WO2002031854A1

WO2002031854A1 - Ecran d'affichage a plasma, et procede et dispositif permettant d'effectuer un essai de duree de vie sur ledit ecran d'affichage a plasma

Info

Publication number: WO2002031854A1
Application number: PCT/JP2001/008897
Authority: WO
Inventors: Kazuhiko Sugimoto; Kazuyuki Hasegawa; Hideaki Yasui; Hiroyoshi Tanaka; Koji Aoto; Hiroki Kono; Tadakazu Hayashi; Hajime Ikejima; Yoshinao Ooe; Masaaki Yamauchi
Original assignee: Matsushita Electric Industrial Co., Ltd.
Priority date: 2000-10-12
Filing date: 2001-10-10
Publication date: 2002-04-18
Also published as: TW535190B; JPWO2002031854A1; US20040070575A1

Description

明細書

プラズマディスプレイパネルおよぴその寿命試験方法ならぴに寿命試験装置技術分野本発明は、例えば、コンピュータおよびテレビなどの画像表示に用いられるプラズマディスプレイパネルに関し、特に、ブラズマディスプレイパネルを劣化させてその寿命を調べる寿命試験方法、寿命試験装置およぴ寿命試験などの性能評価に適したプラズマディスプレイパネルに関する。背景技術

近年、コンピュータゃテレビなどの画像表示に用いられている表示デパイスにおいて、プラズマディスプレイパネル（Plasma Display Panel 、以下、「P D P」という。）は、大型で薄型軽量を実現することのできる表示デバイスとして注目されている。

図 1 6は、一般的な P D P 1 0 0の前面ガラス基板 1 0 1を取り除いたときの平面図を示し、図 1 7は、図 1 6に示す P D P 1 0 0の画像表示領域 1 2 3における部分断面斜視図を示す。

P D P 1 0 0は、各色発光セルがマトリックス状に配列された構成であって、図 1 7に示すように前面ガラス基板 1 0 1 と背面ガラス基板 1 0 2とが、隔壁 1 0 9を介してギャップを保ちながら対向して設けられている。

前面ガラス基板 1 0 1 には、放電電極対（表示電極群 1 0 3と表示スキヤン電極群 1 0 4 ) が平行配設され、背面ガラス基板 1 0 2には放電電極対と直交してァドレス電極群 1 0 7が配される。そして、各基板 1 0 1 , 1 0 2の周縁部は、斜部で示すフリットガラスからなる気密シール層 1 2 1 (図 1 6 ) により封着され、その内部には図 1 7に示すように放電空間 1 2 2が形成されるとともに不活性ガスが封入され、赤、緑、青の蛍光体層（ 1 1 O R , G , B ) が配される。上記表示電極群 1 0 3と表示スキヤン電極群 1 0 4との間での維持放電により発生する紫外線が蛍光体層 1 1 O R , G , Bを励起発光させ、画像表示領域 1 2 3 (図 1 6.) において画像が表示される。

P D Pにおいては、他の表示デバイスと同様、良好な表示品質を長期にわたつて維持することが求められており、一般に家電製品として使用するためには、その寿命が、現在普及している C R T並みの数万時間以上必要とされている。しかしながら、 P D Pでは、現在のところ寿命改善の余地がまだ多く残っている。

そこで現在、 P D Pの.寿命を改善するための研究開発が行われており、その寿命を評価する際には、実際に使用するように通常の画像を表示する（以下、「通常使用」という。）ためのアドレス期間と放電維持期間を有する駆動方法と同じ形式で 1年以上（数万時間に相当する。）にわたり P D Pを連続駆動させて劣化させ、輝度が 5 0 %低下するまでの時間や、放電セルの誤動作の発生などを確認することにより寿命を評価している _c ところで、 P D Pの寿命を評価する寿命試験においては、試験後の P D Pの廃棄に伴なうロスコストの改善が望まれている。同一プロセスを経て製造された P D Pであっても製造工程の誤差による製品のばらつきが生じて、突発的に短寿命な P D Pが製造されることがある。このような P D Pを巿場に流出させないように監視するため、寿命試験に供する P D Pサンプルをできるだけ多く抜き取り、それを連続駆動させることによって、輝度の低下や放電セルの誤作動の発生確認などを行い、短寿命な P D Pを発見する確度を上げることが考えられる。

しかしながら、 P D Pは 1枚当たりの製品コストが高額であり、あまりに多くの数の P D Pサンプルを抜き取って寿命試験することはコスト的に難しい。寿命試験において連続使用された P D Pサンプルは、その輝度などの特性が激しく劣化しており、製品としての価値がなくなるので廃棄せざるをえず、その数が増えるとロスコス卜が高くなりすぎるからである。一方、ロスコストを減らすために寿命試験用に抜き取る P D Pサンプルの数を減らすと、短寿命の P D Pを市場に流通させる確率が高くなる。

また、 P D Pの寿命試験においては、その試験時間を短縮することも望まれている。寿命を評価する際に行う 1年以上にわたる長い連続駆動の期間は、時に P D Pの寿命を改善する開発スピードの低下につながる。この開発スピードを上げるため、 1 フレーム期間中アドレスを行わずに終始維持放電を行って全白表示させて P D Pの劣化を促進する駆動方法があるが、通常使用条件においては、 P D Pの劣化はアドレス放電と維持放電の両方によって引き起こされるため、この場合には、アドレス放電による劣化を考慮した通常使用条件における寿命を正しく評価することができない。そのため、アドレス放電による劣化を考慮した通常使用条件を考慮するとともに試験時間を短縮する技術が望まれている。また、 P D Pの寿命試験においては、不純物ガスの影響を.考慮しながら通常使用に類する P D Pの寿命を適正に評価することができる技術も望まれている。

寿命試験を行う場合には、画像表示領域 1 2 3全面において連続して全白表示を行うことが、赤、緑、青すベての蛍光体層を発光させる点で好ましいが、その場合には、連続維持放電の発熱により、前面ガラス基板 1 0 1が矢印で示すような方向に熱膨張し、前面ガラス基板 1 0 1 と気密シール層 1 2 1 との熱膨張係数の差によつて気密シール層 1 2 1 に応力が集中して破損する、いわゆるパネル割れが発生する場合がある。そこで、この発熱によるパネル割れを防止するために、従来の寿命試験では画像表示領域 1 2 3における点灯パターンを変更して対処している。

図 1 8は、従来の寿命試験中の画像表示領域 1 2 3における点灯パ夕 —ンの例を示す図である。

図 1 8に示すように、画像表示領域 1 2 3には、その中心部に配される常時点灯部分 7 0 1 と、画像表示領域の周縁部全域に常時点灯部分 7 0 1 を囲むように配される常時泡灯部分 7 0 2とから構成される点灯パターンが表示される。ここで、常時点灯部分とは、 1 フィールド中に必ず維持放電が行われ、常時白表示されているように見える部分を指し、常時消灯部分とは、寿命試験の駆動時間において全く維持放電が行われず発光点灯しない部分のことを指す。なお、寿命評価は常時点灯部分 7 0 1 において輝度側定、放電セルの誤動作を確認することなどにより行われる。

常時消灯部分 7 0 2は、寿命試験期間中に発熱しない上、画像表示領域 1 2 3の周縁部全域に配置されているため、各ガラス基板 1 0 1 , 1 0 2周縁部の発熱が抑制される。その結果、気密シール層 1 2 1付近に発生する熱膨張による歪量が低減するとともに応力集中が緩和されるので、パネル割れの発生を抑えることができる。なお、図 1 9、図 2 0に示すように、複数の常時点灯部分 7 1 1 , 7 2 1 を各図に示すように格子状に配置したとしても、少なくとも常時消灯部分 7 1 2 , 7 2 2を画像表示領域 1 2 3の周縁部に配置しておけば同様にパネル割れの発生が抑制される。

しかしながら、上記従来の寿命試験においては、 P D Pの輝度劣化などに影響を及ぼすパネル内部での不純物ガスの挙動を考慮していないため、通常使用に類する P D Pの寿命を適正に評価できていないと考えられる。

通常、常時点灯部分 7 0 1 においては、維持放電による発熱により蛍光体層などに含まれている不純物がガス化ざれて放電空間内に拡散されるが、常時消灯部分 7 0 2においては維持放電などが一切行われないため、この部分の蛍光体層等に不純物ガスが順次捕捉、蓄積されてしまい、 P D Pをテレビなどの表示デパイスとして通常使用する場合には常時消灯部分は少ないので、このような不純物ガが捕捉されるといった挙動が生じにくいからである。

本発明は、上記課題に鑑み、 P D Pを多く抜き取って寿命試験したとしてもロスコストを低減させる効果を有する P D Pおよびその製品の製造方法を提供することを第 1の目的とする。

また、通常使用条件を考慮しつつ、それに類似した条件での P D Pの劣化を促進することができる寿命試験方法および寿命試験装置を提供することを第 2の目的とする。

さらに、不純物ガスの影響を考慮した通常使用に類する P D Pの寿命を適正に評価することができる寿命試験方法、およぴ寿命試験装置を提供することを第 3の目的とする。発明の開示上記第 1の目的を達成するために、本発明に係るプラズマディスプレィパネルは、複数の放電セルがマトリックス状に形成された、画像表示を行うための第 1のセル領域と、当該第 1のセル領域とは異なる領域であって、複数の放電セルがマトリックス状に形成された、性能評価するための第 2のセル領域とを備えたことを特徴とする。これにより、第 2 のセル領域において寿命特性やエージング特性などの性能評価を行った後でも第 1のセル領域は画像表示用の製品として使用できるため、性能評価後のパネルを廃棄する必要がなく、ロスコストを低減することがでぎる。

また、前記第 1および第 2のセル領域は、当該各セル領域の全セルで発光させるために電圧を印加する電極群を有し、前記第 1のセル領域と前記第 2のセル領域とは、パネル内のそれぞれ独立して気密封止された放電空間内部に配置されていることを特徴とする。これにより、第 2のセル領域で性能評価を行った時に発生する不純物などが画像表示用の第 1のセル領域に侵入しない。

また、前記第 1のセル領域の電極群は、前記第 2のセル領域の電極群と互いに独立駆動できるように形成されている.ことを特徴とする。これにより、第 2のセル領域において性能評価を行っている間には、第 1のセル領域は画像表示が行われないので、第 1のセル領域を製品として使用することができる。

また、前記第 1のセル領域および第 2のセル領域が配置されている各放電空間には、それぞれ不活性ガスからなる放電ガスが封入されているとともに、前記第 2のセル領域が配置されている放電空間には、当該セルの劣化を促進する放電ガスが封入されてもよい。これにより寿命特性の評価期間を短縮することができる。

