 中以第4圖說明之幀内時間分割灰階顯示方式。 <影像顯示領域123中之點亮圖樣> 其次，說明有關根據由信號產生器351發信之影像資料 而於PDP100之影像顯示領域丨23進行顯示之本發明所特有 I 之點免圖樣。 第10圖例示PDP100之影像顯示領域123中之點亮圖 樣。 如該圖所示，顯示於影像顯示領域123之影像係由正常 點亮部分301與閃爍部分302構成。 正常點亮部分301係壽命測試期間中進行白色顯示及 壽命測試之部分，且配置於撤除影像顯示領域123之周緣部 | 之預定領域内。有關顯示於此正常點亮部分301之影像，係 藉由使具有R、G、B色之螢光體層之一組胞元正常點亮並 進行全白色顯示（全灰階顯示）而可使維持放電次數增加， ----—_____________ 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS) A4規格（210X297公釐）

(請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) •訂— ·線· -35- 535190 A7

535190 A7 ______—_ B7 P五、發明説明彳4 ) 因此，習知之壽命測試技術中，因於影像顯示領域623 設置正常熄滅部分702(均參照第丨8圖），故於因正常點亮部 分701(第18圖）之點亮而產生之雜質氣體擴散後，將截留於 正常熄滅部分702中之螢光體層等。正常熄滅部分7〇2於壽 命測試期間中始終為熄滅狀態，因加上由於放電而起之能 量，故直接儲備被截留之雜質，且不會由此領域再次擴散。 由該結果，放電空間内之雜質氣體濃度將逐漸下降，不易 產生起因於雜質氣體之亮度降低及放電胞元之故障。另一 方面，一般使用條件中，因正常熄滅部分並不存在，故不 會產生於此種放電空間中之雜質氣體濃度之降低。因此， 習知之哥命測試難以正確進行考慮到與一般使用條件相 異，雜質氣體之狀態之壽命評估。 相對於此，本第5實施形態並不設正常熄滅部分，也不 一定於整個影像顯示領域123中進行維持放電。又，雜質氣 體於閃爍部分302中即使被截留於螢光體層11〇R、11〇〇、 110B ’亦可藉閃爍氣化而立即添加充分之能量，並釋出雜 質。因此，可推斷放電空間122中之雜質濃度並不會像具有 正常熄滅部分之習知技術般低落。因此，可以類似考慮雜 質氣體影響之一般使用條件評估PDp之壽命。 在此，正常點亮部分301之面積，與用以進行壽命測定 之測定機器之關係上，雖至少需1 〇胞元程度之面積，但若 欲評估類似考慮放電空間122(第17圖）中之雜質氣體影響 之一般使用壽命，則以具有近似於一般使用條件之大面積 者為佳。另一方面，若該面積太大，雖將產生因維持放電 本紙張尺度適财^§1家檩準（哪）纟4規格（2獻297公釐) ' —— -37-

訂— m (請先閲讀背面之注意事項再填窝本頁) 五、發明説明（5 ) 之發熱而導致之面板裂縫之問題，但由於藉設置用以冷卻 面板之風扇等而使來自面板之散熱增加亦可減輕該問題， 故宜考慮來自壽命測試時之面板之發熱量、散熱等，來決 疋正常點/¾部分3 〇 1之大小。 又，閃爍部分302之閃爍週期並無特別限定，雖可由考 慮冷卻因維持放電而起之發熱之時間關係而決定，但丨循環 之閃爍中之連續點亮時間宜至少佔1〇%。此係由於若不足 該值，將因放電次數少而使螢光體層等之溫度無法提升， 有截留於螢光體層等之雜質將無法氣化而殘留之可能性。 此外’有關正常點壳部分3 〇 1之配置，並不限於如第^ 〇 圖之顯示於整個中央部之圖樣，譬如，如第u圖係格子狀 配置並顯示多數正常點亮部分3 n之圖樣，或，如第12圖所 不，鋸齒狀配置並顯示多數正常點亮部分321與熄滅部分 322之圖樣，基本上，除以不妨礙壽命測定程度之大小點亮 正常點亮部分311、321外，閃爍部分312、322並可配置呈 橫跨整個影像顯示領域123之周緣部。藉此，可抑制面板裂 縫之產生並以類似一般使用之條件評估PDp之適當壽命。 如前述，影像顯示領域中之點亮圖樣係由正常點亮部 分與閃爍部分構成，因閃爍部分大致配置於整個影像顯示 領域之周緣部，故不但可抑制產生面板裂縫之密封層附近 之發熱，即使於閃爍部分中，截留於螢光體層之雜質氣體 亦將氣化並進行充分之放電，因此放電空間内部中之雜質 氣體濃度並不會下降，可於類似一般使用之條件之基礎下 進行舞命測試。

