JPS6347456B2 - - Google Patents
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- JPS6347456B2 JPS6347456B2 JP54057582A JP5758279A JPS6347456B2 JP S6347456 B2 JPS6347456 B2 JP S6347456B2 JP 54057582 A JP54057582 A JP 54057582A JP 5758279 A JP5758279 A JP 5758279A JP S6347456 B2 JPS6347456 B2 JP S6347456B2
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- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/42—Arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis
- A61B6/4275—Arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis using a detector unit almost surrounding the patient, e.g. more than 180°
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- A61B6/02—Arrangements for diagnosis sequentially in different planes; Stereoscopic radiation diagnosis
- A61B6/03—Computed tomography [CT]
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- A61B6/4007—Arrangements for generating radiation specially adapted for radiation diagnosis characterised by using a plurality of source units
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- A61B6/4291—Arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis the detector being combined with a grid or grating
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- G—PHYSICS
- G21—NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
- G21K—TECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
- G21K1/00—Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating
- G21K1/02—Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating using diaphragms, collimators
- G21K1/025—Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating using diaphragms, collimators using multiple collimators, e.g. Bucky screens; other devices for eliminating undesired or dispersed radiation
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Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、検査平面内に配置され検査平面を異
なる方向から照射する複数個の放射源と、検査平
面内の円弧上に配置され物体を介して放射源とは
反対側で放射の強度を測定する多数個の検出器と
を有し、これら検出器の少くとも一部分に異なる
方向から放射を当てるようにし、物体中の空間吸
収分布を決定するようにした空間吸収分布決定装
置に関するものである。
なる方向から照射する複数個の放射源と、検査平
面内の円弧上に配置され物体を介して放射源とは
反対側で放射の強度を測定する多数個の検出器と
を有し、これら検出器の少くとも一部分に異なる
方向から放射を当てるようにし、物体中の空間吸
収分布を決定するようにした空間吸収分布決定装
置に関するものである。
上述した種類の装置は米国特許第4057725号
(特開昭51−55286号)明細書に記載されており既
知である。この米国特許明細書に記載された装置
によれば、吸収分布を決定するのに必要な吸収値
を極めて迅速に測定しうる。充分に多数の放射源
を用いることができれば、この装置でスライスを
測定するのに機械的な移動を行なわしめる必要は
なく、各別の放射源を順次に点弧させて瞬間的な
放射を順次に発生させるようにすればよい。
(特開昭51−55286号)明細書に記載されており既
知である。この米国特許明細書に記載された装置
によれば、吸収分布を決定するのに必要な吸収値
を極めて迅速に測定しうる。充分に多数の放射源
を用いることができれば、この装置でスライスを
測定するのに機械的な移動を行なわしめる必要は
