JPS59131151A - 放射散乱補償をしたｘ線影像装置及び方法 - Google Patents

放射散乱補償をしたｘ線影像装置及び方法

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JPS59131151A
JPS59131151A JP58164892A JP16489283A JPS59131151A JP S59131151 A JPS59131151 A JP S59131151A JP 58164892 A JP58164892 A JP 58164892A JP 16489283 A JP16489283 A JP 16489283A JP S59131151 A JPS59131151 A JP S59131151A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 置において放射散乱を補償する方法、およびそのようＫ
した装置に関するものである。
Ｘ線撮影装置は医療診断の目的、および各種構造の内部
組織の非破壊検査に使用されている。患者あるいは供試
体はＸ線ビームにより照射され、供試体の素子は放射線
を減衰させる。放射線検出器は減衰された放射線を検出
し、それを表示する電気信号を発信する。そのとき電気
信号はＴＶ受信器のような適当なモニタを制御するのに
使われる。
放射線散乱は領域検出器を使用しているすべてのＸ線撮
影装置における誤差の主因となっている。
けい光透視装置はベージング　グレアとして知られてい
る光学的散乱のために誤差の付加的原因を持っている。
二重エネルギ装置のような、エネルギ選択撮影装置は、
特に、その後の処理のために散乱の影響を受は易い。
従って、本発明の目的は、Ｘ線撮影装置における散乱を
補償する方法である。
本発明の他の目的は放射線散乱を補償するＸ線撮影装置
である。
本発明の特徴は、撮影装置に配置された不透過しゃ蔽を
使用して散乱された放射線を測定することであ沙、この
場合に散乱され丸飲射線だけが検出器のしゃ蔽された領
域によ抄受取られる。それから完全表示のための散乱さ
れた放射線は検出器のしや蔽された領域において測定さ
れた散乱放射線から補間することができる。
散乱された放射線を判定するためにじゃ蔽を使用するこ
とは、供試体を撮影する間に、散乱された放射線が判定
された領域に限定されるので有利である。
ｘｌビーム　パターンを定めるコリメータを使用する本
発明によるＸ線撮影装置の１つの実施形態においては、
散乱された放射線の測定は、コリメータによシしゃ蔽さ
れた検出器の領域における放射線を検出することにより
行うことができる。
本発明およびその目的、特徴については以下図面により
さらに詳細に説明する。
第１図は、けい光線透視装置のようなＸ線撮影装置の回
路図を示すもので、Ｘ線源１０からの放射線は、供試体
（図示されない）を通って、シンチレータのような影像
増感器１２に向けられていて、この影像増感器は供試体
を通過して減衰させられた放射線を受取って、増強する
。増感器１２からの光はＴＶ左カメラ４により受取られ
、とのカメラはビデオ信号を発信する。増感器とカメラ
とは共同して放射線検出器を形成する。カメラ１４から
のビデオ信号は、供試体を通過して減衰させられた放射
線により定められたように供試体の内部構造を観察する
だめの表示モニタ１６に使用される。
一ト述のように、影像増感器１２により受取られた放射
線は大量の散乱放射線を含んでいて、この散乱放射線は
表示された影像中に著しい誤差を生じさせる。本発明に
よれば、散乱放射線の量が判定され、そこでビデオ信号
は測定された散乱放射線を減じることにより補償される
。第１図の実施形態においては、このことは、Ｘ線源１
０と影像増感器１２との間の通路において、例えばＸ線
不透過ドツトの配列１８を設けることＫより達成される
。Ｘ線不透過ドツトの配列と一列に並べられた増感器１
２により受取られた放射線は、専ら散乱放射線である。
何故ならば放射線の直接の通路は不透過ドツトによ抄閉
塞されているからである。
このようＫして、ドツトパターンに相当する表面におい
て検出された放射線のビデオ信号は、記憶装置２０に記
憶される。２次元補間器２２は、そのとき、Ｘ線不透過
ドツトの幾何学的パターンに基いて検出器としての影像
増感器１２の全表面を越える散乱放射線と、検出器１２
０表面の対応する位置において測定された放射線とを補
間する。
そのとき、表示のために補間された減衰はカメラ１４か
らのビデオ信号から２４において減算されて、表示そニ
タ１６用の制御信号を供給するが、この制御信号は散乱
による誤差が殆んど無い。
＃ｇ１図を参照して述べられた装置は、散乱が低い空間
的周波数の現象であるという基本的仮定をしている。従
って、散乱された場の試料の比較的粗雑なセットでも完
全な散乱分布を再現するのに充分である。不透過ドラ）
Ｋ相当する位置において検出された強度は、影像面にわ
たるベーリンググレア訃よび散乱の量を評価するために
、ａ次元補間装置に記録されて、使用される。そのとき
評価された値は研究の間に測定された強度から減算され
る。
散乱較正は、Ｘ線不透過ドツトの位置に相当するカメラ
出力から値を記録することによ抄、けい光透過装置によ
って行われる。他のＸ線撮影装置、すなわちフィルム装
置のようなものにおいては、検出器の配列を不透過ドツ
トの配列に相当する位置で使用して、散乱を記録するよ