-38- 五、發明説明和 ) (第6實施形態） 接著，說明有關本第6實施形態之PDP之壽命測試方法 及壽命測試裝置。此外，本第6實施形態中，僅第5實施形 悲與第13圖所示之點亮圖樣相異，因有關其他pDp壽命評 估裝置專之構成均相同，故省略說明。 第13圖例示本發明第6實施形態中之pDP1〇〇之影像顯 示領域123之點亮圖樣。 影像顯示領域123係由正常點亮部分4〇 1與閃爍部分 402構成。 正常點亮部分401與第1實施形態中以第2〇圖說明之正 常點亮部分301相同，係以長方形之形狀配置於影像顯示領 域123之中央部’且壽命測試期間中始終持續以白色顯示進 行點亮。於此正常點亮部分401進行劣化，且藉由測定亮度 劣化及放電特性之變動而進行PDP 1〇〇之壽命評估。 閃爍部分402以包圍正常點亮部分401之狀態配置於影 像顯示領域123之周緣部。 本實施形態中，為顯示具一定寬度L2之帶狀，故進行 白色顯示之渦形點亮部分403邊維持其形狀邊週期性地由 影像顯示領域123之圖面左端至右端反覆進行渦形移動，除 滿形點壳部分403通過時，閃爍部分402均為熄滅狀態（第13 圖中’渦形點亮部分403未通過之領域404為熄滅狀態）。藉 此’閃爍部分402之各部分將作週期性地閃爍。此渦形點亮 部分403之移動方向寬度L2具有影像顯示領域123中之橫 方向長度L1之預定比率（至少宜1 〇%)。且，直至渦形點亮 535190 A7 _ - B7 五、發明説明〇 ) 部分403返回於同樣之場所為止之1循環之時間，即渦形週 期係没疋為2秒。藉此，閃燦部分402中之各放電胞元因於 母1循環中進行渦形週期之預定比率時間之白色顯示，故與 第1實施形態相同地，放電空間内之雜質氣體濃度並不會下 降’因此，可適當評估考慮雜質氣體濃度且類似一般使用 之PDP奇命，且圖謀面板裂縫之防止。在此，雖渦形週期 設定為2秒，但可依考慮閃爍部分4〇2中之發熱及散熱且可 防止面板裂縫之範圍來作設定。 且’本第6實施形態中，渦形方向雖以面向圖面由左到 右之方式刖進，但並不限於此例，由左到右、上到下、對 角方向等各種方向均可得到相同之效果。 (第7實施形態） 接著’說明有關本發明第7實施形態之PDP之壽命測試 方法及舞命測試裝置。此外，本第7實施形態中，僅第5實 施形悲與第14圖所示之點亮圖樣相異，因有關PDP壽命測 試裝置等之構成均相同，故省略說明。 第14圖例示本發明第7實施形態中之pDp之影像顯示 領域123之點亮圖樣。 如該圖所示，影像顯示領域123係由高灰階顯示部分 411與低灰階顯示部分412構成，而，於所有領域進行正常 點亮之點則與前述第5及第6實施形態相異。 南灰階顯示部分411與第6實施形態之第丨〇圖所示之正 常點亮部分301相同，均以長方形之形狀配置於影像顯示領 域123之中央部，並於壽命測試期間中進行白色顯示，即， 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS) A4規格（210X297公釐) ---

