JPS59131151A - 放射散乱補償をしたx線影像装置及び方法 - Google Patents
放射散乱補償をしたx線影像装置及び方法Info
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- JPS59131151A JPS59131151A JP58164892A JP16489283A JPS59131151A JP S59131151 A JPS59131151 A JP S59131151A JP 58164892 A JP58164892 A JP 58164892A JP 16489283 A JP16489283 A JP 16489283A JP S59131151 A JPS59131151 A JP S59131151A
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- G21K—TECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
置において放射散乱を補償する方法、およびそのようK
した装置に関するものである。
した装置に関するものである。
X線撮影装置は医療診断の目的、および各種構造の内部
組織の非破壊検査に使用されている。患者あるいは供試
体はX線ビームにより照射され、供試体の素子は放射線
を減衰させる。放射線検出器は減衰された放射線を検出
し、それを表示する電気信号を発信する。そのとき電気
信号はTV受信器のような適当なモニタを制御するのに
使われる。
組織の非破壊検査に使用されている。患者あるいは供試
体はX線ビームにより照射され、供試体の素子は放射線
を減衰させる。放射線検出器は減衰された放射線を検出
し、それを表示する電気信号を発信する。そのとき電気
信号はTV受信器のような適当なモニタを制御するのに
使われる。
放射線散乱は領域検出器を使用しているすべてのX線撮
影装置における誤差の主因となっている。
影装置における誤差の主因となっている。
けい光透視装置はベージング グレアとして知られてい
る光学的散乱のために誤差の付加的原因を持っている。
る光学的散乱のために誤差の付加的原因を持っている。
二重エネルギ装置のような、エネルギ選択撮影装置は、
特に、その後の処理のために散乱の影響を受は易い。
特に、その後の処理のために散乱の影響を受は易い。
従って、本発明の目的は、X線撮影装置における散乱を
補償する方法である。
補償する方法である。
本発明の他の目的は放射線散乱を補償するX線撮影装置
である。
である。
本発明の特徴は、撮影装置に配置された不透過しゃ蔽を
使用して散乱された放射線を測定することであ沙、この
場合に散乱され丸飲射線だけが検出器のしゃ蔽された領
域によ抄受取られる。それから完全表示のための散乱さ
れた放射線は検出器のしや蔽された領域において測定さ
れた散乱放射線から補間することができる。
使用して散乱された放射線を測定することであ沙、この
場合に散乱され丸飲射線だけが検出器のしゃ蔽された領
域によ抄受取られる。それから完全表示のための散乱さ
れた放射線は検出器のしや蔽された領域において測定さ
れた散乱放射線から補間することができる。
散乱された放射線を判定するためにじゃ蔽を使用するこ
とは、供試体を撮影する間に、散乱された放射線が判定
された領域に限定されるので有利である。
とは、供試体を撮影する間に、散乱された放射線が判定
された領域に限定されるので有利である。
xlビーム パターンを定めるコリメータを使用する本
発明によるX線撮影装置の1つの実施形態においては、
散乱された放射線の測定は、コリメータによシしゃ蔽さ
れた検出器の領域における放射線を検出することにより
行うことができる。
発明によるX線撮影装置の1つの実施形態においては、
散乱された放射線の測定は、コリメータによシしゃ蔽さ
れた検出器の領域における放射線を検出することにより
行うことができる。
本発明およびその目的、特徴については以下図面により
さらに詳細に説明する。
さらに詳細に説明する。
第1図は、けい光線透視装置のようなX線撮影装置の回
路図を示すもので、X線源10からの放射線は、供試体
(図示されない)を通って、シンチレータのような影像
増感器12に向けられていて、この影像増感器は供試体
を通過して減衰させられた放射線を受取って、増強する
。増感器12からの光はTV左カメラ4により受取られ
、とのカメラはビデオ信号を発信する。増感器とカメラ
とは共同して放射線検出器を形成する。カメラ14から
のビデオ信号は、供試体を通過して減衰させられた放射
線により定められたように供試体の内部構造を観察する
だめの表示モニタ16に使用される。
