JPS59115642U - 半導体ウエフア - Google Patents

半導体ウエフア

Info

Publication number
JPS59115642U
JPS59115642U JP942583U JP942583U JPS59115642U JP S59115642 U JPS59115642 U JP S59115642U JP 942583 U JP942583 U JP 942583U JP 942583 U JP942583 U JP 942583U JP S59115642 U JPS59115642 U JP S59115642U
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
test circuit
semiconductor wafer
circuit chip
chips
semiconductor integrated
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP942583U
Other languages
English (en)
Inventor
今関　秀一
久之 長峰
Original Assignee
日本電気アイシ−マイコンシステム株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 日本電気アイシ−マイコンシステム株式会社 filed Critical 日本電気アイシ−マイコンシステム株式会社
Priority to JP942583U priority Critical patent/JPS59115642U/ja
Publication of JPS59115642U publication Critical patent/JPS59115642U/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】
第１図は、従来の半導体ウェファの説明図、第２図は本
考案を実施した半導体ウェファの例の部分拡大図である
。 １・・・・・・半導体・ウェファ、２・・・・・・半導
体集積回路チップ、３・・・・・・試験用回路部、４・
・・・・・半導体集積回路、５・・・・・・半導体集積
回路用パッド、６・・・・・・試験回路、７・・・・・
・試験回路用パッド、８・・・・・・試験回路識別パタ
ーン、９・・・・・・試験回路識別パターン用パッド。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 分割されてチップ状となるべき多数個の半導体集積回路
    チップと、試験回路チップとを含む半導体ウェファにお
    いて、前記試験回路チップのパラ１＝配置が前記半導体
    集積回路チップのパッド配置と共通部分を有するように
    し、かつ試験回路チップはそれが試験回路であることを
    測定システムに認識させるための回路パターンを有する
    ことを特徴とする半導体ウェファ。
JP942583U 1983-01-26 1983-01-26 半導体ウエフア Pending JPS59115642U (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP942583U JPS59115642U (ja) 1983-01-26 1983-01-26 半導体ウエフア

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP942583U JPS59115642U (ja) 1983-01-26 1983-01-26 半導体ウエフア

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS59115642U true JPS59115642U (ja) 1984-08-04

Family

ID=30140886

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP942583U Pending JPS59115642U (ja) 1983-01-26 1983-01-26 半導体ウエフア

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS59115642U (ja)

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS54148485A (en) * 1978-05-15 1979-11-20 Nec Corp Test method for semiconductor device
JPS5776854A (en) * 1980-10-30 1982-05-14 Nec Corp Semiconductor device
JPS582039A (ja) * 1981-06-25 1983-01-07 Fujitsu Ltd 半導体基板

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS54148485A (en) * 1978-05-15 1979-11-20 Nec Corp Test method for semiconductor device
JPS5776854A (en) * 1980-10-30 1982-05-14 Nec Corp Semiconductor device
JPS582039A (ja) * 1981-06-25 1983-01-07 Fujitsu Ltd 半導体基板

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS59115642U (ja) 半導体ウエフア
JPS614443U (ja) 半導体集積回路
JPS59103441U (ja) 半導体集積回路
JPS6092848U (ja) 半導体装置
JPS59115637U (ja) 半導体ウエフア
JPS6059541U (ja) 集積回路用リ−ドフレ−ム
JPS6021966U (ja) ハンドラ−用スリツト型接触子
JPS5916139U (ja) 集積回路
JPS59151441U (ja) 半導体試験装置
JPS5991755U (ja) 好ましい給電方式を有する集積回路装置
JPS59140442U (ja) 半導体素子のマ−キング装置
JPS5997469U (ja) 半導体チツプ測定用探針
JPS59140440U (ja) 半導体集積回路装置
JPS60183442U (ja) 集積回路測定治具
JPS5895045U (ja) 集積回路
JPS58193400U (ja) 集積回路
JPS6066026U (ja) 認識表示付半導体ウエハ
JPS59148251U (ja) ウエハプロ−バの測定針研磨装置
JPS59109151U (ja) 樹脂封止型半導体装置
JPS5896276U (ja) 集積回路用測定治具
JPS60169860U (ja) 混成集積回路
JPS58133837U (ja) 半導体装置
JPS5911449U (ja) 半導体装置
JPS6052635U (ja) リ−ドフレ−ム
JPS59121839U (ja) 集積回路用パツケイジ