、一t— (請先閲讀背面之注意事項再填窝本頁) -40- ^5190 A7 ^ _________B7 五、發明説明) --- 、彔玉均以鬲灰階顯不之部分。於此高灰階顯示部分 藉由/則疋冗度降低及放電特性之變動而進行壽命評 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 估。 ^低灰P自顯不部分412係以較高灰階顯示部分411低之預 定灰階進行顯示之部分。即，此部分係，雖於Π貞中未必引 起維持放電並發光，但由於每一子幢中必定具有不進行維 持放電且不發光之期間，因而可減少丨幀中之維持放電次數 且抑制發熱，並顯不低灰階者；且，以包圍高灰階顯示部 刀411之狀恶配置於整個影像顯示領域Η]之周緣部。低灰 P白顯不口(5刀412中之顯不灰階，可由考慮發熱及散熱且不產 生面板裂縫之範圍來作設定。 在此，作為預定之灰階，雖然以至少為最高灰階之十 分之-灰階以上為宜，但，譬如第4圖中說明般，若可顯示 之灰階為256灰階，則U| 200期間中，於子幀2〇2、2〇4、2〇5 中進行維持放電並顯示第26個灰階。藉此，於低灰階顯示 部分412中，可於整個放電維持期間中之預定比率之時間 (至少十分之一以上之時間）内進行維持放電。 本實施形態中，可藉由與第5實施形態相同之作用，使 放電空間内之雜質氣體濃度不下降並圖謀面板裂縫之防 止。因此，可適當評估考慮雜質氣體濃度且類似一般使用 之PDP之壽命。 此外，低灰階顯示部分412可以面向該影像顯示領域之 周緣部呈低灰階之狀態進行濃淡度顯示。 於前述各第5〜第7實施形態中，雖使第4圖所示之幀内 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS) A4規格U10X297公釐） -41- 535190 A7 ~----_ _ 五、發明説明Ρ 時間分割顯不方式中之放電維持脈衝之週期為τ〇，但亦可 藉由使週期為較該Τ0短之T1以增加放電次數並加速壽 命，使箐命測試之期間縮短。此時，若面板内之發熱量隨 放電次數之增加而增多，則可藉由調整面板内之正常點亮 部分（高灰階顯示部分）之位置及面積，依情況而定，藉由 施行水冷或空冷等適當之冷卻，便可解決面板裂縫之問題。 又，前述第6及第7實施形態中，雖如第13圖、第19圖 所不般地將正常點亮部分4〇1及高灰階顯示部分411之配置 圖樣配置於影像顯示領域123之中心，但，其配置圖樣除可 呈譬如正常點亮部分301、311(第U圖、第17圖）外，亦可 藉由將其殘餘之領域與閃燦部分及低灰階顯示部分調換並 進行顯不之圖樣進行，以上之情況均不會構成問題。閃爍 部分及低灰階顯示部分只要配置於影像顯示領域之周緣 部，即可如前述般地抑制面板裂縫之產生，且可以類似考 慮雜質氣體之影響之一般使用條件進行PDP之壽命測試。 (第8實施形態） 前述第1實施形態中，雖於評估用胞元領域2中評估 PDP之壽命，但評估用胞元領域2並不僅可使用於壽命評 估，亦可使用於用以預測影像顯示用胞元領域1之最適當老 化時間。 以下’說明有關本發明第8實施形態之pdp之老化測試 方法。此外，本第8實施形態中，使用與第1實施形態相同 之PDP130與壽命測試裝置150,除將壽命測試裝置ι5〇用以 於評估用胞元領域2之老化測試目的上外，因與第1實施形 本紙張尺度適用中國國家標準（Q^) A4规格（210X297公釐）

訂— (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) •42- 535190 A7 五、發明説明彳0 ) 態之構成均相同，故省略有關其構成之說明。 通吊，PDP於作為製品出貨前，均進行一定時間之老 化。此老化係指為除去吸附於面板内之雜質氣體分子而使 整個PDP發光外，並持續操作至其安定化為止之操作而 言。即，藉PDP發光時之電漿作用脫離雜質氣體分子，並 藉由將該雜質氣體分子排除至電漿作用不及之領域，以使 PDP可進行放電特性之安定化及螢光體發光特性之安定 化。 然而’即使係經由同一製作程序而製造出之ρ〇ρ，亦 因製造程序之誤差而產生製品之不一致性，且最適當之老 化時間隨面板而相異，因而於每一面板易產生不適當之老 化時間。因此，謀求各個面板最適當之老化時間。 在此’本實施形態中，預先求得評估用胞元領域2與影 像顯示用胞元領域1之老化時間之相關性，且於各個PDp 中，藉由求得評估用胞元領域2之老化時間而算出影像顯示 用胞元領域1之最適當的老化時間。 第15圖係一圖表，用以例示PDP13〇之評估用胞元領域 2與影像顯示用胞元領域1中之老化完全點亮電壓與老化時 間之關係。此外，所謂老化完全點亮電壓係指各胞元領域 1、2中，施加於所有胞元點亮時之顯示電極群與顯示掃瞄 電極群之最小電壓。 如該圖所示，可知評估用胞元領域2之老化時完全點亮 電壓（以下，稱為「點亮電壓」）與老化時間一同降低，且 最後以時間Ta以下、略Va達飽和。即，點亮電壓係，以 本紙張尺度適财關家標準（CNS) A4規格（21GX297公楚)^ -s- -43-