このセルの劣化を促進するには、第 2のセル領域に封入されている放電ガスの質量や封入圧力を前記第 1のセル領域のそれらより小さくすればよい。

また、本発明に係るプラズマディスプレイパネルの寿命試験方法は、複数の放電セルがマトリックス状に形成された、画像表示を行うための第 1のセル領域と、当該第 1のセル領域とは異なる領域であって、複数の放電セルがマトリックス状に形成された、寿命特性を評価するための第 2のセル領域とを備えるプラズマディスプレイパネルを組み立てる第 1のステップと、前記第 2のセル領域を所定の駆動方法を用いて駆動して寿命特性を評価する第 2のステップとを有することを特徴とする。これにより、ロスコストを減らしながら、短寿命なプラズマディスプレイパネルが市場に流れる確率を低減することができる。

また、前記駆動方法は、前記第 1のセル領域に画像を表示する駆動方法と比較して、前記第 2のセル領域の劣化をより促進する駆動方法を用いれば、短期間に寿命を評価することができる。

上記第 2の目的を達成するために、本発明に係る、プラズマディスプレイパネルの寿命試験方法は、試験対象のプラズマディスプレイパネルをフレーム内時分割階調表示方式で駆動して劣化促進させるとともに、試験時に適用するフレーム内時分割階調表示方式の時分割表示パターンは、 1 フレーム期間にァドレス放電を少なくとも 1回行うアドレス期間を含み、かつ、残余の放電維持期間における放電回数が、プラズマディスプレイパネルの通常使用時に適用されるフレーム内時分割階調表示方式のそれに比して多く含む設定とされていることを特徴とする。

これにより、画像表示用駆動に比べて 1 フレームにおける放電回数が増えて、放電による P D Pの劣化が促進され、短期間に P D Pの寿命を評価できるようになる。

また、試験時における前記放電維持期間に印加される放電維持パルスの周期は、プラズマディスプレイパネルの通常使用時に適用されるフレーム内時分割表示方式のそれに比して短い設定としてもよいし、試験時における前記 1 フレーム期間に占める前記アドレス期間の合計長さは、プラズマディスプレイパネルの通常使用時に適用されるフレーム内時分割表示方式のそれに比して短い設定としてもよい。さらに、前者と後者の設定を組み合わせてもよい。これにより放電回数が増加し、放電による P D Pの劣化が促進される。

また、後者の設定とするために、具体的には、試験時における前記 1 フレーム期間内のァドレス期間の合計数を、プラズマディスプレイパネルの通常使用時に適用されるフレーム内時分割表示方式のそれに比して少ない設定としたり、試験時における前記アドレス期間において、ブラズマディスプレイパネルの有する複数本の電極からなる電極群に対して行われるアドレス放電を、当該電極群のうち 2本以上の電極に対して同時に行われるようにしたりすればよい。このようにすれば、 1 フレームに占めるァドレス期間の時間を短縮することができるので 1 フレームの放電維持期間を長く取って放電回数を多くすることができる。

また、本発明に係るプラズマディスプレイパネルの寿命試験方法は、試験対象のプラズマディスプレイパネルをフレーム内時分割階調表示方式で駆動して劣化促進させるとともに、試験時に適用するフレーム内時分割階調表示方式の時分割表示パターンは、 1 フレーム期間にアドレス放電を少なくとも 1回行うアドレス期間を含み、かつ、残余の放電維持期間に印加する放電維持パルス電圧が、プラズマディスプレイパネルの通常使用時に適用されるフレーム内時分割階調表示方式のそれに比して高い設定としてもよい。これにより、放電時の陰極材料へのイオン衝突などの現象が通常使用時よりも促進されるので、 P D Pの劣化が促進される。したがって、 P D Pを短期間で寿命評価できるようになる。

上記第 3の目的を達成するために、本発明に係るプラズマディスプレィパネルの寿命試験方法は、試験対象のプラズマディスプレイパネルをフレーム内時分割階調表示方式を用いて駆動し、前記プラズマディスプレイパネルの画像表示領域における周縁部以外の部分領域には常時点灯を行う常時点灯画像を表示させ、画像表示領域における前記部分領域以外の領域には点灯および消灯を繰り返す点滅画像を表示させることを特徴とする。

これにより、画像表示領域の周縁部全域に点滅画像が表示されるため、その周縁部における発熱が抑えられ、ガラス基板の熱膨張による気密シ —ル層への応力集中が緩和されるので、パネル割れの発生が防止される。また、画像表示領域においては常時点灯画像が表示される部分以外の残余の画像表示領域に点滅画像が表示されるため、画像表示領域全域において常時消灯画像が存在しない。一方、点滅画像の表示される部分では常時点灯画像が表示される部分のように不純物ガスが特定の領域に捕捉, 蓄積されることもない。したがって、 P D P内における不純物ガスの挙動が実使用に類する条件と同様の条件下において P D Pの寿命評価をすることができる。

また、上記点滅画像は、所定の幅を有する帯状の点灯画像を所定方向に周期的にスクロール移動させて作製した画像とするとすることもできる。

また、上記点滅画像は、具体的に点滅周期の 1周期のうち少なくとも 1 0 %の時間を点灯状態に保つようにした画像とすることが望ましい。これにより、蛍光体層に捕捉された不純物のほとんどはすぐにガス化され、より適正な P D Pの寿命評価をすることができるからである。

また、試験対象のプラズマディスプレイパネルをフレーム内時分割階調表示方式を用いて駆動し、前記プラズマディスプレイパネルの画像表示領域における周縁部以外の部分領域には高階調で発光する高階調画像を表示させ、前記画像表示領域における前記部分領域以外の領域には低階調で発光する低階調画像を表示させることを特徴とする。これによつても、高階調画像を表示する部分において寿命評価を行うことができ、高くなる。

図 1 8に示すように、画像表示領域 1 2 3には、その中心部に配される常時点灯部分 7 0 1 と、画像表示領域の周縁部全域に常時点灯部分 7 0 1 を囲むように配される常時泡灯部分 7 0 2とから構成される点灯パターンが表示される。ここで、常時点灯部分とは、 1 フィールド中に必

3 画像表示領域の周縁部全域は低階調画像を表示するため、その周縁部における発熱が抑えられパネル割れの発生を防止することができる。一方、画像表示領域全域においては、常時消灯画像を表示する部分が存在しないので、不純物ガスが特定の領域に捕捉されて蓄積されることもなく、不純物ガスの影響を考慮した P D Pの実使用に類する寿命を適正に評価することができる。

' 図面の簡単な説明図 1は、 P D P寿命試験装置のプロック図である。

図 2は、本発明の第 1の実施の形態に係る P D Pの前面ガラス基板を除いた平面図である。

図 3は、本発明の第 1の実施の形態に係る評価用セル領域の構造を示す断面斜視図である。

図 4は、 P D Pに通常の画像表示をする際の駆動方法を示す図である。図 5は、本発明の第 1の実施の形態における P D P寿命試験装置の駆動方法を示す図である。

図 6は、本発明の第 2の実施の形態における P D P寿命試験置の駆動方法を示す図である。

図 7は、本発明の第 3の実施の形態における P D P寿命試験装置の駆動方法を示す図である。

図 8は、本発明の第 4の実施の形態における P D P寿命試験装置の駆動方法を示す図である。

図 9は、本発明の第 5の実施の形態に係る P D P寿命試験装置のプロック図である。

図 1 0は、本発明の第 5の実施の形態に係る P D Pの画像表示パターンを-示す図である。

図 1 1は、本発明の第 5の実施の形態に係る P D Pの画像表示パターン示す図である。

9 図 1 2は、本発明の第 5の実施の形態に係る PDPの画像表示パターンを示す図である。

図 1 3は、本発明の第 6の実施の形態に係る P D Pの画擎表示パターンを示す図である。 ·

図 14は、本発明の第 7の実施の形態に係る. P D Pの画像表示パターンを示す図である。

図 1 5は、エージング完全点灯電圧とエージング時間との関係を模式的に示した図である。

図 1 6は、従来の技術における PDPの前面ガラス基板を除いた平面図である。

図 1 7は、 PDPの画像表示領域の構造を示す部分断面斜視図である。 • 図 1 8は、従来の技術における P D Pの画像表示パターンを示す図でめ

図 1 9は、従来の技術における P D Pの画像表示パターンを示す図である。

図 20は、従来の技術における PD Pの画像表示パターンを示す図である。発明を実施するための最良の形態 .

(第 1の実施の.形態）

以下、本発明が適用された PDPおよび PDP寿命試験装置について図面を参照しながら説明する。

く P D P寿命試験装置 1 50の全体構成〉

図 1は、本発明の第 1の実施の形態に係る PDP寿命試験装置 150 の構成を示す回路ブロック図である。なお、図 1における PDP 130 は、図 2に示す P DP 1 30の評価用セル領域 2のみを模式的に図示し、画像表示用セル領域 1については図示を省略している。

図 1に示すように、 P DP寿命試験装置 150は、外部の映像出力器

10 から入力されてくる赤色（R)、緑色（G)、青色（B) に対応する映像データ DR, DG, DBなどを格納するフレームメモリ 1 5 1 と、格納された映像データ DR， DG, D Bの処理および各回路の駆動を制御するコントローラ 1 52と、コントローラ 1 52からの指示により、表示電極群 1 33に所定の電圧を印加する表示ドライバ回路 1 53と、表示スキヤン電極群 1 34に所定の電圧を印加する表示スキヤンドライバ回路 1 54と、アドレス電極群 1 35に所定の電圧を印加するァドレスドライバ回路 1 55、および各ドライバ回路 1 53， 1 54, 1 55に所定の電圧を供給する可変電圧電源装置 1 56 , 1 57, 1 58などを備え、寿命試験に供される P D P 1 30 (図 2) の評価用セル領域 2に対して取着可能に接続されている。

フレームメモリ 1 5 1は、 1フレームごとに各サブフレームの映像デ一夕を分割して格納できるものであり、外部装置から入力された各ピクセルの赤色（R)、緑色（G)、青色（B) の輝度レベル（階調レベル）を示す多値の映像データ D R, DG, DB、および各種の同期信号を一旦格納する。このフレームメモリ 1 5 1に格納された映像データ D R, DG， DBは、コントローラ 1 52によって読み出された後に、階調表示のために、各色毎に各サブフレームにおけるセルの点灯の要否を示す 2値データの集合である映像データ（以下、サブフレームデータ D s f という。）に変換され、再びフレームメモリ 1 5 1に格納される。

コントローラ 1 52は、サブフレームデータ D s f に応じて、後述する駆動方法を用いて表示ドライバ回路 1 53、表示スキヤンドライバ回路 1 54、アドレスドライバ回路 1 55を駆動する。

表示ドライバ回路 1 53および表示スキヤンドライバ回路 1 54は、 . それぞれに所定の電圧を印加するための可変電圧電源装置 1 56, 1 5 7を備えるとともに、表示電極群 1 33、表示スキヤン電極群 1 34 (それぞれ後述する）に接続され、コントローラ 1 52から送られてくる信号に応じて、それぞれ表示電極群 1 33、表示スキヤン電極群 1 34に対して所定の周期、電圧をもつ放電維持パルスを印加する。