路図を示すもので、X線源10からの放射線は、供試体
(図示されない)を通って、シンチレータのような影像
増感器12に向けられていて、この影像増感器は供試体
を通過して減衰させられた放射線を受取って、増強する
。増感器12からの光はTV左カメラ4により受取られ
、とのカメラはビデオ信号を発信する。増感器とカメラ
とは共同して放射線検出器を形成する。カメラ14から
のビデオ信号は、供試体を通過して減衰させられた放射
線により定められたように供試体の内部構造を観察する
だめの表示モニタ16に使用される。
一ト述のように、影像増感器12により受取られた放射
線は大量の散乱放射線を含んでいて、この散乱放射線は
表示された影像中に著しい誤差を生じさせる。本発明に
よれば、散乱放射線の量が判定され、そこでビデオ信号
は測定された散乱放射線を減じることにより補償される
。第1図の実施形態においては、このことは、X線源1
0と影像増感器12との間の通路において、例えばX線
不透過ドツトの配列18を設けることKより達成される
。X線不透過ドツトの配列と一列に並べられた増感器1
2により受取られた放射線は、専ら散乱放射線である。
線は大量の散乱放射線を含んでいて、この散乱放射線は
表示された影像中に著しい誤差を生じさせる。本発明に
よれば、散乱放射線の量が判定され、そこでビデオ信号
は測定された散乱放射線を減じることにより補償される
。第1図の実施形態においては、このことは、X線源1
0と影像増感器12との間の通路において、例えばX線
不透過ドツトの配列18を設けることKより達成される
。X線不透過ドツトの配列と一列に並べられた増感器1
2により受取られた放射線は、専ら散乱放射線である。
何故ならば放射線の直接の通路は不透過ドツトによ抄閉
塞されているからである。
塞されているからである。
このようKして、ドツトパターンに相当する表面におい
て検出された放射線のビデオ信号は、記憶装置20に記
憶される。2次元補間器22は、そのとき、X線不透過
ドツトの幾何学的パターンに基いて検出器としての影像
増感器12の全表面を越える散乱放射線と、検出器12
0表面の対応する位置において測定された放射線とを補
間する。
て検出された放射線のビデオ信号は、記憶装置20に記
憶される。2次元補間器22は、そのとき、X線不透過
ドツトの幾何学的パターンに基いて検出器としての影像
増感器12の全表面を越える散乱放射線と、検出器12
0表面の対応する位置において測定された放射線とを補
間する。
そのとき、表示のために補間された減衰はカメラ14か
らのビデオ信号から24において減算されて、表示そニ
タ16用の制御信号を供給するが、この制御信号は散乱
による誤差が殆んど無い。
らのビデオ信号から24において減算されて、表示そニ
タ16用の制御信号を供給するが、この制御信号は散乱
による誤差が殆んど無い。
#g1図を参照して述べられた装置は、散乱が低い空間
的周波数の現象であるという基本的仮定をしている。従
って、散乱された場の試料の比較的粗雑なセットでも完
全な散乱分布を再現するのに充分である。不透過ドラ)
K相当する位置において検出された強度は、影像面にわ
たるベーリンググレア訃よび散乱の量を評価するために
、a次元補間装置に記録されて、使用される。そのとき
評価された値は研究の間に測定された強度から減算され
る。
的周波数の現象であるという基本的仮定をしている。従
って、散乱された場の試料の比較的粗雑なセットでも完
全な散乱分布を再現するのに充分である。不透過ドラ)
K相当する位置において検出された強度は、影像面にわ
たるベーリンググレア訃よび散乱の量を評価するために
、a次元補間装置に記録されて、使用される。そのとき
評価された値は研究の間に測定された強度から減算され
る。
散乱較正は、X線不透過ドツトの位置に相当するカメラ
出力から値を記録することによ抄、けい光透過装置によ
って行われる。他のX線撮影装置、すなわちフィルム装
置のようなものにおいては、検出器の配列を不透過ドツ
トの配列に相当する位置で使用して、散乱を記録するよ
うにしてもよい。
出力から値を記録することによ抄、けい光透過装置によ
って行われる。他のX線撮影装置、すなわちフィルム装
置のようなものにおいては、検出器の配列を不透過ドツ
トの配列に相当する位置で使用して、散乱を記録するよ
うにしてもよい。
あるいはその代わりに、フィルムを、記録されて記憶さ
れ九不透過ドツトの位置に相当する値に従って光学的に
走査してもよい。
れ九不透過ドツトの位置に相当する値に従って光学的に
走査してもよい。
散乱場のサンプリング度を高くするためKは、不透過ド
ツトの数を増加することにより精度を良くすることがで
