JPS639011A - 磁気記録媒体 - Google Patents
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Landscapes
- Lubricants (AREA)
- Magnetic Record Carriers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、真空蒸着やスパッタリング等の真空薄膜形成
技術等の手法により非磁性支持体上に強磁性金属薄膜を
磁性層として形成した、いわゆる強磁性金属薄膜型の磁
気記録媒体に関するものである。
技術等の手法により非磁性支持体上に強磁性金属薄膜を
磁性層として形成した、いわゆる強磁性金属薄膜型の磁
気記録媒体に関するものである。
本発明は、非磁性支持体上に強磁性金属薄膜を磁性層と
して形成してなる磁気記録媒体において、磁性層である
強磁性金属yi腹膜上パーフルオロカルボン酸バーフ゛
ルオロアルキルエステルを潤滑剤として被着し、 あらゆる使用条件下においても優れた走行性。
して形成してなる磁気記録媒体において、磁性層である
強磁性金属yi腹膜上パーフルオロカルボン酸バーフ゛
ルオロアルキルエステルを潤滑剤として被着し、 あらゆる使用条件下においても優れた走行性。
耐摩耗性、耐久性を発揮する磁気記録媒体を提供しよう
とするものである。
とするものである。
従来より磁気記録媒体としては、非磁性支持体上にr
F e 203+ COを含有する1−FC,O,。
F e 203+ COを含有する1−FC,O,。
Fes Oa、Coを含をするF e 20a、 ’r
F e 203とFe=04とのベルトライド化合
物、Coを含有するベルトライド化合物、CrO2等の
酸化物強磁性粉末あるいはFe、Co、Ni等を主成分
とする合金磁性粉末等の粉末磁性材料を塩化ビニル−酢
酸ビニル系共重合体、ポリエステル樹脂、ポリウレタン
樹脂等の有機バインダー中に分散せしめた磁性塗料を塗
布・乾燥することにより作製される塗布型の磁気記録媒
体が広く使用されている。
F e 203とFe=04とのベルトライド化合
物、Coを含有するベルトライド化合物、CrO2等の
酸化物強磁性粉末あるいはFe、Co、Ni等を主成分
とする合金磁性粉末等の粉末磁性材料を塩化ビニル−酢
酸ビニル系共重合体、ポリエステル樹脂、ポリウレタン
樹脂等の有機バインダー中に分散せしめた磁性塗料を塗
布・乾燥することにより作製される塗布型の磁気記録媒
体が広く使用されている。
これに対して、高密度磁気記録への要求の高まりととも
に、Co−Ni合金等の@磁性金属材料を、メッキや真
空薄膜形成技術(真空蒸着法やスパッタリング法、イオ
ンブレーティング法等)によってポリエステルフィルム
やポリイミドフィルム等の非磁性支持体上に直接被着し
た、いわゆる強磁性金属薄膜型の磁気記録媒体が提案さ
れ、注目を集めている。この強磁性金属薄膜型磁気記録
媒体は、抗磁力や角形比等に優れ、短波長での電磁変換
特性に優れるばかりでなく、磁性層の厚みを極めて薄く
することが可能であるため記録減磁や再生時の厚み損失
が著しく小さいこと、磁性層中に非磁性材である有機バ
インダーを混入する必要がないため磁性材料の充填密度
を高めることができること等、数々の利点を有している
。
に、Co−Ni合金等の@磁性金属材料を、メッキや真
空薄膜形成技術(真空蒸着法やスパッタリング法、イオ
ンブレーティング法等)によってポリエステルフィルム
やポリイミドフィルム等の非磁性支持体上に直接被着し
た、いわゆる強磁性金属薄膜型の磁気記録媒体が提案さ
れ、注目を集めている。この強磁性金属薄膜型磁気記録
媒体は、抗磁力や角形比等に優れ、短波長での電磁変換
特性に優れるばかりでなく、磁性層の厚みを極めて薄く
することが可能であるため記録減磁や再生時の厚み損失
が著しく小さいこと、磁性層中に非磁性材である有機バ
インダーを混入する必要がないため磁性材料の充填密度
を高めることができること等、数々の利点を有している
。
しかしながら、上述の強磁性金r!A薄膜型の磁気記録
媒体では、磁性層表面の平滑性が極めて良好であるため
に実質的な接触面積が大きくなり、凝着現象(いわゆる
はりつき)が起こり易くなったり摩擦係数が大きくなる
等、耐久性や走行性等に欠点が多く、その改善が大きな
課題となっている。
媒体では、磁性層表面の平滑性が極めて良好であるため
に実質的な接触面積が大きくなり、凝着現象(いわゆる
はりつき)が起こり易くなったり摩擦係数が大きくなる
等、耐久性や走行性等に欠点が多く、その改善が大きな
課題となっている。
一般に、磁気記録媒体は磁気信号の記録・再生の過程で
磁気ヘッドとの高速相対運動のもとにおかれ、その際走
行が円滑に、かつ安定な状態で行われなければならない
、また、磁気ヘッドとの接触による摩耗や損傷はなるべ
く少ないほうがよい。
磁気ヘッドとの高速相対運動のもとにおかれ、その際走
行が円滑に、かつ安定な状態で行われなければならない
、また、磁気ヘッドとの接触による摩耗や損傷はなるべ
く少ないほうがよい。
そこで例えば、上記磁気記録媒体の磁性層、すなわち強
磁性金属FifH!表面に潤滑剤を塗布して保護膜を形
成することにより、上記耐久性や走行性を改善すること
が試みられている。
磁性金属FifH!表面に潤滑剤を塗布して保護膜を形
成することにより、上記耐久性や走行性を改善すること
が試みられている。
ところで、上述のように潤滑剤を塗布して保護膜を形成
した場合には、この保護膜が磁性層である強磁性金属薄
膜に対して良好な密着性を示し、かつ高い潤滑効果を発
揮することが要求される。
した場合には、この保護膜が磁性層である強磁性金属薄
膜に対して良好な密着性を示し、かつ高い潤滑効果を発
揮することが要求される。
また、これら密着性や潤滑効果は、熱帯、亜熱帯地方等
のように高温多湿の条件下でも、寒冷地のように低温の
条件下でも優れたものでなければならない。
のように高温多湿の条件下でも、寒冷地のように低温の
条件下でも優れたものでなければならない。
しかしながら、従来広く用いられている潤滑剤の使用温
度範囲は限られており、特に、O〜−5℃のような低温
下では固体化または凍結するものが多く、充分にその潤
滑効果を発揮させることができなかった。
度範囲は限られており、特に、O〜−5℃のような低温
下では固体化または凍結するものが多く、充分にその潤
滑効果を発揮させることができなかった。
そこで本発明は、如何なる使用条件下においても密着性
や潤滑性が保たれ、かつ長期に亘り潤滑効果が持続する
潤滑剤を提供し、走行性、耐久性に優れた磁気記録媒体
を提供することを目的とする。
や潤滑性が保たれ、かつ長期に亘り潤滑効果が持続する
潤滑剤を提供し、走行性、耐久性に優れた磁気記録媒体
を提供することを目的とする。
本発明者は、上述の目的を達成せんものと鋭意研究の結
果、パーフルオロカルボン酸パーフルオロアルキルエス
テルが広い温度範囲に亘って良好な潤滑効果を発揮する
ことを見出し本発明を完成するに至ったものであって、
非磁性支持体上に強磁性金属薄膜を形成し、前記強磁性
金属薄膜上にパーフルオロカルボン酸パーフルオロアル
キルエステルを含む潤滑剤を被着したことを特徴とする
ものである。
果、パーフルオロカルボン酸パーフルオロアルキルエス
テルが広い温度範囲に亘って良好な潤滑効果を発揮する
ことを見出し本発明を完成するに至ったものであって、
非磁性支持体上に強磁性金属薄膜を形成し、前記強磁性
金属薄膜上にパーフルオロカルボン酸パーフルオロアル
キルエステルを含む潤滑剤を被着したことを特徴とする
ものである。
本発明で潤滑剤として使用されるパーフルオロカルボン
酸パーフルオロアルキルエステルは、一般式 %式%(1) (但し、式中n≧3.0≦j≦5.m≧3である。)で
表される化合物である。
酸パーフルオロアルキルエステルは、一般式 %式%(1) (但し、式中n≧3.0≦j≦5.m≧3である。)で
表される化合物である。
上記パーフルオロカルボン酸パーフルオロアルキルエス
テルは、相当するカルボン酸クロライドとパーフルオロ
アルコールとをトリエチルアミンのような塩基の存在下
で容易に合成することができ、減圧蒸留あるいは再結晶
等の手段を用いて精製を行うことによって得られる。
テルは、相当するカルボン酸クロライドとパーフルオロ
アルコールとをトリエチルアミンのような塩基の存在下
で容易に合成することができ、減圧蒸留あるいは再結晶
等の手段を用いて精製を行うことによって得られる。
ここで、上記一般式N)において、パーフルオロカルボ
