JPS6157097A - ダイナミツク半導体メモリ - Google Patents
ダイナミツク半導体メモリInfo
- Publication number
- JPS6157097A JPS6157097A JP59177905A JP17790584A JPS6157097A JP S6157097 A JPS6157097 A JP S6157097A JP 59177905 A JP59177905 A JP 59177905A JP 17790584 A JP17790584 A JP 17790584A JP S6157097 A JPS6157097 A JP S6157097A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- refresh
- ras
- mode
- self
- cas
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、CASビフォアRASリフレッシュが可能な
ダイナミック半導体メモリに関する。
ダイナミック半導体メモリに関する。
(従来の技術)
近年、半導体技術の進歩は著しく、*にメモリ拳セル構
造が簡単なダイナミック半導体メ七り(ダイナミック・
ランダム・アクセス半導体メモリ。
造が簡単なダイナミック半導体メ七り(ダイナミック・
ランダム・アクセス半導体メモリ。
以下、DRAMという−では高集積化が進んでいる。
ところがDRAMではメモリ・セルのデータ保持のため
スタンド拳パイ時においても、メモリ・セルをリフレッ
シ、する必要がアシ、このリフレッシ、・コントロール
が複維であるという欠点があった。この欠点を改善する
ためリフレッシ、・アトDRAMの開発が行なわれるよ
うになってき九。
スタンド拳パイ時においても、メモリ・セルをリフレッ
シ、する必要がアシ、このリフレッシ、・コントロール
が複維であるという欠点があった。この欠点を改善する
ためリフレッシ、・アトDRAMの開発が行なわれるよ
うになってき九。
以下1図面を用いて詳しく説明する。
第3図は従来のCASビフォアRASリフレ、シュ可能
なりRAMの一例を示すプロ、り図、第4図はそのCA
SビフォアRASリフレ、シュeモードを示すタイミン
グ図である。
なりRAMの一例を示すプロ、り図、第4図はそのCA
SビフォアRASリフレ、シュeモードを示すタイミン
グ図である。
第3図、第4図において、11はXアドレス・パ、ファ
、12はXデコーダ、13はYアドレス・バッファ、1
4tiYデコーダ、15はセンス・アンプ、16はメモ
リ・セル・アレー、17tiI10回路、18はデータ
・アウト−バッファ、19はデータ・イン・バッファ、
20はRASタイミング発生回路、21はCASタイミ
ング発生回路、22はライト・タイミング発生回路、2
3はリフレ。
、12はXデコーダ、13はYアドレス・バッファ、1
4tiYデコーダ、15はセンス・アンプ、16はメモ
リ・セル・アレー、17tiI10回路、18はデータ
・アウト−バッファ、19はデータ・イン・バッファ、
20はRASタイミング発生回路、21はCASタイミ
ング発生回路、22はライト・タイミング発生回路、2
3はリフレ。
シー拳アドレス・カウンタ、CASは(カラム・アドレ
ス・ストローフ)クロッ/、RASは(el−・アドレ
ス・ストローブ)クロ、りである。
ス・ストローフ)クロッ/、RASは(el−・アドレ
ス・ストローブ)クロ、りである。
第3図に示すリフレッシ、・アドレス・カウンタ23は
第4図に示すCASビフォアRASリフレッシュ時にだ
け動作する。すなわち%CASビフォベルになるとき、
CASクロ、りが10″レベルになっているとりフレッ
シュ・アドレス・カウンタ23の出力をアドレス・デー
タとしてリフレッシュを行なう。
第4図に示すCASビフォアRASリフレッシュ時にだ
け動作する。すなわち%CASビフォベルになるとき、
CASクロ、りが10″レベルになっているとりフレッ
シュ・アドレス・カウンタ23の出力をアドレス・デー
タとしてリフレッシュを行なう。
以上述べたように、リフレッシ−・アドレス・カウンタ
管内蔵すれば外部アドレスを必要とせず、RASクロッ
クとCASクロ、りだけでり7し、シ1を行ない、セル
・データを保持する事ができる。
管内蔵すれば外部アドレスを必要とせず、RASクロッ
クとCASクロ、りだけでり7し、シ1を行ない、セル
・データを保持する事ができる。
以上、DRAMのCASビフォアRASリフレッシュ・
モードの動作説明を行なったが、従来のDR必要とする
ため、外部コントロールが複雑になるという欠点があっ
た。
モードの動作説明を行なったが、従来のDR必要とする
ため、外部コントロールが複雑になるという欠点があっ