11 アドレスドライバ回路 155は、この回路に電圧を印加するための可変電圧電源装置 1 58を備えるとともに、アドレス電極群 135 (後述する）に接続され、コントローラ 152により送られてくる信号に応じて、アドレス電極群 135に所定の電圧を印加する。

また、後述する画像表示用セル領域 1においては、 PDP 130がコンピュータゃテレビなどの表示デバィスとなった場合に、上記 P DP寿命試験装置 150と同様の構成を持つ駆動装置が接続され、チューナから受信された画像データに応じて画像が表示される。これにより、 PD P寿命試験装置 1 50は、プラズマディスプレイ装置としての機能を有する。

<P D P 130の構成〉

図 2は、本発明の一適用例としての PDP 130における前面ガラス基板 1 01を取り除いた場合の概略平面図を示す。なお、表示電極群 1 03, 1 33、表示スキャン電極群 1 04, 134、アドレス電極群 1 07, 1 35については分かり易くするため、その本数など一部省略して図示している。また、図 1 6、図 1 7のところで説明したものと同じ番号を付した構成要素については同じ構成要素であるので詳しい説明については省略する。

図 2に示すように、 PDP 130は、画像表示用セル領域 1と評価用セル領域 2を有しており、基本的には、図 16, 32を用いて従来の技術で説明した P D P 100と略同じ構造をしているが、画像表示用セル領域 1の端部に隣接した、寿命試験に供するための評価用セル領域 2が設けられている点が異なっている。

この評価用セル領域 2は、画像表示用セル領域 1と比べてその面積が小さい以外は、画像表示用セル領域 1と略伺様の構造をしており、対向する前面ガラス基板 101 (図 3) と背面ガラス基板 1 02との間に、表示.電極群 133と、表示スキヤン電極群 134と、アドレス電極群 1 35などを備え、気密シール層 141により封止されて構成される。ここで、この評価用セル領域 2において発光表示することができる表

12 示領域 1 4 2 (点領域で示す。）の面積は、寿命評価に必要な大きさ（ 1 0セル程度）があればよい。すなわち、 P D Pの寿命を測定する際に用いる輝度測定装置などの受光領域の大きさに応じてその面積を変更すればよく、必要最低限の大きさとすれば、使用する材料を削減することができるのでコスト的に好ましい。また、評価用セル領域 2を画像表示用セル領域 1 と同じ大きさとしても構わない。

図 3は、評価用セル領域 2の構成を説明するための断面斜視図である。同図に示すように、前面ガラス基板 1 0 1.の対向面上には、各 N本の表示電極群 1 3 3および表示スキヤン電極群 1 3 4 (図 3においては各 2本のみ表示している。以下、図 1に示すように N本目のものを示す場合は添え字を付す。）がストライプ状に交互に平行に列設される。当該各電極群 1 3 3 , 1 3 4は、透明電極と、この透明電極の電気抵抗による電圧低下を防ぐためのパス電極（ともに不図示) から構成されており、鉛ガラスなどからなる誘電体層 1 0 5で被覆され、さらに M g O保護膜 1 0 6で被覆される。

他方、背面ガラス基板 1 0 2の対向面上には、 M本のストライプ状のァドレス電極群 1 3 5 (図 1参照。図 3においては 4本のみ表示している。以下、 M本目のものを示す場合は添え字を付す。）が前記各電極群 1 3 3 , 1 3 4と直交する方向に列設され、その表面を覆う鉛ガラスなどからなる誘電体層 1 0 8が被覆される。

さらに、アドレス電極群 1 3 5に隣接するようにリブ 1 3 9が形成されている。このリブ 1 3 9は、アドレス放電時の隣接セルへの放電拡散を遮断し、いわゆる光のクロストークを防ぐようになっている。また、隣り合うリブ 1 3 9の間には、それぞれ赤色（R )、緑色（G )、青色（B ) を発光する各蛍光体 1 4 0 R , 1 4 0 G , 1 4 0 Bがアドレス電極群 1 3 5を被覆するように塗り分けられている。なお、本第 1の実施の形態においては、ストライプ状のリブが採用されているが、格子状のリブなど、他の形状としても良い。

前面ガラス基板 1 0 1 と背面ガラス基板 1 0 2との間には、放電空間

13 143を備え、図 2に示すように、各ガラス基板 101, 1 02の間が気密シール層 141によって封止されて評価用セル領域 2が形成される, これにより、評価用セル領域 2の放電空間 143は、画像表示用セル領域 1の放電空間 122と独立した状態に構成され、また、それぞれのセル領域を独立して駆動できるような電極群が設けられている。このため、評価用セル領域 2を選択的に寿命評価試験することができ、その際に、陰極材料、リブおよび蛍光体中に含まれる不純物が放電時のイオン衝突等により不純物ガスとなって放電空間 143に放出されたとしても, その不純物ガスは放電空間.122に侵入するおそれがない。

したがって、寿命試験を行った後にも P D P 130の画像表示用セル領域 1は、製品として問題なく使用することができるので寿命試験後の P D Pを廃棄する必要がなく、従来に比べロスコストを低減することができる。

また、放電空間 143には、画像表示用セル領域 1の放電空間 122 に充填される、ネオンを主体にバッファガスとして微量のキセノンを混合した放電ガスと同じガスが、同一圧力（通常、 6. 5 x l 0⁴〜 1 0 x l 0⁴P a程度）で充填されている。なお、評価用セル領域 2に充填される放電ガスの圧力を、画像表示用セル領域 1に充填される放電ガスの圧力より低めに設定すれば、陰極材料へのィォン衝突が起こり易くなり、 PDPの劣化が促進されるため、より短期間で寿命を評価することができる。さらに、放電ガスに加えられるバッファガスとして、キセノンの代わりに質量の小さいヘリゥムなどを混合させても陰極材料へのィオン衝突が起こり易くなり、 PDPの劣化を促進するため、より短期間で寿命を評価することができる。

く PDP 1 30の駆動方法〉

①画像表示用セル領域 1の駆動方法

まず、 PDP 130が製品となつたときに画像表示用セル領域 1に通常の画像を表示する際の駆動方法について説明する。

一般に、 P D Pにおける多階調表示するための駆動方式としては、

14 . 1フレームを複数のサブフレームに分割し、各サブフレームにおける点灯 z消灯を組み合わせて中間階調を表現する「フレーム内時分割階調表示方式」が用いられている。

図 4は、「フレーム内時分割階調表示方式」において、例えば 256階調を表現する場合における 1フレーム 200の分割方法の一例を示す図であって、横方向は時間、斜線部はアドレス期間を示している。

同図に示す分割方法では、 1フレーム 200を 8つのサブフレーム 2 01〜 208に分割する。各サブフレーム 201〜 20.8の輝度の相対比が 1 : 2 : 4 : 8 : 1 6 : 32 : 64 : 128になるように各サブフレーム 201 ~208の放電維持パルス数を設定しておき、各サブフレ —ム 201〜208の点灯、非点灯を表示輝度のデータにしたがってコントロールすることにより、 8つのサブフレームの組み合わせで 256 階調を表示できるようになっている。

各サブフレーム 201〜208は、それぞれに共通する一定時間をもつアドレス期間 209と、輝度の相対比に対応した時間の長さをもつ放電維持期間 210から構成される。

画像表示用セル領域 1 (図 2) に画像表示させる際には、アドレス期間 209において、サブフレームデータ D s f にしたがって、表示スキャン電極群 104を 1ライン毎に 1から n番目まで順にスキヤンして、表示スキャン電極群 104とアドレス電極群 1 07の間で微少放電を発生させ、点灯させたい放電セルに壁電荷を蓄積する。

その後、放電維持期間 21 0において、表示電極群 1 03および表示スキヤン電極群 104には、電圧 V 0かつ周期 T 0をもつ矩形波の放電維持パルス 21 1, 212が、それぞれ半周期ずれた状態でパネル全面同時に印加され、壁電荷が形成されている放電セルに放電が持続される。この放電により発生した紫外線が、各蛍光体 1 1 OR, 1 10 G, 1 1 0B (図 17) を励起発光させる。そして、このような操作をサブフレーム 20 1からサブフレーム 208間で繰り返すことにより、表示データに対応して、規則的に並んだセルが選択的に放電発光されて画像表示

15 用セル領域 1の表示領域 1 23 (図 2) に表示が行われる。

以下、このように PDPにおいて通常の画像表示を行うような駆動方法を「画像表示用駆動」という。

②評価用セル領域 2の駆動方法

次に、寿命試験の評価に供される評価用セル領域 2の駆動方法について説明する。ここで、評価用セル領域 2においても画像表示用領域 1と同様の駆動方法を用いて通常の画像を表示するようにしても良いが、以下に示すような P D Fの劣化を促進する方法を用いれば、より短期間に P D Pの寿命を評価することができる。

図 5は、本第 1の実施の形態における P D P寿命試験装置 150の駆動方法を示すための 1フレームの分割方法の一例を示す図であって、横方向は時間、斜線部はアドレス期間を示している。

1フレ一ム 230は、 1色当たり 256階調を表示するために 8つのサブフレーム 231~238に分割され、各サブフレーム 231〜 23 8は、その輝度の相対比が 1 : 2 : 4 : 8 : 1 6 : 32 : 64 : 1 28 になるように放電維持パルスが設定される。そして、各サブフレーム 2 31〜 238は、. アドレス期間 239と、放電維持期間 240とから構成される。以上の点においては、図 4において説明した画像表示用駆動と同じ構成および期間の長さを持つものであり、詳細な説明は省略する。画像表示用駆動と異なる点は、放電維持期間 240においてパネル全面の表示電極群 133および表示スキヤン電極群 134に同時に印加される、各放電維持パルス 241 , 242である。

各放電維持パルス 241, 242は、周期 T 1、電圧 V 0の矩形波であるとともに、互いに半周期ずれるようになつており、周期 T 1は、画像表示用セル領域 1における画像表示用駆動時の各放電維持パルス 21 1 , 212の周期 TO (図 4) よりも短く設定されている。これにより、各放電維持期間 240内での放電回数は、画像表示用駆動時における放電維持期間での放電回数と比較して増加する。すなわち、 1フレーム 2 30全体における総放電回数も画像表示用駆動と比べ増加する。