なく、各別の放射源を順次に点弧させて瞬間的な
放射を順次に発生させるようにすればよい。
上述した種類の装置においては、1個の検出器
に異なる放射源からの放射を順次に当てており、
すなわち検査平面内での異なる方向からの放射を
この検出器に入射させている。従つて、放射源上
に焦点を結び、検出器の前方に配置され、散乱放
射を遮蔽するようなコリメータを用いておらず、
従つて散乱放射が特に妨害となる。本発明の目的
は、吸収分布の再生中に散乱放射により生じる欠
点を減少させるようにした前述した種類の放射吸
収分布決定装置を提供せんとするにある。
に異なる放射源からの放射を順次に当てており、
すなわち検査平面内での異なる方向からの放射を
この検出器に入射させている。従つて、放射源上
に焦点を結び、検出器の前方に配置され、散乱放
射を遮蔽するようなコリメータを用いておらず、
従つて散乱放射が特に妨害となる。本発明の目的
は、吸収分布の再生中に散乱放射により生じる欠
点を減少させるようにした前述した種類の放射吸
収分布決定装置を提供せんとするにある。
本発明は検査平面内に配置され検査平面を異な
る方向から照射する複数個の放射源と、検査平面
内の円弧上に配置され物体を介して放射源とは反
対側で放射の強度を測定する多数個の検出器とを
有し、これら検出器の少くとも一部分に異なる方
向から放射を当てるようにし、物体中の空間吸収
分布を決定するようにした空間吸収分布決定装置
において、第1信号を発生させる為に、前記の検
出器に、放射源と検出器との間の直線に沿つて通
る放射に対して遮蔽された第1区域を設け、第2
信号を発生させる為に、前記の検出器に、検査平
面に対し垂直方向で前記の第1区域に隣接する第
2区域を設け、この第2区域が放射源と検出器と
の間の直線に沿つて通る放射を検出するように
し、前記の第1および第2信号の双方を差信号の
形成に用いうるようにし、前記空間吸収分布決定
装置が前記の物体を収容する中空円筒体を具え、
この中空円筒体にその周縁に沿うアパーチヤが設
けられ、前記空間吸収分布決定装置が更に、前記
の第1信号を生ぜしめる際に前記の放射源からの
放射を前記の第2区域にのみ透過させ、前記の第
2信号を生ぜしめる際に前記の放射の散乱放射の
みを前記の第1区域にのみ透過させるアパーチヤ
装置を具えたことを特徴とする。
る方向から照射する複数個の放射源と、検査平面
内の円弧上に配置され物体を介して放射源とは反
対側で放射の強度を測定する多数個の検出器とを
有し、これら検出器の少くとも一部分に異なる方
向から放射を当てるようにし、物体中の空間吸収
分布を決定するようにした空間吸収分布決定装置
において、第1信号を発生させる為に、前記の検
出器に、放射源と検出器との間の直線に沿つて通
る放射に対して遮蔽された第1区域を設け、第2
信号を発生させる為に、前記の検出器に、検査平
面に対し垂直方向で前記の第1区域に隣接する第
2区域を設け、この第2区域が放射源と検出器と
の間の直線に沿つて通る放射を検出するように
し、前記の第1および第2信号の双方を差信号の
形成に用いうるようにし、前記空間吸収分布決定
装置が前記の物体を収容する中空円筒体を具え、
この中空円筒体にその周縁に沿うアパーチヤが設
けられ、前記空間吸収分布決定装置が更に、前記
の第1信号を生ぜしめる際に前記の放射源からの
放射を前記の第2区域にのみ透過させ、前記の第
2信号を生ぜしめる際に前記の放射の散乱放射の
みを前記の第1区域にのみ透過させるアパーチヤ
装置を具えたことを特徴とする。
本発明は、放射源の放射が直接当たる検出器の
第2区域の出力信号は検査平面中の放射の吸収に
依存する有効成分と、散乱放射によつて生じ上記
の有効成分に重畳される妨害成分とを有するとい
う事実を確かめ、かかる認識を基に成したもので
ある。有効放射が入射しえない検出器の第1区域
の出力信号は妨害成分に比例する。その理由は、
検出器の第1区域には検出器の第2区域とほぼ同
じ強度の散乱放射が当たる為である。散乱放射の
空間分布は関連の方向においてほんのわずかしか
変動しない。散乱放射によつて発生する妨害成分
は、この妨害成分を場合によつてはフアクタ(係
数)を考慮して検出器の第2区域の出力信号から
減算することにより、この出力信号から除去する
ことができる。従つて、1つの放射源からの放射
により有効成分のみを取出すことができる。
第2区域の出力信号は検査平面中の放射の吸収に
依存する有効成分と、散乱放射によつて生じ上記
の有効成分に重畳される妨害成分とを有するとい
う事実を確かめ、かかる認識を基に成したもので
ある。有効放射が入射しえない検出器の第1区域
の出力信号は妨害成分に比例する。その理由は、
検出器の第1区域には検出器の第2区域とほぼ同
じ強度の散乱放射が当たる為である。散乱放射の
空間分布は関連の方向においてほんのわずかしか
変動しない。散乱放射によつて発生する妨害成分
は、この妨害成分を場合によつてはフアクタ(係
数)を考慮して検出器の第2区域の出力信号から
減算することにより、この出力信号から除去する
ことができる。従つて、1つの放射源からの放射
により有効成分のみを取出すことができる。
原理的には上記の2つの出力信号を各別の測定
によつて得ることができる。しかし、この場合に
は、検出器の第1および第2区域を互いに無関係
とする必要がある。すなわち、測定のたびに少く
とも2つの別個の検出素子を用いる必要がある。
従つて装置が高価なものとなる。
によつて得ることができる。しかし、この場合に
は、検出器の第1および第2区域を互いに無関係
とする必要がある。すなわち、測定のたびに少く
とも2つの別個の検出素子を用いる必要がある。
従つて装置が高価なものとなる。
従つて、本発明の他の目的は検出器の個数を増
大せしめる必要のない空間吸収分布決定装置を提
