JPS6366189A - ヒドロキシホスホノカルボン酸、その製造方法および該化合物からなるスケール防止剤、腐蝕防止剤ないし汚れ防止剤 - Google Patents

ヒドロキシホスホノカルボン酸、その製造方法および該化合物からなるスケール防止剤、腐蝕防止剤ないし汚れ防止剤

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、ヒドロキシホスホノカルボン酸、その製造方
法および例えば腐蝕防止剤としての該化合物の用途に関
するものである。
(従来の技術および発明が解決しようとする問題点)特
開昭55−29.885号公報に、次式:%式% (式中、R1はHまたは炭素原子数1ないし3のアルキ
ル基を表わし: R2、R3、R4およびR5は各々H,ハロゲダン子、
−COOM、PO3M2またはOHを表わし:nは0.
1.2またけ3を表わし:そしてMはHまたは陽イオン
を表わす。)で表わされる化合物が記載されている。
この化合物は、感光性のハロゲン化銀カラー写真材料用
の現像液の成分として有用であシ、そしてその現像液が
金属イオンを含む場合でも該液に安定性を与えるといわ
れている。
さらに写真加工液にも関するリサーチデイスクロージャ
ーズ(Research Disclosures)第
18170号(1979年5月)において、キレート剤
として有用であるといわれるホスホノカルボン酸の長い
一覧表の中に、1−ヒドロキシ−1−ホスホノ−エタン
−2−カルボン酸を見い出し得る。
本発明者らは、多くの種類の基材に対し、すぐれた腐蝕
防止作用を示す、ある種の新規ナヒドロキシホスホノモ
ノカルボン酸誘導体を令兄い出した。
(問題点を解決するだめの手段) 本発明は、次式I: 03H2 R−CX−C02H1 OH (式中、Rは炭素原子数1ないし12の直鎖または枝分
れ鎖アルキル残基、炭素原子数2ないし12の直鎖また
は枝分れ鎖アルケニル残基、炭素原子数5ないし12の
シクロアルキル残基、炭素原子数6ないし10のアリー
ル残基または炭素原子数7ないし12のアルアルキル残
基を表わし: そしてXは炭素原子数1ないし10の直鎖または枝分れ
鎖アルキレン残基、炭素原子数2ないし10の直鎖また
は枝分れ鎖アルケニレン残基または炭素原子数6ないし
10のアリーレン残基を表わす。)で表わされる化合物
:並びに上記式Iで表わされる化合物の誘導体を提供す
る。
式Iで表わされる化合物の”誘導体”という語によシ、
本明細書においては、1個またはそれ以上の酸性水素原
子を例えばアルカリ金属原子、アルカリ土類金属原子、
遷移金属原子、アンモニウム基またはアミン基により置
換することによシ生成される塩、または部分エステルを
意味する。意図するその他の誘導体は、式Iで表わされ
る化合物に相当する脱水生成物、例えば次式二POsH
2 (式中、Rは前記の定義と同じ意味を表わし、そしてX
Iは−CH2−CHrまたは−CH2CH2CH2−を
表わす。)で表わされるラクトン、並びに前記誘導体の
2種またはそれ以上の混合物である。
式Iで表わされる化合物が、1個のキラ本発明の一部を
形成する。
式Iで表わされる化合物が、1個より多本発明の一部を
形成する。
アルキル置換基Rは、例えばメチル基、エチル基、n−
プロピル基、i−プロピル基、n−ブチル基、j−ブチ
ル基、t−ブチル基、n−ペンチル基、n−ヘキシル基
、n−ヘプチル基、n−オクチル基、n−ノニル基、n
−デシル基、n−ウンデシル基またはn−ドデシル基で
あり得る。
アルケニル置換基Rは、例えばエチニル基、n−7’ロ
ペニル基、n −フチニル基、n−ペンテニル基、n−
へキセニル基、n−オクテニル基、n−デセニル基およ
びn−ドデセニル基を含む。
シクロアルキル置換基Rは、例えばシクロペンチル基、
シクロヘキシル基、シクロオクチル基、シクロデシル基
およびシクロドデシル基である。
アリール残基Rは、所望により例えば炭素原子数1ない
し4のアルキル基により置換されたフェニル残基または
ナフチル残基である。
Rがアルアルキル基を表わす場合には、例えばベンジル
基、フェネチル基またはナフチルメチル基であり得る。
アルキレ/残基Xは、例えばメチ11>基、エチレン基
、n−プロピレン基、n−7” fレン基、i−ブチレ
ン基、n−ペンチレン基、n−ヘキシレン基、n−へブ
チレン基、n−オクチレン基、n−テシレン基およびn