16 通常、 P D Pの寿命は、放電空間内での放電によって生じる、紫外線強度の低下、蛍光体の劣化、蛍光体表面への不純物の付着が原因と考えられる輝度の低下や、陰極材料へのイオン衝突、陰極材料へのスパッタ物による電界分布の変動等が原因と考えられる放電セルの誤作動等となつて現れる。特に、放電時に発生する紫外線による蛍光体の劣化や、スパッ夕リングと呼ばれる放電時に起こる陰極材料へのィォン衝突は、 P D P寿命を縮める大きな理由となる。そのため、放電維持パルス 2 1 , 2 4 2の周期 T 1 を短く設定し、 1 フレーム 2 3 0全体での放電回数も増加させることにより、放電に伴い発生する、上記スパッタリングおよぴ紫外線の総量の増加に伴う蛍光体の劣化などが促進され、当然ながら P D P 1 3 0における評価用セル領域 2の劣化は促進される。

このような放電回数の増加に伴う P D Pの劣化速度の加速具合は、画像表示用駆動時の 1 フレームにおける放電回数の総量と比例して大きくなることが今回の検討から判明しており、例えば、画像表示用駆動で全階調表示を行う際の 1 フレームの放電回数 2 5 6回をその 1 0倍の 2 5 6 0回に設定することにより、 P D Pの劣化はその放電回数に比例して加速され、その寿命が約 1 0倍短縮される。

ここで、放電維持パルスの周期 T 1の値は、放電回数増加に伴うパネルの発熱によるパネル割れを生じさせないためには、約 3 sec〜 1 0 sec程度が好ましい。

また、アドレス期間を通常使用条件と同じように設けているため、ァドレス放電による P D Pの劣化を考慮した通常使用条件に類する寿命試験を行うことができる。

したがって、評価用セル領域 2において、通常使用条件を考慮しつつ、画像表示用駆動に比べて P D Pの劣化を促進す,ることができ、短期間で P D P 1 3 0の寿命評価をすることができる。

なお、上記説明では、 1 フレーム 2 3 0の時間の長さを、画像表示用駆動における 1 フレーム 2 0 0の時間の長さと等しくしたが、 1 フレームの長さは画像表示用駆動と同じである必要はなく、これらの長さが異

17 なっていた場合においても、 1 フレーム 2 3 0全体における放電回数を 1 フレーム 2 3 0の時間で割った単位時間当たりの放電回数を、画像表示用駆動における 1 フレーム 2 0 0全体における放電回数を 1 フレーム

2 0 0の時間で割った単位時間当たりの放電回数より多くするように周期 T 1 を設定すれば同様の効果が得られる。

また、通常使用条件を考慮することはできなくなるが、少なくとも 1 回のアドレス放電を行い、その後に放電維持パルスを連続して印加するようにしても劣化を促進することができるため、簡素化した寿命評価をすることができる。

く P D P製品の製造方法〉

次に、 P D P 1 3 0の製造方法について、その一例を図 3を用いて説明する。

前面ガラス基板 1 0 1 には、互いに相対して対をなす表示電極群 1 3 3、表示スキャン電極群 1 3 4が平行配置されて形成される。この表示電極群 1 3 3および表示スキヤン電極群 1 3 4は、透明電極と、透明電極の電気抵抗による電圧低下を防ぐためのバス電極（ともに不図示）からなる。この透明電極は、スパッタ法により形成される I T O撃であり、バス電極は、 A gを印刷法により形成して得られる。この表示電極群 1 3 3および表示スキヤン電極群 1 3 4の上には、印刷法により誘電体層 1 0 5が被覆され、さらに E B蒸着により M g O保護膜 1 0 6が被覆される。なお、各電極群においては、透明電極を設けず、パス電極のみで形成することもできる。

—方、背面ガラス基板 1 0 2には、ストライプ状のアドレス電極群 1

3 5が形成される。このァドレス電極群 1 3 5は、 A gを印刷法により形成することにより得られ、さらに印刷法により形成される誘電体層 1

0 8に被覆される。なお、各電極群 1 3 3 , 1 3 4 , 1 3 5は、画像表示用セル領域 1 における各電極群 1 0 3 , 1 0 4、 1 0 7の配列されるピッチと等しく構成されるので、セル領域の面積に比例してそれぞれ少ない本数が配列されている。

18 ァドレス電極群 1 3 5の隣接する位置には、例えばガラス材料を含むペーストを繰り返しスクリーン印刷し、その後焼成することによりリブ 1 3 9がそれぞれ形成される。このリブ 1 3 9により、放電空間 1 4 3 はライン方向にサブピクセル（単位発光領域）毎に区画され、その間隙寸法が一定値（ 1 5 0 i m程度）に規定される。

ここで、上記各構成要素が形成された、前面ガラス基板 1 0 1および背面ガラス基板 1 0 2には、評価用セル領域 2と同様の方法により同時に画像表示用セル領域 1の構成要素も形成される。こうした各ガラス基板 1 0 1 , 1 0 2における構成要素の作製方法などについては、特開 2 0 0 0 - 1 3 3 1 4 3号公報などに開示されている公知の方法を用いることができる。評価用セル領域 2は、画像表示用セル領域 1 と同一の各ガラス基板 1 0 1 , 1 0 2上に同時に形成されるので、評価用セル領域 2を設けるコストは材料費程度と P D P 1枚のコストに比べ僅かで済むうえ、同じ条件で作製された評価用セル領域 2の寿命特性の評価結果を、. 画像表示用セル領域 1の寿命特性の評価をそのまま適用できる。

そして、各ガラス基板 1 0 1 , 1 0 2が、ギヤップを保ちながら放電空間 1 2 2 , 1 4 3 (図 3 ) を形成するように対向して重ね合わされた後、各セル領域 1， 2の周縁はフリットガラスからなる気密シール層 1 2 1， 1 4 1 によ-り封止される。

その後、各放電空間 1 2 2、 1 4 3の排気を行い、上記放電ガスの充填を行うことにより作製される。この放電ガスの充填は、画像表示用セル領域 1および評価用セル領域 2へ同時に充填しても良いが、評価用セル領域 2に先に充填して寿命試験を行った後、画像評価用セル領域 1 に充填してもよい。

このように製造された P D P 1 3 0は、その評価用セル領域 2の表示電極群 1 3 3が、図 1 に示すように電気的に共通化され、ライン方向の一端（図の右端）側で表示ドライバ回路 1 5 3と接続される。また、表示スキヤン電極群 1 3 4は、ライン方向の他端（図の左端）側でそれぞれ独立して表示スキヤンドライバ回路 1 5 4と接続される。アドレス電

19 極群 1 3 5は、その一端がそれぞれ独立した状態でァドレスドライバ回路 1 5 5に接続される。

これらのドライバ回路 1 5 3〜 1 5 5を介して、各電極群 1 3 3〜 1 3 5へ図 2 0を用いて説明した駆動方法を用いて電圧を印加することにより、評価用セル領域 2を劣化させて、その輝度低下および放電セルの誤作動等の発生を確認して寿命を判断する。

この判断は、所定の検査項目（例えば、輝度の 5 0 %低下までの時間やセルの誤作動の出現など）について検査を行い、この検査結果に基づいて行う。この判断により、良好な結果を得られたプラズマディスプレィパネルについては、製品とし、結果が悪かったものについては不良品として製品とは区別することにより、巿場には短寿命のプラズマディスプレイパネルをなるベく流通させないようにすることができる。

以上説明してきたように、本第 1の実施の形態に係る P D P 1 3 0によれば、同一基板上に画像表示用セル領域 1 と、寿命を評価するための評価用セル領域 2を備える。この各セル領域 1 , 2は、気密シール層 1 2 1 , 1 4 1 によって独立した状態に形成されるとともに、それぞれに独立駆動できる電極群が設けられる。

そして、 P D P 1 3 0の寿命を評価する際には、評価用セル領域 2に対して寿命評価を行えば、その評価に伴い評価用セル領域 2のセルが劣化したり、不純物ガスが発生したりしても、気密シール層 1 2 1 により独立して形成された画像表示用セル領域 1 は製品として使用することができる。そのため、寿命試験用に抜き出す P D Pサンプル数を多くしたとしても、 P D Pを廃棄する必要がなく、ロスコストを低減することができる。

さらに、評価用セル領域 2に対して劣化を促進する駆動方法を用いたり、劣化を促進するようなガスを封入したりすれば寿命試験の期間をさらに短縮することができる。

そじて、 P D Pを寿命試験してその結果が良好なものについてのみ P D P製品とする製造方法により、短寿命な P D Pを市場に流通させる確

20 率を低減することができる。

なお、評価用セル領域 2の形成位置は、図 2に示すような位置が好ましいが、 P D P 1 3 0がテレビなどの完成品として形成された場合に、画像表示用セル領域 1が画面として露出され評価用セル領域 2が隠れるような位置にあれば、画像表示用セル領域 1 の上端、下端、外周など、どの位置に形成されてもよい。また、 P D P 1 3 0がテレビなどに使用された場合において邪魔にならない位置に評価用セル領域 2を複数設けるようにして、複数のセルで寿命試験を行うようにすれば、さらに寿命試験の信頼度が向上する。

また、基板上に 1つの評価用セル領域を設けるとともに、複数の画像表示用セル領域を設けてもよい。これにより、評価用セル領域においてパネルの寿命試験を行えば、 2つの画像表示用セル領域の寿命試験を兼ねることができ、生産性が向上する。このように作製された P D Pは、画像表示用セル領域毎にレーザ等を用いて切断すればよい。また、複数の画像表示用セル領域のうち一つを寿命評価用セル領域として用いても構わない。

また、図 1 7に示す長方形の画像表示用セル領域 1の一部、例えば一番右端の放電セル数列などを気密シールで仕切り、画像評価用セル領域 2として用いるようにしてもよい。また、評価用セル領域 2の放電空間 1 4 3と画像表示用セル領域 1の放電空間 1 2 2とが独立して形成されているので、評価用セル領域 2を寿命試験後に削除するようにしてもよい。さらに、画像表示用セル領域 1を複数形成できるような大きな前面ガラス基板 1 0 1および背面ガラス基板 1 0 2を用いて、同一基板上に複数の画像表示用セル領域を設けるようにしてもよい。こうすれば、複数の画像表示用セル領域における寿命が、 1つの評価用セル領域 2の寿命試験を行うことにより判別でき、コストの観点から好ましい。

また、上記各電極群 1 3 3〜 1 3 5は、画像表示用セル領域 1の各電極群 1 0 3 , 1 0 4 , 1 0 7と独立して設けられているが、これらを共通化して設けてもよい。その際には、寿命試験を行うときに評価用セル

21 領域 2のみを点灯させるようにアドレス放電を行う必要がある。

(第 2の実施の形態）

次に、本発明の一適用例としての P D P寿命試験装置の第 2の実施の形態について説明する.。なお、本第 2の実施の形態に係る P D P寿命試験装置 1 5 0は、第 1の実施の形態と図 1の構成、および図 5に示す評価用セル領域 2の駆動方法が異なるほかは同様の構成であるので、同様の構成については説明を省略する。

本第 2の実施の形態における P D P寿命試験装置 1 5 0の構成は、図 1を用いて第 1の実施の形態で説明した構成と略同じであるが、フレームメモリ 1 5 1への映像データの格納方法が異なるので、その点について説明する。