ン酸のアルキル基の炭素数nは3以上の整数、パーフル
オロアルキルのメチレン鎖の炭素数jはOから5までの
整数、パーフルオロアルキル基の炭素数mは3以上の整
数であることが望ましい。これら各炭素数が前述の範囲
を外れると所定の潤滑効果を期待することができない。
ン酸のアルキル基の炭素数nは3以上の整数、パーフル
オロアルキルのメチレン鎖の炭素数jはOから5までの
整数、パーフルオロアルキル基の炭素数mは3以上の整
数であることが望ましい。これら各炭素数が前述の範囲
を外れると所定の潤滑効果を期待することができない。
上述のようにして合成されるパーフルオロカルボン酸パ
ーフルオロアルキルエステルは、単独で潤滑剤として用
いてもよいが、従来公知の潤滑剤と混合して用い、さら
に使用温度帯域の拡大を図るようにしてもよい。
ーフルオロアルキルエステルは、単独で潤滑剤として用
いてもよいが、従来公知の潤滑剤と混合して用い、さら
に使用温度帯域の拡大を図るようにしてもよい。
使用される潤滑剤としては、脂肪酸またはその金属塩、
脂肪酸アミド、脂肪酸エステル、脂肪族アルコールまた
はそのアルコキシド、脂肪族アミン、多価アルコール、
ソルビタンエステル、マンニラタンエステル、硫黄化脂
肪酸、脂肪族メルカプタン、変性シリコーンオイル、パ
ーフルオロアルキルエチレンオキシド、パーフルオロポ
リエーテル類、高級アルキルスルホン酸またはその金属
塩、パーフルオロアルキルスルホン酸またはそのアンモ
ニウム塩あるいはその金属塩、パーフルオロアルキルカ
ルボン酸またはその金属塩等が例示される。゛ 特に、一般式C−Fz−+C0OR’ (但し、式中
mは6〜10の整数を表し、R゛は炭素数1〜25の炭
化水素基を表す。)で示されるパーフルオロアルキルカ
ルボン酸エステルや一般式R”COO(CHz)=Cm
Fzk、’+ (但し、R2は炭素数1〜25の炭化水
素基を表し、0≦j≦5、k≧3である。)も低温特性
が良好であることから上記パーフルオロカルボン酸パー
フルオロアルキルエステルと併用するのに好適である。
脂肪酸アミド、脂肪酸エステル、脂肪族アルコールまた
はそのアルコキシド、脂肪族アミン、多価アルコール、
ソルビタンエステル、マンニラタンエステル、硫黄化脂
肪酸、脂肪族メルカプタン、変性シリコーンオイル、パ
ーフルオロアルキルエチレンオキシド、パーフルオロポ
リエーテル類、高級アルキルスルホン酸またはその金属
塩、パーフルオロアルキルスルホン酸またはそのアンモ
ニウム塩あるいはその金属塩、パーフルオロアルキルカ
ルボン酸またはその金属塩等が例示される。゛ 特に、一般式C−Fz−+C0OR’ (但し、式中
mは6〜10の整数を表し、R゛は炭素数1〜25の炭
化水素基を表す。)で示されるパーフルオロアルキルカ
ルボン酸エステルや一般式R”COO(CHz)=Cm
Fzk、’+ (但し、R2は炭素数1〜25の炭化水
素基を表し、0≦j≦5、k≧3である。)も低温特性
が良好であることから上記パーフルオロカルボン酸パー
フルオロアルキルエステルと併用するのに好適である。
さらには、へより厳しい使用条件に対処し、かつ潤滑効
果を持続させるために、重量比で30;70〜70:3
0程度の配合比で極圧剤を併用してもよい。
果を持続させるために、重量比で30;70〜70:3
0程度の配合比で極圧剤を併用してもよい。
上記極圧剤は、境界潤滑領域において部分的に金属接触
を生じたとき、これに伴う摩擦熱によって金属面と反応
し、反応生成物被膜を形成することにより摩擦・摩耗防
止作用を行うものであって、リン系極圧剤、イオウ系掻
圧剤、ハロゲン系極圧剤、有機金属系極圧剤、複合型極
圧剤等が知られている。
を生じたとき、これに伴う摩擦熱によって金属面と反応
し、反応生成物被膜を形成することにより摩擦・摩耗防
止作用を行うものであって、リン系極圧剤、イオウ系掻
圧剤、ハロゲン系極圧剤、有機金属系極圧剤、複合型極
圧剤等が知られている。
具体的に例示すれば、上記リン系極圧剤としては、トリ
ブチルホスフェート、トリオクチルホスフェート、トリ
ー2−エチルへキシルホスフェート、トリラウリルホス
フェート、トリオレイルホスフェート、ジブチルホスフ
ェート、ジオクチルホスフェート ジー2−エチルへキ
シルホスフェート、ジラウリルホスフェート、ジオレイ
ルホスフェート等のリン酸エステル、トリブチルホスフ
ァイト、トリオクチルホスファイト、トリー2−エチル
へキシルホスファイト、トリラウリルホスファイト、ト
リオレイルホスファイト、ジブチルホスファイト、ジオ
クチルホスファイト、ジー2−エチルへキシルホスファ
イト、ジラウリルホスファイト、ジオレイルホスファイ
ト等の亜リン酸エステル、ジブチルホスフェートブチル
アミン塩。
ブチルホスフェート、トリオクチルホスフェート、トリ
ー2−エチルへキシルホスフェート、トリラウリルホス
フェート、トリオレイルホスフェート、ジブチルホスフ
ェート、ジオクチルホスフェート ジー2−エチルへキ
シルホスフェート、ジラウリルホスフェート、ジオレイ
ルホスフェート等のリン酸エステル、トリブチルホスフ
ァイト、トリオクチルホスファイト、トリー2−エチル
へキシルホスファイト、トリラウリルホスファイト、ト
リオレイルホスファイト、ジブチルホスファイト、ジオ
クチルホスファイト、ジー2−エチルへキシルホスファ
イト、ジラウリルホスファイト、ジオレイルホスファイ
ト等の亜リン酸エステル、ジブチルホスフェートブチル
アミン塩。
ジブチルホスフェートオクチルアミン塩、ジブチルホス
フェートステアリルアミン塩、ジオクチルホスフェート
ブチルアミン塩、ジオクチルホスフェートオクチルアミ
ン塩、ジオクチルホスフェートラウリルアミン塩、ジオ
クチルホスフェートステアリルアミン塩、ジー2−エチ
ルへキシルホスフェートブチルアミン塩、ジー2−エチ
ルへキシルホスフェートオクチルアミン塩、ジー2−エ
チルヘキシルホスフェートラウリルアミン塩、ジー2−
エチルへキシルホスフェートステアリルアミン塩、ジラ
ウリルホスフェートブチルアミン塩。
フェートステアリルアミン塩、ジオクチルホスフェート
ブチルアミン塩、ジオクチルホスフェートオクチルアミ
ン塩、ジオクチルホスフェートラウリルアミン塩、ジオ
クチルホスフェートステアリルアミン塩、ジー2−エチ
ルへキシルホスフェートブチルアミン塩、ジー2−エチ
ルへキシルホスフェートオクチルアミン塩、ジー2−エ
チルヘキシルホスフェートラウリルアミン塩、ジー2−
エチルへキシルホスフェートステアリルアミン塩、ジラ
ウリルホスフェートブチルアミン塩。
ジラウリルホスフェートオクチルアミン塩、ジラウリル
ホスフェートラウリルアミン塩、ジラウリルホスフェー
トステアリルアミン塩、ジオレイルホスフェートブチル
アミン塩、ジオレイルホスフェートオクチルアミン塩、
ジオレイルホスフェートラウリルアミン塩、ジオレイル
ホスフェートステアリルアミン塩等のリン酸エステルア
ミン塩が挙げられる。
ホスフェートラウリルアミン塩、ジラウリルホスフェー
トステアリルアミン塩、ジオレイルホスフェートブチル
アミン塩、ジオレイルホスフェートオクチルアミン塩、
ジオレイルホスフェートラウリルアミン塩、ジオレイル
ホスフェートステアリルアミン塩等のリン酸エステルア
ミン塩が挙げられる。
上記イオウ系極圧剤としては、硫化抹香鯨油、硫黄化ジ
ペンテン等不飽和結合を有する鉱油、油脂や脂肪酸等に
硫黄を加えて加熱することにより製造される硫化油脂類
、二硫化ジベンジル、二硫化ジフェニル、二硫化ジ−t
−ブチル、二硫化ジー5ee−ブチル、二硫化ジ−n−
ブチル、二硫化ジーむ−オクチル、二硫化ジエチル等の
ジサルファイド類、硫化ベンジル、硫化ジフェニル、硫
化ジビニル、硫化ジメチル、硫化ジエチル、硫化ジ−t
−ブチル、硫化ジー5ec−ブチル、硫化ジ−n−ブチ
ル等のモノサルファイド類、三硫化ジメチル、三硫化ジ
−t−ブチル、ポリ硫化ジ−t−ノニル、オレフィンポ
リサルファイド等のポリサルファイド類、一般式 %式%() ゛ (但し、式中Rは炭化水素基を表す。)で示される
チオカーボネート類、元素硫黄等が挙げられる。
ペンテン等不飽和結合を有する鉱油、油脂や脂肪酸等に
硫黄を加えて加熱することにより製造される硫化油脂類
、二硫化ジベンジル、二硫化ジフェニル、二硫化ジ−t
−ブチル、二硫化ジー5ee−ブチル、二硫化ジ−n−
ブチル、二硫化ジーむ−オクチル、二硫化ジエチル等の
ジサルファイド類、硫化ベンジル、硫化ジフェニル、硫
化ジビニル、硫化ジメチル、硫化ジエチル、硫化ジ−t
−ブチル、硫化ジー5ec−ブチル、硫化ジ−n−ブチ
ル等のモノサルファイド類、三硫化ジメチル、三硫化ジ