−ドデシレン基である。
アルケニレン残基Xは、エチレン基、n−グロペニレン
基s n −7”テニレン基、n−ペンテニル基、n−
ヘキセニレン基、n −オクテニル基、n−デセニレン
基およびn−ドデセニル基を含む。
アリーレン残基Xは、所望により例えば炭素原子数1な
いし4のアルキル基により置換されたフェニレン基また
はナフチレン基である。
好ましい置換基Rは、炭素原子数1ないし6のアルキル
基、特にメチル基を表わす。
XFi好ましくは炭素原子数1ないし6のアルキレン基
、よシ好ましくはメチレン基またはエチレン基、そして
特にメチレン基が好ましい。
式Iで表わされる化合物の特定の例は、下記のものであ
る。
3−ヒドロキシ−3−ホスホノブタン酸6−ヒトロキシ
ー6−ホスホノベンタン酸3−ヒドロキシ−3−ホスホ
ノヘキサン酸3−ヒドロキシ−4−メチル−3−ホスホ
ノペンタン酸3−ヒドロキシ−3−ホスホノへブタン酸
3−ヒドロキシー3−ホスホノオクタン酸3−ヒドロキ
シ−3−ホスホノノナン酸3−ヒドロキシ−3−ホスホ
ノデカン酸3−ヒドロキシ−3−ホスホノウンデカン酸
3−ヒドロキシ−5−ホスホノドデカン酸3−ヒドロキ
シ−3−ホスホノペンタデカン酸3−ヒドロキシ−6−
メチル−5−ホスホノへブタン酸4−ヒドロキシー4−
ホスホノペンクン酸4−ヒドロキシ−4−ホスホノヘキ
サン酸4−ヒドロキシ−5−メチル−4−ホスホノヘキ
サン酸4−ヒドロキシ−4−ホスホノへブタン酸4−ヒ
ドロキシー4−ホスホノオクタン酸4−ヒドロキシ−4
−ホスホノノナン酸4−ヒドロキシ−4−ホスホノデカ
ン酸4−ヒドロキシ−4−ホスホノランチカン酸4−ヒ
ドロキシ−4−ホスホノドデカン酸4−ヒドロキシ−7
−メチル−4−ホスホノオクタン酸4−ヒドロキシ−5
−メチル−4−ホスホノオクタン酸4−ヒドロキシ−5
−エチル−4−ホスホノオクタン酸4−ヒドロキシ−7
−メチル−4−ホスホノノナン酸4−ヒドロキシ−3−
メチル−4−ホスホノベンクン酸4−ヒドロキシ−2−
メチル−4−ホスホノペンタン酸4−ヒドロキシ−2−
メチル−4−ホスホノオクタン酸5−ヒドロキシ−5−
ホスホノヘキサン酸5−ヒドロキシ−5−ホスホノへブ
タン酸5−ヒドロキシー5−ホスホノオクタン酸5−ヒ
ドロキシ−5−ホスホノペンチ ルド−ヒドロキシ−5−ホスホカブカン酸5−ヒドロキ
シ−5−ホスホノウンデカン酸5−ヒドロキシ−5−ホ
スホノドデカン酸6−ヒトロキシー6−ホスホノへブタ
ン酸6−ヒトロキシー6−ホスホノドデカン酸5−ヒド
ロキシ−2−メチル−5−ホスホノヘキサン酸5−ヒド
ロキシ−2−メチル−5−ホスホノへブタン酸12−ヒ
ドロキシー12−ホスホノトリデカン酸10−ヒドロキ
シ−10−ホスホノエイコサン酸3−シクロヘキシル−
3−ヒドロキシ−3−ホスホノプロパン酸 3−ヒドロキシ−3−フェニル−3−ホスホノペンタン
酸 3−ヒドロキシ−4−フェニル−3−ホスホノブタン酸
4−ヒドロキシ−6−7エニルー4−ホスホノヘキサン
酸 3−ヒドロキシ−5−ホスホノ−ブチ−4−エン酸4−
ヒドロキシ−4−ホスホノペンテ−2−エン酸2−(1
−ヒドロキシ−1−ホスホノペンチル)安息香酸 3−(1−ヒドロキシ−1−ホスホノペンチル)安息香
酸 4−(1−ヒドロキシ−1−ホスホノペンチル)安息香
酸 3−ヒドロキシ−3−ホスホノブタン酸三ナトリウム塩
3−ヒドロキシ−3−ホスホノブタン酸アンモニウム塩
3−ヒドロキシ−3−ホスホノペンタン酸トリエチルア
ンモニウム塩 3−ヒドロキシ−3−ホスホノベンクン酸ドデシルアミ
ン塩 本発明は、式Iで表わされる化合物の第一の製造方法を
提供し、その方法は、 次式■: R−C−X C02R’     II(式中、Rおよ
びXは、式(1c:13−ける上記の定義と同じ意味を
表わし、そしてRtはHまたけ炭素原子数1ないし6の
アルキル基を表わすが、ただしXがメチレン基を表わす
場合には、R1はHを表わさない。)で表わされるケト
エステルを、三ノ・ロダン化燐、好ましくはPCCS2
水の存在下で、またはカルボン酸または無水カルボン酸
、好ましくは酢酸または無水酢酸の存在下で反応させ:
そしてまだ水が存在しない場合には、引き続き水を添加
することからなる。
このように得られた式Iで表わされる化合物は、少量の
相当する脱水生成物をしばしば含有するが、慣用の方法
により後処理できる。
本発明による第二の製造方法において、式Iで表わされ