フレームメモリ 1 5 1 に格納された映像データ D R , D G , D Bは、コントローラ 1 5 2により読み出された後に、各色毎にセルの点灯の要否を示すサブフレームデータ D s f に変換され、再ぴフレームメモリ 1 5 1 に格納される。ここで、フレームメモリ 1 5 1 は、第 1の実施の形態においては、 1 フレームごとに各サブフレームの映像データを分割して格納していたが、本第 2の実施の形態においては、複数のサブフレームに分割せずに 1つのサブフレームの映像データとして格納する。. したがって、 P D P 1 3 0の評価用セル領域 2においてはセルを点灯するか否かの 2階調の表示を行うこととなる。

図 6は、本発明の第 2の実施の形態における P D P寿命試験装置 1 5 0の駆動方法を示したものであり、横方向は時間、斜線部はアドレス期間を示している。

1 フレーム 2 5 0は、第 1の実施の形態における 1 フレーム 2 3 0 (図 5 ) と異なり、複数のサブフレームに分割されずにそのまま 1つのサブフレーム 2 5 1 を形成する。サブフレーム 2 5 1 は、アドレスを行うァドレス期間 2 5 2と、維持放電を行う放電維持期間 2 5 3を有する。ここで、 1 フレーム 2 5 0、アドレス期間 2 5 2は、画像表示用駆動における、 1 フレーム 2 0 0、アドレス期間 2 0 9と同じ時間の長さ.を持ち、

22 他方、放電維持期間 2 5 3は、サブフレ一ム 2' 5 1 のうち、上記ァドレス期間 2 5 2を除いた時間の長さとなる。ここで、各表示電極群 1 3 3 · および表示スキヤン電極群 1 3 4に印加される各放電維持パルス 2 5 4 , 2 5 5は、画像表示用駆動と同じ、周期 T 0 , 電圧 V 0の矩形波である。上述した構成により、 1 フレーム 2 5 0中に占める、放電維持期間 2 5 3の長さを画像表示用駆動と比べ大きくとることができる。

例えば、図 4に示すような 2 5 6階調を表示する画像表示用駆動方法を用いた場合、 1 フレーム 2 0 0中のアドレス回数は、各サブフレーム 2 0 1 〜 2 0 8においてそれぞれ 1回行うので計 8回となる。一方、本第 2の実施の形態の図 6に示す駆動方法を用いた場合、 1 フレーム 2 5 0中のアドレス回数は、サブフレーム 2 5 1 のアドレス期間 2 5 2の計 1回で済む。

すなわち、サブフレーム数が画像表示用駆動と比べて減ることにより、 1 フレーム 2 5 0中におけるアドレス期間 2 5 2の占める長さを画像表示用駆動時に比べて低減することができるので、その分放電維持期間 2 5 3に割り当てられる期間を大きく取ることができる。この放電維持期間 2 5 3の増加により、画像表示用駆動と同じ周期 T 0の放電維持パルスが印加されても、 1 フレーム 2 5 0中の放電回数は全階調表示する際の画像表示用駆動に比べ増加することができる。

P D Pは、すでに述べた通り、放電回数に比例して寿命劣化が加速される。なお、この実施の形態によれば、アドレス回数は減ることになるが、アドレス放電自体は行われており、通常使用条件に近い形で P D P の寿命を評価することができる。したがって、上述した駆動方法により、通常使用条件を考慮しつつ、画像表示用駆動を行う場合にくらベて P D Pの評価用セル領域 2の劣化を促進することが可能となり、短期間で寿命を評価することができる。

また、本第 2の実施の形態においては、 1 フレーム 2 5 0を分割せずにそのままひとつのサブフレーム 2 5 1 としたため高精細な画像表示はできないが、そのような画像表示を行うために複数のサブフレームに分

23 割したとしても、画像表示用駆動時におけるサブフレームの数よりサブフレームの数が少なければ、その分 1フレーム 250に占めるァドレス期間 252を減らして放電維持期間を増加することができるので、 P D Pの劣化を促進することができる。

(第 3の実施の形態）

次に、本発明の一適用例としての PDPの駆動方法における第 3の実施の形態について説明する。なお、本第 3の実施の.形態における P D P 寿命試験装置 1 50は、第 1の実施の形態で説明した図 1における映像データ DR, DG，. DBがパネル全面を表示させたり、部分的に矩形領域を表示させたりするデータであること、および図 5に示す評価用セル領域 2の駆動方法が異なるほかは、図 2、図 3、および図 4を用いて説明した構成は同様であるので、その構成については説明を省略する。図 7は、本第 3の実施の形態における P DP寿命試験装置 150の駆動方法を示したものであり、横方向は時間、斜線部はアドレス期間を示している。

1フレーム 270は、例えば、 8つのサブフレーム 27.1〜 278に分割される。この 1フレーム 270、サブフレーム 271〜278は、図 4に示す画像表示用駆動の 1フレーム 200、サブフレーム 201〜

208と同じ長さを持つ。

各サブフレーム 271 ~ 278は、データを書き込むアドレス期間 2 79と維持放電を行う放電維持期間 280を有する。

ァドレス期間 279においては、表示スキヤン電極群 1 34 ( 1〜N) とアドレス電極群 135 ( 1 ~M) のすベての電極に対して、アドレス 281を同時かつ 1度だけ行い、電圧を印加するようにしている。このアドレス 281を 1度に同時に行うことにより、表示スキャン電極群 1

34とァドレス電極群 1 35の間で微少放電が発生し、評価用セル領域 2のパネル全面へ壁電荷の形成が行われる。

そして、放電維持期間 280において、表示電極群 133および表示スキャン電極群 1 34には、画像表示用駆動と同じ電圧 V0かつ周期 T

24 0をもつ放電維持パルス 2 8 2 , 2 8 3が、それぞれ半周期ずれた状態で同時に印加され、ァドレス期間 2 7 9において壁電荷が形成されている放電セルに放電を持続することにより、パネル全面に白色の画像が表示される。ただし、パネルへ点灯させる画像パターンは、アドレス 2 8 1 を同時に 1度しか行わないために、固定された 1 ケ所の長方形となる。上記ァドレス期間 2 7 9においては、アドレス 2' 8 1を同時に行うごとにより、表示スキヤン電極群 1 3 4ヘアドレス電圧を印加する際のスキャンを 1度で行うことができるので、その分、画像表示用駆動に比べてァドレス期間 2 7 9の長さを短くすることができる。ここで、放電維持期間 2 8 0は、各サブフレーム 2 7 1〜 2 7 8から、時間の短くなつた各ァドレス期間 2 7 9をそれぞれ差し引いた値となるので、画像表示用駆動のアドレス期間 2 1 0と比べてその時間が長くなる。

この放電維持期間 2 8 0の長さの増加により、たとえ、画像表示用駆動と同じ周期 T 0を持つ放電維持パルス 2 8 2 , 2 8 3が印加されても、 1 フレーム 2 7 0全体における放電回数は画像表示用駆動にくらベて増加するので、'上述したように P D Pの劣化が促進され、短期間で寿命を評価することができる。

本来、表示スキヤン電極群 1 3 4の本数回スキヤンして行っていた点灯セルへの壁電荷の形成が、わずか 1度のアドレス 2 8 1 によつて行われ、アドレス自体が筒素化されることとなるが、アドレス放電と同じ放電は行われているので、本駆動方法で通常使用条件を考慮した P D Pの寿命を評価することができる。

なお、本第 3の実施の形態においては、アドレスを 1度で行うようにしたが、 2本以上の表示スキヤン電極群 1 3 4に同時にァドレスを行えばよく、これにより画像表示用駆動のスキャン回数より少ないスキャン回数（表示スキヤン電極群 1 3 4の本数 N未満の回数）とすることができる。そのため、画像表示用駆動と比べてアドレス期間 2 7 9を短縮することができるので、その分放電維持期間 2 8 0が長くなり、上記と同様に P D Pの劣化を促進することができる。

25 (第 4の実施の形態）

次に、本発明の第 4の実施の形態にかかる PD Pの駆動方法について説明する。なお、本第 4の実施の形態における P D P寿命試験装置 15 0は、第 1の実施の形態と評価用セル領域 2の駆動方法（図 5) が異なるほかは、図 1、図 2、図 3および図 4を用いて説明した構成と同様であるのでその構成については説明を省略する。

図 8は、本発明の第 4の実施の形態における P D P寿命試験装置 15 0の駆動方法を示したものであり、横方向は時間、斜線部はアドレス期間を示す。

1画面を表示する期間である 1フレーム 290は、例えば、 8つのサブフレーム 291〜 298に分割される。この 1フレーム 290、サブフレーム 29 1〜 298は、図 1 9に示す画像表示用駆動のフレーム 2 00、サブフレーム 201〜 208とそれぞれ同じ長さの時間を持つ。各サブフレーム 29 1〜298は、データを書き込むためのァドレス期間 299と維持放電を行う放電維持期間 300を有する。

ァドレス期間 299においては、第 1の実施の形態のァドレス期間と同様、サブフレームデータ D s f にしたがって 1ライン毎に表示スキヤン電極群 134をスキャンさせることにより、表示スキヤン電極群 13 4とアドレス電極群 135の間で微小放電を発生させてパネル内の点灯させたいセルに壁電荷を蓄積する。

その後、放電維持期間 300において、パネル全面の表示電極群 13 3および表示スキャン電極群 134に、電圧 V 1かつ周期 T 0をもつ矩形波の各放電維持パルス 301, 302を半周期ずらせて印加させ、壁電荷が形成されているセルに放電を維持させる。これにより、表示電極群 133と、表示スキヤン電極群 134との間には互いに電圧の極性を反転させながら放電が繰り返し起こる。

ここで、各放電維持パルス 301, 302の電圧 V 1は、画像表示用駆動時における放電維持パルス電圧 V 0 (通常、 1 50〜 185 V程度）と比べて、印加される電圧が高く設定されている。

26 この高い電圧 V 1のため、放電維持期間 300において発生する放電は、画像表示用駆動時に比べて強くなり、陰極材料へのイオン衝突などの現象を促進し、たとえ、単位時間当たりの放電回数が画像表示用駆動と同じ（放電維持パルスの周期が T 0と.等しい。）であっても蛍光体の劣化などを促進させる。したがって、 P D Pを短期間で寿命評価できるようになる。また、画像表示用駆動と同じァドレスを行っていることから、ァドレス電極の劣化を考慮に入れた寿命を評価することできる。

ここで、各放電維持パルス 301, 302の電圧 V 1の値は、 P D P の劣化速度を考慮すると電圧が高い方が好ましいが、大きくしすぎるとパネル内での発熱が加速し、パネル割れが発生する可能性が高くなるので、約 150 V〜 250 V程度が好ましい。