供せんとするにある。この目的を達成する空間吸
収分布決定装置においては、各検出器に1個のみ
の出力端子を設け、前記アパーチヤ装置を検査平
面に対し垂直方向に摺動しうるようにし、前記の
アパーチヤ装置が第1位置において検出器の前記
の第2区域を遮蔽せず、前記のアパーチヤ装置が
第2位置において前記の第2区域を遮蔽するよう
にし、前記のアパーチヤ装置が前記の2つの位置
の一方の位置を占める際の第1測定中の各検出器
の出力信号を記憶して、前記のアパーチヤ装置が
他方の位置を占める際の第2測定中に得られる出
力信号に対する差を形成しうるようにする。検出
器の第1および第2区域は検査平面に対して平行
な各平面において同一の直径を有するようにする
のが好適である。第1測定中は検出器の第2区
域、すなわち有効放射と散乱放射とを含む信号を
形成する作用をする区域を照射し、第2測定中は
散乱放射のみを有する信号を生じる作用をする第
1区域を照射する。後者の信号は、例えば器官の
運動によつて生じる吸収の局部変動にほとんど依
存しない為、身体が2つの測定間で請止状態にあ
るとして充分である。散乱放射のみを測定する場
合には、第2測定中の一次放射の強度は第1測定
中よりもかなり低くできる。その理由は、散乱放
射の部分には局部周波数の大きな成分を含んでい
ない為である。従つて、患者に対する放射線量は
第2測定によつてほんのわずかだけ増大するだけ
である。
大せしめる必要のない空間吸収分布決定装置を提
供せんとするにある。この目的を達成する空間吸
収分布決定装置においては、各検出器に1個のみ
の出力端子を設け、前記アパーチヤ装置を検査平
面に対し垂直方向に摺動しうるようにし、前記の
アパーチヤ装置が第1位置において検出器の前記
の第2区域を遮蔽せず、前記のアパーチヤ装置が
第2位置において前記の第2区域を遮蔽するよう
にし、前記のアパーチヤ装置が前記の2つの位置
の一方の位置を占める際の第1測定中の各検出器
の出力信号を記憶して、前記のアパーチヤ装置が
他方の位置を占める際の第2測定中に得られる出
力信号に対する差を形成しうるようにする。検出
器の第1および第2区域は検査平面に対して平行
な各平面において同一の直径を有するようにする
のが好適である。第1測定中は検出器の第2区
域、すなわち有効放射と散乱放射とを含む信号を
形成する作用をする区域を照射し、第2測定中は
散乱放射のみを有する信号を生じる作用をする第
1区域を照射する。後者の信号は、例えば器官の
運動によつて生じる吸収の局部変動にほとんど依
存しない為、身体が2つの測定間で請止状態にあ
るとして充分である。散乱放射のみを測定する場
合には、第2測定中の一次放射の強度は第1測定
中よりもかなり低くできる。その理由は、散乱放
射の部分には局部周波数の大きな成分を含んでい
ない為である。従つて、患者に対する放射線量は
第2測定によつてほんのわずかだけ増大するだけ
である。
図面につき本発明を説明する。
第1図に線図的に示す装置においては、放射源
および検出器を共通の円(リング)上に配置し、
X線管が好適な放射源によつて占められる円弧部
分を符号7で示し、検出器によつて占められる円
弧部分を符号8で示す。両端の放射源70および
71は、円7,8と同心的な、すなわちその中心
6と同じ中心を有する検査区域61を完全に照射
する放射ビーム700および710を放出する。
上記の検査区域には検査すべき患者を配置する。
上述したところの装置は既知である。
および検出器を共通の円(リング)上に配置し、
X線管が好適な放射源によつて占められる円弧部
分を符号7で示し、検出器によつて占められる円
弧部分を符号8で示す。両端の放射源70および
71は、円7,8と同心的な、すなわちその中心
6と同じ中心を有する検査区域61を完全に照射
する放射ビーム700および710を放出する。
上記の検査区域には検査すべき患者を配置する。
上述したところの装置は既知である。
第2図は軸線62に沿う断面図であり、円7,
8上の1個の検出器のみを示す。放射源(図示せ
ず)から放出される放射ビームは、互いに等しい
距離に配置されこの距離に比べ肉薄な数個の放射
吸収平板より成るアパーチヤ91に通す。これに
より、放出された放射は検査平面中をこの検査平
面にほぼ平行に、すなわちこの検査平面に対し比
較的小さな角度を成して通る。アパーチヤ91を
通つた放射は、円7,8(第1図)に対し同心的
で固定配置した中空の円筒状アパーチヤ装置92
をも通る。このアパーチヤ装置92はアパーチヤ
91の最上側の平板と最下側の平板との間の距離
に正確に等しい幅dを有する環状のアパーチヤを
有する。放射は、円筒状のアパーチヤ装置92内
に位置する患者の身体60を通り、この装置92
の、反射側に位置する一部分を通り、円上の検出
器83の1個に到達する。検出器83は、散乱せ
ずに検査平面を通るX線或いはガンマ線が直接当
たる区域830を有する。検出器83は更にこの
区域830の上下に、散乱なく検査平面を通過す
る放射が当たらない他の区域831および832
をもそれぞれ有する。これらの区域831および
832は、検査平面に対し垂直な方向に移動しう
るアパーチヤ装置93(第2図に一部分のみ示
す)の部分930および931により、検査平面
から散乱放射に対し遮蔽する。従つて、検出器8
3は、測定面、例えばシンチレーシヨン結晶の面
が区域830,831および832を被覆する各
別の検出素子であり、この検出素子は、放射が当
たる測定面の面積および放射の強度に依存する電
気出力信号を例えば光電子増倍器を介して発生す
る。上述したアパーチヤ装置93は円弧状とし、
アパーチヤ装置92と同心的にすなわち円7,8
(第1図)と同心的に配置する。しかし、このア
パーチヤ装置93は検出器が占める円の部分の前
方にのみ設ける。
8上の1個の検出器のみを示す。放射源(図示せ