る化合物は、触媒、例えば弗化アルカリ金属の存在下で
、次式■ (式中、R1はHまたは炭素原子数1ないし乙のアルキ
ル基を表わし、各々の基R1は同一でも異なっていても
よい。)で表わされるジアルキルホスフィツトを、次式
■: R−Co−X−COORI    IV(式中、R,X
およびR1は上記の定義と同じ意味を表わすが、Xがメ
チレン基を表わす場合には、R1はHを表わさない。)
で表わされるケトエステルと反応させて 次式V: PO3R”2 R−CX−C02R’      V H で表わされる化合物を製造し、そして例えば式■で表わ
される化合物を鉱酸の存在下、還流条件下で加熱するこ
とにより、エステル基を加水分解して製造され得る。
再び、反応生成物は、しばしば少量の脱水生成物を含有
するが、慣用の方法により、さらに後処理できる。
本発明による第三の製造方法において、次式I′: 03H2 R−C−X−CO2HI’ ■ H (式中、Rは式Iの定義と同じ意味を表わし、Xは−C
H2CR2−または−CH2CH2CR2−残基を表わ
す。)で表わされる上記式Iで表わされる化合物の分子
内ラクトン誘導体は、次式■: (式中、R1はHまたは炭素原子数1ないし6のアルキ
ル基を表わし、各々の基R1は同一でも異なっていても
良い。)で表わされるジアルキルホスフィツトを、ナト
リウム金属の存在下で 次式■: RCO−(CH2) n −C02R”iT(式中、R
およびR1は上記の定義と同じ意味を表わし、nは2″
!たは3を表わす。)で表わされるアルキルエステルと
反応させて、 次式■または■A: で表わされるエステル−ラクトンを製造し、そして例え
ば混合物を鉱酸の存在下、還流条件下で加熱することに
より該化合物のエステル基を加水分解して、次式■また
は■A: で表わされるラクトン誘導体を製造することによシ得ら
れる。
式Iで表わされる化合物、およびそれらの誘導体は、広
範囲の用途において、有益な特性を有することが見い出
された。
例えば、式Iで表わされる化合物は、良好な腐蝕および
/またはスケール防止性、水性の施用媒体中で詰まり防
止剤として良好な有効性を有し:そして水性アルミニウ
ム塗料組成物中のシール汚れ防止剤として有効性を示す
それらは、金属表面の予備処理、例えば洗浄のために使
用されても良く、スケール/腐蝕防止剤の活性を損なう
イオンのマスキング剤として使用されても良い。
従って、本発明は施用媒体と機能添加剤として少なくと
も1種の式Iで表わされる化合物またはその誘導体とか
らなる組成物をも提供する。
施用媒体は、例えば全部水性の媒体、一部水性の媒体ま
たは非水性の媒体であって良い。
1、 全部または一部水性の添加剤施用媒体中の使用 式Iで表わされる化合物(または誘導体)は単独で用い
ても良いが、施用媒体の処理に有用であると知られてい
る他の化合物と共に用いても良い。
冷却水系、空気調節系、蒸気発生系、海水蒸発系、静水
圧力がま(hydrostatic cookers)
、おび閉回路加熱または冷媒系の様な完全に水性である
系の処理には他の腐蝕防止剤、例えば水溶性の亜鉛塩;
ホスフェート;ポリホスフェート;ホスホン酸およびそ
れらの塩、例えばヒドロキシエチル−ジホスホン酸 (HBDP)、ニトリロトリスメチレンホスホン酸およ
びメチルアミノジメチレンホスホノカルボン酸およびそ
の塩、例えば西ドイツ特許公開公報第2652774号
に記載さnている化合物、ヒドロキシホスホノ酢酸%2
−ホスホノブタン−1,2,4−)リカルボン酸(PB
SAM)およびイギリス特許第1572406号に記載
されている化合物;硝酸塩、例えば硝酸ナトIJウム;
亜硝酸塩、例えば亜硝酸ナトリウム;モリブデン酸塩、
例えばモリブデン酸ナトリウム;タングステン酸塩;ケ
イ酸塩、例えばケイ酸ナトリウム;ベンゾトリアゾール
、ビス−ベンゾトリアゾールまたは調子活性化ベンゾト
リアゾールまたはトル) IJアゾール誘導体例えばそ
のマンニッヒ塩基誘導体: N−アシルサルコシン;N
−アシルイミノニ酢酸;エタノールアミン:脂肪アミン
:およびポリカルボン酸−例えばポリマレイン酸および
ポリアクリル酸、並びにこれらのアルカリ金属塩、無水
マレイン酸のコポリマー、例工ば無水マレイン酸とスル
ホン化スチレンとのコポリマー、アクリル酸のコポリマ
ー、例えばアクリル酸とヒドロキシアルキル化アクリル
