JPS6388788A - 薄膜形成法 - Google Patents

薄膜形成法

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Publication number
JPS6388788A
JPS6388788A JP61235312A JP23531286A JPS6388788A JP S6388788 A JPS6388788 A JP S6388788A JP 61235312 A JP61235312 A JP 61235312A JP 23531286 A JP23531286 A JP 23531286A JP S6388788 A JPS6388788 A JP S6388788A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
thin film
mask
film formation
glass
Prior art date
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Pending
Application number
JP61235312A
Other languages
English (en)
Inventor
寛 松岡
正利 鈴木
賢三 竹村
古宇田 康雄
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Resonac Corp
Original Assignee
Hitachi Chemical Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Chemical Co Ltd filed Critical Hitachi Chemical Co Ltd
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Publication of JPS6388788A publication Critical patent/JPS6388788A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Physical Vapour Deposition (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (従来の技術) 本発明は薄膜エレクトロルミネッセンス素子の発光層の
形成等に利用される#膜形取決に関する。
(従来の技術) 真空蒸着法、スパッタリング法、CVD(化学的気相成
長)法など、基板上に薄lIj!を形成する場合、装置
内での基板の保持、所望のパターンを得る、電極取出部
を確保する等の理由から蒸着マスク(基板ホルダー)を
用いるのが通例である。その際基板とマスクを@看させ
る*甘とスペースを設ける場合、ホルダー上に単純に基
板を載せるS甘とネジ等を用いて固定する場合等使分け
られている。
これらのマスク材料としては取扱い、強度等の点でそリ
ブテン、ステンレス、アルミニウム等金属材料を用いる
のが通例である。
(・発明が解決しようとする問題点) 薄膜形成においてに形成する薄膜の特性を同上するため
基板を加熱(100〜1000℃)しながら薄膜形成を
する場合が多い。基板の加熱にはへロゲランプ、シース
ヒータ、銹専加熱等が用途に応じて使い分けられている
。ところがマスクと基板が異る材料の場合に加熱さnる
程度が異ってしまう。例えばマスクがステンレスで基板
がガラスでハロゲンランプで加熱した場合には加熱輻射
線(薄膜形成は減圧下で行なわれるため対流による熱伝
達はきわめて小さい。)に対する透過、吸収率の差から
ステンレスの方がガラスエり高温になり蒸着される部分
のうちマスクに近い部分に遠い部分より高温になり膜厚
、特性等に差全生じマスク近傍部に使用できないという
問題点があった。
本発明は、均一な=を得ることが出来る薄護形成法を提
供するものである。
(問題点を蟹決するための手段) 不発明は薄膜形成方広において加熱源からのエネルギー
吸収が同じになる工5にマスク材料を基板と同村とする
ことを特徴とする 特に基板がガラス等のDo熱熱射射線一部を透過する場
合にこの効果により顕著になる。
第1図にガラス基板にEL用発光廖でろるZnS:へ1
n全電子ビーム蒸着する装置の概要デポし7.、(排気
装置等に図示せず)ものである基板にコーニング社#7
059ガラス(100X80×1゜2酎〕、マスクとし
て5US304と#7059ガラスの2種類用意した。
マスクに基板周囲10fflEIK膜がつかないよう(
電極取出のため)に80 X 60m1cy)開口部を
もりたものである。基板の加熱はハロゲンランプに用い
基板温度は200℃とした。ZnSの場合特性のために
は200℃程度の加熱が必要であるが第2図に示す工う
に付着確′4は基板温度に極めて強く依存し温度むらに
狭厚むらに直結する。第3図にマスクが5US304の
場合と#7059ガラスの場合の膜厚分布を長手方向(
80市)の場合について示した。第3図から明らかなと
59マスク材料が5US304の場合マスク近傍の10
15111−!素子として使用できず80X60m’の
面積に蒸着したにもかかわらず素子として利用できるの
は60X40mlにすぎない。これに反し#7059ガ
ラスをマスクに用いた場合に膜厚むらがほとんどなく8
0x6omすべてか素子として利用できた。
(発明の効果) 本発明により蒸着面全域に均一な膜を得ることができる
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の方法を示す蒸着装置の正面図、第2図
にZnS M着時の基板温度と付N確立の関係全示すグ
ラフ第3図は基板内の膜厚分布を示すグラフである。 符号の説明 1 基板       2 マスク 6 ハロゲンランプ  4  EB蒸発源5 シャッタ
     6 真空ベルジャ(1゛′ 代理人弁理士 黄 瀬  章に、。 ゝ、−7− 第2図 第3図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1)マスクを用いて、基板上の蒸着される領域を限定し
    て蒸着する薄膜形成法においてマスク材料を基板と同材
    料とすることを特徴とする薄膜形成法。 2)基板材料がガラスであることを特徴とする特許請求
    の範囲第1項記載の薄膜形成法。 3)蒸着される材料が薄膜エレクトロルミネツセンス用
    発光層であることを特徴とする特許請求の範囲第1項又
    は第2項記載の薄膜形成法。
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