JPH11149870A - プラズマディスプレイパネルの試験方法 - Google Patents

プラズマディスプレイパネルの試験方法

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JPH11149870A
JPH11149870A JP9313556A JP31355697A JPH11149870A JP H11149870 A JPH11149870 A JP H11149870A JP 9313556 A JP9313556 A JP 9313556A JP 31355697 A JP31355697 A JP 31355697A JP H11149870 A JPH11149870 A JP H11149870A
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emission intensity
green
plasma display
blue
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JP9313556A
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English (en)
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Yasuhiro Ota
康博 太田
Akitsuna Yuhara
章綱 湯原
Atsuo Osawa
敦夫 大沢
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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  • Manufacture Of Electron Tubes, Discharge Lamp Vessels, Lead-In Wires, And The Like (AREA)
  • Gas-Filled Discharge Tubes (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 全白表示のみを行なう簡便な試験装置によ
り、白(W)のみならず赤(R),緑(G),青(B)
の輝度の経時変化を測定し、PDPをパネル単体として
簡便に寿命評価する。 【解決手段】 PDPの全てのXサステイン電極と全て
のYサステイン電極とを駆動パルスを印加して全白表示
状態とし、かかる駆動パルス電圧のサイクル数や電圧値
をこのPDPが製品として使用されるときよりも高くし
て、この全白表示を継続させる。これにより、PDPの
特性劣化が急速に進む。そして、所定時間が経過する毎
に、この全白表示状態で、分光器により、赤(R),緑
(G),青(B)に対応する特定波長における発光強度
を測定し、これらの発光強度をもとに赤(R),緑
(G),青(B)の輝度劣化特性を評価する。これら特
定波長は、色成分の重なりが小さい波長とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、カラーTVやコン
ピュータディスプレイ,案内表示などに利用される平面
型表示装置のプラズマデイスプレイ装置に係り、特に、
長期信頼性に富んだプラズマディスプレイパネル(以
下、PDPという)を製造するのに必要なプラズマディ
スプレイパネルの試験方法に関する。
【0002】
【従来技術】PDPの輝度低下などの光学特性劣化を評
価する方法としては、従来、PDPに駆動回路などを実
装して筐体に取り付けることにより、製品形態に近い状
態にして全白表示を継続し、所望の時間が経過する毎
に、白(W),赤(R),緑(G),青(B)の表示色
に順次切り替えて、白及び各単色の輝度や色度の経時変
化を測定している。
【0003】このように赤(R),緑(G),青(B)
の表示色に順次切り替えるのは、全白表示状態で赤
(R),緑(G),青(B)を分光して夫々毎の特性劣
化の評価を行なうと、全白表示状態では、例えば、赤
(R)の画素を発光させた場合には、赤(R)の発光ば
かりではなく、緑(G)や青(B)の発光もあり(緑
(G)画素や青(B)画素を発光させたときも同様)、
従って、全白表示状態で、例えば、赤(R)成分を分光
した場合には、その分光された赤(R)成分には、赤
(R)の画素の発光による赤(R)成分ばかりでなく、
緑(G),青(B)画素の発光による赤(R)成分も含
まれ(このように他の画素から色成分が混入すること
を、以下、色成分の重なりという)、赤(R),緑
(G),青(B)画素毎の特性劣化を正確に評価するこ