−t−ブチル、ポリ硫化ジ−t−ノニル、オレフィンポ
リサルファイド等のポリサルファイド類、一般式 %式%() ゛ (但し、式中Rは炭化水素基を表す。)で示される
チオカーボネート類、元素硫黄等が挙げられる。
上記ハロゲン系極圧剤としては、臭化アリル。
臭化オクタデシル、臭化シクロヘキシル、臭化ステアリ
ル、臭化ベンジル等の臭素化合物、ヨウ化ベンジル、ヨ
ウ化アリル、ヨウ化ブチル、ヨウ化オクタデシル、ヨウ
化シクロヘキシル等のヨウ素化合物、ヘキサクロロエタ
ン、モノクロルエタン。
ル、臭化ベンジル等の臭素化合物、ヨウ化ベンジル、ヨ
ウ化アリル、ヨウ化ブチル、ヨウ化オクタデシル、ヨウ
化シクロヘキシル等のヨウ素化合物、ヘキサクロロエタ
ン、モノクロルエタン。
塩素化パラフィン、塩素化ジフェニル、塩素化油脂、メ
チルトリクロロステアレートペンタクロロペンタジェン
酸、ヘキサクロルナフテン酸化合物のエステル、ヘキサ
クロルナフテン酸化合物のイミド誘導体等の塩素化合物
が挙げられる。
チルトリクロロステアレートペンタクロロペンタジェン
酸、ヘキサクロルナフテン酸化合物のエステル、ヘキサ
クロルナフテン酸化合物のイミド誘導体等の塩素化合物
が挙げられる。
上記有機金属系極圧剤としては、ジイソブチルジチオリ
ン酸亜鉛、イソブチルペンチルジチオリン酸亜鉛、イソ
プロピル−1−メチルブチルジチオリン酸亜鉛、イソブ
チルノニルフェニルジチオリン酸亜鉛、イソブチルヘプ
チルフェニルジチオリン酸亜鉛、ジヘプチルフェニルジ
チオリン酸亜鉛、ジノニルフェニルジチオリン酸亜鉛、
モリブデンジチオフォスフェート等のチオリン酸塩類、
ジメチルジチオカルバミン酸亜鉛、ジエチルジチオカル
バミン酸亜鉛、ジブチルジチオカルバミン酸亜鉛、エチ
ルフェニルジチオカルバミン酸亜鉛。
ン酸亜鉛、イソブチルペンチルジチオリン酸亜鉛、イソ
プロピル−1−メチルブチルジチオリン酸亜鉛、イソブ
チルノニルフェニルジチオリン酸亜鉛、イソブチルヘプ
チルフェニルジチオリン酸亜鉛、ジヘプチルフェニルジ
チオリン酸亜鉛、ジノニルフェニルジチオリン酸亜鉛、
モリブデンジチオフォスフェート等のチオリン酸塩類、
ジメチルジチオカルバミン酸亜鉛、ジエチルジチオカル
バミン酸亜鉛、ジブチルジチオカルバミン酸亜鉛、エチ
ルフェニルジチオカルバミン酸亜鉛。
ジベンジルジチオカルバミン酸亜鉛、ジメチルジチオカ
ルバミン酸亜鉛、ジメチルジチオカルバミン鍍銅、ジメ
チルジチオカルバミン酸鉄、ジエチルジチオカルバミン
酸セレン、ジエチルジチオカルバミン酸銀等のチオカル
バミン酸塩類、モリブデン、アンチモン等の金属アルキ
ルジチオカルバミン酸塩類、等が挙げられる。
ルバミン酸亜鉛、ジメチルジチオカルバミン鍍銅、ジメ
チルジチオカルバミン酸鉄、ジエチルジチオカルバミン
酸セレン、ジエチルジチオカルバミン酸銀等のチオカル
バミン酸塩類、モリブデン、アンチモン等の金属アルキ
ルジチオカルバミン酸塩類、等が挙げられる。
上記複合型極圧剤としては、ジー2−エチルへキシルチ
オリン酸アミン等のジアルキルチオリン酸アミン類、塩
化プロピルホスフェート、臭化プロピルホスフェート2
ヨウ化プロピルホスフェート、塩化ブチルホスフェー
ト、臭化ブチルホスフェート、ヨウ化ブチルホスフェー
ト等に代表されるハロゲン化アルキルのリン酸エステル
類、クロロナフサザンテート等の他、一般式 (但し、各一般式中Rは水素原子またはアルキル基、ア
ルケニル基、アリール基を表す、)で示されるチオフォ
スフェート類、一般式(但し、式中Rは水素原子または
アルキル基、アルケニル基、アリール基を表す。) で示されるチオフォスフェート類等が効果が高い。
オリン酸アミン等のジアルキルチオリン酸アミン類、塩
化プロピルホスフェート、臭化プロピルホスフェート2
ヨウ化プロピルホスフェート、塩化ブチルホスフェー
ト、臭化ブチルホスフェート、ヨウ化ブチルホスフェー
ト等に代表されるハロゲン化アルキルのリン酸エステル
類、クロロナフサザンテート等の他、一般式 (但し、各一般式中Rは水素原子またはアルキル基、ア
ルケニル基、アリール基を表す、)で示されるチオフォ
スフェート類、一般式(但し、式中Rは水素原子または
アルキル基、アルケニル基、アリール基を表す。) で示されるチオフォスフェート類等が効果が高い。
上述の極圧剤は単体で使用してもよいが、2種以上を混
合して使用することも可能である。
合して使用することも可能である。
これらパーフルオロカルボン酸パーフルオロアルキルエ
ステルを含有する潤滑剤層を強磁性金属薄膜上に付着さ
せる方法としては、上記潤滑剤を溶媒に溶解して得られ
た溶液を強磁性金属薄膜の表面に塗布もしくは噴霧する
か、あるいは逆にこの溶液中に強磁性金属TitWi、
を浸漬し乾燥すればよい。
ステルを含有する潤滑剤層を強磁性金属薄膜上に付着さ
せる方法としては、上記潤滑剤を溶媒に溶解して得られ
た溶液を強磁性金属薄膜の表面に塗布もしくは噴霧する
か、あるいは逆にこの溶液中に強磁性金属TitWi、
を浸漬し乾燥すればよい。
ここで、その塗布量は、0.5■/d〜100■/dで
あるのが好ましく、1■/d〜20■/dであるのがよ
り好ましい。この塗布量があまり少なすぎると、摩擦係
数の低下、耐摩耗性・耐久性の向上という効果が顕れず
、一方あまり多すぎると、摺動部材と強磁性金属薄膜と
の間ではりつき現象が起こり、却って走行性が悪くなる
。
あるのが好ましく、1■/d〜20■/dであるのがよ
り好ましい。この塗布量があまり少なすぎると、摩擦係
数の低下、耐摩耗性・耐久性の向上という効果が顕れず
、一方あまり多すぎると、摺動部材と強磁性金属薄膜と
の間ではりつき現象が起こり、却って走行性が悪くなる
。
あるいは、上述の潤滑剤、極圧剤の他、必要に応じて防
錆剤を併用してもよい。
錆剤を併用してもよい。
一般に、強磁性金属薄膜は金属材料により形成されるこ
とがら請易く、上記防錆剤の使用により耐蝕性が大幅に
改善される。したがって、上記パーフルオロカルボン酸
パーフルオロアルキルエステルを含有する潤滑剤の有す
る潤滑作用と相俟って、磁気記録媒体の耐久性を向上す
ることができる。
とがら請易く、上記防錆剤の使用により耐蝕性が大幅に
改善される。したがって、上記パーフルオロカルボン酸
パーフルオロアルキルエステルを含有する潤滑剤の有す
る潤滑作用と相俟って、磁気記録媒体の耐久性を向上す
ることができる。
使用可能な防錆剤としては、通常この種の磁気記録媒体
の防錆剤として使用されるものであれば如何なるもので
あってもよく、例えばフェノール類、ナフトール類、キ
ノン類、ジアリールケトン、窒素原子を含む複素環化合
物、酸素原子を含む複素環化合物、硫黄原子を含む複素
環化合物、メルカプト基を有する化合物、チオカルボン
酸またはその塩、チアゾール系化合物等が挙げられる。
の防錆剤として使用されるものであれば如何なるもので
あってもよく、例えばフェノール類、ナフトール類、キ
ノン類、ジアリールケトン、窒素原子を含む複素環化合
物、酸素原子を含む複素環化合物、硫黄原子を含む複素
環化合物、メルカプト基を有する化合物、チオカルボン
酸またはその塩、チアゾール系化合物等が挙げられる。
具体的に例示すれば次の通りである。
先ず、上記フェノール類としては、二価フェノール、ア
ルキルフェノールあるいはニトロソフェノールが挙げら
れる。
ルキルフェノールあるいはニトロソフェノールが挙げら
れる。
上記二価フェノールとしては、ハイドロキノン。
レゾルシン、カテコール等の純フェノール類、及びそれ
らのアールキル、アミノ、ニトロ、ハロゲノ置換体、例
えば、2−メチルハイドロキノン、4−メチルレゾルシ
ノール、5−メチルレゾルシノール、4−メチルピロカ
テコール、2.5−ジメチルハイドロキノン、4,6−
ジメチルレゾルシノール、2.5−ジメチルレゾルシノ
ール、2−イソプロピル−5−メチルハイドロキノン、
2−tert−ブチルハイドロキノン、2.5−ジーt
ert−ブチルハイドロキノン、 4−tert−ブ
チルカテコール。
らのアールキル、アミノ、ニトロ、ハロゲノ置換体、例
えば、2−メチルハイドロキノン、4−メチルレゾルシ
ノール、5−メチルレゾルシノール、4−メチルピロカ
テコール、2.5−ジメチルハイドロキノン、4,6−
ジメチルレゾルシノール、2.5−ジメチルレゾルシノ
ール、2−イソプロピル−5−メチルハイドロキノン、
2−tert−ブチルハイドロキノン、2.5−ジーt
ert−ブチルハイドロキノン、 4−tert−ブ
チルカテコール。
2−アミルゾルシノール、2−レゾルシノール。
2.5−ジクロロヒドロキノン等が挙げられる。