(第 5の実施の形態）

次に、本発明の一適用例としての P DPの寿命試験方法および寿命試験装置について説明する。なお、本第 5の実施の形態における PDP寿命試験装置 350は、第 1〜4の実施の形態で説明した P D P寿命試験装置 1 50 (図 1) と信号発生器 351を備えていることが異なり、これに接続される P D Pは、従来の技術で説明した P D P 100 (図 16, 32) と同じものを一例として用いている。

く P D P寿命試験装置 350の全体構成〉

図 9は、本第 5の実施の形態における P D P寿命試験装置 350の構成を示す回路プロック図である。

P D P寿命試験装置 350は、 P D P 100を寿命試験するためにこれを接続して駆動させるためのものであって、同図に示すように、寿命試験のための点灯パターンに相当する映像データ DR (赤）， DG (緑）， DB (青）などを出力する信号発生器 351と、この信号発生器 35 1 より出力された映像データ DR， DG, D Bなどを格納するフレームメモリ 352と、フレームメモリ 352への映像データ DR, DG, DB の入出力などの処理および各回路の駆動を制御するコントローラ 353 と、コントローラ 353からの指示により、表示電極群 1 03に放電維

27 持電圧を印加する表示ドライバ回路 354と、表示スキヤン電極群 1 0 4に走査ァドレスおよび放電維持電圧を印加する表示スキャンドライバ回路 355と、アドレス電極群 1 0 Ίに書き込み電圧を印加するァドレスドライバ回路 356、および各ドライバ回路 354, 355, 356 に電圧を供給する電源装置 357, 358, 359などを備える。 PD P寿命試験装置 350は、図 1を用いて説明した P D P寿命試験装置 1 50と信号発生器 35 1を備えるほかは略同様の構成をしており、それらの構成については説明.を省略する。

信号発生器 35 1は、所望の点灯パターンに相当する画像信号を発生させることができる公知のプログラマブルビデオ信号発生器であり、各ピクセルの赤色（R)、緑色（G)、青色（B) の輝度レベル（階調レべル）を示す多値の映像データ DR, DG, DB、および各種の同期信号をフレームメモリ 352およびコントローラ 353に出力する。

フレームメモリ 352は、 1 フレームごとに各サブフレームの映像デ一夕を分割して格納できるものであり、信号発生器 35 1から入力された映像データ DR, D G, DBなどを一旦格納する。このフレームメモリ 352に格納された映像データ DR, DG, DBは、コントローラ 3 53.によって読み出された後に、階調表示のために、各色毎に各サブフレームにおけるセルの点灯の要否を示す 2値データの集合である映像デ —タ（以下、サブフレームデータ D s f という。）に変換され、再びフレ —ムメモリ 352に格納される。

コントローラ 353は、サブフレームデータ D s f に応じて、後述する駆動方法を用いて表示ドライバ回路 354、表示スキャンドライバ回路 355、アドレスドライバ回路 356を駆動する。

この PDP寿命試験装置 350により、以下に説明する方法を用いて . PDP 1 00の画像表示領域 1 23に画像を表示させて寿命評価を行う。なお、 P D P 1 00の駆動方法については、上記第 1の実施の形態において図 4を用いて説明したフレーム内時分割諧調表示方式を用いる。

く画像表示領域 1 23における点灯パタ一ン〉

28 次に、信号発生器 3 5 1から送信される画像データに基づいて P D P 1 0 0の画像表示領域 1 2 3に表示する本発明に特有の点灯パターンについて説明する。

図 1 0は、 P D P 1 0 0の画像表示領域 1 2 3における点灯パターンを示す。

同図に示すように、画像表示領域 1 2 3に表示される画像は、常時点灯部分 3 0 1 と、点滅部分 3 0 2とからなる。

常時点灯部分 3 0 1は、寿命試験期間中白表示を行って寿命測定が行われる部分で.あり、画像表示領域 1 2 3 ,の周縁部を除く所定の領域に配置される。この常時点灯部分 3 0 1 に表示する画像については、 R , G , B色の蛍光体層を有する一組のセルを常時点灯させて全白表示（全階調表示）することにより維持放電回数を多くすることが P D Pの寿命を劣化させる点で好ましいが、若干階調を下げてもよく、また、任意の画像を表示しても問題はない。

点滅部分 3 0 2は、画像表示領域 1 2 3の常時点灯部分 3 0 1以外のすべての領域に設けられ、点灯、消灯を繰り返すことにより点滅を行う邵分である。この点滅は、 1サイクルを 2秒周期として、その時間の内所定の割合で連続点灯させて、残りの時間を消灯するように行う。このように常時点灯部分 3 0 1 と点滅部分 3 0 2とを設定することによって, 寿命測定は、常時点灯部分 3 0 1 を部分的に劣化させて、その輝度劣化や放電特性の変動（放電セルの誤動作）を測定および検出することにより行うことができる。また、画像表示領域 1 2 3の周縁部には点滅部分 3 0 2が表示されるが、この点滅部分 3 0 2では消灯時間における冷却がなされるので、気密シール層 1 2 1付近での各ガラス基板 1 0 1 , 1 0 2の熱膨張による応力集中は抑えられ、パネル割れの発生は抑制される。

ところで、一般に、蛍光体層 1 1 0 R , 1 1 0 G , 1 1 0 Bなどは、その製造段階において公知の有機物などが混練されており、焼成工程等でその大部分は除去されるのであるが、極微量の有機物が不純物として

29 残る。そして、常時点灯部分 3 0 1の点灯の際には、維持放電で発生した熱が加わることや、スパッ夕リングの影響により蛍光体層 1 1 0 R , 1 1 0 G , 1 1 0 Bなどが高温になり、その中に含まれる不純物がガス化されて放出される。また、点滅部分 3 0 2においても点灯時には高温になり不純物がガス化されると考えられる。この不純物ガスは、放電空間 1 2 2内の不活性ガスの原子のエネルギーを奪い輝度低下を引き起こしたり、放電特性の変動を発生させ放電セルの誤動作を引き起こしたりするので、放電空間 1 2 2に存在する不純物ガスの量は P D P 1 0 0の寿命に大きく影響を与える。

そのため、従来の寿命試験技術においては、画像表示領域 6 2 3に常時消灯部分 7 0 2 (ともに図 1 8参照）が設けられていたので、常時点灯部分 7 0 1 (図 1 8 ) の点灯により発生した不純物ガスは拡散した後、常時消灯部分 7 0 2における蛍光体層等に捕捉される。常時消灯部分 7 0 2は、寿命試験の期間中始終消灯しており、放電によるエネルーが加わることがないため、捕捉された不純物はそのまま蓄積していき、この領域から再び拡散していくことはないと考えられる。その結果、放電空間内の不純物ガス濃度は次第に低下していき、不純物ガスに起因する輝度劣化や、放電セルの誤動作は発生しにくくなる。一方、通常使用条件では、常時消灯部分は存在しないので、このような放電空間における不純物ガス濃度の低下は生じない。よって、従来の寿命試験では、通常使用条件と異なつて不純物ガスの挙動を考慮した正しい寿命評価をしにくい。

これに対して、本第 5の実施の形態においては、常時消灯部分は設けておらず画像表示領域 1 2 3全域において必ず維持放電が行われる。また、不純物ガスが点滅部分 3 0 2において蛍光体層 1 1 0 R , 1 1 0 G , 1 1 0 Bに捕捉されたとしても点滅によってガス化されるに十分なエネルギ一がすぐに加えられて不純物ガスが放出される。したがって、放電空間 1 2 2における不純物ガス濃度は常時消灯部分を有する従来技術のように低下しないと推定される。そのため、不純物ガスの影響を考慮し

30 た通常使用に類する条件で P D Pの寿命を評価することができると考えられる。

ここで、常時点灯部分 3 0 1の面積は、寿命測定を行うための測定機器の関係上、少なくとも 1 0セル程度の面積が必要であるが、放電空間 1 2 2 (図 1 7 ) における不純物ガスの影響を考慮した通常使用に類する寿命を評価しょうとすれば、通常使用条件に近い大きな面積を有するほうが好ましい。一方、その面積を大きくしすぎると今度は維持放電の発熱によるパネル割れの問題が生じるが、パネルを冷却するファンを設けるなどしてパネルからの放熱量を増やすことによりその問題も軽減すると考えられるので、 .寿命試験時のパネルからの発熱量、放熱量などを考慮して常時点灯部分 3 0 1の大きさを決めればよい。

また、点滅部分 3 0 2の点滅周期は、特に限定されず、維持放電による発熱を冷却する時間の関係を考慮して決めればよいが、 1サイクルの点滅における連続点灯時間が少なくとも 1 0 %を占めることが望ましい _c これは、その値未満であると放電回数が少ないため蛍光体層などの温度が上昇せず、蛍光体層等に捕捉された不純物がガス化されずに残ってしまう可能性があると推定されるからである。

なお、常時点灯部分 3 0 1の配置については、図 1 0のように中央部全体に表示するパターンに限られることなく、例えば、図 1 1のように複数の常時点灯部分 3 1 1 を格子状に配置して表示するパターン、または、図 1. 2のように、複数の常時点灯部分 3 2 1 と、点滅部分 3 2 2を千鳥格子に配置して表示するパターンなどが考えられるが、基本的には常時点灯部分 3 1 1 , 3 2 1 を寿命測定に差し支えない程度の大きさで点灯させるとともに、画像表示領域 1 2 3の周縁部全域にわたって点滅部分 3 1 2 , 3 2 2が配置されればよい。これにより、パネル割れの発生を抑制しながら通常使用に類する条件で P D Pの適正な寿命を評価することができる。

上述したように、画像表示領域における点灯パターンが、常時点灯部分と点滅部分により構成され、点滅部分は画像表示領域の周縁部の略全

31 域に配置されるので、パネル割れが発生する気密シール層付近の発熱が抑制されるとともに、点滅部分においても蛍光体層に捕捉された不純物がガス化されるに十分な放電が行われ、放電空間内部における不純物ガス濃度が低下することもなく、通常使用に類する条件のもとで寿命試験を行うことができる。

(第 6の実施形態）

次に、本発明の第 6の実施の形態に係る P D Pの寿命試験方法および寿命試験装置について説明する。なお、本第 6の実施の形態においては、第 5の実施の形態と図 1 3に示す点灯パターンが異なるのみであり、他の P D P寿命評価装置などの構成については同じであるため説明は省略する。

図 1 3は、本発明の第 6の実施の形態における P D P 1 0 0の画像表示領域 1 2 3の点灯パターンを示す。

画像表示領域 1 2 3は、常時点灯部分 4 0 1 と、点滅部分 4 0 2とからなる。

常時点灯部分 4 0 1 は、第 1の実施の形態における図 2 0で説明した常時点灯部分 3 0 1 と同じく、画像表示領域 1 2 3の中央部に長方形の形で配置され、寿命試験期間中、始終白表示で点灯され続ける。この常時点灯部分 4 0 1 において劣化を進行させ、輝度劣化および放電特性の変動を測定することにより P D P 1 0 0の寿命評価を行う。