とができないからである。
【0004】ところで、PDPの寿命としては輝度半減
に3万時間以上が必要である。このため、その輝度劣化
を確認するためには、約3年半を要する。そこで、PD
Pの輝度特性の劣化を加速してその寿命を短縮し、寿命
評価に要する時間を短くすることが考えられており、そ
の具体例としては、ABL(自動輝度制限回路)を取り
外して全白表示させ、特性劣化を加速させたり、また、
駆動波形を製品として使用するときの駆動波形とは異な
らせ、Xサステイン電極とYサステイン電極とに印加す
るパルス電圧のサイクル数を増加させて加速劣化を行な
ったりするものがある。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】上記のように、従来で
は、全白表示が所定時間経過して赤(R),緑(G),
青(B)の特性評価を行なうときには、色成分の重なり
による影響がないようにするために、赤(R),緑
(G),青(B)夫々の単色表示状態に切り替えるよう
にしているが、この切り替えのための操作の手間がかか
ることになり、複数のPDPの特性評価試験をする場合
には、夫々毎にその操作の手間がかかることになる。
【0006】また、従来では、PDPの赤(R),緑
(G),青(B)の特性劣化の評価を行なう場合には、
全白表示状態から赤(R),緑(G),青(B)の単色
表示に順次切り替えることが必要であるため、そのPD
Pに駆動回路などを実装し、さらに、筐体に取り付けて
製品形態に近い状態としており、このため、PDPの試
験するのに多大な材料費と時間を要することになる。
【0007】また、かかる状態では、特性劣化の加速度
を高めるとしても、PDPに実装した駆動回路を構成す
る駆動素子の耐圧や使用温度上限、あるいは駆動波形の
変更に伴う駆動回路の変更などの制約が付きまとうこと
になり、このために、特性劣化の加速度も自ずから制限
されてPDPの寿命評価に要する時間をさほど縮めるこ
とができない。
【0008】本発明の目的は、かかる問題を解消し、白
(W)のみならず赤(R),緑(G),青(B)の輝度
特性の経時変化を簡便に測定することができるようにし
たプラズマディスプレイパネルの試験方法を提供するこ
とにある。
【0009】本発明の他の目的は、PDPの特性劣化の
加速度を所望に設定可能とし、寿命評価に要する時間を
充分に縮めることができるようにしたプラズマディスプ
レイパネルの試験方法を提供することにある。
【0010】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明は、カラープラズマディスプレイパネルを全
白表示により時間経過させ、所望の時間経過後、白色領
域の発光スペクトル強度を測定し、その測定結果から赤
(R),緑(G),青(B)夫々毎に予め設定された特定波長
での発光強度を検出し、これら特定波長での発光強度に
基づいて赤(R),緑(G),青(B)毎の輝度劣化特性を評
価する。
【0011】ここで、これら赤(R),緑(G),青(B)夫
々毎に予め設定された特定波長は、夫々色成分の重なり
が最小となる波長であって、赤(R)に対応する特定波
長は580nm〜780nmの波長範囲内で、緑(G)
に対応する特定波長は500nm〜579nmの波長範
囲内で、青(B)に対応する特定波長は390nm〜4
99nmの波長範囲内で夫々予め設定した一定の波長で
あって、夫々の特定波長は、カラープラズマディスプレ
イパネルを、全白表示により時間経過させる前に、同一
駆動条件で赤(R),緑(G),青(B)夫々毎に単色
表示させて測定する分光強度に基づいて設定され、赤
(R)に対応する特定波長はR発光強度/(R発光強度
+G発光強度+B発光強度)が最大となる波長とし、緑
(G)に対応する特定波長はG発光強度/(R発光強度
+G発光強度+B発光強度)が最大となる波長とし、青
(B)に対応する特定波長はB発光強度/(R発光強度
+G発光強度+B発光強度)が最大となる波長とする。
【0012】このようにして、全白表示の状態で赤
(R),緑(G),青(B)毎の寿命評価を行なうもの
であるが、それら寿命評価する特定波長では、全白表示
の状態での色成分の重なりがほとんどないところである
ため、単色表示して行なわれた赤(R),緑(G),青
(B)夫々の寿命評価とほとんど一致した結果が得られ
ることになる。
【0013】また、上記他の目的を達成するために、本
発明は、カラープラズマディスプレイパネルの全てのX
サステイン電極と全てのYサステイン電極とに夫々、直
接パルス電圧を印加して、全白表示を行なわせる。そし
て、さらに、これらXサステイン電極,Yサステイン電