上記アルキルフェノールとは、−価フエノールのアルキ
ル置換体を指し、例えば、0−クレゾール。
ル置換体を指し、例えば、0−クレゾール。
m−クレゾール、p−クレゾール、0−エチルフェノー
ル、m−エチルフェノール、p−エチルフェノール、2
.3−ジメチルフェノール、2,5−ジメチルフェノー
ル、2,6−ジメチルフェノール。
ル、m−エチルフェノール、p−エチルフェノール、2
.3−ジメチルフェノール、2,5−ジメチルフェノー
ル、2,6−ジメチルフェノール。
3.4−ジメチルフェノール、3.5−ジメチルフェノ
ール、 2,4.6−トリメチルフェノール、 2
.4.5−トリメチルフェノール、5−イソプロピル−
2−メチルフェノール+1)−tert−ブチルフェノ
ール、2,6−ジーter t−ブチル−p−クレゾー
ル。
ール、 2,4.6−トリメチルフェノール、 2
.4.5−トリメチルフェノール、5−イソプロピル−
2−メチルフェノール+1)−tert−ブチルフェノ
ール、2,6−ジーter t−ブチル−p−クレゾー
ル。
4.4′−メチレンビス2.6−シーtsrt−ブチル
フェノール、2.6−シメチルー4 tert−ブチ
ルフェノール、 2,4.6−トリーtert−ブチ
ルフェノール等が挙げられる。
フェノール、2.6−シメチルー4 tert−ブチ
ルフェノール、 2,4.6−トリーtert−ブチ
ルフェノール等が挙げられる。
上記ニトロソフェノールとしては、例えば、4−ニトロ
ソ−2−メトキシ−1−フェノール、4−ニトロソ−2
−エトキシ−1−フェノール、6−ニトロソ−〇−クレ
ゾール、4−ニトロソ−m−クレゾール、0−ニトロソ
フェノール、2−ニトロソフェノール、2−ニトロソレ
ゾルシン、4−ニトロソレゾルシン、p−ニトロソフェ
ノール等が挙げられる。
ソ−2−メトキシ−1−フェノール、4−ニトロソ−2
−エトキシ−1−フェノール、6−ニトロソ−〇−クレ
ゾール、4−ニトロソ−m−クレゾール、0−ニトロソ
フェノール、2−ニトロソフェノール、2−ニトロソレ
ゾルシン、4−ニトロソレゾルシン、p−ニトロソフェ
ノール等が挙げられる。
次に、上記ナフトール類としては、α−ナフトール、β
−ナフトール、1,2−ナフタレンジオール。
−ナフトール、1,2−ナフタレンジオール。
1.3−ナフタレンジオール、1,4−ナフタレンジオ
ール、1,5−ナフタレンジオール、1.7−ナフタレ
ンジオール、1.8−ナフタレンジオール、2,3−ナ
フタレンジオール、 1,4.5−ナフタレントリオー
ル、 L2゜5.8−ナフタレンテトラオール等の純ナ
フトール類、及びニトロ、ニトロソ、アミノ、ハロゲノ
置換ナフトール類、例えば1−クロロ−2−ナフトール
、2゜4−ジクロロ−1−ナフトール、1−ニトロ−2
−ナフトール、l、6−シニトロー2−ナフトール、l
−ニトロソ−2=ナフトール、2−ニトロソ−1−ナフ
トール、1−アミノ−2−ナフトール等が挙げられる。
ール、1,5−ナフタレンジオール、1.7−ナフタレ
ンジオール、1.8−ナフタレンジオール、2,3−ナ
フタレンジオール、 1,4.5−ナフタレントリオー
ル、 L2゜5.8−ナフタレンテトラオール等の純ナ
フトール類、及びニトロ、ニトロソ、アミノ、ハロゲノ
置換ナフトール類、例えば1−クロロ−2−ナフトール
、2゜4−ジクロロ−1−ナフトール、1−ニトロ−2
−ナフトール、l、6−シニトロー2−ナフトール、l
−ニトロソ−2=ナフトール、2−ニトロソ−1−ナフ
トール、1−アミノ−2−ナフトール等が挙げられる。
上記キノン類としては、p−ベンゾキノン、0−ベンゾ
キノン、1,2−ナフトキノン、l、4−ナフトキノン
、2.6−ナフトキノン2 アントラキノン、9゜10
−フェナントレンキノン、ジフェノキノン等の置換基の
ないキノン類、メチル−p−ベンゾキノン、2.3−ジ
メチル−p−ベンゾキノン、2−メチル−1,4−ナフ
トキノン、2−メチルアントラキノン等のメチルキノン
類、2.5−ジヒドロキシ−p−ベンゾキノン、テトラ
ヒドロキシ−p−ベンゾキノン、5−ヒドロキシ−1,
4−ナフトキノン、2.3−ジヒドロキシ−1,4−ナ
フトキノン、5.8−ジヒドロキシ−114−ナフトキ
ノン、2−ヒドロキシアントラキノン、1゜2−ジヒド
ロキシアントラキノン、 L2.3−トリヒドロキシア
ントラキノン、 1,2.4−1−ジヒドロキシアント
ラキノン、 1.2.5−)ジヒドロキシアントラキノ
ン、 1,2.6− トリヒドロキシアントラキノン、
1゜2.7−)ジヒドロキシアントラキノン等のヒドロ
キシキノン類、2−アミノアントラキノン、1,2−ジ
アミノアントラキノン等のアミノキノン類、1−ニトロ
アントラキノン51.5−ジニトロアントラキノン等の
ニトロキノン類、2.6−ジクロロ−p−ベンゾキノン
、テトラクロロ−p−ベンゾキノン、テトラブロモ−p
−ベンゾキノン等のハロゲノキノン類、あるいは2種以
上の置換基を有するキノン類、例えば2,5−ジクロロ
−3,6−ジヒドロキシ−p−ベンゾキノン、1−メチ
ル−2−ヒドロキシ−1,4−ナフトキノン等が挙げら
れる。
キノン、1,2−ナフトキノン、l、4−ナフトキノン
、2.6−ナフトキノン2 アントラキノン、9゜10
−フェナントレンキノン、ジフェノキノン等の置換基の
ないキノン類、メチル−p−ベンゾキノン、2.3−ジ
メチル−p−ベンゾキノン、2−メチル−1,4−ナフ
トキノン、2−メチルアントラキノン等のメチルキノン
類、2.5−ジヒドロキシ−p−ベンゾキノン、テトラ
ヒドロキシ−p−ベンゾキノン、5−ヒドロキシ−1,
4−ナフトキノン、2.3−ジヒドロキシ−1,4−ナ
フトキノン、5.8−ジヒドロキシ−114−ナフトキ
ノン、2−ヒドロキシアントラキノン、1゜2−ジヒド
ロキシアントラキノン、 L2.3−トリヒドロキシア
ントラキノン、 1,2.4−1−ジヒドロキシアント
ラキノン、 1.2.5−)ジヒドロキシアントラキノ
ン、 1,2.6− トリヒドロキシアントラキノン、
1゜2.7−)ジヒドロキシアントラキノン等のヒドロ
キシキノン類、2−アミノアントラキノン、1,2−ジ
アミノアントラキノン等のアミノキノン類、1−ニトロ
アントラキノン51.5−ジニトロアントラキノン等の
ニトロキノン類、2.6−ジクロロ−p−ベンゾキノン
、テトラクロロ−p−ベンゾキノン、テトラブロモ−p
−ベンゾキノン等のハロゲノキノン類、あるいは2種以
上の置換基を有するキノン類、例えば2,5−ジクロロ
−3,6−ジヒドロキシ−p−ベンゾキノン、1−メチ
ル−2−ヒドロキシ−1,4−ナフトキノン等が挙げら
れる。
上記ジアリールケトンとしては、ベンゾフェノン及びそ
の誘導体が挙げられ、例えばベンゾフェノン、4−メチ
ルベンツ゛フェノン、3−メチルベンゾフヱノン、3,
4−ジメチルベンゾフェノン、4゜4“−ジメチルベン
ゾフェノン、 3.4’−ジメチルベンゾフェノン、4
−エチルベンゾフェノン等のアルキルftA体、4−ヒ
ドロキシベンゾフェノン。
の誘導体が挙げられ、例えばベンゾフェノン、4−メチ
ルベンツ゛フェノン、3−メチルベンゾフヱノン、3,
4−ジメチルベンゾフェノン、4゜4“−ジメチルベン
ゾフェノン、 3.4’−ジメチルベンゾフェノン、4
−エチルベンゾフェノン等のアルキルftA体、4−ヒ
ドロキシベンゾフェノン。
4.4“−ジヒドロキシベンゾフェノン、 2.3.4
− )ジヒドロキシベンゾフェノン、2.4−ジヒドロ
キシベンゾフェノン、 2.2’、5.6“−テトラヒ
ドロキシベンゾフェノン、 2.3’、4,4°、6−
ペンタヒドロキシベンゾフェノン等のヒドロキシベンゾ
フェノン類、4−アミノベンゾフェノン、4,4°−ジ
アミノベンゾフェノン等のアミノベンゾフェノン類、あ
るいは2種以上の置換基を有するベンゾフェノン類、例
えば4−メトキシ−2−ヒドロキシベンゾフェノン、2
,2°−ジヒドロキシ−4−メトキシベンゾフェノン等
が挙げられる。
− )ジヒドロキシベンゾフェノン、2.4−ジヒドロ
キシベンゾフェノン、 2.2’、5.6“−テトラヒ
ドロキシベンゾフェノン、 2.3’、4,4°、6−
ペンタヒドロキシベンゾフェノン等のヒドロキシベンゾ
フェノン類、4−アミノベンゾフェノン、4,4°−ジ
アミノベンゾフェノン等のアミノベンゾフェノン類、あ
るいは2種以上の置換基を有するベンゾフェノン類、例
えば4−メトキシ−2−ヒドロキシベンゾフェノン、2
,2°−ジヒドロキシ−4−メトキシベンゾフェノン等
が挙げられる。
上記窒素原子を含む複素環化合物としては、アクリジン
、2.2’、2”−テルピリジルネオクブロイン、2.