た。
(発明の目的)
本発明の目的は、上記の欠点を除去することによシ、外
部コントロールが簡単なCASビフォアRASリフレッ
シュが可能なダイナミック半導体メモリを提供する事に
ある。
部コントロールが簡単なCASビフォアRASリフレッ
シュが可能なダイナミック半導体メモリを提供する事に
ある。
(発明の構成)
本発明のダイナミック半導体メモリは、CASビフォア
RASリフレッシュが可能な半導体メモリにおいて、C
ASビフォアRASリフレ、シー・モードでRASクロ
、りを所定の期間以上10”レベル(シュ・モードから
セルフ・リフレッシュ・モードに遷移するりフレ、シ、
制御手段を有する事から構成される。
RASリフレッシュが可能な半導体メモリにおいて、C
ASビフォアRASリフレ、シー・モードでRASクロ
、りを所定の期間以上10”レベル(シュ・モードから
セルフ・リフレッシュ・モードに遷移するりフレ、シ、
制御手段を有する事から構成される。
(作用)
本発明のDRAMは、第1図の一実施例のプロ。
り図に示すように、タイマ24を有するリフレッシ、タ
イミング発生回路25からなる制御手段により、セルフ
・す7し、シュ動作を可能としたものであり、これによ
りリフレッシ−のための外部コントロールが簡単とカる
。
イミング発生回路25からなる制御手段により、セルフ
・す7し、シュ動作を可能としたものであり、これによ
りリフレッシ−のための外部コントロールが簡単とカる
。
(実施例)
以下、本発明の実施例について図面を参照して説明する
。
。
第1図は本発明の一実施例を示すプロ、り図。
第2図はそのセルフゆリフレッシュ・モードを示すタイ
ミング図である。
ミング図である。
本実施例は、第3図に示す従来例の回路に、CASk’
7オアRASリフレ、シュモードでコントロ一ル・クロ
、りRASを所定の期間以上”0°レベル(活性状態)
に保つとCASビフォアRASリフレッシ、・モードカ
ラセルフ拳すフレ、シ、・モードに遷移するりフレフシ
。制御手段として、タイマ24を有するリフレッシュタ
イミング発生回路25をRASタイミング発生回路20
とリフレッシュ・アドレス・カウンタ23間に接続した
事から構成される。
7オアRASリフレ、シュモードでコントロ一ル・クロ
、りRASを所定の期間以上”0°レベル(活性状態)
に保つとCASビフォアRASリフレッシ、・モードカ
ラセルフ拳すフレ、シ、・モードに遷移するりフレフシ
。制御手段として、タイマ24を有するリフレッシュタ
イミング発生回路25をRASタイミング発生回路20
とリフレッシュ・アドレス・カウンタ23間に接続した
事から構成される。
次に、第2図のタイミング図を参照し本実施例の動作に
ついて説明する。
ついて説明する。
第2図において1時刻t3□からtszはCASビフォ
アRASリフレッシュ・モードであり、時刻t3zかう
t3sはセルフ・リフレッシュ・モードである。
アRASリフレッシュ・モードであり、時刻t3zかう
t3sはセルフ・リフレッシュ・モードである。
時刻t3□でRASクロックが“0”レベル(活性状態
)になるとき、CASクロックが10#レベルであれば
。
)になるとき、CASクロックが10#レベルであれば
。
RASタイミング発生回路20が動作し、リフレ。
シュ・アドレス・カウンタ23の出力をアドレス・デー
タとしてリフレッシ、を行なう。その後。
タとしてリフレッシ、を行なう。その後。
タイマ24が動作し、時刻t、2になるとセルフ・リフ
レッシュ・モードに遷移し、タイマ24の出 6一 力でり7し、シュ・タイミング発生回路25を動作させ
、リフレッシ、・アドレス・カウンタ23の出力をアド
レス・データとしてリフレッシ、を行なう。そして、@
2図の時刻tssでRASクセ。
レッシュ・モードに遷移し、タイマ24の出 6一 力でり7し、シュ・タイミング発生回路25を動作させ
、リフレッシ、・アドレス・カウンタ23の出力をアド
レス・データとしてリフレッシ、を行なう。そして、@
2図の時刻tssでRASクセ。
りが″1”レベル(非活性状!りになるとセルフ・リフ
レッシュ・モードは解除される。
レッシュ・モードは解除される。
以上、述べたようにCASビフォアRASリフレッシュ
・モード金応用する事により、セルフ・す7し、シュ動
作をコントロールする事が可能である。
・モード金応用する事により、セルフ・す7し、シュ動
作をコントロールする事が可能である。
なお、タイマ24f:有するリフレ、シュタイミング発
生回路25の具体的な回路構成については説明しなかつ
たけれども、これは公知の技術によシ容易に作ることが
できる。
生回路25の具体的な回路構成については説明しなかつ
たけれども、これは公知の技術によシ容易に作ることが
できる。
(発明の効果)