極に印加するパルス電圧のサイクル数または電圧値を、
このカラープラズマディスプレイパネルが製品として使
用するときのサイクル数または電圧値よりも高い値に設
定する。
【0014】これにより、カラープラズマディスプレイ
パネルに駆動回路を取り付けたり、さらに、これを筐体
に組み込んで製品形態に近い状態とせずに、全白表示状
態とすることができ、しかも、Xサステイン電極やYサ
ステイン電極にそれらを駆動するパルス電圧を、駆動回
路を介さずに、直接印加するものであるから、これらパ
ルス電圧の電圧値やサイクル数を任意に設定することが
でき、従って、これらをカラープラズマディスプレイパ
ネルが製品として使用するときのサイクル数または電圧
値よりも高い値に設定することにより、カラープラズマ
ディスプレイパネルの特性劣化を充分に加速させること
ができる。
【0015】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態を図面を
用いて説明する。
【0016】PDPは透明な第1,第2の基板が対向し
て形成され、第1の基板の第2の基板に対向する面側
に、Xサステイン電極とYサステイン電極とが交互に、
かつ互いに平行に配列して設けられ、第2の基板の第1
の基板に対向した面側に、これらXサステイン電極とY
サステイン電極とに直交して、かつ所定間隔で複数のア
ドレス電極が設けられている。そして、これら第1,第
2基板間には、アドレス電極間毎に隔壁が設けられて空
間が仕切られており、これら仕切られた空間毎に蛍光体
が塗布されているとともに、放電ガスが封入されてい
る。アドレス電極とX,Yサステイン電極との交差する
部分が1つの画素をなしている。
【0017】ここで、アドレス電極にパルス電圧を印加
することにより、このアドレス電極上の画素で放電ガス
が放電状態となって発光可能に選択され、Xサステイン
電極とYサステイン電極とに交互に繰り返しパルス電圧
を印加することにより、選択された画素がその蛍光体に
応じた色光を発光する。
【0018】かかるPDPを対象とする本発明によるプ
ラズマディスプレイパネルの試験方法の一実施形態につ
いて説明するが、この実施形態では、かかるPDPを試
験装置に装着することにより、その全てのXサステイン
電極が第1の共通電極に接続され、また、全てのYサス
テイン電極も第2の共通電極に接続されて、全てのXサ
ステイン電極に同じ駆動パルス電圧(Xサステインパル
ス電圧)が同時に、また、全てのYサステイン電極に同
じ駆動パルス電圧(Yサステインパルス電圧)が同時に
夫々印加できるようになっている。
【0019】そして、全てのアドレス電極にアドレス電
圧を印加し、しかる後、全てのXサステイン電極と全て
のYサステイン電極とに駆動パルス電圧を印加すると、
全ての画素が発光してPDPは全白表示状態となる。
【0020】この実施形態では、かかる全白表示状態と
する場合、これらXサステイン電極とYサステイン電極
の駆動パルス電圧のサイクル数または電圧値を、このP
DPが製品として使用するときに設定されるこれらXサ
ステイン電極とYサステイン電極の駆動パルス電圧の単
位時間当たりのサイクル数または電圧値よりも大きくす
る。これにより、PDPは過剰な状態で駆動されること
になり、特性劣化が加速されることになる。この実施例
では、先の従来例のように、駆動回路を介してX,Yサ
ステイン電極を駆動するものでないから、これらX,Y
サステイン電極の駆動パルス電圧の単位時間当たりのサ
イクル数や電圧値を任意に設定することができ、駆動回
路を介した場合には設定できないような大きな単位時間
当たりのサイクル数や電圧値を設定することができる。
このため、上記の従来例に比べ、PDPの特性劣化を大
幅に速めることができる。
【0021】かかる全白表示状態が所定時間経過する毎
に、この全白表示状態のままで、PDPの白色表示領域
の発光スペクトル領域を分光器で測定し、赤(R),緑
(G),青(B)夫々の輝度劣化特性を評価する。この場
合、これら赤(R),緑(G),青(B)夫々に対して
特定波長λR,λG,λBが設定されており、これら特定
波長λR,λG,λB毎に発光強度を検出する。即ち、赤
(R)の輝度劣化特性は赤(R)に対する特定波長λR
での発光強度をもって、緑(G)の輝度劣化特性は緑
(G)に対する特定波長λGでの発光強度をもって、青
(B)の輝度劣化特性は青(B)に対する特定波長λB
をもって夫々評価する。
【0022】このように、全白表示状態において、赤
(R),緑(G),青(B)毎に適宜特定波長λR,λG,λB
を設定すると、この全白表示状態でのこれら特定波長λ