酸とのコポリマー、およびポリマレイン酸、ポリアクリ
ル酸およびそれらのコポリマーの置換誘導体を使用し得
る。
特に興味深い混合物は、式Iで表わされる化合物とHE
DPおよび/またはP B S AMおよび/またはベ
ンゾトリアゾールまたはトルトリアゾールとの混合物で
ある。
さらに、その様な完全な水性系においては、式Iで表わ
さ扛る化合物は他の分散剤および/または限界処理剤、
例えば重合したアクリル酸もしくはメタクリル酸(t′
fCはその塩)またはポリアクリルアミドホモ−および
そのコポリマーと共に使用することができる。
他の添加剤としては、沈殿剤例えばアルカリ金属オルト
ホスフェート、カーボネート;酸素除去剤例えばアルカ
リ金属スルフイツトおよびヒドラジン;金属イオン封鎖
剤例えばニトリロトリ酢酸およびその塩;消泡剤例えば
シリコン、例えばポリジメチルシロキサン、ジステアリ
ルアジパミド、ジステアリルアジパミドおよびエチレン
オキシドおよび/またはプロピレンオキシド縮金物から
誘導される関連生成物、さらに脂肪アルコール、例えば
カプリルアルコールおよびそれらのエチレンオキシド縮
合物;殺生物剤、例えばアミン、第四アンモニウム化合
物、クロロフェノール、イオウ含有化合物例えばスルホ
ン、メチレンビスチオシアネートおよびカルバメート、
イソチアゾロン、臭化プロピオンアミド、トリアジン、
燐化合物、塩素および塩素放出剤および有機金属化合物
例えばトリブチル錫オキシドが使用し得る。
水性施用媒体が完全に水性ではない場合、例えば水性機
械加工流体配合剤または圧媒油である場合、そnらは例
えば水で希釈可能な切削用または磨砕用流体であり得る
本発明の組成物の成分として使用される水性機械加工流
体配合剤は、例えば金属加工配合剤であってもよい。「
金属加工」という語は、リーマ加工、ブローチング、延
伸、スピニング、切削、磨砕、穿孔、微粉砕、旋削、の
こ引き、非切削造形、圧延または急冷を意味する。
腐蝕防止組成物に混合してもよい、水で希釈さn得る切
削または磨砕用流体の例としては下記のものを包含する
: a)  1種または七扛以上の腐蝕防止剤、および所望
により1種またはそれ以上の耐摩耗性添加剤からなり、
通常摩砕用流体として1:50’ifcは1:100の
希釈度で使用される水性濃厚物; b)殺生物剤、腐蝕防止剤および耐摩耗性添加剤を含有
し、切削操作用として1:20ないし1:40の希釈度
で、また摩砕用として1:60ないし1:80の希釈度
で使用さnるポリグリコール; C)上記b)と類似する流体であって、さらに、水で希
釈すると半透明な生成物となる、充分な乳化剤と共に1
0ないし25チ油を含有する半合成切削用流体: d)例えば乳化剤、腐蝕防止剤、極圧/耐摩耗性添加剤
、殺生物剤、消泡剤、カンプリング剤などを含有する乳
化性鉱油濃厚物;こ扛らは通常、水によfil:10な
いし1:50の割合で希釈さnて不透明な白色エマルジ
ョンとされる。
e)上記d)に類似する生成物であって、1:50ない
し1:100の範囲の希釈度で切削または摩砕操作用の
半透明なエマルジョンとす扛る、上記d)の流体に比べ
てよ−り少量の油およびより多量の乳化剤を含有する生
成物。
水性施用媒体が水性機械加工流体配合剤または圧媒油で
ある、これらの一部水性系において、本発明の化合物は
、単独で、または好ましくは他の添加剤例えば公知の他
の腐蝕防止剤および/または極圧添加剤と混合して使用
し得る。
これらの水性系において使用す扛得る他の腐蝕防止剤の
例としては、下記群を包含する:a)有機酸、そのエス
テルまたはアンモニウム、アミン、アルカノールアミン
および金属塩、例えば、安息香酸、p−第三ブチル安息
香酸、セバシン酸二ナトリウム、ラウリン酸トリエタノ
ールアミン、イソ−ノナン酸、p−)ルエンスルホンア
ミドカプロン酸のトリエタノールアミン塩、ベンゼンス
ルホンアミドカプロン酸のトリエタノールアミン塩、欧
州特許第41927号に記載されfcs−ケトカルボン
酸誘導体のトリエタノールアミン塩、N−ラウロイルサ
ルコキシン酸ナトリウムまたはノニルフェノキシ酢酸; b)下記種類のような窒素含有物質:脂肪酸アルカノー
ルアミド;イミダシリン、例えば1−とドロキシエチル
−2−オレイル−イミダシリン;オキサゾリン:トリア
ゾール、たとえばベンゾトリアゾール;またはそれらの
マンニッヒ塩基誘導体;トリエタノールアミン:脂肪ア
