JPS6352238A - マイクロ・コンピユ−タ - Google Patents
マイクロ・コンピユ−タInfo
- Publication number
- JPS6352238A JPS6352238A JP61196072A JP19607286A JPS6352238A JP S6352238 A JPS6352238 A JP S6352238A JP 61196072 A JP61196072 A JP 61196072A JP 19607286 A JP19607286 A JP 19607286A JP S6352238 A JPS6352238 A JP S6352238A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- binary counter
- aging
- microcomputer
- instruction decoder
- instruction
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 230000032683 aging Effects 0.000 abstract description 16
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Executing Machine-Instructions (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、LSIに関し、特にマイクロ・コンピュータ
のハード令ウェアに関する。
のハード令ウェアに関する。
従来、命令デコーダに、バイナリ−・カウンターを接続
し、そのカウント値を命令としてデコードし実行するハ
ード・ウェアをもつマイクロ・コンピューターは無い。
し、そのカウント値を命令としてデコードし実行するハ
ード・ウェアをもつマイクロ・コンピューターは無い。
現在、LSIの初期不良を、工場から出荷する前に検出
する為K、エージング工程を設けるのが一般的である。
する為K、エージング工程を設けるのが一般的である。
LSIのエージング方式には、静的なものと動的なもの
がある。前者は、電源を供給したのみで数時間の高温保
管を行ない、後者は、前者に加えて、クロックを印加し
、内部素子を動作させるものである。
がある。前者は、電源を供給したのみで数時間の高温保
管を行ない、後者は、前者に加えて、クロックを印加し
、内部素子を動作させるものである。
従来より、動的エージングが、静的エージングに比較し
て不良検出率が高いとして考えられ、多く用いられてい
る。
て不良検出率が高いとして考えられ、多く用いられてい
る。
しかし、マイクロ争コンピュータの様な、内部動作が複
雑なLSIは、単にクロックを印加して動的エージング
を行なっても、論理が刻々と変化していく内部素子の数
は少ない。その為、動的エージングを行なっても、その
効果は大きいとは言えない。
雑なLSIは、単にクロックを印加して動的エージング
を行なっても、論理が刻々と変化していく内部素子の数
は少ない。その為、動的エージングを行なっても、その
効果は大きいとは言えない。
上述の[K、マイクロ・コンピュータハ、内部動作が複
雑である為エージングの効率は、なかなか上がらない。
雑である為エージングの効率は、なかなか上がらない。
しかし、本発明のマイクロ嗜コンピュータは、エージン
グ工程をあらかじめ考慮し、意識的にハードウェアを追
加する事によりエージング効率を上げるものである。そ
して、そのハードウェアは、バイナリ−・カウンターを
命令デコーダに接続し、カウント値を命令として扱うと
いう独創的なものである。
グ工程をあらかじめ考慮し、意識的にハードウェアを追
加する事によりエージング効率を上げるものである。そ
して、そのハードウェアは、バイナリ−・カウンターを
命令デコーダに接続し、カウント値を命令として扱うと
いう独創的なものである。
本発明のマイクロ・コンピュータh、同−v−ツブ上に
、命令の1ワード長と同数以上のビット数をもつバイナ
リ−カウンタaと、通常使用モードとエージングモード
を切換える為の制御回路すを有している。
、命令の1ワード長と同数以上のビット数をもつバイナ
リ−カウンタaと、通常使用モードとエージングモード
を切換える為の制御回路すを有している。
第1図は、本発明の一実施例のブロック図である。マイ
クロ争コンピュータの動作モードをエージングモードに
してクロックを印加する。クロックは、タイミング発生
回路1によって回路の動作に必要なりロックに変換され
る。そして、そのクロックは、バイナリ−φカウンター
2でもカウントされる。カウントされた値は、制御回路
3を通して回路全体とタイミングをとってバスへ出力さ
れる。そのカウント値は、あたかもプログラム・メモリ
ーから出力されたのごとく、命令レジスター4に取り込
まれ、命令デコーダー5でデコードされ、各棟制御信号
となって出力される。
クロ争コンピュータの動作モードをエージングモードに
してクロックを印加する。クロックは、タイミング発生
回路1によって回路の動作に必要なりロックに変換され
る。そして、そのクロックは、バイナリ−φカウンター
2でもカウントされる。カウントされた値は、制御回路
3を通して回路全体とタイミングをとってバスへ出力さ
れる。そのカウント値は、あたかもプログラム・メモリ
ーから出力されたのごとく、命令レジスター4に取り込
まれ、命令デコーダー5でデコードされ、各棟制御信号
となって出力される。
これは、通常使用モードとは異なる為、実行できない命
令が発生する。制御回路3はその様な命令があっても、