以上、詳細に説明したとうヤ1本発明のダイナミック半
導体メモリは、す7し、シー制御手段を有しているので
、セルフ・リフレッシュ動作が可能でオ夛、リフレッシ
−のための外部コントロールが簡単になるという効果を
有している。
導体メモリは、す7し、シー制御手段を有しているので
、セルフ・リフレッシュ動作が可能でオ夛、リフレッシ
−のための外部コントロールが簡単になるという効果を
有している。
第1図は本発明の一実施例を示すブロック図、第2図は
そのセルフ・リフレッシJlh”モードを示すタイミン
グ図、第3図は従来のCASビフォアRASリフレ、シ
ュ可能なダイナミック半導体メモリの一例を示すブロッ
ク図、第4図はそのCASビフォアRASす7レツシ、
・モードを示すタイミング図である。 11・・・・・・Xアドレス・バッファ、12・・・・
・・Xデコ−/、13・・・・・・Xアドレス・バッフ
ァ、14−−−−・・Yデコーダ% 15・・・・・・
センス−アンプ、16・・・・・・メモリ・セル・アレ
ー、17・・・・・・I10回路、18・・・・・・デ
ーターアウト−バッファ、19・・・・・・データ・イ
ン・バッファ、20・・・・・・RASタイミング発生
回路、21・・・・・・CASタイミング発生回路%
22・・・・・・ライト・タイミング発生回路、23・
・・・・・リフレッシ、・アドレス拳カウンタ、24・
・・・・・タイ!% 25・・・・・・リフレッシ、・
タイミング発生回路%CAS・・・・・・(カラム・ア
ドレス・ストローブ)クロ、り、RAS ((ロー・ア
ドレス拳ストローフ)クロ、り。
そのセルフ・リフレッシJlh”モードを示すタイミン
グ図、第3図は従来のCASビフォアRASリフレ、シ
ュ可能なダイナミック半導体メモリの一例を示すブロッ
ク図、第4図はそのCASビフォアRASす7レツシ、
・モードを示すタイミング図である。 11・・・・・・Xアドレス・バッファ、12・・・・
・・Xデコ−/、13・・・・・・Xアドレス・バッフ
ァ、14−−−−・・Yデコーダ% 15・・・・・・
センス−アンプ、16・・・・・・メモリ・セル・アレ
ー、17・・・・・・I10回路、18・・・・・・デ
ーターアウト−バッファ、19・・・・・・データ・イ
ン・バッファ、20・・・・・・RASタイミング発生
回路、21・・・・・・CASタイミング発生回路%
22・・・・・・ライト・タイミング発生回路、23・
・・・・・リフレッシ、・アドレス拳カウンタ、24・
・・・・・タイ!% 25・・・・・・リフレッシ、・
タイミング発生回路%CAS・・・・・・(カラム・ア
ドレス・ストローブ)クロ、り、RAS ((ロー・ア
ドレス拳ストローフ)クロ、り。
Claims (2)
- (1)CASビフォアRASリフレッシュが可能なダイ
ナミック半導体メモリにおいて、CASビフォアRAS
リフレッシュ・モードでRASクロックを所定の期間以
上“0”レベル(活性状態)に保つとCASビフォアR
ASリフレッシュ・モードからセルフ・リフレッシュ・
モードに遷移するリフレッシュ制御手段を有する事を特
徴とするダイナミック半導体メモリ。 - (2)リフレッシュ制御手段がRASクロックを“1”
レベル(非活性状態)にするとセルフ・リフレッシュ・
モードが解除されるよう構成されてなる特許請求の範囲
第(1)項記載のダイナミック半導体メモリ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59177905A JPS6157097A (ja) | 1984-08-27 | 1984-08-27 | ダイナミツク半導体メモリ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59177905A JPS6157097A (ja) | 1984-08-27 | 1984-08-27 | ダイナミツク半導体メモリ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6157097A true JPS6157097A (ja) | 1986-03-22 |
Family
ID=16039108
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP59177905A Pending JPS6157097A (ja) | 1984-08-27 | 1984-08-27 | ダイナミツク半導体メモリ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6157097A (ja) |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH023151A (ja) * | 1988-06-16 | 1990-01-08 | Fujitsu Ltd | ダイナミック・ランダム・アクセス・メモリ装置 |