2”−ジピリジルベンゾトリアゾール、5−メチルベン
ツ゛トリアソ゛−ル、バソフェナンドロリン、1.10
−フェナントロリン、アルデヒドコリジン、ベンジルピ
リジン、フェニルピリジン、キナゾリン、2−ヘプタデ
シルイミダゾール等の他、フェノール性水酸基を有する
化合物、例えば4−(2−ピリジルアゾ)−レゾルシン
、 1−(2−ピリジルアゾ)−2−ナフトール、4−
キノリツール、4−メチル−2−キノリツール、8−キ
ノリツール、キノリンジオール等、カルボキシル基を有
する化合物、例えばキヌレン酸、アクリジン酸、アトフ
ァン、キルナジン酸、シンコニン酸、イソニコチン酸、
2.5−ピリジンジカルボン酸、キニン酸等、アミノ基
又はイミノ基を有する化合物、例えば2−アミノベンズ
イミダゾール、5−アミノ−IH−テトラゾール、5−
アミノ−I H−1,2,4−)リアゾール、アデニン
、グアニン、ルミノール、2−ヒドラジノキノリン、チ
アミン等、カルボニル基を有する化合物、例えばリボフ
ラビン、テオプロミン、アラントイン、アロキサン、2
−チオバルビッール酸。
、2.2’、2”−テルピリジルネオクブロイン、2.
2”−ジピリジルベンゾトリアゾール、5−メチルベン
ツ゛トリアソ゛−ル、バソフェナンドロリン、1.10
−フェナントロリン、アルデヒドコリジン、ベンジルピ
リジン、フェニルピリジン、キナゾリン、2−ヘプタデ
シルイミダゾール等の他、フェノール性水酸基を有する
化合物、例えば4−(2−ピリジルアゾ)−レゾルシン
、 1−(2−ピリジルアゾ)−2−ナフトール、4−
キノリツール、4−メチル−2−キノリツール、8−キ
ノリツール、キノリンジオール等、カルボキシル基を有
する化合物、例えばキヌレン酸、アクリジン酸、アトフ
ァン、キルナジン酸、シンコニン酸、イソニコチン酸、
2.5−ピリジンジカルボン酸、キニン酸等、アミノ基
又はイミノ基を有する化合物、例えば2−アミノベンズ
イミダゾール、5−アミノ−IH−テトラゾール、5−
アミノ−I H−1,2,4−)リアゾール、アデニン
、グアニン、ルミノール、2−ヒドラジノキノリン、チ
アミン等、カルボニル基を有する化合物、例えばリボフ
ラビン、テオプロミン、アラントイン、アロキサン、2
−チオバルビッール酸。
ビオルル酸、イサチン、ヒダントイン、チミン。
バルビッール酸、オロチン酸、ウラシル、スクシンイミ
ド、フレア・チニン、2−ピロリドン等が挙げられる。
ド、フレア・チニン、2−ピロリドン等が挙げられる。
上記酸素原子を含む複素環化合物としては、トコフェロ
ール、モリン、ケルセチン、アスコルビン酸、無水1.
8−ナフタル酸、レゾルフィン、コウジ酸、デヒドロ酢
酸、オキサゾール、3−アミノフタルイミド、4−アミ
ノフタルイミド、ウリジン、チミジン、グアノシン、無
水イサト酸等が挙げられる。
ール、モリン、ケルセチン、アスコルビン酸、無水1.
8−ナフタル酸、レゾルフィン、コウジ酸、デヒドロ酢
酸、オキサゾール、3−アミノフタルイミド、4−アミ
ノフタルイミド、ウリジン、チミジン、グアノシン、無
水イサト酸等が挙げられる。
上記硫黄原子を含む複素環化合物としては、スルホラン
、3−ヒドロキシスルホラン、3−メチルスルホラン、
スルホレン、3−ヒドロキシスルホレン、3−メチルス
ルホレン、ローダニン、3−アミノローダニン、チアゾ
リン−4−カルボン酸、4H−1,4−チアジン、ビオ
チン、3.6−チオキサンチンジアミン、3,6−チオ
キサンチンジアミン−io、io−ジオキシド等が挙げ
られる。
、3−ヒドロキシスルホラン、3−メチルスルホラン、
スルホレン、3−ヒドロキシスルホレン、3−メチルス
ルホレン、ローダニン、3−アミノローダニン、チアゾ
リン−4−カルボン酸、4H−1,4−チアジン、ビオ
チン、3.6−チオキサンチンジアミン、3,6−チオ
キサンチンジアミン−io、io−ジオキシド等が挙げ
られる。
上記メルカプト基を有する化合物としては、2−ベンゾ
オキサゾールチオール、チオフェノール。
オキサゾールチオール、チオフェノール。
チオサリチル酸、プロパンチオール、チオウラシル、2
.3−キノキサリンジチオール、ジチゾン、チオオキシ
ン、2−ベンズイミダゾールチオール。
.3−キノキサリンジチオール、ジチゾン、チオオキシ
ン、2−ベンズイミダゾールチオール。
6−チオグアニン、5−ニトロ−2−ベンズイミダゾー
ルチオール、5−アミノ−1,3,4−チアゾール−2
−チオール等が挙げられる。
ルチオール、5−アミノ−1,3,4−チアゾール−2
−チオール等が挙げられる。
上記チオカルボン酸またはその塩としては、ジエチルジ
チオカルバミン酸ナトリウム、エタンチオ酸、ルベアン
酸、チオアセトアミド、エタンジチオ酸等が挙げられる
。
チオカルバミン酸ナトリウム、エタンチオ酸、ルベアン
酸、チオアセトアミド、エタンジチオ酸等が挙げられる
。
上記チアゾール系化合物としては、ビスムチオール■、
ジアゾスルフィド、アゾスルフイム、1゜3.4−チア
ジアゾール、ビスムチオール、ビアグチオール。ベンゾ
チアゾール、2−メチルベンゾチアゾール、 2−(p
−アミノフェニル)−6−メチルベンゾチアゾール、2
−メルカプトベンゾチアゾール。
ジアゾスルフィド、アゾスルフイム、1゜3.4−チア
ジアゾール、ビスムチオール、ビアグチオール。ベンゾ
チアゾール、2−メチルベンゾチアゾール、 2−(p
−アミノフェニル)−6−メチルベンゾチアゾール、2
−メルカプトベンゾチアゾール。
ベンゾチアゾリン、2−ベンゾチアゾリン、ベンゾチア
ゾロン等が挙げられる。
ゾロン等が挙げられる。
上記防錆剤は、上記潤滑剤と混合して用いてもよいが、
例えば強磁性金属薄膜の表面に先ず上記防錆剤を塗布し
、しかる後上記パーフルオロカルボン酸パーフルオロア
ルキルエステルを含有する潤滑剤を塗布するというよう
に、2層以上に分けて被着すると効果が高い。
例えば強磁性金属薄膜の表面に先ず上記防錆剤を塗布し
、しかる後上記パーフルオロカルボン酸パーフルオロア
ルキルエステルを含有する潤滑剤を塗布するというよう
に、2層以上に分けて被着すると効果が高い。
このように2層に分けて塗布する場合には、上記防錆剤
の塗布量としては、先の潤滑剤と同様、0.5■/d〜
100■/dであるのが好ましく、1■/d〜20■/
Mであるのがより好ましい。
の塗布量としては、先の潤滑剤と同様、0.5■/d〜
100■/dであるのが好ましく、1■/d〜20■/
Mであるのがより好ましい。
塗布量があまり少なすぎると、耐蝕性改善の効果が不足
し、逆に多過ぎると走行性等に問題が生ずる。
し、逆に多過ぎると走行性等に問題が生ずる。
本発明が通用される磁気記録媒体は、非磁性支持体上に
磁性層として強磁性金属薄膜を設けたものであるが、こ
こで非磁性支持体の素材としては、ポリエチレンテレフ
タレート等のポリエステル類、ポリエチレン、ポリプロ
ピレン等のポリオレフィン類、セルローストリアセテー
ト、セルロースダイアセテート、セルロースアセテート
ブチレート等のセルロース誘導体、ポリ塩化ビニル、ポ
リ塩化ビニリデン等のビニル系樹脂、ポリカーボネート
、ポリイミド、ポリアミドイミド等のプラスチック、ア
ルミニウム合金、チタン合金等の軽金属、アルミナガラ
ス等のセラミックス等が挙げられる。
磁性層として強磁性金属薄膜を設けたものであるが、こ
こで非磁性支持体の素材としては、ポリエチレンテレフ
タレート等のポリエステル類、ポリエチレン、ポリプロ
ピレン等のポリオレフィン類、セルローストリアセテー
ト、セルロースダイアセテート、セルロースアセテート
ブチレート等のセルロース誘導体、ポリ塩化ビニル、ポ
リ塩化ビニリデン等のビニル系樹脂、ポリカーボネート
、ポリイミド、ポリアミドイミド等のプラスチック、ア
ルミニウム合金、チタン合金等の軽金属、アルミナガラ
ス等のセラミックス等が挙げられる。
この非磁性支持体の形態としては、フィルム、シート、
ディスク、カード、ドラム等のいずれでもよい。
ディスク、カード、ドラム等のいずれでもよい。
上記非磁性支持体には、その表面に山状突起やしわ状突
起1粒状突起等の突起を1種以上を形成し、表面粗さを
