JPS637592A - メモリのリフレツシユ方法 - Google Patents
メモリのリフレツシユ方法Info
- Publication number
- JPS637592A JPS637592A JP61150390A JP15039086A JPS637592A JP S637592 A JPS637592 A JP S637592A JP 61150390 A JP61150390 A JP 61150390A JP 15039086 A JP15039086 A JP 15039086A JP S637592 A JPS637592 A JP S637592A
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- Japan
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- signal
- cycle
- refresh
- period
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- Pending
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 9
- 230000004044 response Effects 0.000 claims description 2
- 230000000717 retained effect Effects 0.000 claims 1
- 230000003213 activating effect Effects 0.000 abstract description 3
- 230000004913 activation Effects 0.000 abstract description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 9
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 2
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 1
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はメモリのリフレッシュ方法に関する。
周知のように、ダイナミック型ランダムアクセスメモリ
(以下、DRAMと記す)は内部記憶データの保持の為
に周期的にリフレッシュしなければならない。
(以下、DRAMと記す)は内部記憶データの保持の為
に周期的にリフレッシュしなければならない。
第3図は従来のメモリのリフレッシュ方法を用いるリフ
レッシュ回路の一例のブロック図である。
レッシュ回路の一例のブロック図である。
第3図において、4′〜7′はフリップフロップ(以下
、F’Fと記す)でFF4’及びFF5’のQ出力は高
レベル(以下、′1”と記す)に初期設定されている。
、F’Fと記す)でFF4’及びFF5’のQ出力は高
レベル(以下、′1”と記す)に初期設定されている。
11.12’ 、13はインバータ(以下、INVと記
す)、14.15’は否定積回路(以下、NANDと記
す)である。
す)、14.15’は否定積回路(以下、NANDと記
す)である。
第4図は第3図に示すリフレッシュ回路の動作を説明す
るためのタイム図であり、インストラクションフェッチ
サイクル(以下、M1サイクルと記す)の期間を示す。
るためのタイム図であり、インストラクションフェッチ
サイクル(以下、M1サイクルと記す)の期間を示す。
以下に、第3図に示すリフレッシュ回路の動作について
第4図を参照して説明する。
第4図を参照して説明する。
22は外部装置のマイクロプロセッサに供給する信号と
同じクロック信号、21はクロック信号22の2倍の周
波数の周期信号、23はマイクロプロセッサがメモリア
クセス時に出力するメモリアクセス信号、24はマイク
ロプロセッサがインストラクションフェッチ時に出力す
るインストラクションフェッチ信号、25はマイクロプ
ロセッサがDRAMのリフレッシュを許可するリフレッ
シュ許可信号である。26はDRAMのロウアドレスス
トローブ信号(以下、RASと記す)、27はDRAM
へ供給するロウアドレスとカラムアドレスを切換えるア
ドレス切換信号、28はDRAMのカラムアドレススト
ローブ信号(以下、CASと記す)である。
同じクロック信号、21はクロック信号22の2倍の周
波数の周期信号、23はマイクロプロセッサがメモリア
クセス時に出力するメモリアクセス信号、24はマイク
ロプロセッサがインストラクションフェッチ時に出力す
るインストラクションフェッチ信号、25はマイクロプ
ロセッサがDRAMのリフレッシュを許可するリフレッ
シュ許可信号である。26はDRAMのロウアドレスス
トローブ信号(以下、RASと記す)、27はDRAM
へ供給するロウアドレスとカラムアドレスを切換えるア
ドレス切換信号、28はDRAMのカラムアドレススト
ローブ信号(以下、CASと記す)である。
M1サイクルのT、ステートでメモリアクセス信号23
が低レベル(以下、“O”と記す)となると、FF5’
のQ出力が“1”であることがらNAND14の出力は
”onとなり、RAS26も“0”となる。又、T、ス
テートでのメモリアクセス信号23の立下り以前にイン
ストラクションフェッチ信号24が′°0”になってい
ることから、メモリアクセス信号23が“0”になると
NAND15’の出力も“0”となる。
が低レベル(以下、“O”と記す)となると、FF5’
のQ出力が“1”であることがらNAND14の出力は
”onとなり、RAS26も“0”となる。又、T、ス
テートでのメモリアクセス信号23の立下り以前にイン
ストラクションフェッチ信号24が′°0”になってい
ることから、メモリアクセス信号23が“0”になると
NAND15’の出力も“0”となる。
T2ステートの開始でFF6′はNANDI5′の出力
をラッチするため、アドレス切換信号27は“0”とな