JPH0547175A (ja) * | 1992-01-31 | 1993-02-26 | Matsushita Electron Corp | ダイナミツク型記憶装置 |
US5404335A (en) * | 1992-04-01 | 1995-04-04 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Dynamic type semiconductor memory device operable in a self-refreshing mode |
JPH07296582A (ja) * | 1994-04-21 | 1995-11-10 | Goldstar Electron Co Ltd | メモリセルアレイのセルフリフレッシュ制御回路 |
US5633831A (en) * | 1994-02-03 | 1997-05-27 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Semiconductor memory device having self-refreshing function |
US5652168A (en) * | 1992-03-12 | 1997-07-29 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Method of forming a semiconductor device having a capacitor with improved element isolation and operation rate |
KR100268651B1 (ko) * | 1996-08-29 | 2000-12-01 | 아끼구사 나오유끼 | 반도체기억장치 |
-
1984
- 1984-08-27 JP JP59177905A patent/JPS6157097A/ja active Pending
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH023151A (ja) * | 1988-06-16 | 1990-01-08 | Fujitsu Ltd | ダイナミック・ランダム・アクセス・メモリ装置 |
JPH0547175A (ja) * | 1992-01-31 | 1993-02-26 | Matsushita Electron Corp | ダイナミツク型記憶装置 |
US5652168A (en) * | 1992-03-12 | 1997-07-29 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Method of forming a semiconductor device having a capacitor with improved element isolation and operation rate |
US5404335A (en) * | 1992-04-01 | 1995-04-04 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Dynamic type semiconductor memory device operable in a self-refreshing mode |
US5633831A (en) * | 1994-02-03 | 1997-05-27 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Semiconductor memory device having self-refreshing function |
US5825705A (en) * | 1994-02-03 | 1998-10-20 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Semiconductor memory device having self-refreshing function |
JPH07296582A (ja) * | 1994-04-21 | 1995-11-10 | Goldstar Electron Co Ltd | メモリセルアレイのセルフリフレッシュ制御回路 |
KR100268651B1 (ko) * | 1996-08-29 | 2000-12-01 | 아끼구사 나오유끼 | 반도체기억장치 |
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