— (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 、π— ---- 67 535190 A7 五、發明説明0 ) 開始安定化之最初時間Ta於評估用胞元領域2中之最適當 老化時間。 又，影像顯示用胞元領域1之點亮電壓亦與老化時間一 同下降，以時間Tb以下、略Vb達飽和。此時間Tb係影像顯 示用胞元領域1之最適當老化時間。 在此’老化最適當時間Ta<Tb、點亮電壓Va<Vb，可 知即使於同樣之面板内形成胞元領域，各胞元領域1、2之 老化特性並不一致。此係由於各胞元領域1、2之放電領域 面積相異而使各放電空間内之到達壓力相異，且由於電漿 無法擴及之領域（顯示領域之外周部等）面積之差異，故即 使係相同之老化條件，各胞元之老化特性仍不同。 在此’由以下式子導出此時間Ta與時間几之關係。

Ta= a X Tb......① 由前述式子①求得表示各胞元領域1、2之相關關係之 α。如此，若預先求得表示評估用胞元領域2與影像顯示用 胞元領域1之相關關係之係數α，那麼，之後便可於每一面 板測定評估用胞元領域2之老化最適當時間,因僅以α 除該值，故可求得影像顯示用領域胞元1之老化最適當時間 Tb。 藉此，因可藉評估用胞元領域2中之最適當老化時間之 測定來推測於每一面板微妙地錯開之影像顯示用胞元領域 1之最適當老化時間，故可解決過往無法作到之老化時間之 不適當。 此外，在此，雖利用點亮電壓之測定結果來進行最適

本紙張尺度適用中國國家標準（CNS) Α4規格（210X297公D ---------t-i (請先閲讀背面之注意事項再填窝本頁) 、τ 冒線丨 -44- 535190 A7 「五、發明説明{2 ) — ~ ' 當老化時間之推測，但並不限定於點亮電壓，亦可對最易 於TO度劣化之藍色螢光體層之亮度測定老化時間，並將該 結果利用於最適當老化時間之推測。 (各實施形態中之變形例等） 此外’前述各第1〜第4實施形態不一定需要獨立實 施，可藉由多數組合促進該等各實施形態中之PDp劣化之 方法，更加快顯不PDP壽命之亮度劣化及因放電特性之變 動而起之放電胞元之故障等之出現。又，各前述第丨〜第斗 實施形態中，因放電脈衝數之增加或放電維持脈衝電壓之 增加，而在意伴隨面板内之熱能之產生所引發之面板裂縫 問題及因電流值之增加而起之耐壓問題等，但可依位址選 | 擇而選擇面板内之點亮位置，並藉由調整點亮面積，或， 藉由施行水冷或空冷等適當之冷卻來實施。又，有關顯示 於前述各第1〜第4實施形態之晝面中之影像，雖白色顯示 之固定影像之連續點亮以正常點亮具有R、G、B色之螢光 體層之一組胞元為佳，但除第3實施形態外，即使顯示任意 之影像亦不構成問題。 前述各第5〜第7實施形態中，雖使第4圖所示之幀内時 間分割灰階顯示方式中之放電維持脈衝之週期為τ〇、電壓 為Vo，但可藉由組合使如第i〜第4實施形態所示之脈衝週 期縮短或提高電壓之PDP之劣化促進方法，使壽命加速並 縮短壽命測試之期間。此時，雖伴隨放電次數之增加等， 面板内之發熱量將增加，但藉由調整面板内之正常點亮部 分（咼灰階顯示部分）之位置及面積或依情況施行水冷或空 本紙張尺度適用巾家標準（CNS) A4規格（21()X297&^•丨"~~' '— -45-