コントロールしてもよい。
起1粒状突起等の突起を1種以上を形成し、表面粗さを
コントロールしてもよい。
上記山状突起は、例えば高分子フィルム製膜時に粒径5
00〜3000人程度の無機微粒子を内添することによ
り形成され、高分子フィルム表面からの高さは100〜
1000人、密度はおよそlXl0’〜l0XIO’個
/鶴2とする。山状突起を形成するために使用される無
機微粒子としては、炭酸カルシウム(CaCOs)やシ
リカ、アルミナ等が好適である。
00〜3000人程度の無機微粒子を内添することによ
り形成され、高分子フィルム表面からの高さは100〜
1000人、密度はおよそlXl0’〜l0XIO’個
/鶴2とする。山状突起を形成するために使用される無
機微粒子としては、炭酸カルシウム(CaCOs)やシ
リカ、アルミナ等が好適である。
上記しわ状突起は、例えば特定の混合溶媒を用いた樹脂
の希薄溶液を塗布乾燥することにより形成される起伏で
あって、その高さは0.01〜10μm、好ましくは0
.03〜0.5μm1突起間の最短間隔は0.1〜20
μmとする。このしわ状突起を形成するための樹脂とし
ては、ポリエチレンテレフタレート、ポリエチレンナフ
タレート等の飽和ポリエステル、ポリアミド、ポリスチ
ロール、ポリカーボネート、ポリアクリレート、ポリス
ルホン、ポリエーテルスルホン、ポリ塩化ビニル、ポリ
塩化ビニリデン、ポリビニルブチラール、ポリフェニレ
ンオキサイド、フェノキシ樹脂等の各種樹脂の単体、混
合体または共重合体であり、可溶性溶剤を有するものが
適している。そして、これらの樹脂をその良溶媒に溶解
せしめた樹脂濃度1〜11000ppの78液に、その
樹脂の貧)容媒であって前記良溶媒より高い沸点を有す
る溶媒を樹脂に対して10−100倍量添加した溶液を
、高分子フィルムの表面に塗布・乾燥することにより、
非常に微細なしわ状凹凸を有する1層を得ることができ
る。
の希薄溶液を塗布乾燥することにより形成される起伏で
あって、その高さは0.01〜10μm、好ましくは0
.03〜0.5μm1突起間の最短間隔は0.1〜20
μmとする。このしわ状突起を形成するための樹脂とし
ては、ポリエチレンテレフタレート、ポリエチレンナフ
タレート等の飽和ポリエステル、ポリアミド、ポリスチ
ロール、ポリカーボネート、ポリアクリレート、ポリス
ルホン、ポリエーテルスルホン、ポリ塩化ビニル、ポリ
塩化ビニリデン、ポリビニルブチラール、ポリフェニレ
ンオキサイド、フェノキシ樹脂等の各種樹脂の単体、混
合体または共重合体であり、可溶性溶剤を有するものが
適している。そして、これらの樹脂をその良溶媒に溶解
せしめた樹脂濃度1〜11000ppの78液に、その
樹脂の貧)容媒であって前記良溶媒より高い沸点を有す
る溶媒を樹脂に対して10−100倍量添加した溶液を
、高分子フィルムの表面に塗布・乾燥することにより、
非常に微細なしわ状凹凸を有する1層を得ることができ
る。
粒状突起は、アクリル樹脂等の存機超微粒子またはシリ
カ、金属粉等の無8g微粒子を球状あるいは半球状に付
着させることにより形成される。この粒状突起の高さは
、50〜500人、密度はlXl0’〜50X10’個
/ u ”程度とする。
カ、金属粉等の無8g微粒子を球状あるいは半球状に付
着させることにより形成される。この粒状突起の高さは
、50〜500人、密度はlXl0’〜50X10’個
/ u ”程度とする。
これら突起の少なくとも一種以上を形成すれば磁性層で
ある強磁性金属薄膜の表面性が制御されるが、2種以上
を組み合わせることにより効果が増し、特に山状突起を
設けたベースフィルム上にしわ状突起とつぶ状突起を形
成すれば、極めて耐久性、走行性が改善される。
ある強磁性金属薄膜の表面性が制御されるが、2種以上
を組み合わせることにより効果が増し、特に山状突起を
設けたベースフィルム上にしわ状突起とつぶ状突起を形
成すれば、極めて耐久性、走行性が改善される。
この場合、突起の全体としての高さは、100〜200
0人の範囲内であることが好ましく、その密度はlfi
”当り平均でlXl0’〜lXl0’個であることが好
ましい。
0人の範囲内であることが好ましく、その密度はlfi
”当り平均でlXl0’〜lXl0’個であることが好
ましい。
また、上記磁性層である強磁性金属薄膜は、真空蒸着法
やイオンブレーティング法、スパッタリング法等の真空
薄膜形成技術により連続膜として形成される。
やイオンブレーティング法、スパッタリング法等の真空
薄膜形成技術により連続膜として形成される。
上記真空1着法は、10−4〜10−”Torrの真空
下で強磁性金属材料を抵抗加熱、高周波加熱、電子ビー
ム加熱等により蒸発させ、ディスク基板上に蒸発金属(
強磁性金属材料)を沈着するというものであり、一般に
高い抗磁力を得るため基板に対して上記強磁性金属材料
を斜めに蒸着する斜方蒸着法が採用される。あるいは、
より高い抗磁力を得るために酸素雰囲気中で上記蒸着を
行うものも含まれる。
下で強磁性金属材料を抵抗加熱、高周波加熱、電子ビー
ム加熱等により蒸発させ、ディスク基板上に蒸発金属(
強磁性金属材料)を沈着するというものであり、一般に
高い抗磁力を得るため基板に対して上記強磁性金属材料
を斜めに蒸着する斜方蒸着法が採用される。あるいは、
より高い抗磁力を得るために酸素雰囲気中で上記蒸着を
行うものも含まれる。
上記イオンブレーティング法も真空蒸着法の一種であり
、10−4〜10−3Torrの不活性ガス雰囲気中で
DCグロー放電、RFグロー放電を起こして、放電中で
上記強磁性金属材料を蒸発させるというものである。
、10−4〜10−3Torrの不活性ガス雰囲気中で
DCグロー放電、RFグロー放電を起こして、放電中で
上記強磁性金属材料を蒸発させるというものである。
上記スパッタリング法は、I O−’〜10−’Tor
rのアルゴンガスを主成分とする雰囲気中でグロー放電
を起こし、生じたアルゴンガスイオンでターゲット表面
の原子をたたき出すというものであり、グロー放電の方
法により直流2極、3掻スパフタ法や、高周波スパッタ
法、またはマグネトロン放電を利用したマグネトロンス
パッタ法等がある。
rのアルゴンガスを主成分とする雰囲気中でグロー放電
を起こし、生じたアルゴンガスイオンでターゲット表面
の原子をたたき出すというものであり、グロー放電の方
法により直流2極、3掻スパフタ法や、高周波スパッタ
法、またはマグネトロン放電を利用したマグネトロンス
パッタ法等がある。
このスパッタリング法による場合には、CrやW。
V等の下地膜を形成しておいてもよい。
なお、上記いずれの方法においても、基板上にあらかじ
めBi、Sb、Pb、Sn、Ga、In。
めBi、Sb、Pb、Sn、Ga、In。
Cd、Ge、Si、Tl!等の下地金属層を被着形成し
ておき、基板面に対して垂直方向から成膜することによ
り、磁気異方性の配向かなく面内等方法に優れた磁性層
を形成することができ、例えば磁気ディスクとする場合
には好適である。
ておき、基板面に対して垂直方向から成膜することによ
り、磁気異方性の配向かなく面内等方法に優れた磁性層
を形成することができ、例えば磁気ディスクとする場合
には好適である。
このような真空薄膜形成技術により金属磁性薄膜を形成
する際に、使用される強磁性金属材料としては、Fe、
Co、Ni等の金属の他に、c。
する際に、使用される強磁性金属材料としては、Fe、
Co、Ni等の金属の他に、c。
−Ni合金、Co−Pt合金、Co−N1−Pt合金、
Fe−Co合金、Fe−Ni合金、Fe−Co−Ni合
金、Fe−Co−B合金、Co−N1−Fe−B合金、
Co−Cr合金あるいはこれらにCr、Aj+等の金属
が含有されたもの等が挙げられる。特に、Co−Cr合
金を使用した場合には、垂直磁化膜が形成される。
Fe−Co合金、Fe−Ni合金、Fe−Co−Ni合
金、Fe−Co−B合金、Co−N1−Fe−B合金、
Co−Cr合金あるいはこれらにCr、Aj+等の金属
が含有されたもの等が挙げられる。特に、Co−Cr合
金を使用した場合には、垂直磁化膜が形成される。
このような手法により形成される磁性層の膜厚は、0.