ミン;無機塩、例えば硝酸ナトリウム;および欧州特許
願第46139号に記載されたカルボキシトリアジン化
合物; C)下記種類のような燐含有物質:燐酸アミン、ホスホ
ン酸または無機塩、例えば燐酸二水素ナトリウム、また
は燐酸亜鉛: d)下記種類のような硫黄含有化合物:石油スルホン酸
ナトリウム、カルシウムもしくはバリウム、または複素
環式化合物、例えばナトリウムメルカプトベンゾチアゾ
ール。
窒素含有物質、特にトリエタノールアミンが好ましい。
式Iで表わさnる化合物は、通常の沈積物、例えば鉄酸
化物および/または鉄塩、カルシウムおよびマグネシウ
ム析出物、例えばそれらの炭酸塩、硫酸塩、蓚酸塩およ
び燐酸塩、および水中に見らするシルト、アルミナ、珪
酸塩およびクレーに対する分散剤および/または詰まり
防止剤として作用する。
特に、式Iで表わされる化合物は、重量で5ないし15
00ppmのカルシウムイオン並びに懸濁した固体を含
有する水性系中の沈積物を分散させる。本発明の上記の
点は、クレーヤイナクレー工業において特別な用途を見
い出す。これらのスラリー中、懸濁した固体の高濃度で
は、式Iで表わさnる化合物が、チャイナクレーを分散
させること、および“工程内の″′分散剤および磨砕補
助剤として重要であることを見い出した。
熱水または沸騰水を使用する上記シールの間には、酸化
物着層の細孔をシールするだけでなく、厚く柔らかい塗
膜(シール汚n)も全表面上に形成さ扛ている。式Iで
表わされる化合物は、シール汚れ防止剤としての用途に
有用である。
本発明の組成物中に存在する式Iで表わさ詐る化合物の
量は、式Iで表わされる化合物が示す作用および施用媒
体の組成に依存して変化する。
式Iで表わされる化合物は、化学量論比より少ない量で
使用さnl例えば施用媒体に基づいてα1ないし50.
OOOppm(0,00001ないし5重量%)、より
好ましくは1ないし500 ppm ([10001な
いしCLO5重量%)の範囲の量で使用さnる。
(実施例および発明の効果) 下記の実施例によυ本発明をさらに説明する。
ン酸 三塩化燐(92I!Ll!、1モル)′f:18分かげ
て添加スる間、アセト酢酸エチル(128m、1モル)
を室温で攪拌する。混合物を次に2時間30分、50℃
に加熱する。室温に冷却後、氷酢酸(120f、2モル
)を添加する。室温で攪拌後、混合物を次に70℃まで
加熱し、そしていくらかの揮発性物質を留去する。5時
間後、水50I!Lliヲ注意深く添加し、全体を加熱
して4時間還流する。冷却後、溶媒を真空下で除去し、
褐色の粘性油状物173f(9t%)k得、それは”P
nmrにより、相当する脱水化合物15チを混入した表
題の生成物であることが示されている。アセトンでの粉
末化により、白色固体として純粋な生成物を得る。
”Pnmr:δ24.1tq 元素分析 計算値(Ca H,06P ) C241%、H4,9
%、P1/1.8チ実測値     C25,9チ、 
H5,15チ、PI3.02チ実施例2:5−ヒドロキ
シ−6−ホスホノブタン酸 アセト酢酸エチル(02モル)およびジエチルホスフィ
ッ) (0,2モル)を室温で弗化カリウム(1モル)
と共に6時間攪拌する。生成物をジクロロメタンで抽出
し、蒸留すると、32%3−ヒドロキシ−3−ホスホノ
ブタン酸トリエチルエステル(沸点114−120℃/
 & 5 m+Hs’ )を得、これは18チ塩酸(2
00JIE/)で15時間還流すると、再び脱水生成物
15%を含有する遊離酸(90%)を得る〇 実施例3:5−ヒドロキシ−3−ホスホノペンタン酸 三塩化燐(15モル)を10分かけて添加する間、メチ
ルプロピオニル酢酸エステル(0,5モル)を室温で攪
拌する。さらに10分後、酢酸(1モル)を添加する。
溶液は、一時は不均質になる。室温で7時間後、混合物
を90℃に加熱し、そしていくらかの揮発性物質を2時
間かけて除去する。残留混合物を次に室温まで冷却する
水250m1添加すると、初めに激しく反応し、発熱す
る。添加終了後、混合物を4時間還流する。溶媒を次に
減圧下除去すると、3tPnmr分光が3−ヒドロキシ
−3−ホスホノペンタン酸と3−ホスホノペンテ−2−
エン酸との6:1混合物であることを示す褐色粘性樹脂
(収率100チ)を得る。
” Pnmr :δ24.1q3−ヒトoキー7−3−
ホスホノペンタン酸 δ13.2dt5−ホスホノペンテ−2−エン酸 実施例4:4−ヒドロキシ−4−ホスホノペンタン酸 乾燥トルエン(75011tlり中のナトリウム砂(2