ず)から放出される放射ビームは、互いに等しい
距離に配置されこの距離に比べ肉薄な数個の放射
吸収平板より成るアパーチヤ91に通す。これに
より、放出された放射は検査平面中をこの検査平
面にほぼ平行に、すなわちこの検査平面に対し比
較的小さな角度を成して通る。アパーチヤ91を
通つた放射は、円7,8(第1図)に対し同心的
で固定配置した中空の円筒状アパーチヤ装置92
をも通る。このアパーチヤ装置92はアパーチヤ
91の最上側の平板と最下側の平板との間の距離
に正確に等しい幅dを有する環状のアパーチヤを
有する。放射は、円筒状のアパーチヤ装置92内
に位置する患者の身体60を通り、この装置92
の、反射側に位置する一部分を通り、円上の検出
器83の1個に到達する。検出器83は、散乱せ
ずに検査平面を通るX線或いはガンマ線が直接当
たる区域830を有する。検出器83は更にこの
区域830の上下に、散乱なく検査平面を通過す
る放射が当たらない他の区域831および832
をもそれぞれ有する。これらの区域831および
832は、検査平面に対し垂直な方向に移動しう
るアパーチヤ装置93(第2図に一部分のみ示
す)の部分930および931により、検査平面
から散乱放射に対し遮蔽する。従つて、検出器8
3は、測定面、例えばシンチレーシヨン結晶の面
が区域830,831および832を被覆する各
別の検出素子であり、この検出素子は、放射が当
たる測定面の面積および放射の強度に依存する電
気出力信号を例えば光電子増倍器を介して発生す
る。上述したアパーチヤ装置93は円弧状とし、
アパーチヤ装置92と同心的にすなわち円7,8
(第1図)と同心的に配置する。しかし、このア
パーチヤ装置93は検出器が占める円の部分の前
方にのみ設ける。
アパーチヤ91は、最上側の平板とこれに隣接
する平板との間或いは最下側の平板とこれに隣接
する平板との間を通過する放射も区域830に達
しうるように構成する。第2図には、検査平面に
垂直な方向の検出器区域830の長さが検査ビー
ムの厚さdに相当する値を越える長さであるとい
うことを示す。この長さは、厚さdに依存するば
かりではなく、アパーチヤ装置92の直径や、放
射源および検出器が配置された円の直径にも依存
する。図面を簡単とする為に、第2図においては
照射される層の厚さd(実際には約1cm)をアパ
ーチヤ装置92によつて決まる検査平面の直径に
比べて著るしく拡大して示した。
する平板との間或いは最下側の平板とこれに隣接
する平板との間を通過する放射も区域830に達
しうるように構成する。第2図には、検査平面に
垂直な方向の検出器区域830の長さが検査ビー
ムの厚さdに相当する値を越える長さであるとい
うことを示す。この長さは、厚さdに依存するば
かりではなく、アパーチヤ装置92の直径や、放
射源および検出器が配置された円の直径にも依存
する。図面を簡単とする為に、第2図においては
照射される層の厚さd(実際には約1cm)をアパ
ーチヤ装置92によつて決まる検査平面の直径に
比べて著るしく拡大して示した。
第3図は、アパーチヤ装置93を検査平面に垂
直な方向に移動させ、その部分932が直進放
射、すなわち非散乱放射の全部が検出器83、特
にその区域830に当たらないようにした第2図
と同じ装置を示す。しかし、図面を簡単とする為
に実際には3次元の幾何学的構造を2次元的に表
わしている為、実際の各部分の寸法の比例関係は
図示の比例関係とはわずかに相違する。しかし、
区域830の上下に位置し、アパーチヤ装置93
がいかなる位置にあつても直進放射が当たらない
区域831および832にはこの位置において、
検査平面内で生じる散乱放射が当たる。散乱放射
源はいかなる場合においても検出器83の出力信
号に異なるように影響を及ぼす。斜線を付した区
域611内で生じた散乱放射は検出器区域831
および832に達し、斜線を付した2つの区域6
12の各区域内で生じる散乱放射は検出器区域8
31および832のいずれか一方の区域にのみ入
射しうる。
直な方向に移動させ、その部分932が直進放
射、すなわち非散乱放射の全部が検出器83、特
にその区域830に当たらないようにした第2図
と同じ装置を示す。しかし、図面を簡単とする為
に実際には3次元の幾何学的構造を2次元的に表
わしている為、実際の各部分の寸法の比例関係は
図示の比例関係とはわずかに相違する。しかし、
区域830の上下に位置し、アパーチヤ装置93
がいかなる位置にあつても直進放射が当たらない
区域831および832にはこの位置において、
検査平面内で生じる散乱放射が当たる。散乱放射
源はいかなる場合においても検出器83の出力信
号に異なるように影響を及ぼす。斜線を付した区
域611内で生じた散乱放射は検出器区域831
および832に達し、斜線を付した2つの区域6
12の各区域内で生じる散乱放射は検出器区域8
31および832のいずれか一方の区域にのみ入
射しうる。
前述したように、放射ビーム73の強度は、ア
パーチヤ装置93が第2図に示す位置にある場合
よりも第3図に示す位置にある場合に著るしく小
さくしうる。その理由は、散乱放射は主として空
間周波数の小さな成分のみしか含んでいない為で
ある。検出器83の出力信号が第2図による第1
測定中I1に等しくなり、第3図による第2測定中
I2に等しくなるものとすると、散乱放射の影響を
除去した測定値Iは式I=I1−CI2から得られる。
ここに、Cは、第2図による第1測定中に区域8
30によつて検出される散乱放射の確率と、第3
図による第2測定中に区域831および832に
よつて検出される散乱放射の確率と、これらの2
つの測定中の異なる放射強度とを考慮したフアク
タである。このフアクタCは幾何学的形状と吸収
特性が分かつているフアントム(人体模型)で行
なつた多数の試験測定によつて決定しうる。フア