点滅部分 4 0 2は、画像表示領域 1 2 3の周縁部に常時点灯部分 4 0 1を囲むように配置されている。

本実施の形態では、一定幅 L 2をもつ帯形状を表示するように、白表示するスクロール点灯部分 4 0 3が、その形状を維持しながら画像表示領域 1 2 3の図面左端から右端までを周期的にスクロール移動を繰り返し、スクロール点灯部分 4 0 3が通過するとき以外は点滅部分 4 0 2は消灯状態とする（図 1 3では、スクロール点灯部分 4 0 3が通過していない領域 4 0 4が消灯状態となっている。）。これによつて点滅部分 4 0 2の各部分は周期的に点滅することになる。このスクロール点灯部分 4

32 0 3の移動方向の幅 L 2は、画像表示領域 1 2 3における横方向の長さ L 1の所定の割合（少なくとも 1 0 %が好ましい）をもつ。そして、スクロール点灯部分 4 0 3が同じ場所に戻ってくるまでの 1サイクルの時間、すなわちスクロール周期は 2秒と設定した。これにより、点滅部分 4 0 2における各放電セルは、 1サイクル毎にスクロール周期の所定割合の時間白表示されるので、第 1の実施の形態と同様、放電空間の不純物ガス濃度は低下せず、そのため、 P D Pは不純物ガス濃度を考慮して通常使用に類する寿命を適正に評価することができ、パネル割れの防止が図られる。ここではスクロール周期は 2秒と設定したが、点滅部分.4 0 2における発熱および放熱を考慮してパネル割れを防止できる範囲で設定すればよい。

なお、本第 6の実施の形態においては、スクロール方向を図面向かつて左から右へ向かって進むようにしたが、特にこれに限定されず、左から右、上から下、対角方向など種々の方向であっても同じ効果が得られる。

(第 7の実施の形態）

次に、本発明の第 7の実施の形態に係る P D Pの寿命試験方法および寿命試験装置について説明する。なお、本第 7の実施の形態においては、第 5の実施の形態と図 1 4に示す点灯パターンが異なるのみであり、 P D P寿命試験装置などの構成については同じであるため説明は省略する _c 図 1 4は、本発明の第 7の実施の形態における P D Pの画像表示領域 1 2 3の点灯パターンを示す。

同図に示すように、画像表示領域 1 2 3は、高階調表示部分 4 1 1 と、低階調表示部分 4 1 2から構成され、すべての領域で常時点灯されている点において上記第 5および第 6の実施の形態と異なる。

. 高階調表示部分 4 1 1は、第 6の実施の形態の図 1 0における常時点灯部分 3 0 1 と同じぐ、画像表示領域 1. 2 3の中央部において長方形の形で配置され、寿命試験期間中白表示、すなわち赤、緑、青すベてを高階調で表示する部分である。この高階調表示部分 4 1 1 において、輝度

33 劣化および放電特性の変動を測定することにより寿命評価が行われる。低階調表示部分 4 1 2は、高階調表示部分 4 1 1 よりも低い所定の階調で表示する部分である。すなわちこの部分は、 1 フレーム中には必ず維持放電が起こり発光するが、サプフレーム毎においては必ずしも維持放電を行わず発光しない期間を有することにより、 1 フレームにおける維持放電の回数を少なくして発熱を抑え低階調を表示する部分であり、高階調表示部分 4 1 1 を囲むように画像表示領域 1 2 3の周縁部全域に配置される。低階調表示部分 4 1 2における表示階調は、発熱および放熱を考慮してパネル割れが発生しない範囲で設定すればよい。

ここで、所定の階調としては、少なくとも最高階調の 1 0分の 1階調以上が好ましく、例えば、図 4において説明したように、表示可能な階調が 2 5 6階調であれば、 1 フレーム 2 0 0期聞中、サブフレーム 2 0 2 , 2 0 4 , 2 0 5において維持放電を行い、 2 6階調目を表示する。これにより、低階調表示部分 4 1 2では、全放電維持期間のうち所定割合の時間（少なくとも 1 0分の 1以上の時間）において維持放電が行われる。

本実施の形態においても、第 5の実施の形態と同様の作用によって、放電空間内の不純物ガス濃度は低下せず、パネル割れの防止が図られる。そのため、不純物ガス濃度を考慮して通常使用に類する P D Pの寿命を適正に評価することができる。

なお、低階調表示部分 4 1 2は、その画像表示領域の周縁部に向かつて低階調となるようにグラデー.ション表示することも可能である。

上記各第 5〜第 7の実施の形態においては、図 4に示すフレーム内時分割階調表示方式における放電維持パルスの周期を T 0としたが、これよりも周期を短い T 1 とすることにより放電回数を増加させて寿命を加速させて寿命試験の期間を短縮させるようにしてもよい。この場合、放電回数の増加に伴うパネル内での発熱量が多くなると、パネル内での常時点灯部分（高階調表示部分）の位置や面積を調整することにより、場合によっては、水冷もしくは空冷による適切な冷却を施すことによりパ

34 ネル割れの問題を解消することができる。

また、上記第 6および第 7の実施の形態においては、常時点灯部分 4 0 1および高階調表示部分 4 1 1の配置パターンを図 1 3， 1 9に示すように画像表示領域 1 2 3の中心に配置するように行ったが、その配置パターンを、例えば、常時点灯部分 3 0 1， 3 1 1 (図 1 1 , 1 7 ) のようにするとともに、その残りの領域を点滅部分および低階調表示部分と置き換えて表示するパターンで行っても問題はない。点滅部分および低階調表示部分が画像表示領域の周縁部に配置されてさえいれば、上述したようにパネル割れの発生が抑制されるとともに不純物ガスの影響を考慮した通常使用に類する条件で P D Pの寿命試験を行うことができる ₍ (第 8の実施の形態）

上記第 1の実施の形態においては、評価用セル領域 2において P D P の寿命を評価するようにしていたが、評価用セル領域 2は、寿命評価だけではなく画像表示用セル領域 1の最適なエージング時間を予測するために用いることもできる。

以下、本発明の第 8の実施の形態に係る P D Pのエージング試験方法について説明する。なお、本第 8の実施の形態においては、第 1の実施の形態と同様の P D P 1 3 0と寿命試験装置 1 5 0を用い、寿命試験装置 1 5 0を評価用セル領域 2のエージング試験目的に使用する以外は、第 1の実施の形態と同様の構成であるため、その構成については説明を省略する。

通常、 P D Pは、製品として出荷する前に、一定時間のエージングが行われている。このエージングは、パネル内に吸着されている不純物ガス分子を取り除くために、 P D Pの全面を発光させるとともにそれが安定化するまで続ける操作のことを言う。すなわち、 P D Pの発光時におけるブラズマの作用で不純物ガス分子を脱離して、その不純物ガス分子をプラズマの作用が及ばない領域まで排除することによって、 p p pは、放電特性の安定化、および蛍光体の発光特性の安走化が行われる。

しかしながら、同一プロセスを経て製造された P D Pであっても製造

35 工程の誤差による製品のばらつきが生じて、最適なエージング時間がパネルによって異なりネル毎にエージング時間の過不足が生じやすい。そのため、それぞれのパネルに対する最適なエージング時間が求められる。

そこで、本実施の形態においては、予め評価用セル領域 2と画像表示用セル領域 1 とのエージング時間の相関性を求めておき、それぞれの P D Pにおいて、評価用セル領域 2のエージング時間を求めることによつて、画像表示用セル領域 1の最適なエージング時間を算出するようにしている。

図 1 5は、 P D P 1 3 0の評価用セル領域 2と隱像表示用セル領域 1 におけるエージング完全点灯電氐とエージング時間との関係を示すグラフである。なお、エージング完全点灯電圧とは、各セル領域 1 ， 2において、全てのセルが点灯するときの表示電極群と表示スキヤン電極群に印加された最小電圧である。

同図に示すように、評価用セル領域 2のエージング時完全点灯電圧（以下、「点灯電圧」という。）は、エージング時間とともに低下し、最終的に時間 T a以降、略 V aでサチュレートすることがわかる。すなわち、点灯電圧が V aで安定し始める最初の時間 T aが評価用セル領域 2における最適エージング時間.となる。

また、画像表示用セル領域 1 の点灯電圧もエージング時間とともに低下し、時間 T b以降、略 V bでサチュレートする。この時間 T bが、画像表示用セル領域 1の最適エージング時間となる。

ここでは、エージング最適時間 T aく T b、点灯電圧 V aく V bとなつており、同じパネル内にセル領域が形成されていても各セル領域 1 , 2のエージング特性が一致していないことがわかる。これは、各セル領域 1 , 2の放電領域の面積異なることによる各放電空間内の到達圧力の違い、プラズマが及ばない領域（表示領域の外周部など）の面積の違いなどによって、同一エージング条件であっても、各セルのエージング特性が異なると考えられるからである。

36 ここで、この時間 T aと時間 T bとの関係から以下の式が導き出される。

T a = α T b · · · ①

上記①式より、各セル領域 1， 2の相関関係を示す係数が求められる。このようにして、一度、評価用セル領域 2と画像表示用セル領域 1 との相関関係を示す係数なを求めておけば、それ以降では、パネル毎に評価用セル領域 2のエージング最適時間 T aを測定し、その値を αで割るのみで、画像表示用セル領域 1のエージング最適時間 T bを求めることができる。

これにより、パネル毎に微妙にずれる画像表示用セル領域 1の最適ェ一ジング時間を、評価用セル領域 2における最適エージング時間の測定によって推定することができるので、従来ではできなかったエージングの過不足を解消することができる。

なお、ここでは、最適エージング時間の推定を点灯電圧の測定結果を利用して行ったが、点灯電圧に限定されるものではなく、最も輝度劣化し易い青色蛍光体の輝度をエージング時間に対して測定し、その結果を最適エージング時間の推定に利用するようにしても良い。

(各実施の形態における変形例など）

なお、上記各第 1〜4の実施の形態は、必ずしも独立して実施する必要はなく、これらの各実施の形態における. P D Pの劣化を促進する方法を複数組み合わせることにより、 P D Pの寿命を示す輝度劣化および放電特性の変動による放電セルの誤動作等の出現をさらに早めることができる。また、各上記第 1〜4の実施の形態においては、放電パルス数の増加もしくは放電維持パルス電圧の増加により、パネル内での熱の発生に伴うパネル割れの問題や電流値の増加による耐圧の問題が懸念されるが、パネル内での点灯位置をアドレス選択により選択し、点灯面積を調整することにより、または、水冷もしくは空冷による適切な冷却を施すことにより実施することができる-。また、上記各第 1〜4の実施の形態での画面に表示する画像については、白色表示の固定画像の連続点灯が、