る、このため、T2ステートの最初の同期信号21の立
上りでFF7’はFF6′のQ出力をラッチし、CAS
28は“O”となる、T2ステートのクロック信号22
の立下りでFF4’のQ出力は“1”となる。
をラッチするため、アドレス切換信号27は“0”とな
る、このため、T2ステートの最初の同期信号21の立
上りでFF7’はFF6′のQ出力をラッチし、CAS
28は“O”となる、T2ステートのクロック信号22
の立下りでFF4’のQ出力は“1”となる。
このため、T3ステートの開始でFF5’のQ出力は“
0”となり、RAS26は“1”になる。又、メモリア
クセス信号23が“1”になるとFF6’及びFF7’
はセットがかかるためアドレス切換信号27及びCAS
28も“1”となる。インストラクションフェッチ信号
24が“1”になると、NAND15’の出力は“1”
となり、DRAMリフレッシュ時にアドレス切換信号2
7及びCAS28が“0”になるのを禁止する。
0”となり、RAS26は“1”になる。又、メモリア
クセス信号23が“1”になるとFF6’及びFF7’
はセットがかかるためアドレス切換信号27及びCAS
28も“1”となる。インストラクションフェッチ信号
24が“1”になると、NAND15’の出力は“1”
となり、DRAMリフレッシュ時にアドレス切換信号2
7及びCAS28が“0”になるのを禁止する。
T3ステートでリフレッシュ信号25が゛″00パると
、FF5’がリセットされRAS26はメモリアクセス
信号23に従って変化する。
、FF5’がリセットされRAS26はメモリアクセス
信号23に従って変化する。
上述した従来のメモリのリフレッシュ方法では、DRA
MのリフレッシュをM1サイクルのリフレッシュ期間中
にRASを活性化することにより行っているので、64
kbit(ただし1kbitは1024bit)までの
DRAMLかりフレッシュできないという欠点がある。
MのリフレッシュをM1サイクルのリフレッシュ期間中
にRASを活性化することにより行っているので、64
kbit(ただし1kbitは1024bit)までの
DRAMLかりフレッシュできないという欠点がある。
本発明の目的は、256kb i tのDRAMのリフ
レッシュができるメモリのリフレッシュ方法を提供する
ことにある。
レッシュができるメモリのリフレッシュ方法を提供する
ことにある。
本発明のメモリのリフレッシュ方法は、インストラクシ
ョンフェッチサイクルごとのリフレッシュ期間に外部か
ら入力されるメモリアクセス信号に応じてロウアドレス
ストローブ信号を活性化し、該ロウアドレスストローブ
信号の活性化前にカラムアドレスストローブ信号を活性
化しかつその状態をその周期の前記インストラクション
フェッチサイクルの期間保持するように構成される。
ョンフェッチサイクルごとのリフレッシュ期間に外部か
ら入力されるメモリアクセス信号に応じてロウアドレス
ストローブ信号を活性化し、該ロウアドレスストローブ
信号の活性化前にカラムアドレスストローブ信号を活性
化しかつその状態をその周期の前記インストラクション
フェッチサイクルの期間保持するように構成される。
次に、本発明の実施例について図面を参照して説明する
。
。
第1図は本発明の一実施例を用いるリフレッシュ回路の
ブロック図である。
ブロック図である。
第1図において、1〜7はFFで、FFI及びFF2の
Q出力とFF5のQ出力は“1゛′に、FF4のQ出力
は“O”に初期設定される。11及び13はINV、1
2及び14はNAND、15は論理積回路(以下、AN
Dと記す)、16は否定和回路(以下、NORと記す)
である。
Q出力とFF5のQ出力は“1゛′に、FF4のQ出力
は“O”に初期設定される。11及び13はINV、1
2及び14はNAND、15は論理積回路(以下、AN
Dと記す)、16は否定和回路(以下、NORと記す)
である。
第2図は第1図に示すリフレッシュ回路の動作を説明す
るためのタイム図であり、M1サイクルの期間を示す。
るためのタイム図であり、M1サイクルの期間を示す。
以下に、第1図に示すリフレッシュ回路の動作について
第2図を参照して説明する。
第2図を参照して説明する。
T!ステートで、メモリアクセス信号23が′0°“に
なるとFF7のセットが解除され、FF5のQ出力が“
1”に初期設定されているので、RAS26も“0”と
なる。又、FF3のQ出力が“1゛′であるため、メモ
リアクセス信号23が“0“になるとANDl5の出力
もパ1”となる。
なるとFF7のセットが解除され、FF5のQ出力が“
1”に初期設定されているので、RAS26も“0”と
なる。又、FF3のQ出力が“1゛′であるため、メモ
リアクセス信号23が“0“になるとANDl5の出力
もパ1”となる。
次に、T2ステートのクロック信号22の立上りでFF
IのQ出力は0”となり、FF6もANDl5の出力を
ラッチするためアドレス切換信号27も“0”となる。
IのQ出力は0”となり、FF6もANDl5の出力を
ラッチするためアドレス切換信号27も“0”となる。
T2ステート中のクロック信号22の立下りでFF4の
Q出力は“1“となる。T2ステートの最初の同期信号
21の立上りでFF7の回出力は“1”となるため、C
AS28も“′0”となる。
Q出力は“1“となる。T2ステートの最初の同期信号
21の立上りでFF7の回出力は“1”となるため、C
AS28も“′0”となる。
T3ステートのクロック信号22の立上りでFF2のQ
出力は“O”となり、又、FF5のQ出力も“0”とな
る。このため、NAND14の出力が“′1”となり、
RAS26が1”となる。
出力は“O”となり、又、FF5のQ出力も“0”とな
る。このため、NAND14の出力が“′1”となり、
RAS26が1”となる。
T3ステートの最初の同期信号21の立上りでFF3の
Q出力は“0”となりFF5をリセットし、ANDl
5の出力を“0″にする。これは、次のM1サイクルの
開始でFF2のQ出力が“0”になりFF3がリセット
されるまで解除されない。
Q出力は“0”となりFF5をリセットし、ANDl