R,λG,λBにおける発光強度が夫々赤(R),緑(G),
青(B)の輝度と相対的に一致し、これら発光強度をもっ
て赤(R),緑(G),青(B)の輝度特性を評価することが
できることを本発明の発明者が見い出した。
【0023】図1はPDPを全白表示させた際の分光器
によって測定した発光分光スペクトルの一具体例を示す
特性図である。
【0024】この具体例では、赤(R)の蛍光体をY2
3:Euとし、緑(G)の蛍光体をZn2SiO4:M
nとし、青(B)の蛍光体をBaMgAl1017:Eu
としており、放電ガスは(Ne+5%Xe)である。緑
(G),青(B)については、G−1,B−1として示
すように、ブロードな発光スペクトルとなっており、赤
(R)については、R−1として示すように、帯域幅の
狭い線スペクトルとなっている。また、赤(R)の発光
には、Neガスによって発光した赤色光も含まれてい
る。
【0025】これら発光スペクトルR−1,G−1,B
−1には、広い波長領域で赤(R),緑(G),青(B)
の相互の重なりがある。即ち、例えば、発光スペクトル
R−1には、緑(G)や青(B)の画素の発光による赤色光
も含まれている。そこで、この実施形態では、赤(R),
緑(G),青(B)毎に色成分の重なりが少ない特定波長λ
RGBを設定し、分光器を用いてかかる発光分光ス
ペクトルから夫々の特定波長λRGB毎に発光強度
を求め、求めた発光強度をもとに赤(R),緑(G),
青(B)の輝度劣化特性を評価するものである。
【0026】ここで、かかる特定波長λRGBとし
ては、かかる評価への色の重なりによる影響を排除する
ためには、少なくとも赤(R),緑(G),青(B)の波長
範囲から選択することが必要である。即ち、赤(R)の特
定波長λRは、赤(R)の波長範囲を580〜780nm
として、この波長範囲から選択し、緑(G)の特定波長λ
Gも、緑(G)の波長範囲を500〜579nmとして、
この波長範囲から選択し、青(B)の特定波長λBも、青
(B)の特定範囲を390〜499nmとして、この波長
範囲から選択する。このように特定波長λRGB
ることにより、上記のように、これら特定波長λR
λG,λBにおける発光強度が夫々赤(R),緑(G),青
(B)の輝度と相対的に一致したものとすることができ
る。従って、これら特定波長λR,λG,λBにおける発
光強度に基づく赤(R),緑(G),青(B)の輝度特性
の評価は、各色間で相互に干渉し合うことによる影響、
即ち、色成分の重なりによる影響が低減され、上記従来
の単色表示で評価を行なった場合とほぼ同等の評価結果
が得られることになる。
【0027】また、赤(R),緑(G),青(B)の上記波
長範囲内で最も色成分の重なりが小さい波長を特定波長
λR,λG,λBとすることにより、これら特定波長λR
λG,λBにおける発光強度を夫々赤(R),緑(G),青
(B)の輝度と相対的により高精度で一致させることが
でき、色成分の重なりによる影響がさらに低減された評
価結果を得ることができる。以下、かかる特定波長
λR,λG,λBについて説明する。
【0028】いま、赤(R)に対する特定波長λRにつ
いて説明すると、PDPが全白表示状態にあるとして、
赤(R)の波長範囲(例えば、上記の500〜579n
m)内でのある波長λに対し、この波長λでの赤(R)
の画素からの赤(R)の発光強度をR(R)、緑(G)
の画素からの赤(R)の発光強度をR(G)、青(B)
の画素からの赤(R)の発光強度をR(B)とすると、 R(R)/(R(R)+R(G)+R(B)) ……(1) が最大となる波長を赤(R)に対する特定波長λRとす
るものである。ここで、上式の分母の(R(G)+R
(B))は上記の重なりであり、上記の式が最大になる
ということは、この重なりが最小となることである。
【0029】緑(G),青(B)に対する特定波長
λG,λBについても同様であり、赤(R)の画素からの
緑(G),青(B)の発光強度を夫々G(R),B
(R)、緑(G)の画素からの緑(G),青(B)の発
光強度を夫々G(G),B(G)、青(B)の画素から
の緑(G),青(B)の発光強度を夫々G(B),B
(B)とすると、緑(G)の波長範囲内で、 G(G)/(G(R)+G(G)+G(B)) ……(2) が最大となる波長を緑(G)に対する特定波長λGとす
るものであり、青(B)の波長範囲内で、 B(B)/(B(R)+B(G)+B(B)) ……(3) が最大となる波長を青(B)に対する特定波長λBとす
るものである。
【0030】なお、上記(1)から特定波長λRを求め
る波長範囲は、例えば、上記の赤(R)の波長範囲50
0〜579nmとする。これは、この波長範囲外まで広