ントムに対し予期する散乱放射分布を、アパーチ
ヤ装置93の2つの位置において得た散乱放射分
布と比較し、これによりフアクタCを計算し、こ
のフアクタを記憶するようにすることができる。
パーチヤ装置93が第2図に示す位置にある場合
よりも第3図に示す位置にある場合に著るしく小
さくしうる。その理由は、散乱放射は主として空
間周波数の小さな成分のみしか含んでいない為で
ある。検出器83の出力信号が第2図による第1
測定中I1に等しくなり、第3図による第2測定中
I2に等しくなるものとすると、散乱放射の影響を
除去した測定値Iは式I=I1−CI2から得られる。
ここに、Cは、第2図による第1測定中に区域8
30によつて検出される散乱放射の確率と、第3
図による第2測定中に区域831および832に
よつて検出される散乱放射の確率と、これらの2
つの測定中の異なる放射強度とを考慮したフアク
タである。このフアクタCは幾何学的形状と吸収
特性が分かつているフアントム(人体模型)で行
なつた多数の試験測定によつて決定しうる。フア
ントムに対し予期する散乱放射分布を、アパーチ
ヤ装置93の2つの位置において得た散乱放射分
布と比較し、これによりフアクタCを計算し、こ
のフアクタを記憶するようにすることができる。
従つて、作動に当つては、第1測定の後に測定
値I1を瞬時的に記憶し、第2測定で得た測定値I2
にフアクタCを乗じ、この積を値I1から減算す
る。
値I1を瞬時的に記憶し、第2測定で得た測定値I2
にフアクタCを乗じ、この積を値I1から減算す
る。
しかし、検出器の測定値I1を補正する為には、
第2測定中に得た同じ検出器の測定値I2を考慮し
うるだけではなく、この第2測定中に得た隣接の
検出器の測定値をも考慮しうる。この場合、第2
測定中に測た検出器の測定値およびこれに隣接す
る検出器の測定値をコンボリユーシヨン(畳込
み)演算し、これにより散乱放射スペクトルを平
滑にし、第2測定中に得た測定値の量子化雑音の
影響を減少させる。
第2測定中に得た同じ検出器の測定値I2を考慮し
うるだけではなく、この第2測定中に得た隣接の
検出器の測定値をも考慮しうる。この場合、第2
測定中に測た検出器の測定値およびこれに隣接す
る検出器の測定値をコンボリユーシヨン(畳込
み)演算し、これにより散乱放射スペクトルを平
滑にし、第2測定中に得た測定値の量子化雑音の
影響を減少させる。
第4図はコンピユータトモグラフイ装置内のア
パーチヤ装置93を検査平面に垂直な方向に移動
させた状態で示し、コンピユータトモグラフイ装
置の基部25が、放射源7と検出器8とにより成
るリングを支持する。放射を透過しない区域93
0および931間と、931および932間と、
932および933間とにはそれぞれ放射透過性
材料(例えばエポキシ樹脂)より成る区域を設
け、第2および第3図に示す有効放射或いは散乱
放射がアパーチヤ装置93を通過しうるようにす
る。アパーチヤ装置93はレール(図示せず)上
で検査平面に垂直な方向に、すなわち矢印Zで示
す方向に移動しうるように支承し、このアパーチ
ヤ装置93をステツプモータ(図示せず)により
移動させる。例えば200゜(第1図参照)の角度の
円弧に亘つて延在するアパーチヤ装置93は放射
透過性の材料より成る他の部分の補足により中空
円筒体を構成するようにすることができる。アパ
ーチヤ装置92およびアパーチヤ91(第3図)
は図面を簡単とする為に第4図には示していな
い。
パーチヤ装置93を検査平面に垂直な方向に移動
させた状態で示し、コンピユータトモグラフイ装
置の基部25が、放射源7と検出器8とにより成
るリングを支持する。放射を透過しない区域93
0および931間と、931および932間と、
932および933間とにはそれぞれ放射透過性
材料(例えばエポキシ樹脂)より成る区域を設
け、第2および第3図に示す有効放射或いは散乱
放射がアパーチヤ装置93を通過しうるようにす
る。アパーチヤ装置93はレール(図示せず)上
で検査平面に垂直な方向に、すなわち矢印Zで示
す方向に移動しうるように支承し、このアパーチ
ヤ装置93をステツプモータ(図示せず)により
移動させる。例えば200゜(第1図参照)の角度の
円弧に亘つて延在するアパーチヤ装置93は放射
透過性の材料より成る他の部分の補足により中空
円筒体を構成するようにすることができる。アパ
ーチヤ装置92およびアパーチヤ91(第3図)
は図面を簡単とする為に第4図には示していな
い。
散乱放射を決定する他の例を示す第5図から明
らかなように、検出器の長さは必ずしも検査すべ
き層の厚さよりも大きくする必要はない。この場
合には、アパーチヤ装置93をいかなる場合でも
検査平面の中心から異なる距離に位置する2部分
932および935を以つて構成する必要があ
る。検出器830の前方に接近して位置し、放射
ビーム厚さdの約半分に相当する長手方向の長さ
wを有する部分932は直進X線(有効放射或い
は散乱放射)に対して中央区域830を遮蔽す
る。アパーチヤ装置93の部分935は検出器8
3から遠く離して位置させ、この部分935はア
パーチヤsが中心に位置するようにして、2つの
放射不透過部分を以つて構成し、このアパーチヤ
sの寸法は、アパーチヤ装置部分93によつて遮
蔽されていない検出器区域831および832に
直進X線が当たらず散乱放射が当たるようになる
寸法とする。第5図に示すように、検査平面内で
斜線を付して示した区域612内に生じる放射は
検出器区域831および832のいずれか一方で
検出され、比較的大きな中間区域613内で生じ
る散乱放射は検出器区域831および832によ
つて全く検出されない、従つて本例の場合、第2
〜4図の例の場合よりも、散乱放射が検出される
確率は小さくなり、この検出確率は散乱放射が現
われる位置に大きく依存する。