----- (請先閲讀背面之注意事項再填窝本頁) t. 535190 A7 —--B7 五、發明説明彳3 ^ '一' -~1一 冷等適當之冷卻，可解決面板裂縫之問題。 第苐7實施形態中，雖使用一般之幀内時間分 』灰^顯不方式進行壽命測試，但並不限於此，可如第！〜 第4只施形恶般，於一塊玻璃基板上設置影像顯示用胞元盘 評估用胞元，並於任一之胞元中使用促進壽命之驅動方^ 進打哥命測試。如此，可於防止面板裂縫之狀態，進行類 似一般使用之電漿顯示面板之壽命測試。 又’刖述第6及第7實施形態中，雖如第13圖、第19圖 所示般地將正常點亮部分4〇1及高灰階顯示部分411之配置 圖樣配置於影像顯示領域123之中心，然而，譬如第5實施 开y心說月般’除可與第丨〇圖及第丨丨圖所示之正常點亮部分 411凋換外，殘餘之領域亦可與閃爍部分4〇2及低灰階顯示 部分412調換且顯示之圖樣等進行，以上之情況均不會構成 問題，且，若閃爍部分4〇2及低灰階顯示部分412配置於影 像顯不領域之周緣部，則不但可如前述般地抑制面板裂縫 之產生，並可以類似考慮雜質氣體影響之一般使用條件進 行PDP之壽命測試。 【產業上之可利用性】 本發明之電漿顯示面板可有效地應用於特別要求低成 本之顯示面板上。 【元件標號對照表】 1…影像顯示用胞元領域 101…前面玻璃基板 2…評估用胞元領域 102…背面玻璃基板 100...PDP 103…顯示電極群 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS) A4規格（21〇><297公爱） (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 、可· -46- 535190 A7 B7 發明説明Θ ) 104…顯示掃瞄電極群 155...位址驅動電路 105…介電體層 156...可變電壓電源裝置 106...MgO保護膜 157...可變電壓電源裝置 107...位址電極群 158...可變電壓電源裝置 108...介電體層 200…幀 109...間壁 201〜208...子幀 110R、G、B···螢光體層 209…位址期間 121...密封層 210...放電維持期間 122...放電空間 211...放電維持脈衝 123...影像顯示領域 212...放電維持脈衝 130 …PDP 230…幀 133…顯示電極群 231〜238...子幀 13 4…顯不掃猫電極群 239…位址期間 135···位址電極群 240…放電維持期間 139...加強肋 241…放電維持脈衝 140R、G、B·.·螢光體 242...放電維持脈衝 141...密封層 250…幀 142...顯示領域 251…子幀 143...放電空間 252…位址期間 150... PDP壽命測試裝置 253...放電維持期間 151…幀記憶器 254...放電維持脈衝 152...控制器 255...放電維持脈衝 153...顯示驅動電路 270…幀 154…顯示掃瞄驅動電路 271〜278...子幀 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) •訂· I線丨 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS) A4規格（210X297公釐） -47- 535190 A7 B7 五、發明説明彳5 ) 279.. .位址期間 280.. .放電維持期間 281…位址放電 282.. .放電維持脈衝 283.. .放電維持脈衝 290…幀 291〜298...子幀 299…位址期間 300.. .放電維持期間 301.··放電維持脈衝、正常 點亮部分 302.. .放電維持脈衝、閃爍 部分 311···正常點亮部分 321···正常點亮部分 322…熄滅部分 350.. . PDP壽命測試裝置 351…信號產生器 352…幀記憶器 353.. .控制器 354.. .顯示驅動電路 3 5 5…顯示掃瞒驅動電路 356.. .位址驅動電路 357…電源裝置 358.. .電源裝置 359.. .電源裝置 401.··正常點亮部分 402…閃爍部分 403.. .渦形點亮部分 404.. .渦形點亮部分未通過 之領域 411.. .高灰階顯示部分 412.. .低灰階顯示部分 623.. .影像顯示領域 701…正常點亮部分 702···正常熄滅部分 711…正常點亮部分 712.. .正常熄滅部分 721.. .正常點亮部分 722.. .正常熄滅部分 DR、DG、DB...圖像資料

Dsf...子幀資料 V0...電壓 T0…週期 VI...電壓 T1...週期

To...週期

Ta…時間 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS) A4規格（210X297公釐） -48- 535190 A7 B7 五、發明説明（6 ) (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁)