5の出力を“0″にする。これは、次のM1サイクルの
開始でFF2のQ出力が“0”になりFF3がリセット
されるまで解除されない。
T3ステートでメモリアクセス信号23が立上るとFF
6がリセットされるため、アドレス切換信号27は1′
′になるが、FFIのQ出力が“0”であるためCAS
28は″0”のままである。
6がリセットされるため、アドレス切換信号27は1′
′になるが、FFIのQ出力が“0”であるためCAS
28は″0”のままである。
T3及びT4ステートでRA S’26はFF5がリセ
ットされているため、メモリアクセス信号23に従って
変化する。又、CAS28は、次のM1サイクルの最初
のクロック信号22の立上りでFF2のQ出力が0”に
なり、FF3がセットされるまで“O”であり続ける。
ットされているため、メモリアクセス信号23に従って
変化する。又、CAS28は、次のM1サイクルの最初
のクロック信号22の立上りでFF2のQ出力が0”に
なり、FF3がセットされるまで“O”であり続ける。
以上説明したように本発明のメモリリフレッシュ方法は
、M1サイクルのリフレッシュ期間にRASが活性化す
る前にCASを活性化することにより、256kb i
tのDRAMのリフレッシュができるという効果があ
る。
、M1サイクルのリフレッシュ期間にRASが活性化す
る前にCASを活性化することにより、256kb i
tのDRAMのリフレッシュができるという効果があ
る。
第1図は本発明の一実施例を用いるリフレッシュ回路の
ブロック図、第2図は第1図に示すリフレッシュ回路の
動作を説明するためのタイム図、第3図は従来のメモリ
のリフレッシュ方法を用いるリフレッシュ回路の一例の
ブロック図、第4図は第3図に示すリフレッシュ回路の
動作を説明するためのタイム図である。 1〜7.4′〜7′・・・FF、11.12’・・・I
NV、12・・・NAND、13・・・INV、14・
・・NAND、15・−・AND、15′・・・NAN
D、16・・・N0R126・・・R,AS、27・・
・アドレス切換信号、28・・・CAS。 第 2T!! II 第 3WJ 彬 4− 圀
ブロック図、第2図は第1図に示すリフレッシュ回路の
動作を説明するためのタイム図、第3図は従来のメモリ
のリフレッシュ方法を用いるリフレッシュ回路の一例の
ブロック図、第4図は第3図に示すリフレッシュ回路の
動作を説明するためのタイム図である。 1〜7.4′〜7′・・・FF、11.12’・・・I
NV、12・・・NAND、13・・・INV、14・
・・NAND、15・−・AND、15′・・・NAN
D、16・・・N0R126・・・R,AS、27・・
・アドレス切換信号、28・・・CAS。 第 2T!! II 第 3WJ 彬 4− 圀
Claims (1)
- インストラクションフェッチサイクルごとのリフレッシ
ュ期間に外部から入力されるメモリアクセス信号に応じ
てロウアドレスストローブ信号を活性化し、該ロウアド
レスストローブ信号の活性化前にカラムアドレスストロ
ーブ信号を活性化しかつその状態をその周期の前記イン
ストラクションフェッチサイクルの期間保持することを
特徴とするメモリのリフレッシュ方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61150390A JPS637592A (ja) | 1986-06-25 | 1986-06-25 | メモリのリフレツシユ方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61150390A JPS637592A (ja) | 1986-06-25 | 1986-06-25 | メモリのリフレツシユ方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS637592A true JPS637592A (ja) | 1988-01-13 |
Family
ID=15495944
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61150390A Pending JPS637592A (ja) | 1986-06-25 | 1986-06-25 | メモリのリフレツシユ方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS637592A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6452834B1 (en) * | 2001-02-13 | 2002-09-17 | Silicon Access Networks | 2T dual-port DRAM in a pure logic process with non-destructive read capability |
US6529433B2 (en) * | 2001-04-03 | 2003-03-04 | Hynix Semiconductor, Inc. | Refresh mechanism in dynamic memories |
-
1986
- 1986-06-25 JP JP61150390A patent/JPS637592A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6452834B1 (en) * | 2001-02-13 | 2002-09-17 | Silicon Access Networks | 2T dual-port DRAM in a pure logic process with non-destructive read capability |
US6529433B2 (en) * | 2001-04-03 | 2003-03-04 | Hynix Semiconductor, Inc. | Refresh mechanism in dynamic memories |
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