r)t−室温で攪拌し、ジエチルホスホフィッ)(0,
69モル)を添加する。全てのす) IJウムが溶解す
るまで混合物を80℃で1時間加熱する。レブリン酸エ
チル(0,69モル)i20分かけて添加し、そして反
応物を加熱して9時間還流する。冷却後、溶媒を減圧上
除去する。残渣を蒸留すると、28チジエチルエステル
ーラクトン生成物、沸点130℃/ 5 ranHf 
(文献値100−b ” Pnmr :  δ22.2m 18%HCt3ooIILl中で10時間還流すること
により、この生成物を加水分解すると、4−ヒドロキシ
−4−ホスホノペンタン酸の分子内ラクトンのほとんど
定量的な量を得る。
”Pnmr  :  δ 1a6m デカン酸 メチル−3−ケトトリデカノエート(42)を室温で攪
拌し、そして三塩化燐(2,27p)を添加する。混合
物を次に50℃で2.5時間加熱し、そして冷却し、氷
酢酸(1,91’)i添加する。この系を次に50℃と
70℃の間に4時間加熱し、そして冷却後、水(50d
)’ii添加すると、初めに強い発熱が生じる。水の添
加の終了後、2相系を12時間加熱して還流する。
冷却後、生成物をエーテル中に抽出し、エーテル層を次
に乾燥し、そして真空下で蒸発すると、淡黄色清秋物(
3,9p)として生成物を得、これは相当するα、β−
不飽和カルボン酸16チを混入している。
”Pnmr :  δ25.9 ppm  3−ヒトo
キシ−3−ホス*/トリデカン酸 δ14.1 ppm  3−ホスホノトリグセ−2−エ
ン酸 実施例6: 製造しfcn−ヒドロキシ−〇−ホスホノカルボン酸を
、再循環冷却水装置で、異なる水組成物を使用して第一
鉄金属の腐蝕防止剤としての試験ヲ行った。2−ヒドロ
キシ−2−ホスホノブタン酸(実施例1で得られたよう
に、脱水物15%を含有する)の試験系および結果を以
下に示す。
再循環冷却装置は、予め洗浄し、予め重量を測った軟鋼
熱変換器およびクーポン上を再循環する試験水の20を
容器からなる。容器温度を40℃に保ち、そしてさらに
維持レベルで6日間続ける前に、高レベルの防止剤処理
を24時間維持する。熱交換器およびクーポンを次に洗
浄し、腐蝕塵を決定する。結果を下記第1表にまとめた
第  1  表 試験開始時の水の分析結果は、下記のとおりだった。
尖    1)c″  o 0 α     ド  ベ  ド  ω 再循環装置系で5Mおよび8M水中の腐蝕試験のために
、ヒドロキシエチルジホスホン酸(HEDP)21)p
mをスケールコントロール剤として添加する。
引用した結果に関し、初期の高い施用レベルは有効成分
80ppmであり、これは維持期間の間に20 ppm
に減少する。全ての場合において、トルトリアゾール(
TTA ) 4 ppmを、高い施用量の不動態化期間
の間に添加し、存在する黄色金属を保護するための維持
期間の間にlppmに減少する。
実施例7: Ca”(CaCO3として) 200 ppm、 HC
O3−(CaCO3としテ) 1100pp、 B’e
2+1100ppおよび試験添加剤xppmt含有する
水溶液100!!tI!i50℃で1時間維持する。濁
度測定の後、(122μmまたはα30μmフィルター
のどちらかを通した濾液中に存在する鉄量を0(悪い)
ないし10(良好)の尺度で記録する。下の第2表に示
す結果は、試験化合物として、実施例1で得らrtた5
−ヒドロキシ−3−ホスホノブタン酸を使用して得られ
た。
第  2  表 NTUはネフォロメトリック濁度単位 (Nepholometric ’f’urbidit
y Units)を示す。

Claims (20)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)次式 I : ▲数式、化学式、表等があります▼ I (式中、Rは炭素原子数1ないし12の直鎖または枝分
    れ鎖アルキル残基、炭素原子数2ないし12の直鎖また
    は枝分れ鎖アルケニル残基、炭素原子数5ないし12の
    シクロアルキル残基、炭素原子数6ないし10のアリー
    ル残基または炭素原子数7ないし12のアルアルキル残
    基を表わし; そしてXは炭素原子数1ないし10の直鎖または枝分れ
    鎖アルキレン残基、炭素原子数2ないし10の直鎖また