きる。しかしながら、ドツトの数が比較的大きくなると
、作られる散乱の量に著しく影響し始める。従って、予
め定められる秤量係数を実験的に定めて、散乱の減少の
償うように測定に利用してもよい。
ツトの数を増加することにより精度を良くすることがで
きる。しかしながら、ドツトの数が比較的大きくなると
、作られる散乱の量に著しく影響し始める。従って、予
め定められる秤量係数を実験的に定めて、散乱の減少の
償うように測定に利用してもよい。
多重エネルギ装置の場合には、記憶された散乱値は各エ
ネルギにおいて用意される。何故ならば散乱はエネルギ
の関数だからである。
ネルギにおいて用意される。何故ならば散乱はエネルギ
の関数だからである。
ある場合には、異なったエネルギにおける散乱分布は、
公知の一定の秤量係数だけ異なる。従って与えられたエ
ネルギ レベルにおける散乱は、異なったエネルギ レ
ベルにおける測定から推論することができる。
公知の一定の秤量係数だけ異なる。従って与えられたエ
ネルギ レベルにおける散乱は、異なったエネルギ レ
ベルにおける測定から推論することができる。
第2図は′K1図のものに似た別の実施形態の回路図で
あるが、供試体を通過するX線ビームの場を限定する方
形のコリメータ30を有している。
あるが、供試体を通過するX線ビームの場を限定する方
形のコリメータ30を有している。
この実施形態においては、散乱放射線は、コリメータ3
0の表面に相当する検出器120表面における放射線を
測定することによシ定められている。
0の表面に相当する検出器120表面における放射線を
測定することによシ定められている。
この実施形態の利点は、供試体を通過するX線が中断さ
れないことである。しかしながら、散乱の空間的分布は
第1図におけるようなX線不透過ドツトの使用により定
められたもの程には精確でない。
れないことである。しかしながら、散乱の空間的分布は
第1図におけるようなX線不透過ドツトの使用により定
められたもの程には精確でない。
第2図に示された実施形態においては、限定された不透
過にドツトの数(第1図において使用されているような
)を、散乱放射線の空間的分布のさらに精確な評価のた
めに、第一図に示す実施形態に追加することができる。
過にドツトの数(第1図において使用されているような
)を、散乱放射線の空間的分布のさらに精確な評価のた
めに、第一図に示す実施形態に追加することができる。
評価と減算とは7段または一段階操作であってよい。1
段階操作においては、不透過ドツトの像が最終影像の中
に残される。何故外らばそれらのドツトは散乱を評価す
るために使われるからである。若しこれらのドツトが望
ましくないと思われるならば、第コの影像は、ドツト1
8の配列を取去って撮影される。第1図に示されるよう
に、開閉器は位置2に設けられているが、これによりカ
メラ信号から散乱像が減算されて、ドツトの表い信号と
表っている。この2段階装置において、ドツトは放射線
の増加を代償として取除かれる。
段階操作においては、不透過ドツトの像が最終影像の中
に残される。何故外らばそれらのドツトは散乱を評価す
るために使われるからである。若しこれらのドツトが望
ましくないと思われるならば、第コの影像は、ドツト1
8の配列を取去って撮影される。第1図に示されるよう
に、開閉器は位置2に設けられているが、これによりカ
メラ信号から散乱像が減算されて、ドツトの表い信号と
表っている。この2段階装置において、ドツトは放射線
の増加を代償として取除かれる。
散乱を精確に示すために必要とされるドツトの数は、散
乱放射線の平滑さに関係している。この平滑さは供試体
を検出器から分離して、散乱放射線を広がらせて、さら
に一様になるようKすることにより強められる。仁のこ
とは所望のドツトの数を減らして、/段階装置を使用し
ても、ドツトが殆んど邪魔にならなhよう圧する。
乱放射線の平滑さに関係している。この平滑さは供試体
を検出器から分離して、散乱放射線を広がらせて、さら
に一様になるようKすることにより強められる。仁のこ
とは所望のドツトの数を減らして、/段階装置を使用し
ても、ドツトが殆んど邪魔にならなhよう圧する。
本発明による散乱測定と補償装置とを使用するととKよ
って、検査をしている供試体のさらに精確な影像を現像
することができる。
って、検査をしている供試体のさらに精確な影像を現像
することができる。
本発明は特殊な実施形態について述べたが、この説明は
本発明の例証であ抄、本発明を限定するものと解釈すべ
きものではない。種々の変形および応用は本発明の請求
の範囲から逸脱することなく当業者により行い得るもの
である。
本発明の例証であ抄、本発明を限定するものと解釈すべ