げて上記式(1)を適用した特定波長λRを求めるよう
にしても、この波長範囲外では赤(R)の画素による発
光強度が充分小さくなるからである。このことは、緑
(G),青(B)の特定波長λG,λBを求める際も同様
である。
【0031】以上のような特定波長λR,λG,λBは次
のようにして求めることができる。
【0032】同一駆動条件として、PDPを、例えば、
赤(R),緑(G),青(B)の順に単色表示させ、夫
々の単色表示毎に各波長λでの発光強度を求める。図2
はこのようにして単色表示させた場合の赤(R),緑
(G),青(B)画素夫々の380〜760nmの波長
範囲での発光スペクトル強度比率を示すものである。
【0033】同図において、いま、PDPの全ての赤
(R)画素を同時に発光させると、発光スペクトル強度
比率R−2が得られる。この発光スペクトル挟持比率R
−2を求めるに際し、上記の380〜760nmの波長
範囲で、例えば、5nm間隔の各波長λ毎に発光強度を
求める。いま、i番目(但し、i=1,2,3,……)
の波長λiでの赤(R)の画素からの発光強度をR発光
強度とし、緑(G)の画素からの発光強度をG発光強度
とし、青(B)の画素からの発光強度をB発光強度とし
て、この波長λiでの発光強度の比率 R発光強度/(R発光強度+G発光強度+B発光強度) ……(4) を求め、この比率が最大となる波長λiを求めると、こ
の波長λiでは、赤(R)の画素によるR発光強度に対
する緑(G),青(B)の画素によるG発光強度,B発
光強度の重なりが最小となる。従って、この波長λi
赤(R)に対する特定波長λR とする。
【0034】同様にして、夫々の波長λiに対して、 G発光強度/(R発光強度+G発光強度+B発光強度) ……(5) を求め、この比率が最大となる波長を緑(G)に対する
特定波長λGとし、また、夫々の波長λiに対して、 B発光強度/(R発光強度+G発光強度+B発光強度) ……(6) を求め、この比率が最大となる波長を青(B)に対する
特定波長λB とする。
【0035】ここで、式(4)で求まる特定波長λRは、
当然のことながら、赤(R)の波長範囲内にある。従っ
て、この波長範囲内についてみると、式(4)でのR発光
強度,G発光強度,B発光強度は夫々、式(1)での発
光強度R(R),R(G),R(B)で表わされること
になる。従って、式(4)は式(1)と同等である。同
様にして、式(5)でのR発光強度,G発光強度,B発
光強度は、緑(G)の波長範囲でみると、夫々G
(R),G(G),G(B)で表わされることになり、
式(5)は式(2)と同等であるし、また、式(6)で
のR発光強度,G発光強度,B発光強度は、青(B)の
波長範囲でみると、夫々B(R),B(G),B(B)
で表わされることになり、式(6)は式(3)と同等で
ある。
【0036】このようにして、色成分の重なりを最小と
する特定波長λR,λG,λBを求めることができる。
【0037】次の表1は、上記の蛍光体及び放電ガスを
用いた場合の赤(R),緑(G),青(G)の特定波長
λR,λG,λBとこれら特定波長での赤(R),緑
(G),青(G)の強度比率(%)を示すものである。
【0038】
【表1】
【0039】この表1から明らかなように、青(B)の
特定波長λBは435nm、緑(G)の特定波長λGは5
45nm、赤(R)の特定波長λRは710nmであっ
て、各色の強度比率は90%以上と高い比率を示してい
る。
【0040】図3はPDPを全白表示状態として初期で
の発光スペクトルと100時間経過後の発光スペクトル
とを示す特性図であって、実線は初期の発光スペクトル
を、破線は100時間経過後の発光スペクトルを夫々示
している。
【0041】同図から明らかなように、全白表示開始後
100時間経過しても、ある波長で極端に発光強度が低
下するというような現象はみられず、全波長にわたって
ほぼ均等に発光強度の低下がみられた。
【0042】以上のことからすると、特に色成分の重な
りの程度が小さい波長では、均等に発光強度の低下が進
むことになり、従って、上記のように求めた特定波長λ
R,λG,λBでの発光強度が赤(R),緑(G),青
(B)の輝度に対応することになる。
【0043】図4はこの実施形態と上記従来技術とでの
赤(R)に対する特性劣化の測定結果を示すものであっ
て、黒丸は、この実施形態によるものであって、特定波
長710nmでの相対発光強度の変化を示し、また、黒
四角は、従来例によるものであって、全白表示後赤
(R)の単色表示で測定した相対輝度の変化を示す。
【0044】ここで、従来例によるものでは、初期と1
00時間後について示しており、同じ100時間後で