    は枝分れ鎖アルケニレン残基または炭素原子数6ないし
    10のアリーレン残基を表わす。)で表わされる化合物
    、並びに上記式 I で表わされる化合物の誘導体、およ
    び光学的対掌体、 ラセミ混合物およびジアステレオマーの混合物。
  2. (2)Rが炭素原子数1ないし6のアルキル基を表わし
    、そしてXが炭素原子数1ないし6のアルキレン基を表
    わす特許請求の範囲第1項記載の化合物。
  3. (3)Rがメチル基を表わし、そしてXがエチレン基ま
    たはメチレン基を表わす特許請求の範囲第2項記載の化
    合物。
  4. (4)Xがメチレン基を表わす特許請求の範囲第3項記
    載の化合物。
  5. (5)次式 I : ▲数式、化学式、表等があります▼ I (式中、Rは炭素原子数1ないし12の直鎖または枝分
    れ鎖アルキル残基、炭素原子数2ないし12の直鎖また
    は枝分れ鎖アルケニル残基、炭素原子数5ないし12の
    シクロアルキル残基、炭素原子数6ないし10のアリー
    ル残基または炭素原子数7ないし12のアルアルキル残
    基を表わし; そしてXは炭素原子数1ないし10の直鎖または枝分れ
    鎖アルキレン残基、炭素原子数2ないし10の直鎖また
    は枝分れ鎖アルケニレン残基または炭素原子数6ないし
    10のアリーレン残基を表わす。)で表わされる化合物
    の製造方法において、 次式II: ▲数式、化学式、表等があります▼II (式中、RおよびXは、式 I における上記の定義と同
    じ意味を表わし、そしてR^1はHまたは炭素原子数1
    ないし6のアルキル基を表わすが、ただしXがメチレン
    基を表わす場合には、R^1はHを表わさない。)で表
    わされるケトエステルを、三ハロゲン化燐と水の存在下
    で、またはカルボン酸または無水カルボン酸の存在下で
    反応させ;そしてまだ水が存在しない場合には、引き続
    き水を添加することからなる上記式 I で表わされる化
    合物の製造方法。
  6. (6)三ハロゲン化燐がPCl_3であり、そして酸が
    酢酸である特許請求の範囲第5項記載の製造方法。
  7. (7)次式 I : ▲数式、化学式、表等があります▼ I (式中、Rは炭素原子数1ないし12の直鎖または枝分
    れ鎖アルキル残基、炭素原子数2ないし12の直鎖また
    は枝分れ鎖アルケニル残基、炭素原子数5ないし12の
    シクロアルキル残基、炭素原子数6ないし10のアリー
    ル残基または炭素原子数7ないし12のアルアルキル残
    基を表わし; そしてXは炭素原子数1ないし10の直鎖または枝分れ
    鎖アルキレン残基、炭素原子数2ないし10の直鎖また
    は枝分れ鎖アルケニレン残基または炭素原子数6ないし
    10のアリーレン残基を表わす。)で表わされる化合物
    の製造方法において、触媒の存在下で、次式III: ▲数式、化学式、表等があります▼III (式中、R^1はHまたは炭素原子数1ないし6のアル
    キル基を表わし、各々の基R^1は同一でも異なってい
    てもよい。)で表わされるジアルキルホスフィットを、 次式IV: R−CO−X−COOR^1IV (式中、R、XおよびR^1は上記の定義と同じ意味を
    表わすが、Xがメチレン基を表わす 場合には、R^1はHを表わさない。)で表わされるケ
    トエステルと反応させて、 次式V: ▲数式、化学式、表等があります▼V で表わされる化合物を製造し、そして該化合物のエステ
    ル基を加水分解して、上記式 I で表わされる遊離酸を
    製造することからなる上記式 I で表わされる化合物の
    製造方法。
  8. (8)触媒が弗化アルカリ金属である特許請求の範囲第
    7項記載の製造方法。
  9. (9)次式 I ′: ▲数式、化学式、表等があります▼ I ′ (式中、Rは炭素原子数1ないし12の直鎖または枝分
    れ鎖アルキル残基、炭素原子数2ないし12の直鎖また
    は枝分れ鎖アルケニル残基、炭素原子数5ないし12の
    シクロアルキル残基、炭素原子数6ないし10のアリー
    ル残基または炭素原子数7ないし12のアルアルキル残
    基を表わし; そしてXは−(CH_2)_2または_3−残基を表わ