Va...點亮電壓 T b…時間 Vb...點亮電壓 L1...長度 L2... —定寬度 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS) A4規格（210X297公釐） -49-

Claims (1)

1. 535190 申請專利範圍

   第901251〇9號案申請專利範圍修正本92年3月12 曰 1 · 一種電漿顯示面板，係具有： 第1胞元領域，係有多數放電胞元形成呈矩陣狀且用 以進行影像顯示者；及 第2胞元領域，係一與該第1胞元領域相異之領域， 且有多數放電胞元形成呈矩陣狀而用以進行性能評估者。 2·如申請專利範圍第1項之電漿顯示面板，其中前述第1 及第2胞元領域係具有為使於前述各胞元領域之所有胞 元發光而施加電壓用之電極群，且前述第1胞元領域與 前述第2胞元領域係配置於面板内之各自獨立且呈密封 之放電空間内部。 3 ·如申請專利範圍第2項之電漿顯示面板，其中前述第1 胞元領域之電極群係形成呈可與前述第2胞元領域之電 極群相互獨立驅動之狀態。 4·如申請專利範圍第2或3項之電漿顯示面板，其中前述配 置有前述第1胞元領域及第2胞元領域之各放電空間 内，除分別封入有由惰性氣體形成之放電氣體外，另於 配置有前述第2胞元領域之放電空間内封入有促進該胞 元劣化之放電氣體。 5 ·如申請專利範圍第4項之電漿顯示面板，其中前述封入 於配置有前述第2胞元領域之放電空間内之放電氣體， 與封入於配置有前述第1胞元領域之放電空間内之放電 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS) A4規格（210X297公釐）