は、この実施形態による特定波長に対する相対発光強度
と従来例による相対輝度とは、数%の誤差内で一致す
る。
【0045】図5はこの実施形態と上記従来技術とでの
緑(G)に対する特性劣化の測定結果を示すものであっ
て、黒丸は、この実施形態によるものであって、特定波
長545nmでの相対発光強度の変化を示し、また、黒
四角は、従来例によるものであって、全白表示後緑
(G)の単色表示で測定した相対輝度の変化を示す。
【0046】ここでも、従来例によるものでは、初期と
100時間後について示しており、同じ100時間後で
は、この実施形態による特定波長に対する相対発光強度
と従来例による相対輝度とは、数%の誤差内で一致す
る。
【0047】図6はこの実施形態と上記従来技術とでの
青(B)に対する特性劣化の測定結果を示すものであっ
て、黒丸は、この実施形態によるものであって、特定波
長435nmでの相対発光強度の変化を示し、また、黒
四角は、従来例によるものであって、全白表示後青
(B)の単色表示で測定した相対輝度の変化を示す。
【0048】ここでも、従来例によるものでは、初期と
100時間後について示しており、同じ100時間後で
は、この実施形態による特定波長に対する相対発光強度
と従来例による相対輝度とは、数%の誤差内で一致す
る。
【0049】このように、この実施形態によっても、従
来の単色表示による測定結果と同等のものが得られる。
【0050】この実施形態では、さらに、PDPの画素
の蛍光体の輝度特性劣化を迅速に評価するために、全白
表示状態でこの輝度特性の劣化を加速させる。その方法
として、この実施形態では、PDPのXサステイン電極
とYサステイン電極とへのパルス電圧の印加サイクル数
または電圧値を、このPDPを製品として使用するとき
の印加サイクル数または電圧値よりも高い値に設定す
る。このようにX,Yサステイン電極を駆動することに
より、蛍光体に照射される紫外光の総量が製品として使
用するときの紫外光の総量よりも多くなり、蛍光体の劣
化を速めることになる。
【0051】図7はPDPを全白表示させたときの青
(B)の蛍光体(BaMgAl1017:Eu)の特定波長
435nmでの相対発光強度の経時変化を示す図であ
り、経時変化特性BaはX,Yサステイン電極の駆動パ
ルス電圧のサイクル数を390サイクル/フィールド,
電圧値を160Vとした場合であり、経時変化特性Bb
はX,Yサステイン電極の駆動パルス電圧のサイクル数
を470サイクル/フィールド,電圧値を180Vとし
た場合である。
【0052】同図において、経時変化特性Ba,Bbを
比較して明らかなように、X,Yサステイン電極に印加
するパルス電圧のサイクル数や電圧値を高めることによ
り、相対輝度の劣化がより加速し、輝度特性の劣化を評
価するに要する時間を短縮することができる。
【0053】この場合、この実施形態では、全てのXサ
ステイン電極を1つの共通電極に接続し、また、全ての
Yサステイン電極を他の1つの共通電極に接続し、これ
ら共通電極を介してX,Yサステイン電極に駆動パルス
電圧を印加するようにしているので、PDPに製品とし
て使用するときの駆動回路を接続する必要がなく、これ
ら駆動パルス電圧はかかる駆動回路によって制約される
ことがない。従って、かかる駆動パルス電圧としては、
PDPが製品として使用されるときのサイクル数や電圧
値よりも高い任意のサイクル数や電圧値とすることがで
き、従って、輝度特性の劣化の加速度を所望に速めるこ
とができて、PDPの寿命の評価に要する時間を大幅に
短縮することができる。しかも、従来の単色表示によっ
て評価するのと同等の評価結果を得ることができる。
【0054】また、従来の方法のようにPDPに駆動回
路を接続したり、筐体に組み込んだりする必要がないの
で、かかる評価試験のために材料費が嵩んだり、試験を
開始するまでの準備期間が長くなったりすることもな
い。
【0055】さらに、この実施形態では、X,Yサステ
イン電極に印加する駆動パルス電圧の単位時間当たりの
サイクル数や電圧値を種々に設定して試験するような場
合も容易である。電圧値を変える場合には、異なる外部
定電圧電源を単に着け替えるか、可変電圧電源を使用し
て電源電圧を変更すればよい。また、この実施形態で
は、従来の試験装置と同様、直流電圧をスイッチのオ
ン,オフによってパルス電圧に変換し、これをX,Yサ
ステイン電極の駆動パルス電圧とするが、このスイッチ
のオン,オフ周期を変更することにより、X,Yサステ
イン電極の駆動パルス電圧の単位時間当たりのサイクル
数を変更することができるが、このスイッチのオン,オ
フの種々の制御データをROMに書き込んでおき、かか