らかなように、検出器の長さは必ずしも検査すべ
き層の厚さよりも大きくする必要はない。この場
合には、アパーチヤ装置93をいかなる場合でも
検査平面の中心から異なる距離に位置する2部分
932および935を以つて構成する必要があ
る。検出器830の前方に接近して位置し、放射
ビーム厚さdの約半分に相当する長手方向の長さ
wを有する部分932は直進X線(有効放射或い
は散乱放射)に対して中央区域830を遮蔽す
る。アパーチヤ装置93の部分935は検出器8
3から遠く離して位置させ、この部分935はア
パーチヤsが中心に位置するようにして、2つの
放射不透過部分を以つて構成し、このアパーチヤ
sの寸法は、アパーチヤ装置部分93によつて遮
蔽されていない検出器区域831および832に
直進X線が当たらず散乱放射が当たるようになる
寸法とする。第5図に示すように、検査平面内で
斜線を付して示した区域612内に生じる放射は
検出器区域831および832のいずれか一方で
検出され、比較的大きな中間区域613内で生じ
る散乱放射は検出器区域831および832によ
つて全く検出されない、従つて本例の場合、第2
〜4図の例の場合よりも、散乱放射が検出される
確率は小さくなり、この検出確率は散乱放射が現
われる位置に大きく依存する。
本発明は第1図に示す形態の装置とは異なる装
置にも適用しうる。例えば、ドイツ国特許出願第
2817912号明細書に記載されているように、検出
器および放射源を同心的な2つの完全な円上に配
置することができる。この目的の為にはアパーチ
ヤ装置93の部分930,931および933は
完全に360゜の角度に亘つて構成する必要があり、
部分932は第4図のように円の半分に制限しう
る。更に、アパーチヤ装置93には第2のステツ
プモータ(図示せず)を設け、このステツプモー
タによりアパーチヤ装置93を、検査平面に対し
垂直で検査平面の中心6を通る軸線を中心に回転
させるようにする必要がある。検出器の第1出力
信号を発生せしめる為には、アパーチヤ装置93
を回転させてアパーチヤ装置93の部分932に
対向して位置する放射源を順次に点弧させ瞬間的
な放射が生じるようにする。すべての検出器の第
1出力信号を完全に発生せしめるのに要する時間
は総計で約1秒になるが、この時間は重大な欠点
とはならない。その理由は、身体が全体として静
止状態にある限り、この時間中器官の運動により
散乱放射強度の空間分布にほとんど影響を及ぼさ
ない為である。
置にも適用しうる。例えば、ドイツ国特許出願第
2817912号明細書に記載されているように、検出
器および放射源を同心的な2つの完全な円上に配
置することができる。この目的の為にはアパーチ
ヤ装置93の部分930,931および933は
完全に360゜の角度に亘つて構成する必要があり、
部分932は第4図のように円の半分に制限しう
る。更に、アパーチヤ装置93には第2のステツ
プモータ(図示せず)を設け、このステツプモー
タによりアパーチヤ装置93を、検査平面に対し
垂直で検査平面の中心6を通る軸線を中心に回転
させるようにする必要がある。検出器の第1出力
信号を発生せしめる為には、アパーチヤ装置93
を回転させてアパーチヤ装置93の部分932に
対向して位置する放射源を順次に点弧させ瞬間的
な放射が生じるようにする。すべての検出器の第
1出力信号を完全に発生せしめるのに要する時間
は総計で約1秒になるが、この時間は重大な欠点
とはならない。その理由は、身体が全体として静
止状態にある限り、この時間中器官の運動により
散乱放射強度の空間分布にほとんど影響を及ぼさ
ない為である。
第1図は放射源および検出器の幾何学的配置を
示す説明図、第2および3図は有効放射を測定す
る放射通路および散乱放射を測定する放射通路を
それぞれ示す線図、第4図は本発明による装置の
一例を示す斜視図、第5図は本発明装置の他の例
を示す説明図である。 7……放射源、8……検出器、60……身体、
61……検査区域、73……放射ビーム、81…
…検出器、91……アパーチヤ、92,93……
アパーチヤ装置、700,710……放射ビー
ム。
示す説明図、第2および3図は有効放射を測定す
る放射通路および散乱放射を測定する放射通路を
それぞれ示す線図、第4図は本発明による装置の
一例を示す斜視図、第5図は本発明装置の他の例
を示す説明図である。 7……放射源、8……検出器、60……身体、
61……検査区域、73……放射ビーム、81…
…検出器、91……アパーチヤ、92,93……
アパーチヤ装置、700,710……放射ビー
ム。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 検査平面内に配置され検査平面を異なる方向
から照射する複数個の放射源と、検査平面内の円
弧上に配置され物体を介して放射源とは反対側で
放射の強度を測定する多数個の検出器とを有し、
これら検出器の少なくとも一部分に異なる方向か
ら放射を当てるようにし、物体中の空間吸収分布
を決定するようにした空間吸収分布決定装置にお
いて、第1信号を発生させる為に、前記の検出器
に、放射源と検出器との間の直線に沿つて通る放
射に対して遮蔽された第1区域831,832を
設け、第2信号を発生させる為に、前記の検出器
に、検査平面に対し垂直方向で前記の第1区域に
隣接する第2区域830を設け、この第2区域が
放射源と検出器との間に直線に沿つて通る放射を
検出するようにし、前記の第1および第2信号の
双方を差信号の形成に用いうるようにし、前記空
間吸収分布決定装置が前記の物体を収容する中空
円筒体92を具え、この中空円筒体にその周縁に
沿うアパーチヤが設けられ、前記空間吸収分布決
定装置が更に、前記の第1信号を生ぜしめる際に
前記の放射源からの放射を前記の第2区域にのみ