37 R， G , B色の蛍光体を有する一組のセルを常時点灯させることとなり好ましいが、第 3の実施の形態以外は任意の画像を表示しても問題はない。また、上記各実施の形態のサブフレームの数は、表示したい階調に合わせてその他の数のサブフレームに分けるようにしてもよい。

上記各第 5〜第 7実施の形態においては、図 4に示すフレーム内時分割階調表示方式における放電維持パルスの周期を T o , 電圧 V oとしたが、第 1〜4の実施の形態に示すようなパルスの周期を短くしたり、電圧を高めたりする P D Pの劣化促進方法を組み合わせることにより、寿命を加速させて寿命試騄の期間を短縮させるようにしてもよい。この場合、放電回数の増加などに伴ってパネル内での発熱量が多くことが考えられるが、パネル内での常時点灯部分（高階調表示部分）の位置や面積を調整したり、場合によっては、水冷もしくは空冷による適切な冷却を施したりすることによりパネル割れの問題を解消することができる。

また、第 5〜 7の実施形態においては、寿命試験を通常のフレーム内時分割諧調表示方式を用いて行っていたが、これに限られず、第 1〜4 の実施の形態のように、画像表示用セルと評価用セルを一枚のガラス基板上に設け、いずれかのセルにおいて寿命を促進する駆動方法を用いて寿命試験を行っても良い。このようにすれば、パネル割れを防止しつつ通常使用に類するプラズマディスプレイパネルの寿命を行うことができる。

また、上記第 6および第 7の実施の形態においては、常時点灯部分 4 0 1および高階調表示部分 4 1 1の配置パターンを図 1 3 , 1 9に示すように画像表示領域 1 2 3の中心に配置するように行ったが、例えば、第 5の実施の形態で説明した、図 1 0および図 1 1 に示す常時点灯部分 4 1 1 と置き換えるとともに、残りの領域を点滅部分 4 0 2および低階調表示部分 4 1 2と置き換えて表示するパターンなどで行っても問題はなく、点滅部分 4 0 2および低階調表示部分 4 1 2が画像表示領域の周縁部に配置されてさえいれば、上述したようにパネル割れの発生が抑制されるとともに不純物ガスの影響を考慮した通常使用に類する条件で P

38 D Pの寿命試験を行うことができる。産業上の利用可能性本発明に係るプラズマディスプレイパネルは、特に低コストを要求されるディスプレイパネルに有効である。

39

Claims

請求の範囲

1 . 複数の放電セルがマトリックス状に形成された、画像表示を行うための第 1 のセル領域と、

当該第 1のセル領域とは異なる領域であって、複数の放電セルがマトリックス状に形成された、性能評価するための第 2のセル領域とを備えたこと

を特徴とするプラズマディスプレイパネル。

2 . 前記第 1および第 2のセル領域は、当該各セル領域の全セルで発光させるために電圧を印加する電極群を有し、前記第 1のセル領域と前記第 2のセル領域とは、パネル内のそれぞれ独立して気密封止された放電空間内部に配置されていること

を特徴とする請求項 1に記載のプラズマディスプレイパネル。

3 . 前記第 1のセル領域の電極群は、前記第 2のセル領域の電極群と互いに独立駆動できるように形成されていること

を特徴とする請求項 2に記載のプラズマディスプレイパネル。

4 . 前記第 1のセル領域および第 2のセル領域が配置されている各放電空間には、それぞれ不活性ガスからなる放電ガスが封入されているとともに、前記第 2のセル領域が配置されている放電空間には、当該セルの劣化を促進する放電ガスが封入されている

ことを特徴とする請求項 2または 3に記載のプラズマディスプレイパネル。

5 . 前記第 2のセル領域が配置されている放電空間に封入されている放電ガスは、前記第 1のセル領域が配置されている放電空間に封入されている放電ガスと比較して質量が小さいこと

40 を特徴とする請求項 4に記載のプラズマディスプレイパネル。

6 . 前記第 2のセル領域が配置されている放電空間に封入されている放電ガスは、前記第 1のセル領域が配置されている放電空間に封入されている放電ガスと比較して、低い圧力で放電ガスが封入されていること

を特徴とする請求項 4または 5に記載のプラズマディスプレイパネル ₍

7 . 複数の放電セルがマトリックス状に形成された、画像表示を行うための第 1のセル領域と、当該第 1の.セル領域とは異なる領域であつて、複数の放電セルがマトリックス状に形成された、寿命特性を評価するための第 2のセル領域とを備えるプラズマディスプレイパネルを組み立てる第 1のステップと、

前記第 2のセル領域を所定の駆動方法を用いて駆動して寿命特性を評価する第 2のステップとを有すること

を特徴とするプラズマディスプレイパネルの寿命試験方法。

8 . 前記駆動方法は、前記第 1 のセル領域に画像を表示する駆動方法と比較して、前記第 2のセル領域の劣化をより促進する駆動方法であること

を特徴とする請求項 7に記載のプラズマディスプレイパネルの寿命試験方法。

9 . 複数の放電セルがマトリックス状に形成された、画像表示を行うための第 1のセル領域と、当該第 1のセル領域とは異なる領域であつて、複数の放電セルがマトリックス状に形成された、エージング最適時間を評価するための第 2のセル領域とを備えるプラズマディスプレイパネルを組み立 τる第 1のステップと、

前記第 2のセル領域を所定の駆動方法を用いて駆動してその最適なェ

41 一ジング時間を評価する第 2のステップと、

前記第 2のセル領域の最適エージング時間に準じて、前記第 1のセル領域をエージングする第 3のステップとを有すること

を特徴とするプラズマディスプレイパネルの製造方法。

1 0 . プラズマディスプレイパネルを対象として劣化促進する寿命試験方法であって、

試験対象のプラズマディスプレイパネルをフレーム内時分割階調表示方式で駆動して劣化促進させるとともに、試験時に適用するフレーム内時分割階調表示方式の時分割表示パターンは、 1 フレーム期間にァドレス放電を少なくとも 1回行うアドレス期間を含み、かつ、残余の放電維持期間における放電回数が、プラズマディスプレイパネルの通常使用時に適用されるフレーム内時分割階調表示方式のそれに比して多く含む設定とされていること

1 1 . 試験時における前記放電維持期間に印加される放電維持パルスの周期は、プラズマディスプレイパネルの通常使用時に適用されるフレーム内時分割表示方式のそれに比して短い設定とされていることを特徴とする請求項 1 0に記載のプラズマディスプレイパネルの寿命試験方法。

1 2 . 試験時における前記 1 フレーム期間に占める前記ァドレス期間の合計長さは、プラズマディスプレイパネルの通常使用時に適用されるフレーム内時分割表示方式のそれに比して短い設定とされていること

を特徴とする請求項 1' 1 に記載のプラズマディスプレイパネルの寿命試験方法。

42

1 3 . 試験時における前記 1 フレーム期間内のアドレス期間の合計数は、プラズマディスプレイパネルの通常使用時に適用されるフレーム内時分割表示方式のそれに比して少ない設定とされていること

を特徴とする請求項 1 2に記載のプラズマディスプレイパネルの寿命試験方法。

1 4 . 試験時における前記アドレス期間において、プラズマディスプレイパネルの有する複数本の電極からなる電極群に対して行われるァドレス放電は、当該電極群のうち 2本以上の電極に対して同時に行われること

を特徴とする請求項 1 2または 1 3に記載のプラズマディスプレイパネルの寿命試験方法。

1 5 . プラズマディスプレイパネルを対象として劣化促進する寿叩試験方法であって、

試験対象のプラズマディスプレイパネルをフレーム内時分割階調表示方式で駆動して劣化促進させるとともに、試験時に適用するフレーム内時分割階調表示方式の時分割表示パターンは、 1 フレーム期間にァドレス放電を少なくとも 1回行うアドレス期間を含み、かつ、残余の放電維持期間に印加する放電維持パルス電圧が、プラズマディスプレイパネルの通常使用時に適用されるフレーム内時分割階調表示方式のそれに比して高い設定とされていること

1 6 . プラズマディスプレイパネルを対象として劣化促進する寿命試験装置であって、

試験対象のプラズマディスプレイパネルを表示駆動する表示駆動手段と、

' 当該表示駆動手段をフレーム内時分割階調表示方式で駆動するように.

43 制御するとともに、試験時に適用するフレーム内時分割階調表示方式の時分割表示パターンにおいて、 1 フレーム期間にァドレス放電を少なくとも 1回行うアドレス期間を含み、かつ、残余の放電維持期間における放電回数が、プラズマディスプレイパネルの通常使用時に適用されるフレーム内時分割階調表示方式のそれに比して多くなるように制御する制御手段とを備えること

を特徴とするプラズマディスプレイパネルの寿命試験装置。

1 7 プラズマディスプレイパネルの寿命試験方法であって、0 . 試験対象のプラズマディスプレイパネルをフレーム内時分割階調表示方式を用いて駆動し、前記プラズマディスプレイパネルの画像表示領域における周縁部以外の部分領域には常時点灯を行う常時点灯画像を表示させ、前記画像表示領域における前記部分領域以外の領域には点灯および消灯を繰り返す点滅画像を表示させる

5 ことを特徴とするプラズマディスプレイパネルの寿命試験方法。

1 8 . 前記点滅画像は、所定の幅を有する帯状の点灯画像を所定方向に周期的にスクロール移動させて作製した画像である

ことを特徴とする請求項 1 7に記載のプラズマディスプレイパネルのひ寿命試験方法。 .

1 9 . 前記点滅画像は、点滅周期の 1周期のうち少なくとも 1 0 % の時間を点灯状態に保つようにした画像である

ことを特徴とする請求項 1 7または請求項 1 8記載のプラズマデイス5 プレイパネルの寿命試験方法。

2 0 . プラズマディスプレイパネルの寿命試験方法であって、試験対象のブラ.ズマデ.ィスプレイパネルをフレーム内時分割階調表示方式を用いて駆動し、前記プラズマディスプレイパネルの画像表示領域

44 における周縁部以外の部分領域には高階調で発光する高階調画像を表示させ、前記画像表示領域における前記部分領域以外の領域には低階調で発光する低階調画像を表示させる

ことを特徴とするプラズマディスプレイパネルの寿命試験方法。

2 1 . 画像信号を発生する信号発生手段を備え、. 当該信号発生手段から発生された信号に基づきプラズマディスプレイパネルを駆動表示することにより寿命試験するプラズマディスプレイパネルの寿命試験装置であって、

前記信号発生手段は、前記プラズマディスプレイパネルの画像表示領域における周縁部以外の部分領域には常時点灯を行う常時点灯画像を表示させ前記画像表示領域における前記部分領域以外の領域には点灯および消灯を繰り返す点滅画像を表示させる信号を発生させる

ことを特徴とするプラズマディスプレイパネルの寿命試験装置。

45