うにしてもよい。
あるいはその代わりに、フィルムを、記録されて記憶さ
れ九不透過ドツトの位置に相当する値に従って光学的に
走査してもよい。
散乱場のサンプリング度を高くするためＫは、不透過ド
ツトの数を増加することにより精度を良くすることがで
きる。しかしながら、ドツトの数が比較的大きくなると
、作られる散乱の量に著しく影響し始める。従って、予
め定められる秤量係数を実験的に定めて、散乱の減少の
償うように測定に利用してもよい。
多重エネルギ装置の場合には、記憶された散乱値は各エ
ネルギにおいて用意される。何故ならば散乱はエネルギ
の関数だからである。
ある場合には、異なったエネルギにおける散乱分布は、
公知の一定の秤量係数だけ異なる。従って与えられたエ
ネルギ　レベルにおける散乱は、異なったエネルギ　レ
ベルにおける測定から推論することができる。
第２図は′Ｋ１図のものに似た別の実施形態の回路図で
あるが、供試体を通過するＸ線ビームの場を限定する方
形のコリメータ３０を有している。
この実施形態においては、散乱放射線は、コリメータ３
０の表面に相当する検出器１２０表面における放射線を
測定することによシ定められている。
この実施形態の利点は、供試体を通過するＸ線が中断さ
れないことである。しかしながら、散乱の空間的分布は
第１図におけるようなＸ線不透過ドツトの使用により定
められたもの程には精確でない。
第２図に示された実施形態においては、限定された不透
過にドツトの数（第１図において使用されているような
）を、散乱放射線の空間的分布のさらに精確な評価のた
めに、第一図に示す実施形態に追加することができる。
評価と減算とは７段または一段階操作であってよい。１
段階操作においては、不透過ドツトの像が最終影像の中
に残される。何故外らばそれらのドツトは散乱を評価す
るために使われるからである。若しこれらのドツトが望
ましくないと思われるならば、第コの影像は、ドツト１
８の配列を取去って撮影される。第１図に示されるよう
に、開閉器は位置２に設けられているが、これによりカ
メラ信号から散乱像が減算されて、ドツトの表い信号と
表っている。この２段階装置において、ドツトは放射線
の増加を代償として取除かれる。
散乱を精確に示すために必要とされるドツトの数は、散
乱放射線の平滑さに関係している。この平滑さは供試体
を検出器から分離して、散乱放射線を広がらせて、さら
に一様になるようＫすることにより強められる。仁のこ
とは所望のドツトの数を減らして、／段階装置を使用し
ても、ドツトが殆んど邪魔にならなｈよう圧する。
本発明による散乱測定と補償装置とを使用するととＫよ
って、検査をしている供試体のさらに精確な影像を現像
することができる。
本発明は特殊な実施形態について述べたが、この説明は
本発明の例証であ抄、本発明を限定するものと解釈すべ
きものではない。種々の変形および応用は本発明の請求
の範囲から逸脱することなく当業者により行い得るもの
である。
【図面の簡単な説明】
第７図は本発明による散乱補償装置を有するＸ線影偉装
置の回路図、および第２図はその代わしのｘａ影像装置
の回路図である。 １０・・・Ｘ線源、　　　　１２・・・影像増感器、１
４・・・ＴＶカメラ、　　１６・・・表示モニタ、１８
・・・ドツト配列、　２０・・・記憶装置、２２・・・
ａ次元補間器、３０・・・方形コリメータ。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. （１）前記Ｘ線源からのＸ線放射線を受けて、その電気
    的信号を発信するように配置されたＸ線検出器と、 前記検出器のしゃ蔽された領域へ直接に通過しないよう
    に放射線をしや蔽するため前記Ｘ線源と検出器との間に
    配置された放射線じゃ蔽装置と、前記検出装置の前記の
    しゃ蔽された領域によシ受けられた散乱放射線を示す前
    記検出器からの電気的信号を受け、その電気的信号から
    前記のすべての検出器に対する散乱放射線信号を補間す
    る補間装置と、 前記検出装置により発信された前記電気的信号から、前
    記の補間された散乱放射線信号を減算する装置とを備え
    ることを特徴とするＸ線影像装置。
  2. （２）　　Ｘ線影像装置における散乱放射線を補償する
    方法において、 放射線源と放射線検出器との間に放射線じゃ蔽装置を配
    置する段階、 しや蔽された領域において前記放射線により受けられ丸
    飲射線を測定する段階、 しや蔽された領域において測定された放射線から前記の
    すべての検出器に対する散乱放射線を補間する段階、及
    び 測定されたＸ線から補間された散乱放射線を減算する段
    階を含むととを特徴とする方法。 （至）放射線じゃ蔽を取除き、すべての領域において受
    けられた放射線を測定する段階を含む特許請求の範囲第
    ０）項記載の方法。
JP58164892A 1982-09-07 1983-09-07 放射散乱補償をしたｘ線影像装置及び方法 Granted JPS59131151A (ja)

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EP0105618A3 (en) 1985-11-27
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