透過させ、前記の第2信号を生ぜしめる際に前記
の放射の散乱放射のみを前記の第1区域にのみ透
過させるアパーチヤ装置93を具えたことを特徴
とする空間吸収分布決定装置。 2 特許請求の範囲第1項に記載の空間吸収分布
決定装置において、各検出器に1個のみの出力端
子を設け、前記アパーチヤ装置を検査平面に対し
垂直方向に摺動しうるようにし、前記のアパーチ
ヤ装置が第1位置において検出器の前記の第2区
域830を遮蔽せず、前記のアパーチヤ装置が第
2位置において前記の第2区域を遮蔽するように
し、前記のアパーチヤ装置93が前記の2つの位
置の一方を占める際の第1測定中の各検出器の出
力信号を記憶して、前記のアパーチヤ装置93が
他方の位置を占める際の第2測定中に得られる出
力信号に対する差を形成しうるようにしたことを
特徴とする空間吸収分布決定装置。 3 放射源を円の一方の側7の円弧上に配置し、
検出器を上記と同じ円の他方の側8の円弧上に配
置した特許請求の範囲第1項または第2項に記載
の空間吸収分布決定装置において、前記のアパー
チヤ装置93が前記の円7,8内に位置する中空
円筒状部分93を有し、該中空円筒状部分が検出
器の円弧を覆うようにしたことを特徴とする空間
吸収分布決定装置。 4 特許請求の範囲第3項に記載の空間吸収分布
決定装置において、前記の中空円筒体92が検出
器および放射源に対し同心的に固定配置されてお
り、この中空円筒体を検査平面の上下に配置した
放射不透過性の2つの同心部分を以つて構成し、
これら2つの同心部分間に放射透過性部分を位置
させたことを特徴とする空間吸収分布決定装置。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19782821083 DE2821083A1 (de) | 1978-05-13 | 1978-05-13 | Anordnung zur ermittlung der raeumlichen absorptionsverteilung in einem ebenen untersuchungsbereich |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS54152491A JPS54152491A (en) | 1979-11-30 |
JPS6347456B2 true JPS6347456B2 (ja) | 1988-09-22 |
Family
ID=6039337
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP5758279A Granted JPS54152491A (en) | 1978-05-13 | 1979-05-10 | Device for determining space absorption distribution |
Country Status (10)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4286156A (ja) |
JP (1) | JPS54152491A (ja) |
CA (1) | CA1121919A (ja) |
DE (1) | DE2821083A1 (ja) |
ES (1) | ES480472A1 (ja) |
FR (1) | FR2425649A1 (ja) |
GB (1) | GB2021896B (ja) |
IT (1) | IT1115204B (ja) |
NL (1) | NL7903578A (ja) |
SE (1) | SE431802B (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0668154U (ja) * | 1993-02-25 | 1994-09-22 | 株式会社三協精機製作所 | 磁気ディスク駆動装置 |
Families Citing this family (23)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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DE2920051C2 (de) * | 1979-05-18 | 1984-04-19 | Philips Patentverwaltung Gmbh, 2000 Hamburg | Röntgengerät zur Ermittlung der Absorptionsverteilung in einem ebenen Untersuchungsbereich |
DE2939146A1 (de) * | 1979-09-27 | 1981-04-16 | Philips Patentverwaltung Gmbh, 2000 Hamburg | Verfahren zur untersuchung eines koerpers mit durchdringender strahlung |
US4549307A (en) * | 1982-09-07 | 1985-10-22 | The Board Of Trustees Of The Leland Stanford, Junior University | X-Ray imaging system having radiation scatter compensation and method |
DE3380776D1 (en) * | 1982-09-07 | 1989-11-30 | Univ Leland Stanford Junior | X-ray imaging system having radiation scatter compensation and method |