    す。)で表わされる化合物の分子内誘導体の製造方法に
    おいて、 次式III: ▲数式、化学式、表等があります▼III (式中、R^1はHまたは炭素原子数1ないし6のアル
    キル基を表わし、各々の基R^1は同一でも異なってい
    ても良い。)で表わされるジアルキルホスフィットを、
    ナトリウム金属の存在下で 次式VI: R−CO−(CH_2)_n−CO_2R^1VI(式中
    、RおよびR^1は上記の定義と同じ意味を表わし、n
    は2または5を表わす。) で表わされるアルキルエステルと反応させ て、次式VIIまたはVIIA: ▲数式、化学式、表等があります▼VIIまたは▲数式、
    化学式、表等があります▼VIIA で表わされるエステル−ラクトンを製造し、そして該化
    合物のエステル基を加水分解して、次式VIIIまたはVII
    IA: ▲数式、化学式、表等があります▼VIIIまたは▲数式、
    化学式、表等があります▼VIIIAで表わされるラクトン
    誘導体を製造することからなる上記式 I ′で表わされ
    る化合物の分子内誘導体の製造方法。
  10. (10)施用媒体と、機能添加剤として少なくとも1種
    の次式 I : ▲数式、化学式、表等があります▼ I (式中、Rは炭素原子数1ないし12の直鎖または枝分
    れ鎖アルキル残基、炭素原子数2ないし12の直鎖また
    は枝分れ鎖アルケニル残基、炭素原子数5ないし12の
    シクロアルキル残基、炭素原子数6ないし10のアリー
    ル残基または炭素原子数7ないし12のアルアルキル残
    基を表わし; そしてXは炭素原子数1ないし10の直鎖または枝分れ
    鎖アルキレン残基、炭素原子数2ないし10の直鎖また
    は枝分れ鎖アルケニレン残基または炭素原子数6ないし
    10のアリーレン残基を表わす。)で表わされる化合物
    またはその誘導体とからなる組成物。
  11. (11)少なくとも1種の上記式 I で表わされる化合
    物を含む全部または一部水性の施用媒体からなる特許請
    求の範囲第10項記載の組成物。
  12. (12)施用媒体が、全部水性の冷却水系、空調系、蒸
    気発生系、海水蒸発系、静水圧力がま、または閉回路加
    熱または冷媒系である特許請求の範囲第11項記載の組
    成物。
  13. (13)上記式 I で表わされる化合物が、施用媒体の
    処理に有用であるような別の公知の化合物と共に使用さ
    れる特許請求の範囲第10項記載の組成物。
  14. (14)別の化合物が、他の腐蝕防止剤、分散剤および
    /または限界処理剤、沈殿剤、酸素除去剤、金属イオン
    封鎖剤、消泡剤および殺生物剤の1種またはそれ以上で
    ある特許請求の範囲第13項記載の組成物。
  15. (15)施用媒体が一部水性の機械加工流体配合剤また
    は圧媒液である特許請求の範囲第11項記載の組成物。
  16. (16)上記式 I で表わされる化合物が、他の腐蝕防
    止剤および/または極圧添加剤と共に使用される特許請
    求の範囲第15項記載の組成物。
  17. (17)式 I で表わされる化合物が、腐蝕および/ま
    たはスケール防止作用を示し、そして施用媒体の重量に
    基づいて、0.1ないし50,000ppm(0.00
    001ないし5重量%の量で存在する特許請求の範囲第
    10項記載の組成物。
  18. (18)式 I で表わされる化合物が、施用媒体の重量
    に基づいて、1ないし500ppm(0.0001ない
    し0.05重量%)の量で存在する特許請求の範囲第1
    7項記載の組成物。
  19. (19)施用媒体が通常の沈積物を含有し、そして式
    I で表わされる化合物が詰まり防止性を示す特許請求の
    範囲第10項記載の組成物。
  20. (20)施用媒体が、アルミニウム表面上の陽極産生酸
    化物層をシールするために使用される媒体であり、そし
    てシール汚れ防止剤として0.0005ないし0.5g
    /lの式 I で表わされる化合物を含む特許請求の範囲
    第10項記載の組成物。
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