可能な範囲で命令を実行させ、定期的に次の命令を命令
レジスターへ送る役割りももつ。
令が発生する。制御回路3はその様な命令があっても、
可能な範囲で命令を実行させ、定期的に次の命令を命令
レジスターへ送る役割りももつ。
もし、バイナリ−・カウンター3にかわるタイマーを目
的としたカウンターが本来ハード・ウェアとしてもって
いれば、それと共用する事ができ、わずかのハード・ウ
ェア追加で本発明を実施する事もできる。
的としたカウンターが本来ハード・ウェアとしてもって
いれば、それと共用する事ができ、わずかのハード・ウ
ェア追加で本発明を実施する事もできる。
以上説明したように本発明のマイクロ・コンピュータが
もつバイナリ・カウンターのカウント(iを命令として
扱い、実行するハードウェアを、エージング工程で動作
させる事により、刻々と論理が変化していく素子の数が
著しく増加する。その為、初期不良になり得るLSIを
、エージング中に不良品にして、出荷後の初期不良を減
らす事ができる。これは、LSIの品質向上という点で
大きな効果がある。
もつバイナリ・カウンターのカウント(iを命令として
扱い、実行するハードウェアを、エージング工程で動作
させる事により、刻々と論理が変化していく素子の数が
著しく増加する。その為、初期不良になり得るLSIを
、エージング中に不良品にして、出荷後の初期不良を減
らす事ができる。これは、LSIの品質向上という点で
大きな効果がある。
第1図は、本発明のブロック図である。
1・・・・・・タイミング発生回路、2・・・・・・バ
イナリ−・カウンター、3・・・・・・制御回路、4・
・川・命令レジスタ、5・・・・・・命令デコーダー。 代理人 弁理士 内 原 晋 −ゝ・沖\第1図
イナリ−・カウンター、3・・・・・・制御回路、4・
・川・命令レジスタ、5・・・・・・命令デコーダー。 代理人 弁理士 内 原 晋 −ゝ・沖\第1図
Claims (1)
- マイクロ・コンピュータの命令デコーダに、命令の1ワ
ード長と同数以上のビット数をもつバイナリー・カウン
ターを接続し、そのカウント値である0から(2のビッ
ト数乗−1)までの値を命令としてデコードし、実行す
る事ができるマイクロ・コンピュータ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61196072A JPS6352238A (ja) | 1986-08-20 | 1986-08-20 | マイクロ・コンピユ−タ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61196072A JPS6352238A (ja) | 1986-08-20 | 1986-08-20 | マイクロ・コンピユ−タ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6352238A true JPS6352238A (ja) | 1988-03-05 |
Family
ID=16351733
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61196072A Pending JPS6352238A (ja) | 1986-08-20 | 1986-08-20 | マイクロ・コンピユ−タ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6352238A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01233527A (ja) * | 1988-03-15 | 1989-09-19 | Toshiba Corp | 情報処理装置の自己試験回路 |
JPH04373028A (ja) * | 1991-06-21 | 1992-12-25 | Mitsubishi Electric Corp | バーンインパターン供給方法 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS58186855A (ja) * | 1982-04-26 | 1983-10-31 | Nec Corp | デ−タ処理装置 |
JPS6167148A (ja) * | 1984-09-10 | 1986-04-07 | Nec Corp | マイクロコンピユ−タ |
-
1986
- 1986-08-20 JP JP61196072A patent/JPS6352238A/ja active Pending
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS58186855A (ja) * | 1982-04-26 | 1983-10-31 | Nec Corp | デ−タ処理装置 |
JPS6167148A (ja) * | 1984-09-10 | 1986-04-07 | Nec Corp | マイクロコンピユ−タ |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01233527A (ja) * | 1988-03-15 | 1989-09-19 | Toshiba Corp | 情報処理装置の自己試験回路 |
JPH04373028A (ja) * | 1991-06-21 | 1992-12-25 | Mitsubishi Electric Corp | バーンインパターン供給方法 |
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