JPS6355175U - - Google Patents
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- Publication number
- JPS6355175U JPS6355175U JP14972086U JP14972086U JPS6355175U JP S6355175 U JPS6355175 U JP S6355175U JP 14972086 U JP14972086 U JP 14972086U JP 14972086 U JP14972086 U JP 14972086U JP S6355175 U JPS6355175 U JP S6355175U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- card
- probe
- probe needles
- chip
- mediate
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims description 7
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims 1
Landscapes
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
Description
第１図はこの考案の一実施例によるマルチ品種
対応型のプローブカードを示す上面図、第２図は
従来の単品種対応型のプローブカードを示す上面
図である。 １…プローブカード、２ａ〜２ｄ…ＩＣチツプ
、３ａ〜３ｄ…プローブ針。なお図中同一符号は
同一又は相当部分を示す。
対応型のプローブカードを示す上面図、第２図は
従来の単品種対応型のプローブカードを示す上面
図である。 １…プローブカード、２ａ〜２ｄ…ＩＣチツプ
、３ａ〜３ｄ…プローブ針。なお図中同一符号は
同一又は相当部分を示す。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 半導体ウエハのＩＣチツプと試験装置との間の
電気的信号のやりとりを媒介するプローブ針を有
するプローブカードにおいて、 多種類のプローブ針を搭載したことを特徴とす
るプローブカード。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14972086U JPS6355175U (ja) | 1986-09-29 | 1986-09-29 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14972086U JPS6355175U (ja) | 1986-09-29 | 1986-09-29 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6355175U true JPS6355175U (ja) | 1988-04-13 |
Family
ID=31065198
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14972086U Pending JPS6355175U (ja) | 1986-09-29 | 1986-09-29 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6355175U (ja) |
-
1986
- 1986-09-29 JP JP14972086U patent/JPS6355175U/ja active Pending
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