04〜1μm程度である。
04〜1μm程度である。
また、非磁性支持体の前記磁性層が設けられる面とは反
対側の面に、いわゆるバックコート層を形成してもよい
、バンクコート層は、結合剤樹脂と粉末成分とを有機溶
媒に混合分散させたバックコート用塗料を非磁性支持体
面に塗布することにより形成される。
対側の面に、いわゆるバックコート層を形成してもよい
、バンクコート層は、結合剤樹脂と粉末成分とを有機溶
媒に混合分散させたバックコート用塗料を非磁性支持体
面に塗布することにより形成される。
ここで、バックコート用塗料に使用される結合剤樹脂と
しては、例えば塩化ビニル−酢酸ビニル系共重合体、塩
化ビニル−塩化ビニリデン共重合体、塩化ビニル−アク
リロニトリル共重合体、アクリル酸エステル−アクリロ
ニトリル共重合体、熱可望性ポリウレタンエラストマー
、ポリフッ化ビニル、塩化ビニリデン−アクリロニトリ
ル共重合体、ブタジェン−アクリロニトリル共重合体、
ポリアミド樹脂、ポリビニルブチラール、セルロース誘
導体、ポリエステル樹脂、ポリブタジェン等の合成ゴム
系樹脂、フェノール樹脂、エポキシ樹脂、ポリウレタン
硬化型樹脂、メラミン樹脂、アルキッド樹脂、シリコー
ン樹脂、アクリル系反応樹脂、エポキシ−ポリアミド樹
脂、ニトロセルロース−メラミン樹脂、高分子量ポリエ
ステル樹脂とイソシアナートプレポリマーの混合物、メ
タクリル酸塩共重合体とジイソシアナートプレポリマー
の混合物、ポリエステルポリオールとポリイソシアナー
トとの混合物、尿素ホルムアルデヒド樹脂、低分子量グ
リコール/高分子量ジオール/トリフェニルメタントリ
イソシアナートの混合物、ポリアミン樹脂及びこれらの
混合物等が挙げられる。
しては、例えば塩化ビニル−酢酸ビニル系共重合体、塩
化ビニル−塩化ビニリデン共重合体、塩化ビニル−アク
リロニトリル共重合体、アクリル酸エステル−アクリロ
ニトリル共重合体、熱可望性ポリウレタンエラストマー
、ポリフッ化ビニル、塩化ビニリデン−アクリロニトリ
ル共重合体、ブタジェン−アクリロニトリル共重合体、
ポリアミド樹脂、ポリビニルブチラール、セルロース誘
導体、ポリエステル樹脂、ポリブタジェン等の合成ゴム
系樹脂、フェノール樹脂、エポキシ樹脂、ポリウレタン
硬化型樹脂、メラミン樹脂、アルキッド樹脂、シリコー
ン樹脂、アクリル系反応樹脂、エポキシ−ポリアミド樹
脂、ニトロセルロース−メラミン樹脂、高分子量ポリエ
ステル樹脂とイソシアナートプレポリマーの混合物、メ
タクリル酸塩共重合体とジイソシアナートプレポリマー
の混合物、ポリエステルポリオールとポリイソシアナー
トとの混合物、尿素ホルムアルデヒド樹脂、低分子量グ
リコール/高分子量ジオール/トリフェニルメタントリ
イソシアナートの混合物、ポリアミン樹脂及びこれらの
混合物等が挙げられる。
あるいは、粉末成分の分散性の改善を図るために、親水
性極性基を持った結合剤樹脂を使用してもよい。
性極性基を持った結合剤樹脂を使用してもよい。
具体的には、−503M、 0303M、COO門、
−μ(OM’)z(式中、Mは水素原子またはアルカリ
金属を表し、M゛は水素原子、アルカリ金属または炭化
水素基を表す。)から選ばれた親水性極性基を導入した
ポリウレタン梼脂、ポリエステル樹脂、塩化ビニル−酢
酸ビニル系共重合体、塩化ビニリデン系共重合体、アク
リル酸エステル系共重合体、ブタジェン系共重合体等が
使用可能である。
−μ(OM’)z(式中、Mは水素原子またはアルカリ
金属を表し、M゛は水素原子、アルカリ金属または炭化
水素基を表す。)から選ばれた親水性極性基を導入した
ポリウレタン梼脂、ポリエステル樹脂、塩化ビニル−酢
酸ビニル系共重合体、塩化ビニリデン系共重合体、アク
リル酸エステル系共重合体、ブタジェン系共重合体等が
使用可能である。
上記親水性極性基の導入方法としては、樹脂の種類に応
じて種々あ方法が考えられるが、例えばポリウレタン樹
脂やポリエステル樹脂に上記親水性極性基を導入するに
は次のような方法によればよい。
じて種々あ方法が考えられるが、例えばポリウレタン樹
脂やポリエステル樹脂に上記親水性極性基を導入するに
は次のような方法によればよい。
filポリウレタ、ン又はポリエステルの原料である2
塩基酸あるいはポリオール等に前記親水性極性基を予め
導入しておく方法。
塩基酸あるいはポリオール等に前記親水性極性基を予め
導入しておく方法。
(2)末端若しくは側鎖にO)(基を残存させておき、
このOH基を親水性極性基を持った化合物により変性す
る方法。
このOH基を親水性極性基を持った化合物により変性す
る方法。
(2)の方法による場合には、
分子中に親水性極性基とハロゲン(例えば塩素)を含有
する化合物と、原料に多官能のポリオールを用いポリマ
ー鎖の末端若しくは側鎖にOH基が残存したポリウレタ
ン樹脂またはポリエステル樹脂とを、両成分が溶解性の
あるジメチルホルムアミド、ジメチルスルホキシド等の
溶剤に溶解し、ピリジン、ピコリン、トリエチルアミン
等のアミン類やエチレンオキサイド、プロピレンオキサ
イド等のエポキシ化合物等の脱塩酸剤の存在下でのOH
基と塩素との脱塩酸反応により親水性極性基を導入する
方法。
する化合物と、原料に多官能のポリオールを用いポリマ
ー鎖の末端若しくは側鎖にOH基が残存したポリウレタ
ン樹脂またはポリエステル樹脂とを、両成分が溶解性の
あるジメチルホルムアミド、ジメチルスルホキシド等の
溶剤に溶解し、ピリジン、ピコリン、トリエチルアミン
等のアミン類やエチレンオキサイド、プロピレンオキサ
イド等のエポキシ化合物等の脱塩酸剤の存在下でのOH
基と塩素との脱塩酸反応により親水性極性基を導入する
方法。
+21−2
分子中に親水性極性基とOH基とを含有する化合物と、
ポリマー鎖の末端若しくは側鎖にOH基が残存したポリ
ウレタン樹脂またはポリエステル樹脂とを、ジイソシア
ナート化合物を介して反応させる方法。
ポリマー鎖の末端若しくは側鎖にOH基が残存したポリ
ウレタン樹脂またはポリエステル樹脂とを、ジイソシア
ナート化合物を介して反応させる方法。
がある。
また、上記共重合体系結合剤樹脂に親水性極性基を導入
するには、 (3)共重合モノマーとして、親水性極性基及び共重合
可能な二重結合を有する化合物を使用する方法。
するには、 (3)共重合モノマーとして、親水性極性基及び共重合
可能な二重結合を有する化合物を使用する方法。
(4)共重合モノマーとして、活性水素及び共重合可能
な二重結合を有する化合物を使用し、共重合体の側鎖に
上記活性水素を導入しておき、親水性極性基及び上記活
性水素と反応可能な基を有する化金物により変性する方
法。
な二重結合を有する化合物を使用し、共重合体の側鎖に
上記活性水素を導入しておき、親水性極性基及び上記活
性水素と反応可能な基を有する化金物により変性する方
法。
(5)共重合モノマーとして、活性水素と反応可能な基
及び共重合可能な二重結合を有する化合物を使用し、共
重合体の側鎖に上記活性水素と反応可能な基を導入して
おき、親水性極性基及び上記活性水素を有する化合物に
より変性する方法。
及び共重合可能な二重結合を有する化合物を使用し、共
重合体の側鎖に上記活性水素と反応可能な基を導入して
おき、親水性極性基及び上記活性水素を有する化合物に
より変性する方法。
等が挙げられる。
一方、上記粉末成分としては、導電性を付与するための
カーボン系微粉末(例えば、ファーネスカーボン、チャ
ンネルカーボン、アセチレンカーボン、サーマルカーボ
ン、ランプカーボン等が挙げられるが、なかでもファー
ネスカーボンやサーマルカーボンが好適である。)、無
機顔料(表面粗度のコントロール及び耐久性向上のため
に添加されるαFe00H,αFezO5+CrzO*
、Ti0z、ZnO,SiO。
カーボン系微粉末(例えば、ファーネスカーボン、チャ
ンネルカーボン、アセチレンカーボン、サーマルカーボ
ン、ランプカーボン等が挙げられるが、なかでもファー
ネスカーボンやサーマルカーボンが好適である。)、無
機顔料(表面粗度のコントロール及び耐久性向上のため
に添加されるαFe00H,αFezO5+CrzO*
、Ti0z、ZnO,SiO。
5IO1,5iOz・28zO,Atto、・2SiO
,・2Hz0 、3Mg0・4SiOz ・LO+ M
gCO3・Mg(OHL ’ 3LO+AIzO3+C
aCO3+MgCO3,5btOi等)が挙げられる。
,・2Hz0 、3Mg0・4SiOz ・LO+ M
gCO3・Mg(OHL ’ 3LO+AIzO3+C
aCO3+MgCO3,5btOi等)が挙げられる。
さらに、上記バックコート用塗料の有機溶剤としては、
アセトン、メチルエチルケトン、メチルイソブチルケト
ン、シクロヘキサノン等のケトン系溶剤、酢酸メチル、
酢酸エチル、酢酸ブチル。
アセトン、メチルエチルケトン、メチルイソブチルケト
ン、シクロヘキサノン等のケトン系溶剤、酢酸メチル、
酢酸エチル、酢酸ブチル。
乳酸エチル、酢酸クリコールモノエチルエーテル等のエ
ステル系溶剤、グリコールジメチルエーテル、グリコー
ルモノエチルエーテル、ジオキサン等のグリコールエー
テル系溶剤、ベンゼン、トルエン、キシレン等の芳香族
炭化水素系溶剤、ヘキサン、ヘプタン等の脂肪族炭化水
素系溶剤、メチレンクロライド、エチレンクロライド、
四塩化炭素、クロロホルム、エチレンクロルヒドリン、
ジクロルベンゼン等の塩素化炭化水素系溶剤等、汎用の
溶剤を用いることができる。
ステル系溶剤、グリコールジメチルエーテル、グリコー
ルモノエチルエーテル、ジオキサン等のグリコールエー
テル系溶剤、ベンゼン、トルエン、キシレン等の芳香族