きものではない。種々の変形および応用は本発明の請求
の範囲から逸脱することなく当業者により行い得るもの
である。
第7図は本発明による散乱補償装置を有するX線影偉装
置の回路図、および第2図はその代わしのxa影像装置
の回路図である。 10・・・X線源、 12・・・影像増感器、1
4・・・TVカメラ、 16・・・表示モニタ、18
・・・ドツト配列、 20・・・記憶装置、22・・・
a次元補間器、30・・・方形コリメータ。
置の回路図、および第2図はその代わしのxa影像装置
の回路図である。 10・・・X線源、 12・・・影像増感器、1
4・・・TVカメラ、 16・・・表示モニタ、18
・・・ドツト配列、 20・・・記憶装置、22・・・
a次元補間器、30・・・方形コリメータ。
Claims (2)
- (1)前記X線源からのX線放射線を受けて、その電気
的信号を発信するように配置されたX線検出器と、 前記検出器のしゃ蔽された領域へ直接に通過しないよう
に放射線をしや蔽するため前記X線源と検出器との間に
配置された放射線じゃ蔽装置と、前記検出装置の前記の
しゃ蔽された領域によシ受けられた散乱放射線を示す前
記検出器からの電気的信号を受け、その電気的信号から
前記のすべての検出器に対する散乱放射線信号を補間す
る補間装置と、 前記検出装置により発信された前記電気的信号から、前
記の補間された散乱放射線信号を減算する装置とを備え
ることを特徴とするX線影像装置。 - (2) X線影像装置における散乱放射線を補償する
方法において、 放射線源と放射線検出器との間に放射線じゃ蔽装置を配
置する段階、 しや蔽された領域において前記放射線により受けられ丸
飲射線を測定する段階、 しや蔽された領域において測定された放射線から前記の
すべての検出器に対する散乱放射線を補間する段階、及
び 測定されたX線から補間された散乱放射線を減算する段
階を含むととを特徴とする方法。 (至)放射線じゃ蔽を取除き、すべての領域において受
けられた放射線を測定する段階を含む特許請求の範囲第
0)項記載の方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US41533382A | 1982-09-07 | 1982-09-07 | |
US415333 | 1982-09-07 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS59131151A true JPS59131151A (ja) | 1984-07-27 |
JPH0233975B2 JPH0233975B2 (ja) | 1990-07-31 |
Family
ID=23645274
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP58164892A Granted JPS59131151A (ja) | 1982-09-07 | 1983-09-07 | 放射散乱補償をしたx線影像装置及び方法 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
EP (1) | EP0105618B1 (ja) |
JP (1) | JPS59131151A (ja) |
DE (1) | DE3380776D1 (ja) |
ES (1) | ES525814A0 (ja) |
IL (1) | IL69647A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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JP2009533125A (ja) * | 2006-04-11 | 2009-09-17 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 低比率散乱放射線を含むx線画像の生成 |
JP2010540169A (ja) * | 2007-10-03 | 2010-12-24 | ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ | スリットコリメータ散乱補正 |
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US4649559A (en) * | 1983-10-31 | 1987-03-10 | Xonics Imaging, Inc. | Digital radiography device |
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