る制御データを適宜選択してスイッチのオン,オフ制御
を異ならせることにより、あるいは、夫々のROMに異
なる制御データを書き込んでおき、そのいずれかを選択
的に使用することにより、簡単にX,Yサステイン電極
の駆動パルス電圧の単位時間当たりのサイクル数を変更
することができる。
【0056】さらに、勿論、白(W)の輝度特性の劣化
を評価する場合には、PDPの全白表示状態でこの白色
の発光強度を測定すればよい。
【0057】なお、以上説明した実施形態では、赤
(R),緑(G),青(B)の蛍光体を夫々、Y23:Eu,
Zn2SiO4:Mn,BaMgAl1017:Euとした
が、本発明はこれのみに限定されるものではなく、赤
(R)蛍光体を(Y,Gd)BO3:EuやYbO3:Eu,
Y(P,V)O4:Euなどの他の蛍光体としても、緑(G)
蛍光体をBaAl1219:Mnや(Ba,Sr,Mg)OA
23:Mnなどの他の蛍光体としても、青(B)蛍光体
をBaMgAl1423:EuやBaMg2Al1424
Euなどの他の蛍光体としてもよく、さらに、このよう
な蛍光体を2種類以上混合した蛍光体であってもよい。
但し、蛍光体の種類が異なれば、それに応じて赤
(R),緑(G),青(B)の特定波長も異なるもので
あり、従って、蛍光体の種類に応じて特定波長を設定し
なければならないことはいうまでもない。
【0058】さらに、放電ガスについても、上記の(N
e+5%Xe)に限るもの出端区、例えば、(Ne+X
e) 系や(Ne+Xe+He)系,(Ne+Xe+He+
Ar)系などの他の放電ガスを用いることができる。
【0059】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
全白表示の状態でPDPの白(W)や赤(R),緑
(G),青(B)の輝度特性を評価するものであるか
ら、PDPの表示状態を切り替える操作も必要なくてそ
の手間が省けるし、また、PDPに駆動回路などを取り
付けることも必要でなく、PDPの輝度特性の評価試験
の準備のための時間や費用を削減でき、試験を簡便に行
なうことができる。
【0060】また、本発明によると、赤(R),緑
(G),青(B)毎に色成分の重なりがほとんどない特
定波長での発光強度でもって赤(R),緑(G),青
(B)の輝度特性を評価するものであるから、これら特
定波長での発光強度が赤(R),緑(G),青(B)の
単色表示で得られる夫々の色の輝度と相対的に高い精度
で一致し、簡便な方法でもって精度の高い輝度特性の評
価を行なうことができる。
【0061】さらに、本発明によると、PDPのX,Y
サステイン電極に印加するパルス電圧のサイクル数や電
圧値を、駆動回路など似よって制約されることなく、任
意に設定することができ、PDPを製品として使用する
ときのそのサイクル数や電圧値よりも高くすることによ
り、PDPの特性劣化を大幅に加速することができて、
その劣化試験に要する時間を大幅に短縮することができ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明によるプラズマディスプレイパネルの試
験方法の一実施形態でのPDPの全白表示における分光
スペクトルの一具体例を示す特性図である。
【図2】本発明によるプラズマディスプレイパネルの試
験方法の一実施形態でのR,G,B夫々の特定波長設定
方法の一具体例を説明するための図である。
【図3】本発明によるプラズマディスプレイパネルの試
験方法の一実施形態でのPDPの全白表示における経時
変化前後の分光スペクトルの一具体例を示す特性図であ
る。
【図4】本発明によるプラズマディスプレイパネルの試
験方法の一実施形態での特定波長710nmにおける相
対発光強度と従来の方法によるR単色表示時の相対輝度
との経時変化を示する図である。
【図5】本発明によるプラズマディスプレイパネルの試
験方法の一実施形態での特定波長545nmにおける相
対発光強度と従来の方法によるG単色表示時の相対輝度
との経時変化を示する図である。
【図6】本発明によるプラズマディスプレイパネルの試
験方法の一実施形態での特定波長435nmにおける相
対発光強度と従来の方法によるB単色表示時の相対輝度
との経時変化を示する図である。
【図7】本発明によるプラズマディスプレイパネルの試
験方法の一実施形態での2種類の駆動条件における特定
波長435nmでの相対発光輝度の経時変化を示す図で
ある。
【符号の説明】
R−1 PDPの全白表示での赤(R)部の発光スペク
トル G−1 PDPの全白表示での緑(G)部の発光スペク
トル B−1 PDPの全白表示での青(B)部の発光スペク