炭化水素系溶剤、ヘキサン、ヘプタン等の脂肪族炭化水
素系溶剤、メチレンクロライド、エチレンクロライド、
四塩化炭素、クロロホルム、エチレンクロルヒドリン、
ジクロルベンゼン等の塩素化炭化水素系溶剤等、汎用の
溶剤を用いることができる。
前述のバックコート層には潤滑剤を併用してもよい、こ
の場合、上記バックコート層中に潤滑剤を内添する方法
、あるいはバフクコニド層上に潤滑剤を被着する方法が
ある。いずれにしても、上記潤滑剤としては、脂肪酸、
脂肪酸エステル、脂肪酸アミド、金属石鹸、脂肪族アル
コール、パラフィン、シリコーン等、従来より周知の潤
滑剤が使用できる。
の場合、上記バックコート層中に潤滑剤を内添する方法
、あるいはバフクコニド層上に潤滑剤を被着する方法が
ある。いずれにしても、上記潤滑剤としては、脂肪酸、
脂肪酸エステル、脂肪酸アミド、金属石鹸、脂肪族アル
コール、パラフィン、シリコーン等、従来より周知の潤
滑剤が使用できる。
さらには、先の磁性層表面に付着される潤滑剤層と同様
のパーフルオロカルボン酸パーフルオロアルキルエステ
ルを含有する潤滑剤を使用してもよい。
のパーフルオロカルボン酸パーフルオロアルキルエステ
ルを含有する潤滑剤を使用してもよい。
パーフルオロカルボン酸パーフルオロアルキルエステル
を含む潤滑剤層は、強磁性金属薄膜に付着し良好な潤滑
作用を発揮して摩擦係数を低減する。特に、パーフルオ
ロカルボン酸パーフルオロアルキルエステルは、低温下
においても良好な潤滑効果を発揮する。
を含む潤滑剤層は、強磁性金属薄膜に付着し良好な潤滑
作用を発揮して摩擦係数を低減する。特に、パーフルオ
ロカルボン酸パーフルオロアルキルエステルは、低温下
においても良好な潤滑効果を発揮する。
以下、本発明の具体的な実施例について説明するが、本
発明はこれら実施例に限定されるものではない。
発明はこれら実施例に限定されるものではない。
第1表に示すパーフルオロカルボン酸パーフルオロアル
キルエステルを合成し、これを潤滑剤として磁気テープ
を作製した。
キルエステルを合成し、これを潤滑剤として磁気テープ
を作製した。
第1表
実施例1゜
14μm厚のポリエチレンテレフタレートフィルムに斜
め蒸着法によりCOを被着させ、膜厚1000人の強磁
性金属薄膜を形成した。
め蒸着法によりCOを被着させ、膜厚1000人の強磁
性金属薄膜を形成した。
次に、この強磁性金属薄膜表面に、ペンタデカフルオロ
オクタン酸ペンタデカフルオロオクチルエステル(第1
表中の化合物1)をフレオン溶液に溶解し、塗布量が5
■/dとなるように塗布し、172インチ幅に裁断して
サンプルテープを作製した。
オクタン酸ペンタデカフルオロオクチルエステル(第1
表中の化合物1)をフレオン溶液に溶解し、塗布量が5
■/dとなるように塗布し、172インチ幅に裁断して
サンプルテープを作製した。
実施例2〜実施例6
パーフルオロカルボン酸パーフルオロアルキルエステル
として先の第1表に示す化合物2〜化合物6を用い、他
は実施例1と同様の方法によりサンプルテープを作製し
た。
として先の第1表に示す化合物2〜化合物6を用い、他
は実施例1と同様の方法によりサンプルテープを作製し
た。
作製された各サンプルテープについて、温度25℃、相
対湿度(RH)60%、および−5℃の各条件下での動
摩擦係数及びシャトル耐久性を測定した。この動摩擦係
数は、材質がステンレス(SUS304)のガイドビン
を用い、一定のテンションをかけ5ffiIIl/Se
cの速度で送り、試験したものである。また、シャトル
耐久性は、1回につき2分間のシャトル走行を行い、出
力が一3dB低下までのシャトル回数で評価した。スチ
ル耐久性はポーズ状態での出力の一3dBまでの減衰時
間を評価した。なお、比較例として、全く潤滑剤を被着
しないブランクテープについても測定した。
対湿度(RH)60%、および−5℃の各条件下での動
摩擦係数及びシャトル耐久性を測定した。この動摩擦係
数は、材質がステンレス(SUS304)のガイドビン
を用い、一定のテンションをかけ5ffiIIl/Se
cの速度で送り、試験したものである。また、シャトル
耐久性は、1回につき2分間のシャトル走行を行い、出
力が一3dB低下までのシャトル回数で評価した。スチ
ル耐久性はポーズ状態での出力の一3dBまでの減衰時
間を評価した。なお、比較例として、全く潤滑剤を被着
しないブランクテープについても測定した。
結果を第2表に示す。
第2表
上記第2表から明らかなように、本発明の各実施例の条
件下で動摩擦係数が小さく、走行が極めて安定しており
、また100回往復走行後もテープ表面の損傷は全く見
られなかった。また、スチル耐久性も極めて良(,15
0回シャトル走行を行っても出力の一3dB低下は見ら
れなかった。
件下で動摩擦係数が小さく、走行が極めて安定しており
、また100回往復走行後もテープ表面の損傷は全く見
られなかった。また、スチル耐久性も極めて良(,15
0回シャトル走行を行っても出力の一3dB低下は見ら
れなかった。
これに対して、潤滑剤層のない比較例のテープでは、摩
擦係数が往復走行回数が多くなるにつれて大となり、走
行も不安定でテープの摩擦が見られ、耐久性も悪いもの
であった。
擦係数が往復走行回数が多くなるにつれて大となり、走
行も不安定でテープの摩擦が見られ、耐久性も悪いもの
であった。
以上の説明からも明らかなように、本発明においては、
強磁性金属薄膜型の磁気記録媒体の潤滑剤としてパーフ
ルオロカルボン酸パーフルオロアルキルエステルを用い
ているので、如何なる温度条件下においても動摩擦係数
を小さくすることができ、走行安定性や耐摩耗性に優れ
た磁気記録媒体とすることができる。
強磁性金属薄膜型の磁気記録媒体の潤滑剤としてパーフ
ルオロカルボン酸パーフルオロアルキルエステルを用い
ているので、如何なる温度条件下においても動摩擦係数
を小さくすることができ、走行安定性や耐摩耗性に優れ
た磁気記録媒体とすることができる。
特に、パーフルオロカルボン酸パーフルオロアルキルエ
ステルの凝固点温度が低いことから、低温下での使用時
に効果が大きい6 手続令市正書(自発) 昭和61年8月2日 1、事件の表示 昭和61年 特許用 第151485号2、発明の名称 磁気記録媒体 3、補正をする者 事件との関係 特許出願人 住所 東京部品用区北品用6丁目7番35号名称 (2
18) ソ ニ − 株 式 会 社代表者 大賀
典雄 氏名 (6773) 弁理士 小 池 晃(他1名
)5、Va正命令の日付 自発 6、補正の対象 7、補正の内容 明細書第6頁第9行目に「相当するカルボン酸クロライ
ド」とある記載を「相当するパーフルオロカルボン酸ク
ロライド」と補正する。
ステルの凝固点温度が低いことから、低温下での使用時
に効果が大きい6 手続令市正書(自発) 昭和61年8月2日 1、事件の表示 昭和61年 特許用 第151485号2、発明の名称 磁気記録媒体 3、補正をする者 事件との関係 特許出願人 住所 東京部品用区北品用6丁目7番35号名称 (2
18) ソ ニ − 株 式 会 社代表者 大賀
典雄 氏名 (6773) 弁理士 小 池 晃(他1名
)5、Va正命令の日付 自発 6、補正の対象 7、補正の内容 明細書第6頁第9行目に「相当するカルボン酸クロライ
ド」とある記載を「相当するパーフルオロカルボン酸ク
ロライド」と補正する。
(以上)
Claims (1)
- 非磁性支持体上に強磁性金属薄膜を形成し、前記強磁性
金属薄膜上にパーフルオロカルボン酸パーフルオロアル
キルエステルを含む潤滑剤を被着したことを特徴とする
磁気記録媒体。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15148586A JPS639011A (ja) | 1986-06-30 | 1986-06-30 | 磁気記録媒体 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15148586A JPS639011A (ja) | 1986-06-30 | 1986-06-30 | 磁気記録媒体 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS639011A true JPS639011A (ja) | 1988-01-14 |
Family
ID=15519530
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP15148586A Pending JPS639011A (ja) | 1986-06-30 | 1986-06-30 | 磁気記録媒体 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS639011A (ja) |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61104319A (ja) * | 1984-10-22 | 1986-05-22 | Nec Corp | 磁気記憶体 |
-
1986
- 1986-06-30 JP JP15148586A patent/JPS639011A/ja active Pending
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61104319A (ja) * | 1984-10-22 | 1986-05-22 | Nec Corp | 磁気記憶体 |
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