JPS59196447A (ja) * | 1983-04-22 | 1984-11-07 | Yokogawa Hokushin Electric Corp | 放射線検出器 |
EP0123276B1 (en) * | 1983-04-25 | 1988-03-02 | Kabushiki Kaisha Toshiba | X-ray diagnostic apparatus |
JPS60108039A (ja) * | 1983-11-18 | 1985-06-13 | 株式会社東芝 | X線ct装置 |
JPS60210087A (ja) * | 1984-04-03 | 1985-10-22 | Toshiba Corp | X線診断装置 |
JPS61249452A (ja) * | 1985-04-30 | 1986-11-06 | 株式会社東芝 | X線診断装置 |
JPH0675570B2 (ja) * | 1985-09-11 | 1994-09-28 | 株式会社東芝 | X線ct装置 |
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DE8621546U1 (de) * | 1986-08-11 | 1987-12-10 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Röntgendetektorsystem |
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DE10047720A1 (de) * | 2000-09-27 | 2002-04-11 | Philips Corp Intellectual Pty | Vorrichtung und Verfahren zur Erzeugung eines Röntgen-Computertomogramms mit einer Streustrahlungskorrektur |
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JP3999179B2 (ja) * | 2003-09-09 | 2007-10-31 | ジーイー・メディカル・システムズ・グローバル・テクノロジー・カンパニー・エルエルシー | 放射線断層撮影装置 |
JP4933928B2 (ja) * | 2007-03-22 | 2012-05-16 | Ntn株式会社 | 振動式部品供給装置 |
US8416415B2 (en) * | 2009-04-27 | 2013-04-09 | General Electric Company | Gas turbine optical imaging system |
FR2966716B1 (fr) | 2010-10-29 | 2012-12-21 | Gen Electric | Methode d'estimation et de correction de la diffusion en mammographie. |
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-
1978
- 1978-05-13 DE DE19782821083 patent/DE2821083A1/de not_active Ceased
-
1979
- 1979-05-08 NL NL7903578A patent/NL7903578A/xx unknown
- 1979-05-09 US US06/037,266 patent/US4286156A/en not_active Expired - Lifetime
- 1979-05-10 CA CA000327312A patent/CA1121919A/en not_active Expired
- 1979-05-10 IT IT7922544A patent/IT1115204B/it active
- 1979-05-10 GB GB7916171A patent/GB2021896B/en not_active Expired
- 1979-05-10 SE SE7904093A patent/SE431802B/sv unknown
- 1979-05-10 JP JP5758279A patent/JPS54152491A/ja active Granted
- 1979-05-11 ES ES480472A patent/ES480472A1/es not_active Expired
- 1979-05-11 FR FR7912057A patent/FR2425649A1/fr active Granted
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---|---|---|---|---|
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IT1115204B (it) | 1986-02-03 |
ES480472A1 (es) | 1979-12-01 |
GB2021896B (en) | 1982-12-08 |
FR2425649A1 (fr) | 1979-12-07 |
SE7904093L (sv) | 1979-11-14 |
DE2821083A1 (de) | 1979-11-22 |
SE431802B (sv) | 1984-02-27 |
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GB2021896A (en) | 1979-12-05 |
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