トル R−2 PDPの全赤表示での発光スペクトル強度比率 G−2 PDPの全緑表示での発光スペクトル強度比率 B−2 PDPの全青表示での発光スペクトル強度比率 Ba,Bb 異なる駆動条件のPDPの全白表示での青
(B)の相対発光強度の経時変化
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 大沢 敦夫 神奈川県横浜市戸塚区吉田町292番地 株 式会社日立製作所家電・情報メディア事業 部内

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 カラープラズマディスプレイパネルの輝
    度特性を試験する方法において、 該カラープラズマディスプレイパネルを全白表示により
    時間経過させ、所望の時間経過後、白色領域の発光スペ
    クトル強度を測定し、その測定結果から赤(R),緑
    (G),青(B)夫々毎に予め設定された特定波長での発光
    強度を検出し、これら特定波長での発光強度に基づいて
    赤(R),緑(G),青(B)毎の輝度特性を評価することを
    特徴とするプラズマディスプレイパネルの試験方法。
  2. 【請求項2】 請求項1において、 赤(R)に対応する前記特定波長は580nm〜780
    nmの範囲内で、緑(G)に対応する前記特定波長は5
    00nm〜579nmの範囲内で、青(B)に対応する
    前記特定波長は390nm〜499nmの範囲内で夫々
    予め設定した一定の波長であることを特徴とするプラズ
    マディスプレイパネルの試験方法。
  3. 【請求項3】 請求項1または2において、 赤(R),緑(G),青(B)夫々に対応する前記特定
    波長は、前記カラープラズマディスプレイパネルを、前
    記の全白表示により時間経過させる前に、同一駆動条件
    で赤(R),緑(G),青(B)夫々毎に単色表示させ
    て測定する発光強度に基づいて設定するものであって、 赤(R)に対応する前記特定波長はR発光強度/(R発
    光強度+G発光強度+B発光強度)が最大となる波長と
    し、緑(G)に対応する前記特定波長はG発光強度/
    (R発光強度+G発光強度+B発光強度)が最大となる
    波長とし、青(B)に対応する前記特定波長はB発光強
    度/(R発光強度+G発光強度+B発光強度)が最大と
    なる波長とすることを特徴とするプラズマディスプレイ
    パネルの試験方法。
  4. 【請求項4】 請求項1,2または3において、 前記カラープラズマディスプレイパネルの全てのXサス
    テイン電極と全てのYサステイン電極とに夫々、直接パ
    ルス電圧を印加し、前記全白表示を行なわせることを特
    徴とするプラズマディスプレイパネルの試験方法。
  5. 【請求項5】 請求項4において、 前記Xサステイン電極及び前記Yサステイン電極に印加
    するパルス電圧のサイクル数または電圧値を、前記カラ
    ープラズマディスプレイパネルが製品として使用すると
    きのサイクル数または電圧値よりも高い値に設定したこ
    とを特徴とするプラズマディスプレイパネルの試験方
    法。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2002031854A1 (fr) * 2000-10-12 2002-04-18 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Ecran d'affichage a plasma, et procede et dispositif permettant d'effectuer un essai de duree de vie sur ledit ecran d'affichage a plasma

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2002031854A1 (fr) * 2000-10-12 2002-04-18 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Ecran d'affichage a plasma, et procede et dispositif permettant d'effectuer un essai de duree de vie sur ledit ecran d'affichage a plasma

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