   裝 訂 # -50- 535190

   申凊專利範圍 氣體相較下質量較小。 6·如申請專利範圍第4項之電漿顯示面板，其中前述封入 於配置有前述第2胞元領域之放電空間内之放電氣體與 封入於配置有前述第1胞元領域之放電空間内之放電氣 體相較下，係以較低之壓力封入者。 7·如申請專利範圍第5項之電漿顯示面板，其中前述封入 於配置有刖述第2胞元領域之放電空間内之放電氣體與 封入於配置有前述第1胞元領域之放電空間内之放電氣 體相較下，係以較低之壓力封入者。 8·種電漿顯示面板之壽命測試方法，係具有以下步驟， 即： 第1步驟’係組合具有第1胞元領域及第2胞元領域之 電漿顯不面板者；該第1胞元領域係有多數放電胞元形成 呈矩陣狀且用以進行影像顯示，而該第2胞元領域係一與 刚述第1胞領域相異之領域，且有多放電數胞元形成呈 矩陣狀而用以評估壽命特性者；及 第2步驟，係使用預定之驅動方法驅動前述第2胞元 領域，並評估壽命特性者。 9·如申喷專利範圍第8項之電漿顯示面板之壽命測試方 去/、中則述驅動方法係一與用以於前述第1胞元領域 顯不影像之驅動方法相較，更進—步促成前述第2胞元 領域之劣化之方法。 10.種電聚顯不面板之製造方法，係具有以下步驟，即： 第1步驟，係組合具有第1胞元領域及第2胞元領域之 度通用中國國) A4規格------ -51- 535190 A B CD 、申清專利範圍 電漿顯示面板者；該第1胞元領域係有多數放電胞元形成 呈矩陣狀且用以進行影像顯示，而該第2胞元領域係一與 岫述第1胞元領域相異之領域，且有多數放電胞元形成呈 矩陣狀而用以評估老化之最適當時間者； 第2步驟，係使用預定之驅動方法驅動前述第2胞元 領域，並評估最適當之老化時間者；及 第3步驟，係按前述第2胞元領域之最適當老化時 間’使前述第1胞元領域老化者。 11· 一種電漿顯示面板之壽命測試方法，係以電漿顯示面板 為對象促進劣化者； 且，除以幀内時間分割灰階顯示方式驅動測試對象 之電漿顯示面板，促進劣化外，應用於測試時之幀内時 間分割灰階顯示方式之時間分割顯示圖樣，係於丨幀期 間内包含有至少進行i次位址放電之位址期間；又，殘 餘之放電維持期間内之放電次數，係設定包含有較應用 於一般電漿顯示面板使用時之幀内時間分割灰階顯示 方式之期間更多之次數。 12·如申請專利範圍第n項之電漿顯示面板之壽命測試方 法’其中前述測試時施加於前述放電維持期間之放電維 持脈衝之週期，係設定為較應用於—般電漿顯示面板使 用時之幀内時間分割顯示方式之放電維持脈衝之週期 短。 13·如申請專·㈣12項之電1㈣面板之壽命測試方 法，其t前述測試時之前述〗幀期間_所佔之前述位址 本紙張尺度適财酬家標準(CMS) A4規格（2_ί〇χ297公D :間的合計長度’係設定為較應用於一般電滎顯示面板 寺之幀内時間分割顯示方式之位址期間的合計長 度短。 •如申請專：範圍第13項之電漿顯示面板之壽命測試方 法’其中前述測試時之前述i巾貞㈣内之位址期間的合 計數，係設定為較應用於一般電漿顯示面板使用時之鴨 内¥間分割顯示方式之位址期間的合計數少。 15.=申料利範圍第13或14項之電漿顯示面板之壽命測 試方法，其中前述測試時之前述位址期間中，對由電漿 顯不面板所具有之多數電極構成之電極群所進行之位 址放電’係同時對該電極群中2條以上之電極進行者。 &-種電漿顯示面板之壽命測試方法，係以電聚顯示面板 為對象促進劣化者； 且，除以幀内時間分割灰階顯示方式驅動測試對象 之電漿顯示面板，促進劣化外，應用於測試時之幀内時 間分割灰階顯示方式之時間分割顯示圖樣，係於丨幀期 間内包含有至少進行丨次位址放電之位址期間；又，施 加於殘餘之放電維持期間中之放電維持脈衝電壓，係設 疋為較應用於一般電漿顯示面板使用時之幀内時間分 割灰階顯示方式之放電維持脈衝電壓高。 Π· —種電漿顯示面板之壽命測試裝置，係以電漿顯示面板 為對象促進劣化者，其係具有： 顯示驅動機構，係用以顯示驅動測試對象之電漿顯 不面板者；及 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS) A4規格（210_X297公澄） 535190 A8 B8 C8 申請專利範圍 控制機構，係以幀内時間分割灰階顯示方式驅動該 顯示驅動機構之方式進行控制，且測試時所應用之幀内 時間分割灰階顯示方式之時間分割顯示圖樣中，於^貞 期間内包含有至少進行1次位址放電之位址期間；又， 殘餘之放電維持期間内之放電次數，係控制為較應用於 一般電漿顯示面板使用時之幀内時間分割灰階顯示方 式之放電維持期間内之放電次數多。 18· —種電漿顯示面板之壽命測試方法，係使用幀内時間分 剎灰階顯不方式驅動測試對象之電漿顯示面板，且於前 述電漿顯不面板之影像顯示領域中周緣部以外之部分 領域顯示進行正常點亮之正常點亮影像，並於前述影像 顯示領域中前述部分領域以外之領域顯示反覆進行點 亮及熄滅之閃爍影像。 19·如申請專利範圍第18項之電製顯示面板之壽命測試方 法’其中則述閃爍影像係一使具有預定寬度之帶狀點亮 衫像週期性地朝預定方向作渦形移動而製成之影像。 20·如申請專利範圍第18或19項之電浆顯示面板之壽命測 試方法，其中前述閃爍影像係閃爍週期之丨週期中至少 10%之時間保持於點亮狀態者。 21· -種電漿顯示面板之壽命測試方法，係使用巾貞内時間分 割灰階顯示方式驅動測試對象之電_示面板，且於前 述電水”、、員示面板之影像顯示領域中周緣部以外之部分 領域顯示以高灰階發光之高灰階影像，並於前述影像顯 不領域中前述部分領域以外之領域顯示以低灰階發光 A4規格（210X297公楚） -54- 切19〇

   之低灰階影像。 22· —種電漿顯示面板之壽命測試裝置，係具有可產生影像 4唬之#唬產生機構，並依照由該信號產生機構產生之 化號驅動顯示電漿顯示面板，藉此進行壽命測試者； 而，前述信號產生機構係產生一信號，俾於前述電 聚顯示面板之影像顯示領域中周緣部以外之部分領域 顯示進行正常點亮之正常點亮影像，並於前述影像顯示 領域中前述部分以外之領域顯示反覆進行點亮及熄滅 之閃爍影像。 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS) A4規格（210X297公釐） -55-